JP2005241885A - Method for creating cam data for electronic circuit board, cad/cam system for electronic circuit board, and method for producing electronic circuit board - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for creating CAM data for an electronic circuit board by which CAD data which reflect the opening shape of a recognition mark for alignment in a solder resist layer can be appropriately and efficiently converted to CAM data of an exposure mask for photolithography for forming the openings. <P>SOLUTION: In order to form openings of a recognition mark for alignment of a substrate in a solder resist layer by a photolithography process using a photosensitive resin, the mask pattern of the recognition mark in a mask pattern for the openings is corrected so that the opening shape of the recognition mark reflected in CAD data has two segments which intersect each other in a concave shape on the opening side and that an etching margin for the segments becomes larger with the intersection of the segments as a correction reference point, as it becomes more distant from the correction reference point , and conversion as CAM data is performed. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

本発明は、電子回路基板用CAMデータ作成方法、電子回路基板用CAD/CAMシステム、及び電子回路基板の製造方法に関するものである。   The present invention relates to an electronic circuit board CAM data creation method, an electronic circuit board CAD / CAM system, and an electronic circuit board manufacturing method.

特開2000−276505号公報JP 2000-276505 A

ICやマイクロプロセッサ等の半導体チップは、近年高集積化が急速に進んでいることから、チップの入出力部の端子数も大幅に増大しつつある。これを受けて、そのようなチップを接続するための電子回路基板も配線部の数が急増しており、高分子材料やセラミック等の絶縁層を介して多層の配線部を作り込んだ積層型のパッケージ基板が増えてきている。最近では、このような電子回路基板の設計を効率よく行なうために、コンピュータ作図処理を用いた設計システム、いわゆるCAD(Computer Aided Design)システムが使用されている(特許文献1)。これは、表示装置上に作図画面を開き、配線部、接地用あるいは電源用の面導体パターン、異なる配線層同士を接続するビア、あるいは配線端子部をなすパッドやランドなどの基板要素を、CADデータとして、マウス等の入力装置を用いて作図レイヤ上に描くことにより基板設計図を得るものである。   Semiconductor chips such as ICs and microprocessors have been rapidly integrated in recent years, so that the number of terminals at the input / output section of the chip is also increasing significantly. As a result, the number of wiring parts in electronic circuit boards for connecting such chips has also increased rapidly, and a multilayer type in which a multilayer wiring part is formed through an insulating layer such as a polymer material or ceramic. The number of package substrates is increasing. Recently, in order to efficiently design such an electronic circuit board, a design system using a computer drawing process, a so-called CAD (Computer Aided Design) system has been used (Patent Document 1). This opens a drawing screen on the display device, and displays circuit elements such as wiring parts, surface conductor patterns for grounding or power supply, vias connecting different wiring layers, or pads and lands forming wiring terminal parts, as CAD. As a data, a board design drawing is obtained by drawing on a drawing layer using an input device such as a mouse.

ところで、従来のCADシステムにおいては、基板設計図上に入力された基板要素の位置や形状あるいは寸法は、あくまで完成基板での情報として入力されるので、電子回路基板の製造工程において直接利用できない場合がある。例えば、配線部、ランド、パッドあるいは面導体パターンなどは、セラミック基板の場合は、セラミックグリーンシート上に導体ペーストを用いて導体パターンを印刷形成し、焼成することにより形成され、オーガニック基板の場合は、フォトリソグラフィーを用いた金属薄層のエッチングにより導体パターンが形成される。さらに、ビアに関しては、セラミック基板の場合は、セラミックグリーンシートへのドリルあるいはレーザーによる穿孔加工により、オーガニック基板の場合は、レーザーによる穿孔加工やビルドアップ層をなす光硬化性樹脂へのフォトビアプロセスにより形成される。   By the way, in the conventional CAD system, the position, shape or dimension of the board element inputted on the board design drawing is inputted as information on the completed board to the last, and therefore cannot be directly used in the manufacturing process of the electronic circuit board. There is. For example, wiring parts, lands, pads, or surface conductor patterns are formed by printing and baking a conductor pattern on a ceramic green sheet using a conductor paste and firing, in the case of an organic substrate. A conductive pattern is formed by etching a thin metal layer using photolithography. In addition, regarding vias, drilling or laser drilling of ceramic green sheets is used for ceramic substrates, and drilling or laser drilling is used for organic substrates. It is formed by.

ところで、設計図に盛り込まれた各基板要素のCADデータ(寸法、形状あるいは基板内の形成位置など)は、あくまで製品基板をイメージしつつ入力される設計情報である。これに対し、該設計図を用いて実際に基板を製造する際に必要となるのは各基板要素に対応した製造用図形情報であり、製品基板の設計情報であるCADデータからの乖離が大きい場合は、基板要素のCADデータを基板製造に直接使用することができない。   By the way, CAD data (dimensions, shapes, formation positions in a substrate, etc.) of each substrate element included in the design drawing is design information input while imagining a product substrate. On the other hand, what is required when actually manufacturing a board using the design drawing is manufacturing graphic information corresponding to each board element, and there is a large deviation from CAD data which is design information of the product board. In this case, the CAD data of the substrate element cannot be directly used for substrate manufacture.

例えばセラミック基板においては、CADデータが示す配線パターンやビアなどの回路基板要素の寸法は焼成後の寸法として与えられるが、セラミックグリーンシートを用いて基板を製造する場合、工程上必要となるのは焼成前の寸法であり、焼成収縮など考慮して、製造用の図形情報に変換して使用する必要がある。焼成時の収縮が一様であればその変換作業は比較的単純であるが、実際には、個々の回路基板要素の形成状態によってCADデータの変換条件が異なる。また、オーガニック基板の場合も、フォトリソグラフィーによる導体パターンやビアの形成に際して、個々の回路基板要素の形成状態によってエッチング条件が相違するなどの理由により、個別の変換条件を考慮する必要がある。いずれにしろ、電子回路基板用のCADシステムにおいては、CADデータの製造用図形情報への変換形態が多様なため、マシニングセンタなどの機械加工用CADシステムなどと比べ、製造工程のCAM(Computer Aided Manufacturing)化が大幅に立ち遅れているのが現状である。従って、現場技術者は、マニュアル計算によってCADデータを製造用図形情報に変換しなければならないケースも多く、製造能率の低下や納期長期化が避けがたかった。   For example, in a ceramic substrate, the dimensions of circuit board elements such as wiring patterns and vias indicated by CAD data are given as dimensions after firing. However, when a substrate is manufactured using a ceramic green sheet, what is necessary in the process is It is a dimension before firing and needs to be converted into graphic information for production in consideration of firing shrinkage and the like. If the shrinkage during firing is uniform, the conversion operation is relatively simple, but actually, the conversion conditions of CAD data differ depending on the formation state of each circuit board element. Also, in the case of an organic substrate, when forming a conductor pattern or a via by photolithography, it is necessary to consider individual conversion conditions because the etching conditions differ depending on the formation state of each circuit board element. In any case, since the CAD system for electronic circuit boards has various forms of conversion of CAD data to graphic information for manufacturing, the CAM (Computer Aided Manufacturing) of the manufacturing process is compared with a CAD system for machining such as a machining center. ) Is far behind in the current situation. Therefore, field engineers often have to convert CAD data into graphic information for manufacturing by manual calculation, and it has been difficult to avoid a decrease in manufacturing efficiency and a prolonged delivery date.

また、フリップチップ形式でIC等の電子部品を基板上に実装する場合には、電子基板上に形成されたランド上に、半田ペーストを用いて半田バンプのパターンを形成する必要がある。半田バンプは、ペースト塗布用マスクを用いたクリーム半田の印刷塗布によりバンプパターンを形成後、リフロー処理することにより形成されるが、リフロー時の半田の濡れ広がりと基板への融着等を抑制するために、基板の最表面にはソルダーレジスト層が形成される。ソルダーレジスト層にはバンプ形成位置に対応した形で開口が形成され、その開口内に露出した半田ランド上に半田バンプが形成される。ソルダーレジスト層は感光性樹脂にて構成され、上記の開口の形成にはフォトリソグラフィー工程が採用される。具体的には、開口形成パターンを有した露光マスクを感光性樹脂層上に重ねて露光し、開口予定部分以外の樹脂を硬化させる一方、開口予定部分の未硬化の樹脂を溶剤等によりエッチング除去して開口とする。   In addition, when an electronic component such as an IC is mounted on a substrate in a flip chip format, it is necessary to form a solder bump pattern on the land formed on the electronic substrate using a solder paste. Solder bumps are formed by reflow treatment after a bump pattern is formed by cream solder printing application using a paste application mask, which suppresses solder wetting and spreading to the substrate during reflow. Therefore, a solder resist layer is formed on the outermost surface of the substrate. An opening is formed in the solder resist layer in a shape corresponding to the bump formation position, and a solder bump is formed on the solder land exposed in the opening. The solder resist layer is made of a photosensitive resin, and a photolithography process is employed to form the opening. Specifically, an exposure mask having an opening formation pattern is superimposed on the photosensitive resin layer and exposed to cure the resin other than the opening planned portion, while the uncured resin in the opening planned portion is etched away with a solvent or the like. And open.

ところで、通常、電子回路基板には、該基板に半導体チップなどの面実装部品を実装する際に使用する位置合わせ用の認識マークあるいは基準マーク(Fiducial Mark)(以下、これらを総称して、アライメントマーク:Alignment Markともいう)が形成されている。このアライメントマークは、ソルダーレジスト層に形成された導体層からなり、ソルダーレジスト層の開口部から完全に露出されている。アライメントマークは、上述した通り、フォトリソグラフィー工程によってソルダーレジスト層の開口部の一部として形成される。しかし、エッチングの際にエッチング液がアライメントマーク用開口部を形成する樹脂をも除去してしまい、正確なアライメントマークの開口形状が形成されず、この結果、基板に部品を実装する工程などにおいて基板の位置合わせが正しくできないという問題が発生していた。   By the way, usually, on an electronic circuit board, an alignment mark or fiducial mark (Fiducial Mark) for alignment used for mounting a surface mounting component such as a semiconductor chip on the board (hereinafter collectively referred to as alignment mark). Mark (also referred to as Alignment Mark). This alignment mark consists of a conductor layer formed on the solder resist layer, and is completely exposed from the opening of the solder resist layer. As described above, the alignment mark is formed as a part of the opening of the solder resist layer by a photolithography process. However, the etching solution also removes the resin that forms the alignment mark opening during etching, and an accurate alignment mark opening shape is not formed. As a result, in the process of mounting components on the substrate, etc. There was a problem that the position of the camera could not be aligned correctly.

本発明の課題は、ソルダーレジスト層に形成されるアライメントマーク図形を反映したCADデータを、該アライメントマークを形成するためのフォトリソグラフィー用露光マスクよりなるCAMデータに適正かつ効率的に変換することができる電子回路基板用CAMデータ作成方法、及びそれに用いる電子回路基板用CAD/CAMシステム、さらに、前記電子回路基板用CAD/CAMシステムを用いた電子回路基板の製造方法とを提供することにある。   An object of the present invention is to appropriately and efficiently convert CAD data reflecting an alignment mark figure formed on a solder resist layer into CAM data including an exposure mask for photolithography for forming the alignment mark. Another object of the present invention is to provide an electronic circuit board CAM data creation method, an electronic circuit board CAD / CAM system used therefor, and an electronic circuit board manufacturing method using the electronic circuit board CAD / CAM system.

