JP2006337662A

JP2006337662A - Method of manufacturing display panel and display panel inspection device

Info

Publication number: JP2006337662A
Application number: JP2005161458A
Authority: JP
Inventors: Makoto Tamaki; 誠玉木
Original assignee: Sharp Corp
Current assignee: Sharp Corp
Priority date: 2005-06-01
Filing date: 2005-06-01
Publication date: 2006-12-14

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To enhance reliability of a test result position where display quality of a liquid crystal display panel 20 has been detected, by accurately combining divided images on the liquid crystal display panel 20. <P>SOLUTION: In a first imaging step, the liquid crystal display panel 20 is divided into a plurality of imaging areas, and each imaging area is imaged as a divided image in a state that all pixels included in the imaging area are displayed. In a second imaging step, each imaging area is imaged as a mark image in a state that only a mark 40 composed of at least one dot in a part of the imaging area is lit. In a composition step, respective divided images are combined with mark images as references to form an entire image. In a determination step, it is determined whether the liquid crystal display panel 20 has a display defect or not on the basis of the entire image. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、表示パネルの製造方法及び表示パネルの検査装置に関する。 The present invention relates to a display panel manufacturing method and a display panel inspection apparatus.

近年、より高品位な画像を表示できる表示パネルが強く要望されている。しかしながら、現在の表示パネルの製造技術では、表示不良（表示欠損を含む）の発生を完全に防止することは極めて困難である。そこで、表示不良を含む表示パネルを選別するために、表示パネルの製造工程において、検査工程が行われている。 In recent years, there has been a strong demand for display panels that can display higher-quality images. However, with the current display panel manufacturing technology, it is extremely difficult to completely prevent the occurrence of display defects (including display defects). Therefore, in order to sort out display panels including display defects, an inspection process is performed in the display panel manufacturing process.

一般に、輝点不良（異常点灯）、黒点不良や線欠陥（不点灯）、表示ムラ等の表示不良の有無を検査する検査工程は、検査員の目視により行われる。検査員による目視検査は、良品として扱うことができる最低品位のサンプルであるいわゆる限界サンプルを用いて行われる。詳細には、検査員が表示パネルと限界サンプルとを見比べることにより、合否（表示不良の有無）の判定が行われる。しかし、目視検査では、各検査員の間で合否判定結果がばらつくことが避けられず、また、同一検査員によっても、日時や検査環境によって合否判定結果がばらついてしまうという問題がある。さらに、マンパワーを必要とするため、表示パネルの製造コストの上昇を招来するという問題がある。 In general, the inspection process for inspecting the presence or absence of display defects such as bright spot defects (abnormal lighting), black spot defects, line defects (non-lighting), display unevenness and the like is performed by an inspector's eyes. The visual inspection by the inspector is performed using a so-called limit sample which is a sample of the lowest quality that can be handled as a non-defective product. Specifically, pass / fail (presence / absence of display defect) is determined by the inspector comparing the display panel with the limit sample. However, in the visual inspection, it is unavoidable that the pass / fail determination results vary among the inspectors, and there is a problem that the pass / fail determination results vary depending on the date and time and the inspection environment even by the same inspector. Furthermore, since manpower is required, there is a problem that the manufacturing cost of the display panel is increased.

このような問題に鑑み、表示パネルの表示不良の自動検査方法が種々提案されている（例えば、特許文献１及び２等参照）。以下、一般的な自動検査方法について図面を参照しながら説明する。 In view of such problems, various automatic inspection methods for display defects on display panels have been proposed (see, for example, Patent Documents 1 and 2). Hereinafter, a general automatic inspection method will be described with reference to the drawings.

図１４は一般的な自動検査装置１００の構成を示す概念図である。 FIG. 14 is a conceptual diagram showing a configuration of a general automatic inspection apparatus 100.

自動検査装置１００は、検査対象となる透過型の液晶表示パネル１０１を設置するための検査用テーブル１０２と、検査用テーブル１０２の背面に設けられたバックライト１０３と、液晶表示パネル１０１を撮影するためのＣＣＤカメラ１０４と、ＣＣＤカメラ１０４に接続された画像処理装置１０５とを備えている。画像処理装置１０５は、Ａ／Ｄコンバータ１０６と、画像メモリ１０７と、演算回路１０８とを備えている。 The automatic inspection apparatus 100 photographs the inspection table 102 for installing the transmissive liquid crystal display panel 101 to be inspected, the backlight 103 provided on the back surface of the inspection table 102, and the liquid crystal display panel 101. A CCD camera 104 and an image processing device 105 connected to the CCD camera 104. The image processing apparatus 105 includes an A / D converter 106, an image memory 107, and an arithmetic circuit 108.

自動検査装置１００により自動検査を行う場合には、まず、検査用テーブル１０２に検査対象となる液晶表示パネル１０１を設置する。続いて、液晶表示パネル１０１の上方に設けられたＣＣＤカメラ１０４を用いて液晶表示パネル１０１を撮影することにより画像データを得る。得られた画像データは、画像処理装置１０５に取り込まれる。画像処理装置１０５では、得られた画像データが、Ａ／Ｄコンバータ１０６によりデジタル化され、輝度相対データとして画像メモリ１０７に記憶される。一方、画像メモリ１０７には閾値（基準データ）が予め記憶されており、演算回路１０８において、記憶された輝度相対データと閾値とが比較され、表示不良の有無が判断される。こうして、自動検査が行われる。 When automatic inspection is performed by the automatic inspection apparatus 100, first, the liquid crystal display panel 101 to be inspected is installed on the inspection table 102. Subsequently, image data is obtained by photographing the liquid crystal display panel 101 using the CCD camera 104 provided above the liquid crystal display panel 101. The obtained image data is taken into the image processing apparatus 105. In the image processing apparatus 105, the obtained image data is digitized by the A / D converter 106 and stored in the image memory 107 as luminance relative data. On the other hand, a threshold value (reference data) is stored in the image memory 107 in advance, and the arithmetic circuit 108 compares the stored luminance relative data with the threshold value to determine whether there is a display defect. Thus, automatic inspection is performed.

