JP2005512079A - 微量成分の検出および測定のための装置および方法 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (56)
- サンプルガスおよびサンプル液体のうちの少なくとも1つ内の微量成分の検出および測定のための装置であって、
サンプルガスまたはサンプル液体への曝される部分を有する受動光ファイバリングと、
放射のコヒーレント源と、
i) コヒーレント源により、受動光ファイバリングへ放出された放射の一部分を導入し、ii) 受動光ファイバリング内の放射共振の一部分を受けるためのカプリング手段と、
カプリング手段により受け取られた放射のレベルを検出し、さらに、それへの応答信号を生成する検知器と、
検知器により生成された信号に基づき、ガスサンプルまたは液体サンプル内の微量成分のレベルを測定する、検知器に結合されたプロセッサとを含む装置。 - 微量成分のレベルが、検知器により生成された信号の減衰率に基づいて決定される、請求項1に記載の装置。
- カプリング手段が、単一の光カプラである、請求項1に記載の装置。
- 放射の受け取られた部分を、受動光ファイバループから検知器へ選択的に通過させるよう、カプリング手段と検知器との間の光路内に配置されたフィルタをさらに含む、請求項3に記載の装置。
- フィルタが、放射の波長に基づいて、放射を検知器へ通過させる、請求項4に記載の装置。
- カプリング手段が、i) コヒーレント源により光ファイバリングの第1のセクションへ放出された放射の一部分を導入するための第1のカプラ、および、ii) 受動光ファイバリング内の第2のセクションで、放射の一部分を受ける第2のカプラを含む、請求項1に記載の装置。
- 露出部分がファイバのクラッドである、請求項1に記載の装置。
- 露出部分がファイバの内部コアである、請求項1に記載の装置。
- 放射のコヒーレント源が光学パラメトリックジェネレータである、請求項1に記載の装置。
- 放射のコヒーレント源が光学パラメトリック増幅器である、請求項1に記載の装置。
- 放射のコヒーレント源がレーザである、請求項1に記載の装置。
- 放射のコヒーレント源がパルスレーザである、請求項1に記載の装置。
- 放射のコヒーレント源が持続波レーザである、請求項1に記載の装置。
- レーザが光ファイバレーザである、請求項11、請求項12または請求項13に記載の装置。
- 持続波レーザが、狭帯域を有するチューナブルダイオードレーザーである、請求項13に記載の装置。
- レーザとカプリング手段との間、およびレーザから放出される放射に直線的に結合され、レーザ内の雑音を最小にするアイソレータをさらに含む、請求項15に記載の装置。
- ファイバ内を進む放射のエバネッセントフィールドが、サンプルガスまたはサンプル液体に曝されている、請求項1に記載の装置。
- ファイバからの放射の吸収が、カプリング手段により受け取られる放射の減衰率を増加させる、請求項17に記載の装置。
- 受動共振ファイバが、石英ガラス、サファイア、およびフッ化物ベースのガラスの1つから形成されている、請求項1に記載の装置。
- 受動共振ファイバが、中空ファイバから形成されている、請求項1に記載の装置。
- 受動共振ファイバが、シングルモードファイバである、請求項19または請求項20に記載の装置。
- 受動共振ファイバが、マルチモードファイバである、請求項19または請求項20に記載の装置。
- 所定の直径を有し、光ファイバの露出部分で巻かれた、少なくとも1つの筒状ボディーをさらに含み、エバネッセントフィールドの浸透深度を増加させることにより、微量成分へのエバネッセントフィールドの露出が高められる、請求項1に記載の装置。
- それぞれ所定の直径を有し、共振ファイバの露出部分のそれぞれのセクションにより巻かれた、多数の筒状のボディーをさらに含む、請求項1に記載の装置。
- 管状構造がマンドレルである、請求項23または請求項24に記載の装置。
- マンドレルが、少なくともおよそ1cmの断面半径を有する、請求項25に記載の装置。
- マンドレルが、およそ1cmから10cmの断面半径を有する、請求項25に記載の装置。
- 微量成分が、水、アセチレン、およびアンモニアのうちの少なくとも1つである、請求項1に記載の装置。
- コヒーレント源が、およそ1390nmおよび1513nmの波長領域内で可同調のシングルモードレーザである、請求項28に記載の装置。
- 受動光ファイバリングが、可視から電磁スペクトルの中赤外線へ間の波長で共振する、請求項1に記載の装置。
- 受動光ファイバリングの少なくとも一部が、液体サンプル内の微量成分の存在を決定するために、液体サンプル内に配列される、請求項1に記載の装置。
- 受動光ファイバリングの少なくとも一部が、光ファイバリングのコーティング部分で微量成分の濃度を、選択的に増加させる材料でコーティングされている、請求項1に記載の装置。
