JP2005353449A - ダイヤモンドの微細加工方法 - Google Patents

ダイヤモンドの微細加工方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2005353449A
JP2005353449A JP2004173731A JP2004173731A JP2005353449A JP 2005353449 A JP2005353449 A JP 2005353449A JP 2004173731 A JP2004173731 A JP 2004173731A JP 2004173731 A JP2004173731 A JP 2004173731A JP 2005353449 A JP2005353449 A JP 2005353449A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
diamond
etching
columnar body
fine processing
processing method
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2004173731A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4336818B2 (ja
Inventor
Takeyasu Saito
丈靖 齊藤
Toshiyou Kou
斗燮 黄
Naoharu Fujimori
直治 藤森
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
Original Assignee
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST filed Critical National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
Priority to JP2004173731A priority Critical patent/JP4336818B2/ja
Publication of JP2005353449A publication Critical patent/JP2005353449A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4336818B2 publication Critical patent/JP4336818B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Cold Cathode And The Manufacture (AREA)
  • Drying Of Semiconductors (AREA)
  • Micromachines (AREA)

Abstract

【課題】 ダイヤモンド柱状体の先端の尖鋭化を可能とすると共に、数十ナノメートルサイズの任意形状のダイヤモンド微細構造をより精度高く形成でき、さらに先端上部にもコンタクトを形成することが可能であるダイヤモンド構造体を得る。
【解決手段】 ダイヤモンド基板上に柱状体を形成し、該形成された柱状体を、垂直方向と水平方向のエッチング速度の異なるエッチングを組合せてエッチングすることにより、柱状体を任意の形状に加工することを特徴とするダイヤモンドの微細加工方法及びダイヤモンド基板上に柱状体を形成し、該形成された柱状体を、等方性エッチングと異方性エッチングを組合せてエッチングすることにより、柱状体を任意の形状に加工することを特徴とするダイヤモンドの微細加工方法。
【選択図】 図3

