JP2006126620A - Display apparatus - Google Patents
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Abstract
Description
この発明は、表示装置に係り、特に、品質に関わる検査を行うための検査部を備えた表示装置に関する。 The present invention relates to a display device, and more particularly, to a display device including an inspection unit for performing an inspection related to quality.
液晶表示装置などの表示装置は、マトリクス状の表示画素によって構成された有効表示部を備えている。この有効表示部は、表示画素の行方向に沿って延在する複数の走査線、表示画素の列方向に沿って延在する複数の信号線、これら走査線と信号線との交差部付近に配置されたスイッチング素子、スイッチング素子に接続された画素電極などを備えている。これら各走査線及び各信号線は、有効表示部の外周部に引き出されている。 A display device such as a liquid crystal display device includes an effective display unit configured by matrix display pixels. The effective display section includes a plurality of scanning lines extending along the row direction of the display pixels, a plurality of signal lines extending along the column direction of the display pixels, and in the vicinity of an intersection between the scanning lines and the signal lines. A switching element arranged, a pixel electrode connected to the switching element, and the like are provided. Each of these scanning lines and each signal line is drawn out to the outer peripheral part of the effective display part.
近年では、表示画素数の増加に伴い、有効表示部及びその外周部において、走査線や信号線などの各種配線は、細い線幅でしかも僅かな間隔で隣接するように配置されている。このため、配線間でのショートや各配線の断線などといった配線不良を厳密に検査する必要がある。例えば、検査制御回路を液晶表示装置に接続し、隣接する走査線に位相の異なる信号を供給することにより、配線不良を検査する方法が提案されている（例えば、特許文献１。）。また、有効表示部の外周部に検査配線を備えた液晶表示装置も提案されている（例えば、特許文献２参照。）。
この発明は、上述した問題点に鑑みなされたものであって、その目的は、品質に関わる検査を安定して行うことが可能であり、しかも、製造歩留まりの低下を抑制することが可能な表示装置を提供することにある。 The present invention has been made in view of the above-described problems, and its purpose is to enable a stable inspection relating to quality, and a display capable of suppressing a decrease in manufacturing yield. To provide an apparatus.
この発明の第１の様態による表示装置は、
複数の表示画素によって構成された有効表示部と、
前記有効表示部に駆動信号を供給する駆動回路を有するフレキシブル配線基板を接続するための接続パッドを有したパッド部と、
前記有効表示部を検査する際に検査用の信号が供給される検査用配線と、を備え、
前記接続パッドまたは前記接続パッドに接続された接続配線は、前記検査用配線と所定の間隔をおいて対向するように配置されたことを特徴とする。
A display device according to a first aspect of the present invention includes:
An effective display unit composed of a plurality of display pixels;
A pad portion having a connection pad for connecting a flexible wiring board having a drive circuit for supplying a drive signal to the effective display portion;
An inspection wiring to which an inspection signal is supplied when the effective display portion is inspected, and
The connection pad or the connection wiring connected to the connection pad is arranged to face the inspection wiring at a predetermined interval.
この発明の第２の様態による表示装置は、
複数の表示画素によって構成された有効表示部と、
前記有効表示部に接続され、前記有効表示部外に引き出された配線と、
前記有効表示部に駆動信号を供給する駆動回路を有するフレキシブル配線基板を接続するための接続パッドを有したパッド部と、
前記配線にスイッチ素子を介して接続され、前記有効表示部を検査する際に検査用の駆動信号が供給される検査用駆動配線と、
前記有効表示部を検査する際に前記スイッチ素子のオン・オフを制御する検査用の制御信号が供給される検査用制御配線と、を備え、
前記接続パッドまたは前記接続パッドに接続された接続配線は、前記検査用制御配線の終端部と所定の間隔をおいて対向するように配置されたことを特徴とする。
A display device according to a second aspect of the present invention provides:
An effective display unit composed of a plurality of display pixels;
A wiring connected to the effective display unit and drawn out of the effective display unit;
A pad portion having a connection pad for connecting a flexible wiring board having a drive circuit for supplying a drive signal to the effective display portion;
A test drive wiring connected to the wiring via a switch element and supplied with a test drive signal when the effective display unit is tested;
An inspection control wiring to which a control signal for inspection for controlling on / off of the switch element when the effective display portion is inspected is provided, and
The connection pad or the connection wiring connected to the connection pad is disposed so as to be opposed to a terminal portion of the inspection control wiring at a predetermined interval.
この発明によれば、品質に関わる検査を安定して行うことが可能であり、しかも、製造歩留まりの低下を抑制することが可能な表示装置を提供することができる。 According to the present invention, it is possible to provide a display device that can stably perform quality-related inspections and can suppress a decrease in manufacturing yield.
以下、この発明の一実施の形態に係る表示装置について図面を参照して説明する。 A display device according to an embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.
