JP2005322590A - Forming method of display device barrier rib and paint for display device barrier rib formation used for it - Google Patents

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Keisuke Mori
圭介 森
Yasuto Kudo
康人 工藤
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a forming method of display device barrier ribs with adhesiveness of photoresist improved and barrier rib forming efficiency by sandblast ameliorated and to provide paint used for it. <P>SOLUTION: In the method of forming the barrier ribs for the display device, in which, after a resist film of a required pattern is formed on a paint layer for forming barrier ribs having a given thickness placed on a substrate, unnecessary parts of the paint layer for forming the barrier ribs are removed by sandblast processing, the paint for forming the barrier ribs contains inorganic powder (A), an organic vehicle (B), and an Si-containing organic compound (C), and a content of the Si-containing organic compound (C) is 0.3 to 10 weight parts to 100 weight parts of the inorganic powder (A). <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明は、ディスプレイデバイス隔壁の形成方法とそれに用いられるディスプレイデバイス隔壁形成用塗料に関し、さらに詳しくは、フォトレジストとの密着性が向上し、サンドブラスト加工による隔壁形成効率を向上できるディスプレイデバイス隔壁の形成方法とそれに用いられるディスプレイデバイス隔壁形成用塗料に関する。   The present invention relates to a method for forming a display device partition and a display device partition forming coating used therefor, and more specifically, the formation of a display device partition that improves adhesion with a photoresist and improves partition formation efficiency by sandblasting. The present invention relates to a method and a coating material for forming a display device partition used therein.

近年、ディスプレイデバイス、例えばプラズマディスプレイパネル(以下PDPという)が、大型フラットディスプレイとして脚光を浴び、大型テレビ受像機として実現化され、広く用いられている。PDPは、一対のガラス板を微少間隔で対向させて周囲を封着して得られた放電空間に放電し、発生する紫外線で蛍光体を刺激発光することにより映像を映すものである。   In recent years, display devices such as plasma display panels (hereinafter referred to as PDPs) have attracted attention as large flat displays and have been realized and widely used as large television receivers. The PDP is an image in which a pair of glass plates are opposed to each other at a minute interval and discharged into a discharge space obtained by sealing the periphery, and a phosphor is stimulated to emit light by generated ultraviolet rays.

一般的なAC型PDPは、図1に示すような構造になっている。そして、一対のガラス板のうち、PDPで映像が表示される側のガラス板が前面板、他方が背面板と呼ばれている。   A general AC type PDP has a structure as shown in FIG. Of the pair of glass plates, the glass plate on the side where an image is displayed on the PDP is called the front plate, and the other is called the back plate.

PDP前面板(10)には、ストライプ状のITO等により形成される透明電極(11)と透明電極上に設けられた1本の銀等により形成されたバス電極(12)が配されていている。このバス電極を覆うようにガラス等で構成される透明な誘電体膜が形成され、誘電体膜を覆うようにMgO膜(14)が蒸着により形成されている。   The PDP front plate (10) is provided with a transparent electrode (11) formed of striped ITO or the like and a bus electrode (12) formed of one silver or the like provided on the transparent electrode. Yes. A transparent dielectric film made of glass or the like is formed so as to cover the bus electrode, and an MgO film (14) is formed by vapor deposition so as to cover the dielectric film.

一方、PDP背面板は、基板(10)にストライプ状に平行配列された隔壁(16)を有し、これら隔壁(16)の凹部底面には隔壁(16)と平行に、1本のアドレス電極とも呼ばれる電極(13)が形成され、この電極(13)の表面を覆うように誘電体層(15)が形成されている。さらに、これら隔壁(16)の壁面などには、紫外線で励起する、R、B、Gで示した蛍光体(17)が塗付されている。   On the other hand, the PDP back plate has partition walls (16) arranged in parallel on the substrate (10) in stripes, and one address electrode is parallel to the partition walls (16) on the bottom surface of the recesses of the partition walls (16). An electrode (13), also called a dielectric layer (15), is formed, and a dielectric layer (15) is formed so as to cover the surface of the electrode (13). Furthermore, phosphors (17) indicated by R, B, and G, which are excited by ultraviolet rays, are applied to the wall surfaces of the partition walls (16).

このPDP背面板は、まず、ガラス基板(10)に、ストライプ状の電極(13)を銀ペースト等の厚膜材料などでパターン形成した後、焼成し、次いで、この電極(13)の上に誘電体層(15)となる専用のガラスペースト等の厚膜材料を塗付して焼成し、最後に、この誘電体層(15)の上に隔壁形成用塗料を塗布し、隔壁(16)をパターンニングした後に、焼成して製造されている。   In this PDP back plate, first, a stripe-shaped electrode (13) is formed on a glass substrate (10) by patterning with a thick film material such as a silver paste, and then baked, and then on the electrode (13). A thick film material such as a dedicated glass paste to be used as the dielectric layer (15) is applied and baked. Finally, a partition wall-forming coating is applied on the dielectric layer (15), and the partition wall (16). It is manufactured by baking after patterning.

近年、PDPには、より高画質であることが求められ、それを実現するために画素数を増やし、個々の画素は細かくなっている。画素が細かくなるにつれて、従来は100〜150μmであった隔壁の幅や300μmであった間隔も、さらに細かく高精細にすることが要請されている。隔壁は、厚膜技術で多用されるスクリーン印刷によりパターンを形成するが、スクリーン印刷では、高精細な隔壁パターンを印刷することは困難である。また、隔壁の高さは、通常、100〜150μmであるのに対し、1回のスクリーン印刷では20〜30μmしか形成できないことから、スクリーン印刷を複数回(繰り返し)行う必要がある。しかしながら、高精細な隔壁を形成しながら、繰り返しスクリーン印刷を行うことは、精度が確保できなくなるので困難である。   In recent years, PDPs are required to have higher image quality, and in order to achieve this, the number of pixels is increased, and individual pixels have become finer. As the pixels become finer, it is required that the width of the partition wall, which has conventionally been 100 to 150 μm, and the interval which has been 300 μm be made finer and higher definition. The barrier ribs form a pattern by screen printing often used in thick film technology, but it is difficult to print a high-definition barrier rib pattern by screen printing. In addition, the height of the partition wall is usually 100 to 150 μm, but only 20 to 30 μm can be formed by one screen printing. Therefore, it is necessary to perform screen printing a plurality of times (repeatedly). However, it is difficult to repeatedly perform screen printing while forming a high-definition partition because accuracy cannot be ensured.

かかる観点から、基板にフォトレジスト層を形成し、露光し、現像して基板上にフォトレジストによる樹脂パターンを形成した後、この樹脂パターンを鋳型として、その間隙に隔壁形成用塗料を充填し、樹脂のパターンを除去し、焼成して隔壁を形成しようという方法が検討されている。   From this point of view, after forming a photoresist layer on the substrate, exposing, developing, and forming a resin pattern with a photoresist on the substrate, using this resin pattern as a mold, filling the gap with a coating for forming a partition wall, A method of removing the resin pattern and baking it to form a partition wall has been studied.

この方法では、樹脂パターンは鋳型であるので、焼成された隔壁の高さとして、100〜150μmを確保できるだけの量の隔壁形成用塗料を充填しなければならず、樹脂パターンは200〜300μmの膜厚を必要とする。樹脂パターンは、材料として高価なフォトレジストを用いるが、隔壁形成用塗料の充填後は除去され、後工程では無用なものとなる。そのため樹脂パターンを膜厚200〜300μmで形成することは、デバイスの価格を押し上げるだけでなく、かかる厚みの露光は、パターン精度を確保することからも好ましくない。   In this method, since the resin pattern is a mold, it is necessary to fill the partition wall forming paint in an amount sufficient to secure 100 to 150 μm as the height of the fired partition wall, and the resin pattern is a film of 200 to 300 μm. Requires thickness. Although an expensive photoresist is used as the material for the resin pattern, it is removed after filling with the partition wall forming paint and becomes useless in the subsequent process. Therefore, forming a resin pattern with a film thickness of 200 to 300 μm not only increases the price of the device, but also exposure of such a thickness is not preferable because the pattern accuracy is ensured.

鋳型となるフォトレジストによる樹脂パターンは、後述するサンドブラストによる隔壁形成方法に比べると、フォトレジストが密着している面積が広い。これは上述の通り隔壁の幅に対して、その間隔が広いことによる。そのため、この方法ではフォトレジストと基板等の密着性は問題とならず、むしろ鋳型のフォトレジスト除去工程が問題となっていた。   The resin pattern by the photoresist used as a mold has a larger area where the photoresist is in close contact as compared with a method of forming a partition by sandblast described later. This is because the interval is wide with respect to the width of the partition wall as described above. Therefore, in this method, the adhesion between the photoresist and the substrate is not a problem, but rather the step of removing the photoresist from the mold is a problem.

すなわち、かかる鋳型の樹脂(フォトレジスト)を除去する際に、隔壁のパターンを破壊してしまうという問題があった。そこで、特定のシランカップリング剤を含む隔壁形成材料が提案されている(特許文献1参照)。この方法によれば、隔壁形成材料がイソシアヌレート系のシランカップリング剤を含有するので、隔壁と基板の密着性が向上して、鋳型のフォトレジスト除去工程が改善されるものの、樹脂のパターンのみを実質的に除去することは困難である。   That is, there is a problem that the pattern of the partition wall is destroyed when removing the resin (photoresist) of the mold. Therefore, a partition wall forming material containing a specific silane coupling agent has been proposed (see Patent Document 1). According to this method, since the partition wall forming material contains an isocyanurate-based silane coupling agent, the adhesion between the partition wall and the substrate is improved, and the photoresist removal process of the mold is improved, but only the resin pattern It is difficult to remove substantially.