ところで、ＣＣＤカメラにより表示パネルをドット毎に確実に検査するためには、ＣＣＤカメラに所定値以上の分解能が必要となる。具体的には、サンプリング定理より、一回に撮像されるドット数の少なくとも２倍の分解能が必要となる。 By the way, in order to surely inspect the display panel for each dot by the CCD camera, the CCD camera needs to have a resolution higher than a predetermined value. Specifically, the sampling theorem requires a resolution that is at least twice the number of dots captured at one time.

ここで、サンプリング定理とは、「入力信号として最大周波数ｆ_MAXまでの交流信号をＡ／Ｄ変換した後、これをＤ／Ａ変換して戻したときに、原信号を忠実に再生できるためには、少なくとも２ｆ_MAX以上のサンプリング周波数ｆｓでサンプリングする必要がある」という定理をいい、標本化定理とも称される。 Here, the sampling theorem is “because the original signal can be faithfully reproduced when the AC signal up to the maximum frequency f _MAX as an input signal is A / D converted and then converted back to D / A. Is a theorem that sampling must be performed at a sampling frequency fs of at least 2f _MAX or more, and is also referred to as a sampling theorem.

ところが、現状商品化されているＣＣＤカメラの分解能は、最も性能が良いものであっても、横４０００ドット×縦２６７２ドットである。これに対し、例えばＳＶＧＡパネルは、横２４００ドット×縦６００ドットであるから、横方向においてはパネルの１ドット当たりＣＣＤカメラの１．６７ドット（４０００／２４００）でしか撮像することができない。つまり、現状のＣＣＤカメラでは、サンプリング定理により要求される２ドット以上の分解能が得られないという問題がある。 However, the resolution of a CCD camera that is currently commercialized, even if it has the best performance, is lateral 4000 dots × longitudinal 2672 dots. On the other hand, for example, since the SVGA panel is 2400 dots wide by 600 dots long, in the horizontal direction, only 1.67 dots (4000/2400) of the CCD camera can be captured per dot of the panel. In other words, the current CCD camera has a problem that the resolution of 2 dots or more required by the sampling theorem cannot be obtained.

そこで、表示パネルを複数の領域に分割して撮像することが一般に行われている。また、撮影された複数の分割画像を正確に合成して全体画像を再現するために、検査対象物に予め大きさが既知の複数のマークを付すようにし、分割画像を上記マークと同時に取り込むことが知られている（例えば、特許文献３等参照）。 Therefore, it is a common practice to divide the display panel into a plurality of areas for imaging. In addition, in order to accurately synthesize a plurality of photographed divided images and reproduce the entire image, a plurality of marks whose sizes are known in advance are attached to the inspection object, and the divided images are captured simultaneously with the marks. Is known (see, for example, Patent Document 3).

上記特許文献３では、図１５に示すように、検査対象物である配管１１１の溶接痕１１２の周りに、マーク１１３を所定の間隔で設けている。そして、２つのマーク１１３を含む撮像範囲をカメラ１１４により複数撮影する。その後、撮影された複数の分割画像は、各マーク１１３を目印にして合成することにより、全体画像が正確に形成される。
特開平４−４４４９３号公報特開平７−７２０３７号公報特開２００２−２３６１００号公報 In the said patent document 3, as shown in FIG. 15, the mark 113 is provided in the circumference | surroundings of the welding trace 112 of the piping 111 which is a test object at a predetermined space | interval. A plurality of imaging ranges including the two marks 113 are captured by the camera 114. Thereafter, the plurality of photographed divided images are combined with each mark 113 as a mark, so that the entire image is accurately formed.
JP-A-4-44493 JP-A-7-72037 JP 2002-236100 A

ところが、表示パネルのドットを精密に検査するためには、暗室の内部で表示パネルを表示させた状態で撮像する必要がある。したがって、上記特許文献３のように、単にマークを表示パネルに付したとしても、周囲が暗いために、撮影された分割画像においてマークを明確に識別することは極めて難しい。 However, in order to accurately inspect the dots on the display panel, it is necessary to take an image while the display panel is displayed inside the dark room. Therefore, even if the mark is simply attached to the display panel as in Patent Document 3, it is extremely difficult to clearly identify the mark in the captured divided image because the surroundings are dark.

すなわち、表示パネルのドットが検査対象である場合には、撮影された分割画像を合成して正確な全体画像を形成することが難しいという問題がある。 That is, when the dots on the display panel are inspection targets, there is a problem that it is difficult to form an accurate whole image by combining the captured divided images.

本発明は、斯かる諸点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、表示パネルの分割画像を正確に合成して、全体画像の情報を精度良く得られるようにし、表示不良検査された表示パネルの信頼性を高めることにある。 The present invention has been made in view of such various points, and an object of the present invention is to accurately synthesize the divided images of the display panel so that information of the entire image can be obtained with high accuracy, and display defect inspection. It is to improve the reliability of the display panel.

上記の目的を達成するために、この発明では、各撮像領域における少なくとも１つのドットによりマークを構成し、そのマークのみを点灯させた状態で、撮像領域をマーク画像として撮像するようにした。 In order to achieve the above object, according to the present invention, a mark is constituted by at least one dot in each image pickup area, and the image pickup area is picked up as a mark image in a state where only the mark is lit.

具体的に、本発明に係る表示パネルの製造方法は、複数のドットからなる絵素を複数有する表示パネルを、複数の撮像領域に分割し、上記各撮像領域を、該撮像領域に含まれる全ての絵素を表示させた状態で分割画像としてそれぞれ撮像する第１撮像ステップと、上記各分割画像を合成することにより、上記表示パネルの全体画像を形成する合成ステップと、上記全体画像に基づいて上記表示パネルの表示不良の有無を判断する判断ステップとを含む検査工程を具備した表示パネルの製造方法であって、上記各撮像領域を、該撮像領域の一部において少なくとも１つの上記ドットにより構成されたマークのみを点灯させた状態で、マーク画像としてそれぞれ撮像する第２撮像ステップを備え、上記合成ステップでは、上記マーク画像を基準として上記全体画像を形成する。 Specifically, the method for manufacturing a display panel according to the present invention divides a display panel having a plurality of picture elements composed of a plurality of dots into a plurality of imaging regions, and each of the imaging regions is included in the imaging region. A first imaging step of capturing each of the divided pixels as a divided image, a combining step of forming the entire image of the display panel by combining the divided images, and the entire image. A display panel manufacturing method comprising an inspection step including a determination step for determining whether or not there is a display defect in the display panel, wherein each of the imaging regions is constituted by at least one of the dots in a part of the imaging region. A second imaging step of imaging each of the marked images in a state where only the marked mark is lit, and the combining step uses the mark image as a reference. Te to form the entire image.

