JP2006162572A - Impedance measuring apparatus - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an impedance measuring apparatus capable of measuring a wide range of impedances, by providing a capacitor with low capacity. <P>SOLUTION: An impedance element 1 with certain impedance and a capacitor 2 are connected, and the capacitor 2 is charged, by applying a negative constant DC voltage to the connected circuit. When the terminal voltage of the capacitor 2 reaches a positive threshold voltage, the capacitor 2 is discharged, by applying a positive constant DC voltage. When the terminal voltage of the capacitor 2 reaches 0 volt, the capacitor 2 is charged again by applying the negative constant dc voltage. The charging/discharging times are measured by a counter 5, and the impedance of the impedance element is determined by the measured values of a calculator 20. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明は、インピーダンス測定装置に関し、より詳細には、低容量のコンデンサを1つ設けることで広範囲のインピーダンスを高精度に測定できるようにしたインピーダンス測定装置に関する。   The present invention relates to an impedance measuring apparatus, and more particularly to an impedance measuring apparatus that can measure a wide range of impedances with high accuracy by providing one low-capacitance capacitor.

従来から、機器の使用環境における温度,湿度,風速等の変量を測定するインピーダンス測定装置については提案されている(例えば、特許文献1参照)。この種のインピーダンス測定装置において、低コストで高精度が維持できるようにすることが求められている。   Conventionally, an impedance measuring device that measures variables such as temperature, humidity, and wind speed in an environment where the device is used has been proposed (see, for example, Patent Document 1). In this type of impedance measuring apparatus, it is required to maintain high accuracy at low cost.

図6は、従来のインピーダンス測定装置を説明するための構成図で、図中符号51はパルスカウンタ、52はCPU、53は湿度センサ、54はパルス発生装置、55a,55bはパルスカウンタ51のクロック信号を発生するためのオシレータ、56a,56bはアナログスイッチ、101,102はトランジスタ、202,203,204はコンデンサ、301はコンパレータを示している。   FIG. 6 is a block diagram for explaining a conventional impedance measuring device, in which reference numeral 51 is a pulse counter, 52 is a CPU, 53 is a humidity sensor, 54 is a pulse generator, and 55a and 55b are clocks of the pulse counter 51. Oscillators for generating signals, 56a and 56b are analog switches, 101 and 102 are transistors, 202, 203 and 204 are capacitors, and 301 is a comparator.

まず、CPU52からアナログスイッチ56aに2ビットの信号を出力して被測定対象コンデンサをコンデンサ202に決定し(“00”ならコンデンサ202、“01”ならコンデンサ203、“10”ならコンデンサ204、なお、コンデンサ202,203,204はそれぞれ9100PF,22PF,0.91μFである。)、また、アナログスイッチ56bに1ビットの信号を出力してカウンタクロックをオシレータ55aの出力に決定する(“0”なら標準クロックオシレータ55a、“1”なら高周波数オシレータ55b)。   First, a 2-bit signal is output from the CPU 52 to the analog switch 56a to determine the capacitor to be measured as the capacitor 202 (capacitor 202 if "00", capacitor 203 if "01", capacitor 204 if "10", Capacitors 202, 203, and 204 are 9100PF, 22PF, and 0.91 μF, respectively). Also, a 1-bit signal is output to the analog switch 56b to determine the counter clock as the output of the oscillator 55a (if “0”, standard) A clock oscillator 55a, and if it is "1", a high frequency oscillator 55b).

CPU52からパルス発生装置54にパルス発生の命令を出力すると、トランジスタ101,102を介してb点にはAC電圧が印加される。それと同時に湿度センサ53,コンデンサ202にも印加される(湿度センサにDC電圧を数百ms以上連続して印加すると湿度センサを急速に素子劣化させることになるので、このようにAC電圧を印加している。)。   When a pulse generation command is output from the CPU 52 to the pulse generator 54, an AC voltage is applied to the point b through the transistors 101 and 102. At the same time, it is applied to the humidity sensor 53 and the capacitor 202 (the DC voltage is applied to the humidity sensor continuously for several hundred ms or more, so the humidity sensor is rapidly deteriorated. ing.).

b点を0Vに切換えた後、CPU52からパルス発生を止める信号及びカウンタ51に対してスタート信号を出力する。すると、トランジスタ101,102は共にオフし、湿度センサ53とコンデンサ202の直列回路に+1Vが印加される状態となり、コンデンサ202は充電を始め、Vrefと同電位になるとコンパレータ301より“H”の信号がカウンタ51に出力され(c点にはVrefに相当する電圧が抵抗分圧により発生している)、このカウンタ51の動作がストップする。以上の動作と同時にCPU52内部のカウンタによってカウンタ51に対してスタート信号を出力した後の時間をカウンタしている。そして、そのカウント値をCPU52に送り、コンデンサ202の充電電圧がVrefに達するまでの時間tを測定する。   After switching the point b to 0V, the CPU 52 outputs a signal for stopping the pulse generation and a start signal to the counter 51. Then, the transistors 101 and 102 are both turned off, and + 1V is applied to the series circuit of the humidity sensor 53 and the capacitor 202. The capacitor 202 starts charging, and when the potential becomes the same as Vref, the comparator 301 outputs an “H” signal. Is output to the counter 51 (a voltage corresponding to Vref is generated at the point c by resistance voltage division), and the operation of the counter 51 is stopped. Simultaneously with the above operation, the time after the start signal is output to the counter 51 is counted by the counter in the CPU 52. Then, the count value is sent to the CPU 52, and the time t until the charging voltage of the capacitor 202 reaches Vref is measured.

