TW200405073A - Pixel fault masking - Google Patents

Description

200405073 玖、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於一顯示器中像素缺陷之遮掩，該顯示器包 含各由多個子像素組成的複數個像素。本發明之態樣包括 一方法、一控制單元及一顯示裝置。 【先前技術】 在傳統顯示系統中，多個子像素（通 (RGB)原色之子像素）構成一個像素。各原色適當等階之混 泛即構成一像素之期望顏色及党度。近期’出現除原色子 像素外亦使用一補充冗餘子像素（例如白色子像素）之顯示 器（RGBW)。該冗餘子像素可用於增強顯示器之亮度，且較 佳全然不改變顯示器之色度。顯示器之一實例闡釋= WO0137249中，該專利以引用方式併入本文參考。 、 當製造顯示器（例如，液晶顯示器）時，決定單位成本之 -重要因素係艮率，亦即每製造一功能正常顯示器而生 出的缺陷顯示器數量。若一顯示器含有缺陷像素(例 於某-原因無法正常運作之像素，通常由於該像素各有— 缺陷子像素所致），則該顯示器即為瑕截品。 通常’―料等級之顯示器可容許有特定數量之 素，若顯示器所含缺陷像素超 像 莱。然而，即使僅有一個缺陷子像素亦會廢 一旦發現該缺陷像素時。 心，尤其 消除缺陷像素之出現即便可能’ 1 、 外，生產一完”用亦極為昂貴。此 屋70吴_不态之難度與像+壑b ^ 此 豕素數量及顯示器尺寸有 .4 Γί ·1· 85268 200405073 關’因此，缺陷像素問題亦可隨解析度及顯示面板尺寸之 增加而增加。 々因此，吾人期望遮掩缺陷像素之影響，從而降低發現缺 陷像素之危險。此外，遮掩缺陷像素亦會增加一顯示器中 可接受的缺陷像素，從而減少廢棄的顯示器數量。藉此， 可提高良率，並具有多方面之益處：可銷售更多顯示器， 降低制程中所產生之廢料，並降低每一顯示器之生產成本。 在攝影機系統中，缺陷遮掩技術業已存在，且已應用到 市售卵片中。根據此技術，可利用缺陷子像素周圍的子像 素計算出該缺陷子像素之期望值，從而遮掩該缺陷。但此 技術不適用於顯示器。 另外一種方法為誤差分散，亦即，在近似一特定值中將 誤差分散在一組鄰近像素上。此方法本身並不是適用的缺 陷遮掩技術，因其所分散之誤差通常太大，例如一固定在 零冗度之子像素。事實上，由於分散中所出現之銳化效應 ’缺陷似乎顯得更加明顯。因此，目前為止尚無遮掩缺陷 子像素之可用技術。 【發明内容】 本發明之一目的係充分遮掩一顯示器中之缺陷像素。 本發明之另一目的係提供令使用者視覺上滿意的顯示影 像特徵品質。 根據本發明之第一態樣，該等目標可藉由一種如申請專 利圍第1項前言之方法實現，該方法進一步包括··獲取每 缺陷像素的缺陷子像素之資訊；獲取用於產生該像素之 85268 200405073 期望視覺特徵的一子像素值集合；決定用於產生該像素之 修正视覺特徵的一子像素修正值集合；該修正子像素值集 泛係以该資訊為基礎，以便可在顯示器中實施；該子像素 修正值集合（16)應可降低因該所需視覺特徵與該修正視覺 特徵間之差異而給使用者造成的視覺誤差；及在顯示器中 實施該子像素修正值集合。 考慮到子像素缺陷，該子像素值集合重新計算為一修正 值集合，以將使用者之視覺誤差降至最低程度。典型視覺 特徵包括亮度（明亮度）及色度（顏色）。 須認識到，此方法未必意味著絕對子像素值的誤差降至 最小。