JP2006199036A - 圧電方式のインクジェットプリントヘッド及びその製造方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】圧電方式のインクジェットプリントヘッド及びその製造方法を提供する。
【解決手段】二つの単結晶シリコン基板上に具現され、上部基板には、インクインレットが貫通形成され、上部基板の底面には、インクインレットと連結されるマニホールドと、その少なくとも一側に配列される複数の圧力チャンバとが形成され、下部基板の上面には、マニホールドと複数の圧力チャンバとのそれぞれの一端部を連結する複数のリストリクタが形成され、下部基板には、複数の圧力チャンバのそれぞれの他端部に対応する位置に複数のノズルが垂直に貫通形成され、上部基板上には、複数の圧力チャンバのそれぞれにインクの吐出のための駆動力を提供する圧電アクチュエータが形成され、下部基板上に上部基板が積層されて互いに接合されることにより、インクインレットとマニホールドとで形成された共通流路とリストリクタ、圧力チャンバ及びノズルからなる個別流路とが形成される。
【選択図】図4

Description

本発明は、インクジェットプリントヘッドに係り、さらに詳細には、微細加工技術を利用して二つのシリコン基板上に具現される圧電方式のインクジェットプリントヘッド及びその製造方法に関する。
一般的に、インクジェットプリントヘッドは、印刷用インクの微細な液滴を記録媒体上の所望の位置に吐出させて、所定色の画像として印刷する装置である。このようなインクジェットプリントヘッドは、インク吐出方式によって2つに大別され得る。その一つは、熱源を利用してインクにバブルを発生させて、そのバブルの膨張力によりインクを吐出させる熱駆動方式のインクジェットプリントヘッドであり、他の一つは、圧電体を使用して、その圧電体の変形によりインクに加えられる圧力によりインクを吐出させる圧電方式のインクジェットプリントヘッドである。
前記圧電方式のインクジェットプリントヘッドの一般的な構成は、図1に示されている。図1に示すように、流路形成板1の内部には、インク流路をなすマニホールド2、リストリクタ3、圧力チャンバ4及びノズル5が形成されており、流路形成板1の上部には、圧電アクチュエータ6が設けられている。マニホールド2は、インク保存庫(図示せず)から流入されたインクを各圧力チャンバ4に供給する通路であり、リストリクタ3は、マニホールド2から圧力チャンバ4にインクが流入される通路である。圧力チャンバ4は、吐出されるインクが充填される所であって、圧電アクチュエータ6の駆動によりその体積が変化することによって、インクの吐出または流入のための圧力の変化を生成する。
前記流路形成板1は、主にセラミック材料、金属材料または合成樹脂材料の複数の薄板をそれぞれ加工して前記インク流路の部分を形成した後、これらの複数の薄板を積層することにより形成される。そして、圧電アクチュエータ6は、圧力チャンバ4の上側に設けられ、圧電膜と、この圧電膜に電圧を印加するための電極とが積層された形態である。これにより、流路形成板1の圧力チャンバ4の上壁をなす部位は、圧電アクチュエータ6により変形される振動板1aの役割を行う。
前記の構成を有する従来の圧電方式のインクジェットプリントヘッドの作動を説明すれば、圧電アクチュエータ6の駆動により振動板1aが変形されれば、圧力チャンバ4の体積が減少し、これによる圧力チャンバ4内の圧力の変化によって、圧力チャンバ4内のインクは、ノズル5を通じて外部へ吐出される。次いで、圧電アクチュエータ6の駆動により振動板1aが本来の形態に復元されれば、圧力チャンバ4の体積が増加し、これによる圧力の変化によりインクがマニホールド2からリストリクタ3を通じて圧力チャンバ4内へ流入される。
このような圧電方式のインクジェットプリントヘッドの具体的な一例として、図2には、特許文献1に開示された圧電方式のインクジェットプリントヘッドが示されている。
図2に示すように、従来の圧電方式のインクジェットプリントヘッドは、複数の薄いプレート11ないし16を積層して接合することにより形成される。すなわち、プリントヘッドの最下側には、インクを吐出するためのノズル11aが形成された第1プレート11が配置され、その上にマニホールド12a及びインク排出口12bが形成されている第2プレート12が積層され、またその上には、インク流入口13a及びインク排出口13bが形成されている第3プレート13が積層される。そして、第3プレート13には、インク保存庫(図示せず)からマニホールド12aにインクを導入するためのインクインレット17が設けられている。第3プレート13上には、インク流入口14a及びインク排出口14bが形成されている第4プレート14が積層され、その上には両端部がそれぞれインク流入口14a及びインク排出口14bに連通された圧力チャンバ15aが形成されている第5プレート15が積層される。前記のインク流入口13a、14aは、マニホールド12aから圧力チャンバ15aにインクが流入される通路の役割を行い、インク排出口12b、13b、14bは、圧力チャンバ15aからノズル11a側にインクが排出される通路の役割を行う。第5プレート15上には、圧力チャンバ15aの上部を閉鎖する第6プレート16が積層され、その上には、圧電アクチュエータとして駆動電極20及び圧電膜21が形成されている。したがって、第6プレート16は、圧電アクチュエータにより振動する振動板としての機能を行い、その曲がり変形によりその下側の圧力チャンバ15aの体積を変化させる。
前記の第1プレート11、第2プレート12及び第3プレート13は、一般的に金属薄板のエッチングまたはプレス加工により成形され、前記第4プレート14、第5プレート15及び第6プレート16は、一般的に薄板形態のセラミック材料を切削加工することにより成形される。一方、マニホールド12aが形成された第2プレート12は、薄いプラスチック材料やフィルム状の接着剤を射出モールディングやプレス加工により成形され、またはペースト状の接着剤をスクリーンプリンティングすることにより成形され得る。そして、第6プレート16上に形成される圧電膜21は、圧電性質を有するペースト状のセラミック材料を塗布した後、燒結することにより成形される。
前記のように、図2に示す従来の圧電方式のインクジェットプリントヘッドを製造するためには、複数の金属プレート及びセラミックプレートのそれぞれを多様な加工方法により別途に加工した後、これらを積層して所定の接着剤により互いに接合させる工程を経る。ところが、従来のプリントヘッドでは、これを構成するプレートの数が比較的に多く、これにより、プレートを配列させる工程が多くなって、配列誤差も共に大きくなるという短所がある。配列誤差が発生すれば、インク流路を通じたインクの流れが円滑ではなく、これは、プリントヘッドのインク吐出の性能を低下させる。特に、解像度の向上のために、プリントヘッドを高密度で製作する最近の趨勢によって、前記の配列工程での精度の向上はさらに要求され、これは、製品コストの上昇をもたらす。
そして、プリントヘッドをなす複数のプレートが相異なる材料で相異なる方法により製造されるので、その製造工程の複雑性及び二重材料間の接合による難しさは、製品の収率を低下させる。また、複数のプレートが製造過程で正確に配列されて接合されたとしても、使用中に周囲の温度の変化によって異種材料間の熱膨張係数の差による配列誤差または変形が発生しうるという問題点もある。
図3には、従来の圧電方式のインクジェットプリントヘッドの他の例として、本出願人の特許文献2に開示されたインクジェットプリントヘッドが示されている。
図3に示すインクジェットプリントヘッドは、3個のシリコン基板30,40,50が積層されて接合された構造を有する。3個の基板30,40,50のうち上部基板30の底面には、所定深さの圧力チャンバ32が形成されており、その一側には、インク保存庫(図示せず)と連結されたインクインレット31が貫通形成されている。前記圧力チャンバ32は、中間基板40に形成されたマニホールド41の両側に2列に配列されている。そして、上部基板30の上面には、圧力チャンバ32にインクの吐出のための駆動力を提供する圧電アクチュエータ60が形成されている。中間基板40には、インクインレット31と連結されるマニホールド41が形成されており、このマニホールド41の両側に、複数の圧力チャンバ32のそれぞれと連結されるリストリクタ42が形成されている。また、中間基板40には、上部基板30に形成された圧力チャンバ32に対応する位置にダンパー43が垂直に貫通形成されている。そして、下部基板50には、前記ダンパー43と連結されるノズル51が形成されている。
