JP2006317763A - Liquid crystal display device - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、液晶表示装置に関するもので、特にアクティブマトリクス方式の液晶表示装置に関する。 The present invention relates to a liquid crystal display device, and more particularly to an active matrix liquid crystal display device.
液晶表示装置は、液晶表示パネルを有している。この液晶表示パネルは、対向して配置された一対の基板、すなわちアレイ基板及び対向基板と、これら一対の基板の間に光変調層として保持された液晶層とを備えている。この液晶表示パネルは、画像を表示する略矩形状の有効表示部を備えている。この有効表示部は、マトリクス状に配置された複数の表示画素によって構成されている。 The liquid crystal display device has a liquid crystal display panel. The liquid crystal display panel includes a pair of substrates arranged opposite to each other, that is, an array substrate and a counter substrate, and a liquid crystal layer held as a light modulation layer between the pair of substrates. The liquid crystal display panel includes a substantially rectangular effective display unit that displays an image. This effective display section is composed of a plurality of display pixels arranged in a matrix.
これら複数の表示画素は、入力された信号をスイッチングするための画素スイッチを有している。この画素スイッチは、有効表示部の外部に接続される駆動信号源、例えばフレキシブル配線基板等からの信号によってオンオフ制御される。 The plurality of display pixels have pixel switches for switching input signals. This pixel switch is on / off controlled by a signal from a drive signal source connected to the outside of the effective display section, for example, a flexible wiring board.
上記の液晶表示パネルについて、駆動信号源であるフレキシブル配線基板等の実装前に画素欠陥の有無を検査する表示検査が行われている。従来、この表示検査は、有効表示部の外部に形成された検査パッドに検査信号源を接続し、有効表示部に引き出された検査配線に検査信号を供給して行っていた(特許文献1参照)。
しかし上記の方法では、フレキシブル配線基板等の実装後に検査パッドが露出しなくなるために、実装前と同じ検査方法によって表示検査を行うことができない場合があった。 However, in the above method, since the inspection pad is not exposed after mounting the flexible wiring board or the like, the display inspection may not be performed by the same inspection method as before mounting.
本発明は上記の問題点に鑑みて成されたものであって、フレキシブル配線基板等の実装後において、実装前と同じ検査方法によって表示検査を行うことができる液晶表示装置を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide a liquid crystal display device capable of performing a display inspection by the same inspection method as before mounting after mounting a flexible wiring board or the like. And
本発明の態様による液晶表示装置は、マトリクス状に配置された複数の表示画素によって構成された有効表示部と、前記有効表示部に駆動信号を供給する駆動信号源が接続される接続パッドと、前記有効表示部の表示検査の際に検査信号源が接続される検査パッドと、前記検査パッドと前記有効表示部とを接続するとともに、表示検査の際に検査信号が供給される検査配線と、前記接続パッドと前記検査パッドとを接続する接続配線と、を備える。 A liquid crystal display device according to an aspect of the present invention includes an effective display unit configured by a plurality of display pixels arranged in a matrix, a connection pad to which a drive signal source that supplies a drive signal to the effective display unit is connected, An inspection pad to which an inspection signal source is connected during the display inspection of the effective display portion, an inspection wiring for connecting the inspection pad and the effective display portion, and an inspection signal is supplied during the display inspection; Connection wiring for connecting the connection pad and the inspection pad.
本発明によれば、フレキシブル配線基板等の実装後において、実装前と同じ検査方法によって表示検査を行うことができる液晶表示装置を提供することができる。 ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the liquid crystal display device which can perform a display test | inspection by the same test | inspection method after mounting after mounting a flexible wiring board etc. can be provided.
