JP2005515458A - 再設定可能なサンプルホルダー - Google Patents

Abstract

装置は、ベース（２）と、ベース（２）に繰り返し（おそらく、運動学的に）少なくとも第１の面および第２の面に取り付けられるようにした再設定可能なサンプルホルダー（４）とを有するものが開示されている。
そのベースに取り付けられる場合、少なくとも二つの面の間の関係が知られ、それによって、試料（１３）がそのホルダーに取り付けられる場合、そのホルダーの異なる面がそのベースに受け止められるとき、その試料の異なる位置の間の関係が知られる。少なくとも二つの面の間の関係が、ベースに受け止められる場合、ホルダーについての位置情報をもたらすサンプルホルダー（４）上の基準部品により設定され得る。その基準部品は、対比試験片、そのホルダーに関連付けられる球体あるいは棒材によりもたらされ得る。また、例えば、走査、または機械加工における装置および操作方法、本発明に従うベースおよび再設定可能なサンプルホルダーを使用する少なくとも二つのステージにおける試料が開示されている。

Description

本発明は、位置および方位が設定可能とされる再設定可能なサンプルホルダーに関する。例えば、二段階で試料の走査ために使用され得るものであり、その二つの段階からのデータを一緒に一致させ整合のとれた情報をもたらす。好ましい形式は、義歯のためのフレーム枠のようなデンタルウエアの走査に関連する。

三次元の試料が走査される一つの方法には、固定された試料と、三次元の移動、および、全表面が走査可能とされる下面を含むその試料の全表面に接近できるスタイラスを有するプローブとを含んでいる。

この方法についての問題は、使用される装置が比較的大きな作業空間を必要とする点にあり、それゆえ、その装置が大きさの制限がある場所に適合しない。この問題に対する解決策は、走査工程中試料を回転させることである。というのは、そのプローブが必要とする自由度の度数を減らすからである。しかしながら、アンダーカットが不完全な走査をまねくのでアンダーカットを有する試料を走査する場合、この解決策は更なる問題をもたらす。デンタルブリッジのような細長い試料が含まれる場合、種々の問題が、遭遇する。

本発明は、ベースと、少なくとも第１および第２の面でベースに繰り返し取り付けられるように適応した再設定可能なサンプルホルダーとを含む装置において、ベースに取り付けられた場合、少なくとも二つの面の間の関係が知られ、それにより、試料が再設定可能なサンプルホルダーに取り付けられる場合、設定可能なサンプルホルダーの異なる面がベースに取り付けられるとき、試料における異なる位置の相互間の関係が知られることを特徴とする装置を備える。

そのベースに繰り返し取り付けられるように適応した再設定可能なサンプルホルダーの表面は、数学的に定義可能とされる互いに固有な関係を有している。従って、そのサンプルホルダーは、ベースおよび配される試料に対し第１の面の位置を見失うことなく再設定可能とされる。この関係を定義する１つの方法は、基準部品の使用によるものである。

再設定可能なサンプルホルダーにおける少なくとも二つの面の間の関係が、ベースに受け止められる場合、再設定可能なサンプルホルダーについての位置情報をもたらす再設定可能なサンプルホルダーにおける複数の基準部品により、設定される。位置情報は、１以上の並進および回転の情報を含む。

基準部品は、多くの方法のうちの１つによりもたらされ、既知の寸法の材料の基準ブロックを設け、再設定可能なサンプルホルダーに隣接、またはその一部を形成する機械加工された面を有している。代替的に、３個の球体、または３本の棒材は、再設定可能なサンプルホルダーから突出し、再設定可能なサンプルホルダーの面がベースに受け止められていることに関係なく、接近可能である。他の基準は、そのサンプルホルダー自体からとり得る。

好ましい実施例において、その基準部品は、空間において面を位置決めするために使用される装置（例えば、プローブ、レーザスポット）よりも相応して大なる面によりもたらされるのに対し、サンプルホルダーは、サンプルを保持および/または支持するような十分な大きさでなければならない。もし、その基準部品が材料の角材上にあるならば、機械加工費が低減される。これは、その基準部品をもたらすことになるので同程度の精度に加工する必要がないからである。

