JP2005327438A - 光ディスク装置およびその制御方法 - Google Patents

Abstract

【課題】光ディスク装置にてＣＤ−Ｒなどの各種メディアが損傷すること防止する。
【解決手段】受光素子２２から送信される信号を保持するサンプル・ホールド回路１１３と、サンプル・ホールド回路１１３によりサンプル・ホールドされた信号のピーク値を保持するピーク・ホールド回路５１と、サンプル・ホールド回路１１３によりサンプル・ホールドされた信号のボトム値を保持するボトム・ホールド回路５３とを備える光ディスク装置２００とする。ディスク１０に対しデータ記録が可能なパワーのレーザ光を発光素子２１から出力させ、このときのレーザ光を受光素子２２に当て、受光素子２２から送られる信号をサンプル・ホールド手段に保持させ、サンプル・ホールド手段にて生成されたサンプル・ホールド（ＷＳＨＯ）信号を測定させ、ＷＳＨＯ信号と、ディスク１０に対しデータ記録を行うときの理論上の信号とを比較して、発光素子２１の劣化状態を判定させる。
【選択図】図１

Description

本発明は、ＣＤ−Ｒ（Compact Disc-Recordable ）などのメディアのデータを再生させることや、メディアにデータを記録させることが可能な光ディスク装置およびその制御方法に関するものである。

図１４は、従来の光ディスク装置に装備されたピックアップ装置を示す説明図である。

記録可能な光ディスク装置（図示せず）のピックアップ装置に関するものとして、無偏光光学系のものと、偏光光学系のものとが挙げられる。

光ディスク装置が用いられて、メディアにおける情報などのデータの再生または記録が行われる。メディアとして、例えば光ディスク７００等が挙げられる。詳しく説明すると、メディアとして、例えば、ＣＤ−ＲＯＭ，ＤＶＤ−ＲＯＭなどの読出し専用の光ディスクや、ＣＤ−Ｒ，ＤＶＤ±Ｒなどの追記型の光ディスクや、ＣＤ−ＲＷ，ＤＶＤ±ＲＷ，ＤＶＤ−ＲＡＭなどの書込み／消去や書換え可能なタイプの光ディスクなどといった各種光ディスクが挙げられる。

「ＣＤ」は、「Compact Disc」の略称である。また、「ＤＶＤ」は、「Digital Versatile Disc」もしくは「Digital Video Disc」の略称である。また、「ＣＤ−ＲＯＭ」もしくは「ＤＶＤ−ＲＯＭ」の「ＲＯＭ」は、「Read Only Memory」の略称である。ＣＤ−ＲＯＭもしくはＤＶＤ−ＲＯＭは、読出し専用のものである。また、「ＣＤ−Ｒ」もしくは「ＤＶＤ±Ｒ」の「Ｒ」は、「Recordable」の略称である。ＣＤ−ＲもしくはＤＶＤ±Ｒは、書込み可能なものである。また、「ＣＤ−ＲＷ」もしくは「ＤＶＤ±ＲＷ」の「ＲＷ」は、「ReWritable」の略称である。ＣＤ−ＲＷもしくはＤＶＤ±ＲＷは、書換え可能なものである。また、「ＤＶＤ−ＲＡＭ」は、「Digital Versatile Disc Random Access Memory 」の略称である。「ＤＶＤ−ＲＡＭ」は、読み書き／消去が可能なものである。

レーザドライバ５１０からレーザダイオード５２０へ電流が流されて、レーザダイオード５２０からレーザ光が出力される。レーザダイオード（Laser Diode ）は、「ＬＤ」と略称される。レーザドライバ５１０は、ＬＤ５２０を駆動させてＬＤ５２０からレーザ光を出させるレーザ駆動回路５１０を構成するものである。このようなことから、レーザドライバは、「ＬＤ Driver 」等と呼ばれ「ＬＤＤ」と略称される。ＬＤＤ５１０からＬＤ５２０に電流が供給され、ＬＤ５２０から出射されたレーザ光により、ディスク７００に情報の記録が行われたり、ディスク７００に記録された情報の再生が行われたりする。

ＬＤ５２０から出力されたレーザ光は、回折格子５３０、中間レンズ５４０、ハーフミラー５５０、対物レンズ５６０を介して、ディスク７００に照射される。回折格子５３０は、光の回折を利用して、ＬＤ５２０から出射されたレーザ光を幾つかのビーム（図示せず）に分ける。ハーフミラー（Half Mirror ）は、「ＨＭ」と略称される。また、対物レンズ（objective lens）は、「ＯＢＬ」と略称される。ＯＢＬ５６０は、ディスク７００の信号部７０１へレーザ光を集光させる役目を果たす。ディスク７００から反射されたレーザ光の一部は、ＰＤＩＣ５７０などに戻される。「ＰＤＩＣ」は、「Photo Diode IC」の略称である。ＰＤＩＣ５７０は、光を受けて、その信号を電気信号に変えて、ピックアップ装置５０１のレンズホルダ（図示せず）のサーボ機構（図示せず）を動作させるための信号を出力する。

また、ＬＤ５２０から出力されるレーザ光の一部は、フロントモニタダイオード５８０に入る。フロントモニタダイオード（Front Monitor Diode ）は、「ＦＭＤ」と略称される。ＦＭＤ５８０は、ＬＤ５２０から出力されるレーザ光をモニタして、ＬＤ５２０を制御するためにフィードバックをかけるものとされている。

前記ＬＤＤ５１０、前記ＬＤ５２０、前記回折格子５３０、前記中間レンズ５４０、前記ＨＭ５５０、前記ＯＢＬ５６０、前記ＰＤＩＣ５７０、前記ＦＭＤ５８０は、ハウジング（図示せず）などに取り付けられている。また、前記ＬＤＤ５１０、前記ＬＤ５２０、前記ＰＤＩＣ５７０、前記ＦＭＤ５８０は、フレキシブルプリント回路体５０５に通電可能に接続されている。フレキシブルプリント回路体（Flexible Printed Circuit）は、「ＦＰＣ」と略称される。ＦＰＣが製造される工程について説明すると、例えば銅箔などの金属箔となる複数の回路導体が、絶縁シートに印刷されて並設される。その上に保護層が設けられて、ＦＰＣが構成される。

光学式ピックアップ装置５０１は、上述した各種のものを備えるものとして構成されている。なお、光学式ピックアップ装置５０１は、図示されたもの以外に、他の構成要素（図示せず）も備えるが、図１４においては、それらの構成要素は、便宜上、省略した。

ピックアップ装置５０１のＬＤ５２０から出射されたレーザ光は、ＯＢＬ５６０を通り抜け、プレーヤ本体内に装備されたＣＤ等の光ディスク７００に当てられる。ＬＤ５２０から出射されたレーザ光により、光ディスク７００に情報の記録が行われたり、光ディスク７００に記録された情報が再生されたりする。このようにして、光ディスク装置における情報の記録または再生が行われる。

例えば記録ドライブ（図示せず）に無偏光光学系のピックアップ装置５０１が装備された場合、光ディスク７００に対する情報などのデータの記録が行われる際に、ピックアップ装置５０１のＬＤ５２０から出力されたレーザ光の一部が、光学系の経路を通してＬＤ５２０に戻される。このようなレーザ光は、戻り光と呼ばれている。戻り光がＬＤ５２０に入ると、ＬＤ５２０の出力が不安定となる。光ディスク７００に対する記録が行われているときに、ＬＤ５２０の出力が不安定になると、光ディスク７００または光ディスク７００にデータを記録させる光ディスク装置に、記録不良などの不具合が生じる。

一方、不図示の記録ドライブに装備される偏光光学系のピックアップ装置（５０１）においては、１／４波長板（図示せず）を備えるものとされている。不図示の１／４波長板により、ＬＤ（５２０）に戻り光が入るということは防止される。１／４波長板により、偏光光学系のものは、戻り光による影響が無いものとされている。このことから、偏光光学系のものにおいては、ＬＤ（５２０）の出力が不安定となって、光ディスク（７００）または光ディスク（７００）にデータを記録させる光ディスク装置に、記録不良などの不具合が生じるということはなかった。１／４波長板について説明すると、波長板の光学軸に対し、入射光の偏向軸が角度で４５°とされるように１／４波長板が配置されたときに、直線偏向が円偏向に変換される。

光ディスクなどにデータ等を記録させるものとして、例えば半導体レーザＬＤあるいはＡＰＣサーボ回路が故障した場合においても、カード状または円盤状の光学的記録媒体に誤記録を行わせない光学的情報処理装置というものがある（例えば特許文献１参照）。

「ＬＤ」は、「Laser Diode 」の略称である。ＬＤから出射されたレーザ光により、光ディスクに情報の記録が行われたり、光ディスクに記録された情報が再生されたりされる。このようにして、光ディスク装置におけるデータの記録または再生が行われる。「ＡＰＣ」は、「Auto Power Control」の略称である。ＡＰＣ回路は、光出力一定回路を意味す
る。

また、光ディスクなどにデータ等を記録させるものとして、例えば半導体レーザの劣化を検出することのできる光記録装置における半導体レーザの劣化検出装置というものがある（例えば特許文献２参照）。
特開平５−３４２５９４号公報（第１，３頁、第１，２，６図） 特開２００２−３１９１６８号公報（第１，２，４頁、第１図）

近年、例えば光ディスク装置の組立メーカ等から、光ピックアップ装置の価格低減化を要求されることがある。例えば不図示の１／４波長板を供える偏光光学系の光ピックアップ装置（５０１）は、１／４波長板の価格が加算されることにより、１／４波長板が装備されていない無偏光光学系の光ピックアップ装置５０１よりも価格が高くなる。例えば、光ディスク７００にデータ記録を可能とさせる光ディスク装置に、無偏光光学系のピックアップ装置５０１を装備させて、光ディスク装置の価格低減化を図ることも考えられた。

しかしながら、上記従来の無偏光光学系の光ピックアップ装置５０１にあっては、ＬＤ５２０から出力されるレーザパワーが不安定なときに、光ディスク７００に対する情報などのデータの記録が行われると、記録中のサーボ動作などに破綻が生じたり、ＡＴＥＲ不良が生じたりすることがあった。「ＡＴＥＲ」とは、光ディスク７００のウォブルにおけるエラーの比率を意味する。「ＡＴＥＲ」は、「A Tip Error Rate」の略称である。また、ウォブル（Wobble）とは、情報などのデータ信号が記録されるトラックの蛇行を意味する。

また、ＬＤ５２０から出力されるレーザパワーが不安定なときに、光ディスク７００に対する情報などのデータの記録が行われると、例えばＣＩＲＣに用いられる２段のReed-Solomon符号のＣ１，Ｃ２に不良が生じたり、ジッター不良が生じたりすることが懸念されていた。このように、光ディスク７００に対する情報などのデータの記録が行われているときに、ＬＤ５２０から出力されるレーザパワーが不安定となると、光ディスク７００の記録品位が低下する等の不具合が生じるといったことが懸念されていた。「ＣＩＲＣ」とは、エラー訂正機構を意味する。「ＣＩＲＣ」は、「Cross Interleaved Reed-Solomon Code 」の略称である。また、ジッターとは、信号の微妙な揺れや歪を意味する。

ＬＤ５２０から出力されるレーザパワーの不安定量は、ＬＤ５２０から出力されるレーザ光など様々な要因により変化する。例えばＬＤ５２０から出力されるレーザパワーの大きさが一定とされている場合、必ずしもレーザパワーの不安定量は、略均一なものとされるわけではない。また、ＬＤ５２０から出力されるレーザのパワーが大きくなると、レーザの不安定量が大きくなるというものでもない。レーザパワーの不安定領域は、ＬＤ５２０の性能に依存する。このことから、ＬＤ５２０の発光範囲について、ＬＤ５２０から出力されるレーザパワーの不安定量を調べる必要性が生じる。

光ディスク７００に情報などのデータが記録されるときに、ピックアップ装置５０１に対する光ディスク７００の記録速度や、ＣＤ−Ｒ，ＣＤ−ＲＷ，ＤＶＤ±Ｒ，ＤＶＤ±ＲＷ，ＤＶＤ−ＲＡＭなどの各種ディスクなどのメディア等により、ＬＤ５２０から出力されるレーザパワーの大きさが決定される。このようなことから、ＬＤ５２０から出力されるレーザパワーを予想しようとした場合、予想されるレーザパワーの範囲は、広範囲となることが推測される。

例えば光ディスク７００に迅速に多くのデータを記録させようとした場合、光ディスク
７００を高速で回転させながら、レーザ光を光ディスク７００の信号部７０１に照射させることとなる。このときのレーザパワーは、大きなパワーに設定されていないと、光ディスク７００へ記録されたデータの品質は、低下したものとなることがある。

光ディスク７００に対するデータの記録が行われているときに、光ディスク７００に記録不良が生じた場合、光ディスク装置を用いて、その光ディスク７００の記録内容を読み取ることは、不可能となることが懸念されていた。このように、光ディスク７００などのメディアに記録不良が生じて、光ディスク７００などのメディアが読出し不可能なものとされた場合、この光ディスク７００は、無駄になることが懸念されていた。

また、ＬＤ５２０からレーザ光が出射される毎に、ＬＤ５２０の劣化が進んでゆく。ＬＤ５２０の劣化が進行すると、ＣＤ−ＲやＣＤ−ＲＷ等の光ディスク７００に対し、ＯＰＣや、データの記録（recording ）いわゆるＲＥＣを実行させた場合、ＣＤ−ＲやＣＤ−ＲＷ等の光ディスク７００に正常にデータの書込みが行われず、光ディスク７００のデータ記録領域が損傷することも懸念される。ＯＰＣとは、データが記録可能な光ディスク７００の内周部７０５に、レーザによる試書きを行うことで、光ピックアップ装置５０１のＬＤ５２０から適切なパワーのレーザ出力を行わせることを意味する。「ＯＰＣ」は、「Optimum Power Control 」の略称である。

ＬＤ５２０から出射されるレーザ出力度は、ＦＭＤ５８０にて検出される。このレーザ出力度は、ローパスフィルタ（図示せず）を介して検出される。そのため、ＦＭＤ５８０にて検出されたレーザ出力度は、ＬＤ５２０のパルス幅の影響を受ける。さらに、ＦＭＤ５８０にて検出されたレーザ出力度は、デューティ（Duty）により読込み値が変化する。これらのことから、ＦＭＤ５８０にてレーザ出力パワー値が検出されてもＬＤ５２０の劣化を正確に判定もしくは判断できないという問題があった。

問題点について詳しく説明すると、不図示のＤ／Ａコンバータ（ＤＡＣ）において、パワーＤＡＣ値に対し、ＦＭＤ５８０の読込み値がリニア（直線的）に変化しない。また、ライトストラテジ（Write Strategy）等のストラテジ（STRATEGY）によるパルス幅などにより、ＦＭＤ５８０の読込み値が変化する。

前記ローパスフィルタ（Low Pass Filter ）は、ＬＰＦと略称される。ＬＰＦは、遮断周波数以下の周波数の信号だけを通過させ、遮断周波数以上の周波数の信号を減衰させるフィルタとされる。また、前記パルス（Pulse ）とは、非常に短い時間の間だけ変化する電流や電波を意味する。また、前記デューティ（Duty）とは、ここでは光源の点滅の周期を制御するものとされる。また、Ｄ／Ａコンバータ（Digital to Analog Converter ）とは、デジタル値からアナログ値への変換を行う回路を意味する。デジタル（digital ）とは、物質やシステムなどの状態を離散的な数字や文字などの信号により表現することを意味する。一方、アナログ（analog）とは、物質やシステムなどの状態を連続的に変化する物理量などによって表現することを意味する。また、前記ライトストラテジ（Write Strategy）とは、ＣＤやＤＶＤなどの各種メディアに対するデータの書込み方法を意味する。

本発明は、上記した問題点を解決することにある。本発明は、上記問題点に鑑みて、ＣＤ−Ｒなどの各種メディアを損傷させることのない光ディスク装置およびその制御方法を提供することにある。具体的には、本発明は、上記した点に鑑み、ＣＤ−Ｒなどの各種メディアに対し、記録不良が生じることなくメディアに高品質の記録を行うことが可能とされた光ディスク装置およびその制御方法を提供することを目的とする。詳しくは、本発明は、上記した点に鑑み、レーザダイオード等の発光素子の劣化状態をチェックして、ＣＤ−Ｒなどの各種ディスクが損傷すること防止した光ディスク装置およびその制御方法を提供することを目的とする。

上記目的を達成するために、本発明の請求項１に係る光ディスク装置は、ディスクに対するデータの記録が行われるときに該ディスクに対しレーザを照射させ、且つ、ディスクに記録されたデータが読み込まれるときに該ディスクに対しレーザを照射させる発光素子と、該発光素子から出力されたレーザをモニタして該発光素子の制御にフィードバックをかけさせるための受光素子とを有するピックアップ装置を備えた光ディスク装置であって、前記受光素子から送信される信号を保持するサンプル・ホールド回路と、該サンプル・ホールド回路によりサンプル・ホールドされた信号のピーク値を保持するピーク・ホールド回路と、該サンプル・ホールド回路によりサンプル・ホールドされた信号のボトム値を保持するボトム・ホールド回路とを備えることを特徴とする。

上記構成により、ディスクに対するデータ記録の可否判定は、良好に行われる。サンプル・ホールド回路によりサンプル・ホールドされピーク・ホールド回路に保持された信号のピーク値と、サンプル・ホールド回路によりサンプル・ホールドされボトム・ホールド回路に保持された信号のボトム値とに基づいて、発光素子から出力されるレーザパワーの不安定度が検出される。これにより、ディスクに対するデータ記録の可否判定が行われる。

請求項２に係る光ディスク装置は、請求項１に記載の光ディスク装置において、前記サンプル・ホールド回路から出力された信号は、各信号を一つにして出力するマルチプレクサ回路を経由して、前記ピーク・ホールド回路と、前記ボトム・ホールド回路とに供給されることを特徴とする。

上記構成により、サンプル・ホールド回路から出力された信号は、マルチプレクサ回路を経由して、ピーク・ホールド回路と、ボトム・ホールド回路とに振り分けられて供給される。マルチプレクサ回路は、分割入力された各信号を一つにして出力する電気回路を意味する。

請求項３に係る光ディスク装置は、請求項１又は２に記載の光ディスク装置において、前記ピーク・ホールド回路に入力されたピーク値はアナログ値とされ、該ピーク・ホールド回路に入力されたアナログ値をデジタル値に変換させるＡ／Ｄコンバータが設けられ、前記ボトム・ホールド回路に入力されたボトム値はアナログ値とされ、該ボトム・ホールド回路に入力されたアナログ値をデジタル値に変換させるＡ／Ｄコンバータが設けられたことを特徴とする。

上記構成により、信号のピーク値およびボトム値の演算処理は正確に行われる。発光素子の不安定度の検出が正確に行われ、これに伴って、ディスクに対するデータ記録の可否判定が正確に行われる。Ａ／Ｄコンバータ（Analog to Digital Converter ）とは、アナログ値からデジタル値への変換を行うチップもしくは基板または回路を意味する。また、アナログ（analog）とは、物質やシステムなどの状態を連続的に変化する物理量などによって表現することを意味する。また、デジタル（digital ）とは、物質やシステムなどの状態を離散的な数字や文字などの信号により表現することを意味する。

請求項４に係る光ディスク装置は、ディスクに対するデータの記録を行うときに該ディスクに対しレーザを照射させ、且つ、ディスクに記録されたデータを読み込むときに該ディスクに対しレーザを照射させる発光素子と、該発光素子から出力されるレーザをモニタして該発光素子の制御にフィードバックをかけさせるための受光素子とを有するピックアップ装置と、該発光素子から出力されるレーザパワーの不安定度の記録が可能とされた記憶手段と、該記憶手段に記録されたレーザパワーの不安定度と、該発光素子から出力され
るレーザパワーの不安定度とを比較して、ディスクに対する記録の可否を判定する比較判定手段とを備えることを特徴とする。

上記構成により、ディスクに対するデータ記録の可否判定は、光ディスク装置内にて自動的に行われる。光ディスク装置の設定当初において、記録可能なディスクが用いられることなく、発光素子から記録用のレーザパワーが出力されて、ディスクから反射されたレーザの戻り光を含むレーザの不安定度が受光素子にて測定される。また、各種ディスクに対応して、記録用のレーザパワーの不安定度が記憶手段に記録される。また、記録用のレーザパワーの大きさ毎に、レーザパワーの不安定度が記憶手段に記録される。また、比較判定手段にて、ＯＰＣを行ったときのレーザパワーを、記憶手段に記録されたレーザパワーの不安定度に照合させて、ディスクに対する記録の可否を判定させる。このようにして、ディスクに対するデータ記録の可否判定は行われる。「ＯＰＣ」とは、データが記録可能なディスクの内周部に、レーザによる試書きを行うことで、ピックアップ装置の発光素子から適切なパワーのレーザ出力を行わせることを意味する。「ＯＰＣ」は、「Optimum Power Control 」の略称である。

