JP2005527861A - 画素欠陥マスキング - Google Patents
画素欠陥マスキング Download PDFInfo
- Publication number
- JP2005527861A JP2005527861A JP2004508324A JP2004508324A JP2005527861A JP 2005527861 A JP2005527861 A JP 2005527861A JP 2004508324 A JP2004508324 A JP 2004508324A JP 2004508324 A JP2004508324 A JP 2004508324A JP 2005527861 A JP2005527861 A JP 2005527861A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pixel
- subpixel
- display
- sub
- defective
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
- G09G3/2003—Display of colours
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G2300/00—Aspects of the constitution of display devices
- G09G2300/04—Structural and physical details of display devices
- G09G2300/0439—Pixel structures
- G09G2300/0452—Details of colour pixel setup, e.g. pixel composed of a red, a blue and two green components
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G2320/00—Control of display operating conditions
- G09G2320/02—Improving the quality of display appearance
- G09G2320/0242—Compensation of deficiencies in the appearance of colours
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G2330/00—Aspects of power supply; Aspects of display protection and defect management
- G09G2330/08—Fault-tolerant or redundant circuits, or circuits in which repair of defects is prepared
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G2330/00—Aspects of power supply; Aspects of display protection and defect management
- G09G2330/10—Dealing with defective pixels
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
- Transforming Electric Information Into Light Information (AREA)
- Liquid Crystal Display Device Control (AREA)
Abstract
多数のサブピクセルから形成された複数の画素を有するディスプレイにおいて欠陥サブピクセルをマスキングする方法であって、前記ディスプレイの少なくとも1つの画素には欠陥があり、この画素は欠陥を有する少なくとも1つのサブピクセルを備えている。この方法は、画素ごとに所望の知覚特性を生成するために1セット(15)のサブピクセル値(2,3,4)を獲得するステップ(S2)と、画素ごとに変更された知覚特性を生成するために1セット(16)の変更されたサブピクセル値(2’,3’,4’)を決定するステップ(S3)を具備する。この1セットの変更されたサブピクセル値は、ディスプレイ内で導入することができるようにサブピクセルの欠陥に関する情報に基づいており、ユーザによって知覚されるエラーを低減するように選択された値を有する。ディスプレイは、RGBWディスプレイのように、各々が原色を放射する1セットの原色サブピクセルと、追加のカラーを放射する少なくとも1つの追加の余剰サブピクセルとを各画素が備えている。
Description
本発明は、多数のサブピクセルが形成された複数の画素を有するディスプレイにおける画素欠陥マスキングに関する。本発明の形態には、方法、制御ユニットおよびディスプレイ装置が含まれる。
従来のディスプレイシステムでは、多数のサブピクセル(通常、レッド、グリーンおよびブルー(RGB)の3原色)が1画素を形成する。これらの原色の各々を適切なレベルで混合することによって、画素を所望のカラーおよび所望の強度にする。最近、ディスプレイは、これらの原色に加えて、ホワイトサブピクセル(RGBW)のように、付加的な余剰サブピクセルを用いるようになってきた。余剰サブピクセルは、好ましくは、クロミナンスを全く変化させることなく、ディスプレイのルミナンスを増大させるために用いることができる。この例としては、WO0137249号に記載されており、これを参照文献としてここに組み込む。
液晶ディスプレイのようなディスプレイを製造する際には、ユニットコストを決定する重要な要因が、歩留まりである、即ち、起動するディスプレイ毎に生成される欠陥ディスプレイの数である。ディスプレイは、それが欠陥画素、即ち、何らかの理由で適切に機能しない画素を含む場合に不良品となり、典型的には、これは欠陥サブピクセルによる結果である。
通常、特定の分野のディスプレイにとって或る数の欠陥画素は許容され、この数を超える欠陥画素を有するディスプレイが廃棄される。しかしながら、単一の欠陥サブピクセルですら苛立ちの原因となり得、特に一旦それが停止してしまうとなおさらである。
欠陥画素の発生を推定することは、それが可能であったとしても、コスト高となる。さらに、完璧なディスプレイを製造することの困難性は、画素の数およびディスプレイのサイズに関連しており、従って、欠陥画素の問題は、解像度などの向上化やパネルサイズの増大化と同様である。
従って、欠陥画素の影響をマスキングすることが望まれており、それにより、画素にスポットが発生するリスクを低減させる。これは、また、ディスプレイ毎に許容される欠陥画素の数をも上昇させ、それにより、廃棄されるディスプレイの数が低減するであろう。これは、歩留まりを上昇させ、多くの面で有利である。即ち、より多くのディスプレイを販売することができ、加工の際に生じる材料の無駄を減少させ、並びに、ディスプレイ毎の製造コストが低減する。
カメラシステムにおいて、欠陥マスキングは既存であり、市販のチップで実施されている。この技術によれば、欠陥サブピクセルの周囲はその期待値を計算するために用いられ、これにより欠陥がマスキングされる。しかしながら、この技術は、ディスプレイには適用不可能である。
他のアプローチとして、エラー拡散がある。即ち、1セットの近隣の画素にわたって或る値を近似してエラーを分配する。分配されるべきエラーが典型的には大き過ぎるので、これは、それ自体では欠陥マスキングとしては適切な技術ではない。事実、現れる欠陥の視認性は、拡散により生じるシャープニング効果(sharpening effect)のために増大する。従って、これまで、欠陥サブピクセルのマスキングをするための利用可能な技術が無かった。
本発明の目的は、ディスプレイの欠陥画素に適切なマスキングを施すことである。
他の目的は、ユーザによって知覚されるほどに表示画像特性の満足のいく品質を提供することである。
