JP2006248655A - Work transferring method, work transferring system, manufacturing method of electro-optical device, electro-optical device, manufacturing method of circuit board, circuit board, and electronic equipment - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a work transferring system capable of transferring a work before a drawing process to a pallet of an eliminated material stocker in the positioning condition without detecting position again. <P>SOLUTION: This work transferring system 1 is provided with a supplied material stocker 202 and the eliminated material stocker 203 housing pallets P in parallel with each other to perform positioning of the work W, a drawing device 11 for drawing the work W and the work transferring device 13 for transferring the work W. The drawing device 11 has a position recognizing means 105 for recognizing loading position of the work W transferred to a set table 122 before drawing, a position correcting means 102 for correcting loading position of the work W before drawing on the set table 122, and a control means 16 for controlling the position recognizing means 105 and the position correcting means 102. The control means 16 returns the work W to the original loading position with the position correcting means 102 on the basis of a result of the recognition after drawing. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明は、ワークに描画処理を行う描画装置のセットテーブルに対し、ワークの供給および除去を行うワーク移載方法、ワーク移載システム、電気光学装置の製造方法、電気光学装置、回路基板の製造方法、回路基板、および電子機器に関するものである。   The present invention relates to a workpiece transfer method, a workpiece transfer system, a method of manufacturing an electro-optical device, a method of manufacturing an electro-optical device, a method of manufacturing a circuit board, and the like. The present invention relates to a method, a circuit board, and an electronic device.

従来、それぞれワーク(基板)を収容する給材ストッカ(給材部)および除材ストッカ(除材部)を用い、描画処理前のワークを、給材ストッカから描画装置(描画部)のセットテーブル(ステージ)に水平に移載すると共に、描画処理後のワークをセットテーブルから除材ストッカに水平に移載するワーク移載システム(液滴吐出装置)が知られている(例えば、特許文献1参照)。
特開2004−341114号公報
Conventionally, a set table of a drawing apparatus (drawing unit) from a supply stocker to a workpiece before drawing processing using a feeding stocker (feeding unit) and a removal material stocker (removing unit) each accommodating a workpiece (substrate). There is known a workpiece transfer system (droplet discharge device) that transfers a workpiece horizontally after being drawn onto a (stage) from a set table to a material removal stocker (for example, Patent Document 1). reference).
JP 2004-341114 A

この場合、給材ストッカおよび除材ストッカには、ワークが位置決め状態で載置されるパレットを互いに平行にしてそれぞれ収容し、ワークを両ストッカにそれぞれ収容されたパレットに移載するようにすることが考えられる。しかし、給材ストッカおよび除材ストッカと、描画装置とは、別体に構成されており、描画装置に対して両ストッカを精度良く位置合わせすることは困難である。このような描画装置と両ストッカとの位置精度、或いはパレットにおけるワークの位置決め精度等に起因して、給材ストッカからセットテーブルに移載した場合に、セットテーブル上でワークの位置補正を行う必要があるだけでなく、ワークをセットテーブルから除材ストッカに移載する場合にも、何らかの位置補正が必要があり、問題であった。   In this case, in the material supply stocker and the material removal stocker, the pallets on which the workpieces are placed in a positioned state are respectively stored in parallel with each other, and the workpieces are transferred to the pallets respectively stored in both stockers. Can be considered. However, the material supply stocker, the material removal stocker, and the drawing apparatus are configured separately, and it is difficult to accurately position both stockers with respect to the drawing apparatus. Due to the positional accuracy between the drawing device and both stockers or the positioning accuracy of the workpiece on the pallet, the workpiece position must be corrected on the set table when it is transferred from the material stocker to the set table. In addition, there is a problem in that some positional correction is necessary when the work is transferred from the set table to the material removal stocker.

本発明は、改めて位置検出を行うことなく、描画処理後のワークを除材ストッカのパレットに位置決め状態で移載することができるワーク移載方法、ワーク移載システム、電気光学装置の製造方法、電気光学装置、回路基板の製造方法、回路基板、および電子機器を提供することを目的とする。   The present invention relates to a workpiece transfer method, a workpiece transfer system, a method of manufacturing an electro-optical device, and a workpiece transfer method that can transfer a workpiece after drawing processing to a pallet of a material removal stocker in a positioning state without performing position detection again. It is an object to provide an electro-optical device, a circuit board manufacturing method, a circuit board, and an electronic apparatus.

本発明のワーク移載方法は、ワークを位置決め状態で水平に載置したパレットを、互いに平行になるようにして、それぞれ収容する給材ストッカおよび除材ストッカを用い、描画処理前のワークを、給材ストッカに収容されたパレットから描画装置のセットテーブルに水平に移載すると共に、描画処理後のワークを、セットテーブルから除材ストッカに収容されたパレットに水平に移載するワーク移載方法であって、描画処理に先立って、セットテーブルに移載したワークの水平面内における載置位置を認識する位置認識工程と、セットテーブル上で、位置認識工程における認識結果に基づいて、描画処理前のワークの載置位置を補正する位置補正工程と、セットテーブル上で、認識結果に基づいて、描画処理後のワークを元の載置位置に戻す位置復帰工程と、を備えたことを特徴とする。   The workpiece transfer method of the present invention uses a feed stocker and a material removal stocker that respectively accommodate pallets placed horizontally in a positioning state and are parallel to each other. A workpiece transfer method for horizontally transferring from a pallet housed in a material stocker to a set table of a drawing apparatus and horizontally transferring a workpiece after drawing processing from a set table to a pallet housed in a material removal stocker Prior to the drawing process, the position recognition step for recognizing the placement position of the work transferred to the set table in the horizontal plane and the drawing table before the drawing process based on the recognition result in the position recognition step. Based on the recognition result on the set table and the position correction process for correcting the placement position of the workpiece, the workpiece after drawing processing is returned to the original placement position. A position return process, characterized by comprising a.

この構成によれば、描画処理の前に、セットテーブル上でワークの載置位置を補正することで、ワークを位置精度良くセットテーブルにセットすることができる。このため、描画装置は、描画精度(位置精度)の高い描画処理を行うことができる。さらに、描画処理の後で、位置補正前に行った認識結果に基づいて、セットテーブル上でワークを元の載置位置に戻すことで、給材ストッカのパレットと平行になるようにして除材ストッカに収容されたパレットに位置決め状態でワークを移載することができる。すなわち、ワークの元の位置を記憶しておくだけで、除材ストッカやそのパレットの位置検出を行うことなく、ワークを精度良く移載することができる。   According to this configuration, the work can be set on the set table with high positional accuracy by correcting the placement position of the work on the set table before the drawing process. For this reason, the drawing apparatus can perform drawing processing with high drawing accuracy (position accuracy). Furthermore, the material removal is performed in parallel with the pallet of the material stocker by returning the work to the original placement position on the set table based on the recognition result performed after the drawing process and before the position correction. The workpiece can be transferred to the pallet accommodated in the stocker in a positioning state. In other words, the work can be transferred with high accuracy without detecting the position of the material removal stocker or its pallet only by storing the original position of the work.

本発明のワーク移載システムは、ワークを位置決め状態で水平に載置したパレットを、互いに平行になるようにして、それぞれ収容する給材ストッカおよび除材ストッカと、ワークをセットするセットテーブルを有し、セットされたワークに対して描画処理を行う描画装置と、描画処理前のワークを、給材ストッカに収容されたパレットから描画装置のセットテーブルに水平に移載すると共に、描画処理後のワークを、セットテーブルから除材ストッカに収容されたパレットに水平に移載するワーク移載装置と、を備えたワーク移載システムであって、描画装置は、描画処理に先立って、セットテーブルに移載したワークの水平面内における載置位置を認識する位置認識手段と、位置認識手段による認識結果に基づいて、セットテーブル上で、描画処理前のワークの載置位置を補正する位置補正手段と、位置認識手段および位置補正手段を制御する制御手段と、を有し、制御手段は、描画処理の後、認識結果に基づいて、位置補正手段によりワークを元の載置位置に戻すことを特徴とする。   The workpiece transfer system according to the present invention includes a feed stocker and a material removal stocker for respectively accommodating pallets on which workpieces are horizontally placed in a positioned state so as to be parallel to each other, and a set table for setting the workpieces. The drawing apparatus that performs the drawing process on the set work and the work before the drawing process are horizontally transferred from the pallet accommodated in the material stocker to the set table of the drawing apparatus, and after the drawing process. A workpiece transfer system comprising: a workpiece transfer device that horizontally transfers a workpiece from a set table to a pallet housed in a material removal stocker, wherein the drawing device is placed on the set table prior to drawing processing. Based on the position recognition means for recognizing the placement position of the transferred work in the horizontal plane and the recognition result by the position recognition means on the set table The position correction means for correcting the placement position of the workpiece before the drawing process, and the control means for controlling the position recognition means and the position correction means, the control means, after the drawing process, based on the recognition result, The work is returned to the original placement position by the position correcting means.

この構成によれば、描画処理の前に、位置補正手段によりセットテーブル上でワークの載置位置を補正することで、ワークを位置精度良くセットテーブルにセットすることができる。このため、描画装置は、描画精度(位置精度)の高い描画処理を行うことができる。さらに、描画処理の後で、位置補正前に行った認識結果に基づいて、位置補正手段によりセットテーブル上でワークを元の載置位置に戻すことで、給材ストッカのパレットと平行になるようにして除材ストッカに収容されたパレットに位置決め状態でワークを移載することができる。すなわち、ワークの元の位置を記憶しておくだけで、除材ストッカやそのパレットの位置検出を行うことなく、ワークを精度良く移載することができる。
なお、この場合、位置補正手段は、セットテーブルに組み込まれていることが好ましく、これによれば、セットテーブル上のワークを容易に位置補正することができると共に、容易に元の載置位置に戻すことができる。
According to this configuration, the work can be set on the set table with high positional accuracy by correcting the placement position of the work on the set table by the position correcting means before the drawing process. For this reason, the drawing apparatus can perform drawing processing with high drawing accuracy (position accuracy). Further, after the drawing process, based on the recognition result performed before the position correction, the work is returned to the original placement position on the set table by the position correction means so as to be parallel to the pallet of the material stocker. Thus, the workpiece can be transferred to the pallet accommodated in the material removal stocker in a positioned state. In other words, the work can be transferred with high accuracy without detecting the position of the material removal stocker or its pallet only by storing the original position of the work.
In this case, the position correction means is preferably incorporated in the set table, and according to this, the position of the work on the set table can be easily corrected and easily returned to the original placement position. Can be returned.

本発明の他のワーク移載方法は、ワークを位置決め状態で水平に載置したパレットを、互いに平行になるようにして、それぞれ収容する給材ストッカおよび除材ストッカを用い、ワーク移載装置によって、描画処理前のワークを、給材ストッカに収容されたパレットから描画装置のセットテーブルに水平に移載すると共に、描画処理後のワークを、セットテーブルから除材ストッカに収容されたパレットに水平に移載するワーク移載方法であって、セットテーブルへの移載に先立って、給材ストッカのパレットに載置されたワークの水平面内における載置位置を認識する位置認識工程と、給材ストッカからセットテーブルへの移載中に、位置認識工程における認識結果に基づいて、ワーク移載装置にセットされた描画処理前のワークの水平面内におけるセット位置を補正する位置補正工程と、セットテーブルから除材ストッカへの移載中に、認識結果に基づいて、ワーク移載装置にセットされた描画処理後のワークを元のセット位置に戻す位置復帰工程と、を備えたことを特徴とする。   Another workpiece transfer method of the present invention uses a material stocker and a material removal stocker that respectively accommodate pallets on which workpieces are horizontally placed in a positioned state so as to be parallel to each other. The workpiece before the drawing process is transferred horizontally from the pallet accommodated in the material stocker to the set table of the drawing apparatus, and the workpiece after the drawing process is horizontally transferred from the set table to the pallet accommodated in the material removal stocker. A position recognizing step for recognizing a placement position in a horizontal plane of a work placed on a pallet of a feed stocker prior to transfer to a set table; During transfer from the stocker to the set table, based on the recognition result in the position recognition process, the horizontal plane of the workpiece before drawing processing set in the workpiece transfer device During the position correction process for correcting the set position in the transfer and the transfer from the set table to the material removal stocker, the workpiece after the drawing process set in the workpiece transfer device is returned to the original set position based on the recognition result. And a position return step.

この構成によれば、給材ストッカからセットテーブルへの移載中に、ワーク移載装置にセットされた描画処理前のワークのセット位置を補正することで、ワークを位置精度良くセットテーブルにセットすることができる。このため、描画精度の高い描画処理を行うことができる。さらに、セットテーブルから除材ストッカへの移載中に、位置補正前に行った認識結果に基づいて、ワーク移載装置にセットされた描画処理後のワークを元のセット位置に戻すことで、給材ストッカのパレットと平行になるようにして除材ストッカに収容されたパレットに位置決め状態でワークを移載することができる。すなわち、ワークの元の位置を記憶しておくだけで、除材ストッカやそのパレットの位置検出を行うことなく、ワークを精度良く移載することができる。
なお、この場合、ワーク移載装置にセットされた描画処理前のワークのセット位置の補正をプレアライメントとし、セットテーブル上でさらに本アライメントを行ってもよい。
According to this configuration, during the transfer from the material supply stocker to the set table, the workpiece is set on the set table with high positional accuracy by correcting the set position of the workpiece before the drawing process set in the workpiece transfer device. can do. For this reason, a drawing process with high drawing accuracy can be performed. Furthermore, during the transfer from the set table to the material removal stocker, based on the recognition result performed before position correction, by returning the workpiece after drawing processing set in the workpiece transfer device to the original set position, The workpiece can be transferred to the pallet accommodated in the material removal stocker so as to be parallel to the pallet of the material supply stocker. In other words, the work can be transferred with high accuracy without detecting the position of the material removal stocker or its pallet only by storing the original position of the work.
In this case, the main alignment may be further performed on the set table by correcting the set position of the work before the drawing process set in the work transfer device as pre-alignment.

本発明の他のワーク移載システムは、ワークを位置決め状態で水平に載置したパレットを、互いに平行になるようにして、それぞれ収容する給材ストッカおよび除材ストッカと、ワークをセットするセットテーブルを有し、セットされたワークに対して描画処理を行う描画装置と、描画処理前のワークを、給材ストッカに収容されたパレットから描画装置のセットテーブルに水平に移載すると共に、描画処理後のワークを、セットテーブルから除材ストッカに収容されたパレットに水平に移載するワーク移載装置と、を備えたワーク移載システムであって、ワーク移載装置は、給材ストッカ、セットテーブル、除材ストッカの順で、セットしたワークを移載するワーク移載手段と、セットテーブルへの移載に先立って、給材ストッカのパレットに載置されたワークの水平面内における載置位置を認識する位置認識手段と、給材ストッカからセットテーブルへの移載中に、位置認識手段による認識結果に基づいて、ワーク移載手段にセットされた描画処理前のワークの水平面内におけるセット位置を補正する位置補正手段と、位置認識手段および位置補正手段を制御する制御手段と、を有し、制御手段は、セットテーブルから除材ストッカへの移載中に、認識結果に基づいて、位置補正手段によりワーク移載手段にセットされた描画処理後のワークを元のセット位置に戻すことを特徴とする。   Another workpiece transfer system according to the present invention includes a feed stocker and a material removal stocker that respectively accommodate pallets on which workpieces are horizontally placed in a positioned state so as to be parallel to each other, and a set table for setting the workpieces A drawing apparatus that performs a drawing process on the set work, and a work before the drawing process is horizontally transferred from the pallet housed in the material stocker to the set table of the drawing apparatus, and the drawing process A workpiece transfer system comprising: a workpiece transfer device that horizontally transfers a subsequent workpiece from a set table to a pallet housed in a material removal stocker, wherein the workpiece transfer device includes a material stocker, a set The workpiece transfer means for transferring the set work in the order of the table and material removal stocker, and the pallet of the material stocker prior to the transfer to the set table. Position recognition means for recognizing the placement position of the work placed on the horizontal plane, and set on the work transfer means based on the recognition result by the position recognition means during the transfer from the material stocker to the set table. And a control means for controlling the position recognition means and the position correction means, the control means from the set table to the material removal stocker. Based on the recognition result, the workpiece after the drawing process set in the workpiece transfer means by the position correction means is returned to the original set position based on the recognition result.

この構成によれば、給材ストッカからセットテーブルへの移載中に、位置補正手段によりワーク移載装置にセットされた描画処理前のワークのセット位置を補正することで、ワークを位置精度良くセットテーブルにセットすることができる。このため、描画精度の高い描画処理を行うことができる。さらに、セットテーブルから除材ストッカへの移載中に、位置補正前に行った認識結果に基づいて、位置補正手段によりワーク移載装置にセットされた描画処理後のワークを元のセット位置に戻すことで、給材ストッカのパレットと平行になるようにして除材ストッカに収容されたパレットに位置決め状態でワークを移載することができる。すなわち、ワークの元の位置を記憶しておくだけで、除材ストッカやそのパレットの位置検出を行うことなく、ワークを精度良く移載することができる。
なお、この場合、位置補正手段は、ワーク移載手段に組み込まれていることが好ましく、これによれば、ワーク移載手段にセットされたワークを容易に位置補正することができ、容易に元のセット位置に戻すことができる。
According to this configuration, during the transfer from the material supply stocker to the set table, the workpiece is placed with high positional accuracy by correcting the set position of the workpiece before the drawing process set in the workpiece transfer device by the position correction means. Can be set on the set table. For this reason, a drawing process with high drawing accuracy can be performed. Further, during the transfer from the set table to the material removal stocker, based on the recognition result performed before the position correction, the workpiece after the drawing process set in the workpiece transfer device by the position correction means is returned to the original set position. By returning, the workpiece can be transferred in a positioning state on the pallet accommodated in the material removal stocker so as to be parallel to the pallet of the material stocker. In other words, the work can be transferred with high accuracy without detecting the position of the material removal stocker or its pallet only by storing the original position of the work.
In this case, the position correction means is preferably incorporated in the workpiece transfer means. According to this, the position of the workpiece set on the workpiece transfer means can be easily corrected, and the original Can be returned to the set position.

本発明の電気光学装置の製造方法は、上記したワーク移載システムを用い、描画装置によりワーク上に機能液による成膜部を形成することを特徴とする。   The method of manufacturing an electro-optical device according to the present invention is characterized in that the film transfer unit is formed on the workpiece by the drawing device using the workpiece transfer system described above.

また、本発明の電気光学装置は、上記したワーク移載システムを用い、描画装置によりワーク上に機能液による成膜部を形成したことを特徴とする。   In addition, an electro-optical device according to the present invention is characterized in that a film forming unit made of a functional liquid is formed on a work by a drawing apparatus using the work transfer system described above.

これらの構成によれば、描画処理前にワークの位置補正を行うことができると共に、改めて位置検出を行うことなく、描画処理後のワークを除材ストッカのパレットに位置決め状態で移載することができるため、高品質な電気光学装置を効率良く製造することが可能となる。なお、電気光学装置(フラットパネルディスプレイ:FPD)としては、カラーフィルタ、液晶表示装置、有機EL装置、PDP装置、電子放出装置等が考えられる。なお、電子放出装置は、いわゆるFED(Field Emission Display)やSED(Surface-conduction Electron-Emitter Display)装置を含む概念である。さらに、電気光学装置としては、金属配線形成、レンズ形成、レジスト形成および光拡散体形成等を包含する装置、例えば回路基板が考えられる。また、描画装置として、例えば、インクジェット法によるものやディスペンサ法によるものが考えられる。   According to these configurations, the position of the workpiece can be corrected before the drawing processing, and the workpiece after the drawing processing can be transferred to the pallet of the material removal stocker in a positioned state without performing position detection again. Therefore, it is possible to efficiently manufacture a high-quality electro-optical device. As an electro-optical device (flat panel display: FPD), a color filter, a liquid crystal display device, an organic EL device, a PDP device, an electron emission device, and the like are conceivable. The electron emission device is a concept including a so-called FED (Field Emission Display) or SED (Surface-conduction Electron-Emitter Display) device. Furthermore, as the electro-optical device, a device including metal wiring formation, lens formation, resist formation, light diffuser formation, and the like, for example, a circuit board can be considered. Further, as the drawing apparatus, for example, an ink jet method or a dispenser method can be considered.

本発明の電子機器は、上記した電気光学装置の製造方法により製造した電気光学装置または上記した電気光学装置を搭載したことを特徴とする。   An electronic apparatus according to an aspect of the invention includes the electro-optical device manufactured by the above-described method for manufacturing the electro-optical device or the above-described electro-optical device.

この場合、電子機器としては、いわゆるフラットパネルディスプレイを搭載した携帯電話、パーソナルコンピュータのほか、各種の電気製品がこれに該当する。   In this case, examples of the electronic device include a mobile phone and a personal computer equipped with a so-called flat panel display, and various electric products.

以下、添付の図面を参照して、本発明を適用した基板処理システムについて説明する。本実施形態の基板処理システムは、いわゆるインクジェットの印刷技術により回路基板を作製するものであって、導入した基板(一部素子を作り込んだワーク)に対し、インクジェット法により銀インク(銀ナノ粒子)や絶縁体インク(紫外線硬化樹脂)等の機能液を吐出(描画)して、基板上に機能液滴による金属配線および絶縁膜(成膜部)を形成するものである。そこで、まず、インクジェット技術により作製される回路基板およびその製造工程について簡単に説明する。   Hereinafter, a substrate processing system to which the present invention is applied will be described with reference to the accompanying drawings. The substrate processing system of this embodiment is for producing a circuit board by a so-called ink jet printing technique. A silver ink (silver nanoparticles) is produced by an ink jet method on an introduced substrate (a work in which some elements are made). ) Or insulating ink (ultraviolet curable resin) or the like is ejected (drawn) to form a metal wiring and an insulating film (film forming portion) with functional droplets on the substrate. First, a circuit board manufactured by an ink jet technique and its manufacturing process will be briefly described.