これに対応するために、隔壁を型で加圧形成することが検討されている。高精細な隔壁を単純な工程で形成できる、加圧形成用の隔壁材料が提案されている(特許文献2参照)。この特許文献は、隔壁形成用塗料(リブ組成物)にシランカップリング剤を添加するとともに、無機粉末を変性シリコーンで表面処理して、隔壁形成後の密着性や耐アルカリ性を向上することを意図したものである。   In order to cope with this, it has been studied that the partition walls are press-formed with a mold. A partition material for pressure formation that can form a high-definition partition wall by a simple process has been proposed (see Patent Document 2). This patent document intends to improve adhesion and alkali resistance after partition formation by adding a silane coupling agent to the partition wall-forming coating material (rib composition) and surface-treating the inorganic powder with modified silicone. It is a thing.

しかしながら、この方法では隔壁形成用塗料を製造する工程が複雑になる問題点があり、特にかかる変性シリコーンで表面処理した無機粉末は凝集しやすく、均質な隔壁形成用塗料を得ることが困難となる。加圧形成による隔壁形成は、隔壁形成用塗料を乾燥等の固化させる工程がないので、形成した隔壁が容易に変形してしまうという問題点を有している。   However, this method has a problem in that the process for producing the partition wall-forming coating is complicated, and in particular, the inorganic powder surface-treated with such modified silicone is likely to aggregate, making it difficult to obtain a uniform partition-wall-forming coating. . The partition formation by pressure formation has a problem that the formed partition wall is easily deformed because there is no step of solidifying the partition wall forming paint such as drying.

ところで、隔壁形成工程では、サンドブラストが多用されている。この工程は、一面に形成された隔壁用形成材料の乾燥体の不要部分をサンドブラストで除去し、隔壁のパターンを形成する工程である。乾燥体のうち隔壁として残したい箇所には、フォトレジストを感光させたパターンが配置される。フォトレジストが配置された箇所は、サンドブラストで研削されず乾燥体が残り、隔壁パターンとなる。隔壁パターンを形成した後、不要となったフォトレジストは、NaCO等のアルカリ性水溶液等の剥離液により水洗除去される。 By the way, sandblasting is frequently used in the partition forming step. This step is a step of removing unnecessary portions of the dried body of the partition wall forming material formed on one surface by sandblasting to form a partition pattern. A pattern in which a photoresist is exposed is disposed in a portion of the dry body that is desired to remain as a partition wall. A portion where the photoresist is disposed is not ground by sandblasting, and a dry body remains, thereby forming a partition pattern. After the barrier rib pattern is formed, the unnecessary photoresist is washed away with a stripping solution such as an alkaline aqueous solution such as Na 2 CO 3 .

このように、フォトレジストのパターンニング工程は、隔壁形成用塗料の乾燥体上にフォトレジスト膜を形成し、パターンを記したマスクを介し紫外線を照射し、パターンを焼き付け、アルカリ水溶液で紫外線が照射されなかった箇所を溶解除去する現像工程と、アルカリ水溶液で洗浄する水洗工程を経て行われる。   In this way, the photoresist patterning process forms a photoresist film on a dry body of the partition wall-forming coating material, irradiates ultraviolet rays through the mask on which the pattern is written, bakes the pattern, and irradiates ultraviolet rays with an alkaline aqueous solution. It is carried out through a development process for dissolving and removing the unsettled portion and a water washing process for washing with an alkaline aqueous solution.

これら一連のフォトレジストとのパターンニング工程では、隔壁形成用塗料の乾燥体とフォトレジストが密着していることが必要であり、具体的にはNaCO等のアルカリ水溶液による溶解工程や、その後の水洗工程で高精細なフォトレジストパターンが流失しないことが要求される。 In the patterning process with a series of these photoresists, it is necessary that the dry body of the partition wall-forming paint and the photoresist are in close contact, specifically, a dissolution process with an alkaline aqueous solution such as Na 2 CO 3 , It is required that a high-definition photoresist pattern is not washed away in the subsequent washing step.

また、フォトレジストを用いたサンドブラストによる隔壁パターンの形成は、フォトレジストのパターンの幅が隔壁の幅となることから、幅100μm以下という高精細な隔壁を得るには、より高精細なフォトレジストのパターンを形成する必要がある。フォトレジストのパターンの幅が細くなれば、フォトレジストが隔壁形成用塗料の乾燥体と密着する面積が低下し、それに伴って密着力は低下する。PDPの高精細化には、フォトレジストと隔壁形成用塗料の密着性の向上が必要となっている訳である。   In addition, since the barrier rib pattern is formed by sandblasting using a photoresist, the width of the photoresist pattern is the width of the barrier rib. Therefore, in order to obtain a high-definition barrier with a width of 100 μm or less, a higher-definition photoresist is used. It is necessary to form a pattern. If the width of the photoresist pattern is narrowed, the area where the photoresist is in close contact with the dry body of the partition wall forming paint is reduced, and the adhesion is reduced accordingly. In order to increase the definition of the PDP, it is necessary to improve the adhesion between the photoresist and the partition wall forming coating material.

ところで、鉛を含む誘電体層や隔壁では、PDPが廃棄されるときはもちろん、サンドブラストによる隔壁形成工程では、サンドブラストで研削された隔壁形成用塗料の乾燥体が、鉛を含有する廃棄物として地球環境に放出されることになる。近年、かかる環境上の観点より、PDPの誘電体層や隔壁を形成する塗料の無機粉末として、鉛を含まないガラスを用いることが検討されている。   By the way, in the dielectric layer and the partition including lead, not only when the PDP is discarded, but also in the partition forming process by sand blasting, the dry body of the partition forming paint ground by sand blasting is the earth as the waste containing lead. Will be released to the environment. In recent years, from such an environmental point of view, it has been studied to use glass containing no lead as an inorganic powder of a paint for forming a PDP dielectric layer and partition walls.

かかる観点から、ガラス材料として、600℃以下の軟化点および特定の熱膨張係数を有し、Bを増量したガラス組成物が提案されている(特許文献3参照)。ところが、このような鉛を含まないガラスを用いて隔壁形成用塗料を調製しようとしても、後述する理由によって、サンドブラストで隔壁を形成することは不可能であった。
特開平11−185643号公報 特開2000−268733号公報 特開平9−278482号公報
From such a viewpoint, a glass composition having a softening point of 600 ° C. or less and a specific thermal expansion coefficient and increasing the amount of B 2 O 3 has been proposed (see Patent Document 3). However, even if an attempt is made to prepare a partition wall-forming paint using such lead-free glass, it has been impossible to form partition walls by sandblasting for the reasons described later.
Japanese Patent Laid-Open No. 11-185643 JP 2000-268733 A JP-A-9-278482

本発明の目的は、前述した従来技術の問題点に鑑み、フォトレジストとの密着性を向上させ、サンドブラスト加工による隔壁形成効率を向上できるディスプレイデバイス隔壁の形成方法とそれに用いられるディスプレイデバイス隔壁形成用塗料を提供することにある。   SUMMARY OF THE INVENTION In view of the above-mentioned problems of the prior art, the object of the present invention is to provide a method for forming a display device partition that can improve adhesion with a photoresist and improve partition formation efficiency by sandblasting, and a display device partition for use in the method. To provide paint.

本発明者らは、このような課題を解決するために鋭意研究を重ねた結果、無機粉末の必須成分としてガラス粉末を含有するディスプレイデバイス隔壁形成用塗料において、この無機粉末に対して特定量のSi含有有機化合物を配合することにより、隔壁形成用塗料中に無機粉末が均一に分散するようになり、フォトレジストとの密着性を向上できるだけでなく、高精細なフォトレジストのパターンを実現でき、この際、表面に特定量の水分が吸着された無機粉末を用いれば、無機粉末表面の水に起因するOH基とSi含有有機化合物が水素結合することで、隔壁形成用塗料中に無機粉末が均一に分散するようになり、一層大きな効果が得られることを見出し、本発明を完成するに至った。   As a result of intensive research in order to solve such problems, the present inventors have found that a specific amount of the inorganic powder in the coating for forming a display device partition containing glass powder as an essential component of the inorganic powder. By blending the Si-containing organic compound, the inorganic powder is uniformly dispersed in the partition wall-forming coating material, and not only can the adhesion with the photoresist be improved, but also a high-definition photoresist pattern can be realized, At this time, if an inorganic powder having a specific amount of moisture adsorbed on the surface is used, the inorganic powder is formed in the partition wall-forming coating composition by hydrogen bonding between the OH group and the Si-containing organic compound caused by the water on the surface of the inorganic powder. It came to be uniformly dispersed, and it was found that a greater effect was obtained, and the present invention was completed.

すなわち、本発明の第1の発明によれば、基板上に設置された所定の厚みを有する隔壁形成用塗料層の上に、所望のパターンのレジスト膜を形成した後、サンドブラスト加工によって該隔壁形成用塗料層の不要部分を除去してディスプレイデバイスの隔壁を形成する方法において、上記隔壁形成用塗料は、無機粉末(A)と、有機ビヒクル(B)およびSi含有有機化合物(C)を含み、かつSi含有有機化合物(C)の含有量は、無機粉末(A)100重量部に対して0.3〜10重量部であることを特徴するディスプレイデバイス隔壁の形成方法が提供される。   That is, according to the first invention of the present invention, a resist film having a desired pattern is formed on a partition wall-forming paint layer having a predetermined thickness installed on a substrate, and then the partition wall is formed by sandblasting. In the method for forming a partition wall of a display device by removing unnecessary portions of the coating layer for coating, the partition wall forming coating material includes an inorganic powder (A), an organic vehicle (B), and a Si-containing organic compound (C). And the content of Si containing organic compound (C) is 0.3-10 weight part with respect to 100 weight part of inorganic powder (A), The formation method of the display device partition characterized by the above-mentioned is provided.

