JP2005298631A - シクロデキストリン誘導体およびその製造方法、ロタキサンおよびその製造方法、並びに屈折率変換材料および光−熱変換蓄積材料 - Google Patents

シクロデキストリン誘導体およびその製造方法、ロタキサンおよびその製造方法、並びに屈折率変換材料および光−熱変換蓄積材料 Download PDF

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Abstract

【課題】 光照射によって屈折率が変化し、その変化量が大きく、成膜が容易なシクロデキストリン誘導体およびその製造方法、このシクロデキストリン誘導体を環状分子として有するロタキサンおよびその製造方法、並びにこれらの化合物からなる屈折率変換材料および熱エネルギー変換蓄積材料を提供する。
【解決手段】 本発明のシクロデキストリン誘導体は、一般式(1)で表されるシクロデキストリン誘導体であって、シクロデキストリンにおける全水酸基に対するエーテル化率が60%以上である。
【化1】
Figure 2005298631

〔但し、R1 〜R3 は、水素原子または式(a)の基、mは6〜9の整数である。〕
【化2】
Figure 2005298631

【選択図】 なし

Description

本発明は、ノルボルナジエン構造を有するシクロデキストリン誘導体およびその製造方法、このシクロデキストリン誘導体よりなる環状分子を有するロタキサンおよびその製造方法、並びにこれらの化合物よりなる屈折率変換材料および光−熱変換蓄積材料に関する。
ノルボルナジエン(以下、「NBD」ともいう。)は、紫外線の照射により、分極率の低いクワドリシクラン(以下、「QC」ともいう。)に光原子価異性化し、また、QCは、触媒との接触および短波長の光の照射により、放熱を伴ってNBDに異性化する特性を有することから、NBD構造を有する化合物は、光エネルギーを熱エネルギーに変換して蓄積する光−熱エネルギー変換蓄積材料として注目されている(非特許文献1および非特許文献2参照)。
また、NBD構造を有する化合物は、異性化したQC構造を有する化合物と異なる屈折率を有する、すなわち光の照射によって屈折率が変化する特性を有することから、例えば光記憶素子や光スイッチシステムに用いられる屈折率変換材料への応用が期待されている(非特許文献3参照)。
このような光−熱エネルギー変換蓄積材料および屈折率変換材料においては、容易に成膜され得るものであることが肝要である。そして、従来、成膜化が可能なNBD構造を有する化合物として、NBD構造が導入された種々のポリマーが提案されている(非特許文献4参照)。
しかしながら、従来のNBD構造が導入されたポリマーは、光照射による屈折率の変化量が0.01程度またはそれ以下であり、屈折率の変化量が大きいものではない。
而して、本発明者らは、屈折率の変化量や光照射による蓄熱量が大きく、しかも、容易に成膜することができ、光−熱エネルギー変換蓄積材料および屈折率変換材料として有用な化合物として、水酸基にNBD構造が導入されたカリックスアレーン誘導体および一級水酸基にNBD構造が導入されたシクロデキストリン誘導体を提案し(特許文献1参照)、更に鋭意研究を重ねた結果、シクロデキストリンにおける一級水酸基以外の水酸基にもNBD構造を導入することが可能であることを見いだし、本発明を完成するに至った。
T.Nishikubo et al.,Macromolecules,22,8(1989) T.Nishikubo et al.,Macromolecules,31,2789(1998) K.Kinoshita et al.,Appl.Lett.,70,2940(1997) C.D.Gutsche(ED),Calixarenes,Royal Soc.Chem.(1989) 特開2003−306470号公報
本発明の第1の目的は、光照射によって屈折率が変化し、かつ、屈折率の変化量が大きく、しかも、容易に成膜することができるシクロデキストリン誘導体およびその製造方法を提供することにある。
本発明の第2の目的は、上記のシクロデキストリン誘導体を環状分子として有するロタキサンおよびその製造方法を提供することにある。
本発明の第3の目的は、屈折率の変化量が大きく、しかも、容易に成膜することができる屈折率変換材料を提供することにある。
本発明の第4の目的は、光照射による蓄熱量が大きく、しかも、容易に成膜することができる熱エネルギー変換蓄積材料を提供することにある。
本発明のシクロデキストリン誘導体は、下記一般式(1)で表されるシクロデキストリン誘導体であって、シクロデキストリンにおける全水酸基に対するエーテル化率が60%以上であることを特徴とする。
Figure 2005298631
〔一般式(1)において、R1 、R2 およびR3 は、それぞれ独立して水素原子または下記式(a)で表される基を示し、mは6〜9の整数である。〕
Figure 2005298631
本発明のシクロデキストリン誘導体の製造方法は、シクロデキストリンと、3−フェニル−2,5−ノルボルナジエン−2−カルボキシシクロクロロエチルとを、それぞれの使用割合がシクロデキストリンにおける全水酸基1モルに対して3−フェニル−2,5−ノルボルナジエン−2−カルボキシシクロクロロエチルが0.7モル以上となる条件で反応させることにより、上記シクロデキストリン誘導体を得ることを特徴とする。
本発明のロタキサンは、環状分子として、上記のシクロデキストリン誘導体を有することを特徴とする。
本発明のロタキサンにおいては、軸分子として、両末端にジニトロフェニル基が結合された鎖状高分子を有することが好ましい。
また、本発明のロタキサンにおいては、下記一般式(2)で表される化合物であることが好ましい。
Figure 2005298631
〔一般式(2)において、R1 、R2 およびR3 は、それぞれ独立して水素原子または上記式(a)で表される基を示し、Xは−CH2 CH2 O−で表される繰り返し単位からなる高分子鎖であり、mは6〜9の整数であり、kは10〜40の整数である。〕
本発明のロタキサンの製造方法は、環状分子としてシクロデキストリンを有するロタキサンよりなる中間体を合成し、この中間体と、3−フェニル−2,5−ノルボルナジエン−2−カルボキシシクロクロロエチルとを、それぞれの使用割合が中間体のシクロデキストリンにおける全水酸基1モルに対して3−フェニル−2,5−ノルボルナジエン−2−カルボキシシクロクロロエチルが0.7モル以上となる条件で反応させることにより、上記のシクロデキストリン誘導体を環状分子として有するロタキサンを得ることを特徴とする。
本発明の屈折率変換材料は、上記のシクロデキストリン誘導体よりなることを特徴とする。
また、本発明の屈折率変換材料は、上記のシクロデキストリン誘導体を環状分子として有するロタキサンよりなることを特徴とする。
本発明の光−熱エネルギー変換蓄積材料は、上記のシクロデキストリン誘導体よりなることを特徴とする。
また、本発明の光−熱エネルギー変換蓄積材料は、上記のシクロデキストリン誘導体を環状分子として有するロタキサンよりなることを特徴とする。
本発明に係るシクロデキストリン誘導体は、1分子中に多数のノルボルナジエン構造を有するため、光照射によって屈折率が変化し、かつ、屈折率の変化量が極めて大きく、また、光照射による蓄熱量が大きいものであり、しかも、容易に成膜することができるものであり、従って、屈折率変換材料または光−熱エネルギー変換蓄積材料として有用である。
本発明に係るシクロデキストリン誘導体の製造方法によれば、上記のシクロデキストリンを有利に製造することができる。
本発明に係るロタキサンは、環状分子として、上記のシクロデキストリン誘導体を有するため、光照射によって屈折率が変化し、かつ、屈折率の変化量が極めて大きく、また、光照射による蓄熱量が大きいものであり、しかも、容易に成膜することができるものであり、従って、屈折率変換材料または光−熱エネルギー変換蓄積材料として有用である。
本発明に係るロタキサンの製造方法によれば、上記のロタキサンを有利に製造することができる。
本発明の屈折率変換材料は、上記のシクロデキストリン誘導体またはロタキサンよりなるため、屈折率の変化量が極めて大きく、しかも、容易に成膜することができるものである。
本発明の光−熱エネルギー変換蓄積材料は、上記のシクロデキストリン誘導体またはロタキサンよりなるため、光照射による蓄熱量が大きく、しかも、容易に成膜することができるものであである。
以下、本発明の実施の形態について詳細に説明する。
〔シクロデキストリン誘導体〕
本発明に係るシクロデキストリン誘導体は、上記一般式(1)で表される化合物であって、シクロデキストリンにおける全水酸基に対するエーテル化率が60%以上、好ましくは70%以上であるシクロデキストリン誘導体(以下、「特定のシクロデキストリン誘導体」という。)である。
