JP2006120779A - Multilayer substrate and manufacturing method thereof - Google Patents
Multilayer substrate and manufacturing method thereof Download PDFInfo
- Publication number
- JP2006120779A JP2006120779A JP2004305633A JP2004305633A JP2006120779A JP 2006120779 A JP2006120779 A JP 2006120779A JP 2004305633 A JP2004305633 A JP 2004305633A JP 2004305633 A JP2004305633 A JP 2004305633A JP 2006120779 A JP2006120779 A JP 2006120779A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- crystallized glass
- multilayer substrate
- firing
- glass
- crystallized
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 67
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 19
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims abstract description 86
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 claims abstract description 28
- 238000002425 crystallisation Methods 0.000 claims abstract description 20
- 230000008025 crystallization Effects 0.000 claims abstract description 20
- 238000010304 firing Methods 0.000 claims description 52
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 30
- 239000000843 powder Substances 0.000 claims description 17
- 238000010030 laminating Methods 0.000 claims description 9
- 238000003475 lamination Methods 0.000 claims description 7
- NWXHSRDXUJENGJ-UHFFFAOYSA-N calcium;magnesium;dioxido(oxo)silane Chemical compound [Mg+2].[Ca+2].[O-][Si]([O-])=O.[O-][Si]([O-])=O NWXHSRDXUJENGJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 229910001597 celsian Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 229910052878 cordierite Inorganic materials 0.000 claims description 5
- JSKIRARMQDRGJZ-UHFFFAOYSA-N dimagnesium dioxido-bis[(1-oxido-3-oxo-2,4,6,8,9-pentaoxa-1,3-disila-5,7-dialuminabicyclo[3.3.1]nonan-7-yl)oxy]silane Chemical compound [Mg++].[Mg++].[O-][Si]([O-])(O[Al]1O[Al]2O[Si](=O)O[Si]([O-])(O1)O2)O[Al]1O[Al]2O[Si](=O)O[Si]([O-])(O1)O2 JSKIRARMQDRGJZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 229910052637 diopside Inorganic materials 0.000 claims description 5
- KZHJGOXRZJKJNY-UHFFFAOYSA-N dioxosilane;oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Si]=O.O=[Si]=O.O=[Al]O[Al]=O.O=[Al]O[Al]=O.O=[Al]O[Al]=O KZHJGOXRZJKJNY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 229910052839 forsterite Inorganic materials 0.000 claims description 5
- -1 hardistonite Inorganic materials 0.000 claims description 5
- HCWCAKKEBCNQJP-UHFFFAOYSA-N magnesium orthosilicate Chemical compound [Mg+2].[Mg+2].[O-][Si]([O-])([O-])[O-] HCWCAKKEBCNQJP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 238000000465 moulding Methods 0.000 claims description 5
- 229910052863 mullite Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 229910052596 spinel Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 239000011029 spinel Substances 0.000 claims description 5
- 229910052844 willemite Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 229910052661 anorthite Inorganic materials 0.000 claims description 3
- GWWPLLOVYSCJIO-UHFFFAOYSA-N dialuminum;calcium;disilicate Chemical compound [Al+3].[Al+3].[Ca+2].[O-][Si]([O-])([O-])[O-].[O-][Si]([O-])([O-])[O-] GWWPLLOVYSCJIO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims description 2
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 73
- 238000000034 method Methods 0.000 description 8
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 7
- 230000006399 behavior Effects 0.000 description 6
- 230000032798 delamination Effects 0.000 description 6
- 230000001965 increasing effect Effects 0.000 description 6
- 230000008602 contraction Effects 0.000 description 5
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 4
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 3
- 239000002002 slurry Substances 0.000 description 3
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000007606 doctor blade method Methods 0.000 description 2
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 2
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 description 2
- 229910052573 porcelain Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000004080 punching Methods 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001856 Ethyl cellulose Substances 0.000 description 1
- ZZSNKZQZMQGXPY-UHFFFAOYSA-N Ethyl cellulose Chemical compound CCOCC1OC(OC)C(OCC)C(OCC)C1OC1C(O)C(O)C(OC)C(CO)O1 ZZSNKZQZMQGXPY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000003991 Rietveld refinement Methods 0.000 description 1
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910004283 SiO 4 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910002367 SrTiO Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910010413 TiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000005553 drilling Methods 0.000 description 1
- 230000002708 enhancing effect Effects 0.000 description 1
- 229920001249 ethyl cellulose Polymers 0.000 description 1
- 235000019325 ethyl cellulose Nutrition 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 239000002241 glass-ceramic Substances 0.000 description 1
- 230000016507 interphase Effects 0.000 description 1
- 238000009766 low-temperature sintering Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 239000004014 plasticizer Substances 0.000 description 1
- 238000013001 point bending Methods 0.000 description 1
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 1
- 230000001376 precipitating effect Effects 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005245 sintering Methods 0.000 description 1
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 1
- 238000002076 thermal analysis method Methods 0.000 description 1
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Compositions Of Oxide Ceramics (AREA)
- Glass Compositions (AREA)
- Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
Abstract
Description
本発明は、積層成形体、多層基板及びその製造方法に関するものであり、特に、強度が高く、寸法精度に優れ、回路基板に適した多層基板及びその製造方法に関する。 The present invention relates to a laminated molded body, a multilayer substrate, and a method for producing the same, and more particularly, to a multilayer substrate having high strength, excellent dimensional accuracy, and suitable for a circuit board, and a method for producing the same.
従来より、セラミックスを絶縁基板とする多層基板が用いられているが、近年、多層基板に対して種々の機能の付加が求められ、異種セラミックスを組み合わせた多層基板が提案されている。例えば、強度の弱いセラミック絶縁層を強度の強い絶縁層で補強したり、多層基板の中に容量値の高いキャパシタを内臓するために、低誘電率のセラミック絶縁層中に高誘電率のセラミック絶縁層などを積層した多層基板が知られている。 Conventionally, a multilayer substrate using ceramics as an insulating substrate has been used, but in recent years, addition of various functions to the multilayer substrate has been demanded, and a multilayer substrate combining different ceramics has been proposed. For example, in order to reinforce a weak ceramic insulating layer with a strong insulating layer or to incorporate a capacitor with a high capacitance value in a multilayer substrate, a high dielectric constant ceramic insulating layer is incorporated in a low dielectric constant ceramic insulating layer. A multilayer substrate in which layers are laminated is known.