課題を解決するための手段および発明の効果Means for Solving the Problems and Effects of the Invention

本発明の電子回路基板用CAMデータ作成方法は、導体層と誘電体層とが交互に積層された電子回路基板において、該電子回路基板の主表面上に形成されるソルダーレジスト層の開口をCADデータとして作成し、
感光性樹脂を用いたフォトリソグラフィー工程によりソルダーレジスト層の開口を形成するために、前記CADデータに反映されたソルダーレジスト層の開口を、フォトリソグラフィー用露光マスクの開口用マスクパターンに、CAMデータとして変換するとともに、
ソルダーレジスト層の面内に形成される基板の認識マークの開口形状が、当該開口側にて凹形態に交差する2つの線分を有し、かつ、それら線分の交点を補正基準点として、線分に対するエッチング代を補正基準点から遠ざかるにつれて広幅となるように、開口用マスクパターンにおける認識マークのマスクパターンを補正することを特徴とする。
In the electronic circuit board CAM data creation method of the present invention, in the electronic circuit board in which conductor layers and dielectric layers are alternately laminated, the opening of the solder resist layer formed on the main surface of the electronic circuit board is formed by CAD. Create as data,
In order to form the opening of the solder resist layer by a photolithography process using a photosensitive resin, the opening of the solder resist layer reflected in the CAD data is used as the opening mask pattern of the exposure mask for photolithography as CAM data. As well as conversion
The opening shape of the recognition mark of the substrate formed in the surface of the solder resist layer has two line segments intersecting the concave shape on the opening side, and the intersection of these line segments is a correction reference point. The mask pattern of the recognition mark in the opening mask pattern is corrected so that the etching allowance for the line segment becomes wider as the distance from the correction reference point is increased.

また、本発明のCAD/CAMシステムは、導体層と誘電体層とが交互に積層された電子回路基板を設計かつ製造するためのCAD/CAMシステムであって、
電子回路基板に形成すべき導体層及び誘電体層に対応する複数の作図レイヤを設定する作図レイヤ設定手段と、
電子回路基板を構成する基板要素のうち、作図対象として予め定められたものを作図対象要素として、それら作図対象要素の設計上の寸法、形状及び配置位置を特定するためのCADデータを、前記作図レイヤ上に入力するCADデータ入力手段と、
作図対象要素又は該作図対象要素と関連付けた形で電子回路基板に形成される付加要素を製造対象要素として、該製造対象要素自体又は該製造対象要素の製造用治具の対応部分の、製造工程上の寸法、形状及び配置位置を特定するCAMデータを、前記CADデータからの変換により作成するCAMデータ変換手段と、
該CAMデータを出力するCAMデータ出力手段と、を備え、
製造対象要素を電子回路基板の主表面上に形成されるソルダーレジスト層の開口とし、CADデータ入力手段により該ソルダーレジスト層の開口を前記CADデータとして入力・作成するとともに、
CAMデータ変換手段は、感光性樹脂を用いたフォトリソグラフィー工程によりソルダーレジスト層の開口を形成するために、CADデータに反映されたソルダーレジスト層の開口を、フォトリソグラフィー用露光マスクの開口用マスクパターンに、CAMデータとして変換するものであり、かつ、ソルダーレジスト層の面内に形成される基板の認識マークの開口形状が、当該開口側にて凹形態に交差する2つの線分を有し、かつ、それら線分の交点を補正基準点として、該線分に対するエッチング代を補正基準点から遠ざかるにつれて広幅となるように、開口用マスクパターンにおける認識マークのマスクパターンを補正することを特徴とする。
The CAD / CAM system of the present invention is a CAD / CAM system for designing and manufacturing an electronic circuit board in which conductor layers and dielectric layers are alternately laminated.
A drawing layer setting means for setting a plurality of drawing layers corresponding to the conductor layer and the dielectric layer to be formed on the electronic circuit board;
Of the board elements constituting the electronic circuit board, those predetermined as the drawing object are used as the drawing object elements, and the CAD data for specifying the design dimensions, shapes, and arrangement positions of the drawing object elements is drawn in the drawing. CAD data input means for inputting on the layer;
The manufacturing process of the corresponding element of the manufacturing target element itself or the manufacturing jig of the manufacturing target element, with the drawing target element or an additional element formed on the electronic circuit board in a form associated with the drawing target element as the manufacturing target element CAM data conversion means for creating CAM data specifying the above dimensions, shape, and arrangement position by conversion from the CAD data;
CAM data output means for outputting the CAM data,
The manufacturing target element is an opening of a solder resist layer formed on the main surface of the electronic circuit board, and the opening of the solder resist layer is input and created as the CAD data by CAD data input means.
The CAM data conversion means uses an opening mask pattern of an exposure mask for photolithography to form the opening of the solder resist layer reflected in the CAD data in order to form the opening of the solder resist layer by a photolithography process using a photosensitive resin. And the opening shape of the recognition mark of the substrate formed in the plane of the solder resist layer has two line segments that intersect the concave shape on the opening side, The intersection pattern of the line segments is used as a correction reference point, and the mask pattern of the recognition mark in the opening mask pattern is corrected so that the etching allowance for the line segment becomes wider as the distance from the correction reference point increases. .

電子回路基板の基板要素は、導体層あるいは絶縁層に作りこまれる基板構造上の回路構成単位である。導体層には、配線部のほか、接地導体、電源導体、特殊形状配線部あるいはコンデンサ電極などをなす面導体パターン、パッドやランドなどの端子部が基板要素として形成される。また、絶縁層には、異なる導体層間を電気的に接続するビアが基板要素として形成される。また、基板最表面側に位置する導体層には、フリップチップ接合等に使用される半田バンプの下地として使用される半田ランドを基板要素として形成することができる。この場合、その半田ランド上に後から形成される半田バンプも基板要素の一つである。さらに、基板最表面に形成される絶縁層が、半田ランドの周囲を覆うソルダーレジスト層である場合、そのソルダーレジスト層に形成される開口、例えば半田ランドを露出させるための半田用開口も基板要素の一つである。   A board element of an electronic circuit board is a circuit constituent unit on a board structure built in a conductor layer or an insulating layer. In the conductor layer, in addition to the wiring portion, a ground conductor, a power supply conductor, a specially shaped wiring portion, a surface conductor pattern that forms a capacitor electrode, and terminal portions such as pads and lands are formed as substrate elements. In addition, vias that electrically connect different conductor layers are formed as substrate elements in the insulating layer. In addition, a solder land used as a base of a solder bump used for flip chip bonding or the like can be formed as a substrate element on the conductor layer located on the outermost surface side of the substrate. In this case, a solder bump formed later on the solder land is one of the substrate elements. Further, when the insulating layer formed on the outermost surface of the substrate is a solder resist layer covering the periphery of the solder land, an opening formed in the solder resist layer, for example, a solder opening for exposing the solder land is also a substrate element. one of.

また、基板要素は、その全てがCADによる作図対象とならない場合がある。例えば、半田ランド(あるいは半田用開口)を作図対象要素とする一方、該半田ランド上に後工程で形成される半田バンプを特にCAD上で作図しないことがある。この場合、半田ランドや半田用開口が作図対象要素であり、半田バンプは、該作図対象要素と関連付けた形で電子回路基板に形成される付加要素をなす。基板製造工程上で製造対象となる基板要素、すなわち製造対象要素は上記作図対象要素であり、また、半田バンプなどが付加要素として取り扱われる場合は、作図対象要素と付加要素とを合わせたものが製造対象要素である。   In addition, all of the board elements may not be drawn by CAD. For example, while a solder land (or solder opening) is used as a drawing target element, a solder bump formed in a subsequent process on the solder land may not be drawn particularly on CAD. In this case, solder lands and solder openings are elements to be drawn, and the solder bumps are additional elements formed on the electronic circuit board in a form associated with the elements to be drawn. The board element to be manufactured in the board manufacturing process, that is, the manufacturing target element is the above-mentioned drawing target element, and when solder bumps are handled as additional elements, the combination of the drawing target element and the additional elements is It is an element to be manufactured.

ソルダーレジスト層に形成する開口のCADデータは、基板製造工程においては、感光性樹脂を用いたフォトリソグラフィー工程によりソルダーレジスト層にアライメントマークを形成する場合、CADデータに反映されたソルダーレジスト層の開口内径を、フォトリソグラフィー用露光マスクの開口用マスクパターン外径よりなるCAMデータに変換する必要がある。感光性樹脂には、露光部分の硬化が抑制されるタイプのもの(以下、「ポジ型」という)と、露光部分の硬化が促進されるタイプのもの(以下、「ネガ型」という)との2種類がある。特に径小の開口を形成したい場合は、転写すべき開口用マスクパターンが露光時の光の回り込みよりつぶれやすいネガ型の樹脂を使用するよりも、ポジ型の樹脂を使用したほうが有利なことが多い。このようなポジ型の樹脂を使用する場合は、露光マスクは、開口用マスクパターンが透光部分となり、該開口用マスクパターンの背景部分が遮光部分となるように形成されたものが使用される。   The CAD data of the opening formed in the solder resist layer is the opening of the solder resist layer reflected in the CAD data when the alignment mark is formed in the solder resist layer by a photolithography process using a photosensitive resin in the substrate manufacturing process. It is necessary to convert the inner diameter into CAM data composed of the outer diameter of the opening mask pattern of the exposure mask for photolithography. There are two types of photosensitive resins: one that suppresses curing of the exposed portion (hereinafter referred to as “positive type”) and one that promotes curing of the exposed portion (hereinafter referred to as “negative type”). There are two types. In particular, when it is desired to form a small-diameter opening, it is advantageous to use a positive type resin rather than using a negative type resin whose opening mask pattern to be transferred is more likely to be crushed than the wraparound of light during exposure. Many. When such a positive type resin is used, the exposure mask is formed such that the opening mask pattern is a light transmitting portion and the background portion of the opening mask pattern is a light shielding portion. .

ポジ型の感光性樹脂を用いてソルダーレジスト層を形成する場合、図14に示すように、未硬化のソルダーレジスト層(8’)上に露光マスク62を重ねて露光すると、ソルダーレジスト層(8’)は、透光部分となっている開口用マスクパターン(62a)の直下部分が感光し、硬化が抑制される。従って、室温ないしは適当に昇温された硬化温度で未感光部分(8’c)の硬化を行なった後、感光部分(8’a)を溶剤等でエッチングすれば、開口(8a)の形成されたソルダーレジスト層(8)が得られる。   When forming a solder resist layer using a positive photosensitive resin, as shown in FIG. 14, when the exposure mask 62 is overlaid on the uncured solder resist layer (8 ′) and exposed, the solder resist layer (8 In (1), a portion immediately below the opening mask pattern (62a) serving as a light transmitting portion is exposed to light, and curing is suppressed. Accordingly, after the unexposed portion (8'c) is cured at room temperature or at a suitably elevated curing temperature, the exposed portion (8'a) is etched with a solvent or the like to form the opening (8a). A solder resist layer (8) is obtained.

しかし、図19(a)のような三角形の開口形状をなすアライメントマークの場合、露光・エッチング後の形状は図19(b)の破線のような形状となってしまう。これは、エッチング液の到達時間が三角形の頂点部よりも辺部の方が短く、結果として辺部のほうが頂点部よりもエッチング液にさらされる時間が長くなることによるもので、三角形の頂点から遠ざかるにつれて開口用マスクパターンと実際の開口形状とのΔDが大きくなることも本発明者らの検討の結果により判明している。本発明ではこのΔDをゼロにするように、CADデータからCAMデータを作成するものである。 However, in the case of an alignment mark having a triangular opening shape as shown in FIG. 19A, the shape after exposure / etching becomes a shape as shown by a broken line in FIG. This is because the arrival time of the etchant is shorter at the side than at the apex of the triangle, and as a result, the side is exposed to the etchant longer than the apex. It has been found from the results of the study by the present inventors that ΔD 1 between the opening mask pattern and the actual opening shape increases as the distance increases. In the present invention, CAM data is created from CAD data so that ΔD 1 is zero.

本発明の電子回路基板用CAD/CAMシステムにおいては、CAMデータ作成手段は、ソルダーレジスト層の面内に形成される基板の認識マーク(即ち、アライメントマーク)の開口形状が、当該開口側にて凹形態に交差する2つの線分を有し、かつ、それら線分の交点を補正基準点として、線分に対するエッチング代を補正基準点から遠ざかるにつれて広幅となるように、開口用マスクパターンにおける前記認識マークのマスクパターンを補正する。これにより、得るべきアライメントマークの形状を反映した基板要素のCADデータを、設計値通りのアライメントマークが得られる適正なCAMデータ(即ち、アライメントマーク形成に用いる開口用マスクの開口部形状)に、確実かつ効率的に変換することができる。   In the CAD / CAM system for an electronic circuit board according to the present invention, the CAM data creation means is configured such that the opening shape of the recognition mark (that is, the alignment mark) of the board formed in the surface of the solder resist layer is on the opening side. The opening mask pattern has two line segments intersecting the concave shape, and the intersection of the line segments is used as a correction reference point, and the etching allowance for the line segment becomes wider as the distance from the correction reference point increases. Correct the mask pattern of the recognition mark. Thereby, the CAD data of the substrate element reflecting the shape of the alignment mark to be obtained is converted into appropriate CAM data (that is, the opening shape of the opening mask used for forming the alignment mark) from which the alignment mark according to the design value is obtained. Conversion can be performed reliably and efficiently.

また、本発明のCAMデータ作成手段は、ソルダーレジスト層の面内に形成される基板の認識マーク(即ち、アライメントマーク)の開口形状が三角形であるときは、該三角形の各辺において、エッチング代をそれぞれの頂点から遠ざかるにつれて広幅となるように、開口用マスクパターンにおける前記認識マークのマスクパターンを補正することができる。この補正によっても、得るべきアライメントマークの形状を反映した基板要素のCADデータを、設計値通りのアライメントマークが得られる適正なCAMデータに、確実かつ効率的に変換することができる。   In addition, the CAM data creation means of the present invention, when the opening shape of the recognition mark (that is, the alignment mark) of the substrate formed in the plane of the solder resist layer is a triangle, the etching allowance is provided at each side of the triangle. The mask pattern of the recognition mark in the opening mask pattern can be corrected so that the width becomes wider as the distance from each vertex increases. Also by this correction, CAD data of the substrate element reflecting the shape of the alignment mark to be obtained can be reliably and efficiently converted into appropriate CAM data from which an alignment mark as designed can be obtained.

さらに、本発明のCAMデータ作成手段は、ソルダーレジスト層の面内に形成される基板の認識マーク(即ち、アライメントマーク)の開口形状が十字形であるときは、その十字形の開口側にて凹となる頂点を形成する線分に対するエッチング代を、該凹となる頂点から遠ざかるにつれて広幅となるように前記開口用マスクパターンにおける認識マークのマスクパターンを補正し、かつ、その十字形の開口側にて凸となる頂点を形成する線分に対するエッチング代を該凸となる頂点に近づくにつれて広幅となるように開口用マスクパターンにおける認識マークのマスクパターンを補正することができる。この補正によっても、得るべきアライメントマークの形状を反映した基板要素のCADデータを、設計値通りのアライメントマークが得られる適正なCAMデータに、確実かつ効率的に変換することができる。   Furthermore, the CAM data creation means according to the present invention, when the opening shape of the recognition mark (that is, the alignment mark) of the substrate formed in the surface of the solder resist layer is a cross shape, on the opening side of the cross shape. The mask pattern of the recognition mark in the opening mask pattern is corrected so that the etching allowance for the line segment forming the concave vertex becomes wider as the distance from the concave vertex increases, and the cross-shaped opening side The mask pattern of the recognition mark in the opening mask pattern can be corrected so that the etching allowance for the line segment forming the convex vertex becomes wider as the convex vertex is approached. Also by this correction, CAD data of the substrate element reflecting the shape of the alignment mark to be obtained can be reliably and efficiently converted into appropriate CAM data from which an alignment mark as designed can be obtained.

次に、本発明のコンピュータプログラムは、コンピュータにインストールすることにより、上記本発明の電子回路基板用CAD/CAMシステムを構成する各手段として当該コンピュータを機能させることを特徴とする。これにより、上記本発明のCAD/CAMシステムをコンピュータ上にて簡単に実現することができる。該コンピュータプログラムは、光記録媒体(CD−ROM、DVDなど)や光磁気記録媒体(MOなど)などの、コンピュータ読み取り可能な記録媒体に記録しておき、専用の読取装置にてこれを読み取りつつ、コンピュータ側に設けられた固定記憶装置(例えばハードディスクドライブなど)上にインストールすることもできるし、プログラムの全体又は一部を、インターネットなどの電気通信回線を通じて上位コンピュータからダウンロードすることによっても、同様にインストールが可能である。   Next, when the computer program of the present invention is installed in a computer, the computer is caused to function as each means constituting the CAD / CAM system for an electronic circuit board of the present invention. As a result, the CAD / CAM system of the present invention can be easily realized on a computer. The computer program is recorded on a computer-readable recording medium such as an optical recording medium (CD-ROM, DVD, etc.) or a magneto-optical recording medium (MO, etc.), and is read by a dedicated reader. The program can be installed on a fixed storage device (for example, a hard disk drive) provided on the computer side, or the whole or a part of the program can be downloaded from a host computer through an electric communication line such as the Internet. Can be installed.

また、本発明の電子回路基板の製造方法は、上記本発明の電子回路基板用CAD/CAMシステムを用いて、得るべき電子回路基板に必要な作図対象要素を作図レイヤ上にCADデータとして入力することにより、電子回路基板の設計情報をCADデータの集合として作成する電子回路基板設計工程と、
CADデータに基づいてCAMデータ作成手段が作成したCAMデータの、CAMデータ出力手段による出力内容を用いて電子回路基板を製造する電子回路基板製造工程とを含み、
電子回路基板製造工程において、CAMデータ作成手段が作成したCAMデータに基づいて、該CAMデータが特定する開口用マスクパターンを有する露光マスクを作成し、該露光マスクを用いて電子回路基板上に、得るべき開口を有するソルダーレジスト層を形成するフォトリソグラフィー工程を実施することを特徴とする。
The electronic circuit board manufacturing method of the present invention uses the CAD / CAM system for electronic circuit boards of the present invention to input the drawing target elements necessary for the electronic circuit board to be obtained as CAD data on the drawing layer. An electronic circuit board design process for creating electronic circuit board design information as a set of CAD data,
An electronic circuit board manufacturing process for manufacturing an electronic circuit board using the output contents of the CAM data output means of the CAM data created by the CAM data creation means based on the CAD data,
In the electronic circuit board manufacturing process, an exposure mask having an opening mask pattern specified by the CAM data is created based on the CAM data created by the CAM data creating means, and the exposure mask is used on the electronic circuit board. A photolithography process for forming a solder resist layer having an opening to be obtained is performed.

上記本発明の電子回路基板製造方法によると、本発明の電子回路基板用CAD/CAMシステムを用いることにより、正確な形状のアライメントマークを有したソルダーレジスト層を簡単かつ確実に得ることができる。よって、基板の位置合わせも確実に行なうことができ、基板への部品実装時における不具合も低減できる。   According to the electronic circuit board manufacturing method of the present invention, a solder resist layer having an alignment mark with an accurate shape can be obtained easily and reliably by using the CAD / CAM system for an electronic circuit board of the present invention. Therefore, it is possible to reliably align the board, and to reduce problems when mounting components on the board.

正確な形状のアライメントマークを有したソルダーレジスト層を簡単かつ確実に得るという目的を、本発明のCAMデータ作成手段を備える電子回路基板用CAD/CAMシステムを用いることにより実現した。   The object of easily and surely obtaining a solder resist layer having an alignment mark of an accurate shape is realized by using a CAD / CAM system for an electronic circuit board provided with the CAM data creation means of the present invention.

以下、本発明の実施の形態を、図面に示す実施例を参照して説明する。
図2は本発明の電子回路基板用CAD/CAMシステム100(以下、単にCAD/CAMシステムともいう)の一実施例の全体構成を示すブロック図である。CAD/CAMシステム100は、CPU103と、ROM104、RAM105、入出力インターフェース102等からなるコンピュータ本体112を備え、これに周辺機器として、キーボード106あるいはマウス107等の入力手段、CD−ROMドライブ108あるいはフレキシブルディスクドライブ109等の記録媒体読取手段、ハードディスクドライブ(以下、HDDと記す)110、モニタ制御部111を介して接続されるモニタ113、プリンタ114等が接続されたコンピュータシステムとして、全体が構築されている。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to examples shown in the drawings.
FIG. 2 is a block diagram showing an overall configuration of an embodiment of a CAD / CAM system 100 for electronic circuit boards (hereinafter also simply referred to as a CAD / CAM system) according to the present invention. The CAD / CAM system 100 includes a computer main body 112 including a CPU 103, a ROM 104, a RAM 105, an input / output interface 102, and the like. As peripheral devices, input means such as a keyboard 106 or a mouse 107, a CD-ROM drive 108, or a flexible The whole is constructed as a computer system to which a recording medium reading means such as a disk drive 109, a hard disk drive (hereinafter referred to as HDD) 110, a monitor 113 connected via a monitor control unit 111, a printer 114, etc. are connected. Yes.

なお、CPU103は、作図レイヤ設定手段、CADデータ入力手段、CAMデータ変換手段、及びCAMデータ出力手段等の主体をなすものである。また、キーボード106あるいはマウス107は、CPU103とともにCADデータ入力手段手段の主体をなすものである。さらに入出力インターフェース102は、作図が終了した電子回路基板の設計図面を印刷出力する図面出力手段の他、CAMデータ変換手段がCADデータに基づいて変換・作成したCAMデータを出力するCAMデータ出力手段として機能する。   The CPU 103 is a main component of a drawing layer setting unit, a CAD data input unit, a CAM data conversion unit, and a CAM data output unit. The keyboard 106 or the mouse 107 is the main part of the CAD data input means together with the CPU 103. Further, the input / output interface 102 is a CAM data output means for outputting CAM data converted and created by the CAM data conversion means based on the CAD data, in addition to a drawing output means for printing out the design drawing of the electronic circuit board that has been drawn. Function as.

HDD110には、オペレーティングシステムプログラム(以下、OSという)161及びアプリケーションプログラム(以下、アプリケーションという)162が格納されている。アプリケーション162は、CAD/CAMシステム100の機能を実現するためのコンピュータプログラムであり、OS161上にてアプリケーションワークメモリ152を作業領域とする形で作動するものである。これは、例えばCD−ROM120等にコンピュータ読み取り可能な状態で記憶され、HDD110上の所定の記憶領域にインストールされるものである。また、HDD110には、作成済の図面のデータファイル(CADデータファイル)163と、それに基づいて変換・生成されたCAMデータファイル164、さらに、CADデータをCAMデータに変換する際に使用する、補正テーブル(変換テーブル)などを含んだ補正データファイル165が記憶されている。一方、RAM105には、OS161のワークメモリ151、及びアプリケーションのワークメモリ152がそれぞれ形成される。   The HDD 110 stores an operating system program (hereinafter referred to as OS) 161 and an application program (hereinafter referred to as application) 162. The application 162 is a computer program for realizing the functions of the CAD / CAM system 100, and operates on the OS 161 in the form of using the application work memory 152 as a work area. This is stored in a computer-readable state on, for example, the CD-ROM 120 and installed in a predetermined storage area on the HDD 110. Further, the HDD 110 includes a data file (CAD data file) 163 of a created drawing, a CAM data file 164 converted and generated based on the data file, and a correction used when converting CAD data into CAM data. A correction data file 165 including a table (conversion table) is stored. On the other hand, the RAM 105 is provided with a work memory 151 of the OS 161 and a work memory 152 of an application.

