JP2005308616A - 膜厚測定装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】光源の光を測定対象の膜に投光し、その反射光を解析することにより膜厚を算出する膜厚測定装置において、投光点における膜の表面の向きが変化しても、その膜からの反射光の受光量の変化を抑え、測定精度を高精度に維持する。
【解決手段】投光部と受光部と一体に保持する測定プローブ8側に、第1集光レンズ9a(焦点距離f1)を設け、測定対象物側に第2集光レンズ9b(焦点距離f1)を設け、f1≦f2とした。成膜ベースシート材19を支持し、測定時に投光点に対応する位置に溝21a,b・・・が周設された溝付支持ロール11を用いた。
【選択図】図1

Description

本発明は、膜厚測定装置に関する。
光源の光を測定対象の膜に投光し、その反射光を受光して解析することにより膜厚を算出する膜厚測定装置が利用されている。
従来、このような膜厚測定装置は、ロールに巻かれるシート材上に成膜された膜の測定にも使用されていた(例えば、特許文献1)。
特開7−280520号公報 段落01558、図1及び図6参照
しかし、シート材にはロールに巻かれるだけの柔軟性があるために、しばしばシワが発生することがある。シート材にシワが発生すると、シート材上に形成された膜も変形しているから、投光点における膜の表面の向きが変化する。そのため、膜で反射した光の進路が変化し、受光量が変化することとなって測定精度が悪化する。
投光スポットに対応する位置においてシート材裏面を支持ロールに接触させていると、支持ロール表面からの反射が測定精度に影響してしまう。またその場合、シート材が支持ロールに沿って曲率をもって変形しているから、投光点の位置ずれにより、投光点における膜の表面の向きが変化する。そのため、膜で反射した光の進路が変化し、受光量が変化することとなって測定精度が悪化する。
特許文献1図6記載のように2つの支持ロール間に架設されたシート材上の膜を測定すると、測定部でシート材は支持ロールにより支持されていないので、支持ロール表面からの反射による影響はないものの、撓み、縒り、バタツキなどにより膜が変形して投光点における膜の表面の向きが変化する。そのため、膜で反射した光の進路が変化し、受光量が変化することとなって測定精度が悪化する。
本発明は以上の従来技術における問題に鑑みてなされたものであって、光源の光を測定対象の膜に投光し、その反射光を解析することにより膜厚を算出する膜厚測定装置において、投光点における膜の表面の向きが変化しても、その膜からの反射光の受光量の変化を抑え、測定精度を高精度に維持することを課題とする。
以上の課題を解決するための請求項1記載の発明は、光源と、
前記光源の光を導光し測定対象膜に投光する投光部と、
前記測定対象膜からの反射光を受光する受光部と、
前記受光部に対峙して設けられるとともに、前記投光部から出射する光を受ける第1集光レンズと、
前記第1集光レンズとほぼ同軸上で前記測定対象膜に対峙するように設けられ、前記第1集光レンズの焦点距離以上の焦点距離を有する第2集光レンズと、
前記受光部が受光した反射光を分光して分光データを出力する分光器と、
前記分光器が出力した分光データに基づき前記測定対象膜の膜厚を演算する膜厚演算手段とを備えることを特徴とする膜厚測定装置である。
したがって請求項1記載の発明によれば、投光部から出射した光は、第1集光レンズを通過し、第2集光レンズを通過して測定対象膜上に投光され、測定対象膜からの反射光は第2集光レンズを通過し、第1集光レンズを通過して受光部へ集光される。
第1集光レンズの焦点距離をf1、第2集光レンズの焦点距離をf2として、f1≦f2に設定されている。
f1>f2とする場合に比較して、投光点における膜の表面の向きが変化しても、その膜からの反射光をより多く受光部へ集光することができる。そのため、投光点における膜の表面の向きが変化しても、その膜からの反射光の受光量の変化を抑え、測定精度を高精度に維持することができる。