且不考慮亮度，將絕對子像素值的誤差降至最小亦 會使色度誤差降至最小。為獲得一較小之視覺誤差，可進 行一調整以更好地維護期望亮度。 對有效缺陷遮掩的要求之一係：預期子像素值可上下調 整，以產生實際子像素值。倘使在正常作業中所有子像素 ，則較佳保留該等子像素之部分剩餘能力，以便按照本發 明達成最佳缺陷遮掩。 藉由此一方法，子像素之缺 系統所察覺，從而不再是一令 示器中存在更多缺陷像素，顯 帶來前述之益處。 陷實際上已無法為人體視覺 人悩怒之起源。由於允許顯 示器良率大幅度提高，從而 較少，因此縱使 若缺陷遮掩保持 用開銷亦極低。 考慮到與總像素數量相比缺陷像素數量 所實施之方法計算複雜，其成本亦較低。 相對簡單，則與正常像素處理相比，其費 85268 200405073 有關缺陷像素之資訊可自一儲存各缺陷像素位置及詳細 資料之預定缺陷表中獲得。此外，作為另一替代方案或組 合該缺陷表，亦可自動檢測子像素缺陷。此一方法不僅無 需在生產時儲存有關缺陷之資訊，且亦能使缺陷遮掩自適 應於新缺陷之出現。由於缺陷通常出現顯示器超期使用後 ，此方法亦可提高顯示器之使用壽命（例如PLED顯示器及 LCD顯示器）。 子像素值集合可自一顯示器記憶體中獲得，且可將子像 素修正值集合傳回至該記憶體。藉此，可提供一與傳統顯 示器驅動器交作之有效方法。 子像素修正值集合之決定可包括解析一約束最小平方 (CLS)類型之取近似值問題。 頌π為之較佳型式為，其每一像素皆包含各子像素發出 一原色的一組主要子像素及用於發出一補充色的至少一補 充冗餘子像素。所選擇之原色可按適當比率組合而產生任 :給定顏色。當然’最常見之原色組合為紅、綠、藍（廳) 三原色。所選擇之補充色須包括來自各原色之顏色成分。 上述補充色之貫例為白色（RGBW)，但亦可使用其他顏色， 如同色、紫紅色，或黃色。倘使子像素多於三個，亦可採 用芫全不同之顏色組合，不必區分原色與非原色。 ▲几餘子像素可由多個像素共用，例如由兩個像素共用 藉此可減v補充子像素之數量，從而降低顯示器價格。 子像素值集合及子像素修正值集合可各自包含鄰近該缺 陷子像素的子像素值。該等子像素值集合較佳與—特定像 85268 200405073 素的子像素值相關 鄰近子像素相關。 但右發現有益，亦可與子像素的其他 原始子像素集合較佳白 冗名…… 像素的原色子像素值。在- 几餘子像素型頭示器中， 、、 ^ ^ ^ ^ 3由僅包括該等值，由啟動補充 几餘色子像素而提供的補、 ^ Η ” ϋ a i π 无冗度即可保證一特定“裕量空 間。该子像素修正值集人十了 — 1 、、 杲口吓可包括藏像素任一冗餘子像f ’在取大未保留裕量空間）及最佳缺陷遮掩 有裕量空間)間存在—種平衡。在生產的顯示器係根 據缺陷像素《及其應用（監視器、w、錄影機、靜止影像 寺^及㈣市場（專業用或消費用）分等級的情形下，此平衡 有用在昂貝而基本上無缺陷像素的顯示器中，不需 保留裕量空間；而在較便宜且存在缺陷像素的顯示器中， 則需保留裕量空間以依據本發明遮掩缺陷。 、斤4明之方式來按照缺陷數量/裕量空間劃分顯示器等 及亦適用於非几餘子像素型顯示器(例如傳統rgb顯示器)。 、該方法亦可進一步包括藉由誤差分散來補償缺陷像素。 雖汰對於大誤差（例如子像素亮度固定為零）效果不佳，但 口差刀政對於按知、上述方法遮掩缺陷後剩餘的小缺陷效果 車义佳’特別適用於上述裕量空間有限之情形。 本發明之方法較佳實施在可精確定址子像素的顯示器（矩 陣顽示詻）中。