一般式(1)において、R1 、R2 およびR3 は、互いに独立して水素原子または上記式(a)で表される基であり、R1 、R2 およびR3 の合計の60%以上が上記式(a)で表される基とされる。また、ピラノース環の数を示すmは6〜9の整数である。
また、シクロデキストリンにおける全水酸基に対するエーテル化率は、 1H−NMRスペクトルにおいて、シクロデキストリンにおけるアセタールに基づく4.84ppmのメチンプロトンのシグナルを基準とし、NBDのオレフィン部位に基づく6.84〜7.03ppmのメチンプロトンのシグナルの積分強度比から求めることができる。
この特定のシクロデキストリン誘導体は、以下のようにして製造することができる。
先ず、適宜の溶媒中において、3−フェニル−2,5−ノルボルナジエン−2−カルボン酸と、1−ブロモ−2−クロロエタンとを反応させることにより、3−フェニル−2,5−ノルボルナジエン−2−カルボキシクロロエチル(以下、「特定のノルボルナジエン誘導体」という。)を合成する。
この特定のノルボルナジエン誘導体を得るための反応工程(以下、「反応工程(a−1)」という。)において、溶媒としては、ジメチルスルホキシド、ジメチルフォルムアミド、ジオキサンなどを用いることができる。
3−フェニル−2,5−ノルボルナジエン−2−カルボン酸と1−ブロモ−2−クロロエタンとの使用割合は、3−フェニル−2,5−ノルボルナジエン−2−カルボン酸1モルに対して1−ブロモ−2−クロロエタンが1.0〜2.0モルであることが好ましい。 また、反応工程(a−1)においては、例えば1,8−ジアザビシクロ[5.4.0]ウンデセン−7等のアルカリ剤を添加することが好ましく、その使用割合は、3−フェニル−2,5−ノルボルナジエン−2−カルボン酸1モルに対して1.0〜2.0モルである。
また、反応工程(a−1)における反応条件としては、例えば反応温度が60〜80℃、反応時間が24〜48時間である。
次いで、適宜の溶媒中において、触媒の存在下に、下記一般式(3)で表されるシクロデキストリン(以下、単に「シクロデキストリン」ともいう。)と特定のノルボルナジエン誘導体とを反応させることにより、特定のシクロデキストリン誘導体を合成する。
Figure 2005298631
〔一般式(3)において、mは6〜9の整数を示す。〕
この特定のシクロデキストリン誘導体を得るための反応工程(以下、「反応工程(a−2)」という。)において、溶媒としては、N−メチル−2−ピロリドン、ジメチルフォルムアミド、ジオキサンなどを用いることができる。
触媒としては、テトラブチルアンモニウムブロミド、テトラフェニルフォスフォニウムブロミドなどを用いることができる。また、触媒の使用割合は、シクロデキストリンにおける全水酸基1モルに対して0.03〜0.15モルである。
シクロデキストリンとしては、具体的には、α−シクロデキストリン、β−シクロデキストリン、γ−シクロデキストリン、δ−シクロデキストリンが用いられる。これらの化合物は、単独でまたは2種以上を組み合わせて用いることができる。
シクロデキストリンと特定のノルボルナジエン誘導体との使用割合は、シクロデキストリンにおける全水酸基1モルに対して特定のノルボルナジエン誘導体が0.7モル以上とされ、好ましくは0.7〜2モルとされる。
また、反応工程(a−2)においては、例えば水素化ナトリウム等のアルカリ剤を添加することが好ましく、その使用割合は、特定のノルボルナジエン1モルに対して1.0〜1.5モルである。
また、反応工程(a−2)における反応条件としては、例えば反応温度が40〜80℃、反応時間が2〜48時間である。
上記の特定のシクロデキストリン誘導体の合成プロセスを、下記反応式(i)に示す。
Figure 2005298631
〔反応式(i)において、R1 、R2 およびR3 は、それぞれ独立して水素原子または上記式(a)で表される基を示し、mは6〜9の整数である。〕
本発明に係る特定のシクロデキストリン誘導体は、シクロデキストリン骨格を有するため、容易に成膜することが可能である。
具体的には、特定のシクロデキストリン誘導体を適宜の溶媒に溶解し、得られた溶液を適宜の支持体上に塗布して乾燥処理することにより、成膜することができる。
特定のシクロデキストリン誘導体を溶解するための溶媒としては、ジメチルホルムアミド、テトラヒドロフラン、N−メチルピロリドン、ジメチルホルムアルデヒド、クロロホルム、塩化メチレンなどを用いることができる。
本発明に係る特定のシクロデキストリン誘導体は、1分子中に多数のNBD構造を有するため、後述する実施例から明らかなように、特定の光例えば紫外線を受けることによって屈折率が変化する特性を有し、かつ、屈折率の変化量が大きく、しかも、シクロデキストリン骨格を有するため、容易に成膜することが可能である。また、本発明に係る特定のシクロデキストリン誘導体は、光エネルギーを熱エネルギーに変換して蓄積する特性を有し、かつ、蓄熱量が大きいものである。従って、本発明に係る特定のシクロデキストリン誘導体は、光記憶素子や光スイッチシステムなどに用いられる屈折率変換材料として極めて有用であり、また、光−熱エネルギー変換蓄積材料として極めて有用である。
〔ロタキサン〕
本発明のロタキサンは、環状分子として特定のシクロデキストリン誘導体を有してなるロタキサン(以下、「特定のロタキサン」という。)である。
この特定のロタキサンにおいて、軸分子としては、種々の鎖状高分子を用いることができるが、両末端にジニトロフェニル基が結合された鎖状高分子が好ましい。
また、特定のロタキサン1分子中に存在する特定のシクロデキストリン誘導体の数は、10〜40であることが好ましい。
また、特定のロタキサンは、ゲルパーミエーションクロマトグラフ法によって測定される数平均分子量が15000〜20000であることが好ましい。
特定のロタキサンとして好ましい具体例としては、上記一般式(2)で表されるロタキサンを挙げることができる。
上記一般式(2)において、R1 、R2 およびR3 は、互いに独立して水素原子または上記式(a)で表される基であり、R1 、R2 およびR3 の合計の60%以上が上記式(a)で表される基とされる。Xは−CH2 CH2 O−で表される繰り返し単位からなる高分子鎖である。ピラノース環の数を示すmは6〜9の整数である。特定のシクロデキストリンの数を示すkは、10〜40である。
このような特定のロタキサンは、以下のようにして製造することができる。
先ず、環状分子として上記一般式(3)で表されるシクロデキストリンを有するロタキサンよりなる中間体を合成する。
この中間体を合成する方法は、軸分子を形成する鎖状高分子の種類によって異なるが、上記一般式(2)で表されるロタキサンにおける軸分子を有する中間体を合成する場合を例に挙げると、以下の通りである。
両末端に3−アミノプロピル基を有するポリエチレングリコールを用意し、このポリエチレングリコールとシクロデキストリンとを適宜の溶媒に溶解し、得られた溶液に対して例えば超音波によって攪拌処理することにより、プソイドロタキサンを調製する。
ここで、プソイドロタキサンの調製に用いられる溶媒としては、蒸留水を挙げることができる。
また、シクロデキストリンとしては、具体的には、α−シクロデキストリン、β−シクロデキストリン、γ−シクロデキストリン、δ−シクロデキストリンが用いられる。これらの化合物は、単独でまたは2種以上を組み合わせて用いることができる。
また、ポリエチレングリコールとシクロデキストリンとの使用割合は、製造すべき特定のロタキサン1分子中に存在する特定のシクロデキストリン誘導体の数に応じて選択されるが、例えばポリエチレングリコール1モル(数平均分子量換算)に対し、シクロデキストリン10〜40モルである。
また、プソイドロタキサンの調製は、15〜40℃の温度で行うことが好ましい。
次いで、得られたプソイドロタキサンと2,4−ジニトロフルオロベンゼンとを適宜の溶媒中で反応させることにより、両末端にジニトロフェニル基が結合された軸分子と、シクロデキストリンよりなる環状分子とを有するロタキサンよりなる中間体が得られる。
ここで、プソイドロタキサンと2,4−ジニトロフルオロベンゼンとの反応に用いられる溶媒としては、ジメチルホルムアミド、ジメチルアセトアミドなどを挙げることができる。
また、プソイドロタキサンと2,4−ジニトロフルオロベンゼンとの使用割合は、例えばプソイドロタキサン1モル(数平均分子量換算)に対し、2,4−ジニトロフルオロベンゼン90〜100モルである。
また、プソイドロタキサンと2,4−ジニトロフルオロベンゼンとの反応条件は、例えば反応温度が25〜40℃、反応時間が2〜24時間である。
このようにして合成された中間体と、特定のノルボルナジエン誘導体とを反応させることにより、特定のロタキサンを合成する。
この特定のロタキサンを得るための反応工程において、溶媒としては、N−メチル−2−ピロリドン、ジメチルフォルムアミド、ジオキサンなどを用いることができる。