また、本発明の第2の発明によれば、第1の発明において、ガラス粉末は、鉛を含まないSiO−B−ZnO−アルカリ系ガラスであることを特徴とするディスプレイデバイス隔壁の形成方法が提供される。 According to a second aspect of the present invention, in the first aspect, the glass powder is SiO 2 —B 2 O 3 —ZnO—alkaline glass containing no lead. A forming method is provided.

また、本発明の第3の発明によれば、第1の発明において、有機ビヒクル(B)は、エチルセルロース、ニトロセルロース、アクリル、スチレン、又はブチラールから選ばれる少なくとも一種の樹脂と、テルピノール、ジヒドロテルピノール、ブチルカルビトールアセテート、ブチルカルビトール、又は2,2,4−トリメチル−1,3−ペンタンジオールモノブチレートから選ばれる少なくとも一種の溶剤から構成されることを特徴とするディスプレイデバイス隔壁の形成方法が提供される。   According to the third invention of the present invention, in the first invention, the organic vehicle (B) comprises at least one resin selected from ethyl cellulose, nitrocellulose, acrylic, styrene, or butyral, terpinol, dihydrotel A display device partition wall comprising at least one solvent selected from pinol, butyl carbitol acetate, butyl carbitol, or 2,2,4-trimethyl-1,3-pentanediol monobutyrate A forming method is provided.

さらに、本発明の第4の発明によれば、第1の発明において、Si含有有機化合物(C)は、分子量(Mw)が500以下のシランまたはシラザンであることを特徴とするディスプレイデバイス隔壁の形成方法が提供される。   Furthermore, according to the fourth invention of the present invention, in the first invention, the Si-containing organic compound (C) is a silane or silazane having a molecular weight (Mw) of 500 or less. A forming method is provided.

一方、本発明の第5の発明によれば、第1〜4のいずれかの発明の方法に係り、無機粉末(A)と、有機ビヒクル(B)およびSi含有有機化合物(C)を含み、かつSi含有有機化合物(C)の含有量が、無機粉末(A)100重量部に対して0.3〜10重量部であることを特徴するディスプレイデバイス隔壁形成用塗料が提供される。   On the other hand, according to the fifth invention of the present invention, it relates to the method of any one of the first to fourth inventions, comprising inorganic powder (A), organic vehicle (B) and Si-containing organic compound (C), And the content of Si containing organic compound (C) is 0.3-10 weight part with respect to 100 weight part of inorganic powder (A), The coating material for display device partition formation characterized by the above-mentioned is provided.

本発明のディスプレーデバイス隔壁形成方法によれば、Si含有有機化合物が特定量含まれた塗料を用いるので、それを塗布して得られた乾燥体は、フォトレジストとの密着性が向上し、サンドブラストによって微細なフォトレジストパターンを実現できる。これにより、PDPの隔壁の幅を微細にし高精細なPDPを実現できる。   According to the display device partition wall forming method of the present invention, since a paint containing a specific amount of an Si-containing organic compound is used, the dry body obtained by applying the paint has improved adhesion to the photoresist, and sandblasting. A fine photoresist pattern can be realized. Thereby, the width of the partition wall of the PDP can be reduced and a high-definition PDP can be realized.

また、隔壁形成用塗料として鉛を含まないガラス粉末を用いた場合でも、同様にしてその乾燥体がフォトレジストと密着し、微細なフォトレジストパターンを実現できる。その結果、これまで不可能であった鉛を含まないレジストライン幅が100μm以下のPDPの隔壁を形成することができ、工業的価値は極めて大きい。   Further, even when a glass powder not containing lead is used as the partition wall forming coating material, the dried body is in close contact with the photoresist, and a fine photoresist pattern can be realized. As a result, a PDP partition wall having a resist line width of 100 μm or less that does not contain lead, which has been impossible until now, can be formed, and the industrial value is extremely high.

以下、本発明のディスプレーデバイス隔壁形成用塗料(以下、単に塗料ともいう)、及びそれを用いた隔壁の形成方法について詳細に説明する。   Hereinafter, the coating material for forming a display device partition wall of the present invention (hereinafter also simply referred to as a coating material) and a method for forming a partition wall using the same will be described in detail.

本発明のディスプレーデバイス隔壁形成用塗料は、無機粉末(A)、有機ビヒクル(B)、および特定量のSi含有有機化合物(C)を含んでおり、無機粉末(A)が、塗料中で略均一に分散した状態にある。   The coating material for forming a display device partition according to the present invention contains an inorganic powder (A), an organic vehicle (B), and a specific amount of an Si-containing organic compound (C). It is in a uniformly dispersed state.

1.無機粉末(A)
本発明において、無機粉末は、ディスプレーデバイス隔壁形成用塗料の主成分であり、焼成して隔壁を形成すると同時に、形成された隔壁を基板に密着させる成分である。また、無機粉末には、所望の色のPDP隔壁を実現するための顔料としての機能と、PDP隔壁の骨材としての機能がある。
1. Inorganic powder (A)
In the present invention, the inorganic powder is a main component of the coating material for forming the display device partition wall, and is a component that forms the partition wall by baking and simultaneously adheres the formed partition wall to the substrate. The inorganic powder has a function as a pigment for realizing a PDP partition wall of a desired color and a function as an aggregate of the PDP partition wall.

無機粉末は、例えば軟化点500〜600℃にあるガラス粉末を必須の構成要素とする。ガラス粉末としては、鉛を含有するPbO−SiO−B系ガラスはもちろん、鉛を含有しないSiO−B−ZnO−アルカリ系ガラスも用いることができる。ガラス粉末は、所望の軟化点であるか、また、無機粉末を焼成した後の熱膨張係数が基板に適合するかにより選択される。 The inorganic powder includes, for example, glass powder having a softening point of 500 to 600 ° C. as an essential component. As the glass powder, not only PbO—SiO 2 —B 2 O 3 glass containing lead but also SiO 2 —B 2 O 3 —ZnO—alkali glass not containing lead can be used. The glass powder is selected depending on the desired softening point and whether the thermal expansion coefficient after firing the inorganic powder is compatible with the substrate.

鉛を含有するガラス粉末の組成は、特に限定される訳ではないが、酸化物換算でPbO:5〜70重量%、B:1〜20重量%、SiO:5〜60重量%、Al:15重量%以下、ZnO:20重量%以下、BaO+CaO:10重量%以下、KO+NaO:10重量%以下とすることが好ましい。 The composition of the glass powder containing lead is not particularly limited, but PbO: 5 to 70% by weight, B 2 O 3 : 1 to 20% by weight, SiO 2 : 5 to 60% by weight in terms of oxides. Al 2 O 3 : 15 wt% or less, ZnO: 20 wt% or less, BaO + CaO: 10 wt% or less, K 2 O + Na 2 O: 10 wt% or less are preferable.

ガラス粉末の組成が、この範囲であればガラス粉末の熱膨張係数は、80×10−7以下となり、PDPに広く用いられているソーダライムガラス基板と同程度であるか、より小さい値を示し、基板と優れたマッチングを示す。なお、ソーダライムガラス基板の熱膨張係数は、80×10−7〜86×10−7であることが広く知られている。ガラス粉末の熱膨張係数が基板の熱膨張係数と極端に違えば、基板や誘電体膜およびPDP隔壁に反りや、ゆがみを生じPDP隔壁の倒壊などの欠陥につながることになる。 If the composition of the glass powder is within this range, the thermal expansion coefficient of the glass powder is 80 × 10 −7 or less, which is the same as or smaller than that of a soda lime glass substrate widely used for PDP. Shows excellent matching with the substrate. It is widely known that the thermal expansion coefficient of the soda lime glass substrate is 80 × 10 −7 to 86 × 10 −7 . If the thermal expansion coefficient of the glass powder is extremely different from the thermal expansion coefficient of the substrate, the substrate, the dielectric film, and the PDP partition wall may be warped or distorted, leading to defects such as collapse of the PDP partition wall.

本発明における鉛を含まないガラス粉末であれば、ガラス粉末の組成は、酸化物換算でB:5〜30重量%、SiO:10〜60重量%、Al:10重量%以下、ZnO:10〜30重量%、BaO+CaO:10重量%以下、KO+NaO+LiO:20重量%以下とすることが望ましい。 If the glass powder containing no lead in the present invention, the composition of the glass powder, in terms of oxide B 2 O 3: 5~30 wt%, SiO 2: 10 to 60 wt%, Al 2 O 3: 10 wt % or less, ZnO: 10 to 30 wt%, BaO + CaO: 10 wt% or less, K 2 O + Na 2 O + Li 2 O: it is desirable that the 20 wt% or less.

また、ガラス粉末の粒度は、最大粒径が30μm未満であることが望ましい。ガラス粉末の最大粒径が30μmを超えると、表面が平坦な隔壁を形成できなくなる。ガラス粉末の粒径が粒度分布D50値で2.0〜6.0μmとすることが望ましい。2.0μmより細かくなると焼成温度の管理が困難になり、所定温度より高くなるとPDP隔壁が倒壊する恐れがある。一方、粒径が6.0μmより大きくなると、緻密なPDP隔壁を形成できなくなることがある。   The glass powder preferably has a maximum particle size of less than 30 μm. When the maximum particle size of the glass powder exceeds 30 μm, a partition having a flat surface cannot be formed. It is desirable that the glass powder has a particle size distribution D50 value of 2.0 to 6.0 μm. When it is finer than 2.0 μm, it becomes difficult to control the firing temperature, and when it is higher than the predetermined temperature, the PDP partition wall may collapse. On the other hand, when the particle diameter is larger than 6.0 μm, it may be impossible to form a dense PDP partition wall.

