JP2006194626A - Eccentricity measuring device - Google Patents

Eccentricity measuring device Download PDF

Info

Publication number
JP2006194626A
JP2006194626A JP2005004214A JP2005004214A JP2006194626A JP 2006194626 A JP2006194626 A JP 2006194626A JP 2005004214 A JP2005004214 A JP 2005004214A JP 2005004214 A JP2005004214 A JP 2005004214A JP 2006194626 A JP2006194626 A JP 2006194626A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image
eccentricity
camera
hole
rotation
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2005004214A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Junichi Yamana
純一 山名
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toto Ltd
Original Assignee
Toto Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toto Ltd filed Critical Toto Ltd
Priority to JP2005004214A priority Critical patent/JP2006194626A/en
Publication of JP2006194626A publication Critical patent/JP2006194626A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To realize a sure and precise eccentricity measuring device, in the eccentricity measuring device of a hollow cylinder. <P>SOLUTION: A semiconductor laser light projection device 9 is positioned at a location for irradiating an area close to the emission surface of an object 1 to be measured with light. Semiconductor laser beams 10, hitting against the object 1 to be measured, generate a light speckle pattern. The speckle pattern is photographed by a camera 5 and the image is processed by an image processing inspection apparatus 6, thus determining the presence or absence of rotation. The camera 5 and the image processing inspection apparatus 6 can also be utilized for measuring eccentricity. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明は、中空円筒の偏心測定に係り、特に光ファイバ用フェルール等の高精度の偏心測定に好適な偏心測定装置に関する発明である。   The present invention relates to eccentricity measurement of a hollow cylinder, and more particularly to an eccentricity measuring apparatus suitable for highly accurate eccentricity measurement such as an optical fiber ferrule.

例えば、光ファイバ用フェルールでは、中心の孔と外周の偏心が限度を越えるフェルールを用いると光ファイバの光軸ずれのために端面の反射が大きくなり結合損失が増大する。そのため、光ファイバ用フェルールでは、偏心量の測定が不可欠であった。
一般に、光ファイバ用フェルール等の中空円筒の孔偏心を測定する装置は、フェルールを外径基準で回転させる回転装置、フェルールの孔を照明する照明装置、フェルールの孔画像を撮影するカメラ、カメラで撮影した画像から孔の偏心を画像処理により測定する画像処理装置から構成され、非回転状態のフェルールの孔の画像と外径基準で回転させた孔の画像の中心座標の差異によって偏心を測定し、良否判定を行っている。(例えば、特許文献1)
For example, in a ferrule for an optical fiber, when a ferrule whose center hole and eccentricity exceed the limit is used, the reflection of the end face increases due to the optical axis misalignment of the optical fiber and the coupling loss increases. Therefore, measurement of the amount of eccentricity has been indispensable for the ferrule for optical fibers.
In general, a device for measuring hole eccentricity of a hollow cylinder such as an optical fiber ferrule is a rotating device that rotates the ferrule with reference to the outer diameter, an illumination device that illuminates the hole of the ferrule, a camera that shoots a hole image of the ferrule, and a camera. It consists of an image processing device that measures the eccentricity of the hole from the photographed image by image processing. The eccentricity is measured by the difference in the center coordinates of the image of the hole in the non-rotating ferrule and the image of the hole rotated on the basis of the outer diameter. The pass / fail judgment is performed. (For example, Patent Document 1)

この装置において、何らかの原因でフェルールが回転していない場合には、孔の偏心はゼロと測定され誤測定が起こる問題があった。この対策として、偏心が一定値より低い場合、フェルールが回転していないと判断し、不良品と判定するようにしているが、偏心が、非常に良好なフェルールを不良品と判定する問題が残っている。   In this apparatus, when the ferrule does not rotate for some reason, the eccentricity of the hole is measured as zero, and there is a problem that erroneous measurement occurs. As a countermeasure, if the eccentricity is lower than a certain value, it is determined that the ferrule is not rotating and it is determined as a defective product. However, there remains a problem that a ferrule with very good eccentricity is determined as a defective product. ing.

