JP2005535483A - レーザー支援複製プロセス - Google Patents

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Abstract

基体にマーキングを施す装置およびプロセスである。マーキングが施された基体は偽造を防止するセキュリティー機能として、例えば、クレジット・カード、身分証明書、あるいは銀行券のようなドキュメントに貼付される。このようなセキュリティー機能は回折またはホログラフィック構造体を備えている。マーキングはモールド成形によって施される。成形型を交換することにより、マーキングの構成を変更することは可能であるが、それには時間を要する。本発明の新しい装置およびプロセスの目的は安価な装置によって個別化されたマーキングを基体に施すことができるようにすることである。
新しい装置は、複製面を有する複製ローラの形態を成す複製装置(41)、放射線(30)を発生する装置、および、反対圧力面を有する反対圧力装置(42)を備え、複製装置(41)の複製面と反対圧力装置(42)の反対圧力面との間に基体(43)を配することにより、複製面と基体(43)との接触領域(53)において、複製面の付形領域が基体(43)に造形される。

Description

本発明は基体、好ましくはフィルム、特に転写フィルムに、マーキング、例えば、数字、文字、表面パターン、表面画像、または装飾を施すプロセスに関するものである。このプロセスは制御可能なエネルギー源からの放射線の形態を成すエネルギー、好ましくはレーザー光を複製装置の複製面に注入することにより、少なくとも1つの付形領域を画成し、この付形領域を複製装置によって押圧された基体に造形するものである。また、本発明は基体、好ましくはフィルム、特に転写フィルムにマーキング、例えば、数字、文字、表面パターン、表面画像、または装飾を施す装置に関するものでもある。この装置は、複製面を有する複製装置、複製面の少なくとも1つの領域に放射線を照射することにより、少なくとも1つの付形領域を画成するための放射線発生装置、好ましくはレーザー装置、および反対圧力面を有する反対圧力装置を備え、複製装置の複製面と反対圧力装置の反対圧力面との間に基体を配し、複製面と基体との接触領域において、基体に付形領域を造形するものである。
セキュリティー機能によってクレジット・カード、身分証明書、あるいは銀行券のようなドキュメントを保護することは今や通例になっている。セキュリティー機能の偽造防止特性は高度かつ特別な知識に基づいていると共に、その製造には広範囲に及ぶ装置が必要である。特に成功を収めている複写が困難なセキュリティー機能に光学可変素子がある。このセキュリティー機能の実施の形態においては、セキュリティー機能の真正性の目視検査において光の入射角または視角が変化すると、例えば、色彩、モチーフ、またはその両方が変化する回折構造体またはホログラフィック構造体が用いられている。従って、別に補助器具がなくても真正性をチェックすることができる。一般に、このようなセキュリティー素子の主要構成要素は、回折構造体またはホログラフィック構造体が表面レリーフとしてエンボス加工されている熱可塑性層またはUV固化層である。この層は転写フィルムの一部を成すことができ、その場合には、まずセキュリティー素子が製造され、その後保護するドキュメントに転写される。また、保護物品に直接貼付可能な別の層を前記層に付加することもできる。表面レリーフは、例えば、特許文献1に記載されているような回転式型押シリンダー、または特許文献2に記載されているような型押パンチによって成形型から熱可塑性層に転写される。回折構造体またはホログラフィック構造体は繊細であるため、成形型の製造には高い技術力と高コストが要求される。成形型の製造に当っては、まずマスターとも呼ばれるパターンが、例えば、干渉性レーザー・ビームとエッチング処理、または電子ビームによって形成され、次いで一般にガルバニック成形によって作製される。
前記周知のプロセスの場合、偽造防止機能を向上させるため、各々のドキュメントに同じセキュリティー機能を使用せず、それぞれのドキュメントまたはドキュメントの所有者に対応して作製する努力がなされている、即ち個別化されている。ここにおいて、前記プロセスには2つの問題がある。
1つは多数の個別マスターを作製する必要があり、非常にコスト高になることである。もう1つは複製装置の成形型を交換する必要があり、装置の準備時間が非常に長くなることである。成形型の部分領域のみを造形する個別化セキュリティー機能を製造するための別のプロセスおよび装置が知られている。
成形型の部分領域のみを選択的に熱可塑性層に造形するレリーフ・パターンを熱可塑性情報担体に型押しするプロセスが特許文献3に記載されている。プロセス工学の面から見ると、電流を通す加熱バンドによって選択された付形領域のみが加熱されるか、または高さが調整可能な部分領域を備えた反対圧力装置によって選択された付形領域のみが基体に押圧される。このプロセスにおいては、加熱バンドの長時間のヒートアップおよび冷却時間中における熱伝導によって付形領域の境界が不明瞭になるため高局部解像度が望めないこと、あるいは付形領域の寸法が加熱バンドの寸法または高さが調整可能な部分領域の寸法に限定されてしまうという問題があるため、局部解像度が低いものに限定される。
基体にマーキングを施す装置およびプロセスが特許文献4に記載されている。この装置は非加熱式型押成形型を成す複製装置および反対圧力装置を成す加圧プレートを備えている。型押成形型は造形予定の微細構造体を備えた複製面を有している。また、前記装置は反対圧力装置を通して基体に照射されるレーザー・ビームを発生するレーザー装置も備えている。この周知の装置においては、まず型押パンチによって基体が加圧プレートに押圧される。基体の型押領域に直接入射したレーザー・ビーム、および型押パンチの複製面で反射した放射線が吸収されることにより、基体が局部的に選択加熱され、永続的に変形可能な温度に達する。このように、レーザー・ビームの位置を合わせることにより、付形領域を選択し転写することができる。このプロセスおよび装置の限界は複製装置が型押パンチの形態を成していることである。即ち、プロセスが循環処理モードに限定され、高生産性が望めないことである。