請求項５に係る光ディスク装置の制御方法は、ディスクに対するデータの記録を行うときに該ディスクに対しレーザを照射させ、且つ、ディスクに記録されたデータを読み込むときに該ディスクに対しレーザを照射させる発光素子と、該発光素子から出力されるレーザをモニタして該発光素子の制御にフィードバックをかけさせるための受光素子とを有するピックアップ装置と、該発光素子から出力されるレーザパワーの不安定度の記録が可能とされた記憶手段と、該記憶手段に記録されたレーザパワーの不安定度と、該発光素子から出力される現在のレーザパワーの不安定度とを比較して、ディスクに対する記録の可否を判定する比較判定手段とを備える光ディスク装置を用いて、ディスクに対するデータの記録判定を行う光ディスク装置の制御方法であって、記録が行われるときのレベルのレーザパワーを照射させても影響が及ぼされることのないディスクを用いて前記発光素子から出力されるレーザパワーを前記受光素子に測定させ、そのときのレーザパワーの不安定度を前記記憶手段に登録させ、データが記録可能なディスクの内周部にレーザによる試書きを行うことで適切なパワーのレーザ出力を行わせるＯＰＣ（Optimum Power Control ）を行わせ、前記比較判定手段により、ＯＰＣを行ったときのレーザパワーを、該記憶手段に記録されたレーザパワーの不安定度に照合させて、ディスクに対する記録の可否を判定させることを特徴とする。

上記構成により、ディスクに対するデータ記録の可否判定は、光ディスク装置内にて自動的に行われる。光ディスク装置の設定当初において、記録可能なディスクが用いられることなく、発光素子から記録用のレーザパワーが出力されて、ディスクから反射されたレーザの戻り光を含むレーザの不安定度が受光素子にて測定される。このとき、ピックアップ装置に装備された発光素子は、ライトストラテジに基づいて発光される。このときのディスクから反射したレーザの戻り光を含むレーザの不安定度を受光素子に測定させる。このようにして、ディスクから反射されたレーザの戻り光を含むレーザの不安定度は測定される。ライトストラテジ（Write Strategy）について説明すると、ＣＤ（Compact Disc）やＤＶＤ（Digital Versatile Disc／Digital Video Disc）などの各種メディアに対し、情報などのデータが記録されるときに、各種メディアに対応して書込み方法を変化させることが必要とされる。ＣＤやＤＶＤに装備される記録用ドライブは、使用されるメディアの微妙な違いに合わせて、書込み方法を変えることで、より品質の高い書込みを実現させるために、各種のライトストラテジといった書込み方法を備えるものとされている。ライトストラテジは、通常、ファームウェア内に収録されている。ファームウェア（Firmware）とは、ハードウェアに組み込まれて動作するプログラムを意味する。また、各種ディスクに対応して、記録用のレーザパワーの不安定度が記憶手段に記録される。また、記録用のレーザパワーの大きさ毎に、レーザパワーの不安定度が記憶手段に記録される。また、
比較判定手段にて、ＯＰＣを行ったときのレーザパワーを、記憶手段に記録されたレーザパワーの不安定度に照合させて、ディスクに対する記録の可否を判定させる。このようにして、ディスクに対するデータ記録の可否判定は行われる。

請求項６に係る光ディスク装置の制御方法は、請求項５に記載の光ディスク装置の制御方法において、前記比較判定手段において、記録可能なディスクに対しデータの記録が否と判定されたときに、前記ピックアップ装置に対する該ディスクの記録速度を下げて、再度、ＯＰＣを行うことを特徴とする。

上記構成により、記録可能なディスクへのデータ記録は、安定した状態で行われることとなる。ＯＰＣが行われて決定された記録用のレーザパワーは、光ディスク装置に装備された比較判定手段などによりチェックされ、安定した記録用のレーザパワーとされているか否かの照合が行われる。記録可能なディスクに対しデータの記録が否と判定されたときに、ピックアップ装置に対するディスクの記録速度が下げられる。ディスクの記録速度が下げられるので、記録可能なディスクに対し、データの記録は、安定して行われることとなる。

請求項７に係る光ディスク装置の制御方法は、請求項５又は６に記載の光ディスク装置の制御方法において、前記比較判定手段において、記録可能なディスクに対しデータの記録が可と判定されたときに、該ディスクに対するデータの記録を行うことを特徴とする。

上記構成により、記録可能なディスクに高品質なデータ記録が行われる。比較判定手段の判定に基づいて、記録可能なディスクに対するデータの記録が可とされるから、適正なレーザパワーでディスクにデータの記録が行われる。従って、高品質なデータ記録が行われたディスクが提供される。

請求項８に係る光ディスク装置の制御方法は、請求項５〜７の何れか１項に記載の光ディスク装置の制御方法において、前記比較判定手段において、記録可能なディスクに対しデータの記録が不可と判定されたときに、該ディスクに対するデータの記録を禁止することを特徴とする。

上記構成により、ディスクに低品質のデータが記録され、結果としてディスクが無駄になるということは回避される。ディスクに低品質のデータが記録された場合、ピックアップ装置によって、そのディスクのデータを、再度、読み込もうとしても、ディスクのデータを読み込むことができないことがある。光ディスク装置の比較判定手段において、記録可能なディスクに対してデータの記録が不可と判定されたときに、このディスクに対するデータの記録を禁止させれば、ディスクに低品質のデータが記録されることは、確実に回避される。即ち、ディスクに読取り不能な低品質のデータが記録されることで、ディスクが損傷するということは、確実に防止される。従って、読取り不能な低品質データがディスクに記録され、これによってディスクが損傷し、その結果、ディスクが無駄になるという不具合の発生は、確実に防止される。

請求項９に係る光ディスク装置は、請求項５〜８の何れか１項に記載の光ディスク装置の制御方法が実行可能とされたことを特徴とする。

上記構成により、各種ディスクに高品質なデータ記録を行える光ディスク装置が提供されることとなる。ディスクから反射されたレーザの戻り光によるレーザの不安定度は、受光素子にて測定される。発光素子から出力されるレーザパワーの不安定度が受光素子で検出され、レーザパワーの不安定度が記憶手段に登録される。また、ＯＰＣが行われたときのレーザパワーと、記憶手段に記録されたレーザパワーの不安定度とが照合されて、ディ
スクに対するデータ記録の可否判定が行われる。このようなことが行われることにより、ディスクに対し高品質なデータ記録が行われる。従って、各種ディスクに高品質なデータ記録を行わせることが可能な光ディスク装置を提供することができることになる。

請求項１０に係る光ディスク装置は、請求項４又は９に記載の光ディスク装置において、請求項１〜３の何れか１項に記載のサンプル・ホールド回路と、ピーク・ホールド回路と、ボトム・ホールド回路とを、さらに備えることを特徴とする。

上記構成により、ディスクに対するデータ記録の可否判定は、確実に行われる。発光素子から出力されたレーザパワーの不安定度は、受光素子で測定される。受光素子で測定されたレーザパワーの不安定度は、信号としてサンプル・ホールド回路に送られる。サンプル・ホールド回路によりサンプル・ホールドされピーク・ホールド回路に保持された信号のピーク値と、サンプル・ホールド回路によりサンプル・ホールドされボトム・ホールド回路に保持された信号のボトム値とに基づいて、発光素子から出力されるレーザパワーの不安定度が検出される。このレーザパワーの不安定度の信号は、記憶手段に送られる。各種ディスクに対応した記録用レーザパワーの不安定度は、記憶手段に記録される。また、記録用のレーザパワーの大きさ毎に、レーザパワーの不安定度は、記憶手段に記録される。また、比較判定手段にて、ＯＰＣを行ったときのレーザパワーを、記憶手段に記録されたレーザパワーの不安定度に照合させて、ディスクに対する記録の可否を判定させる。これにより、ディスクに対するデータ記録の可否判定は、確実に行われる。

請求項１１に記載の光ディスク装置の制御方法は、ディスクに対しデータ記録が可能なパワーのレーザ光を発光素子から出力させ、このときの該レーザ光を受光素子に当て、該受光素子から送られる信号をサンプル・ホールド手段に保持させ、該サンプル・ホールド手段にて生成されたサンプル・ホールド信号を測定させ、該サンプル・ホールド信号と、該ディスクに対しデータ記録を行うときの理論上の信号とを比較して、該発光素子の劣化状態を判定させることを特徴とする。

上記構成により、ディスクに対してデータ記録が行われるときのディスクの記録速度や、ディスクの種類に対応したストラテジ（STRATEGY）に影響されることなく、発光素子の劣化が検出される。発光素子の劣化状態が判ることにより、ディスクに低品質データが記録されるということは回避される。

請求項１２に記載の光ディスク装置の制御方法は、請求項１１に記載の光ディスク装置の制御方法において、前記受光素子の基準電圧値をＫ（ｍＶ）と定め、該受光素子の感度をＮ（ｍＶ／ｍＷ）と定め、前記ディスクに対しデータ記録が可能な前記レーザ光の前記パワーをＸ（ｍＷ）と定め、該ディスクに対しデータ記録を行うときの前記信号の理論電圧値をＺ（ｍＶ）と定めたときに、下記式（１）に基づいて、該信号の該理論電圧値Ｚ（ｍＶ）を求め、前記サンプル・ホールド信号の電圧値Ｙ（ｍＶ）を測定させ、該ディスクに対しデータ記録を行うときの該信号の該理論電圧値Ｚ（ｍＶ）と、該サンプル・ホールド信号の該電圧値Ｙ（ｍＶ）とを比較させて、前記発光素子の劣化状態を判定させることを特徴とする。
Ｚ＝（Ｋ−（Ｎ×Ｘ））・・・式（１）

上記構成により、発光素子の劣化状態の判定は容易に行われる。上記式（１）に基づいて、ディスクに対しデータ記録を行うときの信号の理論電圧値Ｚ（ｍＶ）が求められる。算出された理論電圧値Ｚ（ｍＶ）と、受光素子により実測されサンプル・ホールド手段により生成されたサンプル・ホールド信号の電圧値Ｙ（ｍＶ）とが比較されるので、容易に発光素子の劣化状態が判定される。

請求項１３に記載の光ディスク装置の制御方法は、請求項１２に記載の光ディスク装置の制御方法において、前記レーザ光の前記パワーに対応する前記理論電圧値Ｚ（ｍＶ）と、前記サンプル・ホールド信号の前記電圧値Ｙ（ｍＶ）とを比較させたときに、該レーザ光の該パワーに対応する該理論電圧値Ｚ（ｍＶ）と、該サンプル・ホールド信号の該電圧値Ｙ（ｍＶ）とが略一致した場合に、前記発光素子は正常であると判定させることを特徴とする。

上記構成により、ディスクに対し良好な品質のデータ記録を実行させることが可能となる。発光素子の劣化状態の判定が行われ、発光素子が正常であると判定されたことに基づいて、ディスクに対するデータ記録の開始が可能とされる。発光素子の劣化状態は、光ディスク装置の電源投入時や、ＯＰＣ開始時や、ＲＥＣ開始時などにチェックされる。発光素子が劣化していないと判定された場合にのみ、ディスクに対するデータ記録が可能とされる。「ＲＥＣ」とは、データの記録（recording ）を意味する。

請求項１４に記載の光ディスク装置の制御方法は、請求項１２又は１３に記載の光ディスク装置の制御方法において、前記レーザ光の前記パワーに対応する前記理論電圧値Ｚ（ｍＶ）と、前記サンプル・ホールド信号の前記電圧値Ｙ（ｍＶ）とを比較させたときに、該レーザ光の該パワーに対応する該理論電圧値Ｚ（ｍＶ）と、該サンプル・ホールド信号の該電圧値Ｙ（ｍＶ）とが不一致とされた場合に、前記発光素子は劣化したと判定させることを特徴とする。

上記構成により、ディスクに読取り不能な低品質データが記録されるといったディスク損傷の発生は、回避される。発光素子の劣化状態は、光ディスク装置の電源投入時や、ＯＰＣ開始時や、ＲＥＣ開始時などにチェックされる。発光素子が劣化していないと判定された場合にのみ、ディスクに対するデータ記録が可能とされる。発光素子が劣化したと判定された場合には、ディスクに対するデータの書込み処理もしくは書換え処理などの記録処理は行われない。従って、ディスクに読取り不能な低品質データが記録され、その結果、ディスクがダメージを受けるという不具合の発生は回避される。

請求項１５に記載の光ディスク装置の制御方法は、請求項１２〜１４の何れか１項に記載の光ディスク装置の制御方法において、前記基準電圧値Ｋ（ｍＶ）を３０００（ｍＶ）と定め、前記受光素子の前記感度Ｎ（ｍＶ／ｍＷ）を１０（ｍＶ／ｍＷ）と定めたことを特徴とする。

上記構成により、ＣＤ−Ｒ（Compact Disc-Recordable ）などのデータ書込み可能なディスクに対応する具体的な発光素子判定条件が設定される。詳しく説明すると、下記式（２）に基づいて、ＣＤ−Ｒなどのディスクに対しデータ記録を行うときの信号の理論電圧値Ｚ（ｍＶ）が求められる。算出された理論電圧値Ｚ（ｍＶ）と、受光素子にて実際に測定された信号に基づくサンプル・ホールド信号の電圧値Ｙ（ｍＶ）とが比較されることで、発光素子の劣化状態が判定される。
Ｚ＝（３０００−（１０×Ｘ））・・・式（２）

請求項１６に記載の光ディスク装置の制御方法は、請求項１１〜１５の何れか１項に記載の光ディスク装置の制御方法において、請求項５〜８の何れか１項に記載の光ディスク装置の制御方法と併せて、前記発光素子の劣化状態を判定させることを特徴とする。

上記構成により、ディスクに対するデータ記録の可否判定は、光ディスク装置内にて自動的に行われる。また、ディスクに対してデータ記録が行われるときのディスクの記録速度や、ディスクの種類に対応したストラテジに影響されることなく、発光素子の劣化が検出される。発光素子の劣化状態が判ることにより、ディスクに低品質データが記録される
ということは防止される。

請求項１７に記載の光ディスク装置は、請求項１１〜１６の何れか１項に記載の光ディスク装置の制御方法が実行可能とされたことを特徴とする。

上記構成により、ディスクに対してデータ記録が行われるときのディスクの記録速度や、ディスクの種類に対応したストラテジに影響されることなく、発光素子の劣化が検出される。発光素子の劣化状態が判ることにより、ディスクに低品質データが記録されるということは防止される。

請求項１８に記載の光ディスク装置は、請求項１７に記載の光ディスク装置において、請求項１〜３の何れか１項に記載のサンプル・ホールド回路と、ピーク・ホールド回路と、ボトム・ホールド回路とを備えることを特徴とする。

上記構成により、ディスクに対するデータ記録の可否判定は、確実に行われる。サンプル・ホールド回路によりサンプル・ホールドされピーク・ホールド回路に保持された信号のピーク値と、サンプル・ホールド回路によりサンプル・ホールドされボトム・ホールド回路に保持された信号のボトム値とに基づいて、発光素子から出力されるレーザパワーの不安定度が検出される。これにより、ディスクに対してデータ記録が行われるときのディスクの記録速度や、ディスクの種類に対応したストラテジに影響されることなく、発光素子の劣化が検出される。発光素子の劣化状態が判ることにより、ディスクに低品質データが記録されるということは回避される。

以上の如く、請求項１に記載の発明によれば、ディスクに対するデータ記録の可否判定を良好に行うことができる。サンプル・ホールド回路によりサンプル・ホールドされ、ピーク・ホールド回路に保持された信号のピーク値と、サンプル・ホールド回路によりサンプル・ホールドされ、ボトム・ホールド回路に保持された信号のボトム値とに基づいて、発光素子から出力されるレーザパワーの不安定度を検出させることができる。これにより、ディスクに対するデータ記録の可否判定を行うことができる。

請求項２に記載の発明によれば、マルチプレクサ回路を経由させて、サンプル・ホールド回路から出力された信号を、ピーク・ホールド回路と、ボトム・ホールド回路とに振り分けて供給させることができる。

請求項３に記載の発明によれば、信号のピーク値およびボトム値の演算処理を正確に行うことができる。発光素子の不安定度の検出が正確に行われ、これにより、ディスクに対するデータ記録の可否判定を正確に行うことができる。

請求項４に記載の発明によれば、ディスクに対するデータ記録の可否判定を光ディスク装置内にて自動的に行わせることができる。光ディスク装置の設定当初において、記録可能なディスクが用いられることなく、発光素子から記録用のレーザパワーが出力されて、ディスクから反射されたレーザの戻り光を含むレーザの不安定度が受光素子にて測定される。また、各種ディスクに対応して、記録用のレーザパワーの不安定度が記憶手段に記録される。また、記録用のレーザパワーの大きさ毎に、レーザパワーの不安定度が記憶手段に記録される。また、比較判定手段にて、ＯＰＣを行ったときのレーザパワーを、記憶手段に記録されたレーザパワーの不安定度に照合させて、ディスクに対する記録の可否を判定させる。このようにして、ディスクに対するデータ記録の可否判定を行うことができる。

請求項５に記載の発明によれば、ディスクに対するデータ記録の可否判定を、光ディスク装置内にて自動的に行わせることができる。光ディスク装置の設定当初において、記録可能なディスクが用いられることなく、発光素子から記録用のレーザパワーが出力されて、ディスクから反射されたレーザの戻り光を含むレーザの不安定度が受光素子にて測定される。このとき、ピックアップ装置に装備された発光素子は、ライトストラテジに基づいて発光される。このときのディスクから反射したレーザの戻り光を含むレーザの不安定度を受光素子に測定させる。このようにして、ディスクから反射されたレーザの戻り光を含むレーザの不安定度を測定することができる。また、各種ディスクに対応して、記録用のレーザパワーの不安定度を記憶手段に記録させることができる。また、記録用のレーザパワーの大きさ毎に、レーザパワーの不安定度を記憶手段に記録させることができる。また、比較判定手段にて、ＯＰＣを行ったときのレーザパワーを、記憶手段に記録されたレーザパワーの不安定度に照合させて、ディスクに対する記録の可否を判定させることができる。このようにして、ディスクに対するデータ記録の可否判定を行うことができる。

請求項６に記載の発明によれば、記録可能なディスクへのデータ記録を安定した状態で行うことができるようになる。ＯＰＣを行って決定した記録用のレーザパワーは、光ディスク装置に装備された比較判定手段などでチェックし、安定した記録用のレーザパワーとされているか否かの照合が行われる。記録可能なディスクに対しデータの記録が否と判定されたときに、ピックアップ装置に対するディスクの記録速度が下げられる。ディスクの記録速度が下げられるので、記録可能なディスクに対し、データの記録を安定して行うことができることになる。

請求項７に記載の発明によれば、記録可能なディスクに高品質なデータ記録を行うことができる。比較判定手段の判定に基づいて、記録可能なディスクに対するデータの記録が可とされるから、適正なレーザパワーでディスクにデータの記録を行わせることができる。従って、高品質なデータ記録が行われたディスクを提供することができる。

請求項８に記載の発明によれば、ディスクに低品質のデータが記録され、結果としてディスクが無駄になるということを回避させることができる。ディスクに低品質のデータが記録された場合、ピックアップ装置によって、そのディスクのデータを、再度、読み込もうとしても、ディスクのデータを読み込むことができないことがある。光ディスク装置の比較判定手段において、記録可能なディスクに対してデータの記録が不可と判定されたときに、このディスクに対するデータの記録を禁止させれば、ディスクに低品質のデータが記録されることは、確実に回避される。即ち、ディスクに読取り不能な低品質のデータが記録されることで、ディスクが損傷するということは、確実に防止される。従って、読取り不能な低品質データがディスクに記録され、これによってディスクが損傷し、その結果、ディスクが無駄になるという不具合の発生を確実に防止することができる。

請求項９に記載の発明によれば、各種ディスクに高品質なデータ記録を行える光ディスク装置を提供できる。ディスクから反射されたレーザの戻り光によるレーザの不安定度は、受光素子にて測定される。発光素子から出力されるレーザパワーの不安定度を受光素子で検出させ、レーザパワーの不安定度を記憶手段に登録させることができる。また、ＯＰＣが行われたときのレーザパワーと、記憶手段に記録させたレーザパワーの不安定度とを照合させて、ディスクに対するデータ記録の可否判定を行うことができる。このようなことが行われることにより、ディスクに対し高品質なデータ記録を行うことが可能となる。従って、各種ディスクに高品質なデータ記録を行わせることが可能な光ディスク装置を提供することができる。

請求項１０に記載の発明によれば、ディスクに対するデータ記録の可否判定を確実に行うことができる。発光素子から出力されたレーザパワーの不安定度は、受光素子で測定さ
れる。受光素子で測定されたレーザパワーの不安定度は、信号としてサンプル・ホールド回路に送られる。サンプル・ホールド回路によりサンプル・ホールドされピーク・ホールド回路に保持された信号のピーク値と、サンプル・ホールド回路によりサンプル・ホールドされボトム・ホールド回路に保持された信号のボトム値とに基づいて、発光素子から出力されるレーザパワーの不安定度が検出される。このレーザパワーの不安定度の信号は、記憶手段に送られる。各種ディスクに対応した記録用レーザパワーの不安定度は、記憶手段に記録される。また、記録用のレーザパワーの大きさ毎に、レーザパワーの不安定度は、記憶手段に記録される。また、比較判定手段にて、ＯＰＣを行ったときのレーザパワーを、記憶手段に記録されたレーザパワーの不安定度に照合させて、ディスクに対する記録の可否を判定させる。これにより、ディスクに対するデータ記録の可否判定を確実に行うことができる。

