JP2005277247A - 処理装置、表示方法および表示プログラム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明にかかる処理装置10は、半導体ウェハ上に形成された半導体チップの位置情報と該半導体チップの品質番号とを含む二つの検査結果情報をもとに同一位置の品質番号をそれぞれ比較して、各品質番号の相関度を求め、各位置情報が示す各対応領域に相関度に対応する色を表示したウェハマップ画像の表示データを作成して、このウェハマップ画像を表示部13に表示出力させる処理部15を備える。
【選択図】 図1
Description
まず、実施の形態1にかかる処理装置について説明する。図1は、実施の形態1にかかる処理装置の構成を示すブロック図である。図1に示すように、実施の形態1にかかる処理装置10は、入力部11と記憶部12と表示部13と処理部15を備えた制御部14とを有する。処理装置10は、半導体ウェハ上に形成された半導体チップに対して複数の電気的検査を行う検査装置2Aおよび検査装置2Bからそれぞれ出力された二つの検査結果情報を処理して、この処理結果を表示部13から表示出力する。検査装置2A,2Bから出力される各検査結果情報は、電気的検査によって得られた半導体チップの品質番号と、この半導体チップの位置情報とが対応づけられたものである。品質番号とは、検査装置2A,2Bにおける複数の電気的検査によって得られた半導体チップの品質レベルを番号化したものであり、たとえば、品質番号0である半導体チップは、全ての電気的検査で不良が発生しなかった良品であり、品質番号1〜9である半導体チップは、情報の読み書き検査、所定の電圧印加に対する耐圧検査などの異なる検査をそれぞれ行なった場合に、不良が発生する品質レベルである。処理装置10は、二つの検査結果情報をもとに同一位置の品質番号を比較して求めた相関度を、位置情報に対応する対応領域に表示したウェハマップ画像を表示部13に表示出力する。なお、実施の形態1における相関度は、二つの検査結果情報における同一位置の品質番号を比較し、この比較結果を数値化したものである。
つぎに、実施の形態2について説明する。図14は、実施の形態2にかかる処理装置の構成を示すブロック図である。図14に示すように、実施の形態2にかかる処理装置20は、入力部11と記憶部12と表示部13と処理部25を備えた制御部24とを有する。処理装置20は、検査装置2A,2Bからそれぞれ出力された二つの検査結果情報を処理して、処理結果を表示部13に表示出力する。処理部25は、検査装置2A,2Bからそれぞれ出力された二つの検査結果情報の相関度を求め、同一位置の各品質番号の組み合わせごとに各相関度をそれぞれ加算し、この加算した値を表形式で表示部13に表示出力させる。制御部24は、実施の形態1における制御部14と同様の機能を有する。なお、本実施の形態2では、相関度は、同一位置の各品質番号の組み合わせに該当する該当率を示したものである。
つぎに、実施の形態3について説明する。図20は、実施の形態3にかかる処理装置の構成を示すブロック図である。図20に示すように、実施の形態3にかかる処理装置30は、入力部11と記憶部12と表示部13と処理部35を備えた制御部34とを有する。処理装置30は、検査装置2A,2Bからそれぞれ出力された二つの検査結果情報を処理して、処理結果を表示部13に表示出力する。処理部35は、検査装置2A,2Bからそれぞれ出力された二つの検査結果情報の相関度を求め、所定のウェハマップ画像および所定の対応表画像の表示データを作成し、表示部13に表示出力させる。制御部34は、実施の形態1における制御部14と同様の機能を有する。
つぎに、実施の形態4について説明する。実施の形態4にかかる処理装置は、実施の形態2と同様の構成を有する。実施の形態4では、入力部11は、品質番号の組み合わせを指示する指示情報を入力する。また、実施の形態4では、処理部25は、入力部11によって指示された品質番号の組み合わせと一致する品質番号の組み合わせを有する位置情報を検出して、この位置情報が示す対応領域に所定色を表示するウェハマップ画像の表示データを作成し、このウェハマップ画像を表示部13に表示出力させる。以下、処理部25が図15に示すステップS202〜ステップS208の処理手順を終了した後に、検査結果情報を処理する場合について説明する。