第1集光レンズを受光部に対峙させ、第2集光レンズを第2集光レンズとほぼ同軸上で測定時に測定対象膜に対峙するように設ければよいから、目的に反しない限り第1集光レンズと第2集光レンズとの間に他のレンズやその他の光学部品を配置してもよい。
請求項2記載の発明は、第1集光レンズの口径が第2集光レンズの口径以下であることを特徴とする請求項1記載の膜厚測定装置である。
したがって請求項2記載の発明によれば、第1集光レンズの口径をφ1とし、第2集光レンズの口径をφ2として、φ1≦φ2とされているから、第1集光レンズの焦点距離をf1、第2集光レンズの焦点距離をf2として、f1≦f2に設定されている両集光レンズを安価に作製しやすいという利点がある。
請求項3記載の発明は、前記受光部と前記投光部とが光ファイバーよりなることを特徴とする請求項1又は請求項2記載の膜厚測定装置である。
したがって請求項3記載の発明によれば、受光部と投光部とを例えば受光部を中心に備え、投光部を周囲に備えた光ファイバーにより狭小な範囲に一体化することができ、光ファイバーの特性により投光部からの出射角に角度(最大20°)があっても、第1集光レンズ及び第2集光レンズの作用により中心の投光部へ反射光を戻すことができる。
請求項4記載の発明は、前記測定対象膜が成膜されたシート材を支持し、測定時に前記投光部が投光する前記測定対象膜上の投光点に対応する位置に溝が周設された支持ロールを備えることを特徴とする請求項1、請求項2又は請求項3記載の膜厚測定装置である。
したがって請求項4記載の発明によれば、シート材上に成膜された膜を測定対象とする場合において、シート材にシワが発生し、シート材上に形成された膜が変形して膜で反射した光の進路が変化しても、受光部と投光点との間に配置された第1集光レンズ及び第2集光レンズに反射光が入射して受光部に導かれるので、受光量の変化が抑えられて測定精度を高精度に維持できる。
投光点においてもシート材裏面を支持ロールに接触させていると、支持ロール表面からの反射が測定精度に影響してしまうが、本発明によれば、測定時に投光部が投光する測定対象膜上の投光点に対応する位置に溝が周設された支持ロールによりシート材を支持するので、支持ロール表面からの反射光が受光部に至ることが防がれて測定精度を高精度に維持できる。
また本発明によれば、シート材が支持ロールに沿って曲率をもって変形し、投光点の位置ずれにより膜で反射した光の進路が変化しても、受光部と投光点との間に配置された第1レンズ及び第2集光レンズに反射光が入射して受光部に導かれるので、受光量の変化が抑えられて測定精度を高精度に維持できる。
さらに本発明によれば、2つの支持ロール間に架設されたシート材上の膜を測定せず、測定部で1つの支持ロールにより支持されたシート材上の膜を測定するので、撓み、縒り、バタツキなどによる膜の表面形状の変形が抑えられるとともに測定部と膜との距離を一定に保持しやすく、その結果、受光量の変化が抑えられて測定精度を高精度に維持できる。
請求項5記載の発明は、前記支持ロールの軸方向の断面において前記支持ロールの周面は、外側に凸な湾曲形状が前記溝により切り欠かれてなる形状を有することを特徴とする請求項1から請求項4のうちいずれか一に記載の膜厚測定装置である。
したがって請求項5記載の発明によれば、支持ロールの軸方向の断面において支持ロールの周面は、外側に凸な湾曲形状が前記溝により切り欠かれてなる形状を有し、シート材がこの支持ロールに支持されるので、シート材には支持ロールからの圧力により四方に張力が生じてシワの発生が防がれ、受光量の変化が抑えられて測定精度を高精度に維持できる。
また、シート材が支持ロールの周方向のみならず軸方向にも曲率をもって変形するので、投光点の支持ロールの周方向のみならず軸方向の位置ずれにより膜で反射した光の進路が変化しても、受光部と投光点との間に配置された第1レンズ及び第2集光レンズに反射光が入射して受光部に導かれるので、総合的に受光量の変化が抑えられて測定精度を高精度に維持できる。