欧州特許第0419773号明細書 独国特許発明第2555214号明細書 瑞西国特許第594495号明細書 欧州特許第0169326号明細書
本発明の目的は、基体、好ましくはフィルムに適切に個別化されたマーキングを施すことができるプロセスおよび安価な装置を提供することである。
この目的は請求項1記載のプロセスおよび請求項11記載の装置によって達成される。
本発明のプロセスにより、基体、好ましくはフィルム、特に転写フィルムにマーキングを施すことができる。基体に付形領域を画成するため、制御可能な付加エネルギー源により複製面の少なくとも部分領域を温度制御し、放射線源からの放射線によるエネルギーおよび制御可能な付加エネルギー源からのエネルギーを注入することにより、複製面の少なくとも一部に複合熱領域を画成する。複合熱領域を成す複製面の部分、または複合熱領域を補完する領域が付形領域となる。
本発明のプロセスにおいて、まず、成形型の構造化された複製面の領域または少なくとも部分領域が第1温度になるよう付加エネルギー源によって複製装置が加熱される。
次に、複製装置の複製面に放射線を照射し、その一部を複製面に吸収させることによりエネルギーが注入される。
付加エネルギー源による複製装置の加熱効果と放射線の選択的加熱効果とが相まって、温度が異なる領域、特に異なる温度に設定された少なくとも2つの領域が複製面に生じる。この領域の一部が第1温度に設定され、別の部分が放射線の付加に伴う第2温度に設定されることが好ましい。第2温度の領域が、その画成方法から複合熱領域と呼ぶことができる。
第1温度または第2温度のいずれかを造形処理時の作業温度としてプロセスを実行することができるため、造形処理によって第1温度または第2温度の部分領域のいずれか一方を基体に永続的に造形することができる。
個別化されたマーキングは、造形処理における前記温度制御によって選択された複製面の部分領域の付形体から成っていることが好ましい。従って、複製面の温度分布を変更することにより、マーキングの個別化、即ち、付形領域を選択することができる。放射線発生装置、例えば、レーザー装置、またはそれに付随したビーム誘導装置およびビーム成形装置を制御することにより、前記温度分布を変更することができる。
プロセスの好ましい実施の形態において、前記第1温度を基体の可塑温度範囲Tplastの温度とし、第2温度を基体の可塑温度範囲より高いフロー温度範囲Tfliessの温度とすることができる。第1温度は少なくとも100℃、特に、少なくとも170℃であることが好ましい。可塑温度は造形結果がマーキングとして基体に永続的に残る基体固有の温度である。可塑温度範囲は基体固有の可塑温度の±2%の範囲であることが好ましい。一般的な可塑温度範囲は180℃±3.6℃である。部分領域が可塑温度範囲の温度を有している間に複製装置を基体に加圧接触させると、その部分領域の構造化された複製面が基体に永続的に造形される。前記温度がフロー温度範囲の温度にある場合、成形型を基体から分離したとき、基体の変形材料が流れ始める。その結果、基体材料の造形表面構造体が平坦化され光学的活性構造体としての形態を成さなくなる。このプロセスの実行において、可塑温度に設定され、放射線による付加熱が注入されなかった部分領域が基体に造形される。放射線によって部分領域をネガティブに選択することができる。
プロセスの別の実施の形態によれば、第1温度が可塑温度範囲Tplastより低い基体の弾性温度範囲Telastの温度に、また第2温度が基体の可塑温度範囲に設定される。第2温度は少なくとも100℃、特に少なくとも170℃に設定されることが好ましい。部分領域が可塑温度範囲の温度を有している間に複製装置を基体に加圧接触させると、その部分領域の構造化された複製面が基体に永続的に造形される。弾性温度範囲の温度を有する部分領域は基体を弾性変形するのみである。複製装置を基体から分離すると、造形された表面構造体が弾性復元力によって略元の表面形状に戻り、光学的活性構造体として基体に残らない。従って、この実施の形態は複合熱領域が選択的に転写される。それ故、放射線による付加熱の注入は部分領域をポジティブに選択することを意味する。
基体は複数の層から成ることができる。基体の仕様温度または仕様温度範囲は、特に基体の一部を成す熱可塑性層の温度または温度範囲を意味する。基体の別の層、例えば、担体層は別の温度であってよい。
本発明の好ましい実施の形態において、複製装置が複製ローラの形態を成し、複製ローラの第1角度位置において放射線が照射され、第2角度位置において複製ローラが基体に接触する。複製ローラの回転方向における第1角度位置と第2角度位置との成す角度が非常に小さく、第1角度位置において画成された熱潜像が、複製ローラが第2角度位置に回転した後も明確な輪郭を保持している。このことは、例えば、熱伝導に起因する熱潜像の不鮮明度が複製プロセスの望ましい解像度の逆数より低い場合に達成される。幾何光学における錯乱円の定義を不鮮明度または鮮明さの欠如の尺度とすることができる。限定された実施の形態において、前記角度を0°に近づけ2つの角度位置を重複させることができる。
また、本発明の目的は、複製装置の複製面が複製ローラの外面に設けられた請求項11記載の装置によって達成することができる。
本発明の装置は基体にマーキングを施す装置である。マーキングは、複製処理によって基体の熱可塑性層、特に本体に造形された、好ましくは回折的またはホログラフ的作用を成す表面構造体、あるいは、好ましくは拡散的または特定の方向に光を散乱する無光沢構造体を有している。基体は各種層材料から成る別の層および担体層を有することができる。マーキングは、図形、数字、文字、表面パターン、表面画像、テキスト、番号、セキュリティー機能、あるいはその他任意の形態を成すことができる。
マーキングは表面付形体を備えた複製面を有する複製装置によって基体に施すことができる。複製装置は少なくとも一部が円筒形を成し回転軸を中心に回転可能な複製ローラの形態を成すことができる。シリンダーの表面、特に外被が複製面を成すことができる。
基体が複製ローラと反対圧力装置との間に配されることにより接触領域が得られる。
