JP2006058243A - 粒子検出器 - Google Patents
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Abstract
【課題】 粒子検出領域の壁面等を形成する部材による散乱光を低減し、微小粒子による散乱光の検出を可能にする粒子検出器を提供する。
【解決手段】 レーザ光Laを照射して形成される粒子検出領域3に試料空気を導き、この試料空気中の粒子が発する散乱光を検出する粒子検出器において、粒子検出領域3を囲む部材、例えばセンサブロック4の内壁面4a、吸入ノズル21のうちセンサブロック4内に臨む部分21a、鞘管22のうちセンサブロック4内に臨む部分22a、排出ノズル23のうちセンサブロック4内に臨む部分23aの一部又は全部に、光を吸収する塗料25を塗布し、背景光を低減する。
【選択図】 図1
【解決手段】 レーザ光Laを照射して形成される粒子検出領域3に試料空気を導き、この試料空気中の粒子が発する散乱光を検出する粒子検出器において、粒子検出領域3を囲む部材、例えばセンサブロック4の内壁面4a、吸入ノズル21のうちセンサブロック4内に臨む部分21a、鞘管22のうちセンサブロック4内に臨む部分22a、排出ノズル23のうちセンサブロック4内に臨む部分23aの一部又は全部に、光を吸収する塗料25を塗布し、背景光を低減する。
【選択図】 図1
Description
本発明は、光を照射して形成される粒子検出領域に試料空気を導き、この試料空気中の粒子が発する散乱光を検出する粒子検出器に関する。
近年、精密電子機器には高密度・高精度な微細加工が要求され、その加工は高清浄な環境下で行われている。この高清浄度の管理には、レーザ粒子検出器が用いられているが、0.1μmより更に微小な粒子を測定・管理することが求められている。微小な粒子を検出するには、より強力なレーザ光を必要とする。
しかし、レーザ光のパワーを上げると、黒色アルマイト処理などが施された粒子検出領域の壁面などを形成する部材によるレーザ光の散乱が増し、結果として背景光の増加によるノイズの増加が起こり、微小粒子の検出が困難になるという問題がある。
本発明は、従来の技術が有するこのような問題点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、粒子検出領域の壁面等を形成する部材による散乱光を低減し、微小粒子による散乱光の検出を可能にする粒子検出器を提供しようとするものである。
上記課題を解決すべく請求項1に係る発明は、光を照射して形成される粒子検出領域に試料空気を導き、この試料空気中の粒子が発する散乱光を検出する粒子検出器において、前記粒子検出領域を囲む部材の一部又は全部に、光を吸収する塗料を塗布したものである。
請求項2に係る発明は、光を照射して形成される粒子検出領域に試料空気を導き、この試料空気中の粒子が発する散乱光を検出する粒子検出器において、前記粒子検出領域を囲む部材の一部又は全部を、光吸収材で形成したものである。
以上説明したように請求項1に係る発明によれば、必要な粒子検出領域を囲む部材に光を吸収する塗料を塗布することにより、粒子検出領域を囲む部材による散乱光を低減することによって背景光の影響を減らし、S/N比の向上を図ることができる。
請求項2に係る発明によれば、粒子検出領域を囲む部材による散乱光を低減することによって背景光の影響を減らし、S/N比の向上を図ることができる。
以下に本発明の実施の形態を添付図面に基づいて説明する。ここで、図1は本発明に係る粒子検出器の構成説明図、図2は光を吸収する塗料と背景光量及び粒子信号の関係を示す図である。
本発明に係る粒子検出器は、図1に示すように、光源としてのレーザ発振器1と、内部に試料空気の流れによる流路2とレーザ光Laにより粒子検出領域3を形成するセンサブロック4と、粒子検出領域3で発生する散乱光を受光して粒子を検出する受光部(不図示)を備えている。
レーザ発振器1は、励起用レーザ光Leを放射する半導体レーザ11と、励起用レーザ光Leを集光する集光レンズ12と、集光レンズ12で集光した励起用レーザ光Leを受けて励起し、レーザ光Laを放射する固体レーザ13と、固体レーザ13と流路2を挟んで対向して設置され、固体レーザ13が放射するレーザ光Laを反射する反射鏡14からなる。
センサブロック4は、試料空気を導く吸入ノズル21と、吸入ノズル21を囲むように吸入ノズル21と同軸上に配置されて清浄空気を導く鞘管22と、粒子検出領域3を通過した試料空気と清浄空気を排出する排出ノズル23と、センサブロック4内に清浄空気を供給する2つのパージエア管24を設けている。
流路2は、吸入ノズル21から供給される試料空気と鞘管22から供給される清浄空気が排出ノズル23の下流に設置した吸引ポンプ(不図示)により吸引されて、試料空気と清浄空気が排出ノズル23に流れ込むことによって形成される。なお、パージエア管24から供給される清浄空気も同様に排出ノズル23に流れ込んで排出される。
また、粒子検出領域3を囲む部材の一部又は全部に、光を吸収する塗料25を塗布している。ここで、粒子検出領域3を囲む部材とは、センサブロック4の内壁面4a、吸入ノズル21のうちセンサブロック4内に臨む部分21a、鞘管22のうちセンサブロック4内に臨む部分22a、排出ノズル23のうちセンサブロック4内に臨む部分23aである。
光を吸収する塗料25としては、ラッカ塗料や合成樹脂塗料などの樹脂やカーボンを含んだ塗料が適用できる。また、光を吸収する塗料25の塗膜の厚さは、レーザ光Laの波長より長めが望ましい。特に、吸入ノズル21、鞘管22、排出ノズル23のようにレーザ光Laに近い部材に光を吸収する塗料25を塗布すると、効果は大きい。
以上のように構成した本発明に係る粒子検出器の作用について説明する。排出ノズル23の下流に設置した吸引ポンプ(不図示)により吸引することで試料空気を吸入ノズル21から粒子検出領域3に導く。同時に、鞘管22を介して所定流量の清浄空気を試料空気の流れの周囲に供給する。
試料空気の流れの周囲を囲んで流れる清浄空気が層流状態にあるため、試料空気の流れも層流状態になるよう誘導され、より安定した層流状態を維持して粒子検出領域3を通過する。すると、試料空気中に存在する粒子は、レーザ光Laを受けて散乱光を発する。散乱光は受光部(不図示)により受光され、粒子の大きさや個数が検出される。
その際、粒子検出領域3を囲む部材に向かったレーザ光Laは、粒子検出領域3を囲む部材に塗布された光を吸収する塗料25に吸収される。一方、粒子が発する散乱光は、直接受光部(不図示)に設けられた集光レンズなどにより集光されて受光素子に導かれるため、受光素子に入力する粒子の散乱光は殆ど減らさずに、背景光を減らすことができる。
従って、粒子検出領域3を囲む部材に向かったレーザ光Laが背景光になるのを防止できるので、受光部(不図示)にとっての背景光によるノイズが低減され、S/N比を向上することができる。
図2は、光を吸収する塗料25を粒子検出領域3を囲む部材に塗布しない場合の背景光量と粒子信号の関係(a)と、塗布した場合の背景光量と粒子信号の関係(b)を示す。光を吸収する塗料25を粒子検出領域3を囲む部材に塗布することにより、背景光及びノイズ強度が低減され、S/N比が向上しているのが分かる。これにより、より微小な粒子を検出することが可能になる。
また、光を吸収する塗料25を粒子検出領域3を囲む部材に塗布する代わりに、粒子検出領域3を囲む部材を光吸収材で形成しても、同様な効果を得ることができる。光吸収材としては、カーボン、高分子樹脂などである。光の中でも波長が長い赤外光は、樹脂による吸収が多く、効果が大きい。
本発明によれば、背景光を低減して、S/N比を向上させることができるので、微小な粒子も精度よく検出可能な粒子検出器を構成することができる。
1…レーザ発振器、2…流路、3…検出領域、4…センサブロック、4a…内壁面、21…吸入ノズル、22…鞘管、23…排出ノズル、24…パージエア管、25…光を吸収する塗料、La…レーザ光。
Claims (2)
- 光を照射して形成される粒子検出領域に試料空気を導き、この試料空気中の粒子が発する散乱光を検出する粒子検出器において、前記粒子検出領域を囲む部材の一部又は全部に、光を吸収する塗料を塗布したことを特徴とする粒子検出器。
- 光を照射して形成される粒子検出領域に試料空気を導き、この試料空気中の粒子が発する散乱光を検出する粒子検出器において、前記粒子検出領域を囲む部材の一部又は全部を、光吸収材で形成したことを特徴とする粒子検出器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2004242791A JP2006058243A (ja) | 2004-08-23 | 2004-08-23 | 粒子検出器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2004242791A JP2006058243A (ja) | 2004-08-23 | 2004-08-23 | 粒子検出器 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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JP2006058243A true JP2006058243A (ja) | 2006-03-02 |
Family
ID=36105805
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2004242791A Pending JP2006058243A (ja) | 2004-08-23 | 2004-08-23 | 粒子検出器 |
Country Status (1)
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JP (1) | JP2006058243A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014130167A (ja) * | 2014-04-09 | 2014-07-10 | Shin Nippon Air Technol Co Ltd | パーティクル濃度測定装置 |
JP2020519905A (ja) * | 2017-05-12 | 2020-07-02 | トルンプ フォトニック コンポーネンツ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | 自己混合干渉粒子検出中の偽陽性信号を抑制する方法 |
-
2004
- 2004-08-23 JP JP2004242791A patent/JP2006058243A/ja active Pending
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JP2020519905A (ja) * | 2017-05-12 | 2020-07-02 | トルンプ フォトニック コンポーネンツ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | 自己混合干渉粒子検出中の偽陽性信号を抑制する方法 |
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