JP2005326955A - XYθ位置決め装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】 θテーブルの急峻な角度指令にともないトルク指令が増大しても、その反作用トルクによって生じるXYスライダの回転動作を抑え、X、Y、θの3方向の高速な位置決めを実現するXYθ位置決め装置を提供する。
【解決手段】θテーブル3とXYスライダ2により構成されるXYθ位置決め装置において、その制御系をX座標、Y座標、更にX方向の2つの位置信号から算出して生成した回転γ座標の3座標に対する非干渉化したフィードバック制御系で構成すると共に、XYスライダ上に回転動作を行うキャンセラモータ80を新たに設けて、θテーブルのトルク指令をTθrefとした場合、キャンセラモータのトルク指令を−Tθrefとして、θテーブルの反作用トルクをキャンセラモータのトルクで相殺するものである。
【選択図】 図1

Description

本発明は、半導体製造の中で多用される検査装置やボンディングマシン、半導体部品のマウンタなどに搭載される直動2軸スライダ(XYスライダ)+回転テーブル(θテーブル)のXYθ位置決め装置に関する。
半導体製造の中で多用される検査装置やボンディングマシン、半導体部品のマウンタなどに搭載されるXYθ位置決め装置として特許文献1、XYθの位置決めを行うのに別途θテーブルが必要となるXY位置決め装置として特許文献2がある。特許文献1では、基台上にXY直角座標に配置された4個のコの字状の支持枠が対向して置かれ、各支持枠の空間部に矩形状の可動テーブルを磁気浮上式により保持して、その可動テーブル上に回転テーブルを載置した形状なので、XYθの位置決め動作をすべて実現できるが、その構成上、可動テーブルは4個の支持枠で規制された範囲内しか移動できないので、XYの移動距離を長くすることができないものである。
また、特許文献2では、スライダ部はXY2軸のリニアモータによる移動動作を、圧縮空気による浮上方式により実現するもので、XY位置決め装置の回転運動を抑制することが可能なものであり、直動方向と回転方向の座標軸でフィードバック制御系を構成する手法が採られている。このような非干渉化した座標軸でフィードバック制御系を構成する手法の詳細報告として非特許文献1がある。また、XY位置決め装置が構成可能なモータ構造として特許文献3がある。図14は特許文献3のリニアモータの正面図である。可動子110は電機子11aと電機子11b(紙面奥に向かってスライダ105b、ガードレール105aの進行方向に、電機子11aの向う側に連結されている)からなる2組の電機子群で構成されると共に、2組を単位とする各電機子群同士を、可動子110の進行方向に向かって互いに間隙を設けて直列に配置したもので、これらの電機子群同士を電気角180°ずらせて、電機子11aと電機子11bの発生コギングを相殺するように、コギングの低減を図っている。また、電機子11aのティース先端に設けられ固定子121のプラテンの格子鉄心歯に対向する永久磁石15は、隣接するもの同士がNSNSの順に4個配置され、磁石1個の間隔は可動子110とギャップを介して対向した固定子103の鉄心歯ピッチの1/2となっている。電機子11bの永久磁石15はSNSNの順に4個配置され、各々の電機子群に設けた永久磁石15は、その磁極方向が互いに逆向きに配置されている。
以下、これら従来技術を総合して、別途θテーブルを付加した特許文献2のXY位置決め装置に、特許文献3によるモータ構造を構成した例を説明する。
図6は以上のような従来技術によるXYθ位置決め装置の斜視図である。図において、1がスライダ、2がXYスライダ、3がθテーブル、100がプラテンである。スライダ1はXYスライダ2とθテーブル3から構成されている。θテーブル3はXYスライダ2上に設置されている。スライダ1はプラテン100と微小なギャップを介して非接触浮上している。
図2は従来技術及び本発明によるXYスライダ2の底面図、図3は図2におけるA−A部の側面から見た断面図である。これら図において、10がX1モータ、20がX2モータ、30がY1モータ、40がY2モータ、11が電機子ユニット、12が電機子コア、13が電機子コアに形成されたティース、14が電機子巻線、15が永久磁石、50が筐体、60が浮上手段、61がオリフィス、62が絞り溝、101が格子状鉄心歯である。