図1の基板Wは、厚さ40μm程度のシート状のポリイミド基材であって、描画処理後、切断されて複数の回路基板となるものである。本実施形態では、例えば410mm×510mmの大基板Wと、165mm×165mmの小基板Wとの2種類のサイズの基板Wが用意されている。また、基板Wの外縁部における幅10mmの箇所は、描画処理の行われない非描画しろWn(非描画領域)であり、非描画しろWnに囲まれた箇所が、描画処理の行われる描画領域Wdとなっている。   A substrate W in FIG. 1 is a sheet-like polyimide base material having a thickness of about 40 μm, and is cut into a plurality of circuit boards after the drawing process. In this embodiment, for example, two types of substrates W are prepared: a large substrate W of 410 mm × 510 mm and a small substrate W of 165 mm × 165 mm. Further, a portion having a width of 10 mm in the outer edge portion of the substrate W is a non-drawing margin Wn (non-drawing region) where drawing processing is not performed, and a portion surrounded by the non-drawing margin Wn is a drawing region where drawing processing is performed. Wd.

なお、基板Wには、後述する描画装置11の画像認識手段105(図5参照)により画像認識される一対のアライメントマーク(図示省略)が形成されている。また、図1では、機能液滴吐出ヘッド141を単一のものとして模式的に表示しているが、後述するように、描画装置11には48個の機能液滴吐出ヘッド141が搭載されている。   The substrate W is formed with a pair of alignment marks (not shown) that are image-recognized by an image recognition means 105 (see FIG. 5) of the drawing apparatus 11 described later. In FIG. 1, the functional liquid droplet ejection head 141 is schematically shown as a single one. However, as will be described later, the drawing apparatus 11 includes 48 functional liquid droplet ejection heads 141. Yes.

製造工程では、まず、後述する機能液滴吐出ヘッド141により銀インクを吐出し、基板W上に配線パターンを形成する(同図(b)参照)。続いて、焼成処理等により銀ナノ粒子を覆う有機物を除去し、粒子間の電気的結合を確保し金属配線とする。さらに、形成した金属配線上に絶縁体インクを吐出し、スルーホール部を除いて層間絶縁膜を形成する(同図(c)参照)。この繰り返しで多層化し、最終的に表面絶縁膜となる絶縁体インクを吐出して描画処理が完成する。   In the manufacturing process, first, silver ink is discharged by a later-described functional liquid droplet discharge head 141 to form a wiring pattern on the substrate W (see FIG. 5B). Subsequently, the organic material covering the silver nanoparticles is removed by baking or the like, and electrical coupling between the particles is ensured to form a metal wiring. Further, an insulating ink is discharged onto the formed metal wiring, and an interlayer insulating film is formed except for the through-hole portion (see FIG. 5C). By repeating this process, the drawing process is completed by ejecting insulating ink that finally becomes a multilayer and finally becomes a surface insulating film.

続いて、図2ないし図5を参照して、本発明に係る基板処理システムについて説明する。基板処理システム1は、基板Wに対して描画処理を行う描画装置11と、描画処理前および描画処理後の基板Wを収容し、これを搬入・搬出する基板ストッカ12と、基板ストッカ12から描画処理前の基板Wを描画装置11に移載すると共に、描画装置11から描画処理後の基板Wを基板ストッカ12に移載する基板移載装置13と、を備えている。また、基板処理システム1には、各構成部品への駆動・制御用等の圧縮エアーを供給するエアー供給装置14と、真空ポンプ等で構成され、基板Wを吸着するためにエアー吸引を行うエアー吸引装置15と、パソコン等で構成され、各装置を統括制御する制御装置16等が組み込まれている(図5参照)。   Next, a substrate processing system according to the present invention will be described with reference to FIGS. The substrate processing system 1 accommodates a drawing device 11 that performs drawing processing on the substrate W, a substrate stocker 12 that carries in and out the drawing processing before and after the drawing processing, and drawing from the substrate stocker 12. And a substrate transfer device 13 for transferring the substrate W before processing to the drawing device 11 and transferring the substrate W after drawing processing from the drawing device 11 to the substrate stocker 12. The substrate processing system 1 includes an air supply device 14 that supplies compressed air for driving and controlling each component, a vacuum pump, and the like, and performs air suction to adsorb the substrate W. A suction device 15 and a personal computer or the like are included, and a control device 16 and the like for controlling each device are incorporated (see FIG. 5).

描画装置11は、それぞれ24個の機能液滴吐出ヘッド141を搭載した2個のキャリッジユニット101と、セットテーブル122(後述する)に載置した基板WをX軸方向に移動させるX軸テーブル102と、X軸テーブル102を跨ぐようにして配設され、2個のキャリッジユニット101を個々にY軸方向に移動させるY軸テーブル103と、Y軸テーブル103によるキャリッジユニット101の移動軌跡上に配設され、機能液滴吐出ヘッド141を保守するメンテナンス手段104と、基板Wに設けられたアライメントマークや基板W上に着弾した機能液滴を画像認識する画像認識手段105とを備えている。   The drawing apparatus 11 includes two carriage units 101 each mounting 24 functional liquid droplet ejection heads 141 and an X-axis table 102 that moves a substrate W placed on a set table 122 (described later) in the X-axis direction. And a Y-axis table 103 which is arranged so as to straddle the X-axis table 102 and moves the two carriage units 101 individually in the Y-axis direction, and is arranged on the movement path of the carriage unit 101 by the Y-axis table 103. And a maintenance unit 104 for maintaining the functional liquid droplet ejection head 141, and an image recognition unit 105 for recognizing an image of an alignment mark provided on the substrate W and a functional liquid droplet landed on the substrate W.

また、描画装置11には、2個のキャリッジユニット101に搭載された機能液滴吐出ヘッド141に機能液をそれぞれ供給する機能液供給手段(図示省略)、基板W上に吐出された銀インクにドライエアを吹き付けて乾燥させるドライア(図示省略)、基板W上に吐出された絶縁体インクをUV硬化させるUV照射装置106等が組み込まれている。   Further, the drawing apparatus 11 includes functional liquid supply means (not shown) for supplying functional liquid to the functional liquid droplet ejection heads 141 mounted on the two carriage units 101, and silver ink ejected on the substrate W. A dryer (not shown) for drying by blowing dry air, a UV irradiation device 106 for UV curing the insulator ink discharged onto the substrate W, and the like are incorporated.

この描画装置11では、X軸テーブル102の駆動に同期して、搭載した機能液滴吐出ヘッド141を駆動することにより、基板Wに機能液滴を吐出・着弾させ、基板Wに描画処理を行うと共に、基板交換等の非描画処理時には、Y軸テーブル103を駆動し、キャリッジユニット101をメンテナンス手段104に臨ませ、メンテナンス手段104により、機能液滴吐出ヘッド141のメンテナンス処理を行うようになっている。   In the drawing apparatus 11, the functional liquid droplet ejection head 141 is driven in synchronization with the driving of the X-axis table 102, thereby ejecting and landing functional liquid droplets on the substrate W, and performing drawing processing on the substrate W. At the same time, during non-drawing processing such as substrate replacement, the Y-axis table 103 is driven so that the carriage unit 101 faces the maintenance means 104, and the maintenance means 104 performs maintenance processing of the functional liquid droplet ejection head 141. Yes.

そして、X軸テーブル102による基板Wの移動軌跡と、Y軸テーブル103によるキャリッジユニット101の移動軌跡とが交わる領域が、描画処理を行う描画エリア111となっており、Y軸テーブル103によるキャリッジユニット101の移動軌跡上のX軸テーブル102から外側に外れた領域が、メンテナンス手段104によるメンテナンス処理や機能液滴吐出ヘッド141の交換を行うメンテナンスエリア112となっている。また、X軸テーブル102の一方の端部は、基板ストッカ12と描画装置11との相互間において基板Wの移載を行う基板移載エリア113となっている(図3参照)。   An area where the movement locus of the substrate W by the X-axis table 102 and the movement locus of the carriage unit 101 by the Y-axis table 103 intersect is a drawing area 111 for performing drawing processing. A region outside the X-axis table 102 on the movement trajectory 101 is a maintenance area 112 in which maintenance processing by the maintenance unit 104 and replacement of the functional liquid droplet ejection head 141 are performed. Further, one end of the X-axis table 102 is a substrate transfer area 113 for transferring the substrate W between the substrate stocker 12 and the drawing apparatus 11 (see FIG. 3).

X軸テーブル102は、床上に設置された石定盤121上に設けられており、吸着テーブル123および基板θ軸テーブル124等から成るセットテーブル122と、セットテーブル122をX軸方向にスライド自在に支持するX軸スライダ125と、セットテーブル122を介して基板WをX軸方向に移動させる左右一対のX軸リニアモータ126,126とを有している。   The X-axis table 102 is provided on a stone surface plate 121 installed on the floor, and a set table 122 including a suction table 123 and a substrate θ-axis table 124 and the set table 122 are slidable in the X-axis direction. An X-axis slider 125 to be supported and a pair of left and right X-axis linear motors 126 and 126 for moving the substrate W in the X-axis direction via the set table 122 are provided.

吸着テーブル123は、その上面に載置された基板Wを、上記のエアー吸引装置15からのエアー吸引により吸着セットするものであって、平面視略正方形に形成されている。その一辺の長さは、上記の大基板Wの長辺の長さに合わせて設定されており、基板Wを縦置き(基板Wの長辺をX軸方向と平行にする)および横置き(基板Wの長辺をY軸方向と平行にする)のいずれか任意の向きで、且つセンター中心でセット可能になっている。また、基板θ軸テーブル124は、θ軸モータ128を駆動することで、吸着テーブル123を介して基板Wの水平面内におけるθ位置を微調整(θ補正)するものである。   The suction table 123 is for sucking and setting the substrate W placed on the upper surface thereof by air suction from the air suction device 15 and is formed in a substantially square shape in plan view. The length of one side is set according to the length of the long side of the large substrate W, and the substrate W is placed vertically (the long side of the substrate W is parallel to the X-axis direction) and placed horizontally ( The long side of the substrate W is parallel to the Y-axis direction) and can be set at the center center. The substrate θ-axis table 124 finely adjusts (θ correction) the θ position in the horizontal plane of the substrate W via the suction table 123 by driving the θ-axis motor 128.

一方、Y軸テーブル103は、描画エリア111およびメンテナンスエリア112間を掛け渡すと共に、描画エリア111と、メンテナンス手段104の各ユニットの直上部との相互間で、2個のキャリッジユニット101および後述するカメラキャリッジ151を個々に移動させるものであって、Y軸方向の駆動系を構成するモータ駆動の3組のY軸エアースライダ(図示省略)を有し、これにそれぞれブリッジプレート132を介して上記の2個のキャリッジユニット101およびカメラキャリッジ151を移動自在に搭載して、構成されている。   On the other hand, the Y-axis table 103 spans between the drawing area 111 and the maintenance area 112, and between the drawing area 111 and the upper part of each unit of the maintenance means 104, two carriage units 101 and will be described later. Each of the camera carriages 151 is individually moved and has three sets of motor-driven Y-axis air sliders (not shown) constituting a drive system in the Y-axis direction. The two carriage units 101 and the camera carriage 151 are movably mounted.

Y軸テーブル103は、Y軸方向に延在する前後一対の支持スタンド136,136上に支持されており、各支持スタンド136は、石定盤121上に設けられた2本の短支柱137と、床上に設けられた1本の長支柱138とから成っている。なお、図中の符号139は、担持体カバーであって、この担持体カバー139のなかに、Y軸テーブル103に沿うようにして、各機能液滴吐出ヘッド141に至る各種配線・配管等を担持するケーブルベア(登録商標)様のケーブル担持体(図示省略)が収容されている。   The Y-axis table 103 is supported on a pair of front and rear support stands 136 and 136 extending in the Y-axis direction. Each support stand 136 includes two short columns 137 provided on the stone surface plate 121. , And one long support 138 provided on the floor. Reference numeral 139 in the figure denotes a carrier cover. Various wirings and pipes that reach the respective functional liquid droplet ejection heads 141 along the Y-axis table 103 are arranged in the carrier cover 139. A cable carrier (not shown) like a cable bear (registered trademark) to be carried is accommodated.

各キャリッジユニット101は、サブキャリッジ(図示省略)と、サブキャリッジに搭載した24個の機能液滴吐出ヘッド141(図1参照)とを備えている。24個の機能液滴吐出ヘッド141は、2個1組として、各組2個の機能液滴吐出ヘッド141を相互に半ノズルピッチずらすと共に、全体で連続した1の描画ラインを形成するように、12組の機能液滴吐出ヘッド141を階段状に配列させている。すなわち、本実施形態の描画装置11は、いわゆるフルライン方式のものであって、1回の吐出走査で基板Wの全域に描画処理を行うことができるようになっている。   Each carriage unit 101 includes a sub-carriage (not shown) and 24 functional liquid droplet ejection heads 141 (see FIG. 1) mounted on the sub-carriage. Twenty-four functional liquid droplet ejection heads 141 are arranged in groups of two so that each of the two functional liquid droplet ejection heads 141 is shifted from each other by a half nozzle pitch and one continuous drawing line is formed as a whole. , 12 sets of functional liquid droplet ejection heads 141 are arranged stepwise. In other words, the drawing apparatus 11 of the present embodiment is of a so-called full line type, and can perform drawing processing over the entire area of the substrate W by one ejection scan.

各機能液滴吐出ヘッド141は、図示省略したが、機能液供給手段の機能液パックから導入された機能液をインクジェット方式で吐出するものであって、列設された複数のノズルと、各ノズルに連なり、ピエゾ素子等で構成されるポンプ部とを有し、ポンプ部に駆動波形を印加することにより、各ノズルから機能液滴が吐出される。   Although not shown, each functional liquid droplet ejection head 141 ejects the functional liquid introduced from the functional liquid pack of the functional liquid supply means by an inkjet method, and includes a plurality of nozzles arranged in a row and each nozzle. The liquid droplets are ejected from each nozzle by applying a drive waveform to the pump unit.

各機能液滴吐出ヘッド141は、機能液供給チューブ(図示省略)を介して、機能液を貯留した機能液パックに接続されている。各機能液パックは、Y軸テーブル103によるキャリッジユニット101の移動に伴ってY軸方向に移動するように、対応するブリッジプレート132に取り付けられている。   Each functional liquid droplet ejection head 141 is connected to a functional liquid pack storing functional liquid via a functional liquid supply tube (not shown). Each functional fluid pack is attached to a corresponding bridge plate 132 so as to move in the Y-axis direction as the carriage unit 101 is moved by the Y-axis table 103.

本実施形態では、回路基板の製造ライン中に2台の描画装置11が用意されており、一方の描画装置11に設けた機能液パックには、銀インクが貯留され、他方の描画装置11に設けた機能液パックには、絶縁体インクが貯留されている。すなわち、一方の描画装置11を銀インクの描画に用い、他方の描画装置11を絶縁体インクの描画に用いるようにしている。もちろん、一台の描画装置11により、一方のキャリッジユニット101を銀インクの描画に用い、他方のキャリッジユニット101を絶縁体インクの描画に用いるようにしてもよい。   In the present embodiment, two drawing apparatuses 11 are prepared in the circuit board production line, and silver ink is stored in the functional liquid pack provided in one drawing apparatus 11. Insulating ink is stored in the provided functional liquid pack. That is, one drawing device 11 is used for drawing silver ink, and the other drawing device 11 is used for drawing insulating ink. Of course, one carriage unit 101 may be used for silver ink drawing and the other carriage unit 101 may be used for insulator ink drawing by one drawing apparatus 11.

メンテナンス手段104は、メンテナンスエリア112に配設され、機能液滴吐出ヘッド141内で増粘した機能液を除去するための吸引を行う2個の吸引ユニット146と、機能液滴吐出ヘッド141のノズル面(図示省略)を払拭するワイピングユニット147と、機能液滴吐出ヘッド141から吐出された機能液滴の飛行状態を撮像する飛行観察ユニット(図示省略)と、吐出された機能液滴の重量を測定する2台の重量測定ユニット(図示省略)とを備えている。なお、図3の符号148は、X軸移動テーブルであり、この上に、飛行観察ユニットと、これをY軸方向に挟むようにして並べた2台の重量測定ユニットとが載置されており、キャリッジユニット101の直下に適宜臨ませることができるようになっている。   The maintenance unit 104 is disposed in the maintenance area 112, and includes two suction units 146 that perform suction for removing the functional liquid thickened in the functional liquid droplet ejection head 141, and nozzles of the functional liquid droplet ejection head 141. A wiping unit 147 for wiping the surface (not shown), a flight observation unit (not shown) for imaging the flight state of the functional droplets ejected from the functional droplet ejection head 141, and the weight of the ejected functional droplets Two weight measuring units (not shown) for measurement are provided. Reference numeral 148 in FIG. 3 denotes an X-axis movement table, on which a flight observation unit and two weight measurement units arranged so as to be sandwiched in the Y-axis direction are mounted. It is possible to face the unit 101 as appropriate.

また、図示しないが、上記の吸着テーブル123の前後両側には、一対のフラッシングボックスが配設されており、この各フラッシングボックスに対し、機能液滴吐出ヘッド141の基板Wへの機能液滴の吐出の直前・直後にフラッシング(捨て吐出)が行われる。   In addition, although not shown, a pair of flushing boxes are provided on both the front and rear sides of the suction table 123, and the functional liquid droplets to the substrate W of the functional liquid droplet ejection head 141 are disposed in the respective flushing boxes. Flushing (discarding discharge) is performed immediately before and after the discharge.

画像認識手段105は、上記のカメラキャリッジ151に搭載されており、セットテーブル122に移載された基板Wのアライメントを行うプリアライメントカメラ152および本アライメントカメラ153と、描画精度等を確認すべく、基板Wに吐出された機能液滴を撮像する描画確認カメラ154とを備えている。プリアライメントカメラ152は、視野角が広い(低解像度)もので構成され、本アライメントカメラ153は、高解像度(視野角が狭い)のもので構成されている。   The image recognition means 105 is mounted on the camera carriage 151 described above, and the pre-alignment camera 152 and the alignment camera 153 that perform alignment of the substrate W transferred to the set table 122 and the drawing accuracy and the like are checked. And a drawing confirmation camera 154 that images the functional liquid droplets discharged onto the substrate W. The pre-alignment camera 152 is configured with a wide viewing angle (low resolution), and the alignment camera 153 is configured with a high resolution (narrow viewing angle).

セットテーブル122に移載された基板Wのアライメントは、プリアライメントおよびこれに続く本アライメントの2段階で行われる。すなわち、まず、X軸テーブル102により基板Wを載置したセットテーブル122を描画エリア111のデータ上の初期位置に位置させると共に、Y軸テーブル103によりカメラキャリッジ151を描画エリア111のデータ上の初期位置に位置させておく。そして、プリアライメントカメラ152により、基板Wの一対のアライメントマークをそれぞれ撮像し、その撮像結果に基づいて、プリアライメントを行う。つまり、プリアライメントは、本アライメントカメラ153の視野内にアライメントマークが位置するように、X軸テーブル102および基板θ軸テーブル124により吸着テーブル123をX軸方向およびθ軸方向に移動させると共に、カメラキャリッジ151をY軸方向に移動させる。   The alignment of the substrate W transferred to the set table 122 is performed in two stages of pre-alignment and subsequent main alignment. That is, first, the set table 122 on which the substrate W is placed by the X-axis table 102 is positioned at the initial position on the data in the drawing area 111, and the camera carriage 151 is initially set on the data in the drawing area 111 by the Y-axis table 103. Keep it in position. Then, the pre-alignment camera 152 images each of the pair of alignment marks on the substrate W, and performs pre-alignment based on the imaging result. That is, in pre-alignment, the suction table 123 is moved in the X-axis direction and the θ-axis direction by the X-axis table 102 and the substrate θ-axis table 124 so that the alignment mark is positioned in the field of view of the alignment camera 153, and the camera The carriage 151 is moved in the Y-axis direction.

続いて、本アライメントカメラ153により、一対のアライメントマークをそれぞれ撮像する。最後に、本アライメントカメラ153による一対のアライメントマークの撮像結果に基づいて、X軸方向およびY軸方向の位置データを補正すると共に、基板θ軸テーブル124により吸着テーブル123をθ軸方向に微小移動させて、基板Wの本アライメントを完了させる。このプリアライメントおよび本アライメントにより、描画装置11は、描画精度(位置精度)の高い描画処理を行うことができる。このように、基板Wのアライメントは、吸着テーブル123の移動による基板Wの載置位置の補正(位置補正処理)と、データ補正とにより行われるが、この位置補正処理については、後ほど詳述する。   Subsequently, the alignment camera 153 images each of the pair of alignment marks. Finally, based on the imaging result of the pair of alignment marks by the alignment camera 153, the position data in the X-axis direction and the Y-axis direction are corrected, and the suction table 123 is slightly moved in the θ-axis direction by the substrate θ-axis table 124. Thus, the main alignment of the substrate W is completed. By this pre-alignment and main alignment, the drawing apparatus 11 can perform drawing processing with high drawing accuracy (position accuracy). As described above, the alignment of the substrate W is performed by correcting the placement position of the substrate W by moving the suction table 123 (position correction processing) and data correction. This position correction processing will be described in detail later. .

なお、本実施形態では、2種類のサイズの基板W(大基板Wおよび小基板W)に対応させるべく、これらのカメラをY軸方向に移動可能としたが、1種類の基板Wを対象とする場合には、これらのカメラを固定的に設けてもよい。   In this embodiment, these cameras can be moved in the Y-axis direction so as to correspond to two types of substrates W (large substrate W and small substrate W), but one type of substrate W is targeted. When doing so, these cameras may be fixedly provided.

