JP2006214785A - 三次元形状計測システム及び計測方法 - Google Patents

三次元形状計測システム及び計測方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2006214785A
JP2006214785A JP2005025897A JP2005025897A JP2006214785A JP 2006214785 A JP2006214785 A JP 2006214785A JP 2005025897 A JP2005025897 A JP 2005025897A JP 2005025897 A JP2005025897 A JP 2005025897A JP 2006214785 A JP2006214785 A JP 2006214785A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
dimensional shape
grating
sine wave
measurement
grating pattern
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2005025897A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4429184B2 (ja
Inventor
Atsutada Nakatsuji
敦忠 中辻
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Engineering Ltd
Original Assignee
NEC Engineering Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Engineering Ltd filed Critical NEC Engineering Ltd
Priority to JP2005025897A priority Critical patent/JP4429184B2/ja
Publication of JP2006214785A publication Critical patent/JP2006214785A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4429184B2 publication Critical patent/JP4429184B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

【課題】 三次元形状計測装置の台数が増加しても短時間に三次元形状を計測可能で、大規模な形状計測も可能な三次元形状計測システム等を提供する。
【解決手段】 測定対象物107に正弦波格子パターンを投射する格子パターン投射手段101と、格子パターン投射手段を保持しながら、格子パターン投射手段を一定の方向に一定量ずつ移動させる格子駆動手段と、正弦波格子パターンが投射された測定対象物の画像を撮影する画像撮影手段100とを備えた複数台の三次元形状計測装置103〜106を有する三次元形状計測システムにおいて、各々の格子パターン投射手段は、互いに異なる波長の正弦波格子パターンを同時に投射する。投射される格子パターンの波長が異なるため、隣接する装置同士のパターン光が干渉しても三次元形状の計測が可能となり、各三次元形状計測装置が同時に計測することができる。
【選択図】 図4

