JP2005206854A - Inline type film deposition apparatus, and unit for film deposition apparatus - Google Patents

Inline type film deposition apparatus, and unit for film deposition apparatus Download PDF

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an inline type film deposition apparatus where time and cost taken for designing and production are reduced, and to provide a unit to be used for the film deposition apparatus. <P>SOLUTION: In the inline type film deposition apparatus comprising an outward run part 100, a return part 200, connection parts 1 and 10 connecting each toe and termination of the outward run part 100 and return part 200, and a plurality of treatment chambers 2a to 9a for film deposition arranged at the outward run part 100, the outward run part 100 is divided into sub-outward run parts 13a corresponding to the plurality of treatment chambers 2a to 9a, further, the return part 200 is divided into sub-return parts 13b corresponding to each sub-outward run part 13a, and mutually corresponding each treatment chamber 2a to 9a, the sub-outward run part 13a and the sub-return part 13b are integrated as units 2 to 9 for film deposition, thus the units 2 to 9 for film deposition are connected. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

本発明は、インライン型成膜装置及びそれに用いる成膜装置用ユニットに関する。   The present invention relates to an in-line type film forming apparatus and a unit for a film forming apparatus used therefor.

基材の表面に成膜を行う従来の成膜装置は、成膜しようとする基材を成膜装置の真空槽内に搬入し、真空槽内でスパッタ装置等によって成膜を行い、成膜後、真空槽から基材を搬出するようになっている。また、従来のインライン型成膜装置では、基材をキャリアに搭載して、キャリアを往路部の真空槽等の処理室に順次搬送して、成膜作業を行い、成膜作業完了後にキャリアに搭載された基材を回収する(特許文献1参照)。
特開平5−33134号公報
A conventional film forming apparatus for forming a film on the surface of a base material carries the base material to be formed into a vacuum chamber of the film forming device, and performs film formation by a sputtering apparatus or the like in the vacuum chamber. After that, the substrate is unloaded from the vacuum chamber. In addition, in a conventional in-line type film forming apparatus, a substrate is mounted on a carrier, and the carrier is sequentially transported to a processing chamber such as a vacuum tank in the forward path to perform a film forming operation. The mounted substrate is collected (see Patent Document 1).
JP-A-5-33134

しかしながら、このような従来のインライン型成膜装置では、成膜層の数や厚さといった成膜条件に応じた往路部の設計と同時に、基材回収後のキャリアを再度、往路部始端に戻す復路部の設計も要し、インライン型成膜装置の設計及び製造にかかる時間とコストを押し上げていた。   However, in such a conventional in-line type film forming apparatus, simultaneously with the design of the forward path part according to the film forming conditions such as the number and thickness of the film forming layers, the carrier after the substrate recovery is returned to the start part of the forward path part again. The design of the return path is also required, which increases the time and cost for designing and manufacturing the in-line type film forming apparatus.

本発明は、上記のような課題を解決するためになされたもので、往路部と復路部の設計及び製造の標準化を図ることによって、インライン型成膜装置の設計及び製造にかかる時間とコストを削減するインライン型成膜装置及びそれに用いる成膜装置用ユニットを提供することを目的としている。   The present invention has been made to solve the above-described problems, and by designing and manufacturing the forward path part and the return path part, the time and cost for designing and manufacturing the in-line type film forming apparatus can be reduced. An object of the present invention is to provide a reduced in-line type film forming apparatus and a film forming apparatus unit used therefor.

上記課題を解決するために、本発明に係るインライン型成膜装置は、往路部と復路部と前記復路部の終端を前記往路部の始端に接続する始端側接続部と前記往路部の終端を前記復路部の始端に接続する終端側接続部とを有し各部を循環するようにキャリアを搬送するキャリア搬送路と、前記往路部に前記キャリアが順次通過するように配置された成膜用の複数の処理室とを有し、前記キャリアに基材を搭載して前記処理室を順次通過させることにより該基材上に成膜するインライン型成膜装置において、前記往路部が前記複数の処理室に対応させてサブ往路部に分割されるとともに前記復路部が各前記サブ往路部に対応させてサブ復路部に分割され、互いに対応する前記各処理室と前記各サブ往路部と前記各サブ復路部とが成膜装置用ユニットとして一体化され、各成膜装置用ユニットが連結されて前記往路部及び復路部に対応する部分が形成されている(請求項1)。かかる構成とすると、成膜装置用ユニットを連結させることで、往路部と復路部とも同時に構築できるので、インライン型成膜装置の設計を標準化することができ、インライン型成膜装置の設計及び製造にかかる時間とコストを削減することができる。   In order to solve the above problems, an inline-type film forming apparatus according to the present invention includes a forward end portion, a return passage portion, a start end side connection portion connecting the end of the return passage portion to a start end of the forward pass portion, and a termination of the forward pass portion. A terminal-side connecting portion connected to a starting end of the return path portion, a carrier transport path for transporting the carrier so as to circulate through each portion, and a film forming film disposed so that the carrier sequentially passes through the forward path portion In an in-line type film forming apparatus that includes a plurality of processing chambers, and deposits a substrate on the carrier and sequentially passes through the processing chamber, the forward path section includes the plurality of processing chambers. And the return path section is divided into sub return path sections corresponding to the sub-outward path sections, corresponding to the processing chambers, the sub-outward path sections, and the sub-path sections corresponding to each other. The return path unit is Integrated as the portion corresponding to the forward portion and backward portion are connected each deposition apparatus for units is formed (claim 1). With such a configuration, by connecting the film forming apparatus unit, the forward path part and the return path part can be constructed at the same time, so the design of the in-line type film forming apparatus can be standardized, and the design and manufacture of the in-line type film forming apparatus. Time and cost can be reduced.