ここで、描画装置11による基板Wへの一連の吐出動作(描画処理)について簡単に説明する。まず、機能液滴を吐出する前の準備として、上記のようにして、セットテーブル122に吸着セットされた基板Wのアライメントを行う。続いて、描画装置11は、基板WをX軸テーブル102によりX軸方向に移動させると共に、これに同期して機能液滴吐出ヘッド141を選択的に駆動させることで、基板Wに対して機能液滴が吐出される。最後に、銀インクを描画した場合には、ドライアによりエアーを吹き付けて半乾燥させ、絶縁体インクを描画した場合には、UV照射装置106によりUVを照射して絶縁体インクを硬化させる。このようにして、基板Wに対する銀インクまたは絶縁体インクの描画が完了する。   Here, a series of ejection operations (drawing process) onto the substrate W by the drawing apparatus 11 will be briefly described. First, as a preparation before ejecting the functional liquid droplets, alignment of the substrate W sucked and set on the set table 122 is performed as described above. Subsequently, the drawing apparatus 11 moves the substrate W in the X-axis direction by the X-axis table 102 and selectively drives the functional liquid droplet ejection head 141 in synchronism with this to thereby function the substrate W. A droplet is ejected. Finally, when the silver ink is drawn, air is blown by a dryer to be semi-dried, and when the insulator ink is drawn, the UV ink is irradiated by the UV irradiation device 106 to cure the insulator ink. In this way, the drawing of the silver ink or the insulator ink on the substrate W is completed.

続いて、本発明の主要部分となる基板ストッカ12および基板移載装置13について詳細に説明する。図5ないし図9に示すように、基板ストッカ12は、描画処理前の基板WをパレットPに載置して収容する給材ストッカ202と、描画処理後の基板WをパレットPに載置して収容する除材ストッカ203とを有し、また、基板移載装置13は、描画処理前の基板Wを給材ストッカ202のパレットPから上記の描画装置11のセットテーブル122に移載し、続いて、その基板Wを載置していたパレットPを給材ストッカ202から除材ストッカ203に移載し、さらに、描画処理後の基板Wをセットテーブル122から除材ストッカ203に移載されたパレットPに移載する。   Next, the substrate stocker 12 and the substrate transfer device 13 which are main parts of the present invention will be described in detail. As shown in FIGS. 5 to 9, the substrate stocker 12 places the material stocker 202 for placing and storing the substrate W before the drawing process on the pallet P and the substrate W after the drawing process on the pallet P. The substrate transfer device 13 transfers the substrate W before drawing processing from the pallet P of the material stocker 202 to the set table 122 of the drawing device 11 described above. Subsequently, the pallet P on which the substrate W has been placed is transferred from the material supply stocker 202 to the material removal stocker 203, and the substrate W after the drawing processing is further transferred from the set table 122 to the material removal stocker 203. The pallet P is transferred.

基板ストッカ12は、床上に設置された平面視長方形の架台201と、架台201の上面に左右に並べて配設された給材ストッカ202および除材ストッカ203とを備えている。架台201は、アングル材等を方形に組んで構成され、下部の四隅に配置した4個の支持脚211を有している。また、図示しないが、各支持脚211に隣接して、上下方向に出没可能な4個のキャスタが取り付けられている。このため、基板ストッカ12に収容した基板Wを搬送する際に、架台201を容易に移動することができると共に、安定した状態で架台201を設置することができる。   The substrate stocker 12 includes a rectangular base 201 installed on the floor, and a material stocker 202 and a material removal stocker 203 arranged side by side on the top surface of the base 201. The gantry 201 is configured by assembling an angle material or the like into a square shape, and includes four support legs 211 arranged at the lower four corners. Although not shown, four casters capable of appearing in the vertical direction are attached adjacent to each support leg 211. For this reason, when carrying the board | substrate W accommodated in the board | substrate stocker 12, while being able to move the mount frame 201, the mount frame 201 can be installed in a stable state.

この架台201は、上記の基板移載エリア113に位置させたセットテーブル122に対し、給材ストッカ202および除材ストッカ203がY軸方向に並ぶようにして、設置される(図3参照)。このとき、搬入された基板ストッカ12(架台201)は、何らかの基準を介して、位置決めされた状態で設置される。   The gantry 201 is installed with the material supply stocker 202 and the material removal stocker 203 aligned in the Y-axis direction with respect to the set table 122 positioned in the substrate transfer area 113 (see FIG. 3). At this time, the carried-in substrate stocker 12 (the gantry 201) is placed in a positioned state via some reference.

なお、基板移載エリア113のセットテーブル122、給材ストッカ202および除材ストッカ203は、この順でY軸方向に並ぶが、この順序、すなわち給材ストッカ202および除材ストッカ203の設置箇所は任意であって、基板処理システム1全体のスペース効率等を考慮して、変更可能である。例えば、給材ストッカ202および除材ストッカ203を別々の架台に配設し、セットテーブル122をY軸方向に挟むようにして給材ストッカ202および除材ストッカ203を位置決めして設置してもよい。   The set table 122, the material supply stocker 202, and the material removal stocker 203 in the substrate transfer area 113 are arranged in this order in the Y-axis direction. In this order, that is, where the material supply stocker 202 and the material removal stocker 203 are installed It is optional and can be changed in consideration of the space efficiency of the entire substrate processing system 1 and the like. For example, the material supply stocker 202 and the material removal stocker 203 may be arranged on separate platforms, and the material supply stocker 202 and the material removal stocker 203 may be positioned and disposed so as to sandwich the set table 122 in the Y-axis direction.

給材ストッカ202および除材ストッカ203は、基板Wを載置したパレットP(後述する)をそれぞれ最大15枚収容することができ、給材ストッカ202には、描画処理前の基板Wおよびそれを載置したパレットPが収容され、除材ストッカ203には、描画処理後の基板Wおよびそれを載置したパレットPが収容される。   The material supply stocker 202 and the material removal stocker 203 can each accommodate up to 15 pallets P (to be described later) on which substrates W are placed. The material supply stocker 202 stores the substrate W before drawing processing and the substrate W. The placed pallet P is accommodated, and the material removal stocker 203 accommodates the substrate W after the drawing process and the pallet P on which the substrate W is placed.

給材ストッカ202は、描画処理前の基板Wを水平に載置した複数のパレットPを位置決め状態で段積みして収容するものであって、架台201の上面に固定され、長辺方向に亘って2本の凸条を形成した略長方形のパレット載置プレート221と、パレット載置プレート221上に段積みされたパレットPを位置決めする5本の位置決めピン222と、段積みされたパレットPの枚数(高さ)を検知するパレット枚数センサ223,233(図5参照)とを備えている。   The material supply stocker 202 stacks and accommodates a plurality of pallets P on which substrates W before drawing processing are horizontally placed in a positioning state, and is fixed to the upper surface of the gantry 201 and extends in the long side direction. A substantially rectangular pallet mounting plate 221 having two ridges formed thereon, five positioning pins 222 for positioning the pallets P stacked on the pallet mounting plate 221, and the stacked pallets P Pallet number sensors 223 and 233 (see FIG. 5) for detecting the number (height).

パレット載置プレート221には、位置決めピン222を抜き差し自在に差し込むための10個のピン穴224が形成されている。すなわち、パレットPを縦置き(パレットPの長辺をX軸方向と平行にする)で5本の位置決めピン222により位置決めするための5個のピン穴224と、パレットPを横置き(パレットPの長辺をY軸方向と平行にする)で5本の位置決めピン222により位置決めするための5個のピン穴224とが、それぞれ4辺に分散して形成されている。これにより、給材ストッカ202は、上記のセットテーブル122に基板Wを縦置きおよび横置きで移載すべく、基板Wを載置したパレットPを縦置きおよび横置きで収容することができる。なお、図示では、給材ストッカ202は、パレットPを横置きで位置決めして収容している(除材ストッカ203も同様)。   The pallet mounting plate 221 is formed with ten pin holes 224 for inserting the positioning pins 222 in a freely detachable manner. That is, the pallet P is vertically placed (the long side of the pallet P is parallel to the X-axis direction) and the five pin holes 224 for positioning by the five positioning pins 222 and the pallet P are placed horizontally (the pallet P The five pin holes 224 for positioning with the five positioning pins 222 are formed in a distributed manner on each of the four sides. Thereby, the material supply stocker 202 can accommodate the pallet P on which the substrate W is placed vertically and horizontally in order to transfer the substrate W vertically and horizontally to the set table 122 described above. In the figure, the material supply stocker 202 positions and accommodates the pallet P in a horizontal position (the same applies to the material removal stocker 203).

各位置決めピン222は、ピン穴224に差し込まれた状態で、段積みした15枚(最大収容枚数)のパレットPの高さ(75mm)より若干長く形成されている。また、パレット枚数センサ223は、パレット載置プレート221を間に挟んでY軸方向に対向する左右一対のファイバセンサで構成され、これが前後2箇所に設けられている。   Each positioning pin 222 is formed to be slightly longer than the height (75 mm) of the 15 stacked pallets P (maximum accommodation number) while being inserted into the pin hole 224. The pallet number sensor 223 is composed of a pair of left and right fiber sensors facing each other in the Y-axis direction with the pallet placing plate 221 interposed therebetween, and these are provided at two front and rear positions.

除材ストッカ203は、描画処理後の基板Wを水平に載置した複数のパレットPを位置決め状態で段積みして収容するものである。詳細は給材ストッカ202の説明に譲るが、給材ストッカ202と略同様に構成されており、パレット載置プレート231に形成したピン穴234に差し込まれた5本の位置決めピン232により、パレットPを位置決めすると共に、パレット枚数センサ233を有している。そして、給材ストッカ202と除材ストッカ203とは、それぞれ収容したパレットPが互いに平行になるように構成されている。   The material removal stocker 203 stacks and accommodates a plurality of pallets P on which the substrates W after drawing processing are horizontally placed in a positioned state. Although details will be given to the description of the material supply stocker 202, the pallet P is constituted by five positioning pins 232 inserted into pin holes 234 formed in the pallet placement plate 231. And a pallet number sensor 233 is provided. The material supply stocker 202 and the material removal stocker 203 are configured such that the pallets P accommodated therein are parallel to each other.

図10に示すように、パレットPは、基板Wを位置決め状態で載置するものであり、大基板Wよりも一回り大きく、角部を面取りした略長方形のプレート状(5mm厚)に形成されている。そして、大基板Wを載置する場合には、パレットPの表面を用い、小基板Wを載置する場合には、パレットPの裏面を用いる。すなわち、パレットPの表面には、大基板Wを位置決め状態で載置すべく、大型浅溝部Pbが形成され、裏面には、小基板Wを位置決め状態で載置すべく、小型浅溝部Psが形成されており、大型浅溝部Pbおよび小型浅溝部Psは、同心状に設けられている。もっとも、大型浅溝部Pbおよび小型浅溝部Psは、それぞれ載置された大基板Wおよび小基板Wの僅かなガタツキを許容する寸法公差をもって、大基板Wおよび小基板Wに対して若干大きく形成されているため、大基板Wおよび小基板Wは、粗く位置決めされることになる。   As shown in FIG. 10, the pallet P is used to place the substrate W in a positioning state, and is formed in a substantially rectangular plate shape (5 mm thick) that is slightly larger than the large substrate W and chamfered at the corners. ing. When the large substrate W is placed, the front surface of the pallet P is used, and when the small substrate W is placed, the back surface of the pallet P is used. That is, a large shallow groove portion Pb is formed on the surface of the pallet P so as to place the large substrate W in a positioned state, and a small shallow groove portion Ps is formed on the back surface so as to place the small substrate W in a positioned state. The large shallow groove portion Pb and the small shallow groove portion Ps are formed concentrically. However, the large shallow groove portion Pb and the small shallow groove portion Ps are formed slightly larger than the large substrate W and the small substrate W with a dimensional tolerance that allows slight backlash of the large substrate W and the small substrate W placed thereon, respectively. Therefore, the large substrate W and the small substrate W are roughly positioned.

大型浅溝部Pbおよび小型浅溝部Psの深さはそれぞれ0.5mmであり、上記の基板Wの厚さ40μmよりも深くなっている。そのため、パレットPの大型浅溝部Pbまたは小型浅溝部Psに載置された基板Wの表面が、その上に積まれたパレットPの下面と接触することがない。   The large shallow groove portion Pb and the small shallow groove portion Ps each have a depth of 0.5 mm, which is deeper than the thickness of the substrate W described above of 40 μm. Therefore, the surface of the substrate W placed on the large shallow groove portion Pb or the small shallow groove portion Ps of the pallet P does not come into contact with the lower surface of the pallet P stacked thereon.

なお、パレットPには、軽量化を図るため適宜、複数箇所に切抜き開口を形成してもよい。もっとも、この場合、後述するパレット吸着機構313のパレット吸着パッド381が吸着する箇所は、切り抜かないようにする。   Note that the pallet P may be appropriately formed with cutout openings at a plurality of locations in order to reduce the weight. In this case, however, a portion where a pallet suction pad 381 of the pallet suction mechanism 313 described later is sucked is not cut out.

図5ないし図9に示すように、基板移載装置13は、基板吸着プレート341により上側から基板Wを吸着保持する基板吸着機構312、および一対のパレット吸着パッド381,381により上側からパレットPを吸着保持するパレット吸着機構313を有する吸着ヘッド301と、ブラケット311を介して基板吸着プレート341およびパレット吸着パッド381を一体として昇降させる吸着ヘッド昇降機構302と、上記の基板移載エリア113(セットテーブル122)および除材ストッカ203間に掛け渡された吸着ヘッド移動機構303と、を備えている。   As shown in FIGS. 5 to 9, the substrate transfer device 13 includes a substrate suction mechanism 312 that sucks and holds a substrate W from above by a substrate suction plate 341, and a pallet P from above by a pair of pallet suction pads 381 and 381. A suction head 301 having a pallet suction mechanism 313 for sucking and holding, a suction head lifting mechanism 302 that lifts and lowers the substrate suction plate 341 and the pallet suction pad 381 integrally through a bracket 311, and the substrate transfer area 113 (set table) described above. 122) and a suction head moving mechanism 303 stretched between the material removal stocker 203.

吸着ヘッド移動機構303は、基板吸着機構312により吸着した基板WをY軸方向に移動させると共に、パレット吸着機構313により吸着したパレットPをY軸方向に移動させるものである。吸着ヘッド移動機構303は、Y軸方向に水平に延在しており、移載キャリッジ331を介して吸着ヘッド昇降機構302および吸着ヘッド301をスライド自在に吊設支持するY軸スライダ(図示省略)と、Y軸スライダを案内にして移載キャリッジ331をY軸方向に移動させるY軸ボールねじ(図示省略)と、Y軸ボールねじを正逆回転させるY軸モータ332とを備えている。   The suction head moving mechanism 303 moves the substrate W sucked by the substrate suction mechanism 312 in the Y-axis direction and moves the pallet P sucked by the pallet suction mechanism 313 in the Y-axis direction. The suction head moving mechanism 303 extends horizontally in the Y-axis direction, and a Y-axis slider (not shown) that suspends and supports the suction head lifting mechanism 302 and the suction head 301 via the transfer carriage 331. And a Y-axis ball screw (not shown) that moves the transfer carriage 331 in the Y-axis direction using the Y-axis slider as a guide, and a Y-axis motor 332 that rotates the Y-axis ball screw forward and backward.

また、図示省略したが、Y軸スライダの背面側に沿って、ケーブルベアボックスが配設されており、後述するエアー吸引装置15に連なる吸引チューブ354や真空チューブ386(図5参照)等を担持するY軸ケーブルベアがその内部に収容されている。そして、吸着ヘッド移動機構303は、ケーブルベアボックスの背面に取り付けた複数個の固定金具により、上記の描画装置11の担持体カバー139(のカバーアングル)の下側に固定されている。   Although not shown, a cable bear box is provided along the back side of the Y-axis slider, and carries a suction tube 354, a vacuum tube 386 (see FIG. 5), etc. connected to an air suction device 15 described later. A Y-axis cable bear is housed inside. The suction head moving mechanism 303 is fixed to the lower side of the carrier cover 139 (cover angle) of the drawing apparatus 11 by a plurality of fixing brackets attached to the back surface of the cable bear box.

吸着ヘッド昇降機構302は、移載キャリッジ331の前面に保持されており、上部に動力伝達機構321を配置したいわゆるモータ折返し式の駆動系であって、ブラケット311側に設けた雌ねじ部材(図示省略)と、これに螺合するリードねじ(図示省略)と、動力源となる昇降モータ322と、タイミングベルト等から成り、昇降モータ322の駆動力をリードねじに伝達する動力伝達機構321とから構成されている。そして、昇降モータ322の正逆回転により、ブラケット311を介して基板吸着プレート341やパレット吸着パッド381を昇降させ、これらに吸着した基板WやパレットPを昇降できるようになっている。   The suction head lifting / lowering mechanism 302 is a so-called motor folding drive system that is held on the front surface of the transfer carriage 331 and has a power transmission mechanism 321 disposed on the top thereof, and is a female screw member (not shown) provided on the bracket 311 side. ), A lead screw (not shown) that is screwed to the lead screw, a lifting motor 322 as a power source, a timing belt, and the like, and a power transmission mechanism 321 that transmits the driving force of the lifting motor 322 to the lead screw. Has been. Then, the substrate suction plate 341 and the pallet suction pad 381 are moved up and down through the bracket 311 by forward and reverse rotation of the lifting motor 322 so that the substrate W and the pallet P sucked by these can be moved up and down.

吸着ヘッド昇降機構302の昇降ストローク幅は、100mmであり、段積みされた最上段(15段目)のパレットPに対しては、25mmの高さから臨むことになる。そして、上記のパレット枚数センサ223,233により検知されたパレットPの段積み枚数(高さ)に基づいて、給材ストッカ202および除材ストッカ203に対する下降距離を決定する。なお、図示しないが、吸着ヘッド昇降機構302の側方には、上記の吸引チューブ354や真空チューブ386等を担持するZ軸ケーブルベアが配設されている。   The lifting / lowering stroke width of the suction head lifting / lowering mechanism 302 is 100 mm, and the stacked uppermost (15th) pallet P faces from a height of 25 mm. Based on the number of stacked pallets P (height) detected by the pallet number sensors 223 and 233, the descending distance with respect to the material stocker 202 and the material removal stocker 203 is determined. Although not shown, a Z-axis cable bear carrying the suction tube 354 and the vacuum tube 386 is disposed on the side of the suction head lifting mechanism 302.

図11ないし図14に示すように、吸着ヘッド301は、略長方形のプレート状に形成されたブラケット311と、ブラケット311の左右略中間部から垂設させた基板吸着機構312と、ブラケット311の左辺および右辺の下端からそれぞれ下方に延在するパレット吸着機構313とを有している。この基板吸着機構312およびパレット吸着機構313は、ブラケット311の前面に取り付けられ、また、ブラケット311はその背面で上記の吸着ヘッド昇降機構302に取り付けられている(図9参照)。このように、基板吸着機構312がブラケット311を介して吸着ヘッド昇降機構302に取り付けられていると共に、パレット吸着機構313がブラケット311を介して吸着ヘッド昇降機構302に取り付けられていることで、基板W用の移動手段と、パレットP用の移動手段とを別々に設ける必要がない。   As shown in FIG. 11 to FIG. 14, the suction head 301 includes a bracket 311 formed in a substantially rectangular plate shape, a substrate suction mechanism 312 suspended from a substantially right and left middle portion of the bracket 311, and a left side of the bracket 311. And a pallet suction mechanism 313 extending downward from the lower end of the right side. The substrate suction mechanism 312 and the pallet suction mechanism 313 are attached to the front surface of the bracket 311, and the bracket 311 is attached to the suction head lifting mechanism 302 on the rear surface (see FIG. 9). As described above, the substrate suction mechanism 312 is attached to the suction head lifting mechanism 302 via the bracket 311 and the pallet suction mechanism 313 is attached to the suction head lifting mechanism 302 via the bracket 311, thereby There is no need to separately provide a moving means for W and a moving means for pallet P.

なお、図5の符号355は、基板吸着機構312の吸引力(圧力)を検知する基板圧力センサで、符号387は、パレット吸着機構313の吸引力(圧力)を検知するパレット圧力センサであるが、実際には、両センサはブラケット311の前面に取り付けられている。   5 is a substrate pressure sensor that detects the suction force (pressure) of the substrate suction mechanism 312, and 387 is a pallet pressure sensor that detects the suction force (pressure) of the pallet suction mechanism 313. Actually, both sensors are attached to the front surface of the bracket 311.

基板吸着機構312は、上側から基板Wを吸着する基板吸着プレート341と、基板吸着プレート341の上面中心部に取り付けられ、基板吸着プレート341の姿勢を制御する姿勢制御モジュール342と、姿勢制御モジュール342の上面に設けられ、姿勢制御モジュール342を介して基板吸着プレート341を昇降させるサブ昇降機構343とを有している。   The substrate adsorption mechanism 312 is attached to the substrate adsorption plate 341 that adsorbs the substrate W from above, the attitude control module 342 that controls the attitude of the substrate adsorption plate 341, and the attitude control module 342. And a sub elevating mechanism 343 that elevates and lowers the substrate suction plate 341 via the attitude control module 342.

基板吸着プレート341は、アルミプレートで構成され、その下面には、基板Wの非描画しろWn(外縁部)と接する環状凸部351が突出形成されている(図14参照)。この環状凸部351の下面には、基板Wを吸引するための吸着溝部352が連続的に(環状に)形成されている。また、吸着溝部352には、その各角部および四辺の各中間部に位置して、上記のエアー吸引装置15に連なる吸引チューブ354の上流端が接続する吸引孔353が計8箇所に形成されている。   The substrate suction plate 341 is made of an aluminum plate, and an annular convex portion 351 that contacts the non-drawing margin Wn (outer edge portion) of the substrate W protrudes from the lower surface thereof (see FIG. 14). An adsorption groove 352 for sucking the substrate W is continuously (annularly) formed on the lower surface of the annular protrusion 351. In addition, suction holes 353 are formed in the suction groove portion 352 at eight corners and at the middle portions of the four sides, to which the upstream ends of the suction tubes 354 connected to the air suction device 15 are connected. ing.