本発明による第1の形態によれば、これらの目的は、請求項1のプリアンブルに従った方法で達成され、さらに、各欠陥画素ごとに前記欠陥サブピクセルの情報を獲得するステップと、前記画素に対する所望の知覚特性を生成するために1セットのサブピクセル値を獲得するステップと、前記画素に対する変更された知覚特性を生成するために1セットの変更されたサブピクセル値を決定するステップであって、前記1セットの変更されたサブピクセル値は、ディスプレイ内で導入することができるように前記情報に基づいており、前記1セットの変更されたサブピクセル値(16)は、前記所望の知覚特性と前記変更された知覚特性との間の差に起因しかつユーザによって知覚されるエラーを、低減するように設けられるステップと、ディスプレイにおける前記1セットの変更されたサブピクセル値を導入するステップとを具備する。
このように、サブピクセルの欠陥を考慮することによって、前記1セットのサブピクセル値は、ユーザによって知覚されるエラーを最小にするために、1セットの変更されたセットに再計算される。
典型的な知覚特性は、ルミナンス(明度)およびクロミナンス(色度)を含む。
これは、絶対値的なサブピクセル値の点でエラーが最小化されているということを必然的に意味するものではない、ということを認識することは重要である。絶対値的なサブピクセル値の点でエラーを最小化することは、ルミナンスを考慮することなく、クロミナンスエラーを最小化するであろう。従って、知覚されるより小さなエラーを得るためには、所望のルミナンスをより良く維持するように調節が行われる。
効果的な欠陥マスキングに対して要求されることは、意図されたサブピクセル値が上下両方に調節され、結果として実際のサブピクセル値になることである。この場合、サブピクセルは通常動作で使用され、これらのサブピクセルのいくらかの残存容量は好ましくは保存され、それにより、本発明に従った適切な欠陥マスキングを可能とする。
この方法によれば、サブピクセルの欠陥は、典型的には、人間の肉眼では現実的に見ることができなくなり、従って、もはや苛立ちの原因ではなくなる。ディスプレイにおけるより多くの欠陥を許可することによって、その歩留まりが、上述した利点によって、劇的に改善し得る。
欠陥画素の数が画素の総数に比較して少ないものとすると、この実施された方法がコンピュータで実行するほどに複雑である場合であっても、この方法は低コストで済むであろう。もし、欠陥マスキングが比較的単純な状態を保持している場合には、通常の画素処理に比べて、費用が極端に少なくて済む。
欠陥画素についての情報は、各欠陥画素の詳細を示した所定のリスト格納部から得ることができる。このリストの代替、あるいは、このリストとの組合せとして、サブピクセルの欠陥を自己検出することもまた有利である。これにより、製造時において欠陥に関する情報を格納する必要性が排除され、また、新しい欠陥の発生に欠陥マスキングを適応させることもできる。次に、これは、欠陥が長期間現れるディスプレイ(例えば、PLEDやLCD)の使用可能な寿命を長期化させることが可能となる。
1セットのサブピクセル値はディスプレイメモリから得ることができ、また、1セットの変更されたサブピクセル値がそのメモリへ戻され得る。これは、従来のディスプレイドライバと通信接続するための有効な方法を提供する。
この決定は、制限付き最小二乗法(CLS)タイプの近似の問題を解決することを含む。
このディスプレイは、各々のサブピクセルが1つの原色を放射する1セットの基本サブピクセルと付加的な色を放射する少なくとも1つの付加的な余剰サブピクセルとを各ピクセルが備える類のものであることが好ましい。原色は、適切な比率で組み合わされることによって任意に与えられる色を生成することができるように選択される。最も旧来の原色の組合せは、勿論、レッド、グリーンおよびブルー(RGB)である。付加的な色は、これらの原色の各々からの寄与を含むように選択され得る。上述された例は、ホワイト(RGBW)であるが、シアン、マゼンダまたはイエローのような他の色を用いることもできる。3つ以上のサブピクセルを有する場合、全く異なる1セットの色を、原色および非原色の余分の色に分けることも可能である。
余剰サブピクセルは、いくつかのピクセル、例えば、2つのピクセルによって共有されていてもよい。これは、付加的なサブピクセルの総数を低減し、ディスプレイを低廉にする。
1セットのサブピクセル値および1セットの変更されたサブピクセル値は、各々、前記欠陥サブピクセルに隣接するサブピクセルの値を備える。これらの組(セット)は、好ましくは、特定の画素のサブピクセルに関連付けられるが、もし有利であると分かった場合には、サブピクセルの他の近隣のサブピクセルに関連付けられてもよい。
もともとの1セットのサブピクセルは、画素の原色サブピクセルの値を備えている。これらの値のみを備えることによって、余剰サブピクセル型のディスプレイでは、或る“ヘッドルーム(headroom)”が、付加的な余剰カラーサブピクセルを活性化させることによりもたらされる追加の強度によって保障される。1セットの変更されたサブピクセルも、画素の任意のこのような余剰サブピクセルの値を備えている。
最大ルミナンス(保持されるヘッドルームがない)と最大欠陥マスキング機能(ヘッドルームが利用可能)との間にはトレードオフがあることに注意すべきである。このトレードオフは、製造されたディスプレイが欠陥数や、それらの用途(モニタ用、TV用、ビデオ用、静止画像用など)、市場(プロフェッショナル用か、または、一般消費者用か)によってランク分けされるという状況では非常に有用なものとなり得る。高価で本質的に欠陥の無いディスプレイでは、ヘッドルームを保持する必要は無いが、安価で欠陥の多いディスプレイでは、ヘッドルームは本発明による欠陥マスキングを可能とするために保持されなければならない。
上述のような方法で欠陥/ヘッドルームの数に従ったディスプレイのクラス分けは、非余剰のディスプレイ(例えば、従来のRGB)にも役立ち得る。
この方法は、エラーの拡散によって欠陥画素を補正することをさらに備えていてもよい。エラー拡散は、サブピクセルがゼロで停滞してしまうような大きなエラーには有効ではないが、上記の方法による欠陥マスキング後に残存する小さなエラーに対しては有利である。これは、上述のような制限付きヘッドルームの場合に特に有利である。
本発明による方法は、サブピクセルが正確にアドレス指定され得るディスプレイ(マトリックスディスプレイ)で実施されることが好ましい。このようなディスプレイの例としては、アクティブマトリックスLCDおよびPLEDである。
本発明の第2の特徴によれば、上記の目的は、多数のサブピクセルで形成された複数の画素を有するディスプレイ用の制御ユニットで達成される。この制御ユニットは、各欠陥画素ごとに前記欠陥サブピクセルの情報を獲得する手段と、この欠陥画素に対する所望の知覚特性(perceptive characteristics)を生成するための1セットのサブピクセル値を獲得する手段と、前記欠陥画素に対する実際の知覚特性を生成するための1セットの変更されたサブピクセル値を決定する手段であって、前記1セットの変更されたサブピクセル値は、ディスプレイ内で導入することができるように前記サブピクセルの欠陥に関する情報に基づいており、前記1セットの変更されたサブピクセル値は、ユーザによって知覚されるエラーを低減するために前記所望の知覚特性と前記実際の視覚特性との間の差に起因してユーザにより知覚されるエラーを低減するように構成されており、さらに、ディスプレイの前記1セットの変更されたサブピクセル値を導入する手段をさらに備える。
この制御ユニットは、サブピクセルの欠陥についての情報を格納するためのメモリをさらに備えている。これにより、1セットの変更されたサブピクセル値を決定するために必要な情報が決定手段に提供される。
このメモリに代えて、または、これとともに、制御ユニットは、サブピクセルの欠陥を自己検出する手段を備えている。上述の高い歩留まりによって、パネルテスト(現状では、これは手作業である)よりも前に、パネル上に制御ユニットを組み込むことが可能となる。これらのドライバにおいて欠陥の能動検出と組み合わせれば、自己テストを実行することができ、テスト、補修およびクラス分けをより自動化させることが可能である。
勿論、制御ユニットは、ディスプレイ装置に導入することができ、このようなディスプレイは本発明の第3の特徴と考えられる。
これらの、および、他の特徴は、添付図面を参照しつつ、以下に記述された現時点における好適な実施形態によってより良く理解されるであろう。
