JP2005245740A - 時間ゲート光波断層画像測定方法及び装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】計測時間が速く、生体内で起こる生体現象の連続的なイメージ化が可能である時間ゲート光波断層画像測定装置を提供する。
【解決手段】生体試料12内のある断層からの時間変化する干渉画像に対して、時間的に位相が90°異なる二つの干渉画像を光学的に発生させ、前記二つの干渉画像を高速スイッチングにより切り出し、この切り出した二つの干渉画像を一つのイメージセンサ18上に同時に入射することにより、高速断層画像計測を行う。
【選択図】図1
【解決手段】生体試料12内のある断層からの時間変化する干渉画像に対して、時間的に位相が90°異なる二つの干渉画像を光学的に発生させ、前記二つの干渉画像を高速スイッチングにより切り出し、この切り出した二つの干渉画像を一つのイメージセンサ18上に同時に入射することにより、高速断層画像計測を行う。
【選択図】図1
Description
本発明は、光波断層画像測定装置に係り、特に、計測時間が速く、生体内で起こる生体現象の連続的なイメージ化が可能である時間ゲート光波断層画像測定方法及び装置に関するものである。
現状の光波断層画像測定法(OCT:Optical Coherence Tomography)(下記非特許文献1および非特許文献2参照)においては、測定レートが100frame/sec、50frame/secで時間分解能は10ms、20ms程度である。これらの測定レートや時間分解能はCCDの速度に律速されており、それ以上に高速に変化する生体現象を測定するのは困難であった。
また、一つのCCDで位相の異なる干渉画像を測定し、画像測定を行う方法(下記非特許文献3参照)が報告されているが、時間ゲートは用いられておらず、生体断層画像測定への応用にも触れられていない。
一方、OCTは、すでに脳機能(下記非特許文献4参照)や神経機能(下記非特許文献5参照)の解明に応用されている。神経系での信号伝達は数百μsオーダーで変化する電位の伝達であるが(下記非特許文献6参照)、OCTで捕えるのは光学特性の変化であるので、両者の厳密な対応はまだ研究段階である。
例えば、光を使って脳機能の空間構造を実験的に捉える方法の一つに内因性信号のイメージング法がある。内因性信号とは、神経細胞の活動に伴って引き起こされる組織の光特性変化のことで、主に三つの成分がある。
第一の成分は毛細血管に含まれるヘモグロビンの酸化還元に伴う光吸収変化であり、第二の成分は神経組織の血液量の変化であり、第三の成分は組織の構造変化による光散乱の変化である。
神経細胞の活動によって起こる細胞外のイオン濃度変化は、周辺のグリア細胞に対して浸透圧に依存した一過性の体積変化を引き起こす。また、血液量の変化に伴って毛細血管も拡張する。これらの構造変化は検出可能な光散乱強度変化を引き起こす。下記非特許文献4には猫の脳表面での光散乱が視覚刺激で変化することを示す写真が掲載されている。
また、下記非特許文献5では神経細胞を電気刺激した際の断層画像を、刺激前と刺激中と刺激後とにおいて測定している。この時の光軸方向空間分解能は2μm、横方向分解能は10μmであり、画像測定速度は40frame/secで、光軸上の走査速度は25ms/scanである。この実験では神経細胞への電気刺激に伴う、OCT画像の変化は確認されているが、神経系の機能解明には十分なデータは得られていない。
以上のように、刺激による神経組織の光学特性の変化も確認されており、OCTの神経組織への応用の有用性が確認されているが、まだ、特に時間分解能が十分でないため、信頼性の高いデータが得られていない。
Akiba et al.,Full−field optical coherence tomography by two−dimensional heterodyne detection with a pair of CCD cameras,OPTICS LETTERS,Vol.28,No.10,816−818(2003). Vabre et al.,Thermal−light full−field optical coherence tomography,OPTICS LETTERS,Vol.27,No.7,530−532(2002). Asundi et al.,Dynamic phase−shifting photoelasticity,APPLIED OPTICS,Vol.40,No.22,3654−3658(2001). ラジャゴパラン ウママヘスワリ,谷藤学,光を使った脳機能計測,応用物理学会誌 Vol.72,No.6,711−715 Lazebnik et al.,Functional optical coherence tomography for detecting neural activity through scattering changes,OPTICS LETTERS,Vol.28,No.14,1218−1220(2003). 