以下、本発明の第1実施形態に係る液晶表示装置について図面を参照して説明する。本発明の一実施形態に係る液晶表示装置は、図1に示すように、略矩形平板状の液晶表示パネル1を備えている。この液晶表示パネル1は、対向して配置された一対の基板すなわちアレイ基板3及び対向基板4と、これら一対の基板の間に光変調層として保持された液晶層5と、によって構成されている。
Hereinafter, a liquid crystal display device according to a first embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. As shown in FIG. 1, the liquid crystal display device according to an embodiment of the present invention includes a liquid
この液晶表示パネル1は、画像を表示する略矩形状の有効表示部6を備えている。有効表示部6は、マトリクス状に配置された複数の表示画素PXによって構成されている。
The liquid
アレイ基板3は、有効表示部6において、配線、例えば、表示画素PXの行方向に沿って延在する複数の走査線Y(1、2、3、…、m)や、表示画素PXの列方向に沿って延在する複数の信号線X(1、2、3、…、n)を備えている。また、アレイ基板3は、有効表示部6において、これらの各種配線の他に、走査線Yと信号線Xとの交差部付近において表示画素PX毎に配置された画素スイッチ7、画素スイッチ7に接続された画素電極8等を備えている。
The
画素スイッチ7は、薄膜トランジスタ(TFT)などで構成されている。この画素スイッチ7のゲート電極7Gは、対応する走査線Yに電気的に接続されている(あるいは走査線と一体に形成されている)。画素スイッチ7のソース電極7Sは、対応する信号線Xに電気的に接続されている(あるいは信号線と一体に形成されている)。画素スイッチ7のドレイン電極7Dは、対応する表示画素PXの画素電極8に電気的に接続されている。
The pixel switch 7 is composed of a thin film transistor (TFT) or the like. The
対向基板4は、有効表示部6において、全表示画素PXに共通の対向電極9などを備えている。これらアレイ基板3及び対向基板4は、全表示画素PXの画素電極8と対向電極9とを対向させた状態で配設され、これらの間にギャップを形成する。液晶層5は、アレイ基板3と対向基板4とのギャップに封止された液晶組成物によって形成されている。
The
液晶表示パネル1は、有効表示部6の外側に位置する外周部10に配置された駆動信号源が接続される接続部11を備えている。接続部11は、駆動IC12が配置される第1接続パッド11Aと、駆動信号源としてフレキシブル配線基板(FPC)を接続可能な第2接続パッド11Bとを有している。
The liquid
図1に示した例では、第1接続パッド11A及び第2接続パッド11Bは、対向基板4の端部4Aより外方に延在したアレイ基板3の延在部10A上に配置されている。第1接続パッド11Aは、例えば駆動IC12の入力端子と接続される第1パッド11A1及び駆動IC12の出力端子と接続される第2パッド11A2を含んでいる。また、第2接続パッド11Bは、第1接続パッド11Aの第1パッド11A1と延在部10A上の配線W3を介して互いに接続される第3パッド11B3を含んでいる。第2パッド11A2は、有効表示部6に延びる配線W4によって信号線X及び走査線Yの一端に接続されている。
In the example shown in FIG. 1, the
また、延在部10Aには、有効表示部6の表示検査を行う際に、検査信号源である検査装置2が接続される検査パッドP(1、2、…、6)が配置されている。検査パッドPは、表示検査の際に検査信号が供給される検査配線W1に接続されている。図1に示した例では、検査配線W1は、外周部10に配置されている。
In addition, in the extended
また、検査配線W1は、スイッチング素子SWを介して、有効表示部6の信号線X及び走査線Y等に接続している。すなわち、図1に示す場合では、検査パッドP1に接続した検査配線W1は、有効表示部6の対向電極9に接続している。検査パッドP2に接続した検査配線W1は、信号線X及び走査線Y毎に設けられたスイッチング素子SWのゲート電極に接続されている。検査パッドP3に接続した検査配線W1は、偶数番目の走査線Y(2、4、…)に接続されたスイッチング素子SWのソース電極に接続されている。検査パッドP4に接続した検査配線W1は、奇数番目の走査線Y(1、3、…)に接続されたスイッチング素子SWのソース電極に接続されている。検査パッドP5に接続された検査配線W1は、偶数番目の信号線X(2、4、…)に接続されたスイッチング素子SWのソース電極に接続されている。検査パッドP6に接続された検査配線W1は、奇数番目の信号線X(1、3、…)に接続されたスイッチング素子SWのソース電極に接続されている。信号線X及び走査線Yの他端は、スイッチング素子SWのドレイン電極に接続されている。
The inspection wiring W1 is connected to the signal line X, the scanning line Y, and the like of the
この実施の形態では、さらに、検査パッドPは、それぞれ接続配線W2によって第2接続パッド11Bと接続されている。すなわち、第2接続パッド11Bは、検査パッドPと延在部10A上の配線W4を介して互いに接続される第4パッド11B4を含んでいる。
In this embodiment, the test pads P are further connected to the
上記の液晶表示パネル1について、駆動IC12及びフレキシブル配線基板FPCの実装前において第1表示検査方法が適用可能である。この第1表示検査方法は、検査配線W1を介して有効表示部6における画素欠陥の有無を検査するものであり、検査パッドPに検査信号源である検査装置2を接続して有効表示部6に検査信号を入力する。図2に示した場合では、検査装置2の出力配線が検査パッドP1、P2、P4、P6に接続されている。
