JP2006022834A - シール装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】 本発明は、密封環の摺動時の摩耗を防止すると共に、摩耗粉が被密封流体に混入するのを防止することにある。
【解決手段】 シール装置(1)は高圧側(P1)と低圧側(P2)との間に配置されて第1摺動面(3)内に動圧発生溝(5)を有する第1密封環(2)と、第1摺動面(3)と相対摺動する第2摺動面(13)を有する第2密封環(12)と、第1密封環(2)の第1摺動面(3)又は第2密封環(12)の第2摺動面(13)に貫通するとともに流体供給源に連通可能な流体供給通路(14)とを具備し、第1摺動面(3)の動圧発生溝(5)に高圧側の被密封流体を導入可能な導入通路(6)を有するものである。

【選択図】 図1

Description

本発明は、メカニカルシール等のシール装置に関する。更に詳しくは、密封環の摺動面の摩耗を防止して被密封流体に摩耗粉が混入しないようにすると共に、摺動に伴う起動時のトルクを小さくしたシール装置に係わるものである。
本発明の技術は、半導体製造設備などの被密封流体をシールするメカニカルシール装置として有用である。この半導体製造設備などでは、被密封流体に不純物が含まれていると、不純物により製造物に悪影響を与える。このため、メカニカルシール装置において密封環の摺同時の摩耗により摩耗粉が被密封流体に入り込むことも防止しなければならない。これに対し、密封環の摺動面の摩耗を防止するシール装置として複合式非接触シール装置が存在する(特許文献1参照)。
関連技術1として、図11は、この複合式非接触シール装置100の断面図である。図11に於いて、複合式非接触シール装置100は、孔を設けたハウジング160と、孔に挿嵌した回転軸150との間に装着される。回転軸150にはスリーブ151を介して回転用密封環102が嵌着している。又、回転軸150とスリーブ151との嵌着面間はOリングによりシールされている。回転用密封環102の摺動面103には低圧側P2へ突き抜けた螺旋溝105が周面に沿って多数形成されている。この螺旋溝105は高圧側P1へは突抜になっていない。
一方、固定用密封環112は、2個のOリングを介してハウジング160に嵌合されている。この固定用密封環112には嵌合穴が設けられており、この嵌合穴に固定リング140に設けたピン142が嵌合して互いに係止している。又、このピン142には、ばね141が設けられており、このばね141により固定用密封環112を回転用密封環102側へ押圧している。更に、固定用密封環112には、通路114が設けられており、この通路114は、固定用密封環112のシール面113に貫通している。又、ハウジング160には流通路が設けられており、流通路に接続する管路161が外部に設けられている。この流通路と通路114とが連通する両側は2つのOリングによりシールされている。管路161の端部には流体供給源7が設けられている。流体供給源7から窒素ガスが圧送される。固定リング140は、ハウジング160に固定されている。又、固定リング140と固定用密封環112との嵌合間はOリング132によりシールされている。
そして、シール装置100の一方の低圧側P2は真空のような低圧である。又、シール装置100の他方の高圧側P2は設備に利用する被密封流体が存在する。流体供給源7の圧力は、高圧側P1より更に高圧である。この流体供給源7から圧送される窒素ガスは摺動面103とシール面113との間に作用する。この摺動面103とシール面113との間に作用する窒素ガスは、静圧として摺動面103とシール面113との間に作用して固定用密封環112を回転用密封環102から離反させる。同時に、摺動面103に設けた螺旋溝105の作動により窒素ガスに動圧を発生させる。この動圧により固定用密封環112を回転用密封環102から離反させる。そして、回転用密封環102と固定用密封環112とはこの静圧と動圧により複合式非接触シールを構成する。
