JP2006300760A - 多種類のガス媒質を同時に検出するガス媒質分析装置およびガス媒質分析方法 - Google Patents

多種類のガス媒質を同時に検出するガス媒質分析装置およびガス媒質分析方法 Download PDF

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Abstract

【課題】 試料ガスに含まれる多種類のガス媒質、特に、近赤外領域に吸収帯をもつガス媒質と、中赤外領域に吸収帯をもつガス媒質の絶対濃度を同時にリアルタイムで高精度に検出可能なガス媒質分析装置およびガス媒質分析方法を提供する。
【解決手段】 ファイバーレーザ1からの近赤外ポンプ光と、第1のガス媒質を検出するためのDFB半導体レーザ2からの近赤外シグナル光とを結合した合波光をPPLN結晶5に入射させて、第2のガス媒質を検出するための近赤外または中赤外の差周波光を発生し、試料ガスが封入されたマルチパスセル7を通過したシグナル光、差周波光およびポンプ光の合波光から、シグナル光および差周波光のみを同一光軸上に分離した後、このシグナル光および差周波光をMCT検出器13に入射させて同時に検出し、MCT検出器13からの電気信号に基づいて第1のガス媒質および第2のガス媒質の濃度を解析する。
【選択図】 図1

Description

本発明は、試料ガスに含まれるガス媒質の濃度を光学的に測定するガス媒質分析装置およびガス媒質分析方法に関する。さらに詳しくは、本発明は、赤外分光分析によって試料ガスに含まれる多種類のガス媒質の濃度を同時に測定するガス媒質分析装置およびガス媒質分析方法に関する。
火力発電所等では、発電機のタービン、ボイラ等から燃焼後の排ガスを排出し、通常は廃熱を回収した後に大気に放出するが、放出ガス中の窒素酸化物濃度の減少を図るために、触媒を有する脱硝装置に排ガスを導いて接触還元法によってアンモニアと反応させ、窒素酸化物を窒素ガスと水に分解してから大気にその処理ガスを放出している。
この他、自動車等のディーゼルエンジンからの燃焼排気ガスにも窒素酸化物が含まれている。この窒素酸化物濃度の減少を図るために、触媒を有する脱硝装置に燃焼排気ガスを導いて接触還元法によってアンモニアと反応させ、窒素酸化物を窒素ガスと水に分解してから大気にその処理ガスを放出している。
このような用途に用いられる脱硝装置(特許文献1〜3)では、窒素酸化物の発生量に応じてアンモニアの供給量を調節する必要があるため、窒素酸化物とアンモニアとの両方の濃度をリアルタイムで高精度に検出、監視するシステムが必要になる。
特開2000−266724号公報 特開2000−234723号公報 特開2003−80026号公報
窒素酸化物、アンモニアなどのガス媒質を光学的に検出する手段としては、レーザ吸収、レーザ誘起蛍光、ラマン散乱などがある。レーザ吸収を用いたガス検出では、光源の出力が比較的低出力であってもよいが、1種類の被測定媒質に対して一対の光源を必要とする。このため、多種類のガス媒質を同時に検出する場合、光源が複数個必要になるため装置は大型で高価になる。
ラマン散乱を用いたガス検出では、数W以上の高出力のレーザ光源が必要になり、装置は大型で高価になる。
一方、2つの近赤外レーザ光源からの近赤外光により差周波光を発生させ、この差周波光によって中赤外領域の分子の固有吸収線を測定する技術が知られているが、従来では、差周波光の発生に利用した近赤外光を除去し、中赤外の差周波光のみを用いて1種類の被測定ガスの測定を行っている。
本発明は、試料ガスに含まれる2種類以上のガス媒質、特に、近赤外領域に吸収帯をもつガス媒質と、中赤外領域に吸収帯をもつガス媒質の絶対濃度を同時にリアルタイムで高精度に検出可能なガス媒質分析装置およびガス媒質分析方法を提供することを目的としている。
本発明のガス媒質分析装置は、試料ガスに含まれる複数種類のガス媒質の濃度を光学的
に測定するガス媒質分析装置であって、
特定波長のポンプ光を発生する第1の近赤外光源と、
前記試料ガスに含まれる少なくとも1種類のガス媒質の吸収帯に対応する特定波長のシグナル光を発生する第2の近赤外光源と、
前記ポンプ光と前記シグナル光とを結合して合波光を生成する合波光生成手段と、