図１に示すように、表示装置の一例としての液晶表示装置は、略矩形平板状の液晶表示パネル１を備えている。この液晶表示パネル１は、一対の基板すなわちアレイ基板３及び対向基板４と、これら一対の基板の間に光変調層として保持された液晶層５と、によって構成されている。この液晶表示パネル１は、画像を表示する矩形状の有効表示部６を備えている。この有効表示部６は、マトリクス状に配置された複数の表示画素ＰＸによって構成されている。
As shown in FIG. 1, a liquid crystal display device as an example of a display device includes a liquid
アレイ基板３は、有効表示部６に配置された配線、例えば、表示画素ＰＸの行方向に沿って延在する複数の走査線Ｙ（１、２、３、…、ｍ）や、表示画素ＰＸの列方向に沿って延在する複数の信号線Ｘ（１、２、３、…、ｎ）などを備えている。また、アレイ基板３は、有効表示部６において、これらの各種配線の他に、これら走査線Ｙと信号線Ｘとの交差部付近において表示画素ＰＸ毎に配置されたスイッチング素子７、スイッチング素子７に接続された画素電極８などを備えている。
The
スイッチング素子７は、薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）などで構成されている。このスイッチング素子７のゲート電極７Ｇは、対応する走査線Ｙに電気的に接続されている（あるいは走査線と一体に形成されている）。スイッチング素子７のソース電極７Ｓは、対応する信号線Ｘに電気的に接続されている（あるいは信号線と一体に形成されている）。スイッチング素子７のドレイン電極７Ｄは、対応する表示画素ＰＸの画素電極８に電気的に接続されている。
The switching element 7 is composed of a thin film transistor (TFT) or the like. The
対向基板４は、有効表示部６において、全表示画素ＰＸに共通の対向電極９などを備えている。これらアレイ基板３及び対向基板４は、全表示画素ＰＸの画素電極８と対向電極９とを対向させた状態で配設され、これらの間にギャップを形成する。液晶層５は、アレイ基板３と対向基板４とのギャップに封止された液晶組成物によって形成されている。
The
カラー表示タイプの液晶表示装置では、液晶表示パネル１は、複数種類の表示画素、例えば赤（Ｒ）を表示する赤色画素、緑（Ｇ）を表示する緑色画素、青（Ｂ）を表示する青色画素を有している。すなわち、赤色画素は、赤色の主波長の光を透過する赤色カラーフィルタを備えている。緑色画素は、緑色の主波長の光を透過する緑色カラーフィルタを備えている。青色画素は、青色の主波長の光を透過する青色カラーフィルタを備えている。これらカラーフィルタは、アレイ基板３または対向基板４の主面に配置される。
In a color display type liquid crystal display device, the liquid
液晶表示パネル１は、有効表示部６の外側に位置する外周部１０に配置された駆動ＩＣチップ１１を備えている。図１に示した例では、駆動ＩＣチップ１１は、対向基板４の端部４Ａより外方に延在したアレイ基板３の延在部１０Ａ上に配置されている。また、液晶表示パネル１は、有効表示部６に駆動信号を供給する駆動回路を有するフレキシブル配線基板ＦＰＣを接続可能な複数の接続パッドを有したパッド部ＰＰを備えている。図１に示した例では、パッド部ＰＰは、駆動ＩＣチップ１１と同様に延在部１０Ａ上に形成されている。
The liquid
液晶表示パネル１に実装された駆動ＩＣチップ１１は、有効表示部６の各信号線Ｘに駆動信号（映像信号）を供給する信号線駆動部１１Ｘ、及び、有効表示部６の各走査線Ｙに駆動信号（走査信号）を供給する走査線駆動部１１Ｙを有している。走査線駆動部１１Ｙは、奇数番走査線Ｙ（１、３、５、…）に対して駆動信号を出力する第１駆動部１１Ｙ１、及び、偶数番走査線Ｙ（２、４、６、…）に対して駆動信号を出力する第２駆動部１１Ｙ２を含んでいる。これら第１駆動部１１Ｙ１及び第２駆動部１１Ｙ２は、信号線駆動部１１Ｘを挟んだ両側にそれぞれ配置されている。
The driving
第１駆動部１１Ｙ１は、外周部１０の一端側１０Ｂに配置された奇数番配線群２０を介して奇数番走査線Ｙ（１、３、５、…）と電気的に接続されている。この奇数番配線群２０は、奇数番走査線Ｙ（１、３、５、…）のそれぞれに接続された配線Ｗ（１、３、５、…）によって構成されている。つまり、第１駆動部１１Ｙ１から出力された駆動信号は、各配線Ｗ（１、３、５、…）を介して対応する奇数番走査線Ｙ（１、３、５、…）に供給され、奇数行目の表示画素ＰＸをオン・オフさせる。すなわち、奇数行目の各表示画素ＰＸに含まれるスイッチング素子７は、対応する走査線Ｙから供給された駆動信号に基づいてオン・オフ制御される。
The first drive unit 11Y1 is electrically connected to the odd-numbered scanning lines Y (1, 3, 5,...) Via the odd-numbered
第２駆動部１１Ｙ２は、外周部１０の他端側１０Ｃに配置された偶数番配線群３０を介して偶数番走査線Ｙ（２、４、６、…）と電気的に接続されている。この偶数番配線群３０は、偶数番走査線Ｙ（２、４、６、…）のそれぞれに接続された配線Ｗ（２、４、６、…）によって構成されている。つまり、第２駆動部１１Ｙ２から出力された駆動信号は、各配線Ｗ（２、４、６、…）を介して対応する偶数番走査線Ｙ（２、４、６、…）に供給され、偶数行目の表示画素ＰＸをオン・オフさせる。すなわち、偶数行目の各表示画素ＰＸに含まれるスイッチング素子７は、対応する走査線Ｙから供給された駆動信号に基づいてオン・オフ制御される。
The second drive unit 11Y2 is electrically connected to the even-numbered scanning lines Y (2, 4, 6,...) Via the even-numbered
アレイ基板３は、図２に示すように、奇数番配線群２０の配線不良、偶数番配線群３０の配線不良、及び、有効表示部６における配線不良や表示画素ＰＸの表示品位など、有効表示部６での品質に関わる検査を行うための検査部４０を備えている。この検査部４０は、信号線駆動部１１Ｘに対応して設けられた信号線検査部４１、走査線駆動部１１Ｙの第１駆動部１１Ｙ１に対応して設けられた第１走査線検査部４２、第２駆動部１１Ｙ２に対応して設けられた第２走査線検査部４３、及び、各検査部４１、４２、４３に検査用の信号を入力するためのパッド部４４を有している。