前記のように、図3に示すインクジェットプリントヘッドは、3個のシリコン基板30,40,50が積層された形態に構成されることによって、図2に示す従来のインクジェットプリントヘッドに比べて基板の数が減って、その製造工程が比較的に簡単になり、複数の基板の積層工程で発生する誤配列の問題点が減少する。
しかし、次第に高い駆動周波数を要求する最近の趨勢及び次第に深化されているコスト競争を鑑みれば、前記の3個の基板を使用して製造されるインクジェットプリントヘッドも、このような要求を十分に満足させ得ないという短所がある。
米国特許第5,856,837号明細書 韓国出願第2003−0050477号明細書
本発明は、前記問題点を解決するためになされたものであって、特に、さらに単純な製造工程及びさらに向上したインク吐出の性能のために、二つのシリコン基板上に具現される圧電方式のインクジェットプリントヘッド及びその製造方法を提供するところにその目的がある。
前記課題を達成するための本発明に係る圧電方式のインクジェットプリントヘッドは、インクが導入されるインクインレットが貫通形成され、その底面には、前記インクインレットと連結されるマニホールド、及び前記マニホールドの少なくとも一側に配列されて、吐出されるインクが充填される複数の圧力チャンバが形成された上部基板と、その上面には、前記マニホールドと前記複数の圧力チャンバとのそれぞれの一端部を連結する複数のリストリクタが形成され、前記複数の圧力チャンバのそれぞれの他端部に対応する位置には、インクを吐出するための複数のノズルが垂直に貫通形成された下部基板と、前記上部基板上に形成されて、前記複数の圧力チャンバのそれぞれにインクの吐出のための駆動力を提供する圧電アクチュエータと、を備え、前記上部基板及び下部基板は、シリコン基板で形成され、前記下部基板上に前記上部基板が積層されて互いに接合されることを特徴とする。
本発明において、前記上部基板は、第1シリコン層、中間酸化膜及び第2シリコン層が順次積層された構造を有するSOIウェーハで形成されたことが望ましい。この場合、前記第1シリコン層に前記マニホールド及び前記複数の圧力チャンバが形成され、前記第2シリコン層は、前記圧電アクチュエータの駆動により曲がり変形される振動板としての役割を行う。そして、前記複数の圧力チャンバのそれぞれの深さは、前記第1シリコン層の厚さと実質的に同じであり、前記マニホールドの深さは、前記複数の圧力チャンバのそれぞれの深さより小さいことが望ましい。
本発明において、前記マニホールドは、一方向に長く形成され、前記複数の圧力チャンバは、前記マニホールドの両側に2列に配列されうる。この場合、前記マニホールドの内部には、その長手方向に延びた隔壁が形成されたことが望ましい。
本発明において、前記複数のリストリクタのそれぞれは、その一端が前記隔壁に隣接するように延びた形状を有しうる。
一方、前記複数のリストリクタのそれぞれは、相互離隔された二つの部分に分けられ、前記二つの部分は、前記上部基板の底面に所定の深さに形成された連結溝を通じて互いに連結されうる。
本発明において、前記圧電アクチュエータは、前記上部基板上に形成される下部電極と、前記下部電極上に前記複数の圧力チャンバのそれぞれの上部に位置するように形成される圧電膜と、前記圧電膜上に形成されて、前記圧電膜に電圧を印加するための上部電極と、を備えうる。
本発明において、前記複数のノズルのそれぞれは、前記下部基板の上面から所定の深さに形成されるインク導入部と、前記下部基板の底面から前記インク導入部と連通して形成されるインク吐出口と、を備えうる。この場合、前記インク導入部は、前記下部基板の上面から前記インク吐出口側に行くほどその断面積が縮小する、実質的にピラミッド状に形成されうる。
そして、前記課題を達成するための本発明に係る圧電方式のインクジェットプリントヘッドの製造方法は、単結晶シリコン基板で形成された上部基板と下部基板とを準備する工程と、準備された前記上部基板を微細加工して、インクが導入されるインクインレットと、前記インクインレットと連結されるマニホールドと、吐出されるインクが充填される複数の圧力チャンバと、を形成する上部基板の加工工程と、準備された前記下部基板を微細加工して、前記マニホールドと前記複数の圧力チャンバのそれぞれの一端部とを連結する複数のリストリクタと、インクを吐出するための複数のノズルと、を形成する下部基板の加工工程と、前記下部基板上に前記上部基板を積層して互いに接合する工程と、前記上部基板上に前記複数の圧力チャンバのそれぞれにインクの吐出のための駆動力を提供する圧電アクチュエータを形成する工程と、を含むことを特徴とする。
本発明において、前記上部基板の加工工程及び前記下部基板の加工工程で、前記上部基板と下部基板とのそれぞれに前記接合工程での配列基準として利用されるアラインメントマークを形成できる。
前記上部基板の加工工程で、前記マニホールドは、一方向に長く形成され、前記複数の圧力チャンバは、前記マニホールドの両側に2列に配列されるように形成されうる。この場合、前記マニホールドの内部にその長手方向に延びた隔壁を形成することが望ましい。
前記基板準備工程で、前記上部基板として第1シリコン層、中間酸化膜及び第2シリコン層が順次積層された構造を有するSOIウェーハを準備することが望ましい。この場合、前記上部基板の加工工程で、前記複数の圧力チャンバ及び前記インクインレットは、前記中間酸化膜をエッチング停止層として前記第1シリコン層をエッチングすることによって形成されうる。
そして、前記上部基板の加工工程で、前記マニホールドは、前記複数の圧力チャンバの深さより浅く形成されうる。
この場合、前記上部基板の加工工程は、前記上部基板の上面及び底面のそれぞれにシリコン酸化膜を形成する工程と、前記上部基板の底面に形成されたシリコン酸化膜をパターニングして、前記マニホールドを形成するための第1開口部を形成する工程と、前記上部基板の底面に形成されたシリコン酸化膜をパターニングして、前記複数の圧力チャンバ及びインクインレットを形成するための第2開口部を形成する工程と、前記第2開口部を通じて前記上部基板の底面を所定の深さに1次エッチングする工程と、前記第1開口部及び第2開口部を通じて前記上部基板の底面を前記中間酸化膜が露出されるまで2次エッチングする工程と、を含み得る。
一方、前記上部基板の加工工程で、前記マニホールドは、前記複数の圧力チャンバの深さと実質的に同じく形成されうる。
この場合、前記上部基板の加工工程は、前記上部基板の上面及び底面のそれぞれにシリコン酸化膜を形成する工程と、前記上部基板の底面に形成されたシリコン酸化膜をパターニングして、前記マニホールド、前記複数の圧力チャンバ及び前記インクインレットを形成するための開口部を形成する工程と、前記開口部を通じて前記上部基板の底面を前記中間酸化膜が露出されるまでエッチングする工程と、を含み得る。
前記下部基板の加工工程で、前記複数のリストリクタのそれぞれは、前記下部基板の上面を所定の深さに乾式または湿式エッチングすることによって形成されうる。この場合、前記複数のリストリクタのそれぞれは、互いに離隔された二つの部分に分けられて形成されうる。
前記下部基板の加工工程で、前記複数のノズルのそれぞれは、前記下部基板の上面から所定の深さに形成されるインク導入部と、前記下部基板の底面から前記インク導入部と連通して形成されるインク吐出口と、を備えうる。
前記インク導入部は、前記下部基板の上面を所定の深さに異方性湿式エッチングすることによって、前記下部基板の上面から前記インク吐出口側に行くほど順次その断面積が縮小する、実質的にピラミッド状に形成されることが望ましい。
前記インク吐出口は、前記下部基板の底面を乾式エッチングして前記インク導入部と連通して形成されうる。