例えば、反対圧力プレートまたは反対圧力ローラの形態を成す反対圧力装置が、少なくとも基体の接触領域を支持する反対圧力面を備え、それによって加圧複製ローラが接触領域において基体と協働することができる。
本発明の装置により、造形処理における型押成形型の部分領域を放射線によって意図的に選択することができるため、部分領域の付形体によって形成されるマーキングを個別構成とすることができる。この点において、部分領域から成る個別化された識別表示の複製処理において、セキュリティー機能、具体的には、例えば、回折領域を同時に転写することにより特に有益な効果が得られる。また、本発明の装置は連続非循環モードで動作するため生産性が高い。
本発明の好ましい実施の形態において、放射線が反対圧力装置を通して供給される。この場合、付形領域を画成するための放射線が反対圧力装置またはその一部によって伝送され複製装置に入射する。
この実施の形態において、反対圧力装置も透明にすることができる。反対圧力装置またはその一部、特に反対圧力面の一部に開口部および/または放射線に対し透明な材料を挿入しおよび/または前記装置またはその一部を放射線に対し透明な材料で構成することができる。
別の実施の形態において、反対圧力装置は反対圧力ローラの形態を成している。この場合、反対圧力ローラは円筒形で、シリンダーの表面が反対圧力面を成していることが好ましい。特に、反対圧力ローラは回転軸を中心に回転可能に取り付けられていることが好ましい。
反対圧力装置が反対圧力ローラの形態を成している場合、たとえば、以下に説明する幾つかの方法によって放射線を供給することができる。
第1の方法として、放射線を反対圧力装置の外部を通し、好ましくはビーム伝搬方向が基体の裏面および/または表面に対し角度を成すようにして基体を通して複製面に入射させることができる。
第2の方法として、放射線を直径方向に沿って反対圧力装置内を通すことができる。この場合、放射線は反対圧力ローラの接触面から離間した反対圧力面領域から入射し、接触領域の反対圧力面から出射する。その後、放射線は、好ましくは裏面および/または表面に対し直角に基体を透過し、複製ローラ、好ましくはその接触領域に入射することができる。
第3の方法として、反対圧力ローラが中空体、好ましくは中空シリンダーの場合、放射線は中空体の中空空間から中空体の壁、特にシリンダー壁を透過することができ、好ましくは圧力装置の接触領域から出射することができる。その後、放射線は、好ましくは裏面および/または表面に対し直角に基体を透過し、複製ローラの接触領域に入射することができる。特に、第3の方法において、放射線発生装置、好ましくはレーザー装置、あるいはその一部、またはビーム偏向装置を反対圧力装置内に配することができる。
本発明の装置またはプロセスの別の好ましい実施の形態において、付形領域を画成するための放射線が基体を通して複製面に供給される。放射線が基体の裏面から入射し反対側の表面から出射し複製面に入射する。基体は放射線に対し透明であることが好ましい。別の実施の形態において、放射線が1つ以上の層に部分的または略完全に吸収される。別の実施の形態において、放射線が傾斜を成して基体を透過する。この場合、基体内の放射線の伝搬方向が、基体の裏面および/または表面に対しある傾斜角、特に60°〜90°の傾斜角を成して透過する。
本発明の有益な開発成果により、複製面を冷却するための冷却装置が提供される。これにより、特に、熱潜像を消去またはある程度変更することができる。
冷却装置は送風機の形態を成すことができ、この場合、送風機による空気流を複製面に誘導して冷却する。ガス流による冷却も同様に可能であり、この場合にはガス流、好ましくは不活性ガスまたは窒素ガス流によって複製面を冷却する。
別の実施の形態において、冷却装置は冷却ローラの形態を成すことができる。複製ローラから平行移動した位置に配され、線状表面に沿って複製ローラに接触する。複製ローラと冷却ローラとが熱的に接触し、放熱によって複製ローラが冷却される。
複製ローラを用いる場合、複製ローラの回転方向における複製ローラと基体との接触領域と放射線の入射点との間の複製面領域に作用するよう冷却装置を配することが好ましい。
本発明の装置の別の実施の形態において、放射線発生装置がレーザー装置の形態を成している。レーザー装置はスキャナーおよび/またはマスク投影システムを備えていることが好ましい。スキャナーを使用する場合、複製装置の入射点におけるレーザー・ビームのスポット径が0.05〜2.0mmの範囲であることが好ましい。このレーザー・スポットをスキャナーで誘導することにより、複製装置に順次書き込むことができる。この場合、スキャナーは、例えば、偏向ミラーまたは飛行光学系から成る偏向装置を備えたシステムとすることができる。制御手段、好ましくは経路制御手段によって複製装置上のレーザー・スポットの位置を変えることができるため、多様な幾何学的形状、画像、文字および数字を複製装置に書き込むことができる。別の実施の形態において、複製装置の表面をマスク投影システムによって覆うことができる。この場合、ビーム形成システムは、例えば、4f構造体によってレーザー・スポットの形状をマスク開口部の形状に対応させて複製装置にマスク・イメージを形成するものとすることができる。この場合、マスクは剛体マスクであってよいが、制御によってレーザー・ビームを伝送または消衰させる素子、例えば、可動ミラーまたは液晶素子から成るマトリックス配列が必要である。
好ましい実施の形態において、好ましくは放射線発生装置を駆動制御することにより、照射領域を選択制御する制御手段、特に完全にプログラマブルな制御手段が提供される。この実施の形態において、画像処理プログラム、コンピュータ支援プロセス等によって生成された、好ましくはデジタル化されたマーキング・パターンが、例えば、データ・ファイルとして提供される。この情報が制御手段によって変換され、特にレーザー装置を駆動制御することにより、複製装置に入射するレーザー放射面領域のパワー密度が時間に応じて変更される。照射領域を選択制御することにより、付形領域、従って、マーキング・パターンが決定される。