触媒としては、テトラブチルアンモニウムブロミド、テトラフェニルフォスフォニウムブロミドなどを用いることができる。また、触媒の使用割合は、中間体中に存在するシクロデキストリンにおける全水酸基1モルに対して0.03〜0.15モルである。
中間体と特定のノルボルナジエン誘導体との使用割合は、中間体中に存在するシクロデキストリンにおける全水酸基1モルに対して特定のノルボルナジエン誘導体が0.7モル以上とされ、好ましくは0.7〜2モルとされる。
また、この反応工程においては、例えば水素化ナトリウム等のアルカリ剤を添加することが好ましく、その使用割合は、特定のノルボルナジエン1モルに対して1.0〜2.0モルである。
また、この反応工程における反応条件としては、例えば反応温度が40〜80℃、反応時間が4〜48時間である。
本発明に係る特定のロタキサンは、環状分子として特定のシクロデキストリンを有するため、特定の光例えば紫外線を受けることによって屈折率が変化する特性を有し、かつ、屈折率の変化量が大きく、また、光エネルギーを熱エネルギーに変換して蓄積する特性を有し、かつ、蓄熱量が大きいものであり、しかも、容易に成膜することが可能である。また、従って、本発明に係る特定のロタキサンは、光記憶素子や光スイッチシステムなどに用いられる屈折率変換材料として極めて有用であり、また、光−熱エネルギー変換蓄積材料として極めて有用である。
以下、本発明の具体的な実施例について説明するが、本発明はこれらの実施例に限定されるものではない。
以下の実施例において、原料および溶媒等として下記のものを使用した。
(1)テトラブチル−n−アンモニウムブロミド(以下、「TBAB」という。)としては、市販品を、脱水酢酸エチルを用いて2回再結晶したものを使用した。
(2)3−フェニル−2,5−ノルボルナジエン−2−カルボン酸(以下、「PNC」という。)としては、市販品を、酢酸エチル/n−ヘキサン混合溶媒を用いて1回再結晶したものを使用した。
(3)α−シクロデキストリン(以下、「α−CD」という。)としては、市販品を、蒸留水を用いて2回再結晶したものを使用した。
(4)β−シクロデキストリン(以下、「β−CD」という。)としては、市販品を、蒸留水を用いて2回再結晶したものを使用した。
(5)γ−シクロデキストリン(以下、「γ−CD」という。)としては、市販品を、蒸留水を用いて2回再結晶したものを使用した。
(6)1−ブロモ−2−クロロエタン(以下、「BCE」という。)としては、市販品を、塩化カルシウム(乾燥剤)を用いて蒸留精製したものを使用した。
(7)N−メチル−2−ピロリドン(以下、「NMP」という。)としては、市販品を、水素化カルシウム(乾燥剤)を用いて蒸留精製したものを使用した。
(8)ジメチルスルホキシド(以下、「DMSO」という。)としては、市販品を、水素化カルシウム(乾燥剤)を用いて蒸留精製したものを使用した。
(9)ジメチルホルムアミド(以下、「DMF」という。)としては、市販品を、水素化カルシウム(乾燥剤)を用いて蒸留精製したものを使用した。
(10)1,8−ジアザビシクロ[5.4.0]ウンデセン−7(以下、「DBU」という。)としては、市販品を、水素化カルシウム(乾燥剤)を用いて蒸留精製したものを使用した。
(11)両末端に3−アミノプロピル基を有するポリエチレングリコール(以下,「PEG」という。)としては、数平均分子量が1500の市販品をそのまま使用した。
(12)2,4−ジニトロフルオロベンゼン、シクロヘキサノンおよび水素化ナトリウムとしては、市販品をそのまま使用した。
また、測定装置としては、下記のものを使用した。
(1)赤外分光光度計:日本分光(株)製「FT/IR−420」
(2)紫外分光光度計:(株)島津製作所製「UV−2500PC」
(3) 1H核磁気共鳴装置:日本電子(株)製「JNM−α−500」(500MHz)および「JNM−α−600」(600MHz)
(4)リサイクル分取高速液体クロマトグラフィー(以下、「分取HPLC」という:日本分析工業(株)製「HPLC−908型」(カラム:JAIgel1HA−FおよびJAIgel1HA−A,展開溶媒:クロロホルム)
(5)エリプソメーター:ガードナー社製「L115Bエリプソメーター」
〔特定のノルボルナジエン誘導体の合成〕
PNC2.16g(10mmol)およびDBU1.72g(12mmol)の混合物に、DMSO10mLを添加して溶解し、その後、BCE2.92g(20mmol)を滴下し、さらに室温で4時間の条件で反応させた。
反応が終了した後、反応溶液を酢酸エチルによって希釈し、この希釈溶液に対して蒸留水による洗浄を5回行い、さらに酢酸エチル相に乾燥剤として無水硫酸マグネシウムを添加して乾燥処理を行った。次いで、乾燥剤をろ別した後、酢酸エチル相を減圧留去し、その後、酢酸エチルおよびn−ヘキサンの混合物(混合比1:10)を展開溶媒とするシリカゲルカラムクロマトグラフィーによって、単離精製することにより、黄色の粘性液体1.94gを得た。
IR分析および 1H−NMR分析の結果から、得られた生成物は、下記式(b)で表される3−フェニル−2,5−ノルボルナジエン−2−ガルボキシクロロエチル(特定のノルボルナジエン誘導体)であると同定された。収率は71%であった。
Figure 2005298631
特定のノルボルナジエン誘導体のIR分析および 1H−NMR分析の結果を下記に示す。
○IR(film,cm-1):
1698(νC=C ester ),
1612(νC=C NBD),
1594,1491(νC=C aromatic),
1180,1021(νC−O−C ester ),
760(νC−Cl)
1H NMR(500MHz,CDCl3 ,TMS)δ(ppm):
1.98(d,J=6.0,1.0H,Ha ),
2.17(d,J=6.0,1.0H,Ha ' ),
3.78(t,J=5.5,2.0H,Hj ),
4.00(s,1.0H,Hb ),
4.29(s,1.0H,Hc ),
6.98〜7.04(m,2.0H,Hd ,He ),
7.34〜7.56(m,5.0H,Hg ,Hf ,Hh
〈実施例1〉
α−CD0.05g(0.05mmol)、TBAB0.03g(5mol%)および水素化ナトリウム0.04g(1.8mmol)の混合物に、NMP4mLを添加し、室温で1時間攪拌した。その後、特定のノルボルナジエン誘導体0.49g(1.8mmol)を添加し、さらに80℃で48時間の条件で反応させた。
反応が終了した後、反応溶液をクロロホルムで希釈し、0.5N塩酸水溶液で1回、蒸留水で5回洗浄し、有機相を乾燥剤として無水硫酸マグネシウムを用いて乾燥処理した。乾燥剤をろ別した後、分取HPLCによって単離精製し、60℃で24時間減圧乾燥することにより、茶褐色の粉末固体0.15gを得た。
IR分析および 1H−NMR分析の結果から、得られた生成物は、下記式(I)で表される化合物であって、α−CDにおける全水酸基に対するエーテル化率が89%であるものと同定された。収率は45%であった。この生成物を「シクロデキストリン誘導体(I)」とする。また、シクロデキストリン誘導体(I)の合成工程を下記反応式(I−1)に示す。
Figure 2005298631
Figure 2005298631
また、シクロデキストリン誘導体(I)のIR分析および 1H−NMR分析の結果を下記に示す。
○IR(film,cm-1):
3447(νOH),
1704(νC=C ester ),
1615(νC=C NBD),
1491,1444(νC=C aromatic),
1149,1034(νC−O−C)
1H NMR(500MHz,DMSO−d6 )δ(ppm):
1.94〜2.14(m,2.00H,H9 ),
3.15〜4.75(m,6.99H,H1 ,H2 ,H3 ,H4 ,H5 ,H6 ,H7 ,H8 ,H10,H11),
5.40〜6.05(m,0.12H,OH in CD),
6.94〜7.42(m,7.00H,H12,H13,H14,H15,H16
〈実施例2〉
β−CD0.06g(0.05mmol)、TBAB0.04g(5mol%)および水素化ナトリウム0.05g(2.1mmol)の混合物に、NMP4mLを添加し、室温で1時間攪拌した。その後、特定のノルボルナジエン誘導体0.59g(2.1mmol)を添加し、さらに80℃で48時間の条件で反応させた。
反応が終了した後、反応溶液をクロロホルムで希釈し、0.5N塩酸水溶液で1回、蒸留水で5回洗浄し、有機相を乾燥剤として無水硫酸マグネシウムを用いて乾燥処理した。乾燥剤をろ別した後、分取HPLCによって単離精製し、60℃で24時間減圧乾燥することにより、茶褐色の粉末固体0.15gを得た。
IR分析および 1H−NMR分析の結果から、得られた生成物は、下記式(II)で表される化合物であって、β−CDにおける全水酸基に対するエーテル化率が87%であるものと同定された。収率は44%であった。この生成物を「シクロデキストリン誘導体(II)」とする。また、シクロデキストリン誘導体(II)の合成工程を下記反応式(II−1)に示す。

