JP2006171078A - 3次元テーパ構造を有するデバイスの製造方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】制御性、再現性が良好で、生産効率に優れ、層全体の材質が均一で所望の特性が得られる、3次元テーパ構造を有するデバイスの製造方法を提供する。
【解決手段】基板1上にコア2を形成後、反応性イオンエッチングによりコア2の一部のエッチングを行い、エッチング面2aを形成すると共に、エッチングされていないコア2の表面に溝3を形成する。溝3は、同じ大きさで同じ形状の溝をエッチング面2a方向に向かって徐々に間隔を狭める配置となるように平行に形成する。更に、700〜1400℃の温度でアニールを行ない、コア2自体のリフローによりコア2の形状を変化させてテーパ面5を有するテーパ構造を実現する。最後に、フォトリソグラフィにより回路パターンを形成し、反応性イオンエッチングでコア2をエッチングすることにより、三次元テーパ面7を有する素子を得る。
【選択図】 図1

Description

本発明は、コアの膜厚が基板面の位置により連続的に変化する、いわゆる3次元テーパ構造を有するデバイスの製造方法に関するものである。
図5に、従来の3次元テーパ構造を有する光導波路デバイスの製造方法を示す。
この方法は、基板51上にコア膜52をスパッタリング等により形成する際に、基板51から少し離した位置にシャドーマスク55を配置し、基板51上にコア材料56が届きにくい場所を作る、即ち、基板面の位置により堆積速度を変えるという方法である。
しかし、この方法では、製造中に基板51に対するシャドーマスク55の位置がずれることがあり、膜厚の制御が困難で、細かいパターンの製造が難しく、大量生産には不向きであった。しかも、実現できないパターンがあるという課題があった。
一方、2次元テーパを高さ方向に重ねることにより3次元テーパと同様の効果を得るものがある(例えば、特許文献1参照)。
この例では、図6に示すように、基板61上に、順に、2次元テーパの下層コア膜67、上層コア膜68が形成された構造となっている。この場合、膜厚の変化は階段状であるが、各層を形成する際の精度はフォトリソグラフィの際のあわせの精度により決まるため、コア形状を制御しやすく、複雑な回路構成も可能である。しかし、コアの形状が階段状であり、なめらかな変化ではないため、損失が大きくなるなど所望の特性が得られにくい場合が多かった。
そこで、熱処理によるリフローによってコアを滑らかなテーパ状に形成して、3次元テーパを形成することが検討されている。
例えば、コアの一部を除去して段差を形成した後、段差上に薄膜を堆積して段差を滑らかな斜面に成形して光導波路を形成する方法がある(例えば、特許文献2、特許文献3参照)。
特開平6−174982号公報 特開2000−137129号公報 特開2002−303752号公報
しかしながら、特許文献2記載の方法では、コア形成の途中に金属膜を形成する必要がある。この場合、コア形成を3回、金属膜形成を3回と非常に多くの工程が必要となり、生産性が悪い。また、金属膜の合わせ精度はかなり良くなければならない。
また、この方法では、コアの一部にリフローさせる材料を後から形成しているため、コア膜とリフロー膜との間で材質の均一性に劣るものとなる。
他方、特許文献3記載の方法では、コア形成は1回であるが、コアをテーパ状に形成するための付加層(平坦化層)の形成が必要である。平坦化層が石英系の場合、実質2回の膜形成が必要となる。また、エッチングの回数は、コアの前処理エッチング、平坦化層とコアとの同時エッチング、横方向のコア形成のエッチングと3回必要となってしまう。
更に、前述のようにシャドーマスクを使用する場合には、マスクのあわせ精度など制御性が悪く、再現性が得られにくいという問題があり、また、階段状の3次元テーパの場合には、高さ方向の変化が急であるため、所望の特性が得られにくいという問題があった。
従って、本発明の目的は、前記事情に鑑みてなされたものであり、制御性、再現性が良好で、生産効率に優れ、層全体の材質が均一で所望の特性が得られる、3次元テーパ構造を有するデバイスの製造方法を提供することにある。