請求項１１に記載の発明によれば、ディスクに対してデータ記録が行われるときのディスクの記録速度や、ディスクの種類に対応したストラテジ（STRATEGY）に影響されることなく、発光素子の劣化を検出することができる。発光素子の劣化状態が判ることにより、ディスクに低品質データが記録されるということを回避させることができる。

請求項１２に記載の発明によれば、発光素子の劣化状態の判定を容易に行うことができる。下記式（１）に基づいて、ディスクに対しデータ記録を行うときの信号の理論電圧値Ｚ（ｍＶ）が求められる。算出された理論電圧値Ｚ（ｍＶ）と、受光素子により実測されサンプル・ホールド手段により生成されたサンプル・ホールド信号の電圧値Ｙ（ｍＶ）とが比較されるので、容易に発光素子の劣化状態を判定することができる。
Ｚ＝（Ｋ−（Ｎ×Ｘ））・・・式（１）

請求項１３に記載の発明によれば、ディスクに対し良好な品質のデータ記録を実行させることができる。発光素子の劣化状態の判定が行われ、発光素子が正常であると判定されたことに基づいて、ディスクに対するデータ記録の開始が可能とされる。発光素子の劣化状態は、光ディスク装置の電源投入時や、ＯＰＣ開始時や、ＲＥＣ開始時などにチェックされる。発光素子が劣化していないと判定された場合にのみ、ディスクに対するデータ記録を可能とさせることができる。

請求項１４に記載の発明によれば、ディスクに読取り不能な低品質データが記録されるといったディスク損傷の発生を回避させることができる。発光素子の劣化状態は、光ディスク装置の電源投入時や、ＯＰＣ開始時や、ＲＥＣ開始時などにチェックされる。発光素子が劣化していないと判定された場合にのみ、ディスクに対するデータ記録を可能とさせる。発光素子が劣化したと判定された場合には、ディスクに対するデータの書込み処理もしくは書換え処理などの記録処理を行わせない。従って、ディスクに読取り不能な低品質データが記録され、その結果、ディスクがダメージを受けるという不具合の発生を回避させることができる。

請求項１５に記載の発明によれば、ＣＤ−Ｒなどのデータ書込み可能なディスクに対応する具体的な発光素子判定条件が設定される。詳しく説明すると、下記式（２）に基づいて、ＣＤ−Ｒなどのディスクに対しデータ記録を行うときの信号の理論電圧値Ｚ（ｍＶ）が求められる。算出された理論電圧値Ｚ（ｍＶ）と、受光素子にて実際に測定された信号に基づくサンプル・ホールド信号の電圧値Ｙ（ｍＶ）とを比較することで、発光素子の劣化状態を判定することができる。
Ｚ＝（３０００−（１０×Ｘ））・・・式（２）

請求項１６に記載の発明によれば、ディスクに対するデータ記録の可否判定を光ディスク装置内にて自動的に行わせることができる。また、ディスクに対してデータ記録が行わ
れるときのディスクの記録速度や、ディスクの種類に対応したストラテジに影響されることなく、発光素子の劣化を検出することができる。発光素子の劣化状態が判ることにより、ディスクに低品質データが記録されるということを防止することができる。

請求項１７に記載の発明によれば、ディスクに対してデータ記録が行われるときのディスクの記録速度や、ディスクの種類に対応したストラテジに影響されることなく、発光素子の劣化を検出することができる。発光素子の劣化状態が判ることにより、ディスクに低品質データが記録されるということを防止することができる。

請求項１８に記載の発明によれば、ディスクに対するデータ記録の可否判定を確実に行うことができる。サンプル・ホールド回路によりサンプル・ホールドされピーク・ホールド回路に保持された信号のピーク値と、サンプル・ホールド回路によりサンプル・ホールドされボトム・ホールド回路に保持された信号のボトム値とに基づいて、発光素子から出力されるレーザパワーの不安定度が検出される。これにより、ディスクに対してデータ記録が行われるときのディスクの記録速度や、ディスクの種類に対応したストラテジに影響されることなく、発光素子の劣化を検出することができる。発光素子の劣化状態が判ることにより、ディスクに低品質データが記録されるということを回避させることができる。

以下に本発明に係る光ディスク装置およびその制御方法の一実施形態を図面に基づいて詳細に説明する。

図１は、本発明に係る光ディスク装置およびその制御方法の一実施形態を示すブロック図である。

光ディスク装置２００は、ＣＤ−Ｒ、ＤＶＤ±Ｒなどの追記型の光ディスクや、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ±ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭなどの書込み消去や書換え可能なタイプの光ディスクなどといった各種光ディスクに対応可能なものとされる。光ディスク装置２００が用いられて、光ディスク１０に記録された情報などのデータ再生が行われる。また、光ディスク装置２００が用いられて、光ディスク１０に情報などのデータ記録が行われる。

光ディスク装置２００内に入れられる光ディスク１０は、円板状のものとして形成されている。ディスクとして、例えば、「ＣＤ−ＲＯＭ」，「ＤＶＤ−ＲＯＭ」などのデータ読出し専用の光ディスクや、「ＣＤ−Ｒ」，「ＤＶＤ−Ｒ」，「ＤＶＤ＋Ｒ」などのデータ追記型の光ディスクや、「ＣＤ−ＲＷ」，「ＤＶＤ−ＲＷ」，「ＤＶＤ＋ＲＷ」，「ＤＶＤ−ＲＡＭ」，「ＨＤ ＤＶＤ」，「Blu-ray Disc」などのデータ書込み／消去やデータ書換え可能なタイプの光ディスクなどが挙げられる。また、ディスクとして、例えば二層の信号面（１１）が設けられ、データ書込み／消去やデータ書換えが可能とされた光ディスク（図示せず）等も挙げられる。光ディスク１０の信号部１１は、金属薄膜などの金属層等により形成されている。金属薄膜などから形成される層の信号面１１に、情報やデータなどが記録される。

光ディスク装置２００内にてデータなどの情報の記録が可能な光ディスク１０においては、光ディスク１０の信号部１１に、データ／情報が光ディスク１０に保存されるためのグルーブ（図示せず）が設けられている。グルーブ（groove）とは、細長いへこみを意味する。円板状光ディスク１０が平面視されたときに、グルーブは、螺旋状に形成されている。光ディスク１０の信号面側から、光ディスク１０を眺めたときに、グルーブは、渦巻状のものとされる。グルーブは、非常に小さいものとされているので、グルーブは、目視不能とされる。図１において、便宜上、破線を用いて、光ディスク１０の信号部１１を示した。

上述した如く、「ＣＤ」は、「Compact Disc」の略称である。また、「ＤＶＤ」は、「Digital Versatile Disc」もしくは「Digital Video Disc」の略称である。また、「ＣＤ−ＲＯＭ」もしくは「ＤＶＤ−ＲＯＭ」の「ＲＯＭ」は、「Read Only Memory」の略称である。「ＣＤ−ＲＯＭ」もしくは「ＤＶＤ−ＲＯＭ」は、データ／情報読出し専用のものである。また、「ＣＤ−Ｒ」または「ＤＶＤ−Ｒ」もしくは「ＤＶＤ＋Ｒ」の「Ｒ」は、「Recordable」の略称である。「ＣＤ−Ｒ」または「ＤＶＤ−Ｒ」もしくは「ＤＶＤ＋Ｒ」は、データ／情報の書込みが可能なものである。また、「ＣＤ−ＲＷ」または「ＤＶＤ−ＲＷ」もしくは「ＤＶＤ＋ＲＷ」の「ＲＷ」は、「Re-Writable 」の略称である。「ＣＤ−ＲＷ」または「ＤＶＤ−ＲＷ」もしくは「ＤＶＤ＋ＲＷ」は、データ／情報の書換えが可能なものである。また、「ＤＶＤ−ＲＡＭ」は、「Digital Versatile Disc Random Access Memory 」の略称である。「ＤＶＤ−ＲＡＭ」は、データ／情報の読み書き／消去が可能なものである。

また、「ＨＤ ＤＶＤ」は、「High Definition DVD 」の略称である。「ＨＤ ＤＶＤ」は、従来のＤＶＤ系列のものと互換性をもたせ、且つ、従来のＤＶＤ系列のディスクよりも記憶容量の大きいものである。従来のＣＤやＤＶＤには、赤色のレーザが用いられていたが、「ＨＤ ＤＶＤ」の光ディスク１０に記録されたデータ／情報が読み出されるときには、青紫色のレーザが用いられる。また、「Blu-ray 」とは、従来のＣＤやＤＶＤで信号の読み書きに用いられていた赤色のレーザに対し、高密度記録が実現されるために採用された青紫色のレーザを意味する。

検査用ディスク（１０）は、光ディスク装置２００において、光ピックアップ装置２０の検査を行うときに用いられるものとされている。光ピックアップ装置２０の検査の初期設定を行うときに、光ピックアップ装置２０の発光素子２１から光ディスク（１０）に向けて記録パルスが出力されてもディスクに影響が及ぼされないものとさせるために、検査用光ディスク（１０）として、アルミ蒸着にて信号面が形成された再生専用のスタンプディスクが用いられている。ここでは、便宜上、再生専用のスタンプディスクとされた検査用光ディスクを符号（１０）で示し、ＣＤ−Ｒなどの記録可能な光ディスクなどを符号１０で示すものとする。

図１に示す光ディスク装置２００は、上記各種光ディスクに対応可能なものとされる。光ディスク装置２００は、各種光ディスクに対して記録／再生が可能なドライブ装置とされている。

光ディスク装置２００内において、例えば音楽鑑賞用ＣＤが再生されるときの光ディスク１０の通常回転数は、約２００〜５００ｒｐｍである。ｒｐｍ（revolutions per minute）とは、１分間あたりの回転数すなわち毎分回転数を意味する。例えば、ＣＤは、線速度一定方式の光ディスクとされているので、光ディスク１０の内周部１５で音楽鑑賞用ＣＤのデータが再生されるときの光ディスク１０の通常回転数は、約５００ｒｐｍである。これに対し、光ディスク１０の外周部１６で音楽鑑賞用ＣＤのデータが再生されるときの光ディスク１０の通常回転数は、約２００ｒｐｍである。

光ディスク１０の内周部１５と、光ディスク１０の外周部１６との間で、音楽鑑賞用ＣＤのデータが再生されるときの光ディスク１０の通常回転数は、光ディスク装置２００内において回転制御が行われることにより、例えば、５００ｒｐｍ、４００ｒｐｍ、３００ｒｐｍ、２００ｒｐｍというように可変する。

近年、光ディスク１０に記録されたデータ／情報の読出し速度や、光ディスク１０にデータ／情報を記録させるときの書込み速度や書換え速度の高速化が要求されている。光デ
ィスク装置２００は、通常のディスク回転数に対し、例えば、１倍速、２倍速、４倍速、８倍速、１２倍速、１６倍速、２０倍速、２４倍速、３２倍速、４８倍速、６４倍速のディスク回転速度で、光ディスク１０にデータ／情報を記録可能なものとされる。これらの速度は、光ディスク１０の種類などにより異なる。また、光ディスク１０にデータ／情報を記録させるときの光ディスク１０の回転方式は、線速度一定方式もしくは角速度一定方式などに基づいて行われる。

線速度一定方式は、ＣＬＶ方式と呼ばれている。「ＣＬＶ」は、「Constant Linear Velocity」の略称である。これに対し、角速度一定方式は、ＣＡＶ方式と呼ばれている。「ＣＡＶ」は、「Constant Angular Velocity 」の略称である。

光ディスク装置２００は、通常のディスク回転数に対し、例えば約１〜６４倍速のディスク回転速度で、光ディスク１０にデータ／情報を記録可能な光ディスク装置２００とされる。例えば、ＣＤ−Ｒの光ディスク１０にデータ／情報が記録されるときに、通常のディスク回転数に対し、約４〜３２倍速のディスク回転速度で、光ディスク１０にデータ／情報を記録可能な光ディスク装置２００とされることが好ましい。

通常のディスク回転数に対し、例えば約１倍速の速度で光ディスク１０にデータ／情報の記録が行われる場合、データの記録工程は、非常に安定した状態で行われる。従って、この光ディスク１０は、高品質なデータ記録が行われた光ディスク１０となる。

また、通常のディスク回転数に対し、例えば約４倍速の速度で光ディスク１０にデータ／情報の記録が行われる場合、データの記録工程に甚だしく時間がかけられることなく、データの記録工程は、通常の安定した状態で行われる。従って、この光ディスク１０は、通常の良好な品質のデータ記録が行われた光ディスク１０となる。また、光ディスク１０へのデータ／情報の記録作業は、異常に長い時間を要することなく通常の時間内で終了する。

また、通常のディスク回転数に対し、例えば約３２倍速の速度で光ディスク１０にデータ／情報の記録が行われる場合、データの記録工程に長い時間がかけられることなく、データの記録工程は、略安定した状態で行われる。従って、この光ディスク１０は、通常の品質のデータ記録が行われた光ディスク１０となる。また、光ディスク１０へのデータ／情報の記録作業は、短い時間内で終了する。

また、通常のディスク回転数に対し、例えば約６４倍速の速度で光ディスク１０にデータ／情報の記録が行われる場合、データの記録工程は迅速に行われる。従って、光ディスク１０へのデータ／情報の記録作業は速やかに終了する。

光ディスク装置２００を構成する各種のものについて詳しく説明する。また、光ディスク装置２００を構成する各種のものの動作などについて詳しく説明する。

図１は、光ディスク装置を示すシステム構成図である。また、図２の（ａ）は、受光素子（ＦＭＤ）から出力されるパワーモニタ信号を示す波形図、（ｂ）は、（ａ）のパワーモニタ信号に対応したサンプル・ホールド信号（ＷＡＰＣ信号）を示す波形図、（ｃ）は、受光素子（ＦＭＤ）から出力されるパワーモニタ信号と、ディスクに記録が行われるときのライトパワー値との関係を示す波形図、（ｄ）は、（ａ）のパワーモニタ信号に対応したピーク・ホールド値（ＰＨ値）と、ボトム・ホールド値（ＢＨ値）とを示す説明図、（ｅ）は、受光素子の電圧（ＦＭＤ電圧）と、Ｄ／Ａコンバータの設定値（ＷＤＡＣ設定値）との関係を示す説明図である。

受光素子２２（図１）は、発光素子２１から出力されるレーザ光をモニタして、発光素子２１を制御するためにフィードバックをかけるフロントモニタダイオード２２とされている。上述した如く、フロントモニタダイオード（Front Monitor Diode ）は、「ＦＭＤ」と略称される。図２（ａ）（ｃ）（ｄ）の如く、受光素子いわゆるＦＭＤは、負の極性をもつものとされている。

光ディスク装置２００は、インタフェース９０を介してパーソナルコンピュータなどのコンピュータ３００と接続可能なものとされている。コンピュータ３００は、光ディスク装置２００の制御方法を実行させるための起動指令を与える情報処理装置である。このコンピュータ３００は、ピックアップ装置２０の検査結果を確認するための表示装置（図示せず）を備えるものとされている。パーソナルコンピュータ（Personal Computer ）は、「ＰＣ」と略称とされている。また、パーソナルコンピュータは、パソコン等と略称されて用いられている。

インタフェース９０は、光ディスク装置２００内のエンコーダ／デコーダ８０に接続され、光ディスク装置２００と、ＰＣなどのコンピュータ３００との間における記録／再生データの送受信を制御する。

光学式ピックアップ装置２０は、光ディスク１０に近接され、光ディスク１０に向けてレーザ光を照射させて、光ディスク１０に情報を記録させたり、光ディスク１０の情報を書き換えたり、光ディスク１０の情報を再生させたり、光ディスク１０の情報を消去させたりする光学ヘッドとされている。光ピックアップ（optical pickup）は、「ＯＰＵ」と略称される。

光学式ピックアップ装置２０は、光ディスク１０にレーザ光を照射させる対物レンズ（図示せず）と、対物レンズなどを介して光ディスク１０の信号面１１へとレーザ光を出射する発光素子２１と、発光素子２１から出射されるレーザ光の記録パワー値もしくは再生パワー値を検出する受光素子２２と、発光素子２１へ電流を送り発光素子２１を発光させるレーザドライバ３０と、光ディスク１０から反射されたレーザ光の一部を受光するフォトディテクタ２３とを少なくとも備えるものとして構成されている。

また、光学式ピックアップ装置２０は、このピックアップ装置２０を光ディスク１０の記録／再生対象の記録トラック面に対応した位置に移動させるスライド機構と、光ディスク１０に出射したレーザ光を記録／再生対象の記録トラックに追従させる制御すなわちトラッキング制御を行うためのトラッキング機構と、光ディスク１０に出射したレーザ光の焦点ずれを補正する制御すなわちフォーカス制御を行うためのフォーカス機構とを備えるものとして構成されている（何れも図示せず）。このように、光ピックアップ装置２０は、スレッド送り制御用のアクチュエータと、トラッキング制御用のアクチュエータと、フォーカス制御用のアクチュエータとを備えるものとされている（何れも図示せず）。

光ピックアップ装置２０の発光素子２１から出力されたレーザ光は、回折格子（図示せず）、ダイバージェントレンズ（図示せず）、レフレクトミラー（図示せず）、対物レンズ（図示せず）などを介して、ディスク１０に照射される。

不図示の回折格子は、光の回折を利用して、発光素子２１から出射されたレーザ光を幾つかに分けるものとされている。詳しく説明すると、回折格子は、光の回折を利用して、発光素子２１から出射されたレーザ光を一つのメインビーム（図示せず）と、二つのサブビーム（図示せず）とに分ける役割を果たす。また、不図示のダイバージェントレンズは、発光素子２１から出射されたレーザ光を集めるものとされる。また、レフレクトミラー（Reflect Mirror）は、「ＲＭ」と略称される。ＲＭは、一部のレーザ光を反射させ、一
部のレーザ光を透過させる。また、上述した如く、対物レンズ（objective lens）は、「ＯＢＬ」と略称される。不図示のＯＢＬは、データ／情報が記録される光ディスク１０の信号部１１へレーザ光を集光させる役割を果たす。

不図示の回折格子、不図示のダイバージェントレンズ、不図示のＲＭ、不図示のＯＢＬなどを経由したレーザ光は、光ディスク１０の信号部１１に対応した最適状態のレーザ光となる。不図示のＯＢＬから光ディスク１０の信号部１１に向けて最適状態のレーザ光が照射される。

検査の対象とされる光ディスク装置２００の光ピックアップ装置２０は、１／４波長板などの偏光用光学素子（図示せず）が設けられていない無偏光光学系のものとされている。１／４波長板などの偏光用光学素子（図示せず）が設けられていない無偏光光学系の光ピックアップ装置２０は、１／４波長板などの偏光用光学素子（図示せず）が設けられた偏光光学系の光ピックアップ装置（図示せず）よりも価格低減化が図られたものとなる。偏光用光学素子が設けられていないものとされている場合、検査用光ディスク（１０）から反射されて発光素子２１に戻されてきた戻り光の影響は、大きいものとなる。

発光素子２１について説明すると、このものを構成するダイオードは、主に二極の半導体素子とされ、レーザダイオードは、二極の半導体素子から構成された発光されるものとされている。また、発光素子２１は、例えば波長が約６５０ｎｍ（ナノメータ）のレーザ光や、波長が約７８０ｎｍのレーザ光などといった異なる波長のレーザ光を出射可能なレーザダイオード２１として形成されている。上述した如く、レーザダイオード（Laser Diode ）は、「ＬＤ」と略称される。

光学式ピックアップ装置２０が用いられて、光ディスク１０にデータ／情報が記録されるときには、高いレーザパワーが必要とされる。そのため、光ディスク１０にデータ／情報が記録されるときには、ＬＤ２１から高エネルギーのレーザ光が出射される。光ディスク１０にデータ／情報が記録されるときには、約数十ｍＷ〜数百ｍＷ（ミリワット）のレーザパワーが必要とされる。このような状態で光学式ピックアップ装置２０のＬＤ２１が使用されると、ＬＤ２１の温度は上昇し、ＬＤ２１は高温状態となる。

光学式ピックアップ装置２０のＬＤ２１から出射されるレーザ光もしくはレーザ光線のパワーは、例えば０．２ｍＷ〜５００ｍＷのパワーとされる。光学式ピックアップ装置２０が用いられて、光ディスク１０に記録されたデータ／情報が読み出されるときには、ＬＤ２１から出射されるレーザ光のパワーは、数ｍＷの少ないパワーで十分とされる。光ディスク１０に記録されたデータ／情報が読み出されるときには、ＬＤ２１から出射されるレーザ光のパワーは、例えば約５ｍＷ前後の少ないパワーで十分とされる。

しかしながら、光学式ピックアップ装置２０が用いられて、光ディスク１０にデータ／情報が記録されるときには、多くのレーザパワーが必要とされる。光ディスク１０にデータ／情報が記録されるときには、光ディスク１０の種類や、光ディスク１０の記録用回転速度などにもよるが、約数十ｍＷ〜数百ｍＷのレーザパワーが必要とされる。このときに、ＬＤ２１の温度は上昇し、ＬＤ２１は高温状態となる。