XYスライダ2は田形に配置されたX1モータ10、X2モータ20、Y1モータ30、Y2モータ40と、それらモータが設置された筐体50、XYスライダ2をプラテン100から微小のギャップを介して浮上させるための浮上手段60から構成されている。浮上手段60は筐体50の内部に設けられた空気配管(図示しない)、その空気配管の末端にあたるギャップ面に設けられたオリフィス61、ギャップ面での空気の主流路となる絞り溝62から構成されている。浮上手段60は空気配管に圧縮空気を送り込むことでギャップ面を非接触に浮上させることができるオリフィス絞りの静圧空気軸受である。X1モータ10とX2モータ20がX方向の駆動源、Y1モータ30とY2モータ40がY方向の駆動源となっている。各モータは同じ構造となっており、例えば、X1モータ10は2つの電機子ユニット11から構成されている。1個の電機子ユニット11は3相のティース13を形成するE形状の電機子コア12に電機子巻線14が3相巻装され、ティース13のギャップ対向面に多極の磁極を形成するように永久磁石15が貼り付けられている。永久磁石15の極ピッチは格子状鉄心歯101のピッチの半分となっている。3相のティース13は電気角で120度の位相差で配置されている。さらに、2つの電機子ユニット11は電気角180度の位相差で配置され、1個の電機子ユニット11で発生するコギング力をもう1個の電機子ユニット11で発生するコギング力で相殺するようになっている。
プラテン100は、その上面にXY格子状の突起である格子状鉄心歯101が形成されている。プラテン100は、XYスライダ2の各モータの永久磁石15の磁束、電機子巻線14に電流が流れることで生じる磁束を通す役割があり、透磁率の高い磁性体が使用されている。
また、XYスライダ2には図示しない(後述する)X1モータ10とX2モータの位置検出手段であるX1センサ16とX2センサ26、Y1モータ30の位置検出手段であるYセンサ36が設けられている。これらX1センサ16、X2センサ26、Yセンサ36には例えばレーザ測長機、XY格子のガラススケールで構成されたXY同時測長可能な光学式エンコーダが用いられる。
図12は従来のXYスライダの側断面図である。図において、70がθモータ、71が回転テーブルである。
θテーブル3は回転テーブル71と回転テーブル71の回転源となるθモータ70から構成されている。θモータ70の位置検出手段として、後述のθセンサ76が設けられている。θセンサ76には例えば高分解能化された回転型光学式エンコーダが用いられる。
このような構成において、X1センサ16、X2センサ26、Yセンサ36の位置信号に応じてX1モータ10、X2モータ20、Y1モータ30、Y2モータ40に所定の電流を流すことで、各モータに推力が発生し、XYスライダ2をXYの2軸で推進させることができる。θテーブル3も同様に、θセンサ76の角度信号に応じてθモータ70に電流を流すことで、θの位置決め動作が可能となっている。
一方、図13は従来技術による制御系の構成である。図において、4がXY制御装置、5がθ制御装置である。4A、4B、4C、4D、4E、4FがXY制御装置に設けられたX制御装置、Y制御装置、γ制御装置、座標変換回路、座標逆変換回路、乗算器Aである。
この図13に改めて各センサを図示している。θ制御装置5は、回転角度指令θrefに対し、θセンサ76の回転角度信号θを用いてフィードバック制御を行い、θモータ70を回転させるためのトルク指令Tθrefを生成する。
XY制御装置4は、X制御装置4A、Y制御装置4B、γ制御装置4C、座標変換回路4D、座標逆変換回路4E、乗算器A4Fから構成されている。
Y制御装置4Bは、Y方向位置指令Yrefに対し、Yセンサ36のY方向位置信号yを用いてフィードバック制御を行い、Y1モータ30とY2モータ40をY方向に推力を発生させるための推力指令FYrefを生成する。推力指令FYrefは1/2を掛ける乗算器A4Fを介して、Y1モータ30とY2モータ40に各々FYrefの1/2の推力指令を与える。
座標変換回路4Dは、X1センサ16とX2センサ26のX方向位置信号x1とx2の値を用いて、XYスライダ2のX方向位置を
x=(L1・x1+L2・x2)/L
ここで、
L1:X1センサの測定点からθテーブル3の回転中心までのY方向距離
L2:X2センサの測定点からθテーブル3の回転中心までのY方向距離
L=L1+L2
XYスライダ2の回転γ方向角度を
γ=sin-1((x1−x2)/L)
としてX方向とγ方向に座標変換する。なお、回転角度γは実質的に小さな値で制御されるので