前記接合工程で、前記二つの基板間の接合は、シリコン直接接合方法により行われうる。
前記圧電アクチュエータの形成工程は、前記上部基板上に下部電極を形成する工程と、前記下部電極上に圧電膜を形成する工程と、前記圧電膜上に上部電極を形成する工程と、前記圧電膜に電界を加えて圧電特性を発生させるポーリング工程と、を含み得る。
本発明に係る圧電方式のインクジェットプリントヘッド及びその製造方法は、次のような効果を有する。
第一に、本発明に係る圧電方式のインクジェットプリントヘッドは、二つのシリコン基板に構成されるので、その製造工程がさらに単純化される。これにより、収率が上昇して製造コストが低減しうる。
第二に、本発明に係る圧電方式のインクジェットプリントヘッドによれば、高い駆動周波数でも安定したインク吐出性能を有する。したがって、さらに速い印刷速度を有するプリンタを具現できる。
以下、添付された図面を参照して、本発明の望ましい実施形態を詳細に説明する。図面で同じ参照符号は、同じ構成要素を示し、図面上で各構成要素のサイズは、説明の明瞭性及び便宜のために誇張されている。また、一層が基板や他の層上に存在すると説明されるとき、その層は、基板や他の層に直接接しつつ、その上に存在しても良く、その間に第3の層が存在しても良い。
図4は、本発明の望ましい実施形態に係る圧電方式のインクジェットプリントヘッドを部分切断して示す分解斜視図であり、図5は、図4に表示されたA−A’線のプリントヘッドの垂直断面図であり、図6は、図5に表示されたB−B’線のプリントヘッドの垂直断面図である。
図4ないし図6を共に参照すれば、本発明に係る圧電方式のインクジェットプリントヘッドは、二つの基板、すなわち、上部基板100と下部基板200とを接合することにより形成される。そして、前記上部基板100及び下部基板200には、インク流路が形成され、上部基板100の上面には、インクの吐出のための駆動力を発生させる圧電アクチュエータ190が設けられる。
前記二つの基板100,200は、何れも単結晶シリコンウェーハで形成される。これにより、フォトリソグラフィ及びエッチングのような微細加工技術を利用して、二つの基板100,200にインク流路を形成する構成要素をさらに微細なサイズに精密かつ容易に形成できる。
前記のインク流路は、インク保存庫(図示せず)からインクが流入されるインクインレット110と、吐出されるインクが充填され、インクを吐出させるための圧力変化を発生させる複数の圧力チャンバ130と、前記インクインレット110を通じて流入されたインクを複数の圧力チャンバ130に供給する共通流路であるマニホールド120と、前記マニホールド120からそれぞれの圧力チャンバ130へインクを供給するための個別流路であるリストリクタ220と、前記圧力チャンバ130からインクが吐出されるノズル210と、を備える。このようなインク流路を形成する構成要素は、前記のように、二つの基板100,200に分けられて配置される。
具体的に、上部基板100には、前記インクインレット110、マニホールド120及び複数の圧力チャンバ130が形成される。前記マニホールド120は、上部基板100の底面に所定の深さに形成され、一方向に長く延びた形状を有する。前記インクインレット110は、上部基板100を垂直に貫通して形成され、前記マニホールド120の一端部に連結される。前記複数の圧力チャンバ130は、前記マニホールド120の両側に2列に配列される。一方、前記複数の圧力チャンバ130は、前記マニホールド120の一側に1列にのみ配列されてもよい。このような複数の圧力チャンバ130のそれぞれは、上部基板100の底面に所定の深さに形成され、インクの流れの方向にさらに長い直方体の形状を有し得る。そして、前記のように、複数の圧力チャンバ130がマニホールド120の両側に2列に配列される場合には、前記マニホールド120を左右に分離させる隔壁125が前記マニホールド120の内部にその長手方向に長く形成され得る。このような隔壁125によれば、前記マニホールド120の両側に配列された圧力チャンバ130相互間のクロストークが効果的に防止され得る。
前記上部基板100は、半導体集積回路の製造に広く使用される単結晶シリコンウェーハで形成され、特に、SOI(Silicon−On−Insulator)ウェーハで形成されることが望ましい。SOIウェーハは、一般的に第1シリコン層101と、第1シリコン層101上に形成された中間酸化膜102と、中間酸化膜102上に接着される第2シリコン層103との積層構造を有している。前記第1シリコン層101は、シリコン単結晶で形成され、数百μmの厚さ、例えば、約210μmの厚さを有する。前記中間酸化膜102は、前記第1シリコン層101の表面を酸化させることによって形成され、その厚さは、約2μmである。前記第2シリコン層103も、シリコン単結晶で形成され、数μmないし数十μmの厚さであり、例えば、約13μmの厚さを有する。このように、上部基板100としてSOIウェーハを使用する理由は、前記圧力チャンバ130の深さを正確に調節できるためである。すなわち、前記圧力チャンバ130の形成過程で、SOIウェーハの中間層をなす中間酸化膜102がエッチング停止層の役割を行うので、第1シリコン層101の厚さが決まれば、前記圧力チャンバ130の深さも共に決まる。また、前記圧力チャンバ130の上部壁をなす第2シリコン層103は、圧電アクチュエータ190により曲がり変形されることによって圧力チャンバ130の体積を変化させる振動板の役割を行うが、この振動板の厚さも第2シリコン層103の厚さにより決まる。これについては後述する。
前記マニホールド120は、前記圧力チャンバ130の深さより浅く形成され得る。この場合、前記マニホールド120の上部に位置する上部基板100が十分に厚いので、一方向に長く形成された前記マニホールド120によりプリントヘッドの強度が低下するという短所を防止できる。
一方、前記マニホールド120は、前記圧力チャンバ130の深さと同じに形成されてもよい。この場合、後述するように、前記圧力チャンバ130及びマニホールド120の製造工程がさらに単純化されるという長所がある一方、前記マニホールド120の上部に位置する上部基板100が薄くなるという短所がある。したがって、このような短所を補完するために、前記上部基板100の第2シリコン層103の厚さを十分に厚くすることが望ましい。この場合、前記圧力チャンバ130の上部に位置する第2シリコン層103にその上面から所定深さの溝(図示せず)を形成し、その溝の内部に圧電アクチュエータ190を形成することによって、前記圧力チャンバ130の上部の振動板をなす第2シリコン層103の厚さを適正な厚さに合わせることがさらに望ましい。
前記上部基板100上には圧電アクチュエータ190が形成される。そして、上部基板100と圧電アクチュエータ190との間には、シリコン酸化膜180が形成され得る。前記シリコン酸化膜180は、絶縁膜としての機能だけでなく、上部基板100と圧電アクチュエータ190との間の拡散を抑制し、熱的ストレスを調節する機能も有する。前記圧電アクチュエータ190は、共通電極の役割を行う下部電極191と、電圧の印加によって変形される圧電膜192と、駆動電極の役割を行う上部電極193とを備える。前記下部電極191は、前記のシリコン酸化膜180の全面に形成され、一つの導電金属物質層で形成されても良いが、Ti及びPtで形成された二つの金属薄膜層から構成されたことが望ましい。このような下部電極191は、共通電極の役割を行うだけでなく、その上に形成される圧電膜192とその下側の上部基板100との相互拡散を防止する拡散防止層の役割も行う。前記圧電膜192は、下部電極191上に形成され、前記複数の圧力チャンバ130のそれぞれの上部に位置するように配置される。このような圧電膜192は、圧電物質、望ましくは、PZT(Lead Zirconate Titanate)セラミック材料で形成され得る。前記圧電膜192は、電圧の印加により変形され、その変形により圧力チャンバ130の上部壁をなす上部基板100の第2シリコン層103、すなわち、振動板を曲がり変形させる役割を行う。前記上部電極193は、圧電膜192上に形成され、圧電膜192に電圧を印加する駆動電極の役割を行う。