該類顯示器之實例為主動矩陣LCD& pLED顯 示器。 ^ 根據本發明之第二態樣，上述目標可藉由一種用於顯示 85268 -10- 200405073 器（其具有各由多個+參 子像素構成的複數個像素）的控制單元 來實現，該控制單开白扯m、λ a ^ 、、、 匕括用於獲取每一缺陷像素的缺陷子 像素資訊之構件、用於3[被j* ^ 、 ^ “又取一子像素值集合以產生缺陷子 、 <構件用於決疋一子像素修正值集人 以產生該缺陷像素會，碗興杜 、 口 $京只際視覺特徵之構件，該子像素修正值 集合基於該缺陷子傻去咨^ , 像素貝訊，以便在顯示器中實施，詨 像素修正值集合應可卩签彳成m ^ _、μ功1視覺特徵與該實際視覺 特徵間之差異而給使用去、生士 見 41 使用者造成的視覺誤差；及用於在顯示 杂中貫犯该子像素修正值集合之構件。 、d控制早凡可進-步包括_用於儲存子像素缺陷資訊之 記憶體，該記憶體可向該決定構件提供決定修正值集i之 必要資訊。 世木口又 作為另替代万案或組合記憶體，該控制單元 用於自動檢測子像素缺陷之構件。為j^上述 ’可在顯示面板測試(目前為人工測試)前將控制單： 在顯示面板上。可結合該等驅動器中缺陷之主執 行自我測試’促使提高測試、維修及分級等之自動：。 當然，該控制單元可應用於一顯示裝置 本發明之第三態樣。 〜、不卩口係 【實施方式】 下列說明係關於一種具有數個像素之顯示 都是由數個可單獨定址的子像f 、 象素 、 ；丁诼京所構成。孩類顯示器之眘 列有·王動矩陣液晶顯示器及pLEE^示器。 ” 此外 輕佳具體實施例係關於-種顯示器，在該頻 85268 11 - 200405073 口。 像素之子像素為冗餘子像素，即至少可發出除所 需原色外的-補充顏色。如上所述，rgbw像素結構即為該 冗餘子像素集合之-實例，該像素結構除紅、綠、藍三原 色外尚具有一白色子像素。 若有冗餘子像素，有多種方法可驅動各子像素而得以達 到同-色度及亮度。其—實例以圖形方式示於^中，圖中 兩側達到相同之顏色及亮度。在左側標出一具有紅色子像 素值2、、綠色子像素值3、藍色子像素值4及白色子像素值5 的子像素值集合1。該白色子像素值5設定為零。在右側示 出-具有紅色子像素值2，、綠色子像素值3，、藍色子像素值 4’及白色子像素值5,的不同數值集合6。在此例中，白色子 像素值5,取RGB子像素值2、3、4中之最小值，即綠色值3。 繼而將此值自所有RGB值2、3、4中減去，如右側所示，其 結果為綠色子像素值3,設定為零。 藉由此方法，像素值集合丨和像素值集合6產生相同之顏 色及亮度。注意：在此實例中，假若綠色子像素已有缺陷、 (固疋常閉狀態）’則可能早已補償該子像素，而不導入任 現參照圖2關釋本發明之原理，其中圖中相同物件使用與 圖^中相同之參考編號。在此例中，該像素有缺陷，更確切 而言，即藍原色子像素固定常閉。因，匕，顯示面板無法會 施圖2左側所示之子像素期望值2、3、4之集合。根據本發 明’修正剩餘子像素（此例中為紅、綠、白色子像素）之亮 度值以補償缺失的藍色成分，從而將視覺誤差降至最小或 85268 -12- 200405073 至少減弱& 、舉例而s，此一誤差降至最小可包括··使該誤差總亮度 :近於零’同時其色度儘量接近白色。與色度相比，較佳 ，先近似亮度，其原因為已知人體視覺系統（Hvs)對亮度差 关更為敏感，而對色度之分辨力較低。 回到圖2，子像素修正值2,、3,、4，及5,連同誤差7、8、9 :於圖中右側。