上記目的を達成するための本発明の3次元テーパ構造を有するデバイスの製造方法は、基板上にコアを所定の厚さに形成する第1工程と、前記コアの一方の側に所定の深さまでエッチングを行ってエッチング面を形成すると共に、前記エッチング面以外のコアの表面に、前記エッチング面に近づくに従ってその比率が高くなるように空隙部分を設ける第2工程と、700〜1400℃の温度でアニールを行い、コア自体のリフローによりコアの形状を変化させる第3工程と、フォトリソグラフィにより回路パターンを形成してコアをエッチングする第4工程と、を備えることを特徴とする。
前記第2工程は、前記エッチング面以外のコアの表面に、溝をエッチング面方向に向かって徐々に間隔を狭める配置となるように平行に複数設けることができる。
前記第2工程は、前記エッチング面以外のコアの表面に、円柱体をエッチング面方向に向かって徐々にその径が小さくなるように複数設けることを特徴とする請求項1記載の3次元テーパ構造を有するデバイスの製造方法。
前記第2工程は、前記エッチング面以外のコアの表面に、エッチング面側に突起部を有するくさび体を複数設けることができる。
前記第2工程は、前記エッチング面以外のコアの表面に、円柱孔をエッチング面方向に向かって徐々にその径及び深さが大きくなるように複数設けることができる。
本発明によれば、層全体の材質が均一で所望の特性を有する3次元テーパ構造を制御性、再現性良く提供することができる。また、3次元テーパの形状を任意かつ簡易に変化できると共に、生産効率に優れたものとなる。
以下、図面を参照して、本発明に係る3次元テーパ構造を有するデバイスの製造方法の実施形態について説明する。
[第1の実施形態]
図1に、第1の実施形態の製造方法を示す。
まず、基板1上にコア2を所定の厚さ(T)となるように形成する(図1(a))。この形成膜厚Tは、3次元テーパ完成時に一番厚い部分の膜厚となる。
次に、フォトリソグラフィで高さ方向のテーパ形状を形成するためのパターンを形成するため、反応性イオンエッチングによりコアの一部のエッチングを行い、エッチング面2aを形成する(図1(b))。この際、エッチング面2aは、エッチングした部分のコア2の膜厚が3次元テーパ完成時に一番薄くなる部分の膜厚となるようにコントロールする。更に、エッチングされていないコア2の表面に、溝3を形成する。溝3は、同じ大きさで同じ形状の溝をエッチング面2a方向に向かって徐々に間隔を狭める配置となるように平行に形成する(図1(b))。
次に、700〜1400℃の温度でアニールを行う。このアニール処理により、コア2自体のリフローによりコア2の形状を変化させ、テーパ面5を有するテーパ構造を実現する(図1(c))。この際、コア2のテーパ面5の最上面の高さTは、最初にコア2を堆積させた際の高さT(図1(a))の80〜100%程度となる。
アニール温度は、コア2中のドーパントの種類やドーパント量により最適値が変化する。ドーパントの種類としては、まず、比屈折率差Δを上げかつ融点を下げるGeが挙げられる。また、ボロンやリンを加えると比屈折率差Δは変化させないで融点だけを下げることができる。このため、Geに加え、ボロンやリンを添加することで融点を下げ、リフローしやすくすることができる。
本実施形態では、コア2自体をリフローさせるため、Geのドーパント量を20〜40%と増やし、700〜1400℃の範囲の温度、例えば1340℃の温度で10分〜24時間アニール処理を行うことにより連続な膜を得ることができる。
最後に、従来のコアパターン形状を形成する際と同様に、フォトリソグラフィにより回路パターンを形成し、反応性イオンエッチングでコア2をエッチングすることにより、三次元テーパ面7を有する素子が得られる(図1(d))。
このような素子を用いて光導波路デバイスを製造する場合は、コア2としてGeをドープした石英とし、クラッド材料との比屈折率差Δを0.2〜4.5%とすることが好ましい。また、コア2を2層以上とし、各層が異なる材料もしくは異なる屈折率とすることもできる。
本実施形態では、三次元テーパ面7を形成する際の元となるパターンとして、図1(b)のようにエッチング面2a方向に向かって徐々に間隔を狭める配置となる平行な溝3を形成したが、これ以外に、図2に示すようなパターンを用いることもできる。
図2(a)は、基板21上に形成されたコア22において、円柱体23を図中右側へ行くに従って径が小さく形成されるように円柱体23を残してエッチングし、エッチング面22aとしたものである。