特開2004−61274号公報JP 2004-61274 A

上記問題に対応するためには、フェルールの回転を確実に検出する手段が必要となるが、フェルール自体が小径で、しかも、装置には回転装置等が設置されているため回転検出手段を設置するスペースがほとんどない。本発明は、この問題を解決するためになされたもので、単純な構成で、フェルールの回転を検出できるフェルール等の小型円筒形状の偏心測定装置の回転検出を提供することに関する。   In order to cope with the above problem, a means for reliably detecting the rotation of the ferrule is required. However, since the ferrule itself has a small diameter and the apparatus is equipped with a rotating device or the like, a rotation detecting means is installed. There is almost no space. The present invention has been made to solve this problem, and relates to providing rotation detection of a small cylindrical eccentric measuring device such as a ferrule that can detect the rotation of the ferrule with a simple configuration.

上記課題を達成するために請求項1記載の発明によれば、中空円筒の孔と外周の偏心を中空円筒を回転させながら孔画像をカメラで撮影し、該孔画像の位置の変化から偏心量を測定する装置において、前記中空円筒にレーザー光を照射しレーザー光による光スペックルの変化を検出するによって回転の有無を検出する手段を設けたことを特徴とする。中空円筒にレーザー光を照射すると、スペックルパターン(干渉縞)が発生する。
スペックルパターンは、物体の表面にレーザー光を照射することにより発生する物体表面の凹凸に対応した乱反射で、物体の移動によりそのスペックルパターンが、平行移動する性質があり、この性質を利用して、移動検出などに利用されている。
円筒が回転している場合には、スペックルパターンは、回転に応じて変化する。これに対して回転していない場合にはスペックルパターンは、変化しない。このスペックルパターンの変化によって回転の有無を検出できる。具体的には、後述するCCDカメラなどのカメラ画像変化や光電子増倍管(Photomultiplier Tube)などの光センサで検知し、センサの信号変化を検出すれば、回転の有無が検出できる。即ち、スペックルを観察、検出でききる手段であれば適用できるものである。 また、照射するレーザー光としては、波長400nm〜700nmの半導体レーザーで安全性を考慮して、クラス2以下のものが好適に利用できる。クラス分けは、JIS C6801「レーザ安全用語」に準拠する。以上のように、基本的には、レーザー光を照射する手段とスペックルを検出できる手段を付加するのみで済むので、既存の装置に簡便に追加できる。
In order to achieve the above object, according to the first aspect of the present invention, a hole image is photographed with a camera while rotating the hollow cylinder with respect to the eccentricity of the hole and the outer periphery of the hollow cylinder, and the amount of eccentricity is determined from the change in the position of the hole image. In the apparatus for measuring the above, a means for detecting the presence or absence of rotation by irradiating the hollow cylinder with a laser beam and detecting a change in optical speckle by the laser beam is provided. When the hollow cylinder is irradiated with laser light, a speckle pattern (interference fringe) is generated.
The speckle pattern is irregular reflection corresponding to the unevenness of the object surface caused by irradiating the surface of the object with laser light, and the speckle pattern has the property of moving in parallel with the movement of the object. It is used for movement detection.
When the cylinder is rotating, the speckle pattern changes according to the rotation. On the other hand, when it is not rotated, the speckle pattern does not change. The presence or absence of rotation can be detected by the change in the speckle pattern. Specifically, the presence or absence of rotation can be detected by detecting with a photo sensor such as a camera image change such as a CCD camera described later or a photomultiplier tube and detecting a signal change of the sensor. That is, any means that can observe and detect speckles can be applied. In addition, as a laser beam to be irradiated, a semiconductor laser having a wavelength of 400 nm to 700 nm and a class 2 or lower can be suitably used in consideration of safety. The classification is based on JIS C6801 “Laser Safety Terms”. As described above, basically, it is only necessary to add a means for irradiating laser light and a means for detecting speckle, so that it can be easily added to an existing apparatus.