ガラス粉末の含有量は、無機粉末に対して70〜99重量%、特に80〜90重量%であることが好ましい。ガラス粉末の含有量が70重量%未満では、相対的に他の無機粉末が多くなり、緻密な隔壁を実現できなくなる。一方、ガラス粉末が99重量%より多くなると、緻密な隔壁は形成できるが、他の無機粉末が少ないので所望の色のPDP隔壁を実現できなくなることがある。また、ガラス粉末の含有量が95重量%より多くなると、骨材として機能する無機粉末が少なすぎて、焼成時にPDP隔壁が溶融流動して倒壊することがある。   The content of the glass powder is preferably 70 to 99% by weight, particularly 80 to 90% by weight, based on the inorganic powder. When the content of the glass powder is less than 70% by weight, other inorganic powders are relatively increased and a dense partition cannot be realized. On the other hand, when the glass powder is more than 99% by weight, a dense partition can be formed, but since there are few other inorganic powders, a PDP partition of a desired color may not be realized. Moreover, when the content of the glass powder is more than 95% by weight, there are too few inorganic powders functioning as aggregates, and the PDP partition wall may melt and flow and collapse during firing.

無機粉末は、ガラス粉末の他に、アルミナ、シリカ、フォルステライト、ジルコニア、ジルコン、チタニア等のいずれかの無機酸化物粉末を含んでいる。シリカには、α石英のほかに石英ガラスを含むものとする。   The inorganic powder contains, in addition to the glass powder, any inorganic oxide powder such as alumina, silica, forsterite, zirconia, zircon, and titania. Silica includes quartz glass in addition to α-quartz.

これら無機酸化物の粒度は、最大粒径が30μm未満であることが望ましい。ガラス粉末の最大粒径が30μmを超えると、表面が平坦な隔壁を形成できなくなるので好ましくない。   As for the particle size of these inorganic oxides, the maximum particle size is desirably less than 30 μm. If the maximum particle size of the glass powder exceeds 30 μm, it is not preferable because a partition having a flat surface cannot be formed.

ガラス粉末と無機酸化物粉末の構成割合は、緻密な焼成膜を得られることを基準に選択される。無機酸化物粉末は、ガラス粉末よりも少なければならず、無機粉末全体に対して1〜30重量%、好ましくは5〜20重量%とすることが望ましい。
含有量が1重量%より少なくなると、所望の色のPDP隔壁を実現できなくなることがあるだけでなく、骨材としての機能が弱すぎて、焼成時にPDP隔壁が溶融流動して倒壊することがある。一方、30重量%を超えると、緻密な隔壁を実現できなくなることがある。
The composition ratio of the glass powder and the inorganic oxide powder is selected on the basis that a dense fired film can be obtained. The inorganic oxide powder must be smaller than the glass powder, and is desirably 1 to 30% by weight, preferably 5 to 20% by weight, based on the whole inorganic powder.
When the content is less than 1% by weight, not only a PDP partition wall of a desired color may not be realized, but the function as an aggregate is too weak, and the PDP partition wall may melt and flow and collapse during firing. is there. On the other hand, if it exceeds 30% by weight, a dense partition may not be realized.

本発明で用いられる無機粉末は、水を含有するが、その含有量は0.1〜1重量%でなければならない。無機粉末の表面に吸着された水によりSi含有有機化合物が加水分解し、無機粉末と水素結合する。水が無機粉末の表面に存在するため、Si含有有機化合物は、選択的に無機粉末に結合することとなる。水の含有量が0.1重量%未満では、水素結合が不足し、一方、1重量%を超えると無機粉末が凝集してしまう。   The inorganic powder used in the present invention contains water, but its content must be 0.1 to 1% by weight. The Si-containing organic compound is hydrolyzed by the water adsorbed on the surface of the inorganic powder, and hydrogen bonds with the inorganic powder. Since water is present on the surface of the inorganic powder, the Si-containing organic compound is selectively bonded to the inorganic powder. If the water content is less than 0.1% by weight, the hydrogen bonds are insufficient, while if it exceeds 1% by weight, the inorganic powder aggregates.

無機粉末の表面に所定量の水を吸着させるには、特別な条件が要求されるわけではないが、例えば温度18℃〜27℃、相対湿度が40%〜60%である環境で保管することが好ましい。温度が18℃未満であるか、相対湿度が60%を超えると水の含有量が1重量%を超えてしまう可能性が高くなる。一方、温度が27℃を超えるか、相対湿度が40%未満であると水の含有量が0.1重量%未満になる可能性が高くなる。   Special conditions are not required for adsorbing a predetermined amount of water on the surface of the inorganic powder, but it should be stored in an environment where the temperature is 18 ° C to 27 ° C and the relative humidity is 40% to 60%. Is preferred. If the temperature is lower than 18 ° C. or the relative humidity exceeds 60%, the water content is more likely to exceed 1% by weight. On the other hand, if the temperature exceeds 27 ° C. or the relative humidity is less than 40%, the water content is likely to be less than 0.1% by weight.

2.有機ビヒクル(B)
本発明において、有機ビヒクルは、有機樹脂と溶剤を含んでなり、無機粉末を塗料中に分散する機能と、塗料の焼成により形成される隔壁を基板に結合する機能を有する。
2. Organic vehicle (B)
In the present invention, the organic vehicle contains an organic resin and a solvent, and has a function of dispersing inorganic powder in the paint and a function of bonding a partition formed by baking the paint to the substrate.

有機樹脂は、隔壁形成用塗料の乾燥体の強度を維持し、特にサンドブラスト後、かつ焼成前に隔壁パターンが倒壊することを防止する働きをする。有機樹脂は、焼成後に隔壁に残留することは望ましくなく、500〜600℃の焼成温度で分解するものを用いる必要がある。   The organic resin functions to maintain the strength of the dried body of the partition wall-forming coating, and in particular, prevents the partition wall pattern from collapsing after sandblasting and before firing. It is not desirable for the organic resin to remain on the partition after firing, and it is necessary to use an organic resin that decomposes at a firing temperature of 500 to 600 ° C.

このような有機樹脂として、エチルセルロース、ニトロセルロース、アクリル、スチレン、ブチラール等の樹脂を用いることができる。これら樹脂は、単独でも、2種類以上を混合して用いることもできる。なお、アクリルにはメタクリレート樹脂が含まれ、スチレンにはメチルスチレン樹脂も含まれる。   As such an organic resin, a resin such as ethyl cellulose, nitrocellulose, acrylic, styrene, or butyral can be used. These resins can be used alone or in combination of two or more. Acrylic includes a methacrylate resin, and styrene includes a methylstyrene resin.

一方、溶剤は、塗料の流動性を向上させる構成成分である。例えば、テルピノール、ジヒドロテルピノール、ブチルカルビトールアセテート、ブチルカルビトール、2,2,4−トリメチル−1,3−ペンタンジオールモノブチレートが選択される。これら溶剤を単独で用いることも、混合物として用いることもできる。   On the other hand, the solvent is a component that improves the fluidity of the paint. For example, terpinol, dihydroterpinol, butyl carbitol acetate, butyl carbitol, 2,2,4-trimethyl-1,3-pentanediol monobutyrate is selected. These solvents can be used alone or as a mixture.

3.Si含有有機化合物
本発明においてSi含有有機化合物は、隔壁形成用材料の乾燥体中の無機粉末と、当該乾燥体中の有機樹脂およびフォトレジストとの密着を向上させる機能を有するものであり、Si−H結合やSi−O結合やSi−C結合を有する化合物をいう。
3. Si-containing organic compound In the present invention, the Si-containing organic compound has a function of improving the adhesion between the inorganic powder in the dry body of the partition wall forming material and the organic resin and the photoresist in the dry body. A compound having —H bond, Si—O bond or Si—C bond.

Si含有有機化合物は、上記の機能を有するものであれば特に限定されない。例えば、ビニルトリクロルシラン(Mw=161.5)などのハロゲン化シラン;ビニルトリメトキシシラン(Mw=148.2)、ビニルトリエトキシシラン(Mw=190.3)、テトラメトキシシラン(Mw=152.2)、テトラエトキシシラン(Mw=208.3)、メチルトリメトキシシラン(Mw=136.2)、メチルトリエトキシシラン(Mw=178.3)、ジメチルジエトキシシラン(Mw=148.3)、フェニルトリエトキシシラン(Mw=240.4)、ヘキシルトリメトキシシラン(Mw=206.4)、デシルトリメトキシシラン(Mw=262.5)、2−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラン(Mw=246.3)、3−グリシドキシプロピルメチルジエトキシシラン(Mw=248.4)、3−グリシドキシプロピルトリエトキシシラン(Mw=278.4)、p−スチリルトリメトキシシラン(Mw=224.3)などの各種アルコキシシラン;3−メタクリロキシプロピルメチルジメトキシシラン(Mw=232.4)、3−メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン(Mw=248.4)、3−メタクリロキシプロピルメチルジエトキシシラン(Mw=260.4)、3−メタクリロキシプロピルトリエトキシシラン(Mw=290.4)、3−アクリロキシプロピルトリメトキシシラン(Mw=234.3)などの(メタ)アクリル基含有シラン;N−2(アミノエチル)3−アミノプロピルメチルジメトキシシラン(Mw=206.4)、N−2(アミノエチル)3−アミノプロピルトリメトキシシラン(Mw=222.4)、N−2(アミノエチル)3−アミノプロピルトリエトキシシラン(Mw=264.5)、3−アミノプロピルトリエトキシシラン(Mw=179.3)等のアミノ基含有シラン;ヘキサメチルジシラザン(Mw=161.4)などのシラザンが挙げられる。   The Si-containing organic compound is not particularly limited as long as it has the above function. For example, halogenated silanes such as vinyltrichlorosilane (Mw = 161.5); vinyltrimethoxysilane (Mw = 148.2), vinyltriethoxysilane (Mw = 190.3), tetramethoxysilane (Mw = 152. 2), tetraethoxysilane (Mw = 208.3), methyltrimethoxysilane (Mw = 136.2), methyltriethoxysilane (Mw = 178.3), dimethyldiethoxysilane (Mw = 148.3), Phenyltriethoxysilane (Mw = 240.4), hexyltrimethoxysilane (Mw = 206.4), decyltrimethoxysilane (Mw = 262.5), 2- (3,4-epoxycyclohexyl) ethyltrimethoxysilane (Mw = 246.3), 3-glycidoxypropylmethyldiethoxysilane (Mw 248.4), 3-glycidoxypropyltriethoxysilane (Mw = 278.4), various alkoxysilanes such as p-styryltrimethoxysilane (Mw = 224.3); 3-methacryloxypropylmethyldimethoxysilane ( Mw = 232.4), 3-methacryloxypropyltrimethoxysilane (Mw = 248.4), 3-methacryloxypropylmethyldiethoxysilane (Mw = 260.4), 3-methacryloxypropyltriethoxysilane (Mw) = 290.4), (meth) acryl group-containing silanes such as 3-acryloxypropyltrimethoxysilane (Mw = 234.3); N-2 (aminoethyl) 3-aminopropylmethyldimethoxysilane (Mw = 206. 4), N-2 (aminoethyl) 3-aminopropyltrimethoxysilane (Mw = 222.4), N-2 (aminoethyl) 3-aminopropyltriethoxysilane (Mw = 264.5), 3-aminopropyltriethoxysilane (Mw = 179.3), etc. Silane; silazane such as hexamethyldisilazane (Mw = 161.4).