可看到，白色子像素5，已啟動，並設法補 4貝缺失的監色成分。同時，紅色及綠色區域亦有白色子像 素5’成分，因此須減去此些子像素值。由於期^色值^ 過期望綠色值2,因此，綠色或藍色中或同時兩種色中均將 出現誤差。如圖所示，綠色内導入一誤差8 ’且一小誤差9 亦存在於監色中。 若要使子像素值中之絕對誤差降至最小，可修正紅色以 避免紅色產生誤差。然而，由於要將子像素值所產生之視 覺特徵降至最小，因此為使亮度誤差降至最小，紅色中亦 導入一誤差8。 該一般問題可以下列數學方式說明： 假設m為定義於一 n維線性空間（例如Cffil931 χγζ顏色空 間或Lu’v’之亮度/色度空間）内之一像素期望值之向量。ς 設ρ為k個子像素之值向量（規格化，與顯示灰度係數）伽馬） 無關）’假設Μ為用於將k維子像素空間中之一點變換至^維 視覺空間的一nxk矩陣。則Μ中第j行為視覺空間中第 像素之位置。 該近似問題以矩陣形式表述如下： 85268 -13- 200405073 m= Μ · P+ ε » 其中ε—為近似中的誤差（定義於視覺空間中）。完整等式如 下： m{ 'Mn 财u •” Μ m2 4 = m21 攀 ^22 Μ • ♦ ♦ ♦ 攀 • ψ …Μ u

Ik nk V % Ρι • ♦ + Η 9 Φ Jk 一 該近似問題的任一解法須滿足下列約束：

〇<Pi< 1, i ε G

pi = fi， i e F 其中G及F分別為一給定像素中正常及缺陷（F)子像素的 指數集合。每一缺陷原色子像素可固定在一給定固定位階^ 。吾人之目標係將近似誤差$降至最小值，為此吾人建議 使€的1^-範數降至最小值， minZCSi)2 〇 了表述為· i 該近似誤差可加權，以佶 使Σ(ά)2降至最小值。藉此，可排 足視覺措施之優先次序，丄、 ^ . 如党度優先於色度。用签：磁 重矩陣W左乘^内所久 w用寺式松 下： 百員印可得出該權重，等式表示如 %

W 藉此，加權問題表示為 85268 Ί4- 200405073

Wm = W- M- p + W- s 可使j似誤差的權重Wi自適應於缺陷周圍的影像内容。 舉例而言，可分析缺陷像素周圍的像素，以探測平滑或晶 體結構亮度、平滑或晶體結構色度、或邊緣。以此為基礎 ’若周圍子像素已知，可調整權數使視覺誤差降至最小值。

上述整個問題係為一約束最小平方（cls)問題，可藉由已 、技術幸工易解析邊問超，例如，可使用驗hw献s發佈之斑 Matlab^ )¾ ^ ^ ^ ^ ^ (Optimization Toolbox) 〇 ^ ^ M ; 度相w小（zt常k=4, n=2) ’解析該問題之複雜程度相對 較低。況且，由於矩陣M已知且所有像素亦同樣如此，因 此可開發更快速的專用解算器。 U t 4百萬子像素的顯示器含有數十個缺陷。由 於只需解決缺陷像素存在的上述問題，因此有相對較多的 #間來知析取近似問題，從而可使用—般用途、低功率、 低複雜度的硬體來解析該近似問題。 该建鐵方案經模擬運作後證明非f有效。吾人業已在具 ★ 〇〇個缺子像素的模擬RGBW顯示器上對多個靜止影像 貫施測試。 圖3中的流程圖顯示—控制單元12與―顯示系統13共同根 本I月U缺陷遮掩作業。該控制單^ 12包括—用於儲 Z缺陷像素資訊表之記憶體u。此處假定該顯示器中所 位置及類型皆已載明。此-結果通常可藉由使缺 、u包括㈣像素位置、該缺陷像素之缺陷子像素位置 及各缺子像素之詳細資訊而達成。