γ≒(x1−x2)/L
と置くことができる。
X制御装置4Aは、X方向位置指令Xrefに対し、座標変換回路4Dで生成されたX方向位置信号xを用いてフィードバック制御を行い、推力指令FXrefを生成する。
γ制御装置4Cは、γ方向の角度指令0[rad]に対し、座標変換回路4Dで生成された角度信号γを用いてフィードバック制御を行い、トルク指令Tγrefを生成する。ここで、角度指令を0[rad]としたのは、XYスライダ2の回転運動を無くすためである。
座標逆変換回路4Eは、X制御装置4Aで生成された推力指令FXrefとγ制御装置4Cで生成されたトルク指令Tγrefから、x1とx2への座標逆変換を行い、X1モータ10とX2モータ20に与える推力指令FX1refとFX2refを生成する。
このような制御系の構成において、まず、θテーブル3の回転θ方向動作についてはθ制御装置5で制御され、XYスライダ2のY方向動作についてはY制御装置4Bで制御される。XYスライダ2のX方向動作についてはX制御装置4Aとγ制御装置4Cによって制御されるが、その安定な制御手法については非特許文献1に示される非干渉化制御を適用することで実現できる。よって、スライダ1はX、Y、θの位置決め動作を実現することができる。
特開2001−69746号公報 特開2001−125648号公報 特開2002−101636号公報(図1) 中島レイ、郭双暉、本田英己、小黒龍一、宮河秀和、辻輝生:「ツインリニアドライブ機構を有するリニアスライダの位置決め制御」電気学会産業応用部門誌 123巻3号、2003年、p.278〜285
ところが従来のXYθ位置決め装置には、次に示すような問題が起きた。θテーブルは角度指令θrefをもとにトルク指令Tθrefが生成され回転動作を行う。このとき、θテーブルの実トルクの反作用がθテーブルに連結されたXYスライダに生じる。XYスライダは、浮上手段によってギャップ方向には高剛性で支持されているが、XY方向にはまったく支持案内が存在しない。従って、θテーブルの反作用トルクによりXYスライダは、回転方向にθとは逆向きに回転しようとする。この逆向きの回転角度は位置x1とx2から角度γとして得られ、このγを0[rad]にするための推力指令FX1ref、FX2refが生成される。しかし、高速な位置決めが要求されるXYθ位置決め装置には、急峻な角度指令θrefが入力される場合が多い。
この場合、トルク指令Tθrefの反作用トルクの振幅が増大し、周波数が高速化する。反作用トルクの振幅が増大し、高周波数化すると、XY制御装置はフィードバック制御だけで角度γの偏差を抑えることが困難となる。逆に、角度γの偏差を抑えるためにX制御装置とγ制御装置の速度ループゲインを大きくすると発振してしまう。
さらには、この反作用トルクをX1モータとX2モータだけで抑えようとすると、X1モータとX2モータの推力指令が増大する。特にθの回転動作とX方向加速動作が重なるとX1モータとX2モータには電機子巻線の許容電流値を超える電流が流れる。その結果、X1モータとX2モータが焼損する問題が生じた。
本発明は、このような問題点を鑑みてなされたものであり、θテーブルに急峻な角度指令が生じても、XYスライダの回転動作を起こさず、更に、回転動作を抑えるためにXYスライダのモータに与えるトルクを4つのモータで均等分配したり、モータの推力指令の大きさに応じて分配する簡単なフィードフォワード制御を付加することでスライダの焼損も無くした安定なXYθ位置決め装置を提供することを目的としている。
上記問題を解決するため、請求項1に記載の発明は、X軸を駆動するための第1モータと第2モータ、X軸と直交するY軸を駆動するための第3モータと第4モータ、前記第1モータと前記第2モータの位置検出手段である第1センサと第2センサ、および前記第3モータと前記第4モータの位置検出手段である第3センサと第4センサもしくは前記第3モータの位置検出手段である第3センサのみを備えて直動2軸の動作を行うXYスライダと、前記XYスライダに設けられて回転動作を行うθテーブルと、前記XYスライダと微小ギャップを介して配置されたプラテンと、前記プラテン上を非接触に浮上するために前記XYスライダに設けられた浮上手段と、前記第1センサと前記第2センサによって出力されるX方向位置をx1とx2および前記第3センサと前記第4センサによって出力されるY方向位置をy1とy2として前記第1センサの測定点から前記第2センサの測定点までのY方向距離をL、前記第1センサの測定点から前記θテーブルの回転中心までのY方向距離をL1および前記第2センサの測定点から前記θテーブルの回転中心までのY方向距離をL2、前記第3センサの測定点から前記θテーブルの回転中心までのX方向距離をW1および前記第4センサの測定点から前記θテーブルの回転中心までのX方向距離をW2とした場合(L=L1+L2、W=W1+W2)前記XYスライダの座標軸を
