JP2006129221A - 相関二重サンプリング回路 - Google Patents

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Abstract


【課題】 消費電力の増大を招くこと無く、広帯域に精度良くサンプリングを行うことができる相関二重サンプリング回路を提供する。
【解決手段】 この相関二重サンプリング回路によれば、第1,第2の入力端子VIP,VIMから信号が入ってくる直前までのある一定の期間Trstに、第3のスイッチE101を導通させて、演算増幅器E103の正相入力端子と逆相入力端子との間を強制的にショート(短絡)させることによって、第3のスイッチE101によって、演算増幅器E103に対して、強制的な仮想ショートを実行できる。これにより、演算増幅器E103がセトリングする必要が無くなる結果、セトリング時間に起因して消費電力が増大することを回避でき、低消費電力と信号応答性の向上を図れる。
【選択図】 図1

Description

この発明は、固体撮像素子(CCD)からの信号出力のサンプリング精度の向上と、サンプリング回路自体の消費電力を抑えることの両立を目的とした、相関2重サンプリング(CDS)回路に関する。
従来、固体撮像素子が出力するアナログ信号を、CDS(相関二重サンプリング(Correlated Double Sampling))回路で処理し、後段のPGA(プログラマブル・ゲイン・アンプリファイア(Programmable Gain Amplifier))回路で増幅し、さらに、後段のADC(アナログデジタルコンバータ(Analog to Digital Converter))回路でデジタル信号化するようなシステムが提案されている(特開2003−204487号公報参照)。
ここで、固体撮像素子として、CCD(チャージ・カップルド・デバイス(Charge Coupled Device):以下CCDという)を用いる場合を考え、このCCDの信号出力部で信号を出力するシーケンスを、図8〜図12に示す。
まず、図8に示すように、CCDは、信号電荷をある一定のポテンシャルに、信号パケット202として保持し、寄生容量203に信号電荷を送り込むことによって信号読出しを行っている。信号の読み出しが終わると、次の信号パケット読出しのためにリセット動作に入る。
このリセット動作の状態を、図8に示す。寄生容量203に溜まった信号電荷をリセット電圧204によって抜き取るために、リセットゲート205に印加する電圧φRがオン状態になり、リセットゲート205が導通状態になっている。この際、リセットゲート205のチャネルには、チャネル電荷201が形成される。その後、寄生容量203の信号電荷が完全に抜き取られると、図9に示すように、リセットレベルVrが寄生容量203の電圧Viとして、出力バッファ206へ出力される。
次に、リセットゲート205に印加する電圧φRをオフにすると、図10に示すように、リセットゲート205のチャネル電荷が、フィードスルーノイズとなって寄生容量203に蓄積されるので、出力電圧Viは、フィードスルーレベルVfとなる。
上記のように、リセットゲート205で構成するスイッチをオフにしたことで、フィードスルーによって寄生容量203に蓄積された電荷量は、熱雑音や1/f雑音等の影響を受けるため、ランダムな量になる。
しかしながら、図11、図12に示すように、最終的に、信号パケット202を寄生容量203に注入する際に、フィードスルー雑音に信号パケット202を重畳することになるので、フィードスルーレベルVfと、CCD信号レベルVdとの差分を取れば、純粋な信号のみを抽出できることが分かる。
すなわち、CCD出力信号ViのフィードスルーレベルVfをサンプリングし、CCD信号レベルVdをサンプリングし、両者の差分を得るような信号処理によって、熱雑音および、1/f雑音の極めて少ない信号を得ることができる。このような信号処理手段を、CDS(相関2重サンプリング(Correlated Double Sampling))と一般に呼んでいる。
次に、図13に、CCDのアナログフロントエンド(Analog Front End : 以後 AFEと呼ぶ)のブロック図を示す。上記のCCD出力信号102は、CDS回路103へと送られ、相関2重サンプリング動作によって、CCDのリセット動作に伴うリセット雑音(フィードスルー雑音、熱雑音、1/f雑音を含む)が除去される。次に、PGA回路105へPGA入力信号104が送られ、適当な信号量に増幅される。一般的には、ダイナミックレンジが大きく取れるように、後段のAD変換器106のリファレンスレベルに適合するように、信号が増幅される。
一方、CDS回路103の出力は、相関2重サンプリングされた値であるので、DCレベルが確定している訳ではない。DCレベルは、「黒レベル」と呼ばれる、CCDの遮光領域の画素出力値を検出することで決定できる。
