JP2006227291A - Display apparatus - Google Patents
Display apparatus Download PDFInfo
- Publication number
- JP2006227291A JP2006227291A JP2005040791A JP2005040791A JP2006227291A JP 2006227291 A JP2006227291 A JP 2006227291A JP 2005040791 A JP2005040791 A JP 2005040791A JP 2005040791 A JP2005040791 A JP 2005040791A JP 2006227291 A JP2006227291 A JP 2006227291A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- inspection
- wiring
- inspection wiring
- display device
- wiring portion
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Abstract
Description
この発明は、表示装置に係り、特に、品質に関わる検査を行うための検査部を備えた表示装置に関する。 The present invention relates to a display device, and more particularly, to a display device including an inspection unit for performing an inspection related to quality.
液晶表示装置などの表示装置は、マトリクス状の表示画素によって構成された有効表示部を備えている。この有効表示部は、表示画素の行方向に沿って延在する複数の走査線、表示画素の列方向に沿って延在する複数の信号線、これら走査線と信号線との交差部付近に配置されたスイッチング素子、スイッチング素子に接続された画素電極などを備えている。これら各走査線及び各信号線は、有効表示部の外周部に引き出されている。 A display device such as a liquid crystal display device includes an effective display unit configured by matrix display pixels. The effective display section includes a plurality of scanning lines extending along the row direction of the display pixels, a plurality of signal lines extending along the column direction of the display pixels, and in the vicinity of an intersection between the scanning lines and the signal lines. A switching element arranged, a pixel electrode connected to the switching element, and the like are provided. Each of these scanning lines and each signal line is drawn out to the outer peripheral part of the effective display part.
近年では、表示画素数の増加に伴い、有効表示部及びその外周部において、走査線や信号線などの各種配線は、細い線幅でしかも僅かな間隔で隣接するように配置されている。このため、配線間でのショートや各配線の断線などといった配線不良を厳密に検査する必要がある。例えば、検査制御回路を液晶表示装置に接続し、隣接する走査線に位相の異なる信号を供給することにより、配線不良を検査する方法が提案されている（例えば、特許文献１。）。また、有効表示部の外周部に検査配線を備えた液晶表示装置も提案されている（例えば、特許文献２参照。）。
この発明は、上述した問題点に鑑みなされたものであって、その目的は、品質に関わる検査を安定して行うことが可能であり、しかも、製造歩留まりの低下を抑制することが可能な表示装置を提供することにある。 The present invention has been made in view of the above-described problems, and its purpose is to enable a stable inspection relating to quality, and a display capable of suppressing a decrease in manufacturing yield. To provide an apparatus.
この発明の第１の態様による表示装置は、
複数の表示画素によって構成された有効表示部と、
前記有効表示部を検査する際に第１検査信号が供給される第１検査用配線を有する第１検査配線部と、
前記第１検査信号とは異なる第２検査信号が供給される第２検査用配線及び前記第２検査用配線に第２検査信号を入力するための入力パッドを有する第２検査配線部と、を備え、
前記第２検査配線部は、前記第２検査用配線の端部、前記入力パッド、及び、前記第２検査用配線の中途部の少なくとも１つが前記第２検査配線部の他の部位よりも近接した所定の間隔をおいて前記第１検査配線部と対向するように配置されたことを特徴とする。
A display device according to a first aspect of the present invention includes:
An effective display unit composed of a plurality of display pixels;
A first inspection wiring portion having a first inspection wiring to which a first inspection signal is supplied when inspecting the effective display portion;
A second inspection wiring to which a second inspection signal different from the first inspection signal is supplied and a second inspection wiring section having an input pad for inputting a second inspection signal to the second inspection wiring; Prepared,
In the second inspection wiring portion, at least one of an end portion of the second inspection wiring, the input pad, and a middle portion of the second inspection wiring is closer to other portions of the second inspection wiring portion. It is characterized by being arranged so as to face the first inspection wiring part at a predetermined interval.
この発明の第２の態様による表示装置は、
複数の表示画素によって構成された有効表示部と、
前記有効表示部に接続され、前記有効表示部外に引き出された配線と、
前記配線にスイッチ素子を介して接続され、前記有効表示部を検査する際に検査用の駆動信号が供給される検査用駆動配線を有する第１検査配線部と、
前記有効表示部を検査する際に前記スイッチ素子のオン・オフを制御する検査用の制御信号が供給される検査用制御配線及び前記検査用制御配線に制御信号を入力するための入力パッドを有する第２検査配線部と、を備え、
前記第２検査配線部は、前記検査用制御配線の端部、前記入力パッド、及び、前記検査用制御配線の中途部の少なくとも１つが前記第２検査配線部の他の部位よりも近接した所定の間隔をおいて前記第１検査配線部と対向するように配置されたことを特徴とする。
A display device according to a second aspect of the present invention includes:
An effective display unit composed of a plurality of display pixels;
A wiring connected to the effective display unit and drawn out of the effective display unit;
A first inspection wiring section having a test drive wiring connected to the wiring via a switch element and supplied with a test drive signal when the effective display section is tested;
An inspection control wiring for supplying an inspection control signal for controlling on / off of the switch element when the effective display portion is inspected, and an input pad for inputting the control signal to the inspection control wiring are provided. A second inspection wiring section,
The second inspection wiring portion is a predetermined region in which at least one of an end portion of the inspection control wiring, the input pad, and a middle portion of the inspection control wiring is closer to other portions of the second inspection wiring portion. It is characterized by being arranged so as to be opposed to the first inspection wiring part with an interval of.
この発明の第３の態様による表示装置は、
複数の表示画素によって構成された有効表示部と、
前記有効表示部に接続され、前記有効表示部外に引き出された配線と、
前記有効表示部において複数の表示画素に共通の電位を供給するためのコモン配線を有する第１検査配線部と、
前記配線にスイッチ素子を介して接続され、前記有効表示部を検査する際に検査用の駆動信号が供給される検査用駆動配線と、
前記有効表示部を検査する際に前記スイッチ素子のオン・オフを制御する検査用の制御信号が供給される検査用制御配線及び前記検査用制御配線に制御信号を入力するための入力パッドを有する第２検査配線部と、を備え、
前記第２検査配線部は、前記検査用制御配線の端部、前記入力パッド、及び、前記検査用制御配線の中途部の少なくとも１つが前記第２検査配線部の他の部位よりも近接した所定の間隔をおいて前記第１検査配線部と対向するように配置されたことを特徴とする。
A display device according to a third aspect of the present invention includes:
An effective display unit composed of a plurality of display pixels;
A wiring connected to the effective display unit and drawn out of the effective display unit;
A first inspection wiring section having a common wiring for supplying a common potential to a plurality of display pixels in the effective display section;
A test drive wiring connected to the wiring via a switch element and supplied with a test drive signal when the effective display unit is tested;
An inspection control wiring for supplying an inspection control signal for controlling on / off of the switch element when the effective display portion is inspected, and an input pad for inputting the control signal to the inspection control wiring are provided. A second inspection wiring section,
The second inspection wiring portion is a predetermined region in which at least one of an end portion of the inspection control wiring, the input pad, and a middle portion of the inspection control wiring is closer to other portions of the second inspection wiring portion. It is characterized by being arranged so as to be opposed to the first inspection wiring part with an interval of.