Description

本発明は、ダイヤモンド基板上に形成した柱状体を、垂直方向と水平方向のエッチング速度の異なるエッチングを組合せてエッチングすることにより、任意形状にコントロールできるダイヤモンドの微細加工方法に関するものである。
近年、尖鋭化したダイヤモンドを用い、電界放出型の電子放出素子として機能する微小電極を2次元的に配列したFED(フィールド・エミッション・ディスプレー)の開発が進められている。
これは、電子の偏向や収束が殆んど不要となるので、従来のディスプレーと比べてより薄型化又は平板化が可能となるという特徴を有する。また、ダイヤモンドは電子親和力が負であるという電子放出素子として非常に有利な特性を有しているために注目されている。
ダイヤモンドに電子放出素子として有利な機能を持たせるためには、ダイヤモンドの先端を錐のように尖鋭化する加工する必要がある。しかし、一般にダイヤモンドは金属、高分子有機材料、その他のセラミックス系材料に比べて、加工が極めて難しいという問題がある。
このようなことから、ダイヤモンドの先端を錐のように尖鋭化する加工方法がいくつか提案されている。例えば、ダイヤモンドの基板にマスク・エッチング法により、多数の整列したダイヤモンドの隆起部分を形成し、この隆起部分に気相成長法により尖鋭な先端部を有するダイヤモンドを形成する提案がある(特許文献1参照)。
この場合は、隆起部分のダイヤモンドの、結晶方位の選定及び調整が非常に大きな問題となる。それは、隆起部分に形成される尖鋭化部分がダイヤモンドの結晶面の稜線が交差する角錐部を利用し、したがって、その角錐部は面方位により支配されるからである。
ダイヤモンド(数十ナノオーダー)を気相成長させるに際しては、各ダイヤモンド結晶の隆起部分の上に、さらにダイヤモンドの微細な結晶方位を調整することは、実際には極めて難しいという問題がある。
また、特許文献1と同様に、ダイヤモンドの基板に、第1ステップとしてマスク・エッチング法により、整列した多数のダイヤモンドの柱状体を形成し、次に第2ステップとしてプラズマエッチング又は反応性イオンエッチングにより、前記柱状部分の、基板に対して反対側の先端を尖鋭化することが提案されている(特許文献2参照)。
この技術では、第2ステップで使用する反応性イオンエッチングを、第1ステップで使用したエッチングと異なるエッチング方法を採用する、すなわち横方向のエッチング速度の割合が高いエッチングとし、これによって柱状体の先端に尖鋭部を形成するというものである。しかし、横方向のエッチングを優先し、より細くするというエッチングに限定されているので、そのエッチングには自ずと限界があるという問題が存在する。
特開平10−312735号公報 特開2002−75171号公報
本発明の目的は、上記従来技術の問題点を解消し、ダイヤモンド柱状体の先端の尖鋭化を可能とすると共に、数十ナノメートルサイズの任意形状のダイヤモンド微細構造を、より精度良く形成でき、さらに先端上部にもコンタクトを形成することが可能であるダイヤモンド構造体を得ることを課題とする。
本発明の目的を達成するために鋭意研究を進めたところ、ダイヤモンド基板上に形成した柱状体を、垂直方向と水平方向のエッチング速度の異なるエッチングを組合せてエッチングすることにより、ダイヤモンドを微細にかつ任意形状にコントロールすることができるとの知見を得た。
本発明は、この知見に基づいて、
1)ダイヤモンド基板上に柱状体を形成し、該形成された柱状体を、垂直方向と水平方向のエッチング速度の異なるエッチングを組合せてエッチングすることにより、柱状体を任意の形状に加工することを特徴とするダイヤモンドの微細加工方法
2)垂直方向と水平方向のエッチング速度の異なるエッチングを連続して行うことを特徴とする上記1記載のダイヤモンドの微細加工方法
3)ダイヤモンド基板上に柱状体を形成し、該形成された柱状体を、等方性エッチングと異方性エッチングを組合せてエッチングすることにより、柱状体を任意の形状に加工することを特徴とするダイヤモンドの微細加工方法
4)等方性エッチングと異方性エッチングを連続して行うことを特徴とする上記3記載のダイヤモンドの微細加工方法
5)エッチング後のダイヤモンドが、尖鋭化した先端部を備えていることを特徴とする上記1〜4のいずれかに記載のダイヤモンドの微細加工方法
6)エッチング後のダイヤモンドが、截頭錐体の形状を備えていることを特徴とする上記1〜4のいずれかに記載のダイヤモンドの微細加工方法
7)エッチング後のダイヤモンドが、紡錘形を備えていることを特徴とする上記1〜4のいずれかに記載のダイヤモンドの微細加工方法
8)エッチング後のダイヤモンドの形状が紡錘形を呈し、かつ先端部のみが截頭錐形状を備えていることを特徴とする上記1〜4のいずれかに記載のダイヤモンドの微細加工方法
9)微細加工をドライエッチングにより行うことを特徴とする上記1〜8のいずれかに記載のダイヤモンドの微細加工方法、を提供する。
本発明は、ダイヤモンド柱状体の先端の尖鋭化を可能とすると共に、数十ナノメートルサイズの自由な三次元形状のダイヤモンド微細構造を、精度良く形成でき、さらに先端上部にもコンタクトを形成することが可能であるダイヤモンド構造体を得ることができるという優れた効果を有する。
本発明は、まずダイヤモンド基板上に柱状体を形成する。この工程は従来の技術に開示された公知の方法を用いることができる。例えば、円形の微細なマスクを基板上に必要個数形成する。この後反応性イオンエッチング、イオンビームエッチング、電子サイクロトロン共鳴エッチング、誘導結合プラズマエッチング法などのエッチング法によって形成することができる。柱状体の形状は任意である。