- 材料が、微量成分の検体分子を引き付ける、請求項32に記載の装置。
- 材料がポリエチレンである、請求項33に記載の装置。
- 受動光ファイバリングの少なくともコーティング部分が、液体サンプル内の微量成分の存在を決定するために、液体サンプル内に配列される、請求項32に記載の装置。
- レーザからのエネルギーが、いつ光ファイバリングに供給されたかを決定する入力検知器をさらに含む、請求項1に記載の装置。
- レーザが光ファイバリングにエネルギーを供給したのを入力検知器が測定した後に、光ファイバリングからの放射を受け取る受信手段に基づいてレーザを、非活動状態にする制御手段をさらに含む、請求項36に記載の装置。
- 制御手段および入力検知器が、処理手段と結合されている、請求項37に記載の装置。
- ファイバの屈折率が、サンプル液体の屈折率より大きい、請求項1に記載の装置。
- ファイバの屈折率が、サンプルガスの屈折率および微量成分の吸収バンドに基づいている、請求項1に記載の装置。
- 光ファイバリング内へ結合された放射の部分が、カプリング手段に供給される放射のおよそ1%未満である、請求項1に記載の装置。
- 光ファイバリング内へ結合される放射の部分が可変である、請求項1に記載の装置。
- 光ファイバリング内へ結合された放射の部分が、受動光ファイバループ内の損失に基づいて変更される、請求項1に記載の装置。
- 受動光ファイバループ内の損失が、少なくともコネクタの損失およびファイバの損失に基づいている、請求項43に記載の装置。
- 光ファイバリングが、少なくともおよそ1メートルの長さである、請求項1に記載の装置。
- 光ファイバリングが、少なくともおよそ10メートルの長さである、請求項1に記載の装置。
- 光ファイバリングが、少なくともおよそ1kmの長さである、請求項1に記載の装置。
- サンプルガスおよびサンプル液体のうちの少なくとも1つ内の微量成分の検出および測定のための装置であって、
サンプルガスまたはサンプル液体へ曝される部分を有する受動共振光ファイバリングと、
放射を放出するコヒーレント源と、
コヒーレント源により、受動共振ファイバリングの第1のセクションへ放出される、放射の少なくとも一部分を供給する第1の光カプラと、
露出した光ファイバリングの一部分を所定の半径で形成するよう、露出した光ファイバリングの一部と結合した、少なくとも1つの筒状ボディーであって、サンプル液体またはサンプルガスの少なくとも一部分は、光ファイバリングの形成部分に接触するものと、
共振ファイバリングの第2のセクションから受動共振ファイバリング内の放射の部分を受け取る第2の光カプラと、
第2の光カプラにより受け取られた放射の減衰率に基づき、ガスまたは液体サンプル内の微量成分のレベルを測定するために、第2の光カプラと結合されたプロセッサとを含む装置。 - 第2の光カプラにより受け取られた放射に応答する信号を生成するよう、第2の光カプラとプロセッサとの間に結合された、第1の光検知器をさらに含む、請求項48に記載の装置。
- レーザからのエネルギーが、いつ受動光ファイバリングに供給されるかを決定する、第1の光カプラとプロセッサとの間に結合された第2の光検知器をさらに含む、請求項48に記載の装置。
- 第2の光検知器が、コヒーレント源からの放射の受け取りに応答するプロセッサへのトリガー信号を発生させる、請求項50に記載の装置。
- 第1および第2の光カプラが、ユニタリーカプラである、請求項48に記載の装置。
- サンプルガスおよびサンプル液体のうちの少なくとも1つ内の微量成分を検出し、測定するための方法であって、
受動光ファイバリングの光ファイバの一部を、サンプルガスまたはサンプル液体に曝すことと、
コヒーレント源から放射を放出することと、
コヒーレント源から放出される放射の少なくとも一部分を、光ファイバリングに結合することと、
光ファイバリング内を進む放射の一部分を受け取ることと、
光ファイバリング内の放射の減衰率に基づいて、ガスまたは液体サンプル内の微量成分のレベルを決定することとを含む方法。 - 受動光ファイバリングの露出部分の少なくとも一部分を、微量成分の吸収周波数に基づき、所定の半径で形成するステップと、
ファイバの形成部分を、サンプル液体またはサンプルガスに曝すステップとをさらに含む、請求項53に記載の方法。 - ファイバ内を進む放射のエバネッセントフィールドを、サンプルガスまたはサンプル液体に曝すステップをさらに含む、請求項54に記載の方法。
- 微量成分による放射の吸収レベルに応答するファイバ内の放射の減衰率に基づき、サンプルガスまたはサンプル液体内の微量成分のレベルを決定するステップをさらに含む、請求項55に記載の方法。
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