上述したように本発明によれば、光源の光を測定対象の膜に投光し、その反射光を解析することにより膜厚を算出する膜厚測定装置において、投光点における膜の表面の向きが変化しても、その膜からの反射光の受光量の変化を抑え、測定精度を高精度に維持することができるという効果がある。
以下に本発明の一実施の形態につき図面を参照して説明する。以下は本発明の一実施形態であって本発明を限定するものではない。
図1は本発明一実施形態のオンライン膜厚測定装置の構成図である。
図1に示すように、本実施形態のオンライン膜厚測定装置は、CPU1と、RAM2と、キーボード3と、画像表示装置4と、リニアスライダ5と、プローブ支持アーム6と、集光レンズ支持アーム7と、測定プローブ8と、第1集光レンズ9aと、第2集光レンズ9bと、キャリブレーション架台10と、溝付支持ロール11と、投光用光ファイバーケーブル12と、受光用光ファイバーケーブル13と、光源14と、分光器15と、スライダ駆動回路16とを有する。
光源14に投光用光ファイバーケーブル12の一端が接続されている。分光器15に受光用光ファイバーケーブル13の一端が接続されている。光源14の光は投光用光ファイバーケーブル12によって導かれ、投光用光ファイバーケーブル12の他端から出射する。光源としては、白色光、紫外線等が用いられる。
測定プローブ8は、光源14からの光が出射する投光用光ファイバーケーブル12の端部(投光部)と、受光用光ファイバーケーブル13の反射光を受光する端部(受光部)とを一体に保持している。
投光用光ファイバーケーブル12の端部から出射した光は第1集光レンズ9a及び第2集光レンズ9bを介して対象物(リファレンスサンプル又は測定対象膜)に当たって反射され、その反射光は第1集光レンズ9a及び第2集光レンズ9bを介して測定プローブ8に保持された受光用光ファイバーケーブル13の端部に入射する。
測定プローブ8に保持された受光用光ファイバーケーブル13の端部に入射した光は、受光用光ファイバーケーブル13に導かれ分光器15に入射する。
分光器15は、入射した光を分光して分光データを生成する。生成された分光データは分光器15からケーブル17を介してCPU1へ出力される。CPU1上では、後述する動作を実現するプログラムが実行される。
測定プローブ8、第1集光レンズ9a及び第2集光レンズ9bはそれぞれ、プローブ支持アーム6、集光レンズ支持アーム7によりリニアスライダ5に支持され、リニアスライダ5は測定プローブ8、第1集光レンズ9a及び第2集光レンズ9bを1軸方向(図中X軸方向)に移動させる。スライダ駆動回路16はケーブル18を介してCPU1から入力される命令(座標信号)に従ってリニアスライダ5を駆動する。測定プローブ8、第1集光レンズ9a及び第2集光レンズ9bの移動範囲には、キャリブレーション架台10と、溝付支持ロール11が異なるX座標に配置されている。溝付支持ロール11はX軸方向をその回転軸方向として配置されている。
キャリブレーション架台10には、数種のリファレンスサンプル20a,b,c・・・が載置されている。リファレンスサンプル20は、SiやSiO2など安定した物性のものが適用される。その他何種類あっても良い。
溝付支持ロール11には、複数の溝部21a,b,c・・・が周設されている。図示しない成膜ライン上に成膜ベースシート材19を搬送する搬送装置が構成されており、成膜ベースシート材19上に膜を生成する成膜工程の下流に溝付支持ロール11が配置されている。膜(図示せず)を表面に保持した成膜ベースシート材19が溝付支持ロール11上に支持され、搬送装置の動作とともに溝付支持ロール11上を通過する。
本実施形態の一動作例につき説明する。
