JP2006228780A - Method for packaging electronic component - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To precisely package electronic components while removing a thermal influence when packaging the electronic components, such as an IC chip having a bump (junction member) that is made minute, to a substrate. <P>SOLUTION: In the packaging of electronic components for packaging the electronic components on the substrate by bringing a plurality of electrodes in electronic components held by a component holding member into contact with a plurality of electrodes on the substrate held by a substrate holding member via the junction member, data on the amount of displacement in the distance between the component holding member and the substrate holding member generated following the expansion and contraction of the component holding member and the substrate holding member are acquired by a packaging preparation process when heating and cooling each junction member. The relative position control of the component holding member to the substrate holding member is made so that the amount of displacement is removed, based on the data, and the electronic component is packaged on the substrate. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明は、電子部品を基板に実装する方法に関するものであり、特にステージ上に載置された基板上における部品実装位置に、微小化されたバンプを有するICチップのような電子部品を実装する電子部品の実装方法に関する。   The present invention relates to a method for mounting an electronic component on a substrate, and in particular, mounts an electronic component such as an IC chip having micronized bumps at a component mounting position on a substrate placed on a stage. The present invention relates to an electronic component mounting method.

従来、この種の電子部品の実装方法は種々の方法のものが知られている。例えば、ステージ上に載置された基板に対して、バンプを有するICチップのような電子部品を実装するような電子部品に実装方法がある(例えば、特許文献1、2参照)。   Conventionally, various kinds of electronic component mounting methods are known. For example, there is a mounting method for an electronic component that mounts an electronic component such as an IC chip having bumps on a substrate placed on a stage (see, for example, Patent Documents 1 and 2).

具体的には、ステージ上に載置された基板における部品実装位置に形成された複数のパッド(基板電極)上に、クリーム半田を印刷等の手段により供給して、それぞれの半田部の形成を行う。次に、その実装側表面に配置されている複数の電極上にバンプが形成されている電子部品を、上記実装側表面とは反対側の表面にてヘッドツールにより吸着保持し、上記基板における部品実装位置と電子部品との位置合わせを行う。その後、ヘッドツールを下降させて、吸着保持されている電子部品のそれぞれのバンプと半田部を介して基板のパッドに当接させる。その後、ヘッドツール及びステージよりの加熱でもってそれぞれのバンプ及び半田部を加熱溶融させて、さらにその後、冷却固化させることで、電子部品のそれぞれの電極と基板のそれぞれのパッドとを、それぞれのバンプ及び半田部を介して接合することができ、その結果として、基板の部品実装位置に電子部品が実装されることとなる。   Specifically, cream solder is supplied by means of printing or the like onto a plurality of pads (substrate electrodes) formed at the component mounting position on the substrate placed on the stage, and the formation of each solder portion is performed. Do. Next, an electronic component in which bumps are formed on a plurality of electrodes arranged on the mounting side surface is sucked and held by a head tool on the surface opposite to the mounting side surface, and the component on the substrate The mounting position and the electronic component are aligned. Thereafter, the head tool is lowered and brought into contact with the pads of the substrate through the bumps and solder portions of the electronic components held by suction. After that, the bumps and solder parts are heated and melted by heating from the head tool and the stage, and then cooled and solidified, so that the respective electrodes of the electronic component and the respective pads of the substrate are respectively bumped. In addition, the electronic parts can be mounted at the component mounting positions on the board.

また、上記電子部品のバンプと上記基板の半田部との当接から、上記それぞれのバンプ及び半田部が冷却固化されるまで、ヘッドツールにより電子部品は吸着保持されたままの状態とされているため、上記当接から冷却固化まで基板に対する電子部品の相対的な位置を確実かつ高精度に保持することができ、そのバンプピッチが狭小化されているような電子部品の実装を行うような場合であっても、確実に対応することができる。   In addition, the electronic component remains held by the head tool from the contact between the bump of the electronic component and the solder portion of the substrate until the respective bump and solder portion are cooled and solidified. Therefore, when mounting electronic components that can hold the relative position of the electronic component with respect to the substrate from contact to cooling and solidification reliably and with high accuracy and the bump pitch is narrowed Even so, it can be dealt with reliably.

さらに、ヘッドツールにロードセルを備えさせて、上記当接の際における荷重を所定の値に保つように荷重一定制御を行うことで、加熱の際におけるヘッドツールの伸び量を実質的に除去するような制御(伸び量のキャンセル制御)を行うことができ、当該ヘッドツールの熱による伸びが発生することで、バンプつぶれ等が発生することを抑制することができる。   Furthermore, by providing the head tool with a load cell and performing a constant load control so as to keep the load at the time of the contact at a predetermined value, the extension amount of the head tool at the time of heating is substantially removed. Control (cancellation control of elongation amount) can be performed, and occurrence of bump crushing or the like can be suppressed by the elongation of the head tool caused by heat.

特開2003−8196号公報JP 2003-8196 A 特開2003−31993号公報JP 2003-31993 A

近年、電子部品におけるバンプピッチの狭小化が益々進行し、それに伴って、形成されるバンプ自体の微小化も進行しており、このように微小化されたバンプを有する電子部品に実装に対応することが望まれている。   In recent years, the bump pitch in electronic parts has been increasingly narrowed, and along with this, the formed bumps themselves have been miniaturized, and thus the electronic parts having such miniaturized bumps can be mounted. It is hoped that.

このようにバンプピッチの狭小化及びバンプの微小化が進行すると、上記当接から冷却固化まで、電子部品の実装側表面と基板の表面と間の距離を、所定の距離に確実に保持する必要がある。すなわち、このように当該距離を保持することで、微小化されたバンプのつぶれや引き剥がれを確実に防止する必要がある。   As the bump pitch narrows and bumps become smaller in this way, the distance between the mounting surface of the electronic component and the surface of the substrate must be securely held at a predetermined distance from the contact to cooling solidification. There is. In other words, it is necessary to reliably prevent the miniaturized bumps from being crushed and peeled off by maintaining the distance in this way.

しかしながら、上述の従来の実装方法では、バンプや半田部が溶融を開始してその後固化されるまでの間は、バンプや半田部が溶融状態となることにより荷重抜けが発生するため、熱によるヘッドツールの伸び量等を除去するための荷重一定制御を行うことができないという問題がある。このような場合にあっては、熱によるヘッドツールの伸びや縮みの除去を行うことができず、電子部品の実装側表面と基板の表面との間の距離(あるいはヘッドツールの先端面とステージの基板保持面との間の距離)を保つことができないこととなり、バンプつぶれや引き剥がれが生じる可能性がある。   However, in the above-described conventional mounting method, since the bumps and the solder portions start to melt and then solidify, the bumps and the solder portions are melted to cause load loss. There is a problem in that it is impossible to perform constant load control for removing the amount of tool elongation and the like. In such a case, the extension or shrinkage of the head tool due to heat cannot be removed, and the distance between the mounting surface of the electronic component and the surface of the substrate (or the tip surface of the head tool and the stage) The distance between the substrate holding surface and the substrate holding surface cannot be maintained, and bump crushing or peeling may occur.

一方、このようにバンプや半田部が溶融状態にある間に、特別な測定器を用いてヘッドツールの伸び量や縮み量の測定を行い、当該測定結果に基づいて、伸び量/縮み量を除去するような制御を行うことが考えられる。しかしながら、上記加熱や冷却の際には、ヘッドツールだけでなく、ステージや電子部品自体にも伸びや縮みが生じることとなり、これら全ての状態を測定することは困難であり、例え測定が可能となっても測定器の構成の複雑化や設備コストの高騰化を招くこととなり、現実的には困難であるという問題もある。   On the other hand, while the bumps and solder parts are in a molten state as described above, the extension amount and shrinkage amount of the head tool are measured using a special measuring instrument, and the elongation amount / shrinkage amount is calculated based on the measurement result. It is conceivable to perform such control as to eliminate. However, during the above heating and cooling, not only the head tool, but also the stage and the electronic component itself are stretched and shrunk, and it is difficult to measure all these states, and it is possible to measure, for example. Even so, the configuration of the measuring instrument becomes complicated and the equipment cost increases, and there is a problem that it is difficult in practice.

従って、本発明の目的は、上記問題を解決することにあって、微小化されたバンプ(接合部材)を有するICチップのような電子部品の基板への実装において、熱的な影響を除去しながら確実かつ高精度な実装を可能とする電子部品の実装方法を提供することにある。   Accordingly, an object of the present invention is to solve the above-described problem, and to remove a thermal influence in mounting an electronic component such as an IC chip having a miniaturized bump (joining member) on a substrate. An object of the present invention is to provide an electronic component mounting method that enables reliable and highly accurate mounting.

上記目的を達成するために、本発明は以下のように構成する。   In order to achieve the above object, the present invention is configured as follows.

本発明の第1態様によれば、部品保持部材にて保持された電子部品における複数の電極を、基板保持部材にて保持された基板における複数の電極に接合部材を介在させて当接させながら、上記それぞれの接合部材を加熱して溶融させ、当該溶融されたそれぞれの接合部材を冷却して固化させた後、上記部品保持部材による上記電子部品の保持を解除して、上記電子部品を上記基板に実装する電子部品の実装方法において、
上記それぞれの接合部材の加熱及び冷却の際に生じ得る上記部品保持部材及び上記基板保持部材の伸び又は縮みに伴って生じる当該部品保持部材と基板保持部材との間の距離の変位量のデータを取得して、
上記それぞれの接合部材の加熱及び冷却の際に、当該取得された上記距離の変位量のデータに基づいて、当該変位量を除去するように上記基板保持部材に対する上記部品保持部材の相対的な位置制御を行い、上記電子部品を上記基板に実装することを特徴とする電子部品の実装方法を提供する。
According to the first aspect of the present invention, the plurality of electrodes in the electronic component held by the component holding member are brought into contact with the plurality of electrodes in the substrate held by the substrate holding member with the joining member interposed therebetween. Then, each of the joining members is heated and melted, and each of the melted joining members is cooled and solidified, and then the holding of the electronic component by the component holding member is released, and the electronic component is In the mounting method of electronic components to be mounted on a substrate,
Data on the amount of displacement of the distance between the component holding member and the substrate holding member, which is generated when the component holding member and the substrate holding member are expanded or contracted, which can be generated when the respective bonding members are heated and cooled. Get
The relative position of the component holding member with respect to the substrate holding member so as to remove the displacement amount based on the acquired displacement amount data of the distance when the respective bonding members are heated and cooled. An electronic component mounting method is provided, wherein the electronic component is mounted on the substrate by performing control.

本発明の第2態様によれば、上記距離の変位量のデータは、上記加熱又は冷却により上記部品保持部材及び上記基板保持部材に伝達される熱量変化により生じる上記伸び又は縮みに伴う上記部品保持部材の部品保持面と上記基板保持部材の基板保持面との間の上記距離の変位量を除去するように、上記基板保持面に対して上記部品保持面を近接又は離間させるための当該部品保持部材の移動位置の位置データである第1態様に記載の電子部品の実装方法を提供する。   According to the second aspect of the present invention, the displacement data of the distance is obtained by the component holding accompanying the expansion or contraction caused by the heat amount change transmitted to the component holding member and the substrate holding member by the heating or cooling. The component holding for moving the component holding surface close to or away from the substrate holding surface so as to remove the displacement amount of the distance between the component holding surface of the member and the substrate holding surface of the substrate holding member. An electronic component mounting method according to a first aspect, which is position data of a movement position of a member, is provided.

本発明の第3態様によれば、上記距離の変位量データには、上記それぞれの接合部材の加熱又は冷却の際に、上記部品保持面に直交する方向において上記基板及び上記電子部品に生じる伸び又は縮みに伴う上記距離の変位量のデータが含まれ、
上記基板及び上記電子部品の伸び及び縮みをさらに除去するように上記部品保持部材の移動を行う第2態様に記載の電子部品の実装方法を提供する。
According to the third aspect of the present invention, the displacement data of the distance includes the elongation generated in the substrate and the electronic component in a direction orthogonal to the component holding surface when the respective joining members are heated or cooled. Or data on the amount of displacement of the distance due to shrinkage,
The electronic component mounting method according to the second aspect, wherein the component holding member is moved so as to further remove the expansion and contraction of the substrate and the electronic component.

本発明の第4態様によれば、上記電子部品と略同じ材質にて形成されたデータ取得用電子部品を上記部品保持部材にて保持して、上記基板保持部材により保持された上記基板の表面に、当該データ取得用電子部品を直接的に当接させながら、上記それぞれの接合部材に対する加熱及び冷却における温度プロファイルと同じ温度プロファイルに基づいて、上記データ取得用電子部品に対して上記加熱及び冷却を行うとともに、当該加熱及び冷却の際における上記部品保持部材と上記基板保持部材との間の上記距離の変位量のデータとして、上記加熱及び冷却の際において、上記部品保持部材に保持された上記データ取得用電子部品に付加される荷重が略一定となるように、上記部品保持部材の位置制御を行った場合における当該部品保持部材の位置データを取得し、
上記それぞれの接合部材を用いて上記電子部品を上記基板に実装する際に、当該取得された部品保持部材の位置データに基づいて、上記部品保持部材の位置制御を行うことで、上記基板保持部材と上記部品保持部材との間の距離の上記変位量を除去する第1態様から第3態様のいずれか1つに記載の電子部品の実装方法を提供する。
According to the fourth aspect of the present invention, the data acquisition electronic component formed of substantially the same material as the electronic component is held by the component holding member, and the surface of the substrate held by the substrate holding member In addition, the heating and cooling of the data acquisition electronic component is performed based on the same temperature profile as the temperature profile in the heating and cooling of the respective joining members while directly contacting the data acquisition electronic component. As the data of the displacement amount of the distance between the component holding member and the substrate holding member during the heating and cooling, the data held by the component holding member during the heating and cooling. The position of the component holding member when the position control of the component holding member is performed so that the load applied to the electronic component for data acquisition is substantially constant. To get the location data,
When the electronic component is mounted on the substrate using the bonding members, the substrate holding member is controlled by controlling the position of the component holding member based on the acquired position data of the component holding member. The electronic component mounting method according to any one of the first aspect to the third aspect, in which the amount of displacement of the distance between the electronic component and the component holding member is removed.

本発明の第5態様によれば、上記荷重が略一定となるような上記部品保持部材の位置制御において、上記基板保持部材と上記部品保持部材との間の距離の上記変位量の発生から、当該変位量の発生により生じる上記荷重の変化量の除去が完了するまでに要する制御時間差データを取得し、
上記それぞれの接合部材を用いて上記電子部品を上記基板に実装する際に、当該取得された位置データと上記制御時間差データとに基づいて、上記基板保持部材と上記部品保持部材との間の距離の上記変位量を除去するように、上記部品保持部材の位置制御を行う第4態様に記載の電子部品の実装方法を提供する。
According to the fifth aspect of the present invention, in the position control of the component holding member such that the load is substantially constant, from the generation of the displacement amount of the distance between the substrate holding member and the component holding member, Obtain control time difference data required to complete the removal of the load change caused by the generation of the displacement,
When the electronic component is mounted on the substrate using each of the bonding members, a distance between the substrate holding member and the component holding member based on the acquired position data and the control time difference data. The electronic component mounting method according to the fourth aspect, wherein the position control of the component holding member is performed so as to remove the displacement amount.