半導体ウェハ上に形成された半導体チップの位置情報と該半導体チップの品質レベル情報とを含む検査結果情報を処理し、該処理結果情報を表示手段に表示出力する処理装置において、二つの前記検査結果情報をもとに同一位置の前記品質レベル情報をそれぞれ比較して、各品質レベル情報の相関度を求め、該相関度を前記位置情報または前記品質レベル情報に対応させて前記表示手段に表示出力させる処理手段を備えたことを特徴とする処理装置。
前記処理手段は、前記位置情報が示すウェハマップ上の対応領域に前記相関度を表示出力させることを特徴とする請求項1に記載の処理装置。
前記処理手段は、同一位置の各品質レベル情報の差分値を求め、該差分値に応じた色を前記対応領域に表示出力させることを特徴とする請求項2に記載の処理装置。
前記処理手段は、同一位置の各品質レベル情報の組み合わせごとに各相関度をそれぞれ加算し、この加算した値を表形式で表示出力させることを特徴とする請求項1に記載の処理装置。
前記処理手段は、同一の前記品質レベル情報に対応した各位置情報が示すウェハマップ上の各対応領域に、前記品質レベル情報の各段階に対応した同一色を表示出力させることを特徴とする請求項4に記載の処理装置。
前記品質レベル情報の組み合わせを指示する指示入力手段をさらに備え、前記処理手段は、前記指示入力手段から指示された前記品質レベル情報の組み合わせと一致する前記品質レベル情報の組み合わせを有する前記位置情報を検出し、該位置情報が示すウェハマップ上の対応領域に所定色を表示出力させることを特徴とする請求項4に記載の処理装置。
半導体ウェハ上に形成された半導体チップの位置情報と該半導体チップの品質レベル情報とを含む二つの検査結果情報の相関度を表示する表示方法において、前記二つの検査結果情報をもとに同一位置の前記品質レベル情報を比較することによって各品質レベル情報の相関度を前記位置情報と対応づけて求める相関度取得ステップと、前記位置情報が示す対応領域に前記相関度に応じた色を表示したウェハマップ画像を作成して、該ウェハマップ画像を表示出力する表示データ作成ステップと、を含むことを特徴とする表示方法。
前記表示データ作成ステップは、前記位置情報ごとの前記相関度に応じた色情報と前記位置情報とをもとに前記ウェハマップ画像の表示データを生成することを特徴とする請求項7に記載の表示方法。
前記相関度取得ステップは、前記同一位置の品質レベル情報の差分値を相関度として求めることを特徴とする請求項7または8に記載の表示方法。
半導体ウェハ上に形成された半導体チップの位置情報と該半導体チップの品質レベル情報とを含む二つの検査結果情報の相関度を表示する表示方法において、前記二つの検査結果情報をもとに同一位置の前記品質レベル情報を比較することによって各品質レベル情報の相関度を前記位置情報と対応づけて求める相関度取得ステップと、同一位置の各品質レベル情報の組み合わせごとに各相関度をそれぞれ加算する加算ステップと、前記加算ステップにおける各加算値を前記品質レベル情報の組み合わせごとに対応させた対応表画像を生成して、該対応表画像を表示出力する表示データ作成ステップと、を含むことを特徴とする表示方法。
同一の前記品質レベル情報に対応した各位置情報が示す各対応領域に、前記品質レベル情報の各段階に対応した同一色を表示したウェハマップ画像を生成して、該ウェハマップ画像を表示出力するウェハマップ作成ステップをさらに含むことを特徴とする請求項10に記載の表示方法。
前記品質レベル情報の組み合わせを指示する指示入力ステップと、前記指示入力ステップにおいて指示された前記品質レベル情報の組み合わせと一致する前記品質レベル情報の組み合わせを有する前記位置情報を検出する検出ステップと、該検出された位置情報に所定色を対応づけ、該検出された位置情報が示す対応領域に前記所定色を表示したウェハマップ画像を生成して、該ウェハマップ画像を表示出力させるウェハマップ形成ステップと、をさらに含むことを特徴とする請求項10に記載の表示方法。
半導体ウェハ上に形成された半導体チップの位置情報と該半導体チップの品質レベル情報とを含む二つの検査結果情報の相関度を表示する表示プログラムにおいて、前記二つの検査結果情報をもとに同一位置の前記品質レベル情報を比較することによって各品質レベル情報の相関度を前記位置情報と対応づけて求める相関度取得手順と、前記位置情報が示す対応領域に前記相関度に応じた色を表示したウェハマップ画像を作成して、該ウェハマップ画像を表示出力する表示データ作成手順と、を含むことを特徴とする表示プログラム。