この黒レベルを検出する動作は、図13において、黒レベル加算器108とDAC(デジタルアナログコンバータ)109とDAC出力加算器113で構成する黒レベル検出ループで行われる。図14に示すように、CDS出力信号レベル102-levから、検出された量を引き算すること(111-lev)で、黒レベルをDC値としたPGA入力信号104の量104-levに変換される。その後、信号は、PGA回路105で増幅されて、AD変換器入力信号110のレベル110-levとなり、AD変換器106のリファレンスレベル106-levと比較されることによって、AD出力コードとなってデジタルデータ107がデジタル信号処理回路112に出力される。
次に、図15に、CDS回路103の構成を示す。このCDS回路103では、CCD101から出力された波形は、エミッタフォロワ部C01でバッファリングされ、結合容量C02a,C02bを経由して、CDS入力端子であるノードC03a,C03b以降のCDS回路103へと送られる。
ここで、ノードC03a,C03bはフローティングノードであるので、DC電圧源C08によるある一定のDC電圧レベルVcで、定期的にDCリストア動作がなされる。この動作は、クランプスイッチC09a,C09bを導通状態にすることで、フローティングノードC03a,C03bを、DC電圧源C08で定期的に充電することで行われる。なお、このDCリストア動作を行わないと、ノードC03a,C03bが電気的にフローティングであることから、DCレベルが変動して、このノードに乗っているAC信号の一部が検出不可能なレベルに達してしまう。したがって、この現象を防ぐために、DCリストア動作を行っている。
CDS回路103は、図16に示す動作シーケンスで動作を行う。CCD101は、一定の時間幅Tで、1画素分の信号出力を行う。CCD出力信号102は、CCD101のリセット動作に伴うフィードスルーレベルVfに引き続いて、CCD信号レベルVdが出力され、正味の信号量は図16にVsig(=Vf−Vd)で示す値となる。
CCD出力信号102が、CDS回路103のフローティングノードC03a,C03bに入力されると、タイミング時刻t1において、電位(フィードスルーレベル)Vfがサンプリング容量C04a,C04bにサンプリングされる。
このサンプリングは、図16に示す時間Sampleの間、スイッチSW1,SW2が導通し、ノードvirtpとノードvirtmとが仮想接地電位Vxとなるので、それぞれのノードvirtp,virtmには、それぞれ、次式(1),(2)で表される電荷Qp(t1),Qm(t1)が充電される。
Qp(t1)=Cs(Vx(t1)−Vf) …(1)
Qm(t1)=Cs(Vx(t1)−Vc) …(2)
上式(1)、(2)において、Csはサンプリング容量C04a,C04bの静電容量であり、Vcは電圧源C08が出力する電圧である。なお、仮想接地電位は、オペアンプ(演算増幅器)で用いられる用語であり、イマジナリショートとも呼ばれ、その二つの(正相、逆相)入力が同じ電位になることを示す。
すなわち、ノードvirtpとノードvirtmに蓄えられた電荷の差分Qd(t1)は、
Qd(t1)=Qp(t1)−Qm(t1)=Cs(Vc−Vf) …(3)
となる。
そして、図16の時刻t1 において、スイッチSW1,SW2の導通がオフになることによって、ノードvirtpおよびvirtmは、ハイ・インピーダンス状態となる。これにより、式(3)による電荷の差分Qd(t1)は容量Csのサンプリング容量C04a,C04bにサンプリングされる。
図16に示すように、時刻t1に引き続く期間Amplifyにおいて、CDS回路103は、容量Csのサンプリング容量C04a,C04bにサンプリングされた信号電荷を容量Cfのフィードバック容量C05a,C05bに転送しつつ、CCD出力信号自体を反転増幅する。
次に、時刻t2において、ノードvirtpおよびvirtmは仮想ショートが成立し、Vx(t2)電位になっており、出力ノードVOP、VOMにはそれぞれ電位VOP、電位VOMが現れているとすると、それぞれのノードvirtp、virtmには、次の電荷が充電される。
Qp(t2)=Cs(Vx(t2)−Vd)+Cf(Vx(t2)−VOP) …(4)
Qm(t2)=Cs(Vx(t2)−Vc)+Cf(Vx(t2)−VOM) …(5)
すなわち、ノードvirtpとノードvirtmに蓄えられた電荷の差分Qd(t2)は、
Qd(t2)=Qp(t2)−Qm(t2)
=Cs(Vc−Vd)+Cf(VOM(t2)−VOP(t2)) …(6)
となる。時刻t1とt2では、ノードvirtpおよびvirtmの電荷が保持されることから、Qd(t1)=Qd(t2)となる。すなわち、CDS回路103の出力電位VOPとVOMの差分値Vodは、式(3)=式(6)を解くことによって、次式(7)のようになる。
Vod(t2)=VOP(t2)−VOM(t2)=(Cs/Cf)×(Vf−Vd) …(7)
ここで、Vsig=Vf−Vdであるから、次式(8)を得る。
Vod(t2)=(Cs/Cf)×Vsig …(8)
式(8)は、CDS回路103の出力に、相関2重サンプリングを行った値Vsigが(Cs/Cf)倍して得られていることを表している。