ここで、この充電時間tが10mSから100μSの範囲内であれば、湿度センサ53の抵抗値及び実際の湿度の値は、時間tを変数とした、ある一次関数R(t)=αt+β(Rは湿度センサの抵抗値、α,βは定数)によって求めることができる。   Here, if the charging time t is in the range of 10 mS to 100 μS, the resistance value and the actual humidity value of the humidity sensor 53 are a certain linear function R (t) = αt + β (R Is the resistance value of the humidity sensor, and α and β are constants).

また、実際の湿度は、R(t)を変数としたある関数F(R(t))で求められる。この処理はCPU52内部で行われる。   The actual humidity can be obtained by a certain function F (R (t)) with R (t) as a variable. This process is performed inside the CPU 52.

上述した測定手法は、環境条件の湿度が中湿度域(おおよそ20%〜60%)であれば測定完了となるが、湿度が約20%以上では湿度センサ53の抵抗値が数10MΩ、GΩのオーダとなるので充電時間が10mS以上となり、湿度センサ53にはDC電圧を連続的に数百mS以上印加すると急速な劣化が起こることから、CPU52内のカウンタで計測した充電時間が10mS以上になった瞬間にCPU52からパルス発生装置54にパルス発生信号、カウンタ51にカウントストップ信号、コンデンサ選択信号“01”がアナログスイッチ56aに送られ、コンデンサ203(22PF)を選択する。   The measurement method described above is completed when the humidity of the environmental conditions is a medium humidity range (approximately 20% to 60%), but when the humidity is about 20% or more, the resistance value of the humidity sensor 53 is several tens of MΩ and GΩ. The charging time becomes 10 mS or more because it becomes an order, and when the DC voltage is continuously applied to the humidity sensor 53 for several hundreds mS or more, rapid deterioration occurs. Therefore, the charging time measured by the counter in the CPU 52 becomes 10 mS or more. At the moment, a pulse generation signal is sent from the CPU 52 to the pulse generator 54, a count stop signal is sent to the counter 51, and a capacitor selection signal “01” is sent to the analog switch 56a to select the capacitor 203 (22PF).

その後、上述した場合と同様にコンデンサ203の充電時間を求め、湿度センサ53の抵抗値及び実際の湿度を求める。湿度が約60%以下であれば湿度センサ53の抵抗値が数KΩ,数10KΩのオーダとなり、充電時間が100μS以下となるので、カウンタ51のカウント値の精度に影響してしまうことから、CPU52からパルス発生装置54にパルス発生信号がアナログスイッチ56aに容量選択信号“10”が送られ、容量204(0.91μF)を選択する。   Thereafter, as in the case described above, the charging time of the capacitor 203 is obtained, and the resistance value and actual humidity of the humidity sensor 53 are obtained. If the humidity is about 60% or less, the resistance value of the humidity sensor 53 is on the order of several KΩ and several tens of KΩ, and the charging time is 100 μS or less. Therefore, the accuracy of the count value of the counter 51 is affected. A pulse generation signal is sent from the pulse generator 54 to the analog switch 56a and a capacitance selection signal “10” is sent to the analog switch 56a to select the capacitance 204 (0.91 μF).

その後、コンデンサ204の充電時間を求め、湿度センサ53の抵抗値及び実際の湿度を求める。また、容量204(0.91μF)の充電時間が100μS以下であるならば測定精度を向上させるために、アナログスイッチ56bに1ビットのカウンタクロック選択信号“1”を出力してクロック周波数を上げ、再度コンデンサ204の充電時間を求め、湿度センサ53の抵抗値及び実際の湿度を求める。   Thereafter, the charging time of the capacitor 204 is obtained, and the resistance value of the humidity sensor 53 and the actual humidity are obtained. Further, if the charging time of the capacitor 204 (0.91 μF) is 100 μS or less, in order to improve the measurement accuracy, a 1-bit counter clock selection signal “1” is output to the analog switch 56 b to increase the clock frequency, The charging time of the capacitor 204 is obtained again, and the resistance value of the humidity sensor 53 and the actual humidity are obtained.

このような従来技術によれば、測定対象とする湿度範囲を少なくとも3種類の範囲に分割するとともに、湿度センサと容量の組合せもこの分割数に合せて備え、湿度域にあわせて組合せを切り換えることによって測定可能な湿度範囲が広がる。   According to such a conventional technique, the humidity range to be measured is divided into at least three types of ranges, and the combination of the humidity sensor and the capacity is also provided according to the number of divisions, and the combination is switched according to the humidity range. Expands the measurable humidity range.