図1は、上記CAD/CAMシステム100の適用対象となる電子回路基板の一例を断面構造にて示している(この電子回路基板1はオーガニック基板として構成されているが、本発明はこれに限定されるものではなく、セラミック基板への適用も可能である)。すなわち、電子回路基板1は、耐熱性樹脂板(例えばビスマレイミド−トリアジン樹脂板)や、繊維強化樹脂板(例えばガラス繊維強化エポキシ樹脂)等で構成された板状のコア材2の両表面に、所定のパターンにコア導体層M1,M11がそれぞれ形成される。これらコア導体層M1,M11はコア材2の表面の大部分を被覆する面導体パターンとして形成され、電源層又は接地層として用いられるものである。他方、コア材2には、ドリル等により穿設されたスルーホール12が形成され、その内壁面にはコア導体層M1,M11を互いに導通させるスルーホール導体30が形成されている。また、スルーホール12は、エポキシ樹脂等の樹脂製穴埋め材31により充填されている。   FIG. 1 shows a cross-sectional structure of an example of an electronic circuit board to which the CAD / CAM system 100 is applied (this electronic circuit board 1 is configured as an organic substrate, but the present invention is not limited thereto). It can also be applied to ceramic substrates). That is, the electronic circuit board 1 is formed on both surfaces of a plate-shaped core material 2 made of a heat-resistant resin plate (for example, a bismaleimide-triazine resin plate) or a fiber reinforced resin plate (for example, a glass fiber reinforced epoxy resin). The core conductor layers M1 and M11 are formed in a predetermined pattern, respectively. These core conductor layers M1 and M11 are formed as surface conductor patterns that cover most of the surface of the core material 2, and are used as a power supply layer or a ground layer. On the other hand, the core material 2 is formed with a through-hole 12 drilled by a drill or the like, and a through-hole conductor 30 is formed on the inner wall surface thereof to make the core conductor layers M1 and M11 conductive. The through hole 12 is filled with a resin filling material 31 such as an epoxy resin.

また、コア導体層M1,M11の上層には、感光性樹脂組成物6にて構成された第一ビア層(絶縁層あるいはビルドアップ層)V1,V11がそれぞれ形成されている。さらに、その表面にはそれぞれ配線部7を有する第一配線導体層M2,M12がCuメッキにより形成されている。なお、コア導体層M1,M11と第一配線導体層M2,M12とは、それぞれビア34により層間接続がなされている。同様に、第一配線導体層M2,M12の上層には、感光性樹脂組成物6を用いた第二ビア層(絶縁層あるいはビルドアップ層)V2,V12がそれぞれ形成されている。その表面にはそれぞれ第二配線導体層M3,M13がCuメッキにより形成されている。これら第一配線導体層M2,M12と第二配線導体層M3,M13とも、それぞれビア34により層間接続がなされている。ビア34は、図7に示すように、ビアホール34hとその内周面に設けられたビア導体34sと、底面側にてビア導体34sと導通するように設けられたビアパッド34pと、ビアパッド34pと反対側にてビア導体34hの開口周縁から外向きに張り出すビアランド34lとを有している。   In addition, first via layers (insulating layers or build-up layers) V1 and V11 made of the photosensitive resin composition 6 are formed on the core conductor layers M1 and M11, respectively. Further, first wiring conductor layers M2 and M12 each having a wiring portion 7 are formed on the surface by Cu plating. The core conductor layers M1 and M11 and the first wiring conductor layers M2 and M12 are interconnected by vias 34, respectively. Similarly, second via layers (insulating layers or build-up layers) V2 and V12 using the photosensitive resin composition 6 are formed on the first wiring conductor layers M2 and M12, respectively. Second wiring conductor layers M3 and M13 are formed on the surfaces by Cu plating, respectively. The first wiring conductor layers M2 and M12 and the second wiring conductor layers M3 and M13 are connected to each other through vias 34, respectively. As shown in FIG. 7, the via 34 is opposite to the via hole 34h, the via conductor 34s provided on the inner peripheral surface thereof, the via pad 34p provided to be electrically connected to the via conductor 34s on the bottom surface side, and the via pad 34p. A via land 34l projecting outward from the peripheral edge of the opening of the via conductor 34h on the side.

次に、図1に戻り、コア材2の第一主表面側の第二ビア層V2上には表面配線導体層M3が形成され、ここに複数の半田ランド10や、その一部と導通する配線部7が設けられている。これら半田ランド10は、無電解Ni−PメッキおよびAuメッキにより基板のほぼ中央部分に正方形状に配列し、各々その上に形成された半田バンプ11とともにチップ搭載部(図4の作図画面40参照)を形成している。なお、半田ランド10が配置される誘電体層6(第二ビア層V2)の表面を、半田バンプ高さの基準として用いるバンプ基準面CPとする。   Next, returning to FIG. 1, a surface wiring conductor layer M <b> 3 is formed on the second via layer V <b> 2 on the first main surface side of the core material 2, and is electrically connected to a plurality of solder lands 10 and a part thereof. A wiring portion 7 is provided. These solder lands 10 are arranged in a square shape at the substantially central portion of the substrate by electroless Ni-P plating and Au plating, and together with the solder bumps 11 formed thereon, refer to the chip mounting portion (see the drawing screen 40 in FIG. 4). ) Is formed. Note that the surface of the dielectric layer 6 (second via layer V2) on which the solder lands 10 are disposed is used as a bump reference plane CP used as a reference for the solder bump height.

他方、コア材2の第二主表面側の第二ビア層V12上には、裏面配線導体層M13が形成されている。裏面配線導体層M13には、ボールグリッドアレー(BGA)やピングリッドアレー(PGA)などの周知の接続形態にて、基板1をマザーボードなどの主基板に接続するための複数のランド17が形成されている。そして、表面配線導体層M3及び裏面配線導体層M13上に、それぞれ、感光性樹脂組成物よりなるソルダーレジスト層8,18(SR1,SR11)が形成されている。表面側のソルダーレジスト層8には、半田ランド10を露出させるために、これら半田ランド10に一対一に対応する形で開口部8aが形成されてなり、その内側に半田ランド10と導通する形で半田バンプ11が配置されている。   On the other hand, a back surface wiring conductor layer M13 is formed on the second via layer V12 on the second main surface side of the core material 2. The back surface wiring conductor layer M13 is formed with a plurality of lands 17 for connecting the substrate 1 to a main substrate such as a motherboard in a known connection form such as a ball grid array (BGA) or a pin grid array (PGA). ing. Solder resist layers 8 and 18 (SR1, SR11) made of a photosensitive resin composition are formed on the front surface wiring conductor layer M3 and the back surface wiring conductor layer M13, respectively. In order to expose the solder lands 10, the solder resist layer 8 on the surface side is formed with openings 8 a corresponding to the solder lands 10 in a one-to-one manner, and is connected to the solder lands 10 inside thereof. Solder bumps 11 are arranged.

一方、表面配線導体層M3には、半田ランド10以外に、ロゴマーク、位置合わせ用マークあるいは方向確認用マーク(即ち、アライメントマーク)等の金属パッド10’も形成されている。この金属パッド10’は、直下のビルドアップ層V2(誘電体層)に形成された中空ビア34’がパッド主表面に開放したパッドオンビアとなっている。パッドオンビアとして構成された該金属パッド10’には、ビアホール34hの内面に倣う、内部を充填しないビア導体34sが一体化されている。そして、該パッドオンビアに対応してソルダーレジスト層8に形成された開口が第一種開口8a’である。なお、本実施形態においては、金属パッド10,10’が、いずれもSMD(Surface-Mounted Device:面実装デバイス)パッドとして形成され、第二種開口8a及び第一種開口8a’が、いずれも金属パッド10,10’の外径よりも小さな内径を有し、ソルダーレジスト層8の開口内周縁部が、金属パッド10,10’の外周縁部と重なるように配置されている。   On the other hand, in addition to the solder lands 10, metal pads 10 ′ such as logo marks, alignment marks, or direction confirmation marks (that is, alignment marks) are formed on the surface wiring conductor layer M <b> 3. The metal pad 10 ′ is a pad-on via in which a hollow via 34 ′ formed in the buildup layer V <b> 2 (dielectric layer) immediately below is open to the pad main surface. The metal pad 10 ′ configured as a pad-on-via is integrated with a via conductor 34 s that fills the inner surface of the via hole 34 h and does not fill the interior. An opening formed in the solder resist layer 8 corresponding to the pad-on via is a first type opening 8a '. In the present embodiment, the metal pads 10 and 10 ′ are both formed as SMD (Surface-Mounted Device) pads, and the second type opening 8a and the first type opening 8a ′ are both. It has an inner diameter smaller than the outer diameter of the metal pads 10, 10 ', and is arranged so that the inner peripheral edge of the opening of the solder resist layer 8 overlaps the outer peripheral edge of the metal pads 10, 10'.

ここで、ソルダーレジスト層8,18は、以下のようにして製造できる。すなわち、感光性樹脂組成物ワニスをフィルム化した感光性樹脂フィルムをラミネート(貼り合わせ)し、開口8a(ソルダーレジスト層の場合)に対応したパターンを有する露光マスク(例えばガラスマスクである)を重ねて露光する。ポジ型の感光性樹脂を用いる場合、開口8aに対応する露光部分は樹脂の硬化が抑制される一方、露光されなかった背景部分は硬化抑制されないまま残留する。そこで、硬化抑制された露光部分を溶剤に溶かしてエッチング除去すれば、所期のパターンにて開口8aを簡単に形成することができる(いわゆるフォトビアプロセス)。なお、ビア層V1,V11,V2,V12はフォトビアプロセスかレーザービーム穿孔にて形成される。   Here, the solder resist layers 8 and 18 can be manufactured as follows. That is, a photosensitive resin film formed from a photosensitive resin composition varnish is laminated (bonded), and an exposure mask (for example, a glass mask) having a pattern corresponding to the opening 8a (in the case of a solder resist layer) is overlaid. To expose. When a positive photosensitive resin is used, curing of the resin is suppressed in the exposed portion corresponding to the opening 8a, while the unexposed background portion remains without being suppressed. Therefore, if the exposed portion where curing is suppressed is dissolved in a solvent and removed by etching, the opening 8a can be easily formed with a desired pattern (so-called photovia process). The via layers V1, V11, V2, and V12 are formed by a photo via process or laser beam drilling.

ポジ型の感光性樹脂を用いてソルダーレジスト層を形成する場合、図14に示すように、未硬化の感光性樹脂フィルム8’上に露光マスク62を重ねて露光すると、感光性樹脂フィルム8’は、透光部分となっている開口用マスクパターン62aの直下部分が感光し、硬化が抑制される。従って、室温ないしは適当に昇温された硬化温度で未感光部分8’cの硬化を行なった後、感光部分8’aを溶剤等でエッチングすれば、開口8aの形成されたソルダーレジスト層8が得られる。   When forming a solder resist layer using a positive photosensitive resin, as shown in FIG. 14, when an exposure mask 62 is superimposed on an uncured photosensitive resin film 8 ′ and exposed, the photosensitive resin film 8 ′. In this case, the portion immediately below the opening mask pattern 62a, which is a translucent portion, is exposed to light, and curing is suppressed. Therefore, after the unexposed portion 8'c is cured at room temperature or at an appropriately elevated curing temperature, the exposed portion 8'a is etched with a solvent or the like, so that the solder resist layer 8 having the openings 8a is formed. can get.