前記表示データ作成手順は、前記位置情報ごとの前記相関度に応じた色情報と前記位置情報とをもとに前記ウェハマップ画像の表示データを生成することを特徴とする請求項13に記載の表示プログラム。
前記相関度取得手順は、前記同一位置の品質レベル情報の差分値を相関度として求めることを特徴とする請求項13または14に記載の表示プログラム。
半導体ウェハ上に形成された半導体チップの位置情報と該半導体チップの品質レベル情報とを含む二つの検査結果情報の相関度を表示する表示プログラムにおいて、前記二つの検査結果情報をもとに同一位置の前記品質レベル情報を比較することによって各品質レベル情報の相関度を前記位置情報と対応づけて求める相関度取得手順と、同一位置の各品質レベル情報の組み合わせごとに各相関度をそれぞれ加算する加算手順と、前記加算手順における各加算値を前記品質レベル情報の組み合わせごとに対応させた対応表画像を生成して、該対応表画像を表示出力する表示データ作成手順と、を含むことを特徴とする表示プログラム。
同一の前記品質レベル情報に対応した各位置情報が示す各対応領域に、前記品質レベル情報の各段階に対応した同一色を表示したウェハマップ画像を生成して、該ウェハマップ画像を表示出力するウェハマップ作成手順をさらに含むことを特徴とする請求項16に記載の表示プログラム。
前記品質レベル情報の組み合わせを指示する指示入力手順と、前記指示入力手順において指示された前記品質レベル情報の組み合わせと一致する前記品質レベル情報の組み合わせを有する前記位置情報を検出する検出手順と、該検出された位置情報に所定色を対応づけ、該検出された位置情報が示す対応領域に前記所定色を表示したウェハマップ画像を生成して、該ウェハマップ画像を表示出力させるウェハマップ形成手順と、をさらに含むことを特徴とする請求項16に記載の表示プログラム。
2A,2B 検査装置
11 入力部
12 記憶部
13 表示部
14,24,34 制御部
15,25,35 処理部
17,17a,29 相関度データ
18,18a,37,48 色データ
19,19a,39A,39B,49,201,202 ウェハマップ
191 緑色表示
192 赤色表示
193 黄色表示
27 組み合わせデータ
273,471 セル
28、38 対応表
47 カーソル
100 コンピュータシステム
101 本体部
102 ディスプレイ
102a 表示画面
103 キーボード
104 マウス
105 モデム
106 ローカルエリアネットワークまたは広域エリアネットワーク(LAN/WAN)
107 公衆回線
108 フレキシブルディスク(FD)
109 CD−ROM
111 他のコンピュータシステム(PC)
112 サーバ
113 プリンタ
121 CPU
122 RAM
123 ROM
124 ハードディスクドライブ(HDD)
125 CD−ROMドライブ
126 FDドライブ
127 I/Oインターフェース
128 LANインターフェース
Claims (14)
- 半導体ウェハ上に形成された半導体チップの位置情報と該半導体チップの品質レベル情報とを含む検査結果情報を処理し、該処理結果情報を表示手段に表示出力する処理装置において、
二つの前記検査結果情報をもとに同一位置の前記品質レベル情報をそれぞれ比較して、各品質レベル情報の相関度を求め、該相関度を前記位置情報または前記品質レベル情報に対応させて前記表示手段に表示出力させる処理手段を備えたことを特徴とする処理装置。 - 前記処理手段は、前記位置情報が示すウェハマップ上の対応領域に前記相関度を表示出力させることを特徴とする請求項1に記載の処理装置。
- 前記処理手段は、同一位置の各品質レベル情報の差分値を求め、該差分値に応じた色を前記対応領域に表示出力させることを特徴とする請求項2に記載の処理装置。
- 前記処理手段は、同一位置の各品質レベル情報の組み合わせごとに各相関度をそれぞれ加算し、この加算した値を表形式で表示出力させることを特徴とする請求項1に記載の処理装置。
- 前記処理手段は、同一の前記品質レベル情報に対応した各位置情報が示すウェハマップ上の各対応領域に、前記品質レベル情報の各段階に対応した同一色を表示出力させることを特徴とする請求項4に記載の処理装置。
- 前記品質レベル情報の組み合わせを指示する指示入力手段をさらに備え、