この発明の第４の態様による表示装置は、
複数の表示画素によって構成された有効表示部と、
前記有効表示部に接続され、前記有効表示部外に引き出された配線と、
前記配線にスイッチ素子を介して接続され、前記有効表示部を検査する際に検査用の駆動信号が供給される検査用駆動配線を有する第１検査配線部と、
前記有効表示部において複数の表示画素に共通の電位を供給するためのコモン配線及び前記コモン配線に信号を入力するための入力パッドを有する第２検査配線部と、を備え、
前記第２検査配線部は、前記検査用駆動配線の端部、前記入力パッド、及び、前記検査用駆動配線の中途部の少なくとも１つが前記第２検査配線部の他の部位よりも近接した所定の間隔をおいて前記第１検査配線部と対向するように配置されたことを特徴とする。
A display device according to a fourth aspect of the present invention provides:
An effective display unit composed of a plurality of display pixels;
A wiring connected to the effective display unit and drawn out of the effective display unit;
A first inspection wiring section having a test drive wiring connected to the wiring via a switch element and supplied with a test drive signal when the effective display section is tested;
A common wiring for supplying a common potential to a plurality of display pixels in the effective display section and a second inspection wiring section having an input pad for inputting a signal to the common wiring;
The second inspection wiring portion is a predetermined region in which at least one of an end portion of the inspection driving wiring, the input pad, and a middle portion of the inspection driving wiring is closer to other portions of the second inspection wiring portion. It is characterized by being arranged so as to be opposed to the first inspection wiring part with an interval of.
この発明によれば、品質に関わる検査を安定して行うことが可能であり、しかも、製造歩留まりの低下を抑制することが可能な表示装置を提供することができる。 According to the present invention, it is possible to provide a display device that can stably perform quality-related inspections and can suppress a decrease in manufacturing yield.
以下、この発明の一実施の形態に係る表示装置について図面を参照して説明する。 A display device according to an embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.
図１に示すように、表示装置の一例としての液晶表示装置は、略矩形平板状の液晶表示パネル１を備えている。この液晶表示パネル１は、一対の基板すなわちアレイ基板３及び対向基板４と、これら一対の基板の間に光変調層として保持された液晶層５と、によって構成されている。この液晶表示パネル１は、画像を表示する矩形状の有効表示部６を備えている。この有効表示部６は、マトリクス状に配置された複数の表示画素ＰＸによって構成されている。
As shown in FIG. 1, a liquid crystal display device as an example of a display device includes a liquid
アレイ基板３は、有効表示部６に配置された配線、例えば、表示画素ＰＸの行方向に沿って延在する複数の走査線Ｙ（１、２、３、…、ｍ）や、表示画素ＰＸの列方向に沿って延在する複数の信号線Ｘ（１、２、３、…、ｎ）などを備えている。また、アレイ基板３は、有効表示部６において、これらの各種配線の他に、これら走査線Ｙと信号線Ｘとの交差部付近において表示画素ＰＸ毎に配置されたスイッチング素子７、スイッチング素子７に接続された画素電極８などを備えている。
The
スイッチング素子７は、薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）などで構成されている。このスイッチング素子７のゲート電極７Ｇは、対応する走査線Ｙに電気的に接続されている（あるいは走査線と一体に形成されている）。スイッチング素子７のソース電極７Ｓは、対応する信号線Ｘに電気的に接続されている（あるいは信号線と一体に形成されている）。スイッチング素子７のドレイン電極７Ｄは、対応する表示画素ＰＸの画素電極８に電気的に接続されている。
The switching element 7 is composed of a thin film transistor (TFT) or the like. The
対向基板４は、有効表示部６において、全表示画素ＰＸに共通の対向電極９などを備えている。これらアレイ基板３及び対向基板４は、全表示画素ＰＸの画素電極８と対向電極９とを対向させた状態で配設され、これらの間にギャップを形成する。液晶層５は、アレイ基板３と対向基板４とのギャップに封止された液晶組成物によって形成されている。
The counter substrate 4 includes a
カラー表示タイプの液晶表示装置では、液晶表示パネル１は、複数種類の表示画素、例えば赤（Ｒ）を表示する赤色画素、緑（Ｇ）を表示する緑色画素、青（Ｂ）を表示する青色画素を有している。すなわち、赤色画素は、赤色の主波長の光を透過する赤色カラーフィルタを備えている。緑色画素は、緑色の主波長の光を透過する緑色カラーフィルタを備えている。青色画素は、青色の主波長の光を透過する青色カラーフィルタを備えている。これらカラーフィルタは、アレイ基板３または対向基板４の主面に配置される。
In a color display type liquid crystal display device, the liquid
液晶表示パネル１は、有効表示部６の外側に位置する外周部１０に配置された駆動ＩＣチップ１１を備えている。図１に示した例では、駆動ＩＣチップ１１は、対向基板４の端部４Ａより外方に延在したアレイ基板３の延在部１０Ａ上に配置されている。また、液晶表示パネル１は、有効表示部６に駆動信号を供給する駆動回路を有するフレキシブル配線基板ＦＰＣを接続可能な複数の接続パッドを有したパッド部ＰＰを備えている。図１に示した例では、パッド部ＰＰは、駆動ＩＣチップ１１と同様に延在部１０Ａ上に形成されている。
The liquid
液晶表示パネル１に実装された駆動ＩＣチップ１１は、有効表示部６の各信号線Ｘに駆動信号（映像信号）を供給する信号線駆動部１１Ｘ、及び、有効表示部６の各走査線Ｙに駆動信号（走査信号）を供給する走査線駆動部１１Ｙを有している。走査線駆動部１１Ｙは、奇数番走査線Ｙ（１、３、５、…）に対して駆動信号を出力する第１駆動部１１Ｙ１、及び、偶数番走査線Ｙ（２、４、６、…）に対して駆動信号を出力する第２駆動部１１Ｙ２を含んでいる。これら第１駆動部１１Ｙ１及び第２駆動部１１Ｙ２は、信号線駆動部１１Ｘを挟んだ両側にそれぞれ配置されている。
The driving IC chip 11 mounted on the liquid
第１駆動部１１Ｙ１は、外周部１０の一端側１０Ｂに配置された奇数番配線群２０を介して奇数番走査線Ｙ（１、３、５、…）と電気的に接続されている。この奇数番配線群２０は、奇数番走査線Ｙ（１、３、５、…）のそれぞれに接続された配線Ｗ（１、３、５、…）によって構成されている。つまり、第１駆動部１１Ｙ１から出力された駆動信号は、各配線Ｗ（１、３、５、…）を介して対応する奇数番走査線Ｙ（１、３、５、…）に供給され、奇数行目の表示画素ＰＸをオン・オフさせる。すなわち、奇数行目の各表示画素ＰＸに含まれるスイッチング素子７は、対応する走査線Ｙから供給された駆動信号に基づいてオン・オフ制御される。
The first drive unit 11Y1 is electrically connected to the odd-numbered scanning lines Y (1, 3, 5,...) Via the odd-numbered
第２駆動部１１Ｙ２は、外周部１０の他端側１０Ｃに配置された偶数番配線群３０を介して偶数番走査線Ｙ（２、４、６、…）と電気的に接続されている。この偶数番配線群３０は、偶数番走査線Ｙ（２、４、６、…）のそれぞれに接続された配線Ｗ（２、４、６、…）によって構成されている。つまり、第２駆動部１１Ｙ２から出力された駆動信号は、各配線Ｗ（２、４、６、…）を介して対応する偶数番走査線Ｙ（２、４、６、…）に供給され、偶数行目の表示画素ＰＸをオン・オフさせる。すなわち、偶数行目の各表示画素ＰＸに含まれるスイッチング素子７は、対応する走査線Ｙから供給された駆動信号に基づいてオン・オフ制御される。
The second drive unit 11Y2 is electrically connected to the even-numbered scanning lines Y (2, 4, 6,...) Via the even-numbered
また、信号線駆動部１１Ｘは、各信号線Ｘ（１、２、３、…）と電気的に接続されている。各列の各表示画素ＰＸに含まれるスイッチング素子７は、オンしたタイミングで対応する信号線Ｘから供給された映像信号を画素電極８に書き込む。
Further, the
アレイ基板３は、図２に示すように、奇数番配線群２０の配線不良、偶数番配線群３０の配線不良、及び、有効表示部６における配線不良や表示画素ＰＸの表示品位など、有効表示部６での品質に関わる検査を行うための検査部４０を備えている。この検査部４０は、信号線駆動部１１Ｘに対応して設けられた信号線検査部４１、走査線駆動部１１Ｙの第１駆動部１１Ｙ１に対応して設けられた第１走査線検査部４２、第２駆動部１１Ｙ２に対応して設けられた第２走査線検査部４３、及び、各検査部４１、４２、４３に検査用の信号を入力するためのパッド部４４を有している。
As shown in FIG. 2, the
信号線検査部４１は、有効表示部６を検査する際に検査用の駆動信号が供給されるとともに各信号線Ｘに接続された信号線検査用駆動配線５１を備えている。また、信号線検査部４１は、各信号線Ｘ（１、２、…、ｎ）と信号線検査用駆動配線５１との間にスイッチ素子６１を備えている。さらに、信号線検査部４１は、有効表示部６を検査する際にスイッチ素子６１のオン・オフを制御する検査用の制御信号が供給される検査用制御配線５５を備えている。つまり、信号線検査用駆動配線５１及び検査用制御配線５５は、信号線検査部４１において、有効表示部６を検査する際に検査用の信号が供給される検査用配線として機能する。
The signal
スイッチ素子６１は、例えば薄膜トランジスタによって構成されている。各スイッチ素子６１のゲート電極６１Ｇは、検査用制御配線５５に電気的に接続されている。また、各スイッチ素子６１のソース電極６１Ｓは、信号線検査用駆動配線５１に電気的に接続されている。さらに、各スイッチ素子６１のドレイン電極６１Ｄは、対応する信号線Ｘに電気的に接続されている。
The
第１走査線検査部４２は、有効表示部６を検査する際に検査用の駆動信号が供給されるとともに奇数番配線群２０の各配線２１、例えば配線Ｗ１、Ｗ３、Ｗ５…に接続された第１検査用駆動配線５２を備えている。また、第１走査線検査部４２は、各配線２１と第１検査用駆動配線５２との間にスイッチ素子６２を備えている。さらに、第１走査線検査部４２は、有効表示部６を検査する際にスイッチ素子６２のオン・オフを制御する検査用の制御信号が供給される検査用制御配線５５を備えている。この検査用制御配線５５は、信号線検査部４１と共通である。つまり、第１検査用駆動配線５２及び検査用制御配線５５は、第１走査線検査部４２において、有効表示部６を検査する際に検査用の信号が供給される検査用配線として機能する。
The first scanning
スイッチ素子６２は、例えば薄膜トランジスタによって構成されている。各スイッチ素子６２のゲート電極６２Ｇは、検査用制御配線５５に電気的に接続されている。また、各スイッチ素子６２のソース電極６２Ｓは、第１検査用駆動配線５２に電気的に接続されている。さらに、各スイッチ素子６２のドレイン電極６２Ｄは、対応する配線２１に電気的に接続されている。
The
第２走査線検査部４３は、有効表示部６を検査する際に検査用の駆動信号が供給されるとともに偶数番配線群３０の各配線３１、例えば配線Ｗ２、Ｗ４、Ｗ６…に接続された第２検査用駆動配線５３を備えている。また、第２走査線検査部４３は、各配線３１と第２検査用駆動配線５３との間にスイッチ素子６３を備えている。さらに、第２走査線検査部４３は、有効表示部６を検査する際にスイッチ素子６３のオン・オフを制御する検査用の制御信号が供給される検査用制御配線５５を備えている。この検査用制御配線５５は、信号線検査部４１と共通である。つまり、第２検査用駆動配線５３及び検査用制御配線５５は、第２走査線検査部４３において、有効表示部６を検査する際に検査用の信号が供給される検査用配線として機能する。
The second scanning
スイッチ素子６３は、例えば薄膜トランジスタによって構成されている。各スイッチ素子６３のゲート電極６３Ｇは、検査用制御配線５５に電気的に接続されている。また、各スイッチ素子６３のソース電極６３Ｓは、第２検査用駆動配線５３に電気的に接続されている。さらに、各スイッチ素子６３のドレイン電極６３Ｄは、対応する配線３１に電気的に接続されている。
The
パッド部４４は、信号線検査用駆動配線５１の一端部に検査用の駆動信号の入力を可能とする入力パッド７１、第１検査用駆動配線５２の一端部に検査用の駆動信号の入力を可能とする入力パッド７２、第２検査用駆動配線５３の一端部に検査用の駆動信号の入力を可能とする入力パッド７３、及び、検査用制御配線５５の一端部に検査用の制御信号の入力を可能とする入力パッド７５を備えている。
The
入力パッド７１から入力される駆動信号は、検査段階において、各表示画素ＰＸの画素電極８に書き込まれる検査信号である。入力パッド７２及び７３から入力される駆動信号は、検査段階において、各表示画素ＰＸのスイッチング素子７のオン・オフを制御するための検査信号である。入力パッド７５から入力される制御信号は、検査段階において、信号線検査部４１のスイッチ素子６１、第１走査線検査部４２のスイッチ素子６２、及び、第２走査線検査部４３のスイッチ素子６３のオン・オフを制御するための検査信号である。
The drive signal input from the
各信号線Ｘ（１、２、…ｎ）、奇数番配線群２０の各配線２１、及び、偶数番配線群３０の各配線３１は、それぞれの中途部に駆動ＩＣチップ１１との接続を可能とする接続パッドＰＤを備えている。
Each signal line X (1, 2,... N), each
上述したような構成の表示装置においては、その製造過程において帯電した電荷が比較的設置面積の大きな配線に蓄積しやすい。特に、信号線検査用駆動配線５１、第１検査用駆動配線５２、第２検査用駆動配線５３、検査用制御配線５５、あるいは、対向電極９に対して全表示画素ＰＸに共通の電位を供給するためのコモン配線ＣＯＭなど、有効表示部６を検査する際に検査用の信号が供給される検査用配線は、広い線幅を有し、しかも、長い配線長を有するため、設置面積が大きく、電荷が帯電しやすい。帯電した電荷は、配線の終端部や屈曲部に集中しやすく、隣接する他の導電層（配線や電極など）との間で静電放電を発生する原因となる。このような静電放電は、絶縁状態を維持すべき隣接する配線との間でのショートや、隣接する配線の断線を招くおそれがある。
In the display device having the above-described configuration, electric charges charged during the manufacturing process are likely to accumulate in a wiring having a relatively large installation area. In particular, a common potential is supplied to all display pixels PX to the signal line