Description

本発明は、三次元形状計測システム及び計測方法に関し、特に、三次元形状計測装置の台数が増加しても短時間に三次元形状計測することが可能な三次元形状計測システム及び計測方法に関する。
従来、CG(Computer Graphics)コンテンツの作成や、FA(Factory Automation )・工業計測用途等の様々な分野で非接触式の三次元形状計測装置が開発、製品化されている。実際の三次元形状計測装置は、主に2つのカメラと2つのプロジェクタから構成され、プロジェクタから正弦波状の縞模様を投影し、多眼正弦波格子位相シフト法と呼ばれる計測原理により形状計測を行っている。そして、この装置を複数台組み合わせ、広範囲の測定対象物を計測することのできる複合装置(以下、「三次元形状計測システム」という)が開発されている。
しかし、上記従来の三次元形状計測システムを構成する各三次元形状計測装置は、光パターンを投影して計測しているため、同時に光パターンを発すると、各々の装置の光が干渉してしまう。そのため、各々の三次元形状計測装置は、測定対象物を同時に計測することができず、対象物を計測する時間(撮影時間)は、三次元形状計測装置の台数分必要となる。すなわち、三次元形状計測に要する時間は、三次元形状計測装置の台数に依存するため、三次元形状計測装置の台数が増加すればする程、計測時間が長くなり、計測中に計測対象物が動く可能性が高くなるという問題があった。
そこで、本発明は、上記従来の三次元形状計測システムにおける問題点に鑑みてなされたものであって、三次元形状計測装置の台数が増加しても短時間に計測することが可能な三次元形状計測システムを提供することを目的とする。
上記目的を達成するため、本発明は、測定対象物に正弦波格子パターンを投射する格子パターン投射手段と、該格子パターン投射手段を保持しながら、該格子パターン投射手段を一定の方向に一定量ずつ移動させる格子駆動手段と、前記正弦波格子パターンが投射された測定対象物の画像を撮影する画像撮影手段とを備えた三次元形状計測装置を複数台備えた三次元形状計測システムにおいて、前記複数の三次元形状計測装置の各々の格子パターン投射手段は、互いに異なる波長の正弦波格子パターンを投射することを特徴とする。
そして、本発明によれば、各々の格子パターン投射手段が互いに異なる波長の正弦波格子パターンを投射するため、隣接する装置同士のパターン光が干渉しても三次元形状の計測が可能となり、各三次元形状計測装置が同時に計測することができる。これによって、計測時間を大幅に改善することができ、大規模な形状計測を多くの三次元形状計測装置を用いて行うことも可能となる。
測定対象物に正弦波格子パターンを投射する格子パターン投射手段と、該格子パターン投射手段を保持しながら、該格子パターン投射手段を一定の方向に一定量ずつ移動させる格子駆動手段と、前記正弦波格子パターンが投射された測定対象物の画像を撮影する画像撮影手段とを備えた三次元形状計測装置を複数台備えた三次元形状計測システムを用いた三次元形状計測方法において、前記複数の三次元形状計測装置の各々の格子パターン投射手段から互いに異なる波長の正弦波格子パターンを同時に投射することを特徴とする。これによって、上述のように、計測時間が大幅に改善され、大規模な形状計測を行うことも可能となる。
尚、前記波長の異なる正弦波格子パターンを分離するにあたって、高速フーリエ変換を用いることができる。
以上のように、本発明によれば、三次元形状計測装置の台数が増加しても短時間に計測することなどが可能な三次元形状計測システム等を提供することができる。
図1は、本発明にかかる三次元形状計測システムを構成する1台の三次元形状計測装置を示し、この装置は、2台のカメラ(画像撮影手段)100と、2台のプロジェクタ(格子パターン投射手段)101と、各々のプロジェクタ101を保持しながら、一定の方向に一定量ずつ移動させる図示しない格子駆動手段とで構成され、多眼正弦波格子位相シフト法と呼ばれる計測原理により形状計測を行う。プロジェクタ101は、図2に示すように、機構部101aと、投影レンズ101bとを備え、測定対象物に正弦波状のパターンを投影することができる。
多眼正弦波格子位相シフト法は、まず、プロジェクタ101内に設けた正弦波状に濃淡値が印刷されている格子を通して、図示しない光源から計測対象物に対して正弦波状の輝度分布を持つ光パターンを投射する。そして、計測対象物上の縞画像をカメラ100で撮影する。次に、計測対象物を静止させたままで、格子を縞の直角方向へと、波長の1/Nずつ、N回ずらしながらカメラ100で画像を撮影して行く。撮影された画像は、計測対象物に投射された正弦波光パターンが2π/Nラジアンずつ進行して行くように見える。計測点の輝度値を投射方向から計測し、各輝度値より格子パターンの位相値を計算する。計測点の高さ変位に応じて格子パターンの位相が変調するため、この位相の変調量を計算し、光学装置の幾何関係式に代入することにより、計測対象物の高さ変位量を計算し、三次元形状を求めるものである。
このような構成の三次元形状計測装置を複数台配置して、測定対象物の三次元計測を行う。図3は、4台の三次元形状計測装置103、104、105、106を用いた三次元計測システムの外観を示す斜視図である。この装置では、図1に示した三次元形状計測装置を上下左右に1台ずつ設置している。各三次元形状計測装置103〜106は、剛性の大きいフレームに固定されている。
測定対象物107は、図3に示すように、各装置の略々中心に位置し、左上部の三次元形状計測装置104が測定対象物107の左上部を計測し、左下部の三次元形状計測装置103が測定対象物107の左下部を計測する。同様に、三次元形状計測装置106が測定対象物107の右上部を計測し、三次元形状計測装置105が測定対象物107の右下部を計測する。従って、この4台の三次元形状計測装置103〜106で測定対象物107の略々全周を計測できる構成になっている。
しかし、各三次元形状計測装置103〜106で同時に計測すると、図4に示すように(同図には、2台の三次元形状計測装置103、104のみ示す)、各々の計測範囲115に互いのパターン光が干渉する領域117が発生し、この干渉領域117では三次元形状を計測することができない。
そこで、本発明にかかる三次元形状計測システムでは、各三次元形状計測装置103〜106に搭載されているプロジェクタ101の正弦波の波長を各々の装置で異なるものを使用する。例えば、図4の上方の三次元形状計測装置103のプロジェクタは、波長1mmの正弦波を用い、下方の三次元形状計測装置104のプロジェクタは、波長1.5mmの正弦波を用いる。
すると、図5に示すように、干渉する領域は2つの縞の重ね合わせとして投影されている。上述にように、各縞の波長が分かっているので、重ね合わせの原理により、縞の波を分離することができる。この縞の波を分離にあたっては、通常の高速フーリエ変換(FFT)を用いることができる。
すなわち、波長1mm側、波長1.5mm側の正弦波パターンから、ある計測画素点の各正弦波パターンの位相を求めるには、正弦波格子位相シフト法の原理から、小さい波長の位相をφ1、大きい波長の位相をφ2、あるカメラ画素で観測された輝度I1、I2、シフト回数をNとすると、次式のようになり、これらの式を用いて縞の波を分離を行うことができる。
Figure 2006214785
本発明にかかる1台の三次元形状計測装置を示す図であって、(a)は斜視図、(b)は側面図である。 図1の三次元形状計測装置のプロジェクタを示す構成図である。 図1の三次元形状計測装置を4台備えた三次元形状計測システムを示す斜視図である。 2台の三次元形状計測装置の干渉領域を示す概略図である。 本発明にかかる三次元形状計測システムの正弦波の重ね合わせを示すグラフである。
符号の説明
100 1台の三次元形状計測装置のカメラ
101 1台の三次元形状計測装置のプロジェクタ
101a 機構部
101b 投影レンズ
103〜106 1台の三次元形状計測装置
107 計測対象物である人体
115 1台の三次元形状計測装置の計測範囲
116 計測対象物
117 干渉領域