また、請求項2記載の発明によれば、中空円筒にレーザー光を照射しレーザー光による光スペックル画像をカメラで撮影し、このスペックル画像により回転の有無を検出することを特徴とする。カメラ撮影されたスペックル画像は、回転に応じて変化するため、その画像変化から回転の有無が検出できる。具体的には、画像をモニター表示させ、オペレータによって判別する方法が簡便な方法として適用できる。   According to a second aspect of the present invention, the hollow cylinder is irradiated with laser light, an optical speckle image by the laser light is taken with a camera, and the presence or absence of rotation is detected from the speckle image. Since the speckle image captured by the camera changes according to the rotation, the presence or absence of the rotation can be detected from the image change. Specifically, a method of displaying an image on a monitor and discriminating by an operator can be applied as a simple method.

また、請求項3記載の発明によれば、レーザー光による光スペックル画像を撮影するカメラと、偏心測定のための孔画像を撮影するカメラが同一であることを特徴とする。回転検出のためのカメラと偏心測定のためのカメラを共用できるため、より単純な構成で回転の有無を検出できるする。   According to a third aspect of the present invention, the camera that captures the optical speckle image by the laser beam and the camera that captures the hole image for the eccentricity measurement are the same. Since the camera for detecting rotation and the camera for measuring eccentricity can be shared, the presence or absence of rotation can be detected with a simpler configuration.

また、請求項4記載の発明によれば、レーザー光による光スペックル画像を画像処理することにより回転の有無を検出することを特徴とする。画像処理により、光スペックル画像の状態が変化した場合に柔軟な対応が可能になる。たとえば、レーザー光の強度変動により光スペックル画像の濃度等が変化した場合にも、画像の濃度を一定となるよう自動補正し、対応することにより、安定した回転検出ができる。また、画像領域全体から回転検出に適する領域を設定し、この領域のみを利用して回転検出に利用することもできる。   According to a fourth aspect of the present invention, the presence / absence of rotation is detected by performing image processing on an optical speckle image by laser light. Image processing enables flexible response when the state of the optical speckle image changes. For example, even when the density or the like of the optical speckle image changes due to fluctuations in the intensity of the laser beam, stable rotation detection can be performed by automatically correcting and dealing with the image density to be constant. It is also possible to set an area suitable for rotation detection from the entire image area and use only this area for rotation detection.

本発明によれば、フェルール等の小型円筒形状の偏心測定装置において、単純な構成で確実に回転の有無を検出できるため、高精度な偏心測定が可能となるという効果がある。   According to the present invention, since the presence or absence of rotation can be reliably detected with a simple configuration in a small cylindrical eccentricity measuring apparatus such as a ferrule, there is an effect that highly accurate eccentricity measurement is possible.

本発明の実施の形態につき、以下に実施例を用いて説明する。     Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to examples.

図1は、本発明の回転検出部を備えていない偏心測定装置の概要を示す図である。 光ファイバ用フェルールなどの中空円筒形状の被測定物1は、被測定物が回転しても位置が変化しない例えばV形状の溝を持つ基台2に、パレットに載置された被測定物から人又はロボットにより設置される。被測定物1は、たとえばモーターで駆動されるローラー等の回転機構3に被測定物1を接触させることにより、基台2上で回転する。またハロゲン光源等を備えた照明装置4は照明の光が被測定物1の孔に入射する位置に設置される。レンズを付けたCCDカメラなどのカメラ5は、照明の光が出射する被測定物1の孔付近を撮影できる位置に設置され、回転中の孔部7を撮影する。カメラ5は、画像処理検査装置6と接続され、複数枚撮影された回転中の孔部7の画像の変化から外径に対する偏心を数値化し、ある閾値で合否判定を行ない、判定結果を出力する。     FIG. 1 is a diagram illustrating an outline of an eccentricity measuring apparatus that does not include the rotation detection unit of the present invention. A hollow cylindrical object 1 such as an optical fiber ferrule is placed on a pallet on a base 2 having, for example, a V-shaped groove whose position does not change even when the object is rotated. Installed by a person or robot. The DUT 1 rotates on the base 2 by bringing the DUT 1 into contact with a rotating mechanism 3 such as a roller driven by a motor, for example. The illuminating device 4 provided with a halogen light source or the like is installed at a position where illumination light enters the hole of the DUT 1. A camera 5 such as a CCD camera with a lens is installed at a position where the vicinity of the hole of the DUT 1 from which illumination light is emitted can be photographed, and photographs the rotating hole 7. The camera 5 is connected to the image processing inspection apparatus 6, digitizes the eccentricity with respect to the outer diameter from the change in the image of the rotating hole 7 that has been photographed, performs pass / fail determination at a certain threshold value, and outputs the determination result. .