前記合波光から、前記試料ガスに含まれる他の少なくとも1種類のガス媒質における近赤外または中赤外の吸収帯に対応する前記ポンプ光と前記シグナル光との差周波光を発生する差周波光発生手段と、
前記試料ガスが封入され、前記シグナル光、差周波光およびポンプ光の合波光が入射するセルと、
前記セルを通過した近赤外の前記シグナル光およびポンプ光と、近赤外または中赤外の前記差周波光とを分離する分離フィルタと、
前記フィルタによって分離された前記シグナル光と前記ポンプ光との合波光から該ポンプ光を除去するポンプ光除去フィルタと、
前記ポンプ光除去フィルタを通過した前記シグナル光と、前記分離フィルタからの前記差周波光との光軸を同一光軸上に合わせる光軸結合手段と、
前記光軸結合手段によって光軸が合わされた前記シグナル光と前記差周波光とを同時に検出して電気信号に変換する赤外検出器と、
前記赤外検出器からの電気信号に基づいて複数種類の前記ガス媒質の濃度を解析する解析装置と、
を備えることを特徴とする。
本発明のガス媒質分析方法は、試料ガスに含まれる複数種類のガス媒質の濃度を光学的に測定するガス媒質分析方法であって、
特定の近赤外波長のポンプ光と、前記試料ガスに含まれる少なくとも1種類のガス媒質の吸収帯に対応する近赤外波長のシグナル光とを結合して合波光を生成し、
前記合波光から、前記試料ガスに含まれる他の少なくとも1種類のガス媒質における近赤外または中赤外の吸収帯に対応する前記ポンプ光と前記シグナル光との差周波光を発生し、
前記シグナル光、差周波光およびポンプ光の合波光を、前記試料ガスが封入されたセルに入射し、
前記セルを通過した前記シグナル光、差周波光およびポンプ光の合波光から、前記シグナル光および差周波光のみを同一光軸上に取り出し、
前記同一光軸上に取り出された前記シグナル光および差周波光を赤外検出器に入射させて同時に検出し、
前記赤外検出器からの電気信号に基づいて複数種類の前記ガス媒質の濃度を解析することを特徴とする。
本発明によれば、試料ガスに含まれる多種類のガス媒質の絶対濃度、例えば近赤外領域に吸収帯をもつガス媒質と、中赤外領域に吸収帯をもつガス媒質の絶対濃度を、同時にリアルタイムで高精度に検出することができる。
以下、図面を参照しながら本発明の実施形態について説明する。なお、本明細書において「近赤外領域」とは2.5μm未満の赤外波長領域を表し、「中赤外領域」とは2.5μm以上25μm以下の波長領域を表すものとする。
図1は、本発明の1つの実施形態におけるガス媒質分析装置の構成を示した図である。このガス媒質分析装置31は、ガス媒質としてNH3とNO2とを含む試料ガス中のNH3
とNO2の絶対濃度を同時にリアルタイムで測定する構成になっている。
ガス媒質分析装置31は、ポンプ光を発生させる近赤外光源として、波長1064nmのポンプ光を発生させるYbファイバーレーザ1を備えている。
また、NH3を検出するためのシグナル光を発生する近赤外光源として、波長1536
nmのシグナル光を発生させるDFB(Distributed Feedback:分布帰還型)半導体レーザ2を備えている。
Ybファイバーレーザ1から出射したポンプ光と、DFB半導体レーザ2から出射したシグナル光は、偏光子3a,3bをそれぞれ通過させることによって直線偏光とされた後、WDM(Wavelength Division Multiplexing:光波長多重伝送)合波器4で結合される。
この結合された合波光は、PPLN(Periodically Poled Lithium Niobate)結晶5に集光されて、このPPLN結晶5を通過することによって波長1064nmのポンプ光と波長1536nmのシグナル光との差周波光である波長3.46μmの中赤外光が発生する。この中赤外の差周波光によって試料ガス中のNO2が検出される。
これらのシグナル光と差周波光とポンプ光は、測定対象の試料ガスが封入されたマルチパスセル7に導光され、マルチパスセル7を複数回往復する間に試料ガス中に含まれるNH3によってシグナル光が吸収され、試料ガス中に含まれるNO2によって差周波光が吸収される。