子像素缺陷之詳細 85268 -15 - 200405073 資訊可包括該子像素的固定亮度。通常，該亮度為零，即 該子像素不發出任何光（呈黑色）。較佳事先產生缺陷表， 例如在顯示器生產過程中形成。然而，若顯示器能夠自動 探測缺陷子像素及缺陷特徵則更為有利，藉此可始終保證 有-更新和正確的缺陷表u。為此目@，該控制單元可配 備一用於探測顯示器中缺陷子像素的模組19，該模㈣可 連接至記憶體1!，且可其視需要更新缺陷表。 此外，控制早兀中設置一輸入/輸出模組17，用於聯繫顧 示系㈣。圖3中，該顯示系統僅由一顯示器記憶體13表； ’其他凡件皆為清晰簡捷之目的而省略。一用於解析上述 近似問題的模組18係連接至記憶體i i及Ρ 〇模組。 用於實施圖4、圖5及圖7流程圖中步驟之控制單元12可藉 由軟體和/或硬體之組合而構成，且可整合在—傳統顯示^ 驅動器的電路中。 的 圖4為圖3所示之控制單元12所執行之處理程序的流程圖。 、在步驟SW，程式控制自缺陷像素表叫獲取一缺陷的 位置及詳細資料14’亦即缺陷子像素及其固定亮度。然後 ’在步驟S2中，自顯示器記憶體（例如，一圖框記 — 像素流或類似元件)獲取一子像素期望值集合15。二： 中’孩子像素期望值集合15以及該予像素㈣㈣作一最 佳化處理的輸入’該最佳化處理以子像素修正值集合咖 式輸出—近似值。如上所述，此—修正值集合可包括冗餘 子像素值，例如一白色子像素冗餘值。在步驟S4中，將兮 修正值集合16傳回至顯示器記憶體13,或直接發送至顧^ 85268 -16- 200405073 器驅動器(未顯示)。藉由步驟85的程式迴圈，針對缺陷表U 中所有像素缺陷及每一圖框重複上述步驟Sl至步驟。 缺陷遮掩亦可以與正常的像素處理非同步方式來執行， 或作為該處理流程之一部分。 圖5所示為-不同於圖4流程的另一流程圖。在該例中， 當在步驟S2中獲得子像素期望值後，在步驟挞中分析好 像素㈣素。此—作業可藉由自顯示^憶體13中獲u 取毗鄰像素值而達成。然後’在步驟S9中計算權數，並隨 後將其輸入至步驟S3中的最佳化處理。該權數可用來改善 選擇的視覺特徵。為便於順應變化的影像特徵眘施調整， 榷數可具有自適應性。 回為缺陷影像（圖㈣及缺陷遮掩影像（圖奶）中的 ::，誤差分散。很明顯，大誤差已㈣，且僅剩下較小值 、次差’此—情形使近似誤差適於採用誤差分散方法。 ::差分散方法已為吾人所習知，勵藉由調整一缺 :眘：：圍〈像素亮度來補償缺陷。所有已知方法都對影 右男她衣種：式之Μ掃描，而產生已導向之誤差分散(向 ，下方）右按照所說明之方法在缺陷遮掩後實施誤差分散 貝J可在所有可能的方向上均句分散誤差。 一产像、本焱明提出一新穎環分散法，首先在全方位上（第 伸此素）刀政所有剩餘誤差。可優先糾正總體亮度誤差， A戶以伙决可旎會導入額外的色度誤差。若此後仍存在一 在人$ ^可使用構成下一環的像素來糾正該誤差，並 限内以此類推。藉由優先糾正亮度誤差，而後再 85268 -17- 200405073 糾正色度誤差，預期缺陷的可視度可降至最小。 圖7所示為該包括誤差分散的方法的流程圖， 驟S3中計算出修正值後，在步驟Sl2中實施誤差分散。田乂 料意’未必絲像素均具有自[的冗料像素。為限 制冗餘度，-冗餘子像素21可由其周圍—組像素共用，如 圖^示，-個白色子像素由像素22和像素23共用。隨後， 控制早W2可使用該共用之冗餘子像素來遮掩像素a與^ 中任一像素中之缺陷。 