例えば、図３Ａに示すように、検査用制御配線５５の終端部付近に位置するスイッチ素子６３においては、半導体層６３ＳＣは、ソース電極６３Ｓ及びドレイン電極６３Ｄと電気的に接続されている。このような構成において、検査用制御配線５５に電荷が帯電すると、その終端部付近に配置されたスイッチ素子６３のゲート電極６３Ｇに電荷が集中しやすく、ゲート電極６３Ｇとソース電極６３Ｓとの間やゲート電極６３Ｇとドレイン電極６３Ｄとの間でのショートを引き起すおそれがある。
For example, as shown in FIG. 3A, in the
また、図３Ｂに示すように、コモン配線ＣＯＭに電荷が帯電すると、その屈曲部ＢＤに電荷が集中しやすく、他の電位が供給される配線ＷＸと屈曲部ＢＤとの間でのショートを引き起すおそれがある。また、放電の規模が大きい場合には、隣接する配線ＷＸの断線を招くおそれがある。このようなショートや断線といった配線不良は、完成した液晶表示パネルにおける欠陥を生じさせるため、製造歩留まりを低下させる。 In addition, as shown in FIG. 3B, when a charge is charged in the common wiring COM, the charge tends to concentrate on the bent portion BD, and a short circuit is caused between the wiring WX to which another potential is supplied and the bent portion BD. May cause. Further, when the scale of the discharge is large, there is a possibility that the adjacent wiring WX may be disconnected. Such a wiring defect such as a short circuit or disconnection causes a defect in the completed liquid crystal display panel, and thus reduces the manufacturing yield.
そこで、この実施の形態に係る表示装置においては、図４乃至図６に示すように、複数の検査用配線のうち、互いに異なる検査信号が供給される第１検査用配線８１Ｗを有する第１検査配線部８１と、第２検査用配線８２Ｗ及び第２検査用配線８２Ｗに検査信号を入力するための入力パッド８２Ｂを有する第２検査配線部８２とを備え、第２検査配線部８２は、第２検査用配線８２Ｗの端部８２Ｅ、入力パッド８２Ｂ、及び、第２検査用配線８２Ｗの中途部８２Ｃの少なくとも１つが第２検査配線部８２の他の部位よりも近接した所定の間隔をおいて第１検査配線部８１と対向するように配置されている。
Therefore, in the display device according to this embodiment, as shown in FIGS. 4 to 6, the first inspection having the
図４に示した例では、第２検査配線部８２は、第２検査用配線８２Ｗの端部８２Ｅが第１検査配線部８１に近接するように配置されている。図５に示した例では、第２検査配線部８２は、入力パッド８２Ｂが第１検査配線部８１に近接するように配置されている。図６に示した例では、第２検査配線部８２は、第２検査用配線８２Ｗの中途部８２Ｃ（ここでは、第２検査用配線８２Ｗから分岐した分岐部）が第１検査配線部８１に近接するように配置されている。なお、第２検査配線部８２が第１検査配線部８１と近接して対向するように配置されているとは、第２検査配線部８２の一部が第１検査配線部８１の一部、すなわち、第１検査配線部８１が有する第１検査用配線８１Ｗの端部８１Ｅ及びその中途部８１Ｃ、及び、第１検査用配線８１Ｗに検査信号を入力するための入力パッド８１Ｂのいずれかに近接している状態に相当する。
In the example shown in FIG. 4, the second
つまり、図４では、点線で囲んだように、第２検査用配線８２Ｗの端部８２Ｅが第１検査用配線８１Ｗの端部８１Ｅに近接した状態を図示しているが、第２検査配線部８２は、第２検査用配線８２Ｗの端部８２Ｅが入力パッド８１Ｂや第１検査用配線８１Ｗの中途部８１Ｃに近接するように配置されても良い。
That is, in FIG. 4, as shown by the dotted line, the
同様に、図５では、点線で囲んだように、第２検査配線部８２の入力パッド８２Ｂが第１検査配線部８１の入力パッド８１Ｂに近接した状態を図示しているが、第２検査配線部８２は、入力パッド８２Ｂが第１検査用配線８１Ｗの端部８１Ｅや第１検査用配線８１Ｗの中途部８１Ｃに近接するように配置されても良い。
Similarly, FIG. 5 illustrates a state in which the
同様に、図６では、点線で囲んだように、第２検査用配線８２Ｗの中途部８２Ｃが第１検査用配線８１Ｗの中途部８１Ｃに近接した状態を図示しているが、第２検査配線部８２は、中途部８２Ｃが第１検査用配線８１Ｗの端部８１Ｅや入力パッド８１Ｂに近接するように配置されても良い。
Similarly, FIG. 6 illustrates a state in which the
これらの検査用配線の構造は、検査用配線に集中した電荷の放電を誘導するものであり、仮に検査用配線同士で放電が生じたとしても完成した液晶表示パネルにおいて何ら影響を及ぼさない検査用配線が選択される。すなわち、ここで選択される検査用配線は、検査段階、あるいは、パッド部ＰＰにフレキシブル配線基板ＦＰＣを接続して完成した液晶表示パネルにおいて、互いに異なる信号を供給するための導電部材である。このため、放電の結果として検査用配線同士のショートや検査用配線の断線が生じることは望ましくないが、ショートや断線を生ずることなく一方の検査用配線の電荷を逃がす程度の小規模の放電に抑制可能であれば、他方の検査用配線を放電誘導するために利用することができる。 These inspection wiring structures induce the discharge of electric charges concentrated on the inspection wiring, and even if a discharge occurs between the inspection wirings, the inspection liquid crystal display panel has no effect on the completed liquid crystal display panel. A wiring is selected. That is, the inspection wiring selected here is a conductive member for supplying different signals to each other in a liquid crystal display panel completed by connecting the flexible wiring board FPC to the pad portion PP at the inspection stage. For this reason, it is not desirable that the inspection wiring is short-circuited or the inspection wiring is disconnected as a result of the discharge, but the discharge is small enough to release the charge of one inspection wiring without causing a short-circuit or disconnection. If it can be suppressed, the other inspection wiring can be used to induce discharge.