これらSi含有有機化合物は、隔壁形成用塗料を焼成する温度(500〜600℃)で分解され、焼成された隔壁に残留しないものが望ましい。そのため、分子量(Mw)は500以下、特に400以下、さらには300以下が望ましい。分子量(Mw)が500を超えるものは、焼成で分解されにくく焼成された隔壁に残留するので好ましくない。   These Si-containing organic compounds are desirably decomposed at a temperature (500 to 600 ° C.) at which the partition wall-forming coating material is fired and do not remain in the fired partition walls. Therefore, the molecular weight (Mw) is preferably 500 or less, particularly 400 or less, and further preferably 300 or less. Those having a molecular weight (Mw) exceeding 500 are not preferable because they are hardly decomposed by firing and remain in the fired partition walls.

ところで、一般に、Si含有有機化合物を用いてセラミックスやガラス等の無機物を表面処理すると、無機物と樹脂などの有機物の密着性を向上させることが知られている。この表面処理は、従来、Si含有有機化合物を含む水溶液に当該無機物を加え、攪拌して湿式で表面処理する方法と、Si含有有機化合物を含む水溶液を、当該無機物に噴霧して表面処理する方法がある。   By the way, it is generally known that when an inorganic material such as ceramics or glass is surface-treated using a Si-containing organic compound, the adhesion between the inorganic material and an organic material such as a resin is improved. Conventionally, the surface treatment includes a method of adding the inorganic substance to an aqueous solution containing an Si-containing organic compound, stirring and wet-treating the surface, and a method of performing a surface treatment by spraying an aqueous solution containing an Si-containing organic compound onto the inorganic substance. There is.

しかし、いずれの方法でも、Si含有有機化合物を含む水溶液を用いて、隔壁形成用塗料の無機粉末を表面処理すると、表面処理した粉末は強く凝集してしまう。このようになった無機粉末は、隔壁形成用塗料の樹脂や有機溶剤に分散することが不可能となり、均質な塗料を得ることができなくなる。均質な隔壁形成用塗料を用いなければ、隔壁の焼成工程で、材料の不均一に起因する隔壁の倒壊や異常な膨張による剥がれなどの不具合につながる。   However, in any method, when the inorganic powder of the partition wall forming coating is surface-treated using an aqueous solution containing an Si-containing organic compound, the surface-treated powder is strongly aggregated. The inorganic powder thus formed cannot be dispersed in the resin or organic solvent of the partition wall-forming coating material, and a uniform coating material cannot be obtained. If a uniform partition wall forming coating material is not used, the partition wall firing process may lead to problems such as collapse of the partition wall due to material non-uniformity and peeling due to abnormal expansion.

また、Si含有有機化合物を含む水溶液で、隔壁形成用塗料を構成する無機粉末のうちガラス粉末中のB成分が溶出し、そのためガラス粉末が変質してしまい、所望の軟化点や熱膨張係数を実現することが困難となる。 Further, in the aqueous solution containing the Si-containing organic compound, the B 2 O 3 component in the glass powder out of the inorganic powder constituting the partition wall-forming coating material is eluted, so that the glass powder is altered, and the desired softening point and heat It becomes difficult to realize the expansion coefficient.

Si含有有機化合物は、一般に安定性が低く、水と接触すると容易に官能基が外れて、上述の様に容易に加水分解し、生成した−OH基が縮合しオリゴマーを形成することがあり、Si含有有機化合物を含有する塗料などの粘度が経時的に安定せず、保存に不適切なものとなる。   The Si-containing organic compound is generally low in stability, and when it comes into contact with water, the functional group can be easily removed and easily hydrolyzed as described above, and the generated —OH group may be condensed to form an oligomer. The viscosity of paints containing Si-containing organic compounds is not stable over time, making them unsuitable for storage.

これに対して、本発明においては、無機粉末は、水を含有するが、その含有量が0.1〜1重量%であって、この水は無機粉末の表面に吸着している。無機粉末の表面の水により、Si含有有機化合物は、加水分解し、無機粉末と水素結合する。水が無機粉末の表面に存在するため、Si含有有機化合物は、選択的に無機粉末に結合することとなる。水の含有量が0.1重量%未満では、水素結合が不足し、一方、1重量%を超えると無機粉末が凝集してしまう。   On the other hand, in this invention, although inorganic powder contains water, the content is 0.1 to 1 weight%, and this water is adsorb | sucking to the surface of inorganic powder. The Si-containing organic compound is hydrolyzed by the water on the surface of the inorganic powder, and hydrogen bonds with the inorganic powder. Since water is present on the surface of the inorganic powder, the Si-containing organic compound is selectively bonded to the inorganic powder. If the water content is less than 0.1% by weight, the hydrogen bonds are insufficient, while if it exceeds 1% by weight, the inorganic powder aggregates.

Si含有有機化合物がトリアルコキシシランであれば、次式のメカニズムにより、水により加水分解され、加水分解で生じたOH基が無機粉末の表面に水素結合し、このOH基の水素結合により無機粉末の結合を強めることになるものと考えられる。   If the Si-containing organic compound is trialkoxysilane, it is hydrolyzed by water by the mechanism of the following formula, and OH groups generated by hydrolysis are hydrogen bonded to the surface of the inorganic powder, and the inorganic powder is formed by hydrogen bonding of the OH groups. It is thought that this will strengthen the bond.

Figure 2005322590
Figure 2005322590

(式中、RとR’は、例えば炭素数1〜5のアルキル基であり、同じでも異なっていても良い。) (In the formula, R and R ′ are, for example, alkyl groups having 1 to 5 carbon atoms, and may be the same or different.)

ところで、鉛を含むガラスを用いた隔壁形成用塗料と、ガラスのみを上述の鉛を含まないSiO−B−ZnO−アルカリ系ガラスに置換した隔壁形成用塗料とを用いて得た乾燥体を、フォトレジスト後の現像工程で比較すると、鉛を含むガラス粉末を用いた隔壁形成用塗料では、アルカリ水溶液での現像工程や水洗工程でフォトレジストパターンは残存するが、SiO−B−ZnO−アルカリ系ガラス粉末を用いた隔壁形成用塗料では全く残存しない。これは、SiO−B−ZnO−アルカリ系ガラス粉末を用いた隔壁形成用塗料は、フォトレジストとの密着性が低いことを示している。そのため、鉛を含まないガラス粉末を用いた隔壁形成用塗料では、サンドブラストで隔壁を形成することが不可能であった。 Incidentally, was obtained using a barrier-forming coating material using glass containing lead, and only a paint forming a partition wall was replaced by SiO 2 -B 2 O 3 -ZnO- alkali free glass above lead glass When the dried product is compared in the development process after the photoresist, the photoresist pattern remains in the development process with an alkaline aqueous solution and the water washing process in the partition wall forming coating using the glass powder containing lead, but the SiO 2 —B The partition wall-forming paint using 2 O 3 —ZnO-alkali glass powder does not remain at all. This indicates that the partition wall-forming paint using the SiO 2 —B 2 O 3 —ZnO—alkali glass powder has low adhesion to the photoresist. Therefore, it is impossible to form a partition wall by sandblasting with a partition wall forming paint using glass powder containing no lead.

SiO−B−ZnO−アルカリ系ガラス粉末は、フォトレジストとの密着性が低いが、それは当該ガラスの耐水性が低いことに起因する。当該ガラスが所望の軟化点を実現するため、Bやアルカリ元素を、鉛を含むガラスに比べて多く含んでいる。特にガラス中のBやアルカリ元素は、ガラスの耐水性を劣化させることが知られている。ガラス中のBやアルカリ元素は、水を吸着しやすい。ラミネートにより隔壁形成用塗料の乾燥体に密着していたフォトレジストは、現像工程のアルカリ水溶液や水洗工程での水により、ガラス中のBやアルカリ元素が水を吸着し、密着力が低下してフォトレジストが剥離してしまう。この現象は、特に高精細なパターンでは顕著である。 SiO 2 —B 2 O 3 —ZnO—alkaline glass powder has low adhesion to the photoresist, which is due to the low water resistance of the glass. Since the glass is to achieve a desired softening point, the B 2 O 3 and alkali element, it contains more than glass containing lead. In particular, B 2 O 3 and alkali elements in glass are known to deteriorate the water resistance of glass. B 2 O 3 and alkali elements in the glass easily adsorb water. The photoresist that has been adhered to the dry body of the partition wall-forming coating by lamination is adsorbed by B 2 O 3 and alkali elements in the glass due to the aqueous alkali solution in the development process and the water in the water washing process. The photo resist is peeled off. This phenomenon is particularly noticeable in high-definition patterns.