此外’最佳化處理並非需偈限於一單一像素嚴格範圍内 的子像素。如圖9a-9b所示，任何—組鄰近的予像素皆可最 佳化。在圖9a中，定義一組包含一來自四個鄰近像素& Μ 、29'30中每一像素的一個子像素的子像素組”，而未修正 包含缺陷子像素26的像素25的子像素值。在圖％中，所選 擇之子像素組31包含9個子像素，其中包括白色子像素I …甚至較佳測試若干不同的鄰近子像素（子像素組）以決 足哪一子像素群可提供最佳缺陷遮掩。舉例而言，如上所 述’若-亮度固定為零的缺陷子像素在該子像素組中且有 最低值（見圖υ，則可完全糾正該缺陷子像素。因此，研究 ^否可定義一具有最低值之缺陷子像素的予像素組較為有 理論上，本發明亦適用於不含冗餘子像素的顯示器（標準 廳顯示器）。實驗證明，儘管本發明用於此類顯示器之效 果不及含冗餘子像素之顯示器’但其缺陷亦有所改善。如 上所述’可藉由在最佳化處理中包括更多鄰近子像素改善 85268 -18- 200405073 此類顯示器之顯示效能。 在上述部分說明中，僅假定包含一個缺陷子像素。為素 到令人滿意的缺陷遮掩效果，較佳具有多個冗餘子像素” 在Ik附申請專利範圍内所述具體實施例可有多種其他改 變。舉例而言，可採用除建議的CLS最佳化方法外的其它 計算方法，只要該方法能夠將視覺亮度及色度誤差降 小。最佳化問題亦可延伸至包括距周圍子像素之距離。該 距離可用來優先處理空間上鄰近缺陷之子像素，並使空間 視覺誤差降至最小。此一延伸可藉由增加一距離向量在(作 為矩陣Μ中一額外列）來實現。 此外，在上述說明中，假定因像素缺陷之間的距離較大 而僅考慮獨立的缺陷。然而，這並非本發明一限制，本發 明亦適於處置關聯缺陷。 Λ 【圖式簡單說明】 猎由上述有關現行較佳具體實施例之說明及參考， 可更好理解本發明上述及其它態樣。 圖1所示為自—具有冗餘子像素之像素產生相同視覺特徵 之可選擇方法。 Μ 圖2展示根據本發明 “义具體貫施例遮掩一缺陷子像 圖3為本發明一且㈣余 、 〜、/、把月她例乏控制早元與一顯示器驅動器 間通仏 < 不意方塊圖。 圖4為一根據本發明笛一 ^ 弟’、肢貫施例之方法之流程圖。 圖5為一根據本發明筮— & 弟一 /、肢實施例之方法之流程圖。 圖a至圖6b所示為遮掩後剩餘誤差。

85268 -19- 200405073 圖7為一根據本發明第三具體實施例之方法之流程圖。 圖8展示數個像素共用同一冗餘子像素。 圖9a至圖9b所示為數個鄰近像素。 【圖式代表符號說明】 1 子像素值集合 2 紅色子像素值 3 綠色子像素值 4 藍色子像素值 5 白色子像素值 6 不同值集合 2? 紅色子像素值 3’ 綠色子像素值 4丨 藍色子像素值 5， 白色子像素值 7 誤差 8 誤差 9 誤差 11 用於儲存缺陷表之記憶體 12 控制單元 13 顯示器記憶體 14 子像素缺陷 15 子像素期望值 16 子像素修正值 17 輸入輸出模組

85268 -20- 200405073 18 近似模組 19 缺陷自動探測模組 51 ： 獲取缺陷的位置及詳細資料 52 ： 獲取子像素值 53 ： 計算修正值 54 ： 將修正值傳回記憶體 55 ： 對缺陷表中所有缺陷重複上述步驟 58 ： 分析周圍子像素 59 ： 計算權重 S12 : 分散缺陷 20 (文中未提及） 21 冗餘子像素 22 像素 23 像素 25 鄰近像素 26 缺陷子像素 27 子像素組 28 鄰近像素 29 鄰近像素 30 鄰近像素 31 選擇子像素組 32 白色子像素 33 白色子像素 85268 -21 -