本発明の第6態様によれば、上記それぞれの接合部材を用いて上記電子部品を上記基板に実装する際において、
上記溶融された接合部材が冷却固化される過程において、上記電子部品に付加される荷重の変化量の検出を行い、
当該検出される荷重の変化量に応じて、当該荷重の変化量が除去されるように、上記部品保持部材の位置データを補正し、
当該補正された位置データに基づいて上記部品保持部材の位置制御を行う第4態様に記載の電子部品の実装方法を提供する。
According to the sixth aspect of the present invention, when mounting the electronic component on the substrate using the respective joining members,
In the process of cooling and solidifying the melted joining member, the amount of change in load applied to the electronic component is detected,
In accordance with the detected change amount of the load, the position data of the component holding member is corrected so that the change amount of the load is removed,
The electronic component mounting method according to the fourth aspect, in which the position control of the component holding member is performed based on the corrected position data.

本発明の第7態様によれば、上記電子部品の上記基板への当接から、上記それぞれの接合部材の固化までの間において、上記部品保持部材より上記電子部品に付加される荷重を観察し、
当該観察された荷重が荷重プロファイルに対して超過又は不足していることを検出した場合に、当該超過又は不足の発生を抑制するように上記部品保持部材の位置データの補正を行い、
当該補正された位置データに基づいて、上記部品保持部材の位置制御を行う第4態様に記載の電子部品の実装方法を提供する。
According to the seventh aspect of the present invention, the load applied to the electronic component from the component holding member is observed during the period from the contact of the electronic component to the substrate to the solidification of the respective joining members. ,
When it is detected that the observed load exceeds or is insufficient with respect to the load profile, the position data of the component holding member is corrected so as to suppress the occurrence of the excess or deficiency,
The electronic component mounting method according to the fourth aspect, in which the position control of the component holding member is performed based on the corrected position data.

本発明の第8態様によれば、上記接合部材は、上記電子部品の上記それぞれの電極上に形成されたバンプであって、
上記データ取得用電子部品は、上記それぞれのバンプが形成されていない状態の電子部品である第4態様から第7態様のいずれか1つに記載の電子部品の実装方法を提供する。
According to an eighth aspect of the present invention, the joining member is a bump formed on each of the electrodes of the electronic component,
The electronic component for data acquisition provides the electronic component mounting method according to any one of the fourth aspect to the seventh aspect, in which the respective bumps are not formed.

本発明によれば、電子部品を基板に実装する際に、部品保持部材や基板保持部材、そして上記電子部品自体や上記基板自体に熱による伸び/縮みが生じることにより発生する上記部品保持部材の部品保持面と上記基板保持部材の基板保持面との間の距離の変位量を、当該変位量のデータに基づいて上記基板保持部材に対する上記部品保持部材の相対的な位置制御を行うことで、確実に除去することができる。   According to the present invention, when an electronic component is mounted on a board, the component holding member, the board holding member, and the electronic component itself or the board itself are caused by the expansion / contraction caused by heat. By performing relative position control of the component holding member with respect to the substrate holding member, based on the displacement amount data, the displacement amount of the distance between the component holding surface and the substrate holding surface of the substrate holding member, It can be removed reliably.

特に、このようなそれぞれの部材の伸び/縮みにより複合的あるいは総合的に生じる上記変位量は、実際の実装過程では、上記部品保持面と上記基板保持面との間に上記電子部品が配置されていることにより、例えば変位量測定器を用いて測定することが困難であることや、接合部材の加熱溶融によりロードセル等にて検出される荷重に荷重抜けが生じることにより測定することが困難であるものの、本発明のようにデータ取得用電子部品を用いることで、予め実装準備工程として当該変位量を測定し、当該変位量のデータを作成することができる。   In particular, the amount of displacement generated in a composite or comprehensive manner due to such expansion / contraction of each member is such that the electronic component is disposed between the component holding surface and the substrate holding surface in an actual mounting process. Therefore, for example, it is difficult to measure using a displacement measuring device, or it is difficult to measure due to load loss in a load detected by a load cell or the like due to heating and melting of the joining member. However, by using the data acquisition electronic component as in the present invention, the displacement amount can be measured in advance as a mounting preparation step, and the displacement amount data can be created.

すなわち、実装時の加熱により溶融される材料が含まれていないバンプ無しの電子部品を上記データ取得用電子部品として、当該データ取得用電子部品に対して、実装時の温度プロファイルを用いて加熱/冷却制御を施しながら、荷重一定制御を行った場合における上記部品保持部材の高さ位置の移動軌跡をプロファイルデータ(位置データ)として取得し、当該取得されたプロファイルデータに基づいて上記部品保持部材の移動制御を行いながら、実際の上記電子部品を上記基板に実装させることで、上記熱による各部材の伸び/縮みに伴う影響を除去することができる。   That is, an electronic component without bumps that does not contain a material that is melted by heating at the time of mounting is used as the data acquisition electronic component, and the data acquisition electronic component is heated / heated using a temperature profile at mounting. A movement trajectory of the height position of the component holding member when constant load control is performed while performing cooling control is acquired as profile data (position data), and based on the acquired profile data, the component holding member By mounting the actual electronic component on the substrate while performing movement control, it is possible to remove the influence of the heat caused by the expansion / contraction of each member.

従って、特に、そのバンプピッチが狭小化され、さらにその径が微小化されたバンプを有するような上記電子部品を、熱による各部材の伸び/縮みの影響を排除しながら、確実かつ高精度に実装することができる。特に、このような実装方法は、当該電子部品を上記基板に実装するような場合のみに限られず、上記電子部品に形成されたそれぞれのバンプと、他の電子部品に形成されたそれぞれのバンプとを接合するようなチップ・オン・チップという実装方法にも効果的に適用することができる。   Therefore, in particular, the above electronic components having bumps whose bump pitch is narrowed and whose diameter is miniaturized are reliably and highly accurate while eliminating the influence of expansion / contraction of each member due to heat. Can be implemented. In particular, such a mounting method is not limited to the case where the electronic component is mounted on the substrate, and each bump formed on the electronic component, and each bump formed on another electronic component, The present invention can also be effectively applied to a chip-on-chip mounting method that joins the two.

以下に、本発明にかかる実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。   Embodiments according to the present invention will be described below in detail with reference to the drawings.

本発明にかかる電子部品の実装方法は、電子部品の複数の電極を基板の複数の電極上に接合部材を介在させて当接させ、各接合部材を溶融し固化させて、各接合部材を介在させて電子部品を基板に接合する電子部品の実装方法に関しており、本発明の一の実施形態にかかる電子部品の実装方法について、図面を用いて詳細に説明する。   In the electronic component mounting method according to the present invention, a plurality of electrodes of an electronic component are brought into contact with a plurality of electrodes of a substrate with a joining member interposed therebetween, and each joining member is melted and solidified to interpose each joining member. The electronic component mounting method according to the embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

まず、本実施形態の電子部品の実装方法において用いられる電子部品実装装置の構成を示す模式斜視図を図1に示す。図1に示すように、電子部品実装装置201において、電子部品の実装を行う部品保持部材の一例であるヘッドツール3は、X方向移動装置22のナット部に固定されており、X方向移動装置22はモータによりボールねじ軸を回転させることにより、ボールねじ軸に螺合したナット部に固定されたヘッドツール3を図示X方向右向きのX1方向又は左向きのX2方向に移動させる。   First, a schematic perspective view showing a configuration of an electronic component mounting apparatus used in the electronic component mounting method of the present embodiment is shown in FIG. As shown in FIG. 1, in an electronic component mounting apparatus 201, a head tool 3 that is an example of a component holding member that mounts an electronic component is fixed to a nut portion of an X-direction moving device 22, and the X-direction moving device 22 rotates the ball screw shaft by a motor to move the head tool 3 fixed to the nut portion screwed to the ball screw shaft in the X1 direction to the right in the X direction in the drawing or the X2 direction to the left.

また、ヘッドツール3の模式断面図(断面図を用いた模式構成図)である図2に示すように、電子部品実装装置201は、ヘッドツール3を下降又は上昇させる昇降機構の一例である昇降部21を備えて構成されている。さらに、ヘッドツール3は、その先端部に電子部品を吸着保持させる吸着保持機構の一例である吸着ノズル11と、この吸着ノズル11を加熱させて吸着ノズル11に吸着保持された電子部品を加熱する加熱装置の一例であるセラミックヒータ12、及び、セラミックヒータ12により加熱された電子部品を冷却する冷却装置の一例である冷却ブローノズル19を備えている。ここで、上記加熱装置は、一例として、ヘッドツール3に備えられたセラミックヒータ12である場合としたが、セラミックヒータ12に代えて、電子部品及び基板に熱風を吹き付けることにより加熱を行うような加熱部を電子部品実装装置が備える場合であってもよい。なお、ヘッドツール3の構造の詳細な説明については後述する。   Moreover, as shown in FIG. 2 which is a schematic cross-sectional view of the head tool 3 (schematic configuration diagram using a cross-sectional view), the electronic component mounting apparatus 201 is an elevating and lowering device that is an example of an elevating mechanism that lowers or raises the head tool 3 A portion 21 is provided. Further, the head tool 3 heats the suction nozzle 11 which is an example of a suction holding mechanism that sucks and holds the electronic component at the tip thereof, and the electronic component sucked and held by the suction nozzle 11 by heating the suction nozzle 11. A ceramic heater 12 as an example of a heating device, and a cooling blow nozzle 19 as an example of a cooling device for cooling an electronic component heated by the ceramic heater 12 are provided. Here, as an example, the heating device is the ceramic heater 12 provided in the head tool 3, but instead of the ceramic heater 12, heating is performed by blowing hot air on the electronic component and the substrate. The case where an electronic component mounting apparatus is provided with a heating part may be sufficient. A detailed description of the structure of the head tool 3 will be given later.

図1において、スライドベース6はY方向移動装置23のナット部に固定されており、Y方向移動装置23はモータによりボールねじ軸を回転させることにより、ボールねじ軸に螺合したナット部に固定されたスライドベース6を図示Y方向右向きのY1方向又は左向きのY2方向に移動させる。スライドベース6上に固定されたパーツトレー5に、複数の電子部品1が供給されており、基板4はスライドベース6上に固定された基板保持部材の一例であるステージ7に位置決めされて固定されている。なお、図1におけるX方向とY方向は直交している。また、上述の説明においては、電子部品実装装置201における加熱装置として、ヘッドツール3にセラミックヒータ12が備えられているような場合について説明しているが、このような場合に代えて、ステージ7にも加熱装置が内蔵されているような場合であってもよい。   In FIG. 1, the slide base 6 is fixed to the nut portion of the Y-direction moving device 23, and the Y-direction moving device 23 is fixed to the nut portion screwed to the ball screw shaft by rotating the ball screw shaft by a motor. The slide base 6 thus moved is moved in the Y1 direction facing right in the Y direction in the figure or the Y2 direction facing left. A plurality of electronic components 1 are supplied to a parts tray 5 fixed on the slide base 6, and the substrate 4 is positioned and fixed to a stage 7 which is an example of a substrate holding member fixed on the slide base 6. ing. Note that the X direction and the Y direction in FIG. 1 are orthogonal to each other. In the above description, the case where the head tool 3 is provided with the ceramic heater 12 as a heating device in the electronic component mounting apparatus 201 has been described, but instead of such a case, the stage 7 Alternatively, a case where a heating device is incorporated may be used.

さらに、電子部品実装装置201は、電子部品実装装置201における各構成部の制御を行う制御装置である制御装置9を備えており、昇降部21の移動動作、X方向移動装置22の移動動作、Y方向移動装置23の移動動作、ヘッドツール3の吸着ノズル11の吸着保持動作、及びヘッドツール3のセラミックヒータ12の加熱動作は、制御装置9により動作制御される。   Furthermore, the electronic component mounting apparatus 201 includes a control device 9 that is a control device that controls each component in the electronic component mounting apparatus 201, and includes a moving operation of the elevating unit 21, a moving operation of the X-direction moving device 22, The movement operation of the Y-direction moving device 23, the suction holding operation of the suction nozzle 11 of the head tool 3, and the heating operation of the ceramic heater 12 of the head tool 3 are controlled by the control device 9.

図3は、本実施形態の電子部品の実装方法について、電子部品1及び基板4の模式断面図を用いて説明するための図である。図3(B)に示すように、四角形プレート状の電子部品1は接合面に多数の電極1aを有しており、その各電極1aには接合部材の一例であるバンプ1bが金属材料、例えば半田材料により予め形成されている。また、図3(A)に示すように、四角形プレート状の基板4は上面に多数の電極であるパッド4aを有しており、その各パッド4a上に接合部材の一例である半田部2が、例えば印刷等の手段を用いてクリーム半田が予め供給されることで形成されている。また、電子部品1の各電極1aと基板4の各パッド4aが接合可能なように、電子部品1の各電極1aに対応した位置に基板4の各パッド4aが配置されている。ここで、電子部品1は、例えば、その各電極1aに形成された各バンプ1bの間隔ピッチであるバンプピッチが例えば70μm以下であるとともに、そのバンプ径が30μm、形成高さが20μmであるような狭小化かつ微小化されたバンプを有するハイエンドICチップのように高い接合位置精度が要求されるような電子部品である。   FIG. 3 is a diagram for explaining the electronic component mounting method according to the present embodiment, using schematic cross-sectional views of the electronic component 1 and the substrate 4. As shown in FIG. 3B, the rectangular plate-shaped electronic component 1 has a large number of electrodes 1a on the bonding surface, and each electrode 1a has a bump 1b as an example of a bonding member made of a metal material, for example, Pre-formed with a solder material. Further, as shown in FIG. 3A, the rectangular plate-like substrate 4 has pads 4a which are a large number of electrodes on the upper surface, and a solder portion 2 which is an example of a joining member is provided on each pad 4a. For example, it is formed by supplying cream solder in advance using means such as printing. Moreover, each pad 4a of the board | substrate 4 is arrange | positioned in the position corresponding to each electrode 1a of the electronic component 1 so that each electrode 1a of the electronic component 1 and each pad 4a of the board | substrate 4 can be joined. Here, the electronic component 1 has, for example, a bump pitch that is an interval pitch of the bumps 1b formed on each electrode 1a of 70 μm or less, a bump diameter of 30 μm, and a formation height of 20 μm. It is an electronic component that requires high bonding position accuracy, such as a high-end IC chip having a narrowed and miniaturized bump.

次に、電子部品実装装置201を用いて電子部品1を基板4上に実装する方法についてその手順の概略を説明する。なお、詳細な実装手順については後述するものとする。   Next, an outline of the procedure of a method for mounting the electronic component 1 on the substrate 4 using the electronic component mounting apparatus 201 will be described. The detailed mounting procedure will be described later.