前記下部基板200には、前記マニホールド120と複数の圧力チャンバ130のそれぞれの一端部とを連結する個別流路である複数のリストリクタ220と、インクを吐出するための複数のノズル210と、が形成される。前記下部基板200は、半導体集積回路の製造に広く使用される単結晶シリコンウェーハで形成され、数百μmの厚さ、例えば、約245μmの厚さを有する。
前記複数のリストリクタ220のそれぞれは、前記下部基板200の上面に所定深さ、例えば、約20μm〜40μmの深さに形成され、その一端は、マニホールド120に連結され、その他端は、圧力チャンバ130に連結される。このようなリストリクタ220は、マニホールド120から圧力チャンバ130に適正量のインクを供給する役割を行うだけでなく、インクが吐出されるとき、圧力チャンバ130からマニホールド120側にインクが逆流することを抑制する役割も行う。
前記複数のノズル210のそれぞれは、前記複数の圧力チャンバ130のそれぞれの他端部に対応する位置に前記下部基板200を垂直に貫通するように形成される。前記ノズル210は、下部基板200の上部に形成されたインク導入部211と、下部基板200の下部に形成され、インクが吐出されるインク吐出口212とで形成され得る。前記インク吐出口212は、一定の直径を有する垂直ホール状に形成され、前記インク導入部211は、圧力チャンバ130からインク吐出口212側に行くほど、次第にその断面積が縮小するピラミッド状に形成され、約230μm〜235μmの深さを有し得る。
前記のように形成された二つの基板100,200は、前記のように積層されて互いに接合されることにより、本発明に係る圧電方式のインクジェットプリントヘッドを構成する。そして、二つの基板100,200の内部には、インクインレット110、マニホールド120、リストリクタ220、圧力チャンバ130及びノズル210が順に連結されて形成されたインク流路が形成される。
図7A及び図7Bは、図5に示すリストリクタの変形例を示す部分垂直断面図である。
まず、図7Aに示すように、下部基板200の上面に所定の深さに形成されるリストリクタ220’は、互いに離隔された二つの部分221,222に分けられ、この二つの部分221,222は、上部基板100の底面に所定の深さに形成された連結溝223を通じて互いに連結され得る。
このように構成されたリストリクタ220’は、インクの吐出時にインクの逆流をさらに効果的に防止できるという長所を有する。
次いで、図7Bに示すように、リストリクタ220”は、図5に示すリストリクタ220に比べて深く、かつ長く形成され得る。すなわち、前記リストリクタ220”は、その一端が前記隔壁125に隣接するように延びた形状を有して、前記マニホールド120と重畳される部分が増加する。
このように構成されたリストリクタ220”は、マニホールド120から圧力チャンバ130に供給されるインクの流量を十分に増加させうるという長所がある。
以下では、前記のような構成を有する本発明に係る圧電方式のインクジェットプリントヘッドの作動を説明する。インク保存庫(図示せず)からインクインレット110を通じてマニホールド120の内部に流入されたインクは、複数のリストリクタ220,220’,220”を通じて複数の圧力チャンバ130のそれぞれの内部に供給される。前記圧力チャンバ130の内部にインクが充填されている状態で、圧電アクチュエータ190の上部電極193を通じて圧電膜192に電圧が印加されれば、圧電膜192は変形され、これにより振動板の役割を行う上部基板100の第2シリコン層103が下側に曲がる。前記第2シリコン層103の曲がり変形により圧力チャンバ130の体積が減少し、これによる圧力チャンバ130内の圧力の上昇により、圧力チャンバ130内のインクは、ノズル210を通じて外部へ吐出される。
次いで、圧電アクチュエータ190の圧電膜192に印加された電圧が遮断されれば、圧電膜192は原状復元され、これにより、振動板の役割を行う第2シリコン層103が原状に復元されつつ、圧力チャンバ130の体積が増加する。これによる圧力チャンバ130内の圧力の低下と、ノズル210内に形成されたインクのメニスカスによる表面張力とにより、マニホールド120からリストリクタ220,220’,220”を通じて圧力チャンバ130の内部にインクが流入される。
図8Aは、本発明及び従来の圧電方式のプリントヘッドにおいて、駆動周波数によるインクの吐出速度の変化を比較して示すグラフであり、図8Bは、本発明及び従来の圧電方式のプリントヘッドにおいて、駆動周波数によるインク液滴の体積の変化を比較して示すグラフである。
まず、図8Aに示すように、駆動周波数の変化によるインク液滴の吐出速度においては、本発明の望ましい実施形態に係るインクジェットプリントヘッドと、図3に示す従来のインクジェットプリントヘッドとの差はほとんどないということが分かる。すなわち、本発明の望ましい実施形態に係るインクジェットプリントヘッドでのインク液滴の吐出速度は、平均的に約7.32m/sであり、図3に示す従来のインクジェットプリントヘッドでのインク液滴の吐出速度は、平均的に約7.29m/sである。
次いで、図8Bに示すように、図3に示す従来のインクジェットプリントヘッドにおいては、駆動周波数が約17kHzを超えれば、インク液滴の体積が急減して下限線から逸脱するということが分かる。一方、本発明の望ましい実施形態に係るインクジェットプリントヘッドにおいては、駆動周波数が約20kHzである場合にも、インク液滴の体積はそれぞれ5%の上限線と下限線との間の範囲内に維持されるということが分かる。実際に、本発明の望ましい実施形態に係るインクジェットプリントヘッドにおいては、駆動周波数が23.02kHzであるとき、インク液滴の体積が下限線から逸脱する。
このように、本発明に係る圧電方式のインクジェットプリントヘッドは、高い駆動周波数でも安定したインク吐出の性能を有するという長所がある。したがって、本発明によれば、さらに速い印刷速度を有するプリンタを具現できる。
以下では、前記の構成を有する本発明に係る圧電方式のインクジェットプリントヘッドの製造方法を説明する。
まず、本発明の望ましい製造方法を概略的に説明すれば、インク流路をなす構成要素が形成された上部基板と下部基板とをそれぞれ製造し、次いで、製造された二つの基板を積層して接合した後、最後に、上部基板上に圧電アクチュエータを形成することによって、本発明に係る圧電方式のインクジェットプリントヘッドが完成される。一方、上部基板と下部基板とを製造する工程は、順序に関係なく行われ得る。すなわち、下部基板が先に製造されても良く、二つの基板が同時に製造されても良い。但し、説明の便宜上、下記では、上部基板、下部基板の順にそれぞれの製造方法を説明する。
図9Aないし図9Cは、図4に示す本発明に係る圧電方式のインクジェットプリントヘッドの望ましい製造方法において、上部基板の上面にアラインメントマークを形成する工程を説明するための断面図である。
図9Aに示すように、本実施形態で上部基板100は、単結晶シリコン基板で形成される。これは、半導体素子の製造に広く使用されるシリコンウェーハをそのまま使用できて、量産に効果的である。そして、上部基板100としてSOIウェーハを使用することが、圧力チャンバ(図4の130)の高さを正確に形成できるので望ましい。SOIウェーハは、前記のように、第1シリコン層101と、第1シリコン層101上に形成された中間酸化膜102と、中間酸化膜102上に接着された第2シリコン層103との積層構造を有している。
まず、約650μmの厚さの第1シリコン層101と、約2μmの厚さを有する中間酸化膜102と、約13μmの厚さを有する第2シリコン層103とで形成された上部基板100を準備する。次いで、上部基板100の第1シリコン層101を化学的−機械的研磨(Chemical−Mechanical Polishing:CMP)によりその厚さを減った後、上部基板100の全体をクリーニングする。このとき、前記第1シリコン層101は、圧力チャンバ(図5の130)の深さによって適切な厚さ、例えば、約210μmの厚さに減り得る。そして、上部基板100のクリーニングには、アセトン及びイソプロピルアルコール(IPA)などを使用した有機クリーニング法と、硫酸及びBOE(Buffered Oxide Etchant)などを使用した酸クリーニング法と、SC1(Standard Clean 1)クリーニング法とが使用されうる。