まず、測定開始前に、キーボード3を介してユーザからCPU1へ成膜ベースシート材19上の測定箇所と測定間隔時間等の測定条件が入力される。測定箇所は、溝部21a,b,c・・・上とされる。これにより、溝付支持ロール11表面からの反射光が測定プローブ8の受光部に至ることが防がれて測定精度を高精度に維持できる。また、溝付支持ロール11により、撓み、縒り、バタツキなどによる膜の表面形状の変形が抑えられるとともに測定プローブ8と膜との距離を一定に保持しやすく、その結果、受光量の変化が抑えられて測定精度を高精度に維持できる。
さらに、キーボード3を介してユーザからCPU1へリファレンス間隔時間及びリファレンスサンプル種(例えば、リファレンスサンプル20aとする)が入力される。CPU1はRAM2にユーザからの入力情報を記憶させる。
CPU1は、リファレンス間隔時間毎にリニアスライダ5を制御して測定プローブ8及び集光レンズ9をリファレンスサンプル20aの測定位置まで移動させ、分光器15が出力する分光データを受け取り、RAM2に記憶させる。これをリファレンスサンプリングと呼ぶ。
CPU1は、リファレンスサンプリングを行う時以外において、成膜ベースシート材19上の膜の膜厚を測定する。すなわち、CPU1はリニアスライダ5を制御して測定プローブ8及び集光レンズ9を成膜ベースシート材19上の膜の測定箇所まで移動させては、分光器15が出力する分光データを受け取り、この分光データに基づき膜厚を演算する。CPU1は演算した膜厚を画像表示装置4に出力するとともに、RAM2に記憶させる。
CPU1は、RAM2に蓄積したリファレンスサンプルの分光データの変化分を算出し、その変化分による測定誤差が生じないように較正することも行う。すなわち、CPU1は、分光データとの変化分の影響が生じないように膜厚演算を補正する。
次に、溝付支持ロールの形態につき説明する。
一つには、図1及び図2に示すような溝付支持ロール11を用いることができる。溝付支持ロール11は、成膜ベースシート材19に接触する周面までの半径が軸方向に沿って一定のものである。溝部21a,b,c・・・の縁は丸みをつけることが好ましい。
溝付支持ロール11の溝部21a,b,c・・・では成膜ベースシート材19にシワが生じることがある。
しかし、測定プローブ8と投光点との間に配置された第1集光レンズ9a及び第2集光レンズ9bに反射光が入射して測定プローブ8の受光部に導かれるので、受光量の変化が抑えられて測定精度を高精度に維持できる。
また、図2(b)に示すように、成膜ベースシート材19が溝付支持ロール11に沿って周方向に曲率をもって変形するので、投光点の支持ロール周方向の位置ずれにより膜で反射した光の進路が変化する。
しかし、測定プローブ8と投光点との間に配置された第1集光レンズ9a及び第2集光レンズ9bに反射光が入射して測定プローブ8の受光部に導かれるので、受光量の変化が抑えられて測定精度を高精度に維持できる。
他の溝付支持ロールの形態としては、図3に示すような溝付支持ロール22を用いることができる。溝付支持ロール22の軸方向の断面においてその周面は、外側に凸な湾曲形状が溝部21a,b,c・・・により切り欠かれてなる形状を有する。溝付支持ロール22から成膜ベースシート材19へ押圧力が生じているから成膜ベースシート材19に張力が生じてシワの発生が防がれる。
成膜ベースシート材19は溝付支持ロール22に沿って図3(a)に示すように軸方向に曲率をもって変形するとともに、図3(b)に示すように周方向に曲率をもって変形するので、投光点の支持ロール軸方向又は周方向の位置ずれにより膜で反射した光の進路が変化する。
しかし、測定プローブ8と投光点との間に配置された第1集光レンズ9a及び第2集光レンズ9bに反射光が入射して測定プローブ8の受光部に導かれるので、受光量の変化が抑えられて測定精度を高精度に維持できる。
次に、本発明の一実施例及び比較例につき図4及び図5を参照して説明する。図4は、本発明の一実施例の投光部、受光部、第1集光レンズ及び第2集光レンズの構成を示す断面図である。図5は、比較例の投光部、受光部、第1集光レンズ及び第2集光レンズの構成を示す断面図である。