そこで、SiO−B−ZnO−アルカリ系ガラスの組成をリファインし、Bを必要以上に含まないで所望の軟化点を実現する試みがなされている。しかし、このようにしても、当該ガラスの耐水性は、鉛を含むガラスの耐水性に及ばず、隔壁形成用塗料の乾燥体のフォトレジストとの密着性は、鉛を含むガラスを用いたものには及ない。結果的に、鉛を含まないガラスを用いた隔壁形成用塗料では、サンドブラストで隔壁を形成することができなかった。 Therefore, attempts have been made to refine the composition of SiO 2 —B 2 O 3 —ZnO—alkaline glass and realize a desired softening point without containing B 2 O 3 more than necessary. However, even in this case, the water resistance of the glass does not reach the water resistance of the lead-containing glass, and the adhesiveness of the dry material for forming the partition wall to the photoresist is that using the glass containing lead. It is not enough. As a result, the partition wall-forming paint using glass containing no lead could not form the partition wall by sandblasting.

さらに、上述の通り、Si含有有機化合物の水溶液で無機粉末の表面処理する際に、無機粉末を構成するガラス中のBが当該水溶液に溶出し、ガラスが変質し、所望の軟化点を実現できなくなる恐れがある。これは、鉛を含まないSiO−B−ZnO−アルカリ系ガラスでは、鉛を含有するPbO−SiO−B系ガラスと比べて顕著である。 Further, as described above, when the inorganic powder is surface-treated with the aqueous solution of the Si-containing organic compound, B 2 O 3 in the glass constituting the inorganic powder is eluted into the aqueous solution, the glass is altered, and a desired softening point is obtained. May not be realized. This is remarkable in the SiO 2 —B 2 O 3 —ZnO—alkaline glass containing no lead compared to the PbO—SiO 2 —B 2 O 3 glass containing lead.

これに対して、本発明では、鉛を含まないSiO−B−ZnO−アルカリ系ガラスを用いた場合でも、隔壁形成用塗料の成分としてSi含有有機化合物を特定量含有させているので、乾燥体とフォトレジストの密着性を向上させることができる。Si含有有機化合物の効果は、上述した通りで、隔壁形成用塗料の無機粉末と樹脂およびフォトレジストとの密着性を向上させる。また、無機粉末の表面がSi含有有機化合物で覆われており、無機粉末中のガラスがフォトレジストの現像工程、水洗工程で、水を吸着しにくくする。 On the other hand, in the present invention, even when a SiO 2 —B 2 O 3 —ZnO—alkali glass that does not contain lead is used, a specific amount of an Si-containing organic compound is contained as a component of the partition wall forming paint. Therefore, the adhesion between the dried body and the photoresist can be improved. The effect of the Si-containing organic compound is as described above, and improves the adhesion between the inorganic powder of the partition wall-forming paint, the resin and the photoresist. Further, the surface of the inorganic powder is covered with an Si-containing organic compound, and the glass in the inorganic powder makes it difficult to adsorb water in the photoresist development process and the water washing process.

4.隔壁形成用塗料の調製方法
本発明の隔壁形成用塗料は、無機粉末を特定量のSi含有有機化合物、有機ビヒクルと混合することで調製される。隔壁形成用塗料には可塑剤、消泡剤、分散剤などの添加物を配合することができる。
4). Preparation Method of Partition Wall Forming Coating Material The partition wall forming coating material of the present invention is prepared by mixing an inorganic powder with a specific amount of an Si-containing organic compound and an organic vehicle. Additives such as a plasticizer, an antifoaming agent, and a dispersing agent can be blended in the partition wall-forming coating material.

Si含有有機化合物は、無機粉末100重量部に対し0.3〜10重量部の範囲内で配合しなければならない。Si含有有機化合物が0.3重量部よりも少ないと、フォトレジストとの密着性は期待できず、一方、10重量部を超えると、Si含有有機化合物が無機粉末に対し過剰であり、大気中の湿度が高い場合などは加水分解し、樹脂を改質するので、サンドブラストによる研削速度を遅くする。   The Si-containing organic compound must be blended within a range of 0.3 to 10 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the inorganic powder. If the Si-containing organic compound is less than 0.3 parts by weight, adhesion to the photoresist cannot be expected, whereas if it exceeds 10 parts by weight, the Si-containing organic compound is excessive with respect to the inorganic powder, When the humidity is high, it hydrolyzes and modifies the resin, so the grinding speed by sandblasting is slowed down.

隔壁形成用塗料の製造には、ロールミル、ボールミル、ビーズミル、ローラーミルなど公知の方法を用いることができる。   A known method such as a roll mill, a ball mill, a bead mill, or a roller mill can be used for manufacturing the partition wall forming coating.

本発明において、Si含有有機化合物を隔壁形成用塗料に配合するには、無機粉末とあらかじめ混合してから添加してもよいし、そのまま、直接的に隔壁形成用塗料へ添加してもよい。   In this invention, in order to mix | blend Si containing organic compound with the coating material for barrier rib formation, you may add after mixing with an inorganic powder previously, and you may add to a coating material for barrier rib formation directly as it is.

Si含有有機化合物を無機粉末とあらかじめ混合する場合、無機粉末とSi含有有機化合物のみで混合しなければならない。Si含有有機化合物は液体であるが、無機粉末とSi含有有機化合物を均質に混合するために、半日以上攪拌等をする必要がある。攪拌にはボールミル等のような公知の粉末の混合方法を用いることができる。   When the Si-containing organic compound is mixed with the inorganic powder in advance, it must be mixed only with the inorganic powder and the Si-containing organic compound. The Si-containing organic compound is a liquid, but it is necessary to stir for half a day or more in order to mix the inorganic powder and the Si-containing organic compound uniformly. For the stirring, a known powder mixing method such as a ball mill can be used.

なお、混合の際に水を加えると、無機粉末に対して液体が増えるので混合時は均質となるが、最終的には激しい凝集が生じてしまう。前記のとおり、無機粉末の水は、表面に吸着しているだけで十分であり、水の量が1重量%を超えるようになることは避けなければならない。   When water is added during mixing, the liquid increases with respect to the inorganic powder, so that the mixture becomes homogeneous at the time of mixing, but eventually intense aggregation occurs. As described above, it is sufficient that the water of the inorganic powder is adsorbed on the surface, and it must be avoided that the amount of water exceeds 1% by weight.

5.隔壁の形成方法
本発明の隔壁の形成方法は、上記本発明の塗料を、ディスプレイデバイス用基板に塗布して、隔壁のパターンを形成後、サンドブラストで所望とされる隔壁形状とし、最後に焼成する方法である。
5). Forming method of partition wall The partition wall forming method of the present invention is obtained by applying the coating material of the present invention to a display device substrate to form a partition pattern, then forming a desired partition shape by sandblasting, and finally baking. Is the method.

すなわち、ディスプレイデバイス隔壁形成用塗料を用いて、基板の一面に塗布後、乾燥して得られる乾燥体にフォトレジスト層を形成してから、隔壁のパターンを形成する際、その不要部分をサンドブラストで除去し、最後に焼成させる。   That is, using a display device barrier rib forming coating, after applying a photoresist layer on a dry body obtained by drying on one surface of the substrate, when forming the barrier rib pattern, unnecessary portions are sandblasted. Remove and finally fire.

本発明の塗料を用いて隔壁を形成する手順(a)〜(g)を、図2を用いて具体的に説明する。   The procedure (a)-(g) which forms a partition using the coating material of this invention is demonstrated concretely using FIG.

(a)先ず、アドレス電極(図示しない)が形成されたガラス基板(10)の上に誘電体(15)が形成され、下部構造とされる。   (A) First, a dielectric (15) is formed on a glass substrate (10) on which address electrodes (not shown) are formed to form a lower structure.

(b)次いで、本発明の隔壁形成用塗料層(20)を、ガラス基板の下部構造の上に塗布する。層は一度に塗布しても良いし、数回に分けて塗布しても良い。
隔壁形成用塗料を塗布するには、スクリーン印刷はもちろんダイコーター、ロールコーターで行うことができる。ダイコーターやロールコーターで塗布するに適した粘度は、ブルックフィールド社回転粘度計HBT型の回転数10/分で、100Pa・s以下が望ましい。粘度が100Pa・sを超えると、流動性が悪くなり塗布しにくい。特に好ましい塗料層の厚さは、150〜250μmの範囲である。
塗料層を形成後、100〜150℃に加熱乾燥して、乾燥体とする。
(B) Next, the partition wall forming coating layer (20) of the present invention is applied on the lower structure of the glass substrate. The layer may be applied at once or may be applied in several times.
The partition wall-forming coating can be applied by screen printing as well as by a die coater or roll coater. The viscosity suitable for coating with a die coater or a roll coater is preferably 100 Pa · s or less at a rotational speed of a Brookfield rotational viscometer HBT type of 10 / min. When the viscosity exceeds 100 Pa · s, the fluidity becomes poor and application is difficult. A particularly preferred coating layer thickness is in the range of 150 to 250 μm.
After forming the paint layer, it is dried by heating to 100 to 150 ° C. to obtain a dried product.