環状凸部351の下面は、平滑に加工(例えばアルマイト処理)されているため、基板Wの非描画しろWnの上面と環状凸部351の下面とを接触させた状態で吸着溝部352から吸引すると、非描画しろWnの上面と環状凸部351の下面との間からエアーが漏れることなく、十分な吸引力を基板Wに作用させることができる。   Since the lower surface of the annular convex portion 351 is processed smoothly (for example, anodized), when the suction is performed from the suction groove portion 352 in a state where the upper surface of the non-drawing margin Wn of the substrate W is in contact with the lower surface of the annular convex portion 351 A sufficient suction force can be applied to the substrate W without air leaking from between the upper surface of the non-drawing margin Wn and the lower surface of the annular convex portion 351.

また、吸引チューブ354には、三方弁(図示省略)が介設され、吸引孔353に対してエアー吸引と圧縮エアー供給とを切換え可能になっている。さらに、吸引チューブ354には、上記の基板圧力センサ355が介設され、所定の圧力まで減圧されると、エアー吸引が停止されるようになっている(図5参照)。   Further, a three-way valve (not shown) is interposed in the suction tube 354 so that air suction and compressed air supply can be switched with respect to the suction hole 353. Further, the substrate tube pressure sensor 355 is interposed in the suction tube 354, and when the pressure is reduced to a predetermined pressure, the air suction is stopped (see FIG. 5).

そして、吸引孔353からエアー吸引を行うと、吸着溝部352から基板Wの非描画しろWnに対して略均一に吸引力を作用させることができ、基板Wの平坦度を維持しつつ、基板吸着プレート341に対して基板Wを不動に吸着セットできるようになっている。一方、三方弁を切り換えて吸引孔353に圧縮エアーを供給すると、吸着溝部352の基板Wに対する真空が破壊され、自重により基板吸着プレート341から基板Wが離れるようになる。このように、基板吸着プレート341は、描画対象となる基板Wの描画領域Wdに接触することなく、基板Wを吸着保持することができる。   When air suction is performed from the suction hole 353, a suction force can be applied substantially uniformly to the non-drawing margin Wn of the substrate W from the suction groove 352, and the substrate suction is performed while maintaining the flatness of the substrate W. The substrate W can be fixed to the plate 341 by suction. On the other hand, when the three-way valve is switched and compressed air is supplied to the suction hole 353, the vacuum on the substrate W in the suction groove 352 is broken, and the substrate W is separated from the substrate suction plate 341 by its own weight. Thus, the substrate suction plate 341 can suck and hold the substrate W without contacting the drawing region Wd of the substrate W to be drawn.

また、連続的に形成された吸着溝部352により基板Wの非描画しろWnを吸着することで、基板Wの角部等が垂れ下がることなく、基板Wを適切に確実に吸着保持することができる。さらに、吸着パッド等と比べて、基板Wと吸着する部分の幅を極力狭くすることができ、基板Wの描画領域をより広く設けることができる。   In addition, by adsorbing the non-drawing margin Wn of the substrate W by the continuously formed adsorption groove 352, the substrate W can be appropriately adsorbed and held without drooping corners or the like of the substrate W. Furthermore, compared with a suction pad or the like, the width of the portion that sucks the substrate W can be made as narrow as possible, and the drawing region of the substrate W can be provided wider.

さらに、基板吸着プレート341の中心部には、上記の姿勢制御モジュール342に螺子止め固定するための螺子孔(図示省略)が複数個形成されており、姿勢制御モジュール342に対し、縦向き(基板吸着プレート341の長辺をX軸方向と平行にする)および横向き(基板吸着プレート341の長辺をY軸方向と平行にする)に取り付け可能、すなわち、水平面内で90°回転させた状態で、付替え可能に構成されている。これにより、セットテーブル122に載置する基板Wの向き(縦向きまたは横向き)に対応させて、基板吸着プレート341を取り付けることができる。なお、図示では、基板吸着プレート341は横向きに取り付けられている。   Further, a plurality of screw holes (not shown) for screwing and fixing to the posture control module 342 are formed at the center of the substrate suction plate 341, and the substrate suction plate 341 is oriented vertically (substrate). The suction plate 341 can be mounted in the long side (parallel to the X-axis direction) and laterally (the long side of the substrate suction plate 341 is parallel to the Y-axis direction), that is, in a state rotated by 90 ° in the horizontal plane. It is configured to be replaceable. Accordingly, the substrate suction plate 341 can be attached in accordance with the direction (vertical direction or horizontal direction) of the substrate W placed on the set table 122. In the figure, the substrate suction plate 341 is attached sideways.

また、基板吸着プレート341には、中心から四方に同一の距離を存した位置に、4個の円形開口356が形成されている。4個の円形開口356のうち、長辺方向に並ぶ2個のものは、基板吸着プレート341が横向きに取り付けられた際に、後述するパレット吸着パッド381を下方に向かって出没させるためのものであり、短辺方向に並ぶ2個のものは、基板吸着プレート341が縦向きに取り付けられた際に、パレット吸着パッド381を下方に向かって出没させるためのものである。このように、円形開口356を介して、パレット吸着パッド381を下方に向かって出没させるようにすることで、パレット吸着パッド381を基板吸着プレート341の投影面内に配設することが可能となる。すなわち、基板吸着プレート341とパレット吸着パッド381とを、水平面内で交換移動させる必要がなく、且つコンパクトに配設することができ、スペース効率を向上させることができる。なお、基板吸着プレート341は、大基板Wおよび小基板Wとそれぞれ略同形且つ略同サイズに形成した2種類のものが用意されている。   In addition, four circular openings 356 are formed in the substrate suction plate 341 at positions having the same distance in all directions from the center. Of the four circular openings 356, two of them arranged in the long side direction are for causing a pallet suction pad 381 (described later) to appear and disappear downward when the substrate suction plate 341 is mounted sideways. There are two ones arranged in the short side direction for causing the pallet suction pad 381 to be projected and lowered downward when the substrate suction plate 341 is mounted vertically. In this manner, the pallet suction pad 381 can be disposed in the projection surface of the substrate suction plate 341 by causing the pallet suction pad 381 to protrude downwards and downwards through the circular opening 356. . That is, the substrate suction plate 341 and the pallet suction pad 381 do not need to be exchanged and moved in a horizontal plane, can be disposed compactly, and space efficiency can be improved. Two types of substrate suction plates 341 are prepared which are formed in substantially the same shape and the same size as the large substrate W and the small substrate W, respectively.

姿勢制御モジュール342は、基板吸着プレート341とサブ昇降機構343との間に介設されており、略直方体形状の装置本体361と、装置本体361の下面に装着された傾動プレート362とを有しており、この傾動プレート362の下面に上記の基板吸着プレート341が螺子止めされている。   The attitude control module 342 is interposed between the substrate suction plate 341 and the sub-lifting mechanism 343, and has a substantially rectangular parallelepiped device body 361 and a tilt plate 362 attached to the lower surface of the device body 361. The substrate suction plate 341 is screwed to the lower surface of the tilting plate 362.

図示省略したが、装置本体361の内部には、傾動プレート362と平行姿勢でこれに連結されると共に、X軸、Y軸、θ軸およびα軸方向に微小移動可能(三次元的に傾動可能)なインナープレートと、インナープレートを締結する締結機構と、インナープレートを装置本体361に対して位置決め(相互の中心が一致)する位置決め機構とが組み込まれている。   Although not shown, the apparatus main body 361 is connected to the tilting plate 362 in parallel with the tilting plate 362 and can be moved minutely in the X-axis, Y-axis, θ-axis, and α-axis directions (can be tilted three-dimensionally). ) Inner plate, a fastening mechanism for fastening the inner plate, and a positioning mechanism for positioning the inner plate with respect to the apparatus main body 361 (mutual centers coincide).

締結機構および位置決め機構は、それぞれエアーシリンダ等で構成されており、上記のエアー供給装置14からのエアー供給の制御により、ON/OFFを切り替えることができる。すなわち、締結機構をONにすると、インナープレートが締結され、インナープレートに連結された傾動プレート362が固定状態となり、締結機構をOFFにすると、インナープレートの締結が解除され、傾動プレート362が微小可動状態となる。   The fastening mechanism and the positioning mechanism are each composed of an air cylinder or the like, and can be switched ON / OFF by controlling the air supply from the air supply device 14 described above. That is, when the fastening mechanism is turned on, the inner plate is fastened and the tilting plate 362 connected to the inner plate is in a fixed state. When the fastening mechanism is turned off, the fastening of the inner plate is released and the tilting plate 362 is slightly movable. It becomes a state.

また、締結機構をOFFにしてインナープレートの締結を解除した状態で、位置決め機構をONにすると、傾動プレート362の中心と、装置本体361の中心とが一致した状態となり、さらにこの状態で締結機構をONにすることで、装置本体361に対し位置決めされた傾動プレート362を固定状態とすることができる。   Further, when the positioning mechanism is turned on in the state where the fastening mechanism is turned off and the fastening of the inner plate is released, the center of the tilting plate 362 and the center of the apparatus main body 361 coincide with each other. By turning ON, the tilting plate 362 positioned with respect to the apparatus main body 361 can be fixed.

つまり、締結機構および位置決め機構がそれぞれON/OFF切換え可能であることにより、位置決め機構をOFFのまま締結機構をONにすることで、傾動プレート362を傾動状態で固定することができると共に、位置決め機構をONしてから締結機構をONにすることで、傾動プレート362を位置決め状態で固定することができる。もっとも、本実施形態では、傾動プレート362を位置決め状態で固定可能であれば足りるため、締結機構のみON/OFF切換え可能な構成としてもよい。   That is, since the fastening mechanism and the positioning mechanism can be switched ON / OFF, the tilting plate 362 can be fixed in the tilted state by turning the fastening mechanism ON while the positioning mechanism is OFF, and the positioning mechanism. By turning on the fastening mechanism after turning on, the tilting plate 362 can be fixed in a positioned state. However, in the present embodiment, it is sufficient if the tilting plate 362 can be fixed in the positioning state, and therefore, only the fastening mechanism may be switched ON / OFF.

本実施形態の姿勢制御モジュール342は、装置本体361に対し位置決めされた傾動プレート362が、上記の吸着テーブル123の上面と平行になるように、調整されている。そのため、基板吸着プレート341は、傾動プレート362を微小可動状態とすることで、押し付けた基板Wに倣うように三次元的に傾動する自由傾動状態となり、また、傾動プレート362を装置本体361に対して位置決めすると共に固定状態とすることで、吸着テーブル123の上面を基準とした基準姿勢となる。   The posture control module 342 of the present embodiment is adjusted so that the tilting plate 362 positioned with respect to the apparatus main body 361 is parallel to the upper surface of the suction table 123. Therefore, the substrate suction plate 341 is in a free tilting state in which the tilting plate 362 is tilted three-dimensionally to follow the pressed substrate W by setting the tilting plate 362 in a minute movable state, and the tilting plate 362 is moved with respect to the apparatus main body 361. By positioning and fixing, the reference posture with respect to the upper surface of the suction table 123 is obtained.

すなわち、姿勢制御モジュール342は、エアー供給を制御することで、基板吸着プレート341の姿勢を、基準姿勢で不動とする不動状態と、三次元的に傾動する自由傾動状態とで切り替えることができる。これにより、セットテーブル122の上面に対し、給材ストッカ202における基板Wの載置面(パレットPの上面)が平行でない場合であっても、給材ストッカ202からの基板Wの除去およびセットテーブル122への基板Wの載置を適切に行うことができる(詳細は後述する)。   In other words, the posture control module 342 can switch the posture of the substrate suction plate 341 between a non-moving state in which the substrate suction plate 341 is fixed in the reference posture and a free tilting state in which the substrate suction plate 341 is tilted three-dimensionally by controlling the air supply. Accordingly, even when the placement surface of the substrate W in the material stocker 202 (the upper surface of the pallet P) is not parallel to the upper surface of the set table 122, the removal of the substrate W from the material stocker 202 and the set table are performed. The substrate W can be appropriately placed on 122 (details will be described later).

サブ昇降機構343は、姿勢制御モジュール342の上面に立設した複動エアーシリンダー(片ロッド)で構成されており(図5参照)、姿勢制御モジュール342を介して、基板吸着プレート341を、パレット吸着パッド381の下縁端よりも僅かに下降させた位置と、パレット吸着パッド381の下縁端よりも僅かに上昇させた位置との間で、上下動させるものである。   The sub elevating mechanism 343 is composed of a double-acting air cylinder (single rod) erected on the upper surface of the attitude control module 342 (see FIG. 5), and the substrate suction plate 341 is moved to the pallet via the attitude control module 342. It is moved up and down between a position slightly lowered from the lower edge of the suction pad 381 and a position slightly raised from the lower edge of the pallet suction pad 381.

すなわち、基板吸着プレート341により基板Wを吸着する際に、基板吸着プレート341をパレット吸着パッド381の下縁端よりも僅かに下降させ、パレット吸着パッド381によるパレットPを吸着する際に、基板吸着プレート341をパレット吸着パッド381の下縁端(後述するゴムパッド382)よりも僅かに上昇させる。このため、基板吸着プレート341およびパレット吸着パッド381は、互いに干渉することなく、それぞれ基板WおよびパレットPを安定に吸着することができる。なお、図示では、基板吸着プレート341は、パレット吸着パッド381よりも上昇させた位置にある。   That is, when adsorbing the substrate W by the substrate adsorbing plate 341, the substrate adsorbing plate 341 is slightly lowered from the lower edge of the pallet adsorbing pad 381, and when adsorbing the pallet P by the pallet adsorbing pad 381, The plate 341 is raised slightly from the lower edge (rubber pad 382 described later) of the pallet suction pad 381. Therefore, the substrate suction plate 341 and the pallet suction pad 381 can stably suck the substrate W and the pallet P, respectively, without interfering with each other. In the figure, the substrate suction plate 341 is positioned higher than the pallet suction pad 381.

また、サブ昇降機構343を構成する複動エアーシリンダは、往動室371と復動室372とにそれぞれ供給する圧縮空気の流量を制御することで、往動室371と復動室372との圧力バランスを調整可能に構成されている。なお、往動室371および復動室372とは、ピストン373により分かれたシリンダ374内の室のことであり、往動室371に圧縮空気が供給されると、ピストン373が復動室372側に押されてピストンロッド375が前進し、復動室372に圧縮空気が供給されると、ピストン373が往動室371側に押されてピストンロッド375が後退するものとする(図5参照)。   Further, the double acting air cylinder constituting the sub elevating mechanism 343 controls the flow rate of the compressed air supplied to the forward chamber 371 and the backward chamber 372, so that the forward chamber 371 and the backward chamber 372 The pressure balance can be adjusted. The forward chamber 371 and the backward chamber 372 are chambers in the cylinder 374 divided by the piston 373. When compressed air is supplied to the forward chamber 371, the piston 373 is moved to the backward chamber 372 side. When the piston rod 375 moves forward and the compressed air is supplied to the return chamber 372, the piston 373 is pushed toward the forward chamber 371 and the piston rod 375 moves backward (see FIG. 5). .

パレット吸着機構313は、ゴムパッド382および下端にゴムパッド382を取り付けた円柱形の吸着ロッド383をそれぞれ有する一対のパレット吸着パッド381,381と、各パレット吸着パッド381をブラケット311に固定するL字金具384と、各吸着ロッド383に内蔵され、ゴムパッド382をパレットPに押し付けた際の衝撃を吸収するためのコイルばね(図示省略)とを備えている。また、各吸着ロッド383の略中間部には、エアー吸引装置15に連なる真空チューブ386の上流端が接続する真空継手385が取り付けられており、吸着ロッド383内には、ゴムパッド382と真空継手385とを連通する真空流路(図示省略)が形成されている。   The pallet suction mechanism 313 includes a pair of pallet suction pads 381 and 381 each having a rubber pad 382 and a cylindrical suction rod 383 with a rubber pad 382 attached to the lower end thereof, and an L-shaped bracket 384 for fixing each pallet suction pad 381 to the bracket 311. And a coil spring (not shown) for absorbing an impact when the rubber pad 382 is pressed against the pallet P. Further, a vacuum joint 385 to which an upstream end of a vacuum tube 386 connected to the air suction device 15 is connected is attached to a substantially middle portion of each suction rod 383, and a rubber pad 382 and a vacuum joint 385 are attached to the suction rod 383. And a vacuum channel (not shown) that communicates with each other.

また、基板吸着機構312と同様に、真空チューブ386には、三方弁(図示省略)が介設され、真空継手385に対してエアー吸引と圧縮エアー供給とを切換え可能になっている。さらに、上記のパレット圧力センサ387が介設されており、所定の圧力まで減圧されると、エアー吸引が停止されるようになっている(図5参照)。   Similarly to the substrate suction mechanism 312, a three-way valve (not shown) is interposed in the vacuum tube 386 so that air suction and compressed air supply can be switched with respect to the vacuum joint 385. Further, the pallet pressure sensor 387 is interposed, and air suction is stopped when the pressure is reduced to a predetermined pressure (see FIG. 5).

そして、一対のパレット吸着パッド381,381をパレットPに押し付けながらエアー吸引を行うと、ゴムパッド382内が真空状態となり、パレット吸着パッド381とパレットPとが強力に吸着する。一方、三方弁を切り換えてパレット吸着パッド381に圧縮エアーを供給すると、ゴムパッド382内が真空破壊され、自重によりパレット吸着パッド381からパレットPが離れるようになる。   When air suction is performed while pressing the pair of pallet suction pads 381 and 381 against the pallet P, the inside of the rubber pad 382 is in a vacuum state, and the pallet suction pad 381 and the pallet P are strongly suctioned. On the other hand, when the compressed air is supplied to the pallet suction pad 381 by switching the three-way valve, the inside of the rubber pad 382 is broken in vacuum, and the pallet P is separated from the pallet suction pad 381 by its own weight.

ここで、基板処理システム1を用いて、給材ストッカ202、セットテーブル122、除材ストッカ203の順に、基板Wを移載する一連の動作について説明する。なお、移載処理前の準備として、描画装置11において、セットテーブル122を基板移載エリア113に移動させておく。また、給材ストッカ202には、位置決め状態で基板Wを載置したパレットPを収容しておく。   Here, a series of operations for transferring the substrate W in the order of the material supply stocker 202, the set table 122, and the material removal stocker 203 using the substrate processing system 1 will be described. As a preparation before the transfer process, the set table 122 is moved to the substrate transfer area 113 in the drawing apparatus 11. The material stocker 202 accommodates the pallet P on which the substrate W is placed in a positioned state.

まず、はじめに、基板吸着プレート341をパレット吸着パッド381に対して下降させた吸着ヘッド301を、吸着ヘッド移動機構303により給材ストッカ202の直上部に臨ませると共に、基板吸着プレート341が基板W(の非描画しろWn)に当接する位置まで、吸着ヘッド昇降機構302により吸着ヘッド301を下降する。このとき、姿勢制御モジュール342は、基板吸着プレート341を自由傾動状態としておく。これにより、基板吸着プレート341が基板Wの上面に倣った状態で、アンバランスなリークによる基板Wの位置ずれを防止しつつ、基板Wの吸着を開始することができる。   First, the suction head 301 in which the substrate suction plate 341 is lowered with respect to the pallet suction pad 381 is caused to face directly above the material stocker 202 by the suction head moving mechanism 303, and the substrate suction plate 341 is moved to the substrate W ( The suction head 301 is lowered by the suction head lifting mechanism 302 to a position where it abuts against the non-drawing margin Wn). At this time, the attitude control module 342 keeps the substrate suction plate 341 in a freely tilting state. Thereby, in a state where the substrate suction plate 341 follows the upper surface of the substrate W, the suction of the substrate W can be started while preventing the displacement of the substrate W due to an unbalanced leak.

そして、吸着ヘッド昇降機構302により、パレットP上の基板Wに対して基板吸着プレート341を押し付けるようにした状態で、基板吸着プレート341のエアー吸引を開始する。これによれば、吸着の際のショックにより基板WがパレットPに載置された位置から位置ずれすることなく、基板吸着プレート341に基板Wを安定に吸着させることができる。また、このとき、姿勢制御モジュール342により基板吸着プレート341が自由傾動状態となっているため、押し付け時に基板吸着プレート341が上方に逃げて、押し付け時の衝撃を吸収するようになっている。なお、サブ昇降機構343(複動エアシリンダ374)の往動室371と復動室372との圧力バランスを調整することで、基板Wの押し付け時の衝撃を吸収するようにしてもよい。   Then, air suction of the substrate suction plate 341 is started in a state where the suction head lifting mechanism 302 presses the substrate suction plate 341 against the substrate W on the pallet P. According to this, the substrate W can be stably adsorbed to the substrate adsorbing plate 341 without being displaced from the position where the substrate W is placed on the pallet P due to a shock at the time of adsorption. At this time, since the substrate suction plate 341 is in a freely tilted state by the attitude control module 342, the substrate suction plate 341 escapes upward during pressing, and absorbs the impact during pressing. Note that the impact at the time of pressing the substrate W may be absorbed by adjusting the pressure balance between the forward chamber 371 and the backward chamber 372 of the sub lifting mechanism 343 (double-acting air cylinder 374).

続いて、基板Wを吸着した基板吸着プレート341を吸着ヘッド昇降機構302により上昇させると共に、吸着ヘッド移動機構303によりセットテーブル122上に臨ませ、さらに、吸着ヘッド昇降機構302により基板吸着プレート341を下降して基板Wをセットテーブル122に載置する。このとき、姿勢制御モジュール342は、基板吸着プレート341を不動状態としておく。これにより、基板Wがセットテーブル122の上面を基準とした基準姿勢となった状態で、セットテーブル122に基板Wを載置することができる。   Subsequently, the substrate suction plate 341 that has attracted the substrate W is raised by the suction head lifting mechanism 302, and is placed on the set table 122 by the suction head moving mechanism 303. Further, the substrate suction plate 341 is moved by the suction head lifting mechanism 302. The substrate W is lowered and placed on the set table 122. At this time, the posture control module 342 keeps the substrate suction plate 341 in an immobile state. Accordingly, the substrate W can be placed on the set table 122 in a state where the substrate W is in the reference posture with the upper surface of the set table 122 as a reference.