次の記述は、いくつかの画素を有するディスプレイに関連し、各画素は、個々アドレス指定可能な多数のサブピクセルから構成されている。このようなディスプレイの例としては、アクティブマトリックス液晶ディスプレイおよびPLEDディスプレイである。
さらに、好適には実施形態は、画素のサブピクセルが余剰であって、即ち、このサブピクセルが必要な原色以外の少なくとも1つの追加の色を放射することができるディスプレイに関連する。上述のように、RGBWの画素構造は、基本的なレッド、グリーンおよびブルーのサブピクセルに加えてホワイトのサブピクセルを有する1セットの余剰サブピクセルの一例である。
余剰サブピクセルを有すると、同一のクロミナンスおよび強度を達成するために個々のサブピクセルを駆動する複数の方法が存在する。この一例は、図1に模式的に示されている。ここで、同一の色および強度がこの図面の両側に描かれている。左側には、サブピクセル値の1セット1として、レッド2、グリーン3、ブルー4およびホワイト5が示されている。ホワイトサブピクセル5はゼロに設定されている。右側には、異なる値の1セット6として、レッド2’、グリーン3’、ブルー4’およびホワイト5’が図示されている。ホワイトレベル5’は、RGBレベル2,3,4のうちの最小値、即ち、この場合、グレーンレベル3を採用している。次に、右側に示すように、このレベルは、RGBレベル2,3,4の総てから引き算され、結果としてグリーンのサブピクセルのレベル3’はゼロに設定される。
このアプローチによって、ピクセル値のセット1、6の両方は、結果的に、同一の色および強度になる。この実施例では、もし、グリーンのサブピクセルが不良(オフ停滞状態(stuck-at-off))である場合、総てのエラーを導入することなしに補正がなされていることに注意すべきである。
本発明の原理は、図2に図示されており、ここで、同じ要素には図1における同一の参照番号が付されている。この場合、画素は不良であり、より詳細には、ブルーの原色のサブピクセルがオフ停滞である。よって、図2の左側に示された、所望のサブピクセル値2,3,4のセットは、ディスプレイパネルによっては導入され得ない。本発明によれば、残りのサブピクセル(この場合、レッド、グリーンおよびホワイト)の強度値は、ブルーの寄与が存在しないことを補償するために変更され、それによって、知覚されるエラーを最小にし、あるいは、少なくとも軽減する。
一例として、このようなエラーの最小化は、エラーの全体のルミナンスはゼロに近く、一方で、このエラーのクロミナンスはホワイトに可能な限り近いということを含んでもよい。人間の視覚組織(HVS(Human Visual System))はルミナンスの違いに比較的敏感であり、クロミナンスに対しては比較的低い解像度を有することが知られているので、クロミナンスよりもルミナンスをより良く近似することが好ましい。
図2に戻り、変更されたサブピクセル値2’、3’、4’、5’は、エラー7、8、9とともに、図の右側に示されている。見て分かるように、ホワイトサブピクセル5’が活性化されており、ブルーの寄与の欠落の大部分を補償しようとしている。これと同時に、ホワイトサブピクセル5’は、レッドおよびグリーンの領域に寄与し、よって、これらのサブピクセル値は低減される必要がある。所望のとおり、ブルーの値3は、所望のグリーンの値2を超え、グリーンカラーまたはブルーカラー、もしくは、その両方にエラーが生じるであろう。図示されたケースでは、エラーはグリーンカラー8に導入され、小さなエラー9はブルーカラーにも残る。
もし、サブピクセル値におけるエラーの絶対値が最小化されたならば、レッドカラーは、レッドにおけるエラーを回避するために変更されるであろう。しかしながら、サブピクセル値に起因する知覚特性が最小化されるという事実によって、エラー8は、ルミナンスエラーを最小化するためにレッドカラーにおいても導入される。
全般の問題点は次のように数学的方法で記述され得る。
ベクトルmを所望のピクセル値のベクトルとし、これはCIE1931XYZカラー空間またはLu’v’ルミナンス/クロミナンス空間のようなn次元の線形空間において決定される。ベクトルpをk個のサブピクセルに対する値(正規化され、ガンマインディペンデントを表す)のベクトルとし、Mはk次元サブピクセル空間内の或る点をn次元知覚空間に変換するn×kマトリックスとする。M内のj番目の列は、知覚空間におけるj番目のサブピクセルの位置に該当する。
近似の問題は、次の式1のようにマトリックスで表される。
ここで、ベクトルεは、知覚空間で決定された近似におけるエラーである。この方程式は、全部を書き出すと次の式2のようになる。
この近似の問題に対する解は、次の式3の制限を満たさなければならない。
ここで、GおよびFは、所与のピクセル内における関数(G)および欠陥(F)サブピクセルの指標のセットである。原色の欠陥サブピクセルの各々は、所与の固定のレベルfiに停滞させることができる。我々の目的は、近似エラーベクトルεを最小化することであり、そのために、我々は式4で表されるベクトルεのL2−ノーム(L2-norm)を最小化することを目的とする。
近似エラーは、式5の最小化で表されるように重み付けされ得る。
これにより、クロミナンスにわたるルミナンスのような知覚測定値に優先順位を付すことができる。重み付けは、式6によって与えられる重み付けマトリックスWの方程式で、総ての項を左積分(left-multiplying)することによって達成される。
次に、重み付けの問題が式7によって与えられる。
近似エラーの重み付けwiは、欠陥の周囲の画像コンテンツに順応させることができる。例えば、欠陥画素の周囲において、ルミナンスが平坦であるかまたは凹凸であるか、クロミナンスが平坦であるか凸凹であるか、あるいは、エッジがあるかを検出するために分析を行うことができる。これに基づいて、重み付けは、知覚エラーを最小化するために適用され、この周囲に与えられる。
上述のような全体の問題は、制限付き最小二乗法(CLS)の問題であり、これは、例えば、Math Worksによって配布されているMatlabを用いるための最適化ツールボックスを用いれば、公知の技術で容易に解決することができる。マトリックスMの次元は極めて小さい(代表的にはk=4並びにn=2)ので、この問題を解決することは比較的複雑ではない。さらに、マトリックスMは公知であり、総ての画素に対して同一であるので、専用かつより高速の解決手段を開発することができる。
典型的には、何百万のサブピクセルを有するディスプレイ内において何十かの欠陥が存在する。上記の問題のみを欠陥画素について解決する必要があるので、近似の問題を解決するために利用できる時間が比較的多くとれる。これは、近似の問題を解決するための低電力かつ複雑でないハードウェアを全体の目的に適用させることができる。
提案された方式は、シミュレーションされ、非常に良好に機能することがわかった。これらのテストは、500個の欠陥サブピクセルを有するエミュレートされたRGBWディスプレイを用いて、多数の静止画像に対して実行された。
図3には、ディスプレイシステム13とともに実施された本発明による欠陥マスキング法を実行する制御ユニット12の模式図がフロー図で示されている。制御ユニット12は、欠陥画素に関する情報リストを格納したメモリ11を備えている。ここでは、問題のディスプレイの総ての欠陥について、それらの位置および種類の両方が特定されている。代表的に、これは、欠陥画素の位置、その画素内の欠陥サブピクセルおよび各欠陥サブピクセルの詳細を、リスト11に含めることによって達成することができる。サブピクセルの欠陥の詳細は、停滞(stuck)しているサブピクセルの強度レベルで構成されてよい。代表的には、このレベルはゼロである。即ち、サブピクセルは、全く光を放射していない(ブラック状態である)。欠陥リストは、予め、例えば、ディスプレイの製造中に生成されることが好ましい。しかしながら、ディスプレイがいずれのサブピクセルが欠陥であるか、その欠陥の特徴はどのようなものかを自己検出することができれば有利であろう。これにより、常に、更新された正しいリスト11を確保することができるであろう。この目的のために、制御ユニットには、ディスプレイのサブピクセルにおける欠陥を自己検出するためのモジュール19が設けられていてもよい。このようなモジュール19は、メモリ11に接続され、必要な場合に、そのリストを更新するように構成され得る。