前記往路部と前記復路部とが鉛直面内に配置されているとよい(請求項2)。かかる構成とすると、往路部又は復路部の設置面積内に収容できるので、インライン型成膜装置の設置に要するスペースを少なくすることができる。   The forward path part and the return path part may be arranged in a vertical plane (Claim 2). With such a configuration, since it can be accommodated within the installation area of the forward path part or the return path part, it is possible to reduce the space required for the installation of the in-line type film forming apparatus.

前記復路部が、前記往路部の下部に配置されているとよい(請求項3)。   The return path section may be disposed below the forward path section (Claim 3).

前記複数の処理室が、入口槽、前真空槽、スパッタ槽、重合槽、後真空槽及び出口槽を構成しているとよい(請求項4)。   The plurality of processing chambers may constitute an inlet tank, a front vacuum tank, a sputtering tank, a polymerization tank, a rear vacuum tank, and an outlet tank.

前記複数の処理室の先頭には、基材搭載室が配置され、前記複数の処理室の最後尾には基材回収室が配置されているとよい(請求項5)。   A substrate mounting chamber may be disposed at the top of the plurality of processing chambers, and a substrate recovery chamber may be disposed at the rearmost of the plurality of processing chambers.

また、本発明に係る成膜装置用ユニットは、往路部と復路部と前記復路部の終端を前記往路部の始端に接続する始端側接続部と前記往路部の終端を前記復路部の始端に接続する終端側接続部とを有し各部を循環するようにキャリアを搬送するキャリア搬送路と、前記往路部に前記キャリアが順次通過するように配置された成膜用の複数の処理室とを有し、前記キャリアに基材を搭載して前記処理室を順次通過させることにより該基材上に成膜するインライン型成膜装置を構築するための成膜装置用ユニットであって、前記各処理室を構築可能な共通処理室と、前記往路部を前記複数の処理室に対応させて分割してなるサブ往路部と、前記復路部を前記サブ往路部に対応させて分割してなるサブ復路部とを一体化してなる(請求項6)。かかる構成とすると、成膜装置用ユニットを連結させることで、往路部と復路部とも同時に構築できるので、インライン型成膜装置の設計を標準化することができ、インライン型成膜装置の設計及び製造にかかる時間とコストを削減することができる。   Further, the film forming apparatus unit according to the present invention includes an outgoing path portion, a return path portion, a starting end side connecting portion that connects a terminal end of the return path portion to a starting end of the forward path portion, and a terminal end of the forward path portion as a starting end of the return path portion. A carrier transport path that transports the carrier so as to circulate through each section, and a plurality of film forming process chambers that are arranged so that the carrier sequentially passes through the forward path section. A film forming apparatus unit for constructing an in-line type film forming apparatus for forming a film on the substrate by sequentially mounting the substrate on the carrier and sequentially passing through the processing chamber. A common processing chamber capable of constructing a processing chamber, a sub-outward part obtained by dividing the forward part corresponding to the plurality of processing chambers, and a sub obtained by dividing the return part corresponding to the sub-outward part The return path part is integrated (Claim 6). With such a configuration, by connecting the film forming apparatus unit, the forward path part and the return path part can be constructed at the same time, so the design of the in-line type film forming apparatus can be standardized, and the design and manufacture of the in-line type film forming apparatus. Time and cost can be reduced.

前記サブ往路部と前記サブ復路部とが鉛直面内に配置されていてもよい(請求項7)。かかる構成とすると、往路部又は復路部の設置面積内に収容できるので、インライン型成膜装置の設置に要するスペースを少なくすることができる。   The sub outward path part and the sub return path part may be arranged in a vertical plane. With such a configuration, since it can be accommodated within the installation area of the forward path part or the return path part, it is possible to reduce the space required for the installation of the in-line type film forming apparatus.

前記サブ復路部が、前記サブ往路部の下部に配置されているとよい(請求項8)。   The sub return path section may be disposed below the sub forward path section (claim 8).

以上のように、本発明は、往路部と復路部の設計及び製造の標準化を図ることができるので、インライン型成膜装置の設計及び製造にかかる時間とコストを削減するという効果を奏する。   As described above, the present invention can standardize the design and manufacture of the forward path part and the return path part, and thus has the effect of reducing the time and cost required for the design and manufacture of the in-line type film forming apparatus.

以下、本発明を実施するための最良の形態について図面を参照しながら説明する。
(実施の形態)
図1は、本発明の実施の形態に係るインライン型成膜装置の全体構成を示す模式図であり、図2は、本発明の実施の形態に係る成膜装置用ユニット2〜9の共通構造を有する成膜装置用ユニット20の構成を概略的に示す斜視図であり、図3は、本発明の実施の形態に係るインライン型成膜装置のリフトアップブロック(始端側接続部)1及び先頭に位置する成膜装置用ユニット2の構成を概略的に示す斜視図であり、図4は、図1のIV−IV線断面を示す断面図である。
The best mode for carrying out the present invention will be described below with reference to the drawings.
(Embodiment)
FIG. 1 is a schematic diagram showing an overall configuration of an inline-type film forming apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a common structure of film forming apparatus units 2 to 9 according to the embodiment of the present invention. FIG. 3 is a perspective view schematically showing a configuration of a film forming apparatus unit 20 having a structure, and FIG. 3 shows a lift-up block (starting end side connecting portion) 1 and a head of the in-line type film forming apparatus according to the embodiment of the present invention. FIG. 4 is a perspective view schematically showing a configuration of the film forming apparatus unit 2 positioned at FIG. 4, and FIG. 4 is a cross-sectional view showing a cross section taken along line IV-IV in FIG.

図1において、本実施の形態に係るインライン型成膜装置は、往路部100と復路部200と復路部200の終端を往路部100の始端に接続するリフトアップブロック1と往路部100の終端を復路部200の始端に接続するリフトダウンブロック(終端側接続部)10とを有し各部を循環するようなキャリア搬送路が形成される。また、往路部100にキャリアCが順次通過するように配置された成膜用の複数の処理室2a〜9aとを有している。往路部100と復路部200とは鉛直面内に配置されている。また、復路部200は往路部100の下部に配置されている。   In FIG. 1, the in-line type film forming apparatus according to the present embodiment includes a lift-up block 1 that connects the end of the forward path 100, the return path 200, and the return path 200 to the start end of the forward path 100, and the end of the forward path 100. A carrier transport path is formed which has a lift-down block (terminal-side connection part) 10 connected to the starting end of the return path part 200 and circulates through each part. Moreover, it has the several process chamber 2a-9a for the film-forming arrange | positioned so that the carrier C may pass sequentially in the outward path part 100. FIG. The forward path part 100 and the return path part 200 are arranged in a vertical plane. Further, the return path unit 200 is disposed below the forward path unit 100.

また、それぞれの処理室2a〜9aに対応したサブ往路部13aと、サブ復路部13bとを一体化してなる成膜装置用ユニット2〜9が、処理室2a〜9a間に開閉手段11a〜11gを介して連結し、その両端にリフトアップブロック1及びリフトダウンブロック10を備えて構成されている。   Further, the film forming apparatus units 2 to 9 formed by integrating the sub outward path portion 13a corresponding to each of the processing chambers 2a to 9a and the sub return path portion 13b include opening / closing means 11a to 11g between the processing chambers 2a to 9a. The lift-up block 1 and the lift-down block 10 are provided at both ends thereof.

ここで、成膜装置用ユニット2〜9の共通構造について説明する。図2において、成膜装置用ユニット20は、共通処理室20aと、サブ往路部13aと、サブ復路部13bとを有している。なお、サブ復路部13bには、サブ復路部ハウジング2b〜9bが構成されている。これは、サブ復路部13bを通行するキャリアCの防塵のために設けられている。サブ復路部13bは、ハウジング構造でなく、開口構造であってもよい。また、本実施の形態においては、サブ往路部13aとサブ復路部13bとは鉛直面内に配置されている。さらに、サブ復路部13bはサブ往路部13aの下部に配置されている。しかし、成膜装置用ユニット20は、サブ往路部13aとサブ復路部13bとが上下左右いずれかに隣接するように配設されていればよい。成膜装置用ユニット20同士の連結時において、往路部100及び復路部200に対応する部分が形成されれば足りるからである。   Here, a common structure of the film forming apparatus units 2 to 9 will be described. In FIG. 2, the film forming apparatus unit 20 includes a common processing chamber 20a, a sub-outward path portion 13a, and a sub-return path portion 13b. The sub return path portion 13b includes sub return path housings 2b to 9b. This is provided for dust prevention of the carrier C passing through the sub return path portion 13b. The sub return path 13b may have an opening structure instead of a housing structure. Further, in the present embodiment, the sub outward path portion 13a and the sub return path portion 13b are arranged in a vertical plane. Further, the sub return path portion 13b is disposed below the sub forward path portion 13a. However, the film forming apparatus unit 20 only needs to be disposed so that the sub-outward path portion 13a and the sub-return path portion 13b are adjacent to each other in the vertical and horizontal directions. This is because it is sufficient that portions corresponding to the forward path portion 100 and the backward path portion 200 are formed when the film forming apparatus units 20 are connected to each other.

共通処理室20a及び復路部ハウジング20bには、キャリアCの搬送方向前後にそれぞれキャリアCが通行できるような一対の開口部20d、20d及び開口部20e、20eが形成されている。   In the common processing chamber 20a and the return path housing 20b, a pair of openings 20d and 20d and openings 20e and 20e are formed so that the carrier C can pass in the front and rear directions of the carrier C, respectively.

共通処理室20aは、開口部20d、20dを密閉すると密閉構造となるように構成され、かつ所定の装置を配設することができるように構成されている。所定の装置とは、成膜工程に必要な装置であり、例えば、真空装置、スパッタ装置あるいはプラズマ重合装置である。また、開口部20d、20dの周囲面にはフランジ20fを備えている。開口部に開閉手段を取り付けて密閉することができるようにするためである。   The common processing chamber 20a is configured to have a sealed structure when the openings 20d and 20d are sealed, and is configured such that a predetermined apparatus can be disposed. The predetermined apparatus is an apparatus necessary for the film forming process, for example, a vacuum apparatus, a sputtering apparatus, or a plasma polymerization apparatus. Further, a flange 20f is provided on the peripheral surface of the openings 20d and 20d. This is because an opening / closing means is attached to the opening so that the opening can be sealed.

サブ往路部13aとサブ復路部13bとは、キャリアC搬送用のローラ13が配設されて構成されている。図4において、ローラ13には、ガイドフランジ13cが設けられている。キャリアCの搭載位置を案内するためである。なお、図2ではガイドフランジ13cは省略している。ローラ13は、水平方向に所定の間隔以下の間隔で、キャリアCを支持するように、配設されている。ここで、所定の間隔とは、キャリアCが成膜装置用ユニット2〜9間を受け渡されるようにして搬送されるような間隔であり、具体的には、キャリアCの進退方向全長において常に2つ以上のローラ13がキャリアCを支持するようになる間隔である。特に、連結時に成膜ハウジング間に介在する開閉手段11a〜11gの厚さも考慮して、ローラ13が配設されている(図3参照)。サブ往路部13aとサブ復路部13bとでは、キャリアCの搬送方向101,102は互いに平行逆方向である。   The sub-outward path portion 13a and the sub-return path portion 13b are configured with a carrier C transport roller 13 disposed therein. In FIG. 4, the roller 13 is provided with a guide flange 13c. This is to guide the mounting position of the carrier C. In FIG. 2, the guide flange 13c is omitted. The rollers 13 are arranged so as to support the carrier C at intervals equal to or less than a predetermined interval in the horizontal direction. Here, the predetermined interval is an interval at which the carrier C is conveyed so as to be transferred between the film forming apparatus units 2 to 9. Specifically, the predetermined interval is always in the entire length of the carrier C in the advancing / retreating direction. The interval at which the two or more rollers 13 support the carrier C. In particular, the roller 13 is disposed in consideration of the thickness of the opening / closing means 11a to 11g interposed between the film forming housings when connected (see FIG. 3). In the sub-outward path portion 13a and the sub-return path portion 13b, the transport directions 101 and 102 of the carrier C are parallel and opposite to each other.

なお、ローラ13は搬送手段の一例であり、ローラ13の代わりに、他の搬送手段を用いることができる。例えば、ベルトコンベアやラックアンドピニオン機構を用いることができる。   The roller 13 is an example of a conveying unit, and another conveying unit can be used instead of the roller 13. For example, a belt conveyor or a rack and pinion mechanism can be used.

ここで、共通処理室20aから構築された各処理室2a〜9aについて説明する。図1において、連結された成膜装置用ユニット2〜9の先頭に位置する成膜装置用ユニット2の処理室2a(基材搭載室)には、成膜前の基材Wを外部からキャリアCに搭載することができるように基材投入口2cが処理室2aの側面に形成されている。   Here, each process chamber 2a-9a constructed | assembled from the common process chamber 20a is demonstrated. In FIG. 1, a substrate W before film formation is externally transferred to a processing chamber 2a (substrate mounting chamber) of the film formation device unit 2 located at the head of the connected film formation device units 2 to 9. A base material inlet 2c is formed on the side surface of the processing chamber 2a so that it can be mounted on C.

成膜装置用ユニット2に連結されている成膜装置用ユニット3の処理室3a(入口槽)3aには、真空装置3cを配設している。   A vacuum apparatus 3c is disposed in the processing chamber 3a (inlet tank) 3a of the film forming apparatus unit 3 connected to the film forming apparatus unit 2.

成膜装置用ユニット3に連結されている成膜装置用ユニット4の処理室4a(前真空槽)には、真空装置4cを配設している。   A vacuum apparatus 4 c is disposed in the processing chamber 4 a (pre-vacuum chamber) of the film forming apparatus unit 4 connected to the film forming apparatus unit 3.

成膜装置用ユニット4に連結されている成膜装置用ユニット5の処理室5a(スパッタ槽)には、真空装置5c及びスパッタ装置5dを配設している。スパッタ装置5dは、ターゲット、放電用電源等のスパッタリングを行う手段を備えている。   A vacuum chamber 5 c and a sputtering device 5 d are disposed in a processing chamber 5 a (sputtering tank) of the film forming device unit 5 connected to the film forming device unit 4. The sputtering apparatus 5d includes means for performing sputtering such as a target and a power source for discharge.

成膜装置用ユニット5に連結されている成膜装置用ユニット6の処理室6a(重合槽)には、真空装置6c及びプラズマ重合装置6dを配設している。プラズマ重合装置6dは、プラズマ生成用の電源、電極、反応ガス供給手段等のプラズマ重合を行う手段を備えている。   A vacuum chamber 6 c and a plasma polymerization apparatus 6 d are disposed in a processing chamber 6 a (polymerization tank) of the film formation apparatus unit 6 connected to the film formation apparatus unit 5. The plasma polymerization apparatus 6d includes means for performing plasma polymerization, such as a power source for plasma generation, an electrode, and a reaction gas supply means.

成膜装置用ユニット6に連結されている成膜装置用ユニット7の処理室7a(後真空槽)には、真空装置7cを配設している。   A vacuum apparatus 7 c is disposed in a processing chamber 7 a (rear vacuum chamber) of the film forming apparatus unit 7 connected to the film forming apparatus unit 6.

成膜装置用ユニット7に連結されている成膜装置用ユニット8の処理室8a(出口槽)には、真空装置8cを配設している。ここで、真空装置3c〜8cは、排気ポンプ等の処理室内を減圧する手段を備えている。   A vacuum apparatus 8 c is disposed in the processing chamber 8 a (exit tank) of the film forming apparatus unit 8 connected to the film forming apparatus unit 7. Here, the vacuum devices 3c to 8c are provided with means for decompressing the processing chamber such as an exhaust pump.

成膜装置用ユニット8に連結され、成膜装置用ユニット2〜9の最後尾に位置する成膜装置用ユニット9の処理室9a(基材回収室)には、成膜後の基材WをキャリアCから外部に回収することができるように基材回収口9cが基材回収室9aの側面に形成されている。   The substrate W after film formation is connected to the processing chamber 9a (base material recovery chamber) of the film formation apparatus unit 9 connected to the film formation apparatus unit 8 and located at the end of the film formation apparatus units 2 to 9. The substrate recovery port 9c is formed on the side surface of the substrate recovery chamber 9a so that the substrate can be recovered from the carrier C to the outside.

このようにして、本発明に係るインライン型成膜装置においては、成膜層の種類、積層数、層の厚さ等の必要とされる成膜条件に対して、成膜装置用ユニット20の連結数と、共通処理室20aに配設する装置の取捨選択を行うことによって対応することができる。これにより、成膜条件に応じた往路部100を形成することができ、かつ、往路部100に対応した復路部200も同時に形成することができる。   In this way, in the in-line type film forming apparatus according to the present invention, the film forming apparatus unit 20 can meet the required film forming conditions such as the type of film forming layer, the number of stacked layers, and the layer thickness. This can be dealt with by selecting the number of connections and selecting the devices arranged in the common processing chamber 20a. Thereby, the forward path part 100 according to film-forming conditions can be formed, and the return path part 200 corresponding to the forward path part 100 can also be formed simultaneously.

次に、成膜装置用ユニット2〜9の連結構造について説明する。図3において、成膜装置用ユニット2と成膜装置用ユニット3とは、基材搭載室2aの開口部2dに対し、入口槽3aの開口部3dが対向し、復路部ハウジング2bの開口部2eに対し、復路部ハウジング3bの開口部3eが対向し、かつ、この対向する開口部2dと開口部3dとの間に開閉手段11aが介在するようにして連結されている。他の成膜装置用ユニット3〜9相互間も同様にして連結されている。   Next, a connection structure of the film forming apparatus units 2 to 9 will be described. In FIG. 3, the film forming apparatus unit 2 and the film forming apparatus unit 3 are such that the opening 3d of the inlet tank 3a faces the opening 2d of the substrate mounting chamber 2a, and the opening of the return path housing 2b. The opening 3e of the return path housing 3b is opposed to 2e, and the opening / closing means 11a is interposed between the opposed opening 2d and the opening 3d. The other film forming apparatus units 3 to 9 are connected in the same manner.

ここで、開閉手段11a〜11gには、密閉可能な開閉手段を用いている。例えば、ドア弁、ゲート弁などを用いることができる。   Here, the openable / closable means 11a to 11g are sealable openable / closable means. For example, a door valve, a gate valve, etc. can be used.

なお、処理室20aは、開口部20d、20dに開閉手段を内蔵してもよい。かかる構造により、処理室20aは単独で密閉構造とすることができる。この場合、成膜装置用ユニット20の連結において、開閉手段11a〜11gは不要となる。   Note that the processing chamber 20a may incorporate opening / closing means in the openings 20d and 20d. With this structure, the processing chamber 20a can be made a sealed structure alone. In this case, the opening / closing means 11a to 11g are not necessary for the connection of the film forming unit 20.

リフトアップブロック1は、上昇リフト機構を有しており、リフトダウンブロック10は、下降リフト機能を有している。例えば、図3において、リフトアップブロック1は、リフタ1aと押出装置1bとを有するように構成されている。リフタ1aは、復路部200を搬送されてきたキャリアCを受け止め、キャリアCを往路部100の位置までリフトアップするように配設され、押出装置1bは、リフトアップされたキャリアCを往路部のローラ13上に押し出すように配設されている。リフタ1aは、リフタ1aに設けられたガイドローラ(図示せず)が、ガイドレール1cに従いながら、チェーン1dにより昇降駆動されるような構造となっている。リフトダウンブロック10においても同様にして、キャリアCをリフトダウンできるように構成されている(図示せず)。   The lift-up block 1 has an ascending lift mechanism, and the lift-down block 10 has a descending lift function. For example, in FIG. 3, the lift-up block 1 is configured to have a lifter 1a and an extrusion device 1b. The lifter 1a receives the carrier C that has been transported along the return path section 200, and is arranged to lift the carrier C to the position of the forward path section 100. The extrusion device 1b transfers the lifted carrier C to the forward path section. A roller 13 is disposed so as to be pushed out. The lifter 1a has a structure in which a guide roller (not shown) provided on the lifter 1a is driven up and down by a chain 1d while following the guide rail 1c. Similarly, the lift-down block 10 is configured to lift the carrier C (not shown).

図5は、本発明の実施の形態に係るインライン型成膜装置のキャリアCへの基材Wの搭載方法を概略的に示す斜視図である。キャリアCには、冶具Jが、それぞれの嵌合凸部Caと嵌合凹部Jaとが嵌合して据え付けられている。そして、冶具Jの係合凸部Jbと基材Wの係合凹部Waとが係合して、基材Wが、冶具Jに取り付けられている。   FIG. 5 is a perspective view schematically showing a method of mounting the substrate W on the carrier C of the inline-type film forming apparatus according to the embodiment of the present invention. On the carrier C, the jig J is installed by fitting the fitting convex portions Ca and the fitting concave portions Ja. And the engagement convex part Jb of the jig J and the engagement recessed part Wa of the base material W engage, and the base material W is attached to the jig J.

次に、このように構成された本発明の実施の形態に係るインライン型成膜装置の動作について説明する。   Next, the operation of the in-line type film forming apparatus according to the embodiment of the present invention configured as described above will be described.

開閉手段11a〜11gは閉止している。すなわち、処理室3〜8は密閉状態にある。   The opening / closing means 11a to 11g are closed. That is, the processing chambers 3 to 8 are in a sealed state.

冶具Jを載せたキャリアCは複数台が往路部100、復路部200、リフトアップブロック1あるいはリフトダウンブロック10上に待機している。   A plurality of carriers C on which the jig J is placed stand by on the forward path unit 100, the return path unit 200, the lift-up block 1 or the lift-down block 10.

冶具Jを載せたキャリアCは、順次、ローラ13に駆動されて、基材搭載室2aに搬送されてくる。ここで基材投入口2c(図3参照)より、一対の基材Wが、冶具Jに取り付けられる(図5参照)。次に、開閉手段11aが開き、基材Wを搭載したキャリアCは、入口槽3aに搬送され、開閉手段11aは閉止される。これにより、入口槽3aは密閉される。そして、真空装置3cによって真空粗引きされる。   The carrier C on which the jig J is placed is sequentially driven by the roller 13 and conveyed to the substrate mounting chamber 2a. Here, a pair of base material W is attached to the jig J from the base material inlet 2c (see FIG. 3) (see FIG. 5). Next, the opening / closing means 11a is opened, and the carrier C carrying the substrate W is conveyed to the inlet tank 3a, and the opening / closing means 11a is closed. Thereby, the inlet tank 3a is sealed. And it is vacuum-evacuated by the vacuum device 3c.

真空粗引き後、入口槽3aに連結されている開閉手段11bが開き、基材Wを搭載したキャリアCは、次の前真空槽4aに搬送され、開閉手段11bは閉止される。これにより、前真空槽4aは密閉される。そして、真空装置4cによって真空引き(本引き)され、それにより、基材Wが脱ガス等される。   After the vacuum roughing, the opening / closing means 11b connected to the inlet tank 3a is opened, the carrier C carrying the substrate W is conveyed to the next previous vacuum tank 4a, and the opening / closing means 11b is closed. Thereby, the front vacuum chamber 4a is sealed. Then, vacuuming (main drawing) is performed by the vacuum device 4c, whereby the substrate W is degassed or the like.

真空引き後、開閉手段11cが開き、基材Wを搭載したキャリアCは、次のスパッタ槽5aに搬送され、開閉手段11cは閉止される。これにより、スパッタ槽5aは密閉される。そして、真空装置5cによってスパッタ槽5a内が所定の真空度に調整され、その後、スパッタ装置5d(図4参照)によって、基材Wの成膜面にスパッタ膜が形成される。   After the evacuation, the opening / closing means 11c is opened, and the carrier C on which the substrate W is mounted is conveyed to the next sputtering tank 5a, and the opening / closing means 11c is closed. Thereby, the sputter tank 5a is sealed. Then, the inside of the sputtering chamber 5a is adjusted to a predetermined degree of vacuum by the vacuum device 5c, and then a sputtering film is formed on the film formation surface of the substrate W by the sputtering device 5d (see FIG. 4).

スパッタ膜形成後、再度真空装置5cによって真空引きされた後、開閉手段11dが開き、基材Wを搭載したキャリアCは、次の重合槽6aに搬送され、開閉手段11dは閉止される。これにより、重合槽6aは密閉される。そして、真空装置6cによって、重合槽6a内が所定の真空度に調整され、その後、プラズマ重合装置6dによって、基材Wの成膜面に重合膜が形成される。   After the sputtered film is formed and evacuated again by the vacuum device 5c, the opening / closing means 11d is opened, the carrier C carrying the substrate W is conveyed to the next polymerization tank 6a, and the opening / closing means 11d is closed. Thereby, the polymerization tank 6a is sealed. Then, the inside of the polymerization tank 6a is adjusted to a predetermined degree of vacuum by the vacuum device 6c, and then a polymer film is formed on the film formation surface of the substrate W by the plasma polymerization device 6d.

重合膜形成後、再度真空装置6cによって真空引きされた後、開閉手段11eが開き、基材Wを搭載したキャリアCは、次の後真空槽7aに搬送され、開閉手段11eは閉止される。これにより、後真空槽7aは密閉される。そして、真空装置7cによって成膜後の真空引きがされる。   After the formation of the polymer film, it is evacuated again by the vacuum device 6c, the opening / closing means 11e is opened, the carrier C carrying the substrate W is conveyed to the next rear vacuum tank 7a, and the opening / closing means 11e is closed. Thereby, the rear vacuum chamber 7a is sealed. Then, vacuuming after film formation is performed by the vacuum device 7c.

成膜後の真空引き後、開閉手段11fが開き、基材Wを搭載したキャリアCは、次の出口槽8aに搬送され、開閉手段11fは閉止される。これにより、出口槽8aは密閉される。そして、大気が出口槽8aに導入される。   After evacuation after film formation, the opening / closing means 11f is opened, the carrier C on which the substrate W is mounted is conveyed to the next outlet tank 8a, and the opening / closing means 11f is closed. Thereby, the exit tank 8a is sealed. Then, the atmosphere is introduced into the outlet tank 8a.

大気導入後、開閉手段11gが開き、基材Wを搭載したキャリアCは、基材回収室9aに搬送され、開閉手段11gは閉止される。なお、これにより、キャリアC不在の状態で密閉状態となった出口槽8aにおいては、真空装置8cによって真空粗引きがされる。次の後真空槽7aからのキャリアCの搬入のための開閉手段11fの開放に備えるためである。   After the introduction of the atmosphere, the opening / closing means 11g is opened, the carrier C carrying the substrate W is conveyed to the substrate recovery chamber 9a, and the opening / closing means 11g is closed. As a result, the vacuum evacuation is performed by the vacuum device 8c in the outlet tank 8a that is sealed in the absence of the carrier C. This is to prepare for the opening of the opening / closing means 11f for carrying the carrier C from the next rear vacuum chamber 7a.

基材回収室9aにおいては、キャリアCから、基材回収口9cより、基材Wが回収される。   In the base material recovery chamber 9a, the base material W is recovered from the carrier C through the base material recovery port 9c.

基材Wが搭載されていないキャリアCは、リフトダウンブロック10に搬送され、復路部200へと下降して移送される。   The carrier C on which the base material W is not mounted is transported to the lift-down block 10 and is moved down to the return path unit 200.

復路部200に移送されたキャリアCは、復路部200をリフトアップブロック1まで搬送され、往路部100へと上昇して移送される。   The carrier C transferred to the return path unit 200 is transported through the return path unit 200 to the lift-up block 1 and is moved up to the forward path unit 100 and transferred.

往路部100に移送されたキャリアCは、基材搭載部2aに搬送されて循環することになる。   The carrier C transferred to the forward path portion 100 is transported to the substrate mounting portion 2a and circulated.

なお、本発明の実施の形態に係るインライン型成膜装置の動作は、制御装置300によって、ローラ13、開閉手段11a〜11g、リフトアップブロック1,リフトダウンブロック10及び各処理室3a〜8aに接続される装置、例えば、真空装置3c〜8c、スパッタ装置5d、プラズマ重合装置6dの動作を制御することによって、所定のタクト(例えば、40秒間隔)でキャリアCを間欠搬送することができる。また、タクトの制御において、開閉手段11c〜11eの開閉時期が同期するようにタクトを設計することによって、前真空槽4a,スパッタ槽5a及び重合槽6aの高い真空環境下にあるそれぞれのキャリアCを一斉に次の処理層に搬送するように動作させることもできる。さらに、往路部100に検出器を備え、キャリアCの位置を検出し、制御装置300の制御情報として活用することが好ましい。   The operation of the inline-type film forming apparatus according to the embodiment of the present invention is performed by the controller 300 on the roller 13, the opening / closing means 11a to 11g, the lift-up block 1, the lift-down block 10, and the processing chambers 3a to 8a. By controlling the operation of the devices to be connected, for example, the vacuum devices 3c to 8c, the sputtering device 5d, and the plasma polymerization device 6d, the carrier C can be intermittently conveyed at a predetermined tact (for example, at intervals of 40 seconds). Further, in the control of the tact, by designing the tact so that the opening / closing timings of the opening / closing means 11c to 11e are synchronized, the carriers C in the high vacuum environment of the front vacuum tank 4a, the sputter tank 5a, and the polymerization tank 6a are provided. Can be operated so as to be simultaneously transported to the next processing layer. Further, it is preferable that a detector is provided in the forward path unit 100 to detect the position of the carrier C and to use it as control information for the control device 300.

インライン型成膜装置の設計及び製造にかかる時間とコストを削減することができるインライン型成膜装置及びそれに用いる成膜装置用ユニットとして有用である。   The present invention is useful as an in-line type film forming apparatus capable of reducing the time and cost required for designing and manufacturing an in-line type film forming apparatus and a unit for the film forming apparatus used therefor.

本発明の実施の形態に係るインライン型成膜装置の全体構成を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the whole structure of the in-line type film-forming apparatus which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施の形態に係る成膜装置用ユニットの共通構造を有する成膜装置用ユニットの構成を概略的に示す斜視図である。It is a perspective view which shows roughly the structure of the unit for film-forming apparatuses which has the common structure of the unit for film-forming apparatuses which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施の形態に係るインライン型成膜装置のリフトアップブロック及び先頭に位置する成膜装置用ユニットの構成を概略的に示す斜視図である。It is a perspective view which shows roughly the structure of the lift-up block of the in-line type film-forming apparatus which concerns on embodiment of this invention, and the unit for film-forming apparatuses located in the head. 図1のIV−IV線断面を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the IV-IV sectional view of FIG. 本発明の実施の形態に係るインライン型成膜装置のキャリアへの基材の搭載構成を概略的に示す斜視図である。It is a perspective view which shows roughly the mounting structure of the base material to the carrier of the in-line type film-forming apparatus which concerns on embodiment of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

1 リフトアップブロック
1a リフタ
1b 押出装置
1c ガイドレール
1d チェーン
2〜9 成膜装置用ユニット
2a 処理室(基材搭載室)
2b〜9b 復路部ハウジング
2c 基材投入口
2d 開口部
3a 処理室(入口槽)
3c〜8c 真空装置
4a 処理室(前真空槽)
5a 処理室(スパッタ槽)
5d スパッタ装置
6a 処理室(重合槽)
6d プラズマ重合装置
7a 処理室(後真空槽)
8a 処理室(出口槽)
9a 処理室(基材回収室)
9c 基材回収口
10 リフトダウンブロック
11a〜11g 開閉手段
12 閉止体
13 ローラ
13a サブ往路部
13b サブ復路部
13c ガイドフランジ
20 成膜装置用ユニット
20a 共通処理室
20b 復路部ハウジング
20d 開口部
20e 開口部
20f フランジ
100 往路部
200 復路部
300 制御装置
C キャリア
Ca 嵌合凸部
J 冶具
Ja 嵌合凹部
Jb 係合凸部
W 基材
Wa 係合凹部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Lift up block 1a Lifter 1b Extruder 1c Guide rail 1d Chain 2-9 Unit 2a for film-forming apparatus Processing chamber (base material mounting chamber)
2b-9b Return path housing 2c Base material inlet 2d Opening 3a Processing chamber (inlet tank)
3c-8c Vacuum apparatus 4a Processing chamber (pre-vacuum chamber)
5a Processing chamber (sputtering tank)
5d Sputtering device 6a Processing chamber (polymerization tank)
6d Plasma polymerization apparatus 7a Processing chamber (rear vacuum chamber)
8a Processing chamber (exit tank)
9a Processing chamber (base material recovery chamber)
9c Substrate recovery port 10 Lift-down blocks 11a to 11g Opening / closing means 12 Closing body 13 Roller 13a Sub-outward path part 13b Sub-return path part 13c Guide flange 20 Deposition unit 20a Common processing chamber 20b Return path housing 20d Opening part 20e Opening part 20f Flange 100 Outward part 200 Return part 300 Control device C Carrier Ca Fitting convex part J Jig Ja Fitting concave part Jb Engaging convex part W Substrate Wa Engaging concave part

Claims (8)

往路部と復路部と前記復路部の終端を前記往路部の始端に接続する始端側接続部と前記往路部の終端を前記復路部の始端に接続する終端側接続部とを有し各部を循環するようにキャリアを搬送するキャリア搬送路と、前記往路部に前記キャリアが順次通過するように配置された成膜用の複数の処理室とを有し、前記キャリアに基材を搭載して前記処理室を順次通過させることにより該基材上に成膜するインライン型成膜装置において、
前記往路部が前記複数の処理室に対応させてサブ往路部に分割されるとともに前記復路部が各前記サブ往路部に対応させてサブ復路部に分割され、互いに対応する前記各処理室と前記各サブ往路部と前記各サブ復路部とが成膜装置用ユニットとして一体化され、前記各成膜装置用ユニットが連結されて構成されている、インライン型成膜装置。
A forward end part, a return path part, a start end side connection part that connects the end of the return path part to the start end of the forward path part, and a termination side connection part that connects the end of the forward path part to the start end of the return path part, and circulates each part. A carrier transport path for transporting the carrier and a plurality of film formation chambers arranged so that the carrier sequentially passes in the forward path portion, and a substrate is mounted on the carrier In an in-line type film forming apparatus for forming a film on the substrate by sequentially passing through a processing chamber,
The forward path part is divided into sub-outward parts corresponding to the plurality of processing chambers, and the return path part is divided into sub-inward path parts corresponding to the sub-outward path parts, and the processing chambers corresponding to each other and the An in-line type film forming apparatus in which each sub outward path part and each sub return path part are integrated as a film forming apparatus unit, and each film forming apparatus unit is connected.
前記往路部と前記復路部とが鉛直面内に配置されている請求項1に記載のインライン型成膜装置。   The in-line type film forming apparatus according to claim 1, wherein the forward path part and the return path part are arranged in a vertical plane. 前記復路部が、前記往路部の下部に配置されている請求項2に記載のインライン型成膜装置。   The in-line type film forming apparatus according to claim 2, wherein the return path part is disposed below the forward path part. 前記複数の処理室が、入口槽、前真空槽、スパッタ槽、重合槽、後真空槽及び出口槽を構成している請求項1に記載のインライン型成膜装置。   The in-line type film forming apparatus according to claim 1, wherein the plurality of processing chambers constitute an inlet tank, a front vacuum tank, a sputtering tank, a polymerization tank, a rear vacuum tank, and an outlet tank. 前記複数の処理室のうち先頭の処理室は基材搭載室が構成され、かつ、前記複数の処理室のうち最後尾の処理室は基材回収室が構成されている請求項4に記載のインライン型成膜装置。   The first processing chamber among the plurality of processing chambers is configured as a base material mounting chamber, and the last processing chamber among the plurality of processing chambers is configured as a base material recovery chamber. Inline type deposition system. 往路部と復路部と前記復路部の終端を前記往路部の始端に接続する始端側接続部と前記往路部の終端を前記復路部の始端に接続する終端側接続部とを有し各部を循環するようにキャリアを搬送するキャリア搬送路と、前記往路部に前記キャリアが順次通過するように配置された成膜用の複数の処理室とを有し、前記キャリアに基材を搭載して前記処理室を順次通過させることにより該基材上に成膜するインライン型成膜装置を構築するための成膜装置用ユニットであって、
前記各処理室を構築可能な共通処理室と、前記往路部を前記複数の処理室に対応させて分割してなるサブ往路部と、前記復路部を前記サブ往路部に対応させて分割してなるサブ復路部とを一体化してなる、成膜装置用ユニット。
A forward end part, a return path part, a start end side connection part that connects the end of the return path part to the start end of the forward path part, and a termination side connection part that connects the end of the forward path part to the start end of the return path part, and circulates each part. A carrier transport path for transporting the carrier and a plurality of film formation chambers arranged so that the carrier sequentially passes in the forward path portion, and a substrate is mounted on the carrier A film forming apparatus unit for constructing an in-line type film forming apparatus for forming a film on the substrate by sequentially passing through a processing chamber,
A common processing chamber capable of constructing the processing chambers, a sub-outward part obtained by dividing the forward part corresponding to the plurality of processing chambers, and a return part corresponding to the sub-outward part A unit for a film forming apparatus, which is formed by integrating a sub-return section.
前記サブ往路部と前記サブ復路部とが鉛直面内に配置されている請求項6に記載の成膜装置用ユニット。   The film forming apparatus unit according to claim 6, wherein the sub outward path portion and the sub return path portion are arranged in a vertical plane. 前記サブ復路部が、前記サブ往路部の下部に配置されている請求項7に記載の成膜装置用ユニット。



The film forming apparatus unit according to claim 7, wherein the sub return path unit is disposed below the sub forward path unit.



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