また、図2(b)は、基板31上に形成されたコア32において、くさび形状を連続したくさび体33を残してエッチングし、エッチング面32aとしたものである。
更に、図2(c)は、基板41上に形成されたコア42において、円柱孔43を図中右側へ行くに従って径が大きくなるようにコア42をエッチングし、さらに図中右側の部分にエッチング面42aを設けたものである。
[第2の実施形態]
図3に、三次元テーパ面7を形成する際の元となるパターンとして、図2(b)のようなくさび体33を用いた場合のもう一つの製造方法を説明する。
まず、基板31上にコア32を形成した後、くさび体33を残してエッチングし、エッチング面32aを形成する。
する(図3(a))。
次に、ArガスもしくはArガスを含むプラズマ中でスパッタエッチングを行う。
エッチングにより、くさび体33は、矩形状の断面の上部2点の角から一定の角度でエッチングされる。エッチングを続けていくと、断面形状は三角形となり、この三角形の大きさは当初の矩形状断面の幅の長さに比例する(相似形)。更に、くさび体33の全ての断面形状が三角形になるまでエッチングすることにより、図3(b)に示す三次元くさび体35が得られる。この三次元くさび体35の断面構造は、図3(c)、(d)に示すように、高さ方向にもなめらかな傾斜を有する構造となっている。
このようなエッチング工程を行った後、第1の実施形態と同様にしてアニールによりリフローさせることにより、第1の実施形態と比較してより凹凸の小さいテーパ形状が形成できる。
[第3の実施形態]
図4に、三次元テーパ面7を形成する際の元となるパターンとして、図2(c)のように円柱孔43を用いた場合のもう一つの製造方法を説明する。
まず、基板41上にコア42を形成した後、通常条件の反応性イオンエッチングにより図中右側へ行くに従い径が大きくなるような円柱孔43を形成し、さらに図中右側の部分にエッチング面42aを設ける(図4(a))。この円柱孔43は、図4(b)に示すように、径は異なっているが、深さは皆同じである。
ここで、反応性イオンエッチングの圧力などの条件を変更して、エッチストップの起こりやすい条件にすることにより、図4(c)、(d)に示すように径のパターンの大きさに依存した深さまでエッチングを行うことができ、高さ方向に溝の深さの異なる構造の段状円柱孔45を作ることが出来る。
このようなエッチング工程を行った後、第1の実施形態と同様にしてアニールによりリフローさせることにより、第1の実施形態と比較してより凹凸の小さいテーパ形状が形成できる。
第1〜第3の実施形態によれば下記の効果が得られる。
(1)コア形成は1回、エッチングはコアの前処理エッチングと横方向のコア形成エッチングの2回で済み、工程が簡略で、生産性が良い。
(2)コア自体をリフローさせるため、コア材全体の材質が均一である。このため、コア材の位置により、材質が異なったり不均一になったりすることがない。
(3)垂直方向のテーパ形成と、横方向のテーパ形成とに分けて行うため、フォトリソグラフィの合わせ精度はそれほど厳密性を要求されない。
(4)準備段階のコアのエッチングでは、垂直方向の階段構造は特に必要がなく、リフローにより容易に垂直方向のテーパを実現することが可能である。
本発明に係る製造方法の第1の実施形態を示す説明図である。 三次元テーパ面を形成する際の元となるパターンを示す概略図であり、(a)は円柱体を形成したもの、(b)はくさび体を形成したもの、(c)は円柱孔を形成したものである。 本発明に係る製造方法の第2の実施形態を示す説明図である。 本発明に係る製造方法の第3の実施形態を示す説明図である。 従来の3次元テーパ構造を有する光導波路デバイスの製造方法を示す説明図である。 従来の他の3次元テーパ構造を有する光導波路デバイスの製造方法を示す説明図である。
符号の説明
1、21、31、41 基板
2、22、32、42 コア
2a、22a、32a、42a エッチング面
3 溝
5 テーパ面
7 三次元テーパ面
23 円柱体
33 くさび体
35 三次元くさび体
43 円柱孔
45 段状円柱孔
51、61 基板
52 コア膜
55 シャドーマスク
56 コア材料
67 下層コア膜
68 上層コア膜