As shown in FIG. 2, the
信号線検査部４１は、有効表示部６を検査する際に検査用の駆動信号が供給されるとともに各信号線Ｘに接続された信号線検査用駆動配線５１を備えている。また、信号線検査部４１は、各信号線Ｘ（１、２、…、ｎ）と信号線検査用駆動配線５１との間にスイッチ素子６１を備えている。さらに、信号線検査部４１は、有効表示部６を検査する際にスイッチ素子６１のオン・オフを制御する検査用の制御信号が供給される検査用制御配線５５を備えている。つまり、信号線検査用駆動配線５１及び検査用制御配線５５は、信号線検査部４１において、有効表示部６を検査する際に検査用の信号が供給される検査用配線として機能する。
The signal
スイッチ素子６１は、例えば薄膜トランジスタによって構成されている。各スイッチ素子６１のゲート電極６１Ｇは、検査用制御配線５５に電気的に接続されている。また、各スイッチ素子６１のソース電極６１Ｓは、信号線検査用駆動配線５１に電気的に接続されている。さらに、各スイッチ素子６１のドレイン電極６１Ｄは、対応する信号線Ｘに電気的に接続されている。
The
第１走査線検査部４２は、有効表示部６を検査する際に検査用の駆動信号が供給されるとともに奇数番配線群２０の各配線２１、例えば配線Ｗ１、Ｗ３、Ｗ５…に接続された第１検査用駆動配線５２を備えている。また、第１走査線検査部４２は、各配線２１と第１検査用駆動配線５２との間にスイッチ素子６２を備えている。さらに、第１走査線検査部４２は、有効表示部６を検査する際にスイッチ素子６２のオン・オフを制御する検査用の制御信号が供給される検査用制御配線５５を備えている。この検査用制御配線５５は、信号線検査部４１と共通である。つまり、第１検査用駆動配線５２及び検査用制御配線５５は、第１走査線検査部４２において、有効表示部６を検査する際に検査用の信号が供給される検査用配線として機能する。
The first scanning
スイッチ素子６２は、例えば薄膜トランジスタによって構成されている。各スイッチ素子６２のゲート電極６２Ｇは、検査用制御配線５５に電気的に接続されている。また、各スイッチ素子６２のソース電極６２Ｓは、第１検査用駆動配線５２に電気的に接続されている。さらに、各スイッチ素子６２のドレイン電極６２Ｄは、対応する配線２１に電気的に接続されている。
The
第２走査線検査部４３は、有効表示部６を検査する際に検査用の駆動信号が供給されるとともに偶数番配線群３０の各配線３１、例えば配線Ｗ２、Ｗ４、Ｗ６…に接続された第２検査用駆動配線５３を備えている。また、第２走査線検査部４３は、各配線３１と第２検査用駆動配線５３との間にスイッチ素子６３を備えている。さらに、第２走査線検査部４３は、有効表示部６を検査する際にスイッチ素子６３のオン・オフを制御する検査用の制御信号が供給される検査用制御配線５５を備えている。この検査用制御配線５５は、信号線検査部４１と共通である。つまり、第２検査用駆動配線５３及び検査用制御配線５５は、第２走査線検査部４３において、有効表示部６を検査する際に検査用の信号が供給される検査用配線として機能する。
The second scanning
スイッチ素子６３は、例えば薄膜トランジスタによって構成されている。各スイッチ素子６３のゲート電極６３Ｇは、検査用制御配線５５に電気的に接続されている。また、各スイッチ素子６３のソース電極６３Ｓは、第２検査用駆動配線５３に電気的に接続されている。さらに、各スイッチ素子６３のドレイン電極６３Ｄは、対応する配線３１に電気的に接続されている。
The
パッド部４４は、信号線検査用駆動配線５１の一端部に検査用の駆動信号の入力を可能とする入力パッド７１、第１検査用駆動配線５２の一端部に検査用の駆動信号の入力を可能とする入力パッド７２、第２検査用駆動配線５３の一端部に検査用の駆動信号の入力を可能とする入力パッド７３、及び、検査用制御配線５５の一端部に検査用の制御信号の入力を可能とする入力パッド７５を備えている。
The
入力パッド７１から入力される駆動信号は、検査段階において、各表示画素ＰＸの画素電極８に書き込まれる検査信号である。入力パッド７２及び７３から入力される駆動信号は、検査段階において、各表示画素ＰＸのスイッチング素子７のオン・オフを制御するための検査信号である。入力パッド７５から入力される制御信号は、検査段階において、信号線検査部４１のスイッチ素子６１、第１走査線検査部４２のスイッチ素子６２、及び、第２走査線検査部４３のスイッチ素子６３のオン・オフを制御するための検査信号である。
The drive signal input from the
各信号線Ｘ（１、２、…ｎ）、奇数番配線群２０の各配線２１、及び、偶数番配線群３０の各配線３１は、それぞれの中途部に駆動ＩＣチップ１１との接続を可能とする接続パッドＰＤを備えている。
Each signal line X (1, 2,... N), each
上述したような構成の表示装置においては、その製造過程において帯電した電荷が比較的設置面積の大きな配線に蓄積しやすい。特に、信号線検査用駆動配線５１、第１検査用駆動配線５２、第２検査用駆動配線５３、検査用制御配線５５、あるいは、対向電極９に対して全表示画素ＰＸに共通の電位を供給するための図示しないコモン配線などの検査用配線は、広い線幅を有し、しかも、長い配線長を有するため、設置面積が大きく、電荷が帯電しやすい。帯電した電荷は、配線の終端部や屈曲部に集中しやすく、隣接する他の導電層（配線や電極など）との間で静電放電を発生する原因となる。このような静電放電は、絶縁状態を維持すべき隣接する配線との間でのショートや、隣接する配線の断線を招くおそれがある。
In the display device having the above-described configuration, electric charges charged during the manufacturing process are likely to accumulate in a wiring having a relatively large installation area. In particular, a common potential is supplied to all display pixels PX to the signal line