合否判定が出た被測定物は、人又はロボットをより其台から外され、判定結果ごとにパレット等に移される。   The object to be measured that has passed the pass / fail judgment is further removed from the stand by the person or robot, and transferred to a pallet or the like for each judgment result.

図2は、図1の構成の偏心測定装置において、カメラ5で撮影された孔部の画像の例である。この画像は、後述する明るい部分と暗い部分の境界の変位を効果的に捉えるために、一部を拡大して示した画像となっている。孔部7は、カメラと孔部を介して対向位置にある照明装置からの照明の光が出射するため、明るく、孔の外側部分8は暗く撮影される。
この画像から、明るい部分と暗い部分の境界をたとえば、画像入力ボードを備え、画像入力ボードから入力された画像を処理する画像処理ソフトを内臓したパソコン等の画像処理検査装置6で求め、回転中の境界の位置変動から、偏心を数値化する。
なお、フェルールの外径が精度良く成形されていることにより、回転中の孔部の画像変化のみを利用したが、非回転状態の孔部の画像と回転中の孔部の画像変化により偏心を数値化して、合否判定を行なうようにしてもよい。
FIG. 2 is an example of an image of a hole imaged by the camera 5 in the eccentricity measuring apparatus having the configuration of FIG. This image is a partially enlarged image in order to effectively capture the displacement of the boundary between a bright part and a dark part, which will be described later. The hole portion 7 is bright and the outer portion 8 of the hole is photographed dark because the illumination light from the illuminating device located at the opposite position through the camera and the hole portion is emitted.
From this image, a boundary between a bright part and a dark part is obtained by, for example, an image processing inspection apparatus 6 such as a personal computer equipped with an image input board that includes an image input board and processes an image input from the image input board. Eccentricity is quantified based on the position change of the boundary.
Although the outer diameter of the ferrule is accurately molded, only the image change of the rotating hole is used, but the eccentricity is caused by the image of the non-rotating hole and the image of the rotating hole. It may be digitized to make a pass / fail judgment.

図3は、本発明の回転検出部を備えた偏心測定装置の概要を示す図である。図1の装置に、たとえば、半導体レーザー投光装置9(キーエンス社製レーザセンサLV-H32、波長650nm、Class2 のレーザー投光部のみ利用)を被測定物1の出射面付近を照射する位置に設置する。被測定物1に当たった半導体レーザー光10は、光スペックルパターンを発生させる。このスペックルパターンをカメラ5で撮影し、画像処理検査装置6でこの画像を処理すれば、回転の有無を判定できる。
具体的には、レーザ光をフェルールに照射すると照射されたレーザー光はの一部は、フェルールを通過し、孔部で反射され、複数の経路を通りカメラに入光する。レーザ光は淡色光なので、経路差(位相差)により干渉が起こり干渉縞が発生する。孔部はの部分はハロゲン光源で照明されるため、干渉縞は、実際には発生しているものの画像としては、見えない。しかしながら、孔部以外は、照明の影響がなく位ので、干渉縞が見える。
カメラ5および画像処理検査装置6は偏心の測定にも利用できることは言うまでもない。
レーザー光の照射位置は、照明装置からの光の明暗の画像を撮影するカメラにスペックルが確実に観察できるようにするために、図3のように中空円筒の先端部に孔部をよぎる角度にて照射することが望ましい。
FIG. 3 is a diagram showing an outline of an eccentricity measuring apparatus provided with the rotation detection unit of the present invention. In the apparatus shown in FIG. 1, for example, a semiconductor laser projector 9 (Keyence laser sensor LV-H32, wavelength 650 nm, using only a Class 2 laser projector) is applied to the position near the emission surface of the object 1 to be measured. Install. The semiconductor laser beam 10 that has hit the device under test 1 generates an optical speckle pattern. If this speckle pattern is photographed by the camera 5 and this image is processed by the image processing inspection device 6, the presence or absence of rotation can be determined.
Specifically, when the ferrule is irradiated with laser light, part of the irradiated laser light passes through the ferrule, is reflected by the hole, and enters the camera through a plurality of paths. Since the laser light is light color light, interference occurs due to a path difference (phase difference), and interference fringes are generated. Since the hole portion is illuminated with a halogen light source, the interference fringes are actually generated but are not visible as an image. However, except for the holes, the interference fringes are visible because there is no influence of illumination.
Needless to say, the camera 5 and the image processing inspection apparatus 6 can also be used for measuring eccentricity.
The irradiation position of the laser beam is an angle that crosses the hole at the tip of the hollow cylinder as shown in FIG. 3 so that the speckle can be reliably observed on a camera that captures a bright and dark image of the light from the illumination device. It is desirable to irradiate with.