以下、CAD/CAMシステム100の作動について詳細に説明する。
図2のアプリケーションプログラム162を起動させると、モニタ113(図2)には、図4に示すように、作図画面40が表示される。本実施例のアプリケーションプログラム162は、公知のCADシステムと同様にドロー系グラフィックソフトウェアとして構築されており、作図画面40上にて、マウス107の操作により、電子回路基板1の基板要素(以下、エレメントともいう)の図形を、CADデータとして個別に入力しながら作図作業を進めるものである。本実施例では、新規図面の作図画面40を立ち上げると、別途HDD110等に記憶された表示データに基づき、該作図画面40内には、設計・作図すべき基板の主面外形線に対応した四辺形状の基準領域51と、デフォルトエレメント図形として、基板表面に標準的に形成される基板要素(本実施形態では、パッド53,55)の図形が表示されるようになっている。この場合、デフォルトエレメントデータを品番と対応付けて記憶するデフォルトエレメントデータ記憶部を例えばHDD110に設けておき、品番をキーボード106(あるいはマウス107による画面上のソフトボタンクリック)により入力することで、対応するデフォルトエレメントデータを読み出し、これを作図画面に表示するようにしておけば、標準的に形成される基板要素上に配線部54等の図形を直ちに作図・入力できるので便利である。
Hereinafter, the operation of the CAD / CAM system 100 will be described in detail.
When the application program 162 of FIG. 2 is activated, a drawing screen 40 is displayed on the monitor 113 (FIG. 2) as shown in FIG. The application program 162 according to the present embodiment is constructed as draw graphic software as in the known CAD system, and is operated on the drawing screen 40 by operating the mouse 107 (hereinafter referred to as the element of the electronic circuit board 1). The drawing operation is advanced while individually inputting the graphic of FIG. In this embodiment, when the drawing screen 40 for a new drawing is launched, the drawing screen 40 corresponds to the main surface outline of the board to be designed / drawn based on the display data separately stored in the HDD 110 or the like. A quadrilateral reference region 51 and a graphic of a substrate element (in this embodiment, pads 53 and 55) that are normally formed on the substrate surface are displayed as default element graphics. In this case, a default element data storage unit for storing the default element data in association with the product number is provided in the HDD 110, for example, and the product number is input by the keyboard 106 (or a soft button click on the screen by the mouse 107). If the default element data to be read is read out and displayed on the drawing screen, it is convenient because a figure such as the wiring portion 54 can be drawn and input immediately on a standardly formed board element.

ここで、設計の対象となる基板は、複数の配線層が絶縁層を介して積層されるパッケージ基板等である。そして、形成すべき配線層に対応する複数の作図レイヤが作図画面40に対して設定される。これら作図レイヤ(以下、単にレイヤともいう)は、図4においては重なっているため視覚的には判別できない。また、各レイヤに書き込まれた図形は作図画面40上では重ね表示されるが、特定のレイヤ上の図形のみを表示させたり、あるいは色彩、明るさ、濃淡、塗りつぶしパターンの変更等により、他のレイヤ上の図形とは表示状態を異ならせることが可能である。   Here, the substrate to be designed is a package substrate or the like in which a plurality of wiring layers are stacked via an insulating layer. Then, a plurality of drawing layers corresponding to the wiring layer to be formed are set on the drawing screen 40. These drawing layers (hereinafter also simply referred to as layers) cannot be visually discriminated because they overlap in FIG. In addition, the figure written in each layer is overlaid on the drawing screen 40, but other figures can be displayed by displaying only the figure on a specific layer or changing the color, brightness, shading, fill pattern, etc. The display state can be different from the figure on the layer.

図16は、作図処理の流れを示すフローチャートである。まずS1では、エレメントを書き込みたいレイヤを選択する。このレイヤ選択は、例えばマウス107(図2)により、画面上に表示されたレイヤ選択のためのソフトボタン(図示せず)をクリックすることで行なうことができる。そして、図形として入力できるのは上記したエレメントと、異レイヤ間のエレメント同士を接続するためのビアの図形であり、S2及びS8では、そのどちらを選択するかがコマンド入力により決定される。このコマンド入力も、エレメント入力あるいはビア入力を選択するソフトボタン(図示せず)のマウスクリックにより行なうことができる。   FIG. 16 is a flowchart showing the flow of the drawing process. First, in S1, a layer to which an element is to be written is selected. This layer selection can be performed, for example, by clicking a soft button (not shown) for layer selection displayed on the screen with the mouse 107 (FIG. 2). The graphic elements that can be input are the above-described elements and via graphic elements for connecting elements between different layers. In S2 and S8, which one is selected is determined by command input. This command input can also be performed by a mouse click of a soft button (not shown) for selecting element input or via input.

エレメント入力が選択されたらS2からS3に進み、エレメント描画を行なう。エレメントの描画に際しては、公知のCADシステムソフトウェアと同様に、配線描画、パッドやランドあるいは面導体パターンの描画など、描きたいエレメントの種別毎に描画ツールが用意されている。描画ツールも、画面上にソフトボタンとして形成された描画ツール選択ボタン(図示せず)のマウスクリックにより選択できる。そして、所望の描画ツールを選択したら、図4に示すように、作図位置を示すポインタPをマウス操作により移動させつつ、マウスクリックあるいはドラッグ(マウスボタンを押したままマウスを移動させること)等の操作を組み合せながらエレメントを描いてゆく。図4では、各パッド53と55とをつなぐ配線部54の図形をエレメントとして描き終わった状態を示している。   If element input is selected, the process proceeds from S2 to S3, and element drawing is performed. When drawing an element, a drawing tool is prepared for each type of element to be drawn, such as wiring drawing, pad, land, or surface conductor pattern drawing, as in known CAD system software. A drawing tool can also be selected by a mouse click of a drawing tool selection button (not shown) formed as a soft button on the screen. Then, when a desired drawing tool is selected, as shown in FIG. 4, a mouse click or drag (move the mouse while holding down the mouse button) while moving the pointer P indicating the drawing position by operating the mouse. Draw elements while combining operations. FIG. 4 shows a state in which the figure of the wiring portion 54 that connects the pads 53 and 55 has been drawn as an element.

図6に示すように、エレメントは1つ描き終わる毎に、その図形データであるエレメント記述データが、エレメント特定データ(例えばエレメントコード)及びレイヤ特定データ(例えばレイヤ番号)と対応付けた形で、図2の図面データメモリ152gに記憶されてゆく。エレメント記述データは、例えば図5に示すように、エレメントOB11,OB12,OB13,OB14等の形状、大きさ及び描画位置を、画面40(図4)上に設定される座標平面上で規定するためのベクトルデータ、関数式データあるいは特定の基準点の座標及び半径や長さ等の寸法規定データの組として表される。例えば、エレメントOB11は、外径輪郭(外形線)の特定により、当該外形線の内側の面領域を規定する面データとして記述され、基準点A11(x0,y0)を起点として所定の向き(例えば右回り)に周回しながら、A11(x1,y1)、A11(x2,y2)、A11(x3,y3)、A11(x0,y0)の順でベクトルを連ねることによりエレメントの外形輪郭を描いた場合の、各ベクトルの終点位置の座標のデータ組として表わされている。エレメントOB12も同じである。また、パッドやランド等を表す円形のエレメントOB13は、その中心座標C13と半径r13とのデータ組として表わされている。さらに、例えば幅Wが一定した配線部の図形であるエレメントOB14などは、その起点位置B14(x0,y0)及び終点位置B14(x1,y1)の座標と線幅W14のデータ組として表わすことができる。なお、図5では、4つのエレメントOB11,OB12,OB13,OB14が全て同じレイヤ(M1)に描かれている。   As shown in FIG. 6, every time one element is drawn, the element description data, which is graphic data, is associated with the element specifying data (for example, element code) and the layer specifying data (for example, layer number), It is stored in the drawing data memory 152g of FIG. For example, as shown in FIG. 5, the element description data defines the shape, size, and drawing position of the elements OB11, OB12, OB13, OB14, etc. on a coordinate plane set on the screen 40 (FIG. 4). Vector data, function data, or coordinates of specific reference points, and dimension defining data such as radius and length. For example, the element OB11 is described as surface data defining a surface area inside the outline by specifying the outer diameter contour (outline), and has a predetermined orientation (for example, the reference point A11 (x0, y0)) The outline of the element is drawn by connecting the vectors in the order of A11 (x1, y1), A11 (x2, y2), A11 (x3, y3), and A11 (x0, y0) while rotating clockwise. In this case, it is represented as a data set of coordinates of the end point position of each vector. The same applies to the element OB12. A circular element OB13 representing a pad, land, or the like is represented as a data set of its center coordinates C13 and radius r13. Further, for example, an element OB14 which is a figure of the wiring portion having a constant width W can be expressed as a data set of the coordinates of the starting position B14 (x0, y0) and the end position B14 (x1, y1) and the line width W14. it can. In FIG. 5, the four elements OB11, OB12, OB13, and OB14 are all drawn on the same layer (M1).

一方、図16においてビア入力が選択された場合には、S9に進んでビア入力処理となる。図7に示すように、ビア34は、異配線層の配線部M1,M2同士を接続するものであるが、本実施例ではそのビア34の図形の入力は、ビア層単位で行なわれ、複数のビア層にまたがるビアは、複数のビアが重ねられたスタックドビアの形で入力される。従って、ビアを入力すべきビア層を指定することにより、単位となるビアを一つ入力することができる。なお、3つ以上のビア層が設けられ、3つ以上のビア層にまたがるビアを入力する場合は、ビア開始層とビア終了層とを指定することにより、中間層のビアを自動発生させるようにしてもよい。そして、このビア図形(これも基板要素の一つである)のデータは、図8に示すように、ビア位置データと、ビア層に対応したレイヤの特定情報(ビア形成レイヤVLY##)との組として、ビア特定データ(例えばビアコード)と対応付けた形で図面データメモリ152gに記憶される。   On the other hand, when the via input is selected in FIG. 16, the process proceeds to S9 and the via input process is performed. As shown in FIG. 7, the via 34 connects the wiring portions M1 and M2 of different wiring layers. In this embodiment, the graphic of the via 34 is input in units of via layers. Vias that span the via layer are input in the form of stacked vias in which a plurality of vias are stacked. Therefore, by designating a via layer to which a via is to be input, one unit via can be input. When three or more via layers are provided and a via that spans three or more via layers is input, an intermediate layer via is automatically generated by specifying a via start layer and a via end layer. It may be. The via graphic data (which is also one of the board elements) includes, as shown in FIG. 8, via position data and layer specific information (via formation layer VLY ##) corresponding to the via layer. Are stored in the drawing data memory 152g in association with via specifying data (for example, via code).

図16に戻り、エレメントの描画を行った場合はS4に進み、図9に示すように、同一レイヤ内にその入力したエレメントOB12に部分的に重なる(すなわち、接続されている)入力済のエレメントOB11が存在するか否かを判定する。NoであればさらにS5に進み、図11に示すように、エレメントOB12がビアVA11を介した異レイヤ間接続により別のエレメントOB31に接続していないかどうかを判定する。これもNoであればS6に進み、そのエレメントOB12を配線ネット図形として、例えばエレメント特定情報のみを、図面データメモリ152g内の配線ネットデータ登録メモリ152i(図3)に、ネット特定情報(例えばネット番号)を付与して新ネットデータとして書き込み、これを登録する。   Returning to FIG. 16, when the element is drawn, the process proceeds to S4, and as shown in FIG. 9, the input element that partially overlaps (that is, is connected) with the input element OB12 in the same layer. It is determined whether or not OB11 exists. If No, the process further proceeds to S5, and as shown in FIG. 11, it is determined whether or not the element OB12 is not connected to another element OB31 by inter-layer connection through the via VA11. If this is also No, the process proceeds to S6, where the element OB12 is set as a wiring net figure, for example, only the element specifying information is stored in the wiring net data registration memory 152i (FIG. 3) in the drawing data memory 152g. Number) and write it as new net data and register it.

また、図16のS4(図9参照)あるいはS5(図11参照)においてYesの場合はともにS7へ進み、そのエレメントを接続先となるエレメントが属する登録済の配線ネット図形に組み込む処理、すなわち新たに描いたエレメントのエレメント特定データを、配線ネットデータ登録メモリ152i内の対応するネットデータに付加する処理を行なう(S4→S7)。また、ビアによる接続の場合は、そのビア特定データもネット特定情報に付加する(S5→S7)。こうして、図3に示すように、配線ネットデータ登録メモリ152i内には、各ネット特定情報net1,net2,・・と、その配線ネットに属するエレメントの特定データOB11,OB12,・・あるいはビアの特定データVA11,VA12,・・とが互いに対応付けられたネットデータが記憶されてゆくこととなる。   Also, in the case of Yes in S4 (see FIG. 9) or S5 (see FIG. 11) in FIG. 16, the process proceeds to S7, in which the element is incorporated into the registered wiring net figure to which the element to be connected belongs, ie, a new The process of adding the element specifying data of the element drawn in (5) to the corresponding net data in the wiring net data registration memory 152i is performed (S4 → S7). In the case of connection by via, the via specifying data is also added to the net specifying information (S5 → S7). Thus, as shown in FIG. 3, in the wiring net data registration memory 152i, each net specifying information net1, net2,... And element specifying data OB11, OB12,. Net data in which the data VA11, VA12,... Are associated with each other is stored.

他方、図10に示すように、異レイヤ間で重なるエレメントが発生した場合は、それらエレメント特定データの重なり先のネットデータへの付加は行われない。しかしながら、図16のS10において、新たに入力されたビア図形により互いに接続される配線ネット図形が発生した場合はS11に進み、それらの配線ネット図形のネットデータ同士を統合(マージ)して、それを1つの配線ネット図形のネットデータとして再登録する処理が行われる。この場合、ネット特定情報は、統合前の配線ネット図形の一方に対応するものを残し、他方を削除してこれを欠番として扱うようにしてもよいし、両方のネット特定情報を消して新たなネット特定情報を付与するようにしてもよい。   On the other hand, as shown in FIG. 10, when elements overlapping between different layers occur, the element specifying data is not added to the net data of the overlapping destination. However, in S10 of FIG. 16, if a wiring net figure connected to each other by a newly input via graphic is generated, the process proceeds to S11, and the net data of those wiring net figures are merged. Is re-registered as net data of one wiring net figure. In this case, the net specific information may be left as one corresponding to one of the wiring net figures before integration, and the other may be deleted and treated as a missing number. You may make it provide net specific information.

上記のようなエレメントやビアの入力の作図入力を繰り返した後、作図作業を終了する場合は、S12からS13へ進み、図面データメモリ152g内に蓄積されている図形のデータ、すなわち図面データを、配線ネットデータ登録メモリ152i内のネットデータとともにファイル名を付与して、HDD110(図2)の図面データファイル163に書き込み、保存する。   When the drawing operation is to be ended after repeating the drawing input of the elements and vias as described above, the process proceeds from S12 to S13, and the graphic data stored in the drawing data memory 152g, that is, the drawing data, A file name is given together with the net data in the wiring net data registration memory 152i, and it is written and saved in the drawing data file 163 of the HDD 110 (FIG. 2).

次に、図12に示すように、各作図レイヤLY1,LY2‥には、各々これに対応する形で補正レイヤLX1,LX2‥が設定され、補正エリア参照テーブル72の形で記憶されている。各補正レイヤには、エリア外形線を特定する補正エリア特定データが入力されている。補正エリアは、補正レイヤLX1上にて補正エリアを面データとして記述するものであり、補正エリアID(B11,B12,‥)と、エリア種別特定データ(J11,J12,‥)とが付与されている。図13に示すように、作図レイヤ上の各エレメント(ビア含む)には、対応する補正レイヤのどの補正エリアに属するかが、例えば補正エリアIDを介して、データ上にて対応付けられている。そして、図15に示すように、各エレメントのCADデータをCAMデータ化するに際しての補正情報の内容が、補正エリアの種別毎に定められている。   Next, as shown in FIG. 12, correction layers LX1, LX2,... Are set in correspondence with the drawing layers LY1, LY2, and stored in the form of a correction area reference table 72, respectively. In each correction layer, correction area specifying data for specifying an area outline is input. The correction area describes the correction area as surface data on the correction layer LX1, and is provided with a correction area ID (B11, B12,...) And area type specifying data (J11, J12,...). Yes. As shown in FIG. 13, to each element (including via) on the drawing layer, which correction area of the corresponding correction layer belongs is associated on the data via, for example, a correction area ID. . As shown in FIG. 15, the content of the correction information for converting the CAD data of each element into CAM data is determined for each type of correction area.

上記のようにして作成された、各エレメント(作図対象要素)のCADデータは、CAMデータに変換される。CAMデータは、エレメント又は該エレメントと関連付けた形で電子回路基板1に形成される付加要素(例えばエレメントをなす半田ランド上に形成される半田バンプ)からなる製造対象要素の、製造途上での寸法、形状及び配置位置、あるいは製造対象要素を製造するための治具(例えば、ビアパターンや配線パターンを露光するためのマスクや、半田バンプ形成に使用する半田ペースト塗布用マスクなど)の、該製造対象要素に対応した部分の寸法、形状及び配置位置を特定する図形データである。   The CAD data of each element (drawing target element) created as described above is converted into CAM data. The CAM data is a dimension of a manufacturing target element including an element or an additional element (for example, a solder bump formed on a solder land constituting the element) formed on the electronic circuit board 1 in a form associated with the element. Manufacturing of jigs (eg, masks for exposing via patterns and wiring patterns, solder paste coating masks used for forming solder bumps, etc.) for manufacturing the elements to be manufactured, shapes and arrangement positions This is graphic data for specifying the size, shape, and arrangement position of the part corresponding to the target element.

図17は、CADデータをCAMデータに変換する処理の一例を示すフローチャートである。S51においては、ペースト塗布マスクのCAMデータ、具体的には、ペースト塗布マスクに形成する半田ペースト充填用の開口部の寸法及び配置位置を記述するデータを作成する。半田バンプ自体の図形データは上記の作図処理において作成されず、従って半田バンプが属するレイヤや、半田バンプを直接記述するCADデータは存在しない。従って、半田バンプと関連付けられたエレメントのデータ、すなわち表面側配線導体層M3のレイヤ上で作成された半田ランドのCADデータか、ソルダーレジスト層8のレイヤ上で作成された半田用開口8aのCADデータを用いて、半田ペースト充填用の開口部のCAMデータが作成されることになる。   FIG. 17 is a flowchart illustrating an example of processing for converting CAD data into CAM data. In S51, the CAM data of the paste application mask, specifically, the data describing the size and arrangement position of the opening for filling the solder paste formed in the paste application mask is created. The graphic data of the solder bump itself is not created in the above drawing process, and therefore there is no layer to which the solder bump belongs or CAD data that directly describes the solder bump. Therefore, the data of the element associated with the solder bump, that is, the CAD data of the solder land created on the surface-side wiring conductor layer M3 layer, or the CAD of the solder opening 8a created on the solder resist layer 8 layer. Using the data, CAM data of the opening for filling the solder paste is created.

S52以降は、CADデータファイルのレイヤ毎の変換処理となる。図17の処理においては、図1の各レイヤのエレメントCADデータを、順次自動的にCAMデータ変換する処理になっているが、工程別に、必要なエレメントのCADデータのみを選択して、CAMデータ変換するようにしてもよい。以下、ステップ毎に説明する。まず、S52で最初のレイヤを選択し、そのレイヤがソルダーレジスト層ならば(S53;Yes)、S59に進んでソルダーレジスト層用のCAMデータを作成する。具体的には、半田充填用の開口部(図1:符号8a)の設計上の寸法(あるいは形状)及び形成位置を表す図形データを、感光性樹脂組成物フィルムに該開口部のパターンを転写するための、露光マスク上の対応部分(ネガ型組成物の場合は遮光部、ポジ型組成物の場合は露光部)の寸法(あるいは形状)及び形成位置を表す図形データに変換する。   After S52, conversion processing for each layer of the CAD data file is performed. In the process of FIG. 17, the element CAD data of each layer of FIG. 1 is automatically and sequentially converted to CAM data. However, only the CAD data of the necessary elements is selected for each process, and the CAM data is selected. You may make it convert. Hereinafter, each step will be described. First, in S52, the first layer is selected. If the layer is a solder resist layer (S53; Yes), the process proceeds to S59 to create CAM data for the solder resist layer. Specifically, graphic data representing the design size (or shape) and formation position of the opening for solder filling (FIG. 1: reference numeral 8a) and the pattern of the opening are transferred to the photosensitive resin composition film. Therefore, the data is converted into graphic data representing dimensions (or shapes) and formation positions of corresponding portions on the exposure mask (a light-shielding portion in the case of a negative composition, and an exposure portion in the case of a positive composition).

また、選択したレイヤが導体層である場合(S54;Yes)はS58に進み、導体層用のCAMデータを作成する。具体的には、配線部、パッド、ランドあるいは面導体パターンの、設計上の寸法(あるいは形状)及び形成位置を表す図形データを、メッキ用レジスト層を配線部や面導体パターンに合わせてパターニングするための、フォトリソグラフィー用露光マスク上の対応部分(ネガ型フォトレジストを用いるの場合は遮光部、ポジ型フォトレジストを用いる場合は露光部)の寸法(あるいは形状)及び形成位置を表す図形データに変換する。さらに、選択したレイヤがビア層である場合(S55;Yes)はS56に進み、ビア層用のCAMデータを作成する。具体的には、形成すべきビアの設計上の寸法(あるいは形状)及び形成位置を表す図形データを、フォトリソグラフィー用露光マスク上の対応部分(ビルドアップ層を、ネガ型感光性樹脂組成物フィルムを用いて形成する場合はマスク上の遮光部、ポジ型感光性樹脂組成物フィルムを用いて形成する場合はマスク上の露光部)の寸法(あるいは形状)及び形成位置を表す図形データに変換する。なお、ビア穿孔をフォトビアプロセスではなく、レーザービーム穿孔により行なうこともできるが、この場合は、形成すべきビアの設計上の寸法(あるいは形状)及び形成位置を表す図形データに基づき、レーザービーム強度やビーム径、あるいはフォーカス深度などのレーザービーム特定情報と、レーザービームの照射位置情報とを含むCAMデータに変換すればよい。   If the selected layer is a conductor layer (S54; Yes), the process proceeds to S58 to create CAM data for the conductor layer. Specifically, graphic data representing the design dimensions (or shape) and formation position of the wiring portion, pad, land, or surface conductor pattern is patterned by matching the plating resist layer with the wiring portion or surface conductor pattern. Therefore, figure data representing dimensions (or shapes) and formation positions of corresponding portions on an exposure mask for photolithography (a light shielding portion when using a negative photoresist, an exposure portion when using a positive photoresist) Convert. Further, if the selected layer is a via layer (S55; Yes), the process proceeds to S56, and CAM data for the via layer is created. Specifically, the graphic data representing the design dimension (or shape) and formation position of the via to be formed, the corresponding part on the exposure mask for photolithography (the build-up layer, the negative photosensitive resin composition film) Is converted to graphic data representing the size (or shape) and formation position of the light-shielding portion on the mask when formed using, and the exposed portion on the mask when formed using a positive photosensitive resin composition film. . Note that via drilling can be performed by laser beam drilling instead of the photo via process. In this case, the laser beam is based on the design dimensions (or shape) of the via to be formed and the graphic data representing the formation position. What is necessary is just to convert into laser beam specific information, such as intensity | strength, a beam diameter, or a focus depth, and the CAM data containing the irradiation position information of a laser beam.

なお、レイヤが上記のいずれでもなかった場合は、CADデータが不存在のレイヤとしてスキップする。上記の処理を、S60、S61→S53の流れでレイヤを次々と変えながら実行し、全てのレイヤについてCAMデータ変換処理が完了すれば処理を終了する。なお、各エレメントのCADデータを上記のCAMデータに変換する際に使用する変換テーブルは、図2の補正データファイル165に記憶されているものを使用する。   If the layer is not any of the above, the layer is skipped as a layer in which CAD data does not exist. The above processing is executed while changing layers one after another in the flow of S60, S61 → S53, and the processing ends when the CAM data conversion processing is completed for all layers. Note that the conversion table used when converting the CAD data of each element into the CAM data is the one stored in the correction data file 165 of FIG.

次に、図18は、アライメントマーク用CAMデータ作成処理の詳細を示すフローチャートである。これは、図17のCAMデータ作成処理の、ソルダーレジスト層CAMデータ作成処理(S59)内で実行される。この場合のCAMデータは露光用マスクの開口用マスクパターンであり、本実施形態では、ソルダーレジスト層8に形成されるアライメントマークをCADデータとして、該CADデータから変換して作成される。   FIG. 18 is a flowchart showing details of the alignment mark CAM data creation processing. This is executed in the solder resist layer CAM data creation process (S59) of the CAM data creation process of FIG. The CAM data in this case is an opening mask pattern of an exposure mask. In this embodiment, the CAM data is created by converting an alignment mark formed on the solder resist layer 8 as CAD data from the CAD data.

先ず、ライブラリデータの有無を調べ、ライブラリデータがない場合(S101;No)は処理を終了する。ライブラリデータがある場合(S101;Yes)はライブラリデータを読み出し(S102)、該ライブラリデータがアライメントマークかどうかを調べる。アライメントマークでない場合(S103;No)は、S101に戻り次のライブラリデータの有無を調べる。   First, the presence or absence of library data is checked. If there is no library data (S101; No), the process is terminated. If there is library data (S101; Yes), the library data is read (S102), and it is checked whether the library data is an alignment mark. If it is not an alignment mark (S103; No), the process returns to S101 to check for the presence of the next library data.

読み出したライブラリデータがアライメントマークである場合(S103;Yes)は、その図形について各辺について補正を行なうための該辺上の座標値を求める。例えば、アライメントマークが図20(a)の破線で示される三角形の場合、まず辺ABについての補正値を求めるために、辺AB上の点Xの座標値をセットする(S104)。点Xは、例えば辺ABを10等分したときの座標値で、最初の点の座標値は頂点Aの座標値となる。辺AB上の点Xの選定の方法や数については特に制約はない。   If the read library data is an alignment mark (S103; Yes), a coordinate value on the side for correcting each side of the figure is obtained. For example, when the alignment mark is a triangle indicated by a broken line in FIG. 20A, first, in order to obtain a correction value for the side AB, the coordinate value of the point X on the side AB is set (S104). The point X is a coordinate value when, for example, the side AB is equally divided into ten, and the coordinate value of the first point is the coordinate value of the vertex A. There are no particular restrictions on the method and number of points X selected on the side AB.

点Xについて、起点(図20(a)では頂点A)との長さを求め、求めた長さと辺(図20(a)では辺AB)との長さの比率を計算する(S105)。この比率を基に補正係数を得る。なお、アライメントマーク形状から、これを開口用マスクパターンに変換するための補正係数(変換係数)γは、図22(a)に示す補正テーブル75の形で、前述の補正データファイル165に記憶されている。補正テーブル75は、図22(b)〜図22(d)のように、図形の形状、即ち、各辺の両端の頂点の形態に対応した補正曲線を持つものが用意されていて、図形の形状に応じて選択するようになっている。この場合は図22(b)の補正曲線を持つ補正テーブルを選択する(S106)。   For point X, the length from the starting point (vertex A in FIG. 20A) is obtained, and the ratio of the obtained length to the side (side AB in FIG. 20A) is calculated (S105). A correction coefficient is obtained based on this ratio. A correction coefficient (conversion coefficient) γ for converting the alignment mark shape into an opening mask pattern is stored in the correction data file 165 in the form of the correction table 75 shown in FIG. ing. As shown in FIGS. 22B to 22D, the correction table 75 has a correction curve corresponding to the shape of the figure, that is, the form of the vertices at both ends of each side. The selection is made according to the shape. In this case, a correction table having the correction curve shown in FIG. 22B is selected (S106).

選択した補正テーブルから算出した補正係数γから補正値ζを算出する(S107)。補正値ζは、例えば、
ζ=γ×(線分AXの長さ/辺ABの長さ)+c
で表わすことができる。なお、cは定数である。この補正では、線分(辺AB)の両端(頂点)の補正値が最小となり、頂点から遠ざかるにつれて補正を大きくするようになっている。補正値が最大になる点は三角形の形状によって異なる。
A correction value ζ is calculated from the correction coefficient γ calculated from the selected correction table (S107). The correction value ζ is, for example,
ζ = γ × (length of line segment AX / length of side AB) + c
It can be expressed as Note that c is a constant. In this correction, the correction values at both ends (vertices) of the line segment (side AB) are minimized, and the correction is increased as the distance from the vertex increases. The point where the correction value becomes maximum differs depending on the shape of the triangle.

補正値ζを算出したら、補正値ζの分だけ内側(開口部側)にオフセットする。即ち、図20(a)点のXを例にとると、辺ABに対して垂直方向に三角形ABCの内側へ移動し、移動後の点を記憶する(S108)。   When the correction value ζ is calculated, it is offset inward (opening side) by the correction value ζ. That is, taking point X in FIG. 20A as an example, the point moves to the inside of the triangle ABC in a direction perpendicular to the side AB, and the moved point is stored (S108).

この後、点Xに次の点の座標値をセットする(S109)。セットした座標値が終点(頂点B)ではない場合(S110;No)、S104に戻り補正値算出処理を行なう(S105〜S109)。セットした座標値が終点(頂点B)の場合(S110;Yes)、S108で求めた辺AB上の各点についての移動後の座標値を基に周知の最小二乗法等による曲線近似を行ない、求めた曲線ABの座標値データをCAMデータとして保存する(S111)。このあと、次の辺(即ち、辺BC)についての補正を行ない(S112;No)。全ての辺について補正処理を行なったら(S112;Yes)、S101に戻り次のライブラリデータの有無を調べる。   Thereafter, the coordinate value of the next point is set to the point X (S109). When the set coordinate value is not the end point (vertex B) (S110; No), the process returns to S104 and the correction value calculation process is performed (S105 to S109). When the set coordinate value is the end point (vertex B) (S110; Yes), curve approximation by a known least square method or the like is performed based on the coordinate value after movement for each point on the side AB obtained in S108, The obtained coordinate value data of the curve AB is stored as CAM data (S111). Thereafter, correction for the next side (ie, side BC) is performed (S112; No). When correction processing has been performed for all sides (S112; Yes), the process returns to S101 to check for the presence of the next library data.

図21(a)の破線部のような十字形のアライメントマークを作成する場合は、開口部に向かって凸の形状をとる頂点B,E,H,Kにおいては、エッチング液に曝される時間が他の頂点あるいは線分よりも長いと推定される。よって、該十字形の他の部分よりもエッチング代を大きく取る必要がある。よって、頂点B,E,H,Kを含む線分(辺)については、図20のような三角形の場合とは異なる補正を行なう必要がある。つまり、辺CD,FG,IJ,LAは図22(b)の補正曲線を持つ補正テーブルを用い、辺AB,DE,GH,JKは図22(c)の補正曲線を持つ補正テーブルを用い、辺BC,EF,HI,KLは図22(d)の補正曲線を持つ補正テーブルを用いて補正を行なう。   When creating a cross-shaped alignment mark as shown by the broken line in FIG. 21A, the vertices B, E, H, and K that are convex toward the opening are exposed to the etching solution. Is longer than other vertices or line segments. Therefore, it is necessary to take a larger etching allowance than other portions of the cross shape. Therefore, the line segment (side) including the vertices B, E, H, and K needs to be corrected differently from the case of the triangle as shown in FIG. That is, the sides CD, FG, IJ, LA use the correction table having the correction curve shown in FIG. 22B, and the sides AB, DE, GH, JK use the correction table having the correction curve shown in FIG. The sides BC, EF, HI, and KL are corrected using the correction table having the correction curve shown in FIG.

これらの補正テーブルの選択は、図18のフローチャートのS106において実施する。多角形の辺における両端の頂点の角度の形状は以下の3つに分類される。
(1)両端の頂点の角度が180度より小さい。
(2)始点の頂点の角度が180度より小さく、終点の頂点の角度が180度より大きい。
(3)始点の頂点の角度が180度より大きく、終点の頂点の角度が180度より小さい。
上記(1)に対応する補正曲線が図22(b)、上記(2)に対応する補正曲線が図22(c)、上記(3)に対応する補正曲線が図22(d)である。S105では、各辺の両端の頂点の角度の形状を調べ、その形状に対応する補正曲線をもつ補正テーブルを選択する。
Selection of these correction tables is performed in S106 of the flowchart of FIG. The shapes of the angles of the vertices at both ends of the sides of the polygon are classified into the following three types.
(1) The angles of the vertices at both ends are smaller than 180 degrees.
(2) The angle of the vertex at the start point is smaller than 180 degrees, and the angle of the vertex at the end point is larger than 180 degrees.
(3) The angle of the vertex at the start point is larger than 180 degrees, and the angle of the vertex at the end point is smaller than 180 degrees.
The correction curve corresponding to the above (1) is FIG. 22B, the correction curve corresponding to the above (2) is FIG. 22C, and the correction curve corresponding to the above (3) is FIG. 22D. In S105, the shape of the angle of the vertexes at both ends of each side is checked, and a correction table having a correction curve corresponding to the shape is selected.

また、上記(2)の状態と上記(3)の状態が連続するような場合、図21(c)の斜線部のように補正の空白域が生じてしまう。この場合、上記(2)の補正テーブル(図22(c))を使用中かつ補正点が線分(辺AB)の終点(頂点B)である場合(図18;S111)には、終点(頂点B)を中心とし半径が終点(頂点B)の補正値ζである円弧を、終点(頂点B)を通り次の線分(辺BC)に垂直な線と交わる位置まで描き、その円弧をエッチング代とする。   Further, when the state (2) and the state (3) are continuous, a correction blank area is generated as shown by the hatched portion in FIG. In this case, when the correction table (2) (FIG. 22C) is used and the correction point is the end point (vertex B) of the line segment (side AB) (FIG. 18; S111), the end point ( Draw an arc whose center is vertex B) and whose radius is the correction value ζ of the end point (vertex B) to the position where it passes through the end point (vertex B) and intersects with the line perpendicular to the next line segment (side BC). Etching allowance.

以上のようにして作成されたCAMデータは、必要に応じて図2の入出力インターフェース102から出力され、電子回路基板1の製造に供される。例えば、ペースト塗布マスクの開口部内径は、ペースト塗布マスクの作成時に、マスク作成用の加工装置(例えば、レーザー穿孔装置)に出力される。加工装置側では、このCAMデータが示す開口部の内径と形成位置のデータに従い、金属板等の素材に開口部を順次穿孔して、ペースト塗布マスクが作成される。また、ソルダーレジスト層のフォトリソグラフィー用露光マスクの開口用マスクパターン外径は、該露光マスクの作成装置(例えば写真製版装置)に出力される。装置側では、このCAMデータが示す開口用マスクパターン外径と形成位置のデータに従い、露光マスクが作成される。   The CAM data created as described above is output from the input / output interface 102 of FIG. 2 as necessary, and is used for manufacturing the electronic circuit board 1. For example, the inner diameter of the opening of the paste application mask is output to a mask making apparatus (for example, a laser drilling apparatus) when the paste application mask is made. On the processing apparatus side, in accordance with the data of the inner diameter and the forming position of the opening indicated by the CAM data, the opening is sequentially drilled in a material such as a metal plate to create a paste coating mask. In addition, the outer diameter of the opening mask pattern of the photolithography exposure mask of the solder resist layer is output to a device for producing the exposure mask (for example, a photoengraving device). On the apparatus side, an exposure mask is created in accordance with the data of the opening mask pattern outer diameter and the formation position indicated by the CAM data.

図20(a)の例では、実線図のような露光マスクが作成され、フォトリソグラフィー工程で行なう前記露光マスクのエッチングによって、図20(b)の実線部のような三角形ABCをなすアライメントマークが形成される。また、図21(a)の例では、実線図のような形状の露光マスクが作成され、フォトリソグラフィー工程で行なう前記露光マスクのエッチングによって、図21(b)の実線部のような十字形をなす所望の形状のアライメントマークが形成される。   In the example of FIG. 20A, an exposure mask as shown by a solid line diagram is created, and an alignment mark forming a triangle ABC as shown by a solid line part in FIG. 20B is formed by etching the exposure mask performed in a photolithography process. It is formed. In the example of FIG. 21A, an exposure mask having a shape as shown by a solid line diagram is prepared, and a cross shape as shown by a solid line part in FIG. 21B is obtained by etching the exposure mask performed in a photolithography process. An alignment mark having a desired shape is formed.

以上、本発明の実施の形態を説明したが、これらはあくまで例示にすぎず、本発明はこれらに限定されるものではなく、特許請求の範囲の趣旨を逸脱しない限りにおいて、当業者の知識に基づく種々の変更が可能である。   Although the embodiments of the present invention have been described above, these are merely examples, and the present invention is not limited to these embodiments, and the knowledge of those skilled in the art can be used without departing from the spirit of the claims. Various modifications based on this are possible.

電子回路基板の一例を示す断面図。Sectional drawing which shows an example of an electronic circuit board. 本発明の電子回路基板用CAD/CAMシステムの電気的構成を示すブロック図。The block diagram which shows the electrical constitution of the CAD / CAM system for electronic circuit boards of this invention. 配線ネットデータ登録メモリの内容を示すマップ。A map showing the contents of the wiring net data registration memory. 本発明の電子回路基板用CAD/CAMシステムにおける作図画面上での操作過程の説明図。Explanatory drawing of the operation process on the drawing screen in the CAD / CAM system for electronic circuit boards of this invention. エレメントの概念図。Conceptual diagram of the element. エレメントのCADデータの概念図。The conceptual diagram of the CAD data of an element. ビア図形の概念図。Conceptual diagram of via shape. ビア図形のCADデータの概念図。The conceptual diagram of CAD data of a via figure. エレメントの重なり接続状態の第一説明図。The 1st explanatory view of the overlapping connection state of an element. エレメントの重なり接続状態の第二説明図。The 2nd explanatory view of the overlapping connection state of an element. エレメントのビア接続状態の説明図。Explanatory drawing of the via connection state of an element. 補正エリア参照テーブルの一例を示す概念図。The conceptual diagram which shows an example of a correction area reference table. 補正エリア/エレメント対応テーブルの一例を示す概念図。The conceptual diagram which shows an example of a correction area / element correspondence table. ソルダーレジスト層の開口形成工程の一例を模式的に示す図。The figure which shows typically an example of the opening formation process of a soldering resist layer. エリア別補正係数用の補正テーブルの一例を示す模式図。The schematic diagram which shows an example of the correction table for correction coefficients classified by area. 作図処理の流れを示すフローチャート。The flowchart which shows the flow of a drawing process. CAMデータ作成処理の流れを示すフローチャート。The flowchart which shows the flow of a CAM data creation process. アライメントマーク補正処理の流れを示すフローチャート。The flowchart which shows the flow of an alignment mark correction process. 三角形におけるアライメントマーク補正を行なわない場合の状態を示す図。The figure which shows the state when not performing the alignment mark correction | amendment in a triangle. 三角形におけるアライメントマーク補正を行った場合の状態を示す図。The figure which shows the state at the time of performing the alignment mark correction | amendment in a triangle. 十字形におけるアライメントマーク補正を行った場合の状態を示す図。The figure which shows the state at the time of performing alignment mark correction | amendment in a cross. アライメントマークの補正テーブルの一例を示す図。The figure which shows an example of the correction table of an alignment mark.

符号の説明Explanation of symbols

101 電子回路基板用CAD/CAMシステム
102 入出力インターフェース(CAMデータ出力手段)
103 CPU(作図レイヤ設定手段、CADデータ入力手段、CAMデータ変換手段、CAMデータ出力手段)
105 RAM
106 キーボード(CADデータ入力手段)
107 マウス(CADデータ入力手段)
108 CD−ROMドライブ
110 ハードディスクドライブ(補正テーブル記憶手段)
112 コンピュータ本体
120 CD−ROM(コンピュータプログラムを記録した記録媒体)
101 CAD / CAM system for electronic circuit board 102 Input / output interface (CAM data output means)
103 CPU (plotting layer setting means, CAD data input means, CAM data conversion means, CAM data output means)
105 RAM
106 Keyboard (CAD data input means)
107 Mouse (CAD data input means)
108 CD-ROM drive 110 Hard disk drive (correction table storage means)
112 Computer body 120 CD-ROM (recording medium on which a computer program is recorded)

Claims (3)

導体層と誘電体層とが交互に積層された電子回路基板において、該電子回路基板の主表面上に形成されるソルダーレジスト層の開口をCADデータとして作成し、
感光性樹脂を用いたフォトリソグラフィー工程により前記ソルダーレジスト層の開口を形成するために、前記CADデータに反映された前記ソルダーレジスト層の開口を、フォトリソグラフィー用露光マスクの開口用マスクパターンに、CAMデータとして変換するとともに、
前記ソルダーレジスト層の面内に形成される基板の認識マークの開口形状が、当該開口側にて凹形態に交差する2つの線分を有し、かつ、それら線分の交点を補正基準点として、前記線分に対するエッチング代を前記補正基準点から遠ざかるにつれて広幅となるように、前記開口用マスクパターンにおける前記認識マークのマスクパターンを補正することを特徴とする電子回路基板用CAMデータ作成方法。
In an electronic circuit board in which conductor layers and dielectric layers are alternately laminated, an opening of a solder resist layer formed on the main surface of the electronic circuit board is created as CAD data,
In order to form the opening of the solder resist layer by a photolithography process using a photosensitive resin, the opening of the solder resist layer reflected in the CAD data is used as an opening mask pattern of an exposure mask for photolithography. While converting as data,
The opening shape of the recognition mark of the substrate formed in the plane of the solder resist layer has two line segments intersecting the concave shape on the opening side, and the intersection of these line segments is used as a correction reference point. A method of creating CAM data for an electronic circuit board, wherein the mask pattern of the recognition mark in the opening mask pattern is corrected so that the etching allowance for the line segment becomes wider as the distance from the correction reference point is increased.
導体層と誘電体層とが交互に積層された電子回路基板を設計かつ製造するためのCAD/CAMシステムであって、
電子回路基板に形成すべき導体層及び誘電体層に対応する複数の作図レイヤを設定する作図レイヤ設定手段と、
前記電子回路基板を構成する基板要素のうち、作図対象として予め定められたものを作図対象要素として、それら作図対象要素の設計上の寸法、形状及び配置位置を特定するためのCADデータを、前記作図レイヤ上に入力するCADデータ入力手段と、
前記作図対象要素又は該作図対象要素と関連付けた形で前記電子回路基板に形成される付加要素を製造対象要素として、該製造対象要素自体又は該製造対象要素の製造用治具の対応部分の、製造工程上の寸法、形状及び配置位置を特定するCAMデータを、前記CADデータからの変換により作成するCAMデータ変換手段と、
該CAMデータを出力するCAMデータ出力手段と、を備え、
前記製造対象要素を前記電子回路基板の主表面上に形成されるソルダーレジスト層の開口とし、前記CADデータ入力手段により該ソルダーレジスト層の開口を前記CADデータとして入力・作成するとともに、
前記CAMデータ変換手段は、感光性樹脂を用いたフォトリソグラフィー工程により前記ソルダーレジスト層の開口を形成するために、前記CADデータに反映された前記ソルダーレジスト層の開口を、フォトリソグラフィー用露光マスクの開口用マスクパターンに、CAMデータとして変換するものであり、かつ、前記ソルダーレジスト層の面内に形成される基板の認識マークの開口形状が、当該開口側にて凹形態に交差する2つの線分を有し、かつ、それら線分の交点を補正基準点として、前記線分に対するエッチング代を前記補正基準点から遠ざかるにつれて広幅となるように、前記開口用マスクパターンにおける前記認識マークのマスクパターンを補正することを特徴とする電子回路基板用CAD/CAMシステム。
A CAD / CAM system for designing and manufacturing an electronic circuit board in which conductor layers and dielectric layers are alternately laminated,
A drawing layer setting means for setting a plurality of drawing layers corresponding to the conductor layer and the dielectric layer to be formed on the electronic circuit board;
Among the board elements constituting the electronic circuit board, those predetermined as drawing objects are used as drawing object elements, and CAD data for specifying the design dimensions, shapes, and arrangement positions of the drawing object elements, CAD data input means for inputting on the drawing layer;
An additional element formed on the electronic circuit board in a form associated with the drawing target element or the drawing target element as a manufacturing target element, the manufacturing target element itself or a corresponding part of a manufacturing jig of the manufacturing target element, CAM data conversion means for creating CAM data that specifies dimensions, shapes, and arrangement positions in the manufacturing process by conversion from the CAD data;
CAM data output means for outputting the CAM data,
The manufacturing target element is an opening of a solder resist layer formed on the main surface of the electronic circuit board, and the CAD data input means inputs and creates the opening of the solder resist layer as the CAD data.
The CAM data conversion means forms the opening of the solder resist layer by a photolithography process using a photosensitive resin, and opens the opening of the solder resist layer reflected in the CAD data by using an exposure mask for photolithography. Two lines that are converted into CAM data into an opening mask pattern and the opening shape of the recognition mark of the substrate formed in the surface of the solder resist layer intersects the concave shape on the opening side. And a mask pattern of the recognition mark in the mask pattern for opening so that the etching allowance for the line segment becomes wider as the distance from the correction reference point is increased. A CAD / CAM system for an electronic circuit board characterized by correcting the above.
請求項2記載の電子回路基板用CAD/CAMシステムを用いて、得るべき電子回路基板に必要な作図対象要素を前記作図レイヤ上に前記CADデータとして入力することにより、前記電子回路基板の設計情報を前記CADデータの集合として作成する電子回路基板設計工程と、
前記CADデータに基づいて前記CAMデータ作成手段が作成した前記CAMデータの、前記CAMデータ出力手段による出力内容を用いて前記電子回路基板を製造する電子回路基板製造工程とを含み、
前記電子回路基板製造工程において、前記CAMデータ作成手段が作成した前記CAMデータに基づいて、該CAMデータが特定する開口用マスクパターンを有する前記露光マスクを作成し、該露光マスクを用いて前記電子回路基板上に、得るべき前記開口を有するソルダーレジスト層を形成するフォトリソグラフィー工程を実施することを特徴とする電子回路基板の製造方法。
The design information of the electronic circuit board is obtained by inputting a drawing target element necessary for the electronic circuit board to be obtained as the CAD data on the drawing layer using the CAD / CAM system for an electronic circuit board according to claim 2. An electronic circuit board design process for creating the CAD data as a set of CAD data;
An electronic circuit board manufacturing step of manufacturing the electronic circuit board using the output content of the CAM data output means of the CAM data created by the CAM data creation means based on the CAD data,
In the electronic circuit board manufacturing process, the exposure mask having an opening mask pattern specified by the CAM data is created based on the CAM data created by the CAM data creation means, and the electronic mask is used using the exposure mask. A method of manufacturing an electronic circuit board, comprising performing a photolithography step of forming a solder resist layer having the opening to be obtained on a circuit board.
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