好ましい実施例において、再設定可能なサンプルホルダーは、運動学的なマウントによりベースに運動学的に、または類似運動学的に受け止められる。これは、サンプルホルダーが再設定される場合、新たな位置に対し取り付けられた試料の位置が、知れるか（基準部品が、以前にそのベース上のサンプルホルダー用に基準化されているならば）あるいは、基準部品を使用して決定されるだろう。

本発明の第２の形態によれば、ベースと、少なくとも第１および第２の面でベースに繰り返し取り付けられるように適応した再設定可能なサンプルホルダーと、再設定可能なサンプルホルダーの少なくとも第１および第２の面が繰り返しベースに取り付けられる場合、試料に対し操作するためのオペレーティングシステムと、を含む少なくとも二つの段階で試料に対し操作可能な装置において、ベースに取り付けられる場合、再設定可能なサンプルホルダーにおける少なくとも第１の面と第２の面との間の関係が知られ、操作における少なくとも二つの段階を一致させることができることを特徴とする。

好ましくは、再設定可能なサンプルホルダーにおける少なくとも二つの面の間の関係が、ベースに受け止められる場合、再設定可能なサンプルホルダーについての位置情報をもたらす再設定可能なサンプルホルダーにおける複数の基準部品により、設定される。

本発明の第３の形態によれば、少なくとも二段階で試料に対し操作する方法であって、ベースを設け、少なくとも第１および第２の面でベースと協働するように適応した再設定可能なサンプルホルダーを配置し、再設定可能なサンプルホルダーの位置についてデータを供給できる複数の基準部品を設け、オペレーティングシステムを与える方法において、
第１の操作は、再設定可能なサンプルホルダーの第１の面がベースと組みとなる場合、オペレーションシステムにより作られ、第２の操作は、再設定可能なサンプルホルダーの第２の面が前記ベースと組みとなる場合、作られ、少なくとも二つの操作は、基準部品によりもたらされるデータを使用して共に一致される。

本発明の第４の形態によれば、少なくとも二つの段階で試料を操作する方法であって、ベースを設け、第１の面と第２の面との関係が既知とされ、少なくとも第１および第２の面でベースに運動学的に受け止められるように適応した再設定可能なサンプルホルダーを設け、再設定可能なサンプルホルダーをベースに前記第１の面で配置し、サンプルホルダーに保持された試料についての第１の段階を操作し、ベースに対しサンプルホルダーを第２の面で再設定し、サンプルホルダーに保持された試料の第２の段階を操作する方法において、試料における第１および第２の段階の操作が、第１の面と第２の面との関係を使用して一致される。

運動学的な位置が使用される場合、固有の一対のホルダーおよびベースのための基準部品は、見込み操作のための再データ化、即ち、再基準化されることが必要とされない。

操作は、表面形状の走査、試料の機械加工、他の方法で試料を検査、または測定するような試料についての実習の実行を含む。

図１および図２は、支持面３を有するベース２を備える装置１を示す。再設定可能なサンプルホルダー４は、Ｔ形であり、その上面とその下面（不図示）との双方に埋め込まれている３個のボールベアリング５，６、７を有している。１個のボールベアリングが、各面においてその「Ｔ」字の各端部近傍に配されている。立方体８は、再設定可能なサンプルホルダー４に隣接されており、基準部品をもたらす４個の機械加工面９，１０，１１，１２を有している。歯のフレーム枠１３は、ねじ１６，１７により、そのサンプルホルダーのＴ字の上部の各端部に固定される取り外し可能な端部部品１４，１５を介してサンプルホルダー４に取り付けられている。

歯のフレーム枠１３は、端部部品１４，１５をサンプルホルダーに保持するとともにフレーム枠１３の端部を挿入する少なくとも部分的に取り外すためのねじ１６、１７により、そのサンプルホルダーに取り付けられる。端部部品１４，１５のねじ１６，１７が締め付けられる場合、そのフレーム枠は、所定位置に保持される。