そして、基板Wをセットテーブル122に載置する際、吸着ヘッド昇降機構302により、基板吸着プレート341を基板Wに押し付けるようにして、基板吸着プレート341の真空を解除する。これによれば、吸着解除の際のショックによりセットテーブル122に対して基板Wが位置ずれすることなく、基板吸着プレート341から基板Wを安定に離すことができる。   When the substrate W is placed on the set table 122, the suction of the substrate suction plate 341 is released by the suction head lifting mechanism 302 so that the substrate suction plate 341 is pressed against the substrate W. According to this, the substrate W can be stably separated from the substrate suction plate 341 without the substrate W being displaced with respect to the set table 122 due to a shock at the time of suction release.

このようにして、給材ストッカ202からセットテーブル122への基板Wの移載が完了すると、上述したようにして、描画装置11により基板Wに対する描画処理が行われる。なお、詳細は後述するが、描画処理の前後には、セットテーブル122上で、描画処理前の基板Wの位置補正処理と、描画処理後の基板Wの位置を元に戻す復帰処理とが行われる。   When the transfer of the substrate W from the material supply stocker 202 to the set table 122 is completed in this way, the drawing process on the substrate W is performed by the drawing apparatus 11 as described above. Although details will be described later, before and after the drawing process, a position correction process for the substrate W before the drawing process and a return process for returning the position of the substrate W after the drawing process are performed on the set table 122. Is called.

この描画処理の間、描画処理の対象となっている基板Wを載置していたパレットPを、給材ストッカ202から除材ストッカ203に移載する。すなわち、基板Wをセットテーブル122に移載した後、基板吸着プレート341をパレット吸着パッド381に対して上昇させた吸着ヘッド301を、吸着ヘッド移動機構303により給材ストッカ202の直上部に臨ませると共に、一対のパレット吸着パッド381,381をパレットPの上面に押し当てるようにして、吸着ヘッド昇降機構302により吸着ヘッド301を下降する。そして、パレット吸着パッド381のエアー吸引を開始して、パレット吸着パッド381にパレットPを吸着させる。   During this drawing process, the pallet P on which the substrate W to be drawn is placed is transferred from the material supply stocker 202 to the material removal stocker 203. That is, after the substrate W is transferred to the set table 122, the suction head 301 in which the substrate suction plate 341 is lifted with respect to the pallet suction pad 381 is caused to face directly above the material stocker 202 by the suction head moving mechanism 303. At the same time, the suction head 301 is lowered by the suction head lifting mechanism 302 so that the pair of pallet suction pads 381 and 381 are pressed against the upper surface of the pallet P. Then, air suction of the pallet suction pad 381 is started and the pallet P is sucked by the pallet suction pad 381.

次に、パレットPを吸着したパレット吸着パッド381を吸着ヘッド昇降機構302により上昇させると共に、吸着ヘッド移動機構303により除材ストッカ203上に臨ませる。さらに、除材ストッカ203に段積み状態で収用された最上段のパレットPに対し、吸着ヘッド昇降機構302によりパレット吸着パッド381を下降すると共に、パレット吸着パッド381を真空破壊して、吸着したパレットPを載置する。このようにして、給材ストッカ202から除材ストッカ203へのパレットPの移載が完了する。   Next, the pallet suction pad 381 that has attracted the pallet P is raised by the suction head lifting mechanism 302 and is made to face the material removal stocker 203 by the suction head moving mechanism 303. Further, the pallet suction pad 381 is lowered by the suction head lifting mechanism 302 with respect to the uppermost pallet P collected in a stacked state on the material removal stocker 203, and the pallet suction pad 381 is vacuum-breaked to suck the pallet. P is placed. In this way, the transfer of the pallet P from the material supply stocker 202 to the material removal stocker 203 is completed.

さらに、描画処理が終了した後、セットテーブル122から除材ストッカ203へ移載されたパレットPへ基板Wを移載する。この基板Wの移載は、描画処理前の基板Wの給材ストッカ202からセットテーブル122への移載と同様にして行われる。   Further, after the drawing process is completed, the substrate W is transferred from the set table 122 to the pallet P transferred to the material removal stocker 203. The transfer of the substrate W is performed in the same manner as the transfer of the substrate W before the drawing process from the material supply stocker 202 to the set table 122.

すなわち、姿勢制御モジュール342により基板吸着プレート341を不動姿勢とすると共に、セットテーブル122上の基板Wに対し基板吸着プレート341を押し付けた状態で、基板吸着プレート341に描画処理後の基板Wを吸着する。そして、吸着した基板Wを除材ストッカ203に移動し、姿勢制御モジュール342により基板吸着プレート341を自由傾動状態とすると共に、基板吸着プレート341により基板Wに押し付けるようにした状態で、基板吸着プレート341を真空破壊して、基板WをパレットPに載置する。   That is, the posture control module 342 places the substrate suction plate 341 in a stationary posture, and sucks the substrate W after the drawing process onto the substrate suction plate 341 while pressing the substrate suction plate 341 against the substrate W on the set table 122. To do. Then, the adsorbed substrate W is moved to the material removal stocker 203, and the substrate adsorbing plate 341 is freely tilted by the attitude control module 342 and pressed against the substrate W by the substrate adsorbing plate 341. The substrate 341 is placed on the pallet P by breaking the vacuum 341.

以上のようにして、一連の移載動作が完了する。そして、給材ストッカ202に収容された15枚のパレットPおよびそれにそれぞれ載置した描画処理前の基板Wについて、順次この移載動作が行われる。これによれば、基板吸着プレート341は、描画対象となる基板Wの描画領域Wdに接触することなく、基板Wを吸着保持することができるため、基板Wに吸着のための特別な領域を設けることなく、吸着した基板Wを移載することができる。   As described above, a series of transfer operations is completed. Then, this transfer operation is sequentially performed on the 15 pallets P accommodated in the material stocker 202 and the substrate W before drawing processing placed thereon. According to this, since the substrate suction plate 341 can suck and hold the substrate W without contacting the drawing region Wd of the substrate W to be drawn, a special region for suction is provided on the substrate W. The adsorbed substrate W can be transferred without any problem.

また、描画処理前の基板Wを載置していたパレットPを、給材ストッカ202から除材ストッカ203に移載し、そのパレットP上に描画処理後の基板Wを載置することで、同一のパレットPを用いて、描画処理前の基板Wと描画処理後の基板Wとを、それぞれ給材ストッカ202および除材ストッカ203に収容することができる。   In addition, by transferring the pallet P on which the substrate W before the drawing process is placed from the material supply stocker 202 to the material removal stocker 203 and placing the substrate W after the drawing process on the pallet P, Using the same pallet P, the substrate W before the drawing process and the substrate W after the drawing process can be accommodated in the material supply stocker 202 and the material removal stocker 203, respectively.

ところで、上述したように、給材ストッカ202および除材ストッカ203を載置する架台201と、描画装置11とは、別体に構成されており、描画装置11に対して両ストッカ202,203を精度良く位置合わせすることは困難である。また、パレットPは単に大型浅溝部Pbまたは小型浅溝部Psで基板Wを位置決めしている。このような描画装置11と両ストッカ202,203との位置精度、パレットPにおける基板Wの位置決め精度等に起因して、給材ストッカ202のパレットPからセットテーブル122に移載された基板Wは、描画装置11の設計基準から位置ずれしてセットテーブル122に吸着セットされることになる。   Incidentally, as described above, the gantry 201 on which the material supply stocker 202 and the material removal stocker 203 are placed and the drawing apparatus 11 are configured separately, and the stockers 202 and 203 are connected to the drawing apparatus 11. It is difficult to align with high accuracy. Further, the pallet P simply positions the substrate W with the large shallow groove portion Pb or the small shallow groove portion Ps. Due to the positional accuracy between the drawing apparatus 11 and both stockers 202 and 203, the positioning accuracy of the substrate W on the pallet P, etc., the substrate W transferred from the pallet P of the material stocker 202 to the set table 122 is Thus, the position is shifted from the design standard of the drawing apparatus 11 and is sucked and set on the set table 122.

そこで、描画処理の前後には、基板Wの位置補正処理および位置復帰処理が行われる。すなわち、給材ストッカ202からセットテーブル122に描画処理前の基板Wを移載した後(図15のS11)、上記のようにして、セットテーブル122上で、プリアライメントカメラ152によりアライメントマークを画像認識し(S12)、基板Wの初期位置データを記憶する。その認識結果(初期位置データ)に基づいて、吸着テーブル123をX軸方向およびθ軸方向に移動させ、吸着テーブル123上の基板Wの水平面内における載置位置を補正する位置補正処理を行う(S13)。例えば、ここでは、吸着テーブル123をX軸方向に2mm、θ軸方向に0.5°移動させたものとする。   Therefore, a position correction process and a position return process for the substrate W are performed before and after the drawing process. That is, after the substrate W before the drawing process is transferred from the material stocker 202 to the set table 122 (S11 in FIG. 15), the alignment mark is imaged by the pre-alignment camera 152 on the set table 122 as described above. Recognize (S12) and store the initial position data of the substrate W. Based on the recognition result (initial position data), the suction table 123 is moved in the X-axis direction and the θ-axis direction, and a position correction process for correcting the placement position of the substrate W on the suction table 123 in the horizontal plane is performed ( S13). For example, here, it is assumed that the suction table 123 is moved 2 mm in the X-axis direction and 0.5 ° in the θ-axis direction.

続いて、本アライメントカメラ153の画像認識結果に基づいて、データ補正と共に、吸着テーブル123をθ軸方向に微小移動させ、基板Wの位置補正処理をさらに行う(S14)。ここでは、吸着テーブル123をθ軸方向にさらに0.1°移動させたものとする。プリアライメントおよび本アライメントを通じた基板Wの位置補正処理により、基板Wの載置位置は、描画装置11の設計基準と合致することになるが、他方、除材ストッカ203に対して、X軸方向2mm、θ軸方向に0.6°位置ずれしていることになる。   Subsequently, based on the image recognition result of the alignment camera 153, along with the data correction, the suction table 123 is slightly moved in the θ-axis direction to further perform the position correction process for the substrate W (S14). Here, it is assumed that the suction table 123 is further moved by 0.1 ° in the θ-axis direction. By the position correction processing of the substrate W through the pre-alignment and the main alignment, the placement position of the substrate W matches the design standard of the drawing apparatus 11, but on the other hand, with respect to the material removal stocker 203, the X-axis direction The position is shifted by 0.6 mm in the direction of 2 mm and θ axis.

基板Wのアライメントが完了すると、基板Wに対し描画処理が行われる(S15)。この後、描画処理後の基板Wを、そのままの載置位置から除材ストッカ203に移載すると、基板Wの載置位置が除材ストッカ203に対して位置ずれしていることから、除材ストッカ203に収容されたパレットPの大型浅溝部Pbまたは小型浅溝部Psに載置することができない。   When the alignment of the substrate W is completed, a drawing process is performed on the substrate W (S15). Thereafter, when the substrate W after the drawing process is transferred from the placement position as it is to the material removal stocker 203, the placement position of the substrate W is displaced with respect to the material removal stocker 203. It cannot be placed in the large shallow groove portion Pb or the small shallow groove portion Ps of the pallet P accommodated in the stocker 203.

そこで、描画処理の後、S12におけるプリアライメントカメラ152の認識結果に基づいて、吸着テーブル123上の基板Wの載置位置を元に戻す位置復帰処理を行う(S17)。すなわち、記憶しておいた初期位置データに基づいて、吸着テーブル123をX軸方向に2mm戻し、θ軸方向に0.6°戻す。この位置復帰処理により、除材ストッカ203に対する基板Wの位置ずれが解消される。   Therefore, after the drawing process, based on the recognition result of the pre-alignment camera 152 in S12, a position return process for returning the placement position of the substrate W on the suction table 123 is performed (S17). That is, based on the stored initial position data, the suction table 123 is returned by 2 mm in the X-axis direction and returned by 0.6 ° in the θ-axis direction. By this position return processing, the positional deviation of the substrate W with respect to the material removal stocker 203 is eliminated.

位置復帰処理の後、セットテーブル122から除材ストッカ203のパレットPに基板Wを移載する(S18)。以上のようにして、一連の移載処理を行うことで、描画処理前に基板Wの位置補正を行うことができると共に、描画処理後の基板Wを除材ストッカ203のパレットPに位置決め状態で移載することができる。すなわち、基板Wの元の位置を記憶しておくだけで、除材ストッカ203やそのパレットPの位置検出を行うことなく、基板Wを精度良く移載することができる。   After the position return process, the substrate W is transferred from the set table 122 to the pallet P of the material removal stocker 203 (S18). By performing a series of transfer processes as described above, the position of the substrate W can be corrected before the drawing process, and the substrate W after the drawing process is positioned on the pallet P of the material removal stocker 203. Can be transferred. That is, it is possible to transfer the substrate W with high accuracy without detecting the position of the material removal stocker 203 or its pallet P only by storing the original position of the substrate W.

なお、本実施形態では、吸着テーブル123を微小移動させることで、基板Wの位置補正処理および位置復帰処理を行うが、吸着テーブル123を固定とし、基板Wを吸着テーブル123に対して微小移動させる構成であってもよい(この場合、吸着テーブル123の吸引は解除しておく)。   In the present embodiment, the position correction processing and position return processing of the substrate W are performed by moving the suction table 123 slightly. However, the suction table 123 is fixed and the substrate W is moved slightly relative to the suction table 123. It may be configured (in this case, suction of the suction table 123 is released).

さらに、本実施形態では、セットテーブル122上で、描画処理前の基板Wの載置位置を補正すると共に描画処理後の基板Wを元の載置位置に戻すようにするが、基板吸着プレート341に吸着セットされた状態で、描画処理前の基板Wのセット位置を補正すると共に描画処理後の基板Wを元のセット位置に戻すようにしてもよい。   Further, in the present embodiment, the placement position of the substrate W before the drawing process is corrected on the set table 122 and the substrate W after the drawing process is returned to the original placement position. In the state of being sucked and set, the set position of the substrate W before the drawing process may be corrected and the substrate W after the drawing process may be returned to the original set position.

すなわち、基板移載装置13の吸着ヘッド301に、アライメントマークを画像認識するカメラ(広視野角)と、姿勢制御モジュール342を介して基板吸着プレート341をX軸方向およびθ軸方向に移動させるための吸着ヘッドX軸テーブルおよび吸着ヘッドθ軸テーブルとを、さらに設けておく。そして、そのカメラにより、給材ストッカ202のパレットPに載置された基板Wのアライメントマークを撮像し、その画像認識結果に基づいて、給材ストッカ202からセットテーブル122への移載中に、吸着ヘッドX軸テーブルおよび吸着ヘッドθ軸テーブルにより基板吸着プレート341に吸着された描画処理前の基板Wのセット位置を補正する。描画処理の後、先程の画像認識結果に基づいて、セットテーブル122から除材ストッカ203への移載中に、吸着ヘッドX軸テーブルおよび吸着ヘッドθ軸テーブルにより基板吸着プレート341に吸着された描画処理後の基板Wのセット位置を元に戻すようにする。この場合も、基板Wの元の位置を記憶しておくだけで、除材ストッカ203やそのパレットPの位置検出を行うことなく、基板Wを精度良く移載することができる。   That is, in order to move the substrate suction plate 341 in the X-axis direction and the θ-axis direction via the camera (wide viewing angle) for recognizing the alignment mark and the posture control module 342 to the suction head 301 of the substrate transfer device 13. The suction head X-axis table and the suction head θ-axis table are further provided. Then, the camera captures an alignment mark of the substrate W placed on the pallet P of the material stocker 202, and based on the image recognition result, during the transfer from the material stocker 202 to the set table 122, The set position of the substrate W before the drawing process sucked on the substrate suction plate 341 is corrected by the suction head X-axis table and the suction head θ-axis table. After the drawing processing, drawing drawn on the substrate suction plate 341 by the suction head X-axis table and suction head θ-axis table during transfer from the set table 122 to the material removal stocker 203 based on the previous image recognition result. The set position of the substrate W after processing is returned to the original position. In this case as well, the substrate W can be transferred with high accuracy without detecting the position of the material removal stocker 203 or its pallet P only by storing the original position of the substrate W.

なお、この場合、セットテーブル122に移載された基板Wに対し、プリアライメントカメラ152による画像認識結果に基づいて、位置補正処理(プリアライメント)を行うことを省略することができる。   In this case, it is possible to omit performing position correction processing (pre-alignment) on the substrate W transferred to the set table 122 based on the image recognition result by the pre-alignment camera 152.

次に、本実施形態の描画装置11を用いて製造される電気光学装置(フラットパネルディスプレイ)として、カラーフィルタ、液晶表示装置、有機EL装置、プラズマディスプレイ(PDP装置)、電子放出装置(FED装置、SED装置)、さらにこれら表示装置に形成されてなるアクティブマトリクス基板等を例に、これらの構造およびその製造方法について説明する。なお、アクティブマトリクス基板とは、薄膜トランジスタ、および薄膜トランジスタに電気的に接続するソース線、データ線が形成された基板をいう。   Next, as an electro-optical device (flat panel display) manufactured using the drawing device 11 of the present embodiment, a color filter, a liquid crystal display device, an organic EL device, a plasma display (PDP device), an electron emission device (FED device). The structure and the manufacturing method thereof will be described by taking an active matrix substrate and the like formed on these display devices as examples. Note that an active matrix substrate refers to a substrate on which a thin film transistor, a source line electrically connected to the thin film transistor, and a data line are formed.

まず、液晶表示装置や有機EL装置等に組み込まれるカラーフィルタの製造方法について説明する。図16は、カラーフィルタの製造工程を示すフローチャート、図17は、製造工程順に示した本実施形態のカラーフィルタ500(フィルタ基体500A)の模式断面図である。
まず、ブラックマトリクス形成工程(S101)では、図17(a)に示すように、基板(W)501上にブラックマトリクス502を形成する。ブラックマトリクス502は、金属クロム、金属クロムと酸化クロムの積層体、または樹脂ブラック等により形成される。金属薄膜からなるブラックマトリクス502を形成するには、スパッタ法や蒸着法等を用いることができる。また、樹脂薄膜からなるブラックマトリクス502を形成する場合には、グラビア印刷法、フォトレジスト法、熱転写法等を用いることができる。
First, a method for manufacturing a color filter incorporated in a liquid crystal display device, an organic EL device or the like will be described. FIG. 16 is a flowchart showing the manufacturing process of the color filter, and FIG. 17 is a schematic cross-sectional view of the color filter 500 (filter base body 500A) of this embodiment shown in the order of the manufacturing process.
First, in the black matrix forming step (S101), a black matrix 502 is formed on a substrate (W) 501 as shown in FIG. The black matrix 502 is formed of metal chromium, a laminate of metal chromium and chromium oxide, resin black, or the like. A sputtering method, a vapor deposition method, or the like can be used to form the black matrix 502 made of a metal thin film. Further, when forming the black matrix 502 made of a resin thin film, a gravure printing method, a photoresist method, a thermal transfer method, or the like can be used.

続いて、バンク形成工程(S102)において、ブラックマトリクス502上に重畳する状態でバンク503を形成する。即ち、まず図17(b)に示すように、基板501およびブラックマトリクス502を覆うようにネガ型の透明な感光性樹脂からなるレジスト層504を形成する。そして、その上面をマトリクスパターン形状に形成されたマスクフィルム505で被覆した状態で露光処理を行う。
さらに、図17(c)に示すように、レジスト層504の未露光部分をエッチング処理することによりレジスト層504をパターニングして、バンク503を形成する。なお、樹脂ブラックによりブラックマトリクスを形成する場合は、ブラックマトリクスとバンクとを兼用することが可能となる。
このバンク503とその下のブラックマトリクス502は、各画素領域507aを区画する区画壁部507bとなり、後の着色層形成工程において機能液滴吐出ヘッド141により着色層(成膜部)508R、508G、508Bを形成する際に機能液滴の着弾領域を規定する。
Subsequently, in a bank formation step (S102), a bank 503 is formed in a state of being superimposed on the black matrix 502. That is, first, as shown in FIG. 17B, a resist layer 504 made of a negative transparent photosensitive resin is formed so as to cover the substrate 501 and the black matrix 502. Then, an exposure process is performed with the upper surface covered with a mask film 505 formed in a matrix pattern shape.
Further, as shown in FIG. 17C, the resist layer 504 is patterned by etching an unexposed portion of the resist layer 504 to form a bank 503. When the black matrix is formed from resin black, it is possible to use both the black matrix and the bank.
The bank 503 and the black matrix 502 below the partition wall 507b partitioning each pixel region 507a, and in the subsequent colored layer forming step, the colored liquid layers (film forming portions) 508R, 508G, When forming 508B, the landing area of the functional droplet is defined.

以上のブラックマトリクス形成工程およびバンク形成工程を経ることにより、上記フィルタ基体500Aが得られる。
なお、本実施形態においては、バンク503の材料として、塗膜表面が疎液(疎水)性となる樹脂材料を用いている。そして、基板(ガラス基板)501の表面が親液(親水)性であるので、後述する着色層形成工程においてバンク503(区画壁部507b)に囲まれた各画素領域507a内への液滴の着弾位置のばらつきを自動補正できる。
The filter substrate 500A is obtained through the above black matrix forming step and bank forming step.
In the present embodiment, as the material for the bank 503, a resin material whose surface is lyophobic (hydrophobic) is used. Since the surface of the substrate (glass substrate) 501 is lyophilic (hydrophilic), the droplets into each pixel region 507a surrounded by the bank 503 (partition wall portion 507b) in the colored layer forming step described later. Variations in landing position can be automatically corrected.

