JP2006092980A - 質量分析装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】エンドキャップ電極2とリング電極3と絶縁物4とで3DQ部が形成され絶縁物4にガス導入口8が形成される、ガス導入口8には一本から複数管に分岐されるガス導入路7が接続される。各分岐管はマスフローメータ6を介して衝突ガス発生装置5に接続される。各衝突ガス発生装置5は互いに異なる種類の衝突ガスが封入されマスフローメータ6で混合ガス流量を設定し経路7内で混合した後3DQ内に導入する。ガスは初めキセノンに設定しMS/MS測定を開始し時間経過と共に分析対象の分子量は小さくなるため導入ガスにヘリウムを混合しガス種比率を勾配させる。単独の衝突セルを使用した一回のMS/MS法で高分子から低分子量成分まで効率よく開裂し各分子の構造情報を取得できる。
【選択図】 図1
Description
図1において、エレクトロスプレーイオン源1は、分析対象試料に対して電圧印加、噴霧を行なうことによりイオン化し、3DQ部内に導入する。この3DQ部は、エンドキャップ電極2と、リング電極3と、絶縁物4とにより形成される。エンドキャップ電極2とリング電極3とは、絶縁物4により固定されると共に支持されている。
図2は、反応ガス種を最適化するための動作フローチャートである。
各成分のMS/MS分析におけるプリカーサイオンとなるイオンの検出強度を確保するために、イオン化条件を設定する。
図3は、ガス流量を最適化するための動作フローチャートである。
ガス流量の最適化は、衝突ガス種の最適化と同様に、プリカーサイオン強度を確認した後、標準高分子量物質(X)、標準低分子量物質(Y)のそれぞれについて最適化を図る。
図4は、トラップ電圧の最適化の動作フローチャートである。
先に最適化したガス種、ガス流量(衝突ガス導入条件)を基に、各成分のトラップ条件を最適化する。
2 エンドキャップ電極
3 リング電極
4 絶縁物
5 衝突ガス発生装置
6 マスフローメータ
7 ガス導入路
8 ガス導入口
9 圧力センサ
10 排気口
11 制御弁
12 検出器
13 四重極質量分析部
14 3DQ部
Claims (5)
- 試料に由来するイオンと衝突ガスとの衝突誘起開裂反応を行なうための衝突セルを有し、上記イオンを質量分析する質量分析装置において、
上記衝突セル内に複数種類の衝突ガスを単独または混合して導入するためのガス導入路と、
上記複数種類の衝突ガスの上記衝突セルへの導入流量を、上記複数種類の衝突ガスのそれぞれについて調整するガス流量調整手段と、
上記衝突セル内に導入する衝突ガスの種類、流量及び衝突ガスの混合比の時間変化を調節するため、上記ガス流量調整手段を制御する制御手段と、
を備えることを特徴とする質量分析装置。 - 請求項1記載の質量分析装置において、上記衝突セル内部の圧力を調節するため衝突セルに形成される排気口と、この排気口からの排出ガス量を制御する制御弁とを備えることを特徴とする質量分析装置。
- 請求項1の質量分析装置において、上記制御手段は、上記衝突セルに印加する電界を制御すると共に、上記衝突セル内部のガス圧およびガス種により、上記衝突セルに印加される電圧値を制御することを特徴とする質量分析装置。
- 請求項1〜3のうちのいずれか一項記載の質量分析装置において、分子量既知の複数物質の分析条件を決定し、その分析条件に従い、任意に決定した質量範囲の分析条件を算出するキャリブレーション曲線を作成し、上記制御手段は、上記作成したキャリブレーション曲線を用い単位分析時間ごとに各分析条件を変化させることにより分析対象成分ごとに最適な開裂条件で分析することを特徴とする質量分析装置。
- 請求項1〜4のうちのいずれか一項記載の質量分析装置において、任意に質量範囲を設定し標準試料を導入することにより、上記制御手段が自動で該当する質量範囲の分析条件を設定することを特徴とする質量分析装置。
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