For the liquid
この場合、検査パッドP1から対向電極9に電圧が印加され、検査パッドP2から検査配線W1を介してスイッチング素子SWのゲート電極に所定の電圧が印加される。これにより、スイッチング素子SWはオン状態となる。このとき、検査パッドP4及び検査パッドP6から奇数番目の信号線X(1、3…)と奇数番目の走査線Y(1、3…)とに検査信号が入力され、検査信号が入力されたラインが交差する部分の表示画素PXが点灯する。
In this case, a voltage is applied from the test pad P1 to the
上記の組み合せ以外でも、例えば、検査装置2の出力配線が検査パッドP1、P2、P3、P5に接続されると、偶数番目の信号線X(2、4…)と偶数番目の走査線Y(2、4…)とに検査信号が入力されて、偶数番目の信号線X(2、4…)と偶数番目の走査線Y(2、4…)とが交差する部分の表示画素PXが点灯する。
Other than the above combinations, for example, when the output wiring of the
このときに、入力された検査信号に対応して表示画素が点灯しているか否か等によって表示検査を行う。 At this time, display inspection is performed depending on whether or not the display pixel is lit in response to the input inspection signal.
また、この実施の形態の構成によれば、駆動IC12及びフレキシブル配線基板FPCの実装後において、先に説明した第1表示検査方法も適用可能である。すなわち、上記と同様の第1表示検査方法では、図3に示すように、検査装置2からフレキシブル配線基板FPCに検査信号を入力する。フレキシブル配線基板FPCに入力された検査信号うち、第2接続パッド11Bの第4パッド11B4を介して入力された検査信号は、接続配線W2を介して各検査パッドPに入力される。検査パッドPに入力された検査信号は、実装前と同様に対向電極9、スイッチング素子SW、信号線X、及び走査線Yに入力され、検査信号が入力された信号線Xと走査線Yとが交差する部分の表示画素PXが点灯する。ここでも、入力した検査信号に対応した表示画素PXが点灯しているか否か等によって表示検査を行う。
In addition, according to the configuration of this embodiment, the first display inspection method described above can also be applied after the
さらに、駆動IC12及びフレキシブル配線基板FPCの実装後には、第1表示検査方法以外に第2表示検査方法が適用可能である。この第2表示検査方法は、有効表示部6における画素欠陥の有無を検査するものであり、フレキシブル配線基板FPCに検査信号源である検査装置2を接続して有効表示部6に検査信号を入力する。
Furthermore, after mounting the
すなわち、図3に示すように、この第2表示検査方法は、検査装置2からフレキシブル配線基板FPCに検査信号を入力する。フレキシブル配線基板FPCから入力された検査信号のうち、第2接続パッド11Bの第3パッド11B3を介して入力された検査信号は、配線W3を介して第1接続パッド11Aの第1パッド11A1に入力され、さらに、駆動IC12の入力端子に入力される。駆動IC12の出力端子から第1接続パッド11Aの第2パッド11A2から出力された検査信号は、配線W4を介して信号線X及び走査線Yに入力される。これにより、入力した検査信号に対応した表示画素PXが点灯しているか否か等によって表示検査を行う。
That is, as shown in FIG. 3, in the second display inspection method, an inspection signal is input from the
以上説明したように、検査信号源が接続される検査パッドPを駆動信号源が接続される接続パッド11Bと接続することによって、駆動信号源を実装した後であっても、駆動信号源を介して検査信号源を接続可能となり、検査パッドPを用いた実装前と同様の検査方法で表示検査を行うことができる。このことによって、実装前と実装後との表示について解析を行う際に、解析方法を変換する必要がなくなる。
As described above, by connecting the test pad P to which the test signal source is connected to the
また、信号線X及び走査線Yに検査信号を入力するための検査パッドPを、奇数番目の信号線X(1、3…)及び走査線Y(1、3…)に接続される検査パッドP4、P6と、偶数番目の信号線X(2、4…)及び走査線Y(2、4…)に接続される検査パッドP3、P5とに分けることによって、隣接する配線間のショートや、各配線の断線等の欠陥についての検査が容易になる。 Further, the inspection pad P for inputting the inspection signal to the signal line X and the scanning line Y is connected to the odd-numbered signal line X (1, 3,...) And the scanning line Y (1, 3,...). By dividing P4 and P6 into test pads P3 and P5 connected to even-numbered signal lines X (2, 4...) And scanning lines Y (2, 4. Inspection for defects such as disconnection of each wiring becomes easy.