マルチパスセル7を通過した光はGeフィルタ9に導光される。Geフィルタ9は、中赤外光である差周波光を透過し、近赤外光であるシグナル光およびポンプ光を反射する。これにより、差周波光と、シグナル光およびポンプ光とが分離される。
Geフィルタ9を反射したシグナル光およびポンプ光は、ロングパスフィルタ10に導光され、測定に不必要なポンプ光はロングパスフィルタ10によって除去されてシグナル光のみがロングパスフィルタ10を透過する。
シグナル光はND(Neutral Density)フィルタによって出力を減衰させた後、ウェッ
ジ型のCaF2基板11に導光されて、CaF2基板11によってシグナル光と差周波光とが同一光軸に合わせられる。
この同一光軸に合わせられたシグナル光と差周波光との合波光は、放物面鏡12によってMCT検出器13の受光面に集光される。
MCT検出器13によって光電変換された電気信号は、DCアンプ14で増幅された後A/D変換されてコンピュータ15に入力され、NH3とNO2の絶対濃度が解析される。
絶対濃度を算出するための信号処理および解析は、従来から知られている各種の手法を適用して行うことができるが、一例としては、次のように行われる。シグナル光に対してドライバーによって鋸歯状の周期信号となるように変調を掛け、縦軸をレーザ出力、横軸を波長(時間)とした鋸歯状の入力信号を生成する。MCT検出器13では、シグナル光と差周波光のそれぞれの光路にシャッターを設置し、シグナル光を測定する際には差周波光側のシャッターを閉じ、差周波光を測定する際にはシグナル光側のシャッターを閉じる。セルを通過してMCT検出器13で検出された信号を入力信号で割り算して規格化し、吸収線の面積を求める。この吸収線の面積より濃度換算を行う。濃度換算は、既知濃度の試料から作成した検量線によって行ってもよく、吸収線の面積をランベルト・ベール(Lambert−Beer)の式に代入して計算してもよい。
ガス媒質の濃度を解析する解析装置として、通常はCPU、メモリ等を備えたコンピュータが使用され、予め格納されたプログラムにしたがって上記の信号処理、演算処理が行われる。
図2は、本実施形態のガス媒質分析装置を用いてNH3とNO2の吸収線を分光した結果を示した図である。このように、NH3とNO2の両方を同時かつ高精度に検出できることが確認された。
本実施形態のガス媒質分析装置は、差周波光を発生させるために用いた近赤外光を測定光として利用しているので、全体として高価にならず、さらに小型化が可能であるため持ち運びが容易である。
以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明はこの実施形態に限定されることはなく、その要旨を逸脱しない範囲内において各種の変形、変更が可能である。
例えば、DFB半導体レーザの波長と、ファイバーレーザのFBG(Fiber Bragg Grating)を取り替える等の変更をすることにより、NH3とNO2以外の他分子の測定も可能
である。具体的には、例えば波長941nmのポンプ光用レーザ光源と、波長1605nmのシグナル光用レーザ光源を利用すれば、2.27μmの差周波が発生する。波長1605nmにはCO2とCOの吸収帯域が存在し、波長2.27μmにはNH3の吸収帯域が存在するので、これらの分光検出を同時に行うことができる。
また、波長941nmのポンプ光用レーザ光源と、波長1577nmのシグナル光用レーザ光源を利用すれば、2.33μmの差周波が発生する。波長1577nmにはCO2
とCOの吸収帯域が存在し、波長2.33μmにはCH4の吸収帯域が存在するので、こ
れらの分光検出を同時に行うことができる。
また、複数の分子の吸収線が存在する波長領域をシグナル光の波長として選択すれば、3種類以上の多数の分子を同時に測定することも可能である。例えば、1605nmの波長領域にはCO2とCOの吸収帯が存在し、またこれらの同位体の吸収帯が存在するので
、シグナル光によりこれらの複数の分子を測定するとともに、差周波光によりNH3を測
定することによって、3種類以上の分子を同時に測定することができる。
