JP2005331380A - 放射性ダストモニタ - Google Patents
放射性ダストモニタ Download PDFInfo
- Publication number
- JP2005331380A JP2005331380A JP2004150201A JP2004150201A JP2005331380A JP 2005331380 A JP2005331380 A JP 2005331380A JP 2004150201 A JP2004150201 A JP 2004150201A JP 2004150201 A JP2004150201 A JP 2004150201A JP 2005331380 A JP2005331380 A JP 2005331380A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- filter
- sample gas
- suction head
- dust monitor
- radioactive
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Landscapes
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
【課題】 焼却減容設備の煙突から放出される粒子状放射性物質の放射線管理に使用される放射性ダストモニタは、焼却される物質により放出される放射能濃度が変化するため、連続監視の運用がなされている。その従来技術では、サンプルガスを導入するサンプルボックスをヒータで加熱する方法が示されているが、この構成では、ガス中の水蒸気の除去が行えず、腐食性ガスによる各種腐食生成物およびそこに付着したダストがサンプルボックス壁へ付着することが防止できず、入手による除去作業を頻繁に必要としていた。また、フィルタ交換も頻繁に行う必要があり、その為、欠測時間が多く必要となるという課題を解決した放射性ダストモニタを提供する。
【解決手段】 サンプルガス取り込み手段と、サクションヘッドにヒータが設けられているとともに、気密ボックスに除湿装置が設けられている。
【選択図】 図1
【解決手段】 サンプルガス取り込み手段と、サクションヘッドにヒータが設けられているとともに、気密ボックスに除湿装置が設けられている。
【選択図】 図1
Description
この発明は、原子力発電所や放射性物質利用施設等で発生する可燃性放射性物質を、焼却して容積を減らすための焼却減容設備において、焼却炉の煙突から放出される粒子状放射性物質の放射線管理を行う放射性ダストモニタに関するものである。
焼却減容設備の煙突から放出される粒子状放射性物質の、放射線管理に使用される放射性ダストモニタは、焼却される物質により放出される放射能濃度が変化するため、連続監視の運用がなされている。
前記放射性ダストモニタによる放射性物質の濃度の計測は、煙突から排気中のダストをフィルタ(濾紙)で捕集し、その捕集ダストから放射される放射線を前記フィルタに近接して設けられた放射線検出器によって計測している。このような放射性ダストモニタに要求される一般的な機能は、
(1)粒子状放射性物質の濃度が、サンプリングにより変動しないよう、つまりサンプリング途中のダストのロスを生じないようフィルタに捕集する必要がある。
(2)対象のガスは腐食性のSOX、NOX、HClの濃度が高く、また水蒸気も多く含むため、配管やサンプリングボックス内での結露や腐食性酸生成物等が付着しないよう、腐食性ガスの濃度に応じた温度、一般的には100℃以上の高温にサンプルガスを保持する必要がある。
(3)フィルタに捕集されたダストの放射能を測定する放射線検出器が高温によって劣化しないよう、前記サンプルガスから熱遮蔽する必要がある。
などである。
前記放射性ダストモニタによる放射性物質の濃度の計測は、煙突から排気中のダストをフィルタ(濾紙)で捕集し、その捕集ダストから放射される放射線を前記フィルタに近接して設けられた放射線検出器によって計測している。このような放射性ダストモニタに要求される一般的な機能は、