Claims (1)

1. 拾、申請專利範圍·· 1_ 掩—顯示器中缺陷子像素之方法，該顯示器 内至少一像：：像素構成的複數個像素’其中該顯示器 素有缺陷且該缺陷像素包含至少-缺陷子像 素，該万法之特徵在於： 獲取每—缺陷像素的缺陷子像素之資訊， 獲取用於產生該傻去# 集人， 素 < 所功豆視覺特徵的一子像素值 决疋用於產生藏像素之已修正視覺特徵的一子像素修 正值Γ合：該子像素修正值集合依據該像素資訊，而得 在.，·、員7F务中貫施，孩子像素修正值被選擇以降低因該 期望視覺特徵與修正視覺特徵間之差異而給使 的視覺誤差，及 风 在顯示器中實施該子像素修正值集合。 I根據申請專利範圍第1項之方法，其中該資訊係從用於儲 存每缺陷像素位置及詳細資料的缺陷表中獲得。 3·根據申請專利範園第丄項或第2項之方法，進一步包括自 動探測子像素缺陷。 4.根據申請專㈣圍第1項至第3項之方法，其中該子像素 值本《係仗一顯不器記憶體中獲取，且將該子像素修正 值集合傳回至該記憶體。 5·根據f述申請專利範圍中任一項之方法，其中該決定予 像素t正值集合包括解析約束最小平方類型的近似問題。 6·根據則述申請專利範圍中任一項之方法，其中每一像素 85268 皆包含各子像素發出一原色的一組主要子像素及用於發 出一補充色的至少一補充子像素。 7. _中請專利範圍第6項之方法，其中該補充子像素係由 多個像素共用。 8_根據前述中請專利範圍中任—項之方法，其中該子像素 值木口及及子像素修正值集合各自包含鄰近該缺陷子像 素之子像素值。 9.根據申請專利範圍第8項之方法，其中該子像素值集合包 括一像素之主要子像素值。 1〇·根據申請專利範圍第8項之方法，其中該子像素修正值集 合亦包括該像素之所有補充子像素值。 11·根據前述申請專利範圍中任一項之方法，其進一步包括 藉由誤差分散補償缺陷像素。 12. 根據前述申請專利範圍中任一項之方法，其中該顯示器 為矩陣型顯示器。 13. —種用於一顯示器之控制單元，該顯示器具有各由多個 子像素構成的複數個像素，其中該顯示器至少一像素有 缺陷且遠缺陷像素包含至少一缺陷子像素， 其特徵在於： 用於獲取每一缺陷像素的缺陷子像素資訊之構件， 用於獲取用於產生該像素期望視覺特徵的子像素值集 合之構件， 用於決定用於產生該缺陷像素實際視覺特徵的子像素 修正值集合之構件，該子像素修正值集合係依據該像素 85268 -2 - 選摆：而得以在顯示器中實施；該子像素修正值集合被 以降低因該期望視覺特徵與修正視覺特徵間之差異 、、、-使用者造成的視覺誤差，及 14•根在顯示器中實施該子像素修正值集合之構件。 j據申請專利範圍第13項之顯示器控制單元，進一步包 15 用於儲存子像素缺陷資訊之記憶體。 2據申請專利範圍第13或14項之顯示器控制單元，進一 16 乂包括用於自動探測子像素缺陷之構件。 •根，申請專利範圍第13至15項之顯示器控制單元，該控 制早疋被調整而得以控制一顯示器，該顯示器中每一像 =均包含各子像素發出一原色的一組主要子像素及用於 發出一補充色的至少一補充子像素。 根據申請專利範圍第16項之控制單元，其中該補充子像 素係由多個像素共用。 18·—種包括申請專利範圍第13至17項中任一項所述之控制 單元的顯示裝置。 19·根據申請專利範圍第18項之顯示器，該顯示器為矩陣型 顯示器。 85268