前記処理手段は、前記指示入力手段から指示された前記品質レベル情報の組み合わせと一致する前記品質レベル情報の組み合わせを有する前記位置情報を検出し、該位置情報が示すウェハマップ上の対応領域に所定色を表示出力させることを特徴とする請求項4に記載の処理装置。 - 半導体ウェハ上に形成された半導体チップの位置情報と該半導体チップの品質レベル情報とを含む二つの検査結果情報の相関度を表示する表示方法において、
前記二つの検査結果情報をもとに同一位置の前記品質レベル情報を比較することによって各品質レベル情報の相関度を前記位置情報と対応づけて求める相関度取得ステップと、
前記位置情報が示す対応領域に前記相関度に応じた色を表示したウェハマップ画像を作成して、該ウェハマップ画像を表示出力する表示データ作成ステップと、
を含むことを特徴とする表示方法。 - 半導体ウェハ上に形成された半導体チップの位置情報と該半導体チップの品質レベル情報とを含む二つの検査結果情報の相関度を表示する表示方法において、
前記二つの検査結果情報をもとに同一位置の前記品質レベル情報を比較することによって各品質レベル情報の相関度を前記位置情報と対応づけて求める相関度取得ステップと、
同一位置の各品質レベル情報の組み合わせごとに各相関度をそれぞれ加算する加算ステップと、
前記加算ステップにおける各加算値を前記品質レベル情報の組み合わせごとに対応させた対応表画像を生成して、該対応表画像を表示出力する表示データ作成ステップと、
を含むことを特徴とする表示方法。 - 同一の前記品質レベル情報に対応した各位置情報が示す各対応領域に、前記品質レベル情報の各段階に対応した同一色を表示したウェハマップ画像を生成して、該ウェハマップ画像を表示出力するウェハマップ作成ステップをさらに含むことを特徴とする請求項8に記載の表示方法。
- 前記品質レベル情報の組み合わせを指示する指示入力ステップと、
前記指示入力ステップにおいて指示された前記品質レベル情報の組み合わせと一致する前記品質レベル情報の組み合わせを有する前記位置情報を検出する検出ステップと、
該検出された位置情報に所定色を対応づけ、該検出された位置情報が示す対応領域に前記所定色を表示したウェハマップ画像を生成して、該ウェハマップ画像を表示出力させるウェハマップ形成ステップと、
をさらに含むことを特徴とする請求項8に記載の表示方法。 - 半導体ウェハ上に形成された半導体チップの位置情報と該半導体チップの品質レベル情報とを含む二つの検査結果情報の相関度を表示する表示プログラムにおいて、
前記二つの検査結果情報をもとに同一位置の前記品質レベル情報を比較することによって各品質レベル情報の相関度を前記位置情報と対応づけて求める相関度取得手順と、
前記位置情報が示す対応領域に前記相関度に応じた色を表示したウェハマップ画像を作成して、該ウェハマップ画像を表示出力する表示データ作成手順と、
を含むことを特徴とする表示プログラム。 - 半導体ウェハ上に形成された半導体チップの位置情報と該半導体チップの品質レベル情報とを含む二つの検査結果情報の相関度を表示する表示プログラムにおいて、
前記二つの検査結果情報をもとに同一位置の前記品質レベル情報を比較することによって各品質レベル情報の相関度を前記位置情報と対応づけて求める相関度取得手順と、
同一位置の各品質レベル情報の組み合わせごとに各相関度をそれぞれ加算する加算手順と、
前記加算手順における各加算値を前記品質レベル情報の組み合わせごとに対応させた対応表画像を生成して、該対応表画像を表示出力する表示データ作成手順と、
を含むことを特徴とする表示プログラム。 - 同一の前記品質レベル情報に対応した各位置情報が示す各対応領域に、前記品質レベル情報の各段階に対応した同一色を表示したウェハマップ画像を生成して、該ウェハマップ画像を表示出力するウェハマップ作成手順をさらに含むことを特徴とする請求項12に記載の表示プログラム。
- 前記品質レベル情報の組み合わせを指示する指示入力手順と、
前記指示入力手順において指示された前記品質レベル情報の組み合わせと一致する前記品質レベル情報の組み合わせを有する前記位置情報を検出する検出手順と、
該検出された位置情報に所定色を対応づけ、該検出された位置情報が示す対応領域に前記所定色を表示したウェハマップ画像を生成して、該ウェハマップ画像を表示出力させるウェハマップ形成手順と、
をさらに含むことを特徴とする請求項12に記載の表示プログラム。
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20091208 |