(1)粒子状放射性物質の濃度が、サンプリングにより変動しないよう、つまりサンプリング途中のダストのロスを生じないようフィルタに捕集する必要がある。
(2)対象のガスは腐食性のSOX、NOX、HClの濃度が高く、また水蒸気も多く含むため、配管やサンプリングボックス内での結露や腐食性酸生成物等が付着しないよう、腐食性ガスの濃度に応じた温度、一般的には100℃以上の高温にサンプルガスを保持する必要がある。
(3)フィルタに捕集されたダストの放射能を測定する放射線検出器が高温によって劣化しないよう、前記サンプルガスから熱遮蔽する必要がある。
などである。
以上のような機能を備えた従来の放射性ダストモニタとして、ヒータで加熱されたサンプルボックス内に設けたフィルタホルダ上にフィルタを固定して設置し、前記フィルタでダストを捕集するとともに、サンプルボックスと放射線検出器との間に熱遮蔽部材を配設して、断熱構造とするものが示されている(例えば、特許文献1 図1参照)。
しかしながら前記特許文献1に示されたサンプルボックスを下部からヒーターで加熱する構成では、ガス中の水蒸気の除去が行えず、水蒸気がサンプルボックス壁へ結露することを防止できず、結露水に腐食性ガスが吸収されて酸を生成し、その酸がサンプルボックスの壁を腐食して各種生成物を生じ、そこにダストが付着してダストのロスを生じるという問題点があった。また、前記各種生成物がフィルタ上に落下したり、またフィルタの吸湿のために、フィルタ(濾紙)の交換も頻繁に行う必要もあり、その交換も人手を介するので、やけど防止のため冷却期間を必要とし、放射線測定の欠測時間が長くなるという問題点も有していた。
この発明は前記のような課題を解決するためになされたものであって、サンプルガス取り込み手段やサクションヘッド、フィルタ等を外気と蔽断する気密ボックスに除湿装置を設けて低湿度の環境とすることで腐食性ガスによる生成物の発生を防止し、また、フィルタの駆動装置を設けた、さらには放射線計測器部の熱遮蔽を小型筒素化した放射性ダストモニタを提供することを目的としている。
この発明に係る放射性ダストモニタは、サンプルガス取り込み手段と、サクションヘッドと、サクションヘッド上に設けられ、サンプルガスから放出されるガス中のダストを捕集するフィルタと、フィルタに対向して設けられ熱シールド筒を具備した放射線検出器と、サンプルガスの排気手段と、フィルタと放射線検出器とサクションヘッドとを覆う放射線シールドと、放射線シールドとサンプルガス取り込み手段とを覆う気密ボックスとが備えられており、
サンプルガス取り込み手段およびサクションヘッドにはヒータが設けられているとともに、気密ボックスには除湿装置が設けられているものである。
サンプルガス取り込み手段およびサクションヘッドにはヒータが設けられているとともに、気密ボックスには除湿装置が設けられているものである。
この発明の放射性ダストモニタは、気密ボックスに設けた除湿装置によって低湿度環境を作り出し、気密ボックス内壁や、内蔵品の腐食を防止可能とし、放射線計測精度の向上、腐食生成物および付着物除去の為のモニタ運転停止機会の減少化、さらには付着物を除去するための頻繁な人手作業が少なくなるという効果を奏する。
実施の形態1.
以下、この発明の実施の形態1を図に基づいて説明する。
図1は、この実施の形態1による放射性ダストモニタ100の構成を示す図である。図において、入口弁1は図示省略の焼却炉の煙突からサンプルガスを取り入れる役割をもつ。このサンプルガスを導く配管20には入気ヒータ2が設けられ前記サンプルガスを加熱する。前記入口弁1、入気ヒータ2と配管20によってガス取り込み手段50が形成される。フィルタ(濾紙)3はサンプルガス中のダストを捕集するもので、駆動装置4によって後述する、サクションヘッド5上を連続的あるいは間欠的に移動する。サクションヘッド5は、本体の上部に設置された前記フィルタ3を通して前記サンプルガスを後述の排気手段60によって吸引する機能を持つ。前記サクションヘッド5はサクションヘッドヒータ6により所定の温度に加熱される。