パワー、ビーム方向および/またはレーザー・ビームの表面領域のパワー密度を制御することにより、レーザー・ビームを複数の動作モードで使用することができる。
第1の動作モードにおいて、制御シーケンスに基づいてレーザー・ビームをオン/オフすることにより互いに離間したマーキングを基体に施すことができる。これらのマーキングの構成をすべて同じにするか、または、例えば、通し番号のような個別構成を採ることもできる。
第2の動作モードにおいて、レーザー・ビームを連続的に発生させ、複製ローラ上のレーザー・ビームの入射点を移動させる。レーザー・ビームの入射点は複製ローラの軸と平行に同一方向または異なる方向に移動することができる。レーザー・ビームそのものを平行移動するか、またはレーザー・ビームの角度を変更することにより入射点を移動することができる。この動作モードにより、基体の進行方向に応じて異なるパターンを有するマーキングを施すことができる。この動作モードにより、特に、レーザー・ビームの移動シーケンスを制御することにより、複製ローラの複数回転、即ち、複数の作業サイクルにわたり個別マーキングを施すことができる。このようにして、例えば基体の進行方向の長さが任意のテキストを形成することができる。この動作モードにおける別の方法において、レーザー・ビームを連続的に発生させ、レーザー・ビームのビーム・プロファイルが時間に応じて変更される。
前記2つの動作モードを組み合せることもできる。
本装置の好ましい開発成果により、複製面が表面レリーフによって構造化される。この表面レリーフは造形処理において基体に転写される構造体の陰型である。複製面の一部または全体を構造化することができる。表面レリーフの深さは約0〜20μmの範囲が好ましく、0.1〜0.5μmの範囲が特に好ましい。特に、回折構造体またはホログラフィック構造体を基体に造形する場合、部分領域または関係する全表面領域に表面レリーフを格子構造体として造形することができる。格子間隔、即ち、空間周波数は10〜4000本/mmの範囲であることが好ましく、1000本/mmが特に好ましい。また、空間周波数、格子方向、格子の種類またはその他のパラメータがそれぞれ異なる、好ましくは0.3mm未満の部分領域に複製面を分割することができる。
本発明の別の実施の形態において、部分領域を周期的に、好ましくは交互に反復させることができる。いくつかの実施の形態において、部分領域を様々に組み合わせることができる。例えば、2〜6、好ましくは3つの部分領域によって画素単位が構成される。複数の画素単位によって表面画像を形成することができる。例として示した3つの部分領域の格子構造体により3原色が表されることが好ましい。前記画素単位または部分領域を定期的または周期的に、例えば格子形状単位または交互に反復させて複製面に配することができる。
また、無光沢構造体を基体に造形する場合、表面レリーフが確率論的または疑似確立論的分布を成す表面付形体を備えることができる。基体上の無光沢構造体は、特別な光学的効果として入射する光を拡散散乱する。無光沢構造体を造形する場合、複製面に均一、確率論的、または疑似確率論的に配することができる、個々の形状および/または方向が同じか、または任意の特性を有する、例えば、溝、チャネル、窪み、孔等を表面レリーフに設けることができる。例えば、表面レリーフが毛羽立った表面に似た面を有することができる。
別の好ましい実施の形態において、金属、特にニッケルまたはニッケル化合物のフィルムから成る圧力押出型または成形型が複製装置に備えられる。ニッケルまたはニッケル化合物から成る金属フィルムを用いることにより、マスター作製のための回折構造体のガルバニック成形が促進される。別の材料として、使用レーザー波長に対する吸収率の高い材料、特にニッケルより吸収率の高い材料を用いることができる。これにより、複製装置、好ましくは複製面における熱潜像の画成に必要なエネルギーを大幅に低減することができる。これにより、パワーの低いレーザー、従って安価なレーザー装置を用いることができる。
本発明の装置およびプロセスの特別な効果は、例えば、ドキュメントまたは個人に固有の個々のマーキングを1つの成形型によって基体に施すことができることである。この場合、造形処理において成形型の部分領域を選択的に活性化または非活性化することができる。
以下、添付図面を参照し、本発明のマーキングを施すプロセスおよび装置の実施の形態の例について説明する。
図1aは基体43にマーキングを施す装置の実施の形態の構成を示す概略断面図である。この装置は複製ローラ41およびその直下に軸が平行に配された反対圧力ローラの形態を成す反対圧力装置42を備えている。フィルム状の基体43が複製ローラ41と反対圧力装置42との間に水平に配されている。レーザー・ビーム30が基体43を透過して複製ローラ41に入射する。レーザー・ビームの経路は後で詳細に説明する。
金属から成るかまたは金属の外被を備えた複製ローラ41は、シリンダーの形態を成し、シリンダーの外被が回折体押型46を成す表面付形体を備えた複製面を構成している。回折体押型46の深さは略0〜20μmであることが好ましく、ライン間隔または空間周波数が10本/mm〜4000本/mmである。複製ローラ41は内部熱源、即ち、内部で作用する制御可能な熱源(図示せず)によって加熱され、回折体押型46を備えた複製面全体を温度制御することができる。反対圧力装置42は円筒ローラの形態を成し、ゴムから成るかまたはゴムから成る外被を備えている。シリンダーの外被が複製ローラ41の複製面と協働する反対圧力面を構成している。
フィルム状の基体43は、図1aにおいて、複製ローラ41に対向して上方に向いている面である表面103と反対圧力装置42に対向して下方に向いている裏面102を有し、厚さ1mm未満の層複合体を成している。層複合体は熱可塑性層51、担体フィルム50、および任意として1つ以上の層、特に異なる層52、例えば、金属層、干渉層、保護ラッカー層、分離層、担体材料層または接着層を備えている。