図4は被測定物1が回転していない時に、半導体レーザー光10を照射したスペックルパターンをカメラ5により撮影した例である。暗い孔の外側部分8にスペックルパターン特有の細かい濃淡部11が見られる。これに対して図5は被測定物1が回転している時に、半導体レーザー光10を照射したスペックルパターンをカメラ5により撮影した例である。回転していない時には明確であった細かい濃淡部11は不明確となる。この画像の差を画像処理により検出することは容易であり、例えば、一定以下の面積の明るい部分または暗い部分の個数をカウントする処理等で検出できる。     FIG. 4 shows an example in which the camera 5 captures a speckle pattern irradiated with the semiconductor laser beam 10 when the DUT 1 is not rotating. A fine shading portion 11 peculiar to the speckle pattern is seen in the outer portion 8 of the dark hole. On the other hand, FIG. 5 shows an example in which the speckle pattern irradiated with the semiconductor laser beam 10 is photographed by the camera 5 when the DUT 1 is rotating. The fine shading 11 that was clear when not rotating is unclear. It is easy to detect this image difference by image processing, and for example, it can be detected by a process of counting the number of bright or dark portions having an area of a certain area or less.

図6は本発明の回転検出部を備えていない偏心測定装置の測定フローを示す図である。被測定物をセットし、回転機構をセット駆動させ、偏心を測定し、その結果により合否判断していた。この場合には、偏心が非常に小さい場合は、不良と判定してしまうことから、良品を排除してしまった。また、図7に本発明の回転検出部を備えた偏心測定装置の測定フローを示す。回転機構をセット駆動させる工程と偏心を測定する工程の間に、回転検出工程を介在させたもので、レーザー光のON・OFFおよび、回転していないケースの処理が追加されている。レーザー光のON・OFFはレーザーの電源をON・OFFでも実現できるが、ON・OFFが頻繁な場合には機械式シャッター等を用いる。また、回転していないケースでは、被測定物とV溝との間に異物が介在された場合や、回転機構との接触状態が不十分であった場合などが想定されることから、回転機構を初期状態に戻して、再び、被測定物に接触させることによって、異物が排除されるなど、回転機構を再セットすれば回転する事が多いため、回数を決めて、回転機構の再セットを行う処理を追加している。更には、回転機構を逆回転させることや、被測定物を其台から外してクリーニング機構を付与させて、被測定物を再セットするようにしても良い。     FIG. 6 is a diagram showing a measurement flow of the eccentricity measuring apparatus not provided with the rotation detection unit of the present invention. An object to be measured was set, the rotation mechanism was set and driven, the eccentricity was measured, and a pass / fail judgment was made based on the result. In this case, if the eccentricity is very small, it is determined as defective, and the non-defective product is excluded. FIG. 7 shows a measurement flow of the eccentricity measuring apparatus provided with the rotation detection unit of the present invention. A rotation detection step is interposed between the step of driving and driving the rotation mechanism and the step of measuring the eccentricity, and laser light ON / OFF and non-rotation case processing are added. Laser light can be turned on and off by turning the laser power on and off, but if it is frequently turned on and off, a mechanical shutter or the like is used. In the case of non-rotating, it is assumed that there is a foreign object between the object to be measured and the V-groove, or the contact state with the rotating mechanism is insufficient. If the rotating mechanism is reset, for example, foreign matter is removed by returning it to the initial state and contacting it again, the rotating mechanism often rotates. The processing to be performed is added. Furthermore, the rotation mechanism may be rotated in the reverse direction, or the object to be measured may be removed from the base and a cleaning mechanism may be applied to reset the object to be measured.