なお、この発明は、上記実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。 Note that the present invention is not limited to the above-described embodiment as it is, and can be embodied by modifying the constituent elements without departing from the scope of the invention in the implementation stage.
例えば、上記の実施形態では、信号線Xに接続される検査配線W1は、2本であるが、信号線Xに接続される検査配線W1を3本にし、赤色画素、緑色画素、青色画素毎に検査信号を入力するようにしても良い。このことによって、カラー表示についても検査を行うことができる。 For example, in the above embodiment, the number of inspection wirings W1 connected to the signal line X is two, but the number of inspection wirings W1 connected to the signal line X is three, and each of the red pixel, the green pixel, and the blue pixel. An inspection signal may be input to the terminal. As a result, the color display can be inspected.
また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合せにより種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。例えば、上記の実施形態では接続パッド11Aに駆動IC12が配置される、駆動信号源としてフレキシブル配線基板FPCのみが接続されても良い。更に、異なる実施形態に亘る構成要素を適宜組み合せてもよい。
Further, various inventions can be formed by appropriately combining a plurality of constituent elements disclosed in the embodiment. For example, some components may be deleted from all the components shown in the embodiment. For example, in the above embodiment, only the flexible wiring board FPC may be connected as a drive signal source in which the
1…液晶表示パネル、3…アレイ基板、4…対向基板、4A…端部、5…液晶層、6…表示領域、7…スイッチング素子、7G…ゲート電極、7S…ソース電極、7D…ドレイン電極、8…画素電極、9…対向電極、10…外周部、10A…延在部、11…接続部、11A…第1接続パッド、11A1…第1パッド、11A2…第2パッド、11B…第2接続パッド、11B3…第3パッド、11B4…第4パッド、12…駆動IC、FPC…フレキシブル配線基板、X(X1〜Xn)…信号線、Y(Y1〜Ym)…走査線、PX…画素、P(P1〜P6)…検査パッド、W1…検査配線、W2…接続配線、SW…スイッチング素子
DESCRIPTION OF
Claims (3)
前記有効表示部に駆動信号を供給する駆動信号源が接続される接続パッドと、
前記有効表示部の表示検査の際に検査信号源が接続される検査パッドと、
前記検査パッドと前記有効表示部とを接続するとともに、表示検査の際に検査信号が供給される検査配線と、
前記接続パッドと前記検査パッドとを接続する接続配線と、を備えた液晶表示装置。 An effective display unit composed of a plurality of display pixels arranged in a matrix;
A connection pad to which a drive signal source for supplying a drive signal to the effective display unit is connected;
A test pad to which a test signal source is connected during the display test of the effective display unit;
In addition to connecting the inspection pad and the effective display unit, inspection wiring to which an inspection signal is supplied during display inspection,
A liquid crystal display device comprising: a connection wiring for connecting the connection pad and the inspection pad.
前記検査配線は前記有効表示部の外側に位置する外周部に配置され、前記走査線及び前記信号線に接続されている請求項1記載の液晶表示装置。 The effective display unit includes a scanning line extending along a row direction of the display pixel and a signal line extending along a column direction,
The liquid crystal display device according to claim 1, wherein the inspection wiring is disposed on an outer peripheral portion located outside the effective display portion and connected to the scanning line and the signal line.
Priority Applications (1)
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2005
- 2005-05-13 JP JP2005141055A patent/JP2006317763A/en active Pending
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