立方体８におけるその基準部品、および、フレーム枠１３は、コンタクトプローブ２２により走査される。代替的な走査装置は、レーザプローブであろう。

図２を参照するに、支持面３は、その中央に配される磁石１８、および、９０°間隔で半径方向に横たわる（従って、Ｔ形を形成する）３個のＶ字形の溝１９，２０，２１を有している。再設定可能なサンプルホルダー４の各面における３個のボールベアリング５，６，７は、一方が他方に対し垂直に上または下となり、従って、各一組の３個のボールは、支持面３における３個のＶ字形溝１９，２０，２１と協働するように配されている。これは、サンプルホルダーがそのベースに対し裏返される場合、サンプルホルダーおよび保持される試料が実質的に同様な位置に配されることを意味する。

溝１９，２０，２１およびボール５，６，７は、キネマティックマウント（わずかに縮退した）を形成することを理解するだろう。様々な形式のキネマティックマウントは、周知であり、（例えば）「Ｍｅｃｈａｎｉｃａｌ Ｄｅｓｉｇｎ ｏｆ Ｌａｂｏｒａｔｏｒｙ Ａｐｐａｒａｔｕｓ」，Ｃｈａｐｍａｎ ａｎｄ Ｈａｌｌ，Ｌｏｎｄｏｎ，１９６０，ＨＪＪ Ｂｒａｄｄｉｃｋ，で説明されている。他のキネマティックマウント（類似のキネマテック、即ち、部分的に縮退したキネマティックマウント）が、その代わりに使用されても良い。

フレーム枠１３の面の完璧な走査を得るために、そのフレーム枠は、上述したようにサンプルホルダー４に固定される。それから、サンプルホルダー４は、各ボールベアリング５，６，７が溝１９，２０，２１と協働するようにある向きで支持面３に配される。磁石１８は、サンプルホルダー４がベース３から外されるまでこの位置が維持されることを確実にする。これがこのホルダーおよびベースを使用した最初の走査と仮定した場合、即ち、二つの面の間の関係が知られていない場合、それから、最初に、基準部品の位置が正確に特定され、続けて、フレーム枠１３の上部の走査を行う。その走査におけるこの第１の部分が終了したならば、サンプルホルダー４がベース３に対して裏返される。この第２の面のための基準部品の位置が正確に特定され、即ち、このとき位置決めされる。しかしながら、サンプルホルダー４がその最初の位置に対し反転しているので垂直方向の位置についての基準部品は、基準ブロック８の異なる面からとられる。そこで、フレーム枠１３の下部が、走査される。

サンプルホルダーは、そのベースに運動学的に配されているのでその４個の基準面９，１０、１１、１２は、そのベースとともに使用される場合、そのサンプルホルダーに関して一度だけ参照されればよい。従って、上述の例は、そのベースを伴うサンプルホルダーの最初の使用だけに適用するだろう。それから、その基準情報は、書き込まれるか、あるいは、走査用プログラムの一部として格納可能である。そこで、使用者は基準データ（利用できるならば）を利用するためにベースおよびホルダーを知ることが必要なだけである。二つの走査された部分を合致させることを簡単にするためにそのベースにおけるサンプルホルダーの面は、識別されるべきである。