X方向:x=(L1・x1+L2・x2)/L
Y方向:第3センサと第4センサの場合、
y=(W1・y1+W2・y2)/W
もしくは、第3センサのみの場合、y=y1
回転γ方向:γ=(x1−x2)/L
として座標変換回路により求め、それぞれX方向、Y方向およびγ方向の座標軸に対するフィードバック制御系により構成した各X制御装置、Y制御装置およびγ制御装置を有するXY制御装置と、前記θテーブルのθモータおよびθセンサを制御するθ制御装置と、で構成されるXYθ位置決め装置であって、
前記XYスライダに回転動作を行うキャンセラモータを設け、前記θテーブルのトルク指令をTθrefとした場合、前記キャンセラモータを−Tθrefのトルク指令で回転制御するキャンセラ制御装置を備えたことを特徴としている。
また、請求項2に記載の発明は、前記キャンセラモータは、前記θテーブルと該テーブルを回転させるθモータの間に間挿される、極偏平型でロータのイナーシャJcがθテーブルの全イナーシャJθよりも大きい(Jc>Jθ)回転モータが選定されることを特徴としている。
また、請求項3に記載の発明は、X軸を駆動するための第1モータと第2モータ、X軸と直交するY軸を駆動するための第3モータと第4モータ、前記第1モータと前記第2モータの位置検出手段である第1センサと第2センサ、および前記第3モータと前記第4モータの位置検出手段である第3センサと第4センサもしくは前記第3モータの位置検出手段である第3センサのみを備えて直動2軸の動作を行うXYスライダと、前記XYスライダに設けられて回転動作を行うθテーブルと、前記XYスライダと微小ギャップを介して配置されたプラテンと、前記プラテン上を非接触に浮上するために前記XYスライダに設けられた浮上手段と、前記第1センサと前記第2センサによって出力されるX方向位置をx1とx2および前記第3センサと前記第4センサによって出力されるY方向位置をy1とy2として前記第1センサの測定点から前記第2センサの測定点までのY方向距離をL、前記第1センサの測定点から前記θテーブルの回転中心までのY方向距離をL1および前記第2センサの測定点から前記θテーブルの回転中心までのY方向距離をL2、前記第3センサの測定点から前記θテーブルの回転中心までのX方向距離をW1および前記第4センサの測定点から前記θテーブルの回転中心までのX方向距離をW2とした場合(L=L1+L2、W=W1+W2)前記XYスライダの座標軸を
X方向:x=(L1・x1+L2・x2)/L
Y方向:第3センサと第4センサの場合、
y=(W1・y1+W2・y2)/W
もしくは、第3センサのみの場合、y=y1
回転γ方向:γ=(x1−x2)/L
として座標変換回路によって求め、それぞれX方向、Y方向およびγ方向の座標軸に対するフィードバックバック制御系により構成した各X制御装置、Y制御装置およびγ制御装置を有するXY制御装置と、前記θテーブルのθモータおよびθセンサを制御するθ制御装置と、で構成されたXY位置決め装置であって、
前記θテーブルのトルク指令をTθrefとした場合、前記γ制御装置で生成されたトルク指令にTθrefを足し合わせる加算手段を設けたことを特徴としている。
また、請求項4に記載の発明は、請求項3記載のXYθ位置決め装置において
、前記Y制御装置からの推力指令FYrefを1/2づつに分割する乗算器に代る前記推力指令と前記θテーブルの反作用トルクの相殺演算を行う座標逆変換器と、前記γ制御装置のトルク指令に足し合わされるTθrefの配分を、前記第1モータと前記第2モータの総和が1/2、前記第3モータと第4モータの総和が1/2となるように配分する乗算器Bを設けたことを特徴としている。
また、請求項5に記載の発明は、請求項4記載のXYθ位置決め装置において、前記X制御装置と前記Y制御装置で生成された推力指令をFXrefとFYrefとした場合、前記γ制御装置のトルク指令に足し合わされるTθrefの配分を、前記第1モータと前記第2モータの総和が
FYref/(FXref+FYref)