さらに、入力/出力モジュール17がディスプレイシステム13と通信するために配置されている。図3におけるディスプレイシステムは、ディスプレイメモリ13によってのみ表されているが、他の構成要素は明確化のために省略されている。メモリ11とI/Oモジュールとのコンタクトには、モジュール18が上述の近似の問題を解決するために設けられている。
図4、5および7のフロー図内のステップを実行するこのような制御ユニット12は、ソフトウェアおよび/またはハードウェア部品の任意の組合せによって実施可能であり、従来のディスプレイドライバの回路に組み込まれてもよい。
図3の制御ユニット12によって実行される方法のフロー図は、図4に図示されている。
ステップS1において、プログラム制御は、欠陥画素のリスト11から、欠陥の位置および詳細14、即ち、単数または複数の欠陥サブピクセルおよびその停滞レベルを獲得する。次に、ステップS2において、1セットの所望のサブピクセル値15がディスプレイメモリ13から、例えば、フレームメモリまたはピクセルストリームなどから獲得される。ステップS3において、1セットの所望のサブピクセル値15およびサブピクセル欠陥14は、1セットの変更されたサブピクセル値16の形態に近似させる最適化のための入力として用いられる。上述のように、これは変更されたセットは、追加のサブピクセル値、例えば、ホワイトサブピクセルを含んでいてもよい。次に、ステップS4では、1セットの変更された値16が、ディスプレイメモリ13へ戻され、あるいは、ディスプレイドライバ(図示せず)へ直接通信される。上記のステップS1からS4は、ステップS5において達成されるプログラムループによって、リスト11にある総ての画素欠陥および各画像フレームに対して繰り返される。
欠陥マスキングは、通常の画素処理と同時に進行され、あるいは、同一の処理フローの一部分となり得る。
図4のフロー図の代替案が図5に与えられている。この場合、所望のサブピクセル値がステップS2で獲得された後に、欠陥画素の周囲がステップS8で分析される。これは、ディスプレイメモリ13から隣接する画素のピクセル値を獲得することによって達成することができる。次に、ステップS9において、重み付けが計算され、次に、ステップS3における最適化のための入力として用いられる。このように重み付けは、選択された知覚特性を有利にするために用いられる。この重み付けは、画像特性を変更するように調節可能とするために、順応性の高いものとしてよい。
図6a〜6bは、欠陥を有する画像(図6a)および欠陥マスキングを有する画像(図6b)の両方におけるエラーの代表的な分布を示す。明らかに、大きなエラーが除去されており、小さな値のエラーのみが残存している。これは、近似エラーをエラー拡散に適合させる。
この方式は公知であり、欠陥画素に隣接する画素の強度を適用することを含む。総ての公知の方法は、画像にわたる一次元(1-D)スキャンの何らかの形態を実行し、その結果、(ボトムライトに)直接のエラー拡散となる。もし、記載された方法に従って欠陥がマスキングされた後にエラー拡散が実行された場合、このエラーは、総ての可能な方向へ等しく影響し得る。
従って、新規な環状拡散法(ring diffusion scheme)が提案される。総ての残りのエラーは、まず、総ての方向(dimension)(画素の第1の環)の周囲の画素に直ちに影響する。優先度が、おそらく、付加的なクロミナンスエラーを導入するコストで、ルミナンスエラーの全体を補正するために与えられ得る。この後、ルミナンスエラーが依然存在する場合には、次の“環”を形成する画素がこのエラーを補正するために用いられ、適当な制限内でこれが繰り返される。優先度をまずルミナンスの補正に与え、次にクロミナンスエラーに与えることによって、欠陥の最小の可視性が期待される。
エラー拡散を含む方法のフロー図は、図7に図示されており、ステップS12において、エラー拡散が実行され、変更された値はステップS3で計算されている。
各画素は、それ自身、個々の余剰サブピクセルを有する必要は無いことに注意されたい。余剰のサブピクセルを限定するために、1つのサブピクセルが2つの画素22および23によって共有されている場合として図8に図示されているように、周囲の1グループの画素が余剰サブピクセル21を共有してもよい。また、共有された余剰サブピクセル21は、これらの画素22、23のうちいずれか1つにある欠陥をマスキングするように、制御ユニット12によって用いられてもよい。
さらに、最適化は、単一画素の狭い境界内のサブピクセルに制限される必要は無い。図9aから9bに図示さえているように、隣接するセブピクセルの任意のセットをも満足させてよい。欠陥サブピクセル26を備えた画素25のサブピクセル値の変更に代えて、サブピクセル27のグループが、4つの隣接する画素25、28、29、30の各々から1つのサブピクセルを含むように規定されている。図9bでは、選択されたサブピクセル31のグループが、9つのサブピクセルを備え、2つのホワイトサブピクセル32、33を含んでいる。いずれのサブピクセルが最善のマスキングをもたらすかを決定するために、いくつかの異なる隣接(サブピクセルのグループ)をテストすることもまた好ましい。例えば、上述のように、ゼロで停滞するサブピクセルは、その欠陥サブピクセルがグループ内で最低値を有する場合には、完全に補正される。それにより、欠陥サブピクセルが最低値を有している場合にそのサブピクセルのグループに決定され得るか否かを調査するために有用である。
理論的には、本発明は、非余剰のサブピクセル(標準的RGB)を有するディスプレイにも適用される。たとえ余剰サブピクセルに対するほどではないにしても、トライアルの試験では改善を示した。上述のとおり、性能は、さらに周囲のサブピクセルを最適化に含めることによって改善された。
上記の記載の部分において、たった1つの欠陥サブピクセルが考慮された。欠陥マスキングを満足のいくように達成させるためには、複数の余剰サブピクセルを有することがさらに好ましい。
記載された実施形態に多数の変形を追加することは、添付の請求項の範囲内において可能である。例えば、ルミナンスおよびクロミナンスの知覚エラーを最小化しようとする限りにおいて、提案されたCLS最適化以外の他の計算方法が可能である。最適化の問題は、周囲のサブピクセルまでの距離を含めて拡張される。これは、欠陥と空間的に近接するサブピクセルに有利となるように、それにより任意の知覚された空間エラーを最小にするように用いられる。このような拡張は、マトリックスMの追加の行として距離diという単一ベクトルを加えることによって実施可能である。
また、上述の記載において、画素欠陥の間の距離は、1つの独立した欠陥を考慮しなければならないほどに充分に大きいものとする。しかしながら、これは、本発明の限定ではなく、非独立の欠陥の取り扱いにも適用可能である。
Claims (19)
- 多数のサブピクセルから形成された複数の画素を有するディスプレイにおいて欠陥サブピクセルをマスキングする方法であって、前記ディスプレイの少なくとも1つの画素には欠陥があり、この画素は欠陥を有する少なくとも1つのサブピクセルを備えており、
前記方法は、
各欠陥画素ごとに前記欠陥サブピクセルの情報を獲得するステップと、
前記画素ごとに所望の知覚特性を生成するために1セットのサブピクセル値を獲得するステップと、
前記画素ごとに変更された知覚特性を生成するために1セットの変更されたサブピクセル値を決定するステップであって、前記1セットの変更されたサブピクセル値は、ディスプレイ内で導入することができるように前記情報に基づいており、前記1セットの変更されたサブピクセル値は、前記所望の知覚特性と前記変更された知覚特性との間の差に起因しかつユーザによって知覚されるエラーを、低減するように選択されるステップと、
前記ディスプレイにおいて前記1セットの変更されたサブピクセル値を導入するステップを具備することを特徴とする方法。 - 前記情報は、各欠陥画素の位置および詳細を格納する所定のリストから得られることを特徴とする請求項1に記載の方法。
- 前記サブピクセルの欠陥を自己検出するステップをさらに具備することを特徴とする請求項1または請求項2に記載の方法。
- 前記1セットのサブピクセル値はディスプレイメモリから得られ、前記1セットの変更されたサブピクセル値は前記ディスプレイメモリへ戻されることを特徴とする請求項1から請求項3のいずれかに記載の方法。