図4及び図5において、光ファイバー31はφ1mmの受光部を中心に備え、その周囲にφ2mmの投光部を備える。したがって、投光部は内径φ1mmから外径φ2mmのリング状となる。光ファイバー31は、外皮を含め直径4mmである。光ファイバー31は上述した測定プローブ8に収めて使用される。φ1mmの受光部は、受光用光ファイバーケーブル13に連続する光ファイバーであり、φ2mmの投光部は、投光用光ファイバーケーブル12に連続する光ファイバーである。
図4に示すように本発明実施例においては、測定試料面34を曲率半径46mmの曲面とした。図5に示すように比較例においては、測定試料面44を平面とした。
ここで、d1、d2、d3、f1、f2、φ1、φ2、t1、t2の各パラメータを以下のように定義する。
d1:光ファイバーから第1集光レンズまでの距離
d2:第1集光レンズから第2集光レンズまでの距離
d3:第2集光レンズから測定試料面までの距離
f1:第1集光レンズの焦点距離
f2:第2集光レンズの焦点距離
φ1:第1集光レンズの口径
φ2:第2集光レンズの口径
t1:第1集光レンズの厚さ
t2:第2集光レンズの厚さ
本実施例においては、d1=6mm、d2=45mm、d3=12mm、f1=8mm、f2=30mm、φ1=10mm、φ2=30mm、t1=4mm、t2=10mmとした。
その他、本発明における好ましい数値範囲を表1に示す。
Figure 2005308616
比較例においては、d1=6mm、d2=8mm、d3=20mm、f1=30mm、f2=15mm、φ1=30mm、φ2=15mm、t1=8mm、t2=10mmとした。
投光部からの光の出射角を光軸に対し20°として、光路を図4及び図5上に作図した。なお、光ファイバー内では光が57°の反射角で全反射して伝播する。光ファイバーの出射端部が直線であれば90−57=33°となる。但し、ファイバーと空気との間で屈折が生じる。スネルの法則よりn=1.54=sin33/sinx、x=約20°となるので、結果的に光ファイバーからの出る光は、光軸に対し最大20°となる。
図4及び図5において、破線が光ファイバーから測定試料面への光路を示し、実線が測定試料面から光ファイバーまでの光路を示す。
図4に示すように本発明実施例においては、試料面34でφ4mmの投光スポットとなり、φ1mm内の集光広がりをもってφ1mmの受光部へ反射光を戻すことができた。しかも、曲率半径46mmの試料面34に対して行った結果である。これは、測定試料が傾いたり変形しても、受光部へ反射光を戻すことができ、測定精度に影響を与えないことを示す。
本実施例の構成であれば、測定試料面の曲率半径をrとして、r≧46であれば受光部へ反射光を戻すことができる。
図5に示すように比較例においては、試料面44でφ3mmの投光スポットとなり、試料面が平面であっても、光ファイバー31端部ではφ4mmの集光広がりとなってφ1mmの受光部へ反射光を戻すことができなかった。
なお、上記第1集光レンズ及び第2集光レンズに代え、中心部と周辺部とで焦点距離f値の異なるレンズを用いることも有効である。中心部の焦点距離をf1´、周辺部の焦点距離をf2´としてf1´≦f2´とすれば、中心部が上記第1集光レンズのように投光レンズとして機能し、周辺部が上記第2集光レンズのように反射光集光レンズとして機能し、本発明と同様に高い信頼性をもって受光部に反射光を集光することが可能である。
本発明一実施形態のオンライン膜厚測定装置の構成図である。 本発明に用いる溝付支持ロールの一形態を示す正面図(a)及びA−A断面図(b)である。 本発明に用いる溝付支持ロールの他の一形態を示す正面図(a)及びB−B断面図(b)である。 本発明の一実施例の投光部、受光部、第1集光レンズ及び第2集光レンズの構成を示す断面図である。 比較例の投光部、受光部、第1集光レンズ及び第2集光レンズの構成を示す断面図である。
符号の説明