なお、ポンプ光を発生するファイバーレーザは、励起用光ファイバ内にレーザ媒体および光共振器を形成したレーザ発振器である。励起光源にはレーザダイオードなどが用いられ、励起光源からのレーザ光は光ファイバによって励起用光ファイバに導光される。例えば、ガラス製コアの外側に、シリカ等のインナークラッドとポリマーコート等のアウタークラッドが設けられたダブルクラッドファイバの両端部にFBGを設けたもの、ファイバの光源側端部に反射率の高い多層膜コートが施され、出射側端部に反射率の低い多層膜コートが施されたものなどがあり、励起光はインナークラッド内に集光されてファイバの中を伝搬する。コアにドープされる希土類元素には、Yb以外に例えばEr、Tm、Ndなどがある。
シグナル光を発生するDFB半導体レーザには、通信用に一般に用いられているCWタイプのものが使用できる。DFB半導体レーザは、活性層周辺に周期的な回折格子構造(分布帰還型構造)を有し、電流注入による屈折率変化、ペルチェ素子やヒータ電極による温度変化などを利用した波長チューニングが可能である。
ポンプ光源およびシグナル光源からのレーザ光を偏光とするための偏光子には、赤外透過基板上に金属の格子を形成したグリッド偏光子などが用いられる。
WDM合波器には、2本の光ファイバをそのコア部を近接させて溶融させたもの、ガラス基板にコートされた誘電体多層膜の透過(反射)率の波長依存性を利用したものなどがある。
差周波光を発生する波長変換素子には、周期的な分極反転構造を形成した非線形光学結晶、例えば、5μm以下の波長ではLiNbO3、LiTaO3、KTiOPO4などで形
成されたものがあり、5μmを超える波長ではAgGaS2、AgGaSe2などで形成されたものがある。また、これらの結晶に酸化マグネシウムをドープしたものなどがある。
図1は、本発明の1つの実施形態におけるガス媒質分析装置の構成を示した図である。 図2は、図1のガス媒質分析装置を用いてNH3とNO2の吸収線を分光した結果を示した図である。
符号の説明
1 ファイバーレーザ
2 DFB半導体レーザ
3a,3b 偏光子
4 WDM合波器
5 PPLN結晶
6 CaF2レンズ
7 マルチパスセル
8 圧力計
9 Geフィルタ
10 ロングパスフィルタ
11 ウェッジ型CaF2基板
12 放物面鏡
13 MCT検出器
14 DCアンプ
15 コンピュータ
16a〜16f 反射鏡
31 ガス媒質分析装置

Claims (7)

  1. 試料ガスに含まれる複数種類のガス媒質の濃度を光学的に測定するガス媒質分析装置であって、
    特定波長のポンプ光を発生する第1の近赤外光源と、
    前記試料ガスに含まれる少なくとも1種類のガス媒質の吸収帯に対応する特定波長のシグナル光を発生する第2の近赤外光源と、
    前記ポンプ光と前記シグナル光とを結合して合波光を生成する合波光生成手段と、
    前記合波光から、前記試料ガスに含まれる他の少なくとも1種類のガス媒質における近赤外または中赤外の吸収帯に対応する前記ポンプ光と前記シグナル光との差周波光を発生する差周波光発生手段と、
    前記試料ガスが封入され、前記シグナル光、差周波光およびポンプ光の合波光が入射するセルと、
    前記セルを通過した近赤外の前記シグナル光およびポンプ光と、近赤外または中赤外の前記差周波光とを分離する分離フィルタと、
    前記フィルタによって分離された前記シグナル光と前記ポンプ光との合波光から該ポンプ光を除去するポンプ光除去フィルタと、
    前記ポンプ光除去フィルタを通過した前記シグナル光と、前記分離フィルタからの前記差周波光との光軸を同一光軸上に合わせる光軸結合手段と、
    前記光軸結合手段によって光軸が合わされた前記シグナル光と前記差周波光とを同時に検出して電気信号に変換する赤外検出器と、
    前記赤外検出器からの電気信号に基づいて複数種類の前記ガス媒質の濃度を解析する解析装置と、
    を備えることを特徴とするガス媒質分析装置。
  2. 前記第1の近赤外光源は、ファイバーレーザであることを特徴とする請求項1に記載のガス媒質分析装置。
  3. 前記第2の近赤外光源は、DFB半導体レーザであることを特徴とする請求項1または2に記載のガス媒質分析装置。
  4. 前記合波光生成手段は、WDM合波器であることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載のガス媒質分析装置。