(c)次に、この乾燥体の上に、フォトレジスト組成物を用いて、フォトレジスト層(21)をラミネートする。
フォトレジスト組成物としては、特に制限なく公知のものを使用でき、例えば、ネガ型フォトレジスト組成物、ポジ型フォトレジスト組成物等を挙げることができる。ポジ型フォトレジスト組成物としては、例えば、1,2−ナフトキノンジアジド系化合物、o−ニトロベンジル系化合物等を用いた光可溶性基生成型の組成物、オニウム塩等を用いた光酸発生・酸分解型の組成物などが挙げられる。ネガ型フォトレジスト組成物としては、例えば、エチレン性不飽和化合物、カルボキシル基含有フィルム性付与ポリマ及び光重合開始剤を必須成分として含有し、他に必要に応じて、染料又は顔料、その他添加物、有機溶剤を含んだ光重合型の組成物が挙げられる。
(C) Next, a photoresist layer (21) is laminated on the dried body using the photoresist composition.
As a photoresist composition, a well-known thing can be used without a restriction | limiting in particular, For example, a negative photoresist composition, a positive photoresist composition, etc. can be mentioned. As the positive photoresist composition, for example, a photo-soluble group-generating composition using a 1,2-naphthoquinonediazide compound, an o-nitrobenzyl compound or the like, a photoacid generation / acid using an onium salt, etc. Examples include decomposable compositions. The negative photoresist composition contains, for example, an ethylenically unsaturated compound, a carboxyl group-containing film property-imparting polymer and a photopolymerization initiator as essential components, and in addition, dyes or pigments and other additives as necessary. And a photopolymerizable composition containing an organic solvent.

(d)そして、ラミネートの上にラインアンドスペースパターンを有するフォトマスクを被せ、光(紫外線)を照射することにより、フォトレジストパターン(22)が形成される。このフォトレジストパターン(22)は、サンドブラスト(エッチング)の後に残るべき乾燥体層の領域に対応している。   (D) A photoresist pattern (22) is formed by covering the laminate with a photomask having a line and space pattern and irradiating light (ultraviolet rays). This photoresist pattern (22) corresponds to the area of the dry body layer that should remain after sandblasting (etching).

(e)その後、フォトレジスト層の上方にサンドブラスターのノズルを設置し、ノズルから研磨材料および空気を同時に噴霧する。
研磨材料は、フォトレジスト層が形成されなかった領域で乾燥体層に衝突し、フォトレジストパターン(22)以外の層を削り取る。サンドブラストによる不要部分の平均研削速度は、早いほど作業能率が上がる。平均研削速度が10μm/秒以下では、工程を著しく遅延させることになるので好ましくない。このサンドブラストにより、隔壁となる乾燥体(23)が残る。
(E) Thereafter, a sand blaster nozzle is installed above the photoresist layer, and the abrasive material and air are simultaneously sprayed from the nozzle.
The abrasive material collides with the dry body layer in the region where the photoresist layer is not formed, and scrapes off the layers other than the photoresist pattern (22). The higher the average grinding speed of unnecessary parts by sandblasting, the higher the work efficiency. An average grinding speed of 10 μm / second or less is not preferable because the process is significantly delayed. By this sandblasting, a dry body (23) serving as a partition remains.

(f)それから、乾燥体の上に残されたフォトレジスト層を、所定の溶剤で処理して除去し、水洗する。   (F) Then, the photoresist layer left on the dried body is removed by treatment with a predetermined solvent and washed with water.

(g)最後に、このようにして形成された乾燥体が焼成され、隔壁が完成する。焼成には、通常の厚膜ハイブリッドICの製造に用いられる一般的な焼成炉を用いることができる。
一般的な焼成条件は、空気を流しながら排気する条件下で3〜20分間、ガラス粉末の軟化点より50℃低い温度から軟化点までの温度、すなわち450〜600℃で焼成するのが好ましい。焼成温度が低すぎると、ガラス粉末の焼結が不十分なため、PDP隔壁として十分な強度が得られない。一方、焼成温度が高すぎると、材料が溶融して流れてしまい、所望形状のPDP隔壁が得られなくなる。特に好ましい焼成温度は、ガラスの軟化点より30℃低い温度から軟化点までである。焼成温度条件と、隔壁形成用塗料中のガラス粉末および無機酸化物粉末の熱的性質との間には親密な相関があり、良好な隔壁の性能を得るためには塗料の原料によって焼成条件を修正しなければならない。
(G) Finally, the dried body thus formed is fired to complete the partition. For firing, a general firing furnace used for manufacturing a normal thick film hybrid IC can be used.
As general firing conditions, firing is preferably performed at a temperature from a temperature 50 ° C. lower than the softening point of the glass powder to a softening point, that is, 450 ° C. to 600 ° C. for 3 to 20 minutes under a condition of exhausting air. If the firing temperature is too low, the glass powder is not sufficiently sintered, so that sufficient strength as a PDP partition cannot be obtained. On the other hand, if the firing temperature is too high, the material melts and flows, and a PDP partition wall having a desired shape cannot be obtained. A particularly preferable firing temperature is from a temperature 30 ° C. lower than the softening point of the glass to the softening point. There is an intimate correlation between the firing temperature conditions and the thermal properties of the glass powder and inorganic oxide powder in the partition wall-forming coating material. Must be corrected.

本発明によれば、フォトレジストにより形成される隔壁のライン幅を100μm以下に狭く形成でき、60〜100μmとすることができる。隔壁のライン幅が100μmを超えると高画質のPDPを得ることができない。   According to the present invention, the line width of the partition formed by the photoresist can be narrowly formed to 100 μm or less, and can be set to 60 to 100 μm. When the line width of the partition wall exceeds 100 μm, a high quality PDP cannot be obtained.

以上、PDPの隔壁形成にもとづいて詳細に説明したが、本発明の隔壁形成用塗料は、PDPに限定されるものではなく、例えば蛍光表示管、フィールドエミッションディスプレイ等の隔壁を有するディスプレイデバイスの隔壁形成用塗料として広く用いることができる。   As described above in detail based on the formation of the partition walls of the PDP, the partition wall forming paint of the present invention is not limited to the PDP. For example, the partition walls of a display device having partition walls such as a fluorescent display tube and a field emission display. It can be widely used as a paint for forming.

以下に、本発明の実施例及び比較例を示すが、本発明は、これらの実施例によって何ら限定されるものではない。   Examples of the present invention and comparative examples are shown below, but the present invention is not limited to these examples.

なお、ガラス粉末の軟化点(ガラス転位点)は、TG−DTA(セイコー電子社製TG/DTA320型)で測定し、粒度は、マイクロトラック(登録商標)で測定した。
また、サンドブラスト加工の際の平均研削速度は、不二製作所製サンドブラスト装置SGK−4LD−401型を用いて測定した。ノズルと基板の距離を200mm、圧力を0.2MPaとして、研磨材に#600CaCOを用いた。
The softening point (glass transition point) of the glass powder was measured by TG-DTA (TG / DTA320 type manufactured by Seiko Electronics Co., Ltd.), and the particle size was measured by Microtrac (registered trademark).
In addition, the average grinding speed during sandblasting was measured using a sandblasting device SGK-4LD-401 manufactured by Fuji Seisakusho. The distance between the nozzle and the substrate was 200 mm, the pressure was 0.2 MPa, and # 600CaCO 3 was used as the abrasive.