該形成された柱状体を、垂直方向と水平方向のエッチング速度の異なるエッチングを組合せてエッチングすることにより、柱状体を任意の形状に加工する。
このエッチングは、柱状体を形成した後の工程であり、この垂直方向と水平方向のエッチング速度の異なるエッチングを連続して行うことによって、数十ナノメートルサイズの自由な三次元形状のダイヤモンド微細構造を形成することができる。
具体的には、ダイヤモンド基板上に形成された柱状体を、等方性エッチングと異方性エッチングを組合せてエッチングする。
等方性エッチングには、例えば、平行平板を利用したRFプラズマエッチングに代表されるようなドライエッチング、また、結晶の面方位依存性がない溶液によるエッチングも明確な等方性エッチングとして挙げることができる。
また、異方性エッチングとしては、例えば、本発明に挙げるプラズマの励起場とそこで励起されたガス種を基板に対して高バイアスで基板に入射させる手法等を挙げることができる。この等方性エッチングと異方性エッチングを連続して行う。
エッチング後のダイヤモンドは、尖鋭化した先端部、截頭錐体の形状、紡錘形、さらにはほぼ全体が紡錘形を呈し、かつ先端部のみが截頭錐形状を備えているダイヤモンド等の任意の形状に微細加工することができる。
このように、柱状体を垂直方向と水平方向のエッチング速度の異なるエッチングを組合せてエッチングすることにより、あるいは柱状体を等方性エッチングと異方性エッチングを組合せてエッチングすることにより、数十ナノメートルサイズの任意構造、すなわち自由な三次元形状のダイヤモンド微細構造を形成することができる。
これによって、電子放出素子用ダイヤモンド部材として、例えばフィールド・エミッション・ディスプレーあるいは電界放射顕微鏡等の部材として使用することができる。また、ダイヤモンドの先端上部にも、コンタクトを形成することが可能であるという優れた特徴を備えている。
次に実際に製造した例について説明する。なお、本実施例は、理解を容易にするために記載したものであって、本発明はこの実施例に限定されるものではない。すなわち、本発明の技術思想に基づく変形、他の実施態様又は他の実施例は全て本願発明に含まれるものである。
(実施例1)
ダイヤモンド基板上に、一般的なフォトリソグラフィプロセスにより円形のマスクを形成し、次に、このダイヤモンド基板上に形成された柱状体を等方性エッチングである表1(b)の条件で30分間実施し、次に引き続いて(連続的に)異方性エッチングである表1(a)の条件で5分実施した。さらに、この後アルミマスク除去のために、フッ化水素処理を行った。
これによって、エッチング後のダイヤモンドは、尖鋭化した先端部を備えた底面の平均直径が約1μmのダイヤモンド微細構造を得ることができる。この尖鋭化した先端部を持つダイヤモンド微細構造体を得るための途中の工程を図1に示す。図1では、まだ充分に尖鋭化していないが、最初の等方性エッチングの時間を延長することにより先鋭化が出来る。すなわち、エッチングの時間の制御で尖鋭化の形状を任意に制御可能である。
(実施例2)
ダイヤモンド基板上に、一般的なフォトリソグラフィプロセスにより円形のマスクを形成し、反応性イオンエッチングを行って柱状体を形成した。次に、このダイヤモンド基板上に形成された柱状体を異方性エッチングである表1(a)の条件で5分実施し、次に連続して等方性エッチングである表1(b)の条件で20分間実施した。
これによって、エッチング後のダイヤモンドは、先端部は截頭円錐形状であり、その下が紡錘形状(ビール瓶を逆さにしたような形状)のダイヤモンド微細構造が得られた。平均直径は、約0.1〜0.2umのダイヤモンド微細構造であった。この截頭円錐形状先端部を持つダイヤモンド微細構造体を図2に示す。
このようにして得られたダイヤモンドロッドを、エッチング条件を変更し、かつ時間を延長することにより切断して上部を切り離し、図3のような円錐型の形状を得ることができる。すなわち、エッチングの進行と共に、図2で示す紡錘形状のくびれ部分が切断され、上部ロッド部分が切り離される。この切り離されたロッドを超音波で除去することにより、図3の先鋭化したダイヤモンド円錐体の構造が得られる。
なお、図3の等方性エッチング条件は、図2のそれと異なるエッチング条件を用いている。表1に示す(c)の条件は、(b)の条件と異なる等方性エッチング条件の一例を示す。
このように、柱状体を垂直方向と水平方向のエッチング速度の異なるエッチングを組合せてエッチングすること、あるいは柱状体を等方性エッチングと異方性エッチングを組合せてエッチングすることは極めて重要である。
これによって数十ナノメートルサイズの任意構造、すなわち自由な三次元形状のダイヤモンド微細構造を形成することができ、また、ダイヤモンドの先端上部にも、コンタクトを形成することが可能である。
本発明は、電子放出素子用ダイヤモンド部材としての適用範囲を大幅に向上できるという特徴を有しており、フィールド・エミッション・ディスプレーあるいは電界放射顕微鏡等の部材として有用である。
実施例1で作製した、尖鋭化した先端部を持つダイヤモンド微細構造体のSEM画像である。 実施例2で作製した、截頭円錐形状先端部を持つダイヤモンド微細構造体のSEM画像である。 実施例2で作製した截頭円錐形状先端部を用いて、上部のダイヤモンドロッドを切断することによって、円錐型のダイヤモンド構造体を形成した後の、SEM画像である。