上記第１撮像ステップ及び上記第２撮像ステップは、上記各撮像領域毎に順次行われることが好ましい。 It is preferable that the first imaging step and the second imaging step are sequentially performed for each imaging region.

上記点灯するマークは、複数の絵素により構成されていてもよい。 The mark to be lit may be composed of a plurality of picture elements.

上記表示パネルは、光源の光を透過して透過表示を行う液晶表示パネルであってもよい。 The display panel may be a liquid crystal display panel that transmits light from a light source and performs transmissive display.

また、本発明に係る表示パネルの検査装置は、複数のドットからなる絵素を複数有する表示パネルを制御して、該表示パネルの一部において少なくとも１つの上記ドットをマークとして点灯させる制御手段と、上記表示パネルを複数の撮像領域に分割し、上記各撮像領域を、該撮像領域に含まれる全ての絵素を表示させた状態で分割画像としてそれぞれ撮像する一方、上記各撮像領域を、上記マークのみを点灯させた状態で、マーク画像としてそれぞれ撮像する撮像手段と、上記複数の分割画像を、上記マーク画像を基準として合成することにより、上記表示パネルの全体画像を形成する画像合成手段と、上記全体画像に基づいて上記表示パネルの表示不良の有無を判断する演算手段とを備えている。 Further, the display panel inspection apparatus according to the present invention controls a display panel having a plurality of picture elements composed of a plurality of dots, and controls means for lighting at least one of the dots as a mark in a part of the display panel. The display panel is divided into a plurality of imaging areas, and each imaging area is imaged as a divided image in a state where all the picture elements included in the imaging area are displayed, while each imaging area is Image pickup means for picking up images as mark images in a state where only the mark is lit, and image combining means for forming the entire image of the display panel by combining the plurality of divided images with reference to the mark image. Calculating means for determining the presence or absence of display failure of the display panel based on the whole image.

−作用−
次に、本発明の作用について説明する。 -Action-
Next, the operation of the present invention will be described.

表示パネルは複数の絵素を有し、各絵素は複数のドットにより構成されている。この表示パネルの製造方法には、検査工程が含まれる。検査工程では、第１撮像ステップと、第２撮像ステップと、合成ステップと、判断ステップとを行う。第１撮像ステップでは、検査対象である表示パネルを複数の撮像領域に分割し、各撮像領域を、その撮像領域に含まれる全ての絵素を表示させた状態で分割画像としてそれぞれ撮像する。 The display panel has a plurality of picture elements, and each picture element is composed of a plurality of dots. This display panel manufacturing method includes an inspection process. In the inspection process, a first imaging step, a second imaging step, a synthesis step, and a determination step are performed. In the first imaging step, the display panel to be inspected is divided into a plurality of imaging areas, and each imaging area is imaged as a divided image in a state where all the picture elements included in the imaging area are displayed.

第２撮像ステップでは、まず、撮像領域の一部において少なくとも１つのドットにより構成されたマークのみを点灯させる。マークは複数の絵素により構成すると、より明確に撮像できるために好ましい。そして、マークを点灯させた状態で、各撮像領域をマーク画像としてそれぞれ撮像する。 In the second imaging step, first, only a mark constituted by at least one dot in a part of the imaging region is turned on. It is preferable that the mark is composed of a plurality of picture elements because a clearer image can be captured. Then, each imaging region is imaged as a mark image with the mark lit.

第１撮像ステップ及び第２撮像ステップは、各撮像領域毎に順次行うことが好ましい。すなわち、所定の撮像領域に対し、第１撮像ステップと第２撮像ステップとを行った後に、次の撮像領域に対して、第１撮像ステップと第２撮像ステップとを行う。これを複数の撮像領域の全てについて行う。このことにより、各撮像領域は、検査対象の画像である分割画像として撮像されると共に、その分割画像に対応したマーク画像として撮像される。 It is preferable that the first imaging step and the second imaging step are sequentially performed for each imaging region. That is, after the first imaging step and the second imaging step are performed on a predetermined imaging region, the first imaging step and the second imaging step are performed on the next imaging region. This is performed for all of the plurality of imaging regions. As a result, each imaging region is captured as a divided image that is an image to be inspected, and is also captured as a mark image corresponding to the divided image.

次に、合成ステップでは、上記各分割画像を、上記マーク画像を基準として合成することにより、表示パネルの全体画像を形成する。その後、判断ステップでは、上記全体画像に基づいて表示パネルの表示不良の有無を判断する。以上の各ステップにより表示パネルの検査が行われる。 Next, in the synthesis step, the entire image of the display panel is formed by synthesizing the divided images based on the mark image. Thereafter, in the determination step, it is determined whether there is a display defect on the display panel based on the entire image. The display panel is inspected by the above steps.

また、上記表示パネルの検査装置により検査を行う場合には、制御手段により表示パネルを制御して、少なくとも１つのドットをマークとして点灯させる。そして、撮像手段により、分割画像とマーク画像とを撮像する。上述したように、分割画像には全ての絵素が表示された撮像領域が撮像されており、マーク画像にはマークのみが点灯した撮像領域が撮像されている。続いて、画像合成手段により、上記各分割画像をマーク画像を基準として合成し、表示パネルの全体画像を形成する。その後、演算手段により、上記全体画像に基づいて表示パネルの表示不良の有無を判断する。 When the inspection is performed by the display panel inspection apparatus, the control panel controls the display panel to light at least one dot as a mark. Then, the divided image and the mark image are picked up by the image pickup means. As described above, the imaging area where all the picture elements are displayed is captured in the divided image, and the imaging area where only the mark is lit is captured in the mark image. Subsequently, the divided images are combined with the mark image as a reference by the image combining means to form the entire display panel image. Thereafter, the calculation means determines the presence or absence of display defects on the display panel based on the entire image.