まず、図1において、複数の電子部品1が供給され配置されているパーツトレー5が固定されているスライドベース6をY方向移動装置23により、Y1又はY2方向に移動させるとともに、X方向移動装置22により、ヘッドツール3をX1又はX2方向に移動させ、パーツトレー5の中に配置されている1つの電子部品1が、ヘッドツール3の先端部の吸着ノズル11により吸着可能なように、ヘッドツール3をその電子部品1に対し位置合わせを行う。その後、昇降部21によりヘッドツール3を下降させ、ヘッドツール3の吸着ノズル11により電子部品1の各電極1aを有さない面である背面を吸着保持し、昇降部21によりヘッドツール3を上昇させ、パーツトレー5より電子部品1を取り出す。ここで、電子部品1はパーツトレー5に背面を上にして配置されている場合について説明したが、電子部品1が背面を下にして配置されている場合であっても、電子部品1のヘッドツール3の吸着ノズル11への吸着保持の前に、電子部品1を反転させるような反転機構を設けることにより、吸着ノズル11による電子部品1の背面の吸着保持は可能である。なお、パーツトレー5よりの各電子部品1の供給に代えて、ウェハ供給部を設けることにより、ウェハより各電子部品1を供給する場合であってもよい。   First, in FIG. 1, a slide base 6 to which a parts tray 5 on which a plurality of electronic components 1 are supplied and arranged is fixed is moved in the Y1 or Y2 direction by a Y direction moving device 23, and an X direction moving device. 22, the head tool 3 is moved in the X1 or X2 direction so that one electronic component 1 arranged in the parts tray 5 can be sucked by the suction nozzle 11 at the tip of the head tool 3. The tool 3 is aligned with the electronic component 1. Thereafter, the head tool 3 is lowered by the elevating unit 21, the back surface, which is a surface not having the electrodes 1 a of the electronic component 1, is sucked and held by the suction nozzle 11 of the head tool 3, and the head tool 3 is raised by the lifting unit 21 The electronic component 1 is taken out from the parts tray 5. Here, the case where the electronic component 1 is arranged on the parts tray 5 with the back side up has been described. However, even if the electronic component 1 is arranged with the back side down, the head of the electronic component 1 is arranged. By providing a reversing mechanism for reversing the electronic component 1 before sucking and holding the tool 3 to the suction nozzle 11, the suction nozzle 11 can suck and hold the back surface of the electronic component 1. In addition, it may replace with supply of each electronic component 1 from the parts tray 5, and the case where each electronic component 1 is supplied from a wafer by providing a wafer supply part may be sufficient.

次に、図1において、基板4が固定されているステージ7を固定しているスライドベース6を、Y方向移動装置23によりY1又はY2方向に移動させるとともに、電子部品1を吸着保持しているヘッドツール3をX方向移動装置22によりX1又はX2方向に移動させ、図3(B)に示すように、電子部品1の各電極1aに形成されている各バンプ1bが基板4の各パッド4a上の各半田部2に接合可能なように、電子部品1と基板4の位置合わせを行う。   Next, in FIG. 1, the slide base 6 fixing the stage 7 to which the substrate 4 is fixed is moved in the Y1 or Y2 direction by the Y-direction moving device 23, and the electronic component 1 is held by suction. The head tool 3 is moved in the X1 or X2 direction by the X-direction moving device 22, and each bump 1b formed on each electrode 1a of the electronic component 1 is replaced with each pad 4a on the substrate 4 as shown in FIG. The electronic component 1 and the substrate 4 are aligned so that they can be joined to the solder parts 2 above.

その後、図3(C)に示すように、ヘッドツール3を昇降部21により下降させ、吸着ノズル11に吸着保持されている電子部品1の各バンプ1bを、ステージ7に固定されている基板4の各半田部2に当接させる。   Thereafter, as shown in FIG. 3C, the head tool 3 is lowered by the elevating unit 21, and the bumps 1 b of the electronic component 1 held by the suction nozzle 11 are fixed to the stage 4. Are brought into contact with each solder part 2.

この当接の後、図3(D)に示すように、ヘッドツール3のセラミックヒータ12により吸着ノズル11への加熱が行われ、吸着ノズル11に吸着保持されている電子部品1の各バンプ1bとこの各バンプ1bに当接されている基板4の各半田部2が加熱される。さらに、セラミックヒータ12による吸着ノズル11への加熱温度が、各バンプ1bを形成している半田の融点以上かつ各半田部2を形成している半田の融点以上の温度に昇温され、各バンプ1bと各半田部2が溶融される。   After this contact, as shown in FIG. 3D, the suction nozzle 11 is heated by the ceramic heater 12 of the head tool 3, and each bump 1b of the electronic component 1 held by the suction nozzle 11 is held. The solder portions 2 of the substrate 4 that are in contact with the bumps 1b are heated. Further, the heating temperature of the suction nozzle 11 by the ceramic heater 12 is raised to a temperature equal to or higher than the melting point of the solder forming each bump 1b and equal to or higher than the melting point of the solder forming each solder portion 2. 1b and each solder part 2 are melted.

その後、図3(E)に示すように、セラミックヒータ12による加熱を停止した後、溶融状態の半田に冷却ブローノズル19からのブローによる冷却を施すことにより、半田が固化され、電子部品1の各電極1aと基板4の各パッド4aが半田を介在して状態で接合される。なお、溶融状態の半田への冷却ブローノズル19による強制的な冷却に代えて、溶融された半田を自然冷却することにより半田を固化させてもよい。   Thereafter, as shown in FIG. 3E, after the heating by the ceramic heater 12 is stopped, the molten solder is cooled by blowing from the cooling blow nozzle 19, so that the solder is solidified and the electronic component 1 is Each electrode 1a and each pad 4a of the board | substrate 4 are joined in the state which interposed solder. Instead of forced cooling by the cooling blow nozzle 19 to the molten solder, the solder may be solidified by naturally cooling the molten solder.

その後、図3(F)に示すように、ヘッドツール3の先端部の吸着ノズル11による電子部品1への吸着保持を解除し、ヘッドツール3を昇降部21により上昇させる。なお、複数の電子部品1を基板4に実装する場合には、各々の電子部品1毎にこれらの作業を繰り返して行い、各電子部品1を基板4に個別に実装を行う。   Thereafter, as shown in FIG. 3F, the suction holding of the electronic tool 1 by the suction nozzle 11 at the tip of the head tool 3 is released, and the head tool 3 is raised by the elevating part 21. When a plurality of electronic components 1 are mounted on the substrate 4, these operations are repeated for each electronic component 1, and each electronic component 1 is individually mounted on the substrate 4.

なお、上記においては、接合部材が電子部品1の各電極1aに予め形成された各バンプ1b、及び基板4の各パッド4a上に予め形成された各半田部2である場合について説明したが、接合部材が電子部品1の各電極1aに予め形成された各バンプ1bのみであってもよい。   In the above description, the case where the bonding members are the bumps 1b formed in advance on the electrodes 1a of the electronic component 1 and the solder portions 2 formed in advance on the pads 4a of the substrate 4 has been described. The bonding member may be only the bumps 1b formed in advance on the electrodes 1a of the electronic component 1.

さらに、電子部品1の各電極1a上、又は基板4の各パッド4a上、又は接合部材である各バンプ1b若しくは各半田部2に、各接合部分における表面の酸化膜を除去し、溶融半田の濡れ性を良好とさせることができるフラックスを予め塗布により、供給してもよい。なお、塗布供給されたフラックスの種類により、電子部品1を基板4に実装後、塗布供給されたフラックスを洗浄による除去を行う場合もある。   Furthermore, the oxide film on the surface of each joint portion is removed on each electrode 1a of the electronic component 1 or each pad 4a of the substrate 4 or each bump 1b or each solder portion 2 which is a joining member, and the molten solder You may supply the flux which can make wettability favorable by application | coating previously. Depending on the type of flux supplied and supplied, the electronic component 1 may be mounted on the substrate 4 and then the supplied and supplied flux may be removed by washing.

次に、電子部品実装装置201におけるヘッドツール3の構造について、ヘッドツール3の構造を模式的に示す断面図である図2を用いて詳細に説明する。   Next, the structure of the head tool 3 in the electronic component mounting apparatus 201 will be described in detail with reference to FIG. 2 which is a cross-sectional view schematically showing the structure of the head tool 3.

図2において、ヘッドツール3は、電子部品1への吸着保持、加熱等の動作を施すヘッドツール先端部3aと、ヘッドツール先端部3aを支持し、ヘッドツール3に対する昇降動作が施されるヘッドツール本体部3bにより構成されている。   In FIG. 2, the head tool 3 supports a head tool tip 3 a that performs operations such as suction holding and heating to the electronic component 1, and a head that supports the head tool tip 3 a and is moved up and down with respect to the head tool 3. It is comprised by the tool main-body part 3b.

ヘッドツール先端部3aは、その先端側より、電子部品1を吸着保持可能な吸着ノズル11と、この吸着ノズル11に吸着保持された電子部品1を加熱するセラミックヒータ12と、このセラミックヒータ12よりの熱がヘッドツール本体部3bへ伝わらない様に熱遮断を行う冷却部であるウォータージャケット13、及びこのウォータージャケット13の上部に取り付けられた軸部の一例である軸17により構成され、さらに、セラミックヒータ12により加熱された電子部品1をブローにより冷却する冷却ブローノズル19が軸17の下部周囲に取り付けられている。   From the tip side, the head tool tip portion 3 a is provided with a suction nozzle 11 capable of sucking and holding the electronic component 1, a ceramic heater 12 for heating the electronic component 1 sucked and held by the suction nozzle 11, and the ceramic heater 12. The water jacket 13 is a cooling unit that cuts off heat so that the heat is not transmitted to the head tool body 3b, and the shaft 17 is an example of a shaft portion attached to the upper portion of the water jacket 13. A cooling blow nozzle 19 for cooling the electronic component 1 heated by the ceramic heater 12 by blowing is attached around the lower portion of the shaft 17.

また、ヘッドツール本体部3bは、ヘッドツール先端部3aを支える支持部の一例であるフレーム16と、フレーム16に取り付けられた荷重検出部の一例であるロードセル14により構成されている。   The head tool main body 3b includes a frame 16 that is an example of a support that supports the head tool tip 3a, and a load cell 14 that is an example of a load detection unit attached to the frame 16.

フレーム16は剛体により形成された概略コ字状の形状となっており、ロードセル14を支える上部フレーム16aと、ヘッドツール先端部3aの軸17を、その軸17の側部に設けられた円環突起状のスプリング受部18の下部に軸17の外周を巻くように取りつけられた弾性体の一例である自重相殺スプリング15を介して支え、かつ軸17の上下動を案内する下部フレーム16bと、上部フレーム16a及び下部フレーム16bを支える円筒形状の中間フレーム16cにより構成されている。   The frame 16 has a substantially U-shape formed by a rigid body, and an upper frame 16a that supports the load cell 14 and a shaft 17 of the head tool tip 3a are arranged on a side of the shaft 17. A lower frame 16b that supports a self-weight canceling spring 15 as an example of an elastic body attached to the lower portion of the projecting spring receiving portion 18 so as to wind the outer periphery of the shaft 17 and guides the vertical movement of the shaft 17; It is constituted by a cylindrical intermediate frame 16c that supports the upper frame 16a and the lower frame 16b.

軸17は、その軸方向における中間付近に段部17cを有しており、この段部17cを境として、軸17の軸下部17bは軸上部17aよりも小径の軸となっている。さらに、この軸下部17bは、軸17を自重相殺スプリング15を介して支えている下部フレーム16bに形成された孔16dを貫通しており、この下部フレーム16bの孔16dが、軸17の上下動を案内可能に、かつ軸17の軸上部17aの径よりも小径となるように形成されている。これにより、軸17は、自重相殺スプリング15を介して下部フレーム16bに支えられながら、下部フレーム16bの孔16dに案内されて上下動が可能であり、また、自重相殺スプリング15が破損等により軸17を支持することができなくなったような場合においても、下部フレーム16bの孔16dの周囲部が軸17の段部17cで軸17を支えることができ、軸17が落下しないようになっている。   The shaft 17 has a step portion 17c near the middle in the axial direction, and the shaft lower portion 17b of the shaft 17 has a smaller diameter than the shaft upper portion 17a with the step portion 17c as a boundary. Further, the shaft lower portion 17b passes through a hole 16d formed in the lower frame 16b that supports the shaft 17 via a self-weight canceling spring 15, and the hole 16d of the lower frame 16b moves up and down the shaft 17. Is formed so as to be smaller than the diameter of the shaft upper portion 17a of the shaft 17. Thus, the shaft 17 can be moved up and down while being supported by the lower frame 16b via the self-weight canceling spring 15 and guided by the hole 16d of the lower frame 16b. Even when it becomes impossible to support 17, the periphery of the hole 16 d of the lower frame 16 b can support the shaft 17 by the stepped portion 17 c of the shaft 17, and the shaft 17 does not fall. .

さらに、軸下部17bがボールスプラインの外輪と軸を備え、下部フレーム16bが孔16dの内側にベアリングを備え、上記ベアリングの内側に上記ボールスプラインの外輪が取り付けられることにより、軸17は、下部フレーム16bに支持されながら軸を中心として回転可能であり、かつ軸方向に上下動可能とすることもできる。   Further, the shaft lower portion 17b includes a ball spline outer ring and a shaft, the lower frame 16b includes a bearing inside the hole 16d, and the ball spline outer ring is attached to the inside of the bearing, whereby the shaft 17 While being supported by 16b, it is possible to rotate about the axis and to move up and down in the axial direction.

また、中間フレーム16cは、その円筒形状の両端を昇降部21のナット部21bに固定されており、昇降部21においてナット部21bに螺合したボールねじ軸21aをモータ21mにより回転させることにより、中間フレーム16cが昇降動作され、これによりフレーム16が昇降動作され、ヘッドツール3全体が昇降動作されるように構成されている。   Moreover, the both ends of the cylindrical shape of the intermediate frame 16c are fixed to the nut part 21b of the elevating part 21, and the ball screw shaft 21a screwed to the nut part 21b in the elevating part 21 is rotated by the motor 21m. The intermediate frame 16c is moved up and down, whereby the frame 16 is moved up and down, and the entire head tool 3 is moved up and down.

また、吸着ノズル11、セラミックヒータ12、ウォータージャケット13、軸17、及びロードセル14の各中心は同軸上に配置されており、この軸は昇降部21の昇降動作軸と平行となるように配置されているため、昇降部21による昇降動作により、吸着ノズル11、セラミックヒータ12、ウォータージャケット13、軸17、及びロードセル14は、上記同軸上において、昇降動作可能となっている。   The centers of the suction nozzle 11, the ceramic heater 12, the water jacket 13, the shaft 17, and the load cell 14 are arranged on the same axis, and this shaft is arranged to be parallel to the lifting operation axis of the lifting unit 21. Therefore, the suction nozzle 11, the ceramic heater 12, the water jacket 13, the shaft 17, and the load cell 14 can be moved up and down on the same axis by the lifting operation by the lifting unit 21.

さらに、ロードセル14の荷重検出面である下面に、ヘッドツール先端部3aにおける軸17の上端が、下部フレーム16bに取り付けられ軸17を、スプリング受部18を介して支えている自重相殺スプリング15により、押圧されて接しており、ロードセル14によりヘッドツール先端部3aの軸17の上方向に働く荷重が検出可能となっている。   Further, an upper end of the shaft 17 at the head tool tip 3a is attached to the lower surface 16b of the load cell 14 by a self-weight canceling spring 15 attached to the lower frame 16b and supporting the shaft 17 via a spring receiving portion 18. The load acting on the shaft 17 of the head tool tip 3 a can be detected by the load cell 14.