- 前記決定ステップは、制限付き最小二乗法の近似問題を解決することを含むことを特徴とする請求項1から請求項4のいずれかに記載の方法。
- 各前記画素は、各々が原色を放射する1セットの原色サブピクセルと、各々が追加のカラーを放射する少なくとも1つの追加のサブピクセルとを備えていることを特徴とする請求項1から請求項5のいずれかに記載の方法。
- 前記追加のサブピクセルは複数の画素によって共有されていることを特徴とする請求項6に記載の方法。
- 前記1セットのサブピクセル値および前記1セットの変更されたサブピクセル値の各々は、前記欠陥サブピクセルに隣接するサブピクセルの値を含むことを特徴とする請求項1から請求項7のいずれかに記載の方法。
- 前記1セットのサブピクセル値は画素の前記原色サブピクセルの値を含むことを特徴とする請求項8に記載の方法。
- 前記1セットの変更されたサブピクセル値も、前記画素の任意の追加のサブピクセルの値を含むことを特徴とする請求項8に記載の方法。
- エラー拡散によって前記欠陥画素を補正するステップをさらに具備することを特徴とする請求項1から請求項10のいずれかに記載の方法。
- 前記ディスプレイはマトリックス型であることを特徴とする請求項1から請求項11のいずれかに記載の方法。
- 多数のサブピクセルから形成された複数の画素を有するディスプレイに用いられる制御ユニットであって、前記ディスプレイ内の少なくとも1つの画素には欠陥があり、この画素は欠陥を有する少なくとも1つのサブピクセルを備えており、
各欠陥画素ごとに前記欠陥サブピクセルの情報を獲得する手段と、
前記欠陥画素に対する所望の知覚特性を生成するための1セットのサブピクセル値を獲得する手段と、
前記欠陥画素に対する実際の知覚特性を生成するための1セットの変更されたサブピクセル値を決定する手段であって、前記1セットの変更されたサブピクセル値は、前記ディスプレイ内で導入可能とするために前記情報に基づいており、前記1セットの変更されたサブピクセル値は、前記所望の知覚特性と前記実際の視覚特性との間の差に起因しかつユーザによって知覚されるエラーを、低減するように構成された手段と、
前記ディスプレイの前記1セットの変更されたサブピクセル値を導入する手段とを備えたことを特徴とする制御ユニット。 - 前記サブピクセルの欠陥に関する情報を格納するメモリをさらに備えたことを特徴とする請求項13に記載の制御ユニット。
- 前記サブピクセルの欠陥を自己検出する手段を備えたことを特徴とする請求項13または請求項14に記載の制御ユニット。
- 前記制御ユニットはディスプレイを制御するように適用され、
各画素は、各々が原色を放射する1セットの原色サブピクセルと、各々が追加のカラーを放射する少なくとも1つの追加のサブピクセルとを備えていることを特徴とする請求項13から請求項15のいずれかに記載の制御ユニット。 - 前記追加のサブピクセルは、複数の前記画素によって共有されていることを特徴とする請求項16に記載の制御ユニット。
- 請求項13から請求項17のいずれか1項に記載の制御ユニットを備えたディスプレイ装置。
- 前記ディスプレイ装置はマトリックス型であることを特徴とする制御18に記載のディスプレイ装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
EP02077065 | 2002-05-27 | ||
PCT/IB2003/001871 WO2003100756A2 (en) | 2002-05-27 | 2003-04-29 | Pixel fault masking |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005527861A true JP2005527861A (ja) | 2005-09-15 |
Family
ID=29558376
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004508324A Withdrawn JP2005527861A (ja) | 2002-05-27 | 2003-04-29 | 画素欠陥マスキング |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20050179675A1 (ja) |
EP (1) | EP1518218A2 (ja) |
JP (1) | JP2005527861A (ja) |
KR (1) | KR20050007560A (ja) |
CN (1) | CN1656529A (ja) |
AU (1) | AU2003222409A1 (ja) |
TW (1) | TW200405073A (ja) |
WO (1) | WO2003100756A2 (ja) |
Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008514997A (ja) * | 2004-09-27 | 2008-05-08 | アイディーシー、エルエルシー | ディスプレイにおいて色を処理するための方法及び装置 |
JP2009047965A (ja) * | 2007-08-21 | 2009-03-05 | Seiko Epson Corp | 画像処理装置、画像処理方法、表示装置およびプログラム |
JP2010503896A (ja) * | 2006-09-13 | 2010-02-04 | ヒューレット−パッカード デベロップメント カンパニー エル.ピー. | 視覚的欠陥のマスキング |
US7911428B2 (en) | 2004-09-27 | 2011-03-22 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Method and device for manipulating color in a display |
US8004743B2 (en) | 2006-04-21 | 2011-08-23 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Method and apparatus for providing brightness control in an interferometric modulator (IMOD) display |
US8031133B2 (en) | 2004-09-27 | 2011-10-04 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Method and device for manipulating color in a display |
US8054528B2 (en) | 2004-09-27 | 2011-11-08 | Qualcomm Mems Technologies Inc. | Display device having an array of spatial light modulators with integrated color filters |
US8098431B2 (en) | 2004-09-27 | 2012-01-17 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Method and device for generating white in an interferometric modulator display |
US8102407B2 (en) | 2004-09-27 | 2012-01-24 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Method and device for manipulating color in a display |
US8362987B2 (en) | 2004-09-27 | 2013-01-29 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Method and device for manipulating color in a display |