矢印48および49はそれぞれ複製ローラ41および反対圧力装置42の回転方向を示し、図1aにおいて、複製ローラ41は時計方向、また反対圧力装置42は反時計方向に回転する。矢印47は、図1aにおいて左方向である基体43が進む方向を示している。複製ローラ41、基体43、および反対圧力装置42が協働することにより、複製ローラ41と反対圧力装置42とが回転する間に、回折体押型46を有する複製面が一般に調整可能な所定圧力によって基体43に押圧される。複製ローラ41、反対圧力装置42、および基体43との接触領域によって複製ギャップが構成される。
図1aにおいて、レーザー・ビーム30が右下から斜めに延びている矢印によって示されている。図示のレーザー・ビーム30の経路は、装置入力側の基体43の下方、即ち、裏面102から開始している。レーザー・ビーム30は反対圧力装置42を透過せずに複製ローラ41に達している。レーザー・ビーム30は30°未満の入射角で裏面102から基体43入射する。レーザー・ビーム30の基体43への入射点は基体43の進行方向における上流に設定されている。入射角は入射点における基体43の法線に対する角度である。レーザー・ビーム30は基体43を透過して表面103から出射し複製面に入射する。複製面の表面部分は複製表面区域70a、70bで示されている。この領域はレーザー・ビーム処理が行われる複製面の領域である。
図1aに示す装置位置において、第1複製表面区域70aが、複製ローラ41の回転方向において、複製ギャップ53の手前にある。正確に言えば、基体43を透過したレーザー・ビーム30が照射される位置にある。
装置が作動している間、複製ローラ41は時計方向に連続回転し、レーザー照射ステップの後、複製表面区域70aが複製ギャップ53を通過する。複製ギャップ53において、レーザーの照射を受けた複製表面区域70aが、マーキングとして基体43に造形される。
図1aに示す装置位置において、第2複製表面区域70bが、複製ローラ41の回転方向において、複製ギャップ53の下流領域にある。複製表面区域70bは既に複製ギャップ53の上流においてレーザーの照射を受け、複製ギャップ53において造形を行ったものである。従って、複製表面区域70に対応して施されたマーキング45は、基体43の進行方向において、複製ギャップ53の下流領域に配されている。
図1aに示すプロセスの実施の形態において、複製面が制御可能な内部熱源によって弾性温度範囲Telastの温度に加熱される。
複製表面区域70aおよび70bは、照射プロセスにおいて、レーザー・ビーム30によって付加エネルギーが注入されることにより更に加熱される。内部熱源の加熱によるエネルギーの注入、およびレーザー・ビーム30による付加エネルギーの注入により、複製表面区域70a、70bに複合熱領域が画成される。複合熱領域は、例えば、円、多角形 閉じ多角形のような簡単な幾何学形状のみならず、文字、数字、または記号を表す熱潜像を画成する。
図1aの例では、複合熱領域、即ち、複製表面区域70a、70bが、複製ギャップ53において基体43に接触するとき、可塑温度範囲Tplastの温度になるようエネルギーが注入される。これらの領域が基体43に永続的に造形される。
複製面の他の部分は、複製ギャップ53において基体43に接触するとき、可塑温度範囲Tplast未満の温度、即ち、弾性温度範囲Telastの温度にある。これらの領域は基体43に永続的に形成されることはない。
造形ギャップにおける造形処理の後、現在画成されている熱潜像を消去し、新たな熱潜像を複製面に画成できるようにすることが好ましい。
現在画成されている熱潜像を消去するため、複製ローラ41の回転方向における下流に冷却領域が設けられている。複製面が冷却領域を通過し、冷却装置(図示せず)と協働することにより、可塑温度範囲Tplast未満の温度に冷却される。
その後、再び複製面の温度を弾性温度範囲Telastの温度に制御する。
このように、複製面の温度を制御することにより熱潜像を消去することができる。
別の方法として、またはこれに加え、熱伝導によって熱潜像を徐々に消滅させることにより自然に消去することもできる。
図1bを参照し、図aの装置に用いられる基体43にマーキングを施すプロセスの原理について説明する。
図1bは複製面が複製ギャップを通過するときの温度を温度プロファイルTとして表した座標20を示す図である。また、図1bには温度プロファイルTに対応したマーキングを担持している図1aに示す基体43の領域を拡大した断面も示してある。
造形ギャップにおける造形処理時の複製面の温度が座標20の縦軸Yにプロットされている。また、複製ローラ41の外周に沿った複製面上の対応する位置が座標20の横軸Xにプロットされている。
Y軸の温度スケールが定性的に3つの範囲に分割されている。即ち、第1の温度範囲は弾性温度範囲Telast であり、その上の温度範囲は可塑温度範囲Tplastである。また、図において最も高い温度範囲はフロー温度範囲Tfliessである。
造形処理時の複製面の温度がもたらす造形処理後の効果を示すため、座標20の下部に温度プロファイルTに対応する基体43の領域が示されている。基体43は長手方向が座標20のX軸に平行な方向に向いている。
X軸に沿った複製面の温度プロファイルが3つの領域I、II、IIIに分割されている。
複製ギャップ53を通過する際、領域IおよびIIIの複製面は弾性温度範囲Telastの温度にある。複製ギャップ53を通過する際の領域IIの複製面の温度は可塑温度範囲Tplastにある。
領域Iの複製面が基体43に接触すると、弾性変形により基体43に構造体が造形される。複製面が基体43から分離すると、基体43のこれらの領域が弾性復元力によって元の形状に戻り構造体が表面に残らない。
領域IIの複製面と基体43とが接触すると、基体43に永続的なマーキングが施される。図1bのマーキングは図1aのマーキングに対応している。
領域IIIの複製面が基体43に接触すると、領域I同様、基体43には表面構造体が形成されない。
図1aおよび1bのプロセスによって、マーキング45が基体43に施される。この点において、レーザー・ビーム30の照射を受けた表面区域70aおよび70b、即ち、複合熱領域のみが基体に造形される。このようにして施されたマーキング45を以下ポジティブ画像とも呼ぶ。
以下、図1aおよび1bのプロセスの時間に依存した副次的作用、およびその補償方法について説明する。