発光するＬＤ２１から生じた熱により、ＬＤ２１自体もしくはＬＤ２１の周辺の温度が変化する。また、ＬＤ２１における発振波長は、温度に依存するため、ＬＤ２１自体もしくはＬＤ２１の周辺の温度が変化すると、ＬＤ２１から出射されるレーザ光の波長が変動する。ＬＤ２１から出射されるレーザ光の波長が大幅に変動すると、光学式ピックアップ装置２０が用いられて光ディスク１０にデータ／情報が記録されるときに、データ記録品質の低い光ディスクが形成される。また、ＬＤ２１から出射されるレーザ光の波長が大幅
に変動すると、光学式ピックアップ装置２０が用いられて光ディスク１０のデータ／情報が読み取られるときに、読取りエラーが生じることも心配される。このようなことから、レーザ光の波長は、なるべく変動することなく略一定の波長に保たれることが好ましい。

例えばＣＤ用レーザ光の波長は、約７７０〜８０５ｎｍ（ナノメータ）とされる。また、ＤＶＤ用レーザ光の波長は、約６３０〜６７０ｎｍとされる。また、「ＨＤ ＤＶＤ」もしくは「Blu-ray Disc」用レーザ光の波長は、約３９０〜４２０ｎｍとされる。これらの各波長が、各数値範囲内においてなるべく変動することなく略一定の波長に保たれるために、ＬＤ２１の使用動作温度は、例えば約−１０℃を超え８０℃未満、好ましくは約０〜７０℃の範囲内とされる。

ＬＤ２１は、レーザドライバ３０から供給される駆動電流に基づいて、検査用光ディスク（１０）に対して記録または再生を行うためのレーザ光を出射するものとされている。ＬＤ２１の駆動方式として、ノンマルチパルス方式が採用されている。ノンマルチパルス方式とは、スペース区間（図２（ａ））においてはリードパワー値Ｐｒが出力され、マーク区間においてはライトパワー値Ｐｍが出力されるものとされ、１つの記録マークを１つの記録パルスで形成するものとされている。マーク区間における先頭側の所定区間、バイアス値Δをライトパワー値に重畳させてＬＤ２１を駆動させるものも使用可能とされる。バイアス値Δは、ライトパワー値Ｐｍと、リードパワー値Ｐｒとの差分値の数％〜２０％程度とされる。

受光素子２２は、ＬＤ２１の正面側に取り付けられる。ＬＤ２１から光ディスク１０に対して出射されたレーザ光の一部を受光して、この受光量に比例した受光電流を生成するものとされている。この受光電流は、パワーモニタ信号とされる。受光素子２２は、ＬＤ２１の発光出力いわゆるパワー値を観測し、ＡＰＣ（Auto Power Control）を実施するために必要なパワーモニタ信号を生成するためのＦＭＤ２２とされている。パワーモニタ信号は、例えばＩ／Ｖ変換器（図示せず）などを介して電圧に変換されて、複数のサンプル・ホールド回路１０１，１１３に供給される。詳しく説明すると、パワーモニタ信号は、不図示のＩ／Ｖ変換器などを介して電圧に変換されたのちに、第一のサンプル・ホールド回路１０１と、第二のサンプル・ホールド回路１１３とに供給される。Ｉ／Ｖ変換器とは、プロセス電流出力を電圧出力の信号に変換するものである。また、サンプル・ホールド回路は、ＳＨ回路と略称される。「ＳＨ」は、「Sample Hold」の略称である。

レーザドライバ３０は、ＬＤ２１を駆動させてＬＤ２１からレーザ光を出させるレーザ駆動回路３０とされている。また、レーザドライバ３０は、一個の基板の表面もしくは内部において、多くの回路素子が一体として結合されて構成された超小型構造の電子回路とされている。すなわちレーザドライバ３０は、集積回路（ＩＣ）として構成されている。「ＩＣ」は、「Integrated Circuit」の略称である。レーザドライバ３０は、ＬＤ２１を駆動させるものであることから、便宜上、レーザドライバ３０をＬＤドライバ３０と略称する。ＬＤドライバ（ＬＤ Driver ）は、「ＬＤＤ」と略称される。

フォトディテクタ２３は、光ディスク１０からの反射光の一部を受光して、この受光量に比例した受光電流を生成する光検出器２３とされている。この受光電流は、検出信号とされる。フォトディテクタ２３は、光を受けて、その信号を電気信号に変えて、光ピックアップ装置２０のレンズホルダ（図示せず）のサーボ機構（図示せず）を動作させるための信号を出力する。フォトディテクタ２３で生成された検出信号は、Ｉ／Ｖ変換器（図示せず）を介して電圧に変換され、ＴＥ生成回路４１、ＦＥ生成回路４２、ＲＦ生成回路４３にそれぞれ供給される。

「ＴＥ」は、「Tracking Error」の略称である。また、「ＦＥ」は、「Focusing Error
」の略称である。また、「ＲＦ」は、「radio frequency 」の略称である。「ＲＦ」とは、電波と略同じ高い周波数に変換された信号を意味する。また、フォトディテクタは、ＰＤと略称される。「ＰＤ」は、「Photo Detector」の略称である。また、光検出器は「ＰＤＩＣ」とも呼ばれる。「ＰＤＩＣ」は、上述した如く「Photo Diode IC」の略称である。

ＴＥ生成回路４１は、ＰＤ２３で生成された検出信号に基づいて、光ピックアップ装置２０に備えられたトラッキング制御用アクチュエータ（図示せず）を駆動するためのＴＥ信号を生成するものとされている。また、ＦＥ生成回路４２は、ＰＤ２３で生成された検出信号に基づいて、光ピックアップ装置２０に備えられたフォーカス制御用アクチュエータを駆動するためのＦＥ信号を生成するものとされている。また、ＲＦ生成回路４３は、ＰＤ２３で生成された検出信号に基づいて、ＲＦ信号を生成するものとされている。

マルチプレクサ回路５０には、ＴＥ生成回路４１で生成されたＴＥ信号が入力される。また、マルチプレクサ回路５０には、ＦＥ生成回路４２で生成されたＦＥ信号が入力される。また、マルチプレクサ回路５０には、ＲＦ生成回路４３で生成されたＲＦ信号が入力される。また、マルチプレクサ回路５０には、ＳＨ回路１１３から出力されたＷＳＨＯ信号が入力されて供給される。ＷＳＨＯ信号とは、データ記録用サンプル・ホールド信号を意味する。マルチプレクサ回路５０は、システムコントローラ６０からの指令に基づいて、ＴＥ信号、ＦＥ信号、ＲＦ信号、ＷＳＨＯ信号のうち、少なくとも一種以上の信号を出力信号として選択するものとされている。マルチプレクサ回路は、例えば分割入力された各信号を一つにまとめて出力する電気回路を意味する。

ピーク・ホールド回路５１は、マルチプレクサ回路５０において選択された信号のピーク値を保持するものとされている。ピーク・ホールド回路５１に入力されたピーク値は、アナログ値とされている。ピーク・ホールド回路５１に入力されたアナログ値のピーク値は、Ａ／Ｄコンバータ５２を介してアナログ値からデジタル値へと変換されて、システムコントローラ６０に供給される。ピーク・ホールド回路は、ＰＨ回路と略称される。「ＰＨ」は、「Peak Hold 」の略称である。「ＰＨ」は、ＦＭＤ２２から送られるパワーモニタ信号における「Peak Hold 」を意味する（図２（ａ）（ｄ））。

また、上述した如く、Ａ／Ｄコンバータ（Analog to Digital Converter ）とは、アナログ値からデジタル値への変換を行うチップもしくは基板または回路を意味する。また、アナログ（analog）とは、物質やシステムなどの状態を連続的に変化する物理量などによって表現することを意味する。これに対し、デジタル（digital ）とは、物質やシステムなどの状態を離散的な数字や文字などの信号により表現することを意味する。

ボトム・ホールド回路５３（図１）は、マルチプレクサ回路５０において選択された信号のボトム値を保持するものとされている。ボトム・ホールド回路５３に入力されたボトム値は、アナログ値とされている。ボトム・ホールド回路５３に入力されたアナログ値のボトム値は、Ａ／Ｄコンバータ５４を介してアナログ値からデジタル値へと変換されて、システムコントローラ６０に供給される。ボトム・ホールド回路は、ＢＨ回路と略称される。「ＢＨ」は、「Bottom Hold 」の略称である。「ＢＨ」は、ＦＭＤ２２から送られるパワーモニタ信号における「bottom Hold 」を意味する（図２（ａ）（ｄ））。

システムコントローラ６０（図１）は、ＣＰＵ、マイクロプロセッサ、マイクロコンピュータなどとされ、光ディスク装置２００全般のシステム制御を司る制御部６０とされる。「ＣＰＵ」は、「Central Processing Unit 」の略称である。「ＣＰＵ」とは、中央演算装置を意味する。システムコントローラ６０が備える各機能は、ソフトウェアいわゆるプログラムにより実現される。ソフトウェアにより実施される各機能は、システムコント
ローラ６０がアクセス可能なメモリ７０に格納されている。

例えばシステムコントローラ６０は、ＯＰＣ処理機能をファームウェア（プログラム）又はハードウェアによって行わせるものとされている。ファームウェアとは、ハードウェアの基本的な制御が行われるために機器に組み込まれたソフトウェアを意味する。ハードウェアとは、コンピュータを構成する電子回路や周辺機器などの物理的実体のあるものを意味する。ソフトウェアとは、コンピュータが動作されるための手順・命令をコンピュータが理解できる形式で記述され、まとめられたものを意味する。例えば、システムコントローラ６０に備えられた各機能が、ハードウェアいわゆる回路として実現されたものも使用可能とされる。

「ＯＰＣ」とは、ＣＤ−Ｒなどのデータが記録可能な光ディスク１０の内周部１５に、レーザ光による試書きを行うことで、光ピックアップ装置２０のＬＤ２１から適切なパワーのレーザ出力を行わせることを意味する。「ＯＰＣ」は、「Optimum Power Control 」の略称である。

また、システムコントローラ６０は、光ディスク１０におけるデータの記録／再生を行う場合に、光ディスク１０に応じた変調／復調処理を施すために、エンコーダ／デコーダ８０の起動を制御する。

また、システムコントローラ６０は、例えば、ＲＦ信号のピーク値およびボトム値に基づいて所定の記録／再生処理を実行し、ＴＥ信号やＦＥ信号のピーク値およびボトム値に基づいて所定のサーボ処理を実行するものとされている。また、システムコントローラ６０は、複数のＡＰＣ回路１０３，１１５や、ＡＣＣ回路１１２を適宜なタイミングで稼動すべく、次の処理を行うものとされている。なお、「ＡＰＣ」は、「Auto Power Control」の略称である。また、「ＡＣＣ」は、「Automatic Current Control 」の略称である。

システムコントローラ６０は、リードパワー値Ｐｒを一定にさせるためのＡＰＣを実施すべく、リードパワー値Ｐｒの基準となるＡＰＣ用基準値（デジタル値）を、Ｄ／ＡコンバータであるＲＤＡＣ１０２に対して供給する。

また、システムコントローラ６０は、ライトパワー値Ｐｍを一定にさせるためのＡＰＣを実施すべく、ライトパワー値Ｐｍの基準となるＡＰＣ用基準値（デジタル値）を、Ｄ／ＡコンバータであるＷＤＡＣ１１４に対して供給する。

また、システムコントローラ６０は、ＬＤ２１がライトパワー値Ｐｍを出力するときに、ＬＤ２１の駆動電流を一定にさせるためのＡＣＣ（Automatic Current Control ）を実施すべく、基準とするＡＣＣ用基準値（デジタル値）を、Ｄ／ＡコンバータであるＷＤＡＣ１１１に対して供給する。

上述した如く、Ｄ／Ａコンバータ（Digital to Analog Converter ）とは、デジタル値からアナログ値への変換を行うチップもしくは基板または回路を意味する。データ読出し用のＲＤＡＣ１０２と、データ記録用の第一のＷＤＡＣ１１４と、データ記録用の第二のＷＤＡＣ１１１とは、デジタル信号をアナログ信号に変換させるコンバータ手段を構成するものとされている。

また、システムコントローラ６０は、実際の記録時に用いられるライトストラテジ情報を、記憶手段７０いわゆるメモリ７０に記録させておく。ライトストラテジ情報とは、ＲＡＮＤＯＭ＿ＥＦＭなど、記録パルスの所定パターンのことを意味する。システムコントローラ６０は、ライトストラテジ情報に基づいてＬＤ２１を駆動すべく、ＡＰＣ用基準値
やＡＣＣ用基準値を適宜なタイミングで調整する。

ライトストラテジ（Write Strategy）について詳しく説明する。ＣＤやＤＶＤなどの各種メディアに対し、情報などのデータが記録されるときに、各種メディアに対応して書込み方法を変化させることが必要とされる。ＣＤやＤＶＤに装備される記録用ドライブは、使用されるメディアの微妙な違いに合わせて、書込み方法を変えることで、より品質の高い書込みを実現させるために、各種のライトストラテジといった書込み方法を備えるものとされている。「ライトストラテジ」とは、ＣＤやＤＶＤなどの各種メディアに対するデータの書込み方法を意味する。ライトストラテジは、通常、ファームウェア内に収録されている。ファームウェア（Firmware）とは、ハードウェアに組み込まれて動作するプログラムを意味する。また、「ＥＦＭ」とは、８ビットのデータを記録に適した１４ビットのデータ列に置き換えて記録する変調方式を意味する。「ＥＦＭ」は、「eight to fourteen modulation」の略称である。

メモリ７０として、例えばＥＥＰＲＯＭなどのＲＯＭが用いられた。ＲＯＭとは、読出し専用メモリを意味する。「ＲＯＭ」は、「read-only memory」の略称である。ＥＥＰＲＯＭとは、電気的に内容を書き換えることが可能なＲＯＭを意味する。ＥＥＰＲＯＭは、いわゆる不揮発性メモリである。ＥＥＰＲＯＭの変更が行われるときには、通常の電圧よりも高い電圧により行われる。また、ＥＥＰＲＯＭは、記憶された情報を電気的に消去可能なものとされている。「ＥＥＰＲＯＭ」は、「Electronically Erasable and Programmable Read Only Memory」の略称である。前記ＥＥＰＲＯＭに代えて、他のメモリ（図示せず）が用いられたものも使用可能とされる。

例えば前記ＥＥＰＲＯＭに代えて、ＥＰＲＯＭがメモリ（７０）として記憶手段（７０）に用いられたものも使用可能とされる。ＥＰＲＯＭとは、記憶の消去・書込みを何度でも行うことが可能とされるＲＯＭを意味する。ＥＰＲＯＭは、記憶が消去されるときに、読出し時と異なる特殊な方法で行われるものとされている。「ＥＰＲＯＭ」は、「Erasable Programmable Read Only Memory」の略称である。また、前記ＥＥＰＲＯＭや、前記ＥＰＲＯＭに代えて、記憶手段（７０）として、例えばフラッシュメモリ（flash memory）などのその他の記憶手段（図示せず）が用いられたものも使用可能とされる。

システムコントローラ６０に備えられた比較判定手段６５により、メモリ７０に記録されたライトストラテジ情報と、ＬＤ２１から出力される現在のレーザパワーの状態とが比較され、光ディスク１０に対する記録実行の可否判定が行われる。比較判定手段６５は、システムコントローラ６０に入れられたプログラムを構成する比較判定部６５とされている。

エンコーダ／デコーダ８０は、光ピックアップ装置２０の検査においてＬＤ２１を記録パルスで駆動する場合、コンピュータ３００からインタフェース９０を介して供給される検査用記録データに、所定の変調処理を行うものとされている。また、エンコーダ／デコーダ８０は、光ピックアップ装置２０の検査を行うために、検査用光ディスク（１０）を再生するときに、検査用光ディスク（１０）から再生されたＲＦ信号に、所定の復調処理を行うものとされている。復調された後のデータは、インタフェース９０を介してコンピュータ３００に供給可能とされる。例えば光ピックアップ装置２０を用いてＣＤ−Ｒメディアにデータが追記される場合、所定の変調／復調処理として、ＥＦＭ（Eight to Fourteen Modulation）方式と、ＣＩＲＣ（Cross Interleaved Reed-Solomon Code ）方式とが用いられる。

エンコーダ／デコーダ８０の動作について詳しく説明する。エンコーダ／デコーダ８０には、データの読み書きが可能な記憶手段（図示せず）が接続されている。データの読み
書きが可能な記憶手段は、システムコントローラ６０にも接続されている。データの読み書きが可能な記憶手段として、例えばＲＡＭが用いられた。ＲＡＭとは、記憶場所や順序に関係することなく略同一時間でデータにアクセスできる記憶装置を意味する。「ＲＡＭ」は、「random access memory」の略称である。

コンピュータ３００からインタフェース９０を介してデータ再生要求コマンドの信号が送られたときに、ＲＡＭは、エンコーダ／デコーダ８０のデコーダにおいてデコード処理中のデータを一時記憶する。デコード（decode）とは、一定の規則に基づいて符号化されたデータを復号させ、もとのデータを取り出させることを意味する。例えばＣＤメディアのデータフォーマットの場合、変調コードとしてＥＦＭ（８／１４変調）が採用され、誤り訂正符号としてＣＩＲＣが採用されている。エンコーダ／デコーダ８０のデコーダは、ＲＦ生成回路４３にて生成されたＲＦ信号に基づいて、前述の変調コードおよび誤り訂正符号に基づいたデコード処理を行う。また、一時記憶されたデータは、インタフェース９０を介してコンピュータ３００に送信される。

また、エンコーダ／デコーダ８０に接続された不図示のＲＡＭは、コンピュータ３００からインタフェース９０を介して受信された記録データを一時記憶する。ＲＡＭに一時記憶された記録データは、エンコーダ／デコーダ８０のエンコーダにおけるエンコード処理時にアクセスされる。エンコード（encode）とは、一定の規則に基づいてデータを符号化させることを意味する。例えばＣＤメディアのデータフォーマットの場合、ＣＩＲＣ符号化処理や、ＥＦＭ変調処理およびスクランブル処理などがエンコード処理に該当する。

また、エンコーダ／デコーダ８０は、サンプル・ホールド信号（ＲＡＰＣ信号）を一方のＳＨ（Sample Hold ）回路１０１に供給する。サンプル・ホールド信号（ＲＡＰＣ信号）とは、ＳＨ回路１０１に対して、スペース区間（図２（ａ））に対応したパワーモニタ信号を、所定のサンプリング期間分、サンプル・ホールドさせるための制御信号を意味する。このサンプル・ホールド信号（ＲＡＰＣ信号）は、第一のＳＨ回路１０１を制御する第一のサンプル・ホールド信号（ＲＡＰＣ信号）とされている。

また、エンコーダ／デコーダ８０（図１）は、他のサンプル・ホールド信号（ＷＡＰＣ信号）を他方のＳＨ（Sample Hold ）回路１１３に供給する。サンプル・ホールド信号（ＷＡＰＣ信号）とは、ＳＨ回路１１３に対して、マーク区間（図２（ａ））に対応したパワーモニタ信号を、所定のサンプリング期間分、サンプル・ホールドさせるための制御信号を意味する。他のサンプル・ホールド信号（ＷＡＰＣ信号）は、第二のＳＨ回路１１３を制御する第二のサンプル・ホールド信号（ＷＡＰＣ信号）とされている。

また、エンコーダ／デコーダ８０は、ＬＤ２１がライトパワー値Ｐｍを出力するときに、ＡＰＣもしくはＡＣＣの何れか一方の制御を選択すべく、スイッチ１１６に向けてＥＦＭＧ信号を出力させ、スイッチ１１６のＯＮ／ＯＦＦ制御を行う。この結果、ライトパワー信号発生回路１１７から出力されるライトパワー信号ＶＷＤＣとしては、ＡＣＣ回路１１２の出力またはＡＰＣ回路１１５の出力の何れか一方が選択される。

さらに、エンコーダ／デコーダ８０（図１）は、リードパワー値Ｐｒと、ライトパワー値Ｐｍとを有した記録パルスを形成すべく、スイッチ１０５のＯＮ／ＯＦＦを制御するためのＬＤＯＮ信号、スイッチ１１８のＯＮ／ＯＦＦを制御するためのＰＥＯ信号を、各スイッチ１０５，１１８に対して供給する。パワーモニタ信号は、ＬＤ２１の発光出力に対し極性が反転して生成されるため、マーク区間（図２（ａ））のパワー値すなわちライトパワー値Ｐｍ（図２（ｃ））は、スペース区間のパワー値すなわちリードパワー値Ｐｒよりも低いものとなる。

スイッチ１０５に送られるＬＤＯＮ信号（図１）は、スペース区間（図２（ａ））およびマーク区間ともに、スイッチ１０５（図１）をＯＮの状態とさせて電圧をＨレベルとさせる。図１においては、スイッチ１０５に送られる信号として、便宜上、ＬＤＯＮ信号が記載されているが、スイッチ１０５をＯＦＦの状態とさせるときには、スイッチ１０５をＯＦＦの状態にさせるＰＥＯ信号がスイッチ１０５に送られる。

スイッチ１１８に送られるＰＥＯ信号は、スペース区間（図２（ａ））では、スイッチ１１８（図１）をＯＦＦの状態とさせて電圧をＬレベルとさせ、マーク区間（図２（ａ））では、スイッチ１１８（図１）をＯＮの状態とさせて電圧をＨレベルとさせる。図１においては、スイッチ１１８に送られる信号として、便宜上、ＰＥＯ信号が記載されているが、スイッチ１１８をＯＮの状態とさせるときには、スイッチ１１８をＯＮの状態にさせるＰＷＯ信号がスイッチ１１８に送られる。図１に示す各信号は、便宜上、表記されたものである。

光ディスク装置２００の設計仕様などにより、例えばＬＤ２１がライトパワー値Ｐｍを出力するときに、ＡＰＣもしくはＡＣＣの何れか一方の制御を選択すべく、スイッチ１１６に向けてＥＦＭＧ信号を出力させて、スイッチ１１６のＯＮ／ＯＦＦ制御を行わせるといった動作の実行は、前記エンコーダ／デコーダ８０に代えて、例えばシステムコントローラ（６０）が行うものも使用可能とされる。前記スイッチ１０５，１１６，１１８は、スイッチ１０５，１１６，１１８の近傍に備えられた切換制御回路（図示せず）により、ＯＮ／ＯＦＦ制御が行われる。

一方のＳＨ回路１０１は、エンコーダ／デコーダ８０から供給されたサンプル・ホールド信号（ＲＡＰＣ信号）がＨレベルとなる期間中、ＦＭＤ２２より供給されたパワーモニタ信号をサンプル・ホールドする。即ち、一方のＳＨ回路１０１は、サンプリングが行われている期間中に、ＦＭＤ２２で生成されたパワーモニタ信号をサンプル・ホールドする。一方のＳＨ回路１０１によりサンプル・ホールドされ、一方のＳＨ回路１０１から出力される信号をＲＳＨＯ信号とする。ＲＳＨＯ信号とは、データ読出し用サンプル・ホールド信号を意味する。

他方のＳＨ回路１１３は、エンコーダ／デコーダ８０から供給されたサンプル・ホールド信号（ＷＡＰＣ信号）がＨレベルとなる期間中、ＦＭＤ２２より供給されたパワーモニタ信号をサンプル・ホールドする。即ち、他方のＳＨ回路１１３は、サンプリングが行われている期間中に、ＦＭＤ２２で生成されたパワーモニタ信号をサンプル・ホールドする。他方のＳＨ回路１１３によりサンプル・ホールドされ、他方のＳＨ回路１１３から出力される信号をＷＳＨＯ信号とする。このＷＳＨＯ信号は、ＡＰＣ回路１１５と、マルチプレクサ回路５０とに供給される。

一方のＡＰＣ回路１０３は、一方のＳＨ回路１０１においてサンプル・ホールドされたＲＳＨＯ信号と、ＲＤＡＣ１０２によってデジタル値からアナログ値に変換されたＡＰＣ用基準値との差信号を求める。一方のＡＰＣ回路１０３は、この差信号に基づいて、リードパワー値Ｐｒを所定の目標値とすべくＡＰＣを実行する。即ち、一方のＡＰＣ回路１０３は、この差信号に基づいて、リードパワー値ＰｒをＡＰＣ用基準値に応じたパワー値とさせるべくＡＰＣを実行する。一方のＡＰＣ回路１０３は、データ読出し用の第一のＡＰＣ回路１０３とされている。

また、他方のＡＰＣ回路１１５は、他方のＳＨ回路１１３においてサンプル・ホールドされたＷＳＨＯ信号と、ＷＤＡＣ１１４によってデジタル値からアナログ値に変換されたＡＰＣ用基準値との差信号を求める。他方のＡＰＣ回路１１５は、この差信号に基づいて、ライトパワー値Ｐｍを所定の目標値（ＡＰＣ用基準値に応じたパワー値）とすべくＡＰ
Ｃを実行する。即ち、他方のＡＰＣ回路１１５は、この差信号に基づいて、ライトパワー値ＰｍをＡＰＣ用基準値に応じたパワー値とさせるべくＡＰＣを実行する。他方のＡＰＣ回路１１５は、データ記録用の第二のＡＰＣ回路１１５とされている。

ＡＣＣ回路１１２は、システムコントローラ６０によってＷＤＡＣ１１１に設定されたＡＣＣ用基準値に基づいて、ＬＤ２１の駆動電流を一定にさせるべくＡＣＣを実行する。なお、ＡＣＣは、ＦＭＤ２２で生成されたパワーモニタ信号とは無関係に行われる。

リードパワー信号発生回路１０４は、ＡＰＣ回路１０３からのＡＰＣ出力に基づいて、ＦＭＤ２２で観測されたリードパワー値Ｐｒを一定とすべく、リードパワー信号ＶＲＤＣを生成する。このリードパワー信号ＶＲＤＣは、ＬＤＯＮ信号によってスイッチ１０５がＯＮの状態とされた場合に、ＬＤドライバー３０に供給される。

ライトパワー信号発生回路１１７には、スイッチ１１６がＯＮ／ＯＦＦされることにより、ＡＣＣ回路１１２からのＡＣＣ出力またはＡＰＣ回路１１５からのＡＰＣ出力の何れか一方が供給される。そして、ライトパワー信号発生回路１１７は、ＡＣＣ出力またはＡＰＣ出力に基づいて、ＦＭＤ２２で観測されたライトパワー値Ｐｍを一定とすべく、ライトパワー信号ＶＷＤＣを生成する。このライトパワー信号ＶＷＤＣは、例えばＰＷＯ信号によってスイッチ１１８がＯＮの状態とされた場合に、ＬＤドライバー３０に供給される。

ＬＤドライバー３０は、リードパワー信号発生回路１０４から供給されるリードパワー信号ＶＲＤＣと、ライトパワー信号発生回路１１７から供給されるライトパワー信号ＶＷＤＣとに基づいて、ＬＤ２１を駆動させる。この結果、リードパワー値Ｐｒとライトパワー値Ｐｍとを有する記録パルスが、ＬＤ２１から出力される。検査用光ディスク（１０）を再生させる場合には、リードパワー信号発生回路１０４からリードパワー信号ＶＲＤＣのみがＬＤドライバー３０に供給されて、ＬＤ２１が駆動される。

図１に示す如く、光ディスク装置２００は、光ディスク１０に対するデータの記録が行われるときに光ディスク１０に対しレーザを照射させ、且つ、光ディスク１０に記録されたデータが読み込まれるときに光ディスク１０に対しレーザを照射させるＬＤ２１と、ＬＤ２１から出力されたレーザをモニタしてＬＤ２１の制御にフィードバックをかけさせるためのＦＭＤ２２とを有する光ピックアップ装置２０を備えたものとされている。

また、この光ディスク装置２００は、ＦＭＤ２２から送信されるパワーモニタ信号を保持するＳＨ回路１１３と、ＳＨ回路１１３によりサンプル・ホールドされたＷＳＨＯ信号のピーク値を保持するＰＨ回路５１と、ＳＨ回路１１３によりサンプル・ホールドされたＷＳＨＯ信号のボトム値を保持するＢＨ回路５３とを、少なくとも備えるものとして構成されている。

このように光ディスク装置２００が構成されていれば、光ディスク１０にデータが記録されるときに、光ディスク１０に対するデータ記録の可否判定は、光ディスク装置２００内にて良好に行われる。ＳＨ回路１１３によりサンプル・ホールドされＰＨ回路５１に保持されたＷＳＨＯ信号のピーク値と、ＳＨ回路１１３によりサンプル・ホールドされＢＨ回路５３に保持されたＷＳＨＯ信号のボトム値とに基づいて、ＬＤ２１から出力されるレーザパワーの不安定度が検出される。これにより、光ディスク１０に対するデータ記録の可否判定が行われる。

ＦＭＤ２２から出力されたパワーモニタ信号（図１）は、エンコーダ／デコーダ８０から出力されるサンプル・ホールド信号（ＷＡＰＣ）（図１，図２（ｂ））によって、ＳＨ
回路１１３にサンプル・ホールド（Ｓ／Ｈ）される。

ＳＨ回路１１３から出力されたＷＳＨＯ信号は、各信号を一つにして出力するマルチプレクサ回路５０を経由して、ＰＨ回路５１と、ＢＨ回路５３とに供給される。ＳＨ回路１１３から出力されたＷＳＨＯ信号は、ＴＥ信号、ＦＥ信号、ＲＦ信号、ＷＳＨＯ信号などの各信号のうち、少なくとも一種以上の信号を一つにして出力するマルチプレクサ回路５０を経由して、ＰＨ回路５１と、ＢＨ回路５３とに振り分けられて供給される。

ＰＨ回路５１に入力された信号のピーク値は、アナログ値とされている。ＰＨ回路５１に入力されたアナログ値をデジタル値に変換させるピーク値用Ａ／Ｄコンバータ５２が、光ディスク装置２００に設けられている。また、ＢＨ回路５３に入力された信号のボトム値も、同じくアナログ値とされている。ＢＨ回路５３に入力されたアナログ値をデジタル値に変換させるボトム値用Ａ／Ｄコンバータ５４が、光ディスク装置２００に設けられている。第一のＡ／Ｄコンバータ５２と、第二のＡ／Ｄコンバータ５４とは、アナログ信号をデジタル信号に変換させるコンバータ手段を構成するものとされている。

前記各Ａ／Ｄコンバータ５２，５４が光ディスク装置２００に設けられていれば、信号のピーク値およびボトム値の演算処理は正確に行われる。このようにすることで、ＬＤ２１の不安定度の検出が正確に行われる。また、これに伴って、光ディスク１０に対するデータ記録の可否判定が正確に行われる。信号のピーク値およびボトム値の演算処理は、システムコントローラ６０内において行われる。

次に、図１〜図５を用いて、光ディスク装置２００の制御方法が行われる工程に沿って説明する。

図３は、サンプル・ホールドされた信号（ＷＳＨＯ信号）と、ディスクに記録が行われるときのライトパワー値との関係を示す説明図、図４は、レーザパワーの不安定度ＰＢ（ＰＨ−ＢＨ）と、ディスクに記録が行われるときのライトパワー値との関係を示す説明図、図５は、ディスクに対する記録可否の判定が行われる状態を示す説明図である。

図１の如く、光ディスク装置２００は、上記ＬＤ２１と、上記ＦＭＤ２２とを有する上記光ピックアップ装置２０と、上記メモリ７０と、上記システムコントローラ６０内の上記比較判定部６５とを少なくとも備えるものとして構成されている。これらのものを備える光ディスク装置２００を用いて、光ディスク１０に対するデータの記録判定を行う。このような光ディスク装置２００において、光ピックアップ装置２０の自己検査方法が行われる。

ＬＤ２１は、ＣＤ−Ｒなどの光ディスク１０に対するデータの記録を行うときに光ディスク１０に対しレーザ光を照射させ、且つ、ＣＤ−ＲＯＭ，ＣＤ−Ｒなどの光ディスク１０に記録されたデータを読み込むときに光ディスク１０に対しレーザ光を照射させるものとされている。また、ＦＭＤ２２は、ＬＤ２１から出力されるレーザ光をモニタしてＬＤ２１の制御にフィードバックをかけさせるためのものとされている。

メモリ７０は、ＬＤ２１から出力されるレーザパワーの不安定度ＰＢ（ＰＨ−ＢＨ）（図２（ａ）（ｄ），図４，図５）の記録が可能な上記ＥＥＰＲＯＭとされている。不安定度ＰＢ（ＰＨ−ＢＨ）について、図２（ａ）（ｄ），図３を用いて説明すると、不安定度ＰＢ（ＰＨ−ＢＨ）は、ＰＨ（Peak Hold ）値と、ＢＨ（Bottom Hold ）値との差とされる。即ち、不安定度ＰＢ（ＰＨ−ＢＨ）は、ＰＨ値と、ＢＨ値との差とされる信号の不安定量を意味する。

比較判定部６５（図１）は、メモリ７０に記録されたレーザパワーの不安定度ＰＢ（ＰＨ−ＢＨ）（図４）と、ＬＤ２１（図１）から出力される現在のレーザパワーの不安定度ＰＢ（ＰＨ−ＢＨ）（図５）とを比較して、光ディスク１０（図１）に対する記録の可否を判定するものとされている。

このように、光ディスク装置２００は、光ディスク１０に対するデータの記録を行うときに光ディスク１０に対しレーザ光を照射させ、且つ、光ディスク１０に記録されたデータを読み込むときに光ディスク１０に対しレーザ光を照射させるＬＤ２１と、このＬＤ２１から出力されるレーザ光をモニタしてＬＤ２１の制御にフィードバックをかけさせるためのＦＭＤ２２とを有する光ピックアップ装置２０と、ＬＤ２１から出力されるレーザパワーの不安定度ＰＢ（ＰＨ−ＢＨ）（図４）の記録が可能とされたメモリ７０（図１）と、このメモリ７０に記録されたレーザパワーの不安定度ＰＢ（ＰＨ−ＢＨ）（図５）と、ＬＤ２１（図１）から出力される現在のレーザパワーの不安定度ＰＢ（ＰＨ−ＢＨ）（図５）とを比較して、光ディスク１０（図１）に対する記録の可否を判定する比較判定部６５とを備えるものとして構成されている。

このように光ディスク装置２００が構成されていれば、光ディスク１０に対するデータ記録の可否判定は、光ディスク装置２００内にて自動的に行われる。光ディスク装置２００の設定当初において、ＣＤ−Ｒなどの記録可能な光ディスク１０が用いられることなく、ＬＤ２１から記録用のレーザパワーが出力されて、検査用の光ディスク（１０）から反射されたレーザ光の戻り光を含むレーザパワーの不安定度ＰＢ（ＰＨ−ＢＨ）（図４）が、ＦＭＤ２２（図１）にて測定される。

また、ＣＤ−Ｒなどの各種光ディスク１０に対応して、記録用のレーザパワーの不安定度ＰＢ（ＰＨ−ＢＨ）（図４）が、メモリ７０（図１）に記録される。また、記録用のレーザパワーの大きさ毎に、レーザパワーの不安定度ＰＢ（ＰＨ−ＢＨ）（図４）が、メモリ７０（図１）に記録される。また、システムコントローラ６０内の比較判定部６５にて、ＯＰＣを行ったときのレーザパワーを、メモリ７０に記録されたレーザパワーの不安定度ＰＢ（ＰＨ−ＢＨ）（図５）に照合させて、光ディスク１０に対する記録の可否を判定させる。このようにして、光ディスク１０に対するデータ記録の可否判定は行われる。

光ディスク装置２００の制御方法について説明すると、まず、記録が行われるときのレベルのレーザパワーを照射させても影響が及ぼされることのない検査用光ディスク（１０）を光ディスク装置２００に装着させる。検査用光ディスク（１０）として、例えばＣＤ−ＲＯＭなどの読出し専用のスタンプディスクを用いる。

具体的に説明すると、光ディスク装置２００の制御方法を行うときに、スタンプメディアいわゆる通常のＣＤ−ＲＯＭを光ディスク装置２００に入れる。スタンプメディアとされるスタンプＣＤについて簡単に説明すると、スタンプ型が用いられて射出成形法に基づいてＣＤ基盤が形成され、これにアルミ蒸着が行われた後に保護膜が設けられることで、スタンプＣＤいわゆるＣＤ−ＲＯＭが形成される。例えば６０ｍＷの強いパワーのレーザ光が、ＣＤ−ＲＯＭのディスク（１０）の信号部（１１）に照射されても、ＣＤ−ＲＯＭの信号部（１１）に形成されたピットなどは、６０ｍＷのパワーのレーザ光に影響のないものとされている。

光ディスク装置２００内にＣＤ−ＲＯＭを入れた後に、ＣＤ−ＲＯＭをＣＡＶ方式で回転させる。そのときに、トラッキングサーボ回路をＯＦＦの状態とさせて、ＣＤ−ＲＯＭの信号部（１１）に対し、ピックアップ装置２０から照射されるレーザ光をフォーカス合焦させる。また、ピックアップ装置２０から照射されるレーザパワーを記録用パワーである高いパワーに設定させる。このときのレーザパワーは、「ＣＤ−Ｒ＿ＳＴＲＡＴＥＧＹ
」といった書込み方法に基づいて設定される。

検査用光ディスク（１０）を光ディスク装置２００内に収容させて、検査用光ディスク（１０）を回転させるのと略同時に、ＬＤ２１から光ディスク（１０）へとレーザパワーを出力させ、同時にレーザ光をＦＭＤ２２に測定させる。そのときのレーザパワーの不安定度ＰＢ（ＰＨ−ＢＨ）（図４）をメモリ７０（図１）に登録させる。

詳しく説明すると、ピックアップ装置２０のＬＤ２１から照射されるレーザパワー値を、記録用パワー値といった高いパワー値として出力させる際に、ＦＭＤ２２のパワーモニタ信号をＳＨ（Sample Hold ）回路１１３に送らせる。また、これと共に、エンコーダ／デコーダ８０から送られるサンプル・ホールド信号（ＷＡＰＣ信号）を用いて、ＳＨ回路１１３において、サンプル・ホールド（Ｓ／Ｈ）させて生成されるサンプル・ホールド信号（ＷＳＨＯ信号）を、ＰＨ回路５１およびＢＨ回路５３に入力させる。サンプル・ホールド信号（ＷＳＨＯ信号）は、光ディスク１０にデータ記録を行うときのマーク期間のパワーを意味する（図２（ａ），（ｄ））。

図３の如く、各ライトパワー値に応じて、パワーモニタ信号のピーク・ホールド値（ＰＨ値）と、ボトム・ホールド値（ＢＨ値）とを測定する。不安定量としてＰＢ（ＰＨ−ＢＨ）（図４）を用いて、各ライトパワー値に対する判定値との比較を行い、各ライトパワー値に対する記録の可否を予めメモリ７０（図１）に登録させておく。図３〜図５において、三角形状の実線で囲まれた点線の斜線部分全体が、ＰＢ（ＰＨ−ＢＨ）における正常範囲Ｓとされる。ライトパワー値とは、光ディスク１０（図１）に対し記録が行われるときのレーザのパワー値を意味する。

このような作業を行ったのちに、光ディスク装置２００から検査用光ディスク（１０）を取り出す。その後、例えば光ディスク装置２００の出荷が行われる。

次に、例えば光ディスク装置２００の顧客において、光ディスク装置２００を用いて、例えばＣＤ−Ｒなどのデータ記録が可能とされた光ディスク１０にデータを記録させようとした場合、まず光ディスク装置２００内に、ＣＤ−Ｒなどのデータ記録が可能とされた光ディスク１０が入れられる。

データ記録が可能とされた光ディスク１０にデータの記録を行わせる命令が、コンピュータ３００から光ディスク装置２００に与えられると、光ディスク１０に対するＯＰＣ（Optimum Power Control ）が実行される。

上述した如く、ＯＰＣとは、データ記録が可能な光ディスク１０などのメディア内周部１５にデータ／情報が書き込まれるときに、レーザ光によりメディア内周部１５に試書きを行い、光ピックアップ装置２０のＬＤ２１から最適なパワーのレーザ出力を行わせることを意味する。試書きが行われるメディア内周部１５は、記録レーザパワーの校正が行われるときに必要とされる領域である。試書きが行われるメディア内周部は、「ＰＣＡ」と省略される。「ＰＣＡ」は、「Power Calibration Area」の略称である。

ＯＰＣについて詳しく説明すると、ＯＰＣとは、実際のデータ記録に先立って、光ディスク１０から読み出された識別情報に基づき、メモリ７０に記録されている過去のＯＰＣで設定された最適記録パワー値の中で、識別情報に対応づけされた最適記録パワー値の検索を実行することを意味する。光ディスク１０の識別情報として、例えば光ディスクの製造メーカや記録速度などといったものが挙げられる。

追記型光ディスク１０などの記録可能な光ディスク１０に情報のデータ記録などが行わ
れるときには、実際の情報のデータ記録に先立って、システムコントローラ６０の制御のもとに、評価値いわゆるアシンメトリ値βに基づいたＯＰＣが実施される。アシンメトリとは、非対称を意味する。

ＯＰＣについて具体的に説明すると、ＯＰＣとは、光ディスク１０のＰＣＡ部１５に所定のテストデータの記録を行った後に、ＰＣＡ部１５より再生されたテストデータに基づいて得られる評価値いわゆるアシンメトリ値βが、光ディスク１０に応じた基準値いわゆるターゲットβを含む所定範囲内（例：β±１％など）のものとされているか否かを判定して、最適なパワーのレーザ出力を行わせることを意味する。

ＯＰＣが行われた結果、光ディスク装置２００に設定されたレーザパワー値すなわちライトパワー値（図３，図４）は、比較判定部６５（図１）において判定処理にかけられる。比較判定部６５により、ＯＰＣを行ったときのレーザパワーを、予めメモリ７０に記録されたレーザパワーの不安定度ＰＢ（ＰＨ−ＢＨ）（図４）に照合させて、光ディスク１０に対する記録の可否を判定させる（図５）。

このようにして、光ディスク装置２００（図１）の制御方法が行われるものとされていれば、光ディスク１０に対するデータ記録の可否判定は、光ディスク装置２００内にて自動的に行われる。光ディスク装置２００の設定当初において、ＣＤ−Ｒなどの記録可能な光ディスク１０が用いられることなく、ＬＤ２１から記録用のレーザパワーが出力されて、検査用の光ディスク（１０）から反射されたレーザ光の戻り光を含むレーザの不安定度ＰＢ（ＰＨ−ＢＨ）（図４）が、ＦＭＤ２２（図１）にて測定される。このとき、光ピックアップ装置２０に装備されたＬＤ２１は、上記ライトストラテジに基づいて発光される。このときの検査用光ディスク（１０）から反射したレーザの戻り光を含むレーザ光の不安定度をＦＭＤ２２に測定させる。このようにして、光ディスク１０から反射されたレーザの戻り光を含むレーザ光の不安定度ＰＢ（ＰＨ−ＢＨ）（図４）は、精度よく測定される。

また、ＣＤ−ＲＯＭ，ＤＶＤ−ＲＯＭなどの各種の光ディスクに対応して、記録用のレーザパワーの不安定度ＰＢ（ＰＨ−ＢＨ）が、ＥＥＰＲＯＭなどのメモリ７０（図１）に記録される。また、図３および図４の如く、記録用のレーザパワーの大きさ毎に、レーザパワーの不安定度ＰＢ（ＰＨ−ＢＨ）（図４）が、メモリ７０（図１）に記録される。これについて、図３および図４を用いて詳しく説明すると、ライトパワー値の大きさ毎（例：１０ｍＷ，２０ｍＷ，３０ｍＷ，……）に、ライトパワー値の不安定度ＰＢ（ＰＨ−ＢＨ）（図４）は、メモリ７０（図１）に記録される。また、比較判定部６５にて、ＯＰＣを行ったときのレーザパワーを、予めメモリ７０に記録されたレーザパワーの不安定度ＰＢ（ＰＨ−ＢＨ）（図４）に照合させて、光ディスク１０に対する記録の可否を判定させる（図５）。このようにして、光ディスク１０（図１）に対するデータ記録の可否判定は行われる。

比較判定部６５において、記録可能な光ディスク１０に対してデータの記録が否と判定されたときに、光ピックアップ装置２０に対する光ディスク１０の記録速度を下げて、再度、ＯＰＣを行う。即ち、比較判定部６５において、記録可能な光ディスク１０に対してデータの記録が否と判定された場合、光ディスク１０の指定記録速度を下げて、再度、ＯＰＣを行う。

光ディスク装置２００において、指定記録速度は、例えば、３２倍速（３２×）、２４倍速（２４×）、２０倍速（２０×）、１６倍速（１６×）、……というように、設定変更が可能とされている。光ディスク１０が再生されるときの標準速度に対し、記録速度は、標準速度の数倍速〜数十倍速の速度として示されている。

光ディスク１０にデータの記録を行うときに、例えば指定記録速度が３２倍速とされていた場合、光ディスク装置２００に装備された光ディスク１０は、３２倍速という高速で回転させられる。その状態でＯＰＣが行われ、光ディスク１０に対してデータの記録が否と判定された場合、例えば光ディスク１０の記録速度を２４倍速に下げて、再度、ＯＰＣを行う。

また、光ディスク１０にデータの記録を行うときに、例えば指定記録速度が２４倍速とされていた場合、光ディスク装置２００に装備された光ディスク１０は、２４倍速という高速で回転させられる。その状態でＯＰＣが行われ、光ディスク１０に対してデータの記録が否と判定された場合、例えば光ディスク１０の記録速度を２０倍速に下げて、再度、ＯＰＣを行う。

また、光ディスク１０にデータの記録を行うときに、例えば指定記録速度が２０倍速とされていた場合、光ディスク装置２００に装備された光ディスク１０は、２０倍速という高速で回転させられる。その状態でＯＰＣが行われ、光ディスク１０に対してデータの記録が否と判定された場合、例えば光ディスク１０の記録速度を１６倍速に下げて、再度、ＯＰＣを行う。

また、例えば、光ディスク１０の記録速度を、３２倍速→２４倍速→２０倍速→１６倍速……というように、段階をおって徐々に下げてゆくことも可能とされる。

光ディスク１０の記録速度が下げられることにより、記録可能な光ディスク１０へのデータ記録は、安定した状態で行われることとなる。ＯＰＣが行われて決定された記録用のレーザパワーは、光ディスク装置２００に装備された比較判定部６５などによりチェックされ、安定した記録用のレーザパワーとされているか否かの照合が行われる。記録可能な光ディスク１０に対しデータの記録が否と判定されたときに、ピックアップ装置２０に対する光ディスク１０の記録速度が下げられる。光ディスク１０の記録速度が下げられるので、記録可能な光ディスク１０に対し、データの記録は、安定して行われることとなる。

光ディスク１０に対するデータ記録を精度よく行わせるために、光ディスク１０の記録速度を適切な記録速度に下げ、且つ、比較判定部６５において、記録可能な光ディスク１０に対しデータの記録が可と判定されたときに、光ディスク１０に対するデータの記録を行う。

このようにすることで、記録可能な光ディスク１０に高品質なデータ記録が行われる。比較判定部６５の判定に基づいて、記録可能な光ディスク１０に対するデータの記録が可とされるから、適正なレーザパワーで光ディスク１０にデータの記録が行われる。従って、高品質なデータ記録が行われた光ディスク１０を、光ディスク装置２００の使用者等に提供することができる。

決定されたレーザパワーについて、例えばシステムコントローラ６０内の比較判定部６５において記録の可否が判定され、記録が可とされたときに、ＣＤ−Ｒ，ＣＤ−ＲＷ，ＤＶＤ±Ｒ，ＤＶＤ±ＲＷ，ＤＶＤ−ＲＡＭなどの光ディスク形状をした各メディアにデータの記録を行う。例えばシステムコントローラ６０内において記録の可否が判定され、記録が不可とされたときには、光ディスク１０の回転数を下げて記録速度を下げ、再度、ＯＰＣを行い、その場合の記録速度に対応したレーザパワーでもって、メディアに対する記録可否の判定を行う。光ディスク１０の回転数を下げると記録速度が遅くなるが、記録速度が遅いときのほうが、光ディスク１０に対するデータの記録が行われるときのレーザパワーは、低いパワーで十分なものとなる。これにより、ＣＤ−Ｒなどの各種メディアに対
し、記録不良が生じることなくメディアに高品質の記録を行うことが可能となる。

最初にスタンプＣＤいわゆるＣＤ−ＲＯＭを用いてレーザパワーの設定を行うので、光ディスク装置２００の設定当初において、ＣＤ−Ｒなどの光ディスク１０への記録無しに、ＬＤ２１から発せられる記録用レーザパワーの戻り光の影響を受けた信号に基づいて、ディスク１０に記録が行われるときのレーザパワーの不安定量ＰＢ（ＰＨ−ＢＨ）を測定することができる。実際のメディアに対応した記録ストラテジ（ＲＡＮＤＯＭ＿ＥＦＭ）に基づいて、ＬＤ２１が発光され、記録可能なメディアに対する精度よい記録が行われる。

各ライトパワー値（図４）に対し、パワー毎の不安定度ＰＢ（ＰＨ−ＢＨ）は、予めメモリ７０（図１）などの記憶装置に記録されている。現在、光ピックアップ装置２０のＬＤ２１から出力されているレーザパワーは、ＦＭＤ２２により測定されると共にメモリ７０などの記憶装置に記録された各ライトパワー値（図５）と比較されながら調整される。

ＯＰＣが行われて検査されたレーザパワーを、予め記録された不安定度ＰＢ（ＰＨ−ＢＨ）に基づいてチェックする。ＯＰＣが行われたときのレーザパワーの不安定度ＰＢ（ＰＨ−ＢＨ）は、予めメモリ７０（図１）に記録された不安定度ＰＢ（ＰＨ−ＢＨ）（図５）と比較されながらチェックされる。このチェックは、光ディスク１０（図１）に対するデータの記録が行われる前に行う。

このようにすることで、光ディスク１０に対するデータの記録が行われる前に、光ピックアップ装置２０のＬＤ２１から出力される記録用のレーザパワーが、安定したものとされているか否かの照合が可能とされる。従って、光ディスク１０に対する安定した記録が行われる。

この光ディスク装置２００は、システムコントローラ６０内の比較判定部６５において、ＣＤ−Ｒなどの記録可能な光ディスク１０に対しデータの記録が不可と判定されたときに、光ディスク１０に対するデータの記録を実行させないものとされている。すなわち、この光ディスク装置２００は、システムコントローラ６０内の比較判定部６５において、ＣＤ−Ｒなどの記録可能な光ディスク１０に対しデータの記録が不可と判定されたときに、光ディスク１０に対するデータの記録を禁止させるものとされている。

このような光ディスク装置２００が構成されていれば、ＣＤ−Ｒなどの光ディスク１０に低品質のデータが記録され、結果としてＣＤ−Ｒなどの光ディスク１０が無駄になるということは回避される。ＣＤ−Ｒなどの光ディスク１０に低品質のデータが記録された場合、光ピックアップ装置２０によって、その光ディスク１０のデータを、再度、読み込もうとしても、光ディスク１０のデータを読み込むことができないことがある。

しかしながら、光ディスク装置２００の比較判定部６５において、記録可能な光ディスク１０に対してデータの記録が不可と判定されたときに、この光ディスク１０に対するデータの記録を実行させることなく禁止させれば、光ディスク１０に低品質のデータが記録されることは、確実に回避される。即ち、光ディスク１０に読取り不能な低品質のデータが記録されることで、光ディスク１０が損傷するということは、確実に防止される。従って、読取り不能な低品質データが光ディスク１０に記録され、これによって、光ディスク１０が損傷したり、光ディスク１０にダメージが加えられたりされ、その結果、光ディスク１０が無駄になるという不具合の発生は、確実に防止される。

次に、図６，図７に示すフローチャートを用いて、光ディスク装置２００の制御方法が行われる工程を説明する。

図６は、本発明に係る光ディスク装置の制御方法を示すフローチャート、図７は、同じく光ディスク装置の制御方法を示すフローチャートである。

図６および図７に示すフローチャートは、検査用光ディスク（１０）として、ＣＤ−ＲＯＭなどの読出し専用のスタンプディスクを用いて、ディスク１０に対するデータ記録の可否判定を行うための光ディスク装置２００の制御方法を説明するものとされている。

まず、予め、スタンプディスク（１０）を用いてＦＭＤ２２から出力されるパワーモニタ信号のレーザ戻り光の影響を調査し、その結果をメモリ７０に登録させる。パワーモニタ信号のレーザ戻り光の測定が行われ、測定結果が記録されるまでの処理について、図６を用いて説明する。

サーボ機構を用いて、光ピックアップ装置２０全体の位置設定の自動調整を行う（Ｓ６０１）。この動作は、不図示の光ピックアップ装置２０の対物レンズ（図示せず）がオフセットの状態で行われる。

次に、Ｓ６０２の如く、光ディスク（１０）をＣＡＶ方式にて２０００ｒｐｍの回転数で回転させて、光ディスク（１０）の再生が行われるときのレーザパワーの設定を行う。ピックアップ装置２０のレンズ（図示せず）から光ディスク（１０）へ照射されるレーザ光のフォーカス合焦動作を行い、光ディスク（１０）のデータを再生させる。

次に、Ｓ６０３の如く、トラッキングサーボ回路をＯＦＦの状態とさせる。

次に、Ｓ６０４の如く、ＣＤ−Ｒにおける記録速度が２４倍速のものとされたストラテジを設定する。ここでは、指定記録速度の設定は、２４倍速（２４×）とされるが、指定記録速度は、例えば、３２倍速（３２×）、２４倍速（２４×）、２０倍速（２０×）、１６倍速（１６×）、……というように、設定の変更が可能とされている。

また、初期値をＤ／ＡコンバータとされるＷＤＡＣ１１４に設定させる。その後、システムコントローラ６０から、ストラテジ情報を構成するＲＡＮＤＯＭ＿ＥＦＭを出力させる。これにより、光ディスク１０に対する記録が行われるときのレーザパワーが、光ピックアップ装置２０のＬＤ２１から出力される。その後、下記の如く、ＰＨ値、ＢＨ値、ＰＢ値（ＰＨ−ＢＨ）などにより判定された結果をメモリ７０に登録させる。

以下に、光ピックアップ装置２０のＬＤ２１から出力される各レーザパワーの出力値と、光ピックアップ装置２０のＦＭＤ２２により測定され、ＳＨ回路１１３を経由してサンプル・ホールドされた信号（ＷＳＨＯ信号）とを比較して、光ディスク１０に対するデータの記録の可否判定を行う工程について、図７などを用いて説明する。

レーザパワーについて、１０ｍＷから５０ｍＷまで、１ｍＷ刻みに判定を行う。レーザパワーに対する判定値Ｊ＿ＸｍＷを、例えば、Ｊ＿１０ｍＷ，Ｊ＿１１ｍＷ，Ｊ＿１３ｍＷ，……，Ｊ＿４８ｍＷ，Ｊ＿４９ｍＷ，Ｊ＿５０ｍＷというように予め決定する（Ｓ７０１）。前記のものにおいては、レーザパワーの判定は、１ｍＷ刻みに行われるものとされているが、例えばレーザパワーの判定が０．５ｍＷ刻みに行われるものも使用可能とされる。また、例えばレーザパワーの判定が１０ｍＷ刻みに行われるものも使用可能とされる。

また、前記のものにおいては、レーザパワーが刻まれる範囲は、１０ｍＷから５０ｍＷまでとされているが、例えばレーザパワーの刻まれる範囲が１０ｍＷから６０ｍＷまでと
されたものも使用可能とされる。このように、レーザパワーの判定が行われるときのレーザパワーの刻み量や、レーザパワーが刻まれる範囲は、任意に設定可能なものとされる。

まず、判定値Ｊ＿ＸｍＷの「Ｘ」を１０に設定する（Ｓ７０２）。また、レーザパワーの出力を行う（Ｓ７０３）。Ｄ／ＡコンバータとされるＷＤＡＣ１１４には、１０ｍＷに対応した設定が行われる。サンプル・ホールド信号（ＷＳＨＯ信号）のピーク・ホールド値（ＰＨ値）と、ボトム・ホールド値（ＢＨ値）とを測定する（Ｓ７０４）。例えば記録可能な光ディスク１０に記録用のレーザ光を照射させてデータの記録を行うときに、１０ｍＷ以上のレーザパワーが必要とされる。

次に、ピーク・ホールド値（ＰＨ値）と、ボトム・ホールド値（ＢＨ値）との差を求める（Ｓ７０５）。この差は、ピーク・ボトム値（ＰＢ値）とされ、次の式（３）に基づいて定められる。
ＰＢ値＝ＰＨ値−ＢＨ値・・・式（３）
ＰＢ値：ピーク・ボトム値
ＰＨ値：ピーク・ホールド値
ＢＨ値：ボトム・ホールド値

また、判定のための計算が行われ、次の式（４）が成立するときには（Ｓ７０６：ＹＥＳ）、ＸｍＷのレーザパワーで光ディスク１０に対する記録が可能と判定され（Ｓ７０７）、これは、メモリ７０に登録される。最初に、ＰＢ（Ｘ）のＸに、１０が入れられる。Ｘ＝１０ｍＷとされたときに対応して、レーザパワーに対する判定値Ｊ＿１０ｍＷを求める。
ＰＢ（Ｘ）＜Ｊ＿ＸｍＷ・・・式（４）

レーザパワーのピーク・ボトム値（ＰＢ値）と、判定値Ｊ＿ＸｍＷとの大小関係を比較し、判定値Ｊ＿ＸｍＷよりも小さいピーク・ボトム値（ＰＢ値）とされたときには（Ｓ７０６：ＹＥＳ）、光ディスク１０に対するデータの記録が実行可能なレーザパワーとされ、このものは、メモリ７０に記録される（Ｓ７０７）。

また、判定のための計算が行われ、次の式（５）が成立するときには（Ｓ７０６：ＮＯ）、ＸｍＷのレーザパワーでは、光ディスク１０に対する記録が不可能と判定され（Ｓ７０８）、これも、同じくメモリ７０に登録される。
ＰＢ（Ｘ）≧Ｊ＿ＸｍＷ・・・式（５）

レーザパワーのピーク・ボトム値（ＰＢ値）と、判定値Ｊ＿ＸｍＷとの大小関係を比較すると共に照合し、判定値Ｊ＿ＸｍＷよりも大きいピーク・ボトム値（ＰＢ値）とされたときには（Ｓ７０６：ＮＯ）、光ディスク１０に対するデータの記録作業は、不可とされ、このものも、メモリ７０に記録される（Ｓ７０８）。このようにして、ＰＢ（Ｘ）と、Ｊ＿ＸｍＷとの大小比較が行われる。

上記Ｘが、５０以外のものとされた場合（Ｓ７０９：ＮＯ）、Ｘに１が加えられる。Ｘ＝１０ｍＷとされるものに１ｍＷを加え、次のＷＤＡＣ１１４の設定に対応した数値設定を行う。ＸｍＷ（＝１０ｍＷ）に１ｍＷを加えた計算を行い、新たにＸ＝１１ｍＷと設定される。Ｓ７１０に示される如く、設定値として繰り返して入力される数値は、次の式（６）に基づいて定められる。
ＸｍＷ＝ＸｍＷ＋１ｍＷ・・・式（６）

このように、ＸｍＷに１ｍＷ刻みの数値が加算される繰返し計算が行われる。ピーク・ボトム値ＰＢ（Ｘ）と、判定値Ｊ＿ＸｍＷとの「Ｘ」は、ここでは、１０，１１，１２，
……，４８，４９，５０といった１０から５０までの任意の整数とされる。

Ｘ＝１１ｍＷと設定されて、再び、Ｓ７０３→Ｓ７０４→Ｓ７０５に示す工程が行われ、ピーク・ボトム値（ＰＢ）と、判定値Ｊ＿ＸｍＷとの大小関係が比較される（Ｓ７０６）。Ｓ７０７またはＳ７０８の工程を経た後に、Ｓ７０９の工程が行われる。Ｘ＝１１ｍＷとされているので、Ｘの設定値は５０ｍＷと異なるものとされ（Ｓ７０９：ＮＯ）、Ｓ７１０の工程すなわち前記式（６）に示す計算が行われ、新たにＸ＝１２ｍＷと設定される。以下、再び、Ｓ７０３→Ｓ７０４→Ｓ７０５に示す工程が行われ、判定値Ｊ＿ＸｍＷよりも小さいピーク・ボトム値（ＰＢ値）とされたときには（Ｓ７０６：ＹＥＳ）、Ｓ７０７に示す工程が再び行われ、各ピーク・ボトム値（ＰＢ値）、各判定値Ｊ＿ＸｍＷなどが、メモリ７０に登録される（Ｓ７０７）。

判定値Ｊ＿ＸｍＷよりも大きいピーク・ボトム値（ＰＢ値）とされた場合（Ｓ７０６：ＮＯ）、その設定で光ディスク１０に対するデータの記録は、不可と判定される。その場合、光ディスク１０に対するデータの記録が不可と判定されたライトパワー値よりも１ｍＷほど低いライトパワー値であって、且つ、ＰＢ値が正常範囲Ｓ内（図５）のライトパワー値とされたときに、光ディスク１０に対するデータの記録が可能と判定される。

図７に示す上記繰返し計算が行われて、ＥＥＰＲＯＭのメモリ７０内に、図８に例示されるテーブルが生成される。

図８は、記憶手段内に構成されたテーブルの一例を示す説明図である。

このようなテーブルは、例えば、１０ｍＷ：ＯＫ，１１ｍＷ：ＯＫ，１２ｍＷ：ＯＫ，……，１８ｍＷ：ＯＫ，１９ｍＷ：ＯＫ，２０ｍＷ：ＯＫ，２１ｍＷ：ＮＧ，２２ｍＷ：ＮＧ，２３ｍＷ：ＮＧ，……，４８ｍＷ：ＮＧ，４９ｍＷ：ＮＧ，５０ｍＷ：ＮＧといったように構成される。

例えば、図７に示す上記一連の繰返し工程が行われ、レーザパワーのピーク・ボトム値（ＰＢ）と、判定値Ｊ＿２１ｍＷとの大小関係が、比較されると共に照合され、判定値Ｊ＿２１ｍＷ以上でピーク・ボトム値（ＰＢ値）がＮＧとされた場合、ライトパワー値が２１ｍＷの場合では、光ディスク１０に対するデータの記録は、不可と判定される。この場合、ライトパワー値を２０ｍＷに設定させて、光ディスク１０に対するデータの記録を行う。

このようなケースは、例えば図５に示す実線Ｌ２０のものに相当する。光ディスク（１０）に対するＯＰＣが行われた結果、２０ｍＷを超えるレーザパワーにより、例えば２４倍速という高速で回転された光ディスク１０に、データの記録が不安定に行われるということは回避される。例えば光ディスク１０の回転速度を２０倍速に下げ、ライトパワー値を２０ｍＷもしくは２０ｍＷ以下に設定させて、光ディスク１０に対する安定したデータの記録を行う。

また、図７に示す上記繰返し計算が行われて、ＥＥＰＲＯＭのメモリ７０内に、図９に例示されるテーブルが生成された場合について説明する。

図９は、記憶手段内に構成されたテーブルの他の例を示す説明図である。

図９の如く、メモリ７０内に、１０ｍＷ：ＯＫ，１１ｍＷ：ＯＫ，１２ｍＷ：ＯＫ，……，３８ｍＷ：ＯＫ，３９ｍＷ：ＯＫ，４０ｍＷ：ＯＫ，４１ｍＷ：ＮＧ，４２ｍＷ：ＮＧ，４３ｍＷ：ＮＧ，……，４８ｍＷ：ＮＧ，４９ｍＷ：ＮＧ，５０ｍＷ：ＮＧといった
テーブルが構成される。

例えば、図７に示す上記一連の繰返し工程が行われ、レーザパワーのピーク・ボトム値（ＰＢ）と、判定値Ｊ＿４１ｍＷとの大小関係が、比較されると共に照合され、判定値Ｊ＿４１ｍＷ以上でピーク・ボトム値（ＰＢ値）がＮＧとされた場合、ライトパワー値が４１ｍＷの場合では、光ディスク１０に対するデータの記録は、不可と判定される。この場合、ライトパワー値を４０ｍＷに設定させて、光ディスク１０に対するデータの記録を行う。

このようなケースは、例えば図５に示す実線Ｌ４０のものに相当する。光ディスク（１０）に対するＯＰＣが行われた結果、４０ｍＷを超えるレーザパワーにより、例えば３２倍速という高速で回転された光ディスク１０に、データの記録が不安定に行われるということは回避される。例えば光ディスク１０の回転速度を２４倍速に下げ、ライトパワー値を４０ｍＷもしくは４０ｍＷ以下に設定させて、光ディスク１０に対する安定したデータの記録を行う。

図７に示す上記一連の繰返し工程が行われ、Ｘ＝５０ｍＷとされたときには（Ｓ７０９：ＹＥＳ）、上記一連の繰返し工程は、終了する。光ディスク装置２００（図１）の設計仕様などにより、ピックアップ装置２０のＬＤ２１から出力されるレーザパワーは、５０ｍＷを上限として設定されている。光ディスク１０または光ディスク装置２００に悪影響が及ぼされないライトパワー値が、レーザパワーの上限値とされる。光ディスク装置２００の設計仕様などにより、例えばピックアップ装置２０のＬＤ２１から出力されるレーザパワーが、６０ｍＷを上限として設定されたものも使用可能とされる（図５：Ｌ６０）。

図６，図７のフローチャートに示す一連の工程が終了することで、ディスク１０に対するデータの記録の可否判定を行うための光ディスク装置２００の制御方法が終了する。

次に、データ記録が可能な光ディスク１０にデータが記録されるときの前工程について、図１０を用いて説明する。

図１０は、ディスクに記録が行われるための条件設定が行われる状態を示すフローチャートである。

例えば光ディスク装置２００の顧客において、光ディスク装置２００を用いて、データ記録が可能な光ディスク１０に精度よくデータを記録させるために、予め、光ディスク装置２００内において、条件設定工程が行われる。まず、光ディスク装置２００内に、ＣＤ−Ｒなどのデータ記録が可能とされた光ディスク１０が入れられる。

すると、光ディスクの種類に対応して、光ディスク装置２００内において、指定記録速度の設定が行われる（Ｓ１００１）。指定記録速度は、３２倍速（３２×）、２４倍速（２４×）、２０倍速（２０×）、１６倍速（１６×）と設定されている。光ディスク装置２００において、指定記録速度は、設定変更が可能なものとされている。光ディスク装置２００内に入れられたＣＤ−Ｒメディアの光ディスク１０に対応して、指定記録速度は、２４倍速（２４×）に設定された。

次に、光ディスク装置２００内において、光ディスク１０に対するＯＰＣが自動実行され、光ピックアップ装置２０のＬＤ２１から出力されるレーザパワーが決定される（Ｓ１００２）。次に、現在のレーザパワーと、上記判定値Ｊ＿ＸｍＷの可否情報との照合が行われる。ＯＰＣにより決定されたレーザパワーに対し、メモリ７０内に記録された図８または図９に例示される上記テーブルに基づいて、光ディスク１０に対するデータの記録が
可とされたものか、又は、否とされたものかといった比較が行われ、光ディスク１０に対するデータの記録可否の判定が行われる（Ｓ１００３）。

前記照合工程において、光ディスク１０に対するデータの記録が否と判定された場合（Ｓ１００４：ＮＯ）、前記指定記録速度は下げられる（Ｓ１００５）。２４倍速（２４×）に設定された記録速度は、２０倍速（２０×）に下げられる。再び、Ｓ１００２に示すレーザパワーの設定工程と、Ｓ１００３に示す照合工程とが行われる。前記照合工程において、光ディスク１０に対するデータの記録が可能と判定された場合（Ｓ１００４：ＹＥＳ）、設定された各条件に基づいて、光ディスク１０に対するデータの記録が行われる。

記録速度が２０倍速（２０×）に下げられた条件で、前記照合工程（Ｓ１００３）が行われ、そのときに、光ディスク１０に対するデータの記録が否と判定された場合（Ｓ１００４：ＮＯ）、指定記録速度は、再び下げられる（Ｓ１００５）。２０倍速（２０×）に設定された記録速度は、１６倍速（１６×）に下げられる。また、再び、Ｓ１００２に示すレーザパワーの設定工程と、Ｓ１００３に示す照合工程とが行われる。前記照合工程において、光ディスク１０に対するデータの記録が可能と判定された場合（Ｓ１００４：ＹＥＳ）、設定された各条件に基づいて、光ディスク１０に対するデータの記録が行われる。図１０に示す判定作業が終了して、光ディスク１０に対するデータの記録が可能と判定されたのちに、光ディスク１０に対するデータの記録が実行される。

上記光ディスク装置２００（図１）は、上述した光ディスク装置２００の制御方法が実行可能なものとされている。上記光ディスク装置２００が構成されていれば、ＣＤ−Ｒなどの各種光ディスク１０に高品質なデータ記録を行える光ディスク装置２００を、光ディスク装置２００の組立メーカや、光ディスク装置２００の使用者等に提供することができる。

光ディスク１０から反射されたレーザの戻り光によるレーザ光の不安定度は、ＦＭＤ２２にて測定される。ＬＤ２１から出力されるレーザパワーの不安定度がＦＭＤ２２で検出され、レーザパワーの不安定度がＥＥＰＲＯＭなどのメモリ７０に登録される。また、ＯＰＣが行われたときのレーザパワーと、メモリ７０に記録されたレーザパワーの不安定度とが照合されて、光ディスク１０に対するデータ記録の可否判定が行われる。これらの工程が行われたのちに、光ディスク１０に対してデータ記録が可と判定されたときに、光ディスク１０にデータ記録が実行される。このようなことが行われることにより、光ディスク１０に対し高品質なデータ記録が行われることとなる。従って、ＣＤ−Ｒなどの各種光ディスク１０に高品質なデータ記録を行わせることが可能な光ディスク装置２００を、光ディスク装置２００の組立メーカや、光ディスク装置２００の使用者等に提供することができる。

また、上記光ディスク装置２００の制御方法が実行可能な前記光ディスク装置２００は、上記ＳＨ回路１１３と、上記ＰＨ回路５１と、上記ＢＨ回路５３とを備えるものとされている。

このように光ディスク装置２００が構成されていれば、光ディスク１０に対するデータ記録の可否判定は、確実に行われる。ＬＤ２１から出力されたレーザパワーの不安定度は、ＦＭＤ２２で測定される。ＦＭＤ２２で測定されたレーザパワーの不安定度は、パワーモニタ信号としてＳＨ回路１１３に送られる。ＳＨ回路１１３によりサンプル・ホールドされＰＨ回路５１に保持されたＷＳＨＯ信号のＰＨ値（図２（ａ）（ｄ））と、ＳＨ回路１１３によりサンプル・ホールドされＢＨ回路５３に保持されたＷＳＨＯ信号のＢＨ値（図２（ａ）（ｄ））とに基づいて、ＬＤ２１から出力されるレーザパワーの不安定度ＰＢ（ＰＨ−ＢＨ）（図２（ａ）（ｄ），図３，図４）が検出される。

このレーザパワーの不安定度ＰＢ（ＰＨ−ＢＨ）の信号は、メモリ７０（図１）に送られる。ＣＤ−Ｒなどの各種光ディスク１０に対応した記録用レーザパワーの不安定度ＰＢ（ＰＨ−ＢＨ）は、メモリ７０に記録される。また、記録用のレーザパワーの大きさ毎に、レーザパワーの不安定度ＰＢ（ＰＨ−ＢＨ）は、メモリ７０に記録される。また、比較判定部６５にて、ＯＰＣを行ったときのレーザパワーを、メモリ７０に記録されたレーザパワーの不安定度ＰＢ（ＰＨ−ＢＨ）に照合させて（図５）、光ディスク１０に対する記録の可否を判定させる。これにより、光ディスク１０に対するデータ記録の可否判定は、確実に行われる。

次に、図１，図２，図１１，図１２に基づき、ＬＤ２１の劣化の判定を行うときの光ディスク装置２００の制御方法について説明する。

図１１の（ａ）は、受光素子（ＦＭＤ）から出力される信号を示す波形図、（ｂ）は、（ａ）の信号に対応したサンプル・ホールド信号（ＷＡＰＣ信号）を示す波形図、（ｃ）は、（ａ）の信号に対応した電圧を示す説明図である。また、図１２の（ａ）は、正常な受光素子（ＦＭＤ）から出力される信号を示す波形図、（ｂ）は、劣化した受光素子（ＦＭＤ）から出力される信号を示す波形図、（ｃ）は、（ａ）又は（ｂ）の信号に対応したサンプル・ホールド信号（ＷＡＰＣ信号）を示す波形図、（ｄ）は、（ａ）の信号に対応した正常電圧を示す説明図、（ｅ）は、（ｂ）の信号に対応した異常電圧を示す説明図である。

図１１に示すものにおいて、図２を用いて説明したものと同一とされるものについては、その詳細な説明を省略した。また、図１２に示すものにおいて、図２を用いて説明したものと同一とされるものについては、その詳細な説明を省略した。図２（ａ）（ｄ）には、パワーモニタ信号のマーク期間のピーク・ホールド値（ＰＨ値）及びボトム・ホールド値（ＢＨ値）が示されているが、図１１（ａ）（ｃ）及び図１２（ａ）（ｄ）には、パワーモニタ信号のマーク期間の平均値が示されている。

以下の光ディスク装置２００の制御方法は、光ピックアップ装置２０を構成するＬＤ２１の劣化状態を判定するための光ディスク装置２００の判定方法とされる。

先ず、光ディスク１０（図１）に対しデータ記録が可能なパワーのレーザ光をＬＤ２１から出力させる。このときのレーザ光をＦＭＤ２２に当てる。次に、ＦＭＤ２２から送られるパワーモニタ信号をＳＨ回路１１３に保持させる。ＦＭＤ２２から出力されたパワーモニタ信号（図１，１１（ａ），１２（ａ）（ｂ））は、エンコーダ／デコーダ８０（図１）から出力されるサンプル・ホールド信号（ＷＡＰＣ）（図１，図１１（ｂ），図１２（ｃ））によって、ＳＨ回路１１３にサンプル・ホールド（Ｓ／Ｈ）される。

次に、ＳＨ回路１１３にて生成されたＷＳＨＯ信号の電圧値を、システムコントローラ６０に測定させる。具体的に説明すると、図１１（ａ）に示す記録用マーク区間のレーザパワー値すなわち記録用平均電圧値（図１１（ｃ））を、システムコントローラ６０（図１）に測定させる。次に、ＷＳＨＯ信号の電圧値と、光ディスク１０に対しデータ記録を行うときに必要とされる理論上の信号の電圧値とを比較して、ＬＤ２１の劣化状態を判定させる。光ピックアップ装置２０を構成するＦＭＤ２２の感度に応じて、ＷＤＡＣ１１１，１１４における信号の電圧値と、それに対応するＷＳＨＯ信号の電圧値とを比較して、ＬＤ２１の劣化状態を検出する。

これにより、光ディスク１０に対してデータ記録が行われるときの光ディスク１０の記録速度や、光ディスク１０の種類に対応した記録用レーザパワーのストラテジ（STRATEGY
）に影響されることなく、ＬＤ２１の劣化が検出される。また、記録用レーザパワーのパルス幅（図２（ａ）〜（ｃ），図１１（ａ）（ｂ），図１２（ａ）〜（ｃ））に影響されることなく、ＬＤ２１（図１）の劣化が検出される。ＬＤ２１の劣化状態が判ることにより、ＣＤ−Ｒなどの光ディスク１０に低品質データが記録されるということは回避される。

ＦＭＤ２２の基準電圧値（Vref）をＫ（ｍＶ）と定める。また、ＦＭＤ２２の感度をＮ（ｍＶ／ｍＷ）と定める。また、光ディスク１０に対しデータ記録が可能なレーザ光のパワーをＸ（ｍＷ）と定める。また、光ディスク１０に対しデータ記録を行うときの信号の理論電圧値をＺ（ｍＶ）と定める。このように各種のものを定めたときに、下記式（１）に基づいて、データ記録用信号の理論電圧値Ｚ（ｍＶ）を求める。
Ｚ＝（Ｋ−（Ｎ×Ｘ））・・・式（１）

また、サンプル・ホールド信号（ＷＳＨＯ信号）の電圧値Ｙ（ｍＶ）をシステムコントローラ６０に測定させる。システムコントローラ６０内の比較判定部６５において、光ディスク１０に対しデータ記録を行うときの信号の理論電圧値Ｚ（ｍＶ）と、ＷＳＨＯ信号の電圧値Ｙ（ｍＶ）とを比較させる。また、システムコントローラ６０内の比較判定部６５において、ＬＤ２１の劣化状態を判定させる。

式（１）が用いられることにより、ＬＤ２１の劣化状態の判定は容易に行われる。上記式（１）に基づいて、光ディスク１０に対しデータ記録を行うときの信号の理論電圧値Ｚ（ｍＶ）が求められる。算出された理論電圧値Ｚ（ｍＶ）と、ＦＭＤ２２により実測されＳＨ回路１１３により生成されたＷＳＨＯ信号の電圧値Ｙ（ｍＶ）とは、システムコントローラ６０内の比較判定部６５にて比較される。従って、容易にＬＤ２１の劣化状態が判定される。

システムコントローラ６０内の比較判定部６５に、レーザ光のパワーに対応する理論電圧値Ｚ（ｍＶ）と、ＷＳＨＯ信号の電圧値Ｙ（ｍＶ）とを比較させたときに、レーザ光のパワーに対応する理論電圧値Ｚ（ｍＶ）と、ＷＳＨＯ信号の電圧値Ｙ（ｍＶ）とが略一致した場合に、ＬＤ２１は、劣化しておらず正常であると、システムコントローラ６０内の比較判定部６５に判定させる。

詳しく説明すると、図１２（ａ）に示す記録用マーク区間のレーザパワー値すなわち記録用の正常な電圧値（図１２（ｃ））が、システムコントローラ６０（図１）にて測定される。システムコントローラ６０内の比較判定部６５に、レーザ光のパワーに対応する理論電圧値Ｚ（ｍＶ）と、記録用マーク区間の電圧値（図１２（ａ）（ｃ））とを比較させたときに、レーザ光のパワーに対応する理論電圧値Ｚ（ｍＶ）と、記録用マーク区間の電圧値とが略一致する場合に、ＬＤ２１（図１）は、劣化しておらず正常であると、システムコントローラ６０内の比較判定部６５に判定させる。

好ましくは、システムコントローラ６０内の比較判定部６５に、レーザ光のパワーに対応する理論電圧値Ｚ（ｍＶ）と、ＷＳＨＯ信号の電圧値Ｙ（ｍＶ）とを比較させたときに、レーザ光のパワーに対応する理論電圧値Ｚ（ｍＶ）と、ＷＳＨＯ信号の電圧値Ｙ（ｍＶ）とが一致した場合に、ＬＤ２１は、劣化しておらず正常であると、システムコントローラ６０内の比較判定部６５に判定させる。

これにより、光ディスク１０に対し良好な品質のデータ記録を実行させることが可能となる。システムコントローラ６０内の比較判定部６５にて、ＬＤ２１の劣化状態の判定が行われ、システムコントローラ６０内の比較判定部６５で、ＬＤ２１が劣化しておらず正常であると判定されたことに基づいて、光ディスク１０に対するデータ記録の開始が可能
とされる。ＬＤ２１の劣化状態は、光ディスク装置２００の電源投入時や、ＯＰＣ開始時や、ＲＥＣ開始時などにチェックされる。システムコントローラ６０内の比較判定部６５にて、ＬＤ２１が劣化していないと判定された場合にのみ、光ディスク１０に対するデータ記録が可能とされる。上述した如く、「ＲＥＣ」とは、データの記録（recording ）を意味する。

システムコントローラ６０内の比較判定部６５に、レーザ光のパワーに対応する理論電圧値Ｚ（ｍＶ）と、ＷＳＨＯ信号の電圧値Ｙ（ｍＶ）とを比較させたときに、レーザ光のパワーに対応する理論電圧値Ｚ（ｍＶ）と、ＷＳＨＯ信号の電圧値Ｙ（ｍＶ）とが甚だしくかけ離されて不一致とされた場合に、ＬＤ２１は劣化したと、システムコントローラ６０内の比較判定部６５に判定させる。

詳しく説明すると、図１２（ｂ）に示す記録用マーク区間のレーザパワー値すなわち記録用の異常な電圧値（図１２（ｅ））が、システムコントローラ６０（図１）にて測定される。図１２（ｅ）に示す電圧波形は、正常な電圧波形とされず異常電圧波形とされている。システムコントローラ６０内の比較判定部６５に、レーザ光のパワーに対応する理論電圧値Ｚ（ｍＶ）と、記録用マーク区間の電圧値（図１２（ｂ）（ｅ））とを比較させたときに、レーザ光のパワーに対応する理論電圧値Ｚ（ｍＶ）と、記録用マーク区間の電圧値とが甚だしくかけ離されて不一致とされる場合に、ＬＤ２１（図１）は劣化したと、システムコントローラ６０内の比較判定部６５に判定させる。

好ましくは、システムコントローラ６０内の比較判定部６５に、レーザ光のパワーに対応する理論電圧値Ｚ（ｍＶ）と、ＷＳＨＯ信号の電圧値Ｙ（ｍＶ）とを比較させたときに、レーザ光のパワーに対応する理論電圧値Ｚ（ｍＶ）と、ＷＳＨＯ信号の電圧値Ｙ（ｍＶ）とが不一致とされた場合に、ＬＤ２１は劣化したと、システムコントローラ６０内の比較判定部６５に判定させる。

これにより、光ディスク１０に読取り不能な低品質データが記録されるといったディスク損傷の発生は、回避される。ＬＤ２１の劣化状態は、光ディスク装置２００の電源投入時や、ＯＰＣ開始時や、ＲＥＣ開始時などに、システムコントローラ６０内の比較判定部６５にてチェックされる。システムコントローラ６０内の比較判定部６５で、ＬＤ２１の劣化状態の判定が行われ、その結果、ＬＤ２１が劣化していないと判定された場合にのみ、光ディスク１０に対するデータ記録が可能とされる。

システムコントローラ６０内の比較判定部６５で、ＬＤ２１の劣化状態の判定が行われ、その結果、ＬＤ２１が劣化したと判定された場合には、光ディスク１０に対するデータの書込み処理もしくは書換え処理などの記録処理は行われない。また、光ディスク１０のデータ読取り処理も行われない。従って、光ディスク１０に読取り不能な低品質データが記録され、その結果、光ディスク１０がダメージを受けるという不具合の発生は回避される。

ＦＭＤ２２の基準電圧値Ｋ（ｍＶ）は、光ディスク装置２００の機種などにより、例えば、１．７５Ｖ（１７５０ｍＶ）や、２．５Ｖ（２５００ｍＶ）や、３Ｖ（３０００ｍＶ）などに設定される。ＦＭＤ２２の基準電圧値（Vref）は、ドライブ装置などを備える光ディスク装置２００の設計仕様などに基づいて決定される。ＦＭＤ２２の基準電圧値（Vref）は、光ディスク装置の設定機種などにより、最適な任意の数値に設定可能なものとされている。

また、光ディスク装置２００の機種などにより、各種感度のＦＭＤ２２が設定される。例えばＦＭＤ２２の感度Ｎ（ｍＶ／ｍＷ）は、レーザパワーに対するＦＭＤ電圧に基づい
て決定される。具体的には、ＦＭＤ２２の感度Ｎ（ｍＶ／ｍＷ）は、（ＦＭＤ電圧／レーザパワー）に基づき決定される。例えば、ＦＭＤ２２の感度Ｎ（ｍＶ／ｍＷ）が１００ｍＶ／１０ｍＷとされた場合、レーザパワー１ｍＷあたり１０ｍＶのＦＭＤ電圧が生じる。すなわち、このＦＭＤ２２の感度Ｎ（ｍＶ／ｍＷ）は、１０（ｍＶ／ｍＷ）とされる。

例えば、ＦＭＤ２２の基準電圧値Ｋ（ｍＶ）を３０００（ｍＶ）と定め、ＦＭＤ２２の感度Ｎ（ｍＶ／ｍＷ）を１０（ｍＶ／ｍＷ）と定めたものが用いられた。

このように各数値が定められることにより、ＣＤ−Ｒ（Compact Disc-Recordable ）などのデータ書込み可能な光ディスク１０に対応する具体的なＬＤ判定条件（発光素子判定条件）が設定される。詳しく説明すると、下記式（２）に基づいて、ＣＤ−Ｒなどの光ディスク１０に対しデータ記録を行うときの信号の理論電圧値Ｚ（ｍＶ）が求められる。
Ｚ＝（３０００−（１０×Ｘ））・・・式（２）

システムコントローラ６０内の比較判定部６５にて算出された理論電圧値Ｚ（ｍＶ）と、ＦＭＤ２２にて実際に測定されたパワーモニタ信号に基づくＷＳＨＯ信号の電圧値Ｙ（ｍＶ）とが、システムコントローラ６０内の比較判定部６５で比較されることで、ＬＤ２１の劣化状態が判定される。

図１〜１２と共に説明した上記光ディスク装置２００（図１）の制御方法に基づき、システムコントローラ６０内の比較判定部６５に、ＬＤ２１の劣化状態を判定させる。図１〜１２と共に説明した上記光ディスク装置２００（図１）の制御方法が実行されることにより、光ディスク１０に対するデータ記録の可否判定は、光ディスク装置２００内にて自動的に行われる。また、光ディスク１０に対してデータ記録が行われるときの光ディスク１０の記録速度や、光ディスク１０の種類に対応したストラテジに影響されることなく、ＬＤ２１の劣化が検出される。ＬＤ２１の劣化状態が判ることにより、ＣＤ−Ｒなどの光ディスク１０に低品質データが記録されるということは防止される。

上記光ディスク装置２００は、図１，図１１，図１２と共に説明した上記光ディスク装置２００（図１）の制御方法が実行可能なものとされている。

このような光ディスク装置２００が用いられることにより、光ディスク１０に対してデータ記録が行われるときの光ディスク１０の記録速度や、光ディスク１０の種類に対応した記録用レーザパワーのストラテジに影響されることなく、ＬＤ２１の劣化を光ディスク装置２００内にて自動的に検出させることができる。また、記録用レーザパワーのパルス幅（図２（ａ）〜（ｃ），図１１（ａ）（ｂ），図１２（ａ）〜（ｃ））に影響されることなく、ＬＤ２１（図１）の劣化を検出させることができる。ＬＤ２１の劣化状態が判ることにより、ＣＤ−Ｒなどの光ディスク１０に低品質データが記録されるということを防止することができる。

また、上記光ディスク装置２００の制御方法（図１，図１１，図１２）が実行可能な前記光ディスク装置２００（図１）は、上記ＳＨ回路１１３と、上記ＰＨ回路５１と、上記ＢＨ回路５３とを備えるものとされている。

このように光ディスク装置２００が構成されていれば、光ディスク１０に対するデータ記録の可否判定は、確実に行われる。ＳＨ回路１１３によりサンプル・ホールドされＰＨ回路５１に保持されたＷＳＨＯ信号のＰＨ値（図２（ａ）（ｄ），図３）と、ＳＨ回路１１３（図１）によりサンプル・ホールドされＢＨ回路５３に保持されたＷＳＨＯ信号のＢＨ値（図２（ａ）（ｄ），図３）とに基づいて、ＬＤ２１（図１）から出力されるレーザパワーの不安定度ＰＢ（ＰＨ−ＢＨ）（図２（ａ）（ｄ），図４，図５）が検出される。

レーザパワーの不安定度ＰＢ（ＰＨ−ＢＨ）が検出されると共に、ＷＳＨＯ信号の電圧値と、光ディスク１０（図１）に対しデータ記録を行うときに必要とされる理論上の信号の電圧値とが比較されることにより、ＬＤ２１の劣化状態は精度よく判定される。このようなことが行われることにより、光ディスク１０に対してデータ記録が行われるときの光ディスク１０の記録速度や、光ディスク１０の種類に対応したストラテジに影響されることなく、ＬＤ２１の劣化が検出される。ＬＤ２１の劣化状態が判ることにより、ＣＤ−Ｒなどの光ディスク１０に低品質データが記録されるということは回避される。

次に、ＬＤ２１の劣化状態が判定されるときの検査方法について、図１および図１３を用いて説明する。

図１３は、発光素子の状態を判定するために実行される光ディスク装置の制御方法を示すフローチャートである。

ＬＤ２１（図１）の劣化状態の判定は、光ディスク装置２００の電源が入れられたときや、ＯＰＣが行われ始めたときや、光ディスク１０に対するデータ記録が行われ始める直前などに、光ディスク装置２００内において自動的に開始される。

先ず、光ディスク１０に対しデータ記録が可能なパワーＸ（ｍＷ）のレーザ光をＬＤ２１から出射させる（図１３：Ｓ１３０１）。このときのレーザ光をＦＭＤ２２（図１）に照射させる。

また、これと共に、下記式（１）に基づいて、レーザパワーＸ（ｍＷ）に対応するデータ記録用信号の理論電圧値Ｚ（ｍＶ）を、システムコントローラ６０に演算させる。
Ｚ＝（Ｋ−（Ｎ×Ｘ））・・・式（１）
Ｚ：理論電圧値（ｍＶ）
Ｋ：基準電圧値（ｍＶ）
Ｎ：ＦＭＤ感度（ｍＶ／ｍＷ）
Ｘ：記録用レーザパワー（ｍＷ）

具体的には、基準電圧値Ｋ（ｍＶ）を３０００（ｍＶ）と定め、ＦＭＤ２２の感度Ｎ（ｍＶ／ｍＷ）を１０（ｍＶ／ｍＷ）と定めたものを用いた。下記式（２）に基づいて、レーザパワーＸ（ｍＷ）に対応するデータ記録用信号の理論電圧値Ｚ（ｍＶ）を、システムコントローラ６０に演算させる（図１３：Ｓ１３０２）。
Ｚ＝（３０００−（１０×Ｘ））・・・式（２）
Ｚ：理論電圧値（ｍＶ）
Ｘ：記録用レーザパワー（ｍＷ）

また、これと共に、ＦＭＤ２２（図１）で検出されＦＭＤ２２から送られるパワーモニタ信号を、サンプル・ホールド回路（ＷＳＨＯ回路）いわゆるＳＨ回路１１３に供給する。

次に、ＳＨ回路１１３（ＷＳＨＯ回路）にて生成されたＷＳＨＯ信号の電圧値Ｙ（ｍＶ）を、システムコントローラ６０に測定させる（図１３：Ｓ１３０３）。

次に、ＷＳＨＯ信号の電圧値Ｙ（ｍＶ）と、光ディスク１０に対しデータ記録を行うときに必要とされる信号の理論電圧値Ｚ（ｍＶ）とを比較して（Ｓ１３０４）、ＬＤ２１（図１）の劣化状態を判定させる。光ピックアップ装置２０を構成するＦＭＤ２２の感度Ｎ（ｍＶ／ｍＷ）に応じて、ＷＤＡＣ１１１，１１４に必要とされる信号の理論電圧値Ｚ（
ｍＶ）と、それに対応するＷＳＨＯ信号の電圧値Ｙ（ｍＶ）とを比較して、ＬＤ２１の劣化状態を判定する。

図１３に示す如く、光ディスクに対しデータ記録を行うときに必要とされる信号の理論電圧値Ｚ（ｍＶ）からＷＳＨＯ信号の電圧値Ｙ（ｍＶ）を差し引いた絶対値と、予め設定された一定値とが等しいとき（Ｓ１３０４：ＹＥＳ）に、ＬＤは劣化していない（Ｓ１３０５）と判定させる。

また、光ディスクに対しデータ記録を行うときに必要とされる信号の理論電圧値Ｚ（ｍＶ）からＷＳＨＯ信号の電圧値Ｙ（ｍＶ）を差し引いた絶対値が、予め設定された一定値よりも小さいとき（Ｓ１３０４：ＹＥＳ）に、ＬＤは劣化していない（Ｓ１３０５）と判定させる。

光ディスクに対しデータ記録を行うときに必要とされる信号の理論電圧値Ｚ（ｍＶ）からＷＳＨＯ信号の電圧値Ｙ（ｍＶ）を差し引いた絶対値が、予め設定された一定値よりも大きいとき（Ｓ１３０４：ＹＥＳ）に、ＬＤは劣化した（Ｓ１３０６）と判定させる。

図１３に示すＬＤ劣化の判定作業が終了し、光ディスク１０（図１）に対するデータ記録が可能と判定されたのちに、光ディスク１０に対するデータ記録が開始される。このように、光ディスク装置２００を構成する光ピックアップ装置２０のＬＤ２１の劣化状態が判定されたのちに、光ディスク装置２００内において、光ディスク１０に対するデータ記録が行われる。

上記光ディスク装置２００は、例えば、「ＣＤ−ＲＯＭ」，「ＤＶＤ−ＲＯＭ」などの読出し専用の光ディスクや、「ＣＤ−Ｒ」，「ＤＶＤ−Ｒ」，「ＤＶＤ＋Ｒ」などの追記型の光ディスクや、「ＣＤ−ＲＷ」，「ＤＶＤ−ＲＷ」，「ＤＶＤ＋ＲＷ」，「ＤＶＤ−ＲＡＭ」，「ＨＤ−ＤＶＤ」，「Blu ray Disc」などの書込み／消去や書換え可能なタイプの光ディスクに対応したものとされる。

上記光学式ピックアップ装置２０を備える光ディスク装置２００は、例えば、ノート型ＰＣ（図示せず）や、ラップトップ型ＰＣ（図示せず）や、デスクトップ型ＰＣ（図示せず）などのＰＣや、ＣＤプレーヤなどの音響機器や、ＤＶＤプレーヤなどの音響／映像機器（図示せず）などに装備可能なものとされる。また、上記光ディスク装置２００は、ＣＤ系光ディスクや、ＤＶＤ系光ディスク等の複数のメディアに対応可能なものとされる。上記光ディスク装置や、上記光ディスク装置の制御方法は、図示されたものに限定されるものではない。本発明のものは、その要旨を逸脱しない範囲において、種々変更可能なものとされる。

本発明に係る光ディスク装置およびその制御方法の一実施形態を示すブロック図である。 （ａ）は受光素子（ＦＭＤ）から出力される信号を示す波形図、（ｂ）は（ａ）の信号に対応したサンプル・ホールド信号（ＷＡＰＣ信号）を示す波形図、（ｃ）は受光素子（ＦＭＤ）から出力される信号とディスクに記録が行われるときのライトパワー値との関係を示す波形図、（ｄ）は（ａ）の信号に対応したピーク・ホールド値（ＰＨ値）とボトム・ホールド値（ＢＨ値）とを示す説明図、（ｅ）は受光素子の電圧（ＦＭＤ電圧）とＤ／Ａコンバータの設定値（ＷＤＡＣ設定値）との関係を示す説明図である。 サンプル・ホールドされた信号（ＷＳＨＯ信号）とディスクに記録が行われるときのライトパワー値との関係を示す説明図である。 レーザパワーの不安定度ＰＢ（ＰＨ−ＢＨ）とディスクに記録が行われるときのライトパワー値との関係を示す説明図である。 ディスクに対する記録可否の判定が行われる状態を示す説明図である。 本発明に係る光ディスク装置の制御方法を示すフローチャートである。 同じく光ディスク装置の制御方法を示すフローチャートである。 記憶手段内に構成されたテーブルの一例を示す説明図である。 同じく記憶手段内に構成されたテーブルの他の例を示す説明図である。 ディスクに記録が行われるための条件設定が行われる状態を示すフローチャートである。 （ａ）は受光素子（ＦＭＤ）から出力される信号を示す波形図、（ｂ）は（ａ）の信号に対応したサンプル・ホールド信号（ＷＡＰＣ信号）を示す波形図、（ｃ）は（ａ）の信号に対応した電圧を示す説明図である。 （ａ）は正常な受光素子（ＦＭＤ）から出力される信号を示す波形図、（ｂ）は劣化した受光素子（ＦＭＤ）から出力される信号を示す波形図、（ｃ）は（ａ）又は（ｂ）の信号に対応したサンプル・ホールド信号（ＷＡＰＣ信号）を示す波形図、（ｄ）は（ａ）の信号に対応した正常電圧を示す説明図、（ｅ）は（ｂ）の信号に対応した異常電圧を示す説明図である。 発光素子の状態を判定するために実行される光ディスク装置の制御方法を示すフローチャートである。 従来の光ディスク装置に装備されたピックアップ装置を示す説明図である。

符号の説明

１０ 光ディスク（ディスク）
１１ 信号面（信号部）
１５ ＰＣＡ部（内周部）
１６ 外周部
２０ 光ピックアップ装置（ピックアップ装置）
２１ レーザダイオード（発光素子）
２２ フロントモニタダイオード（受光素子）
２３ フォトディテクタ（光検出器）
３０ レーザドライバ（レーザ駆動回路）
４１ ＴＥ生成回路
４２ ＦＥ生成回路
４３ ＲＦ生成回路
５０ マルチプレクサ回路
５１ ピーク・ホールド回路（ＰＨ回路）
５２，５４ Ａ／Ｄコンバータ
５３ ボトム・ホールド回路（ＢＨ回路）
６０ システムコントローラ（制御部）
６５ 比較判定部（比較判定手段）
７０ メモリ（記憶手段）
８０ エンコーダ／デコーダ
９０ インタフェース
１０１，１１３ サンプル・ホールド回路（ＳＨ回路）
１０２ Ｄ／Ａコンバータ（ＲＤＡＣ）
１０３，１１５ ＡＰＣ回路
１０４ リードパワー信号発生回路
１０５，１１６，１１８ スイッチ
１１１，１１４ Ｄ／Ａコンバータ（ＷＤＡＣ）
１１２ ＡＣＣ回路
１１７ ライトパワー信号発生回路
２００ 光ディスク装置
３００ コンピュータ
ＰＢ ピーク・ボトム（不安定度）
ＢＨ ボトム・ホールド
Ｊ＿ＸｍＷ 判定値
ＰＨ ピーク・ホールド

Claims (18)

1. ディスクに対するデータの記録が行われるときに該ディスクに対しレーザを照射させ、且つ、ディスクに記録されたデータが読み込まれるときに該ディスクに対しレーザを照射させる発光素子と、
   該発光素子から出力されたレーザをモニタして該発光素子の制御にフィードバックをかけさせるための受光素子と
   を有するピックアップ装置を備えた光ディスク装置であって、
   前記受光素子から送信される信号を保持するサンプル・ホールド回路と、
   該サンプル・ホールド回路によりサンプル・ホールドされた信号のピーク値を保持するピーク・ホールド回路と、
   該サンプル・ホールド回路によりサンプル・ホールドされた信号のボトム値を保持するボトム・ホールド回路とを備えることを特徴とする光ディスク装置。
2. 前記サンプル・ホールド回路から出力された信号は、各信号を一つにして出力するマルチプレクサ回路を経由して、前記ピーク・ホールド回路と、前記ボトム・ホールド回路とに供給されることを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
3. 前記ピーク・ホールド回路に入力されたピーク値はアナログ値とされ、該ピーク・ホールド回路に入力されたアナログ値をデジタル値に変換させるＡ／Ｄコンバータが設けられ、
   前記ボトム・ホールド回路に入力されたボトム値はアナログ値とされ、該ボトム・ホールド回路に入力されたアナログ値をデジタル値に変換させるＡ／Ｄコンバータが設けられたことを特徴とする請求項１又は２に記載の光ディスク装置。
4. ディスクに対するデータの記録を行うときに該ディスクに対しレーザを照射させ、且つ、ディスクに記録されたデータを読み込むときに該ディスクに対しレーザを照射させる発光素子と、
   該発光素子から出力されるレーザをモニタして該発光素子の制御にフィードバックをかけさせるための受光素子と
   を有するピックアップ装置と、
   該発光素子から出力されるレーザパワーの不安定度の記録が可能とされた記憶手段と、
   該記憶手段に記録されたレーザパワーの不安定度と、該発光素子から出力されるレーザパワーの不安定度とを比較して、ディスクに対する記録の可否を判定する比較判定手段と
   を備えることを特徴とする光ディスク装置。
5. ディスクに対するデータの記録を行うときに該ディスクに対しレーザを照射させ、且つ、ディスクに記録されたデータを読み込むときに該ディスクに対しレーザを照射させる発光素子と、
   該発光素子から出力されるレーザをモニタして該発光素子の制御にフィードバックをかけさせるための受光素子と
   を有するピックアップ装置と、
   該発光素子から出力されるレーザパワーの不安定度の記録が可能とされた記憶手段と、
   該記憶手段に記録されたレーザパワーの不安定度と、該発光素子から出力される現在のレーザパワーの不安定度とを比較して、ディスクに対する記録の可否を判定する比較判定手段と
   を備える光ディスク装置を用いて、ディスクに対するデータの記録判定を行う光ディスク装置の制御方法であって、
   記録が行われるときのレベルのレーザパワーを照射させても影響が及ぼされることのないディスクを用いて前記発光素子から出力されるレーザパワーを前記受光素子に測定させ
   、
   そのときのレーザパワーの不安定度を前記記憶手段に登録させ、
   データが記録可能なディスクの内周部にレーザによる試書きを行うことで適切なパワーのレーザ出力を行わせるＯＰＣ（Optimum Power Control ）を行わせ、
   前記比較判定手段により、ＯＰＣを行ったときのレーザパワーを、該記憶手段に記録されたレーザパワーの不安定度に照合させて、ディスクに対する記録の可否を判定させることを特徴とする光ディスク装置の制御方法。
6. 前記比較判定手段において、記録可能なディスクに対しデータの記録が否と判定されたときに、前記ピックアップ装置に対する該ディスクの記録速度を下げて、再度、ＯＰＣを行うことを特徴とする請求項５に記載の光ディスク装置の制御方法。
7. 前記比較判定手段において、記録可能なディスクに対しデータの記録が可と判定されたときに、該ディスクに対するデータの記録を行うことを特徴とする請求項５又は６に記載の光ディスク装置の制御方法。
8. 前記比較判定手段において、記録可能なディスクに対しデータの記録が不可と判定されたときに、該ディスクに対するデータの記録を禁止することを特徴とする請求項５〜７の何れか１項に記載の光ディスク装置の制御方法。
9. 請求項５〜８の何れか１項に記載の光ディスク装置の制御方法が実行可能とされたことを特徴とする光ディスク装置。
10. 請求項１〜３の何れか１項に記載のサンプル・ホールド回路と、ピーク・ホールド回路と、ボトム・ホールド回路とを、さらに備えることを特徴とする請求項４又は９に記載の光ディスク装置。
11. ディスクに対しデータ記録が可能なパワーのレーザ光を発光素子から出力させ、
    このときの該レーザ光を受光素子に当て、
    該受光素子から送られる信号をサンプル・ホールド手段に保持させ、
    該サンプル・ホールド手段にて生成されたサンプル・ホールド信号を測定させ、
    該サンプル・ホールド信号と、該ディスクに対しデータ記録を行うときの理論上の信号とを比較して、該発光素子の劣化状態を判定させることを特徴とする光ディスク装置の制御方法。
12. 前記受光素子の基準電圧値をＫ（ｍＶ）と定め、
    該受光素子の感度をＮ（ｍＶ／ｍＷ）と定め、
    前記ディスクに対しデータ記録が可能な前記レーザ光の前記パワーをＸ（ｍＷ）と定め、
    該ディスクに対しデータ記録を行うときの前記信号の理論電圧値をＺ（ｍＶ）と定めたときに、
    下記式（１）に基づいて、該信号の該理論電圧値Ｚ（ｍＶ）を求め、
    前記サンプル・ホールド信号の電圧値Ｙ（ｍＶ）を測定させ、
    該ディスクに対しデータ記録を行うときの該信号の該理論電圧値Ｚ（ｍＶ）と、該サンプル・ホールド信号の該電圧値Ｙ（ｍＶ）とを比較させて、前記発光素子の劣化状態を判定させることを特徴とする請求項１１に記載の光ディスク装置の制御方法。
    Ｚ＝（Ｋ−（Ｎ×Ｘ））・・・式（１）
13. 前記レーザ光の前記パワーに対応する前記理論電圧値Ｚ（ｍＶ）と、前記サンプル・ホールド信号の前記電圧値Ｙ（ｍＶ）とを比較させたときに、該レーザ光の該パワーに対応
    する該理論電圧値Ｚ（ｍＶ）と、該サンプル・ホールド信号の該電圧値Ｙ（ｍＶ）とが略一致した場合に、前記発光素子は正常であると判定させることを特徴とする請求項１２に記載の光ディスク装置の制御方法。
14. 前記レーザ光の前記パワーに対応する前記理論電圧値Ｚ（ｍＶ）と、前記サンプル・ホールド信号の前記電圧値Ｙ（ｍＶ）とを比較させたときに、該レーザ光の該パワーに対応する該理論電圧値Ｚ（ｍＶ）と、該サンプル・ホールド信号の該電圧値Ｙ（ｍＶ）とが不一致とされた場合に、前記発光素子は劣化したと判定させることを特徴とする請求項１２又は１３に記載の光ディスク装置の制御方法。
15. 前記基準電圧値Ｋ（ｍＶ）を３０００（ｍＶ）と定め、
    前記受光素子の前記感度Ｎ（ｍＶ／ｍＷ）を１０（ｍＶ／ｍＷ）と定めたことを特徴とする請求項１２〜１４の何れか１項に記載の光ディスク装置の制御方法。
16. 請求項５〜８の何れか１項に記載の光ディスク装置の制御方法と併せて、前記発光素子の劣化状態を判定させることを特徴とする請求項１１〜１５の何れか１項に記載の光ディスク装置の制御方法。
17. 請求項１１〜１６の何れか１項に記載の光ディスク装置の制御方法が実行可能とされたことを特徴とする光ディスク装置。
18. 請求項１〜３の何れか１項に記載のサンプル・ホールド回路と、ピーク・ホールド回路と、ボトム・ホールド回路とを備えることを特徴とする請求項１７に記載の光ディスク装置。

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