このようにクリーニングされた上部基板100を湿式及び乾式酸化させれば、上部基板100の上面及び底面には、約5,000Å〜15,000Åの厚さを有するシリコン酸化膜151a,151bが形成される。
次いで、図9Bに示すように、上部基板100の上面に形成されたシリコン酸化膜151aの上面にフォトレジストPRを塗布する。次いで、塗布されたフォトレジストPRをパターニングすることにより、上部基板100の上面の端部にアラインメントマークを形成するための開口部148を形成する。このとき、フォトレジストPRのパターニングは、露光及び現像を含む公知のフォトリソグラフィ方法により行われ、後述する他のフォトレジストのパターニングも、それと同じ方法で行われ得る。
次いで、図9Cに示すように、パターニングされたフォトレジストPRをエッチングマスクとして、前記開口部148を通じて露出された部位のシリコン酸化膜151aをエッチングし、次いで、上部基板100を所定の深さにエッチングすることによってアラインメントマーク141を形成する。このとき、前記シリコン酸化膜151aに対するエッチングは、反応性イオンエッチング(Reactive Ion Etching:RIE)のような乾式エッチング法またはBOEを使用した湿式エッチング法により行われ得る。上部基板100に対するエッチングは、誘導結合プラズマ(Inductively Coupled Plasma:ICP)を利用したRIEのような乾式エッチング法や、シリコン用のエッチング液、例えば、テトラメチル水酸化アンモニウム(TetraMethyl Ammonium Hydroxide:TMAH)または水酸化カリウム(KOH)を使用した湿式エッチング法により行われ得る。
そして、前記の有機クリーニング法及び/または酸クリーニング法により前記フォトレジストPRを除去する。このとき、前記フォトレジストPRは、アッシングにより除去されてもよい。このようなフォトレジストPRの除去方法は、後述する他のフォトレジストの除去にも利用され得る。
一方、前記では、シリコン酸化膜151a及び上部基板100をエッチングした後にフォトレジストPRを除去すると説明したが、フォトレジストPRをエッチングマスクとしてシリコン酸化膜151aをエッチングした後、フォトレジストPRを除去した後に、シリコン酸化膜151aをエッチングマスクとして上部基板100をエッチングしても良い。
これにより、図9Cに示すように、上面の端部にアラインメントマーク141が形成された状態の上部基板100が準備される。
図10Aないし図10Gは、上部基板にインクインレット、マニホールド及び圧力チャンバを形成する工程を説明するための断面図である。
まず、図10Aに示すように、上部基板100の底面のシリコン酸化膜151bの表面にフォトレジストPRを塗布する。次いで、塗布されたフォトレジストPRをパターニングすることにより、上部基板100の底面にマニホールド(図4の120)を形成するための開口部129を形成する。このとき、上部基板100の底面の端部にアラインメントマークを形成するための開口部149も共に形成され得る。そして、マニホールドの内部に隔壁(図4の125)を形成する場合には、隔壁が形成される部位にフォトレジストPRを残存させる。
次いで、図10Bに示すように、前記開口部129、149を通じて露出された部位のシリコン酸化膜151bをフォトレジストPRをエッチングマスクとしてRIEのような乾式エッチング法、またはBOEを使用した湿式エッチング法にエッチングすることによって、上部基板100の底面を部分的に露出させる。次いで、前記フォトレジストPRを前記の方法により除去する。
次いで、図10Cに示すように、露出された上部基板100の底面とシリコン酸化膜151aの表面とに再びフォトレジストPRを塗布する。次いで、塗布されたフォトレジストPRをパターニングすることにより、上部基板100の底面に圧力チャンバ(図4の130)を形成するための開口部139と、インクインレット(図4の110)を形成するための開口部(図示せず)とを形成する。
次いで、図10Dに示すように、前記開口部139を通じて露出された部位のシリコン酸化膜151bを、フォトレジストPRをエッチングマスクとして前記の乾式エッチング法または湿式エッチング法にエッチングすることによって、上部基板100の底面を部分的に露出させる。
次いで、図10Eに示すように、前記フォトレジストPRをエッチングマスクとして、前記開口部139を通じて露出された部位の上部基板100を所定の深さに1次エッチングして圧力チャンバ130の一部を形成する。このとき、インクインレット(図4の110)の一部も共に形成される。そして、上部基板100に対する1次エッチングは、ICPを利用したRIEのような乾式エッチング法により行われ得る。また、1次エッチングの深さは、圧力チャンバ(図4の130)とマニホールド(図4の120)との深さの差によって決まる。例えば、圧力チャンバ130の最終深さが210μmであり、マニホールド(図4の120)の深さが160μmである場合に、1次エッチングの深さは約50μmとなる。
次いで、図10Fに示すように、前記フォトレジストPRを前記の方法により除去する。それにより、マニホールドを形成するための開口部129と、アラインメントマークを形成するための開口部149とを通じて上部基板100の底面が露出される。
次いで、図10Gに示すように、露出された部位の上部基板100の底面を、シリコン酸化膜151bをエッチングマスクとして2次エッチングすることによって、圧力チャンバ130とマニホールド120とを形成する。このとき、インクインレット(図4の110)も圧力チャンバ130と同じ深さに形成され、アラインメントマーク142は、マニホールド120と同じ深さに形成される。そして、マニホールド120の内部には、これを左右に分離させる隔壁125が形成される。
前記上部基板100に対する2次エッチングも、ICPを利用したRIEのような乾式エッチング法により行われ得る。また、図示されているように、上部基板100としてSOIウェーハを使用すれば、SOIウェーハの中間酸化膜102がエッチング停止層の役割を行うので、2次エッチングの工程では、第1シリコン層101のみがエッチングされる。したがって、第1シリコン層101の厚さを調節すれば、圧力チャンバ130を所望の深さに正確に合わせ得る。
これにより、その底面にインクインレット110、マニホールド120及び圧力チャンバ130が形成された上部基板100が完成される。一方、前記インクインレット110は、後述するように、最後の工程で上部基板100を垂直に貫通するように後加工される。
一方、前記では、前記マニホールド120が圧力チャンバ130の深さより浅く形成される場合を説明したが、前記のように、前記マニホールド120は、前記圧力チャンバ130の深さと同じに形成されても良い。この場合には、前記圧力チャンバ130とマニホールド120とを共に形成できるので、製造工程がさらに単純化される。具体的に説明すれば、図10A及び図10Bに示す工程で、マニホールド120を形成するための開口部129と共に、圧力チャンバ130を形成するための開口部139とインクインレット110を形成するための開口部とを形成する。次いで、前記開口部129,139を通じて上部基板100の底面を中間酸化膜102が露出されるまで乾式エッチングする。それにより、一回のエッチング工程により同じ深さを有するインクインレット110、マニホールド120及び圧力チャンバ130が形成され得る。
図11Aないし図11Jは、下部基板にリストリクタ及びノズルを形成する工程を説明するための断面図である。
図11Aに示すように、本実施形態で下部基板200も単結晶シリコン基板で形成される。まず、約650μmの厚さの下部基板200を準備する。次いで、下部基板200をCMPによりその厚さを約245μmに減らした後、下部基板200の全体をクリーニングする。このとき、下部基板200のクリーニングには、前記の有機クリーニング法と、酸クリーニング法と、SC1クリーニング法とが使用されうる。