本発明によれば、各撮像領域における少なくとも１つのドットによりマークを構成し、そのマークのみを点灯させた状態で、撮像領域をマーク画像として撮像するようにしたので、表示パネルの周囲を暗くしても、マーク画像のマークを確実に識別することができる。したがって、点灯しているマークに基づいて各マーク画像を正確に合成できるため、それらマーク画像に対応した分割画像同士を正確に合成して、全体画像を形成することができる。その結果、表示パネルの全体画像の情報を精度良く得ることができるため、表示不良検査された表示パネルの信頼性を高めることができる。そのことに加え、表示パネルのドットを分割画像の合成のためのマークとして利用するようにしたので、マークを表示パネルと別個独立に設ける必要がない。つまり、より簡単な構成によって検査を行うことができる。 According to the present invention, since the mark is constituted by at least one dot in each imaging area and only the mark is lit, the imaging area is imaged as a mark image, so the periphery of the display panel is darkened. Even in this case, the mark of the mark image can be reliably identified. Therefore, since the mark images can be accurately combined based on the lit marks, the divided images corresponding to the mark images can be accurately combined to form the entire image. As a result, since the information of the entire image of the display panel can be obtained with high accuracy, the reliability of the display panel subjected to the display defect inspection can be improved. In addition, since the dots on the display panel are used as marks for combining the divided images, it is not necessary to provide the marks separately from the display panel. That is, the inspection can be performed with a simpler configuration.

以下、本発明の実施形態を図面に基づいて詳細に説明する。尚、本発明は、以下の実施形態に限定されるものではない。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. The present invention is not limited to the following embodiment.

《発明の実施形態１》
図１〜図１３は、本発明に係る表示パネルの製造方法、及び表示パネルの検査装置の実施形態１を示している。図２は、例えば液晶表示パネル等の表示パネルに対し、表示不良の有無を検査するための検査装置（輝度測定装置）１０の構成を示す模式図である。 Embodiment 1 of the Invention
1 to 13 show Embodiment 1 of a display panel manufacturing method and a display panel inspection apparatus according to the present invention. FIG. 2 is a schematic diagram showing the configuration of an inspection apparatus (luminance measuring apparatus) 10 for inspecting the display panel such as a liquid crystal display panel for display defects.

検査装置１０は、検査対象となる液晶表示パネル２０が装着される検査用テーブル１２と、検査用テーブル１２の下方（背面側）に設けられた光源であるバックライト１１と、検査用テーブル１２の上方に設けられた撮像手段であるカメラ１４と、カメラ１４と検査用テーブル１２との間に設けられたレンズ群１３と、カメラ１４に接続された画像処理装置１５と、検査時における表示パネルの表示状態を制御するドライバ等の制御手段２３とを備えている。 The inspection apparatus 10 includes an inspection table 12 on which a liquid crystal display panel 20 to be inspected is mounted, a backlight 11 that is a light source provided below (on the back side of) the inspection table 12, and an inspection table 12. A camera 14, which is an imaging means provided above, a lens group 13 provided between the camera 14 and the inspection table 12, an image processing device 15 connected to the camera 14, and a display panel at the time of inspection And a control means 23 such as a driver for controlling the display state.

上記液晶表示パネル２０は、バックライト１１の光を透過して透過表示を少なくとも行う例えばＳＶＧＡ型の液晶表示パネルであり、例えば、マトリクス状に配置された複数の絵素を有している。各絵素は、Ｒ，Ｇ，Ｂの三色をそれぞれ表示する一組のドットにより構成されている。液晶表示パネル２０には、横方向に２４００個のドットが設けられると共に、縦方向に６００個のドットが設けられている。 The liquid crystal display panel 20 is, for example, an SVGA type liquid crystal display panel that transmits at least the light of the backlight 11 and performs transmissive display, and includes, for example, a plurality of picture elements arranged in a matrix. Each picture element is composed of a set of dots for displaying three colors of R, G, and B, respectively. The liquid crystal display panel 20 is provided with 2400 dots in the horizontal direction and 600 dots in the vertical direction.

上記バックライト１１は液晶表示パネル２０に適宜光を供給する。バックライト１１から供給されて液晶表示パネル２０を透過した光は、レンズ群１３により集光されてカメラ１４へ入射するようになっている。 The backlight 11 appropriately supplies light to the liquid crystal display panel 20. The light supplied from the backlight 11 and transmitted through the liquid crystal display panel 20 is condensed by the lens group 13 and enters the camera 14.

上記検査用テーブル１２は、平面図である図３に示すように、その中央に上記液晶表示パネル２０が装着される装着部２１を有する。装着部２１は、液晶表示パネル２０の形状と同じ四角形に形成され、バックライト１１の光を透過するように構成されている。 As shown in FIG. 3 which is a plan view, the inspection table 12 has a mounting portion 21 in the center of which the liquid crystal display panel 20 is mounted. The mounting portion 21 is formed in the same square as the shape of the liquid crystal display panel 20 and is configured to transmit the light of the backlight 11.

図４は、液晶表示パネル２０が検査用テーブル１２に装着された状態を示している。上記制御手段２３は、液晶表示パネル２０を制御して、その液晶表示パネル２０の一部において少なくとも１つのドットをマーク４０として点灯させるように構成されている。本実施形態では、１つのドットによって１つのマーク４０を構成している。そして、マーク４０は、液晶表示パネル２０の表示領域において所定の間隔で配置された４つのマーク４０ａ，４０ｂ，４０ｃ，４０ｄにより構成され、時計回りにこの順で並んでいる。 FIG. 4 shows a state in which the liquid crystal display panel 20 is mounted on the inspection table 12. The control means 23 is configured to control the liquid crystal display panel 20 to light at least one dot as a mark 40 in a part of the liquid crystal display panel 20. In the present embodiment, one mark 40 is constituted by one dot. The mark 40 is composed of four marks 40a, 40b, 40c, and 40d arranged at a predetermined interval in the display area of the liquid crystal display panel 20, and is arranged in this order in the clockwise direction.

尚、複数の隣り合うドットを１つのまとまりとし、これを１つのマーク４０としてもよい。また、各マーク４０は、複数の絵素により構成してもよい。このことにより、各マーク４０ａ，４０ｂ，４０ｃ，４０ｄを大きくして明確に撮像することが可能となる。 It should be noted that a plurality of adjacent dots may be taken as one group and this may be used as one mark 40. Each mark 40 may be composed of a plurality of picture elements. As a result, it is possible to increase the size of each of the marks 40a, 40b, 40c, and 40d and clearly capture an image.