US8848294B2 (en) | 2010-05-20 | 2014-09-30 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Method and structure capable of changing color saturation |
JP2019512878A (ja) * | 2016-04-01 | 2019-05-16 | オスラム オプト セミコンダクターズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングOsram Opto Semiconductors GmbH | 発光モジュールおよび発光モジュールを備えた表示装置 |
Families Citing this family (42)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101028664B1 (ko) * | 2003-06-06 | 2011-04-12 | 삼성전자주식회사 | 분할된 청색 서브 픽셀을 구비한 신규한 액정디스플레이에서의 이미지 열화 정정 |
EP1536399A1 (en) | 2003-11-26 | 2005-06-01 | Barco N.V. | Method and device for visual masking of defects in matrix displays by using characteristics of the human vision system |
JP2007529778A (ja) * | 2004-03-19 | 2007-10-25 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 低輝度での画素間の非均一性改善を伴うアクティブマトリクスディスプレイ |
DE602004024895D1 (de) | 2004-10-25 | 2010-02-11 | Barco Nv | Optische Korrektur für Leuchtpaneele mit hoher Gleichmäßigkeit |
JP2008538615A (ja) * | 2005-04-21 | 2008-10-30 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | サブピクセルのマッピング |
US7639849B2 (en) | 2005-05-17 | 2009-12-29 | Barco N.V. | Methods, apparatus, and devices for noise reduction |
US9318053B2 (en) * | 2005-07-04 | 2016-04-19 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and driving method thereof |
US8044944B2 (en) | 2005-07-22 | 2011-10-25 | Nvidia Corporation | Defective pixel management for flat panel displays |
JP4396614B2 (ja) * | 2005-09-21 | 2010-01-13 | エプソンイメージングデバイス株式会社 | 液晶装置及び電子機器 |
US7948506B2 (en) * | 2005-11-15 | 2011-05-24 | Global Oled Technology Llc | Method and apparatus for defect correction in a display |
US7460133B2 (en) | 2006-04-04 | 2008-12-02 | Sharp Laboratories Of America, Inc. | Optimal hiding for defective subpixels |
US7965305B2 (en) | 2006-05-08 | 2011-06-21 | Global Oled Technology Llc | Color display system with improved apparent resolution |
US7969428B2 (en) | 2006-05-08 | 2011-06-28 | Global Oled Technology Llc | Color display system with improved apparent resolution |
KR101255311B1 (ko) * | 2006-06-29 | 2013-04-15 | 엘지디스플레이 주식회사 | 평판표시장치와 그 화질제어 방법 |
US20080117231A1 (en) | 2006-11-19 | 2008-05-22 | Tom Kimpe | Display assemblies and computer programs and methods for defect compensation |
US9659513B2 (en) * | 2007-08-08 | 2017-05-23 | Landmark Screens, Llc | Method for compensating for a chromaticity shift due to ambient light in an electronic signboard |
US9536463B2 (en) * | 2007-08-08 | 2017-01-03 | Landmark Screens, Llc | Method for fault-healing in a light emitting diode (LED) based display |
US8243090B2 (en) * | 2007-08-08 | 2012-08-14 | Landmark Screens, Llc | Method for mapping a color specified using a smaller color gamut to a larger color gamut |
US7768180B2 (en) * | 2007-08-08 | 2010-08-03 | Landmark Screens, Llc | Enclosure for housing a plurality of pixels of a graphical display |
US9342266B2 (en) * | 2007-08-08 | 2016-05-17 | Landmark Screens, Llc | Apparatus for dynamically circumventing faults in the light emitting diodes (LEDs) of a pixel in a graphical display |
US9262118B2 (en) * | 2007-08-08 | 2016-02-16 | Landmark Screens, Llc | Graphical display comprising a plurality of modules each controlling a group of pixels corresponding to a portion of the graphical display |
US9620038B2 (en) * | 2007-08-08 | 2017-04-11 | Landmark Screens, Llc | Method for displaying a single image for diagnostic purpose without interrupting an observer's perception of the display of a sequence of images |
US9779644B2 (en) * | 2007-08-08 | 2017-10-03 | Landmark Screens, Llc | Method for computing drive currents for a plurality of LEDs in a pixel of a signboard to achieve a desired color at a desired luminous intensity |