となるように配分する乗算器Cと、前記第3モータと前記第4モータの総和が
FXref/(FXref+FYref)
となるように配分する乗算器Dと、を設けたことを特徴としている。
請求項1記載の発明によれば、キャンセラモータ(以下、Cモータと略記)が新に設けられ、θテーブルの反作用トルク(−Tθref)を相殺するように、Cモータが−Tθrefのトルク指令で駆動されるようになっている。従来、XYスライダのγ方向の回転動作に対しXYスライダのフィードバック制御系のみで制御していたものに対し、Cモータにより反作用トルクを相殺することで、XYスライダの高速かつ安定した位置決めを実現することができる。
更に、請求項2記載の発明によれば、キャンセラモータは極偏平型でロータのイナーシャを大きく取ってあるので、振動が発生せず、安全なキャンセル動作を行うことができる。
更に、請求項3記載の発明によれば、θテーブルの反作用トルク(−Tθref)を相殺するように、XY制御装置内のγ方向のトルク指令Tγrefにθテーブルのトルク指令Tθrefを足し合わせている。従来、XYスライダのγ方向の回転動作に対しフィードフォワード制御系が追加されることでより高速かつ安定な制御系を表現することができる。つまり、θテーブルに急峻な角度指令θrefが入力された場合でも、XYスライダの角度偏差γを小さく、且つ、高速に整定することができる。
更に、請求項4記載の発明によれば、請求項3の発明がθテーブルの反作用トルクを相殺するトルク指令を第1モータと第2モータの2つのモータに与えていたのに対し、第3モータと第4モータにもトルク指令を分散している。
よって、請求項3記載の発明よりも、第1モータと第2モータに偏る電流値を低減することができる。さらには、X方向の急峻な動作を伴い、その推力指令FXrefが大きくなったとしても、その許容電流値を超えることが無く、第1モータと第2モータを制御でき、モータの焼損も無くすことができる。
更に、請求項5記載の発明によれば、θテーブルの反作用トルクを相殺するトルク指令を4つのモータの推力に応じて分散しているので、請求項3、4の発明よりも、4つのモータの間で電流値の偏りを、より平均化して無くすことができる。つまりX方向やY方向の急峻な動作を伴いその推力指令FXref、FYrefが大きくなったとしても、各軸の許容電流値を越えることが無く4つのモータを制御でき、更に効率的な制御でモータの焼損も殆ど無くすことができる。
以下、本発明の実施の形態について図を参照して説明する。
図1は本発明の第1の実施例であるXYθ位置決め装置の斜視図である。
図2は図1に示すXYスライダ2の底面図である。
図3は図2のA−A部の側面から見た断面図である。
なお、図2と図3は本発明図と従来技術で共用であって、従来技術で示した図2〜3とまったく同じである。
図4は第1の実施例である図2B−B部側面から見た断面図である。
図5は第1の実施例であるXYθ位置決め装置の制御系の構成を示したものである。
以下、従来図と同一のものについては同一の符号を付して重複説明を省略し、異なる構成についてのみ説明する。さお、これら図において、80はCモータ、81はCモータのステータ、82はCモータのロータ、86はCセンサ、6はC制御装置である。
図4において従来技術(図12)と異なる点は、Cモータ80を新たにXYスライダ2上に設置している点である。Cモータ80はステータ81とロータ82、図示しないCセンサ86から構成されている。Cモータ80は図示しているように極扁平でロータ82が中空となったものであり、外径が大きいことからもロータ82のイナーシャが十分大きなものとなっている。また、Cモータ80は、Cセンサ86の角度信号とトルク指令に応じた電流を流すことで回転動作が可能となっている。
図5において従来技術(図13)と異なる点は、Cモータ80の制御系が追加され、さらに、θテーブル3のトルク指令Tθrefが減算器によりCモータ80のトルク指令に差し引かれている点である。C制御装置6はCモータ80をトルク制御する制御装置である。トルク指令は−Tθrefであり、C制御装置6は実トルクとトルク指令の差分のトルク指令を生成している。ここで、Cモータ80のロータ82のイナーシャをJc、θテーブル3の全イナーシャをJθとした場合
Jc>Jθ
となるCモータ80が選定されている。このような結果、θテーブル3にトルク指令Tθrefどおりのトルクが生じた場合、θテーブル3の回転角速度は
dθ/dt=Tθref/Jθ
Cモータ80のロータ82の回転角速度は
