JP2005274279A - 検査用光源装置 - Google Patents

検査用光源装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2005274279A
JP2005274279A JP2004086687A JP2004086687A JP2005274279A JP 2005274279 A JP2005274279 A JP 2005274279A JP 2004086687 A JP2004086687 A JP 2004086687A JP 2004086687 A JP2004086687 A JP 2004086687A JP 2005274279 A JP2005274279 A JP 2005274279A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
irradiation
light source
inspection
irradiation unit
light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2004086687A
Other languages
English (en)
Inventor
Mamoru Takahashi
守 高橋
Yasushi Ichizawa
康史 市沢
Naomichi Senda
直道 千田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yokogawa Electric Corp filed Critical Yokogawa Electric Corp
Priority to JP2004086687A priority Critical patent/JP2005274279A/ja
Publication of JP2005274279A publication Critical patent/JP2005274279A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Abstract

【課題】 1つの光源で複数の照射条件の切り替えが可能で、切り替え作業が簡易で短時間に行えると共に、高い再現性で安定した検査結果を得ることができる照射条件切り替え機構を有した検査用光源装置を実現する。
【解決手段】 被検査対象に所定の光信号を照射する検査用光源装置において、
異なる照射条件が予め設定された複数の照射部と、
この照射部を前記被検査対象上に移動させる照射部移動手段と、
前記照射部に光源からの光を伝達する導光部材と、
を有することを特徴とする検査用光源装置。
【選択図】 図1