上記カメラ１４には、ＣＣＤ（charge-coupled device：電荷結合素子）が設けられている。カメラ１４のＣＣＤの分解能は、例えば、横方向が４０００ドットであり、縦方向が２６７２ドットである。そして、カメラ１４は、上記検査用テーブル１２に装着された液晶表示パネル２０を例えば９つの撮像領域３１〜３９に分割し、各撮像領域３１〜３９をそれぞれ撮像するようになっている。撮像領域は９つに限らず、複数設けられていればよい。 The camera 14 is provided with a charge-coupled device (CCD). The CCD 14 resolution of the camera 14 is, for example, 4000 dots in the horizontal direction and 2672 dots in the vertical direction. And the camera 14 divides | segments the liquid crystal display panel 20 with which the said test | inspection table 12 was mounted | worn, for example to nine imaging areas 31-39, and images each imaging area 31-39, respectively. The number of imaging areas is not limited to nine, and a plurality of imaging areas may be provided.

各撮像領域３１〜３９は、隣接する領域同士が互いに重なるように配置されている。図１に示すように、各マーク４０ａ，４０ｂ，４０ｃ，４０ｄは、隣接する４つの撮像領域同士が重なる部分に配置されている。すなわち、マーク４０ａは、撮像領域３１，３２，３８，３９が重なる部分に設けられている。マーク４０ｂは、撮像領域３２，３３，３４，３９が重なる部分に配置されている。マーク４０ｃは、撮像領域３４，３５，３６，３９が重なる部分に設けられている。また、マーク４０ｄは、撮像領域３６，３７，３８，３９が重なる部分に配置されている。 The imaging regions 31 to 39 are arranged so that adjacent regions overlap each other. As shown in FIG. 1, each mark 40a, 40b, 40c, 40d is arranged in a portion where four adjacent imaging regions overlap each other. That is, the mark 40a is provided in a portion where the imaging regions 31, 32, 38, 39 overlap. The mark 40b is disposed in a portion where the imaging areas 32, 33, 34, and 39 overlap. The mark 40c is provided in a portion where the imaging regions 34, 35, 36, and 39 overlap. Further, the mark 40d is arranged in a portion where the imaging regions 36, 37, 38, 39 overlap.

カメラ１４は、各撮像領域３１〜３９を、各撮像領域３１〜３９に含まれる全ての絵素を表示させた状態で分割画像としてそれぞれ撮像する。さらに、カメラ１４は、各撮像領域３１〜３９を、マーク４０ａ，４０ｂ，４０ｃ，４０ｄのみを点灯させた状態で（つまり、マーク４０ａ，４０ｂ，４０ｃ，４０ｄ以外のドットを消灯させた状態で）、マーク画像としてそれぞれ撮像するようになっている。 The camera 14 images each of the imaging regions 31 to 39 as a divided image in a state where all the picture elements included in the imaging regions 31 to 39 are displayed. Further, the camera 14 turns on each of the imaging regions 31 to 39 with only the marks 40a, 40b, 40c, and 40d turned on (that is, with the dots other than the marks 40a, 40b, 40c, and 40d turned off). The image is picked up as a mark image.

上記画像処理装置１５は、図２に示すように、Ａ／Ｄコンバータ１６と、メモリ１７と、演算手段である演算回路１８と、画像合成手段である画像合成回路１９とを備えている。 As shown in FIG. 2, the image processing device 15 includes an A / D converter 16, a memory 17, an arithmetic circuit 18 as arithmetic means, and an image synthesizing circuit 19 as image synthesizing means.

上記Ａ／Ｄコンバータ１６は、カメラ１４に接続され、カメラ１４のＣＣＤに入射した光の量に応じて蓄積された電荷の量をデジタル化して輝度相対データに変換するように構成されている。上記メモリ１７は、Ａ／Ｄコンバータ１６に接続され、上記輝度相対データを記憶するようになっている。 The A / D converter 16 is connected to the camera 14 and is configured to digitize the amount of charge accumulated according to the amount of light incident on the CCD of the camera 14 and convert it into luminance relative data. The memory 17 is connected to the A / D converter 16 and stores the luminance relative data.

上記画像合成回路１９は、上記メモリ１７に接続され、そのメモリ１７に記憶されている複数の分割画像を、同じくメモリ１７に記憶されているマーク画像を基準として合成することにより、液晶表示パネル２０の全体画像を形成するようになっている。 The image synthesizing circuit 19 is connected to the memory 17 and synthesizes a plurality of divided images stored in the memory 17 with reference to a mark image stored in the memory 17 as a reference. The whole image is formed.

上記演算回路１８は、上記画像合成回路１９及び、メモリ１７に接続され、上記画像合成回路１９により合成された上記全体画像に基づいて、液晶表示パネル２０の表示不良の有無を判断するように構成されている。表示不良の判断結果は、例えば上記メモリ１７に記憶される。 The arithmetic circuit 18 is connected to the image synthesizing circuit 19 and the memory 17 and is configured to determine whether or not there is a display defect of the liquid crystal display panel 20 based on the whole image synthesized by the image synthesizing circuit 19. Has been. The determination result of display failure is stored in the memory 17, for example.

次に、液晶表示パネル２０の製造方法について説明する。 Next, a method for manufacturing the liquid crystal display panel 20 will be described.

液晶表示パネル２０は、複数のＴＦＴ（薄型トランジスタ）等が形成されたＴＦＴアレイ基板（図示省略）と、カラーフィルタや共通電極等が形成された対向基板（図示省略）とがスペーサを介して貼り合わされると共に、上記各基板の間に液晶を封入することにより形成される。その後、後述の検査工程を行うことにより、製造工程が完了する。つまり、検査工程は、液晶表示パネル２０の製造方法に含まれている。 The liquid crystal display panel 20 has a TFT array substrate (not shown) in which a plurality of TFTs (thin transistors) and the like are formed and a counter substrate (not shown) in which a color filter, a common electrode, and the like are formed via a spacer. In addition, the liquid crystal is sealed between the substrates. Then, a manufacturing process is completed by performing the below-mentioned inspection process. That is, the inspection process is included in the method for manufacturing the liquid crystal display panel 20.