  5. 前記差周波光発生手段は、PPLN結晶であることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載のガス媒質分析装置。
  6. 前記光軸結合手段は、ウェッジ型のCaF2基板であることを特徴とする請求項1〜5
    のいずれかに記載のガス媒質分析装置。
  7. 試料ガスに含まれる複数種類のガス媒質の濃度を光学的に測定するガス媒質分析方法であって、
    特定の近赤外波長のポンプ光と、前記試料ガスに含まれる少なくとも1種類のガス媒質の吸収帯に対応する近赤外波長のシグナル光とを結合して合波光を生成し、
    前記合波光から、前記試料ガスに含まれる他の少なくとも1種類のガス媒質における近赤外または中赤外の吸収帯に対応する前記ポンプ光と前記シグナル光との差周波光を発生し、
    前記シグナル光、差周波光およびポンプ光の合波光を、前記試料ガスが封入されたセルに入射し、
    前記セルを通過した前記シグナル光、差周波光およびポンプ光の合波光から、前記シグ
    ナル光および差周波光のみを同一光軸上に取り出し、
    前記同一光軸上に取り出された前記シグナル光および差周波光を赤外検出器に入射させて同時に検出し、
    前記赤外検出器からの電気信号に基づいて複数種類の前記ガス媒質の濃度を解析することを特徴とするガス媒質分析方法。
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Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2012050696A1 (en) 2010-10-14 2012-04-19 Thermo Fisher Scientific Inc. Optical chamber module assembly
JP2012108038A (ja) * 2010-11-18 2012-06-07 Nippon Steel Corp 排ガスの分析方法及び排ガスの排出制御方法
JP2013015409A (ja) * 2011-07-04 2013-01-24 Toshiba Corp ガスセンサ
WO2013182735A1 (en) * 2012-06-08 2013-12-12 Metso Power Oy Measurement of gaseous compound using spectroscopy
WO2015033582A1 (ja) 2013-09-09 2015-03-12 独立行政法人理化学研究所 ガス分析装置およびガス分析方法
JP2016519319A (ja) * 2013-05-22 2016-06-30 エム スクエアード レーザーズ リミテッドM Squared Lasers Limited 熟成監視装置および方法
CN111504945A (zh) * 2020-06-08 2020-08-07 朗思科技有限公司 一种光纤光热气体传感装置及方法
CN114235700A (zh) * 2021-12-21 2022-03-25 长春理工大学 一种多组分气体浓度检测装置及方法
CN114486791A (zh) * 2022-01-17 2022-05-13 吉林大学 一种基于二阶光子带隙慢光波导的光热干涉光谱气体传感装置及检测方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09326521A (ja) * 1996-06-06 1997-12-16 Mitsui Petrochem Ind Ltd 差周波光発生装置およびこれを用いた赤外吸収分析装置
JP2001289785A (ja) * 2000-04-06 2001-10-19 Oyo Kogaku Kenkyusho 赤外線レーザ成分検出装置
JP2003042950A (ja) * 2001-07-25 2003-02-13 Oyo Kogaku Kenkyusho ガス成分測定装置