以下に示す例において、電荷が帯電しやすい検査用制御配線５５やコモン配線ＣＯＭなどの検査用配線を第２検査配線部８２が有するものとし、放電を誘導するための信号線検査用駆動配線５１、第１検査用駆動配線５２、第２検査用駆動配線５３などの検査用配線を第１検査配線部８１が有するものとして説明する。なお、第２検査配線部８２が検査用制御配線５５を有する場合には、第１検査配線部８１がコモン配線ＣＯＭを有していても良い。
In the example shown below, the second
図７Ａ及び図７Ｂに示した例では、第１検査配線部８１は、第２検査配線部８２と同一層において、第２検査配線部８２と所定の間隔Ｇをおいて対向するように配置されている。この第１検査配線部８１は、第２検査配線部８２と同一層に配置されるため、第２検査配線部８２と同一材料を用いて同一工程で形成可能である。このため、別途に第１検査配線部８１を形成する工程が不要であり、製造コストの増大や製造歩留まりの大幅な劣化を招くことはない。
In the example shown in FIGS. 7A and 7B, the first
図８Ａ及び図８Ｂに示した例では、第１検査配線部８１は、第２検査配線部８２とは絶縁層１００を介して異なる層において、第２検査配線部８２と所定の間隔Ｇをおいて対向するように配置されている。ここでは、特に、図８Ａに示すように、第１検査配線部８１及び第２検査配線部８２は、これらが配置される基板（つまりアレイ基板３）の面内において互いに重ならないように配置されている（すなわち、アレイ基板３の面内において、第１検査配線部８１と第２検査配線部８２との間隔Ｇがゼロとならない）。なお、図８Ｂに示した例では、第１検査配線部８１を絶縁層１００の下層に配置し、第２検査配線部８２を絶縁層１００の上層に配置したが、この例に限定されず、第１検査配線部８１を絶縁層１００の上層に配置し、第２検査配線部８２を絶縁層１００の下層に配置しても良いことは言うまでもない。
In the example shown in FIGS. 8A and 8B, the first
図９Ａ及び図９Ｂに示した例では、第１検査配線部８１は、第２検査配線部８２とは絶縁層１００を介して異なる層に配置され、しかも、絶縁層１００を介して第２検査配線部８２とその少なくとも一部が重なるように配置されている。つまり、図９Ａに示すように、第１検査配線部８１及び第２検査配線部８２は、これらが配置される基板（つまりアレイ基板３）の面内において互いに重なるとともに、これらの間に介在される絶縁層１００を介して互いに対向するように配置されている。なお、図９Ｂに示した例では、第１検査配線部８１を絶縁層１００の下層に配置し、第２検査配線部８２を絶縁層１００の上層に配置したが、この例に限定されず、第１検査配線部８１を絶縁層１００の上層に配置し、第２検査配線部８２を絶縁層１００の下層に配置しても良いことは言うまでもない。また、図９Ｂに示した例では、第１検査配線部８１を第２検査配線部８２より幅広に形成したが、この例に限定されず、第２検査配線部８２を第１検査配線部８１より幅広に形成しても良いことは言うまでもない。
In the example shown in FIGS. 9A and 9B, the first
第１検査配線部８１と第２検査配線部８２との間の所定の間隔Ｇとは、放電を誘導可能な距離であり、できるだけ小さいことが望ましいが、両者がショートしてしまう（間隔をゼロとする）と抵抗が小さくなりすぎてしまい、静電破壊のエネルギーを消費できないため、両者が電気的に絶縁状態となるような距離を必要とする。
The predetermined interval G between the first
図７Ａ及び図７Ｂに示した例や、図８Ａ及び図８Ｂに示した例では、所定の間隔Ｇは、第１検査配線部８１と第２検査配線部８２とが配置されるアレイ基板３の面内における距離に相当する。また、図９Ａ及び図９Ｂに示した例では、第１検査配線部８１と第２検査配線部８２とが絶縁層１００を介して重なるように配置されているため、両者の間隔は、実質的に絶縁層１００の膜厚Ｇに相当する。また、場合によっては、上層（ここでは第２検査配線部８２）が下層（ここでは第１検査配線部８１）を乗り上げる段差部ＢＰにおいて、上層と下層との間に介在する絶縁層１００の肉厚Ｇ’が実質的な膜厚Ｇよりも薄くなることがある。このような場合、第１検査配線部８１と第２検査配線部８２との間の間隔は、段差部ＢＰにおける絶縁層１００の肉厚Ｇ’に相当する。いずれにしても、第１検査配線部８１と第２検査配線部８２との間の間隔は、これらが配置されるアレイ基板３の断面内における最短距離に相当する。
In the example shown in FIGS. 7A and 7B and the example shown in FIGS. 8A and 8B, the predetermined interval G is equal to that of the
図７Ａ及び図７Ｂに示した例のように、第１検査配線部８１と第２検査配線部８２とを同一層に配置する場合、これらのパターニング工程における解像度限界により、両者の間隔Ｇにはある程度の限界がある。一方、図８Ａ及び図８Ｂに示した例や、図９Ａ及び図９Ｂに示した例のように、第１検査配線部８１と第２検査配線部８２とを異なる層に配置する場合、これらのパターニング工程での制約から解放され、アレイ基板３の面内において両者が重なるように配置されたとしても、絶縁層１００により両者を電気的に絶縁した状態を形成することが可能となる。つまり、同一層に両者を配置した場合と比較して、第１検査配線部８１と第２検査配線部８２との間隔をより小さくすることが可能となり、より放電を誘導しやすくすることが可能となる。また、絶縁層１００を介して第１検査配線部８１と第２検査配線部８２とを重ねて配置する場合、両者の間隔は断面内における最短距離に相当するため、絶縁層１００の膜厚によって両者の間隔を制御することが可能である。絶縁層１００の膜厚は０．１μｍオーダに設定することが可能であり、アレイ基板面内で所定の間隔を形成しようとする場合より、さらに小さな間隔を形成することが可能となり、さらに放電を誘導しやすくすることが可能となる。
When the first
上述した例において、第１検査配線部８１における第２検査配線部８２との対向部８１Ａ、及び、第２検査配線部８２における第１検査配線部８１との対向部８２Ａの形状は、矩形状に限定されるものではない。すなわち、対向部８１Ａ及び８２Ａの少なくとも一方は、電荷が集中しやすいような形状であることが望ましく、少なくとも１つの多角形状の突角部を有している。対向部８２Ａにおける突角部の少なくとも一つの頂点は、第１検査配線部８１と所定の間隔をおいて対向している。また、対向部８１Ａにおける突角部の少なくとも１つの頂点は、第２検査配線部８２と所定の間隔をおいて対向している。
In the example described above, the shape of the facing
より具体的に説明すると、図１０Ａに示すように、対向部８１Ａ及び８２Ａの少なくとも一方は、１つの四角形状の突角部Ｃを有し、２つの頂点Ｔを有するような形状であっても良い。また、図１０Ｂに示すように、対向部８１Ａ及び８２Ａの少なくとも一方は、１つの三角形状の突角部Ｃを有し、１つの頂点Ｔを有するような形状であっても良い。さらに、図１０Ｃに示すように、対向部８１Ａ及び８２Ａの少なくとも一方は、複数（ｎ個）の三角形状の突角部Ｃを有し、複数（ｎ個）の頂点Ｔを有するような形状であっても良い。図１０Ｂ及び図１０Ｃに示したような例では、図１０Ａに示した例と比較して、頂点Ｔをより鋭利な形状とすることができ、電界が集中しやすくなる。
More specifically, as shown in FIG. 10A, even if at least one of the facing
またさらに、対向部８１Ａ及び８２Ａの少なくとも一方は、図示しないが、ｎ個のｍ角形状の突角部を有し、複数の頂点を有するような形状であっても良いが、頂点Ｔの形状は電界の集中しやすさを考慮するとより鋭利であることが望ましい。なお、複数の突角部Ｃ及び複数の頂点Ｔは、一列に並んでいる必要はなく、基板面内であらゆる方位に向いていても良い。