しかし、この流体供給源7から供給される窒素ガスのみに頼る静圧と動圧とによる非接触シールは、何らかの事故により流体供給源7から窒素ガスが供給されなくなると、静圧と動圧は消滅するから、回転用密封環102と固定用密封環112とは接触して摺動することになる。そして、回転用密封環102と固定用密封環112との相対摺動時に発生する摩耗粉が螺旋溝105を通って低圧側P2へ流入することになる。低圧側P2は、機内であるから、機内にある加工品に不良を発生させる原因となる。更には、機内の部品に損傷を生じさせる原因となる。
更に又、螺旋溝105を設けた摺動面103は、凹凸があるので摩耗しやすくなるから、摺動面103及びシール面113の摩耗を促進することになる。
更に、特許文献1には、関連技術2として、回転用密封環の摺動面に動圧発生溝(グルーブ)が設けた他の発明が開示されている。この発明は、上述のシール装置100と相違する構成が、回転用密封環の摺動面内にV型の動圧発生溝(グルーブ)を設けた点である。しかし、摺動面に動圧発生溝を設けたのみでは、流体供給源7から供給される窒素ガスが何らかの故障により供給されなくなると、回転用密封環と固定用密封環との相対面間には静圧も動圧も発生しないから、摺動面とシール面とは接触摺動することになる。その結果、上述の関連技術1と同様な問題が発生する。
特開2001−59581号公報(図2及び第4図)
本発明は、上述のような問題点に鑑み成されたものであって、その発明が解決しようとする課題は、密封環の摺動面の摩耗を防止することにある。又、摺動面の摩耗粉が被密封流体に混入して、加工品に不良を発生されることや、設備の部品に故障を発生させることを防止することにある。
本発明は、上述のような技術的課題を解決するために成されたものであって、その技術的解決手段は以下のように構成されている。
請求項1に係わる本発明のシール装置は、相対摺動面間に流体圧力を供給して相対摺動面間が非接触状態にするシール装置であって、高圧側と低圧側との間に配置されて端面の第1摺動面内に動圧発生溝を有する第1密封環と、第1摺動面と相対摺動する第2摺動面を有する第2密封環と、第1密封環の第1摺動面又は第2密封環の第2摺動面に貫通するとともに流体供給源に連通可能な流体供給通路とを具備し、第1摺動面の動圧発生溝に高圧側の被密封流体を導入可能な導入通路を有するものである。
請求項2に係わる本発明のシール装置は、流体供給通路から供給される供給流体圧力が高圧側の被密封流体の圧力より小さく且つ低圧側の圧力より大きく構成されているものである。
請求項3に係わる本発明のシール装置は、動圧発生溝が第1摺動面の幅の中心線に対して対称に形成されているものである。
請求項4に係わる本発明のシール装置は、導入通路が溝状に形成されて溝の底面が高圧側に向かって徐々に浅くなる形状に形成されているものである。
請求項5に係わる本発明のシール装置は、第1摺動面又は第2摺動面に流体供給通路と連通可能な流体案内通路を有するものである。
この請求項1に係わる本発明のシール装置によれば、流体供給通路から導入される供給流体圧力により第1密封環の第1摺動面と第2密封環の第1摺動面の相対摺動面間に静圧を発生させて相対摺動面間を非接触状態にする。同時に、摺動時の動圧発生溝により静圧力の相対摺動面間の圧力を一定にして安定させる。そして、流体供給源から供給される供給流体圧力が事故により供給を停止したときには、高圧側の被密封流体が導入通路を介して低圧の相対摺動面間に自動的に導入され、この被密封流体を介して動圧発生溝の作用により相対摺動面間が非接触状態を継続させることが可能になる。
その結果、第1密封環と第2密封環の相対摺動面間が相対接触摺動して摩耗することを効果的に防止する。そして、半導体製品等の加工物の加工表面に摩耗した粉末が付着して加工物が不良となるのを効果的に防止する。又、シール装置を取り付ける設備の部品に粉末が付着して故障の原因となるのも効果的に防止できる。更に、非接触摺動による密封環は、摺動面の耐久能力を発揮できると共に、相対摺動面間の非接触状態の維持は、高価な密封環を安価な材質に変更できる効果を奏する。
この請求項2に係わる本発明のシール装置によれば、流体供給通路から供給される供給流体圧力が高圧側の被密封流体の圧力より小さく構成されているので、流体供給源から供給される供給流体圧力が高圧側の被密封流体に混入するのが防止できる。このために、供給流体に含む不純物が被密封流体に混入して加工物の加工表面に付着し、加工物が不良となるのを効果的に防止できる。又、不純物が設備の部品に付着して故障の原因となるのも効果的に防止できる。
この請求項3に係わる本発明のシール装置によれば、動圧発生溝が第1摺動面の幅の中心線に対して対称に形成されているものである。このために、導入通路から浸入する被密封流体を動圧発生溝により摺動面全体に導入して相対摺動面間の間隙寸法を小さく保持し、被密封流体が低圧側へ漏洩するのを効果的に防止する。
この請求項4に係わる本発明のシール装置によれば、溝状の導入通路の底面が高圧側に向かって徐々に浅くなる形状に形成されているものであるから、流体供給通路からの圧力流体は被密封流体側へ流出するのが効果的に防止できる効果を奏する。
この請求項5に係わる本発明の シール装置によれば、第1摺動面又は第2摺動面に流体供給通路と連通可能な流体案内通路を有するものであるから、流体供給通路から供給される供給流体を相対摺動面間に均一な厚さに導入できる。このために、相対摺動面間の間隙は小さく保持することが可能になる効果を奏する。このために、流体供給源から供給される供給流体の流量を微小にすることが可能になるので、供給流体の消費量を低減し、ランニングコストが安価になる効果を奏する
以下、本発明に係わる好ましい実施の形態のシール装置を図面に基づいて詳述する。尚、以下に説明する各図面は、設計図を基にした正確な図面である。
図1は、本発明に係わる第1実施の形態を示す第1密封環2(例えば、回転用密封環)の正面図(図3のI矢視)である。又、図2は、第2密封環12(例えば、固定用密封環)の正面図(図3のII矢視)である。図3は、この第1密封環と第2密封環を組み立てたシール装置1の断面図である。図1に於いて、第1密封環2は、断面が方形状のリング体に形成する。この第1密封環2の端面3Eには、両摺動境界線3A内に第1摺動面3を設ける。第1摺動面3内には周面に沿って等配に一対の正回転R1・逆回転R2用の動圧発生溝5を設ける。この動圧発生溝5には正回転R1用のコ形をした第1動圧発生溝5Aを設ける。又、逆回転R2用の第2動圧発生溝5Bは第1動圧発生溝5Aと半径線を対称に反対向きに設ける。この第1動圧発生溝5Aと第2動圧発生溝5Bとが一対となって周方向に等配を成して多数個に形成する。
この第1密封環2は、正回転R1用と逆回転R2用を兼ねたものである。各第1動圧発生溝5Aと第2動圧発生溝5Bには高圧側P1(図1では内径側)の径方向へ突出して内周の摺動境界線3Aを越えた端面3Eに被密封流体用の導入通路6を延在する。又、第1動圧発生溝5Aと第2動圧発生溝5Bとを周方向へ横断する流体案内溝(流体案内通路とも言う)4が周面に沿って断続に形成する。この図1に於いては、各一つの流体案内構4は、第1動圧発生溝5Aと第2動圧発生溝5Bとを4個周方向へ横断している。
第1動圧発生溝5Aと第2動圧発生溝5Bはコ形及び逆コ形に形成されているが、溝の深さは8×10−6m〜30×10−6mの範囲にすることが好ましい。又、導入通路6の溝の深さは3×10−6m〜15×10−6mにすると良い。但し、導入通路6の溝の深さは、第1動圧発生溝5A及び第2動圧発生溝5Bの溝の深さ寸法より小さな寸法関係にすると良い。このように、導入通路6の溝の深さ寸法を第1動圧発生溝5Aと第2動圧発生溝5Bの溝の深さ寸法より小さくすることにより、連通路61からの供給流体の供給使用量は、接触形シールに比較して10から20%だけ増加するにとどまる。一方、従来の非接触型シールに比較すると、供給流体のランニングコストは大きく低減できる。尚、上述の各溝の幅寸法は摺動面の幅寸法と比較して決めると共に、供給流体圧力を考慮して決める。更に、流体案内溝4の溝の深さは0.1mmから2.0mmにすることが好ましい。又、流体案内溝4の溝の幅は、0.2mmから2.5mmにすると良い。第1密封環2は、炭化珪素材製であるが、特殊鋼、カーボン材、セラミック材、超硬合金材等を用いることができる。
図2は、図1の第1密封環2と一対を成す第2密封環12である。この図2に於いて、第2密封環12は、固定用密封環として固定されている。尚、図1と図2に於いて第1密封環2を固定用密封環にすると共に、第2密封環12を回転用密封環に配置換えすることは必要に応じて設計変更することができる。
第2密封環12も断面方形状のリング体に形成する。第2密封環12の内周側が高圧側P1である。又、第2密封環12の外周側が低圧側P2である。そして、第2密封環12の端面には第2摺動面13を形成する。第2摺動面13の径方向中間には流体供給通路14を設ける。この流体供給通路14は8個設けられているが、それぞれ外周から第2摺動面13に貫通している。第2密封環2は、カーボン材製であるが、特殊鋼、炭化珪素材、セラミック材、超硬合金材等を用いることができる。
図3は図1の第1密封環2と図2の第2密封環12とを組み立ててシール装置1に構成したものである。このシール装置1は回転軸50とハウジング60との間に取り付ける。ハウジング60の段部状孔に2個を並列にしたOリング65を介して断面L形のリング状の保持部40が嵌着している。更に、この保持部40の内周孔の周面には2個のOリング32を配置して第2密封環12を移動自在に取り付ける。第2密封環12は内周孔から抜け出さないようにスナップリング67により止める。又、保持部40の内周孔の側周面に沿って等配に形成された複数の穴を設ける。この各穴には、ばね41をそれぞれ配置する。そして、ばね41により第2密封環12を第1密封環12へ弾発に押圧する。尚、図示は省略するが、保持環40と第2密封環12とは互いにピンにより係止している。
回転軸50には固定部21がOリング33を介して固着されている。この固定部21の段部の側周面にOリング31を設け、この段部にOリング31でシール可能に第1密封環2を嵌着する。そして、第1密封環2は、第1抑え部22により固定する。又、固定部21と第1抑え部22は回転軸50に第2抑え部23を介して固定する。この第2抑え部23は回転軸50と互いに螺合して固定部21と第1抑え部22とを締め付けて固定する。
ハウジング60と保持部40には、互いに連通した連通路61を設ける。この連通路61は、流体供給通路14と連通する。又、図示省略の流体供給源から供給流体圧力P3を供給できるように配管が接続可能にされている。そして、機内の高圧側P1に被密封流体が存在する。又、シール装置1より機外側内部は低圧側P2となる。この機外側内部は真空のような低圧な場合がある。供給流体圧力P3の圧力は、高圧側P1の圧力と同等か、それより高くされている。又、高圧側P1の圧力は、低圧側P2の圧力より高い圧力である。つまり、P3>又は=P1>P2となる。尚、P1>P3>P2にすることもできる。このP1>P3>P2の圧力関係にすることにより、被密封流体に不純物が混入することを防止できる。このため、被密封流体から加工物等に不純物や摩耗粉が付着するのを効果的に防止できる。又、流体供給源から供給する供給流体の容量を低減できる。このため、流体供給源から供給される供給流体のランニングコストが低減できる。この供給流体は、窒素ガスを採用したとろが第1摺動面3と第2摺動面13間の動圧発生に対して良好な結果が得られた。
このように構成されたシール装置1において、流体供給源から供給流体を流体供給通路14へ供給すると、流体供給通路14から第1摺動面3と第2摺動面13との間の相対摺動面間に流れる。更に、この供給流体は流体案内溝4へ流れると共に、第1動圧発生溝5Aと第2動圧発生溝5Bにより相対摺動面間の全面に静圧として分布させる。このときの相対摺動面間の間隔寸法は、15×10−6mから30×10−6mに形成すると良い。
この稼働状態で、事故により流体供給源から供給流体が相対摺動面間に流入しなくなると、第1密封環2の第1摺動面3と第2密封環12の第2摺動面13とは接触摺動しようとするが、第1摺動面3の第1動圧発生溝5Aと第2動圧発生溝5Bには、被密封流体が導入できる導入通路6がそれぞれ設けられているから、この導入通路6から高圧側P1の被密封流体が低圧の相対摺動面間に流入する。そして、供給流体は、第1動圧発生溝5A(正回転R1)又は第2動圧発生溝5B(逆回転R2)により動圧に変化して相対摺動面間に間隙を生じさせる。このときの相対摺動面間の間隔寸法は、2×10−6mから7×10−6mにすると良い。
このような相対摺動面間の間隔寸法に形成されていれば、第1動圧発生溝5A(正回転R1)と第2動圧発生溝5B(逆回転R2)は第1摺動面3内に形成されていて、低圧側P2へは突き抜けになっていないから、被密封流体が低圧側P2へ漏洩するのが微小に抑えられる。しかも、導入通路6を各動圧発生溝5から高圧側P1に向かって溝の深さを小さくすると、供給流体が高圧側P1へ漏洩する量も小さくなると共に、供給流体が供給停止した場合でも、被密封流体が相対摺動面間において動圧発生するための消費量も小さくなる。このことは、この少量となる被密封流体が低圧側P2へ漏洩する量も微小とすることができる。
図4は、本発明の第2実施の形態を示すシール装置の一部の断面図である。この図4は図1のIV−IV面の動圧発生溝5Bを示す。この動圧発生溝5Bの溝の深さH1は、図1に於いては略同一深さにされているが、図4に示すように溝の端部側を傾斜面にして浅く形成することもできる。このように形成することにより、動圧発生力が強力になる。この第1密封環2の回転方向はR2である。又、一実施例として導入通路6の溝底面は、図示省略するが、図4と同様な考えの基に、高圧側P1に向かって浅くなる傾斜面に形成すると良い。尚、C1は、第1摺動面3と第2摺動面13との相対摺動面間の間隙寸法である。
図5は本発明の第3実施の形態に於ける第1密封環2の一部を示す正面図である。この第1密封環2の動圧発生溝5は、図1の第1動圧発生溝5Aと第2動圧発生溝5Bと略同一形状である。相違する点は、導入通路6が外周側に設けられた実施例である。この第1密封環2は内周側が低圧側P2であり、外周側が高圧側P1である。この第1密封環2は正回転R1と逆回転R2の両用である。その他の構成は、図1の第1密封環2と略同一である。
図6は本発明の第4実施の形態を示す第1密封環2の正面図である。図6において、図1の第1密封環2と相違する点は、流体案内溝4が摺動面3の周面に沿って円環状に形成したものである。その他の構成は図1と略同一である。第1密封環2の円環状の流体案内溝4により供給流体は、正回転時でも、逆回転時でも第1摺動面3の周面に流入してから、内外径方向の第1摺動面3に流出して静圧を発生させる。
図7と図8は、本発明の第5実施の形態を示す第1密封環2と第2密封環12の正面図である。図7において、図1の第1密封環2と相違する点は、流体案内溝4をなくすと共に、図8の第2密封環12の第2摺動面13に図1に示すと同様な流体案内溝4を設けたものである。このようにすることにより、供給流体は相対摺動面間への流れが良くなり、静圧力を発生しやすくなる。又、一対を成す第1密封環2の第1摺動面3と第2密封環12の第2摺動面13とのどちらの摺動面3、13に動圧発生溝5や導入通路6を設けても同様な効果を奏することが判明する。尚、第1密封環2は正回転R1と逆回転E2の両用である。
図9は本発明の第6実施の形態を示す第1密封環2Aの正面図である。又、図10は、本発明の第7実施の形態を示す第1密封環2Bの正面図である。図9は正回転R1用の第1密封環2Aである。また、図10は、逆回転R2用の第1密封環2Bである。この図9の第1密封環2Aは、第1摺動面3内に正回転R1用の第1動圧発生溝5Aを設ける。又、導入通路6を高圧側P1の端面3Eに達する溝に形成する。更に、図10の第1密封環2Bは、第1摺動面3に逆回転R2用の第2動圧発生溝5Bを設けたものである。又、導入通路6を高圧側P1の端面3Eに達する溝に形成したものである。その他の構成は、図9と図10の各密封環2、12が略同一に形成されている。尚、図5,6,9,10の第1密封環2は図2又は図8の第2密封環12と組み合わせて一対に構成する。
以上のように、本発明のシール装置は、半導体製造設備等に用いられて微粉末を嫌う被密封流体をシールするシール装置として有用である。又、一対の密封環の摩耗を防止して耐久能力を向上させるシール装置として有用である。
本発明の第1実施の形態に係わる第1密封環の正面図である。 本発明の第1実施の形態に係わる第2密封環の正面図である。 図1と図2の第1密封環及び第2密封環を組み合わせたシール装置の半断面図である。 本発明の第2実施の形態に係わる第1密封環の一部正面図である。 本発明の第3実施の形態に係わる第1密封環の正面図である。 本発明の第4実施の形態に係わる第1密封環の正面図である。 本発明の第5実施の形態に係わる第1密封環の正面図である。 本発明の第5実施の形態に係わる第2密封環の正面図である。 本発明の第6実施の形態に係わる第1密封環の正面図である。 本発明の第7実施の形態に係わる第1密封環の正面図である。 本発明の関連技術を示すシール装置の半断面図である。
符号の説明
1 シール装置
2 第1密封環
2A 第1密封環
2B 第1密封環
3 第1摺動面
3A 摺動境界線
3E 端面
4 流体案内溝(流体案内通路)
5 動圧発生溝
5A 第1動圧発生溝
5B 第2動圧発生溝
6 導入通路
12 第2密封環
13 第2摺動面
14 流体供給通路
21 固定部
22 第1抑え部
40 保持部
41 ばね
61 連通路
P1 高圧側
P2 低圧側
P3 供給流体圧力
R1 正回転
R2 逆回転

Claims (5)

  1. 相対摺動面間に供給流体圧力を供給し、相対摺動面間が非接触状態でシールするシール装置であって、
    高圧側と低圧側との間に配置されて端面の第1摺動面内に動圧発生溝を有する第1密封環と、
    前記第1摺動面と相対摺動する第2摺動面を有する第2密封環と、
    前記第1密封環の前記第1摺動面又は前記第2密封環の前記第2摺動面に貫通するとともに流体供給源に連通可能な流体供給通路とを具備し、
    前記第1摺動面の前記動圧発生溝に高圧側の被密封流体が導入可能な導入通路を有することを特徴とするシール装置。
  2. 前記流体供給通路から供給される供給流体圧力が前記高圧側の被密封流体の圧力より小さく且つ前記低圧側の圧力より大きく構成されていることを特徴とする請求項1に記載のシール装置。
  3. 前記動圧発生溝が前記第1摺動面の幅の中心線に対して対称に形成されていることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載のシール装置。
  4. 前記導入通路が溝状に形成されて溝底面が前記高圧側に向かって徐々に浅くなる形状に形成されていることを特徴とする請求項1又は請求項2又は請求項3に記載のシール装置。
  5. 前記第1摺動面又は前記第2摺動面に前記流体供給通路と連通可能な流体案内通路を有することを特徴とする請求項1又は請求項2又は請求項3又は請求項4に記載のシール装置。
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