dθc/dt=−Tθref/Jc
となる。上記イナーシャの関係から、θテーブル3とCモータ80の回転角速度の関係は
|dθc/dt| < |dθ/dt|
となる。つまり、Cモータ80の回転速度はθテーブル3よりも速くならず、Cモータがオーバー回転速度にならないようになっている。θテーブル3のトルク指令の大きさによらず、Cモータ80は正常な回転動作を行うことができる。
以上のように構成されたXYθ位置決め装置は、従来技術で問題となっていたθテーブルの急峻な反作用トルクに対して生じるXYスライダの角度偏差γの増大、回転γ方向の整定性悪化、発振の問題に対して、Cモータを新たに設け、反作用トルクを相殺するトルク指令をCモータに与えることで、θテーブルの反作用トルクをXYスライダに伝えないようにして解決している。さらに、Cモータで相殺できなかったわずかな反作用トルクに対しても、X方向と回転γ方向の非干渉化制御で上記問題を解消するようになっている。
次に、本発明の第2実施例について説明する。
図6は本発明の第2の実施例であるXYθ位置決め装置の斜視図である。
なお、図6は本発明図と従来例図と共用であり、従来図で示した図6と同じである。また、図7はXYスライダ2の底面図であり、図8は図7のA−A断面図であって、実施例1及び従来技術で示した図2、3と殆ど同じであるが、異なる点は図7には図2のB−B線の図示が無く、図8についてはθテーブル3が付加されている点である。
図9は第2の実施例のXYθ位置決め装置の制御系の構成図である。
以下、実施例1及び従来技術と同一構成については同一の符号を付して重複する説明は省略し、異なる構成についてのみ説明する。
図9において従来技術(図13)と異なる点は、θ制御装置5の出力であるトルク指令TθrefをX制御装置4Aから出力されるトルク指令に、加算器90により足し合わせTγrefとしている点である。XY制御装置内はγ方向として回転θ方向と同じ座標系に変換されているので、θテーブル3の反作用トルクを相殺するトルク指令Tθrefを、フィードフォワード制御として追加している。
以上のように構成されたXYθ位置決め装置は、従来技術で問題となっていたθテーブルの急峻な反作用トルクに対して生じるXYスライダの角度偏差γの増大、回転γ方向の整定性悪化、発振の問題に対して、反作用トルクを相殺するトルク指令を追加したフィードフォワード制御系によるごく簡便化された手法によって解決している。
次に、本発明の第3実施例について説明する。
図10は本発明の第3の実施例であるXYθ位置決め装置の制御系の構成図である。図10において、4Gは1/2を掛ける乗算器Bである。
第3の実施例が第1の実施例と異なる点は、Yの制御系にも座標変換回路4Eを設け、Y制御装置4Bから出力される推力指令FYrefとθテーブル3の反作用トルクを相殺するためのトルク指令を入力として、Y1モータ30とY2モータ40の推力指令FY1refとFY2refを生成している点である。このとき、Xの座標逆変換回路4EとYの座標逆変換回路4Eに入力される反作用トルクを相殺するためのトルク指令は、乗算器B4Gによって、テーブル3のトルク指令Tθrefの1/2ずつに分配されている。
以上のように構成されたXYθ位置決め装置は、θテーブルの反作用トルクを相殺するトルク指令を4つのモータに分散させることができるので、第2の実施例よりも、X1モータとX2モータに偏る電流値を低減することができる。つまり、X方向の急峻な動作を伴いその推力指令FXrefが大きくなったとしても、その許容電流値を越えることが無くX1モータとX2モータを制御でき、さらにはモータの焼損も無くすことができる。
次に、本発明の第4の実施例について説明する。
図11は本発明の第4の実施例であるXYθ位置決め装置の制御系の構成図である。図11において、4Hと4Iは乗算器Cと乗算器Dである。
第4の実施例が第3の実施例と異なる点は、θテーブル3の反作用トルクを相殺するトルク指令を、各軸の推力指令であるFXrefとFYrefの大きさに応じて配分している。具体的には
乗算器C : FYref/(FXref+FYref)
乗算器D : FXref/(FXref+FYref)
としている。例えば、FYref>FXrefの場合には乗算器C>乗算器Dとなり、Xの制御系へのトルク指令配分が大きくなる。