Description

本発明は、受光素子の検査用光源装置に関し、詳しくは、検査用光源の照射条件を簡易に切り替えるための改良に関するものである。
従来、固体撮像素子をはじめとする受光素子の検査では所定の光源を用いて被検査対象である受光素子に既知の色や光量の光を照射し、受光素子から出力された電気信号をモニタするという構成が用いられている。
このような技術に関連する先行技術文献として固体撮像素子に照射される光量を切り替えられるようにしたものがある(例えば特許文献1参照。)。
特開平5−336551号公報
図5は、従来の受光素子の検査装置の一例を示した構成図である。
図5において、搬送装置1は、被検査撮像素子2(以下被検査対象という。)の検査を行うためテスタヘッド3の位置まで被検査対象2を搬送する。DUTボード4(DUTとは被検査対象を指す。)は、被検査対象2から電気信号を取り出すための駆動回路と被検査対象と電気的に導通するためのテストピンを有している。
被検査対象2はDUTボード4の下まで搬送され、DUTボード4のテストピンは被検査対象2の電極と接触する。駆動回路により光源5からの所定の光信号を受光した被検査対象から電気信号が取り出され、この信号が、DUTボード4とそれが取り付けられたテスタヘッド3を介してテスタ6に送られる。
テスタ6は、テスタヘッド3から送られた被検査対象2の出力信号を増幅し、A/D変換してデジタルデータを記憶する。このデジタルデータと予め設定されたデータとを比較して被検査対象の欠陥の有無を判定する。テスタ6の判定結果に基づいて搬送装置1は被検査対象2を分別する。
このような検査装置に使用される従来の検査用光源装置について説明する。
図6は、従来の検査用光源装置の一例を示す構成図である。図6で前出の図と同様の構成要素には同様の符号を付けて、その部分の説明は省略する。
光源5は、テスタヘッド3(断面図にて表示)に取り付けられ、テスタヘッド3に設けられたスコープホール7に挿入された導光部材8とその先端に取り付けられたレンズ9を介して被検査対象2に所定の光信号を照射する。ここで、スコープホールとはテスタヘッドの真中にあいている穴で、顕微鏡などを使いDUTボードと被検査対象の位置を合わるための覗き穴である。
上述した従来の検査用光源装置では、以下のような問題点がある。
導光部材8の照射部分(照射端側)において、レンズ9は固定されており、照射条件は一定となっている。このため、光量や入射角などの様々な照射条件を切り替えようとする場合は、光源5をテスタヘッド3から外し、光源装置(光源および導光部材)ごと交換しなければならない。
また、1つの光源では1つの照射条件でしか検査が行えず、複数の照射条件で検査を行う場合は、複数の光源装置を用意しなければならない。
さらに、照射条件を変更するときは光源装置ごとの交換が必要になるので作業に時間がかかる。
加えて、入射角を切り替える場合は、照射端の位置決めを正確に行わなければ高い再現性を得ることができず、安定した検査結果を得ることができないという問題があった。
本発明は、このような従来の検査用光源装置が有していた問題を解決しようとするものであり、1つの光源で複数の照射条件の切り替えが可能で、切り替え作業が簡易で短時間に行えると共に、高い再現性で安定した検査結果を得ることができる照射条件切り替え機構を有した検査用光源装置を実現することを目的とする。
本発明は次の通りの構成になった検査用光源装置である。
(1)被検査対象に所定の光信号を照射する検査用光源装置において、
異なる照射条件が予め設定された複数の照射部と、
この照射部を前記被検査対象上に移動させる照射部移動手段と、
前記照射部に光源からの光を伝達する導光部材と、
を有することを特徴とする検査用光源装置。
(2)前記導光部材の先端を上下に移動させる導光部材移動手段と、
前記照射部の先端と嵌合することにより前記照射部の位置を固定するガイドと、
を有し、
前記導光部材の先端の下方への移動により前記照射部を押下げて、前記照射部の先端と前記ガイドとを嵌合させることを特徴とする(1)に記載の検査用光源装置。
(3)前記照射部の照射条件は、異なる入射角で前記被検査対象に照射されるように設定されていることを特徴とする(1)または(2)に記載の検査用光源装置。
(4)前記入射角は、前記照射部が有する光学系のF値に基づき設定されることを特徴とする(3)に記載の検査用光源装置。
(5)同一照射条件の前記照射部を複数設け、複数の前記被検査対象を同時に検査することを特徴とする(1)乃至(4)のいずれかに記載の検査用光源装置。
本発明によれば、以下のような効果がある。
請求項1に記載の発明によれば、1つの光源で複数の照射条件の切り替えが可能で、切り替え作業が簡易で短時間に行うことができる。
請求項2に記載の発明によれば、ガイドにより照射部の先端を固定することができるため、高い再現性で安定した検査結果を得ることができる照射条件切り替え機構を有した検査用光源装置を実現することができる。
請求項3および請求項4に記載の発明によれば、異なる入射角により被検査対象に照射することができる。
請求項5に記載の発明によれば、同一照射条件の照射部を複数有し、複数の被検査対象を同時に検査することにより、短時間で多量の検査を行うことができる。
以下図面を用いて本発明を詳細に説明する。
図1は本発明の検査用光源装置の一実施例を示す構成図である。
図1で前出の図と同様の構成要素には同様の符号を付け、その部分の説明は省略する。
図1は、テスタヘッド3を正面から見た断面図を示している。導光部材11は、スライダ12に取り付けられ、レール13は、スコープホール7内に取り付けられている。スライダ12はレール13に沿ってスライドする構造(以下、リニアガイドという。)になっていてスコープホール7内で上下に移動する。
スライダ12は、図示しないアクチュエータ(例えばモータやエアーシリンダ。)により駆動され、テストヘッド3外部の図示しない制御手段からの信号により動作する。この部分が導光部材移動手段に相当する。
導光部材11は、例えば光ファイバや光ファイバ束のような柔軟性をもったものを使用し、スライダ12の上下の移動に伴い弛張して光源と導光部材11の接合部に力が加わることを防ぐ。光源には、ハロゲンランプ、キセノンランプまたは発光ダイオードなどの発光素子が使われる。
破線で囲んだ照射部14a,14b,14cは、スコープホール7内に回転移動可能に取り付けられた金属や樹脂などのブロックでできた保持部18に保持されている。
これら照射部は、それぞれ異なる照射条件に設定されていて、照射部の一端と導光部材11の先端(開放端)の面同士が接触する。また、これらの照射部は、複数のDUTを同時に検査するために、同じ照射条件のものを複数備えている。
例えば照射部14aでは、照射条件A(F=2.0)が実現される。この場合、照射部14aの内部にはライトガイド17aが入っていて被検査対象2に面した端面にはレンズ19がついている。このレンズの有効径をD,焦点距離をfとするとF=f/Dが2.0の条件になっている。
また、照射部14bでは、照射条件B(F=16)が実現される。この場合、照射部14bの内部は空間になっていて、被検査対象2と導光部材11との距離dは導光部材11の直径をD2とした場合、F=d/D2となるようになっている。
さらに、照射部14cでは、照射条件C(ピンホール)が実現される。この場合、照射部14cの内部にはライトガイド17cが入っていて、被検査対象2に面した端面にはピンホール20が付いている。
この様に、レンズのF値およびピンホールの切り替えにより、照射光の入射角を切り替えることができる。なお、ライトガイドとは、硝材または透明な樹脂でできたロッドや光ファイバや光ファイバ束などを指す。
図2は、照射部の切り替え機構を説明する説明図である。図2で前出の図と同様の構成要素には同様の符号付し、その部分の説明は省略する。
図2には、図1に記載した3種類で4DUT分の照射部14a(照射条件A),14b(照射条件B),14c(照射条件C)を持つ切り替え機構の平面図が示されている。照射部14a,14b,14cは支点21に対して放射状に配置され、保持部18に保持されている。切り替え機構は、スコープホール7内に収まる大きさで、保持部18は支点21を中心に回転し、使用する照射部14a,14b,14cの位置を4DUT分同時に合わせる。
この保持部18が支点21を中心に円弧運動することにより、所定の照射条件を有する照射部14a,14b,14cが導光部材11の端面の直下に移動され、照射部14a,14b,14cのいずれか1セットが選択される。円弧移動の動力にはアクチュエータ23(例えばモータやエアーシリンダ。)を使用し、前出のスライダ12の制御と同様にテストヘッド3外部の制御手段(図示せず)が制御を行う。この部分が照射部移動手段に相当する。
このような制御手段は、例えばPCで構成され、作業者により検査における照射条件の切り替え工程などが入力され、これに基づいてアクチュエータの制御を行い、検査時には切り替え状態をモニタ上に表示する。
図3は、照射部の位置決め構造を示す説明図である。図3で前出の図と同様の構成要素には同様の符号を付けて、その部分の説明は省略する。
図3では、前出の照射部14aを例示してその位置決め構造について説明する。
図3(a)では、照射部14aを円弧状に移動させて水平方向の位置決めを行った状態を示している。ライトガイド17aは、バネをはじめとする弾性部材32によりDUTボード4上の回路部品やその他の突起物33に干渉しない位置まで引き上げられている。
図3(b)では、導光部材11をスライダ12およびレール13から成るリニアガイドにより下方にスライドさせた状態を示している。このとき、導光部材11の先端(開放端)とライトガイド17aの一端とが面同士接触し、さらにライトガイド17aを押し込み、ライトガイド17aの他端がDUTボード4上に取り付けたガイド34の凹部に押し当てられることにより位置決めされることになる。位置決め後、照射条件Aの光信号がDUTボード4の穴を通して被検査対象2に照射される。
ガイド34は、金属や樹脂から成る中空の円筒形で、ライトガイド17a側からおよそ中間位置までテーパー状の凹部を有し、この凹部にライトガイド17aの先端が嵌め合わされる。
なお、ライトガイド17aには、金属や樹脂などの摺動部材31が取り付けられていて保持部18との摩擦を軽減させて上下の移動を円滑に行えるようにしている。
照射部14aによる検査が終了すると、導光部材11はリニアガイドにより上方にスライドされ、ライトガイド17aは、弾性部材32の復元力により、もとの位置に押し上げられる。
以上により、照射条件の異なる照射部を切り替え可能としたことにより、1つの光源で複数の照射条件の検査を行えて、かつ光源をテスタヘッドから外さずに照射条件切り替えが可能となる。
また、照射条件の切り替え作業が容易に行えると共に、照射条件の切り替え作業が短時間に行える。
さらに、位置決め用のガイドを設けて、これにライトガイドを押し当てる構造としたので、位置決め精度や再現性が向上して安定した検査が行える。
加えて、同一照射条件の照射部を複数有しているため、複数の被検査対象を同時に検査することができ、短時間で多量の検査が行える。
図4は、本発明の他の実施例の構成を説明する説明図である。
図4において、図2を用いて説明したものと異なる点は、回転による切り替え方式に対して、リニアガイドによる平行移動方式である点にある。
A,B,C,Dの4種類の照射条件に設定された照射部41a,41b,41c,41dが、金属や樹脂などのブロックでできた保持部42で保持されている。この保持部42の対抗する位置にはスライダ43a,43bが取り付けられ、レール44a,44b,に沿って水平方向に移動可能になっている。
これにより、異なる照射条件の照射部を切り替えることができと共に、移動量を効率よく設定できるため多種類の照射条件切り替えが可能となる。
なお、本発明は、上記実施例に限定されることなく、その本質から逸脱しない範囲で更に多くの変更、変形をも含むものである。
本発明の検査用光源装置の一実施例を示す構成図である。 本発明における照射部の切り替え機構を説明する説明図である。 本発明における照射部の位置決め構造を示す説明図である。 本発明の他の実施例の構成を説明する説明図である。 従来の受光素子の検査装置の一例を示した構成図である。 従来の検査用光源装置の一例を示す構成図である。
符号の説明
2 被検査対象
3 テスタヘッド
4 DUTボード
7 スコープホール
11 導光部材
12 スライダ
13 レール
14a、14b、14c 照射部
17a、17c ライトガイド
18 保持部
19 レンズ
20 ピンホール
23 アクチュエータ
31 摺動部材
32 弾性部材
34 ガイド

Claims (5)

  1. 被検査対象に所定の光信号を照射する検査用光源装置において、
    異なる照射条件が予め設定された複数の照射部と、
    この照射部を前記被検査対象上に移動させる照射部移動手段と、
    前記照射部に光源からの光を伝達する導光部材と、
    を有することを特徴とする検査用光源装置。
  2. 前記導光部材の先端を上下に移動させる導光部材移動手段と、
    前記照射部の先端と嵌合することにより前記照射部の位置を固定するガイドと、
    を有し、
    前記導光部材の先端の下方への移動により前記照射部を押下げて、前記照射部の先端と前記ガイドとを嵌合させることを特徴とする請求項1に記載の検査用光源装置。
  3. 前記照射部の照射条件は、異なる入射角で前記被検査対象に照射されるように設定されていることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の検査用光源装置。
  4. 前記入射角は、前記照射部が有する光学系のF値に基づき設定されることを特徴とする請求項3に記載の検査用光源装置。
  5. 同一照射条件の前記照射部を複数設け、複数の前記被検査対象を同時に検査することを特徴とする請求項1乃至請求項4のいずれかに記載の検査用光源装置。
JP2004086687A 2004-03-24 2004-03-24 検査用光源装置 Pending JP2005274279A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004086687A JP2005274279A (ja) 2004-03-24 2004-03-24 検査用光源装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004086687A JP2005274279A (ja) 2004-03-24 2004-03-24 検査用光源装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2005274279A true JP2005274279A (ja) 2005-10-06

Family

ID=35174119

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004086687A Pending JP2005274279A (ja) 2004-03-24 2004-03-24 検査用光源装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2005274279A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006064441A (ja) * 2004-08-25 2006-03-09 Yokogawa Electric Corp 検査用光源装置及びicテスタ
JP7128403B1 (ja) 2021-04-15 2022-08-31 株式会社インターアクション 瞳モジュール及び検査装置

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006064441A (ja) * 2004-08-25 2006-03-09 Yokogawa Electric Corp 検査用光源装置及びicテスタ
JP4513059B2 (ja) * 2004-08-25 2010-07-28 横河電機株式会社 Icテスタ
JP7128403B1 (ja) 2021-04-15 2022-08-31 株式会社インターアクション 瞳モジュール及び検査装置
WO2022220069A1 (ja) * 2021-04-15 2022-10-20 株式会社インターアクション 瞳モジュール及び検査装置
JP2022164061A (ja) * 2021-04-15 2022-10-27 株式会社インターアクション 瞳モジュール及び検査装置
JP2022164665A (ja) * 2021-04-15 2022-10-27 株式会社インターアクション 瞳モジュール及び検査装置
JP7388766B2 (ja) 2021-04-15 2023-11-29 株式会社インターアクション 瞳モジュール及び検査装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5166290B2 (ja) ステントの内径部を照明および撮像する方法
JP2010500617A (ja) 動的走査を行う自動式顕微鏡および方法
JP2009075106A (ja) ロータディスクの接面凹部の検査装置
JP4567594B2 (ja) 顕微鏡、試料観察方法、及び半導体検査方法
JP2008166806A (ja) プロービング装置で焦点を合わせて多平面画像を取得する装置と方法
JP2011123019A (ja) 画像検査装置
US6498642B1 (en) Endoscope inspection system
TWI509237B (zh) 玻璃上晶片之接合檢驗設備
JP2000131029A (ja) 特に隠れたはんだ接合部の外観検査装置及び外観検査方法
JP2002540388A5 (ja)
JP2014149175A (ja) 光学測定装置
JP2005274279A (ja) 検査用光源装置
US10481056B2 (en) Bond test apparatus and bond test cartridge with integrated illumination system
US20130063583A1 (en) System and method for digitizing a moving slide
CN116087222A (zh) 晶圆暗场检测装置及检测方法
JP5267471B2 (ja) 半導体デバイスの検査方法および検査装置
CN105572039B (zh) 光源设备
JP2012169370A (ja) 表示パネル検査装置及び表示パネル検査方法
JP2000275183A (ja) 画像取込み装置
JP2002340738A (ja) 光学部材検査装置
KR20210055708A (ko) 테스트 기판, 프로브들 및 검사 유닛을 서로 상대적으로 위치 설정하기 위한 방법 및 상기 방법을 실시하기 위한 테스터
JP6676910B2 (ja) 検査装置
KR101566347B1 (ko) 기판검사장치
JP6981284B2 (ja) 硬さ試験機
KR102380479B1 (ko) 부품을 검사하는 방법 및 조립체