また、コンデンサを中容量→小容量→大容量と切り換えて行くので、一般的には短時間で測定が完了でき、湿度センサの素子劣化を避け、測定精度を維持できる。   In addition, since the capacitor is switched from a medium capacity to a small capacity to a large capacity, generally, the measurement can be completed in a short time, and the element accuracy of the humidity sensor can be avoided and the measurement accuracy can be maintained.

なお、本発明に係るその他の従来技術を記載したものとしては、特許文献2乃至6がある。   In addition, there are Patent Documents 2 to 6 as other prior art related to the present invention.

特開平6−221882号公報JP-A-6-221882 特開平5−149905号公報JP-A-5-149905 特開平7−12768号公報Japanese Patent Laid-Open No. 7-12768 特開平7−270355号公報JP 7-270355 A 特開平7−311169号公報Japanese Patent Laid-Open No. 7-311169 特開2004−309501号公報JP 2004-309501 A

しかしながら、低コストで高精度が維持できるインピーダンス測定装置を実現するためには、なお一層の改良の余地が残されている。つまり、上述したような広い範囲で高精度にインピーダンスを測定する従来技術としては、例えば、インピーダンスの大きさによって容量が異なる複数のコンデンサを切り替える手法(特許文献1参照)があるが、このような従来手法では、低インピーダンスを測定するために高容量のコンデンサが必要になり、結果として低コストで測定装置を実現できないという問題があった。   However, there is still room for further improvement in order to realize an impedance measuring device that can maintain high accuracy at low cost. That is, as a conventional technique for measuring impedance with high accuracy in a wide range as described above, for example, there is a method of switching a plurality of capacitors having different capacities depending on the magnitude of impedance (see Patent Document 1). In the conventional method, a high-capacitance capacitor is required to measure low impedance, and as a result, there is a problem that a measuring device cannot be realized at low cost.

また、ルックアップテーブルを用いた検索手段としては、例えば、上述したような特許文献1に示すような方法があるが、この従来方法では、測定精度を高くしようとすると記憶装置の容量が大きくなるため、コストが高くなるという問題があった。   Further, as a search means using a lookup table, for example, there is a method as described in Patent Document 1 as described above. However, in this conventional method, the capacity of the storage device increases when attempting to increase the measurement accuracy. Therefore, there is a problem that the cost becomes high.

本発明は、このような問題に鑑みてなされたもので、その目的とするところは、低容量のコンデンサを1つ設けることで広範囲のインピーダンスを高精度に測定できるようにしたインピーダンス測定装置を提供することにある。   The present invention has been made in view of such problems, and an object of the present invention is to provide an impedance measuring apparatus capable of measuring a wide range of impedances with high accuracy by providing one low-capacitance capacitor. There is to do.

本発明は、このような目的を達成するためになされたもので、請求項1に記載の発明は、被測定対象である、所定のインピーダンスを持ったインピーダンス素子と、該インピーダンス素子に直列接続されたコンデンサと、前記インピーダンス素子と前記コンデンサからなる回路に負の一定直流電圧を印加して前記コンデンサを充電する第1の直流電圧発生手段と、前記コンデンサの端子電圧が正のしきい値電圧に達すると正の一定直流電圧を印加して前記コンデンサを放電する第2の直流電圧発生手段と、前記コンデンサの端子電圧が0ボルトに達すると、前記第1の直流電圧発生手段により再び負の一定直流電圧を印加して前記コンデンサを充電し、この充放電時間を測定するカウント手段と、該カウント手段による測定値から前記インピーダンス素子のインピーダンスを演算する演算手段とを備え、充放電回数を可変にすることで、広い範囲のインピーダンスを測定可能にしたことを特徴とする。   The present invention has been made to achieve such an object. The invention according to claim 1 is an impedance element having a predetermined impedance to be measured, and is connected in series to the impedance element. A capacitor, first DC voltage generating means for charging the capacitor by applying a negative constant DC voltage to a circuit comprising the impedance element and the capacitor, and the terminal voltage of the capacitor becomes a positive threshold voltage. Second DC voltage generating means for discharging the capacitor by applying a positive constant DC voltage when the voltage reaches, and when the terminal voltage of the capacitor reaches 0 volts, the first DC voltage generating means again makes the negative constant voltage again. Counting means for charging the capacitor by applying a DC voltage and measuring the charge / discharge time, and the impedance from the measured value by the counting means. And an arithmetic means for calculating the impedance of the dance element, by the charging and discharging times variable, characterized in that to allow measuring the impedance of the wide range.

また、請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の発明において、前記コンデンサは、低容量のコンデンサを1つ設けたものであることを特徴とする。   The invention according to claim 2 is the invention according to claim 1, characterized in that the capacitor is provided with one low-capacitance capacitor.

また、請求項3に記載の発明は、請求項1又は2に記載の発明において、前記インピーダンス素子のインピーダンス測定時に、測定対象を流れる電流を正と負の双方向とし、正電流が流れるときと負電流が流れるときの平均値を測定することを特徴とする。   According to a third aspect of the present invention, in the first or second aspect of the invention, when the impedance of the impedance element is measured, the current flowing through the measurement object is set to be positive and negative, and the positive current flows. An average value when a negative current flows is measured.

また、請求項4に記載の発明は、請求項1,2又は3に記載の発明において、前記インピーダンス素子を破壊することなくインピーダンスを測定するために、測定時に前記インピーダンス素子を流れる直流電流を平均すると0になるようにしたことを特徴とする。   According to a fourth aspect of the present invention, in the invention of the first, second, or third aspect, in order to measure the impedance without destroying the impedance element, a direct current flowing through the impedance element during measurement is averaged. Then, it is characterized by being set to 0.

また、請求項5に記載の発明は、請求項1乃至4のいずれかに記載の発明において、前記カウント手段が、充放電カウンタ及び測定用カウンタからなり、前記充放電カウンタ及び測定用カウンタの値から、前記演算手段を構成する記憶手段に格納されたルックアップテーブルを検索することを特徴とする。   The invention according to claim 5 is the invention according to any one of claims 1 to 4, wherein the counting means includes a charge / discharge counter and a measurement counter, and values of the charge / discharge counter and the measurement counter are set. To a lookup table stored in a storage means constituting the calculation means.

また、請求項6に記載の発明は、請求項5に記載の発明において、離散的な前記ルックアップテーブルの各点を線形演算で近似することを特徴とする。   The invention according to claim 6 is characterized in that, in the invention according to claim 5, each point of the discrete lookup table is approximated by a linear operation.

また、請求項7に記載の発明は、請求項1乃至6にいずれかに記載の発明において、前記カウント手段の前段に、前記コンデンサの充電電圧値と閾値電圧とを比較する比較手段を設けたことを特徴とする。   According to a seventh aspect of the present invention, in the invention according to any one of the first to sixth aspects, a comparison means for comparing a charging voltage value of the capacitor and a threshold voltage is provided before the counting means. It is characterized by that.

また、請求項8に記載の発明は、請求項7に記載の発明において、前記比較手段の閾値電圧の代わりに、前記第2の直流電源からの正の一定直流電圧を用いたことを特徴とする。   The invention described in claim 8 is characterized in that, in the invention described in claim 7, a positive constant DC voltage from the second DC power supply is used instead of the threshold voltage of the comparison means. To do.

このように、本発明のインピーダンス測定装置は、あるインピーダンスを持ったインピーダンス素子とコンデンサを接続し、この回路に負の一定直流電圧を印加してコンデンサを充電し、コンデンサの端子電圧が正のしきい値電圧に達すると正の一定直流電圧を印加してコンデンサを放電し、コンデンサの端子電圧が0ボルトに達すると再び負の一定直流電圧を印加してコンデンサを充電し、この充放電時間をカウント手段で測定し、この測定値から演算手段によってインピーダンス素子のインピーダンスを求めるものである。   As described above, the impedance measuring apparatus of the present invention connects an impedance element having a certain impedance and a capacitor, applies a negative constant DC voltage to the circuit to charge the capacitor, and sets the capacitor terminal voltage to be positive. When the threshold voltage is reached, a positive constant DC voltage is applied to discharge the capacitor. When the capacitor terminal voltage reaches 0 volts, the negative constant DC voltage is applied again to charge the capacitor. The measurement is performed by the counting means, and the impedance of the impedance element is obtained from the measured value by the computing means.

インピーダンスを持ったインピーダンス素子に正または負の直流電圧を印加してコンデンサを充放電し、インピーダンス素子のインピーダンスが大きいときは、インピーダンス素子を流れる電流が微少であるため、コンデンサの充放電時間が大きくなる。このとき、測定用カウンタで1回の充放電時間を測定する。インピーダンスが小さいときは、インピーダンス素子を流れる電流が増大してコンデンサの1回の充放電時間が短くなるため、カウンタによる測定精度が悪くなる。このため、インピーダンスが小さいときは、充放電時間の合計が所定のカウンタ値以上(例えば、32カウント以上)になるまで充放電を繰り返し、この充放電時間を測定用カウンタで測定することで高精度に測定できる。   When a positive or negative DC voltage is applied to an impedance element with impedance to charge / discharge the capacitor. When the impedance of the impedance element is large, the current flowing through the impedance element is very small, so the charge / discharge time of the capacitor is long. Become. At this time, one charge / discharge time is measured by the measurement counter. When the impedance is small, the current flowing through the impedance element is increased and the charge / discharge time of the capacitor is shortened. Therefore, the measurement accuracy by the counter is deteriorated. For this reason, when the impedance is small, charge / discharge is repeated until the total charge / discharge time becomes equal to or greater than a predetermined counter value (for example, 32 counts or more), and this charge / discharge time is measured with a measurement counter for high accuracy. Can be measured.

また、充放電回数を可変にすることで、広い範囲のインピーダンスを高精度に測定することが出来る。例えば、数kΩから数100MEGΩまで指数関数的にインピーダンスが変化するインピーダンス素子であっても高精度に測定することが出来る。   Further, by making the number of times of charging and discharging variable, a wide range of impedances can be measured with high accuracy. For example, even an impedance element whose impedance changes exponentially from several kΩ to several hundred MEGΩ can be measured with high accuracy.

本発明によれば、あるインピーダンスを持ったインピーダンス素子とコンデンサを接続し、この回路に負の一定直流電圧を印加してコンデンサを充電し、コンデンサの端子電圧が正のしきい値電圧に達すると正の一定直流電圧を印加してコンデンサを放電し、コンデンサの端子電圧が0ボルトに達すると再び負の一定直流電圧を印加してコンデンサを充電し、この充放電時間をカウント手段で測定し、この測定値から演算手段によってインピーダンス素子のインピーダンスを求めるようにしたので、低容量のコンデンサを1つ設けることで広範囲のインピーダンスを高精度に測定できるようにしたインピーダンス測定装置を実現することができる。   According to the present invention, when an impedance element having a certain impedance is connected to a capacitor, a negative constant DC voltage is applied to the circuit to charge the capacitor, and when the terminal voltage of the capacitor reaches a positive threshold voltage, Apply a positive constant DC voltage to discharge the capacitor, and when the capacitor terminal voltage reaches 0 volts, apply a negative constant DC voltage again to charge the capacitor, measure this charge / discharge time with a counting means, Since the impedance of the impedance element is obtained from the measured value by the calculating means, an impedance measuring device that can measure a wide range of impedance with high accuracy can be realized by providing one low-capacitance capacitor.

以下、図面を参照して本発明の実施例について説明する。   Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

図1は、本発明のインピーダンス測定装置の実施例1を説明するための構成図、図2は、図1における回路構成の各信号波形を示す図である。図中符号1は被測定対象のインピーダンス素子、2はコンデンサ、3は負の一定直流電圧を発生する第1の直流電源、4は正の一定直流電圧を発生する第2の直流電源、5は充放電回数カウンタ、6はコントローラ、7は記憶装置(ROM)、8は測定用カウンタ、9は測定用クロック発生装置、10はオペアンプ、11〜16は第1〜第6のアナログスイッチSW1〜SW6、17はコンパレータ、18は閾値電圧発生電源、20は演算装置を示している。   FIG. 1 is a block diagram for explaining an embodiment 1 of the impedance measuring apparatus of the present invention, and FIG. 2 is a diagram showing signal waveforms of the circuit configuration in FIG. In the figure, reference numeral 1 is an impedance element to be measured, 2 is a capacitor, 3 is a first DC power source that generates a negative constant DC voltage, 4 is a second DC power source that generates a positive constant DC voltage, Charge / discharge number counter, 6 is a controller, 7 is a storage device (ROM), 8 is a measurement counter, 9 is a measurement clock generator, 10 is an operational amplifier, 11 to 16 are first to sixth analog switches SW1 to SW6. , 17 are comparators, 18 is a threshold voltage generating power source, and 20 is an arithmetic unit.

本発明のインピーダンス装置は、所定のインピーダンスを持ったインピーダンス素子1と、このインピーダンス素子1に直列接続されたコンデンサ2と、インピーダンス素子1とコンデンサ2からなる回路に負の一定直流電圧を印加してコンデンサ2を充電する第1の直流電源3と、コンデンサ2の端子電圧が正のしきい値電圧に達すると正の一定直流電圧を印加してコンデンサを放電する第2の直流電源4と、コンデンサ2の端子電圧が0ボルトに達すると、第1の直流電源3により再び負の一定直流電圧を印加してコンデンサ2を充電し、この充放電時間を測定するカウンタ5と、このカウンタ5による測定値からインピーダンス素子1のインピーダンスを演算する演算装置20とから構成されている。   The impedance device of the present invention applies a negative constant DC voltage to an impedance element 1 having a predetermined impedance, a capacitor 2 connected in series to the impedance element 1, and a circuit comprising the impedance element 1 and the capacitor 2. A first DC power supply 3 for charging the capacitor 2; a second DC power supply 4 for discharging the capacitor by applying a positive constant DC voltage when the terminal voltage of the capacitor 2 reaches a positive threshold voltage; When the terminal voltage of 2 reaches 0 volts, a negative constant DC voltage is applied again by the first DC power supply 3 to charge the capacitor 2, and a counter 5 for measuring the charge / discharge time is measured. It is comprised from the arithmetic unit 20 which calculates the impedance of the impedance element 1 from a value.

また、演算装置20は、充放電回数カウンタ5と接続されているコントローラ6と、このコントローラ6と接続されている記憶装置7と、コントローラ6と接続されている測定用カウンタ8と、この測定用カウンタ8と接続されている測定用クロック発生装置9とから構成されている。また、アナログスイッチSW1〜SW6は、コントローラ6で制御されている。   The arithmetic unit 20 includes a controller 6 connected to the charge / discharge counter 5, a storage device 7 connected to the controller 6, a measurement counter 8 connected to the controller 6, and the measurement The measurement clock generator 9 is connected to the counter 8. The analog switches SW1 to SW6 are controlled by the controller 6.

図3は、実施例1のインピーダンス測定装置の動作を説明するためのフローチャートを示す図である。   FIG. 3 is a flowchart illustrating the operation of the impedance measuring apparatus according to the first embodiment.

まず、コントローラ6からアナログスイッチSW1〜SW6に制御信号を出力し、SW1,SW2,及びSW6をOFFし、SW3,SW4,及びSW5をONする。同時に充放電カウンタ値及び測定用カウンタ値を0に設定する(S1)。このとき回路は非測定状態である。その後、回路が測定状態に遷移し、コントローラ6がSW3及びSW4をOFFし、SW1をONすると(S2)、図2に示すように、A点に負の直流電圧が印加されるため測定対象のインピーダンス素子1に正の一定直流電流が流れ、コンデンサ2が充電されていく(S3)。このとき、測定用カウンタ8は、コンデンサ2の充放電の時定数より速いクロック(測定用クロック発生装置9)でカウントされる。   First, a control signal is output from the controller 6 to the analog switches SW1 to SW6, SW1, SW2, and SW6 are turned off, and SW3, SW4, and SW5 are turned on. At the same time, the charge / discharge counter value and the measurement counter value are set to 0 (S1). At this time, the circuit is in a non-measurement state. Thereafter, the circuit transits to the measurement state, and when the controller 6 turns off SW3 and SW4 and turns on SW1 (S2), a negative DC voltage is applied to point A as shown in FIG. A positive constant direct current flows through the impedance element 1, and the capacitor 2 is charged (S3). At this time, the measurement counter 8 is counted by a clock (measurement clock generator 9) faster than the time constant for charging and discharging the capacitor 2.

そして、コンデンサ2の充電電圧値(C点)がコンパレータ17のマイナス入力側(B点)に与えられている閾値電圧に等しくなった瞬間、コンパレータ17から“H”信号が出力され(S4)、コントローラ6がSW1及びSW5をOFFし、SW2及びSW6をONする(S5)。すると、A点には正の直流電圧が印加されるため測定対象のインピーダンス素子1に負の一定直流電流が流れ、コンデンサ2が放電されていく(S6)。そして、コンデンサ2の充電電圧値(C点)がコンパレータ17のマイナス入力側(B点)に与えられている0Voltになった瞬間、コンパレータ17から“L”信号が出力され(S7)、充放電カウンタ値に1を加算する(S8)。   At the moment when the charging voltage value (point C) of the capacitor 2 becomes equal to the threshold voltage given to the negative input side (point B) of the comparator 17, an “H” signal is output from the comparator 17 (S4). The controller 6 turns off SW1 and SW5, and turns on SW2 and SW6 (S5). Then, since a positive DC voltage is applied to the point A, a negative constant DC current flows through the impedance element 1 to be measured, and the capacitor 2 is discharged (S6). Then, at the moment when the charging voltage value (C point) of the capacitor 2 becomes 0 Volt applied to the negative input side (B point) of the comparator 17, an "L" signal is output from the comparator 17 (S7), and charging / discharging 1 is added to the counter value (S8).

ここで、測定用カウンタ値が閾値(例えば32)より小さい場合(S9)、コントローラ6はSW2及びSW6をOFFし、SW1及びSW5をONし、再びコンデンサ2の充放電動作を繰り返す(S10)。測定用カウンタ値が閾値(例えば32)より大きい場合(S9)、コントローラ6はSW1,SW2及びSW6をOFFし、SW3,SW4及びSW5をONし(S11)、コントローラ6は充放電カウンタ値、測定用カウンタ値及び図4に示すような記憶装置7に格納されたルックアップテーブルを参照して線形演算でインピーダンスを求める(S12)。   If the measurement counter value is smaller than a threshold value (for example, 32) (S9), the controller 6 turns off SW2 and SW6, turns on SW1 and SW5, and repeats the charge / discharge operation of the capacitor 2 again (S10). When the measurement counter value is larger than a threshold value (for example, 32) (S9), the controller 6 turns off SW1, SW2, and SW6, and turns on SW3, SW4, and SW5 (S11), and the controller 6 measures the charge / discharge counter value. The impedance is obtained by linear calculation with reference to the counter value and the lookup table stored in the storage device 7 as shown in FIG. 4 (S12).

具体的には、まず、(測定用カウンタ値÷充放電カウンタ値)を記憶装置7のルックアップテーブルの01番地と比較し、(測定用カウンタ値÷充放電カウンタ値)>(01番地のデータ)であれば02番地のデータと比較する。このようにして、ルックアップテーブルのアドレスを変えながら比較し、アドレスP番地で(測定用カウンタ値÷充放電カウンタ値)<(ルックアップテーブルのデータ)となると、コントローラ6はアドレス(P−1)番地とP番地のデータを線形補間してインピーダンスを求める。   Specifically, first, (measurement counter value ÷ charge / discharge counter value) is compared with address 01 of the lookup table of the storage device 7, and (measurement counter value ÷ charge / discharge counter value)> (data at address 01) ) Is compared with the data at address 02. In this way, the comparison is made while changing the address of the lookup table, and when the address P is (measurement counter value ÷ charge / discharge counter value) <(lookup table data), the controller 6 determines the address (P−1). ) The impedance is obtained by linearly interpolating the data of the address and the address P.

図5は、本発明のインピーダンス測定装置の実施例2を説明するための構成図で、図1と同じ機能を有する構成要素については同一の符号を付してある。図1に示した実施例1との相違は、コンパレータ17の閾値電圧であるB点が、SW5を介して正の直流電圧を発生する第2の直流電源4に接続されている点である。なお、信号波形図,フローチャート及び記録装置に格納されるルックアップテーブルは、実施例1と同様である。   FIG. 5 is a block diagram for explaining a second embodiment of the impedance measuring apparatus according to the present invention. Components having the same functions as those in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals. The difference from the first embodiment shown in FIG. 1 is that the point B which is the threshold voltage of the comparator 17 is connected to the second DC power source 4 that generates a positive DC voltage via SW5. The signal waveform diagram, the flowchart, and the look-up table stored in the recording apparatus are the same as those in the first embodiment.

本実施例2において、SW5は第2の直流電源4に接続されており、コンパレータ17の閾値電圧発生電源18をなくして、測定対象のインピーダンス素子1に印加する正の一定直流電圧を用いていることが特徴である。このため、実施例1よりもさらに低コストでインピーダンス測定装置を提供することができる。   In the second embodiment, SW5 is connected to the second DC power supply 4, and the threshold voltage generating power supply 18 of the comparator 17 is eliminated, and a positive constant DC voltage applied to the impedance element 1 to be measured is used. It is a feature. For this reason, an impedance measuring device can be provided at a lower cost than in the first embodiment.

本発明のインピーダンス測定装置の実施例1を説明するための構成図である。It is a block diagram for demonstrating Example 1 of the impedance measuring apparatus of this invention. 図1における回路構成の各信号波形を示す図である。It is a figure which shows each signal waveform of the circuit structure in FIG. 実施例1のインピーダンス測定装置の動作を説明するためのフローチャートを示す図である。It is a figure which shows the flowchart for demonstrating operation | movement of the impedance measuring apparatus of Example 1. FIG. 記憶装置に格納されたルックアップテーブルを示す図である。It is a figure which shows the look-up table stored in the memory | storage device. 本発明のインピーダンス測定装置の実施例2を説明するための構成図である。It is a block diagram for demonstrating Example 2 of the impedance measuring apparatus of this invention. 従来のインピーダンス測定装置を説明するための構成図である。It is a block diagram for demonstrating the conventional impedance measuring apparatus.

符号の説明Explanation of symbols

1 被測定対象のインピーダンス素子
2 コンデンサ
3 負の一定直流電圧を発生する第1の直流電源
4 正の一定直流電圧を発生する第2の直流電源
5 充放電回数カウンタ
6 コントローラ
7 記憶装置(ROM)
8 測定用カウンタ
9 測定用クロック発生装置
10 オペアンプ
11〜16 第1〜第6のアナログスイッチSW1〜SW6
17 コンパレータ
18 閾値電圧発生電源
20 演算装置
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Impedance element to be measured 2 Capacitor 3 First DC power source 4 that generates a negative constant DC voltage Second DC power source 5 that generates a positive constant DC voltage 5 Charge / discharge counter 6 Controller 7 Storage device (ROM)
8 Counter for Measurement 9 Clock Generator for Measurement 10 Operational Amplifiers 11 to 16 First to Sixth Analog Switches SW1 to SW6
17 Comparator 18 Threshold Voltage Generating Power Supply 20 Arithmetic Unit

Claims (8)