ところで、上式(8)までの導出では、CDS回路103のノードvirtpおよびvirtmが仮想ショートするという仮定が必要であった。
しかし、実際には、演算増幅器(OTA(Operational Transconductance Amplifier))C07がサンプル期間Sample、およびホールド期間Holdの間でセトリングして仮想ショートを成立させる必要がある。
通常、期間T3に比べて期間T2が短く、演算増幅器(OTA)C07のセトリング要求は、期間T2の方が厳しい。つまり、フィールドスルーレベル電位Vfをサンプリングする際の仮想ショートのセトリング精度が問題となる。
なお、セトリングとは、例えば、コンデンサーをある電圧に充電する時のように、その電圧が有限の時間で徐々に変化していく状態、つまり、ある値に限りなく近づいて行く(収束してゆく)途中の状態を表す。
ここで、図17(A)に図16の期間T2でのCDS回路103の等価回路を示し、図17(B)に図17(A)の等価回路を簡略化した回路を示す。また、図7に、上記演算増幅器(OTA)C07の等価回路を示す。
図15に示すノードVxの時定数τは、演算増幅器(OTA)C07の差動コンダクタンスをGmとすると、次式(9)で表される。なお、伝送線は等価的に抵抗RとコンデンサCとで表現できるが、その積が時定数である。この場合、時定数はAC信号が入力された時に、その伝送線の応答速度の目安となるものである。当然、伝送線の時定数は値が小さい方が応答速度が速く、望ましい。
τ=Cs/Gm …(9)
図7に示すように、Idsは、演算増幅器(OTA)C07の差動入力トランジスタに流すバイアス電流であり、Vdsatは、上記差動入力トランジスタに印加するオーバードライブ電圧である。
このバイアス電流Idsとオーバードライブ電圧Vdsatを用いると、上記差動コンダクタンスGmは、式(10)のように書ける。
Gm=2×Ids/Vdsat …(10)
この式(10)を式(9)に代入して、次式(11)が得られる。
τ=Cs×Vdsat/(2×Ids) …(11)
入力信号をサンプリングすることに対して、広帯域に信号をサンプリングしようとするならば、時定数τを十分に小さくする必要がある。
この時定数τを小さくするためには、オーバードライブ電圧Vdsat、サンプリング容量Csを小さくするか、もしくは、演算増幅器(OTA)のバイアス電流Idsを大きくする方法が考えられる。
この際、オーバードライブ電圧Vdsatは、トランジスタの強反転動作を保証するためには、ある一定の大きさに保つ必要がある。また、サンプリング容量Csの容量値とサンプルされる信号のSN比とは相関関係を持つ。このSN比を大きくするためには、サンプリング時に発生するKT/C雑音を小さく保つ必要があり、サンプリング容量Csの容量値はある一定の大きさ以上を取る必要がある。
上述のことから、オーバードライブ電圧Vdsat、サンプリング容量Csを小さくするのは困難であり、ノードVxの時定数τを十分に小さくするためには、演算増幅器(OTA)のバイアス電流Idsを大きく取らざるを得なくなる。結局、回路(伝送路)の応答性を上げるためには、通常、その系に大電流を流すしかなかった。すなわち、広帯域に精度良くサンプリングを行うためには、消費電力の増大を招いてしまうという問題がある。
特開2003−204487号公報
そこで、この発明の課題は、消費電力の増大を招くこと無く、広帯域に精度良くサンプリングを行うことができる相関二重サンプリング回路を提供することにある。
上記課題を解決するため、この発明の相関二重サンプリング回路は、第1および第2の入力端子と、
第1および第2の出力端子と、
上記第1の入力端子に逆相入力端子が接続され、上記第2の入力端子に正相入力端子が接続され、上記第1の出力端子に正相出力端子が接続され、上記第2の出力端子に逆相出力端子が接続された演算増幅器と、
上記第1の入力端子と上記逆相入力端子との間に接続された第1のサンプリング容量と、
上記第2の入力端子と上記正相入力端子との間に接続された第2のサンプリング容量と、
上記逆相入力端子と上記正相出力端子との間に接続された第1のフィードバック容量と、
上記正相入力端子と上記逆相出力端子との間に接続された第2のフィードバック容量と、
上記逆相入力端子と上記正相出力端子との間に接続された第1のスイッチと、
上記正相入力端子と上記逆相出力端子との間に接続された第2のスイッチと、
上記正相入力端子と逆相入力端子との間に接続された第3のスイッチとを備えることを特徴としている。
この発明によれば、上記第1、第2の入力端子から信号が入ってくる直前までのある一定の期間に、上記第3のスイッチを導通させて、上記演算増幅器の正相入力端子と逆相入力端子との間を強制的にショート(短絡)させことによって、第3のスイッチによって、上記演算増幅器に対して、強制的な仮想ショートを実行できる。これにより、演算増幅器がセトリングする必要が無くなる結果、上記演算増幅器はセトリング時間に起因して消費電力が増大することを回避でき、低消費電力と信号応答性の向上を図れる。したがって、この発明の相関二重サンプリング回路によれば、消費電力の増大を招くこと無く、広帯域に精度良くサンプリングを行うことができる。
また、一実施形態の相関二重サンプリング回路は、上記第1および第2のスイッチが導通している導通期間のうちのすくなくとも前半に、上記第3のスイッチを導通させる制御部を備えた。
この実施形態の相関二重サンプリング回路では、上記第1、第2のスイッチが導通している導通期間(オートゼロ期間)の前半に第3のスイッチを導通させて、演算増幅器を確実に仮想ショートさせることができる。
また、一実施形態の相関二重サンプリング回路は、第1および第2の入力端子と、
第1および第2の出力端子と、
上記第1の入力端子に逆相入力端子が接続され、上記第2の入力端子に正相入力端子が接続された第1の演算増幅器と、
上記第1の入力端子と上記第1の演算増幅器の逆相入力端子との間に接続された第1のサンプリング容量と、
上記第2の入力端子と上記第1の演算増幅器の正相入力端子との間に接続された第2のサンプリング容量と、
上記第1の演算増幅器の逆相入力端子と正相出力端子との間に接続された第1のスイッチと、
上記第1の演算増幅器の正相入力端子と逆相出力端子との間に接続された第2のスイッチと、
上記第1の演算増幅器の正相入力端子と逆相入力端子との間に接続された第3のスイッチと、
上記第1の演算増幅器の正相出力端子に正相入力端子が接続され、上記第1の演算増幅器の逆相出力端子に逆相入力端子が接続され、上記第1の出力端子に正相出力端子が接続され、上記第2の出力端子に逆相出力端子が接続された第2の演算増幅器と、
上記第1の出力端子と上記第1の演算増幅器の逆相入力端子との間に接続された第1のフィードバック容量と、
上記第2の出力端子と上記第1の演算増幅器の正相入力端子との間に接続された第2のフィードバック容量と、
上記第2の演算増幅器の逆相入力端子と正相出力端子との間に接続された第1の位相補償容量と、
上記第2の演算増幅器の正相入力端子と逆相出力端子との間に接続された第2の位相補償容量と、
上記第2の演算増幅器の逆相入力端子と正相入力端子との間に接続された第4のスイッチとを備えた。
この実施形態では、上記第1、第2のスイッチが導通する導通期間(オートゼロ期間)に、上記第4のスイッチを導通させることで、上記第1、第2の位相補償容量をリセットすると共に、上記第2の演算増幅器の逆相入力端子と正相入力端子とを短絡する。これにより、第1の演算増幅器による仮想ショートのためのセトリングに要する時間を短縮でき、結果的に、第1の演算増幅器の低消費電力化を図れる。
この発明の相関二重サンプリング回路によれば、第1、第2の入力端子から信号が入ってくる直前までのある一定の期間に、第3のスイッチを導通させて、演算増幅器の正相入力端子と逆相入力端子との間を強制的にショート(短絡)させることによって、第3のスイッチによって、上記演算増幅器に対して、強制的な仮想ショートを実行できる。これにより、演算増幅器がセトリングする必要が無くなる結果、上記演算増幅器はセトリング時間に起因して消費電力が増大することを回避でき、低消費電力と信号応答性の向上を図れる。したがって、この発明によれば、消費電力の増大を招くこと無く、広帯域に精度良くサンプリングを行うことができる。
以下、この発明を図示の実施の形態により詳細に説明する。
まず、この発明の概要を、図1および図2に示す一例を参照して説明する。図1に示すこの発明の相関二重サンプリング回路の一例であるCDS回路は、ノードVx1とノードVx2との間に強制的に仮想ショートを実行する第3のスイッチとしてのスイッチD01を接続した点が、図15に示す前述のCDS回路と相違している。したがって、この一例では、図15と共通の部分には同一の符号を付して、図15のCDS回路と異なる部分を重点的に説明する。なお、スイッチD01はトランジスタ等のスイッチ素子で構成できる。
この一例では、上記強制的に仮想ショートを実行するスイッチD01は、図16(2)におけるサンプリング期間Sampleにおいて導通させる。この導通時のCDS回路の等価回路を図2(A)に示す。また、図2(B)に、図2(A)に示す等価回路を簡略した回路を示す。
図2(A)に示すノードVxの時定数τは、強制的に仮想ショートを実行するスイッチD01を導通させた時のオン抵抗値をRonとすると、次式(12)で示される。なお、Gmは演算増幅器C07の差動コンダクタンスである。
τ=Cs×(Ron//(1/Gm)) …(12)
この式(12)において、記号「//」はRonと(1/Gm)との並列抵抗を表している。また、Ron << 1/Gm であるから、次式(13)が成り立つ。
τ≒Cs×Ron …(13)
この式(13)より、サンプリングするノードVxの時定数τが、演算増幅器C07の差動コンダクタンスGm(∝電力)とは無関係に決定できることが分かる。すなわち、演算増幅器(OTA)C07の差動コンダクタンスGmを小さくした場合(つまり低消費電力にした場合)にも、スイッチD01のオン抵抗を下げることによって、サンプリングの時定数τを十分に小さくすることができる。
このように、本発明のCDS回路によれば、消費電力の増大を招くこと無く、広帯域に精度良くサンプリングを行うことができる。
