JP2006337310A - 金属表面の酸化膜厚さ測定方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 金属表面に生成する酸化膜の厚さに対応する輝度を有する複数のスケール1を、表面に酸化膜が形成された測定対象物2に隣接して配置し、上記測定対象物の表面輝度を上記スケールの輝度と照合し、上記測定対象物の表面輝度と一致する輝度を有するスケールを選定することにより、酸化膜の厚さを検出する。
【選択図】 図1
Description
2 測定対象物
Claims (6)
- 金属表面に生成する酸化膜の厚さに対応する輝度を有する複数のスケールを、表面に酸化膜が形成された測定対象物に隣接して配置し、上記測定対象物の表面輝度を上記スケールの輝度と照合し、上記測定対象物の表面輝度と一致する輝度を有するスケールを選定することにより、酸化膜の厚さを検出することを特徴とする、金属表面の酸化膜厚さ測定方法。
- スケールは、酸化膜の厚さに対応する輝度を印刷した紙であることを特徴とする、請求項1記載の金属表面の酸化膜厚さ測定方法。
- スケールは、上記測定対象物と同一の金属であり、表面に形成された酸化膜の厚さが既知の金属であることを特徴とする、請求項1記載の金属表面の酸化膜厚さ測定方法。
- 測定対象物はジルコニウムまたはジルコニウムを主成分とする合金であることを特徴とする、請求項1乃至3のいずれかに記載の金属表面の酸化膜厚さ測定方法。
- スケールは測定対象物と同様な形状を有することを特徴とする、請求項1乃至4のいずれかに記載の金属表面の酸化膜厚さ測定方法。
- スケールと測定対象物を同時に含むように撮影し、その外観写真により上記測定対象物の表面輝度と上記スケールの輝度とを照合することを特徴とする、請求項1乃至5のいずれかに記載の金属表面の酸化膜厚さ測定方法。
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2005
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