また、軸17の下部周囲である軸下部17bの周囲に取り付けられている冷却ブローノズル19は、軸17の下に位置するウォータージャケット13及びセラミックヒータ12の両側を回り込むように形成され、さらに、冷却ブローノズル19の先端は吸着ノズル11の下面である電子部品吸着保持面に向けられており、冷却ブローノズル19よりのブローが吸着ノズル11に吸着保持された電子部品1を冷却可能となっている。   Moreover, the cooling blow nozzle 19 attached to the periphery of the lower shaft portion 17b that is the lower periphery of the shaft 17 is formed so as to go around both sides of the water jacket 13 and the ceramic heater 12 positioned under the shaft 17, The tip of the cooling blow nozzle 19 is directed to the electronic component suction holding surface which is the lower surface of the suction nozzle 11, and the electronic component 1 sucked and held by the suction nozzle 11 can be cooled by the blow from the cooling blow nozzle 19. Yes.

また、制御装置9は、吸着ノズル11の吸着動作、セラミックヒータ12の加熱動作、及び昇降部21の移動動作を制御し、ロードセル14にて検出された荷重が制御装置9に出力されるように構成されている。   Further, the control device 9 controls the suction operation of the suction nozzle 11, the heating operation of the ceramic heater 12, and the movement operation of the elevating unit 21 so that the load detected by the load cell 14 is output to the control device 9. It is configured.

ここで、電子部品実装装置201に備えられている制御装置9の構成を示すブロック図を図4に示す。図4に示すように、制御装置9は、電子部品実装装置201における駆動系である昇降部21、X方向移動装置22、及びY方向移動装置23の動作制御(すなわちモータの制御)を行うモータ制御部94と、ロードセル14による荷重検出の動作制御を行う荷重制御部95と、セラミックヒータ12による加熱動作の制御を行う温度制御部96とを備えている。なお、セラミックヒータ12の近傍には温度検出部である熱電対12aが備えられており、この熱電対12aによる温度検出結果が、温度制御部96に入力されるように構成されている。なお、ここで説明するのは、制御装置9が備える主な制御部についてだけであり、これら以外にも、例えば、冷却ブローノズル19の動作制御を行う制御部や、吸着ノズル11による吸着保持動作の制御を行う制御部などが備えられている。   Here, a block diagram showing a configuration of the control device 9 provided in the electronic component mounting apparatus 201 is shown in FIG. As shown in FIG. 4, the control device 9 is a motor that performs operation control (that is, motor control) of the elevating unit 21, the X-direction moving device 22, and the Y-direction moving device 23 that are drive systems in the electronic component mounting apparatus 201. A control unit 94, a load control unit 95 that controls the operation of load detection by the load cell 14, and a temperature control unit 96 that controls the heating operation by the ceramic heater 12 are provided. A thermocouple 12 a that is a temperature detection unit is provided in the vicinity of the ceramic heater 12, and a temperature detection result by the thermocouple 12 a is input to the temperature control unit 96. Note that only the main control unit included in the control device 9 will be described here. Besides, for example, a control unit that controls the operation of the cooling blow nozzle 19 and an adsorption holding operation by the adsorption nozzle 11. A control unit for controlling the above is provided.

また、図4に示すように、制御装置9には、これらの複数の制御部94、95、及び96における制御動作を互いに関連付けながら統括的に制御する処理部91が備えられている。さらに、制御装置9には、これらの制御動作の基本となる制御プログラムや制御データ、あるいは検出・測定されたデータを読み出し可能に保管する記憶部の一例であるメモリ部93と、制御動作に必要な操作や運転情報などを表示するための操作・表示部92が備えられている。   As shown in FIG. 4, the control device 9 includes a processing unit 91 that performs overall control while associating control operations in the plurality of control units 94, 95, and 96 with each other. Further, the control device 9 includes a memory unit 93 that is an example of a storage unit that stores the control programs and control data that are the basis of these control operations, and the detected and measured data in a readable manner, and is necessary for the control operations. An operation / display unit 92 for displaying various operations and driving information is provided.

また、制御装置9におけるメモリ部93には、例えば、それぞれの駆動装置の駆動量やタイミングを決定する実装プログラムや、後述する予め設定された当接荷重データや、加熱又は冷却温度の温度プロファイル等が読み出し可能に保持されている。また、モータ制御部94により昇降部21が制御されて、ヘッドツール先端部3aの装備されている吸着ノズル11が上昇又は下降された場合における当該吸着ノズル11の先端部の高さ位置のデータを取得されて、メモリ部93に記憶させることが可能となっている。   The memory unit 93 in the control device 9 includes, for example, a mounting program for determining the driving amount and timing of each driving device, preset contact load data described later, a temperature profile of heating or cooling temperature, and the like. Is held readable. In addition, when the lifting / lowering unit 21 is controlled by the motor control unit 94 and the suction nozzle 11 equipped with the head tool tip 3a is raised or lowered, data on the height position of the tip of the suction nozzle 11 is obtained. It can be acquired and stored in the memory unit 93.

次に、制御装置9の荷重制御部95によりロードセル14が制御されて、電子部品1と基板4の当接時に発生する当接荷重を検出する制御方法について説明する。   Next, a control method in which the load cell 14 is controlled by the load control unit 95 of the control device 9 to detect a contact load generated when the electronic component 1 and the substrate 4 are in contact will be described.

電子部品1と基板4の位置合わせの後、電子部品1を吸着ノズル11により吸着保持したままヘッドツール3が昇降部21により下降され、電子部品1の各バンプ1bが基板4の各半田部2に当接する。このとき、電子部品1の各バンプ1bと基板4の各半田部2の間に当接荷重が発生し、この当接荷重により、ヘッドツール3のロードセル14の荷重検出面に接した状態にあるヘッドツール先端部3aの軸17の上端が、ロードセル14の荷重検出面を押し上げ、この当接荷重がロードセル14にて検出される。   After alignment of the electronic component 1 and the substrate 4, the head tool 3 is lowered by the elevating unit 21 while the electronic component 1 is sucked and held by the suction nozzle 11, and each bump 1 b of the electronic component 1 is moved to each solder portion 2 of the substrate 4. Abut. At this time, a contact load is generated between each bump 1b of the electronic component 1 and each solder portion 2 of the substrate 4, and the contact load is in contact with the load detection surface of the load cell 14 of the head tool 3. The upper end of the shaft 17 of the head tool tip 3 a pushes up the load detection surface of the load cell 14, and this contact load is detected by the load cell 14.

このように検出された荷重データは、制御装置9の荷重制御部95に入力されるとともに、メモリ部93に保持されている予め設定された当接荷重データが処理部91により読み出されて荷重制御部95に入力され、荷重制御部95において、検出された荷重データと予め設定された当接荷重データとの比較が行われる。この比較結果に基づいて、処理部91を介してモータ制御部94により昇降部21が制御されて、予め設定された当接荷重となるように、昇降部21によりヘッドツール3を微小量だけ下降又は上昇させる。これにより、ロードセル14により検出される当接荷重を予め設定された当接荷重とすることができる。なお、このような検出される荷重の制御方法は、荷重一定制御方法ということができる。   The load data detected in this way is input to the load control unit 95 of the control device 9, and preset contact load data held in the memory unit 93 is read by the processing unit 91 to load the load data. The load is input to the control unit 95, and the load control unit 95 compares the detected load data with preset contact load data. Based on the comparison result, the lifting / lowering unit 21 is controlled by the motor control unit 94 via the processing unit 91, and the head tool 3 is lowered by a minute amount by the lifting / lowering unit 21 so as to obtain a preset contact load. Or raise. Thereby, the contact load detected by the load cell 14 can be set to a preset contact load. Such a detected load control method can be referred to as a constant load control method.

次に、このような構成の電子部品実装装置201を用いて、熱によるヘッドツール3やステージ7等の伸び量及び縮み量を考慮しながら、微小化されたバンプ1bを有する電子部品1を基板4に高い実装位置精度でもって実装する実装方法について以下に具体的に説明する。   Next, using the electronic component mounting apparatus 201 having such a configuration, the electronic component 1 having the miniaturized bumps 1b is mounted on the substrate while taking into account the amount of expansion and contraction of the head tool 3 and the stage 7 due to heat. A mounting method for mounting with a high mounting position accuracy of 4 will be specifically described below.

本実施形態の電子部品の実装方法においては、実際に電子部品の基板への実装を行う前に実装準備工程として、ヘッドツール3、ステージ7、そして電子部品1自体の熱による伸び量及び縮み量のデータの取得を行う。しかしながら、このような熱による伸び量及び縮み量のデータを、各々の構成部材毎に個別に測定することは現実的には困難を伴うものであるため、これらの伸び量及び縮み量が集約されたデータとして、当該伸び又は縮みに伴う吸着ノズル11における部品保持面とステージ7における基板保持面との間の距離の変位量のデータの取得を行うものである。   In the electronic component mounting method of this embodiment, the amount of expansion and contraction due to heat of the head tool 3, the stage 7, and the electronic component 1 itself as a mounting preparation step before actually mounting the electronic component on the substrate. Get the data. However, since it is actually difficult to measure the data of the amount of expansion and contraction due to heat individually for each component member, the amount of expansion and contraction is aggregated. As the data, the amount of displacement data of the distance between the component holding surface of the suction nozzle 11 and the substrate holding surface of the stage 7 associated with the expansion or contraction is acquired.

さらに具体的に説明すると、電子部品1と略同じ材質にて形成されたデータ取得用電子部品20として、それぞれの電極20a上にバンプ1bが形成されていない電子部品を用いて、当該データ取得用電子部品20をヘッドツール3により吸着保持して基板4に対して当接させながら、電子部品1を基板4に実装する場合と同じ温度プロファイルでもって、データ取得用電子部品に対して加熱・冷却の各プロセスを施して、当該それぞれのプロセスの間に、ヘッドツール3のロードセル14により検出される当接荷重が所定の荷重(例えば、一定の当接荷重)となるようにした場合における吸着ノズル11の部品保持面の高さ位置の変位状態(軌跡)を測定することで、上記変位量のデータを取得するものである。また、データ取得用電子部品20として、それぞれのバンプ1bが形成されていない電子部品1を用いるのは、バンプ1bが存在するような場合には、上記加熱によるバンプ1bの溶融により、ロードセル14により検出される荷重の荷重抜けが生じるため、上記荷重一定制御を継続することが困難となるからである。このようなデータ取得用電子部品20を用いた上記変位量データの取得方法について、図5に示す模式説明図及び図6に示すフローチャートを用いて以下に説明する。   More specifically, as the data acquisition electronic component 20 formed of substantially the same material as that of the electronic component 1, an electronic component in which the bump 1b is not formed on each electrode 20a is used. While the electronic component 20 is sucked and held by the head tool 3 and brought into contact with the substrate 4, the electronic component 1 is heated and cooled with the same temperature profile as when the electronic component 1 is mounted on the substrate 4. The suction nozzle in the case where the contact load detected by the load cell 14 of the head tool 3 becomes a predetermined load (for example, a constant contact load) during each process. The displacement amount data is obtained by measuring the displacement state (trajectory) of the height position of the component holding surface 11. Further, the electronic component 1 in which the bumps 1b are not formed is used as the data acquisition electronic component 20, because when the bumps 1b exist, the load cell 14 melts the bumps 1b by heating. This is because the detected load is lost and it is difficult to continue the constant load control. A method for acquiring the displacement amount data using the electronic component 20 for data acquisition will be described below with reference to a schematic explanatory diagram shown in FIG. 5 and a flowchart shown in FIG.

まず、図5(A)の模式説明図に示すように、電子部品実装装置201におけるステージ7の基板保持面7aに基板4を載置して保持させる。なお、基板4としては、実際の電子部品実装において用いられる基板4をそのまま用いることが好ましいが、同様な形状及び同様な材質にて構成されるようなデータ取得用基板が用いられるような場合であってもよい。本実施形態においては、実際の基板4をそのまま用いている。なお、基板4の図示上面には複数のパッド4aが形成されているものの、半田部2が形成されていない基板4が用いられる。   First, as shown in the schematic explanatory view of FIG. 5A, the substrate 4 is placed and held on the substrate holding surface 7 a of the stage 7 in the electronic component mounting apparatus 201. As the substrate 4, it is preferable to use the substrate 4 used in actual electronic component mounting as it is. However, in the case where a data acquisition substrate configured with the same shape and the same material is used. There may be. In the present embodiment, the actual substrate 4 is used as it is. In addition, although the several pad 4a is formed in the illustration upper surface of the board | substrate 4, the board | substrate 4 in which the solder part 2 is not formed is used.

次に、図5(B)に示すように、ヘッドツール3の吸着ノズル11によりデータ取得用電子部品20の吸着保持が行われる(図6のステップS1)。その後、電子部品実装装置201において、X軸方向移動装置22によりヘッドツール3が図示X1方向又はX2方向に移動されるとともに、Y軸方向移動装置23によりステージ7が図示Y1方向又はY2方向に移動されて、データ取得用電子部品20の実装側表面に形成されているそれぞれの電極20aと、基板4に形成されているそれぞれのパッド4aとの位置合わせが行われる。   Next, as shown in FIG. 5B, the data acquisition electronic component 20 is sucked and held by the suction nozzle 11 of the head tool 3 (step S1 in FIG. 6). Thereafter, in the electronic component mounting apparatus 201, the head tool 3 is moved in the X1 direction or X2 direction by the X-axis direction moving device 22, and the stage 7 is moved in the Y1 direction or Y2 direction by the Y-axis direction moving device 23. As a result, alignment between the respective electrodes 20a formed on the mounting surface of the data acquisition electronic component 20 and the respective pads 4a formed on the substrate 4 is performed.

このような位置合わせが完了すると、図6のステップS2において、昇降部21によりヘッドツール3の下降が開始される。当該下降により、図5(C)に示すように、吸着ノズル11により吸着保持された状態のデータ取得用電子部品20の実装側表面(図示下面)と基板4の表面(図示上面)とが互いに接触する。当該接触が行われると、ヘッドツール3においてロードセル14により荷重が検出される。このように検出された荷重が、制御装置9の荷重制御部95に入力され、荷重制御部95においてメモリ部93より読み出された予め設定されている当接荷重と当該入力された荷重との比較が行われ、検出される荷重が当接荷重に達するまで荷重監視が行われて、ヘッドツール3の下降が継続される(ステップS3)。なお、このステップS3において、検出された荷重が上記予め設定された当接荷重に達したものと判断された場合には、ステップS4において、ヘッドツール3の下降が停止される。この状態がデータ取得用電子部品20と基板4との当接状態である。   When such alignment is completed, the head tool 3 starts to be lowered by the elevating unit 21 in step S2 of FIG. 5C, the mounting-side surface (lower surface in the drawing) of the data acquisition electronic component 20 held by suction by the suction nozzle 11 and the surface (upper surface in the drawing) of the substrate 4 are mutually connected. Contact. When the contact is made, the load is detected by the load cell 14 in the head tool 3. The load detected in this way is input to the load control unit 95 of the control device 9, and the preset contact load read from the memory unit 93 by the load control unit 95 and the input load. Comparison is performed, load monitoring is performed until the detected load reaches the contact load, and the descent of the head tool 3 is continued (step S3). When it is determined in step S3 that the detected load has reached the preset contact load, the descent of the head tool 3 is stopped in step S4. This state is a contact state between the data acquisition electronic component 20 and the substrate 4.

