JP2006184038A - 光パルス試験器 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 光強度検出モード又は光子計数モードを指定するモード指定信号を設け、このモード指定信号が光強度検出モードを指定している場合には、APD3のブレークダウン電圧より小さい所定の第1のDC電圧がAPD3に供給されるようにするとともに光強度検出処理手段6によって被測定光ファイバの特性が求められるようにし、かつ、そのモード指定信号が光子計数モードを指定している場合には、APD3のブレークダウン電圧より大きい所定の第2のDC電圧がAPD3に供給されるようにするとともに光子計数処理手段7によって被測定光ファイバの特性が求められるようにして、光強度検出法と光子計数法とを切り換えてOTDR法に基づく測定が行えるようにした。
【選択図】 図1
Description
(1)光強度検出モードを指定するモード指定信号が入力された場合:
APD3にブレークダウン電圧より小さい所定の第1のDC電圧が供給されるようにAPDバイアス電源4を制御し、光強度検出処理手段6に第1のタイミング信号cを出力する。これによって光強度検出法の測定が行われる。
(2)光子計数モードを指定するモード指定信号が入力された場合:
APD3にブレークダウン電圧より大きい所定の第2のDC電圧が供給されるようにAPDバイアス電源4を制御し、光子計数処理手段7に第2のタイミング信号dを出力する。これによって光子計数法の測定が行われる。
2つの特定距離位置を特定距離/時間変換手段9dで2つの特定時間に変換し、この2つの特定時間に挟まれた時間は、APD3にブレークダウン電圧より大きい所定の第2のDC電圧が供給されるようにAPDバイアス電源4を制御し、光子計数処理手段7に第2のタイミング信号dを出力する。これによって、この時間(距離)は光子計数法の測定が行われる。また、2つの特定時間に挟まれた時間以外の時間は、APD3にブレークダウン電圧より小さい所定の第1のDC電圧が供給されるようにAPDバイアス電源4を制御し、光強度検出処理手段6に第1のタイミング信号cを出力する。これによって、この時間(距離)は光強度検出法の測定が行われる。
Claims (5)
- 所定のパルス幅及び所定の繰り返し周期を有するパルス信号を受け、該所定のパルス幅の光パルスを前記所定の繰り返し周期で発生して被測定光ファイバに出力する光パルス発生手段(1)と、
前記光パルスが前記被測定光ファイバに入力される毎に当該被測定光ファイバの各位置から戻ってくる戻り光を受けて光電変換するAPD(3)と、
該APDのブレークダウン電圧より小さい所定の第1のDC電圧と該APDのブレークダウン電圧より大きい所定の第2のDC電圧とを選択的に切り換えて該APDに供給するAPDバイアス電源(4)と、
前記APDから出力される電気信号の振幅をディジタル値に変換し、該ディジタル値のデータ処理を行うことによって、前記被測定光ファイバの各位置に対応した前記戻り光の光強度から前記被測定光ファイバの特性を求める光強度検出処理手段(6)と、
前記APDから出力される電気信号の振幅を波高弁別して計数し、その計数値のデータ処理を行うことによって、前記被測定光ファイバの各位置に対応した前記戻り光の光強度に比例した光子数の発生確率から前記被測定光ファイバの特性を求める光子計数処理手段(7)と、
光強度検出モード及び光子計数モードのいずれか一方を指定するモード指定信号を受け、該モード指定信号が光強度検出モードを指定している場合には、前記APDバイアス電源によって前記第1のDC電圧が前記APDに供給されるようにするとともに前記光強度検出処理手段によって前記被測定光ファイバの特性が求められるようにし、かつ、前記モード指定信号が光子計数モードを指定している場合には、前記APDバイアス電源よって前記第2のDC電圧が前記APDに供給されるようにするとともに前記光子計数処理手段によって前記被測定光ファイバの特性が求められるようにする制御手段(9)とを備えたことを特徴とする光パルス試験器。 - 前記制御手段は、前記被測定光ファイバの所望の2つの特定距離位置で表される特定距離データを受け、該特定距離データを前記2つの特定距離位置に対応する前記光パルスの前記所定の繰り返し周期に関連づけた2つの特定時間に変換し、変換した該2つの特定時間に挟まれた時間は、前記APDバイアス電源よって前記第2のDC電圧が前記APDに供給されるようにするとともに前記光子計数処理手段によって前記被測定光ファイバの特性が求められるようにし、かつ、前記2つの特定時間に挟まれた時間以外の時間は、前記APDバイアス電源によって前記第1のDC電圧が前記APDに供給されるようにするとともに前記光強度検出処理手段によって前記被測定光ファイバの特性が求められるようにすることを特徴とする請求項1に記載の光パルス試験器。
- 前記制御手段は、
前記パルス信号を発生して前記光パルス発生手段に出力するパルス信号発生手段(9a)と、
前記パルス信号及び前記モード指定信号を受け、該モード指定信号が光強度検出モードを指定している場合には、前記第1のDC電圧が前記APDに供給され、かつ、前記モード指定信号が光子計数モードを指定している場合には、前記第2のDC電圧が前記APDに供給されるように、前記APDバイアス電源を前記パルス信号に基づいて制御するAPDバイアス切換手段(9b)と、
前記パルス信号及び前記モード指定信号を受け、該モード指定信号が光強度検出モードを指定している場合には、前記光強度検出処理手段が前記被測定光ファイバの特性を求めるために必要な第1のタイミング信号を前記パルス信号に基づいて発生して該光強度検出処理手段に出力し、かつ、該モード指定信号が光子計数モードを指定している場合には、前記光子計数処理手段が前記被測定光ファイバの特性を求めるために必要な第2のタイミング信号を前記パルス信号に基づいて発生して該光子計数処理手段に出力するタイミング信号発生手段(9c)とを含むことを特徴とする請求項1に記載の光パルス試験器。 - 前記制御手段は、更に、
前記パルス信号及び前記被測定光ファイバの所望の2つの特定距離位置で表される特定距離データを受け、該特定距離データを、前記パルス信号に基づいて、前記2つの特定距離位置に対応する前記光パルスの前記所定の繰り返し周期に関連づけた2つの特定時間に変換する特定距離/時間変換手段(9d)を含み、
前記APDバイアス切換手段は、前記特定距離/時間変換手段から前記2つの特定時間の情報を受けた場合、該2つの特定時間に挟まれた時間は、前記第2のDC電圧が前記APDに供給され、かつ、前記2つの特定時間に挟まれた時間以外の時間は、前記第1のDC電圧が前記APDに供給されるように前記APDバイアス電源を制御し、
前記タイミング信号発生手段は、前記特定距離/時間変換手段から前記2つの特定時間の情報を受けた場合、該2つの特定時間に挟まれた時間は、前記第2のタイミング信号を発生して前記光子計数処理手段に出力し、かつ、前記2つの特定時間に挟まれた時間以外の時間は、前記第1のタイミング信号を発生して前記光強度検出処理手段に出力することを特徴とする請求項3に記載の光パルス試験器。 - 前記制御手段は、更に、
前記光パルス発生手段から出力される光パルスのピークレベルを可変する光パルスピークレベル設定手段(9e)を含むことを特徴とする請求項3又は4に記載の光パルス試験器。
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