このように、クリーニングされた下部基板200を湿式及び乾式酸化させれば、下部基板200の上面及び底面には、約5,000Å〜15,000Åの厚さを有するシリコン酸化膜251a,251bが形成される。
次いで、図11Bに示すように、下部基板200の底面の端部にアラインメントマーク242を形成できる。前記アラインメントマーク242は、前記の図9Aないし図9Cに示す方法と同じ方法により形成され得る。
次いで、下部基板200の上面のシリコン酸化膜251aの表面にフォトレジストPRを塗布する。次いで、塗布されたフォトレジストPRをパターニングすることにより、下部基板200の上面にリストリクタ(図4の220)を形成するための開口部228を形成する。このとき、下部基板200の上面の端部にアラインメントマークを形成するための開口部248も共に形成され得る。
一方、図7Aに示すリストリクタ220’を形成する場合には、前記リストリクタ220’の形状に一致するように、前記開口部228を互いに離隔された二つの部分に形成する。この場合、上部基板100の底面に連結溝(図7Aの223)を形成し、前記連結溝の形成は、図10Aに示す工程以前に行われ得る。
そして、図7Bに示すリストリクタ220”を形成する場合には、前記開口部228を、上部基板100に形成された隔壁125に対応する部分に隣接するように延びた形状に形成する。
次いで、図11Cに示すように、前記開口部228,248を通じて露出された部位のシリコン酸化膜251aを、フォトレジストPRをエッチングマスクとしてRIEのような乾式エッチング法、またはBOEを使用した湿式エッチング法でエッチングすることによって、下部基板200の上面を部分的に露出させる。次いで、前記フォトレジストPRを前記の方法により除去する。
次いで、図11Dに示すように、シリコン酸化膜251aをエッチングマスクとして、露出された部位の下部基板200の上面を約20μm〜40μmの深さにエッチングすることによって、リストリクタ220及びアラインメントマーク241を形成する。このとき、下部基板200に対するエッチングは、ICPを利用したRIEのような乾式エッチング法や、シリコン用のエッチング液として、例えば、TMAHまたはKOHを使用した湿式エッチング法により行われ得る。前記下部基板200の上面を乾式エッチングする場合には、前記リストリクタ220の側面は垂直に形成され、下部基板200の上面を湿式エッチングする場合には、前記リストリクタ220の側面は傾いて形成される。
次いで、図11Eに示すように、前記下部基板200を前記のクリーニング法を使用してクリーニングした後、クリーニングされた下部基板200を湿式及び乾式酸化させて、下部基板200の上面及び底面に約5,000Å〜6,000Åの厚さを有するシリコン酸化膜251a,251bを再び形成する。それにより、図11Eに示すように、リストリクタ220の内面とアラインメントマーク241,242の内面とにもシリコン酸化膜251a,251bが形成される。
次いで、下部基板200の上面のシリコン酸化膜251aの表面に再びフォトレジストPRを塗布する。次いで、塗布されたフォトレジストPRをパターニングすることにより、下部基板200の上面にノズル(図4の210)のインク導入部(図4の211)を形成するための開口部218を形成する。
次いで、図11Fに示すように、フォトレジストPRをエッチングマスクとして、前記開口部218を通じて露出された部位のシリコン酸化膜251aをエッチングすることによって、下部基板200の上面を部分的に露出させる。このとき、シリコン酸化膜251aに対するエッチングは、前記のような乾式エッチング法または湿式エッチング法により行われ得る。
次いで、フォトレジストPRを除去した後、下部基板200を硫酸及びBOEなどを使用した酸クリーニング法でクリーニングする。
次いで、図11Gに示すように、露出された部位の下部基板200をシリコン酸化膜251aをエッチングマスクとして所定の深さ、例えば、約230μm〜235μmの深さにエッチングすることによって、ノズルのインク導入部211を形成する。このとき、下部基板200のエッチングは、シリコン用のエッチング液として、例えば、TMAHまたはKOHを使用した湿式エッチング法により行われ得る。それにより、下部基板200の内部の結晶面による異方性湿式エッチングの特性によりピラミッド状のインク導入部211が形成され得る。
次いで、図11Hに示すように、下部基板200の底面に形成されたシリコン酸化膜251bの表面にフォトレジストPRを塗布する。次いで、塗布されたフォトレジストPRをパターニングして、下部基板200の底面にノズルのインク吐出口(図4の212)を形成するための開口部219を形成する。
次いで、図11Iに示すように、前記開口部219を通じて露出された部位のシリコン酸化膜251bを、フォトレジストPRをエッチングマスクとして湿式エッチングまたは乾式エッチングして除去することによって、下部基板200の底面を部分的に露出させた後、前記フォトレジストPRを除去する。
次いで、図11Jに示すように、シリコン酸化膜251bをエッチングマスクとして露出された部位の下部基板200が貫通されるようにエッチングすることによって、インク導入部211と連通されるインク吐出口212を形成する。このとき、下部基板200のエッチングは、ICP RIE法を利用した乾式エッチングにより行われ得る。
これにより、インク導入部211及びインク吐出口212で形成されたノズル210が貫通形成され、リストリクタ220がその上面に形成された下部基板200が完成される。
図12は、下部基板上に上部基板を積層して接合する工程を説明するための断面図である。
図12に示すように、前記工程を経て準備された下部基板200上に上部基板100を積層し、それらを互いに接合させる。このとき、二つの基板100,200のそれぞれに形成されたアラインメントマーク141,142,241,242を利用すれば、配列精度が向上し得る。そして、二つの基板100,200の接合は、公知のシリコン直接接合(Silicon Direct Bonding:SDB)法により行われ得る。
以上のように、二つの基板100,200、300を積層して接合すれば、インクジェットプリントヘッドにおいて、インク流動のためのインク流路が全て連結される。
図13は、上部基板上に圧電アクチュエータを形成して、本発明に係る圧電方式のインクジェットプリントヘッドを完成する工程を説明するための断面図である。
図13に示すように、下部基板100と中間基板200とを積層して接合した状態で、上部基板100の上面に絶縁膜としてシリコン酸化膜180を形成する。しかし、このシリコン酸化膜180を形成する工程は、前記の上部基板100の製造工程で、上部基板100の上面に既にシリコン酸化膜151aが形成されているので省略できる。
次いで、シリコン酸化膜180上に圧電アクチュエータの下部電極191を形成する。前記下部電極191は、Ti及びPtで形成された二つの金属薄膜層から構成され得る。この場合、前記下部電極191は、シリコン酸化膜180の全面にTi及びPtをそれぞれ所定の厚さにスパッタリングすることにより形成され得る。
次いで、前記下部電極191上に圧電膜192及び上部電極193を形成する。具体的に、ペースト状態の圧電材料をスクリーンプリンティングにより圧力チャンバ130の上部に所定の厚さに塗布した後、これを所定時間乾燥させる。前記圧電材料としては、多様なものが使用されうるが、望ましくは、通常的なPZTセラミック材料が使用される。次いで、乾燥された圧電膜192上に電極材料、例えば、Ag−Pdペーストをプリンティングして上部電極193を形成する。次いで、圧電膜192と上部電極193とを所定の温度、例えば、900〜1,000℃で焼結させる。次いで、前記圧電膜192に電界を加えて圧電特性を発生させるポーリング工程を経れば、上部基板100上に下部電極191、圧電膜192及び上部電極193からなる圧電アクチュエータ190が形成される。