US8471787B2 (en) * | 2007-08-24 | 2013-06-25 | Canon Kabushiki Kaisha | Display method of emission display apparatus |
US8952976B2 (en) | 2008-08-06 | 2015-02-10 | Nxp B.V. | SIMD parallel processor architecture |
KR102016424B1 (ko) * | 2013-04-12 | 2019-09-02 | 삼성디스플레이 주식회사 | 데이터 처리 장치 및 이를 갖는 디스플레이 시스템 |
CN103779388B (zh) * | 2014-01-17 | 2016-04-06 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种有机电致发光显示器件、其驱动方法及显示装置 |
DE102015100857B4 (de) * | 2015-01-21 | 2023-05-04 | Pictiva Displays International Limited | Organische Anzeigevorrichtung und Verfahren zum Betreiben einer organischen Anzeigevorrichtung |
TWI597706B (zh) * | 2015-04-17 | 2017-09-01 | 矽創電子股份有限公司 | 顯示裝置與電腦系統 |
US10354577B1 (en) | 2015-06-02 | 2019-07-16 | X Development Llc | Masking non-functioning pixels in a display |
CN105607313B (zh) * | 2016-03-16 | 2019-01-11 | 武汉华星光电技术有限公司 | 像素缺陷的处理方法及处理系统 |
CN105679222B (zh) * | 2016-03-31 | 2018-03-02 | 广东欧珀移动通信有限公司 | 一种像素补偿方法及装置 |
EP3465628B1 (en) * | 2016-05-24 | 2020-07-08 | E Ink Corporation | Method for rendering color images |
DE102017200915A1 (de) * | 2017-01-20 | 2018-07-26 | Bayerische Motoren Werke Aktiengesellschaft | Verfahren und Vorrichtung zum Anzeigen eines Hinweises für einen Anwender und Arbeitsvorrichtung |
CN107342023A (zh) * | 2017-08-17 | 2017-11-10 | 海迪科(南通)光电科技有限公司 | 一种具有共用冗余子像素点的led阵列显示器件 |
CN113748456A (zh) * | 2019-04-09 | 2021-12-03 | 维耶尔公司 | 微型led装置和阵列的修复技术 |
US10950199B1 (en) * | 2019-10-11 | 2021-03-16 | Facebook Technologies, Llc | Systems and methods for hiding dead pixels |
US11120770B2 (en) * | 2019-10-11 | 2021-09-14 | Facebook Technologies, Llc | Systems and methods for hiding dead pixels |
US11217142B1 (en) | 2019-10-11 | 2022-01-04 | Facebook Technologies, Llc. | Display degradation compensation |
US11410580B2 (en) * | 2020-08-20 | 2022-08-09 | Facebook Technologies, Llc. | Display non-uniformity correction |
CN114049861A (zh) * | 2021-11-16 | 2022-02-15 | 北京集创北方科技股份有限公司 | Led显示屏控制方法、装置、设备和系统 |
EP4198576A1 (en) * | 2021-12-14 | 2023-06-21 | FEI Company | Defective pixel management in charged particle microscopy |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB9008032D0 (en) * | 1990-04-09 | 1990-06-06 | Rank Brimar Ltd | Video display systems |
US6020868A (en) * | 1997-01-09 | 2000-02-01 | Rainbow Displays, Inc. | Color-matching data architectures for tiled, flat-panel displays |
JP3805150B2 (ja) * | 1999-11-12 | 2006-08-02 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 液晶表示装置 |
JP3368890B2 (ja) * | 2000-02-03 | 2003-01-20 | 日亜化学工業株式会社 | 画像表示装置およびその制御方法 |
-
2002
- 2002-04-29 US US10/515,753 patent/US20050179675A1/en not_active Abandoned
-
2003
- 2003-04-29 KR KR10-2004-7019073A patent/KR20050007560A/ko not_active Application Discontinuation
- 2003-04-29 JP JP2004508324A patent/JP2005527861A/ja not_active Withdrawn
- 2003-04-29 AU AU2003222409A patent/AU2003222409A1/en not_active Abandoned
- 2003-04-29 WO PCT/IB2003/001871 patent/WO2003100756A2/en not_active Application Discontinuation
- 2003-04-29 CN CNA038120380A patent/CN1656529A/zh active Pending
- 2003-04-29 EP EP03717498A patent/EP1518218A2/en not_active Withdrawn
- 2003-05-23 TW TW092114047A patent/TW200405073A/zh unknown
Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8054528B2 (en) | 2004-09-27 | 2011-11-08 | Qualcomm Mems Technologies Inc. | Display device having an array of spatial light modulators with integrated color filters |
US7911428B2 (en) | 2004-09-27 | 2011-03-22 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Method and device for manipulating color in a display |
US8031133B2 (en) | 2004-09-27 | 2011-10-04 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Method and device for manipulating color in a display |