Claims (9)

  1. ダイヤモンド基板上に柱状体を形成し、該形成された柱状体を、垂直方向と水平方向のエッチング速度の異なるエッチングを組合せてエッチングすることにより、柱状体を任意の形状に加工することを特徴とするダイヤモンドの微細加工方法。
  2. 垂直方向と水平方向のエッチング速度の異なるエッチングを連続して行うことを特徴とする請求項1記載のダイヤモンドの微細加工方法。
  3. ダイヤモンド基板上に柱状体を形成し、該形成された柱状体を、等方性エッチングと異方性エッチングを組合せてエッチングすることにより、柱状体を任意の形状に加工することを特徴とするダイヤモンドの微細加工方法。
  4. 等方性エッチングと異方性エッチングを連続して行うことを特徴とする請求項3記載のダイヤモンドの微細加工方法。
  5. エッチング後のダイヤモンドが、尖鋭化した先端部を備えていることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載のダイヤモンドの微細加工方法。
  6. エッチング後のダイヤモンドが、截頭錐体の形状を備えていることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載のダイヤモンドの微細加工方法。
  7. エッチング後のダイヤモンドが、紡錘形を備えていることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載のダイヤモンドの微細加工方法。
  8. エッチング後のダイヤモンドの形状が紡錘形を呈し、かつ先端部のみが截頭錐形状を備えていることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載のダイヤモンドの微細加工方法。
  9. 微細加工をドライエッチングにより行うことを特徴とする請求項1〜8のいずれかに記載のダイヤモンドの微細加工方法。
JP2004173731A 2004-06-11 2004-06-11 ダイヤモンドの微細加工方法 Expired - Fee Related JP4336818B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004173731A JP4336818B2 (ja) 2004-06-11 2004-06-11 ダイヤモンドの微細加工方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004173731A JP4336818B2 (ja) 2004-06-11 2004-06-11 ダイヤモンドの微細加工方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005353449A true JP2005353449A (ja) 2005-12-22
JP4336818B2 JP4336818B2 (ja) 2009-09-30