このような多層基板では、セラミックスのクラックやデラミネーション(層間剥離)を防止するために、異種のセラミック絶縁層間で焼成収縮率および熱膨張係数を一致させるように絶縁層材料の特性を選択、制御することが通常行われている。 In such a multilayer substrate, in order to prevent ceramic cracks and delamination (delamination), the characteristics of the insulating layer material are selected and controlled so that the firing shrinkage rate and thermal expansion coefficient match between different types of ceramic insulating layers. It is usually done.
しかし、近年においては、多層基板の低コスト化や、多層基板上に形成された電極の寸法精度向上のため、焼成時のX−Y方向における多層基板の収縮率を小さくすることが要求されており、上記従来の多層基板では、この要求を達成することができなかった。 However, in recent years, in order to reduce the cost of the multilayer substrate and improve the dimensional accuracy of the electrodes formed on the multilayer substrate, it is required to reduce the shrinkage rate of the multilayer substrate in the XY direction during firing. Therefore, this requirement cannot be achieved by the conventional multilayer substrate.
このような要求を満足するため、近年では、積層体の表面に、該積層体の焼成温度では焼結しない未焼成絶縁層によって拘束し、厚み方向にのみ収縮させた後、未焼成絶縁層を取り除く方法が開発されたが(例えば、特許文献1参照)、未焼成絶縁層によって収縮を抑制する特許文献1の方法では、焼成終了後に未焼成絶縁層を取り除く必要があるために、製造工程が増える、あるいは複雑になるとともに、製造コストが高くなった。 In order to satisfy such requirements, in recent years, the surface of the laminate is constrained by a non-sintered insulating layer that is not sintered at the firing temperature of the laminate, and after shrinking only in the thickness direction, Although a method of removing has been developed (see, for example, Patent Document 1), the method of Patent Document 1 in which shrinkage is suppressed by an unfired insulating layer requires removal of the unfired insulating layer after completion of firing. Increased or complicated, and the manufacturing cost increased.
そこで、焼成収縮開始温度の異なる2種のセラミック成形体を積層して同時焼成することによって焼成の収縮による寸法変化を抑制することが提案された(例えば、特許文献2参照)。 Accordingly, it has been proposed to suppress dimensional changes due to shrinkage of firing by laminating two types of ceramic molded bodies having different firing shrinkage start temperatures and firing them simultaneously (for example, see Patent Document 2).
ところが、特許文献2に記載の製造方法では、寸法変化の抑制が可能ではあるものの、焼成収縮開始温度のみを制御するため、収縮抑制の挙動にばらつきが大きく、また、収縮率自体も大きく、焼成における寸法精度がばらつくという問題があった。
However, in the manufacturing method described in
そこで、結晶化ガラス粉末及びセラミック粉末を含む2種類の絶縁シートを、一方に含まれる結晶化ガラス粉末の結晶化温度が、他方に含まれる結晶化ガラス粉末の軟化点よりも低くなるように作製し、これらを積層した積層体を同時焼成して多層基板を作製する方法が提案されており(例えば、特許文献3参照)、これによって、寸法精度に優れ、平面方向の収縮率が0に近く、その収縮率のばらつきが小さい多層基板を作製している。
しかしながら、特許文献2に記載の多層基板は、2種類の絶縁シートが異なる温度で収縮するため、お互いに収縮を制限することから、寸法精度が大幅に改善されたものの、磁器の強度が低く、落下時やリフローによる実装時にクラックが発生し、最悪の場合には破壊するという問題があった。
However, in the multilayer substrate described in
従って、本発明は、基板強度を改善した寸法精度の高い多層基板及びその製造方法を提供することを目的とするものである。 Accordingly, an object of the present invention is to provide a multilayer substrate with improved substrate strength and high dimensional accuracy, and a method for manufacturing the same.
本発明は、焼成収縮開始温度が異なる少なくとも2種のガラス粉末を用いているため、お互いに平面方向の収縮を抑制するため、高寸法精度を改善するとともに、ガラス粉末の結晶化度を高めることにより、焼成後の積層体の抗折強度を向上させることができるという新規な知見に基づくもので、焼成時の寸法精度を改善し、高強度の多層基板を実現したものである。 Since the present invention uses at least two kinds of glass powders having different firing shrinkage start temperatures, in order to suppress the shrinkage in the planar direction, the high dimensional accuracy is improved and the crystallinity of the glass powder is increased. This is based on the novel knowledge that the bending strength of the laminated body after firing can be improved, which improves the dimensional accuracy during firing and realizes a high-strength multilayer substrate.
即ち、本発明の多層基板は、第1の結晶化ガラスを含む第1の絶縁層と、前記第1の結晶化ガラスとは結晶化温度が異なる第2の結晶化ガラスを含む第2の絶縁層と、を積層してなるセラミック積層基板の表面及び内部に電極を配設してなり、前記結晶化ガラスの結晶化度がそれぞれ80%以上であることを特徴とする。 That is, the multilayer substrate of the present invention includes a first insulating layer containing a first crystallized glass and a second insulation containing a second crystallized glass having a crystallization temperature different from that of the first crystallized glass. An electrode is provided on the surface and inside of a ceramic laminated substrate formed by laminating layers, and the crystallinity of the crystallized glass is 80% or more, respectively.