放射線検出器9は、前記フィルタ3に捕集されたダストに含まれる放射性核種からの放射線を検出するものであり、前記フィルタ3に対向して設けられている。熱シールド筒10は前記放射線検出器9を保持するとともに、周辺から前記放射線検出器9への熱侵入を遮断する。断熱板11は前記熱シールド筒10をサンプルガスから熱遮断する為に設けられている。前記放射線検出器9が、周辺還境からの放射線を計測することを防止する為に、放射線シールド12が設けられている。
以下、この発明の実施の形態1を図に基づいて説明する。
図1は、この実施の形態1による放射性ダストモニタ100の構成を示す図である。図において、入口弁1は図示省略の焼却炉の煙突からサンプルガスを取り入れる役割をもつ。このサンプルガスを導く配管20には入気ヒータ2が設けられ前記サンプルガスを加熱する。前記入口弁1、入気ヒータ2と配管20によってガス取り込み手段50が形成される。フィルタ(濾紙)3はサンプルガス中のダストを捕集するもので、駆動装置4によって後述する、サクションヘッド5上を連続的あるいは間欠的に移動する。サクションヘッド5は、本体の上部に設置された前記フィルタ3を通して前記サンプルガスを後述の排気手段60によって吸引する機能を持つ。前記サクションヘッド5はサクションヘッドヒータ6により所定の温度に加熱される。
放射線検出器9は、前記フィルタ3に捕集されたダストに含まれる放射性核種からの放射線を検出するものであり、前記フィルタ3に対向して設けられている。熱シールド筒10は前記放射線検出器9を保持するとともに、周辺から前記放射線検出器9への熱侵入を遮断する。断熱板11は前記熱シールド筒10をサンプルガスから熱遮断する為に設けられている。前記放射線検出器9が、周辺還境からの放射線を計測することを防止する為に、放射線シールド12が設けられている。
気密ボックス7は、前記放射線シールド12の一部、熱シールド筒10を具備した放射線検出器9、ガス取り込み手段50の配管20と入気ヒータ2の一部、サクションヘッド5とサクションヘッドヒータ6、フィルタ3とその駆動装置4とを収納して、外気から機密保持を行うとともに除湿器8を備えており、前記気密ボックス7内の水蒸気成分を排除する。
測定装置13は、放射線検出器9の検出信号を入力し、測定処理を行うものである。排気手段60は、前記サクションヘッド5に配管21でつながり、サンプルガスに含まれる腐食性ガスの除去を行う腐食性ガス除去装置14と、サンプルガスの圧力を測定する圧力計15、流量を測定する流量計16、サンプルガスを移送するポンプ17、出口弁18によって構成されている。
測定装置13は、放射線検出器9の検出信号を入力し、測定処理を行うものである。排気手段60は、前記サクションヘッド5に配管21でつながり、サンプルガスに含まれる腐食性ガスの除去を行う腐食性ガス除去装置14と、サンプルガスの圧力を測定する圧力計15、流量を測定する流量計16、サンプルガスを移送するポンプ17、出口弁18によって構成されている。
サンプルガスは、例えば原子力発電所の焼却炉煙突からの排ガスがサンプリングされて入口弁1から取り込まれ、サクションヘッド5でサンプルガス中の粒子状物質のダストがフィルタ(濾紙)3に捕集されてから、出口弁18を介し煙突に戻される。
この実施の形態1に示すフィルタ3は、フィルタ駆動装置4と図示省略した駆動制御装置により、前記サクションヘッド5上を所定の速度で連続的に移動しながらダストを捕集し、同時にダストに含まれる放射能が前記フィルタ3に対向して設けられた放射線検出器9で連続測定される。
なお、放射線検出の応答性よりも高感度測定が優先される場合には、前記駆動制御装置によって前記フィルタ駆動装置4はフィルタ3を所定の一定時間停止した状態でダストの捕集と放射線検出の間欠駆動モード運転を行う。なお、この実施の形態1ではフィルタ駆動装置4を設けた例を示したが、必ずしも駆動装置を設ける必要はなく、従来技術で示されたようなフィルタ固定方式であってもよく、また、気密ボックス7内設置されたフィルタ出し入れ装置によって、枚葉式にフィルタを出し入れする方式であってもよい。このことは後述するように除湿器8によって、気密ボックス内の水蒸気を除去する構成を採用したので水蒸気や腐食生成物によるフィルタへの悪影響がなくなるため、フィルタ設置の自由度が向上するからである。