JP2008514997A (ja) * | 2004-09-27 | 2008-05-08 | アイディーシー、エルエルシー | ディスプレイにおいて色を処理するための方法及び装置 |
US8098431B2 (en) | 2004-09-27 | 2012-01-17 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Method and device for generating white in an interferometric modulator display |
US8102407B2 (en) | 2004-09-27 | 2012-01-24 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Method and device for manipulating color in a display |
US8362987B2 (en) | 2004-09-27 | 2013-01-29 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Method and device for manipulating color in a display |
US8004743B2 (en) | 2006-04-21 | 2011-08-23 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Method and apparatus for providing brightness control in an interferometric modulator (IMOD) display |
JP2010503896A (ja) * | 2006-09-13 | 2010-02-04 | ヒューレット−パッカード デベロップメント カンパニー エル.ピー. | 視覚的欠陥のマスキング |
JP2009047965A (ja) * | 2007-08-21 | 2009-03-05 | Seiko Epson Corp | 画像処理装置、画像処理方法、表示装置およびプログラム |
US8848294B2 (en) | 2010-05-20 | 2014-09-30 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Method and structure capable of changing color saturation |
JP2019512878A (ja) * | 2016-04-01 | 2019-05-16 | オスラム オプト セミコンダクターズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングOsram Opto Semiconductors GmbH | 発光モジュールおよび発光モジュールを備えた表示装置 |
US10763396B2 (en) | 2016-04-01 | 2020-09-01 | Osram Oled Gmbh | Light-emitting module and display device comprising same |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP1518218A2 (en) | 2005-03-30 |
TW200405073A (en) | 2004-04-01 |
WO2003100756A3 (en) | 2004-03-25 |
US20050179675A1 (en) | 2005-08-18 |
CN1656529A (zh) | 2005-08-17 |
KR20050007560A (ko) | 2005-01-19 |
WO2003100756A2 (en) | 2003-12-04 |
AU2003222409A1 (en) | 2003-12-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2005527861A (ja) | 画素欠陥マスキング | |
US10049643B1 (en) | Image processing apparatus and method for correcting color shift in displayed image | |
US7714881B2 (en) | Method and device for visual masking of defects in matrix displays by using characteristics of the human vision system | |
US7948506B2 (en) | Method and apparatus for defect correction in a display | |
US8354986B2 (en) | Displaying method | |
US6243059B1 (en) | Color correction methods for electronic displays | |
US7292024B2 (en) | Defect mitigation in display panels | |
JP5031097B2 (ja) | 多原色表示装置 | |
US20070257866A1 (en) | Method and apparatus for defect correction in a display | |
US20060158466A1 (en) | Shared pixels rendering display | |
US20070257944A1 (en) | Color display system with improved apparent resolution | |
US20150302789A1 (en) | Display device, display panel driver and drive method of display panel | |
CN102714000A (zh) | 显示装置 | |
KR20170129314A (ko) | 표시 장치 | |
US11030971B2 (en) | Display device and image processing method for color correction based on image type | |
WO2021156708A1 (ja) | 画像処理システム | |
CN109285520A (zh) | 像素驱动方法和像素驱动装置 | |
JP2017187536A (ja) | 光源装置及び画像投射装置 | |
KR101999546B1 (ko) | 색보정 방법, 다원색 매트릭스 표시장치의 기계 구현 방법 및 영상 데이터 신호 처리 장치 | |
TWI768667B (zh) | 直下式背光發光二極體顯示器與發光控制方法 | |
US10741116B2 (en) | Method and device for determining Gamma parameters and displaying method | |
JP5681541B2 (ja) | 液晶表示装置 | |
US20240038183A1 (en) | Backlight control for display devices | |
KR20240040964A (ko) | 무라 보상 장치 및 디스플레이 구동 장치 | |
CN117409734A (zh) | 一种显示设备的色温校正方法、装置、显示设备和介质 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060427 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20070507 |
|
A761 | Written withdrawal of application |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761 Effective date: 20071026 |