特に、前記第1及び第2の結晶化ガラスのうち、一方の結晶化ガラスの結晶化温度が、他方の結晶化ガラスの軟化点よりも低いことが好ましい。これにより、少なくとも1種の層が他の層より先に焼結が開始し、かつ終了するため、密着した面で互いに収縮を抑制しあうことで高寸法精度をより得やすく、反りをより低減できる。 In particular, it is preferable that the crystallization temperature of one of the first and second crystallized glasses is lower than the softening point of the other crystallized glass. As a result, since at least one kind of layer starts and finishes before the other layers, it is easier to obtain high dimensional accuracy by suppressing shrinkage on the closely contacting surfaces, and warpage is further reduced. it can.
前記第1の熱膨張係数と、第2の結晶化ガラスの熱膨張係数との差が2×10−6/℃以下であることが好ましい。これにより、焼成時の層間応力の発生を抑制するため、相間剥離の発生を抑制することがより容易になる。 The difference between the first thermal expansion coefficient and the thermal expansion coefficient of the second crystallized glass is preferably 2 × 10 −6 / ° C. or less. Thereby, since generation | occurrence | production of the interlayer stress at the time of baking is suppressed, it becomes easier to suppress generation | occurrence | production of phase peeling.
また、さらに前記第1及び第2とは異なる結晶化ガラスを含む第3の絶縁層を含むことが好ましい。これにより、さらに寸法制度を高めることができる。 Further, it is preferable that a third insulating layer containing crystallized glass different from the first and second is included. Thereby, a dimension system can be raised further.
前記絶縁層が、それぞれガラス粉末を30質量%以上含むことが好ましい。これにより、ガラスの軟化流動により、低温焼結が容易になる。 The insulating layers preferably each contain 30% by mass or more of glass powder. This facilitates low temperature sintering due to the softening flow of the glass.
前記結晶化ガラスが、ディオプサイド、ハーディストナイト、セルシアン、コージェライト、アノーサイト、ガーナイト、ウィレマイト、スピネル、ムライト、フォルステライト及びスーアナイトのうち少なくとも1種を含むことが好ましい。これにより、高強度化と誘電損失の低減が容易になる。 The crystallized glass preferably contains at least one of diopside, hardistonite, celsian, cordierite, anorthite, garnite, willemite, spinel, mullite, forsterite and sourite. This facilitates increasing the strength and reducing the dielectric loss.
また、本発明の多層基板の製造方法は、結晶化度が80%以上の異なる結晶化ガラスからなるガラス粉末を含み、焼成収縮開始温度がそれぞれ異なる2種以上のグリーンシートを作製する成形工程と、該グリーンシートの少なくとも一部の表面及び内部に導体ペーストを用いて導体パターンを形成し、導体付グリーンシートを作製する導体形成工程と、前記導体付グリーンシートを積層し、該導体付グリーンシートの平面方向に対する収縮率が3%以下の積層体を形成する積層工程と、該積層体を焼成する焼成工程を具備することを特徴とする。 Further, the method for producing a multilayer substrate of the present invention comprises a molding step of producing two or more types of green sheets containing glass powders made of different crystallized glasses having a degree of crystallinity of 80% or more, each having different firing shrinkage start temperatures. A conductor forming step of forming a conductor pattern using a conductor paste on at least a part of the surface and the inside of the green sheet to produce a conductor-attached green sheet; and laminating the conductor-attached green sheet; Characterized in that it comprises a laminating step for forming a laminate having a shrinkage ratio of 3% or less with respect to the planar direction and a firing step for firing the laminate.
このような製造方法を採用することにより、焼成時におけるグリーンシートの平面方向の収縮を抑制して焼成収縮ばらつきを低減して寸法制度を高め、且つ各グリーンシートに高結晶化度の結晶化ガラスを含ませることにより、強度を改善することができる。 By adopting such a manufacturing method, it is possible to suppress shrinkage in the planar direction of the green sheet during firing, reduce variation in firing shrinkage, increase the dimensional system, and crystallized glass with high crystallinity on each green sheet. By including, strength can be improved.
前記2種以上の結晶化ガラスのうち、1種の結晶化ガラスの結晶化温度が、他の結晶化ガラスの軟化点よりも低いことが好ましい。これにより、少なくとも1種の層が他の層より先に焼結が開始し、かつ終了するため、密着した面で互いに収縮を抑制しあうことで高寸法精度をより得やすく、反りをより低減できる。 Of the two or more kinds of crystallized glasses, it is preferable that the crystallization temperature of one kind of crystallized glass is lower than the softening point of the other crystallized glass. As a result, since at least one kind of layer starts and finishes before the other layers, it is easier to obtain high dimensional accuracy by suppressing shrinkage on the closely contacting surfaces, and warpage is further reduced. it can.
前記2種以上の結晶化ガラスのうち、1種の結晶化ガラスと他の結晶化ガラスとの熱膨張係数の差が、2×10−6/℃以下であることが好ましい。これにより、焼成時の層間応力の発生を抑制するため、相間剥離の発生を抑制することがより容易になる。 Of the two or more types of crystallized glass, the difference in thermal expansion coefficient between one type of crystallized glass and another type of crystallized glass is preferably 2 × 10 −6 / ° C. or less. Thereby, since generation | occurrence | production of the interlayer stress at the time of baking is suppressed, it becomes easier to suppress generation | occurrence | production of interphase peeling.
前記グリーンシートが、それぞれガラス粉末を30質量%以上含むことが好ましい。これにより、焼結性の向上が容易になる。 The green sheets preferably each contain 30% by mass or more of glass powder. Thereby, the improvement of sinterability becomes easy.
焼成工程後に、焼成工程後に、前記結晶化ガラスが、ディオプサイド、ハーディストナイト、セルシアン、コージェライト、アノーサイト、ガーナイト、ウィレマイト、スピネル、ムライト、フォルステライト及びスーアナイトのうち少なくとも1種を形成することが好ましい。これにより、高強度化が容易になる。 After the firing step, after the firing step, the crystallized glass forms at least one of diopside, hardestite, celsian, cordierite, anorthite, garnite, willemite, spinel, mullite, forsterite and suurite. It is preferable. This makes it easy to increase the strength.