Figure 2005298631
Figure 2005298631
また、シクロデキストリン誘導体(II)のIR分析および 1H−NMR分析の結果を下記に示す。
○IR(film,cm-1):
3423(νOH),
1699(νC=C ester ),
1615(νC=C NBD),
1491,1444(νC=C aromatic),
1149,1033(νC−O−C)
1H NMR(500MHz,DMSO−d6 )δ(ppm):
1.92〜2.13(m,2.00H,H9 ),
3.15〜4.82(m,8.85H,H1 ,H2 ,H3 ,H4 ,H5 ,H6 ,H7 ,H8 ,H10,H11),
5.58〜5.88(m,0.14H,OH in CD),
6.96〜7.49(m,7.00H,H12,H13,H14,H15,H16
〈実施例3〉
γ−CD0.07g(0.05mmol)、TBAB0.04g(5mol%)および水素化ナトリウム0.06g(2.4mmol)の混合物に、NMP4mLを添加し、室温で1時間攪拌した。その後、特定のノルボルナジエン誘導体0.66g(2.4mmol)を添加し、さらに80℃で48時間の条件で反応させた。
反応が終了した後、反応溶液をクロロホルムで希釈し、0.5N塩酸水溶液で1回、蒸留水で5回洗浄し、有機相を乾燥剤として無水硫酸マグネシウムを用いて乾燥処理した。乾燥剤をろ別した後、分取HPLCによって単離精製し、60℃で24時間減圧乾燥することにより、茶褐色の粉末固体0.11gを得た。
IR分析および 1H−NMR分析の結果から、得られた生成物は、下記式(III)で表される化合物であって、γ−CDにおける全水酸基に対するエーテル化率が84%であるものと同定された。収率は35%であった。この生成物を「シクロデキストリン誘導体(III)」とする。また、シクロデキストリン誘導体(III)の合成工程を下記反応式(III −1)に示す。
Figure 2005298631