JP2004325099A (ja) * 2003-04-22 2004-11-18 Yokogawa Electric Corp レーザ光源及びこれを用いたレーザ分光分析装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09326521A (ja) * 1996-06-06 1997-12-16 Mitsui Petrochem Ind Ltd 差周波光発生装置およびこれを用いた赤外吸収分析装置
JP2001289785A (ja) * 2000-04-06 2001-10-19 Oyo Kogaku Kenkyusho 赤外線レーザ成分検出装置
JP2003042950A (ja) * 2001-07-25 2003-02-13 Oyo Kogaku Kenkyusho ガス成分測定装置
JP2004325099A (ja) * 2003-04-22 2004-11-18 Yokogawa Electric Corp レーザ光源及びこれを用いたレーザ分光分析装置

Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2012050696A1 (en) 2010-10-14 2012-04-19 Thermo Fisher Scientific Inc. Optical chamber module assembly
EP2627988A4 (en) * 2010-10-14 2017-11-15 Thermo Fisher Scientific (Bremen) GmbH Optical chamber module assembly
JP2012108038A (ja) * 2010-11-18 2012-06-07 Nippon Steel Corp 排ガスの分析方法及び排ガスの排出制御方法
JP2013015409A (ja) * 2011-07-04 2013-01-24 Toshiba Corp ガスセンサ
US9778176B2 (en) 2012-06-08 2017-10-03 Valmet Technologies Oy Measurement of gaseous compound using spectroscopy
WO2013182735A1 (en) * 2012-06-08 2013-12-12 Metso Power Oy Measurement of gaseous compound using spectroscopy
JP2016519319A (ja) * 2013-05-22 2016-06-30 エム スクエアード レーザーズ リミテッドM Squared Lasers Limited 熟成監視装置および方法
WO2015033582A1 (ja) 2013-09-09 2015-03-12 独立行政法人理化学研究所 ガス分析装置およびガス分析方法
JPWO2015033582A1 (ja) * 2013-09-09 2017-03-02 国立研究開発法人理化学研究所 ガス分析装置およびガス分析方法
US9861297B2 (en) 2013-09-09 2018-01-09 Riken Gas analysis device and gas analysis method
CN111504945A (zh) * 2020-06-08 2020-08-07 朗思科技有限公司 一种光纤光热气体传感装置及方法
CN111504945B (zh) * 2020-06-08 2023-06-13 朗思传感科技(深圳)有限公司 一种光纤光热气体传感装置及方法
CN114235700A (zh) * 2021-12-21 2022-03-25 长春理工大学 一种多组分气体浓度检测装置及方法
CN114235700B (zh) * 2021-12-21 2023-11-03 长春理工大学 一种多组分气体浓度检测装置及方法
CN114486791A (zh) * 2022-01-17 2022-05-13 吉林大学 一种基于二阶光子带隙慢光波导的光热干涉光谱气体传感装置及检测方法
CN114486791B (zh) * 2022-01-17 2023-08-08 吉林大学 一种基于二阶光子带隙慢光波导的光热干涉光谱气体传感装置及检测方法

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