以上のように構成されたXYθ位置決め装置は、θテーブルの反作用トルクを相殺するトルク指令を4つのモータの推力に応じて分散させることができるので、第2の実施例よりも、4つのモータの間で電流値の偏りを無くすことができる。つまり、X方向やY方向の急峻な動作を伴いその推力指令FXref、FYrefが大きくなったとしても、各軸の許容電流値を越えることが無く4つのモータを制御でき、さらにはモータの焼損もほとんど無くすことができる。
なお、ここまでは、第1〜4の実施例で、XYスライダのモータを特許文献3で示される構造で示したが、ティースのギャップ対向部に永久磁石を配置する構造であったり、ティースのギャップ対向部に鉄心歯を設けたいわゆるHB形やVR形であっても本発明と同様の効果が得られることは言うまでも無い。
また、Y方向の座標を第3センサからの出力y1を用いたが、Y2モータの位置を検出する第4センサも付加して、Y方向の座標を
y=(W1・y1+W2・y2)/W
として制御してもよい。
本発明は、半導体製造の中で多用される検査装置やボンディングマシン、半導体部品のマウンタなどに搭載される直動2軸スライダ(XYスライダ)+回転テーブル(θテーブル)のXYθ位置決め装置において、特に高い位置決め精度とその高速な整定性を要求されるものに適用することで、装置自身の高精度化と高タクト化を実現することができる。
本発明の第1実施例のXYθ位置決め装置の斜視図である。 図1に示すXYスライダの底面図である。 図2に示すXYスライダのA−A部側断面図である。 図2に示すXYスライダのB−B部側断面図である。 図1に示すXYθ位置決め装置の制御系の構成図である。 本発明の第2実施例および従来技術を示すXY位置決め装置の斜視図である。 図6に示すXYスライダの底面図である。 図7に示すXYスライダのA−A部側断面図である。 図6に示すXYθ位置決め装置の制御系の構成図である。 本発明の第3実施例のXYθ位置決め装置の制御系の構成図である。 本発明の第4実施例のXYθ位置決め装置の制御系の構成図である。 従来のXYθ位置決め装置の側断面図である。 従来のXYθ位置決め装置の制御系の構成図である。 従来のリニアモータの正面図である。
符号の説明
1 スライダ
2 XYスライダ
3 θテーブル
4 XY制御装置
4A X制御装置
4B Y制御装置
4C γ制御装置
4D 座標変換回路
4E 座標逆変換回路
4F 乗算器A
4G 乗算器B
4H 乗算器C
4I 乗算器D
5 θ制御装置
6 C制御装置
10 X1モータ
11 電機子ユニット
12 電機子コア
13 ティース
14 電機子巻線
15 永久磁石
16 X1センサ
20 X2モータ
26 X2センサ
30 Y1モータ
36 Yセンサ
40 Y2モータ
50 筐体
60 浮上手段
61 オリフィス
62 絞り溝
70 θモータ
76 θセンサ
80 Cモータ
81 Cセンサ
90 加算器

Claims (5)

  1. X軸を駆動するための第1モータと第2モータ、X軸と直交するY軸を駆動するための第3モータと第4モータ、前記第1モータと前記第2モータの位置検出手段である第1センサと第2センサ、および前記第3モータと前記第4モータの位置検出手段である第3センサと第4センサもしくは前記第3モータの位置検出手段である第3センサのみを備えて直動2軸の動作を行うXYスライダと、前記XYスライダに設けられて回転動作を行うθテーブルと、前記XYスライダと微小ギャップを介して配置されたプラテンと、前記プラテン上を非接触に浮上するために前記XYスライダに設けられた浮上手段と、前記第1センサと前記第2センサによって出力されるX方向位置をx1とx2および前記第3センサと前記第4センサによって出力されるY方向位置をy1とy2として前記第1センサの測定点から前記第2センサの測定点までのY方向距離をL、前記第1センサの測定点から前記θテーブルの回転中心までのY方向距離をL1および前記第2センサの測定点から前記θテーブルの回転中心までのY方向距離をL2、前記第3センサの測定点から前記θテーブルの回転中心までのX方向距離をW1および前記第4センサの測定点から前記θテーブルの回転中心までのX方向距離をW2とした場合(L=L1+L2、W=W1+W2)前記XYスライダの座標軸を
    X方向:x=(L1・x1+L2・x2)/L
    Y方向:第3センサと第4センサの場合、
    y=(W1・y1+W2・y2)/W
    もしくは、第3センサのみの場合、y=y1
    回転γ方向:γ=(x1−x2)/L
