JP2005265618A - コンピュータ断層撮影装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】 測定視野に収まらない大きな被検体の3次元画像を、コーン状X線ビームを用いた簡単なスキャン方法により得ることを目的とする。
【解決手段】 放射線源により発生されて被検体を透過したコーン状放射線ビームを検出する2次元分解能の放射線検出器と、被検体と放射線ビームとに相対回転を与える回転手段と、この回転を行うRR方式でスキャンされる間に、複数位置で放射線検出器に検出されて得られた複数の透過データから、前記被検体の3次元画像を再構成するコーンビームRR再構成手段と、被検体と放射線ビームとに相対平行移動を与える平行移動手段と、平行移動とステップ状の回転を繰り返すTR方式でスキャンされる間に、複数位置で放射線検出器に検出されて得られた複数の透過データから、被検体の3次元画像を再構成するコーンビームTR再構成手段とを有する。
【選択図】 図1

Description

本発明は、産業用あるいは医療用のコンピュータ断層撮影装置に関する。
近年、小型電子部品等を高分解能で検査するために、高分解能型の産業用のコンピュータ断層撮影装置(以下、CT)が作られるようになってきている。
例えば、特許文献1で記載される従来公知の高分解能CTでは、X線管から発生されて被検体を透過したコーン状X線ビームを、2次元のX線検出器で検出し、検出されたX線強度に基づいて被検体の透過画像を生成している。
このような従来の高分解能CTで断面像を撮影する場合には、固定されたX線管とX線検出器との間で、被検体を1回転させながら多数の透過画像を検出するスキャン方式が用いられている。この場合、被検体の多数の断面像である3次元画像を得るためには、このようにして得られた多数の透過画像を再構成処理していた。
上述したスキャンは、回転動作(rotate/rotate動作)のみでスキャンする、RR方式(rotate/rotate方式)と呼ばれるスキャン方式である。
このようなコーンビームの画像再構成には通常、非特許文献1に記載される方法が用いられる。この方法は、フィルター補正逆投影法(FBP(Filtered Back Projection)法)の一種で、立体的に逆投影するものである。このフィルター補正逆投影法による再構成の一例が、特許文献1に記載の発明で利用されている。
図8に示しているのは、一般的な高分解能型CT100を説明する簡単な構成図である。図8において(a)は平面図であり、(b)は正面図である。この高分解能型CT100は、X線管101、X線検出器102及び回転テーブル103を備えている。X線管101から発生されるX線ビーム104は、回転自在な回転テーブル103に載置される被検体105を透過して、X線管101に対向するX線検出器102で検出される。
この高分解能型CT100は、X線幾何が自由に設定でき、様々な被検体105の測定に対応可能である点を特徴とする。被検体105を配置して回転テーブル103及びX線検出器102は、x方向について移動させることで、焦点Fを有するX線管101との距離を変更することが可能である。このように、撮影距離FCD(Focus to rotetion Center Distance)と検出距離FDD(Focus to Detector Distance)とを、連続的に変更することができ、被検体105に応じて撮影倍率(拡大率)(=FDD/FCD)を自由に変更することが可能になる。
また、高分解能型CT100は、回転テーブル103をz方向(上下方向)に移動させることができる。このように、上下方向に被検体105を移動することで、被検体105の撮影部位を自由に変更することができる。
図8において、スキャン領域A(断面像視野)は回転面上でX線ビーム104に包含される回転中心Cを中心とする円であり、撮影倍率が大きい程小さな円となる。なお、X線ビーム104は測定されるX線であり、X線ビーム104の外には測定されないX線が放出されている。このスキャン領域Aは無理なく再構成ができる十分なデータが収集される領域のことで、回転軸方向(z軸方向)に厚みを持った体積である。この厚みは、回転軸方向で、X線ビーム104に包含される厚みである。
このような高分解能型CT100においては、被検体105の大きさに応じて、スキャン領域Aからはみ出さず、できるだけ拡大率を大きくして撮影すると、高分解能断面像が得られるので好ましい。
ここで、X線検出器102の測定領域106が測定する空間を測定視野と定義すると、測定視野はX線ビーム104の広がりと一致する。このため、スキャン中に測定視野からはみ出る被検体105は、また、スキャン領域Aからはみ出る被検体105といえる。このような被検体105は通常のRR方式では全体の3次元画像を得ることができない。そこで、この場合の手法として、特許文献2や特許文献3などに、回転中心を連続的にずらしながら複数回転させて測定視野に収まらない大きな範囲の3次元画像を得る手法が記載されている。しかしながら、この方法は、画像再構成処理が複雑である。また、回転中心を回転とを同期させて精度良く移動させることが難しく、実施が困難であるという課題もある。
他方、上述したRR方式の高分解能CTの他には、トランスレートと回転を組み合わせた動作(translate/rotate動作)により行われる、TR方式(translate/rotate方式)でのスキャンが利用されるCTが知られている。このTR方式によるスキャン方法を採用すると、測定視野からはみ出る被検体の断面像を得ることができる。
しかしながら、このTR方式を高分解能型CTに適用した場合、大きな被検体がスキャンできる反面、小さな被検体の場合、画質の面で機構精度を上げやすいRR方式に及ばず、スキャン時間も長くなるといった問題がある。また、コーンビームを用いて3次元画像を1スキャンで得るTR方式の画像再構成方法が知られていないという課題がある。
特開2001−330568号公報 特開2002−219127号公報 特開平9−164133号公報 L.A.Feldkamp(フェルドカンプ),L.C.Davis(デイヴィス),J.W.Kress(クレス)著,「プラクティカルコーンビームアルゴリズム(Practical cone−beam algorithm)」,オプティカルソサエティオブアメリカ(Optical Society of America)(米国),Vol.1,No.6 1984年6月,p.612−619
上記の課題を解決するため、本発明では、測定視野に収まらない大きな被検体の3次元画像をコーン状X線ビームを用いた簡単なスキャン方法で得ることを目的とする。
上記課題を解決するため、請求項1記載の発明は、放射線源により発生されて被検体を透過したコーン状放射線ビームを検出する2次元分解能の放射線検出器と、前記被検体と前記放射線ビームとに相対回転を与える回転手段と、この回転を行うRR方式でスキャンされる間に、複数位置で前記放射線検出器に検出されて得られた複数の透過データから、前記被検体の3次元画像を再構成するコーンビームRR再構成手段と、前記被検体と前記放射線ビームとに相対平行移動を与える平行移動手段と、前記平行移動とステップ状の前記回転を繰り返すTR方式でスキャンされる間に、複数位置で前記放射線検出器に検出されて得られた複数の透過データから、前記被検体の3次元画像を再構成するコーンビームTR再構成手段とを有し、前記被検体の大きさに応じて、前記RR方式によるスキャンまたは前記TR方式によるスキャンを自由に選択して操作することが可能なことを要旨としている。
上記構成の請求項1にかかる本発明によれば、被検体の大きさに応じて、スキャンをRR方式またはTR方式のいずれか適当な方式を選択することができ、小さな被検体から大きな被検体まで、幅広い計測を行うことが可能である。
また、請求項2記載の発明は、放射線源により発生されて被検体を透過したコーン状放射線ビームを検出する2次元分解能の放射線検出器と、前記被検体と前記放射線ビームとに相対回転を与える回転手段と、前記被検体と前記放射線ビームとに相対平行移動を与える平行移動手段と、前記平行移動とステップ状の前記回転とを繰り返すTRスキャンの間に、複数位置で前記放射線検出器に検出されて得られた複数の透過データから、前記被検体の3次元画像を再構成するコーンビームTR再構成手段とを有することを要旨としている。
さらに、請求項3記載の発明は、請求項1または2に記載のコンピュータ断層撮影装置において、前記コーンビームTR再構成手段は、前記2次元分解能の前記回転の軸方向位置m、直行方向位置n及び平行移動位置tで構成される前記透過データを、平行移動位置t方向に高周波強調フィルタ掛けするフィルタ機能と、高周波強調フィルタ掛けされた後に、軸方向位置m及び平行移動位置tで一組の面データである透過データを構成して、前記放射線ビームの焦点に向けて被検体を表す仮想3次元格子に対して3次元逆投影する逆投影機能とを有することを要旨としている。
上記構成の請求項2または3にかかる発明によれば、放射線ビームに収まらない被検体に対しても、TR方式でスキャンをすることで、平行移動で被検体をカバーする透過データを得て、コーンビームTR再構成手段により3次元画像を得ることができる。
また、請求項4記載の発明は、請求項1乃至3のいずれか1に記載のコンピュータ断層撮影装置において、前記放射線ビームの焦点と前記回転軸間の距離であるFCDを変更するFCD変更手段を有することを要旨としている。
上記構成の請求項4にかかる発明によれば、被検体の大きさに合わせてFCDを変更することで、最適な幾何条件を設定することができ、高品質な3次元画像を得ることができる。
また、請求項5記載の発明は、請求項1乃至4のいずれか1に記載のコンピュータ断層撮影装置において、前記放射線ビームの焦点と前記放射線検出器間の距離であるFDDを変更するFDD変更手段と、このFDDに応じて前記ステップ回転と平行移動の繰り返し回数を自動的に変更するTRスキャン制御手段とを有することを要旨としている。
上記構成の請求項5にかかる発明によれば、被検体の大きさに合わせて最適な幾何条件を設定することができ、高品質な3次元画像を得ることができる。さらに、FDDを変えたときファン角θ0 の変化が自動設定され、自動的に繰り返し回数を決めるので、繰り返し回数の設定をする煩わしさを伴わずにFCD設定をすることができる。
以上、説明したように本発明によれば、測定視野に収まらない大きな被検体の3次元画像をコーン状X線ビームを用いた簡単なスキャン方法で得ることのできるコンピュータ断層撮影装置を提供することができる。
以下に、図面を用いて本発明について説明する。
図1に示しているのは、本発明の実施例1にかかる高分解能型CT1を説明する構成図である。図1において(a)は平面図であり、(b)は正面図である。
本発明にかかる高分解能CT1は、X線管2、X線検出器3、支持フレーム4,5、支持台6、XY移動機構7、回転・昇降機構8、y方向移動機構9、x方向シフト機構10、機構制御部11、データ処理部12、入出力部13、X線制御部14及び高電圧発生器15を備えている。
X線管2は、X線ビーム20を発生する機能を有し、発生するX線ビーム20の焦点Fが数μmのマイクロフォーカスX線管を用いている。X線検出器3には、2次元半導体光センサにシンチレータを接着したX線フラットパネルディテクタ(FPD)を用いて、X線管2から発生されたX線ビーム20のX線強度を検出する機能を有している。X線管2及びX線検出器3は、対向してそれぞれ支持フレーム4,5により支持されている。
支持台6は、被検体21を載置するものであり、X線管2から発生されるX線ビーム20が支持台6上に載置される被検体21を透過して、X線検出器3により検出される。支持台6はXY移動機構7によりxy方向に移動(水平面内移動)可能である。
被検体21は回転・昇降機構8でX線ビーム20内で、断面像の撮影面22に沿って回転されるとともに、撮影面22に直角にz方向に移動(昇降)される。XY移動機構7及び回転・昇降機構8によりXYz方向に移動させることで、回転中心Cと被検体21との位置関係が調整される。
支持台6は、回転軸23とともに、y方向移動機構9の操作により、X線ビーム20を横切るように、図1中のy方向に移動される。また、x方向シフト機構10によりX線管2とX線検出器3の間をx方向に移動され、これにより、撮影距離FCDが変更される。
機構制御部11は、これらのXY移動機構7、回転・昇降機構8、y方向移動機構9及びx方向シフト機構10に対する操作を制御している。回転中心Cは、y方向の移動により、X線ビーム20の中央になるように調整される。
ここで、スキャン領域Aは、回転軸23を中心とし、回転中に測定されるX線ビーム20に包含される円筒領域であり、RR方式によるスキャンにおいて、無理なく再構成ができる十分なデータが収集される領域である。また、スキャン領域Bは、回転軸23を中心として直径は任意に設定でき、回転軸方向がX線ビーム20に包含される円筒領域であり、TR方式によるスキャンにおいて、無理なく再構成ができる十分なデータが収集される領域である。
データ処理部12は、X線検出器3で検出されたX線強度から、透過画像を構成するための処理を行う機能や、透過画像から3次元画像を再構成する機能を有し、また、スキャンのシーケンスや3次元画像(断面像)を再構成するソフトウェア等が記憶されている。このデータ処理部12からの操作指令により、機構制御部11で操作が行われる。データ処理部12はRR方式及びTR方式のスキャンを行うために、ソフトウェアの機能ブロックとして、スキャンを制御するRRスキャン部12a、TRスキャン部12c、3次元画像(断面像)を作成するRR再構成部12b、TR再構成部12dを有している。
また、入出力部13は、高分解能CT1を操作するための様々な操作指示を入力する機能や、データ処理部12で処理された処理結果を出力する機能を有している。たとえば、マウスやキーボードにより入力が行われ、ディスプレイ等に対して出力される。
データ処理部12と入出力部13は通常のコンピュータであり、CPU、メモリ、ディスク、キーボード、インターフェース等で構成される。操作者は入出力部13を用いて、メニュー選択や条件設定、機構部手動操作、スキャンの開始、装置のステータス読み取りなどを行う。また、入出力部13では、操作により得られた3次元画像(断面像)の表示などを行う。
X線制御部14は、高電圧を発生する高電圧発生器15と接続され、X線管2の管電圧、管電流を制御する機能を有している。また、図示は省略しているが、X線管2、X線検出器3及び被検体21を含む部分を収納するX線の遮蔽箱がある。
管電圧及び管電流は被検体21に合わせて自在に変えることができる。x方向シフト機構10、y方向移動機構9等には、図示していないエンコーダが取付けられており、FCD値、FDD値、y値等が読み取られ、それぞれ機構制御部11を介してデータ処理部12に入力される。
この、発明にかかる実施例1の高分解能CTの処理の流れを説明する。まず、操作者によりマウスやキーボードなどの入出力部13からスキャンの方式が選択入力されると、データ処理部12では、選択された操作指示の入力に従いRR方式によるスキャン、あるいは、TR方式によるスキャンが開始される。
なお、以下の実施例でいう「透過画像」、「検出強度」及び「投影データ」は、処理段階での名称付けであり、特許請求の範囲で記載した「透過データ」に含まれる。
<RR方式によるスキャンを行った際の処理>
まず、スキャンの方法として、RR方式が選択された場合の処理の流れについて説明する。一般的に、このRR方式は比較的小さい被検体21を測定する場合に用いられる方法である。操作者はまず、被検体21を支持台6上に載置して、x方向シフト機構10を操作することで、FCD及びFDDを設定する。その後、XY移動機構7を操作して、被検体21がスキャン領域A内に入るように設定する。
図1に示す例では、説明の都合上、被検体21はスキャン領域Aからはみ出るように描かれている。しかし、通常は画質が低下しないように、スキャン領域Aから被検体21がはみ出さないように載置する。
スキャンが開始されると、データ処理部12はRRスキャン部12aがスキャンを制御し、RR再構成部12bが、X線検出器3で得られた透過画像からスキャン領域Aの3次元画像を再構成する。
RR方式によるスキャンは、回転軸23に対する回転動作のみで行われ、スキャン領域Aの3次元画像が得られる。この場合の画像の再構成は非特許文献1に記載のFeldkamp et al.の方法で行われる。この画像再構成の方法について、図2及び図3を参照して概略を説明する。
図2に示すフローチャートは、コーンビームを利用したRR方式の画像再構成処理の流れを説明する図である。また、図3に示すのは、この場合の逆投影について説明する図である。ここでは、x´,y´,z´は被検体21に固定した座標で回転軸23をz´軸としている。ここで、X線検出器3によって得られたX線強度から生成される透過データは測定領域30の回転軸方向位置m、直交方向位置n及び回転位置φにより、透過データI(m,n,φ)として記述される。
まず、透過データI(m,n,φ)は対数変換により、投影データP(m,n,φ)に変換される(S11)。この対数変換については、通常CTで用いられている方法であるため、説明は省略する。次に、求められた投影データP(m,n,φ)に対して、直交方向(n方向)に高周波強調フィルタ掛けをする(S12)。このフィルタは、一般的にCTで用いられているフィルタと同様の|ω|フィルタである。
高周波強調フィルタが掛けられた後、図3に示しているように、投影データを、回転軸方向位置m及び直交方向位置nで記述される一組の面データである投影データP(m,n)として、焦点Fに向けて被検体21を表す仮想3次元格子に対し3次元逆投影する(S13)。すなわち、全ての格子点Gに対し、対応する測定領域30上の点GPのデータを足し込む。この逆投影をφの1回転分行うと、被検体21のスキャン領域Aの3次元画像が得られる。
このようにしてRR再構成部12bにおいて再構成された被検体21の3次元画像が、ディスプレイ等の入出力部13において表示される。
<TRスキャン方式>
次に、スキャンの方法として、TR方式が選択された場合の処理の流れについて説明する。操作者はまず、RRスキャンのときと同様に、被検体21を支持台6上に載置する。続いて、x方向シフト機構10を操作することで、FCD及びFDDを設定する。FCD及びFDDが設定されると、XY移動機構7の操作により、被検体21の中央を回転軸23に合わせる。その後、スキャン領域Bを設定する。スキャン領域Bの設定は、例えばスキャン領域Bの直径をmm値で入力することで行われる。
スキャン領域Bの設定後にスキャン操作の指示がされると、TRスキャン部12cの操作によりスキャンが開始される。このとき、FDDによりX線ビーム20の広がり角であるファン角θ0 が変化する。この変化に対応するために、スキャンが開始される前にはTRスキャン部12cによりファン角θ0 に合わせてトランスレート回数Kが自動的に設定される。具体的にトランスレート回数Kは、
K・θ0>πとなる最小の整数K
として求められる。
その後、TRスキャン部12cがスキャンを制御し、スキャンが開始される。スキャンはよく知られているTR方式と同様に、y方向移動(トランスレート動作)と回転軸23に対するファン角θ0 のステップ回転とを繰り返してここですべてのy方向移動は任意設定したスキャン領域Bの直径をX線ビーム20が完全に横切るように行われ、K回のy移動でスキャンが終了する。
次に、スキャン操作によりX線検出器3で得られた透過データに基づき、TR再構成部12dにおいてスキャン領域Bの被検体21の3次元画像が再構成される。
この画像再構成の方法について、図4及び図5を参照して概略を説明する。図4に示すフローチャートは、コーンビームを利用したTR方式の画像再構成処理の流れを説明する図である。また、図5に示すのは、この場合の逆投影について説明する図である。ここでは、x´,y´,z´は被検体に固定した座標で回転軸23をz´軸としている。
X線検出器3で検出されるX線強度から生成される透過データはX線検出器3の測定領域30の回転軸方向位置m、直交方向位置n、y方向移動位置t、y方向移動回数であるトランスレート回数kにより、透過データI(m,n,t,k)として記述される。
まず、X線強度に比例した検出強度である透過データI(m,n,t,k)を対数変換して投影データP(m,n,t,k)に変換する(S21)。その後、この投影データP(m,n,t,k)に対してt方向に高周波強調フィルタをかける(S22)。このフィルタは一般的にCTで使用されている|ω|フィルタである。対数変換と高周波強調フィルタに関しては従来と同様の技術であるため、説明を省略する。
高周波強調フィルタがかかられると、その後、図5に示しているように、投影データを回転軸方向位置m及びy方向移動位置tで記述される一組の面データである投影データP(m,t)として、焦点Fに向けて被検体21を表す仮想3次元格子に対し3次元逆投影する(S23)。このときの焦点Fはy方向移動位置tによって移動する(F奇跡33)ので、回転軸23方向から見ると逆投影方向は平行でy´軸に対し角ψをなす。ここで、ψは直交方向位置n及びトランスレート回数kにより決定される角度である。また、逆投影とは、全ての格子点Gに対し、対応するmt面34上の点GP のデータを足し込むことである。なお、GP は一般にデータ点に一致しないので(近傍の4点による)補間計算を行う。この逆投影を全ての直交方向位置n、トランスレート回数k(ψの180°分)で行うと、被検体21のスキャン領域Bの3次元画像が得られる。
このようにしてTR再構成部12dにおいて画像再構成がされた被検体21の3次元画像は、ディスプレイ等の入出力部13に表示される。
なお、FCD及びFDDの選び方としては、上述したRR方式、TR方式ともに拡大率を上げるようにすると分解能が上がって好ましいが、スキャン領域の厚さは小さくなる。また、同一拡大率のときには、FCDをなるべく小さくしたほうがノイズの少ない画像ができるが、被検体と機構との干渉が生じる。そのため、実際は、このようなことを考慮して、被検体や検査目的に合わせて幾何設定を行う。
このような実施例1に係る本発明によれば、一台のCTでTRスキャン方式とRRスキャン方式を切り換えて使用することができるので、小大問わず、様々な被検体の測定が可能である。
例えばTRスキャン方式を選択することで、測定視野に収まらない大きな被検体の場合でも、簡易に3次元画像を得ることが可能となる。また、RRスキャン方式を選択することで、測定視野に収まる小さな被検体の場合には、回転のみをすることによりスキャンを行うことができ、スキャン時間を短縮することができると共に、機構精度をあげることができ、高品質な3次元画像を得ること可能となる。
また、FCDやFDD等が可変なので、被検体に合わせて拡大率などの最適な幾何条件を設定でき、高品質な3次元画像を得ることが可能である。
さらに、2次元検出器を用いているので、透過画像も容易に得ることができる。
また、TRスキャンにおいて、FDDの変化に伴うファン角θ0 の変化を自動設定することで、自動的にトランスレート回数Kが決定されるので、トランスレート回数Kの変更を必要とせず、煩わしさ無くFDD設定をすることができる。
上述した本発明のTR方式でスキャンを行った場合の画像再構成について、ψについてπを超える重複するデータを用いて再構成することも可能である。この場合には、収集データ範囲K・θ0 の端部の重複部を用いるが、重複部が少ない場合はトランスレートを1回分追加してもよい。そして、得られた投影データP(m,t,ψ)に対して、図6に示すようなウエイトW(ψ)をかけて逆投影するようにする。
W(ψ)は、図6(a)に示すように、前端と後端の重複区間2・αで0から1に直線的に変化する傾斜部を持つウエイトである。このウエイトは、ψの前端で0から1に、後端で1から0に滑らかに移行し、かつW(ψ)+W(ψ+π)=1となればよく、図6(b)のウエイトW´(ψ)のように、曲線にしてもよい。このウエイト掛けにより、データ範囲の両端部のデータ継ぎ目によるアーティファクトを軽減することができ、コーンビームによるTR方式でスキャンを行った場合における画像再構成を完全なものとすることができる。なお、このウエイト掛けはフィルタ掛けの前でも後でもよい。
上述したTR方式の画像再構成の説明では省略されているが、通常、投影データP(m,n,t,k)は、逆投影前にn方向に束ねることで平均化しそのデータ数を減している。このように束ねることで、ψに対する逆投影数を減らすことができ、再構成を高速にすることが可能となる。
また、束ねなしで使用した場合には、TR方式のスキャンの場合には、ψの方向数が過剰ぎみになることも束ねる理由である。再構成の3次元格子ピッチの設定を粗くする場合、それに応じて回転軸方向位置m、直交方向位置n及びY方向移動位置tの各方向を束ねることもある。なお、束ねは対数変換の前に行ってもよい。
さらに、RR方式のスキャン及びTR方式のスキャンともに、昇降位置を変えて複数回スキャンしてそれぞれ得られた3次元画像をz方向に繋げて広い3次元画像を得ることが可能である。この時、3次元画像を重複させて位置誤差をフィティングにより調整することもでき、また、重複部をウエイト付平均して滑らかに繋がる3次元画像を作ることもできる。
上述したTR方式のスキャンは、180°方向の透過データから3次元画像を得るハーフスキャンであったが、360°のフルスキャンや、720°のダブルフルスキャンなどを用いてもよいことは容易に理解できる。これらのスキャンについては、特開平11−108857号公報で公知である。この場合は、逆投影をψについて、それぞれ360°、720°行えばよい。ダブルフルスキャンの場合は、360°離れた面データP(m,t)同士を平均して360°分の面データP(m,t)とした後、逆投影しても同じことである。
また、RR方式のスキャンは、通常スキャン(360°回転)でなく、公知であるハーフスキャン(180°+ファン角回転)、オーバースキャン(360°+α回転)、ヘリカルスキャン(螺旋回転)やオフセットスキャン(中央ずらし)でもよいことは容易に理解できる。
TR方式のスキャンのみに制限して(TR専用として)使用した場合でも、測定視野に収まらない大きな範囲の3次元画像を得ることが可能である。
また、マイクロフォーカスX線管を用いていることを上述したが、マイクロフォーカスX線に限られるものではない。
さらに、上記の説明では、放射線としてX線を用いているが、これに限られることはなく、他の透過性放射線でもよいことは明らかである。
また、2次元のX線検出器としてFPDを用いて上述したが、当然、FPDに限られるものではない。
変形例
CTの各機構の動作は、実施例1で説明される動作と相対的に等価であれば、他の機構方式に対しても本発明を適用することができる。例えば、実施例1に記載される方法では、回転は被検体21側を回転させることにより、行っている。しかし、被検体21側を回転させるのではなく、X線管2とX線検出器3を一体として回転させても同じことである。また、y方向移動も同様にX線管2とX線検出器3を一体として移動させても同様である。
図7に示すのは、本発明にかかる一変形例である高分解能CT50の一部を説明する構成図である。この図7に示す高分解能CT50は、X線管51、X線検出器52、x方向シフト機構53、y方向移動機構54、回転機構55、フロア56及びXYZ機構57を備えている。
X線管51及びX線検出器52は、x方向シフト機構53に対向して備えられている。また、x方向シフト機構53はy方向移動機構54のy方向移動上に備えられている。さらに、y方向移動機構54は回転機構55の回転上に備えられている。また、回転機構55は図示しない支持部で、フロア56より支持されている。なお、y方向は紙面に垂直の方向である。また、フロア56上の回転軸60下には、XYZ機構57が備えられている。
被検体61は、XYZ機構57によりフロア56上で支持されており、X線ビーム62に対しXYZ方向の3方向に移動させることができる。その動作に関して詳細は説明しないが、図7で示す高分解能CT50についても実施例1で説明した場合と同様にRR方式またはTR方式のスキャンがされて画像再構成を行い、3次元画像を得ることが可能である。
本発明にかかる一実施例のCTの構成図。 コーンビームを利用したRR方式の画像再構成処理の流れを説明する図。 コーンビームを利用したRR方式の画像再構成処理における逆投影について説明する図。 コーンビームを利用したTR方式の画像再構成処理の流れを説明する図。 コーンビームを利用したTR方式の画像再構成処理における逆投影について説明する図。 コーンビームを利用したTR方式の画像再構成におけるウエイトを説明する図。 本発明にかかる他の実施例のCTの構成図。 一般的な高分解能CTの簡単な構成図。
符号の説明
1…CT、2…X線管、3…X線検出器、4,5…支持フレーム、6…支持台、7…XY移動機構、8…回転・昇降機構、9…y方向移動機構、10…x方向シフト機構、11…機構制御部、12…データ処理部、12a…RRスキャン部、12b…RR再構成部、12c…TRスキャン部、12d…TR再構成部、13…入出力部、14…X線制御部、15…高電圧発生器、20…X線ビーム、21…被検体、22…撮影面、23…回転軸、30…測定領域、33…F奇跡、34…mt面、50…CT、51…X線管、52…X線検出器、53…x方向シフト機構、54…y方向移動機構、55…回転機構、56…フロア、57…XYZ機構、60…回転軸、61…被検体、62…X線ビーム、100…CT、101…X線管、102…X線検出器、103…回転テーブル、104…X線ビーム、105…被検体、106…測定領域

Claims (5)

  1. 放射線源により発生されて被検体を透過したコーン状放射線ビームを検出する2次元分解能の放射線検出器と、
    前記被検体と前記放射線ビームとに相対回転を与える回転手段と、
    この回転を行うRR方式でスキャンされる間に、複数位置で前記放射線検出器に検出されて得られた複数の透過データから、前記被検体の3次元画像を再構成するコーンビームRR再構成手段と、
    前記被検体と前記放射線ビームとに相対平行移動を与える平行移動手段と、
    前記平行移動とステップ状の前記回転を繰り返すTR方式でスキャンされる間に、複数位置で前記放射線検出器に検出されて得られた複数の透過データから、前記被検体の3次元画像を再構成するコーンビームTR再構成手段とを有し、
    前記被検体の大きさに応じて、前記RR方式によるスキャンまたは前記TR方式によるスキャンを自由に選択して操作することが可能なことを特徴とするコンピュータ断層撮影装置。
  2. 放射線源により発生されて被検体を透過したコーン状放射線ビームを検出する2次元分解能の放射線検出器と、
    前記被検体と前記放射線ビームとに相対回転を与える回転手段と、
    前記被検体と前記放射線ビームとに相対平行移動を与える平行移動手段と、
    前記平行移動とステップ状の前記回転とを繰り返すTRスキャンの間に、複数位置で前記放射線検出器に検出されて得られた複数の透過データから、前記被検体の3次元画像を再構成するコーンビームTR再構成手段と、
    を有することを特徴とするコンピュータ断層撮影装置。
  3. 請求項1または2に記載のコンピュータ断層撮影装置において、前記コーンビームTR再構成手段は、
    前記2次元分解能の前記回転の軸方向位置m、直行方向位置n及び平行移動位置tで構成される前記透過データを、平行移動位置t方向に高周波強調フィルタ掛けするフィルタ機能と、
    高周波強調フィルタ掛けされた後に、軸方向位置m及び平行移動位置tで一組の面データである透過データを構成して、前記放射線ビームの焦点に向けて被検体を表す仮想3次元格子に対して3次元逆投影する逆投影機能と、
    を有することを特徴とするコンピュータ断層撮影装置。
  4. 請求項1乃至3のいずれか1に記載のコンピュータ断層撮影装置において、
    前記放射線ビームの焦点と前記回転軸間の距離であるFCDを変更するFCD変更手段を有することを特徴とするコンピュータ断層撮影装置。
  5. 請求項1乃至4のいずれか1に記載のコンピュータ断層撮影装置において、
    前記放射線ビームの焦点と前記放射線検出器間の距離であるFDDを変更するFDD変更手段と、
    このFDDに応じて前記ステップ回転と平行移動の繰り返し回数を自動的に変更するTRスキャン制御手段と、
    を有することを特徴とするコンピュータ断層撮影装置。


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