本発明は、高強度で寸法制度の高い多層基板に関するものであり、第1の結晶化ガラスを含む第1の絶縁層と、前記第1の結晶化ガラスとは結晶化温度が異なる第2の結晶化ガラスを含む第2の絶縁層と、を積層してなるセラミック積層基板の表面及び内部に電極を配設したものである。 The present invention relates to a multilayer substrate having a high strength and a high dimensional system. The first insulating layer including the first crystallized glass and the first crystallized glass have different crystallization temperatures. Electrodes are provided on the surface and inside of a ceramic laminated substrate formed by laminating a second insulating layer containing crystallized glass.
以下に、本発明の多層基板について、具体的に図を用いて説明する。 Hereinafter, the multilayer substrate of the present invention will be specifically described with reference to the drawings.
図1は、本発明の一実施様態である多層基板の構造の概略断面図である。図1によれば、多層基板10は、セラミック絶縁層1a〜1gが積層されたセラミック絶縁基板1と、セラミック絶縁基板1の表面及び裏面に形成された表面導体層2、セラミック絶縁基板1の内部に形成された内部導体層3、内部導体層3間の電気的接続又は表面導体層2と内部導体層3の電気的接続を行うためのビアホール導体4を有する。
FIG. 1 is a schematic sectional view of the structure of a multilayer substrate according to an embodiment of the present invention. According to FIG. 1, the
本発明によれば、多層基板10は、結晶化温度が異なる2種類以上のガラス粉末を含み、それらの粉末の焼成収縮開始温度が異なるグリーンシートをそれぞれ複数ずつ積層した積層体を焼成してなり、例えば、図1において、後で詳述するように、多層基板10を構成する絶縁層1a〜1gのうち、絶縁層1a、1gとなるグリーンシートの収縮終了温度を、他の絶縁層1b〜1fとなるグリーンシートとの収縮開始温度よりも低くなるようにすれば良い。また、絶縁層1a、1gに含まれるグリーンシートの収縮開始温度を、他の絶縁層1b〜1fに含まれるグリーンシートの収縮終了温度よりも高くなるようにしても良い。
According to the present invention, the
絶縁層1a、1g、及び絶縁層1b〜1fに含まれるガラスの結晶化度については、80%以上とすることが重要であり、積層体の抗折強度の改善が容易になる。とりわけ、より高強度化とするためには、各絶縁層に含まれる全てのガラスの結晶化度を85%以上、更には90%以上とすることが望ましい。
The crystallinity of the glass contained in the
セラミック積層基板の抗折強度は、落下時やリフローによる実装時等に磁器に応力や衝撃が加わった際にクラックが発生することを防止するため、250MPa以上であることが重要であり、製造時の不良率を低減し、製品の安定供給を図るために、特に270MPa以上、更には300MPa以上、より好適には320MPa以上であることが望ましい。 It is important that the bending strength of the ceramic multilayer substrate is 250 MPa or more in order to prevent cracks from being generated when stress or impact is applied to the porcelain during dropping or reflow mounting. In particular, in order to reduce the defective rate and to stably supply the product, it is desirable that the pressure be 270 MPa or more, further 300 MPa or more, and more preferably 320 MPa or more.
絶縁層1a、1gに含まれる結晶化ガラスの結晶化温度が、他の絶縁層1b〜1fに含まれる結晶化ガラスの結晶化ガラスの軟化点よりも低いことが好ましい。このような構成を採用すれば、焼成時の収縮率を3%以下にすることが容易となり、寸法制度を高めることを容易に達成することができる。
It is preferable that the crystallization temperature of the crystallized glass contained in the
即ち、絶縁層1a、1gとなるグリーンシートの収縮終了温度が、他の絶縁層1b〜1fとなるグリーンシートの収縮開始温度よりも低くなり、絶縁層1a、1gは絶縁層1b〜1fよりも低温で収縮が開始する。その際に、2種以上の結晶化ガラスのうち、1種の結晶化温度が、他の1種の結晶化ガラスの軟化点よりも低いため、絶縁層1b〜1fが収縮開始するときには、絶縁層1a、1gの焼成収縮はほとんど終了しており(最終焼成体積収縮量の97%以上)、お互いのX−Y方向(グリーンシートの平面方向)の収縮を抑制し合うことが可能となり、焼成の再現性も向上できる。とりわけ、X−Y方向の収縮をより効果的に抑制し、且つ再現性をより向上するために、一方のガラスの軟化点と他方のガラスの結晶化温度の差が、5℃以上、特に10℃以上、更には15℃以上であることが望ましい。
That is, the shrinkage end temperature of the green sheets to be the insulating
セラミック積層基板に含まれる2種の結晶化ガラスの熱膨張係数の差は、2×10−6/℃以下であることが好ましい。例えば、図1において、絶縁層1a、1gに含まれる結晶化ガラスの熱膨張係数と、絶縁層1b〜1fに含まれる結晶化ガラスの熱膨張係数の差を2×10−6/℃以下、特に1×10−6/℃以下にすることが望ましい。これにより、最高焼成温度からの冷却時において、熱収縮の差が生じて絶縁層と異種材料絶縁層の界面にクラックやデラミネーションの発生をより効果的に抑制することができる。
The difference in thermal expansion coefficient between the two types of crystallized glass contained in the ceramic laminated substrate is preferably 2 × 10 −6 / ° C. or less. For example, in FIG. 1, the difference between the thermal expansion coefficient of the crystallized glass contained in the insulating
本発明によれば、絶縁層1a、1g及び絶縁層1b〜1fの2種の絶縁層が、いずれも結晶化ガラスを30質量%以上、特に35質量%以上、更には40質量%以上含むことが焼結性を高める点において好ましい。
According to the present invention, the insulating
セラミック積層基板を構成する各絶縁層1a〜1gの主成分であるセラミックスとして、Al2O3,SiO2,MgTiO3,CaZrO3,CaTiO3,Mg2SiO4,BaTi4O9,ZrTiO4,SrTiO3,BaTiO3,TiO2,AlN,SiNなどを例示できる。
As the ceramic is a major component of the insulating layer 1a~1g constituting the ceramic multilayer substrate, Al 2 O 3, SiO 2 ,
また、各絶縁層1a〜1gに含まれる結晶化ガラスが、ディオプサイド、ハーディストナイト、セルシアン、コージェライト、アノーサイト、ガーナイト、ウィレマイト、スピネル、ムライト、フォルステライト及びスーアナイトから選ばれる1種以上であることが、多層基板の曲げ強度をより高め、誘電損失をより小さくする点で望ましい。 In addition, the crystallized glass contained in each of the insulating layers 1a to 1g is at least one selected from diopside, hardistonite, celsian, cordierite, anorsite, garnite, willemite, spinel, mullite, forsterite and suurite. It is desirable that the bending strength of the multilayer substrate is further increased and the dielectric loss is further decreased.