この実施の形態1に示すフィルタ3は、フィルタ駆動装置4と図示省略した駆動制御装置により、前記サクションヘッド5上を所定の速度で連続的に移動しながらダストを捕集し、同時にダストに含まれる放射能が前記フィルタ3に対向して設けられた放射線検出器9で連続測定される。
なお、放射線検出の応答性よりも高感度測定が優先される場合には、前記駆動制御装置によって前記フィルタ駆動装置4はフィルタ3を所定の一定時間停止した状態でダストの捕集と放射線検出の間欠駆動モード運転を行う。なお、この実施の形態1ではフィルタ駆動装置4を設けた例を示したが、必ずしも駆動装置を設ける必要はなく、従来技術で示されたようなフィルタ固定方式であってもよく、また、気密ボックス7内設置されたフィルタ出し入れ装置によって、枚葉式にフィルタを出し入れする方式であってもよい。このことは後述するように除湿器8によって、気密ボックス内の水蒸気を除去する構成を採用したので水蒸気や腐食生成物によるフィルタへの悪影響がなくなるため、フィルタ設置の自由度が向上するからである。
次に気密ボックス7内での腐食生成物に関して述べる。焼却炉煙突の排ガスには腐食性ガスのSOX、NOX、HClなどが含まれるため、それらがサンプルガス中の水蒸気と結合して酸を生成しないように、酸露点以上の温度を維持した状態で放射性ダストモニタ100まで送気される。配管20に設けられた入気ヒータ2で酸露点以上の温度を保持しながら、またサクションヘッドヒータ6でも同様に酸露点以上の温度を保持しながらダストを捕集し、その後腐食性ガス除去装置14まで導かれる。腐食性ガス除去装置14は、放射性ダストモニタが置かれている周囲温度より低い温度であり、腐食性ガスを酸として除去して下流の機器を腐食から保護する。気密ボックス7内部のサンプルガスの主経路は、入気ヒータ2とサクションヘッドヒータ6により常に酸露点以上の温度に保持されので、腐食を防止でき、その結果、腐食生成物にダストが付着することによるサンプルの代表性を損なうという障害も防止できる。
気密ボックス7内部のサクションヘッド5で、配管20によって導かれたサンプルガスは解放されるため、サンプルガスの水蒸気と腐食性ガスが気密ボックス7内部に拡散する。前記気密ボックス7に設置された除湿器8は、前記サンプルガス中の水蒸気を除湿する。この除湿器8には例えば、吸湿剤をトレイに入れて内部に配置する。吸湿剤としては市販のゼオライト等を使用する。前記の気密ボックス7内部に拡散した水蒸気を除湿器8で常時除湿することにより、腐食生成物の生成が防止できる。吸湿剤はフィルタ3の交換と合わせて交換する。サンプルガス中の水蒸気を除湿できる除湿器8を設けることにより、気密ボックス7の内面及びその内部に設置される各機器に付着する腐食生成物の生成を少なくし、腐食されるのを防止できるため、機器の寿命が飛躍的に長くなる。また、除湿のためのサンプルガスの分流を伴わないので、分流によるダスト試料のロス及びドレン処理が発生しないという効果もある。
気密ボックス7内部のサクションヘッド5で、配管20によって導かれたサンプルガスは解放されるため、サンプルガスの水蒸気と腐食性ガスが気密ボックス7内部に拡散する。前記気密ボックス7に設置された除湿器8は、前記サンプルガス中の水蒸気を除湿する。この除湿器8には例えば、吸湿剤をトレイに入れて内部に配置する。吸湿剤としては市販のゼオライト等を使用する。前記の気密ボックス7内部に拡散した水蒸気を除湿器8で常時除湿することにより、腐食生成物の生成が防止できる。吸湿剤はフィルタ3の交換と合わせて交換する。サンプルガス中の水蒸気を除湿できる除湿器8を設けることにより、気密ボックス7の内面及びその内部に設置される各機器に付着する腐食生成物の生成を少なくし、腐食されるのを防止できるため、機器の寿命が飛躍的に長くなる。また、除湿のためのサンプルガスの分流を伴わないので、分流によるダスト試料のロス及びドレン処理が発生しないという効果もある。
実施の形態2.