上記検査工程は、装着ステップと、第１撮像ステップと、第２撮像ステップと、合成ステップと、判断ステップとを含んでいる。 The inspection process includes a mounting step, a first imaging step, a second imaging step, a synthesis step, and a determination step.

装着ステップでは、図４に示すように、液晶表示パネル２０を検査用テーブル１２の装着部２１に装着する。また、液晶表示パネル２０を透過表示させるために、バックライト１１を発光させる。 In the mounting step, as shown in FIG. 4, the liquid crystal display panel 20 is mounted on the mounting portion 21 of the inspection table 12. In addition, the backlight 11 is caused to emit light so that the liquid crystal display panel 20 is transmissively displayed.

その後、第１撮像ステップでは、液晶表示パネル２０を複数の撮像領域に分割して、分割画像を撮像する。すなわち、図４に示すように、例えば撮像領域３１の上方にカメラ１４を移動させて固定する。続いて、制御手段２３から液晶表示パネル２０へ制御信号を供給して、各撮像領域３１〜３９に含まれる全ての絵素（全てのドット）を点灯させて表示させる。 Thereafter, in the first imaging step, the liquid crystal display panel 20 is divided into a plurality of imaging regions, and a divided image is captured. That is, as shown in FIG. 4, for example, the camera 14 is moved and fixed above the imaging region 31. Subsequently, a control signal is supplied from the control unit 23 to the liquid crystal display panel 20, and all the picture elements (all dots) included in each of the imaging regions 31 to 39 are lit and displayed.

ここで、図１０は、各撮像領域３１〜３９を撮像するＣＣＤのドット２５を模式的に示している。尚、図１０では、説明のために、ドット２５が全部で１００個（１０×１０）であるとして模式的に示している。このように、カメラ１４のＣＣＤは、マトリクス状に配置された複数のドット２５を有している。 Here, FIG. 10 schematically shows the dot 25 of the CCD that images each of the imaging regions 31 to 39. In FIG. 10, for the sake of explanation, the dot 25 is schematically shown as 100 (10 × 10) in total. Thus, the CCD of the camera 14 has a plurality of dots 25 arranged in a matrix.

図１１は、液晶表示パネル２０のドット３０ｒ，３０ｇ，３０ｂに、上記ＣＣＤのドット２５を重ね合わせた状態を示している。尚、ドット３０ｒは、赤色（Ｒ）のドットであり、ドット３０ｇは、緑色（Ｇ）のドットであり、ドット３０ｂは、青色（Ｂ）のドットである。図１１に示されるように、本実施形態では、例えば、ドット３０ｒ，３０ｇ，３０ｂの１つに対し、６（２×３）個のＣＣＤのドット２５が対応している。したがって、サンプリング定理により最低限要求される２個以上のドットの条件は、十分に満たしている。 FIG. 11 shows a state in which the dot 25 of the CCD is superimposed on the dots 30r, 30g, and 30b of the liquid crystal display panel 20. The dots 30r are red (R) dots, the dots 30g are green (G) dots, and the dots 30b are blue (B) dots. As shown in FIG. 11, in the present embodiment, for example, 6 (2 × 3) CCD dots 25 correspond to one of the dots 30r, 30g, and 30b. Therefore, the condition of two or more dots required at least by the sampling theorem is sufficiently satisfied.

そして、図１２に示すように、撮像領域３１に含まれるドット３０ｒ，３０ｇ，３０ｂを全て点灯させた状態で、この撮像領域３１を、カメラ１４により分割画像５１として撮像する。 Then, as shown in FIG. 12, the imaging region 31 is imaged as a divided image 51 by the camera 14 with all the dots 30 r, 30 g, and 30 b included in the imaging region 31 turned on.

続いて、第２撮像ステップでは、制御手段２３から液晶表示パネル２０へ制御信号を供給して、図１３に示すように、上記撮像領域３１において所定のドット（例えば１つのドット３０ｒ）のみをマーク４０ａとして点灯させ、他のドットを消灯させる。このマーク４０ａのみを点灯させた状態で、上記撮像領域３１をマーク画像５２として撮像する。このとき、カメラ１４は移動させず、上記分割画像５１を撮像した位置に固定維持しておく。マーク４０ａは、少なくとも１つ以上のドットにより構成してもよい。 Subsequently, in the second imaging step, a control signal is supplied from the control means 23 to the liquid crystal display panel 20, and only predetermined dots (for example, one dot 30r) are marked in the imaging area 31 as shown in FIG. 40a is turned on and the other dots are turned off. The imaging region 31 is imaged as a mark image 52 with only the mark 40a being lit. At this time, the camera 14 is not moved, but is kept fixed at the position where the divided image 51 is captured. The mark 40a may be composed of at least one dot.

マーク画像５２は、対応する分割画像５１の位置を正確に識別するための画像であり、上記撮像領域３１の分割画像５１を他の撮像領域３２，３８，３９の分割画像と合成する際の目印として用いる。尚、第１撮像ステップ及び第２撮像ステップは、どちらを先に行っても構わない。こうして、１つの撮像領域３１について例えば一組の分割画像５１及びマーク画像５２を撮像する。 The mark image 52 is an image for accurately identifying the position of the corresponding divided image 51, and a mark used when the divided image 51 of the imaging region 31 is combined with the divided images of the other imaging regions 32, 38, and 39. Used as Note that either the first imaging step or the second imaging step may be performed first. In this way, for example, a set of divided images 51 and mark images 52 are captured for one imaging region 31.

その後に、次の撮像領域３２の上方位置へカメラ１４を平行移動させて固定する。そして、図５に示すように、撮像領域３２について、上記と同様に、第１撮像ステップを行って分割画像を撮像すると共に、第２撮像ステップを行ってマーク画像を撮像する。このとき、撮像領域３２におけるマーク画像には、２つのマーク４０ａ，４０ｂが撮像されている。マーク４０ｂも、マーク４０ａと同様に、液晶表示パネル２０のドットにより構成されている。 Thereafter, the camera 14 is translated and fixed to a position above the next imaging region 32. Then, as shown in FIG. 5, in the imaging region 32, the first imaging step is performed to capture the divided images, and the second imaging step is performed to capture the mark image in the same manner as described above. At this time, two marks 40 a and 40 b are imaged in the mark image in the imaging region 32. The mark 40b is also configured by dots of the liquid crystal display panel 20 in the same manner as the mark 40a.

続いて、カメラ１４を平行移動させて、図６に示すように、撮像領域３３について、上記と同様に、分割画像とマーク画像とを撮像する。このとき、撮像領域３３におけるマーク画像には、マーク４０ｂが撮像されている。さらに、カメラ１４を平行移動させ、図７に示すように、撮像領域３８について、同様に、分割画像とマーク画像とを撮像する。このとき、撮像領域３８におけるマーク画像には、２つのマーク４０ａ，４０ｄが撮像されている。 Subsequently, the camera 14 is moved in parallel, and the divided image and the mark image are picked up in the image pickup region 33 as described above, as shown in FIG. At this time, the mark 40 b is imaged in the mark image in the imaging area 33. Further, the camera 14 is moved in parallel, and the divided image and the mark image are similarly picked up in the image pickup region 38 as shown in FIG. At this time, two marks 40 a and 40 d are captured in the mark image in the imaging region 38.

さらに、同様に、図８に示すように、カメラ１４を平行移動させて、撮像領域３９について、同様に、分割画像とマーク画像とを撮像する。このとき、撮像領域３９におけるマーク画像には、マーク４０ａ，４０ｂ，４０ｃ，４０ｄが撮像されている。その後、図９に示すように、残りの他の撮像領域３４〜３７についても、上記と同様に、第１撮像ステップ及び第２撮像ステップを行って、各撮像領域３４〜３７に対し、分割画像及びマーク画像を撮像する。以上のようにして、第１撮像ステップ及び第２撮像ステップを各撮像領域毎に順次行い、液晶表示パネル２０の表示領域を複数の画像に分割して撮像する。 Further, similarly, as shown in FIG. 8, the camera 14 is moved in parallel, and the divided image and the mark image are similarly picked up in the image pickup region 39. At this time, marks 40a, 40b, 40c, and 40d are captured in the mark image in the imaging region 39. Thereafter, as shown in FIG. 9, the remaining imaging regions 34 to 37 are also subjected to the first imaging step and the second imaging step in the same manner as described above, and divided images are obtained for the imaging regions 34 to 37. And a mark image is taken. As described above, the first imaging step and the second imaging step are sequentially performed for each imaging area, and the display area of the liquid crystal display panel 20 is divided into a plurality of images.

また、マーク４０ａ，４０ｂ，４０ｃ，４０ｄを複数のマーク画像に重複するように撮像したので、各分割画像は、その一部が重複して撮像されている。撮像された各分割画像は、Ａ／Ｄコンバータ１６により輝度相対データに変換されてメモリ１７に記憶される。尚、撮像する順序は、これに限らない。 Further, since the marks 40a, 40b, 40c, and 40d are imaged so as to overlap the plurality of mark images, a part of each divided image is imaged. Each captured divided image is converted into luminance relative data by the A / D converter 16 and stored in the memory 17. Note that the imaging order is not limited to this.

続いて、合成ステップでは、画像合成回路１９によって、上記複数の分割画像を、マーク画像を基準として合成することにより、液晶表示パネル２０の全体画像を形成する。 Subsequently, in the synthesizing step, the entire image of the liquid crystal display panel 20 is formed by synthesizing the plurality of divided images with the mark image as a reference by the image synthesizing circuit 19.

例えば、撮像領域３１のマーク画像と、撮像領域３２のマーク画像とを、これらに共通のマーク４０ａが互いに重なって一致するように合成する。撮像領域３１，３２における各マーク画像及び分割画像は、その位置が対応してそれぞれ一致しているため、マーク４０ａが重なるような上記各マーク画像の合成によって、撮像領域３１の分割画像と、撮像領域３２の分割画像とは、正確に合成されることとなる。 For example, the mark image of the imaging area 31 and the mark image of the imaging area 32 are combined so that the common mark 40a overlaps and coincides with them. Since the respective mark images and divided images in the image pickup areas 31 and 32 correspond to each other in position, the divided images of the image pickup area 31 and the image pickup are obtained by combining the mark images such that the mark 40a overlaps. The divided image in the region 32 is accurately synthesized.

撮像領域３２，３３及び撮像領域３３，３４については、上記と同様に、マーク４０ｂを基準として各マーク画像を合成することにより、各分割画像を正確に合成する。また、例えば、撮像領域３９と撮像画像３１〜３４とについては、マーク４０ａ，４０ｂ，４０ｃを基準として各マーク画像を合成することにより、各分割画像を正確に合成する。このように、マーク４０ａ，４０ｂ，４０ｃ，４０ｄを基準として、各マーク画像を合成することにより、各分割画像を合成する。尚、各分割画像を合成する順番については、特に限定されるものではない。 As for the imaging regions 32 and 33 and the imaging regions 33 and 34, the respective divided images are accurately synthesized by synthesizing the respective mark images with the mark 40b as a reference, as described above. Further, for example, with respect to the imaging region 39 and the captured images 31 to 34, the divided images are accurately combined by combining the mark images with the marks 40a, 40b, and 40c as a reference. In this way, the respective divided images are synthesized by synthesizing the respective mark images with reference to the marks 40a, 40b, 40c, and 40d. The order in which the divided images are combined is not particularly limited.

以上のようにして、画像合成回路１９により、各分割画像が互いに合成されて全体画像が形成され、その全体画像の輝度相対データがメモリ１７に記憶される。 As described above, the divided images are combined with each other by the image composition circuit 19 to form an entire image, and the luminance relative data of the entire image is stored in the memory 17.

次に、判断ステップでは、合成された上記全体画像の輝度相対データに基づいて液晶表示パネル２０の表示不良の有無を判断する。すなわち、メモリ１７には閾値（基準データ）が予め記憶されており、演算回路１８において、上記全体画像の輝度相対データと閾値とが比較され、特定のドットにおける表示不良の有無が正確に判断される。こうして、表示不良の検査が行われる。 Next, in the determination step, it is determined whether there is a display defect on the liquid crystal display panel 20 based on the luminance relative data of the synthesized whole image. That is, a threshold value (reference data) is stored in the memory 17 in advance, and the arithmetic circuit 18 compares the luminance relative data of the entire image with the threshold value, and accurately determines whether there is a display defect in a specific dot. The In this way, display defects are inspected.