結晶化ガラスを採用し、上記のセラミック結晶を析出させることにより、1000℃以下の温度で焼成可能とすることが容易となり、その結果、導体層としてCu,Ag,Alなどの低抵抗導体を用いることができ、また、低誘電率化が容易となり、高速伝送化に適す。 By adopting crystallized glass and precipitating the above ceramic crystal, it becomes easy to be fired at a temperature of 1000 ° C. or lower, and as a result, a low resistance conductor such as Cu, Ag, Al or the like is used as the conductor layer. In addition, it is easy to reduce the dielectric constant and is suitable for high-speed transmission.
なお、以上のように2種の絶縁層の組み合わせについて説明したが、絶縁層は3種でも、更には4種以上であっても良く、絶縁層の種々組成を制御することによって、焼成収縮挙動を容易に制御、変更することができる。 As described above, the combination of the two types of insulating layers has been described. However, the number of insulating layers may be three or even four or more. By controlling various compositions of the insulating layers, the firing shrinkage behavior Can be easily controlled and changed.
次に、本発明の多層基板の製造方法は、成形工程、導体形成工程、積層工程、及び焼成工程を具備するものであり、これらの工程について、それぞれ、図1の多層基板を例として取り上げ、以下に説明する。 Next, the method for producing a multilayer substrate of the present invention comprises a molding step, a conductor formation step, a lamination step, and a firing step, and for each of these steps, the multilayer substrate of FIG. This will be described below.
まず、成形工程として、結晶化度が80%以上の結晶化ガラスからなる第1のガラス粉末に対して、焼成途中で容易に揮発する揮発性有機バインダと、有機溶剤と、必要に応じて可塑剤と、を混合し、スラリーを作製する。これらのスラリーを用いて、リップコーター法やドクターブレード法などによってテープ成形を行い、所定寸法に切断しグリーンシートAを作製する。次に、結晶化度が80%以上の結晶化ガラスからなる第2のガラス粉末に対して、焼成途中で容易に揮発する揮発性有機バインダと、有機溶剤と、必要に応じて可塑剤と、を混合し、グリーンシートAと同様にしてグリーンシートBを作製する。この場合、グリーンシートAとグリーンシートBの焼成収縮開始温度が異なるように、ガラス粉末を選定する。 First, as a molding process, a volatile organic binder that easily volatilizes during firing, an organic solvent, and plastic as needed, for the first glass powder made of crystallized glass having a crystallinity of 80% or more. The slurry is mixed with the agent. Using these slurries, tape molding is performed by a lip coater method, a doctor blade method, or the like, and cut into a predetermined size to produce a green sheet A. Next, for the second glass powder made of crystallized glass having a crystallinity of 80% or more, a volatile organic binder that easily volatilizes during firing, an organic solvent, and a plasticizer as necessary, And green sheet B is produced in the same manner as green sheet A. In this case, the glass powder is selected so that the green sheet A and the green sheet B have different firing shrinkage start temperatures.
なお、グリーンシートBを用いる代わりに、第2のガラス粉末を含むペーストを作製し、グリーンシートAの表面に塗布することも可能である。 Instead of using the green sheet B, a paste containing the second glass powder can be produced and applied to the surface of the green sheet A.
次に、導体形成工程として、成形工程で得られた複数のグリーンシートA、Bのうち、所望のグリーンシートの表面に対して、導体ペーストを用いたスクリーン印刷法などによって、表面導体層や内部導体層となる導体パターンを被着形成する。また、所望のグリーンシートに対して、パンチングやレーザー穿孔等によって貫通孔を形成し、グリーンシートの貫通孔の内部に導体ペーストを充填する。このようにして、グリーンシートの表面や内部に導体パターンを形成した導体付グリーンシートを複数作製する。 Next, as a conductor forming step, the surface conductor layer and the inside are formed by screen printing using a conductor paste on the surface of a desired green sheet among the plurality of green sheets A and B obtained in the forming step. A conductor pattern to be a conductor layer is deposited and formed. Further, a through hole is formed in a desired green sheet by punching, laser drilling, or the like, and a conductor paste is filled in the through hole of the green sheet. In this manner, a plurality of conductor-equipped green sheets in which a conductor pattern is formed on the surface or inside of the green sheet are produced.
次に、積層工程として、導体形成工程で得られた各導体付グリーンシートと、所望により導体パターンの形成されていないグリーンシートA、B等を積層する。その際に、導体パターンが所定の設計した回路となるように組み合わせることは言うまでもない。 Next, as a laminating step, the green sheets with conductors obtained in the conductor forming step and green sheets A, B and the like on which no conductor pattern is formed are laminated as desired. In this case, it goes without saying that the conductor patterns are combined so as to become a predetermined designed circuit.
本発明に寄れば、積層体において、グリーンシートの平面方向に対する収縮率を3%以下になるように設計するのが良い。 According to the present invention, it is preferable to design the laminate so that the contraction rate in the plane direction of the green sheet is 3% or less.