次に、着色層形成工程(S103)では、図17(d)に示すように、機能液滴吐出ヘッド141によって機能液滴を吐出して区画壁部507bで囲まれた各画素領域507a内に着弾させる。この場合、機能液滴吐出ヘッド141を用いて、R・G・Bの3色の機能液(フィルタ材料)を導入して、機能液滴の吐出を行う。なお、R・G・Bの3色の配列パターンとしては、ストライプ配列、モザイク配列およびデルタ配列等がある。   Next, in the colored layer forming step (S103), as shown in FIG. 17 (d), functional droplets are ejected by the functional droplet ejection head 141 to enter each pixel region 507a surrounded by the partition wall portion 507b. Let it land. In this case, the functional liquid droplet ejection head 141 is used to introduce functional liquids (filter materials) of three colors of R, G, and B to eject functional liquid droplets. Note that the three-color arrangement pattern of R, G, and B includes a stripe arrangement, a mosaic arrangement, and a delta arrangement.

その後、乾燥処理(加熱等の処理)を経て機能液を定着させ、3色の着色層508R、508G、508Bを形成する。着色層508R、508G、508Bを形成したならば、保護膜形成工程(S104)に移り、図17(e)に示すように、基板501、区画壁部507b、および着色層508R、508G、508Bの上面を覆うように保護膜509を形成する。
即ち、基板501の着色層508R、508G、508Bが形成されている面全体に保護膜用塗布液が吐出された後、乾燥処理を経て保護膜509が形成される。
そして、保護膜509を形成した後、カラーフィルタ500は、次工程の透明電極となるITO(Indium Tin Oxide)などの膜付け工程に移行する。
Thereafter, the functional liquid is fixed through a drying process (a process such as heating), and three colored layers 508R, 508G, and 508B are formed. When the colored layers 508R, 508G, and 508B are formed, the process proceeds to the protective film forming step (S104), and as shown in FIG. 17E, the substrate 501, the partition wall portion 507b, and the colored layers 508R, 508G, and 508B are moved. A protective film 509 is formed so as to cover the upper surface.
That is, after the protective film coating liquid is discharged over the entire surface of the substrate 501 where the colored layers 508R, 508G, and 508B are formed, the protective film 509 is formed through a drying process.
Then, after forming the protective film 509, the color filter 500 moves to a film forming process such as ITO (Indium Tin Oxide) which becomes a transparent electrode in the next process.

図18は、上記のカラーフィルタ500を用いた液晶表示装置の一例としてのパッシブマトリックス型液晶装置(液晶装置)の概略構成を示す要部断面図である。この液晶装置520に、液晶駆動用IC、バックライト、支持体などの付帯要素を装着することによって、最終製品としての透過型液晶表示装置が得られる。なお、カラーフィルタ500は図17に示したものと同一であるので、対応する部位には同一の符号を付し、その説明は省略する。   FIG. 18 is a cross-sectional view of a principal part showing a schematic configuration of a passive matrix liquid crystal device (liquid crystal device) as an example of a liquid crystal display device using the color filter 500 described above. By attaching auxiliary elements such as a liquid crystal driving IC, a backlight, and a support to the liquid crystal device 520, a transmissive liquid crystal display device as a final product can be obtained. Since the color filter 500 is the same as that shown in FIG. 17, the corresponding parts are denoted by the same reference numerals and description thereof is omitted.

この液晶装置520は、カラーフィルタ500、ガラス基板等からなる対向基板521、および、これらの間に挟持されたSTN(Super Twisted Nematic)液晶組成物からなる液晶層522により概略構成されており、カラーフィルタ500を図中上側(観測者側)に配置している。
なお、図示していないが、対向基板521およびカラーフィルタ500の外面(液晶層522側とは反対側の面)には偏光板がそれぞれ配設され、また対向基板521側に位置する偏光板の外側には、バックライトが配設されている。
The liquid crystal device 520 is roughly configured by a color filter 500, a counter substrate 521 made of a glass substrate, and a liquid crystal layer 522 made of an STN (Super Twisted Nematic) liquid crystal composition sandwiched between them, The filter 500 is arranged on the upper side (observer side) in the figure.
Although not shown, polarizing plates are provided on the outer surfaces of the counter substrate 521 and the color filter 500 (surfaces opposite to the liquid crystal layer 522 side), and the polarizing plates located on the counter substrate 521 side are also provided. A backlight is disposed outside.

カラーフィルタ500の保護膜509上(液晶層側)には、図18において左右方向に長尺な短冊状の第1電極523が所定の間隔で複数形成されており、この第1電極523のカラーフィルタ500側とは反対側の面を覆うように第1配向膜524が形成されている。
一方、対向基板521におけるカラーフィルタ500と対向する面には、カラーフィルタ500の第1電極523と直交する方向に長尺な短冊状の第2電極526が所定の間隔で複数形成され、この第2電極526の液晶層522側の面を覆うように第2配向膜527が形成されている。これらの第1電極523および第2電極526は、ITOなどの透明導電材料により形成されている。
On the protective film 509 of the color filter 500 (on the liquid crystal layer side), a plurality of strip-shaped first electrodes 523 elongated in the left-right direction in FIG. 18 are formed at predetermined intervals. The color of the first electrode 523 A first alignment film 524 is formed so as to cover the surface opposite to the filter 500 side.
On the other hand, a plurality of strip-shaped second electrodes 526 elongated in a direction orthogonal to the first electrode 523 of the color filter 500 are formed on the surface of the counter substrate 521 facing the color filter 500 at a predetermined interval. A second alignment film 527 is formed so as to cover the surface of the two electrodes 526 on the liquid crystal layer 522 side. The first electrode 523 and the second electrode 526 are made of a transparent conductive material such as ITO.

液晶層522内に設けられたスペーサ528は、液晶層522の厚さ(セルギャップ)を一定に保持するための部材である。また、シール材529は液晶層522内の液晶組成物が外部へ漏出するのを防止するための部材である。なお、第1電極523の一端部は引き回し配線523aとしてシール材529の外側まで延在している。
そして、第1電極523と第2電極526とが交差する部分が画素であり、この画素となる部分に、カラーフィルタ500の着色層508R、508G、508Bが位置するように構成されている。
The spacer 528 provided in the liquid crystal layer 522 is a member for keeping the thickness (cell gap) of the liquid crystal layer 522 constant. The sealing material 529 is a member for preventing the liquid crystal composition in the liquid crystal layer 522 from leaking to the outside. Note that one end of the first electrode 523 extends to the outside of the sealing material 529 as a lead-out wiring 523a.
A portion where the first electrode 523 and the second electrode 526 intersect with each other is a pixel, and the color layers 508R, 508G, and 508B of the color filter 500 are located in the portion that becomes the pixel.

通常の製造工程では、カラーフィルタ500に、第1電極523のパターニングおよび第1配向膜524の塗布を行ってカラーフィルタ500側の部分を作成すると共に、これとは別に対向基板521に、第2電極526のパターニングおよび第2配向膜527の塗布を行って対向基板521側の部分を作成する。その後、対向基板521側の部分にスペーサ528およびシール材529を作り込み、この状態でカラーフィルタ500側の部分を貼り合わせる。次いで、シール材529の注入口から液晶層522を構成する液晶を注入し、注入口を閉止する。その後、両偏光板およびバックライトを積層する。   In a normal manufacturing process, patterning of the first electrode 523 and application of the first alignment film 524 are performed on the color filter 500 to create a portion on the color filter 500 side. Patterning of the electrode 526 and application of the second alignment film 527 are performed to create a portion on the counter substrate 521 side. Thereafter, a spacer 528 and a sealing material 529 are formed in the portion on the counter substrate 521 side, and the portion on the color filter 500 side is bonded in this state. Next, liquid crystal constituting the liquid crystal layer 522 is injected from the inlet of the sealing material 529, and the inlet is closed. Thereafter, both polarizing plates and the backlight are laminated.

実施形態の描画装置11は、例えば上記のセルギャップを構成するスペーサ材料(機能液)を塗布すると共に、対向基板521側の部分にカラーフィルタ500側の部分を貼り合わせる前に、シール材529で囲んだ領域に液晶(機能液)を均一に塗布することが可能である。また、上記のシール材529の印刷を、機能液滴吐出ヘッド141で行うことも可能である。さらに、第1・第2両配向膜524,527の塗布を機能液滴吐出ヘッド141で行うことも可能である。   The drawing apparatus 11 according to the embodiment applies, for example, the spacer material (functional liquid) that constitutes the cell gap described above, and before the portion on the color filter 500 side is bonded to the portion on the counter substrate 521 side, the sealing material 529 is used. Liquid crystal (functional liquid) can be uniformly applied to the enclosed area. In addition, the above-described sealing material 529 can be printed by the functional liquid droplet ejection head 141. Further, the first and second alignment films 524 and 527 can be applied by the functional liquid droplet ejection head 141.

図19は、本実施形態において製造したカラーフィルタ500を用いた液晶装置の第2の例の概略構成を示す要部断面図である。
この液晶装置530が上記液晶装置520と大きく異なる点は、カラーフィルタ500を図中下側(観測者側とは反対側)に配置した点である。
この液晶装置530は、カラーフィルタ500とガラス基板等からなる対向基板531との間にSTN液晶からなる液晶層532が挟持されて概略構成されている。なお、図示していないが、対向基板531およびカラーフィルタ500の外面には偏光板等がそれぞれ配設されている。
FIG. 19 is a cross-sectional view of an essential part showing a schematic configuration of a second example of a liquid crystal device using the color filter 500 manufactured in the present embodiment.
The liquid crystal device 530 is significantly different from the liquid crystal device 520 in that the color filter 500 is arranged on the lower side (the side opposite to the observer side) in the figure.
The liquid crystal device 530 is generally configured by sandwiching a liquid crystal layer 532 made of STN liquid crystal between a color filter 500 and a counter substrate 531 made of a glass substrate or the like. Although not shown, polarizing plates and the like are provided on the outer surfaces of the counter substrate 531 and the color filter 500, respectively.

カラーフィルタ500の保護膜509上(液晶層532側)には、図中奥行き方向に長尺な短冊状の第1電極533が所定の間隔で複数形成されており、この第1電極533の液晶層532側の面を覆うように第1配向膜534が形成されている。
対向基板531のカラーフィルタ500と対向する面上には、カラーフィルタ500側の第1電極533と直交する方向に延在する複数の短冊状の第2電極536が所定の間隔で形成され、この第2電極536の液晶層532側の面を覆うように第2配向膜537が形成されている。
On the protective film 509 of the color filter 500 (on the liquid crystal layer 532 side), a plurality of strip-shaped first electrodes 533 elongated in the depth direction in the figure are formed at predetermined intervals, and the liquid crystal of the first electrodes 533 is formed. A first alignment film 534 is formed so as to cover the surface on the layer 532 side.
A plurality of strip-shaped second electrodes 536 extending in a direction orthogonal to the first electrode 533 on the color filter 500 side are formed on the surface of the counter substrate 531 facing the color filter 500 at a predetermined interval. A second alignment film 537 is formed so as to cover the surface of the second electrode 536 on the liquid crystal layer 532 side.

液晶層532には、この液晶層532の厚さを一定に保持するためのスペーサ538と、液晶層532内の液晶組成物が外部へ漏出するのを防止するためのシール材539が設けられている。
そして、上記した液晶装置520と同様に、第1電極533と第2電極536との交差する部分が画素であり、この画素となる部位に、カラーフィルタ500の着色層508R、508G、508Bが位置するように構成されている。
The liquid crystal layer 532 is provided with a spacer 538 for keeping the thickness of the liquid crystal layer 532 constant and a sealing material 539 for preventing the liquid crystal composition in the liquid crystal layer 532 from leaking to the outside. Yes.
Similarly to the liquid crystal device 520 described above, a portion where the first electrode 533 and the second electrode 536 intersect with each other is a pixel, and the colored layers 508R, 508G, and 508B of the color filter 500 are located at the portion that becomes the pixel. Is configured to do.

図20は、本発明を適用したカラーフィルタ500を用いて液晶装置を構成した第3の例を示したもので、透過型のTFT(Thin Film Transistor)型液晶装置の概略構成を示す分解斜視図である。
この液晶装置550は、カラーフィルタ500を図中上側(観測者側)に配置したものである。
FIG. 20 shows a third example in which a liquid crystal device is configured using a color filter 500 to which the present invention is applied, and is an exploded perspective view showing a schematic configuration of a transmissive TFT (Thin Film Transistor) type liquid crystal device. It is.
In the liquid crystal device 550, the color filter 500 is arranged on the upper side (observer side) in the figure.

この液晶装置550は、カラーフィルタ500と、これに対向するように配置された対向基板551と、これらの間に挟持された図示しない液晶層と、カラーフィルタ500の上面側(観測者側)に配置された偏光板555と、対向基板551の下面側に配設された偏光板(図示せず)とにより概略構成されている。
カラーフィルタ500の保護膜509の表面(対向基板551側の面)には液晶駆動用の電極556が形成されている。この電極556は、ITO等の透明導電材料からなり、後述の画素電極560が形成される領域全体を覆う全面電極となっている。また、この電極556の画素電極560とは反対側の面を覆った状態で配向膜557が設けられている。
The liquid crystal device 550 includes a color filter 500, a counter substrate 551 disposed so as to face the color filter 500, a liquid crystal layer (not shown) sandwiched therebetween, and an upper surface side (observer side) of the color filter 500. The polarizing plate 555 and the polarizing plate (not shown) arranged on the lower surface side of the counter substrate 551 are roughly configured.
A liquid crystal driving electrode 556 is formed on the surface of the protective film 509 of the color filter 500 (the surface on the counter substrate 551 side). The electrode 556 is made of a transparent conductive material such as ITO, and is a full surface electrode that covers the entire region where a pixel electrode 560 described later is formed. An alignment film 557 is provided so as to cover the surface of the electrode 556 opposite to the pixel electrode 560.

対向基板551のカラーフィルタ500と対向する面には絶縁層558が形成されており、この絶縁層558上には、走査線561および信号線562が互いに直交する状態で形成されている。そして、これらの走査線561と信号線562とに囲まれた領域内には画素電極560が形成されている。なお、実際の液晶装置では、画素電極560上に配向膜が設けられるが、図示を省略している。   An insulating layer 558 is formed on the surface of the counter substrate 551 facing the color filter 500, and the scanning lines 561 and the signal lines 562 are formed on the insulating layer 558 in a state of being orthogonal to each other. A pixel electrode 560 is formed in a region surrounded by the scanning lines 561 and the signal lines 562. In an actual liquid crystal device, an alignment film is provided on the pixel electrode 560, but the illustration is omitted.

また、画素電極560の切欠部と走査線561と信号線562とに囲まれた部分には、ソース電極、ドレイン電極、半導体、およびゲート電極とを具備する薄膜トランジスタ563が組み込まれて構成されている。そして、走査線561と信号線562に対する信号の印加によって薄膜トランジスタ563をオン・オフして画素電極560への通電制御を行うことができるように構成されている。   In addition, a thin film transistor 563 including a source electrode, a drain electrode, a semiconductor, and a gate electrode is incorporated in a portion surrounded by the cutout portion of the pixel electrode 560 and the scanning line 561 and the signal line 562. . The thin film transistor 563 is turned on / off by application of signals to the scanning line 561 and the signal line 562 so that energization control to the pixel electrode 560 can be performed.

なお、上記の各例の液晶装置520,530,550は、透過型の構成としたが、反射層あるいは半透過反射層を設けて、反射型の液晶装置あるいは半透過反射型の液晶装置とすることもできる。   Note that the liquid crystal devices 520, 530, and 550 in the above examples are transmissive, but a reflective liquid crystal device or a transflective liquid crystal device is provided by providing a reflective layer or a transflective layer. You can also

次に、図21は、有機EL装置の表示領域(以下、単に表示装置600と称する)の要部断面図である。   Next, FIG. 21 is a cross-sectional view of a main part of a display region (hereinafter simply referred to as a display device 600) of the organic EL device.

この表示装置600は、基板(W)601上に、回路素子部602、発光素子部603および陰極604が積層された状態で概略構成されている。
この表示装置600においては、発光素子部603から基板601側に発した光が、回路素子部602および基板601を透過して観測者側に出射されると共に、発光素子部603から基板601の反対側に発した光が陰極604により反射された後、回路素子部602および基板601を透過して観測者側に出射されるようになっている。
The display device 600 is schematically configured with a circuit element portion 602, a light emitting element portion 603, and a cathode 604 laminated on a substrate (W) 601.
In the display device 600, light emitted from the light emitting element portion 603 to the substrate 601 side is transmitted through the circuit element portion 602 and the substrate 601 and emitted to the observer side, and the light emitting element portion 603 is opposite to the substrate 601. After the light emitted to the side is reflected by the cathode 604, the light passes through the circuit element portion 602 and the substrate 601 and is emitted to the observer side.

回路素子部602と基板601との間にはシリコン酸化膜からなる下地保護膜606が形成され、この下地保護膜606上(発光素子部603側)に多結晶シリコンからなる島状の半導体膜607が形成されている。この半導体膜607の左右の領域には、ソース領域607aおよびドレイン領域607bが高濃度陽イオン打ち込みによりそれぞれ形成されている。そして陽イオンが打ち込まれない中央部がチャネル領域607cとなっている。   A base protective film 606 made of a silicon oxide film is formed between the circuit element portion 602 and the substrate 601, and an island-shaped semiconductor film 607 made of polycrystalline silicon is formed on the base protective film 606 (on the light emitting element portion 603 side). Is formed. In the left and right regions of the semiconductor film 607, a source region 607a and a drain region 607b are formed by high concentration cation implantation, respectively. A central portion where no positive ions are implanted is a channel region 607c.

また、回路素子部602には、下地保護膜606および半導体膜607を覆う透明なゲート絶縁膜608が形成され、このゲート絶縁膜608上の半導体膜607のチャネル領域607cに対応する位置には、例えばAl、Mo、Ta、Ti、W等から構成されるゲート電極609が形成されている。このゲート電極609およびゲート絶縁膜608上には、透明な第1層間絶縁膜611aと第2層間絶縁膜611bが形成されている。また、第1、第2層間絶縁膜611a、611bを貫通して、半導体膜607のソース領域607a、ドレイン領域607bにそれぞれ連通するコンタクトホール612a,612bが形成されている。   In the circuit element portion 602, a transparent gate insulating film 608 covering the base protective film 606 and the semiconductor film 607 is formed, and a position corresponding to the channel region 607c of the semiconductor film 607 on the gate insulating film 608 is formed. For example, a gate electrode 609 made of Al, Mo, Ta, Ti, W or the like is formed. On the gate electrode 609 and the gate insulating film 608, a transparent first interlayer insulating film 611a and a second interlayer insulating film 611b are formed. Further, contact holes 612a and 612b are formed through the first and second interlayer insulating films 611a and 611b and communicating with the source region 607a and the drain region 607b of the semiconductor film 607, respectively.

そして、第2層間絶縁膜611b上には、ITO等からなる透明な画素電極613が所定の形状にパターニングされて形成され、この画素電極613は、コンタクトホール612aを通じてソース領域607aに接続されている。
また、第1層間絶縁膜611a上には電源線614が配設されており、この電源線614は、コンタクトホール612bを通じてドレイン領域607bに接続されている。
A transparent pixel electrode 613 made of ITO or the like is patterned and formed in a predetermined shape on the second interlayer insulating film 611b, and the pixel electrode 613 is connected to the source region 607a through the contact hole 612a. .
A power supply line 614 is disposed on the first interlayer insulating film 611a, and the power supply line 614 is connected to the drain region 607b through the contact hole 612b.

このように、回路素子部602には、各画素電極613に接続された駆動用の薄膜トランジスタ615がそれぞれ形成されている。   Thus, the driving thin film transistors 615 connected to the pixel electrodes 613 are formed in the circuit element portion 602, respectively.

上記発光素子部603は、複数の画素電極613上の各々に積層された機能層617と、各画素電極613および機能層617の間に備えられて各機能層617を区画するバンク部618とにより概略構成されている。
これら画素電極613、機能層617、および、機能層617上に配設された陰極604によって発光素子が構成されている。なお、画素電極613は、平面視略矩形状にパターニングされて形成されており、各画素電極613の間にバンク部618が形成されている。
The light emitting element portion 603 includes a functional layer 617 stacked on each of the plurality of pixel electrodes 613, and a bank portion 618 provided between each pixel electrode 613 and the functional layer 617 to partition each functional layer 617. It is roughly structured.
The pixel electrode 613, the functional layer 617, and the cathode 604 provided on the functional layer 617 constitute a light emitting element. Note that the pixel electrode 613 is formed by patterning in a substantially rectangular shape in plan view, and a bank portion 618 is formed between the pixel electrodes 613.

バンク部618は、例えばSiO、SiO2、TiO2等の無機材料により形成される無機物バンク層618a(第1バンク層)と、この無機物バンク層618a上に積層され、アクリル樹脂、ポリイミド樹脂等の耐熱性、耐溶媒性に優れたレジストにより形成される断面台形状の有機物バンク層618b(第2バンク層)とにより構成されている。このバンク部618の一部は、画素電極613の周縁部上に乗上げた状態で形成されている。
そして、各バンク部618の間には、画素電極613に対して上方に向けて次第に拡開した開口部619が形成されている。
The bank unit 618 is laminated on the inorganic bank layer 618a (first bank layer) 618a formed of an inorganic material such as SiO, SiO 2 , TiO 2, and the like, and is made of an acrylic resin, a polyimide resin, or the like. It is composed of an organic bank layer 618b (second bank layer) having a trapezoidal cross section formed of a resist having excellent heat resistance and solvent resistance. A part of the bank unit 618 is formed on the peripheral edge of the pixel electrode 613.
An opening 619 that gradually expands upward with respect to the pixel electrode 613 is formed between the bank portions 618.