その後、このような当接状態をより確実なものとするために、さらにヘッドツール3を微小に下降させて、部品押さえ込みを行う(ステップS5)。この部品押さえ込みのためのヘッドツール3の下降は、上記当接荷重よりも大きな荷重である予め設定されている部品押さえ込みのための所定荷重に、ロードセル14により検出される荷重が到達するまで荷重監視が行われながら継続される(ステップS6)。ステップS6において、検出される荷重が上記所定の荷重に到達したことが確認されると、ヘッドツール3の下降が停止されて、当該状態が保持される(ステップS7)。   Thereafter, in order to make such a contact state more reliable, the head tool 3 is further lowered slightly to perform component pressing (step S5). The descending of the head tool 3 for pressing the component is monitored until the load detected by the load cell 14 reaches a predetermined load for pressing the component, which is a load larger than the contact load. Is continued (step S6). When it is confirmed in step S6 that the detected load has reached the predetermined load, the descent of the head tool 3 is stopped and the state is maintained (step S7).

その後、制御装置9のメモリ部93に保持されている電子部品1の基板4への実装のための温度プロファイルデータが読み出されて、温度制御部96により当該温度プロファイルデータに基づく加熱/冷却制御が開始される(ステップS10)。このような温度プロファイルデータは、例えば、時間区分毎の温度変化データとして作成され、当該それぞれの時間区分毎に、第1の加熱/冷却ステップ、第2の加熱/冷却ステップ、第3の加熱/冷却ステップ、・・・、第nの加熱/冷却ステップ(ただし、nは整数)として、細分化されたステップにより構成されている。一例を挙げれば、第2の加熱/冷却ステップにおいて、所要時間8秒、開始温度240℃、終了温度380℃というようなそれぞれのステップにより構成されている。従って、このような温度プロファイルデータに基づく加熱/冷却制御は、第1の加熱/冷却ステップから順次行われ、最終の第nの加熱/冷却ステップが完了するまで行われる。具体的には、当該加熱/冷却ステップが温度上昇(あるいは加温された状態の保持)を要求するものであれば、セラミックヒータ12による加熱が行われ、データ取得用電子部品20及び基板4の加熱が行われる(図5(D)参照)。逆に当該加熱/冷却ステップが温度下降を要求するものであれば、セラミックヒータ12による加熱を停止して、冷却ブローノズル19による冷却が行われる(図5(E)参照)。   Thereafter, temperature profile data for mounting the electronic component 1 on the substrate 4 held in the memory unit 93 of the control device 9 is read, and the temperature control unit 96 performs heating / cooling control based on the temperature profile data. Is started (step S10). Such temperature profile data is created, for example, as temperature change data for each time section. For each time section, the first heating / cooling step, the second heating / cooling step, the third heating / cooling data, and the like. As the cooling step,..., The nth heating / cooling step (where n is an integer), the cooling step is composed of subdivided steps. For example, in the second heating / cooling step, each step includes a required time of 8 seconds, a start temperature of 240 ° C., and an end temperature of 380 ° C. Therefore, the heating / cooling control based on such temperature profile data is sequentially performed from the first heating / cooling step until the final n-th heating / cooling step is completed. Specifically, if the heating / cooling step requires a temperature increase (or maintaining a heated state), heating by the ceramic heater 12 is performed, and the data acquisition electronic component 20 and the substrate 4 are heated. Heating is performed (see FIG. 5D). Conversely, if the heating / cooling step requires a temperature drop, heating by the ceramic heater 12 is stopped and cooling by the cooling blow nozzle 19 is performed (see FIG. 5E).

また、このようなステップS10における加熱/冷却制御の際に、ヘッドツール3による荷重一定制御が行われる。具体的には、ステップS8において、ヘッドツール3の下降及び上昇が停止された状態において、ロードセル14により検出される荷重が、上記所定の荷重の範囲内にあるかどうかが判断される。所定の荷重の範囲内にあると判断される場合には、ステップS10において実施される全ての加熱/冷却ステップが完了したかどうかが判断され(ステップS12)、全てが完了するまで、ステップS8における所定荷重の確認動作が繰り返される。   In addition, during the heating / cooling control in step S10, a constant load control by the head tool 3 is performed. Specifically, in step S8, it is determined whether or not the load detected by the load cell 14 is within the predetermined load range in a state where the lowering and raising of the head tool 3 are stopped. If it is determined that it is within the predetermined load range, it is determined whether all heating / cooling steps performed in step S10 have been completed (step S12), and in step S8 until all are completed. The operation for confirming the predetermined load is repeated.

一方、ヘッドツール3による加熱又は冷却が行われると、これらの熱の出入りに伴ってヘッドツール3やステージ7、そしてデータ取得用電子部品20や基板4自体に、当該熱による伸びや縮みが生じることとなる。このようなそれぞれの伸び及び縮みの発生により、ヘッドツール3の吸着ノズル11の部品保持面11aと、ステージ7の基板保持面7aとの間の距離に変位量が生じることとなるが、現実的には、部品保持面11aと基板保持面7aとの間には、データ取得用電子部品20が配置されているため、当該距離の変位量はロードセル14にて検出される荷重の変化量となって現れることとなる。従って、このような伸びや縮みが生じると、ステップS8において、ロードセル14により検出される荷重が増加又は減少することとなり、その度合いによっては、検出される荷重が上記所定の荷重の範囲内を超過するような場合も生じる。当該超過が生じる場合には、ステップS9において、上記超過した荷重(すなわち過重差分)に応じて、昇降部21によりヘッドツール3の上昇又は下降が行われる。この上昇又は下降によりロードセル14にて検出される荷重が、上記所定の範囲内に保たれる。すなわち、上記伸び又は縮みにより生じた上記変位量がヘッドツール3の移動により除去されることとなる。   On the other hand, when heating or cooling is performed by the head tool 3, the head tool 3, the stage 7, and the data acquisition electronic component 20 or the substrate 4 itself are stretched or shrunk by the heat as the heat enters or exits. It will be. Due to the occurrence of each of such expansion and contraction, a displacement amount is generated in the distance between the component holding surface 11a of the suction nozzle 11 of the head tool 3 and the substrate holding surface 7a of the stage 7. In this case, since the data acquisition electronic component 20 is disposed between the component holding surface 11a and the substrate holding surface 7a, the displacement amount of the distance is the change amount of the load detected by the load cell 14. Will appear. Therefore, when such expansion or contraction occurs, the load detected by the load cell 14 increases or decreases in step S8. Depending on the degree, the detected load exceeds the predetermined load range. There are cases where this happens. When the excess occurs, in step S9, the head tool 3 is raised or lowered by the elevating unit 21 in accordance with the excess load (that is, the excess difference). The load detected by the load cell 14 by this ascent or descent is kept within the predetermined range. That is, the displacement generated by the expansion or contraction is removed by the movement of the head tool 3.

また、このようなステップS10における加熱/冷却制御が行われている間は、ヘッドツール3の昇降高さ位置として、例えば吸着ノズル11の部品保持面11aの高さ位置の位置座標(位置データ)が、昇降部21を通してモータ制御部94に入力され、処理部91によりメモリ部93に記憶される(ステップS11)。すなわち、ヘッドツール3の高さ位置の移動軌跡のデータが記憶されることとなる。このような位置データが、上記変位量データであり、上記熱による伸び量又は縮み量を除去するためのデータとなる。   Further, while the heating / cooling control in step S <b> 10 is performed, for example, the position coordinate (position data) of the height position of the component holding surface 11 a of the suction nozzle 11 is used as the elevation position of the head tool 3. Is input to the motor control unit 94 through the lifting unit 21 and stored in the memory unit 93 by the processing unit 91 (step S11). That is, data on the movement locus of the height position of the head tool 3 is stored. Such position data is the displacement amount data, and is data for removing the amount of expansion or contraction due to the heat.

その後、ステップS12において、全ての加熱/冷却ステップが完了したものと判断されると、図5(F)に示すように、ヘッドツール3の吸着ノズル11によるデータ取得用電子部品20の吸着保持が解除され(ステップS13)、昇降部21によりヘッドツール3の上昇が行われる(ステップS14)。これにより、上記熱による各部材等の伸び量や縮み量を除去するためのデータの取得、すなわち、吸着ノズル11の位置データの取得が完了する。   After that, if it is determined in step S12 that all heating / cooling steps have been completed, as shown in FIG. 5 (F), suction holding of the data acquisition electronic component 20 by the suction nozzle 11 of the head tool 3 is performed. The head tool 3 is lifted by the lifting unit 21 (step S14). Thereby, acquisition of data for removing the amount of expansion and contraction of each member due to the heat, that is, acquisition of the position data of the suction nozzle 11 is completed.

ここで、本明細書における加熱又は冷却に伴う吸着ノズル11の部品保持面11aとステージ7の基板保持面7aとの間の距離の「変位量」について詳細に説明する。当該説明にあたって、図7〜図9に模式説明図を示す。   Here, the “displacement amount” of the distance between the component holding surface 11a of the suction nozzle 11 and the substrate holding surface 7a of the stage 7 accompanying heating or cooling in this specification will be described in detail. In the description, schematic explanatory views are shown in FIGS.

まず、図7(A)に示すように、部品保持面11aと基板保持面7aの間の距離がdに保たれた状態の吸着ノズル11及びステージ7(図示実線にて示す)が加熱されると、両部材に熱による伸びが発生し、当該距離がdに縮められる(図示2点鎖線にて示す)。従って、当該加熱に伴う距離の変位量は、Δd=d−dとなり、当該変位量を除去するためには、図7(B)に示すように、吸着ノズル11をΔdだけ上昇させればよい。なお、上記変位量は、減少する方向を便宜上、負で表している。また、図7(A)において、両部材の間に、例えばデータ取得用電子部品20が配置されているような場合には、現実的には上記距離の変位量が現れることなく、それに代わって、ロードセル14にて検出される荷重の増加として現れることとなる。なお、上記変位量としては、部品保持面11aと基板保持面7aとの間の距離を対象としているが、このような場合に代えて、電子部品1における実装側表面と基板の表面との間の距離を対象とするような場合であってもよい。 First, as shown in FIG. 7 (A), the suction nozzle 11 and the stage 7 in a state where the distance between the component holding face 11a and the substrate holding surface 7a is kept at d 0 (indicated by shown solid line) is heated Then, both members are stretched by heat, and the distance is reduced to d 1 (indicated by a two-dot chain line in the drawing). Therefore, the displacement amount of the distance accompanying the heating becomes Δd 1 = d 0 −d 1 , and in order to remove the displacement amount, the suction nozzle 11 is raised by Δd 1 as shown in FIG. 7B. You can do it. For the sake of convenience, the amount of displacement is expressed as negative for the sake of convenience. Further, in FIG. 7A, for example, when the data acquisition electronic component 20 is disposed between the two members, the displacement amount of the above distance does not actually appear, and instead, This appears as an increase in the load detected by the load cell 14. In addition, although the displacement amount is intended for the distance between the component holding surface 11a and the substrate holding surface 7a, instead of such a case, the distance between the mounting side surface of the electronic component 1 and the surface of the substrate is used. It may be a case where the distance is targeted.

また、図8(A)に示すように、冷却に伴って両部材に縮みが発生した場合には、当該距離が、dからdに拡大される(図示2点鎖線にて示す)。この場合、当該冷却に伴う距離の変位量は、Δd=d−dとなり、当該変位量を除去するためには、図8(B)に示すように、吸着ノズル11をΔdだけ下降させればよい。 Further, as shown in FIG. 8 (A), if the shrinkage in both members with the cooling occurs, the distance is, (indicated by illustrated two-dot chain line) enlarged by the d 0 to d 2. In this case, the displacement amount of the distance accompanying the cooling is Δd 2 = d 0 −d 2 , and in order to remove the displacement amount, the suction nozzle 11 is moved by Δd 2 as shown in FIG. Just lower it.

さらに、図9(A)に示すように、加熱に伴ってデータ取得用電子部品20に伸びが発生した場合には、電子部品20の高さ寸法がdからdに拡大される(図示2点鎖線にて示す)。この場合、当該加熱に伴う距離の変位量は、Δd=d−dとなり、当該変位量を除去するためnには、図9(B)に示すように、吸着ノズル11をΔdだけ上昇させればよい。実際には、図9(A)に示すように、吸着ノズル11とステージ7との間の距離が、電子部品20への伸びの発生にも拘わらず、距離dに保持されているため、上記変位量は、実際の距離の変位量として現れるのではなく、ロードセル14にて検出される荷重の増加として検出されることとなる。図9(B)のように、吸着ノズル11の上昇を行うことで、荷重増加として現れる当該距離の変位量を除去することができる。 Further, as shown in FIG. 9A, when the data acquisition electronic component 20 is stretched due to heating, the height dimension of the electronic component 20 is expanded from d 0 to d 3 (illustrated). (Indicated by a two-dot chain line). In this case, the displacement amount of the distance due to the heating is Δd 3 = d 3 −d 0. In order to remove the displacement amount, n is set to Δd 3 as shown in FIG. 9B. Just raise it. Actually, as shown in FIG. 9A, the distance between the suction nozzle 11 and the stage 7 is maintained at the distance d 0 regardless of the occurrence of elongation to the electronic component 20. The displacement amount does not appear as an actual distance displacement amount, but is detected as an increase in load detected by the load cell 14. As shown in FIG. 9B, by moving up the suction nozzle 11, the displacement amount of the distance that appears as an increase in load can be removed.

ここで、上述のデータ取得用電子部品20を用いて取得されたそれぞれの部材の熱による伸び及び縮みに伴う上記距離の変位量を除去するための吸着ノズル11の部品保持面11aの位置データのプロファイル81を、ロードセル14にて検出される荷重プロファイル82と、加熱/冷却制御に用いられる温度プロファイル83との関係で、模式的に示す模式説明図を図10に示す。なお、図10においては、それぞれのプロファイルの関係を分かり易くするために、同じグラフ上にそれぞれのプロファイルをプロットしている。そのため、縦軸座標(ノズル高さ位置、荷重、温度)は、個々のプロファイルにおける相対的な変化量を表しており、これに対して、横軸は、全てのプロファイルに共通の時間を表している。   Here, the position data of the component holding surface 11a of the suction nozzle 11 for removing the displacement amount of the distance due to the expansion and contraction due to heat of each member acquired using the electronic component 20 for data acquisition described above. A schematic explanatory diagram schematically showing the profile 81 in relation to a load profile 82 detected by the load cell 14 and a temperature profile 83 used for heating / cooling control is shown in FIG. In FIG. 10, the profiles are plotted on the same graph in order to make the relationship between the profiles easy to understand. Therefore, the vertical coordinate (nozzle height position, load, temperature) represents the relative change in each profile, whereas the horizontal axis represents the time common to all profiles. Yes.

図10のプロファイル81、82、及び83に示すように、時間T1において、データ取得用電子部品20と基板4との当接が検出され、時間T2において、部品押さえ込みのための所定の荷重に到達される。その後、時間T2からT3にかけて、セラミックヒータ12による加熱が行われる。この加熱に伴って、各部材に熱による伸びが発生することとなるが、吸着ノズル11の高さ位置を上昇させることで、検出される荷重が一定に保たれる。時間T3にて温度上昇は停止され、定温制御が開始されるが、その後しばらくは各部材の伸びが続くため、時間T4にかけて吸着ノズル11の高さ位置をさらに上昇させることで、荷重が一定に保たれる。   As shown in profiles 81, 82, and 83 of FIG. 10, contact between the data acquisition electronic component 20 and the substrate 4 is detected at time T1, and a predetermined load for pressing the component is reached at time T2. Is done. Thereafter, heating by the ceramic heater 12 is performed from time T2 to T3. Along with this heating, each member is stretched by heat, but the detected load is kept constant by raising the height position of the suction nozzle 11. The temperature rise is stopped at time T3 and constant temperature control is started. However, since each member continues to grow for a while after that, the load is kept constant by further raising the height position of the suction nozzle 11 over time T4. Kept.

時間T4からT5にかけては、吸着ノズル11の高さ位置、荷重、及び温度が安定された状態とされる。時間T5に到達すると、冷却が開始され、それに伴って各部材に縮みが発生するが、時間T6にかけて吸着ノズル11の高さ位置を下降させることで、検出される荷重が一定に保たれる。その後、時間T7にて吸着ノズル11による電子部品20の吸着保持が解除される。   From time T4 to T5, the height position, load, and temperature of the suction nozzle 11 are stabilized. When the time T5 is reached, the cooling is started and the respective members are shrunk, but the detected load is kept constant by lowering the height position of the suction nozzle 11 over the time T6. Thereafter, the suction holding of the electronic component 20 by the suction nozzle 11 is released at time T7.

次に、このように取得された熱による各部材の伸び/縮みに伴う吸着ノズル11とステージ7との間の距離の変位量を除去するためのデータである吸着ノズル11の高さ位置データを用いて、実際に電子部品1を基板4に実装する手順について説明する。当該説明にあたって、実装手順を説明するフローチャートを図11に示し、図3(A)〜(F)の模式説明図を参照しながら以下に説明を行う。   Next, the height position data of the suction nozzle 11 which is data for removing the displacement amount of the distance between the suction nozzle 11 and the stage 7 due to the expansion / contraction of each member due to the heat thus obtained is obtained. A procedure for actually mounting the electronic component 1 on the substrate 4 will be described. In the description, a flowchart for explaining the mounting procedure is shown in FIG. 11 and will be described below with reference to schematic explanatory views of FIGS.

まず、電子部品1の実装動作を開始する前の準備動作として、制御装置9において、メモリ部93に保持されているノズル高さ位置のプロファイルデータが読み出されてモータ制御部94に入力されるとともに、温度プロファイルデータが読み出されて温度制御部96に入力される。また、メモリ部93に保持されている荷重プロファイルデータ(例えば、予め設定された当接荷重のデータや部品押さえ込みのための所定荷重のデータ)が読み出されて荷重制御部95に入力される。これにより、実装前の準備動作が完了する。   First, as a preparatory operation before starting the mounting operation of the electronic component 1, the profile data of the nozzle height position held in the memory unit 93 is read and input to the motor control unit 94 in the control device 9. At the same time, temperature profile data is read and input to the temperature control unit 96. In addition, load profile data (for example, preset contact load data or predetermined load data for pressing parts) held in the memory unit 93 is read out and input to the load control unit 95. Thereby, the preparatory operation before mounting is completed.

次に、図3(A)に示すように、ステージ7の基板保持面7aに基板4を保持させるとともに、ヘッドツール3の吸着ノズル11の部品保持面11aに電子部品1を吸着保持させる(ステップS21)。なお、基板4のそれぞれのパッド4a上には、半田部2が形成されている。その後、図3(B)に示すように、吸着保持された電子部品1と、基板4との位置合わせが行われる。当該位置合わせの後、昇降部21によるヘッドツール3の下降が開始され(ステップS22)、予め設定された当接荷重が、ロードセル14において検出するまで、当該下降が継続される(ステップS23)。ステップS23において、上記当接荷重が検出されるとヘッドツール3の下降が停止される(ステップS24)。さらにその後、部品押さえ込みのための所定荷重が検出されるまで、ヘッドツール3が下降される(ステップS25、S26)。当該所定の荷重か検出されるとヘッドツール3の下降が停止され(ステップS27)、図3(C)に示すように、電子部品1のそれぞれの電極1a上に形成されたバンプ1bと、基板4のそれぞれの半田部2とが確実に当接された状態とされる。   Next, as shown in FIG. 3A, the substrate 4 is held on the substrate holding surface 7a of the stage 7, and the electronic component 1 is held by suction on the component holding surface 11a of the suction nozzle 11 of the head tool 3 (step). S21). Note that a solder portion 2 is formed on each pad 4 a of the substrate 4. Thereafter, as shown in FIG. 3B, the electronic component 1 held by suction and the substrate 4 are aligned. After the alignment, the head tool 3 starts to descend by the elevating unit 21 (step S22), and the descent continues until a preset contact load is detected in the load cell 14 (step S23). When the contact load is detected in step S23, the descent of the head tool 3 is stopped (step S24). Thereafter, the head tool 3 is lowered until a predetermined load for pressing the component is detected (steps S25 and S26). When the predetermined load is detected, the descent of the head tool 3 is stopped (step S27). As shown in FIG. 3C, the bump 1b formed on each electrode 1a of the electronic component 1, and the substrate The respective solder parts 2 of 4 are brought into contact with each other reliably.

このように電子部品1と基板4とが当接された状態とされると、ステップS29において、温度制御部96によりセラミックヒータ12の加熱が開始され、温度プロファイルデータに基づく、それぞれのバンプ1b及び半田部2の温度制御が開始される(図3(D)参照)。具体的には、温度プロファイルデータに基づく第1の加熱/冷却ステップが実施され、順次第2の加熱/冷却ステップ、第3の加熱/冷却ステップ、・・・、第nの加熱/冷却ステップが実施される。   When the electronic component 1 and the substrate 4 are brought into contact with each other in this way, in step S29, heating of the ceramic heater 12 is started by the temperature control unit 96, and the respective bumps 1b and based on the temperature profile data are started. Temperature control of the solder part 2 is started (see FIG. 3D). Specifically, the first heating / cooling step based on the temperature profile data is performed, and the second heating / cooling step, the third heating / cooling step,..., The nth heating / cooling step are sequentially performed. To be implemented.

一方、このような温度プロファイルデータに基づく、加熱/冷却制御の開始とともに、ステップS28において、モータ制御部94により昇降部21の制御が開始され、ノズル高さ位置のプロファイルデータに基づく、吸着ノズル11の部品保持面11aの高さ位置の移動制御が開始される。具体的には、上記当接状態の高さ位置を基点として、上記ノズル高さ位置のプロファイルデータに基づく第1の加熱/冷却ステップに対応する高さ位置への移動制御が実施され、順次第2のステップ、第3のステップ、そして第nのステップに対応する移動制御が行われる。これにより、加熱による各部材の伸び量及び冷却による各部材の縮み量を除去することができる。なお、これらの加熱/冷却制御及びノズル高さ位置制御が行われている間は、温度、ノズル高さ位置、及び荷重の変化状態の監視(プロセスモニタリング)が行われる(ステップS30)。   On the other hand, along with the start of heating / cooling control based on such temperature profile data, in step S28, the control of the elevating unit 21 is started by the motor control unit 94, and the suction nozzle 11 based on the profile data of the nozzle height position. The movement control of the height position of the component holding surface 11a is started. Specifically, the movement control to the height position corresponding to the first heating / cooling step based on the profile data of the nozzle height position is performed using the height position of the contact state as a base point, and sequentially Movement control corresponding to the second step, the third step, and the nth step is performed. Thereby, the amount of expansion of each member due to heating and the amount of contraction of each member due to cooling can be removed. In addition, while these heating / cooling control and nozzle height position control are performed, monitoring (process monitoring) of the change state of temperature, nozzle height position, and load is performed (step S30).

その後、ステップS29において全ての加熱/冷却ステップの実施が完了すると、吸着ノズル11による電子部品1の吸着保持が解除されて(ステップS31)、昇降部21によりヘッドツール3が上昇される(ステップS32)。これにより、図3(F)に示すように、電子部品1のそれぞれの電極1aが、基板4のそれぞれのパッド4aに、溶融されてその後固化されたバンプ1b及び半田部2を介して接合された状態となり、電子部品1が基板4に実装されることとなる。   Thereafter, when all the heating / cooling steps are completed in step S29, the suction holding of the electronic component 1 by the suction nozzle 11 is released (step S31), and the head tool 3 is raised by the elevating unit 21 (step S32). ). As a result, as shown in FIG. 3F, each electrode 1a of the electronic component 1 is bonded to each pad 4a of the substrate 4 via the bump 1b and the solder portion 2 which are melted and then solidified. Thus, the electronic component 1 is mounted on the substrate 4.

ここでこのような動作手順に基づいて行われる電子部品1の基板4への実装の際に、プロセスモニタリングにより得られた実際の吸着ノズル11の高さ位置のデータ71、検出された荷重データ72、及び温度データ73の変化状態を図12のグラフに模式的に示す。なお、図12のグラフにおいて、縦軸には、ノズル高さ位置、荷重、及び温度を個々のデータ毎に相対的に示し、横軸には時間を示す。なお、これらの時間T1〜T7は、図10に示す時間と対応している。   Here, when the electronic component 1 is mounted on the substrate 4 based on such an operation procedure, the actual position data 71 of the suction nozzle 11 obtained by process monitoring and the detected load data 72 are obtained. The change state of the temperature data 73 is schematically shown in the graph of FIG. In the graph of FIG. 12, the vertical axis indicates the nozzle height position, load, and temperature relative to each data, and the horizontal axis indicates time. These times T1 to T7 correspond to the times shown in FIG.

図12に示すそれぞれのデータの変化状態は、基本的には、図10に示すそれぞれのプロファイル81〜83と略同じ波形を有している。ただし、図12に示すように、時間T2からT3の間における時間T2’における荷重データ72において、荷重W2からW1へと急激に減少している点において、図10に示すプロファイルデータと異なっている。これは、加熱によりそれぞれのバンプ1bと半田部2とが溶融状態へと移行することにより生じる荷重抜け現象であり、バンプ1bを有さないデータ取得用電子部品20が用いられる場合では生じない現象である。   The change state of each data shown in FIG. 12 basically has substantially the same waveform as each of the profiles 81 to 83 shown in FIG. However, as shown in FIG. 12, the load data 72 at time T2 ′ between the times T2 and T3 is different from the profile data shown in FIG. 10 in that the load data 72 rapidly decreases from the load W2 to W1. . This is a load loss phenomenon that occurs when the bumps 1b and the solder portions 2 are brought into a molten state by heating, and does not occur when the data acquisition electronic component 20 that does not have the bumps 1b is used. It is.

しかしながら、ノズル高さ位置データに基づく、電子部品1の実装においては、図11のフローチャートに示すように、ステップS27において当接状態とされた後は、荷重制御からノズル高さ位置制御(ステップS28)へと切り換えられるため、このように荷重抜け現象が発生するような場合であっても影響されることなく、熱による各部材の伸びや縮みを確実に除去しながら、実装動作を継続することができる。   However, in the mounting of the electronic component 1 based on the nozzle height position data, as shown in the flowchart of FIG. 11, after the contact state is established in step S27, the nozzle height position control (step S28) is performed after load control. Therefore, the mounting operation can be continued while reliably removing the expansion and contraction of each member due to heat, even if the load loss phenomenon occurs in this way. Can do.

次に、上述のような本実施形態において、応用的に行うことができるいくつかのオプション制御について、本実施形態の変形例とし以下に説明する。   Next, some optional controls that can be applied in the present embodiment as described above will be described below as modified examples of the present embodiment.

まず、第1の変形例にかかる電子部品の実装方法を説明するための図として、図12に対応する図であるノズル高さ位置データ、荷重データ、及び温度データの関係を示す模式的なグラフを図13に示す。図12に示したノズル高さ位置データは、データ取得用電子部品20を用いて取得されたプロファイルデータに基づくものである。ところが、データ取得用電子部品20はそれぞれのバンプ1bを備えていないため、実際の電子部品1とは多少異なる熱的な特性を有している場合がある。このような場合にあっては、上記プロファイルデータに基づいて吸着ノズル11の高さ位置制御を行ったとしても、熱による伸び/縮みのよる影響を完全に排除できない場合も生じ得る。   First, as a diagram for explaining the electronic component mounting method according to the first modified example, a schematic graph showing the relationship among nozzle height position data, load data, and temperature data corresponding to FIG. Is shown in FIG. The nozzle height position data shown in FIG. 12 is based on profile data acquired using the data acquisition electronic component 20. However, since the electronic component 20 for data acquisition does not include the respective bumps 1b, it may have thermal characteristics that are slightly different from those of the actual electronic component 1. In such a case, even if the height position control of the suction nozzle 11 is performed based on the profile data, there may be a case where the influence of the expansion / contraction due to heat cannot be completely eliminated.

このような場合、例えば、図13の荷重データにおける時間T5’において、本来検出されないはずの荷重W3が検出されるような場合、すなわち、プロファイルデータにおいて想定している場合よりも、各部材の縮み量が大きい(あるいは縮み速度が速い)ような場合にあっては、冷却固化されるそれぞれのバンプ1bや半田部2が電極1aやパッド4aから引き剥がされる恐れがある。このような場合には、図13のノズル高さ位置データに示すように、当該荷重W3をW1に戻すように、吸着ノズル11の高さ位置をΔHだけ下降させて、その後はもとのプロファイルデータにおける軌跡と同じ軌跡を用いて、ノズル高さ位置の制御を行う。すなわち、検出された荷重の変化量に基づいて、ノズル高さ位置を変化させることで、当該荷重の変化量を除去するようなフィードバック制御を行うことができる。   In such a case, for example, when the load W3 that should not be detected at the time T5 ′ in the load data in FIG. 13 is detected, that is, the contraction of each member than in the case assumed in the profile data. In the case where the amount is large (or the shrinkage speed is high), there is a possibility that the respective bumps 1b and solder portions 2 to be cooled and solidified are peeled off from the electrodes 1a and the pads 4a. In such a case, as shown in the nozzle height position data in FIG. 13, the height position of the suction nozzle 11 is lowered by ΔH so that the load W3 is returned to W1, and thereafter the original profile is obtained. The nozzle height position is controlled using the same locus as that in the data. That is, by changing the nozzle height position based on the detected load change amount, it is possible to perform feedback control so as to remove the load change amount.

このようなフィードバック制御は、図13を用いて説明したように、荷重の減少が検出されるような場合の他にも、荷重の増加が検出されるような場合にも適用することができ、加熱の際及び冷却の際の双方において適用することができる。特に、溶融されたバンプ1bや半田部2の冷却固化の際には、加熱の場合と比較して、温度プロファイルに再現性が乏しくなるため(すなわち、冷却ブローによる冷却であるため)、このような荷重の変化が検出される可能性があるが、このようなフィードバック制御を行うことで、バンプつぶれや引き剥がれの発生を確実に防止することができる。   Such feedback control can be applied to a case where an increase in load is detected in addition to a case where a decrease in load is detected, as described with reference to FIG. It can be applied both during heating and during cooling. In particular, when the melted bump 1b and the solder portion 2 are cooled and solidified, the reproducibility of the temperature profile is poor compared with the case of heating (that is, cooling by cooling blow). However, it is possible to reliably prevent the occurrence of bump crushing or peeling off by performing such feedback control.

また、一の電子部品1の実装動作の過程にてこのような荷重変化が検出された場合には、当該荷重変化に基づいて、ノズル高さ位置のプロファイルデータの補正を行い、当該補正されたプロファイルデータに基づいて、次の電子部品1の実装動作を行うような場合であってもよい。   Further, when such a load change is detected in the process of mounting the electronic component 1, the profile data of the nozzle height position is corrected based on the load change, and the corrected It may be a case where the mounting operation of the next electronic component 1 is performed based on the profile data.

次に本実施形態の第2の変形例にかかる電子部品の実装方法について以下に説明する。本第2の変形例の実装方法は、データ取得用電子部品20を用いて、各部材の熱による伸び量等を除去するための吸着ノズル11の高さ位置データを取得する際に、当該取得されたデータに含まれる制御時間差データ(タイムラグ)の除去を行うものである。このような制御時間差データについて、図14に示す模式説明図を用いて説明する。   Next, an electronic component mounting method according to a second modification of the present embodiment will be described below. The mounting method according to the second modified example uses the data acquisition electronic component 20 to acquire the height position data of the suction nozzle 11 for removing the elongation amount or the like of each member due to heat. The control time difference data (time lag) included in the processed data is removed. Such control time difference data will be described with reference to a schematic explanatory diagram shown in FIG.

図14においては、ヘッドツール3の高さ方向における昇降位置の座標データ、吸着ノズル11の先端である部品保持面11aの実際の高さ位置、ロードセル14により検出される荷重、そして、温度変化の関係を、微小な時間にて見た場合の相対的な関係を示している。なお、縦軸には、それぞれのデータの時間による変化を示し、横軸には時間を示す。   In FIG. 14, the coordinate data of the elevation position in the height direction of the head tool 3, the actual height position of the component holding surface 11a which is the tip of the suction nozzle 11, the load detected by the load cell 14, and the temperature change The relative relationship is shown when the relationship is viewed at a minute time. The vertical axis shows the change of each data with time, and the horizontal axis shows time.

図14に示すように、時間Taにおいて温度T1だけ温度上昇が開始されると、それより僅かに遅れて、時間Tbにおいて吸着ノズル11の熱による伸びが発生して、時間Tdにかけて伸び量H1だけ部品保持面11aの高さ位置が下がることとなる。   As shown in FIG. 14, when the temperature starts to be increased by the temperature T1 at the time Ta, the heat nozzle generates an elongation at the time Tb slightly later than the temperature T1. The height position of the component holding surface 11a is lowered.

これに対して、時間Tbよりも僅かに遅れて時間Tcにて荷重の増加が開始するとともに、荷重W0の増加が時間Teにおいてロードセル14にて検出される。このように荷重の増加が検出されると、荷重を一定に保つべく、昇降部21によるヘッドツール3の上昇が時間Tfにおいて開始される。ヘッドツール3がH1だけ上昇されると、吸着ノズル11の部品保持面11aもH1だけ上昇され、吸着ノズル11の伸び量が除去される(時間Tg)。また、それとともに、ロードセル14にて検出される荷重も減少されて、時間Thにおいて荷重の増加分が除去される。   On the other hand, an increase in load starts at time Tc slightly later than time Tb, and an increase in load W0 is detected by load cell 14 at time Te. When an increase in the load is detected in this way, the lifting of the head tool 3 by the elevating unit 21 is started at time Tf in order to keep the load constant. When the head tool 3 is raised by H1, the component holding surface 11a of the suction nozzle 11 is also raised by H1, and the extension amount of the suction nozzle 11 is removed (time Tg). At the same time, the load detected by the load cell 14 is reduced, and the increased load is removed at time Th.

このような荷重一定制御においては、時間Tbにて吸着ノズル11の伸びが発生してから、時間Tfにてヘッドツール3の上昇のより当該伸びの除去が開始されるまで、制御的な時間差(制御時間差)ΔTが生じることとなる。このような制御時間差データを、ノズル高さ位置のプロファイルデータとともに取得して、実際の電子部品の実装を行う場合に、上記制御時間差データ分だけ早くノズル高さ位置の制御を行うようにプロファイルデータを補正することで、より高精度かつ確実な制御を行うことができる。   In such constant load control, a control time difference (from the occurrence of the extension of the suction nozzle 11 at time Tb until the removal of the extension is started by the rise of the head tool 3 at time Tf ( (Control time difference) ΔT occurs. When such control time difference data is acquired together with the nozzle height position profile data and actual electronic components are mounted, the profile data is controlled so that the nozzle height position is controlled earlier by the control time difference data. By correcting the above, more accurate and reliable control can be performed.

なお、上述において説明した場合の他にも、データ取得用電子部品20を用いて取得されたノズル高さ位置のプロファイルデータを、さらに加工することで、様々な実装方法にも対応することができる。例えば、吸着ノズル11によるそれぞれのバンプ1bの押し込み量を増加させることで、バンプ押し込み制御を行うことができ、また、バンプ1bの溶融中に吸着ノズル11の高さ位置を微小に上昇させることで、バンプの引き延ばし制御を行うことができる。   In addition to the case described above, various mounting methods can be handled by further processing the profile data of the nozzle height position acquired using the data acquisition electronic component 20. . For example, bump pressing control can be performed by increasing the pressing amount of each bump 1b by the suction nozzle 11, and by slightly raising the height position of the suction nozzle 11 during the melting of the bump 1b. It is possible to control the extension of the bumps.

また、上述においては、バンプ1bが形成されていない電子部品1であるデータ取得用電子部品20を用いて、上記プロファイルデータを取得するような場合について説明したが、このような場合に代えて、電子部品1と同じ形状を有するような専用のジグ部品を用いるような場合であってもよい。   In the above description, the case where the profile data is acquired using the data acquisition electronic component 20 that is the electronic component 1 on which the bump 1b is not formed has been described. A case where a dedicated jig component having the same shape as the electronic component 1 is used may be used.

上記実施形態によれば、電子部品1を基板4に実装する際に、ヘッドツール3やステージ7、そして電子部品1自体や基板4自体に熱による伸び/縮みが生じることにより発生する吸着ノズル11の部品保持面11aとステージ7の基板保持面7aとの間の距離の変位量を、確実に除去することができる。   According to the above-described embodiment, when the electronic component 1 is mounted on the substrate 4, the suction nozzle 11 generated when the head tool 3, the stage 7, and the electronic component 1 itself or the substrate 4 itself are stretched / shrinked by heat. The displacement amount of the distance between the component holding surface 11a and the substrate holding surface 7a of the stage 7 can be reliably removed.

特に、このようなそれぞれの部材の伸び/縮みにより複合的に生じる変位量は、実際の実装過程では、部品保持面11aと基板保持面7aとの間に電子部品1が配置されていることにより変位量測定器を用いて測定することが困難であることや、バンプ1bの加熱溶融によりロードセル14にて検出される荷重に荷重抜けが生じることにより測定することが困難であるものの、上記実施形態のようにデータ取得用電子部品20を用いることで、当該変位量を測定することができる。   In particular, the amount of displacement generated in a composite manner due to the expansion / contraction of each member is due to the fact that the electronic component 1 is disposed between the component holding surface 11a and the board holding surface 7a in the actual mounting process. Although it is difficult to measure using a displacement measuring device, and it is difficult to measure due to load loss in the load detected by the load cell 14 by heating and melting of the bump 1b, the above embodiment The displacement amount can be measured by using the data acquisition electronic component 20 as described above.

すなわち、実装時の加熱により溶融される材料が含まれていないバンプ1b無しの電子部品1をデータ取得用電子部品20として、当該電子部品20に対して、実装時の温度プロファイルを用いて加熱/冷却制御を施しながら、荷重一定制御を行った場合におけるヘッドツール3の高さ位置の移動軌跡をプロファイルデータとして取得し、当該取得されたプロファイルデータに基づいてヘッドツール3の移動制御を行いながら、実際の電子部品1を基板4に実装させることで、上記熱による各部材の伸び/縮みに伴う影響を除去することができる。   That is, the electronic component 1 without the bump 1b that does not contain a material that is melted by heating at the time of mounting is used as the data acquisition electronic component 20, and the electronic component 20 is heated / heated using the temperature profile at the time of mounting. While performing the cooling control, the movement locus of the height position of the head tool 3 when the constant load control is performed is acquired as profile data, and while the movement control of the head tool 3 is performed based on the acquired profile data, By mounting the actual electronic component 1 on the substrate 4, it is possible to remove the influence of the heat caused by the expansion / contraction of each member.

従って、特に、そのバンプピッチが狭小化され、さらにその径が微小化されたバンプ1bを有する電子部品1を、熱による各部材の伸び/縮みの影響を排除しながら、確実かつ高精度に実装することができる。特に、このような実装方法は、電子部品1を基板4に実装するような場合のみに限られず、電子部品1に形成されたそれぞれのバンプ1bと、他の電子部品に形成されたそれぞれのバンプとを接合するようなチップ・オン・チップという実装方法にも効果的に適用することができる。   Therefore, in particular, the electronic component 1 having the bump 1b whose bump pitch is narrowed and whose diameter is further miniaturized can be mounted surely and accurately while eliminating the influence of expansion / contraction of each member due to heat. can do. In particular, such a mounting method is not limited to the case where the electronic component 1 is mounted on the substrate 4, but each bump 1b formed on the electronic component 1 and each bump formed on another electronic component. It can also be effectively applied to a chip-on-chip mounting method that joins the two.

なお、上記様々な実施形態のうちの任意の実施形態を適宜組み合わせることにより、それぞれの有する効果を奏するようにすることができる。   It is to be noted that, by appropriately combining arbitrary embodiments of the various embodiments described above, the effects possessed by them can be produced.

本発明の一の実施形態にかかる電子部品の実装方法が行われる電子部品実装装置の模式斜視図である。It is a model perspective view of the electronic component mounting apparatus with which the mounting method of the electronic component concerning one Embodiment of this invention is performed. 上記電子部品実装装置が備えるヘッドツールの構造を示す模式構成図である。It is a schematic block diagram which shows the structure of the head tool with which the said electronic component mounting apparatus is provided. 上記実施形態にかかる電子部品の実装方法の手順を説明するための模式説明図であって、(A)は基板上に半田部が形成された状態を示す図であり、(B)は電子部品と基板との位置合わせが行われている状態を示す図であり、(C)はそれぞれのバンプと半田部との当接状態を示す図であり、(D)はそれぞれのバンプ及び半田部が加熱溶融されている状態を示す図であり、(E)はそれぞれのバンプ及び半田部が冷却固化されている状態を示す図であり、(F)は電子部品が基板に実装された状態を示す図である。BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a schematic explanatory diagram for explaining a procedure of a method for mounting an electronic component according to the embodiment, wherein (A) is a diagram illustrating a state where a solder portion is formed on a substrate, and (B) is an electronic component. (C) is a diagram showing a contact state between each bump and a solder part, and (D) is a diagram showing a state where each bump and solder part are in contact with each other. It is a figure which shows the state currently heated and melted, (E) is a figure which shows the state by which each bump and solder part are cooled and solidified, (F) shows the state by which the electronic component was mounted in the board | substrate. FIG. 上記電子部品実装装置が備える制御装置の構成を示す制御ブロック図である。It is a control block diagram which shows the structure of the control apparatus with which the said electronic component mounting apparatus is provided. 上記実施形態の電子部品の実装方法において、実装準備処理として、データ取得用電子部品を用いてノズル高さ位置のプロファイルデータを取得する手順を示す模式説明図であって、(A)はステージ上に基板が保持された状態を示す図であり、(B)はデータ取得用電子部品と基板との位置合わせが行われている状態を示す図であり、(C)はデータ取得用電子部品を基板との当接状態を示す図であり、(D)はデータ取得用電子部品が加熱されている状態を示す図であり、(E)はデータ取得用電子部品が冷却されている状態を示す図であり、(F)は実装動作が完了した状態を示す図である。In the electronic component mounting method of the above embodiment, as a mounting preparation process, a schematic explanatory diagram illustrating a procedure for acquiring profile data of a nozzle height position using an electronic component for data acquisition, (A) is on a stage (B) is a diagram showing a state in which the electronic component for data acquisition and the substrate are aligned, and (C) is a diagram showing the electronic component for data acquisition. It is a figure which shows the contact state with a board | substrate, (D) is a figure which shows the state in which the electronic component for data acquisition is heated, (E) shows the state in which the electronic component for data acquisition is cooled It is a figure and (F) is a figure which shows the state which mounting operation was completed. 図5のノズル高さ位置のプロファイルデータを取得する手順を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the procedure which acquires the profile data of the nozzle height position of FIG. 加熱による各部材の伸びに伴う吸着ノズルとステージとの間の距離の変位量を説明するための模式説明図であって、(A)は当該距離の変位量を示す図であり、(B)は当該変位量の除去を行った状態を示す図である。It is a schematic explanatory diagram for explaining the displacement amount of the distance between the suction nozzle and the stage accompanying the elongation of each member by heating, (A) is a diagram showing the displacement amount of the distance, (B) These are figures which show the state which performed the removal of the said displacement amount. 冷却による各部材の縮みに伴う吸着ノズルとステージとの間の距離の変位量を説明するための模式説明図であって、(A)は当該距離の変位量を示す図であり、(B)は当該変位量の除去を行った状態を示す図である。It is a schematic explanatory diagram for explaining the displacement amount of the distance between the suction nozzle and the stage due to the contraction of each member by cooling, (A) is a diagram showing the displacement amount of the distance, (B) These are figures which show the state which performed the removal of the said displacement amount. 加熱による電子部品自体の伸びに伴う吸着ノズルとステージとの間の距離の変位量を説明するための模式説明図であって、(A)は当該距離の変位量を示す図であり、(B)は当該変位量の除去を行った状態を示す図である。It is a schematic explanatory diagram for explaining the amount of displacement of the distance between the suction nozzle and the stage accompanying the elongation of the electronic component itself by heating, (A) is a diagram showing the amount of displacement of the distance, (B ) Is a diagram showing a state in which the displacement amount is removed. 図6の手順により取得されたノズル高さ位置のプロファイルデータと、荷重プロファイルデータと温度プロファイルデータとの関係を示すグラフ形式の模式説明図である。FIG. 7 is a schematic explanatory diagram in the form of a graph showing the relationship between the profile data of the nozzle height position obtained by the procedure of FIG. 6, the load profile data, and the temperature profile data. 図6の手順により得られたノズル高さ位置のプロファイルデータを用いて、電子部品の実装を行う手順を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the procedure which mounts an electronic component using the profile data of the nozzle height position obtained by the procedure of FIG. 図11の電子部品の実装動作においてプロセスモニタリングされたノズル高さ位置のデータと荷重データと温度データとの関係を示すグラフ形式の模式説明図である。FIG. 12 is a schematic explanatory diagram in a graph format showing a relationship among nozzle height position data, load data, and temperature data monitored in the mounting operation of the electronic component of FIG. 11. 上記実施形態の第1の変形例にかかる電子部品の実装方法を示す図であって、荷重変化検出によるフィードバック制御を説明するための模式説明図である。It is a figure which shows the mounting method of the electronic component concerning the 1st modification of the said embodiment, Comprising: It is a schematic explanatory drawing for demonstrating the feedback control by a load change detection. 上記実施形態の第2の変形例にかかる電子部品の実装方法を示す図であって、ノズル高さ位置のプロファイルデータを取得の際に、制御時間差が生じることを説明するための模式説明図である。It is a figure which shows the mounting method of the electronic component concerning the 2nd modification of the said embodiment, Comprising: It is a schematic explanatory drawing for demonstrating that a control time difference arises at the time of acquiring the profile data of a nozzle height position. is there.