Furthermore, although not shown, at least one of the facing
このような構成により、第２検査配線部８２上で蓄積していた電荷を第１検査配線部８１との放電により逃がすことが可能となる。これにより、第２検査配線部８２に隣接する他の導電層との間での不所望な放電、及び、この放電に起因した不所望なショートや断線の発生を未然に防止することが可能となる。
With such a configuration, the charge accumulated on the second
なお、対向部８１Ａ及び８２Ａの少なくとも一方が少なくとも１つの多角形状の突角部を有するような構成においては、図１０Ｄに示すように、対向部８１Ａの突角部Ｃの１つの頂点Ｔを含む一部が対向部８２Ａと重なるように配置しても良い。この場合は、特に、対向部８１Ａにおける突角部Ｃの頂点Ｔが対向部８２Ａを乗り上げる段差部ＢＰに位置することが望ましい。このような配置により、第１検査配線部８１と第２検査配線部８２とは、電界が集中しやすい頂点Ｔを介して、両者の間に介在する絶縁層１００の肉厚に相当する微小な間隔で対向配置されることになり、第２検査配線部８２に帯電した電荷の放電をさらに誘導可能となる。
In the configuration in which at least one of the facing
また、対向部８１Ａの突角部Ｃの１つの頂点Ｔを含む一部が対向部８２Ａと重なるように配置しても良い。さらに、対向部８１Ａ及び８２Ａの少なくとも一方が複数の突角部Ｃを有する場合、一方の対向部における突角部Ｃの少なくとも１つの頂点Ｔを含む一部が他方の対向部と重なるように配置しても良い。
Moreover, you may arrange | position so that a part including one vertex T of the protrusion C of the opposing
したがって、フレキシブル配線基板ＦＰＣや駆動ＩＣチップ１１を実装する前の有効表示部６での品質に関わる検査を行う検査段階において、検査部４０を用いて安定的に各種配線の配線不良を検査することが可能となるとともに、完成した液晶表示パネルにおける欠陥の発生を防止することができ、製造歩留まりの低下を抑制することが可能となる。
Therefore, in the inspection stage in which the inspection relating to the quality in the
（実施例）
この実施例においては、第２検査用配線８２Ｗとして検査用制御配線５５での放電を誘導する構成例について説明する。図１１Ａ乃至図１１Ｃに示すように、アレイ基板３は、外周部１０において、第１検査配線部８１及び第２検査配線部８２を備えている。第１検査配線部８１は、コモン配線（第１検査用配線）ＣＯＭ及びこのコモン配線ＣＯＭに第１検査信号（コモン電位の信号）を入力するための入力パッドＣＯＭＰを備えている。第２検査配線部８２は、検査部４０においてスイッチ素子６３のゲート電極６３Ｇと一体的な検査用制御配線（第２検査用配線）５５及びこの検査用制御配線５５に第２検査信号を入力するための入力パッド７５を備えている。コモン配線ＣＯＭは、パッド部ＰＰの接続パッドＣＰ１に接続されている。
(Example)
In this embodiment, a configuration example for inducing a discharge in the
このような構成において、第２検査配線部８２は、その入力パッド７５が第２検査配線部８２の他の部位よりも近接した所定の間隔をおいて第１検査配線部８１と対向するように配置されている。
In such a configuration, the second
すなわち、図１１Ｂ及び図１１Ｃに示すように、検査用制御配線５５は、絶縁層１００の下層に配置されている。入力パッド７５は、絶縁層１００の上層に配置されており、絶縁層１００を貫通するコンタクトホールを介して検査用制御配線５５と電気的に接続されている。コモン配線ＣＯＭは、絶縁層１００の下層に配置されている。入力パッドＣＯＭＰは、絶縁層１００の上層に配置されており、絶縁層１００を貫通するコンタクトホールを介してコモン配線ＣＯＭと電気的に接続されている。
That is, as shown in FIG. 11B and FIG. 11C, the
第２検査配線部８２における入力パッド７５の第１検査配線部８１との対向部、すなわち入力パッドＣＯＭＰとの対向部８２Ａは、矩形状である。第１検査配線部８１における入力パッドＣＯＭＰの第２検査配線部８２との対向部、すなわち入力パッド７５との対向部８１Ａは、複数の三角形状の突角部Ｃを有し、しかも、突角部Ｃの各頂点Ｔが入力パッド７５に近接して配置されている。
The facing portion of the
つまり、この実施例では、第２検査配線部８２の入力パッド７５は、第１検査配線部８１の入力パッドＣＯＭＰと同一層に配置されており、しかも、入力パッドＣＯＭＰと所定の間隔Ｇをおいて対向するように配置されている。
That is, in this embodiment, the
このような構成により、第２検査配線部８２に集中した電荷を第１検査配線部８１との放電により逃がすことが可能となる。このとき、電界を集中しやすい形状の第１検査配線部８１（ここでは入力パッドＣＯＭＰ）の頂点Ｔが第２検査配線部８１（ここでは入力パッド７５）と最短距離で対向配置されるため、頂点Ｔ付近で放電を誘導しやすくなる。これにより、検査用制御配線５５での不所望な放電、及び、この放電に起因した不所望なショートや断線の発生を未然に防止することが可能となる。
With such a configuration, the charges concentrated on the second
以上説明したように、この実施の形態に係る表示装置によれば、検査部を備えたアレイ基板においては、検査用配線において、電荷が集中しやすい部位に対向して他の検査信号が供給される検査用配線を配置したことにより、放電を誘導することが可能となる。これにより、検査用配線上において放電規模を拡大するような電荷の集中を防止することができる。このため、検査用配線に近接した他の導電層との間での不所望な放電、及び、この放電に起因した配線不良の発生を抑制することが可能となる。 As described above, according to the display device according to this embodiment, in the array substrate provided with the inspection unit, other inspection signals are supplied to the inspection wiring so as to face the portion where charges are likely to concentrate. By disposing the inspection wiring, it is possible to induce discharge. As a result, it is possible to prevent the concentration of electric charges that increase the discharge scale on the inspection wiring. For this reason, it becomes possible to suppress the occurrence of an undesired discharge with another conductive layer close to the inspection wiring and the occurrence of a wiring defect due to this discharge.
このため、駆動ＩＣチップやフレキシブル配線基板などを実装する前の検査段階において、検査部を用いて有効表示部の品質に関わる検査を安定的に行うことが可能となる。したがって、配線不良の液晶表示パネルの後工程への流出を未然に防ぐことが可能となる。また、完成した液晶表示パネルにおける欠陥の発生を防止することが可能となる。これにより、製造歩留まりの低下を抑制することが可能となる。 For this reason, in the inspection stage before mounting a drive IC chip, a flexible wiring board, etc., it becomes possible to carry out the inspection relating to the quality of the effective display section stably using the inspection section. Therefore, it is possible to prevent the wiring failure from flowing out to the subsequent process. In addition, it is possible to prevent the occurrence of defects in the completed liquid crystal display panel. As a result, it is possible to suppress a decrease in manufacturing yield.
なお、この発明は、上記実施形態そのままに限定されるものではなく、その実施の段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。更に、異なる実施形態に亘る構成要素を適宜組み合わせてもよい。 Note that the present invention is not limited to the above-described embodiment as it is, and can be embodied by modifying the components without departing from the gist of the invention in the stage of implementation. In addition, various inventions can be formed by appropriately combining a plurality of components disclosed in the embodiment. For example, some components may be deleted from all the components shown in the embodiment. Furthermore, you may combine the component covering different embodiment suitably.
例えば、上記実施形態では、走査信号を液晶表示パネルの両側から給電する構成の液晶表示パネルについて述べてきたが、第１駆動部と第２駆動部とでそれぞれ走査信号を給電する配線数が異なっても良いし、第１駆動部若しくは第２駆動部を有さず単一の走査線駆動部により片側のみから各走査線に走査信号を給電するようなレイアウトでも良く、逆に走査線駆動部がさらに第３駆動部及び第４駆動部を有するような構成であっても良い。 For example, in the above embodiment, the liquid crystal display panel configured to supply the scanning signal from both sides of the liquid crystal display panel has been described. However, the number of wirings for supplying the scanning signal is different between the first driving unit and the second driving unit. Alternatively, the layout may be such that the scanning signal is supplied to each scanning line only from one side by a single scanning line driving unit without the first driving unit or the second driving unit, and conversely the scanning line driving unit. However, the configuration may further include a third drive unit and a fourth drive unit.
また、この発明の表示装置は、上述した液晶表示装置に限定されるものではなく、自己発光素子を表示素子とする有機エレクトロルミネッセンス表示装置など他の表示装置であっても良い。 The display device of the present invention is not limited to the liquid crystal display device described above, and may be another display device such as an organic electroluminescence display device using a self-luminous element as a display element.
ＰＸ…表示画素、ＦＰＣ…フレキシブル配線基板、ＰＰ…パッド部、１…液晶表示パネル、３…アレイ基板、６…有効表示部、１０…外周部、１０Ａ…延在部、１１…駆動ＩＣチップ、２０…奇数番配線群、２１…配線、３０…偶数番配線群、３１…配線、４０…検査部、４１…信号線検査部、４２…第１走査線検査部、４３…第２走査線検査部、４４…パッド部、５１…信号線検査用駆動配線、５２…第１検査用駆動配線、５３…第２検査用駆動配線、５５…検査用制御配線、６１…スイッチ素子、６１Ｇ…ゲート電極、６２…スイッチ素子、６２Ｇ…ゲート電極、６３…スイッチ素子、６３Ｇ…ゲート電極、ＣＯＭ…コモン配線、ＣＯＭＰ…入力パッド、８１…第１検査配線部、８２…第２検査配線部
PX ... display pixel, FPC ... flexible wiring board, PP ... pad part, 1 ... liquid crystal display panel, 3 ... array substrate, 6 ... effective display part, 10 ... outer peripheral part, 10A ... extension part, 11 ... driving IC chip, DESCRIPTION OF
Claims (18)
前記有効表示部を検査する際に第１検査信号が供給される第１検査用配線を有する第１検査配線部と、
前記第１検査信号とは異なる第２検査信号が供給される第２検査用配線及び前記第２検査用配線に第２検査信号を入力するための入力パッドを有する第２検査配線部と、を備え、
前記第２検査配線部は、前記第２検査用配線の端部、前記入力パッド、及び、前記第２検査用配線の中途部の少なくとも１つが前記第２検査配線部の他の部位よりも近接した所定の間隔をおいて前記第１検査配線部と対向するように配置されたことを特徴とする表示装置。 An effective display unit composed of a plurality of display pixels;
A first inspection wiring portion having a first inspection wiring to which a first inspection signal is supplied when inspecting the effective display portion;
A second inspection wiring to which a second inspection signal different from the first inspection signal is supplied and a second inspection wiring section having an input pad for inputting a second inspection signal to the second inspection wiring; Prepared,
In the second inspection wiring portion, at least one of an end portion of the second inspection wiring, the input pad, and a middle portion of the second inspection wiring is closer to other portions of the second inspection wiring portion. A display device, wherein the display device is arranged to face the first inspection wiring portion at a predetermined interval.
前記有効表示部に接続され、前記有効表示部外に引き出された配線と、
前記配線にスイッチ素子を介して接続され、前記有効表示部を検査する際に検査用の駆動信号が供給される検査用駆動配線を有する第１検査配線部と、
前記有効表示部を検査する際に前記スイッチ素子のオン・オフを制御する検査用の制御信号が供給される検査用制御配線及び前記検査用制御配線に制御信号を入力するための入力パッドを有する第２検査配線部と、を備え、
前記第２検査配線部は、前記検査用制御配線の端部、前記入力パッド、及び、前記検査用制御配線の中途部の少なくとも１つが前記第２検査配線部の他の部位よりも近接した所定の間隔をおいて前記第１検査配線部と対向するように配置されたことを特徴とする表示装置。 An effective display unit composed of a plurality of display pixels;
A wiring connected to the effective display unit and drawn out of the effective display unit;
A first inspection wiring section having a test drive wiring connected to the wiring via a switch element and supplied with a test drive signal when the effective display section is tested;
An inspection control wiring for supplying an inspection control signal for controlling on / off of the switch element when the effective display portion is inspected, and an input pad for inputting the control signal to the inspection control wiring are provided. A second inspection wiring section,
The second inspection wiring portion is a predetermined region in which at least one of an end portion of the inspection control wiring, the input pad, and a middle portion of the inspection control wiring is closer to other portions of the second inspection wiring portion. The display device is disposed so as to face the first inspection wiring portion with a spacing of.
前記有効表示部に接続され、前記有効表示部外に引き出された配線と、
前記有効表示部において複数の表示画素に共通の電位を供給するためのコモン配線を有する第１検査配線部と、
前記配線にスイッチ素子を介して接続され、前記有効表示部を検査する際に検査用の駆動信号が供給される検査用駆動配線と、
前記有効表示部を検査する際に前記スイッチ素子のオン・オフを制御する検査用の制御信号が供給される検査用制御配線及び前記検査用制御配線に制御信号を入力するための入力パッドを有する第２検査配線部と、を備え、
前記第２検査配線部は、前記検査用制御配線の端部、前記入力パッド、及び、前記検査用制御配線の中途部の少なくとも１つが前記第２検査配線部の他の部位よりも近接した所定の間隔をおいて前記第１検査配線部と対向するように配置されたことを特徴とする表示装置。 An effective display unit composed of a plurality of display pixels;
A wiring connected to the effective display unit and drawn out of the effective display unit;
A first inspection wiring section having a common wiring for supplying a common potential to a plurality of display pixels in the effective display section;
A test drive wiring connected to the wiring via a switch element and supplied with a test drive signal when the effective display unit is tested;
An inspection control wiring for supplying an inspection control signal for controlling on / off of the switch element when the effective display portion is inspected, and an input pad for inputting the control signal to the inspection control wiring are provided. A second inspection wiring section,
The second inspection wiring portion is a predetermined region in which at least one of an end portion of the inspection control wiring, the input pad, and a middle portion of the inspection control wiring is closer to other portions of the second inspection wiring portion. The display device is disposed so as to face the first inspection wiring portion with a spacing of.
前記有効表示部に接続され、前記有効表示部外に引き出された配線と、
前記配線にスイッチ素子を介して接続され、前記有効表示部を検査する際に検査用の駆動信号が供給される検査用駆動配線を有する第１検査配線部と、
前記有効表示部において複数の表示画素に共通の電位を供給するためのコモン配線及び前記コモン配線に信号を入力するための入力パッドを有する第２検査配線部と、を備え、
前記第２検査配線部は、前記検査用駆動配線の端部、前記入力パッド、及び、前記検査用駆動配線の中途部の少なくとも１つが前記第２検査配線部の他の部位よりも近接した所定の間隔をおいて前記第１検査配線部と対向するように配置されたことを特徴とする表示装置。 An effective display unit composed of a plurality of display pixels;
A wiring connected to the effective display unit and drawn out of the effective display unit;
A first inspection wiring section having a test drive wiring connected to the wiring via a switch element and supplied with a test drive signal when the effective display section is tested;
A common wiring for supplying a common potential to a plurality of display pixels in the effective display section and a second inspection wiring section having an input pad for inputting a signal to the common wiring;
The second inspection wiring portion is a predetermined region in which at least one of an end portion of the inspection driving wiring, the input pad, and a middle portion of the inspection driving wiring is closer to other portions of the second inspection wiring portion. The display device is disposed so as to face the first inspection wiring portion with a spacing of.
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2005040791A JP2006227291A (en) | 2005-02-17 | 2005-02-17 | Display apparatus |
| TW094137553A TW200638143A (en) | 2004-10-29 | 2005-10-26 | Display device |
| US11/259,178 US20060103412A1 (en) | 2004-10-29 | 2005-10-27 | Display device |
| KR1020050101686A KR100807916B1 (en) | 2004-10-29 | 2005-10-27 | Display device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2005040791A JP2006227291A (en) | 2005-02-17 | 2005-02-17 | Display apparatus |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2006227291A true JP2006227291A (en) | 2006-08-31 |
Family
ID=36988713
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2005040791A Pending JP2006227291A (en) | 2004-10-29 | 2005-02-17 | Display apparatus |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2006227291A (en) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010281926A (en) * | 2009-06-03 | 2010-12-16 | Hitachi Displays Ltd | Display |
| US8457407B2 (en) | 2009-11-11 | 2013-06-04 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Electronic apparatus and image display method |
| JP2013148803A (en) * | 2012-01-23 | 2013-08-01 | Japan Display Inc | Display device |
-
2005
- 2005-02-17 JP JP2005040791A patent/JP2006227291A/en active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010281926A (en) * | 2009-06-03 | 2010-12-16 | Hitachi Displays Ltd | Display |
| US8457407B2 (en) | 2009-11-11 | 2013-06-04 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Electronic apparatus and image display method |
| JP2013148803A (en) * | 2012-01-23 | 2013-08-01 | Japan Display Inc | Display device |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR100807916B1 (en) | Display device | |
| JP5140999B2 (en) | Liquid crystal display | |
| US7038484B2 (en) | Display device | |
| JP4886278B2 (en) | Display device | |
| JP2006209089A (en) | Display device | |
| JP4298726B2 (en) | Display device | |
| JP2009093023A (en) | Display device | |
| JP5585102B2 (en) | Active matrix display panel substrate and liquid crystal display panel using the same | |
| JP4864300B2 (en) | Display device, display device inspection method, and display device inspection device | |
| JP2006227291A (en) | Display apparatus | |
| JP4476737B2 (en) | Display device, display device inspection method, and display device inspection device | |
| JP4834477B2 (en) | Display device | |
| JP4945070B2 (en) | Display device | |
| JP4836431B2 (en) | Display device | |
| JP2006317763A (en) | Liquid crystal display device | |
| JP2008015373A (en) | Display device | |
| JP4955983B2 (en) | Display device | |
| JP5127124B2 (en) | Display device | |
| JP2006227290A (en) | Display apparatus | |
| JP2006215112A (en) | Display apparatus and mother board for the same | |
| JP2006126619A (en) | Display apparatus | |
| JP4630598B2 (en) | Display device, display device inspection method, and display device inspection device | |
| JP2006126620A (en) | Display apparatus | |
| JP2006126622A (en) | Display apparatus | |
| JP2008015367A (en) | Display apparatus |