例えば、図３に示すように、検査用制御配線５５の終端部付近に位置するスイッチ素子６３においては、半導体層６３ＳＣは、ソース電極６３Ｓ及びドレイン電極６３Ｄと電気的に接続されている。このような構成において、検査用制御配線５５に電荷が帯電すると、その終端部付近に配置されたスイッチ素子６３のゲート電極６３Ｇに電荷が集中しやすく、ゲート電極６３Ｇとソース電極６３Ｓとの間やゲート電極６３Ｇとドレイン電極６３Ｄとの間でのショートを引き起すおそれがある。
For example, as shown in FIG. 3, in the
また、図４に示すように、コモン配線ＣＯＭに電荷が帯電すると、その屈曲部ＢＤに電荷が集中しやすく、他の電位が供給される配線ＷＸと屈曲部ＢＤとの間でのショートを引き起すおそれがある。また、放電の規模が大きい場合には、隣接する配線ＷＸの断線を招くおそれがある。このようなショートや断線といった配線不良は、完成した液晶表示パネルにおける画素欠陥を生じさせるため、製造歩留まりを低下させる。 In addition, as shown in FIG. 4, when the common wiring COM is charged, the charge is likely to concentrate on the bent portion BD, and a short circuit is caused between the wiring WX to which another potential is supplied and the bent portion BD. May cause. Further, when the scale of the discharge is large, there is a possibility that the adjacent wiring WX may be disconnected. Such a wiring defect such as a short circuit or disconnection causes a pixel defect in the completed liquid crystal display panel, thereby reducing the manufacturing yield.
そこで、この実施の形態に係る表示装置においては、図５に示すように、パッド部ＰＰに含まれる接続パッドＣＰ１は、検査用配線８０と所定の間隔をおいて対向するように配置されている。あるいは、図６に示すように、接続パッドＣＰ１に接続された接続配線ＣＷは、検査用配線８０と所定の間隔をおいて対向するように配置されている。
Therefore, in the display device according to this embodiment, as shown in FIG. 5, the connection pad CP1 included in the pad portion PP is arranged to face the
これらの接続パッドＣＰ１及び接続配線ＣＷは、検査用配線８０に集中した電荷の放電を誘導するものであり、仮に放電が生じたとしても（あるいは、放電の結果としてショートや断線が生じたとしても）完成した液晶表示パネルにおいて何ら影響を及ぼさない導電層である。すなわち、接続パッドＣＰ１及び接続配線ＣＷは、パッド部ＰＰにフレキシブル配線基板ＦＰＣを接続して完成した液晶表示パネルにおいて表示に寄与するような信号が入力されない導電層である。つまり、接続パッドＣＰ１及び接続配線ＣＷは、フレキシブル配線基板ＦＰＣを実装後には、フレキシブル配線基板ＦＰＣの駆動回路から何ら信号が入力されない、あるいは、フレキシブル配線基板ＦＰＣの駆動回路から検査部４０に設けられた各スイッチ素子６１、６２、６３をオフした状態で固定するような信号が入力される導電層である。
These connection pads CP1 and connection wiring CW induce discharge of electric charges concentrated on the
このような導電層を接続パッドＣＰ１及び接続配線ＣＷとして利用することにより、例え検査用配線８０とショートしたとしても完成した液晶表示パネルにおいて、表示品位に何ら影響を及ぼすことがない。また、ショートや断線を生ずることなく検査用配線８０の電荷を逃がす程度の小規模の放電に抑制可能であれば、表示に寄与するような信号が入力される導電層を接続パッドＣＰ１及び接続配線ＣＷとして利用しても良い。
By using such a conductive layer as the connection pad CP1 and the connection wiring CW, even if it is short-circuited with the
図７Ａ及び図７Ｂに示した例では、接続パッドＣＰ１または接続配線ＣＷは、検査用配線８０と同一層において、検査用配線８０と所定の間隔Ｇをおいて対向するように配置されている。これらの接続パッドＣＰ１及び接続配線ＣＷは、検査用配線８０と同一層に配置されるため、検査用配線８０と同一材料を用いて同一工程で形成可能である。このため、別途に接続パッドＣＰ１や接続配線ＣＷを形成する工程が不要であり、製造コストの増大や製造歩留まりの大幅な劣化を招くことはない。
In the example shown in FIGS. 7A and 7B, the connection pad CP1 or the connection wiring CW is arranged in the same layer as the
図８Ａ及び図８Ｂに示した例では、接続パッドＣＰ１または接続配線ＣＷは、検査用配線８０とは絶縁層１００を介して異なる層において、検査用配線８０と所定の間隔Ｇをおいて対向するように配置されている。ここでは、特に、図８Ａに示すように、接続パッドＣＰ１または接続配線ＣＷ、及び、検査用配線８０は、これらが配置される基板（つまりアレイ基板３）の面内において互いに重ならないように配置されている（すなわち、アレイ基板３の面内において、接続パッドＣＰ１または接続配線ＣＷと検査用配線８０との間隔Ｇがゼロとならない）。なお、図８Ｂに示した例では、検査用配線８０を絶縁層１００の下層に配置し、接続パッドＣＰ１または接続配線ＣＷを絶縁層１００の上層に配置したが、この例に限定されることはなく、検査用配線８０を絶縁層１００の上層に配置し、接続パッドＣＰ１または接続配線ＣＷを絶縁層１００の下層に配置しても良いことは言うまでもない。
In the example shown in FIGS. 8A and 8B, the connection pad CP1 or the connection wiring CW is opposed to the
