JP2006058802A - マイクロレンズの製造方法 - Google Patents
マイクロレンズの製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2006058802A JP2006058802A JP2004243221A JP2004243221A JP2006058802A JP 2006058802 A JP2006058802 A JP 2006058802A JP 2004243221 A JP2004243221 A JP 2004243221A JP 2004243221 A JP2004243221 A JP 2004243221A JP 2006058802 A JP2006058802 A JP 2006058802A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- shape
- microlens
- resist
- mask
- main
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Landscapes
- Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
Abstract
【解決手段】 主グレースケールマスクのみを使用を設計する場合に、形成されるマイクロレンズの形状が、中央部において目的とするものに比して凸になるように形状と、エッチング選択比の傾きを仮定して設計を行う。これにより、実際に製造されるレンズにおいて、レジストの熱処理に起因して中央部が扁平になるのを補償できる。このようにすると、マイクロレンズの周縁部においてSAG量が足らなくなるので、周縁部形状補正グレースケールマスクを使用してレジストの追加露光を行い、SAG量の不足を解消する。
【選択図】 無し
Description
(1) マスク素材に直接濃淡をつけて透過率分布を形成したグレースケールマスク(2) マスク基材の上に光吸収膜をつけ、その膜厚を制御することにより透過率分布を形成したグレースケールマスク(3) 通常のクロム膜のついたマスク基板上に開口を設け、この開口の寸法あるいは分布密度を制御することにより透過率分布を形成したグレースケールマスク
上記(1)〜(3)のグレースケールマスクのなかで、比較的製作が容易な(3)のグレースケールマスクを用いてマイクロレンズを製作することが近年盛んになっている。
S=ax+b
の形で表され、定数aをエッチング選択比の傾きと称している。目的とするマイクロレンズの形状からレジストの形状を決定するとき、このようなエッチング選択比の傾きを考慮して決定を行っている。
(1)目的とするマイクロレンズの形状を決定し、それからエッチング選択比を考慮し、レジストの目標形状を仮決定する。
(2)仮決定した形状のレジストを熱処理したときのレジストの形状を求め、それからエッチング選択比を考慮にいれ、実際に製造されるマイクロレンズの形状を求める。(これらは実測で求めてもよいし、シミュレーションで求めてもよい)。
(3)実際に製造されるマイクロレンズと目的とするマイクロレンズの中央部における形状を比較し、この誤差を補償するような中央部の形状を有するマイクロレンズが得られるように、目標とするマイクロレンズの形状と、エッチング選択比の傾きを変えて、再設計を行い、目標とするレジストの形状を再設計する。そして、このレジストの形状が得られるように、主グレースケールマスクを設計する。
(4)主グレースケールマスクを用いてレジストの露光、現像、熱処理、及びレジストと基材のエッチングを行ったときに得られるマイクロレンズの形状を求め(実測でもシミュレーションでもよい)、当初の目的とするマイクロレンズの形状との差を求め、周縁部の差を補償するような周縁部形状補正グレースケールマスクを設計する。
(5)周緑部形状補正グレースケールマスクの露光時間を、レジストの目標形状の設定、熱処理及びエッチング選択比変更により生ずる形状誤差量に応じて、決定する。
(6)主グレースケールマスクと周縁部形状補正グレースケールマスクを用いてレジストの露光を行い、その後、レジストの現像、熱処理、及びレジストと基材のエッチングを行うことにより、マイクロレンズを製造する。
Claims (5)
- マイクロレンズの主たる形状を決定する1枚の主グレースケールマスクと、前記マイクロレンズの形状を微調整する1枚以上の形状調整用グレースケールマスクを用いて、順次前記グレースケールマスクのパターンを光学基材上に設けたレジストに投影し、前記レジストを現像し、熱処理により前記レジストの表面を平滑化した後、残存する前記レジストと前記光学基材をエッチングすることにより、前記レジストの形状を前記光学基材に転写してマイクロレンズを製造する工程を有するマイクロレンズの製造方法であって、前記主グレースケールマスクのパターンを、前記熱処理を行わないと仮定した場合に、目的とするマイクロレンズ形状に対して中央部が凸となるようなパターンとして設計し、かつ、前記形状調整用グレースケールマスクのうち少なくとも1枚を、前記主グレースケールマスクの設計変更によって発生するマイクロレンズの周縁部の形状を修正するようなパターンを有するもの(周縁部形状補正グレースケールマスク)とすることを特徴とするマイクロレンズの製造方法。
- マイクロレンズの主たる形状を決定する1枚の主グレースケールマスクと、前記マイクロレンズの形状を微調整する1枚以上の形状調整用グレースケールマスクを用いて、順次前記グレースケールマスクのパターンを光学基材上に設けたレジストに投影し、前記レジストを現像し、熱処理により前記レジストの表面を平滑化した後、残存する前記レジストと前記光学基材をエッチングすることにより、前記レジストの形状を前記光学基材に転写してマイクロレンズを製造する工程を有するマイクロレンズの製造方法であって、前記光学基材をエッチングするときのエッチング選択比の傾きを、前記熱処理を行わないと仮定した場合に、形成されるレンズの形状が目的とするマイクロレンズ形状に対して中央部で凹となるような傾きであるとして前記主グレースケールマスクを設計し、かつ、前記形状調整用グレースケールマスクのうち少なくとも1枚を、前記主グレースケールマスクの設計の変更によって発生するマイクロレンズの周縁部の形状を修正するようなパターンを有するもの(周縁部形状補正グレースケールマスク)とすることを特徴とするマイクロレンズの製造方法。
- マイクロレンズの主たる形状を決定する1枚の主グレースケールマスクと、前記マイクロレンズの形状を微調整する1枚以上の形状調整用グレースケールマスクを用いて、順次前記グレースケールマスクのパターンを光学基材上に設けたレジストに投影し、前記レジストを現像し、熱処理により前記レジストの表面を平滑化した後、残存する前記レジストと前記光学基材をエッチングすることにより、前記レジストの形状を前記光学基材に転写してマイクロレンズを製造する工程を有するマイクロレンズの製造方法であって、前記主グレースケールマスクのパターンを、前記熱処理を行わないと仮定した場合に、目的とするマイクロレンズ形状に対して中央部が凸となるようなパターンとし、かつ、前記光学基材をエッチングするときのエッチング選択比の傾きを、前記熱処理を行わないと仮定した場合に、形成されるレンズの形状が目的とするマイクロレンズ形状に対して中央部で凹となるような傾きであるとして前記主グレースケールマスクを設計し、かつ、前記形状調整用グレースケールマスクのうち少なくとも1枚を、前記主グレースケールマスクの設計の変更によって発生するマイクロレンズの周縁部の形状を修正するようなパターンを有するもの(周縁部形状補正グレースケールマスク)とすることを特徴とするマイクロレンズの製造方法。