    として座標変換回路により求め、それぞれX方向、Y方向およびγ方向の座標軸に対するフィードバック制御系により構成した各X制御装置、Y制御装置およびγ制御装置を有するXY制御装置と、前記θテーブルのθモータおよびθセンサを制御するθ制御装置と、で構成されたXYθ位置決め装置であって、
    前記XYスライダに回転動作を行うキャンセラモータを設け、
    前記θテーブルのトルク指令をTθrefとした場合、前記キャンセラモータを−Tθrefのトルク指令で回転制御するキャンセラ制御装置を備えたことを特徴とするXYθ位置決め装置。
  2. 前記キャンセラモータは、前記θテーブルと該θテーブルを回転させるθモータの間に間挿される、極偏平型でロータのイナーシャJcがθテーブルの全イナーシャJθよりも大きい(Jc>Jθ)回転モータが選定されることを特徴とする請求項1記載のXYθ位置決め装置。
  3. X軸を駆動するための第1モータと第2モータ、X軸と直交するY軸を駆動するための第3モータと第4モータ、前記第1モータと前記第2モータの位置検出手段である第1センサと第2センサ、および前記第3モータと前記第4モータの位置検出手段である第3センサと第4センサもしくは前記第3モータの位置検出手段である第3センサのみを備えて直動2軸の動作を行うXYスライダと、前記XYスライダに設けられて回転動作を行うθテーブルと、前記XYスライダと微小ギャップを介して配置されたプラテンと、前記プラテン上を非接触に浮上するために前記XYスライダに設けられた浮上手段と、前記第1センサと前記第2センサによって出力されるX方向位置をx1とx2および前記第3センサと前記第4センサによって出力されるY方向位置をy1とy2として前記第1センサの測定点から前記第2センサの測定点までのY方向距離をL、前記第1センサの測定点から前記θテーブルの回転中心までのY方向距離をL1および前記第2センサの測定点から前記θテーブルの回転中心までのY方向距離をL2、前記第3センサの測定点から前記θテーブルの回転中心までのX方向距離をW1および前記第4センサの測定点から前記θテーブルの回転中心までのX方向距離をW2とした場合(L=L1+L2、W=W1+W2)前記XYスライダの座標軸を
    X方向:x=(L1・x1+L2・x2)/L
    Y方向:第3センサと第4センサの場合、
    y=(W1・y1+W2・y2)/W
    もしくは、第3センサのみの場合、y=y1
    回転γ方向:γ=(x1−x2)/L
    として座標変換回路により求め、それぞれX方向、Y方向およびγ方向の座標軸に対するフィードバック制御系により構成した各X制御装置、Y制御装置およびγ制御装置を有するXY制御装置と、前記θテーブルのθモータおよびθセンサを制御するθ制御装置と、で構成されたXY位置決め装置であって、
    前記θテーブルのトルク指令をTθrefとした場合、前記γ制御装置で生成されたトルク指令にTθrefを足し合わせる加算手段を設けたことを特徴とするXYθ位置決め装置。
  4. 請求項3記載のXYθ位置決め装置において、
    前記Y制御装置からの推力指令FYrefを1/2づつに分割する乗算器に代る前記推力指令と前記θテーブルの反作用トルクの相殺演算を行う座標逆変換器と、前記γ制御装置のトルク指令に足し合わされるTθrefの配分を、前記第1モータと前記第2モータの総和が1/2、前記第3モータと第4モータの総和が1/2となるように配分する乗算器Bを設けたことを特徴とするXYθ位置決め装置。
  5. 請求項4記載のXYθ位置決め装置において、
    前記X制御装置と前記Y制御装置で生成された推力指令をFXrefとFYrefとした場合、前記γ制御装置のトルク指令に足し合わされるTθrefの配分を、前記第1モータと前記第2モータの総和が
    FYref/(FXref+FYref)
    となるように配分する乗算器Cと、前記第3モータと前記第4モータの総和が
    FXref/(FXref+FYref)
    となるように配分する乗算器Dと、を設けたことを特徴とするXYθ位置決め装置。
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CN102736439A (zh) * 2011-03-30 2012-10-17 Asml荷兰有限公司 平面马达和包括这种平面马达的光刻设备

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