次にこの発明の実施の形態2に係る除湿器8aの構成について、図2に基づいて説明する。この実施の形態2の除湿器8aはその内部に、固体電解質膜を備えていることに特徴がある。以下、構成と動作の詳細を述べる。
図2において、81は固体電解質膜、82は陽極、83は陰極、84は取付板、85は取付穴である。固体電解質膜81は、例えばプロトン伝導性を有する機能膜を陽極82と陰極83で挟んだ構造になっており、電極間に直流電圧3V程度を印加すると水素イオンが水分子を伴って膜中を移動する。なお、図2において図の左側が気密ボックス7の内部側、図の右側が気密ボックス7の外部大気側である。陽極82と陰極83は多孔質でかつ触媒作用を有し、陽極82は水蒸気を取り込んでその触媒作用で酸素イオンと水素イオンに分解し、酸素イオンは陽極82の表面で酸素ガスになり気密ボックス7内部に放出され、水素イオンは固体電解質膜81の内部を電界で移動し、陰極83の触媒作用により気密ボックス7の外気の酸素と結合して水蒸気として放出される。この時、水素イオンに付いてきた水も陰極83の表面から蒸発して外気に放出される。このようにして気密ボックス7内部の除湿が行われる。
固体電解質膜81としては、例えば、デュポン社の商品名ナフィオンとして市販されている固体高分子電解質膜を用いることができる。これは電気絶縁性の透明なフィルムであり容易に入手できる。なお、電極間に加える電圧は、3V程度である。この膜は、フッ素系の樹脂を主鎖に持ち、プロトンを付加することができるスルフォニル基SO3 −を側鎖に持つ構造になっている。図3はナフィオンを使った固体電解質の内部を水素イオンが移動するメカニズムを示すもので、水素イオンはスルフォニル基SO3 −に沿って電解の方向に移動する。
次にこの発明の実施の形態2に係る除湿器8aの構成について、図2に基づいて説明する。この実施の形態2の除湿器8aはその内部に、固体電解質膜を備えていることに特徴がある。以下、構成と動作の詳細を述べる。
図2において、81は固体電解質膜、82は陽極、83は陰極、84は取付板、85は取付穴である。固体電解質膜81は、例えばプロトン伝導性を有する機能膜を陽極82と陰極83で挟んだ構造になっており、電極間に直流電圧3V程度を印加すると水素イオンが水分子を伴って膜中を移動する。なお、図2において図の左側が気密ボックス7の内部側、図の右側が気密ボックス7の外部大気側である。陽極82と陰極83は多孔質でかつ触媒作用を有し、陽極82は水蒸気を取り込んでその触媒作用で酸素イオンと水素イオンに分解し、酸素イオンは陽極82の表面で酸素ガスになり気密ボックス7内部に放出され、水素イオンは固体電解質膜81の内部を電界で移動し、陰極83の触媒作用により気密ボックス7の外気の酸素と結合して水蒸気として放出される。この時、水素イオンに付いてきた水も陰極83の表面から蒸発して外気に放出される。このようにして気密ボックス7内部の除湿が行われる。
固体電解質膜81としては、例えば、デュポン社の商品名ナフィオンとして市販されている固体高分子電解質膜を用いることができる。これは電気絶縁性の透明なフィルムであり容易に入手できる。なお、電極間に加える電圧は、3V程度である。この膜は、フッ素系の樹脂を主鎖に持ち、プロトンを付加することができるスルフォニル基SO3 −を側鎖に持つ構造になっている。図3はナフィオンを使った固体電解質の内部を水素イオンが移動するメカニズムを示すもので、水素イオンはスルフォニル基SO3 −に沿って電解の方向に移動する。
除湿能力は膜面積がー定の場合、気密ボックス7の内部に滞留したガスの絶対湿度のみに比例し、次式(1)で与えられる。
D=6×102×ρ×S‥(1)
D:水素分離膜の除湿能力(g/h)
ρ:サンプルガスの絶対湿度(g/cm3)
S:固体電解質膜の有効面積(cm2)
前記(1)式に基づき、気密ボックス7内部のサクションヘッド5で、一部拡散したサンプルガスを除湿するのに必要な面積を実験的に求める。このように、固体電解質膜81を使用した除湿器8aは、結露を生成することがなく水蒸気を除湿することができ、また吸湿剤交換等の保守が不用となり、さらに使用済み吸湿剤のような放射性廃棄物も発生しないという効果がある。
D=6×102×ρ×S‥(1)
D:水素分離膜の除湿能力(g/h)
ρ:サンプルガスの絶対湿度(g/cm3)
S:固体電解質膜の有効面積(cm2)
前記(1)式に基づき、気密ボックス7内部のサクションヘッド5で、一部拡散したサンプルガスを除湿するのに必要な面積を実験的に求める。このように、固体電解質膜81を使用した除湿器8aは、結露を生成することがなく水蒸気を除湿することができ、また吸湿剤交換等の保守が不用となり、さらに使用済み吸湿剤のような放射性廃棄物も発生しないという効果がある。
実施の形態3.