鈴木泰三 他,一般生理学入門,P182−185 佐藤学,丹野直弘,光コヒーレンストモグラフィーの基礎,光学,32巻4号,268−274(2003) Zhao et al.,Real−time phase−resolved functional optical coherence tomography by use of optical Hilbert transformation,OPTICS LETTERS,Vol.27,No.2,98−100(2002). 赤外LED L7558シリーズ 空間光伝送用高速・高出力LED,パンフレット 浜松ホトニクス株式会社 LDX3620 超低ノイズ電流電源 ILX Lightwave社 パンフレット Oldenburg et al.,Fast−Fourier−domain delay line for in vivo optical coherence tomography with a polygonal scanner,APPLIED OPTICS,Vol.42,No.22,4606−4611(2003). Bass et al.,Handbook of Optics,30.16−30.21 フルウチ化学工業株式会社ホームページ,「新発売 PLZT高速光シャッター」 LOTIS TII社 レーザー機器 パンフレット 5〜6 「Pockels Cells」および「Pockels Cell Drivers」 近藤 泰志 他,画素周辺記録型撮像素子による高速度ビデオカメラ,応用物理,第71巻,第6号,710−713(2002).
Akiba et al.,Full−field optical coherence tomography by two−dimensional heterodyne detection with a pair of CCD cameras,OPTICS LETTERS,Vol.28,No.10,816−818(2003). Vabre et al.,Thermal−light full−field optical coherence tomography,OPTICS LETTERS,Vol.27,No.7,530−532(2002). Asundi et al.,Dynamic phase−shifting photoelasticity,APPLIED OPTICS,Vol.40,No.22,3654−3658(2001). ラジャゴパラン ウママヘスワリ,谷藤学,光を使った脳機能計測,応用物理学会誌 Vol.72,No.6,711−715 Lazebnik et al.,Functional optical coherence tomography for detecting neural activity through scattering changes,OPTICS LETTERS,Vol.28,No.14,1218−1220(2003). 鈴木泰三 他,一般生理学入門,P182−185 佐藤学,丹野直弘,光コヒーレンストモグラフィーの基礎,光学,32巻4号,268−274(2003) Zhao et al.,Real−time phase−resolved functional optical coherence tomography by use of optical Hilbert transformation,OPTICS LETTERS,Vol.27,No.2,98−100(2002). 赤外LED L7558シリーズ 空間光伝送用高速・高出力LED,パンフレット 浜松ホトニクス株式会社 LDX3620 超低ノイズ電流電源 ILX Lightwave社 パンフレット Oldenburg et al.,Fast−Fourier−domain delay line for in vivo optical coherence tomography with a polygonal scanner,APPLIED OPTICS,Vol.42,No.22,4606−4611(2003). Bass et al.,Handbook of Optics,30.16−30.21 フルウチ化学工業株式会社ホームページ,「新発売 PLZT高速光シャッター」 LOTIS TII社 レーザー機器 パンフレット 5〜6 「Pockels Cells」および「Pockels Cell Drivers」 近藤 泰志 他,画素周辺記録型撮像素子による高速度ビデオカメラ,応用物理,第71巻,第6号,710−713(2002).