そのサンプルホルダーについての位置情報および回転情報双方を得るために基準ブロックおよびサンプルホルダーは、基準化される。サンプルホルダーの上面は、その表面の平面およびサンプルホルダーを定義するために少なくとも３回基準化される。基準ブロックの上面１１は、Ｚ方向の位置情報、側面９および１０は、Ｘ方向ついての位置情報をもたらす。そのサンプルホルダーの端部（Ｔ字の上部あるいはこれに平行な端部）が、そのホルダーのエンドロケーションを設定するように二つの位置で基準化される。この情報は、そのベースに受け止め可能とされるそのホルダーの各面に必要とされる。異なる部分の走査からのデータを一致させるために必要とされる他の寸法は、その二つの面の間の基準ブロックの奥行きである。受け止められる３以上の表面があるものに着目した場合、この寸法は、各一対の面について異なるだろう。サンプルホルダーが空間内にあることを確定するために必要とされるデータを得る代替的な方法があることを当業者は理解するだろう。
部分的な走査（または他の操作）を組合わすために基準部品をもたらすための代替的なひとつは、コンピュータソフトウエア、および、相互の関連で部分的な走査を再設定および再配置のための処理を使用することであり、従って、より完璧な走査で作った製品を可能とする。

基準ブロック８は、各面が隣接する面に対し垂直となるように精度よく機械加工される。そのブロックにおける各組の相対向する面の間の距離が、既知であり、または測定されることが要される（好ましくは、そのフレーム枠の走査と同様な条件のもとで）。そのブロックの相対向する面の間の距離とともに各部分の走査のためにとられる基準は、二つの段階、即ち、部分的な走査を一致させるように（適当なコンピュータソフトウェアを使用して）使用可能とされ、各部分の走査における高さおよび回転における相違を加味するように該走査を調整し、フレーム枠における完璧に一致した走査をもたらす。

二つの部分の走査だけが一致される場合、そのデータが一致可能とされる二つの異なる方向があるだけなので同時に調べられる位置を知ることはそれほど重要ではない。一致されるべき走査用ステージがさらにある場合、面倒な問題および予想される誤差を避けるために基準データをその調べられたデータに適用する場合、サンプルホルダーの位置が、識別されるということに留意される。

コンピュータソフトウエアおよび処理が基準部品ではなく、部分的な操作を組み合わせるために使用されるならば、そのプログラムが異なる部分の操作が組み合いそうな状態を学習し、処理時間を低減する目的で、そのベースに受け止められる面の識別が有効である。

図３は、さらなるサンプルホルダー３０を示し、試料３１がそのサンプルホルダーの肉厚部分を貫通する二つの穴３２、３３を使用してサンプルホルダー３０に取り付けられる。試料３１は、各端部で接着剤によりねじ付円柱３４に取り付けられる。円柱３４は、その穴に対し穴３２，３３の両側に配される二つのナット３５により固定される。

斯かる例において、キネマティックロケータ（ｋｉｎｅｍａｔｉｃ ｌｏｃａｔｏｒ）が裏返される。そのサンプルホルダーは、３個のＶ字の溝３５を有し、マッチングベース（ｍａｔｃｈｉｎｇ ｂａｓｅ）（不図示）は、突出した３個の協働用のボールを有している。また、斯かる例において、３２、および３３に隣接するホルダーの端部は、ベース上にある場合、サンプルホルダーのＸ方向の位置を設定するように基準化される。

図４は、一つの面にサンプルホルダー４１と、他の各面において１２０°で放射状に配される３個のボールであるキネマティックロケータ４２と、を有する立方体である代替的な装置４０を示す。ベース４３は、３個のＶ字形の溝を１２０°で放射状に配される協働用キネマティックロケータ４４を有している。

斯かる例において、基準部品は、サンプル、またはサンプルマウント（例えば、管）が挿入され得る中央のコレット４５を有するサンプルホルダー４１によりもたらされる。サンプルホルダー４１の面は、基準面４６をもたらすように精度よく機械加工されている。
キネマティックロケータ４２を有する各面から各基準面４６までの距離、各基準面の相対位置および方向を測定することにより、予想される各キネマティックロケータ４２におけるサンプルホルダー４１により保持される試料（不図示）のベース４３に対する相対的な方向および位置が、分かり、即ち、導き出される。これにより、操作、例えば、試料についての走査がおそらく、試料の形状により必要とされる複数の段階で実行可能とされ、完結した走査（要求されるならば）をもたらすように共に一致されるべきこれらの異なる段階で得られるデータが、各調べられたデータの操作により、その測定された情報を使って設定される。