- 請求項1から請求項3のうちいずれか1項に記載のマイクロレンズの製造方法であって、前記形状調整用グレースケールマスクを使用した際の露光時間を調整することでマイクロレンズの周縁部の形状を修正する過程を有することを特微とするマイクロレンズの製造方法。
- 目的の形状に対して中央部が凸となるような異なる形状を有するレジスト形状に応じたパターンを有した主グレースケールマスクを作製し、前記主グレースケールマスクを用いて、レジストが塗布された基板を露光した後前記レジストを現像し、熱処理後に得られたレジスト形状を基に、エッチング選択比を設定して、エヅチングすることによリレジストの形状を基板に転写する過程を有することを特微とするマイクロレンズの製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004243221A JP2006058802A (ja) | 2004-08-24 | 2004-08-24 | マイクロレンズの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004243221A JP2006058802A (ja) | 2004-08-24 | 2004-08-24 | マイクロレンズの製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006058802A true JP2006058802A (ja) | 2006-03-02 |
Family
ID=36106288
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004243221A Pending JP2006058802A (ja) | 2004-08-24 | 2004-08-24 | マイクロレンズの製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2006058802A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103003724A (zh) * | 2010-07-15 | 2013-03-27 | Lg化学株式会社 | 具有改进的光学性能的光学膜及包含该光学膜的背光单元 |
-
2004
- 2004-08-24 JP JP2004243221A patent/JP2006058802A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103003724A (zh) * | 2010-07-15 | 2013-03-27 | Lg化学株式会社 | 具有改进的光学性能的光学膜及包含该光学膜的背光单元 |
JP2013535766A (ja) * | 2010-07-15 | 2013-09-12 | エルジー・ケム・リミテッド | 光学性能が向上した光学フィルム及びそれを含むバックライトユニット |
US9134463B2 (en) | 2010-07-15 | 2015-09-15 | Lg Chem, Ltd. | Optical film having improved optical performance, and backlight unit comprising the same |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2006258930A (ja) | マイクロレンズの製造方法、及びマイクロレンズ用の型の製造方法 | |
CN101042526B (zh) | 掩膜数据的修正方法、光掩膜和光学像的预测方法 | |
JP2007208245A (ja) | 露光量のおよびフォーカス位置のオフセット量を求める方法、プログラムおよびデバイス製造方法 | |
KR101757743B1 (ko) | 플레어 보정방법 및 euv 마스크 제조방법 | |
JPH0817719A (ja) | 投影露光装置 | |
TWI414900B (zh) | 曝光方法及儲存電腦程式之記憶媒體 | |
JP3673633B2 (ja) | 投影光学系の組立調整方法 | |
CN100413026C (zh) | 光掩模对、光斑测定机构和光斑测定方法 | |
TW200900872A (en) | Method for predicting resist pattern shape, computer readable medium storing program for predicting resist pattern shape, and computer for predicting resist pattern shape | |
JP3408112B2 (ja) | 回折光学素子を有した光学部材及びそれを用いた光学系 | |
US20040224242A1 (en) | Focus monitor method and mask | |
JP4760198B2 (ja) | 露光用マスク、露光用マスクの設計方法および露光用マスクの設計プログラム | |
US20190113850A1 (en) | Light intensity modulation method | |
JP4595548B2 (ja) | マスク基板及びマイクロレンズの製造方法 | |
KR20110138083A (ko) | 식각 근접 보정방법 및 그를 이용한 포토마스크 레이아웃의 생성방법 | |
US10545413B2 (en) | Evaluation method, exposure method, and method for manufacturing an article | |
US6261724B1 (en) | Method of modifying a microchip layout data set to generate a predicted mask printed data set | |
US8049191B2 (en) | Method of transferring pattern of reticle, computer readable storage medium, and method of manufacturing device | |
JP2006058802A (ja) | マイクロレンズの製造方法 | |
JP2009008933A (ja) | レジストパターンの形成方法及びフォトマスク | |
JP4366121B2 (ja) | 素子の製造方法 | |
JP2008000936A (ja) | マイクロレンズの製造方法 | |
JP2008116606A (ja) | マイクロレンズの製造方法 | |
JP2013044970A (ja) | マイクロレンズアレイの製造方法及びマイクロレンズアレイ | |
JP2006010797A (ja) | マイクロレンズの製造方法、及びマイクロレンズ用の型の製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070517 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20080729 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20090827 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090929 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20100302 |