次に実施の形態3に係るサクションヘッド5aの構成について、図4に基づいて説明する。図4(a)はサクションヘッド5aの断面を示し、図4(b)はその平面図である。前記サクションヘッド5aはヘッド51と、サンプルガス取り込み用の配管52の端部52aと、サンプルガスの出口配管53と、フィルタ3のガイド溝54と、前記サンプルガス取り込みの配管端部52aを前記ヘッド51に取り付けて設けられたサンプルガス噴出口55と、前記ガイド溝54の下面に設けられ、前記サンプルガス噴出口55に近接して設けられた複数のサンプルガス吸入穴56と、前記ガス吸入穴56からのサンプルガスを前記出口配管53に導く導管53aとから構成されている。
また、前記サンプルガス取り込み用配管端部52aと、前記導管53a、出口配管53を一体的に加熱するヒータ6aが設けられている。このサクションヘッド5aにおいて、サンプリングガスは配管端部52aを通り、噴出口55から噴出して図4では図示省略したフィルタ3の上面に向かい、フィルタ3でダストが捕集されて複数の吸入穴56、導管53a、出口配管53を介し排出される。
このようにこの実施の形態3によるサクションヘッド5aは、サンプルガス噴出口55と複数の吸入穴56とが近接して設けられているので、サンプルガスの気密ボックス7内への拡散防止が可能となり、その結果、高精度な放射能濃度検出が行えるとともに、腐食防止も合わせて行える。さらに、導管53aと配管端部52a、出口配管53を一体化して加熱ヒータ6aが設けられているので、加熱効率の向上、空間スペースの有効活用がはかれる。
次に実施の形態3に係るサクションヘッド5aの構成について、図4に基づいて説明する。図4(a)はサクションヘッド5aの断面を示し、図4(b)はその平面図である。前記サクションヘッド5aはヘッド51と、サンプルガス取り込み用の配管52の端部52aと、サンプルガスの出口配管53と、フィルタ3のガイド溝54と、前記サンプルガス取り込みの配管端部52aを前記ヘッド51に取り付けて設けられたサンプルガス噴出口55と、前記ガイド溝54の下面に設けられ、前記サンプルガス噴出口55に近接して設けられた複数のサンプルガス吸入穴56と、前記ガス吸入穴56からのサンプルガスを前記出口配管53に導く導管53aとから構成されている。
また、前記サンプルガス取り込み用配管端部52aと、前記導管53a、出口配管53を一体的に加熱するヒータ6aが設けられている。このサクションヘッド5aにおいて、サンプリングガスは配管端部52aを通り、噴出口55から噴出して図4では図示省略したフィルタ3の上面に向かい、フィルタ3でダストが捕集されて複数の吸入穴56、導管53a、出口配管53を介し排出される。
このようにこの実施の形態3によるサクションヘッド5aは、サンプルガス噴出口55と複数の吸入穴56とが近接して設けられているので、サンプルガスの気密ボックス7内への拡散防止が可能となり、その結果、高精度な放射能濃度検出が行えるとともに、腐食防止も合わせて行える。さらに、導管53aと配管端部52a、出口配管53を一体化して加熱ヒータ6aが設けられているので、加熱効率の向上、空間スペースの有効活用がはかれる。
実施の形態4.
次に実施の形態4の放射線検出器9を保持する熱シールド筒10aを図5に基づいて説明する。
図5において、熱シールド筒10aは、外筒101、内筒102の2層筒の構造であり、前記内筒102の内部で図示省略の放射線検出器9が保持されるとともに、前記内筒102と外筒101の層間は真空層103を生成した構造である。このような構成の熱シールド筒10aは前記真空層103にて伝熱を遮断することができるので、内筒102内の温度上昇を抑制可能となり、ひいては放射線検出器9への熱影響を少なくすることができ、高価な高温用放射線検出器を用いる必要がないという効果を奏する。
次に実施の形態4の放射線検出器9を保持する熱シールド筒10aを図5に基づいて説明する。
図5において、熱シールド筒10aは、外筒101、内筒102の2層筒の構造であり、前記内筒102の内部で図示省略の放射線検出器9が保持されるとともに、前記内筒102と外筒101の層間は真空層103を生成した構造である。このような構成の熱シールド筒10aは前記真空層103にて伝熱を遮断することができるので、内筒102内の温度上昇を抑制可能となり、ひいては放射線検出器9への熱影響を少なくすることができ、高価な高温用放射線検出器を用いる必要がないという効果を奏する。
実施の形態5.