Figure 2005298631
また、シクロデキストリン誘導体(III)のIR分析および 1H−NMR分析の結果を下記に示す。
○IR(film,cm-1):
3414(νOH),
1701(νC=C ester ),
1615(νC=C NBD),
1491,1444(νC=C aromatic),
1149,1033(νC−O−C)
1H NMR(500MHz,DMSO−d6 )δ(ppm):
1.96〜2.10(m,2.00H,H9 ),
3.15〜4.75(m,9.26H,H1 ,H2 ,H3 ,H4 ,H5 ,H6 ,H7 ,H8 ,H10,H11,),
5.58〜5.88(m,0.18H,OH in CD),
6.94〜7.42(m,7.00H,H12,H13,H14,H15,H16
〈実施例4〉
β−CD0.23g(0.2mmol)、TBAB0.06g(5mol%)および水素化ナトリウム0.09g(3.0mmol)の混合物に、NMP6mLを添加し、室温で1時間攪拌した。その後、特定のノルボルナジエン誘導体0.83g(3.0mmol)を添加し、さらに80℃で48時間の条件で反応させた。
反応が終了した後、反応溶液を蒸留水に滴下し、沈殿物をろ別した後、良溶媒としてテトラヒドロフランを用い、貧溶媒としてジエチルエーテルを用いて2回再沈精製を行い、60℃で24時間減圧乾燥することにより、茶褐色の粉末固体0.30gを得た。
IR分析および 1H−NMR分析の結果から、得られた生成物は、下記式(IV)で表される化合物であって、β−CDにおける全水酸基に対するエーテル化率が62%であるものと同定された。収率は35%であった。この生成物を「シクロデキストリン誘導体(IV)」とする。