Claims (5)

  1. 基板上にコアを所定の厚さに形成する第1工程と、
    前記コアの一方の側に所定の深さまでエッチングを行ってエッチング面を形成すると共に、前記エッチング面以外のコアの表面に、前記エッチング面に近づくに従ってその比率が高くなるように空隙部分を設ける第2工程と、
    700〜1400℃の温度でアニールを行い、コア自体のリフローによりコアの形状を変化させる第3工程と、
    フォトリソグラフィにより回路パターンを形成してコアをエッチングする第4工程と、を備えることを特徴とする3次元テーパ構造を有するデバイスの製造方法。
  2. 前記第2工程は、前記エッチング面以外のコアの表面に、溝をエッチング面方向に向かって徐々に間隔を狭める配置となるように平行に複数設けることを特徴とする請求項1記載の3次元テーパ構造を有するデバイスの製造方法。
  3. 前記第2工程は、前記エッチング面以外のコアの表面に、円柱体をエッチング面方向に向かって徐々にその径が小さくなるように複数設けることを特徴とする請求項1記載の3次元テーパ構造を有するデバイスの製造方法。
  4. 前記第2工程は、前記エッチング面以外のコアの表面に、エッチング面側に突起部を有するくさび体を複数設けることを特徴とする請求項1記載の3次元テーパ構造を有するデバイスの製造方法。
  5. 前記第2工程は、前記エッチング面以外のコアの表面に、円柱孔をエッチング面方向に向かって徐々にその径及び深さが大きくなるように複数設けることを特徴とする請求項1記載の3次元テーパ構造を有するデバイスの製造方法。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008066160A1 (fr) * 2006-12-01 2008-06-05 Nec Corporation Convertisseur optique et procédé de fabrication afférent
WO2009098829A1 (ja) * 2008-02-06 2009-08-13 Nec Corporation 光導波路及びその製造方法
WO2018179752A1 (ja) * 2017-03-30 2018-10-04 旭化成エレクトロニクス株式会社 光導波路、光学式濃度測定装置および光導波路の製造方法

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06174952A (ja) * 1992-12-09 1994-06-24 Fujikura Ltd 基板型光導波路及びその製造方法
JPH06174982A (ja) * 1992-12-03 1994-06-24 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 光結合デバイス
JP2000137129A (ja) * 1998-11-04 2000-05-16 Nec Corp 光導波路及びその作製方法
JP2002303752A (ja) * 2001-04-05 2002-10-18 Nec Corp 光導波路およびその製造方法
JP2003004966A (ja) * 2001-06-25 2003-01-08 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 膜厚変化薄膜の製造方法及びこれを用いた光導波路
JP2004061711A (ja) * 2002-07-26 2004-02-26 Fujitsu Ltd デバイス製造方法および光導波路デバイス
JP2006146212A (ja) * 2004-11-16 2006-06-08 Samsung Electronics Co Ltd 平面光波回路及びその製造方法

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06174982A (ja) * 1992-12-03 1994-06-24 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 光結合デバイス
JPH06174952A (ja) * 1992-12-09 1994-06-24 Fujikura Ltd 基板型光導波路及びその製造方法
JP2000137129A (ja) * 1998-11-04 2000-05-16 Nec Corp 光導波路及びその作製方法
JP2002303752A (ja) * 2001-04-05 2002-10-18 Nec Corp 光導波路およびその製造方法
JP2003004966A (ja) * 2001-06-25 2003-01-08 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 膜厚変化薄膜の製造方法及びこれを用いた光導波路
JP2004061711A (ja) * 2002-07-26 2004-02-26 Fujitsu Ltd デバイス製造方法および光導波路デバイス
JP2006146212A (ja) * 2004-11-16 2006-06-08 Samsung Electronics Co Ltd 平面光波回路及びその製造方法

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008066160A1 (fr) * 2006-12-01 2008-06-05 Nec Corporation Convertisseur optique et procédé de fabrication afférent
JPWO2008066160A1 (ja) * 2006-12-01 2010-03-11 日本電気株式会社 光変換器およびその製造方法
US8170383B2 (en) 2006-12-01 2012-05-01 Nec Corporation Optical converter
WO2009098829A1 (ja) * 2008-02-06 2009-08-13 Nec Corporation 光導波路及びその製造方法
WO2018179752A1 (ja) * 2017-03-30 2018-10-04 旭化成エレクトロニクス株式会社 光導波路、光学式濃度測定装置および光導波路の製造方法
JP6420932B1 (ja) * 2017-03-30 2018-11-07 旭化成エレクトロニクス株式会社 光学式濃度測定装置および光学式濃度測定装置の製造方法
US11353399B2 (en) 2017-03-30 2022-06-07 Asahi Kasel Microdevices Corporation Optical waveguide, optical concentration measuring device, and method for manufacturing optical waveguide

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