Family

ID=35587732

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004173731A Expired - Fee Related JP4336818B2 (ja) 2004-06-11 2004-06-11 ダイヤモンドの微細加工方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4336818B2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008035662A1 (en) 2006-09-19 2008-03-27 Sumitomo Electric Industries, Ltd. Diamond electron source and method for manufacturing the same
JP2009283575A (ja) * 2008-05-20 2009-12-03 National Institute Of Advanced Industrial & Technology ダイヤモンド基板の表面処理方法及びそれにより得られるダイヤモンド基板
US9469526B2 (en) 2009-12-23 2016-10-18 Max-Planck-Gesellschaft Zur Foerderung Der Wissenschaften E.V. Method for the production of conical nanostructures on substrate surfaces

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008035662A1 (en) 2006-09-19 2008-03-27 Sumitomo Electric Industries, Ltd. Diamond electron source and method for manufacturing the same
EP2065915A1 (en) * 2006-09-19 2009-06-03 Sumitomo Electric Industries, Ltd. Diamond electron source and method for manufacturing the same
EP2065915A4 (en) * 2006-09-19 2010-03-10 Sumitomo Electric Industries DIAMOND ELECTRON SOURCE AND METHOD FOR MANUFACTURING SAME
JP2009283575A (ja) * 2008-05-20 2009-12-03 National Institute Of Advanced Industrial & Technology ダイヤモンド基板の表面処理方法及びそれにより得られるダイヤモンド基板
US9469526B2 (en) 2009-12-23 2016-10-18 Max-Planck-Gesellschaft Zur Foerderung Der Wissenschaften E.V. Method for the production of conical nanostructures on substrate surfaces

Also Published As

Publication number Publication date
JP4336818B2 (ja) 2009-09-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5302239A (en) Method of making atomically sharp tips useful in scanning probe microscopes
JP5421541B2 (ja) 原子レベルで尖ったイリジウムチップ
US20160068384A1 (en) Method of fabricating nano-scale structures and nano-scale structures fabricated using the method
WO2005093775A1 (ja) 炭素系材料突起の形成方法及び炭素系材料突起
JP2011246761A (ja) 表面処理方法及び表面処理装置
US11592462B2 (en) Diamond probe hosting an atomic sized defect
WO2012155791A1 (zh) 粒子源及其制造方法
WO2012155792A1 (zh) 粒子源及使用该粒子源的设备
Mao et al. The fabrication of diversiform nanostructure forests based on residue nanomasks synthesized by oxygen plasma removal of photoresist
JP5034804B2 (ja) ダイヤモンド電子源及びその製造方法
JP4336818B2 (ja) ダイヤモンドの微細加工方法
WO2012174993A1 (zh) 粒子源及其制造方法
JP2007182349A (ja) ナノチューブと量子ドットの製造方法
US20170117112A1 (en) Nanoparticle-templated lithographic patterning of nanoscale electronic components
JP5334085B2 (ja) 基板への種付け処理方法、ダイヤモンド微細構造体及びその製造方法
JP4120827B2 (ja) 構造体の微細加工方法及び同用マスキング方法
US20160089723A1 (en) Method of fabricating nanostructures using macro pre-patterns
JP2008297174A (ja) カーボンナノチューブ成長用基板の製造方法
Pan et al. Fabrication of the Highly Ordered Silicon Nanocone Array With Sub-5 nm Tip Apex by Tapered Silicon Oxide Mask
Asai et al. Dependence of Curvature Radii of the Apexes of W Tips on Growth of Au-and Pd-Coated Nanopyramid
JP2005135846A (ja) カーボン加工体及びその製造方法並びに電子放出素子
JP2009187922A (ja) ダイヤモンド電子源の製造方法及びダイヤモンド電子源
Gatzen et al. Etching Technologies
Yan et al. Ordered silicon nanocone fabrication by using pseudo-Bosch process and maskless etching
TWI254378B (en) A manufacturing method of nanometer wire and quantum dot

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20061005

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20071122

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080226

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080414

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20090609

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20090609

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120710

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130710

Year of fee payment: 4

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees