JP2005214917A - 光フィルタの特性検査用位置調整治具およびその調整方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】光フィルタ単体の特性検査において、フィルタに入射する測定光の角度およびフィルタを透過する測定光の受光部の位置決めばらつきにより、特性誤差や測定ばらつきを生じる。
【解決手段】光フィルタの特性を検査するための位置調整において、測定用光源3と調整用広帯域光源26と両者光源の光路切替用の光スイッチ27と被検フィルタ保持部2と測定光出射部5と測定光受光部8とを備えた構成を有する治具を提供するものである。
【選択図】図1
【解決手段】光フィルタの特性を検査するための位置調整において、測定用光源3と調整用広帯域光源26と両者光源の光路切替用の光スイッチ27と被検フィルタ保持部2と測定光出射部5と測定光受光部8とを備えた構成を有する治具を提供するものである。
【選択図】図1
Description
本発明は、光通信、光計測等で用いられる光フィルタの特性を検査するための位置調整治具およびその位置調整方法に関するものである。
光フィルタ単体で特性検査、例えば挿入損失やリターン・ロス、偏波依存性等を測定する場合、被検フィルタに直接測定光を入射し、その透過光または反射光の特性を測定することにより、被検フィルタの特性を特定する。このとき、測定光が被検フィルタに入射するときの入射角度が所定角度よりずれると、見かけ上の膜厚変化等により、特性誤差や測定ばらつきを生じる。このため、光フィルタに入射する測定光の入射角度を厳密に位置調整する必要がある。また、フィルタから出てくる測定光は、測定光受光部を介して光センサに入力されるが、この測定光受光部の位置、角度が測定光量に大きく影響する。このため、測定光の受光においても測定光受光部の厳密な位置、角度の調整が必要となる。
図2は従来の光フィルタ単体の特性検査に用いられる測定系の構成図である。
従来における光フィルタの特性検査方法を挿入損失特性の検査を例に図2、図3および図4を参照して説明する。
なお、リターン・ロス、偏波依存性など他の特性検査においても、被検フィルタの位置調整にかかる部分は挿入損失特性と同様である。
図2(a)において、3は可変波長レーザダイオード(TLD)など測定用光源、6および14は光強度を測定する光センサ、4は出射側の光ファイバ、5は出射光を平行光にするコリメータレンズ等測定光出射部、12は測定光出射部5から出射される平行直進する測定光、9は測定光出射部5の出射方向を調整するための2軸スイベルステージ等角度調整機構、9aは角度調整機構9に固定された測定光出射部5を支持する支柱、7は受光側の光ファイバ、8はコリメータレンズ等測定光受光部、10は測定光受光部8の受光方向を調整するための2軸スイベルステージ等角度調整機構、10aは角度調整機構10に固定された測定光受光部8を支持する支柱、11は測定光受光部の位置を調整するための2軸直進ステージ、13はサーキュレータまたは2分岐カプラである。また、図2(b)において、1は被検フィルタ、2は被検フィルタ保持部、2aは測定光出射部5から出射される平行直進する測定光12が被検フィルタ1を透過するために設けた開口部である。図3において、1は被検フィルタ、1aは被検フィルタ1の成膜面、2bは被検フィルタ保持部断面、15は2軸スイベルステージ等角度調整機構9、10の回転中心である。被検フィルタ1は、成膜面1a側に測定光出射部5がくるように被検フィルタ保持部2に保持される。被検フィルタ保持部2の高さはあらかじめ、2軸スイベルステージ等角度調整機構9の回転中心高さと、被検フィルタ1の下面高さとが一致するよう調整されている。測定光出射部5と測定光受光部8はそれぞれの光軸がほぼ重なる位置に配置されている。図4は2軸スイベルステージ等角度調整機構9、または10の移動量と成膜面1aからの反射光20による光センサ14の受光強度または透過光21による光センサ6の受光強度との関係を示したものである。
光フィルタの挿入損失特性検査を行う場合、図2(a)において、まず、測定用光源3から測定光を放出する。ここで、測定用光源3としてはDWDMフィルタなど挿入損失の測定にダイナミックレンジの高い測定を要する場合、あるいは偏波依存性測定を行う場合、単波長光を出射する可変波長レーサダイオードが使用される。測定光出射部5からは測定光12が平行光として出射され、この平行光が測定光受光部8に入射し、測定光12は光ファイバ等ケーブル7を介して光センサ6に導かれる。次に、光センサ6で測定される光強度が最大となるように2軸スイベルステージ等角度調整機構10および2軸直進ステージ11の位置を調整する。この状態で測定用光源3から送出された光を光センサ6で測定し、その光レベルをP0とする。次に、被検フィルタ1の中心を測定光12が透過するように、被検フィルタ保持部2の位置を調整する。次に、被検フィルタ1に測定光12が垂直に入射するよう2軸スイベルステージ等角度調整機構9の角度位置を調整する。この角度位置の調整は次のように行われる。すなわち、測定用光源3より測定光を出射すると、測定光はサーキュレータ13、光ファイバ4を介して、測定光出射部5から平行光となって出射される。このとき、測定光の一部は被検フィルタ1の成膜面1aで反射され、再び測定光出射部5に入射し、サーキュレータ13を介して、光センサ14に導かれる。次に、光センサ14に導かれる測定光の光強度が最大となるように2軸スイベルステージ等角度調整機構9の角度を調整する。光センサ14に導かれる測定光の光強度が最大となったとき、測定光12が被検フィルタ1に垂直に入射された状態となる。ところで一般に、光フィルタは、モジュール形態でのリターン・ロスの低減を目的として、測定光に対して垂直方向より一定角度、例えば2°あるいは3°と傾けた状態で入射するよう設計されている。そこで、被検フィルタ1の成膜面1aに、設計角度で測定光が入射するように2軸スイベルステージ等角度調整機構9、または、被検フィルタ保持部2を一定角度分垂直入射角度から傾ける。次に、光センサ6に導かれる被検フィルタ1を透過した測定光が最大強度となるように測定光受光部8の位置、すなわち2軸スイベルステージ等角度調整機構10および2軸直進ステージ11を調整する。この状態で光源3から送出された測定光を光センサ6で測定し、その光レベルをP1とする。そして、測定したP0とP1との差を求めることにより、光フィルタの挿入損失特性が評価される。
なお、この出願に関する先行技術文献情報としては、例えば、特許文献1が知られている。
特開平8−178799号公報
しかしながら、前記従来の光フィルタの特性を検査するための位置調整治具および調整方法では、測定光である可変波長レーザ光源を使用してフィルタへの測定光の入射角度および測定光受光部の位置・角度はフィルタの透過光量または反射光量の値が最大となる位置に調整されるため、調整誤差や調整ばらつきを発生しやすい。これは主に、可変波長レーザ光源などの単波長レーザによりフィルタで光学的な干渉を生じ、測定光12の被検フィルタ1での透過光、および反射光が周期的、経時的に大きく変動することと、単波長レーザの僅かな経時的波長変動が、レーザ波長近傍におけるフィルタ損失特性の変化量、すなわち波長に対する挿入損失の勾配により、被検フィルタの透過光量、または反射光量の変動として現れることに起因する。この光量値が変動すると、最大光量位置からずれたところにフィルタへの測定光の入射角度調整、および測定光受光部8の位置・角度調整を合わせ込むことになり、フィルタ検査における測定誤差、測定ばらつき要因となっていた。
本発明は、前記課題を解決しようとするものであり、その目的とするところは、光フィルタ単体の特性検査の特性誤差や測定ばらつきを低減するための位置調整治具および調整方法を提供することを目的とするものである。
本発明の請求項1に記載の発明は、特に、測定用光源と調整用広帯域光源と光スイッチと被検フィルタ保持部と測定光出射部と測定光受光部とを備えた構成を有しており、測定光出射部と測定光受光部の位置調整時、光路切替器となる光スイッチの切替により広帯域光源を使用することで、光学的な干渉を生じることがなく、また、広帯域光源であるため、被検フィルタの波長に対する挿入損失の勾配の影響をほとんど受けない。これにより、光量値の変動が無くなり、測定光が被検フィルタに入射するときの入射角度を精度良く調整することができ、また、被検フィルタを透過した測定光が測定光受光部に入射する光量のロスを低減することができ、特性誤差や測定ばらつきを低減するという作用効果が得られる。
本発明の請求項2に記載の発明は、光フィルタの特性検査において、調整用の広帯域光源により、被検フィルタに測定光が垂直に入射するよう2軸スイベルステージの角度位置を調整し、また、光センサに導かれる被検フィルタを透過した測定光が最大強度となるように測定光受光部の位置、すなわち2軸スイベルステージ等角度調整機構および2軸直進ステージを調整し、光スイッチにより測定用光源に切り替えて被検フィルタを測定することを特徴とする調整方法であり、測定光出射部と測定光受光部の位置調整時、光スイッチの切替により広帯域光源を使用することで、光学的な干渉を生じることがなく、また、広帯域光源であるため、被検フィルタの波長に対する挿入損失の勾配の影響をほとんど受けない。これにより、光量値の変動が無くなり、測定光が被検フィルタに入射する時の入射角度を精度良く調整することができ、また、被検フィルタを透過した測定光が測定光受光部に入射する光量のロスを低減するという作用効果が得られる。
本発明による光フィルタの特性を検査するための位置調整治具およびその位置調整方法によれば、光フィルタ単体の特性検査の特性誤差や測定ばらつきを低減し、かつ、そのための調整工数を削減するという効果を有する。
以下、実施の形態1を用いて、本発明の特に請求項1、2に記載の発明について説明する。図1は、本発明の実施の形態1における光フィルタ単体の特性検査に用いられる測定系の構成図である。
なお、従来の技術で説明した構成部材については同一の符号を付与し、詳細な説明は省略する。
図1において、26は広帯域光源、27は光スイッチである。ここで、広帯域光源にはASE光源、LED光源等を指し、被検フィルタ1の使用帯域にピークを有する波長帯域の光源を使用する。例えば、被検フィルタ1の帯域がCバンドであれば1550nm付近にピークを有する広帯域光源を選択する。
光フィルタの特性検査を行う場合、図1において、まず、光スイッチ27により、測定光出射部5から出射する測定光12を広帯域光源26に切り替える。次に、フィルタホルダ2を測定光12がフィルタホルダ開口部2bを通過する位置に移動する。次に、光源3から測定光を放出すると、測定光出射部5からは測定光12が平行光として出射され、この平行光が測定光受光部8に入射し、測定光は光ファイバ7を介して光センサ6に導かれる。次に、光センサで測定される光強度が最大となるように2軸スイベルステージ10および2軸直進ステージ11の位置を調整する。この状態でスイッチ27により、測定光出射部5から出射する測定光12を広帯域光源26から測定用光源3側に切り替え、測定用光源3から出射された光を光センサ6で測定し、その光レベルをP0とする。次に、被検フィルタ1をフィルタホルダ2にのせ、被検フィルタ1の中心を測定光12が透過するように、フィルタホルダ2の位置を調整する。次に、光スイッチ27により、測定光出射部5から出射する測定光12を広帯域光源26に切り替える。広帯域光源26より測定光を出射すると、測定光はサーキュレータまたは2分岐カプラ13、光ファイバ4を介して、コリメータレンズ等測定光出射部5から平行光となって出射される。このとき、測定光の一部は被検フィルタ1の成膜面1aで反射され、再びコリメータレンズ等測定光出射部5に入射し、サーキュレータまたは2分岐カプラ13を介して、光センサ14に導かれる。次に、光センサ14に導かれる測定光の光強度が最大となるように2軸スイベルステージ9の角度を調整する。光センサ14に導かれる測定光の光強度が最大となったとき、測定光がフィルタ1に垂直に入射された状態となる。次に、被検フィルタ1の成膜面1aに、設計角度で測定光が入射するように2軸スイベルステージ9、または、フィルタホルダ2を一定の設計角度分傾ける。次に、光センサ6に導かれる被検フィルタ1を透過した測定光が最大強度となるようにコリメータレンズ等測定光受光部8の位置、すなわち2軸スイベルステージ10および2軸直進ステージ11を調整する。この状態で光スイッチ27により測定光出射部5から出射する測定光12を広帯域光源から測定用光源3に切り替え、測定用光源3から出射された光を測定光受光部8で測定し、その光レベルをP1とする。そして、測定したP0とP1との差を求めることにより、光フィルタの特性が評価される。
本発明にかかる光フィルタの特性検査用位置調整治具およびその調整方法は、光フィルタ単体の特性検査の特性誤差や測定ばらつきを低減し、また、そのための調整工数を削減するという効果を有し、光通信、光計測等で用いられる光フィルタの特性を検査する用途として有用である。
1 被検フィルタ
1a 被検フィルタの成膜面
1b 被検フィルタに設けられたウェッジ(テーパ)
2 被検フィルタ保持部
2a 開口部
2b 被検フィルタ保持部断面
3 測定用光源
4 光ファイバ
5 コリメータレンズ等測定光出射部
6 光センサ
7 光ファイバ
8 コリメータレンズ等測定光受光部
9 2軸スイベルステージ等角度調整機構
9a 支柱
10 2軸スイベルステージ等角度調整機構
10a 支柱
11 2軸直進ステージ
12 測定光
13 サーキュレータまたは2分岐カプラ
14 光センサ
15 2軸スイベルステージ等角度調整機構の回転中心
20 成膜面1aでの反射光
21 被検フィルタでの透過光
26 広帯域光源
27 光スイッチ
1a 被検フィルタの成膜面
1b 被検フィルタに設けられたウェッジ(テーパ)
2 被検フィルタ保持部
2a 開口部
2b 被検フィルタ保持部断面
3 測定用光源
4 光ファイバ
5 コリメータレンズ等測定光出射部
6 光センサ
7 光ファイバ
8 コリメータレンズ等測定光受光部
9 2軸スイベルステージ等角度調整機構
9a 支柱
10 2軸スイベルステージ等角度調整機構
10a 支柱
11 2軸直進ステージ
12 測定光
13 サーキュレータまたは2分岐カプラ
14 光センサ
15 2軸スイベルステージ等角度調整機構の回転中心
20 成膜面1aでの反射光
21 被検フィルタでの透過光
26 広帯域光源
27 光スイッチ
Claims (2)
- 測定用光源と調整用広帯域光源と光スイッチ等光路切替器と被検フィルタ保持部と測定光出射部と測定光受光部とを備えた光フィルタの特性検査用位置調整治具。
- 光フィルタの特性を検査するための光フィルタ位置調整において、調整用の広帯域光源により、被検フィルタに測定光が垂直に入射するよう2軸スイベルステージの角度位置を調整し、また、光センサに導かれる被検フィルタを透過した測定光が最大強度となるように測定光受光部の位置を2軸スイベルステージ等角度調整機構および2軸直進ステージにより調整し、光スイッチにより測定用光源に切り替えて被検フィルタを測定する、光フィルタの特性検査用位置調整方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004025222A JP2005214917A (ja) | 2004-02-02 | 2004-02-02 | 光フィルタの特性検査用位置調整治具およびその調整方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004025222A JP2005214917A (ja) | 2004-02-02 | 2004-02-02 | 光フィルタの特性検査用位置調整治具およびその調整方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005214917A true JP2005214917A (ja) | 2005-08-11 |
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ID=34907662
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004025222A Withdrawn JP2005214917A (ja) | 2004-02-02 | 2004-02-02 | 光フィルタの特性検査用位置調整治具およびその調整方法 |
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---|---|
JP (1) | JP2005214917A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN110595740A (zh) * | 2019-10-12 | 2019-12-20 | 奥普镀膜技术(广州)有限公司 | 大片滤光片折射测试机 |
-
2004
- 2004-02-02 JP JP2004025222A patent/JP2005214917A/ja not_active Withdrawn
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN110595740A (zh) * | 2019-10-12 | 2019-12-20 | 奥普镀膜技术(广州)有限公司 | 大片滤光片折射测试机 |
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