Claims (3)

  1. 測定対象物に正弦波格子パターンを投射する格子パターン投射手段と、該格子パターン投射手段を保持しながら、該格子パターン投射手段を一定の方向に一定量ずつ移動させる格子駆動手段と、前記正弦波格子パターンが投射された測定対象物の画像を撮影する画像撮影手段とを備えた三次元形状計測装置を複数台備えた三次元形状計測システムにおいて、
    前記複数の三次元形状計測装置の各々の格子パターン投射手段は、互いに異なる波長の正弦波格子パターンを投射することを特徴とする三次元形状計測システム。
  2. 測定対象物に正弦波格子パターンを投射する格子パターン投射手段と、該格子パターン投射手段を保持しながら、該格子パターン投射手段を一定の方向に一定量ずつ移動させる格子駆動手段と、前記正弦波格子パターンが投射された測定対象物の画像を撮影する画像撮影手段とを備えた三次元形状計測装置を複数台備えた三次元形状計測システムを用いた三次元形状計測方法において、
    前記複数の三次元形状計測装置の各々の格子パターン投射手段から互いに異なる波長の正弦波格子パターンを同時に投射することを特徴とする三次元形状計測方法。
  3. 前記波長の異なる正弦波格子パターンを分離するにあたって、高速フーリエ変換を用いることを特徴とする請求項2に記載の三次元形状計測方法。
JP2005025897A 2005-02-02 2005-02-02 三次元形状計測システム及び計測方法 Expired - Fee Related JP4429184B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005025897A JP4429184B2 (ja) 2005-02-02 2005-02-02 三次元形状計測システム及び計測方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005025897A JP4429184B2 (ja) 2005-02-02 2005-02-02 三次元形状計測システム及び計測方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2006214785A true JP2006214785A (ja) 2006-08-17
JP4429184B2 JP4429184B2 (ja) 2010-03-10