次に、焼成工程として、積層工程で得られた積層体を焼成する。焼成に際しては、低温側で収縮が開始するグリーンシートの収縮開始温度とそのグリーンシートに含まれるガラスの結晶化温度の中間の温度で一旦保持する多段焼成でも可能であるが、通常の単一キープ温度においても昇温速度を調整する等の手法によって、同時焼成を行うことが可能であり、このような焼成において、X−Y方向(グリーンシートの平面方向)への焼成収縮が抑制され、Z方向(グリーンシートの厚み方向)に焼成収縮した寸法精度の高い基板を作製することができる。 Next, as a firing step, the laminate obtained in the lamination step is fired. The firing can be performed by multi-stage firing that is temporarily held at a temperature intermediate between the shrinkage start temperature of the green sheet that starts shrinking on the low temperature side and the crystallization temperature of the glass contained in the green sheet. It is possible to perform simultaneous firing by adjusting the temperature rising rate even at a temperature. In such firing, firing shrinkage in the XY direction (plane direction of the green sheet) is suppressed, and Z A substrate with high dimensional accuracy that is fired and contracted in the direction (the thickness direction of the green sheet) can be manufactured.
なお、焼成収縮開始温度が異なる2種のグリーンシートに含まれる主成分であるセラミックス及び副成分の結晶化ガラスは、例えば、焼結収縮挙動の相違のみならず、目的に応じて、比誘電率、曲げ強度、誘電損失、熱伝導率、嵩密度、温度係数などの他の特性が異なっていてもよいし、一層内で部分的に異なる材料の絶縁層が存在しても、本発明の手法を用いれば、反りやデラミネーションを抑制できるため、差し支えない。 In addition, the ceramics which are the main components contained in the two types of green sheets having different firing shrinkage temperatures and the crystallized glass of the subcomponent are not only different in sintering shrinkage behavior, but also have a dielectric constant depending on the purpose. The method of the present invention may be different in other properties such as bending strength, dielectric loss, thermal conductivity, bulk density, temperature coefficient, or even in the presence of an insulating layer of a partially different material in one layer. If is used, warpage and delamination can be suppressed, so there is no problem.
図1の焼成収縮挙動が異なる2種のグリーンシートA、Bの積層形態としては、ABBBBBAにて積層したが、その他に、例えばABABABA、AAABAAA、AABBBAA、AABABAA、AABBAAA、ABAAAAA、ABAAABA、ABBABBA、AABAAAA、ABBAAAA、ABBBAAA、ABBBBAA等の構成でもよく、積層数を変えても、AとBとを反対に入れ替えてもよい。 As a lamination form of two types of green sheets A and B having different firing shrinkage behaviors in FIG. 1, lamination was performed with ABBBBBBA. , ABBAAAA, ABBBAAA, ABBBBAA, and the like may be used. The number of layers may be changed, or A and B may be reversed.
さらに、焼成収縮挙動が異なる2種のグリーンシートA、B、Cを用いた場合の積層形態としては、ABCCCBA、ABBCBBA、ABBCCBBA、ABCBABCBA、AAABCBAAA等の任意の組み合わせ及び任意の積層数に設定できる。もちろん、対称性を具備するのが好ましいのは言うまでもない。 Furthermore, as a lamination form when two types of green sheets A, B, and C having different firing shrinkage behaviors are used, any combination of ABCCCBA, ABBCBBA, ABBCCCBA, ABCBABCBA, AAABCBAAA, and any number of laminations can be set. Of course, it is needless to say that symmetry is preferable.
なお、グリーンシートの種類は、焼成収縮挙動がそれぞれ異なる4種以上のグリーンシートで構成されていても良い。特に、1種のグリーンシートの焼成終了温度が、他のグリーンシートの少なくとも1種のグリーンシートの焼成開始温度よりも低くなるように設定する、即ち、1種のグリーンシートに含まれる結晶化ガラスの結晶化温度が、他のグリーンシートの少なくとも1種のグリーンシートに含まれる軟化点よりも低くなるように設定するのが好ましい。 In addition, the kind of green sheet may be comprised with the 4 or more types of green sheet from which a baking shrinkage | contraction behavior differs, respectively. In particular, the firing end temperature of one type of green sheet is set to be lower than the firing start temperature of at least one type of other green sheet, that is, crystallized glass contained in one type of green sheet. The crystallization temperature is preferably set to be lower than the softening point contained in at least one of the other green sheets.
表1の多層基板を作製した。まず、焼成収縮開始温度が異なるガラスセラミック絶縁層A,Bを形成する各組成物に対して、それぞれ有機バインダとしてエチルセルロースと有機溶剤として2−2−4−トリメチル・ペンタジオールモノイソブチレートを添加してなる2種類のスラリーを調整し、これをドクターブレード法によりそれぞれ成形してグリーンシートA、Bを作製した。 The multilayer substrate shown in Table 1 was produced. First, ethyl cellulose as an organic binder and 2-2-4-trimethylpentadiol monoisobutyrate as an organic solvent are added to the respective compositions forming the glass ceramic insulating layers A and B having different firing shrinkage starting temperatures. The two types of slurries thus prepared were prepared and formed by the doctor blade method to produce green sheets A and B, respectively.
そして、グリーンシートA、Bの所定の位置にパンチング等により貫通孔を形成し、この貫通孔にAg粉末を含む導電性ペーストを充填するとともに、またこの導電性ペーストをグリーンシートA、Bの表面の所定の位置にスクリーン印刷し、乾燥して導体付グリーンシートを作製した。 Then, through holes are formed at predetermined positions of the green sheets A and B by punching or the like, and the conductive paste containing Ag powder is filled in the through holes, and the conductive paste is applied to the surfaces of the green sheets A and B. Was printed at a predetermined position and dried to produce a conductor-equipped green sheet.
導電性ペーストが充填され、所定形状の導体層が形成されたグリーンシートA、Bを積層し、図1の構造となる積層成形体を作成した。 Green sheets A and B filled with a conductive paste and formed with a conductor layer having a predetermined shape were laminated to form a laminated molded body having the structure shown in FIG.