(第1の実施の形態)
次に、図3に、この発明の相関二重サンプリング回路の第1実施形態を示す。この第1実施形態のCDS回路は、演算増幅器E103と、この演算増幅器E103の正相出力端子に接続された第1の出力端子VOPと、演算増幅器E103の逆相出力端子に接続された第2の出力端子VOMとを有する。
この演算増幅器E103の逆相入力端子は、オフセット電圧Vosを発生するオフセット電圧源E102を経由してノードvirtpに接続され、演算増幅器E103の正相入力端子はノードvirtmに接続されている。このオフセット電圧Vosは演算増幅器E102の入力換算オフセット電位である。
また、上記ノードvirtpと第1の入力端子VIPとの間には第1のサンプリング容量Cs1が接続され、上記ノードvirtmと第2の入力端子VIMとの間には第2のサンプリング容量Cs2が接続されている。そして、上記ノードvirtpとノードvirtmとの間には、第3のスイッチとしての強制ショートスイッチE101が接続されている。このスイッチE101はトランジスタ等のスイッチ素子で構成できる。
また、上記ノードvirtpと上記正相出力端子との間には、第1のスイッチSW1と第1のフィードバック容量Cf1とが並列接続されている。また、上記ノードvirtmと上記逆相出力端子との間には、第2のスイッチSW2と第2のフィードバック容量Cf2とが並列接続されている。このスイッチSW1,SW2はトランジスタ等のスイッチ素子で構成できる。
次に、上記構成のCDS回路の動作を、図4に示す動作シーケンスを参照して説明する。この図4(2)の上から2番目に示すスイッチ駆動波形は、図3に示すスイッチ制御部31が、上記強制ショートスイッチE101の導通と非導通とを制御するスイッチ制御信号の波形であり、この波形がHレベルのときに、スイッチE101が導通し、この波形がLレベルのときにスイッチE101が非導通となる。また、図4(2)の上から3番目に示すスイッチ駆動波形は、図3のスイッチ制御部31が、上記第1のスイッチSW1と第2のスイッチSW2の導通と非導通とを制御するスイッチ制御信号の波形であり、この波形がHレベルのときにスイッチSW1,SW2が導通し、この波形がLレベルのときにスイッチSW1,SW2が非導通となる。なお、図4(2)の上から1番目に示す波形は、クロック信号波形である。
図4(2)の上から2番目のスイッチ駆動波形に示すように、図3のCDS回路が有するスイッチE101は、スイッチE101は、リセット期間Trstにおいて導通状態となると共に、リセット期間Trst以外では非導通状態となる。
また、図4(2)の上から3番目のスイッチ駆動波形に示すように、図3のCDS回路が有するスイッチSW1およびSW2は、SWオン期間Tswonにおいて導通し、SWオフ期間Tswoffにおいて非導通となる。
したがって、リセット期間Trstでは、図3に示すノードvirtp,virtmは、スイッチE101による強制的なショートの状態となる。なお、このリセット期間TrstでのCDS回路の等価回路を図5(A)に示す。
したがって、この第1実施形態のCDS回路は、図4に示すCCDのリセット期間Trst、および、CCDのフィードスルー期間Tccdfthの信号が入力されるタイミングにおいて、演算増幅器(OTA)E103が仮想ショート状態にセトリングを行う必要が無くなる。このことは、演算増幅器(OTA)E103の設計上、極めて有効となる。その理由を以下に述べる。
すなわち、図4(1)に示すCCD出力波形のリセット期間Tccdrst、およびフィードスルー期間Tccdfthは、1画素周期Tに比べて極めて短い時間であるが、この短い時間の内に、演算増幅器E103が、CCD出力波形に追従しながら仮想ショート状態にセトリングする場合には非常に多くの電流を消費することになる。つまり、スイッチE101を、リセット期間Trstで導通状態にさせる作用は、低消費電力なCDS回路を実現できることを意味している。
続いて、この実施形態のCDS回路は、図4の動作シーケンスにおけるサンプル期間Tsmpになると、CCD出力波形のフィードスルーレベルVfおよび、演算増幅器E103のオフセット電圧をサンプリング容量Cs1,Cs2にサンプリングする動作を行う。
この動作を、図5(B)に示すサンプル期間の等価回路を用いて説明する。この等価回路では、演算増幅器E103のオフセットおよびフリッカー雑音の入力換算値を、電圧源E102によるオフセット電圧Vosとする。また、演算増幅器E103が有するDCゲインをAとすると、2つのノード、virtp−virtm間には、式(14)のような電圧Vxが現れる。
Vx=−(A/(1+A)×Vos … (14)
ここで、演算増幅器E103のDCゲインAは通常十分な大きさがあり、1≪Aであるので、
Vx≒−Vos … (15)
式(15)より、図5(B)の電圧源E102による入力換算オフセット電圧Vosと逆極性の電圧Vxが、ノードvirtpとvirtmとの間に得られており、この電圧Vxがサンプリング容量Cs1,Cs2にサンプルされる。このため、電圧源E102による入力換算オフセット電圧Vosは、上記電圧Vxによって打ち消されてCDS回路の出力には出てこなくなる。