本発明の回転検出部を備えていない偏心測定装置の概要を示す図である。It is a figure which shows the outline | summary of the eccentricity measuring apparatus which is not equipped with the rotation detection part of this invention. カメラ5で撮影された孔部の画像の例を示す図である。It is a figure which shows the example of the image of the hole image | photographed with the camera. 本発明の回転検出部を備えた偏心測定装置の概要を示す図である。It is a figure which shows the outline | summary of the eccentricity measuring apparatus provided with the rotation detection part of this invention. 回転していない時に、カメラ5により撮影した例を示す図である。It is a figure which shows the example image | photographed with the camera 5 when not rotating. 回転している時に、カメラ5により撮影した例を示す図である。It is a figure which shows the example image | photographed with the camera 5 when rotating. 回転検出部を備えていない偏心測定装置の測定フローを示す図である。It is a figure which shows the measurement flow of the eccentricity measuring apparatus which is not provided with the rotation detection part. 回転検出部を備えた偏心測定装置の測定フローを示す図である。It is a figure which shows the measurement flow of the eccentricity measuring apparatus provided with the rotation detection part.

符号の説明Explanation of symbols

1…被測定物
2…基台
3…回転機構
4…照明装置
5…カメラ
6…画像処理検査装置
7…孔部
8…孔部の外側部分
9…半導体レーザー投光装置
10…半導体レーザー光
11…濃淡部

DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Object to be measured 2 ... Base 3 ... Rotating mechanism 4 ... Illuminating device 5 ... Camera 6 ... Image processing inspection apparatus 7 ... Hole 8 ... Outside part of hole 9 ... Semiconductor laser projector 10 ... Semiconductor laser beam 11 ... Tint

Claims (4)

中空円筒の孔と外周の偏心を中空円筒を回転させながら孔画像をカメラで撮影し、該孔画像の位置の変化から偏心量を測定する装置において、前記中空円筒にレーザー光を照射しレーザー光による光スペックルの変化によって回転の有無を検出する手段を設けたことを特徴とする偏心測定装置。 In a device that takes a hole image with a camera while rotating the hollow cylinder and the eccentricity of the hole and the outer periphery of the hollow cylinder, and measures the amount of eccentricity from the change of the position of the hole image, the hollow cylinder is irradiated with laser light and laser light An eccentricity measuring apparatus comprising means for detecting the presence or absence of rotation based on a change in optical speckle due to. 前記中空円筒にレーザー光を照射しレーザー光による光スペックル画像をカメラで撮影し、このスペックル画像により回転の有無を検出することを特徴とする請求項1記載の偏心測定装置。 2. The eccentricity measuring apparatus according to claim 1, wherein the hollow cylinder is irradiated with laser light, an optical speckle image by the laser light is photographed by a camera, and the presence or absence of rotation is detected from the speckle image. 前記レーザー光による光スペックル画像を撮影するカメラと、偏心測定のための孔画像を撮影するカメラが同一であることを特徴とした請求項2記載の偏心測定装置。 3. The eccentricity measuring apparatus according to claim 2, wherein the camera that captures the optical speckle image by the laser beam is the same as the camera that captures the hole image for the eccentricity measurement. 前記レーザー光による光スペックル画像を画像処理することにより回転の有無を検出することを特徴とする請求項2又は3記載の偏心測定装置。

4. The eccentricity measuring apparatus according to claim 2, wherein the presence or absence of rotation is detected by performing image processing on an optical speckle image by the laser beam.