上記したようなOCTの生体現象への応用は、従来は、OCTによる光プローブを内視鏡チャンネルに挿入し、数十msの時間分解能での断層写真を撮ることで行ってきた。今までは、イメージの解像度を上げることに主眼がおかれていたために、計測に時間を要し、生体内で起こる生体現象を連続的にイメージ化することはできなかった。
本発明は、上記状況に鑑みて、計測時間が速く、生体内で起こる生体現象の連続的なイメージ化が可能である時間ゲート光波断層画像測定方法及び装置を提供することを目的とする。
本発明は、上記目的を達成するために、
〔1〕時間ゲート光波断層画像測定方法において、生体試料内のある断層面からの散乱光を用いて得られる周期的に時間変化する干渉画像に対して、時間的に位相が異なる複数の干渉画像を光学的に発生させ、前記複数の干渉画像を高速スイッチングにより切り出し、この切り出した複数の干渉画像をイメージセンサ上に同時に入射することにより、高速断層画像計測を行うことを特徴とする。
〔1〕時間ゲート光波断層画像測定方法において、生体試料内のある断層面からの散乱光を用いて得られる周期的に時間変化する干渉画像に対して、時間的に位相が異なる複数の干渉画像を光学的に発生させ、前記複数の干渉画像を高速スイッチングにより切り出し、この切り出した複数の干渉画像をイメージセンサ上に同時に入射することにより、高速断層画像計測を行うことを特徴とする。
〔2〕上記〔1〕記載の時間ゲート光波断層画像測定方法において、時間的に位相が90°異なる二つの干渉画像を光学的に発生させ、一つのイメージセンサ上に同時に入射するとともに、前記高速スイッチングはμsからnsオーダーとすることを特徴とする。
〔3〕上記〔1〕記載の時間ゲート光波断層画像測定方法において、前記高速断層画像の計測は、mmオーダーからμmオーダーの空間分解能、かつμsからnsオーダーの時間分解能で、4次元的に行うことを特徴とする。
〔4〕時間ゲート光波断層画像測定装置において、生体試料内のある断層からの時間変化する干渉画像に対して、時間的に位相が90°異なる二つの干渉画像を光学的に発生させる手段と、前記二つの干渉画像を高速スイッチングにより切り出す手段と、この切り出した二つの干渉画像を同時に入射する一つのイメージセンサとを備え、前記生体試料からの信号光がY軸に対して45°の直線偏光、参照波が円偏光となり、偏光ビームスプリッタによってY軸、X軸に平行な直線偏光成分だけがそれぞれ画像p、画像qとして分離され、前記一つのイメージセンサに結像されるように構成することを特徴とする。
〔5〕上記〔4〕記載の時間ゲート光波断層画像測定装置において、前記高速スイッチングは、高速でスイッチングが可能な半導体光源によることを特徴とする。
〔6〕上記〔4〕記載の時間ゲート光波断層画像測定装置において、前記高速スイッチングは、高速応答速度の光シャッターによることを特徴とする。
〔7〕上記〔4〕記載の時間ゲート光波断層画像測定装置において、前記高速スイッチングは、立ち上がり時間が10ns以下のQスイッチデバイスとQスイッチドライバーによることを特徴とする。
〔8〕上記〔4〕記載の時間ゲート光波断層画像測定装置において、前記高速スイッチングは、1μsの電子シャッター機能付きのイメージセンサによることを特徴とする。
本発明によれば、以下のような効果を奏することができる。
画像計測時間を数10μsあるいは数百nsに短縮することができる。したがって、100μs内で起こる生体現象をイメージ化することができる。
このように本発明によれば、まだ未開拓な生体内の高速現象が断層画像で測定されるので、臨床応用分野が期待でき、医学・生物学・薬理学分野での貢献や波及効果は多大である。さらには、一般産業界での新しい応用も可能であり、その波及効果は著大である。
本発明は、試料内のある断層からの時間変化する干渉画像に対して、時間的に位相が90°異なる二つの干渉画像を光学的に発生させ、一つのイメージセンサ(CCD)上に極めて短い時間間隔で切り出して同時に入射することにより、生体試料などの高散乱物体内部の断層画像を測定する時間ゲート型光波断層画像測定方法及び装置である。
以下、本発明の実施の形態について詳細に説明する。
図1は本発明の実施例を示す時間ゲート型光波断層画像測定装置の模式図、図2はその光波断層画像測定装置における参照光と信号光の説明図、図3は各部の信号波形と画像の画素の信号変化を示す図、図4はその断層画像の測定方法の説明図である。
まず、図1において、1は近赤外波長域の低コヒーレンス光源、2はコリメートレンズ、3は偏光調整器、4は高速光シャッター(点線の意義は後述)、5は変調機能付電流源、6はビームスプリッタ(BS)、7は円偏光を発生させる波長板、8はビーム径変換器、9は高速に光軸方向走査を行う奥行き走査器、10は奥行き走査器駆動装置、11は対物レンズ、12は生体試料、12−1は刺激電極、13は偏光ビームスプリッタ(PBS)、14はプリズム、15は光路差補償板、16,17は結像レンズ、18はCCD(イメージセンサ)、19はCCDコントローラ、20は制御・信号処理用PC、21は刺激信号発生器を示している。
まず、この時間ゲート型光波断層画像測定装置の動作原理の概略を図1〜図3を用いて説明する。
OCTの基本原理については、上記非特許文献7に詳細に示されている。本光学系は基本的に2次元マイケルソン干渉系である。円偏光と直線偏光を用いて光学的に90°位相の異なる干渉信号を発生させる方法(上記非特許文献8参照)が報告されている。
ここでは、PBS13で生体試料12からの信号光が図2(b)に示すようにY軸に対して45°の直線偏光の場合で、参照波が図2(a)に示すように円偏光の場合には、PBS13によってY軸、X軸に平行な直線偏光成分だけがそれぞれ画像p、画像qとして分離され、一つのイメージセンサ18上に結像される。
図3において、図3(a)は測定実行信号を、図3(b)は生体刺激信号を、図3(c)はCCD露光信号を、図3(d)は画像pの画素(i,j)の信号変化を、図3(e)は画像qの画素(i,j)の信号変化をそれぞれ示している。
そこで、図3(d)および図3(e)に示すように、画像pと画像qの画素(i,j)に着目した場合、それぞれの画素信号の時間変化は図のように90°の位相差を有している。ここで、光源1を高速スイッチングするか、光源1からの光を高速にスイッチングするか、CCD18の高速電子シャッターを用いるかのいずれかの方法で、時間的に連続した干渉信号において斜線で示した領域のみを切り出してCCD18に画素信号として露光する。この出力画素信号をそれぞれSp ,Sq とする。このとき干渉信号Sp ,Sq は、ヘテロダインビート信号の直流成分ID 、交流成分IA 、位相δを用いて簡単に
Sp =ID +IA cosδ
Sq =ID +IA sinδ …(1)
と表される。ここで、試料12の画像情報は交流成分IA と位相δに含まれている。ヘテロダインビート信号を切り出す直前に干渉成分の直流成分ID を測定しておけば、断層画像信号となる交流成分IA や位相δが画像処理によって求まる。このとき試料12の画像情報に含まれる信号は、ビート信号の切り出された時間間隔内の情報のみを含み、CCD18の読み出し間隔に依存しない。
(測定原理)
以下、詳細にその原理を説明する。
Sp =ID +IA cosδ
Sq =ID +IA sinδ …(1)
と表される。ここで、試料12の画像情報は交流成分IA と位相δに含まれている。ヘテロダインビート信号を切り出す直前に干渉成分の直流成分ID を測定しておけば、断層画像信号となる交流成分IA や位相δが画像処理によって求まる。このとき試料12の画像情報に含まれる信号は、ビート信号の切り出された時間間隔内の情報のみを含み、CCD18の読み出し間隔に依存しない。
(測定原理)
以下、詳細にその原理を説明する。
まず、図1において、光学系は基本的に2次元マイケルソン干渉系である。光源1は、SLD(スーパールミネッセントダイオード)、LED、モードロックレーザなどの低コヒーレンス光源である。例えば、浜松ホトニクス社のLED(L7558)(上記非特許文献9参照)は、中心波長850nm、スペクトル幅50nm、コヒーレンス長12.7μm、出力14mW(駆動電流:10mA)、変調遮断周波数50MHzが好適である。また、光源1は高速変調機能付電流源5で駆動されるが、その電流源5としては、高速な光源1のスイッチングが可能なものが望ましい。例えば、ILX Lightwave社のLDX3620(上記非特許文献10参照)では、外部変調機能で0−500mAで1MHzまでの光源の高速変調が可能である。
光源1からの光は、コリメートレンズ2でコリメートされ、偏光調整器3でX軸に対して45°の傾きをもつ直線偏光となってBS6に入射する。参照光側では、波長板7、ビーム径変換器8を通って、奥行き走査器9に入射する。奥行き走査器9は、ある範囲内の時間遅延を高速に行うもので、かつ光の周波数に対してドップラーシフトを発生するものであればよく、例えば光軸方向に高速移動するミラーやモータで高速に回転され周速度Vで移動するミラー、十分な変位が得られるピエゾ素子でも良い。例えばポリゴンミラー用モータを用いる場合(上記非特許文献11参照)では、ミラーは回転軸から半径31.75mmの位置に設定され、12.8rpmで回転することが十分可能である。このとき、ミラーの速度V(周速度)は、12.8rpm×2×3.14×0.03175m/60s=0.0426m/sである。
一方、信号光側では、直線偏光の光は対物レンズ11で集光され生体試料12に照射される。生体試料12内部で発生した後方散乱光は再度対物レンズ11で集光されて、BS6に戻る。ここで、後方散乱光である信号光は参照光と重ね合わされる。生体試料12で偏光解消が生じる場合には、BS6と対物レンズ11の間に偏光子(図示なし)を45°傾けて入れるとよい。ここで、参照光は往復でλ/4位相を変化させる波長板7により、円偏光となっている。信号光は、45°傾いた直線偏光となっており、二つの光はPBS13に入射する。PBS13では、光をX軸とY軸に偏光した光に分離する。Y軸に平行な偏波を持つ光は位相補償板(光路差補償板)15を通って結像レンズ16によりCCD(イメージセンサ)18上に結像され、画像pとなる。一方、X軸に平行な偏光を有する光はプリズム14に反射され、同一CCD(イメージセンサ)18上に結像レンズ17により結像され、画像qとなる。
ここで、画像p、画像qでの画素における干渉信号を説明する。
図2(a)に示すように円偏光は、90°位相の異なる二つの直線偏光(X軸:ERXとY軸:ERY)の合成であり、図2(b)に示すように45°傾いた直線偏光は同相の二つの直線偏光(X軸:ESXとY軸:ESY)の合成である。このとき、それぞれの干渉信号は次式となる。
画像pの画素信号(Y軸偏光方向)
画像pの画素信号(Y軸偏光方向)
次に、図3を用いてシステム全体での測定を説明する。
今、PC20のキーが押されて、図3(a)に示すように測定実行信号が発生し、N0 回の断層画像の測定を行って終了するものとする。まず、N=1回目の画像測定では、図3(b)に示すように遅延時間tD 後に、PC20から生体刺激信号が発生して、刺激信号発生器21を介して、刺激電極12−1で電気刺激が印加された。測定実行信号を受けて、図3(c)に示すようにCCD(イメージセンサ)18が時間tE だけ露光を行う。一般にCCD(イメージセンサ)18の露光時間はビデオレートの場合数十ms程度であり、ここで目的とする神経組織などの数百μsオーダーで変化する現象を測定するには長すぎる。そこで、CCD(イメージセンサ)18が露光を行っている間、図3(d)に示すように高速変調機能付電流源5では遅延時間tD に合わせて、ビート周波数周期の1/4にあたる時間間隔τE (2.5μs)だけ光を照射する。これにより、画像p、画像qの画素(i,j)では、図3(d)および図3(e)において斜線で示した領域(光強度変化の時間積分)がCCD(イメージセンサ)18からの画素信号Sp ,Sq となる。
上記の式(2)−(4)から、画像pと画像qでの画素(i,j)のビート信号を、
画像q:Iq (t)=ID +IA cos(2πfD t+δSR)
画像p:Ip (t)=ID +IA sin(2πfD t+δSR) …(5)
とおいて、さらに遅延時間tD 、時間間隔τE を用いて、画素信号Sp ,Sq を求める。
画像q:Iq (t)=ID +IA cos(2πfD t+δSR)
画像p:Ip (t)=ID +IA sin(2πfD t+δSR) …(5)
とおいて、さらに遅延時間tD 、時間間隔τE を用いて、画素信号Sp ,Sq を求める。
一方、2台のカメラを用いてそれぞれのシャッターの時期を時間的にずらして、90°位相の異なる画像を測定し、断層画像を得る方法(上記非特許文献1参照)が報告されており、直流成分ID については、測定に入る直前(測定実行信号が立ち上がる前)に測定してPC20に転送しておけばよい(上記非特許文献1参照)。
以上により、測定実行信号より、時間間隔τE (2.5μs)の時間幅のみの現象を、CCDがビデオレートの場合(30frame/s)33msの間隔で、N0 回繰り返して測定プログラムを終了することができる。これにより、外部電気刺激に同期して、μsオーダーの時間幅で発生する生体内部の光学特性の変化を断層画像として、測定することができる。時間間隔は33msとなるが、その中でμsオーダーで生じる現象を測定できることになる。
また、空間分解能については、光軸方向分解能はコヒーレンス長の半分となるので7μm、横方向分解能は10μmが十分可能である。神経繊維は直径数十μmであるので、神経繊維の断層画像測定には、十分な空間分解能をOCTは有している。また、ここまでは図4(a)に示すように遅延時間tD を固定して、試料内のある鉛直断面を測定することを述べたが、遅延時間を取り込み画像ごとに順次変えることにより、図4(b)に示すようにCCDフレームレートで深さ方向の異なる鉛直断面画像を逐次測定でき、三次元画像測定も可能である。
次に、高速化に対して有用な要素技術について述べる。
まず、高速光軸走査機構が必要である。上記の例によれば、モータの回転数を12.8rpmとしたが、実際には45,000rpm(上記非特許文献11参照)が可能である。このときビート周波数は、230MHzとなり、1周期は4.3nsとなる。ビート信号を切り出す方法には、先に挙げた(1)光源の高速スイッチング、(2)光源からの光の高速スイッチング、(3)CCD(イメージセンサ)の高速電子シャッター機能を用いる方法を挙げることができる。
その光源の高速スイッチングでは、変調周波数50MHz(20ns)のLEDを用いる(上記非特許文献9参照)のが望ましい。
光源からの光の高速スイッチングでは、偏光制御を用いた光シャッター(上記非特許文献13参照)を用いるのが望ましく、5μsの応答速度である。光シャッター使用時は、図1の点線のように配置され、変調機能付電流源5は不要となる。さらにレーザーのQスイッチデバイスでは瞬時にゲートを開く必要があり、以前から超高速動作が進められてきた。立ち上がり時間が10ns以下のもの(上記非特許文献14参照)を用いるのが望ましい。つまり、QスイッチドライバーとQスイッチデバイスを用いれば、10ns以下でビート信号を切り出すことが可能になる。
CCD(イメージセンサ)の高速電子シャッター機能では、1μsの電子シャッター機能付きのCCD(イメージセンサ)(上記非特許文献15参照)も試作されている。CCD(イメージセンサ)の高速電子シャッター機能を用いた場合、変調機能付電流源5や光シャッター4が不要になり、システムが簡素化するので実用性に優れている。
本発明によれば、現状の要素技術を用いて、生体内で生じる数μsから数nsオーダーの現象を断層画像で測定できる。
以下、本発明の効果について詳述する。
生体の中で最も複雑で、他に比べてまだよく解明されていない臓器が脳であり、現在大きな科学のテーマとして捕えられ、その解明がこれからの医学・生物学・薬理学の発展に重要不可欠であることは周知の通りである。
本発明によれば、CCD(イメージセンサ)の露光時間、繰り返し時間間隔に囚われずに、μsからnsオーダーの生体内の高速な変化を断層画像で測定できる。これにより、まだ解明が不十分である脳を始めとして生体内の様々な活動・メカニズムの解明に有用な情報が得られ、さらには神経系への新薬の研究開発に多いに貢献すると考えられる。具体的には、OCTを用いて生きたままで脳や神経系の断層画像の測定が可能になれば以下の効果が期待できる。
(1)脳機能の解明が、mmオーダーからμmオーダーの空間分解能で、かつμsからnsオーダーの時間分解能で、4次元的に解明される。
(2)交通事故などによる脳損傷時の脳外科手術時に、迅速な脳の機能確認が可能になる。
(3)生体の神経系に用いることにより、神経系の疾患やヘルニアなどによる神経障害の臨床診断が可能になる。
(4)新薬開発の際、動物実験などの機能確認などを定量的に行うことができ、評価の信頼性、時間・経費の節約など総合的に研究開発力が向上する。
(5)病院、製薬会社への販売が考えられるので、販売台数、市場規模などは莫大と考えられる。
(6)本発明の装置によれば、まだ未開拓な生体内の高速現象が断層画像で測定されるので、臨床応用分野が期待でき、医学・生物学・薬理学分野での貢献や波及効果は多大である。さらには、一般産業界での新しい応用も可能であり、その波及効果は著大である。
なお、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、本発明の趣旨に基づき種々の変形が可能であり、これらを本発明の範囲から排除するものではない。
本発明の時間ゲート光波断層画像測定装置は、生理学・基礎医学・臨床医学・薬理学の分野で利用可能である。
1 近赤外波長域の低コヒーレンス光源
2 コリメートレンズ
3 偏光調整器
4 高速光シャッター
5 変調機能付電流源
6 ビームスプリッタ(BS)
7 円偏光を発生させる波長板
8 ビーム径変換器
9 高速に光軸方向走査を行う奥行き走査器
10 奥行き走査器駆動装置
11 対物レンズ
12 生体試料
12−1 刺激電極
13 偏光ビームスプリッタ(PBS)
14 プリズム
15 光路差補償板
16,17 結像レンズ
18 CCD(イメージセンサ)
19 CCDコントローラ
20 制御・信号処理用PC
21 刺激信号発生器
2 コリメートレンズ
3 偏光調整器
4 高速光シャッター
5 変調機能付電流源
6 ビームスプリッタ(BS)
7 円偏光を発生させる波長板
8 ビーム径変換器
9 高速に光軸方向走査を行う奥行き走査器
10 奥行き走査器駆動装置
11 対物レンズ
12 生体試料
12−1 刺激電極
13 偏光ビームスプリッタ(PBS)
14 プリズム
15 光路差補償板
16,17 結像レンズ
18 CCD(イメージセンサ)
19 CCDコントローラ
20 制御・信号処理用PC
21 刺激信号発生器
Claims (8)
- 生体試料内のある断層面からの散乱光を用いて得られる周期的に時間変化する干渉画像に対して、時間的に位相が異なる複数の干渉画像を光学的に発生させ、前記複数の干渉画像を高速スイッチングにより切り出し、該切り出した複数の干渉画像をイメージセンサ上に同時に入射することにより、高速断層画像計測を行うことを特徴とする時間ゲート光波断層画像測定方法。
- 請求項1記載の時間ゲート光波断層画像測定方法において、時間的に位相が90°異なる二つの干渉画像を光学的に発生させ、一つのイメージセンサ上に同時に入射するとともに、前記高速スイッチングはμsからnsオーダーとすることを特徴とする時間ゲート光波断層画像測定方法。
- 請求項1記載の時間ゲート光波断層画像測定方法において、前記高速断層画像の計測は、mmオーダーからμmオーダーの空間分解能、かつμsからnsオーダーの時間分解能で、4次元的に行うことを特徴とする時間ゲート光波断層画像測定方法。
- (a)生体試料内のある断層からの時間変化する干渉画像に対して時間的に位相が90°異なる二つの干渉画像を光学的に発生させる手段と、
(b)前記二つの干渉画像を高速スイッチングにより切り出す手段と、
(c)該切り出した二つの干渉画像を同時に入射する一つのイメージセンサとを備え、
(d)前記生体試料からの信号光がY軸に対して45°の直線偏光、参照波が円偏光となり、偏光ビームスプリッタによってY軸、X軸に平行な直線偏光成分だけがそれぞれ画像p、画像qとして分離され、前記一つのイメージセンサに結像されるように構成することを特徴とする時間ゲート光波断層画像測定装置。 - 請求項4記載の時間ゲート光波断層画像測定装置において、前記高速スイッチングは、高速でスイッチングが可能な半導体光源によることを特徴とする時間ゲート光波断層画像測定装置。
- 請求項4記載の時間ゲート光波断層画像測定装置において、前記高速スイッチングは、高速応答速度の光シャッターによることを特徴とする時間ゲート光波断層画像測定装置。
- 請求項4記載の時間ゲート光波断層画像測定装置において、前記高速スイッチングは、立ち上がり時間が10ns以下のQスイッチデバイスとQスイッチドライバーによることを特徴とする時間ゲート光波断層画像測定装置。
- 請求項4記載の時間ゲート光波断層画像測定装置において、前記高速スイッチングは、1μsの電子シャッター機能付きのイメージセンサによることを特徴とする時間ゲート光波断層画像測定装置。
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