上記機能層617は、開口部619内において画素電極613上に積層状態で形成された正孔注入/輸送層617aと、この正孔注入/輸送層617a上に形成された発光層617bとにより構成されている。なお、この発光層617bに隣接してその他の機能を有する他の機能層をさらに形成しても良い。例えば、電子輸送層を形成することも可能である。
正孔注入/輸送層617aは、画素電極613側から正孔を輸送して発光層617bに注入する機能を有する。この正孔注入/輸送層617aは、正孔注入/輸送層形成材料を含む第1組成物(機能液)を吐出することで形成される。正孔注入/輸送層形成材料としては、公知の材料を用いる。
The functional layer 617 includes a hole injection / transport layer 617a formed in a stacked state on the pixel electrode 613 in the opening 619, and a light emitting layer 617b formed on the hole injection / transport layer 617a. Has been. Note that another functional layer having other functions may be further formed adjacent to the light emitting layer 617b. For example, it is possible to form an electron transport layer.
The hole injection / transport layer 617a has a function of transporting holes from the pixel electrode 613 side and injecting them into the light emitting layer 617b. The hole injection / transport layer 617a is formed by discharging a first composition (functional liquid) containing a hole injection / transport layer forming material. A known material is used as the hole injection / transport layer forming material.

発光層617bは、赤色(R)、緑色(G)、または青色(B)のいずれかに発光するもので、発光層形成材料(発光材料)を含む第2組成物(機能液)を吐出することで形成される。第2組成物の溶媒(非極性溶媒)としては、正孔注入/輸送層617aに対して不溶な公知の材料を用いることが好ましく、このような非極性溶媒を発光層617bの第2組成物に用いることにより、正孔注入/輸送層617aを再溶解させることなく発光層617bを形成することができる。   The light emitting layer 617b emits light in red (R), green (G), or blue (B), and discharges a second composition (functional liquid) containing a light emitting layer forming material (light emitting material). Is formed. As the solvent (nonpolar solvent) of the second composition, a known material that is insoluble in the hole injection / transport layer 617a is preferably used, and such a nonpolar solvent is used as the second composition of the light emitting layer 617b. By using the light emitting layer 617b, the light emitting layer 617b can be formed without re-dissolving the hole injection / transport layer 617a.

そして、発光層617bでは、正孔注入/輸送層617aから注入された正孔と、陰極604から注入される電子が発光層で再結合して発光するように構成されている。   The light emitting layer 617b is configured such that the holes injected from the hole injection / transport layer 617a and the electrons injected from the cathode 604 are recombined in the light emitting layer to emit light.

陰極604は、発光素子部603の全面を覆う状態で形成されており、画素電極613と対になって機能層617に電流を流す役割を果たす。なお、この陰極604の上部には図示しない封止部材が配置される。   The cathode 604 is formed so as to cover the entire surface of the light emitting element portion 603, and plays a role of flowing current to the functional layer 617 in a pair with the pixel electrode 613. Note that a sealing member (not shown) is disposed on the cathode 604.

次に、上記の表示装置600の製造工程を図22〜図30を参照して説明する。
この表示装置600は、図22に示すように、バンク部形成工程(S111)、表面処理工程(S112)、正孔注入/輸送層形成工程(S113)、発光層形成工程(S114)、および対向電極形成工程(S115)を経て製造される。なお、製造工程は例示するものに限られるものではなく必要に応じてその他の工程が除かれる場合、また追加される場合もある。
Next, a manufacturing process of the display device 600 will be described with reference to FIGS.
As shown in FIG. 22, the display device 600 includes a bank part forming step (S111), a surface treatment step (S112), a hole injection / transport layer forming step (S113), a light emitting layer forming step (S114), It is manufactured through an electrode formation step (S115). In addition, a manufacturing process is not restricted to what is illustrated, and when other processes are removed as needed, it may be added.

まず、バンク部形成工程(S111)では、図23に示すように、第2層間絶縁膜611b上に無機物バンク層618aを形成する。この無機物バンク層618aは、形成位置に無機物膜を形成した後、この無機物膜をフォトリソグラフィ技術等によりパターニングすることにより形成される。このとき、無機物バンク層618aの一部は画素電極613の周縁部と重なるように形成される。
無機物バンク層618aを形成したならば、図24に示すように、無機物バンク層618a上に有機物バンク層618bを形成する。この有機物バンク層618bも無機物バンク層618aと同様にフォトリソグラフィ技術等によりパターニングして形成される。
このようにしてバンク部618が形成される。また、これに伴い、各バンク部618間には、画素電極613に対して上方に開口した開口部619が形成される。この開口部619は、画素領域を規定する。
First, in the bank part forming step (S111), as shown in FIG. 23, an inorganic bank layer 618a is formed on the second interlayer insulating film 611b. The inorganic bank layer 618a is formed by forming an inorganic film at a formation position and then patterning the inorganic film by a photolithography technique or the like. At this time, a part of the inorganic bank layer 618 a is formed so as to overlap with the peripheral edge of the pixel electrode 613.
When the inorganic bank layer 618a is formed, the organic bank layer 618b is formed on the inorganic bank layer 618a as shown in FIG. The organic bank layer 618b is also formed by patterning using a photolithography technique or the like in the same manner as the inorganic bank layer 618a.
In this way, the bank portion 618 is formed. Accordingly, an opening 619 opening upward with respect to the pixel electrode 613 is formed between the bank portions 618. The opening 619 defines a pixel region.

表面処理工程(S112)では、親液化処理および撥液化処理が行われる。親液化処理を施す領域は、無機物バンク層618aの第1積層部618aaおよび画素電極613の電極面613aであり、これらの領域は、例えば酸素を処理ガスとするプラズマ処理によって親液性に表面処理される。このプラズマ処理は、画素電極613であるITOの洗浄等も兼ねている。
また、撥液化処理は、有機物バンク層618bの壁面618sおよび有機物バンク層618bの上面618tに施され、例えば四フッ化メタンを処理ガスとするプラズマ処理によって表面がフッ化処理(撥液性に処理)される。
この表面処理工程を行うことにより、機能液滴吐出ヘッド141を用いて機能層617を形成する際に、機能液滴を画素領域に、より確実に着弾させることができ、また、画素領域に着弾した機能液滴が開口部619から溢れ出るのを防止することが可能となる。
In the surface treatment step (S112), a lyophilic process and a lyophobic process are performed. The region to be subjected to the lyophilic treatment is the first laminated portion 618aa of the inorganic bank layer 618a and the electrode surface 613a of the pixel electrode 613. These regions are made lyophilic by plasma treatment using, for example, oxygen as a treatment gas. Is done. This plasma treatment also serves to clean the ITO that is the pixel electrode 613.
In addition, the lyophobic treatment is performed on the wall surface 618s of the organic bank layer 618b and the upper surface 618t of the organic bank layer 618b, and the surface is fluorinated (treated to be liquid repellent) by plasma treatment using, for example, tetrafluoromethane. )
By performing this surface treatment process, when the functional layer 617 is formed using the functional liquid droplet ejection head 141, the functional liquid droplets can be landed more reliably on the pixel area. It is possible to prevent the functional droplets from overflowing from the opening 619.

そして、以上の工程を経ることにより、表示装置基体600Aが得られる。この表示装置基体600Aは、図5に示した描画装置11のセットテーブル122に載置され、以下の正孔注入/輸送層形成工程(S113)および発光層形成工程(S114)が行われる。   Then, the display device base 600A is obtained through the above steps. The display device base 600A is placed on the set table 122 of the drawing device 11 shown in FIG. 5, and the following hole injection / transport layer forming step (S113) and light emitting layer forming step (S114) are performed.

図25に示すように、正孔注入/輸送層形成工程(S113)では、機能液滴吐出ヘッド141から正孔注入/輸送層形成材料を含む第1組成物を画素領域である各開口部619内に吐出する。その後、図26に示すように、乾燥処理および熱処理を行い、第1組成物に含まれる極性溶媒を蒸発させ、画素電極(電極面613a)613上に正孔注入/輸送層617aを形成する。   As shown in FIG. 25, in the hole injection / transport layer forming step (S113), the first composition containing the hole injection / transport layer forming material is removed from the functional droplet discharge head 141 into each opening 619 that is a pixel region. Discharge inside. Thereafter, as shown in FIG. 26, a drying treatment and a heat treatment are performed to evaporate the polar solvent contained in the first composition, thereby forming a hole injection / transport layer 617a on the pixel electrode (electrode surface 613a) 613.

次に発光層形成工程(S114)について説明する。この発光層形成工程では、上述したように、正孔注入/輸送層617aの再溶解を防止するために、発光層形成の際に用いる第2組成物の溶媒として、正孔注入/輸送層617aに対して不溶な非極性溶媒を用いる。
しかしその一方で、正孔注入/輸送層617aは、非極性溶媒に対する親和性が低いため、非極性溶媒を含む第2組成物を正孔注入/輸送層617a上に吐出しても、正孔注入/輸送層617aと発光層617bとを密着させることができなくなるか、あるいは発光層617bを均一に塗布できない虞がある。
そこで、非極性溶媒並びに発光層形成材料に対する正孔注入/輸送層617aの表面の親和性を高めるために、発光層形成の前に表面処理(表面改質処理)を行うことが好ましい。この表面処理は、発光層形成の際に用いる第2組成物の非極性溶媒と同一溶媒またはこれに類する溶媒である表面改質材を、正孔注入/輸送層617a上に塗布し、これを乾燥させることにより行う。
このような処理を施すことで、正孔注入/輸送層617aの表面が非極性溶媒になじみやすくなり、この後の工程で、発光層形成材料を含む第2組成物を正孔注入/輸送層617aに均一に塗布することができる。
Next, the light emitting layer forming step (S114) will be described. In this light emitting layer forming step, as described above, in order to prevent re-dissolution of the hole injection / transport layer 617a, the hole injection / transport layer 617a is used as a solvent for the second composition used in forming the light emitting layer. A non-polar solvent insoluble in.
However, since the hole injection / transport layer 617a has a low affinity for the nonpolar solvent, the hole injection / transport layer 617a has a low affinity even if the second composition containing the nonpolar solvent is discharged onto the hole injection / transport layer 617a. There is a possibility that the injection / transport layer 617a and the light emitting layer 617b cannot be adhered to each other, or the light emitting layer 617b cannot be applied uniformly.
Therefore, in order to increase the surface affinity of the hole injection / transport layer 617a with respect to the nonpolar solvent and the light emitting layer forming material, it is preferable to perform surface treatment (surface modification treatment) before forming the light emitting layer. In this surface treatment, a surface modifying material which is the same solvent as the non-polar solvent of the second composition used in the formation of the light emitting layer or a similar solvent is applied on the hole injection / transport layer 617a, and this is applied. This is done by drying.
By performing such treatment, the surface of the hole injection / transport layer 617a is easily adapted to the nonpolar solvent. In the subsequent step, the second composition containing the light emitting layer forming material is added to the hole injection / transport layer. It can be uniformly applied to 617a.

そして次に、図27に示すように、各色のうちのいずれか(図27の例では青色(B))に対応する発光層形成材料を含有する第2組成物を機能液滴として画素領域(開口部619)内に所定量打ち込む。画素領域内に打ち込まれた第2組成物は、正孔注入/輸送層617a上に広がって開口部619内に満たされる。なお、万一、第2組成物が画素領域から外れてバンク部618の上面618t上に着弾した場合でも、この上面618tは、上述したように撥液処理が施されているので、第2組成物が開口部619内に転がり込み易くなっている。   Then, as shown in FIG. 27, the pixel composition (second liquid composition containing a light emitting layer forming material corresponding to one of the colors (blue (B) in the example of FIG. 27)) is used as a functional droplet. A predetermined amount is driven into the opening 619). The second composition driven into the pixel region spreads on the hole injection / transport layer 617a and fills the opening 619. Even if the second composition deviates from the pixel region and lands on the upper surface 618t of the bank portion 618, the upper composition 618t is subjected to the liquid repellent treatment as described above. Things are easy to roll into the opening 619.

その後、乾燥工程等を行うことにより、吐出後の第2組成物を乾燥処理し、第2組成物に含まれる非極性溶媒を蒸発させ、図28に示すように、正孔注入/輸送層617a上に発光層617bが形成される。この図の場合、青色(B)に対応する発光層617bが形成されている。   Thereafter, by performing a drying process and the like, the second composition after discharge is dried, the nonpolar solvent contained in the second composition is evaporated, and as shown in FIG. 28, a hole injection / transport layer 617a is obtained. A light emitting layer 617b is formed thereon. In the case of this figure, a light emitting layer 617b corresponding to blue (B) is formed.

同様に、機能液滴吐出ヘッド141を用い、図29に示すように、上記した青色(B)に対応する発光層617bの場合と同様の工程を順次行い、他の色(赤色(R)および緑色(G))に対応する発光層617bを形成する。なお、発光層617bの形成順序は、例示した順序に限られるものではなく、どのような順番で形成しても良い。例えば、発光層形成材料に応じて形成する順番を決めることも可能である。また、R・G・Bの3色の配列パターンとしては、ストライプ配列、モザイク配列およびデルタ配列等がある。   Similarly, using the functional liquid droplet ejection head 141, as shown in FIG. 29, the same steps as in the case of the light emitting layer 617b corresponding to the blue (B) described above are sequentially performed, and other colors (red (R) and red (R) and A light emitting layer 617b corresponding to green (G) is formed. Note that the order in which the light-emitting layers 617b are formed is not limited to the illustrated order, and may be formed in any order. For example, the order of formation can be determined according to the light emitting layer forming material. In addition, the arrangement pattern of the three colors R, G, and B includes a stripe arrangement, a mosaic arrangement, a delta arrangement, and the like.

以上のようにして、画素電極613上に機能層617、即ち、正孔注入/輸送層617aおよび発光層617bが形成される。そして、対向電極形成工程(S115)に移行する。   As described above, the functional layer 617, that is, the hole injection / transport layer 617a and the light emitting layer 617b are formed on the pixel electrode 613. And it transfers to a counter electrode formation process (S115).

対向電極形成工程(S115)では、図30に示すように、発光層617bおよび有機物バンク層618bの全面に陰極604(対向電極)を、例えば蒸着法、スパッタ法、CVD法等によって形成する。この陰極604は、本実施形態においては、例えば、カルシウム層とアルミニウム層とが積層されて構成されている。
この陰極604の上部には、電極としてのAl膜、Ag膜や、その酸化防止のためのSiO2、SiN等の保護層が適宜設けられる。
In the counter electrode forming step (S115), as shown in FIG. 30, a cathode 604 (counter electrode) is formed on the entire surface of the light emitting layer 617b and the organic bank layer 618b by, for example, vapor deposition, sputtering, CVD, or the like. In the present embodiment, the cathode 604 is configured by, for example, laminating a calcium layer and an aluminum layer.
On top of the cathode 604, an Al film, an Ag film as an electrode, and a protective layer such as SiO 2 or SiN for preventing oxidation thereof are appropriately provided.

このようにして陰極604を形成した後、この陰極604の上部を封止部材により封止する封止処理や配線処理等のその他処理等を施すことにより、表示装置600が得られる。   After forming the cathode 604 in this way, the display device 600 is obtained by performing other processes such as a sealing process for sealing the upper part of the cathode 604 with a sealing member and a wiring process.

次に、図31は、プラズマ型表示装置(PDP装置:以下、単に表示装置700と称する)の要部分解斜視図である。なお、同図では表示装置700を、その一部を切り欠いた状態で示してある。
この表示装置700は、互いに対向して配置された第1基板701、第2基板702、およびこれらの間に形成される放電表示部703を含んで概略構成される。放電表示部703は、複数の放電室705により構成されている。これらの複数の放電室705のうち、赤色放電室705R、緑色放電室705G、青色放電室705Bの3つの放電室705が組になって1つの画素を構成するように配置されている。
Next, FIG. 31 is an exploded perspective view of a main part of a plasma display device (PDP device: hereinafter simply referred to as a display device 700). In the figure, the display device 700 is shown with a part thereof cut away.
The display device 700 is schematically configured to include a first substrate 701, a second substrate 702, and a discharge display portion 703 formed between them, which are disposed to face each other. The discharge display unit 703 includes a plurality of discharge chambers 705. Among the plurality of discharge chambers 705, the three discharge chambers 705 of the red discharge chamber 705R, the green discharge chamber 705G, and the blue discharge chamber 705B are arranged to form one pixel.

第1基板701の上面には所定の間隔で縞状にアドレス電極706が形成され、このアドレス電極706と第1基板701の上面とを覆うように誘電体層707が形成されている。誘電体層707上には、各アドレス電極706の間に位置し、且つ各アドレス電極706に沿うように隔壁708が立設されている。この隔壁708は、図示するようにアドレス電極706の幅方向両側に延在するものと、アドレス電極706と直交する方向に延設された図示しないものを含む。
そして、この隔壁708によって仕切られた領域が放電室705となっている。
Address electrodes 706 are formed in stripes at predetermined intervals on the upper surface of the first substrate 701, and a dielectric layer 707 is formed so as to cover the address electrodes 706 and the upper surface of the first substrate 701. On the dielectric layer 707, partition walls 708 are provided so as to be positioned between the address electrodes 706 and along the address electrodes 706. The partition 708 includes one extending on both sides in the width direction of the address electrode 706 as shown, and one not shown extending in the direction orthogonal to the address electrode 706.
A region partitioned by the partition 708 is a discharge chamber 705.

放電室705内には蛍光体709が配置されている。蛍光体709は、赤(R)、緑(G)、青(B)のいずれかの色の蛍光を発光するもので、赤色放電室705Rの底部には赤色蛍光体709Rが、緑色放電室705Gの底部には緑色蛍光体709Gが、青色放電室705Bの底部には青色蛍光体709Bが各々配置されている。   A phosphor 709 is disposed in the discharge chamber 705. The phosphor 709 emits red (R), green (G), or blue (B) fluorescence, and the red phosphor 709R is disposed at the bottom of the red discharge chamber 705R, and the green discharge chamber 705G. A green phosphor 709G and a blue phosphor 709B are arranged at the bottom and the blue discharge chamber 705B, respectively.

第2基板702の図中下側の面には、上記アドレス電極706と直交する方向に複数の表示電極711が所定の間隔で縞状に形成されている。そして、これらを覆うように誘電体層712、およびMgOなどからなる保護膜713が形成されている。
第1基板701と第2基板702とは、アドレス電極706と表示電極711が互いに直交する状態で対向させて貼り合わされている。なお、上記アドレス電極706と表示電極711は図示しない交流電源に接続されている。
そして、各電極706,711に通電することにより、放電表示部703において蛍光体709が励起発光し、カラー表示が可能となる。
On the lower surface of the second substrate 702 in the drawing, a plurality of display electrodes 711 are formed in stripes at predetermined intervals in a direction orthogonal to the address electrodes 706. A dielectric layer 712 and a protective film 713 made of MgO or the like are formed so as to cover them.
The first substrate 701 and the second substrate 702 are bonded so that the address electrodes 706 and the display electrodes 711 face each other in a state of being orthogonal to each other. The address electrode 706 and the display electrode 711 are connected to an AC power source (not shown).
When the electrodes 706 and 711 are energized, the phosphor 709 emits light in the discharge display portion 703, and color display is possible.

本実施形態においては、上記アドレス電極706、表示電極711、および蛍光体709を、図2等に示した描画装置11を用いて形成することができる。以下、第1基板701におけるアドレス電極706の形成工程を例示する。
この場合、第1基板701を描画装置11のセットテーブル122に載置された状態で以下の工程が行われる。
まず、機能液滴吐出ヘッド141により、導電膜配線形成用材料を含有する液体材料(機能液)を機能液滴としてアドレス電極形成領域に着弾させる。この液体材料は、導電膜配線形成用材料として、金属等の導電性微粒子を分散媒に分散したものである。この導電性微粒子としては、金、銀、銅、パラジウム、またはニッケル等を含有する金属微粒子や、導電性ポリマー等が用いられる。
In the present embodiment, the address electrode 706, the display electrode 711, and the phosphor 709 can be formed using the drawing apparatus 11 shown in FIG. Hereinafter, a process of forming the address electrode 706 on the first substrate 701 will be exemplified.
In this case, the following steps are performed with the first substrate 701 placed on the set table 122 of the drawing apparatus 11.
First, the liquid material (functional liquid) containing the conductive film wiring forming material is landed on the address electrode formation region as a functional liquid droplet by the functional liquid droplet ejection head 141. This liquid material is obtained by dispersing conductive fine particles such as metal in a dispersion medium as a conductive film wiring forming material. As the conductive fine particles, metal fine particles containing gold, silver, copper, palladium, nickel, or the like, a conductive polymer, or the like is used.

補充対象となるすべてのアドレス電極形成領域について液体材料の補充が終了したならば、吐出後の液体材料を乾燥処理し、液体材料に含まれる分散媒を蒸発させることによりアドレス電極706が形成される。   When the replenishment of the liquid material is completed for all the address electrode formation regions to be replenished, the address material 706 is formed by drying the discharged liquid material and evaporating the dispersion medium contained in the liquid material. .

ところで、上記においてはアドレス電極706の形成を例示したが、上記表示電極711および蛍光体709についても上記各工程を経ることにより形成することができる。
表示電極711の形成の場合、アドレス電極706の場合と同様に、導電膜配線形成用材料を含有する液体材料(機能液)を機能液滴として表示電極形成領域に着弾させる。
また、蛍光体709の形成の場合には、各色(R,G,B)に対応する蛍光材料を含んだ液体材料(機能液)を機能液滴吐出ヘッド141から液滴として吐出し、対応する色の放電室705内に着弾させる。
By the way, although the formation of the address electrode 706 has been exemplified in the above, the display electrode 711 and the phosphor 709 can also be formed through the above steps.
In the case of forming the display electrode 711, as in the case of the address electrode 706, a liquid material (functional liquid) containing a conductive film wiring forming material is landed on the display electrode formation region as a functional droplet.
Further, in the case of forming the phosphor 709, a liquid material (functional liquid) containing a fluorescent material corresponding to each color (R, G, B) is ejected as droplets from the functional liquid droplet ejection head 141, so that it corresponds. Land in the color discharge chamber 705.