最後に、前記のように、図10Gに示す工程で、上部基板100の底面に圧力チャンバ130と共に所定の深さに形成されたインクインレット(図4の110)を後加工により貫通させる。例えば、接着テープを利用してインクインレット110の上部に残存した上部基板100の薄い部分を剥がせば、上部基板100を垂直に貫通するインクインレット110が形成される。
これにより、本発明に係る圧電方式のインクジェットプリントヘッドが完成される。
以上、本発明の望ましい実施形態を詳細に説明したが、これは、例示的なものに過ぎず、当業者ならば、これから多様な変形及び均等な他の実施形態が可能であるということが理解できるであろう。例えば、本発明でプリントヘッドの各構成要素を形成する方法は、単に例示されたものであって、多様なエッチング法が適用され、製造方法の各工程の順序も例示されたものと異なり得る。したがって、本発明の真の技術的な保護範囲は、特許請求の範囲によって決まらねばならない。
本発明は、インクジェットプリントヘッドに関連した技術分野に好適に適用され得る。
従来の圧電方式のインクジェットプリントヘッドの一般的な構成を説明するための断面図である。 従来の圧電方式のインクジェットプリントヘッドの具体的な一例を示す分解斜視図である。 従来の圧電方式のインクジェットプリントヘッドの具体的な他の例を示す分解斜視図である。 本発明の望ましい実施形態に係る圧電方式のインクジェットプリントヘッドを部分切断して示す分解斜視図である。 図4に表示されたA−A’線のプリントヘッドの垂直断面図である。 図5に表示されたB−B’線のプリントヘッドの垂直断面図である。 図5に示すリストリクタの変形例を示す部分垂直断面図である。 図5に示すリストリクタの変形例を示す部分垂直断面図である。 本発明及び従来の圧電方式のプリントヘッドにおいて駆動周波数によるインクの吐出速度の変化を比較して示すグラフである。 本発明及び従来の圧電方式のプリントヘッドにおいて駆動周波数によるインク液滴の体積の変化を比較して示すグラフである。 図4に示す本発明に係る圧電方式のインクジェットプリントヘッドの望ましい製造方法において、上部基板の上面にアラインメントマークを形成する工程を説明するための断面図である。 図4に示す本発明に係る圧電方式のインクジェットプリントヘッドの望ましい製造方法において、上部基板の上面にアラインメントマークを形成する工程を説明するための断面図である。 図4に示す本発明に係る圧電方式のインクジェットプリントヘッドの望ましい製造方法において、上部基板の上面にアラインメントマークを形成する工程を説明するための断面図である。 上部基板にインクインレット、マニホールド及び圧力チャンバを形成する工程を説明するための断面図である。 上部基板にインクインレット、マニホールド及び圧力チャンバを形成する工程を説明するための断面図である。 上部基板にインクインレット、マニホールド及び圧力チャンバを形成する工程を説明するための断面図である。 上部基板にインクインレット、マニホールド及び圧力チャンバを形成する工程を説明するための断面図である。 上部基板にインクインレット、マニホールド及び圧力チャンバを形成する工程を説明するための断面図である。 上部基板にインクインレット、マニホールド及び圧力チャンバを形成する工程を説明するための断面図である。 上部基板にインクインレット、マニホールド及び圧力チャンバを形成する工程を説明するための断面図である。 下部基板にリストリクタ及びノズルを形成する工程を説明するための断面図である。 下部基板にリストリクタ及びノズルを形成する工程を説明するための断面図である。 下部基板にリストリクタ及びノズルを形成する工程を説明するための断面図である。 下部基板にリストリクタ及びノズルを形成する工程を説明するための断面図である。 下部基板にリストリクタ及びノズルを形成する工程を説明するための断面図である。 下部基板にリストリクタ及びノズルを形成する工程を説明するための断面図である。 下部基板にリストリクタ及びノズルを形成する工程を説明するための断面図である。 下部基板にリストリクタ及びノズルを形成する工程を説明するための断面図である。 下部基板にリストリクタ及びノズルを形成する工程を説明するための断面図である。 下部基板にリストリクタ及びノズルを形成する工程を説明するための断面図である。 下部基板上に上部基板を積層して接合する工程を説明するための断面図である。 上部基板上に圧電アクチュエータを形成して、本発明に係る圧電方式のインクジェットプリントヘッドを完成する工程を説明するための断面図である。
符号の説明
100 上部基板
101 第1シリコン層
102 中間酸化膜
103 第2シリコン層
110 インクインレット
120 マニホールド
125 隔壁
130 圧力チャンバ
180 シリコン酸化膜
190 圧電アクチュエータ
191 下部電極
192 圧電膜
193 上部電極
200 下部基板
210 ノズル
211 インク導入部
212 インク吐出口
220 リストリクタ

Claims (34)

  1. インクが導入されるインクインレットが貫通形成され、その底面には、前記インクインレットと連結されるマニホールド、及び前記マニホールドの少なくとも一側に配列されて吐出されるインクが充填される複数の圧力チャンバが形成された上部基板と、
    その上面には、前記マニホールドと前記複数の圧力チャンバとのそれぞれの一端部を連結する複数のリストリクタが形成され、前記複数の圧力チャンバのそれぞれの他端部に対応する位置には、インクを吐出するための複数のノズルが垂直に貫通形成された下部基板と、
    前記上部基板上に形成されて、前記複数の圧力チャンバのそれぞれにインクの吐出のための駆動力を提供する圧電アクチュエータと、を備え、
    前記上部基板及び下部基板は、シリコン基板で形成され、前記下部基板上に前記上部基板が積層されて互いに接合されることを特徴とする圧電方式のインクジェットプリントヘッド。
  2. 前記上部基板は、第1シリコン層、中間酸化膜及び第2シリコン層が順次積層された構造を有するSOIウェーハで形成されたことを特徴とする請求項1に記載の圧電方式のインクジェットプリントヘッド。
  3. 前記第1シリコン層に前記マニホールド及び前記複数の圧力チャンバが形成され、前記第2シリコン層は、前記圧電アクチュエータの駆動により曲がり変形される振動板としての役割を行うことを特徴とする請求項2に記載の圧電方式のインクジェットプリントヘッド。
  4. 前記複数の圧力チャンバのそれぞれの深さは、前記第1シリコン層の厚さと実質的に同じであり、前記マニホールドの深さは、前記複数の圧力チャンバのそれぞれの深さより小さいことを特徴とする請求項3に記載の圧電方式のインクジェットプリントヘッド。
  5. 前記マニホールドは、一方向に長く形成され、前記複数の圧力チャンバは、前記マニホールドの両側に2列に配列されたことを特徴とする請求項1ないし請求項4のうち何れか1項に記載の圧電方式のインクジェットプリントヘッド。
  6. 前記マニホールドの内部には、その長手方向に延びた隔壁が形成されたことを特徴とする請求項5に記載の圧電方式のインクジェットプリントヘッド。
  7. 前記複数のリストリクタのそれぞれは、その一端が前記隔壁に隣接するように延びた形状を有することを特徴とする請求項6に記載の圧電方式のインクジェットプリントヘッド。
  8. 前記複数のリストリクタのそれぞれは、相互離隔された二つの部分に分けられ、前記二つの部分は、前記上部基板の底面に所定の深さに形成された連結溝を通じて互いに連結されることを特徴とする請求項1ないし請求項4のうち何れか1項に記載の圧電方式のインクジェットプリントヘッド。
  9. 前記圧電アクチュエータは、
    前記上部基板上に形成される下部電極と、
    前記下部電極上に前記複数の圧力チャンバのそれぞれの上部に位置するように形成される圧電膜と、
    前記圧電膜上に形成されて、前記圧電膜に電圧を印加するための上部電極と、を備えることを特徴とする請求項1ないし請求項4のうち何れか1項に記載の圧電方式のインクジェットプリントヘッド。