図1aにおいて、回転中の複製ローラ41の複製ギャップの上流、正確には、複製ギャップ53に対し略20°の回転角差を有する領域にレーザー・ビーム30が入射することにより、複製表面領域70aにエネルギーが注入される。照射位置と造形位置とに空間的な間隔があるため、レーザー・ビームの照射プロセスと造形プロセスとの間に時間差が生じる。
この時間差により、例えば、熱伝導によって、複合熱領域の熱(エネルギー)が奪われる。極端な場合、複製ギャップにおける複合熱領域の温度が可塑温度範囲Tplast未満の温度に低下する。
この熱損失を補償するため、レーザー・ビーム30によるエネルギーの注入量を適切に増加することにより、複製ギャップを通過する際の複合熱領域の温度が可塑温度範囲Tplastの温度になるようにする。この増加量は、照射直後、複合熱領域がフロー温度範囲Tfliessの温度に加熱され、複製ギャップ53に到達する間に冷却され可塑温度範囲Tplastの温度になるよう調整される。
前記副次的作用は可塑温度または可塑温度範囲のみならず、例えば、Tfliess、Telastの温度または温度範囲においても同様に発生する。これらに対する補償も前記と同様に行うことができる。
図2aは図1aの装置の実施の形態に、本発明のプロセスの第2の実施の形態を用いたものであり、両者の違いは温度管理にある。
図2aのプロセスにおいて、複製面が制御可能な内部熱源によって可塑温度範囲Tplastの温度に加熱される。
照射複製領域70a、70bがレーザー・ビーム30による付加エネルギーの注入により更に加熱される。複製表面区域70a、70bが複製ギャップ53において基体43に接触するとき、フロー温度範囲Tfliessの温度になるようエネルギーが注入される。
複製ギャップにおいて基体43に接触するとき、非照射領域のみが可塑温度範囲Tplastの温度にあり、照射領域はフロー温度範囲Tfliessの温度にある。
第2のプロセスの実施の形態においては、レーザー・ビームの照射を受けた複製表面区域70a、70b、即ち、複合熱領域を補完する複製面領域が造形される。
このようにして画成された複製面の熱潜像は、図1aに関連して説明した方法によって消去することができる。
図1bと同様の概略図により図2aのプロセスの実行原理を図2b示す。この場合、温度パターンが図1bのものと異なっている。
図2bに示す複製ギャップ53を通過する際の複製面の温度プロファイルTは、領域IおよびIIIにおいて可塑温度範囲Tplastにあるのに対し、領域IIにおいてはフロー温度範囲Tfliessにある。
領域Iの複製面が基体43に接触すると、永続的なマーキングが基体43に施される。
領域IIの複製面が基体43に接触すると、弾性変形により基体43に構造体が造形される。複製面が基体43から分離すると、基体材料が流れ始め、基体43に造形された構造体は永続的には残らない。
領域IIIの複製面が基体43に接触すると、領域I同様、永続的な表面構造体が造形される。
図2bの基体43は領域IおよびIIIに対応する領域に表面構造体を有し、領域IIに対応する領域は言わば治癒され略平坦な表面または確率論的構造を成す表面になる。いずれにしても、領域IIと領域IおよびIIIとは肉眼で識別できる。
図2aおよび2bのプロセスにより、マーキング45が基体43に施される。この点において、レーザー・ビームの照射を受けなかった領域のみが形成される。このようなマーキングを以下ネガティブ画像とも呼ぶ。
図3は図1aの複製ローラに相当する複製装置35の断面図である。複製装置35は複製面に表面付形体36を備えている。等温線32は複製装置35の表面付形体36の領域の温度分布を示している。簡略化のため、図ではそれぞれT、T、Tの温度を有する領域を区分する3つの等温線のみを示してある。また、表面付形体36を有する複製面に誘導照射されるレーザー・ビーム30、およびその吸収域31も図解してある。
プロセスの第1ステップにおいて、表面付形体36を有する複製面の近傍において、複製装置35の領域I、II、およびIIIが制御可能な熱源によって第1温度に設定される。
第1ステップと時間的に重複することができる次のステップにおいて、複製装置35の領域IIにレーザー・ビーム30が照射される。この場合、レーザー・ビーム30が、表面付形体36を有する複製面の吸収域31に吸収される。エネルギーが注入されることにより、吸収域31の温度Tが温度Tに上昇する。熱伝導により、温度範囲Tが複製装置の下部に移動し、図3に示す熱分布が形成される。初期温度T、エネルギー注入量、レーザー・ビーム30の照射位置および範囲に依存するが、ポジティブ画像を形成するための図1bの温度プロファイル、またはネガティブ画像を形成するための図2bの温度プロファイルを複製面に画成することができる。
図4aおよび4bは、本発明のプロセスのそれぞれの実施の形態によって個別セキュリティー機能を形成する方法を示している。それぞれの図の左側に平面図として示してあるのは、例えば、図1aの複製ローラ41のような構造化面2を有する複製面の部分領域である。図の右側に平面図として示してあるのは造形処理後の、例えば、図1aの基体43のような基体の部分4である。
図4aにおいて、表面2の文字Kを成す表面部分3が基体の可塑温度範囲Tplastの温度Tを有している。この領域以外の表面2は可塑温度範囲Tplast外の温度を有している。この温度分布による造形処理により、鏡像文字Kを成す表面部分が構造化面2の表面付形体によって型押しされることによりポジティブ画像5が基体43に形成される。
図4bにおいて、文字Kを成す表面部分が基体の可塑温度範囲Tplast外の温度Tを有し、この領域以外の表面2が可塑温度範囲Tplastの温度を有している。この温度分布による造形処理によって得られる基体上の永続的な型は、鏡像文字Kを成す表面部分を補完する領域が構造化面2の表面付形体によって型押しされたネガティブ画像である。