−実施形態１の効果−
液晶表示パネル２０の表示不良を詳細に検査するためには、周囲を暗くする必要があるが、本実施形態ではマーク４０を点灯可能に構成しているために、マーク４０をマーク画像に明確に撮像することができる。したがって、マーク画像のマーク４０に基づいて、液晶表示パネル２０の各分割画像を正確に合成できるため、正確な全体画像を形成することができる。その結果、上記全体画像の情報を精度良く得ることができるため、表示不良のドットを確実に検出して、製造された表示パネルの信頼性を高めることが可能となる。 -Effect of Embodiment 1-
In order to inspect the display defect of the liquid crystal display panel 20 in detail, it is necessary to darken the surroundings. However, in the present embodiment, since the mark 40 can be turned on, the mark 40 is clearly displayed in the mark image. An image can be taken. Therefore, since each divided image of the liquid crystal display panel 20 can be accurately synthesized based on the mark 40 of the mark image, an accurate whole image can be formed. As a result, since the information of the entire image can be obtained with high accuracy, it is possible to reliably detect defective display dots and increase the reliability of the manufactured display panel.

そのことに加え、液晶表示パネル２０のドット自体をマーク４０として利用するようにしたので、分割画像の合成のためのマークを別個独立に設ける必要がない。つまり、より簡単な構成で検査を行うことができる。 In addition, since the dots themselves of the liquid crystal display panel 20 are used as the marks 40, it is not necessary to provide separate marks for combining the divided images. That is, the inspection can be performed with a simpler configuration.

《その他の実施形態》
上記実施形態１では、液晶表示パネル２０について説明したが、本発明はこれに限らず有機ＥＬ表示パネル等の他の表示パネルに適用することもできる。 << Other Embodiments >>
In the first embodiment, the liquid crystal display panel 20 has been described. However, the present invention is not limited to this, and can be applied to other display panels such as an organic EL display panel.

以上説明したように、本発明は、表示パネルの製造方法及び表示パネルの検査装置について有用であり、特に、表示パネルの分割画像を正確に合成して、全体画像の情報を精度良く得られるようにし、表示不良検査された表示パネルの信頼性を高める場合に適している。 As described above, the present invention is useful for a display panel manufacturing method and a display panel inspection apparatus. In particular, it is possible to accurately synthesize divided images of a display panel and obtain information of the entire image with high accuracy. Therefore, it is suitable for increasing the reliability of a display panel subjected to a display defect inspection.

９つに分割して撮像される実施形態１の液晶表示パネルを示す平面図である。It is a top view which shows the liquid crystal display panel of Embodiment 1 imaged by dividing into nine. 検査装置の概略構成を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows schematic structure of an inspection apparatus. 検査用テーブルを示す平面図である。It is a top view which shows the table for a test | inspection. 第１の撮像領域を示す平面図である。It is a top view which shows a 1st imaging area. 第１〜２の撮像領域を示す平面図である。It is a top view which shows the 1st-2nd imaging area. 第１〜３の撮像領域を示す平面図である。It is a top view which shows the 1st-3rd imaging area. 第１〜４の撮像領域を示す平面図である。It is a top view which shows the 1st-4th imaging area. 第１〜５の撮像領域を示す平面図である。It is a top view which shows the 1st-5th imaging area. 第１〜９の撮像領域を示す平面図である。It is a top view which shows the 1st-9th imaging area. カメラのＣＣＤのドットを模式的に示す平面図である。It is a top view which shows typically the dot of CCD of a camera. 液晶表示パネルのドットを拡大して示す平面図である。It is a top view which expands and shows the dot of a liquid crystal display panel. 第１の分割画像を拡大して示す図である。It is a figure which expands and shows a 1st divided image. 第１のマーク画像を拡大して示す図である。It is a figure which expands and shows the 1st mark image. 従来の検査装置の概略構成を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows schematic structure of the conventional inspection apparatus. 従来の分割画像の撮影方法を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the imaging | photography method of the conventional divided image.

Explanation of symbols

１０検査装置
１４カメラ（撮像手段）
１５画像処理装置
１８演算回路（演算手段）
１９画像合成回路（画像合成手段）
２３制御手段
３０ｒ，３０ｇ，３０ｂドット
３１〜３９撮像領域
４０，４０ａ，４０ｂ，４０ｃ，４０ｄマーク
５１分割画像
５２マーク画像 10 Inspection device 14 Camera (imaging means)
15 Image processing device 18 Arithmetic circuit (calculation means)
19 Image composition circuit (image composition means)
23 Control means 30r, 30g, 30b Dots 31-39 Imaging regions 40, 40a, 40b, 40c, 40d Mark 51 Divided image 52 Mark image

Claims

A display panel having a plurality of picture elements composed of a plurality of dots is divided into a plurality of image pickup areas, and each of the image pickup areas is picked up as a divided image in a state where all the picture elements included in the image pickup area are displayed. A first imaging step;
Combining the divided images to form an entire image of the display panel;
A method of manufacturing a display panel comprising an inspection step including a determination step of determining the presence or absence of display failure of the display panel based on the entire image,
A second imaging step of imaging each of the imaging areas as a mark image in a state where only a mark constituted by at least one of the dots is lit in a part of the imaging area;
In the composition step, the entire image is formed on the basis of the mark image.

In claim 1,
The method for manufacturing a display panel, wherein the first imaging step and the second imaging step are sequentially performed for each of the imaging regions.

In claim 1,
The method of manufacturing a display panel, wherein the mark to be lit is composed of a plurality of picture elements.

In claim 1,
The display panel is a liquid crystal display panel that transmits light from a light source and performs transmissive display.

Control means for controlling a display panel having a plurality of picture elements composed of a plurality of dots and lighting at least one of the dots as a mark in a part of the display panel;
The display panel is divided into a plurality of imaging areas, and each imaging area is imaged as a divided image in a state where all picture elements included in the imaging area are displayed, while each imaging area is Imaging means for imaging each as a mark image in a state where only
Image combining means for forming the entire image of the display panel by combining the plurality of divided images with reference to the mark image;
An inspection device for a display panel, comprising: an arithmetic unit that determines the presence or absence of display failure of the display panel based on the whole image.