  10. 前記下部電極は、Ti及びPtでそれぞれ形成された二つの金属薄膜層から構成されたことを特徴とする請求項9に記載の圧電方式のインクジェットプリントヘッド。
  11. 前記上部基板と前記下部電極との間には、絶縁膜としてシリコン酸化膜が形成されたことを特徴とする請求項9に記載の圧電方式のインクジェットプリントヘッド。
  12. 前記複数のノズルのそれぞれは、
    前記下部基板の上面から所定の深さに形成されるインク導入部と、
    前記下部基板の底面から前記インク導入部と連通して形成されるインク吐出口と、を備えることを特徴とする請求項1ないし請求項4のうち何れか1項に記載の圧電方式のインクジェットプリントヘッド。
  13. 前記インク導入部は、前記下部基板の上面から前記インク吐出口側に行くほどその断面積が縮小する、実質的にピラミッド状に形成されていることを特徴とする請求項12に記載の圧電方式のインクジェットプリントヘッド。
  14. 単結晶シリコン基板で形成された上部基板と下部基板とを準備する工程と、
    準備された前記上部基板を微細加工して、インクが導入されるインクインレットと、前記インクインレットと連結されるマニホールドと、吐出されるインクが充填される複数の圧力チャンバと、を形成する上部基板の加工工程と、
    準備された前記下部基板を微細加工して、前記マニホールドと前記複数の圧力チャンバのそれぞれの一端部とを連結する複数のリストリクタと、インクを吐出するための複数のノズルと、を形成する下部基板の加工工程と、
    前記下部基板上に前記上部基板を積層して互いに接合する工程と、
    前記上部基板上に前記複数の圧力チャンバのそれぞれにインクの吐出のための駆動力を提供する圧電アクチュエータを形成する工程と、を含むことを特徴とする圧電方式のインクジェットプリントヘッドの製造方法。
  15. 前記上部基板の加工工程及び前記下部基板の加工工程で、前記上部基板と下部基板とのそれぞれに前記接合工程での配列基準として利用されるアラインメントマークを形成することを特徴とする請求項14に記載の圧電方式のインクジェットプリントヘッドの製造方法。
  16. 前記上部基板の加工工程で、前記マニホールドは、一方向に長く形成され、前記複数の圧力チャンバは、前記マニホールドの両側に2列に配列されるように形成されることを特徴とする請求項14に記載の圧電方式のインクジェットプリントヘッドの製造方法。
  17. 前記上部基板の加工工程で、前記マニホールドの内部にその長手方向に延びた隔壁を形成することを特徴とする請求項16に記載の圧電方式のインクジェットプリントヘッドの製造方法。
  18. 前記基板準備工程で、前記上部基板として第1シリコン層、中間酸化膜及び第2シリコン層が順次積層された構造を有するSOIウェーハを準備することを特徴をする請求項14ないし請求項17のうち何れか1項に記載の圧電方式のインクジェットプリントヘッドの製造方法。
  19. 前記上部基板の加工工程で、前記複数の圧力チャンバ及び前記インクインレットは、前記中間酸化膜をエッチング停止層として前記第1シリコン層をエッチングすることによって形成されることを特徴とする請求項18に記載の圧電方式のインクジェットプリントヘッドの製造方法。
  20. 前記上部基板の加工工程で、前記マニホールドは、前記複数の圧力チャンバの深さより浅く形成されることを特徴とする請求項19に記載の圧電方式のインクジェットプリントヘッドの製造方法。
  21. 前記上部基板の加工工程は、
    前記上部基板の上面及び底面のそれぞれにシリコン酸化膜を形成する工程と、
    前記上部基板の底面に形成されたシリコン酸化膜をパターニングして、前記マニホールドを形成するための第1開口部を形成する工程と、
    前記上部基板の底面に形成されたシリコン酸化膜をパターニングして、前記複数の圧力チャンバ及びインクインレットを形成するための第2開口部を形成する工程と、
    前記第2開口部を通じて前記上部基板の底面を所定の深さに1次エッチングする工程と、
    前記第1開口部及び第2開口部を通じて前記上部基板の底面を前記中間酸化膜が露出されるまで2次エッチングする工程と、を含むことを特徴とする請求項20に記載の圧電方式のインクジェットプリントヘッドの製造方法。
  22. 前記上部基板の加工工程で、前記マニホールドは、前記複数の圧力チャンバの深さと実質的に同じく形成されることを特徴とする請求項19に記載の圧電方式のインクジェットプリントヘッドの製造方法。
  23. 前記上部基板の加工工程は、
    前記上部基板の上面及び底面のそれぞれにシリコン酸化膜を形成する工程と、
    前記上部基板の底面に形成されたシリコン酸化膜をパターニングして、前記マニホールド、前記複数の圧力チャンバ及び前記インクインレットを形成するための開口部を形成する工程と、
    前記開口部を通じて前記上部基板の底面を前記中間酸化膜が露出されるまでエッチングする工程と、を含むことを特徴とする請求項22に記載の圧電方式のインクジェットプリントヘッドの製造方法。
  24. 前記上部基板に対するエッチングは、誘導結合プラズマを利用した反応性イオンエッチング法により行われることを特徴とする請求項21または請求項23に記載の圧電方式のインクジェットプリントヘッドの製造方法。
  25. 前記上部基板の底面に形成された前記インクインレットは、前記圧電アクチュエータの形成工程後に貫通されることを特徴とする請求項19に記載の圧電方式のインクジェットプリントヘッドの製造方法。
  26. 前記下部基板の加工工程で、前記複数のリストリクタのそれぞれは、前記下部基板の上面を所定の深さに乾式または湿式エッチングすることによって形成されることを特徴とする請求項14に記載の圧電方式のインクジェットプリントヘッドの製造方法。
  27. 前記複数のリストリクタのそれぞれは、互いに離隔された二つの部分に分けられて形成されることを特徴とする請求項26に記載の圧電方式のインクジェットプリントヘッドの製造方法。
  28. 前記下部基板の加工工程で、前記複数のノズルのそれぞれは、
    前記下部基板の上面から所定の深さに形成されるインク導入部と、
    前記下部基板の底面から前記インク導入部と連通して形成されるインク吐出口と、を備えることを特徴とする請求項14に記載の圧電方式のインクジェットプリントヘッドの製造方法。
  29. 前記インク導入部は、前記下部基板の上面を所定の深さに異方性湿式エッチングすることによって、前記下部基板の上面から前記インク吐出口側に行くほど次第にその断面積が縮小する、実質的にピラミッド状に形成されることを特徴とする請求項28に記載の圧電方式のインクジェットプリントヘッドの製造方法。
  30. 前記インク吐出口は、前記下部基板の底面を乾式エッチングして前記インク導入部と連通して形成されることを特徴とする請求項28に記載の圧電方式のインクジェットプリントヘッドの製造方法。
  31. 前記接合工程で、前記二つの基板間の接合は、シリコン直接接合方法により行われることを特徴とする請求項14に記載の圧電方式のインクジェットプリントヘッドの製造方法。
  32. 前記圧電アクチュエータの形成工程は、
    前記上部基板上に下部電極を形成する工程と、
    前記下部電極上に圧電膜を形成する工程と、
    前記圧電膜上に上部電極を形成する工程と、
    前記圧電膜に電界を加えて圧電特性を発生させるポーリング工程と、を含むことを特徴とする請求項14に記載の圧電方式のインクジェットプリントヘッドの製造方法。
  33. 前記下部電極は、前記上部基板上にTi及びPtをそれぞれ所定の厚さにスパッタリングすることにより形成されることを特徴とする請求項32に記載の圧電方式のインクジェットプリントヘッドの製造方法。
  34. 前記圧電膜は、前記下部電極上の前記複数の圧力チャンバのそれぞれに対応する位置にペースト状態の圧電材料を塗布した後、これを焼結させることによって形成されることを特徴とする請求項32に記載の圧電方式のインクジェットプリントヘッドの製造方法。
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