次に、実施の形態5によるサンプルガスの排気手段50を構成する腐食性ガス除去装置14aの一部を図6に基づいて説明する。
図6において、前記腐食性ガス除去装置14aには、スチールウール142を収容する容器141が設けられており、前記スチールウール142は、例えば鉄を繊維状にしたものであり、市販のものでよい。このように前記容器141内の繊維状のスチールウール142の有する広い表面積にて腐食性ガスをトラップするので、より効率的に腐食性ガスを除去可能となり、また、酸性水の発生が少なく、そのドレン処理が不要で装置が簡単化されるという効果がある。
なお当然のことながら、前記腐食性ガス除去装置14aは、腐食性ガスをトラップし易いよう、室温中に設置されるか、さらに高効率のトラップ化の為、必要な冷却が施されたものが使用される。
次に、実施の形態5によるサンプルガスの排気手段50を構成する腐食性ガス除去装置14aの一部を図6に基づいて説明する。
図6において、前記腐食性ガス除去装置14aには、スチールウール142を収容する容器141が設けられており、前記スチールウール142は、例えば鉄を繊維状にしたものであり、市販のものでよい。このように前記容器141内の繊維状のスチールウール142の有する広い表面積にて腐食性ガスをトラップするので、より効率的に腐食性ガスを除去可能となり、また、酸性水の発生が少なく、そのドレン処理が不要で装置が簡単化されるという効果がある。
なお当然のことながら、前記腐食性ガス除去装置14aは、腐食性ガスをトラップし易いよう、室温中に設置されるか、さらに高効率のトラップ化の為、必要な冷却が施されたものが使用される。
この発明の実施の形態1〜4に係る放射線ダストモニタは、原子力発電所や放射性物質利用施設等で発生する放射性物質の焼却減容設備に適用可能である。
2 入気ヒータ、3 フィルタ、4 駆動装置、5,5a サクションヘッド、
6 サクションヘッドヒータ、6a ヒータ、7 気密ボックス、8,8a 除湿器、
9 放射線検出器、10,10a 熱シールド筒、12 放射線シールド、
14 腐食性ガス除去装置、20,21 配管、50 サンプルガス取り込み手段、
52a 配管端部、55 サンプルガス噴出口、60 排気手段、81 固体電解質膜、
100 放射性ダストモニタ、103 真空層、142 スチールウール。
6 サクションヘッドヒータ、6a ヒータ、7 気密ボックス、8,8a 除湿器、
9 放射線検出器、10,10a 熱シールド筒、12 放射線シールド、
14 腐食性ガス除去装置、20,21 配管、50 サンプルガス取り込み手段、
52a 配管端部、55 サンプルガス噴出口、60 排気手段、81 固体電解質膜、
100 放射性ダストモニタ、103 真空層、142 スチールウール。
Claims (8)
- 可燃性放射性物質を焼却する炉から排気されるガス中の放射性ダストを監視する放射性ダストモニタであって、前記放射性ダストモニタには、サンプルガス取り込み手段と、サクションヘッドと、前記サクションヘッド上に設けられ、前記サンプルガスから放出されるガス中のダストを捕集するフィルタと、前記フィルタに対向して設けられ熱シールド筒を具備した放射線検出器と、前記サンプルガスの排気手段と、前記フィルタと放射線検出器とサクションヘッドとを覆う放射線シールドと、前記放射線シールドと前記サンプルガス取り込み手段とを覆う気密ボックスとが備えられており、
前記サンプルガス取り込み手段およびサクションヘッドにはヒータが設けられているとともに、前記気密ボックスには除湿装置が設けられていることを特徴とする放射性ダストモニタ。 - 前記放射性ダストモニタにはさらに加えて、前記サクションヘッド上に設けられたフィルタを移動させるフィルタ駆動装置が設けられており、前記気密ボックスが前記フィルタ駆動装置も覆うよう設けられていることを特徴とする請求項1に記載の放射性ダストモニタ。
- 前記フィルタ駆動装置には制御装置が設けられており、前記制御装置によって前記フィルタが連続的に、または間欠的に前記サクションヘッド上を移動するよう運転制御されることを特徴とする請求項2に記載の放射性ダストモニタ。
- 前記除湿装置には、固体電解質膜が設けられていることを特徴とする請求項1に記載の放射性ダストモニタ。
- 前記サクションヘッドには、前記サンプルガス取り込み手段の配管端部に設けられたサンプルガス噴出口と、前記サンプルガス噴出口に近接して設けられた複数のサンプルガス吸入穴とが設けられていることを特徴とする請求項1に記載の放射性ダストモニタ。
- 前記サクションヘッドと、前記サンプルガス噴出口に到る前記サンプルガス取り込み手段の配管とを一体的に加熱するヒータが設けられていることを特徴とする請求項5に記載の放射性ダストモニタ。
- 前記熱シールド筒は2層筒構造で形成されており、前記層間を真空層としたことを特徴とする請求項1に記載の放射性ダストモニタ。
- 前記排気手段には腐食性ガス除去装置が設けられており、前記腐食性ガス除去装置内に設けられたスチールウールにより、前記腐食性ガスをトラップすることを特徴とする請求項1に記載の放射性ダストモニタ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004150201A JP2005331380A (ja) | 2004-05-20 | 2004-05-20 | 放射性ダストモニタ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004150201A JP2005331380A (ja) | 2004-05-20 | 2004-05-20 | 放射性ダストモニタ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005331380A true JP2005331380A (ja) | 2005-12-02 |
Family
ID=35486138
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004150201A Pending JP2005331380A (ja) | 2004-05-20 | 2004-05-20 | 放射性ダストモニタ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2005331380A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010048766A (ja) * | 2008-08-25 | 2010-03-04 | Mitsubishi Electric Corp | トリチウムサンプラ |
JP2011252756A (ja) * | 2010-06-01 | 2011-12-15 | Mitsubishi Electric Corp | 放射線測定装置 |
JP2013002940A (ja) * | 2011-06-16 | 2013-01-07 | Mitsubishi Electric Corp | 放射性ダストモニタ |
-
2004
- 2004-05-20 JP JP2004150201A patent/JP2005331380A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010048766A (ja) * | 2008-08-25 | 2010-03-04 | Mitsubishi Electric Corp | トリチウムサンプラ |
JP2011252756A (ja) * | 2010-06-01 | 2011-12-15 | Mitsubishi Electric Corp | 放射線測定装置 |
JP2013002940A (ja) * | 2011-06-16 | 2013-01-07 | Mitsubishi Electric Corp | 放射性ダストモニタ |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR102225810B1 (ko) | 원자력 발전 플랜트의 배기 시스템의 방출 감시 시스템 | |
KR20120041920A (ko) | 미세 먼지 및 초미세 먼지의 채취 및 측정 시스템 | |
JP5155779B2 (ja) | 放射性ヨウ素モニタ装置 | |
KR101064267B1 (ko) | 배출가스 시료 채취장치 | |
KR100893680B1 (ko) | 공기 중 방사성 오염물질 제거장치 및 제거방법 | |
JP5406124B2 (ja) | 放射線測定装置 | |
JP4602454B2 (ja) | 放射性ヨウ素サンプラおよびそれを具備する放射性ヨウ素モニタ | |
JP2005331380A (ja) | 放射性ダストモニタ | |
JP5069642B2 (ja) | トリチウムサンプラ | |
JP3881355B2 (ja) | 放射性ダストモニタ | |
JP2007183137A (ja) | トリチウムモニタ | |
JP5074678B2 (ja) | 塩分ミスト除去装置およびこれを用いた分析装置 | |
JP2016045116A (ja) | 放射性物質の除去方法及び放射性物質除去装置 | |
JP2007183136A (ja) | トリチウムモニタ | |
JP5318268B2 (ja) | 放射性ヨウ素モニタ装置 | |
JP4488195B2 (ja) | 放射性ヨウ素サンプラおよびそれを具備する放射性ヨウ素モニタ | |
JP4573746B2 (ja) | トリチウムモニタ | |
JPH02115746A (ja) | 沃素測定装置 | |
JP2012245519A (ja) | 塩分ミスト除去装置およびこれを用いた分析装置 | |
KR20120055231A (ko) | 원자력 발전소의 배기계통 내 삼중수소 제거 시스템 | |
CN215297122U (zh) | 一种采用PID光离子传感器的VOCs在线监测设备 | |
CN219348820U (zh) | 基于nb-iot的透气井监测预备系统 | |
JP2001221865A (ja) | 排ガスの放射線モニタ | |
CN214914852U (zh) | Rto有机废气处理装置 | |
JP2000074878A (ja) | 一酸化炭素測定装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Effective date: 20060616 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 |
|
A977 | Report on retrieval |
Effective date: 20081028 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Effective date: 20081104 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20090303 |