続いて、このCDS回路は、図4の動作シーケンスにおけるSWオフ期間Tswoffになると、図3に示すスイッチSW1とSW2が非導通となり、図5(C)に示す等価回路の状態になる。この信号処理によって、このCDS回路の出力端子VOP,VOMには、次式(16)で表されるように、相関2重サンプリングした電圧値が得られる。式(16)において、VOPは出力端子VOPに現れる電位を表し、VOMは出力端子VOMに現れる電位を表し、Csはサンプリング容量Cs1,Cs2の静電容量値を表し、Cfは、フィードバック容量Cf1,Cf2の静電容量値を表している。また、式(16)において、Vfは図4(1)のフィードスルーレベルVf、Vdは図4(1)のCCD信号レベルVdである。
VOP−VOM=(Cs/Cf)×(Vf−Vd) … (16)
上述のように、この第1実施形態のCDS回路は、図4に示すCDS動作シーケンスで駆動することによって、演算増幅器E103のセトリング要求を緩和しながら、演算増幅器E103のオフセットおよびフリッカーノイズをキャンセルしつつ、入力信号の相関2重サンプリングを実行できる。
(第2の実施の形態)
次に、図6に、この発明の相関二重サンプリング回路の第2実施形態としてのCDS回路を示す。
図6に示すように、この第2実施形態のCDS回路は、2段に継続接続した演算増幅器(OTA)E103,E106を備える。この2段に継続接続した演算増幅器は、2ステージオペアンプと呼ばれる。なお、この演算増幅器をさらに多段に継続接続してもよい。一般に、2ステージオペアンプでは、安定動作を保証するために、位相補償容量Ccを備えている。
この第2実施形態では、前述の第1実施形態と異なる点を説明する。
図6に示すように、この第2実施形態のCDS回路は、図3の第1実施形態のCDS回路の演算増幅器E103の正相側出力端子VOPを、演算増幅器E106の正相側入力端子VIMsに接続している。また、演算増幅器E103の逆相側出力端子VOMを、演算増幅器E106の正相側入力端子VIPsに接続している。
また、この第2実施形態では、図3の第1実施形態における第1のフィードバック容量Cf1は、一端がノードvirtpに接続され、他端が1極2投型のスイッチSW11とノードNr1を経由して演算増幅器E106の正相出力端子に接続されている。
また、図3の第1実施形態における第2のフィードバック容量Cf2は、一端がノードvirtmに接続され、他端が1極2投型のスイッチSW12とノードNr2を経由して演算増幅器E106の逆相出力端子に接続されている。
この演算増幅器E106の逆相入力端子と正相出力端子との間には位相補償容量Cc1が接続され、演算増幅器E106の正相入力端子と逆相出力端子との間には位相補償容量Cc2が接続されている。
また、上記逆相側入力端子VIPと位相補償容量Cc1との間のノードvmpと、上記正相側入力端子VIMと位相補償容量Cc2との間のノードvmmとの間に、リセット用スイッチE104が接続されている。さらに、演算増幅器E106の正相側出力端子に連なるノードNr1と演算増幅器E106の逆相側出力端子に連なるノードNr2との間には、リセット用スイッチE105が接続されている。
次に、この第2実施形態の動作を、図4のCDS動作シーケンス図を参照して説明する。
図4(2)の上から2番目のスイッチ駆動波形に示すように、上記リセット用スイッチE101、E104、E105はリセット期間Trstで導通状態になる一方、上記リセット期間Trst以外では非導通状態になる。また、図4(2)の上から3番目のスイッチ駆動波形に示すように、スイッチSW1とSW2は、SWオン期間Tswonで導通状態となる一方、SWオフ期間Tswoffで非導通状態となる。上記各スイッチ駆動波形のスイッチ制御信号は、スイッチ制御部61から各スイッチE101、E104、E105およびSW1,SW2に出力される。
この第2実施形態においてポイントとなるのは、位相補償容量Cc1およびCc2をリセットするリセット用スイッチE104、およびリセット用スイッチE105を備えていて、これらのリセット用スイッチE104,E105が、図4(2)のリセット期間Trstで導通状態になる点である。このリセット用スイッチE104,E105は、図6に示すスイッチ制御部61から、図4(2)に示す上から2番目のスイッチ駆動波形に対応する制御信号が入力されることで導通と非導通とが制御される。
この点について、以下に詳細に説明する。
2ステージオペアンプが信号の増幅を行う際に、2ステージ目の演算増幅器E106のDCゲインをA2とすると、位相補償容量Cc1およびCc2に連なるノードvmpおよびvmmは、次式(17)示すだけの電位差ΔVをもつ。なお、この式(17)では、ノードvmpの電位をvmpとし、ノードvmmの電位をvmmとし、出力端子VOPsの電位をVOPとし、出力端子VOMsの電位をVOMとした。
ΔV=vmp−vmm=(VOP−VOM)/A2 … (17)
オートゼロ期間(つまり、図4(2)の上から3番目の波形におけるSWオン期間Tswon)に、1ステージ目の演算増幅器E103が仮想ショート状態にセトリングして、この式(17)による電位差を打ち消すように動作する。
この動作の際に、式(17)による電位差ΔVを、リセット用スイッチE104を導通させることで強制的に打ち消すことによって、1ステージ目の演算増幅器E103の仮想ショート動作に伴うセトリングの要求精度を緩和でき、すなわち、消費電力を小さくできるというメリットがある。
上記のように、この2ステージオペアンプを有する第2の実施形態のCDS回路では、位相補償容量Cc1とCc2をリセットするリセット用スイッチE104をリセット期間Trstで導通させる。これにより、1ステージ目の演算増幅器E103による仮想ショートのセトリング要求を緩和でき、結果的に1ステージ目の演算増幅器E103を低消費電力にすることが可能となる。
なお、上記第2実施形態では、演算増幅器を2段に接続したが2段以上に接続してもよい。
この発明の相関二重サンプリング回路の概要を説明するための回路図である。 図2(A)は図1の回路図において、スイッチD01が導通したときの等価回路を示す図であり、図2(B)は図2(A)の等価回路を簡略化した回路を示す図である。 この発明の相関二重サンプリング回路の第1実施形態を示す回路図である。 上記第1実施形態のCDS動作シーケンスを示す波形図である。 図5(A)はリセット期間TrstでのCDS回路の等価回路を示す図であり、図5(B)はサンプル期間TsmpでのCDS回路の等価回路を示す図であり、図5(C)はSWオフ期間TswoffでのCDS回路の等価回路を示す図である。 この発明の相関二重サンプリング回路の第2実施形態を示す回路図である。 演算増幅器(OTA)の回路図である。 CCDの第1の出力シーケンスを模式的に示す図である。 CCDの第2の出力シーケンスを模式的に示す図である。 CCDの第3の出力シーケンスを模式的に示す図である。 CCDの第4の出力シーケンスを模式的に示す図である。 CCDの第5の出力シーケンスを模式的に示す図である。 CCDのAFE(アナログフロントエンド)のブロック図である。 上記AFEのレベルダイアグラムを示す図である。 従来のCDS回路を示す回路図である。 従来のCDS回路の動作シーケンスを示す波形図である。 図17(A)は上記従来のCDS回路のサンプルモードにおける等価回路であり、図17(B)は図17(A)を簡略化した図である。
符号の説明
201 チャネル電荷
202 信号パケット
203 寄生容量
204 リセット電圧
205 リセットゲート
206 出力バッファ
Vr リセットレベル
Vf フィードスルーレベル
Vd CCD信号レベル
101 CCD
102 CCD出力信号
103 CDS回路
104 PGA入力信号
105 PGA回路
106 AD変換器
107 AD変換器出力デジタルデータ
108 黒レベル加算器
109 DAC
110 AD変換器入力信号
111 DAC出力
112 デジタル信号処理回路
102−lev CDS入力信号レベル
104−lev PGA入力信号レベル
110−lev ADC入力信号レベル
106−lev AD変換器リファレンスレベル
111−lev DAC出力引き算レベル
C01 エミッタフォロワ部
C02a,C02b AC結合容量
C03a,C03b CDS入力端子
C04a,C04b サンプリング容量
C05a,C05b フィードバック容量
SW1,SW2 オートゼロスイッチ
C07 演算増幅器
C08 DC電圧源
C09a,C09b クランプスイッチ
virtp,virtm 仮想ショートノード
T 1画素周期期間
T1 リセット期間
T2 フィードスルー期間
T3 信号出力期間
Vf フィードスルーレベル
Vd データレベル
Vsig 信号出力レベル
Sample サンプリング期間
Amplify アンプリファイ期間
VOP 正相出力ノード(電位)
VOM 逆相出力ノード(電位)
Vod 差分値(差動出力電圧レベル)
Vx 仮想ショート電位
Gm 演算増幅器の差動コンダクタンス
D01 強制ショートスイッチ
Ron 強制ショートスイッチのオン抵抗値
E101、E104、E105 リセット用スイッチ(強制ショートスイッチ)
E102 演算増幅器の入力換算オフセット電圧
E103,E106 演算増幅器
Cf1,Cf2 フィードバック容量
Trst リセット期間
Tswon SWオン期間
Tswoff SWオフ期間
Tccdfth CCDのフィードスルー期間
Cs1,Cs2 サンプリング容量
Cc1,Cc2 位相補償容量

Claims (3)

  1. 第1および第2の入力端子と、
    第1および第2の出力端子と、
    上記第1の入力端子に逆相入力端子が接続され、上記第2の入力端子に正相入力端子が接続され、上記第1の出力端子に正相出力端子が接続され、上記第2の出力端子に逆相出力端子が接続された演算増幅器と、
    上記第1の入力端子と上記逆相入力端子との間に接続された第1のサンプリング容量と、
    上記第2の入力端子と上記正相入力端子との間に接続された第2のサンプリング容量と、
    上記逆相入力端子と上記正相出力端子との間に接続された第1のフィードバック容量と、
    上記正相入力端子と上記逆相出力端子との間に接続された第2のフィードバック容量と、
    上記逆相入力端子と上記正相出力端子との間に接続された第1のスイッチと、
    上記正相入力端子と上記逆相出力端子との間に接続された第2のスイッチと、
    上記正相入力端子と逆相入力端子との間に接続された第3のスイッチとを備えることを特徴とする相関二重サンプリング回路。
  2. 請求項1に記載の相関二重サンプリング回路において、
    上記第1および第2のスイッチが導通している導通期間のうちのすくなくとも前半に、上記第3のスイッチを導通させる制御部を備えたことを特徴とする相関二重サンプリング回路。
  3. 第1および第2の入力端子と、
    第1および第2の出力端子と、
    上記第1の入力端子に逆相入力端子が接続され、上記第2の入力端子に正相入力端子が接続された第1の演算増幅器と、
    上記第1の入力端子と上記第1の演算増幅器の逆相入力端子との間に接続された第1のサンプリング容量と、
    上記第2の入力端子と上記第1の演算増幅器の正相入力端子との間に接続された第2のサンプリング容量と、
    上記第1の演算増幅器の逆相入力端子と正相出力端子との間に接続された第1のスイッチと、
    上記第1の演算増幅器の正相入力端子と逆相出力端子との間に接続された第2のスイッチと、
    上記第1の演算増幅器の正相入力端子と逆相入力端子との間に接続された第3のスイッチと、
    上記第1の演算増幅器の正相出力端子に正相入力端子が接続され、上記第1の演算増幅器の逆相出力端子に逆相入力端子が接続され、上記第1の出力端子に正相出力端子が接続され、上記第2の出力端子に逆相出力端子が接続された第2の演算増幅器と、
    上記第1の出力端子と上記第1の演算増幅器の逆相入力端子との間に接続された第1のフィードバック容量と、
    上記第2の出力端子と上記第1の演算増幅器の正相入力端子との間に接続された第2のフィードバック容量と、
    上記第2の演算増幅器の逆相入力端子と正相出力端子との間に接続された第1の位相補償容量と、
    上記第2の演算増幅器の正相入力端子と逆相出力端子との間に接続された第2の位相補償容量と、
    上記第2の演算増幅器の逆相入力端子と正相入力端子との間に接続された第4のスイッチとを備えたことを特徴とする相関二重サンプリング回路。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008029840A1 (fr) * 2006-09-06 2008-03-13 Hamamatsu Photonics K.K. Photodétecteur
US9451194B2 (en) 2012-07-27 2016-09-20 Hamamatsu Photonics K.K. Solid-state imaging device
US11196952B2 (en) 2016-06-15 2021-12-07 Samsung Electronics Co., Ltd. Comparing circuit and an image sensor including a current stabilization circuit

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008029840A1 (fr) * 2006-09-06 2008-03-13 Hamamatsu Photonics K.K. Photodétecteur
JP2008064564A (ja) * 2006-09-06 2008-03-21 Hamamatsu Photonics Kk 光検出装置
EP2060887A1 (en) * 2006-09-06 2009-05-20 Hamamatsu Photonics K.K. Photodetector
US8017901B2 (en) 2006-09-06 2011-09-13 Hamamatsu Photonics K.K. Photodetector
EP2060887A4 (en) * 2006-09-06 2014-01-22 Hamamatsu Photonics Kk PHOTO DETECTOR
US9451194B2 (en) 2012-07-27 2016-09-20 Hamamatsu Photonics K.K. Solid-state imaging device
US11196952B2 (en) 2016-06-15 2021-12-07 Samsung Electronics Co., Ltd. Comparing circuit and an image sensor including a current stabilization circuit

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