被測定対象である、所定のインピーダンスを持ったインピーダンス素子と、該インピーダンス素子に直列接続されたコンデンサと、前記インピーダンス素子と前記コンデンサからなる回路に負の一定直流電圧を印加して前記コンデンサを充電する第1の直流電圧発生手段と、前記コンデンサの端子電圧が正のしきい値電圧に達すると正の一定直流電圧を印加して前記コンデンサを放電する第2の直流電圧発生手段と、前記コンデンサの端子電圧が0ボルトに達すると、前記第1の直流電圧発生手段により再び負の一定直流電圧を印加して前記コンデンサを充電し、この充放電時間を測定するカウント手段と、該カウント手段による測定値から前記インピーダンス素子のインピーダンスを演算する演算手段とを備え、充放電回数を可変にすることで、広い範囲のインピーダンスを測定可能にしたことを特徴とするインピーダンス測定装置。   Charge the capacitor by applying a negative constant DC voltage to an impedance element to be measured having a predetermined impedance, a capacitor connected in series to the impedance element, and a circuit including the impedance element and the capacitor. First DC voltage generating means, second DC voltage generating means for discharging the capacitor by applying a positive constant DC voltage when the terminal voltage of the capacitor reaches a positive threshold voltage, and the capacitor When the terminal voltage reaches 0 volts, the first DC voltage generating means applies a negative constant DC voltage again to charge the capacitor, and the counting means measures the charge / discharge time, and the counting means Calculation means for calculating the impedance of the impedance element from the measured value, and making the number of charge / discharge cycles variable. In the impedance measuring device being characterized in that to allow measuring the impedance of the wide range. 前記コンデンサは、低容量のコンデンサを1つ設けたものであることを特徴とする請求項1に記載のインピーダンス測定装置。   The impedance measuring apparatus according to claim 1, wherein the capacitor is provided with one low-capacitance capacitor. 前記インピーダンス素子のインピーダンス測定時に、測定対象を流れる電流を正と負の双方向とし、正電流が流れるときと負電流が流れるときの平均値を測定することを特徴とする請求項1又は2に記載のインピーダンス測定装置。   3. The impedance value of the impedance element is measured by measuring an average value when a positive current flows and a negative current when the current flowing through the measurement target is bidirectional between positive and negative. The impedance measuring apparatus described. 前記インピーダンス素子を破壊することなくインピーダンスを測定するために、測定時に前記インピーダンス素子を流れる直流電流を平均すると0になるようにしたことを特徴とする請求項1,2又は3に記載のインピーダンス測定装置。   4. The impedance measurement according to claim 1, wherein the direct current flowing through the impedance element is averaged to be zero during measurement in order to measure the impedance without destroying the impedance element. apparatus. 前記カウント手段が、充放電カウンタ及び測定用カウンタからなり、前記充放電カウンタ及び測定用カウンタの値から、前記演算手段を構成する記憶手段に格納されたルックアップテーブルを検索することを特徴とする請求項1乃至4のいずれかに記載のインピーダンス測定装置。   The counting means includes a charge / discharge counter and a measurement counter, and searches a lookup table stored in a storage means constituting the calculation means from values of the charge / discharge counter and the measurement counter. The impedance measuring apparatus according to claim 1. 離散的な前記ルックアップテーブルの各点を線形演算で近似することを特徴とする請求項5に記載のインピーダンス測定装置。   The impedance measuring apparatus according to claim 5, wherein each point of the discrete lookup table is approximated by a linear operation. 前記カウント手段の前段に、前記コンデンサの充電電圧値と閾値電圧とを比較する比較手段を設けたことを特徴とする請求項1乃至6のいずれかに記載のインピーダンス測定装置。   7. The impedance measuring apparatus according to claim 1, further comprising a comparison unit that compares a charging voltage value of the capacitor and a threshold voltage before the counting unit. 前記比較手段の閾値電圧の代わりに、前記第2の直流電源からの正の一定直流電圧を用いたことを特徴とする請求項7に記載のインピーダンス測定装置。   8. The impedance measuring apparatus according to claim 7, wherein a positive constant DC voltage from the second DC power supply is used in place of the threshold voltage of the comparison means.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2012036234A1 (en) * 2010-09-16 2012-03-22 東日本旅客鉄道株式会社 Environmental information measurement device, environmental information measurement system, and environmental information measurement method
CN105277795A (en) * 2015-10-10 2016-01-27 安徽中普盛德电子科技有限公司 Grounding impedance monitoring collecting analyzer
WO2021090669A1 (en) * 2019-11-08 2021-05-14 日立Astemo株式会社 Humidity sensor diagnosis device

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62261968A (en) * 1986-05-09 1987-11-14 Yokogawa Electric Corp Measuring instrument for physical quantity
JPS63163179A (en) * 1986-12-25 1988-07-06 Canon Inc Resistance value measuring circuit
JPH05149905A (en) * 1991-12-02 1993-06-15 Canon Inc Measuring apparatus
JPH09193437A (en) * 1995-11-16 1997-07-29 Fuji Photo Film Co Ltd Method and device for measurement of thermal head resistance data and thermal printer equipped with the device
JP2001153903A (en) * 1999-11-30 2001-06-08 Hioki Ee Corp Method and apparatus for measuring resistance
JP2003083044A (en) * 2001-09-07 2003-03-19 Honda Motor Co Ltd Deterioration determining device for adsorbent
JP2004125460A (en) * 2002-09-30 2004-04-22 Nitto Denko Corp Sheet resistance value measuring apparatus and measuring method

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62261968A (en) * 1986-05-09 1987-11-14 Yokogawa Electric Corp Measuring instrument for physical quantity
JPS63163179A (en) * 1986-12-25 1988-07-06 Canon Inc Resistance value measuring circuit
JPH05149905A (en) * 1991-12-02 1993-06-15 Canon Inc Measuring apparatus
JPH09193437A (en) * 1995-11-16 1997-07-29 Fuji Photo Film Co Ltd Method and device for measurement of thermal head resistance data and thermal printer equipped with the device
JP2001153903A (en) * 1999-11-30 2001-06-08 Hioki Ee Corp Method and apparatus for measuring resistance
JP2003083044A (en) * 2001-09-07 2003-03-19 Honda Motor Co Ltd Deterioration determining device for adsorbent
JP2004125460A (en) * 2002-09-30 2004-04-22 Nitto Denko Corp Sheet resistance value measuring apparatus and measuring method

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2012036234A1 (en) * 2010-09-16 2012-03-22 東日本旅客鉄道株式会社 Environmental information measurement device, environmental information measurement system, and environmental information measurement method
JP2012064035A (en) * 2010-09-16 2012-03-29 East Japan Railway Co Environmental information measuring device, environmental information measuring system and environmental information measuring method
CN105277795A (en) * 2015-10-10 2016-01-27 安徽中普盛德电子科技有限公司 Grounding impedance monitoring collecting analyzer
CN105277795B (en) * 2015-10-10 2019-02-26 安徽天玄智能科技有限公司 A kind of impedance ground monitoring acquisition and analysis instrument
WO2021090669A1 (en) * 2019-11-08 2021-05-14 日立Astemo株式会社 Humidity sensor diagnosis device

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