調べられた試料のレプリカが必要ならば、機械加工処理は、同様なサンプルホルダーおよびベースを使って実行可能とされる。その機械加工が、異なる走査用過程を繰り返すか、さらに適切には、最高の効率または最も複雑でない処理をもたらす走査データから展開された経路を追従できる。本発明に従う装置は、試料の検査のために使用可能とされる。その装置は、立方体として説明されたが、いくつもの面（二以上）が、とりわけ、試料の大きさ、試料の形状、複雑さ、および利用できる作業空間に応じて利用され得ることが理解されるだろう。

図５ａ乃至図５ｇは、デンタルコーピングの作製を模式的に示す。再設定可能なホルダー５０は、円筒状であり、３個のボールベアリングを１２０°間隔で放射状に各リム５２ａ，５２ｂ上に含んでいるキネマティックロケータ５１を有している。ベース５３は、１２０°間隔で放射状の３個のＶ字形溝であり、３個のボールベアリング（図５ａ）と同一の直径の円を示す協働用キネマティックロケータ５４を有している。

従って、再設定可能なホルダー５０は、一方が他方の裏となる二つの位置で、ベース５３上に位置決めされ得る。明確にするために、基準部品は、この図において図示されていない。

コーピングの製作中、ブランクの内面および外面双方は、機械加工されなければならない。その外面は、本来の歯形のレプリカとして製作される。その内面は、口腔内に歯を配置する橋脚歯に合うように製作される。従って、その製作中、コーピングの位置を反転させる能力は、有益である。

ブランク５５は、二つの部分からなり、中央の穴（各部分に半円の穴で作られる）を有しているディスク５６により、再設定可能なホルダー５０において所定位置に保持される。ディスク５５の二つの部分は、収容されるべきブランク５４の大きさにおける調節可能なねじで取り付けられる。代替的に、ディスク５６は、一体であってもよく、スロットおよびブランクを収容する中央の穴を有し、ねじにより固定される。

ブランク５５は、そのブランクの一端５７がそのディスクとほぼ同じ高さであるように（図５ｂ）ディスクに対し位置決めされる。

ディスク５６は、ねじにより、再設定可能な装置５０に固定される。代替的に、ディスク５６は、穴を有しその中央にブランクを固定するように固定されるリングである再設定可能なホルダーの一部として一体に形成される。

ディスク５６およびブランク５５がその再設定可能な装置に確実に位置決めされたならば、ディスク５６（図５ｃ）とほぼ同じ高さであるそのブランクの端部５７を機械加工することにより、内側の穴５８が作られる。

２番目の機械加工工程用のブランクに安定性をもたらすために内側の穴５８および再設定可能な装置により形成される領域５９は、一時的に樹脂６０（図５ｄ）で満たされる。その樹脂が十分に硬化されブランク５５に強度および剛性をもたらすならば、再設定可能な装置５０が裏返される（図５ｅ）。それから、そのディスクに立つそのディスクのブランクの端部６１が、機械加工に供される。

そのブランクの端部６１の外面は、コーピング６２（図５ｆ）の最終形状を作るように機械加工される。その樹脂は、焼き払われ、コーピング６３（図５ｇ）を残す。それから、もし、ブランク５５がセラミック材料で作られるならば、その焼き払いが機械加工後行われる焼結処理の一部として合体され得る。

部分的に機械加工されるブランクを支持するために使用される材料は、樹脂である必要はないが、しかし、そのブランクについて十分な支持をもたらす取り外し可能な材料、例えば、ろう、または、低融点合金でなければならない。

図６は、その回りに複数のボールベアリング７４が円周方向に配列された状態にある円形のベース部７３を含む割出し装置７０を示す。各ボールベアリングの間に、略Ｖ字形の隙間７６がある。ベース部７３の中央には、磁石７７がその再設定可能な装置を所定位置に付勢するように使用されている。再設定可能な装置７１は、少なくとも間隔をもって放射状に３個あり、ベース７３における複数のボールベアリング７４と略同一の直径を有する円を描くボールベアリングを二つの面７２ａ，７２ｂ上に有する立方体である。その３個の放射状に間隔をもったボールベアリング７６は、１２０°間隔であり、複数のボールベアリング７４の間に形成されるＶ字形の隙間７５に着座するようになっている。これにより、再設定可能な装置が配置され得る多数の異なる位置がもたらされる。

代替的に、３個のＶ字形溝が設けられ、その再設定可能な装置がその溝の内側ではなく
ボールベアリング上に着座されてもよい。双方の場合、力が、その現在の位置からその再設定可能な装置を移動させるために必要とされる。

複数のボールベアリング７４が正確に位置決めされるならば、再設定可能な装置７１は、異なるボールベアリング対の相互間に割り出され、例えば、７．５°または１５°間隔の正確な角運動を可能とする。これにより、キネマティックロケータ（ｋｉｎｅｍａｔｉｃ ｌｏｃａｔｏｒｓ）なしにサンプルホルダー（不図示）に保持された試料の小さな回転が可能となる。

角度的な再設定に加え、再設定可能な装置７１は、再び角度的に再設定され、実現される多数の位置を可能とする異なる面７２ｂに再配置され得る。

図７ａおよび図７ｂは、それ自体反復可能なロケータが再設定可能なサンプルホルダーの二つの面と一緒に関連づけるように使用される初期の基準即ち、基準部品をもたらすように使用される本発明の代替的な実施例を示す。

図７ａにおける再設定可能なサンプルホルダー８０は、各頂点に配されるボールベアリング８１を有する略三角形である。フレーム枠８２は、そのサンプルホルダーの面８３のうちの１つに固定、即ち、接着されている。３個のボールベアリング８１は、そのサンプルホルダーの中央の略三角形の部分の厚さよりも大なる直径を有している。従って、サンプルホルダーの両面は、各ボールベアリング８１用の台座をもたらすように３個のＶ字形溝またはボール対を備えることにより、ベース（不図示）に対し繰り返し配置され得る（この例においては運動学的に配置される）。各ボールベアリング８１が特定のベース上に受け止められながら各面で基準とされるならば、そのボールベアリング８１の直径を知った上で、そのサンプルホルダーに保持された試料の一方の面における操作が、裏面における操作に関連付けることが可能となる。その３個のボールの基準化により、再設定可能なサンプルホルダーについての二次元の情報がもたらされる。

図７ｂは、３本の棒材８６がそのサンプルホルダーの３つの面から突出する状態で長方形の再設定可能なサンプルホルダー８５を示す。その３本の棒材は、実質的に同一の平面にある。サンプルホルダー８７は、第４番目の面に取り付けられ、また、その棒材と略同一の平面にある。この例におけるベース（不図示）は、各棒材が着座される溝を必要とし例えば、２個の飛び出るボールにより形成されるように、そのベース表面に対して持ち上げる。そのベースは、付加的にまたは代替的に、そのベースに着座される場合その棒材の下にあるサンプルホルダーの厚い部分を収容する凹部を含んでいる。また、各棒材は、サンプルホルダーの各面がそのベースに着座される場合、基準化されなければならない。その棒材の直径即ち太さとともにこの情報は、そのベースに着座されるサンプルホルダーの異なる面により、試料に実行される二つの操作を一致させるために十分な情報をもたらす。

本発明に従う装置を使用する走査装置の等角投影図である。 本発明に従う装置の等角投影図である。 本発明に従うさらなる装置の等角投影図である。 本発明に従う代替的な装置の等角投影図である。 本発明に従う装置を使用したデンタルコーピングの作製を模式的に示す。 本発明に従う装置を使用したデンタルコーピングの作製を模式的に示す。 本発明に従う装置を使用したデンタルコーピングの作製を模式的に示す。 本発明に従う装置を使用したデンタルコーピングの作製を模式的に示す。 本発明に従う装置を使用したデンタルコーピングの作製を模式的に示す。 本発明に従う装置を使用したデンタルコーピングの作製を模式的に示す。 本発明に従う装置を使用したデンタルコーピングの作製を模式的に示す。 本発明に従う割り出し装置を等角画法で示す。 本発明に従う再設定可能なサンプルホルダーの平面図を示す。 本発明に従う再設定可能なサンプルホルダーの平面図を示す。