Figure 2005298631
また、シクロデキストリン誘導体(IV)のIR分析および 1H−NMR分析の結果を下記に示す。
○IR(film,cm-1):
3377(νOH),
1695(νC=C ester ),
1606(νC=C NBD),
1594,1491(νC=C aromatic),
1153,1032(νC−O−C ester )
1H NMR(500MHz,DMSO−d6 )δ(ppm):
1.84〜2.23(m,2.0H,CH2 in NBD),
3.29〜4.75(m,10.9H,Ha ,Hb ,Hc ,Hd ,Hf ,Hg ,Hh ,CH in NBD,H2 O),
4.80〜4.84(m,0.66H,He ),
5.58〜5.88(m,0.81H,OH in CD),
6.84〜7.03(m,2.0H,CH in NBD),
7.34〜7.47(m,5.0H,aromatic)
〈参考例1〉
α−CD0.29g(0.3mmol)、TBAB0.04g(5mol%)および水素化ナトリウム0.07g(2.7mmol)の混合物に、NMP6mLを添加し、室温で1時間攪拌した。その後、特定のノルボルナジエン誘導体0.74g(2.7mmol)を添加し、さらに50℃で48時間の条件で反応させた。
反応が終了した後、反応溶液を蒸留水に滴下し、沈殿物をろ別した後、良溶媒としてテトラヒドロフランを用い、貧溶媒としてジエチルエーテルを用いて2回再沈精製を行い、60℃で24時間減圧乾燥することにより、茶褐色の粉末固体0.14gを得た。
IR分析および 1H−NMR分析の結果から、得られた生成物は、下記式(V)で表される化合物であって、α−CDにおける全水酸基に対するエーテル化率が35%であるものと同定された。収率は20%であった。この生成物を「シクロデキストリン誘導体(V)」とする。
Figure 2005298631
また、シクロデキストリン誘導体(V)のIR分析および 1H−NMR分析の結果を下記に示す。
○IR(film,cm-1):
3393(νOH),
1696(νC=C ester ),
1615(νC=C NBD),
1594,1491(νC=C aromatic),
1331,1034(νC−O−C ester ),
1151,1034(νC−O−C ether )
1H NMR(500MHz,DMSO−d6 )δ(ppm):
1.84〜2.23(m,2.0H,CH2 in NBD),
3.29〜4.75(m,19.3H,Ha ,Hb ,Hc ,Hd ,Hf ,Hg ,Hh ,CH in NBD,H2 O),
4.80〜4.84(m,1.0H,He ),
5.58〜5.88(m,1.95H,OH in CD),
6.84〜7.03(m,2.0H,CH in NBD),
7.34〜7.47(m,5.0H,aromatic)
〈参考例2〉
β−CD0.34g(0.3mmol)、TBAB0.04g(5mol%)および水素化ナトリウム0.08g(3.1mmol)の混合物に、NMP6mLを添加し、室温で1時間攪拌した。その後、特定のノルボルナジエン誘導体0.85g(3.1mmol)を添加し、さらに50℃で48時間の条件で反応させた。
反応が終了した後、反応溶液を蒸留水に滴下し、沈殿物をろ別した後、良溶媒としてテトラヒドロフランを用い、貧溶媒としてジエチルエーテルを用いて2回再沈精製を行い、60℃で24時間減圧乾燥することにより、茶褐色の粉末固体0.24gを得た。
IR分析および 1H−NMR分析の結果から、得られた生成物は、下記式(VI)で表される化合物であって、β−CDにおける全水酸基に対するエーテル化率が33%であるものと同定された。収率は27%であった。この生成物を「シクロデキストリン誘導体(VI)」とする。
Figure 2005298631
また、シクロデキストリン誘導体(VI)のIR分析および 1H−NMR分析の結果を下記に示す。
○IR(film,cm-1):
3394(νOH),
1698(νC=C ester ),
1615(νC=C NBD),
1593,1491(νC=C aromatic),
1333,1033(νC−O−C ester ),
1151,1078(νC−O−C ether )
1H NMR(500MHz,DMSO−d6 )δ(ppm):
1.84〜2.23(m,2.0H,CH2 in NBD),
3.29〜4.75(m,19.3H,Ha ,Hb ,Hc ,Hd ,Hf ,Hg ,Hh ,CH in NBD,H2 O),
4.80〜4.84(m,1.0H,He ),
5.58〜5.88(m,1.95H,OH in CD),
6.84〜7.03(m,2.0H,CH in NBD),
7.34〜7.47(m,5.0H,aromatic)
〈参考例3〉
γ−CD0.39g(0.3mmol)、TBAB0.06g(5mol%)および水素化ナトリウム0.09g(3.6mmol)の混合物に、NMP6mLを添加し、室温で1時間攪拌した。その後、特定のノルボルナジエン誘導体0.99g(3.6mmol)を添加し、さらに50℃で48時間の条件で反応させた。
反応が終了した後、反応溶液を蒸留水に滴下し、沈殿物をろ別した後、良溶媒としてテトラヒドロフランを用い、貧溶媒としてジエチルエーテルを用いて2回再沈精製を行い、60℃で24時間減圧乾燥することにより、茶褐色の粉末固体0.14gを得た。
IR分析および 1H−NMR分析の結果から、得られた生成物は、下記式(VII)で表される化合物であって、γ−CDにおける全水酸基に対するエーテル化率が36%であるものと同定された。収率は15%であった。この生成物を「シクロデキストリン誘導体(VII)」とする。
Figure 2005298631
また、シクロデキストリン誘導体(VII)のIR分析および 1H−NMR分析の結果を下記に示す。
○IR(film,cm-1):
3394(νOH),
1711(νC=C ester ),
1615(νC=C NBD),
1596,1492(νC=C aromatic),
1331,1030(νC−O−C ester ),
1151,1080(νC−O−C ether )
1H NMR(500MHz,DMSO−d6 )δ(ppm):
1.84〜2.23(m,2.0H,CH2 in NBD),
3.29〜4.75(m,10.9H,Ha ,Hb ,Hc ,Hd ,Hf ,Hg ,Hh ,CH in NBD,H2 O),
4.80〜4.84(m,1.0H,He ),
5.58〜5.88(m,1.75H,OH in CD),
6.84〜7.03(m,2.0H,CH in NBD),
7.34〜7.47(m,5.0H,aromatic)
実施例1〜4および参考例1〜3において、使用したシクロデキストリンの種類、シクロデキストリンにおける全水酸基に対する特定のノルボルナジエン誘導体のモル比(以下、「NBD/OH」と記す。)、反応温度、およびシクロデキストリンにおける全水酸基に対するエーテル化率を表1に示す。
Figure 2005298631
〔シクロデキストリン誘導体の特性〕
(1)屈折率変化:
実施例1〜4に係るシクロデキストリン誘導体(I)〜シクロデキストリン誘導体(IV)および参考例1〜3に係るシクロデキストリン誘導体(V)〜シクロデキストリン誘導体(VII)の各々をシクロヘキサノンに溶解し、得られた溶液を、スピンコーターによってシリコンウエハーに塗布して乾燥処理することにより、厚みが約1.0mmの薄膜を形成した。得られた薄膜に対し、500Wキセノンランプを用いて30分間光照射し、エリプソメーターを用い、波長632.8nmのレーザー光により、光照射前後における屈折率を測定し、光照射前後における屈折率の変化量を求めた。
以上、結果を表2に示す。
Figure 2005298631
表2の結果から明らかなように、実施例1〜4に係るシクロデキストリン誘導体(I)〜シクロデキストリン誘導体(IV)の各々は、光照射によって屈折率が変化する特性を有し、また、屈折率の変化量が大きいものであり、屈折率変換材料として有用なものであることが確認された。
(2)光反応特性:
実施例1〜3に係るシクロデキストリン誘導体(I)〜シクロデキストリン誘導体(III)および参考例1〜3に係るシクロデキストリン誘導体(V)〜シクロデキストリン誘導体(VII)の各々をテトラヒドロフランに溶解し、得られた溶液の各々を、石英セルの内壁面に塗布し、室温で2時間減圧乾燥処理することにより、薄膜を形成した。石英セル内に形成された薄膜に対して、500Wキセノンランプ「UXL−500D−O」(ウシオ電機(株)製)および熱線カットフィルター「HA50」(HOYA(株)製)を用い、1.20mW/cm2 (313nm)の条件で、光照射時間を変えながら光照射処理を行うと共に、紫外分光光度計により、当該薄膜における紫外線の吸光度の変化を測定した。結果を、図1(シクロデキストリン誘導体(I)、図2(シクロデキストリン誘導体(II))、図3(シクロデキストリン誘導体(III))、図4(シクロデキストリン誘導体(V))、図5(シクロデキストリン誘導体(VI))および図6(シクロデキストリン誘導体(VII))に示す。
図1の結果から、シクロデキストリン誘導体(I)よりなる薄膜においては、NBD構造に起因する最大吸収波長293nmの紫外線の吸収が、光照射時間の経過に伴って減少することが確認され、また、波長236nmおよび波長252nmに等吸収点が確認されたことにより、NBD構造からこれに対応するQC構造への光異性化反応は、副反応が生じることなしに進行することが理解される。また、光異性化反応は、光照射時間が約5分間で完了することが確認された。
図2の結果から、シクロデキストリン誘導体(II)よりなる薄膜においては、NBD構造に基づく最大吸収波長296nmの紫外線の吸収が、光照射時間の経過に伴って減少することが確認され、また、波長237nmおよび波長253nmに等吸収点が確認されたことにより、NBD構造からこれに対応するQC構造への光異性化反応は、副反応が生じることなしに進行することが理解される。また、光異性化反応は、光照射時間が約7分間で完了することが確認された。
図3の結果から、シクロデキストリン誘導体(III)よりなる薄膜においては、NBD構造に基づく最大吸収波長291nmの紫外線の吸収が、光照射時間の経過に伴って減少することが確認され、また、波長236nmおよび波長253nmに等吸収点が確認されたことにより、NBD構造からこれに対応するQC構造への光異性化反応は、副反応が生じることなしに進行することが理解される。また、光異性化反応は、光照射時間が約10分間で完了することが確認された。
図4の結果から、シクロデキストリン誘導体(V)よりなる薄膜においては、NBD構造に基づく最大吸収波長295nmの紫外線の吸収が、光照射時間の経過に伴って減少することが確認され、また、波長237nmおよび251nmに等吸収点が確認されたことにより、NBD構造からこれに対応するQC構造への光異性化反応は、副反応が生じることなしに進行することが理解される。また、光異性化反応は、光照射時間が約5分間で完了することが確認された。
図5の結果から、シクロデキストリン誘導体(VI)よりなる薄膜においては、NBD構造に基づく最大吸収波長297nmの紫外線の吸収が、光照射時間の経過に伴って減少することが確認され、また、波長236nmおよび254nmに等吸収点が確認されたことにより、NBD構造からこれに対応するQC構造への光異性化反応は、副反応が生じることなしに進行することが理解される。また、光異性化反応は、光照射時間が約5分間で完了することが確認された。
図6の結果から、シクロデキストリン誘導体(VI)よりなる薄膜においては、NBD構造に基づく最大吸収波長285nmの紫外線の吸収が、光照射時間の経過に伴って減少することが確認され、また、波長235nmおよび252nmに等吸収点が確認されたことにより、NBD構造からこれに対応するQC構造への光異性化反応は、副反応が生じることなしに進行することが理解される。また、光異性化反応は、光照射時間が約10分間で完了することが確認された。
また、シクロデキストリン誘導体(I)〜シクロデキストリン誘導体(III)およびシクロデキストリン誘導体(V)〜シクロデキストリン誘導体(VII)の各々の薄膜状態における異性化反応率を一次速度式にプロットした。
また、シクロデキストリン誘導体(I)〜シクロデキストリン誘導体(III)およびシクロデキストリン誘導体(V)〜シクロデキストリン誘導体(VII)の各々を、NBD残基の濃度が1×10-4mol/Lとなるようテトラヒドロフランに溶解した。得られた溶液の各々を石英セルに入れ、この溶液に対して、500Wキセノンランプおよび熱線カットフィルター「HA50」(HOYA(株)製)を用い、1.20mW/cm2 (313nm)の条件で、光照射時間を変えながら光照射処理を行うと共に、紫外線分光光度により、当該溶液における紫外線の吸光度の変化を測定し、これらのシクロデキストリンの各々の溶液状態における異性化反応率を一次速度式にプロットした。ここで、異性化反応率は、最大吸収波長における吸光度の変化から求めた。
以上の結果を、図7(シクロデキストリン誘導体(I))、図8(シクロデキストリン誘導体(II))、図9(シクロデキストリン誘導体(III))、図10(シクロデキストリン誘導体(V))、図11(シクロデキストリン誘導体(VI))および図12(シクロデキストリン誘導体(VII))に示す。
図7〜図12の結果から、シクロデキストリン誘導体(I)〜シクロデキストリン誘導体(III)およびシクロデキストリン誘導体(V)〜シクロデキストリン誘導体(VII)の各々における光異性化反応は、薄膜状態および溶液状態のいずれにおいても一次で進行していることが理解される。
〈実施例5〉
α−CD9.72g(10mmol)を蒸留水70mLに溶解し、その後、PEG1.45g(0.91mmol)を添加し、超音波を用いて30分間攪拌し、その後、室温で24時間静置した。次いで、析出した固体をろ過によって回収し、蒸留水で洗浄した後、24時間減圧乾燥することにより、白色粉末固体6.7gを得た。
IR分析および 1H−NMR分析の結果から、得られた生成物は、下記式(X−1)で表される、PEGよりなる軸分子の周りに、α−CDよりなる環状分子が存在するプソイドロタキサンであると同定された。収率は45%であった。また、 1H−NMR分析の結果から、プソイドロタキサン1分子内に存在するα−CDの数を測定したところ、平均で11個であった。