符号の説明Explanation of symbols

1 電子部品
1a 電極
1b バンプ
2 半田部
3 ヘッドツール
4 基板
4a パッド
7 ステージ
7a 基板保持面
9 制御装置
11 吸着ノズル
11a 部品保持面
12 セラミックヒータ
14 ロードセル
20 データ取得用電子部品
21 昇降部
91 処理部
92 操作・表示部
93 メモリ部
94 モータ制御部
95 荷重制御部
96 温度制御部
201 電子部品実装装置
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Electronic component 1a Electrode 1b Bump 2 Solder part 3 Head tool 4 Substrate 4a Pad 7 Stage 7a Substrate holding surface 9 Controller 11 Adsorption nozzle 11a Component holding surface 12 Ceramic heater 14 Load cell 20 Data acquisition electronic component 21 Elevating part 91 Processing part 92 Operation / Display Unit 93 Memory Unit 94 Motor Control Unit 95 Load Control Unit 96 Temperature Control Unit 201 Electronic Component Mounting Device

Claims (8)

部品保持部材にて保持された電子部品における複数の電極を、基板保持部材にて保持された基板における複数の電極に接合部材を介在させて当接させながら、上記それぞれの接合部材を加熱して溶融させ、当該溶融されたそれぞれの接合部材を冷却して固化させた後、上記部品保持部材による上記電子部品の保持を解除して、上記電子部品を上記基板に実装する電子部品の実装方法において、
上記それぞれの接合部材の加熱及び冷却の際に生じ得る上記部品保持部材及び上記基板保持部材の伸び又は縮みに伴って生じる当該部品保持部材と基板保持部材との間の距離の変位量のデータを取得して、
上記それぞれの接合部材の加熱及び冷却の際に、当該取得された上記距離の変位量のデータに基づいて、当該変位量を除去するように上記基板保持部材に対する上記部品保持部材の相対的な位置制御を行い、上記電子部品を上記基板に実装することを特徴とする電子部品の実装方法。
While each of the plurality of electrodes in the electronic component held by the component holding member is brought into contact with the plurality of electrodes in the substrate held by the substrate holding member with the bonding member interposed therebetween, the respective bonding members are heated. In the method of mounting an electronic component, after melting, cooling and solidifying each of the melted joining members, releasing the holding of the electronic component by the component holding member and mounting the electronic component on the substrate ,
Data on the amount of displacement of the distance between the component holding member and the substrate holding member, which is generated when the component holding member and the substrate holding member are expanded or contracted, which can be generated when the respective bonding members are heated and cooled. Get
The relative position of the component holding member with respect to the substrate holding member so as to remove the displacement amount based on the acquired displacement amount data of the distance when the respective bonding members are heated and cooled. A method for mounting an electronic component, comprising: performing control and mounting the electronic component on the substrate.
上記距離の変位量のデータは、上記加熱又は冷却により上記部品保持部材及び上記基板保持部材に伝達される熱量変化により生じる上記伸び又は縮みに伴う上記部品保持部材の部品保持面と上記基板保持部材の基板保持面との間の上記距離の変位量を除去するように、上記基板保持面に対して上記部品保持面を近接又は離間させるための当該部品保持部材の移動位置の位置データである請求項1に記載の電子部品の実装方法。   The distance displacement data includes the component holding surface of the component holding member and the substrate holding member accompanying the expansion or contraction caused by the change in the amount of heat transmitted to the component holding member and the substrate holding member by the heating or cooling. Position data of a movement position of the component holding member for moving the component holding surface close to or away from the substrate holding surface so as to remove the displacement amount of the distance between the component holding surface and the substrate holding surface. Item 2. The electronic component mounting method according to Item 1. 上記距離の変位量データには、上記それぞれの接合部材の加熱又は冷却の際に、上記部品保持面に直交する方向において上記基板及び上記電子部品に生じる伸び又は縮みに伴う上記距離の変位量のデータが含まれ、
上記基板及び上記電子部品の伸び及び縮みをさらに除去するように上記部品保持部材の移動を行う請求項2に記載の電子部品の実装方法。
The distance displacement amount data includes the distance displacement amount associated with the expansion or contraction occurring in the substrate and the electronic component in the direction orthogonal to the component holding surface when the respective joining members are heated or cooled. Data included,
The electronic component mounting method according to claim 2, wherein the component holding member is moved so as to further remove expansion and contraction of the substrate and the electronic component.
上記電子部品と略同じ材質にて形成されたデータ取得用電子部品を上記部品保持部材にて保持して、上記基板保持部材により保持された上記基板の表面に、当該データ取得用電子部品を直接的に当接させながら、上記それぞれの接合部材に対する加熱及び冷却における温度プロファイルと同じ温度プロファイルに基づいて、上記データ取得用電子部品に対して上記加熱及び冷却を行うとともに、当該加熱及び冷却の際における上記部品保持部材と上記基板保持部材との間の上記距離の変位量のデータとして、上記加熱及び冷却の際において、上記部品保持部材に保持された上記データ取得用電子部品に付加される荷重が略一定となるように、上記部品保持部材の位置制御を行った場合における当該部品保持部材の位置データを取得し、
上記それぞれの接合部材を用いて上記電子部品を上記基板に実装する際に、当該取得された部品保持部材の位置データに基づいて、上記部品保持部材の位置制御を行うことで、上記基板保持部材と上記部品保持部材との間の距離の上記変位量を除去する請求項1から3のいずれか1つに記載の電子部品の実装方法。
The electronic component for data acquisition formed of substantially the same material as the electronic component is held by the component holding member, and the electronic component for data acquisition is directly attached to the surface of the substrate held by the substrate holding member. The electronic components for data acquisition are heated and cooled on the basis of the same temperature profile as the temperature profile for heating and cooling for each of the joining members, and the heating and cooling are performed. As the data of the displacement amount of the distance between the component holding member and the substrate holding member in the above, a load applied to the data acquisition electronic component held by the component holding member during the heating and cooling So that the position data of the component holding member in the case where the position control of the component holding member is performed so that is substantially constant,
When the electronic component is mounted on the substrate using the bonding members, the substrate holding member is controlled by controlling the position of the component holding member based on the acquired position data of the component holding member. The electronic component mounting method according to claim 1, wherein the displacement amount of the distance between the component holding member and the component holding member is removed.
上記荷重が略一定となるような上記部品保持部材の位置制御において、上記基板保持部材と上記部品保持部材との間の距離の上記変位量の発生から、当該変位量の発生により生じる上記荷重の変化量の除去が完了するまでに要する制御時間差データを取得し、
上記それぞれの接合部材を用いて上記電子部品を上記基板に実装する際に、当該取得された位置データと上記制御時間差データとに基づいて、上記基板保持部材と上記部品保持部材との間の距離の上記変位量を除去するように、上記部品保持部材の位置制御を行う請求項4に記載の電子部品の実装方法。
In the position control of the component holding member such that the load is substantially constant, the load generated by the generation of the displacement amount is generated from the generation of the displacement amount of the distance between the substrate holding member and the component holding member. Get the control time difference data required to complete the removal of the change amount,
When the electronic component is mounted on the substrate using each of the bonding members, a distance between the substrate holding member and the component holding member based on the acquired position data and the control time difference data. The electronic component mounting method according to claim 4, wherein position control of the component holding member is performed so as to remove the displacement amount.
上記それぞれの接合部材を用いて上記電子部品を上記基板に実装する際において、
上記溶融された接合部材が冷却固化される過程において、上記電子部品に付加される荷重の変化量の検出を行い、
当該検出される荷重の変化量に応じて、当該荷重の変化量が除去されるように、上記部品保持部材の位置データを補正し、
当該補正された位置データに基づいて上記部品保持部材の位置制御を行う請求項4に記載の電子部品の実装方法。
When mounting the electronic component on the substrate using the respective joining members,
In the process of cooling and solidifying the melted joining member, the amount of change in load applied to the electronic component is detected,
In accordance with the detected change amount of the load, the position data of the component holding member is corrected so that the change amount of the load is removed,
The electronic component mounting method according to claim 4, wherein the position control of the component holding member is performed based on the corrected position data.
上記電子部品の上記基板への当接から、上記それぞれの接合部材の固化までの間において、上記部品保持部材より上記電子部品に付加される荷重を観察し、
当該観察された荷重が荷重プロファイルに対して超過又は不足していることを検出した場合に、当該超過又は不足の発生を抑制するように上記部品保持部材の位置データの補正を行い、
当該補正された位置データに基づいて、上記部品保持部材の位置制御を行う請求項4に記載の電子部品の実装方法。
Observe the load applied to the electronic component from the component holding member between the contact of the electronic component to the substrate and the solidification of the respective joining members,
When it is detected that the observed load exceeds or is insufficient with respect to the load profile, the position data of the component holding member is corrected so as to suppress the occurrence of the excess or deficiency,
The electronic component mounting method according to claim 4, wherein the position control of the component holding member is performed based on the corrected position data.
上記接合部材は、上記電子部品の上記それぞれの電極上に形成されたバンプであって、
上記データ取得用電子部品は、上記それぞれのバンプが形成されていない状態の電子部品である請求項4から7のいずれか1つに記載の電子部品の実装方法。
The joining member is a bump formed on each of the electrodes of the electronic component,
The electronic component mounting method according to claim 4, wherein the data acquisition electronic component is an electronic component in a state where the bumps are not formed.
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Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007109786A (en) * 2005-10-12 2007-04-26 Nec Electronics Corp Method and apparatus for manufacturing semiconductor device
JP2008112986A (en) * 2006-10-02 2008-05-15 Matsushita Electric Ind Co Ltd Component crimping apparatus control method, component crimping apparatus, and measuring tool
JP2008117856A (en) * 2006-11-01 2008-05-22 Shibaura Mechatronics Corp Device and method for pressure-bonding electronic component
WO2008120528A1 (en) * 2007-03-29 2008-10-09 Shibaura Mechatronics Corporation Mounting apparatus for electronic part
JP2009117433A (en) * 2007-11-02 2009-05-28 Juki Corp Method and device for controlling press-mounting head
JP2009164347A (en) * 2008-01-07 2009-07-23 Juki Corp Component mounting method
JP2010034341A (en) * 2008-07-30 2010-02-12 Toray Eng Co Ltd Chip mounting device
US8078310B2 (en) 2006-10-02 2011-12-13 Panasonic Corporation Component crimping apparatus control method, component crimping apparatus, and measuring tool
JP2014143442A (en) * 2014-04-24 2014-08-07 Toray Eng Co Ltd Chip mounting device
JP2017034282A (en) * 2016-11-01 2017-02-09 ボンドテック株式会社 Junction system, junction method, and manufacturing method of semiconductor device
JP2017076827A (en) * 2017-02-07 2017-04-20 東レエンジニアリング株式会社 Chip mounting device
JP2018129552A (en) * 2018-05-23 2018-08-16 東レエンジニアリング株式会社 Chip mounting device

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09153522A (en) * 1995-11-30 1997-06-10 Toshiba Corp Bonder and bonding method
JPH09153525A (en) * 1995-11-30 1997-06-10 Toshiba Corp Bonder and bonding method
JP2001345352A (en) * 2000-05-31 2001-12-14 Matsushita Electric Ind Co Ltd Apparatus and method for bonding electronic component
JP2003179100A (en) * 2001-10-05 2003-06-27 Nec Corp Apparatus and method for manufacturing electronic component

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09153522A (en) * 1995-11-30 1997-06-10 Toshiba Corp Bonder and bonding method
JPH09153525A (en) * 1995-11-30 1997-06-10 Toshiba Corp Bonder and bonding method
JP2001345352A (en) * 2000-05-31 2001-12-14 Matsushita Electric Ind Co Ltd Apparatus and method for bonding electronic component
JP2003179100A (en) * 2001-10-05 2003-06-27 Nec Corp Apparatus and method for manufacturing electronic component

Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007109786A (en) * 2005-10-12 2007-04-26 Nec Electronics Corp Method and apparatus for manufacturing semiconductor device
JP4669371B2 (en) * 2005-10-12 2011-04-13 ルネサスエレクトロニクス株式会社 Semiconductor device manufacturing method and semiconductor device manufacturing apparatus
JP2008112986A (en) * 2006-10-02 2008-05-15 Matsushita Electric Ind Co Ltd Component crimping apparatus control method, component crimping apparatus, and measuring tool
US8078310B2 (en) 2006-10-02 2011-12-13 Panasonic Corporation Component crimping apparatus control method, component crimping apparatus, and measuring tool
JP2008117856A (en) * 2006-11-01 2008-05-22 Shibaura Mechatronics Corp Device and method for pressure-bonding electronic component
KR101027739B1 (en) 2007-03-29 2011-04-07 시바우라 메카트로닉스 가부시끼가이샤 Mounting apparatus for electric part
JP2008251727A (en) * 2007-03-29 2008-10-16 Shibaura Mechatronics Corp Electronic-component mounting device
WO2008120528A1 (en) * 2007-03-29 2008-10-09 Shibaura Mechatronics Corporation Mounting apparatus for electronic part
JP2009117433A (en) * 2007-11-02 2009-05-28 Juki Corp Method and device for controlling press-mounting head
JP2009164347A (en) * 2008-01-07 2009-07-23 Juki Corp Component mounting method
JP2010034341A (en) * 2008-07-30 2010-02-12 Toray Eng Co Ltd Chip mounting device
KR101591125B1 (en) * 2008-07-30 2016-02-02 토레이 엔지니어링 컴퍼니, 리미티드 Chip mounting apparatus
JP2014143442A (en) * 2014-04-24 2014-08-07 Toray Eng Co Ltd Chip mounting device
JP2017034282A (en) * 2016-11-01 2017-02-09 ボンドテック株式会社 Junction system, junction method, and manufacturing method of semiconductor device
JP2017076827A (en) * 2017-02-07 2017-04-20 東レエンジニアリング株式会社 Chip mounting device
JP2018129552A (en) * 2018-05-23 2018-08-16 東レエンジニアリング株式会社 Chip mounting device

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