JP2005004214A 2005-01-11 2005-01-11 Eccentricity measuring device Pending JP2006194626A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005004214A JP2006194626A (en) 2005-01-11 2005-01-11 Eccentricity measuring device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005004214A JP2006194626A (en) 2005-01-11 2005-01-11 Eccentricity measuring device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2006194626A true JP2006194626A (en) 2006-07-27

Family

ID=36800839

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005004214A Pending JP2006194626A (en) 2005-01-11 2005-01-11 Eccentricity measuring device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2006194626A (en)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007277075A (en) * 2006-03-15 2007-10-25 Sumitomo Metal Mining Co Ltd Oxide sintered compact, method for producing the same, method for producing transparent electroconductive film using the same, and resultant transparent electroconductive film
JP2014122844A (en) * 2012-12-21 2014-07-03 Seiko Instruments Inc Ferrule imaging apparatus, ferrule classification apparatus, ferrule imaging method, ferrule imaging program and storage medium
CN108120375A (en) * 2017-12-22 2018-06-05 株洲硬质合金集团有限公司 A kind of cylinder bar Linearity surveying method and its application system
CN108344362A (en) * 2017-05-27 2018-07-31 中国科学院上海技术物理研究所 A kind of optical measuring device and method of high-precision shafting running accuracy
JP6440881B1 (en) * 2018-03-27 2018-12-19 株式会社精工技研 Equipment for evaluating the performance of hollow cylinders
CN114167592A (en) * 2018-01-15 2022-03-11 奥比中光科技集团股份有限公司 Multifunctional lighting module

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007277075A (en) * 2006-03-15 2007-10-25 Sumitomo Metal Mining Co Ltd Oxide sintered compact, method for producing the same, method for producing transparent electroconductive film using the same, and resultant transparent electroconductive film
JP4552950B2 (en) * 2006-03-15 2010-09-29 住友金属鉱山株式会社 Oxide sintered body for target, manufacturing method thereof, manufacturing method of transparent conductive film using the same, and transparent conductive film obtained
JP2014122844A (en) * 2012-12-21 2014-07-03 Seiko Instruments Inc Ferrule imaging apparatus, ferrule classification apparatus, ferrule imaging method, ferrule imaging program and storage medium
CN108344362A (en) * 2017-05-27 2018-07-31 中国科学院上海技术物理研究所 A kind of optical measuring device and method of high-precision shafting running accuracy
CN108120375A (en) * 2017-12-22 2018-06-05 株洲硬质合金集团有限公司 A kind of cylinder bar Linearity surveying method and its application system
CN114167592A (en) * 2018-01-15 2022-03-11 奥比中光科技集团股份有限公司 Multifunctional lighting module
CN114167592B (en) * 2018-01-15 2023-10-27 奥比中光科技集团股份有限公司 Multifunctional lighting module
JP6440881B1 (en) * 2018-03-27 2018-12-19 株式会社精工技研 Equipment for evaluating the performance of hollow cylinders

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2006194626A (en) Eccentricity measuring device
JP5837283B2 (en) Tire appearance inspection method and appearance inspection apparatus
JP6038434B2 (en) Defect inspection equipment
JP5728395B2 (en) Cylinder inner peripheral surface inspection optical system and cylinder inner peripheral surface inspection device
KR20120031835A (en) Apparatus for inspecting defects
JP2008157788A (en) Surface inspection method and device
JP2020106295A (en) Sheet defect inspection device
JP2003282675A (en) Wafer mapping device
JP2009103494A (en) Surface inspection apparatus
JP2007178242A (en) Flaw inspection device of bottle body part
TWI661177B (en) Optical inspection apparatus
JP2008164399A (en) Device for inspecting abnormality
JP4974267B2 (en) Wafer circumference inspection method
JP2006242828A (en) Surface defect detection device
JP2004163129A (en) Defect inspection method
JP5255763B2 (en) Optical inspection method and apparatus
JP2001041719A (en) Inspection device and method of transparent material and storage medium
JP4324303B2 (en) Inspection apparatus and inspection method for transparent material or object wrapped with transparent material
JP2011106815A (en) Surface inspection method and surface inspection system
JP5322390B2 (en) Round bar inspection device and round bar inspection method
JP5367292B2 (en) Surface inspection apparatus and surface inspection method
JP2008140795A5 (en)
JP2009222629A (en) Device for inspecting edge of object to be inspected
TWI644096B (en) Lightsouce device with slit strucure for defect inspeciton and system for defect inspection using the same
JP2002214155A (en) Flaw inspecting device for test object