Claims (9)

1. ベースと、少なくとも第１および第２の面で該ベースに繰り返し取り付けられるように適応した再設定可能なサンプルホルダーとを含む装置において、
   前記ベースに取り付けられた場合、前記少なくとも二つの面の間の関係が知られ、それにより、試料が前記再設定可能なサンプルホルダーに取り付けられる場合、該設定可能なサンプルホルダーの異なる面が前記ベースに取り付けられるとき、該試料における異なる位置の相互間の関係が知られることを特徴とする装置。
2. 前記再設定可能なサンプルホルダーにおける前記少なくとも二つの面の間の関係が、ベースに受け止められる場合、該再設定可能なサンプルホルダーについての位置情報をもたらす該再設定可能なサンプルホルダーにおける複数の基準部品により、設定される請求項１記載の装置。
3. 前記基準部品は、既知の寸法の基準ブロックによりもたらされ、前記再設定可能なサンプルホルダーに隣接する機械加工された面を有している請求項２記載の装置。
4. 前記基準部品は、３個の球体、または前記再設定可能なサンプルホルダーから突出する３本の棒材によりもたらされ、前記再設定可能なサンプルホルダーの面が前記ベースに受け止められていることに関係なく、接近可能である請求項２記載の装置。
5. 前記再設定可能なサンプルホルダーは、反復可能なマウントにより前記ベースに運動学的に受け止められる請求項１乃至４のいずれかに記載の装置。
6. 前記再設定可能なサンプルホルダーは、歯のフレーム枠を受け止めるように適応したものである請求項１乃至５のいずれかに記載の装置。
7. ベースと、少なくとも第１および第２の面で該ベースに繰り返し取り付けられるように適応した再設定可能なサンプルホルダーと、前記再設定可能なサンプルホルダーの少なくとも第１および第２の面が繰り返し前記ベースに取り付けられる場合、試料に対し操作するためのオペレーティングシステムと、を含む少なくとも二つの段階で試料に対し操作可能な装置において、
   前記ベースに取り付けられる場合、前記再設定可能なサンプルホルダーにおける少なくとも前記第１の面と前記第２の面との間の関係が知られ、前記操作における少なくとも二つの段階を一致させることができることを特徴とする装置。
8. 少なくとも二段階で試料に対し操作する方法であって、ベースを設け、少なくとも第１および第２の面で該ベースと協働するように適応した再設定可能なサンプルホルダーを配置し、前記再設定可能なサンプルホルダーの位置についてデータを供給できる複数の基準部品を設け、オペレーティングシステムを与える方法において、
   第１の操作は、前記再設定可能なサンプルホルダーの前記第１の面が前記ベースと組みとなる場合、前記オペレーションシステムにより作られ、第２の操作は、前記再設定可能なサンプルホルダーの前記第２の面が前記ベースと組みとなる場合、作られ、前記少なくとも二つの操作は、前記基準部品によりもたらされる前記データを使用して共に一致される方法。
9. 少なくとも二つの段階で試料を操作する方法であって、ベースを設け、第１の面と第２の面との関係が既知とされ、少なくとも該第１および第２の面で該ベースに運動学的に受け止められるように適応した再設定可能なサンプルホルダーを設け、前記再設定可能なサンプルホルダーを前記ベースに前記第１の面で配置し、前記サンプルホルダーに保持された試料についての第１の段階を操作し、該ベースに対し前記サンプルホルダーを該第２の面で再設定し、該サンプルホルダーに保持された試料の第２の段階を操作する方法において、
   前記試料における第１および第２の段階の操作が、前記第１の面と前記第２の面との関係を使用して一致される方法。

Images