図5aは各種部分領域に細分割された回折体押型46を備えた図1aに示す複製ローラ41の複製面の部分を示す図である。これらの部分領域は、空間周波数、レリーフの深さ、方位、格子曲率、プロファイル形状、またはその他のパラメータが異なる限定された数の回折パターンから成っている。多くの可能なオプションの代表として、図では特に方位がそれぞれ異なる3つの回折パターンを有する領域、80、81、82が示されている。各々の部分領域80、81、82はそれぞれ1つの回折パターンのみを有している。これら異なる部分領域80、81、82がピクセルとして規則的に交互に配されている。部分領域80、81、82は、例えば、辺の長さが0.3mm以下の方形輪郭によって画成された表面フィールドであることが好ましい。本明細書記載のプロセスにより、複製処理において放射線、特にレーザーを照射し、部分領域80、81、82を活性化または非活性化することにより、ポジティブ画像またはネガティブ画像を複製ローラから基体に形成することができる。このようにして形成された画像85は、部分領域80、81、82に対応する部分領域造形体80’、81’、82’を有している。
この実施の形態において、形成された画像85がそれぞれ1つの回折パターンを有する画像領域86、87、88を有するよう、即ち、それぞれの画像領域が1つの部分領域80、81、82によって形成された画像領域86、87、88を有するよう回折体押型46の部分領域80、81、82が複製装置の熱分布によって選択される。即ち、画像領域86が専ら部分領域80によって形成され、画像領域87が専ら部分領域81によって形成され、画像領域88が専ら部分領域82によって形成される。画像85を観察すると、個別部分領域造形体から成る画像領域86、87、88が、周知技術による画像のように全体が一様な画像領域として見えるが、それぞれが特定の光学特性、例えば、ホログラフィック特性を有している点が異なっている。
図5bは回折体押型46を備えた図1aに示す複製ローラ41の複製面の別の部分を図5aと同様に左側に示した図である。ここでも、回折体押型は異なる部分領域80、81、82を備えている。図5bの右側には前記プロセスに従って部分領域80、81、82が選択され、形成された後の異なる画像95が図解してある。画像95は画像領域96、98、および画像領域97、99を有している。画像領域96、98はそれぞれ数字、具体的には1および5を成し、1つの種類の部分領域造形体、即ち、部分領域造形体82’によって構成されている。これに対し、画像領域97、99は文字AおよびDを成し、複数の部分領域造形体81’を含んでいる。図5bの部分領域造形体81’および82’は回折格子の配列、特に方位が異なっている。図5bにおいて、部分領域造形体82’の回折格子は横に配されているのに対し、部分領域造形体81’の回折格子は縦に配されている。回折格子を異なる方向に配することにより、角度に依存した回折効果が得られ、幾何学的な情報である数字または文字に加え、画像領域96、98、および97、99はホログラフィック情報も担持している。画像95の場合、第1視角において第1文字96、98のみが見え、第2視角において第2文字97、99のみが見える。
図6aはマーキングを施す装置の第2の実施の形態を示す、図1aと同様の図である。図1aの装置同様、図6aの装置は複製ローラ41、基体43、および反対圧力装置42から成る構成を採っている。しかし、図6aの装置は反対圧力装置、およびレーザー・ビーム30の配置および経路が異なっている。図1bを参照して既に説明したプロセスの原理が図6aに明確に示されている。
図6aの実施の形態において、反対圧力装置42は中空空間101および外面が反対圧力面を成すシリンダー壁100を有する中空シリンダーの形態を成している。シリンダー壁100の内表面は反対圧力面と同心円の関係にある。シリンダー壁100は放射線に対し透明である、例えば、ガラスまたはプラスチック材料から成っている。
中空空間101を発端とするレーザー・ビーム30は複製ローラ41に誘導される。レーザー・ビーム30は中空空間101から端を発し、内表面に入射してシリンダー壁100を透過し反対圧力面から出射する。次いで、レーザー・ビーム30は基体43を透過する。基体43から出射した後、レーザー・ビーム30は複製ギャップ53の近傍領域に配された複製表面区域70aに照射される。従って、この実施の形態においては、複合熱領域が複製ギャップ53領域において直接画成される。
別の実施の形態において、レーザー光源の一部または全部、例えば、レーザー・ダイオードが複製ローラ41に組み込まれるか、または、例えば、複製ローラ41と同軸方向に延びる1つ以上の導光体または空中ビーム誘導によってレーザー・ビーム30が中空空間101に供給される。また、ビーム誘導装置またはスキャナーのようなビーム成形装置も複製ローラに備えることができる。
構造的および機能的特徴の他、マーキング形成プロセスおよびレーザー・ビーム30の制御方法も図1aに示す第1の実施の形態と同様であり、図6aの装置を用いてポジティブおよびネガティブ画像を形成することができる。
基体にマーキングを施す装置の第1の実施の形態の断面図。 協働システムにおける、図1aの複製装置の複製面の温度プロファイル、および温度プロファイルに対応した基体上のマーキングの断面を示す図。 別のプロセスを用いた図1aの装置と同様の装置の断面図。 図2aの複製装置の複製面の温度プロファイル、および温度プロファイルに対応した基体上のマーキングを示す図1bと同様の図。 レーザー・ビームが照射されたときの図1aの複製装置の複製面の熱分布を示す概略断面図。 ポジティブ画像を形成する方法を説明する図。 ネガティブ画像を形成する方法を説明する図。 図1aの複製装置の複製面の部分領域および複製装置によって形成されたマーキングを示す概略平面図。 基体にマーキングを施す装置の第2の実施の形態の断面図。 図6aの複製装置の複製面の温度プロファイル、および温度プロファイルに対応した基体上のマーキングの断面を示す図1bと同様の図。
符号の説明
30 レーザー・ビーム
31 吸収域
32 等温線
35、41 複製装置
36 表面付形体
42 反対圧力装置
43 基体
45 マーキング
46 回折体押型
53 複製ギャップ
70a、70b 複製表面区域

Claims (19)

  1. 基体(43)に転写フィルムにマーキング(45)を施すプロセスであって、