Figure 2005298631
このプソイドロタキサンのIR分析および 1H−NMR分析の結果を下記に示す。
○IR(film,cm-1):
3397(νOH),
1645(νN−H),
1149,1077,1024(νC−O−C),
861(νC−N)
1H NMR(600MHz,DMSO−d6 )δ(ppm):
1.35〜1.64(m,4.00H,H11),
3.28〜3.30(m,67.2H,H4 ),
3.48〜3.51(m,197.1H,H10),
4.02〜4.45(m,39.4H,H5 ,H6 ,H12),
4.48〜4.51(m,65.7H,H3 ),
4.79〜4.80(m,65.6H,H2 ),
5.44〜5.52(m,128.3H,H1 ,H7 ,H8 ,H9
得られたプソイドロタキサン2.0g(0.16mmol)に、DMF10mLを添加し、次いで、DMF5mLに2,4−ジニトロフルオロベンゼン2.81g(15.1mmol)を溶解してなる溶液を徐々に加えた後、室温で3時間攪拌し、更にDMF20mLを加えて18時間反応させた。
反応が終了した後、反応溶液にエーテルを加え、析出した固体をろ過により回収し、その後、良溶媒としてDMSOを用い、貧溶媒として蒸留水を用いて1回再沈精製を行い、減圧乾燥することにより、黄色の粉末固体0.32gを得た。
IR分析および 1H−NMR分析の結果から、得られた生成物は、下記式(X−2)で表される、両末端が2,4−ジニトロフェニル基が結合したPEGよりなる軸分子と、α−CDよりなる環状分子とよりなるロタキサンであると同定された。収率は16%であった。このロタキサンを「中間体A」とする。