この後、大気中400℃で脱バインダ処理し、さらに910℃で焼成し、図1に示す多層基板を得た。なお、焼成前の各絶縁層1a〜1gの厚みは0.2mmであり、焼成後の多層基板の大きさは、縦10mm、横10mm、厚み0.8mmであった。 Thereafter, the binder removal treatment was performed at 400 ° C. in the atmosphere, followed by baking at 910 ° C. to obtain the multilayer substrate shown in FIG. In addition, the thickness of each insulating layer 1a-1g before baking was 0.2 mm, and the magnitude | size of the multilayer board | substrate after baking was 10 mm long, 10 mm wide, and thickness 0.8mm.
なお、グリーンシート積層体と焼成後の多層基板に対して、所定のポイント間の長さを測定することにより、X−Y方向の多層基板の収縮率を測定した。なお、各試料について10個の試料を作製しそれぞれの収縮率を測定し、10個の試料の収縮率の最大収縮率と最小収縮率の差を収縮ばらつきとして評価した。また、基板を研磨して光学顕微鏡で観察することにより、基板におけるクラック、デラミネーションの有無を評価し、欠陥として表2に示した。 In addition, the shrinkage | contraction rate of the multilayer board | substrate of a XY direction was measured by measuring the length between predetermined points with respect to the green sheet laminated body and the multilayer board | substrate after baking. In addition, 10 samples were prepared for each sample, and the respective shrinkage rates were measured, and the difference between the maximum shrinkage rate and the minimum shrinkage rate of the 10 samples was evaluated as shrinkage variation. Moreover, the presence or absence of cracks and delamination in the substrate was evaluated by polishing the substrate and observing it with an optical microscope.
各絶縁層のガラスの結晶化度については、各絶縁層単体を表2に示す同時焼成した場合と同じ条件で焼成した試料のXRD回折パターンからリートベルト解析法により決定した。尚、XRD回折の測定時には、誤差を小さくするために、酸化亜鉛を標準試料として混合した。 The degree of crystallinity of the glass of each insulating layer was determined by the Rietveld analysis method from the XRD diffraction pattern of the sample fired under the same conditions as when each insulating layer was fired simultaneously as shown in Table 2. In the measurement of XRD diffraction, zinc oxide was mixed as a standard sample in order to reduce the error.
基板の抗折強度評価用の試料として、第1絶縁層となるグリーンシート(焼成前厚み0.2mm)で第2絶縁層となるグリーンシート(焼成前厚み0.2mm)5層を挟んだ構造で表2に示す焼成温度で1時間同時焼成して、5mm×40mm×0.8mmの試験片を得た。この試験片について、室温において、クロスヘッド速度0.5mm/min、下部支点間距離30mmの条件で3点曲げ強度の測定を行った。 As a sample for evaluation of the bending strength of a substrate, a structure in which five green sheets (thickness before firing 0.2 mm) serving as second insulating layers are sandwiched by green sheets (thickness 0.2 mm before firing) serving as first insulation layers Then, a test piece of 5 mm × 40 mm × 0.8 mm was obtained by simultaneous firing at the firing temperature shown in Table 2 for 1 hour. With respect to this test piece, a three-point bending strength was measured at room temperature under conditions of a crosshead speed of 0.5 mm / min and a distance between lower fulcrums of 30 mm.
また、セラミックスAを形成する組成物とセラミックスBを形成する組成物についてワックスを添加して、100MPaでプレスすることにより圧粉体を形成し、この圧粉体に対して空気中でTMA(熱機械分析)による室温〜1000℃の温度範囲により各セラミックスの収縮開始温度S、収縮終了温度E、室温〜900℃における熱膨張係数を評価した。 Further, a wax is added to the composition forming the ceramic A and the composition forming the ceramic B, and a green compact is formed by pressing at 100 MPa. The TMA (heat The shrinkage start temperature S, shrinkage end temperature E, and thermal expansion coefficient at room temperature to 900 ° C. of each ceramic were evaluated in the temperature range of room temperature to 1000 ° C. by mechanical analysis.
ガラスの軟化点と結晶化温度は、DTA(示唆熱分析)により、10℃/分で昇温して得られる曲線より評価した。結果を表1、2に示した。
本発明の試料No.1〜8は収縮率が0〜3.0%と小さく、曲げ強度が250MPa以上と大きく、焼成におけるクラックやデラミネーションが発生しない基板であった。 Sample No. of the present invention. Nos. 1 to 8 were substrates having a shrinkage rate as small as 0 to 3.0%, a bending strength as large as 250 MPa or more, and no cracks or delamination during firing.
一方、結晶化度が80%に満たない第1絶縁層で構成された試料No.9及び10は、収縮率が8.5%以上と高く、強度が230MPa以下と低く、特に、試料No.9は第1絶縁層の結晶化温度に対して、第2絶縁層の軟化点が大幅に低く、熱膨張係数差が大きいため、その結果、欠陥が観察された。 On the other hand, sample No. 2 composed of the first insulating layer having a crystallinity of less than 80%. Nos. 9 and 10 have a high shrinkage rate of 8.5% or more and a low strength of 230 MPa or less. In No. 9, the softening point of the second insulating layer was significantly lower than the crystallization temperature of the first insulating layer, and the difference in thermal expansion coefficient was large. As a result, defects were observed.
1・・・セラミック積層基板
2・・・表面導体層
3・・・内部導体層
4・・・ビアホール導体
10・・・多層基板
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Ceramic
Claims (11)
After the firing step, the crystallized glass forms at least one crystal of diopside, hardestite, celsian, cordierite, anorcite, garnite, willemite, spinel, mullite, forsterite and suurite. The method for producing a multilayer substrate according to any one of claims 7 to 11.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004305633A JP4606115B2 (en) | 2004-10-20 | 2004-10-20 | Multilayer substrate and manufacturing method thereof |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004305633A JP4606115B2 (en) | 2004-10-20 | 2004-10-20 | Multilayer substrate and manufacturing method thereof |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006120779A true JP2006120779A (en) | 2006-05-11 |
JP4606115B2 JP4606115B2 (en) | 2011-01-05 |
Family
ID=36538393
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004305633A Expired - Fee Related JP4606115B2 (en) | 2004-10-20 | 2004-10-20 | Multilayer substrate and manufacturing method thereof |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4606115B2 (en) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008109053A (en) * | 2006-10-27 | 2008-05-08 | Kyocera Corp | Glass ceramic multilayer circuit board |
JP2009206090A (en) * | 2008-01-31 | 2009-09-10 | Ohara Inc | Manufacturing method of lithium ion secondary battery |
US7605101B2 (en) | 2006-03-28 | 2009-10-20 | Kyocera Corporation | Laminate, ceramic substrate and method for making the ceramic substrate |
KR100983125B1 (en) | 2008-10-28 | 2010-09-17 | 삼성전기주식회사 | Manufacturing method of multi-layer ceramic substrate |
JP2010232515A (en) * | 2009-03-27 | 2010-10-14 | Kyocera Corp | Wiring board and electronic module |
JP2011009649A (en) * | 2009-06-29 | 2011-01-13 | Kyocera Corp | Electric wiring board, and optical module |
KR101046134B1 (en) | 2007-12-27 | 2011-07-01 | 삼성전기주식회사 | Ceramic substrate, manufacturing method thereof and electric device using same |
US20120267037A1 (en) * | 2009-04-21 | 2012-10-25 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Method for producing multilayer ceramic substrate |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003046033A (en) * | 2001-07-27 | 2003-02-14 | Kyocera Corp | Wiring board |
JP2003069236A (en) * | 2001-08-29 | 2003-03-07 | Kyocera Corp | Ceramic circuit board and manufacturing method thereof |
JP2004026646A (en) * | 2002-06-04 | 2004-01-29 | E I Du Pont De Nemours & Co | Tape composition and internally constrained sintering method of low-temperature co-fired ceramic |
-
2004
- 2004-10-20 JP JP2004305633A patent/JP4606115B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003046033A (en) * | 2001-07-27 | 2003-02-14 | Kyocera Corp | Wiring board |
JP2003069236A (en) * | 2001-08-29 | 2003-03-07 | Kyocera Corp | Ceramic circuit board and manufacturing method thereof |
JP2004026646A (en) * | 2002-06-04 | 2004-01-29 | E I Du Pont De Nemours & Co | Tape composition and internally constrained sintering method of low-temperature co-fired ceramic |
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7605101B2 (en) | 2006-03-28 | 2009-10-20 | Kyocera Corporation | Laminate, ceramic substrate and method for making the ceramic substrate |
JP2008109053A (en) * | 2006-10-27 | 2008-05-08 | Kyocera Corp | Glass ceramic multilayer circuit board |
KR101046134B1 (en) | 2007-12-27 | 2011-07-01 | 삼성전기주식회사 | Ceramic substrate, manufacturing method thereof and electric device using same |
JP2009206090A (en) * | 2008-01-31 | 2009-09-10 | Ohara Inc | Manufacturing method of lithium ion secondary battery |
US8808407B2 (en) | 2008-01-31 | 2014-08-19 | Ohara Inc. | Method of manufacturing a solid lithium ion secondary battery with an electrolyte layer and/or positive electrode layer containing a crystallite having a lithium ion conducting property |
KR100983125B1 (en) | 2008-10-28 | 2010-09-17 | 삼성전기주식회사 | Manufacturing method of multi-layer ceramic substrate |
JP2010232515A (en) * | 2009-03-27 | 2010-10-14 | Kyocera Corp | Wiring board and electronic module |
US20120267037A1 (en) * | 2009-04-21 | 2012-10-25 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Method for producing multilayer ceramic substrate |
US8372227B2 (en) * | 2009-04-21 | 2013-02-12 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Method for producing multilayer ceramic substrate |
JP2011009649A (en) * | 2009-06-29 | 2011-01-13 | Kyocera Corp | Electric wiring board, and optical module |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4606115B2 (en) | 2011-01-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5104761B2 (en) | Ceramic substrate and manufacturing method thereof | |
JP2007294862A (en) | Substrate and circuit board using the same | |
KR101931108B1 (en) | Mid-k ltcc compositions and devices | |
JP2008270741A (en) | Wiring board | |
JP2004214573A (en) | Manufacturing method for multilayered ceramic substrate | |
JP2008053525A (en) | Multilayer ceramic substrate and its manufacturing method | |
JP4606115B2 (en) | Multilayer substrate and manufacturing method thereof | |
JP2017171560A (en) | Ceramic substrate and manufacturing method therefor | |
JP2006237493A (en) | Wiring board | |
JP4301503B2 (en) | Composite multilayer ceramic component and manufacturing method thereof | |
JP4508625B2 (en) | Multilayer substrate and manufacturing method thereof | |
JP2006196674A (en) | Method of manufacturing wiring board | |
JP4959950B2 (en) | Sintered body and wiring board | |
JP4423025B2 (en) | Multilayer substrate and manufacturing method thereof | |
JP2010034176A (en) | Multilayer wiring board, and method of manufacturing the same | |
JP2003342064A (en) | Glass ceramic sintered compact and multilayer wiring board | |
JP2008186909A (en) | Ceramic multilayer plate board | |
JP2008030995A (en) | Multilayered ceramic substrate and its manufacturing method as well as composite green sheet for manufacturing multilayered ceramic substrate | |
JP2009231414A (en) | Multilayer wiring board, and manufacturing method thereof | |
JP4699769B2 (en) | Manufacturing method of ceramic multilayer substrate | |
JP2005285968A (en) | Capacitor built-in glass ceramic multilayer wiring board | |
JP2010278117A (en) | Method of manufacturing wiring board | |
JP2004281924A (en) | Ceramic multilayer substrate | |
JP2006093484A (en) | Glass ceramic multilayer wiring board with built-in capacitor | |
JP2008159940A (en) | Multi-layer wiring substrate and manufacturing method therefor |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070907 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20100226 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100309 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100510 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100706 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100818 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20100907 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20101005 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4606115 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131015 Year of fee payment: 3 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |