JP2005251251A - 光ディスク装置 - Google Patents

Abstract

【課題】 半導体レーザの温度変化に応じてレーザパワーの設定値を簡易かつ円滑に調整する。
【解決手段】 点灯時間とレーザの温度変化特性の関係を規定した点灯温度テーブル１１０ａと、消灯時間とレーザの温度変化特性の関係を規定した消灯温度テーブル１１０ｂと、レーザ温度とレーザパワー設定値の変動特性を規定したレーザパワー調整テーブル１１０ｃの３つの特性テーブルを準備し、消灯タイマーの計測値Ｔｍ２をもとに、消灯テーブル１１１ｂとレーザパワー調整テーブル１１０ｃから、記録再生開始時のレーザパワー調整値Ｐｗ１／Ｐｒ１を求め、さらに、点灯タイマーの計測値Ｔｍ１をもとに、点灯テーブル１１１ｂとレーザパワー調整テーブル１１０ｃから、記録再生途中のレーザパワー調整値Ｐｗ２／Ｐｒ２を求める。
【選択図】 図５

Description

本発明は、レーザ光を用いて情報を記録および／もしくは再生する光ディスク装置に関し、特に、レーザパワーの設定値を調整する際に用いて好適なものである。

現在、ＣＤ（Compact Disc）やＤＶＤ（Digital Versatile Disc）等、様々な光記録メディアが商品化され普及している。これらの光記録メディアは、メディア毎に記録／再生時の最適レーザパワーが相違している。このため、通常、記録／再生動作に先立って、レーザパワーの最適化処理が行われる。

たとえば、ＣＤ−ＲＷやＤＶＤ＋ＲＷでは、規格上、γ法を用いたレーザパワー設定が推奨されている。この設定方法は、試し書きの際に検出される反射光強度の変調度と、当該メディアに予め設定されている目標γ値に基づいて、レーザパワーを最適値に設定するものである（非特許文献１）。

また、ＣＤ−ＲやＤＶＤ−Ｒでは、β値を用いたレーザパワー設定がなされている。この設定方法は、再生ＲＦ信号の振幅値からβ値を求め、たとえば、このβ値が所定値以下となるように、レーザパワーを設定するものである（特許文献１）。

この他、ＭＤ（Mini Disc）やＭＯ（Magnetic Optic）では、試し書き再生時の再生エラーレートが所定範囲以下となるように、レーザパワーを設定している。
２００２年１月２２日、株式会社トリケップス発行、「WHITE SERIES No.218 ＤＶＤ＋ＲＷ／Ｒ」、Ｐ１１１〜Ｐ１１３（4.2 OPC(Optimum Write Power Control)手法） 特開２００２−２６０２３０号公報

このようにしてレーザパワーを設定した後に、半導体レーザを消灯し、再度、点灯すると、再点灯時における半導体レーザの温度は、レーザパワー設定時の温度とは相違するものとなっている。また、半導体レーザを点灯し続けると、半導体レーザの温度は、時々刻々と変化する。このように半導体レーザの温度が変化すると、以下に示す如く、レーザパワーが最適パワーからずれてしまうとの問題が生じる。

半導体レーザの温度が変化すると、出射レーザ光の波長がシフトする。これに対し、ＤＶＤ−ＲやＣＤ−Ｒ等、記録層材料として有機色素材料を用いる追記型ディスク媒体においては、記録層の感度がレーザ光の波長に依存する。したがって、このような記録メディアでは、半導体レーザの温度変化に伴って出射レーザ光の波長が変動すると、レーザパワーの設定値が、記録層の要求する最適値からずれてしまうとの現象が生じる。

また、半導体レーザの温度が変化すると、半導体レーザに対する電流の流れやすさが変動する。このため、同一パワー値に設定しても、温度変化に応じて出射レーザパワーが変動する。その結果、レーザパワーが、本来設定されるはずのレーザパワーからずれてしまう。

かかる問題は、半導体レーザの温度を温度センサー等で測定し、測定値に応じてレーザパワーの設定値を動的に調整することで解消できる。しかし、こうすると、半導体レーザの温度を逐一測定しなければならず、処理が煩雑となる。また、半導体レーザの点灯後または消灯後の一定の期間は、温度変化が激しいため、温度測定に誤差が生じやすい。このため、レーザパワーの設定値を円滑に調整できない惧れがある。

そこで、本発明は、簡素な処理により円滑に、レーザパワーの設定値を調整し得る光ディスク装置を提供することを課題とする。

請求項１の発明は、光ディスク装置に関するものであって、記録および／もしくは再生用のレーザ光を出射する半導体レーザと、記録および／もしくは再生時のレーザパワーを設定するレーザパワー設定手段と、前記半導体レーザの点灯時間を計測する点灯タイマーと、前記点灯タイマーによって計測された点灯時間に基づいて前記レーザパワー設定手段によって設定されたレーザパワーの設定値を調整するレーザパワー調整手段とを有することを特徴とする。

請求項２の発明は、請求項１に記載の光ディスク装置において、前記レーザパワー調整手段は、前記点灯時間に対する前記レーザパワー設定値の変動特性を規定する点灯特性テーブルを備え、この点灯特性テーブルをもとに、前記レーザパワー設定手段によって設定されたレーザパワーの設定値を調整することを特徴とする。

請求項３の発明は、請求項２に記載の光ディスク装置において、前記点灯特性テーブルは、前記点灯時間に対する前記半導体レーザの温度変化特性を規定する点灯温度特性テーブルと、前記半導体レーザの温度に対する前記レーザパワー設定値の変動特性を規定するレーザパワー調整テーブルとを含み、前記レーザパワー調整手段は、前記点灯タイマーによって計測された点灯時間をもとに、前記点灯温度特性テーブルから、前記半導体レーザの現時点の温度を求め、この温度をもとに、前記レーザパワー調整テーブルから、前記レーザパワーの調整値を求めることを特徴とする。

請求項４の発明は、請求項１ないし３の何れかに記載の光ディスク装置において、前記半導体レーザの消灯時間を計測する消灯タイマーをさらに備え、前記レーザパワー調整手段は、前記消灯タイマーによって計測された消灯時間に基づいて、前記半導体レーザを再点灯するときの前記レーザパワーの調整値を設定することを特徴とする。

請求項５の発明は、請求項４に記載の光ディスク装置において、前記レーザパワー調整手段は、前記消灯時間に対する前記レーザパワー設定値の変動特性を規定する消灯特性テーブルを備え、この消灯特性テーブルをもとに、前記半導体レーザを再点灯するときの前記レーザパワーの調整値を設定することを特徴とする。

請求項６の発明は、請求項５に記載の光ディスク装置において、前記消灯特性テーブルは、前記消灯時間に対する前記半導体レーザの温度変化特性を規定する消灯温度特性テーブルと、前記半導体レーザの温度に対する前記レーザパワー設定値の変動特性を規定するレーザパワー調整テーブルとを含み、前記レーザパワー調整手段は、前記消灯タイマーによって計測された消灯時間をもとに、前記消灯温度特性テーブルから、前記半導体レーザ再点灯時の温度を求め、この温度をもとに、前記レーザパワー調整テーブルから、前記レーザパワー設定手段によって設定されたレーザパワーの調整値を求めることを特徴とする。

請求項７の発明は、請求項１ないし６の何れかに記載の光ディスク装置において、前記半導体レーザの温度を測定する温度センサーをさらに備え、前記レーザパワー調整手段は、前記半導体レーザの点灯時および／もしくは消灯時に前記温度センサーによって前記半導体レーザの温度を取得し、取得した温度と、前記点灯時間および／もしくは消灯時間に基づいて、レーザパワーの調整値を求めることを特徴とする。

上記において、「半導体レーザの温度」とは、半導体レーザを収容するレーザ缶の温度等、半導体レーザの温度を間接的に表示し得る温度を広く含むものである。なお、以下に示す実施の形態では、缶温度をもとに、レーザパワーの設定値を調整するようにしている。

本発明の特徴は、以下に示す実施の形態の説明により更に明らかとなろう。但し、以下の実施の形態は、あくまでも、本発明の一つの実施形態であって、本発明ないし各構成要件の用語の意義は、以下の実施の形態に記載されたものに制限されるものではない。

本発明によれば、点灯後または消灯後の経過時間をもとにレーザパワーを調整するものであるから、半導体レーザの温度を逐一測定するといった煩雑な処理を回避でき、また、特性テーブルをもってレーザパワーの調整値を設定するものであるから、直接温度を測定する際に生じる測定誤差による影響を受けることもなく、もって、簡素な処理により円滑に、レーザパワーの設定値を調整することができる。

以下、本発明の実施の形態につき図面を参照して説明する。

図１に、実施の形態に係る光ディスク装置の構成を示す。

図示の如く、光ディスク装置は、ＥＣＣエンコーダ１０１と、変調回路１０２と、レーザ駆動回路１０３と、レーザパワー調整回路１０４と、光ピックアップ１０５と、信号増幅回路１０６と、復調回路１０７と、ＥＣＣデコーダ１０８と、サーボ回路１０９と、コントローラ１１０と、点灯タイマー１１１と、消灯タイマー１１２から構成されている。

ＥＣＣエンコーダ１０１は、入力された記録データに誤り訂正符号を付加し、変調回路１０２へと出力する。変調回路１０２は、入力された記録データに所定の変調を施し、さらに記録信号を生成してレーザ駆動回路１０３に出力する。レーザ駆動回路１０３は、記録時には変調回路１０２からの記録信号に応じた駆動信号を半導体レーザ１０５ａに出力し、再生時には単一強度のレーザ光を出射するための駆動信号を半導体レーザ１０５ａに出力する。ここで、レーザパワーは、レーザパワー調整回路１０４によって調整・設定されたレーザパワーに設定される。

レーザパワー調整回路１０４は、試し書き等によって、記録および再生時のレーザパワーを設定するとともに、設定したレーザパワーを、コントローラ１１０から供給される調整値に応じて調整し、これをレーザ駆動回路１０３に供給する。

光ピックアップ１０５は、半導体レーザ１０５ａおよび光検出器１０５ｂを備え、レーザ光をトラック上に収束させることにより、ディスクに対するデータの書き込み／読み出しを行う。なお、かかる光ピックアップ１０５は、この他、トラックに対するレーザ光の照射状態を調整するための対物レンズアクチュエータと、半導体レーザ１０５ａから出射されたレーザ光を対物レンズに導き、且つ、ディスク１００からの反射光を光検出器１０５ｂに導くための光学系等を備えている。また、半導体レーザ１０５ａを収容するレーザ缶の温度（以下、「缶温度という」）を測定する缶温度センサーを備えている。

信号増幅回路１０６は、光検出器１０５ｂから受信した信号を増幅および演算処理して各種信号を生成し、これを対応する回路に出力する。復調回路１０７は、信号増幅回路１０６から入力された再生ＲＦ信号を復調して再生データを生成し、ＥＣＣデコーダ１０８に出力する。ＥＣＣデコーダ１０８は、復調回路１０７から入力された再生データに誤り訂正を施し、後段回路に出力する。

サーボ回路１０９は、信号増幅回路１０６から入力されたフォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号からフォーカスサーボ信号およびトラッキングサーボ信号を生成し、光ピックアップ１０５の対物レンズアクチュエータに出力する。また、信号増幅回路１０６から入力されたウォブル信号からモータサーボ信号を生成し、ディスク駆動モータに出力する。さらに、コントローラ１１０から供給されるチルトエラー信号からチルトサーボ信号を生成し、光ピックアップ１０５の対物レンズアクチュエータに出力する。

コントローラ１１０は、内蔵メモリに各種データを格納するとともに、あらかじめ設定されたプログラムに従って、各部を制御する。なお、コントローラ１１０には、半導体レーザ１０５ａを点灯した後の経過時間（点灯時間）と上記缶温度の変化特性との関係を規定する点灯温度テーブル１１０ａと、半導体レーザ１０５ａを消灯した後の経過時間（消灯時間）と上記缶温度の変化特性との関係を規定する消灯温度テーブル１１０ｂが保持されている。また、半導体レーザ１０５ａの缶温度に対するレーザパワー設定値（試し書き等によるレーザパワー設定値）の変動特性を規定するレーザパワー調整テーブル１１０ｃが保持されている。コントローラ１１０は、これらテーブルを用いてレーザパワー設定値の調整値を求め、これをレーザパワー調整回路１０４に供給する。かかる処理については追って詳述する。

点灯タイマー１１１は、半導体レーザ１０５ａを点灯された後の経過時間を計測する。消灯タイマー１１２は、半導体レーザ１０５ａが消灯された後の経過時間を計測する。

図２に、上記点灯温度テーブル１１０ａおよび消灯温度テーブル１１０ｂによって規定される缶温度特性（経過時間と缶温度の変化特性の関係）の一例を示す。図において、Ｔｓｈ１、Ｔｓｈ２は飽和缶温度である。図示の如く、缶温度は、レーザの点灯および消灯後の一定期間（０＜ｔ＜ｔ１）に大きく変動し、その後、徐々に飽和温度Ｔｓｈ１、Ｔｓｈ２に収束する。

図３に、レーザ点灯時および消灯時におけるレーザ缶温度の変動例（実測結果）を示す。なお、同図は、レーザ缶単体に一定の電流を供給して半導体レーザを点灯および消灯し、点灯または消灯直後からの時間経過と、それに伴って変化するレーザ缶温度を実測したものである。この測定において使用した半導体レーザは、波長６５０ｎｍのいわゆる赤色レーザである。

図中、○印のプロットによって示される温度推移は、室温状態に放置した半導体レーザを点灯し、十分にレーザ缶の温度が飽和した３００ｓｅｃ後に、半導体レーザを消灯したとき缶温度の推移を示すものである。また、■印のプロットによって示される温度推移のうち、Ａの温度推移は、室温状態に放置した半導体レーザを点灯し、レーザ缶温度が飽和する前の９０ｓｅｃ後に、半導体レーザを消灯したときの缶温度の推移を示すものである。なお、Ｂの温度推移は、Ａの測定データを時間軸方向にずらしてプロットしたものである。

同図から分かるように、レーザ点灯直後の温度推移および消灯後の温度推移は、点灯時間および消灯時間に対して、ほぼ決まった傾向で推移する。従って、レーザ缶の温度を、センサー等により逐次実測するまでもなく、システムを制御するマイコン等が点灯時間または消灯時間を目安にすることで、レーザ缶の温度を精度よく把握することができる。

図４に、レーザパワーの調整時の処理フローを示す。

記録／再生動作に先立って、レーザパワー調整回路１０４にて、試し書き等により、記録レーザパワーＰｗ０と再生レーザパワーＰｒ０が設定されると（Ｓ１０１）、当該設定時の缶温度Ｔ０がコントローラ１１０によって取得・記憶される（Ｓ１０２）。このとき同時に、点灯タイマー１１１がゼロリセットされるとともに、消灯タイマー１１２の計測が開始される（Ｓ１０３）。

しかる後、記録／再生指令が入力されると（Ｓ１０４：ＹＥＳ）、コントローラ１１０は、消灯温度テーブル１１０ｂの温度特性をもとに、上記Ｓ１０２で取得した消灯時の缶温度Ｔ０と、消灯タイマー１１２の計測値Ｔｍ２から、現時点の缶温度Ｔ１を算出する（Ｓ１０５）。さらに、レーザパワー調整テーブル１１０ｃのレーザパワー変動特性をもとに、記録レーザパワーＰｗ０／再生レーザパワーＰｒ０の設定値と、Ｓ１０２で取得した先の缶温度Ｔ０およびＳ１０５で算出した現時点の缶温度Ｔ１から、現時点にて適用されるべき記録レーザパワーＰｗ１／再生レーザパワーＰｒ１の設定値を算出し、これを調整後のレーザパワーの設定値として、レーザパワー調整回路１０４に供給する（Ｓ１０６）。このとき同時に、消灯タイマー１１２をゼロリセットし、点灯タイマー１１３の計測を開始させる（Ｓ１０７）。しかして、調整後の記録レーザパワーＰｗ１／再生レーザパワーＰｒ１にて記録／再生動作が実行される（Ｓ１０８）。

しかる後、点灯タイマー１１１が一定時間を計測すると（Ｓ１０９：ＹＥＳ）、コントローラ１１０は、点灯温度テーブル１１０ａの温度特性をもとに、上記Ｓ１０５で算出した点灯時の缶温度Ｔ１と、点灯タイマー１１１の計測値Ｔｍ１から、現時点の缶温度Ｔ２を算出する（Ｓ１１０）。さらに、レーザパワー調整テーブル１１０ｃのレーザパワー変動特性をもとに、Ｓ１０６で設定した記録レーザパワーＰｗ１／再生レーザパワーＰｒ１の設定値と、Ｓ１０５で算出した先の缶温度Ｔ１およびＳ１１０で算出した現時点の缶温度Ｔ２から、現時点にて適用されるべき記録レーザパワーＰｗ２／再生レーザパワーＰｒ２の設定値を算出し、これを調整後の記録レーザパワーの設定値として、レーザパワー調整回路１０４に供給する（Ｓ１１１）。これにより、半導体レーザ１０５ａの出射レーザパワーが記録レーザパワーＰｗ２／再生レーザパワーＰｒ２に調整・設定され、かかるレーザパワーにて記録／再生動作が実行される（Ｓ１０８）。

しかる後、さらに、点灯タイマーが一定時間を計測すると（Ｓ１０９：ＹＥＳ）、Ｓ１１０およびＳ１１１の処理が同様にして実行され、点灯時の記録レーザパワーＰｗ１／再生レーザパワーＰｒ１の設定値に対する調整処理が行われる。そして、調整後の記録レーザパワーＰｗ２／再生レーザパワーＰｒ２がレーザ駆動回路１０３に設定され、かかるレーザパワーにて記録／再生動作が実行される（Ｓ１０８）。

かかる調整は、記録／再生動作が終了するまで、点灯タイマーが一定時間を計測たび繰り返し行われる。そして、記録／再生動作が終了すると（Ｓ１１２：ＹＥＳ）、Ｓ１０２に戻り、これ以降の処理が繰り返し行われる。ディスクイジェクト等が行われると（Ｓ１１３：ＮＯ）、レーザパワーの調整処理を終了する。

図５は、上記処理フローに従うレーザパワーの調整動作を模式的に示す図である。なお、同図に示す缶温度の変動軌跡は、点灯テーブル１１１ａおよび消灯テーブル１１１ｂに応じて求められる変動軌跡である。

試し書きによりレーザパワーＰｗ０／Ｐｒ０の設定が終了すると、レーザがＯＦＦされるとともに、点灯タイマーがゼロリセット（ＯＦＦ）され、消灯タイマーがスタート（ＯＮ）される。このとき、温度センサーにて検出した缶温度Ｔ０が取得・記憶される。

しかる後、記録／再生がスタートされると、缶温度Ｔ０と消灯タイマーの計測値Ｔｍ２を消灯温度テーブルに適用して缶温度Ｔ１が算出され、さらに、レーザパワーＰｗ０／Ｐｒ０と缶温度Ｔ０、Ｔ１をレーザパワー調整テーブルに適用してレーザパワーＰｗ１／Ｐｒ１が算出・設定される。このとき、点灯タイマーがスタート（ＯＮ）されるとともに、消灯タイマーがゼロリセット（ＯＦＦ）される。

記録／再生動作時には、一定時間（Δｔ）毎に、缶温度Ｔ１と点灯タイマーの計測時間Ｔｍ１を点灯温度テーブルに適用して缶温度Ｔ２が算出され、さらに、レーザパワーＰｗ１／Ｐｒ１と缶温度Ｔ１、Ｔ２をレーザパワー調整テーブルに適用して、レーザパワーＰｗ１／Ｐｒ１の調整値であるレーザパワーＰｗ２／Ｐｒ２が算出・設定される。

その後、記録／再生動作が終了すると、点灯タイマーがゼロリセット（ＯＦＦ）、消灯タイマーがスタート（ＯＮ）されるとともに、温度センサーにて検出した缶温度Ｔ０が取得・記憶される。そして、その後、記録／再生がスタートされると、上記と同様にして、レーザパワーＰｗ１／Ｐｒ１が算出・設定され、さらに、一定時間（Δｔ）毎に、レーザパワーＰｗ１／Ｐｒ１の調整値であるレーザパワーＰｗ２／Ｐｒ２が算出・設定される。

本実施の形態によれば、半導体レーザの温度を逐一測定するといった煩雑な処理を行うことなく、レーザパワーの調整を行うことができる。また、点灯後および消灯後の経過時間と特性テーブルをもとに、レーザパワーの調整値を設定するものであるから、直接温度を測定する際に生じる測定誤差による影響を回避でき、もって、レーザパワーの調整を円滑に行うことができる。

特に、本実施の形態では、記録／再生開始時における缶温度の測定を省略することができるため、記録／再生開始時のシステム制御を簡素化することができる。すなわち、記録／再生開始時に必要となる煩雑なシステム制御に、さらなる制御シーケンス（缶温度の測定）が付加されるのを防止でき、もって、記録／再生開始時に要求されるマイコンの処理負担を軽減することができる。

なお、本発明は、上記実施の形態に限定されるものではなく、他に種々の変更が可能であることは言うまでもない。

たとえば、上記実施の形態では、点灯温度テーブル１１０ａ、消灯温度テーブル１１０ｂ、レーザパワー調整テーブル１１０ｃの３つの特性テーブルを準備し、これらをもとに、レーザパワーの設定値を調整するようにしたが、点灯時間とレーザパワー調整特性の関係を規定した特性テーブルと、消灯時間とレーザパワー調整特性の関係を規定した特性テーブルの２種類の特性テーブルを準備し、これらのテーブルをもとに、点灯時間または消灯時間から直接、レーザパワーの調整値を求めるようにすることもできる。なお、特性テーブルは、処理アルゴリズムとは別に準備してもよく、あるいは、処理アルゴリズム中に特性テーブルに応じた処理を埋め込むようにしても良い。

また、上記実施の形態では、記録／再生開始時の缶温度Ｔ１およびレーザパワーＰｗ１／Ｐｒ１をもとに、点灯温度テーブルとレーザパワー調整テーブルから、記録／再生時における現時点の缶温度Ｔ２およびレーザパワーＰｗ２／Ｐｒ２を求めるようにしたが、一つ前のタイミングにて求めた缶温度Ｔ２およびレーザパワーＰｗ２／Ｐｒ２をもとに、現時点の缶温度Ｔ２およびレーザパワーＰｗ２／Ｐｒ２を求めるようにしても良い。

また、上記実施の形態では、消灯時に缶温度を温度センサーから取得し、消灯温度テーブルから、記録／再生開始時（点灯時）の缶温度を算出するようにしたが、これに代えて、記録／再生開始時（点灯時）の缶温度を、直接、温度センサーから取得するようにしても良い。この場合には、消灯時の缶温度から記録／再生開始時（点灯時）の缶温度を算出する必要がないため、図６に示す如く、光ディスク装置の構成から、消灯温度テーブル１１０ｂと消灯タイマー１１２が省略されることとなる。また、図７に示す如く、レーザパワー調整時の処理フローからＳ１０３、Ｓ１０５が省略され、代わりに、Ｓ１１０が追加される。なお、かかるＳ１１０は、記録／再生開始時の缶温度を温度センサーから直接取得し記憶するステップである。図８は、このときのレーザパワーの調整動作を模式的に示す図である。

このように変更すると、図６に示す如く、消灯温度テーブル１１０ｂと消灯タイマー１１２を省略でき、さらに、図７に示す如く、消灯時の缶温度から記録／再生開始時（点灯時）の缶温度を算出する演算処理を省略できるとのメリットあるが、その反面、記録再生開始時に、缶温度の実測処理が必要となり、記録／再生開始時のシステム制御が煩雑となるとのデメリットが生じる。

また、上記実施の形態では、記録レーザパワーと再生レーザパワーの両方を調整するようにしたが、本発明は、必ずしも、記録レーザパワーと再生レーザパワーの両方に適用される必要のあるものではなく、場合によっては、何れか一方にのみ適用され得るものである。

なお、上記実施の形態に係る光ディスク装置を、ＤＶＤ−ＲＷ等、記録層材料として相変化材料を用いるディスクに記録／再生を行うドライブ装置として用いる場合には、記録レーザパワーをPeak Power、Erase Power、Bias Powerの３レベルに切り替えて、ディスクに対するオーバライトが行われる。この場合、上述の点灯タイマー１１１は、記録時には、レーザパワーのレベル切り替えに拘わらず、記録動作開始から終了までの時間を計測し、消灯タイマー１１２は、記録動作終了時点からの時間を計測する。また、点灯温度テーブル１１０ａには、たとえば、オーバライト時の平均的な温度変化特性が規定される。

この他、本発明の実施の形態は、特許請求の範囲に示された技術的思想の範囲内において、適宜、種々の変更が可能である。

実施の形態に係る光ディスク装置の構成を示す図 実施の形態に係る缶温度特性の一例を示す図 実施の形態に係る缶温度の変動例（実測結果）を示す図 実施の形態に係るレーザパワー調整時の処理フロー図 実施の形態に係るレーザパワー調整時の動作の模式図 実施の形態の変更例に係る光ディスク装置の構成を示す図 実施の形態の変更例に係るレーザパワー調整時の処理フロー図 実施の形態の変更例に係るレーザパワー調整時の動作の模式図

符号の説明

１００ ディスク
１０３ レーザ駆動回路
１０４ レーザパワー調整回路
１０５ 光ピックアップ
１０５ａ 半導体レーザ
１１０ コントローラ
１１０ａ 点灯温度テーブル
１１０ｂ 消灯温度テーブル
１１０ｃ レーザパワー調整テーブル
１１１ 点灯タイマー
１１２ 消灯タイマー

Claims (7)

1. 記録および／もしくは再生用のレーザ光を出射する半導体レーザと、
   記録および／もしくは再生時のレーザパワーを設定するレーザパワー設定手段と、
   前記半導体レーザの点灯時間を計測する点灯タイマーと、
   前記点灯タイマーによって計測された点灯時間に基づいて前記レーザパワー設定手段によって設定されたレーザパワーの設定値を調整するレーザパワー調整手段と、
   を有することを特徴とする光ディスク装置。
2. 請求項１において、
   前記レーザパワー調整手段は、前記点灯時間に対する前記レーザパワー設定値の変動特性を規定する点灯特性テーブルを備え、この点灯特性テーブルをもとに、前記レーザパワー設定手段によって設定されたレーザパワーの設定値を調整する、
   ことを特徴とする光ディスク装置。
3. 請求項２において、
   前記点灯特性テーブルは、前記点灯時間に対する前記半導体レーザの温度変化特性を規定する点灯温度特性テーブルと、前記半導体レーザの温度に対する前記レーザパワー設定値の変動特性を規定するレーザパワー調整テーブルとを含み、
   前記レーザパワー調整手段は、前記点灯タイマーによって計測された点灯時間をもとに、前記点灯温度特性テーブルから、前記半導体レーザの現時点の温度を求め、この温度をもとに、前記レーザパワー調整テーブルから、前記レーザパワーの調整値を求める、
   ことを特徴とする光ディスク装置。
4. 請求項１ないし３の何れかにおいて、
   前記半導体レーザの消灯時間を計測する消灯タイマーをさらに備え、
   前記レーザパワー調整手段は、前記消灯タイマーによって計測された消灯時間に基づいて、前記半導体レーザを再点灯するときの前記レーザパワーの調整値を設定する、
   ことを特徴とする光ディスク装置。
5. 請求項４において、
   前記レーザパワー調整手段は、前記消灯時間に対する前記レーザパワー設定値の変動特性を規定する消灯特性テーブルを備え、この消灯特性テーブルをもとに、前記半導体レーザを再点灯するときの前記レーザパワーの調整値を設定する、
   ことを特徴とする光ディスク装置。
6. 請求項５において、
   前記消灯特性テーブルは、前記消灯時間に対する前記半導体レーザの温度変化特性を規定する消灯温度特性テーブルと、前記半導体レーザの温度に対する前記レーザパワー設定値の変動特性を規定するレーザパワー調整テーブルとを含み、
   前記レーザパワー調整手段は、前記消灯タイマーによって計測された消灯時間をもとに、前記消灯温度特性テーブルから、前記半導体レーザ再点灯時の温度を求め、この温度をもとに、前記レーザパワー調整テーブルから、前記レーザパワー設定手段によって設定されたレーザパワーの調整値を求める、
   ことを特徴とする光ディスク装置。
7. 請求項１ないし６の何れかにおいて、
   前記半導体レーザの温度を測定する温度センサーをさらに備え、
   前記レーザパワー調整手段は、前記半導体レーザの点灯時および／もしくは消灯時に前記温度センサーによって前記半導体レーザの温度を取得し、取得した温度と、前記点灯時間および／もしくは消灯時間に基づいて、レーザパワーの調整値を求める、
   ことを特徴とする光ディスク装置。

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