Figure 2005298631
中間体AのIR分析および 1H−NMR分析の結果を下記に示す。
○IR(film,cm-1):
3440(νOH),
1525,1389,1335(νN−O),
1491(νC=C aromatic),
1149,1077,1024(νC−O−C),
861(νC−N)
1H NMR(600MHz,DMSO−d6 )δ(ppm):
2.80〜3.91(m,567.7H,H3 ,H4 ,H5 ,H6 ,H10,H11,H12),
4.19〜4.55(m,59.1H,H2 ),
4.56〜4.87(m,58.8H,H1 ),
5.39〜5.73(m,110.0H,H7 ,H8 ,H9 ),
7.74〜8.82(m,6.00H,H13,H14,H15
得られた中間体A0.07g(0.0057mmol)、TBAB0.03g(5mol%)および水素化ナトリウム0.05g(2.1mmol)の混合物に、NMP4mLを添加し、室温で1時間攪拌した。その後、特定のノルボルナジエン誘導体0.55g(2.0mmol)を添加し、さらに80℃で48時間の条件で反応させた。
以上において、中間体Aと特定のノルボルナジエン誘導体との使用割合は、中間体A中に存在するα−シクロデキストリンにおける全水酸基1モルに対して特定のノルボルナジエン誘導体1.8モルとなる割合である。
反応が終了した後、反応溶液を蒸留水に滴下し、沈殿物をろ別した後、分取HPLCによって単離精製し、60℃で24時間減圧乾燥することにより、粉末固体0.10gを得た。
IR分析および 1H−NMR分析の結果から、得られた生成物は、下記式(X)で表されるロタキサンであって、α−CDにおける全水酸基に対するエーテル化率が77%であるものと同定された。収率は5%であった。また、得られたロタキサンの分子量を、DMFを溶媒とするゲルパーミエーションクロマトグラフ法によって測定したところ、数平均分子量Mnが1.8×104 、重量平均分子量Mwに対する数平均分子量Mnの比Mn/Mwが1.38であった。また、このロタキサンの合成工程を下記反応式(X−3)に示す。
Figure 2005298631
Figure 2005298631
このロタキサンのIR分析および 1H−NMR分析の結果を下記に示す。
○IR(film,cm-1):
3440(νOH),
1704(νC=O ster),
1525,1389,1335(νN−O),
1594,1491(νC=C aromatic),
1331,1034(νC−O−C ster),
1235,1072(νC−O−C ether),
861(νC−N)
1H NMR(600MHz,DMSO−d6 )δ(ppm):
1.75〜2.07(m,2.00H,H18),
2.80〜3.91(m,9.09H,H2 ,H3 ,H4 ,H5 ,H6 ,H10,H11,H12),
4.88〜4.89(m,0.30H,H1 ),
5.39〜5.73(m,0.29H,H7 ,H8 ,H9 ),
6.96〜7.05(m,2.00H,H21,H22),
7.74〜8.82(m,5.14H,H13,H14,H15 aromatic in NBD)
実施例1に係るシクロデキストリン誘導体の薄膜状態における紫外線の吸光度の変化を示す図である。 実施例2に係るシクロデキストリン誘導体の薄膜状態における紫外線の吸光度の変化を示す図である。 実施例3に係るシクロデキストリン誘導体の薄膜状態における紫外線の吸光度の変化を示す図である。 参考例1に係るシクロデキストリン誘導体の薄膜状態における紫外線の吸光度の変化を示す図である。 参考例2に係るシクロデキストリン誘導体の薄膜状態における紫外線の吸光度の変化を示す図である。 参考例3に係るシクロデキストリン誘導体の薄膜状態における紫外線の吸光度の変化を示す図である。 実施例1に係るシクロデキストリン誘導体の薄膜状態および溶液状態における異性化反応率を一次速度式にプロットした図である。 実施例2に係るシクロデキストリン誘導体の薄膜状態および溶液状態における異性化反応率を一次速度式にプロットした図である。 実施例3に係るシクロデキストリン誘導体の薄膜状態および溶液状態における異性化反応率を一次速度式にプロットした図である。 参考例1に係るシクロデキストリン誘導体の薄膜状態および溶液状態における異性化反応率を一次速度式にプロットした図である。 参考例2に係るシクロデキストリン誘導体の薄膜状態および溶液状態における異性化反応率を一次速度式にプロットした図である。 実施例3に係るシクロデキストリン誘導体の薄膜状態および溶液状態における異性化反応率を一次速度式にプロットした図である。

Claims (10)

  1. 下記一般式(1)で表されるシクロデキストリン誘導体であって、シクロデキストリンにおける全水酸基に対するエーテル化率が60%以上であることを特徴とするシクロデキストリン誘導体。
    Figure 2005298631
    〔一般式(1)において、R1 、R2 およびR3 は、それぞれ独立して水素原子または下記式(a)で表される基を示し、mは6〜9の整数である。〕
    Figure 2005298631
  2. シクロデキストリンと、3−フェニル−2,5−ノルボルナジエン−2−カルボキシシクロクロロエチルとを、それぞれの使用割合がシクロデキストリンにおける全水酸基1モルに対して3−フェニル−2,5−ノルボルナジエン−2−カルボキシシクロクロロエチルが0.7モル以上となる条件で反応させることにより、請求項1に記載のシクロデキストリン誘導体を得ることを特徴とするシクロデキストリン誘導体の製造方法。
  3. 環状分子として、請求項1に記載のシクロデキストリン誘導体を有することを特徴とするロタキサン。
  4. 軸分子として、両末端にジニトロフェニル基を有する高分子を有することを特徴とする請求項3に記載のロタキサン。
  5. 下記一般式(2)で表される化合物であることを特徴とする請求項4に記載のロタキサン。

    Figure 2005298631
    〔一般式(2)において、R1 、R2 およびR3 は、それぞれ独立して水素原子または請求項1に記載の式(a)で表される基を示し、Xは−CH2 CH2 O−で表される繰り返し単位からなる高分子鎖であり、mは6〜9の整数であり、kは10〜40の整数である。〕
  6. 環状分子としてシクロデキストリンを有するロタキサンよりなる中間体を合成し、この中間体と、3−フェニル−2,5−ノルボルナジエン−2−カルボキシシクロクロロエチルとを、それぞれの使用割合が中間体のシクロデキストリンにおける全水酸基1モルに対して3−フェニル−2,5−ノルボルナジエン−2−カルボキシシクロクロロエチルが0.7モル以上となる条件で反応させることにより、請求項3乃至請求項5のいずれかに記載のロタキサンを得ることを特徴とするロタキサンの製造方法。
  7. 請求項1に記載のシクロデキストリン誘導体よりなることを特徴とする屈折率変換材料。
  8. 請求項3乃至請求項5のいずれかに記載のロタキサンよりなることを特徴とする屈折率変換材料。
  9. 請求項1に記載のシクロデキストリン誘導体よりなることを特徴とする光−熱エネルギー変換蓄積材料。
  10. 請求項3乃至請求項5のいずれかに記載のロタキサンよりなることを特徴とする光−熱エネルギー変換蓄積材料。
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