次に、図32は、電子放出装置(FED装置あるいはSED装置ともいう:以下、単に表示装置800と称する)の要部断面図である。なお、同図では表示装置800を、その一部を断面として示してある。
この表示装置800は、互いに対向して配置された第1基板801、第2基板802、およびこれらの間に形成される電界放出表示部803を含んで概略構成される。電界放出表示部803は、マトリクス状に配置した複数の電子放出部805により構成されている。
Next, FIG. 32 is a cross-sectional view of an essential part of an electron emission device (also referred to as an FED device or an SED device: hereinafter simply referred to as a display device 800). In the drawing, a part of the display device 800 is shown as a cross section.
The display device 800 is schematically configured to include a first substrate 801, a second substrate 802, and a field emission display portion 803 formed therebetween, which are disposed to face each other. The field emission display unit 803 includes a plurality of electron emission units 805 arranged in a matrix.

第1基板801の上面には、カソード電極806を構成する第1素子電極806aおよび第2素子電極806bが相互に直交するように形成されている。また、第1素子電極806aおよび第2素子電極806bで仕切られた部分には、ギャップ808を形成した導電性膜807が形成されている。すなわち、第1素子電極806a、第2素子電極806bおよび導電性膜807により複数の電子放出部805が構成されている。導電性膜807は、例えば酸化パラジウム(PdO)等で構成され、またギャップ808は、導電性膜807を成膜した後、フォーミング等で形成される。   On the upper surface of the first substrate 801, a first element electrode 806a and a second element electrode 806b constituting the cathode electrode 806 are formed so as to be orthogonal to each other. In addition, a conductive film 807 having a gap 808 is formed in a portion partitioned by the first element electrode 806a and the second element electrode 806b. That is, the first element electrode 806a, the second element electrode 806b, and the conductive film 807 constitute a plurality of electron emission portions 805. The conductive film 807 is made of, for example, palladium oxide (PdO), and the gap 808 is formed by forming after forming the conductive film 807.

第2基板802の下面には、カソード電極806に対峙するアノード電極809が形成されている。アノード電極809の下面には、格子状のバンク部811が形成され、このバンク部811で囲まれた下向きの各開口部812に、電子放出部805に対応するように蛍光体813が配置されている。蛍光体813は、赤(R)、緑(G)、青(B)のいずれかの色の蛍光を発光するもので、各開口部812には、赤色蛍光体813R、緑色蛍光体813Gおよび青色蛍光体813Bが、上記した所定のパターンで配置されている。   An anode electrode 809 that faces the cathode electrode 806 is formed on the lower surface of the second substrate 802. A grid-like bank portion 811 is formed on the lower surface of the anode electrode 809, and a phosphor 813 is disposed in each downward opening 812 surrounded by the bank portion 811 so as to correspond to the electron emission portion 805. Yes. The phosphor 813 emits fluorescence of any one of red (R), green (G), and blue (B), and each opening 812 has a red phosphor 813R, a green phosphor 813G, and a blue color. The phosphors 813B are arranged in the predetermined pattern described above.

そして、このように構成した第1基板801と第2基板802とは、微小な間隙を存して貼り合わされている。この表示装置800では、導電性膜(ギャップ808)807を介して、陰極である第1素子電極806aまたは第2素子電極806bから飛び出す電子を、陽極であるアノード電極809に形成した蛍光体813に当てて励起発光し、カラー表示が可能となる。   The first substrate 801 and the second substrate 802 configured as described above are bonded together with a minute gap. In this display device 800, electrons that jump out of the first element electrode 806 a or the second element electrode 806 b that are cathodes through the conductive film (gap 808) 807 are formed on the phosphor 813 formed on the anode electrode 809 that is an anode. When excited, it emits light and enables color display.

この場合も、他の実施形態と同様に、第1素子電極806a、第2素子電極806b、導電性膜807およびアノード電極809を、描画装置11を用いて形成することができると共に、各色の蛍光体813R,813G,813Bを、描画装置11を用いて形成することができる。   Also in this case, similarly to the other embodiments, the first element electrode 806a, the second element electrode 806b, the conductive film 807, and the anode electrode 809 can be formed by using the drawing device 11, and the fluorescence of each color. The bodies 813R, 813G, and 813B can be formed using the drawing device 11.

第1素子電極806a、第2素子電極806bおよび導電性膜807は、図33(a)に示す平面形状を有しており、これらを成膜する場合には、図33(b)に示すように、予め第1素子電極806a、第2素子電極806bおよび導電性膜807を作り込む部分を残して、バンク部BBを形成(フォトリソグラフィ法)する。次に、バンク部BBにより構成された溝部分に、第1素子電極806aおよび第2素子電極806bを形成(描画装置11によるインクジェット法)し、その溶剤を乾燥させて成膜を行った後、導電性膜807を形成(描画装置11によるインクジェット法)する。そして、導電性膜807を成膜後、バンク部BBを取り除き(アッシング剥離処理)、上記のフォーミング処理に移行する。なお、上記の有機EL装置の場合と同様に、第1基板801および第2基板802に対する親液化処理や、バンク部811,BBに対する撥液化処理を行うことが、好ましい。   The first element electrode 806a, the second element electrode 806b, and the conductive film 807 have the planar shape shown in FIG. 33A, and when these are formed, as shown in FIG. In addition, the bank portion BB is formed (photolithographic method), leaving portions where the first element electrode 806a, the second element electrode 806b, and the conductive film 807 are previously formed. Next, after the first element electrode 806a and the second element electrode 806b are formed in the groove portion constituted by the bank portion BB (inkjet method using the drawing apparatus 11), and the solvent is dried to form a film, A conductive film 807 is formed (an ink jet method using the drawing apparatus 11). Then, after forming the conductive film 807, the bank portion BB is removed (ashing peeling process), and the process proceeds to the above forming process. As in the case of the organic EL device described above, it is preferable to perform a lyophilic process on the first substrate 801 and the second substrate 802 and a lyophobic process on the bank portions 811 and BB.

また、他の電気光学装置としては、金属配線形成、レンズ形成、レジスト形成および光拡散体形成等の装置が考えられる。上記した描画装置11を各種の電気光学装置(デバイス)の製造に用いることにより、各種の電気光学装置を効率的に製造することが可能である。   As other electro-optical devices, devices such as metal wiring formation, lens formation, resist formation, and light diffuser formation are conceivable. By using the drawing apparatus 11 described above for manufacturing various electro-optical devices (devices), various electro-optical devices can be efficiently manufactured.

インクジェットの印刷技術による回路基板の製造工程を示す模式図であるIt is a schematic diagram which shows the manufacturing process of the circuit board by the inkjet printing technique. 基板移載システムの外観斜視図である。It is an external appearance perspective view of a substrate transfer system. 基板移載システムの外観平面図である。It is an external appearance top view of a substrate transfer system. 基板移載システムの外観正面図である。It is an external appearance front view of a substrate transfer system. 基板移載システムの概念図である。It is a conceptual diagram of a substrate transfer system. 基板移載装置の外観斜視図である。It is an external appearance perspective view of a board | substrate transfer apparatus. 基板移載装置の外観正面図である。It is an external appearance front view of a substrate transfer device. 基板移載装置の外観平面図である。It is an external appearance top view of a board | substrate transfer apparatus. 基板移載装置の外観側面図である。It is an external appearance side view of a substrate transfer device. 基板を載置するパレットの平面図である。It is a top view of the pallet which mounts a board | substrate. 基板移載装置の吸着ヘッドの斜視図である。It is a perspective view of the adsorption head of a substrate transfer device. 基板移載装置の吸着ヘッドの正面図である。It is a front view of the adsorption head of a substrate transfer device. 基板移載装置の吸着ヘッドの側面図である。It is a side view of the adsorption head of a substrate transfer device. (a)は吸着ヘッドの基板吸着プレートの底面図、(b)は吸着ヘッドの基板吸着プレートの一部を拡大した底面図である。(A) is a bottom view of the substrate suction plate of the suction head, and (b) is an enlarged bottom view of a part of the substrate suction plate of the suction head. 基板の位置補正処理および位置復帰処理を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the position correction process and position return process of a board | substrate. カラーフィルタ製造工程を説明するフローチャートである。It is a flowchart explaining a color filter manufacturing process. (a)〜(e)は、製造工程順に示したカラーフィルタの模式断面図である。(A)-(e) is a schematic cross section of the color filter shown to the manufacturing process order. 本発明を適用したカラーフィルタを用いた液晶装置の概略構成を示す要部断面図である。It is principal part sectional drawing which shows schematic structure of the liquid crystal device using the color filter to which this invention is applied. 本発明を適用したカラーフィルタを用いた第2の例の液晶装置の概略構成を示す要部断面図である。It is principal part sectional drawing which shows schematic structure of the liquid crystal device of the 2nd example using the color filter to which this invention is applied. 本発明を適用したカラーフィルタを用いた第3の例の液晶装置の概略構成を示す要部断面図である。It is principal part sectional drawing which shows schematic structure of the liquid crystal device of the 3rd example using the color filter to which this invention is applied. 有機EL装置である表示装置の要部断面図である。It is principal part sectional drawing of the display apparatus which is an organic electroluminescent apparatus. 有機EL装置である表示装置の製造工程を説明するフローチャートである。It is a flowchart explaining the manufacturing process of the display apparatus which is an organic electroluminescent apparatus. 無機物バンク層の形成を説明する工程図である。It is process drawing explaining formation of an inorganic bank layer. 有機物バンク層の形成を説明する工程図である。It is process drawing explaining formation of an organic substance bank layer. 正孔注入/輸送層を形成する過程を説明する工程図である。It is process drawing explaining the process in which a positive hole injection / transport layer is formed. 正孔注入/輸送層が形成された状態を説明する工程図である。It is process drawing explaining the state in which the positive hole injection / transport layer was formed. 青色の発光層を形成する過程を説明する工程図である。It is process drawing explaining the process in which a blue light emitting layer is formed. 青色の発光層が形成された状態を説明する工程図である。It is process drawing explaining the state in which the blue light emitting layer was formed. 各色の発光層が形成された状態を説明する工程図である。It is process drawing explaining the state in which the light emitting layer of each color was formed. 陰極の形成を説明する工程図である。It is process drawing explaining formation of a cathode. プラズマ型表示装置(PDP装置)である表示装置の要部分解斜視図である。It is a principal part disassembled perspective view of the display apparatus which is a plasma type display apparatus (PDP apparatus). 電子放出装置(FED装置)である表示装置の要部断面図である。It is principal part sectional drawing of the display apparatus which is an electron emission apparatus (FED apparatus). 表示装置の電子放出部廻りの平面図(a)およびその形成方法を示す平面図(b)である。It is the top view (a) around the electron emission part of a display apparatus, and the top view (b) which shows the formation method.

符号の説明Explanation of symbols

1…基板処理システム 11…描画装置 13…基板移載装置 16…制御装置 105…画像認識手段 102…X軸テーブル 202…給材ストッカ 203…除材ストッカ P…パレット W…基板   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Substrate processing system 11 ... Drawing apparatus 13 ... Substrate transfer apparatus 16 ... Control apparatus 105 ... Image recognition means 102 ... X-axis table 202 ... Material supply stocker 203 ... Material removal stocker P ... Pallet W ... Substrate

Claims (12)

ワークを位置決め状態で水平に載置したパレットを、互いに平行になるようにして、それぞれ収容する給材ストッカおよび除材ストッカを用い、
描画処理前の前記ワークを、前記給材ストッカに収容された前記パレットから描画装置のセットテーブルに水平に移載すると共に、描画処理後の前記ワークを、前記セットテーブルから前記除材ストッカに収容された前記パレットに水平に移載するワーク移載方法であって、
描画処理に先立って、前記セットテーブルに移載した前記ワークの水平面内における載置位置を認識する位置認識工程と、
前記セットテーブル上で、前記位置認識工程における認識結果に基づいて、描画処理前の前記ワークの載置位置を補正する位置補正工程と、
前記セットテーブル上で、前記認識結果に基づいて、描画処理後の前記ワークを元の載置位置に戻す位置復帰工程と、
を備えたことを特徴とするワーク移載方法。
Using the feed stocker and material removal stocker that house the pallets placed horizontally in the positioning state so that they are parallel to each other,
The work before drawing processing is horizontally transferred from the pallet housed in the material supply stocker to the set table of the drawing apparatus, and the work after drawing processing is housed in the material removal stocker from the set table. A workpiece transfer method for transferring horizontally to the pallet,
Prior to the drawing process, a position recognition step for recognizing a placement position in a horizontal plane of the workpiece transferred to the set table;
On the set table, based on the recognition result in the position recognition step, a position correction step of correcting the placement position of the work before the drawing process,
On the set table, based on the recognition result, a position return step for returning the workpiece after the drawing process to the original placement position;
A workpiece transfer method characterized by comprising:
ワークを位置決め状態で水平に載置したパレットを、互いに平行になるようにして、それぞれ収容する給材ストッカおよび除材ストッカと、
前記ワークをセットするセットテーブルを有し、セットされた前記ワークに対して描画処理を行う描画装置と、
描画処理前の前記ワークを、前記給材ストッカに収容された前記パレットから前記描画装置のセットテーブルに水平に移載すると共に、描画処理後の前記ワークを、前記セットテーブルから前記除材ストッカに収容された前記パレットに水平に移載するワーク移載装置と、
を備えたワーク移載システムであって、
前記描画装置は、
描画処理に先立って、前記セットテーブルに移載した前記ワークの水平面内における載置位置を認識する位置認識手段と、
前記位置認識手段による認識結果に基づいて、前記セットテーブル上で、描画処理前の前記ワークの載置位置を補正する位置補正手段と、
前記位置認識手段および前記位置補正手段を制御する制御手段と、を有し、
前記制御手段は、描画処理の後、前記認識結果に基づいて、前記位置補正手段により前記ワークを元の載置位置に戻すことを特徴とするワーク移載システム。
A pallet on which workpieces are horizontally placed in a positioning state is arranged so as to be parallel to each other,
A drawing device having a set table for setting the workpiece, and performing a drawing process on the set workpiece;
The workpiece before drawing processing is horizontally transferred from the pallet accommodated in the material supply stocker to the set table of the drawing device, and the workpiece after drawing processing is transferred from the set table to the material removal stocker. A workpiece transfer device that transfers horizontally to the accommodated pallet;
A workpiece transfer system comprising:
The drawing device includes:
Prior to the drawing process, position recognition means for recognizing the placement position of the work in the horizontal plane transferred to the set table;
Based on the recognition result by the position recognition means, on the set table, position correction means for correcting the placement position of the work before drawing processing;
Control means for controlling the position recognition means and the position correction means,
The workpiece transfer system, wherein the control unit returns the workpiece to the original placement position by the position correction unit based on the recognition result after the drawing process.
前記位置補正手段は、前記セットテーブルに組み込まれていることを特徴とする請求項2に記載のワーク移載システム。   The workpiece transfer system according to claim 2, wherein the position correction unit is incorporated in the set table. ワークを位置決め状態で水平に載置したパレットを、互いに平行になるようにして、それぞれ収容する給材ストッカおよび除材ストッカを用い、
ワーク移載装置によって、描画処理前の前記ワークを、前記給材ストッカに収容された前記パレットから描画装置のセットテーブルに水平に移載すると共に、描画処理後の前記ワークを、前記セットテーブルから前記除材ストッカに収容された前記パレットに水平に移載するワーク移載方法であって、
前記セットテーブルへの移載に先立って、前記給材ストッカの前記パレットに載置された前記ワークの水平面内における載置位置を認識する位置認識工程と、
前記給材ストッカから前記セットテーブルへの移載中に、前記位置認識工程における認識結果に基づいて、前記ワーク移載装置にセットされた描画処理前の前記ワークの水平面内におけるセット位置を補正する位置補正工程と、
前記セットテーブルから前記除材ストッカへの移載中に、前記認識結果に基づいて、前記ワーク移載装置にセットされた描画処理後の前記ワークを元のセット位置に戻す位置復帰工程と、
を備えたことを特徴とするワーク移載方法。
Using the feed stocker and material removal stocker that house the pallets placed horizontally in the positioning state so that they are parallel to each other,
The workpiece transfer device horizontally transfers the workpiece before drawing processing from the pallet accommodated in the material stocker to the set table of the drawing device, and the workpiece after drawing processing is transferred from the set table. A workpiece transfer method for transferring horizontally to the pallet housed in the material removal stocker,
Prior to transfer to the set table, a position recognition step for recognizing a placement position in a horizontal plane of the work placed on the pallet of the material stocker;
During the transfer from the material stocker to the set table, based on the recognition result in the position recognition step, the set position in the horizontal plane of the workpiece before the drawing process set in the workpiece transfer device is corrected. A position correction process;
During the transfer from the set table to the material removal stocker, based on the recognition result, a position return step for returning the workpiece after the drawing process set in the workpiece transfer device to the original set position;
A workpiece transfer method characterized by comprising:
ワークを位置決め状態で水平に載置したパレットを、互いに平行になるようにして、それぞれ収容する給材ストッカおよび除材ストッカと、
前記ワークをセットするセットテーブルを有し、セットされた前記ワークに対して描画処理を行う描画装置と、
描画処理前の前記ワークを、前記給材ストッカに収容された前記パレットから前記描画装置のセットテーブルに水平に移載すると共に、描画処理後の前記ワークを、前記セットテーブルから前記除材ストッカに収容された前記パレットに水平に移載するワーク移載装置と、
を備えたワーク移載システムであって、
前記ワーク移載装置は、
前記給材ストッカ、前記セットテーブル、前記除材ストッカの順で、セットした前記ワークを移載するワーク移載手段と、
前記セットテーブルへの移載に先立って、前記給材ストッカの前記パレットに載置された前記ワークの水平面内における載置位置を認識する位置認識手段と、
前記給材ストッカから前記セットテーブルへの移載中に、前記位置認識手段による認識結果に基づいて、前記ワーク移載手段にセットされた描画処理前の前記ワークの水平面内におけるセット位置を補正する位置補正手段と、
前記位置認識手段および前記位置補正手段を制御する制御手段と、を有し、
前記制御手段は、前記セットテーブルから前記除材ストッカへの移載中に、前記認識結果に基づいて、前記位置補正手段により前記ワーク移載手段にセットされた描画処理後の前記ワークを元のセット位置に戻すことを特徴とするワーク移載システム。
A pallet on which workpieces are horizontally placed in a positioning state is arranged so as to be parallel to each other,
A drawing device having a set table for setting the workpiece, and performing a drawing process on the set workpiece;
The workpiece before drawing processing is horizontally transferred from the pallet accommodated in the material supply stocker to the set table of the drawing device, and the workpiece after drawing processing is transferred from the set table to the material removal stocker. A workpiece transfer device that transfers horizontally to the accommodated pallet;
A workpiece transfer system comprising:
The workpiece transfer device includes:
A workpiece transfer means for transferring the set workpiece in the order of the material supply stocker, the set table, and the material removal stocker;
Prior to transfer to the set table, position recognition means for recognizing a placement position in a horizontal plane of the work placed on the pallet of the material stocker;
During the transfer from the material supply stocker to the set table, the set position in the horizontal plane of the workpiece before the drawing process set in the workpiece transfer means is corrected based on the recognition result by the position recognition means. Position correction means;
Control means for controlling the position recognition means and the position correction means,
The control means, based on the recognition result during the transfer from the set table to the material removal stocker, restores the original work after the drawing process set by the position correction means to the work transfer means. A workpiece transfer system characterized by returning to the set position.
前記位置補正手段は、前記ワーク移載手段に組み込まれていることを特徴とする請求項5に記載のワーク移載システム。   The workpiece transfer system according to claim 5, wherein the position correction unit is incorporated in the workpiece transfer unit. 請求項2、3、5および6のいずれかに記載のワーク移載システムを用い、前記描画装置により前記ワーク上に機能液による成膜部を形成することを特徴とする電気光学装置の製造方法。   7. A method of manufacturing an electro-optical device, wherein the work transfer system according to claim 2 is used, and a film-forming portion made of a functional liquid is formed on the work by the drawing device. . 請求項2、3、5および6のいずれかに記載のワーク移載システムを用い、前記描画装置により前記ワーク上に機能液による成膜部を形成したことを特徴とする電気光学装置。   An electro-optical device using the workpiece transfer system according to claim 2, wherein a film forming unit made of a functional liquid is formed on the workpiece by the drawing device. 請求項7に記載の電気光学装置の製造方法により製造した電気光学装置または請求項8に記載の電気光学装置を搭載したことを特徴とする電子機器。   An electronic apparatus comprising the electro-optical device manufactured by the method for manufacturing the electro-optical device according to claim 7 or the electro-optical device according to claim 8. 請求項2、3、5および6のいずれかに記載のワーク移載システムを用い、前記描画装置により前記ワーク上に機能液による成膜部を形成することを特徴とする回路基板の製造方法。   A method for manufacturing a circuit board, comprising: using the workpiece transfer system according to claim 2, and forming a film-forming portion with a functional liquid on the workpiece by the drawing apparatus. 請求項2、3、5および6のいずれかに記載のワーク移載システムを用い、前記描画装置により前記ワーク上に機能液による成膜部を形成したことを特徴とする回路基板。   A circuit board using the work transfer system according to claim 2, wherein a film forming unit made of a functional liquid is formed on the work by the drawing apparatus. 請求項10に記載の回路基板の製造方法により製造した回路基板または請求項11に記載の回路基板を搭載したことを特徴とする電子機器。   An electronic device comprising the circuit board manufactured by the method for manufacturing a circuit board according to claim 10 or the circuit board according to claim 11.
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CN115043168A (en) * 2022-06-14 2022-09-13 苏州迈为科技股份有限公司 Exposure apparatus

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