(実施例1〜4)(比較例1〜2)
下記の方法でガラス粉末、塗料を調製してから、引き続き、得られた塗料を用いて基板に塗布し、乾燥させて隔壁形成用塗料の乾燥体を得た。この上にフォトレジストをラミネートし、パターンを形成し、不要部をサンドブラスト加工し、隔壁となる乾燥体を残し、性能を後述する方法で評価した。フォトレジストを洗浄、水洗して除去した後、焼成して隔壁を作製した。
(1)ガラス粉末、塗料の調製
ガラスは、表1に示す組成のものを1300℃で溶融、急冷し、ボールミルで粉砕した。得られたガラス粉末の軟化点、粒径などを表1に示す。
本発明では、無機粉末として、0.5重量%の水を含有するものを用いた(水が無機粉末の表面に吸着していることは、TG−DTAで観察した)。無機粉末に水を吸着させるため、無機粉末を粉砕後、温度18〜27℃、相対湿度40〜60%の条件下に保管しておいた。
有機ビヒクルは、有機樹脂としてメタクリル樹脂(Mw:160,000)15重量%、溶剤としてテルピノール85重量%を混合し、60℃に加熱して調製した。
無機粉末は、ガラス粉末、アルミナ粉末、チタニア粉末を83:13:4(重量比)の組成に配合したものを用い、この無機粉末100重量%に、有機ビヒクル40重量%、Si含有有機化合物(3−メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン)を表2の要領で配合し、ロールミルで混合して、隔壁形成用塗料を得た。
(2)隔壁の形成
隔壁形成用塗料を基板に塗布し、ピーク条件120℃×30分のIR乾燥炉で、膜厚200μmの乾燥体を得た。100℃に加熱したホットプレート上で、フォトレジスト(東京応化製BF−704)をこの乾燥体にラミネートした。
ラミネート後、ラインアンドスペースパターンを記したフォトマスクを介し、紫外線(H線)150mJ/cmをウシオ電機製FES−10BCW−XY03型露光機で照射し、フォトマスクのパターンをレジストに焼き付けた。
なお、ラインアンドスペースパターンは、幅40μmのライン10本と各ライン間に幅100μmのスペース、幅50μmのライン10本と各ライン間に幅100μmのスペース、幅60μmのライン10本と各ライン間に幅100μmのスペース、幅80μmのライン10本と各ライン間に幅100μmのスペース、幅100μmのライン10本と各ライン間に幅150μmのスペース、幅150μmのライン10本と各ライン間に幅150μmのスペースで構成され、各ラインの長さは20mmとした。
(3)性能測定
フォトレジストへの露光後、30℃、0.5重量%のNaCO水溶液を1分間フォトレジストに流しながら現像した。現像後、室温の純水を1分間流し、アルカリ水溶液を洗浄した。その後、残留するフォトレジストのラインを目視で確認した。フォトレジストのライン幅は、最低でも100μm以下であり、望ましくは80μm以下である。
隔壁形成用塗料の乾燥体(膜厚200μm)をサンドブラストで研削し、乾燥体を貫通するまでの時間から、平均研削速度を求めた。
露光し、現像したフォトレジストのパターンが形成されている隔壁形成用塗料の乾燥体を、剥離液(50℃、3重量%のトリエタノールアミン水溶液)に20秒浸漬させた後、室温の純水を流して、フォトレジストが剥離するか否かを目視で確認した。
(Examples 1-4) (Comparative Examples 1-2)
Glass powder and paint were prepared by the following method, and subsequently, the obtained paint was applied to a substrate and dried to obtain a dry body of a partition wall-forming paint. Photoresist was laminated thereon, a pattern was formed, unnecessary portions were sandblasted, and a dry body serving as a partition was left, and the performance was evaluated by a method described later. The photoresist was washed and removed by washing with water, and then baked to produce a partition wall.
(1) Preparation of glass powder and paint The glass was melted at 1300 ° C., rapidly cooled, and pulverized with a ball mill. Table 1 shows the softening point, particle size, and the like of the obtained glass powder.
In the present invention, inorganic powder containing 0.5% by weight of water was used (the fact that water was adsorbed on the surface of the inorganic powder was observed with TG-DTA). In order to adsorb water to the inorganic powder, the inorganic powder was pulverized and stored under conditions of a temperature of 18 to 27 ° C. and a relative humidity of 40 to 60%.
The organic vehicle was prepared by mixing 15% by weight of methacrylic resin (Mw: 160,000) as an organic resin and 85% by weight of terpinol as a solvent and heating to 60 ° C.
As the inorganic powder, glass powder, alumina powder, and titania powder blended in a composition of 83: 13: 4 (weight ratio) were used. To this inorganic powder 100% by weight, an organic vehicle 40% by weight, Si-containing organic compound ( 3-Methacryloxypropyltrimethoxysilane) was blended as shown in Table 2 and mixed with a roll mill to obtain a partition wall forming coating material.
(2) Formation of partition walls A partition wall-forming coating material was applied to a substrate, and a dried product having a film thickness of 200 μm was obtained in an IR drying furnace at a peak condition of 120 ° C. × 30 minutes. A photoresist (BF-704, manufactured by Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd.) was laminated on the dried product on a hot plate heated to 100 ° C.
After lamination, the photomask pattern was baked on the resist by irradiating UV (H ray) 150 mJ / cm 2 with a FES-10BCW-XY03 type exposure machine manufactured by USHIO through a photomask having a line and space pattern.
The line and space pattern consists of 10 lines of 40 μm width and a space of 100 μm width between each line, 10 lines of 50 μm width and a space of 100 μm width between each line, 10 lines of 60 μm width and each line. Space of 100 μm width, 10 lines of 80 μm width and a space of 100 μm width between each line, 10 lines of 100 μm width and a space of 150 μm width between each line, 10 lines of 150 μm width and a width between each line The space was 150 μm, and the length of each line was 20 mm.
(3) Performance measurement After exposure to the photoresist, development was performed while flowing a 0.5 wt% Na 2 CO 3 aqueous solution at 30 ° C. for 1 minute in the photoresist. After the development, pure water at room temperature was passed for 1 minute to wash the alkaline aqueous solution. Thereafter, the remaining photoresist lines were visually confirmed. The line width of the photoresist is at least 100 μm or less, preferably 80 μm or less.
The average grinding speed was determined from the time until the dried body (200 μm film thickness) of the partition wall forming coating material was ground by sandblasting and penetrated through the dried body.
The dried product of the partition wall-forming coating material on which the exposed and developed photoresist pattern is formed is immersed in a stripping solution (50 ° C., 3 wt% triethanolamine aqueous solution) for 20 seconds, and then pure water at room temperature And whether or not the photoresist was peeled off was visually confirmed.

Figure 2005322590
Figure 2005322590

Figure 2005322590
Figure 2005322590

(参考例1)
無機粉末の水の含有量を5重量%とした以外は実施例1と同様にして、塗料の調製を試みた。
(Reference Example 1)
A coating material was prepared in the same manner as in Example 1 except that the water content of the inorganic powder was changed to 5% by weight.

「評価」
これらの結果から、実施例1〜4のように、ガラス粉末に特定量のSi含有有機化合物を配合することで、鉛を含まないガラス粉末でも、サンドブラスト加工によって、所望のPDP隔壁を形成しうることが分かる。これに対して、比較例1〜2のように、特定量のSi含有有機化合物を配合しないと、レジストのライン幅を狭く形成できないか、平均研削速度が低下して所望のPDP隔壁を形成できないことが分かる。また、参考例1は、水の量が多すぎたために、無機粉末が凝集してしまい塗料が得られなかった。
"Evaluation"
From these results, as in Examples 1 to 4, a desired amount of PDP barrier ribs can be formed by sandblasting even when glass powder containing no lead is blended with a specific amount of Si-containing organic compound in glass powder. I understand that. On the other hand, as in Comparative Examples 1 and 2, if a specific amount of Si-containing organic compound is not blended, the resist line width cannot be narrowed, or the average grinding speed is reduced and a desired PDP partition cannot be formed. I understand that. Further, in Reference Example 1, since the amount of water was too large, the inorganic powder aggregated and a paint was not obtained.

一般的なPDPの構造を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the structure of a general PDP. 本発明の方法によってPDP隔壁を形成する手順を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the procedure which forms a PDP partition by the method of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

10 ガラス基板
11 透明電極
12 バス電極
13 アドレス電極
14 MgO膜
15 誘電体
16 隔壁
17 蛍光体
20 塗料層
21 フォトレジスト層
22 レジストパターン
23 乾燥体
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Glass substrate 11 Transparent electrode 12 Bus electrode 13 Address electrode 14 MgO film | membrane 15 Dielectric 16 Partition 17 Phosphor 20 Paint layer 21 Photoresist layer 22 Resist pattern 23 Dry body

Claims (5)

基板上に設置された所定の厚みを有する隔壁形成用塗料層の上に、所望のパターンのレジスト膜を形成した後、サンドブラスト加工によって該隔壁形成用塗料層の不要部分を除去してディスプレイデバイスの隔壁を形成する方法において、
上記隔壁形成用塗料は、無機粉末(A)と、有機ビヒクル(B)およびSi含有有機化合物(C)を含み、かつSi含有有機化合物(C)の含有量は、無機粉末(A)100重量部に対して0.3〜10重量部であることを特徴するディスプレイデバイス隔壁の形成方法。
A resist film having a desired pattern is formed on a partition wall-forming coating layer having a predetermined thickness placed on a substrate, and then an unnecessary portion of the partition wall-forming coating layer is removed by sandblasting. In the method of forming the partition wall,
The partition wall-forming coating material contains an inorganic powder (A), an organic vehicle (B), and an Si-containing organic compound (C), and the content of the Si-containing organic compound (C) is 100 weights of the inorganic powder (A). The method of forming a display device partition wall is 0.3 to 10 parts by weight with respect to the part.
ガラス粉末は、鉛を含まないSiO−B−ZnO−アルカリ系ガラスであることを特徴とする請求項1に記載のディスプレイデバイス隔壁の形成方法。 The method for forming a display device partition according to claim 1, wherein the glass powder is SiO 2 —B 2 O 3 —ZnO—alkali glass not containing lead. 有機ビヒクル(B)は、エチルセルロース、ニトロセルロース、アクリル、スチレン、又はブチラールから選ばれる少なくとも一種の樹脂と、テルピノール、ジヒドロテルピノール、ブチルカルビトールアセテート、ブチルカルビトール、又は2,2,4−トリメチル−1,3−ペンタンジオールモノブチレートから選ばれる少なくとも一種の溶剤から構成されることを特徴とする請求項1に記載のディスプレイデバイス隔壁の形成方法。   The organic vehicle (B) includes at least one resin selected from ethyl cellulose, nitrocellulose, acrylic, styrene, or butyral, terpinol, dihydroterpinol, butyl carbitol acetate, butyl carbitol, or 2,2,4- The method for forming a display device partition according to claim 1, comprising at least one solvent selected from trimethyl-1,3-pentanediol monobutyrate. Si含有有機化合物(C)は、分子量(Mw)が500以下のシランまたはシラザンであることを特徴とする請求項1に記載のディスプレイデバイス隔壁の形成方法。   The method for forming a display device partition according to claim 1, wherein the Si-containing organic compound (C) is silane or silazane having a molecular weight (Mw) of 500 or less. 無機粉末(A)と、有機ビヒクル(B)およびSi含有有機化合物(C)を含み、かつSi含有有機化合物(C)の含有量が、無機粉末(A)100重量部に対して0.3〜10重量部であることを特徴する請求項1〜4のいずれかに記載の方法に用いられるディスプレイデバイス隔壁形成用塗料。   The inorganic powder (A), the organic vehicle (B) and the Si-containing organic compound (C) are contained, and the content of the Si-containing organic compound (C) is 0.3 with respect to 100 parts by weight of the inorganic powder (A). The coating material for forming a display device partition wall used in the method according to any one of claims 1 to 4, wherein the coating amount is 10 to 10 parts by weight.
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