1…CPU 2…RAM 3…キーボード 4…画像表示装置 5…リニアスライダ 6…プローブ支持アーム 7…集光レンズ支持アーム 8…測定プローブ 9a…第1集光レンズ 9b…第2集光レンズ 10…キャリブレーション架台 11,22…溝付支持ロール 12…投光用光ファイバーケーブル 13…受光用光ファイバーケーブル 14…光源 15…分光器 16…スライダ駆動回路 17,18…ケーブル 19…成膜ベースシート材 20a,b…リファレンスサンプル 21a,b,c,23a,b,c…溝部

Claims (5)

  1. 光源と、
    前記光源の光を導光し測定対象膜に投光する投光部と、
    前記測定対象膜からの反射光を受光する受光部と、
    前記受光部に対峙して設けられるとともに、前記投光部から出射する光を受ける第1集光レンズと、
    前記第1集光レンズとほぼ同軸上で前記測定対象膜に対峙するように設けられ、前記第1集光レンズの焦点距離以上の焦点距離を有する第2集光レンズと、
    前記受光部が受光した反射光を分光して分光データを出力する分光器と、
    前記分光器が出力した分光データに基づき前記測定対象膜の膜厚を演算する膜厚演算手段とを備えることを特徴とする膜厚測定装置。
  2. 第1集光レンズの口径が第2集光レンズの口径以下であることを特徴とする請求項1記載の膜厚測定装置。
  3. 前記受光部と前記投光部とが光ファイバーよりなることを特徴とする請求項1又は請求項2記載の膜厚測定装置。
  4. 前記測定対象膜が成膜されたシート材を支持し、測定時に前記投光部が投光する前記測定対象膜上の投光点に対応する位置に溝が周設された支持ロールを備えることを特徴とする請求項1、請求項2又は請求項3記載の膜厚測定装置。
  5. 前記支持ロールの軸方向の断面において前記支持ロールの周面は、外側に凸な湾曲形状が前記溝により切り欠かれてなる形状を有することを特徴とする請求項1から請求項4のうちいずれか一に記載の膜厚測定装置。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009063522A (ja) * 2007-09-07 2009-03-26 Sony Corp シート材料の厚み測定方法及び装置
WO2010053028A1 (ja) * 2008-11-07 2010-05-14 コニカミノルタホールディングス株式会社 膜厚計測装置及び成膜方法
CN102435146A (zh) * 2011-12-08 2012-05-02 广州标旗电子科技有限公司 光学透镜中心厚度测量系统及方法
KR101602436B1 (ko) 2013-10-31 2016-03-21 주식회사 인스펙토 광섬유를 이용해 개선된 3차원 측정장치
CN111521121A (zh) * 2020-05-21 2020-08-11 广州粤芯半导体技术有限公司 晶圆厚度的测量方法及测量装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009063522A (ja) * 2007-09-07 2009-03-26 Sony Corp シート材料の厚み測定方法及び装置
WO2010053028A1 (ja) * 2008-11-07 2010-05-14 コニカミノルタホールディングス株式会社 膜厚計測装置及び成膜方法
CN102435146A (zh) * 2011-12-08 2012-05-02 广州标旗电子科技有限公司 光学透镜中心厚度测量系统及方法
KR101602436B1 (ko) 2013-10-31 2016-03-21 주식회사 인스펙토 광섬유를 이용해 개선된 3차원 측정장치
CN111521121A (zh) * 2020-05-21 2020-08-11 广州粤芯半导体技术有限公司 晶圆厚度的测量方法及测量装置

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