Family

ID=36978148

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005025897A Expired - Fee Related JP4429184B2 (ja) 2005-02-02 2005-02-02 三次元形状計測システム及び計測方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4429184B2 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010532871A (ja) * 2007-07-12 2010-10-14 カールツァイス アーゲー 物体の表面を光学検査するための方法および装置
WO2015093194A1 (ja) * 2013-12-16 2015-06-25 株式会社オプトン 計測装置
WO2019177066A1 (ja) 2018-03-16 2019-09-19 日本電気株式会社 3次元形状計測装置、3次元形状計測方法、プログラム及び記録媒体
JP2021188997A (ja) * 2020-05-28 2021-12-13 コニカミノルタ株式会社 3次元計測装置、および3次元計測方法

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109781010B (zh) * 2019-01-21 2020-11-10 珠海博明软件有限公司 一种大范围数据拼接的点云数据计算方法、装置和系统

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010532871A (ja) * 2007-07-12 2010-10-14 カールツァイス アーゲー 物体の表面を光学検査するための方法および装置
WO2015093194A1 (ja) * 2013-12-16 2015-06-25 株式会社オプトン 計測装置
WO2019177066A1 (ja) 2018-03-16 2019-09-19 日本電気株式会社 3次元形状計測装置、3次元形状計測方法、プログラム及び記録媒体
US12013229B2 (en) 2018-03-16 2024-06-18 Nec Corporation Three-dimensional shape measuring apparatus, three-dimensional shape measuring method, program, and storage medium
US12072177B2 (en) 2018-03-16 2024-08-27 Nec Corporation Three-dimensional shape measuring apparatus, three-dimensional shape measuring method, program, and storage medium
US12078474B2 (en) 2018-03-16 2024-09-03 Nec Corporation Three-dimensional shape measuring apparatus, three-dimensional shape measuring method, program, and storage medium
JP2021188997A (ja) * 2020-05-28 2021-12-13 コニカミノルタ株式会社 3次元計測装置、および3次元計測方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP4429184B2 (ja) 2010-03-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4290733B2 (ja) 3次元形状計測方法及びその装置
US6438272B1 (en) Method and apparatus for three dimensional surface contouring using a digital video projection system
JP2017531178A (ja) 環境を光学的にスキャンし測定するためのデバイスおよび方法ならびに制御の方法
US20130088575A1 (en) Method and apparatus for obtaining depth information using optical pattern
ES2686195T3 (es) Dispositivo y procedimiento de reconstrucción tridimensional de una escena por análisis de imagen
JP7270702B2 (ja) 深度感知システムおよび方法
EP3268935A1 (en) Apparatus and method of texture mapping for dental 3d scanner
JP2017110991A5 (ja)
CN104655051A (zh) 一种高速结构光三维面形垂直测量方法
JP2008281491A (ja) 多数の基準面を用いた形状計測方法および形状計測装置
JP4429184B2 (ja) 三次元形状計測システム及び計測方法
JP2008190962A (ja) 3次元計測装置
JP2011064482A (ja) 高速三次元計測装置及び高速三次元計測方法
KR101562467B1 (ko) 스마트 폰을 이용한 3차원 형상 측정 장치
EP4004631B1 (en) System for 3d pose measurement with high precision and real-time object tracking
CN113748313B (zh) 三维测量系统及三维测量方法
JP6104662B2 (ja) 計測装置、方法及びプログラム
JP2014115108A (ja) 距離計測装置
KR100489431B1 (ko) 스캔식 위상천이 3차원 형상측정 장치 및 측정 방법
Heist et al. High-Speed 3D Shape Measurement Using an Array Projector
JP3921547B2 (ja) ラインセンサ及びライン状プロジェクタによる形状計測方法と装置
JP2011075336A (ja) 3次元形状計測装置、3次元形状計測方法
CN108062790B (zh) 应用于物体三维重建的三维坐标系建立方法
JP2014163812A (ja) パターン投影方法、パターン投影装置及びこれを用いた三次元計測装置
KR100540192B1 (ko) 3차원 형상 측정 장치 및 측정 방법

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Effective date: 20070410

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20090703

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090707

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090824

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20091207

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Effective date: 20091215

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 3

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121225

R150 Certificate of patent (=grant) or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees