JP2006000223A - X線ct装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】リファレンス検出器を用いることなく、正確な再構成処理に必要な入射X線量を求める。
【解決手段】(1)において、X線検出器12から投影画像P1を得る。(2)では、この投影画像P1ごとに直接X線入射領域であるグレイ画像で示す被写体Sの背景領域を抽出し、背景領域抽出画像P2を得る。(3)では、背景領域抽出画像P2から入射X線量を求め、この入射X線量に対応する画素値を決定する。投影画像P1をこの入射X線量により除算し、対数を求めて再構成のための投影データを作成し、更にこの投影データを再構成して断層画像を作成する。
【選択図】図2

Description

本発明は、1回の走査で複数スライスの画像データを収集できるコーンビーム型又はマルチスライス型のX線CT装置に関するものである。
X線CT(Computer Tomography)装置においては、X線検出器により検出された撮影X線量と入射X線量の比の対数を求めて投影データとし、最終的にはCT値に換算して再構成画像を作成する。つまり、再構成に用いる投影データの計算のためにはX線検出器の出力値のみではなく、入射X線量も必要なデータである。この入射X線量を求めるためには、X線発生器の制御情報からX線の出力値を計算し、予め測定しておいたX線発生器のX線出力値−X線検出器における入射X線量変換テーブルによって、入射X線量に変換する必要がある。
このように、X線発生器の制御情報から入射X線量を求める場合に、X線発生器とX線検出器が個別なシステムになっていると、十分な制御情報が得られないことがある。また、たとえ得られてもX線発生器の制御情報とX線の実際の出力値とは誤差があり、X線出力値−X線検出器における入射X線量の変換にも誤差が生じてしまう。更に、X線発生器の陽極の回転或いはX線発生器自体の回転などにより、その焦点位置は常に不安定で、投影データごとにその入射X線量は変化することになる。
このような問題を解決するために、図4に示すように、X線発生器1に対向するX線検出器2の外側にリファレンス検出器3を配置して、入射X線量を直接計測して求めることが、特許文献1、2に開示されている。
特開平8−154926号公報 特開2000−139895号公報
しかし、この従来例のように通常のX線検出器2以外に、リファレンス検出器3を配置することはコストがかかり、制御も複雑なものになる。また、リファレンス検出器3は通常のX線検出器2の周囲に一列配置されるだけなので、X線検出器2全体の入射X線量分布を推定するには不十分であり、正確なCT値で再構成するためには、より正確な入射X線量分布が必要となる。
本発明の目的は、上述の問題点を解消し、X線焦点の位置等による入射X線量の不安定さがあっても、精度良く入射X線量を補償し良好なCT像を得ることができるX線CT装置を提供することにある。
上記目的を達成するための本発明に係るX線CT装置は、投影画像毎に画像を解析しX線が入射している背景領域を抽出する背景領域抽出手段と、該背景領域抽出手段により抽出した前記背景領域から平均的な画素値を求め、該平均的な画素値を入射X線量として前記投影画像を求める画像生成手段と、前記入射X線量により前記投影画像を除算して対数を求めることによって再構成のための投影データを作成する投影データ作成手段と、前記投影データを再構成することによって断層画像を作成する断層画像生成手段とを有することを特徴とする。
また、本発明に係るX線CT装置は、投影画像毎に画像を解析しX線が入射している背景領域を抽出する背景領域抽出手段と、該背景領域抽出手段により抽出した前記背景領域から入射X線量分布を推定する推定手段と、推定した前記入射X線量分布により前記投影画像を除算して対数を求めることによって再構成のための投影データを作成する投影データ作成手段と、前記投影データを再構成することによって断層画像を作成する断層画像生成手段とを有することを特徴とする。
本発明に係るX線CT装置によれば、リファレンス検出器を設けずに、入射X線量を求めることができ、正確なCT値によるCT画像を作成することができ診断に有効である。
また、入射X線量の分布を推定することにより、X線検出器全面における不均一さを補正することができる。
本発明を図示の実施例に基づいて詳細に説明する。
図1はX線CTシステムの構成図である。患者である被写体Sを挟んでX線源11とX線検出器12が配置され、X線源11には撮影システム制御部13の出力が、X線発生制御部14を介して接続されている。また、X線検出器12の出力は画像入力部15を介して撮影システム制御部13に接続されている。更に、撮影システム制御部13には、画像処理部16、画像保存部17、診断モニタ18、操作部19、ネットワーク20が接続されており、ネットワーク20にはプリンタ21、診断ワークステーション22、画像データベース23が接続されている。
X線発生制御部14により制御されたX線源11から発生したX線は、被写体Sを透過してX線検出器12により検知され、検知されたX線は投影画像として画像入力部15に入力される。このX線源11とX線検出器12は、被写体Sを回転中心として回転を行いながら所定の回転角度毎に投影画像の収集を行う。或いは、X線源11とX線検出器12の位置関係を保持しながら、回転テーブル上に固定した被写体Sを回転させてもよい。
画像入力部15に入力された各回転角度の投影画像は、撮影システム制御部13を介して画像処理部16によって補正、対数変換を含めた前処理や再構成処理等の画像処理がなされ、断層画像群が作成される。作成された断層画像群は診断モニタ18に表示、画像保存部17に保存、ネットワーク20を介してプリンタ21、診断ワークステーション22、画像データベース23に出力する。表示のウインドウ操作や体軸方向の断層画像の切換表示操作や断面変換操作、三次元表面表示操作などの種々の操作は操作部19によって行われる。
図2はX線検出器12で得られた投影画像から、入射X線量を求めるための処理の説明図である。(1)において、X線検出器12から投影画像P1を得る。(2)では、この投影画像P1ごとに直接X線入射領域であるグレイ画像で示す被写体Sの背景領域を抽出し、背景領域抽出画像P2を得る。ここで、CTの再構成において、被写体Sは各投影データ内に納まっていなければならないため、投影画像P1には必ず背景領域は存在するものとしてよい。
背景領域抽出手法の1つの例は、先ず投影画像P1において画素値を画素数の大きさの順に並べたヒストグラムをとると、画素値の画素数が大きい側に1つの高いピン状の山が現れる。このピン状の山が背景領域に対応する部分であり、このピン状の山の画素値の画素数が小さい側の境界を閾値Lとして投影画像P1の2値化を行い、2値画像処理による膨張処理、収縮処理を必要な回数を繰り返すことによって、背景領域のみを抽出した背景領域抽出画像P2を求めることができる。
(3)では、このようにして求めた背景領域抽出画像P2から入射X線量に対応する画素値を決定する。この最も簡単な方法は、背景領域抽出画像P2全体の画素数の平均値を入射X線量に対応する画素値とすることである。或いは、スライス位置ごとの補正を含める場合には、背景領域の再構成すべきラインの平均値を入射X線量に対応する画素値とすればよい。
そして、投影画像P1をこの入射X線量により除算し、対数を求めて再構成のための投影データを作成し、更にこの投影データを再構成して断層画像を作成する。
更に、X線検出器12全体の分布を考慮した入射X線量を求める場合には、背景領域抽出画像P2の画素値分布からX線検出器12全体の入射X線量分布を推定することができ、図3はその方法の1例を示している。ここでは、先ず撮影に使用されるX線源11の撮影条件をテーブルTに作成しておく。例えば、撮影距離などの撮影幾何条件が違うことがあれば、それらは全てテーブルTに入力しておく。
そして、この撮影幾何条件ごとにX線源11からX線を照射し被写体Sをおかない状態の白画像P3をX線検出器12で撮影して、テーブルTと関連付けて記憶しておく。このとき、記憶容量、計算時間を考慮して画像を縮小しておいてもよい。そして、それぞれの白画像P3を低次の関数によりフィッティングをして、そのフィッティング関数も記憶しておく。
撮影が行われ投影画像P1が得られれば、実施例1のように背景領域抽出画像P2を抽出し、これを2値画像にしてマスク画像を作成する。このマスク画像によってマスクした出力テーブルごとの白画像P4と、同様にマスク画像によってマスクした投影画像P5とのマッチングをとる。そのマッチングは例えばマスクされた背景領域部分のみの相関係数をとればよい。
このマッチングによって、最もマッチング度の高かった白画像P3が、投影画像P1の入射X線量分布に最も近く、該当の白画像P3のフィッティング関数を用いて、投影画像P1全体の入射X線量分布を補間により作成すればよい。
このようにして、入射X線量分布を推定することができ、実施例1と同様に、投影画像P1をこの入射X線量分布により除算して対数を求め、再構成を行えば、CT画像を作成できる。
X線CTシステムの構成図である。 実施例1の処理の説明図である。 実施例2の入射X線量分布を推定する説明図である。 従来のリファレンス検出器を用いた構成図である。
符号の説明
11 X線源
12 X線検出器
13 撮影システム制御部
14 X線発生制御部
15 画像入力部
16 画像処理部
17 画像保持部
18 診断モニタ
19 操作部
20 ネットワーク