    制御可能なエネルギー源からの放射線の形態を成すエネルギー(30)を複製装置(41)の複製面に注入することにより少なくとも1つの付形領域を画成し、加圧接触している前記複製装置(41)によって前記付形領域を前記基体(43)に造形するプロセスにおいて、
    制御可能な付加エネルギー源により少なくとも前記複製面の部分領域を温度制御し、
    前記放射源からの放射線エネルギー、および前記制御可能な付加エネルギー源からのエネルギーを複製面に注入することにより前記複製面の少なくとも一部に複合熱領域を画成し、
    前記複合熱領域を成す前記複製面の一部によって直接および/または間接的に画成された前記付形領域を前記基体に造形することを特徴とするプロセス。
  2. 前記造形処理の間、前記複合熱領域以外の前記複製面の温度を前記基体の可塑温度または可塑温度範囲の温度に設定し、前記複合熱領域の温度を前記基体のフロー温度またはフロー温度範囲の温度に設定することを特徴とする請求項1記載のプロセス。
  3. 前記造形処理の間、前記複合熱領域以外の前記複製面の温度を前記基体の弾性温度または弾性温度範囲の温度に設定し、前記複合熱領域の温度を前記基体の可塑温度または可塑温度範囲の温度に設定することを特徴とする請求項1記載のプロセス。
  4. 前記少なくとも1つの付形領域を画成するための前記放射線を、好ましくは複製装置の外部から、または複製装置を通し、前記基体(43)を通して供給することを特徴とする請求項1〜3いずれか1項記載のプロセス。
  5. 外面に前記複製面を有する回転式複製ローラ(41)を前記複製装置として用い、前記複製ローラの複製面への前記放射線の照射を、該照射によって画成される複合熱領域を前記基体(43)に接触させて造形処理を行う前および/または該造形処理の間に行うことを特徴とする請求項1〜4いずれか1項記載のプロセス。
  6. 前記複製ローラ(41)と協働する反対圧力装置(42)を用い、前記少なくとも1つの付形領域を画成するための前記放射線を、前記反対圧力装置(42)または該反対圧力装置(42)の一部を通して前記複製ローラ(41)の複製面に供給することを特徴とする請求項5記載のプロセス。
  7. 前記複製ローラ(41)の回転方向における第1角度位置と第2角度位置との成す角度を30°未満、好ましくは5°未満に設定し、前記第1角度位置において前記複製ローラの複製面に前記放射線を注入し、前記第2角度位置において前記複製ローラ(41)の複製面を前記基体(43)に接触させて前記複製処理を行うことを特徴とする請求項5または6記載のプロセス。
  8. 前記放射線を前記複製面、例えば、前記複製ローラ(41)の複製面に領域単位および/または逐次的な点として作用させることを特徴とする請求項1〜7いずれか1項記載のプロセス。
  9. 前記放射線を一次元的または多次元的に移動することにより、該放射線が前記複製面に入射する位置の制御が可能でありおよび/または前記複製面に入射した位置における前記放射線の表面領域のパワー密度の制御が可能であることを特徴とする請求項1〜8いずれか1項記載のプロセス。
  10. 前記放射線発生装置の駆動制御シーケンスが、前記複製ローラ(41)の1回転を超えていることを特徴とする請求項5〜9いずれか1項記載のプロセス。
  11. 基体(43)にマーキング(45)を施すプロセスを実行するための装置であって、
    複製面を備えた複製装置(41)、
    前記複製面の少なくとも1つの区域(70a、b)に照射することにより少なくとも1つの付形領域を画成する放射線(30)を発生する装置、および
    反対圧力面を備えた反対圧力装置(42)
    を有して成り、
    前記複製装置(41)の複製面と反対圧力装置(42)の反対圧力面との間に前記基体(43)を配し、前記複製面と前記基体(43)との接触領域(53)において、該基体(43)に前記付形領域を造形する装置において、
    前記複製面が前記複製ローラ(41)の外面に配されていることを特徴とする装置。
  12. 前記エネルギーの照射において該エネルギーが前記複製面の前記区域に作用する位置と、前記複製面と基体(43)とが接触する領域との位置が重複および/または前記複製ローラの回転方向において、30°未満の空間角を成していることを特徴とする請求項11記載の装置。
  13. 前記少なくとも1つの付形領域を画成するための放射線(30)が、前記反対圧力装置(42)または該反対圧力装置(42)の一部を通して供給されることを特徴とする請求項11または12記載の装置。
  14. 前記反対圧力装置(42)、好ましくは前記反対圧力面が前記放射線(30)に対し透明であることを特徴とする請求項11〜13いずれか1項記載の装置。
  15. 前記反対圧力装置が反対圧力ローラ(42)の形態を成していることを特徴とする請求項11〜14いずれか1項記載の装置。
  16. 前記反対圧力装置(42)が完全または部分的な中空体、好ましくは前記反対圧力面に平行および/または該反対圧力面と同心である内表面、および特に前記放射線に対して透明なシリンダー壁(100)を備えた中空シリンダー、特にガラス中空シリンダーの形態を成していることを特徴とする請求項11〜15いずれか1項記載の装置。
  17. 前記放射線(30)発生装置および/またはビーム偏向装置が、前記反対圧力装置(42)または複製ローラ(41)の内部に配されていることを特徴とする請求項11〜16いずれか1項記載の装置。
  18. 前記付形領域を画成するための放射線(30)が、前記基体(43)を通して供給されることを特徴とする請求項11〜17いずれか1項記載の装置。
  19. 前記複製面の温度を制御するための温度制御装置、例えば、特に前記複製面の部分領域を加熱する、好ましくはレーザー加熱装置、誘導加熱装置、抵抗加熱装置、または輻射熱発生装置の形態を成す加熱装置、および/または、特に前記複製面の部分領域を冷却する、好ましくは送風機、ガス流冷却装置、または冷却ローラの形態を成す冷却装置を有して成ることを特徴とする請求項11〜18いずれか1項記載の装置。
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