図９Ａ及び図９Ｂに示した例では、接続パッドＣＰ１または接続配線ＣＷは、検査用配線８０とは絶縁層１００を介して異なる層に配置され、しかも、絶縁層１００を介して検査用配線８０とその少なくとも一部が重なるように配置されている。つまり、図９Ａに示すように、接続パッドＣＰ１または接続配線ＣＷ、及び、検査用配線８０は、これらが配置される基板（つまりアレイ基板３）の面内において互いに重なるとともに、これらの間に介在される絶縁層１００を介して互いに対向するように配置されている。なお、図９Ｂに示した例では、検査用配線８０を絶縁層１００の下層に配置し、接続パッドＣＰ１または接続配線ＣＷを絶縁層１００の上層に配置したが、この例に限定されず、検査用配線８０を絶縁層１００の上層に配置し、接続パッドＣＰ１または接続配線ＣＷを絶縁層１００の下層に配置しても良いことは言うまでもない。また、図９Ｂに示した例では、検査用配線８０を接続パッドＣＰ１または接続配線ＣＷより幅広に形成したが、この例に限定されず、接続パッドＣＰ１または接続配線ＣＷを検査用配線８０より幅広に形成しても良いことは言うまでもない。
In the example shown in FIGS. 9A and 9B, the connection pad CP1 or the connection wiring CW is arranged in a layer different from the
図８Ａ及び図８Ｂに示した例や図９Ａ及び図９Ｂに示した例の場合、接続パッドＣＰ１及び接続配線ＣＷは、これと対向した状態で配置すべき検査用配線８０とは異なる層に形成される電極や配線と同一材料を用いて同一工程で形成可能である。例えば、検査用配線８０が検査用制御配線５５である場合、これとは絶縁層１００を介して異なる層に配置されるソース電極やドレイン電極などと同一材料を用いて同一工程で形成可能である。このため、別途に接続パッドＣＰ１及び接続配線ＣＷを形成する工程が不要であり、製造コストの増大や製造歩留まりの大幅な劣化を招くことはない。
In the example shown in FIGS. 8A and 8B and the example shown in FIGS. 9A and 9B, the connection pad CP1 and the connection wiring CW are formed in a different layer from the
接続パッドＣＰ１または接続配線ＣＷと検査用配線８０との間の所定の間隔Ｇとは、放電を誘導可能な距離であり、できるだけ小さいことが望ましいが、両者がショートしてしまう（間隔をゼロとする）と抵抗が小さくなりすぎてしまい、静電破壊のエネルギーを消費できないため、両者が電気的に絶縁状態となるような距離を必要とする。
The predetermined gap G between the connection pad CP1 or the connection wiring CW and the
図７Ａ及び図７Ｂに示した例や、図８Ａ及び図８Ｂに示した例では、所定の間隔Ｇは、接続パッドＣＰ１または接続配線ＣＷと検査用配線８０とが配置されるアレイ基板３の面内における距離に相当する。また、図９Ａ及び図９Ｂに示した例では、接続パッドＣＰ１または接続配線ＣＷと検査用配線８０とが絶縁層１００を介して重なるように配置されているため、両者の間隔は、実質的に絶縁層１００の膜厚Ｇに相当する。また、場合によっては、上層（ここでは接続パッドＣＰ１または接続配線ＣＷ）が下層（ここでは検査用配線８０）を乗り上げる段差部ＢＰにおいて、上層と下層との間に介在する絶縁層１００の肉厚Ｇ’が実質的な膜厚Ｇよりも薄くなることがある。このような場合、接続パッドＣＰ１または接続配線ＣＷと検査用配線８０との間の間隔は、段差部ＢＰにおける絶縁層１００の肉厚Ｇ’に相当する。いずれにしても、接続パッドＣＰ１または接続配線ＣＷと検査用配線８０との間の間隔は、これらが配置されるアレイ基板３の断面内における最短距離に相当する。
In the examples shown in FIGS. 7A and 7B and the examples shown in FIGS. 8A and 8B, the predetermined interval G is the surface of the
図７Ａ及び図７Ｂに示した例のように、接続パッドＣＰ１または接続配線ＣＷと検査用配線８０とを同一層に配置する場合、これらのパターニング工程における解像度限界により、両者の間隔Ｇにはある程度の限界がある。一方、図８Ａ及び図８Ｂに示した例や、図９Ａ及び図９Ｂに示した例のように、接続パッドＣＰ１または接続配線ＣＷと検査用配線８０とを異なる層に配置する場合、これらのパターニング工程での制約から解放され、アレイ基板３の面内において両者が重なるように配置されたとしても、絶縁層１００により両者を電気的に絶縁した状態を形成することが可能となる。つまり、同一層に両者を配置した場合と比較して、接続パッドＣＰ１または接続配線ＣＷと検査用配線８０との間隔をより小さくすることが可能となり、より放電を誘導しやすくすることが可能となる。また、絶縁層１００を介して接続パッドＣＰ１または接続配線ＣＷと検査用配線８０とを重ねて配置する場合、両者の間隔は断面内における最短距離に相当するため、絶縁層１００の膜厚によって両者の間隔を制御することが可能である。絶縁層１００の膜厚は０．１μｍオーダに設定することが可能であり、アレイ基板面内で所定の間隔を形成しようとする場合より、さらに小さな間隔を形成することが可能となり、さらに放電を誘導しやすくすることが可能となる。
When the connection pad CP1 or the connection wiring CW and the
上述した例において、接続パッドＣＰ１または接続配線ＣＷにおける検査用配線８０との対向部ＣＡ、及び、検査用配線８０における接続パッドＣＰ１または接続配線ＣＷとの対向部８０Ａの形状は、矩形状に限定されるものではない。すなわち、対向部ＣＡ及び８０Ａの少なくとも一方は、電荷が集中しやすいような形状であることが望ましく、少なくとも１つの多角形状の突角部を有している。対向部ＣＡにおける突角部の少なくとも一つの頂点は、検査用配線８０と所定の間隔をおいて対向している。また、対向部８０Ａにおける突角部の少なくとも１つの頂点は、接続パッドＣＰ１または接続配線ＣＷと所定の間隔をおいて対向している。
In the example described above, the shape of the facing portion CA of the connection pad CP1 or the connection wiring CW with the
より具体的に説明すると、図１０Ａに示すように、対向部８０Ａ及びＣＡの少なくとも一方は、１つの四角形状の突角部Ｃを有し、２つの頂点Ｔを有するような形状であっても良い。また、図１０Ｂに示すように、対向部８０Ａ及びＣＡの少なくとも一方は、１つの三角形状の突角部Ｃを有し、１つの頂点Ｔを有するような形状であっても良い。さらに、図１０Ｃに示すように、対向部８０Ａ及びＣＡの少なくとも一方は、複数（ｎ個）の三角形状の突角部Ｃを有し、複数（ｎ個）の頂点Ｔを有するような形状であっても良い。図１０Ｂ及び図１０Ｃに示したような例では、図１０Ａに示した例と比較して、頂点Ｔをより鋭利な形状とすることができ、電界が集中しやすくなる。
More specifically, as shown in FIG. 10A, even if at least one of the facing
またさらに、対向部８０Ａ及びＣＡの少なくとも一方は、図示しないが、ｎ個のｍ角形状の突角部を有し、複数の頂点を有するような形状であっても良いが、頂点Ｔの形状は電界の集中しやすさを考慮するとより鋭利であることが望ましい。なお、複数の突角部Ｃ及び複数の頂点Ｔは、一列に並んでいる必要はなく、基板面内であらゆる方位に向いていても良い。
Furthermore, although not shown, at least one of the facing
このような構成により、検査用配線８０上で蓄積していた電荷を接続パッドＣＰ１または接続配線ＣＷとの放電により逃がすことが可能となる。これにより、検査用配線８０に隣接する他の導電層との間での不所望な放電、及び、この放電に起因した不所望なショートや断線の発生を未然に防止することが可能となる。
With such a configuration, the charge accumulated on the
なお、対向部ＣＡ及び８０Ａの少なくとも一方が少なくとも１つの多角形状の突角部を有するような構成においては、図１０Ｄに示すように、対向部ＣＡの突角部Ｃの１つの頂点Ｔを含む一部が対向部８０Ａと重なるように配置しても良い。この場合は、特に、対向部ＣＡにおける突角部Ｃの頂点Ｔが対向部８０Ａを乗り上げる段差部ＢＰに位置することが望ましい。このような配置により、検査用配線８０と接続パッドＣＰ１または接続配線ＣＷとは、電界が集中しやすい頂点Ｔを介して、両者の間に介在する絶縁層１００の肉厚に相当する微小な間隔で対向配置されることになり、検査用配線８０に帯電した電荷の放電をさらに誘導可能となる。
In the configuration in which at least one of the facing portions CA and 80A has at least one polygonal projecting angle portion, as shown in FIG. 10D, one apex T of the projecting angle portion C of the facing portion CA is included. You may arrange | position so that one part may overlap with 80 A of opposing parts. In this case, in particular, it is desirable that the apex T of the projecting angle portion C in the facing portion CA is located at the stepped portion BP that rides over the facing
また、対向部８０Ａの突角部Ｃの１つの頂点Ｔを含む一部が対向部ＣＡと重なるように配置しても良い。さらに、対向部ＣＡ及び８０Ａの少なくとも一方が複数の突角部Ｃを有する場合、一方の対向部における突角部Ｃの少なくとも１つの頂点Ｔを含む一部が他方の対向部と重なるように配置しても良い。
Moreover, you may arrange | position so that a part including one vertex T of the protrusion C of the opposing
したがって、フレキシブル配線基板ＦＰＣや駆動ＩＣチップ１１を実装する前の有効表示部６での品質に関わる検査を行う検査段階において、検査部４０を用いて安定的に各種配線の配線不良を検査することが可能となるとともに、完成した液晶表示パネルにおける欠陥の発生を防止することができ、製造歩留まりの低下を抑制することが可能となる。
Therefore, in the inspection stage in which the inspection relating to the quality in the
（実施例）
この実施例においては、検査用制御配線５５の終端部５５Ｅでの放電を誘導する構成例について説明する。図１１Ａ乃至図１１Ｃに示すように、アレイ基板３は、延在部１０Ａにおいて、接続パッドＣＰ１を含むパッド部ＰＰを備えている。また、アレイ基板３は、スイッチ素子６３のゲート電極６３Ｇと一体的な検査用制御配線５５を備えている。一方で、フレキシブル配線基板ＦＰＣは、アレイ基板３のパッド部ＰＰの接続パッドＣＰ１と接続可能な接続パッドＣＰ２を含むパッド部ＰＰ’を備えている。このような構成において、アレイ基板３のパッド部ＰＰとフレキシブル配線基板ＦＰＣのパッド部ＰＰ’とを電気的に接続したとき、接続パッドＣＰ１と接続パッドＣＰ２とが電気的に接続される。
(Example)
In this embodiment, a configuration example for inducing a discharge at the
図１１Ｂ及び図１１Ｃに示すように、接続パッドＣＰ１は、絶縁層１００の上層に配置されている。検査用制御配線５５は、絶縁層１００の下層に配置されている。つまり、接続パッドＣＰ１は、検査用制御配線５５とは異なる層に配置されており、しかも、検査用制御配線５５と所定の間隔Ｇをおいて対向するように配置されている。ここでは、特に、接続パッドＣＰ１は、絶縁層１００を介して検査用制御配線５５の終端部５５Ｅとその少なくとも一部（対向部ＣＡ）が重なるように配置されている。
As shown in FIGS. 11B and 11C, the connection pad CP1 is disposed in an upper layer of the insulating
検査用制御配線５５の終端部５５Ｅ、すなわち接続パッドＣＰ１との対向部は、接続パッドＣＰ１より幅広な矩形状に形成されている。接続パッドＣＰ１の検査用制御配線５５との対向部ＣＡは、複数の三角形状の突角部Ｃを有し、しかも、突角部Ｃの各頂点Ｔを含む一部が検査用制御配線５５の終端部５５Ｅに重なっている。つまり、検査用制御配線５５の終端部５５Ｅと接続パッドＣＰ１の対向部ＣＡとが所定間隔Ｇをおいて対向して配置されている。このとき、対向部ＣＡに含まれる突角部Ｃの頂点Ｔが終端部５５Ｅと実質的に絶縁層１００の膜厚に相当する所定間隔Ｇをおいて対向する。
An
このような構成により、検査用制御配線５５の終端部５５Ｅに集中した電荷を接続パッドＣＰ１との放電により逃がすことが可能となる。このとき、電界を集中しやすい形状の接続パッドＣＰ１の頂点Ｔが終端部５５Ｅと最短距離で対向配置されるため、頂点Ｔ付近で放電を誘導しやすくなる。これにより、検査用制御配線５５の終端部付近での不所望な放電、及び、この放電に起因した不所望なショートや断線の発生を未然に防止することが可能となる。
With such a configuration, it is possible to release charges concentrated on the
以上説明したように、この実施の形態に係る表示装置によれば、検査部を備えたアレイ基板において、検査用配線において、電荷が集中しやすい部位に対向して接続パッドまたは接続パッドに接続された接続配線を配置したことにより、放電を誘導することが可能となる。これにより、検査用配線上において放電規模を拡大するような電荷の集中を防止することができる。このため、検査用配線に近接した他の導電層との間での不所望な放電、及び、この放電に起因した配線不良の発生を抑制することが可能となる。 As described above, according to the display device according to this embodiment, in the array substrate including the inspection unit, the inspection wiring is connected to the connection pad or the connection pad so as to face the portion where the electric charge tends to concentrate. By arranging the connection wiring, it becomes possible to induce discharge. As a result, it is possible to prevent the concentration of electric charges that increase the discharge scale on the inspection wiring. For this reason, it becomes possible to suppress the occurrence of an undesired discharge with another conductive layer close to the inspection wiring and the occurrence of a wiring defect due to this discharge.
このため、駆動ＩＣチップやフレキシブル配線基板などを実装する前の検査段階において、検査部を用いて有効表示部の品質に関わる検査を安定的に行うことが可能となる。したがって、配線不良の液晶表示パネルの後工程への流出を未然に防ぐことが可能となる。また、完成した液晶表示パネルにおける欠陥の発生を防止することが可能となる。これにより、製造歩留まりの低下を抑制することが可能となる。 For this reason, in the inspection stage before mounting a drive IC chip, a flexible wiring board, etc., it becomes possible to carry out the inspection relating to the quality of the effective display section stably using the inspection section. Therefore, it is possible to prevent the wiring failure from flowing out to the subsequent process. In addition, it is possible to prevent the occurrence of defects in the completed liquid crystal display panel. As a result, it is possible to suppress a decrease in manufacturing yield.
なお、この発明は、上記実施形態そのままに限定されるものではなく、その実施の段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。更に、異なる実施形態に亘る構成要素を適宜組み合わせてもよい。 Note that the present invention is not limited to the above-described embodiment as it is, and can be embodied by modifying the components without departing from the gist of the invention in the stage of implementation. In addition, various inventions can be formed by appropriately combining a plurality of components disclosed in the embodiment. For example, some components may be deleted from all the components shown in the embodiment. Furthermore, you may combine the component covering different embodiment suitably.
例えば、上記実施形態では、走査信号を液晶表示パネルの両側から給電する構成の液晶表示パネルについて述べてきたが、第１駆動部と第２駆動部とでそれぞれ走査信号を給電する配線数が異なっても良いし、第１駆動部若しくは第２駆動部を有さず単一の走査線駆動部により片側のみから各走査線に走査信号を給電するようなレイアウトでも良く、逆に走査線駆動部がさらに第３駆動部及び第４駆動部を有するような構成であっても良い。 For example, in the above embodiment, the liquid crystal display panel configured to supply the scanning signal from both sides of the liquid crystal display panel has been described. However, the number of wirings for supplying the scanning signal is different between the first driving unit and the second driving unit. Alternatively, the layout may be such that the scanning signal is supplied to each scanning line only from one side by a single scanning line driving unit without the first driving unit or the second driving unit, and conversely the scanning line driving unit. However, the configuration may further include a third drive unit and a fourth drive unit.
また、この発明の表示装置は、上述した液晶表示装置に限定されるものではなく、自己発光素子を表示素子とする有機エレクトロルミネッセンス表示装置など他の表示装置であっても良い。 The display device of the present invention is not limited to the liquid crystal display device described above, and may be another display device such as an organic electroluminescence display device using a self-luminous element as a display element.
ＰＸ…表示画素、ＦＰＣ…フレキシブル配線基板、ＣＰ１…接続パッド、ＰＰ…パッド部、１…液晶表示パネル、３…アレイ基板、６…有効表示部、１０…外周部、１０Ａ…延在部、１１…駆動ＩＣチップ、２０…奇数番配線群、２１…配線、３０…偶数番配線群、３１…配線、４０…検査部、４１…信号線検査部、４２…第１走査線検査部、４３…第２走査線検査部、４４…パッド部、５１…信号線検査用駆動配線、５２…第１検査用駆動配線、５３…第２検査用駆動配線、５５…検査用制御配線、６１…スイッチ素子、６１Ｇ…ゲート電極、６２…スイッチ素子、６２Ｇ…ゲート電極、６３…スイッチ素子、６３Ｇ…ゲート電極
PX ... display pixel, FPC ... flexible wiring board, CP1 ... connection pad, PP ... pad part, 1 ... liquid crystal display panel, 3 ... array substrate, 6 ... effective display part, 10 ... outer peripheral part, 10A ... extension part, 11 ... Drive IC chip, 20 ... Odd number wiring group, 21 ... Wiring, 30 ... Even number wiring group, 31 ... Wiring, 40 ... Inspection unit, 41 ... Signal line inspection unit, 42 ... First scanning line inspection unit, 43 ... Second scanning
Claims (18)
前記有効表示部に駆動信号を供給する駆動回路を有するフレキシブル配線基板を接続するための接続パッドを有したパッド部と、
前記有効表示部を検査する際に検査用の信号が供給される検査用配線と、を備え、
前記接続パッドまたは前記接続パッドに接続された接続配線は、前記検査用配線と所定の間隔をおいて対向するように配置されたことを特徴とする表示装置。 An effective display unit composed of a plurality of display pixels;
A pad portion having a connection pad for connecting a flexible wiring board having a drive circuit for supplying a drive signal to the effective display portion;
An inspection wiring to which an inspection signal is supplied when the effective display portion is inspected, and
The display device, wherein the connection pad or the connection wiring connected to the connection pad is arranged to face the inspection wiring at a predetermined interval.
前記有効表示部に接続され、前記有効表示部外に引き出された配線と、
前記有効表示部に駆動信号を供給する駆動回路を有するフレキシブル配線基板を接続するための接続パッドを有したパッド部と、
前記配線にスイッチ素子を介して接続され、前記有効表示部を検査する際に検査用の駆動信号が供給される検査用駆動配線と、
前記有効表示部を検査する際に前記スイッチ素子のオン・オフを制御する検査用の制御信号が供給される検査用制御配線と、を備え、
前記接続パッドまたは前記接続パッドに接続された接続配線は、前記検査用制御配線の終端部と所定の間隔をおいて対向するように配置されたことを特徴とする表示装置。 An effective display unit composed of a plurality of display pixels;
A wiring connected to the effective display unit and drawn out of the effective display unit;
A pad portion having a connection pad for connecting a flexible wiring board having a drive circuit for supplying a drive signal to the effective display portion;
A test drive wiring connected to the wiring via a switch element and supplied with a test drive signal when the effective display unit is tested;
An inspection control wiring to which a control signal for inspection for controlling on / off of the switch element when the effective display portion is inspected is provided, and
The display device, wherein the connection pad or the connection wiring connected to the connection pad is disposed so as to face a terminal portion of the inspection control wiring at a predetermined interval.
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| JP2004316564A JP2006126620A (en) | 2004-10-29 | 2004-10-29 | Display apparatus |
| TW094137553A TW200638143A (en) | 2004-10-29 | 2005-10-26 | Display device |
| US11/259,178 US20060103412A1 (en) | 2004-10-29 | 2005-10-27 | Display device |
| KR1020050101686A KR100807916B1 (en) | 2004-10-29 | 2005-10-27 | Display device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2004316564A JP2006126620A (en) | 2004-10-29 | 2004-10-29 | Display apparatus |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2006126620A true JP2006126620A (en) | 2006-05-18 |
Family
ID=36721421
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2004316564A Pending JP2006126620A (en) | 2004-10-29 | 2004-10-29 | Display apparatus |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2006126620A (en) |
-
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