Claims (5)

  1. 投影画像毎に画像を解析しX線が入射している背景領域を抽出する背景領域抽出手段と、該背景領域抽出手段により抽出した前記背景領域から平均的な画素値を求め、該平均的な画素値を入射X線量として前記投影画像を求める画像生成手段と、前記入射X線量により前記投影画像を除算して対数を求めることによって再構成のための投影データを作成する投影データ作成手段と、前記投影データを再構成することによって断層画像を作成する断層画像生成手段とを有することを特徴とするX線CT装置。
  2. 前記背景領域抽出手段は前記投影画像の画素値によるヒストグラムを求め、閾値以上の画素数を持つ画素値から前記背景領域を抽出することを特徴とする請求項1に記載のX線CT装置。
  3. 前記画像生成手段における前記平均的な画素値はラインごとに求めることを特徴とする請求項1に記載のX線CT装置。
  4. 投影画像毎に画像を解析しX線が入射している背景領域を抽出する背景領域抽出手段と、該背景領域抽出手段により抽出した前記背景領域から入射X線量分布を推定する推定手段と、推定した前記入射X線量分布により前記投影画像を除算して対数を求めることによって再構成のための投影データを作成する投影データ作成手段と、前記投影データを再構成することによって断層画像を作成する断層画像生成手段とを有することを特徴とするX線CT装置。
  5. 前記推定手段は、撮影条件ごとに白画像とそのフィッティング関数をテーブル化して記憶し、前記白画像と前記投影画像を前記背景領域抽出手段で抽出した前記背景領域によりマッチングを行い、マッチングした前記白画像のフィッティング関数を用いて前記入射X線量分布を推定することを特徴とする請求項4に記載のX線CT装置。
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