JP2005201790A - 接触式変位測定器 - Google Patents
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Abstract
【課題】 温度センサ無しで温度特性に関する誤差を実用上除去する。
【解決手段】 接触式変位測定ヘッドから出力されるsin波の検波タイミングは雰囲気温度によって振幅と位相が変化する。検波タイミングを意図的に遅らせると(位相φ>0)、温度変化による位相の遅れΔθが正の特性を有する測定ヘッドでは、増加分が減少分よりも大きく、プラス方向に計測誤差が出るが、実験により、望ましい位相φを設定すると、この計測誤差が実質的にゼロになる。
【選択図】 図4
【解決手段】 接触式変位測定ヘッドから出力されるsin波の検波タイミングは雰囲気温度によって振幅と位相が変化する。検波タイミングを意図的に遅らせると(位相φ>0)、温度変化による位相の遅れΔθが正の特性を有する測定ヘッドでは、増加分が減少分よりも大きく、プラス方向に計測誤差が出るが、実験により、望ましい位相φを設定すると、この計測誤差が実質的にゼロになる。
【選択図】 図4
Description
本発明は接触式変位測定器に関する。
対象物の表面に接触子を当てて対象物の表面性状を測定するのに接触式変位測定器が用いられる(特許文献1〜3参照)。この接触式変位測定器は、原理的には、物理的変位を電気量に変換するものであり、機械的な構成として、軸方向に変位可能な接触子に連動する差動トランスのコアを有し、このコアが接触子の変位に対応して変位することにより、接触子の変位に対応した大きさの信号がコイルから出力されることを利用している。
図1を参照して、差動トランス1の一次コイル2と二次コイル3には、発振回路4の矩形波に基づく逆位相のsin波が供給され、可動コア5の位置に対応したsin波が差動トランス1から出力される。この出力信号は、スイッチ6によって半周期分の検波範囲の信号が検波回路7に取り込まれて、接触子の変位量が計測される。すなわち、スイッチ6は検波タイミングを規定するものであり、このスイッチ6は、発振回路4の矩形信号に事実上同期したタイミングでオン/オフ制御して、検波範囲以外の波形を排除して検波範囲内の波形だけを検波回路7に入力する。図2は、コア5の移動に伴う差動トランス1の出力波形の変化を示す。検波回路7では、検波範囲の波形を平準化して平均値をADコンバータでサンプリングする。
差動トランス1などは、一般的には、「接触式変位測定ヘッド」と呼ばれる測定機器10に組み込まれ、また、発振回路4や検波回路7などは「アンプ」などと呼ばれる機器11に組み込まれて、これらの機器10、11によって接触式変位測定器が構成され、接触式変位測定ヘッド10とアンプ11とは配線12〜14を介して接続される。
図3は、各信号のタイムチャートを示す。同図に示す波形は、上から順に、(1)発振回路4の周期性信号つまり矩形波、(2)配線12を通じたアンプ出力波形(他方の配線13を通じたアンプ出力波形は図示を省略してある)、(3)接触式変位測定ヘッド10の出力波形、(4)検波回路7に入る直前の波形、(5)検波タイミングつまりスイッチ6に対するON/OFF制御信号を示す。
この図3の(2)波形に見られる遅れ時間t1は、アンプ10の送信回路での遅れである。(3)波形に見られる遅れ時間t2は、接触式変位測定ヘッド10での遅れである。(4)波形に見られる遅れ時間t3は、アンプ11での受信回路での遅れである。遅れ時間t1〜t3は接触式変位測定ヘッド10及びアンプ11の回路構成に伴う遅れであり、アンプ10の出力、接触式変位測定ヘッド10の出力、スイッチ6をONする検波タイミングの各々は発振回路4の周期性信号(矩形波)によって規定されることから、遅れ時間t1〜t3を無視すれば、アンプ10の出力、接触式変位測定ヘッド10の出力、スイッチ6をONする検波タイミングは、事実上、同期している。なお、図1は、遅れ時間t1〜t3を無視したときの従来の回路の概要を示すものであるが、実際の回路には、発振回路4とスイッチ6との間に遅延回路が設けられて、この遅延回路によって上述した遅れ時間t1〜t3を加味したタイミングでスイッチ6のオン/オフ制御が行われるようになっている。
ところで、接触式変位測定ヘッド10が設置される環境の温度によって、接触式変位測定ヘッド10の出力波形の振幅と位相が変化して、これが計測誤差となることが知られており、このため、温度特性による計測誤差を回避するのに、温度センサで雰囲気温度を検知して、検波タイミングなどを補正する手段が必要となっていた。
特開平6−74705号公報
特開平7−318303号公報
特開平8−278104号公報
本発明の目的は、温度センサ無しで温度特性に関する誤差を実用上除去できる接触式変位測定器を提供することにある。
本発明は、検波タイミングを意図的に変位させることで温度特性による計測誤差を事実上除去できるのでは、との仮説に基づいて本発明を案出するに至ったものである。
すなわち、本発明にあっては、上述した技術的課題を達成するために、
対象物に接触することにより変位する接触子を有し、該接触子の変位を電気量に変換した後に検波回路で計測する接触式変位測定器において、
前記検波回路に取り込む検波タイミングを規定するスイッチと、
前記検波タイミングを制御する検波タイミング制御手段とを有し、
該検波タイミング制御手段は、雰囲気温度に関連した計測誤差を補償することのできる所定の正又は負のオフセットタイミングで前記スイッチを制御することを特徴とする。
対象物に接触することにより変位する接触子を有し、該接触子の変位を電気量に変換した後に検波回路で計測する接触式変位測定器において、
前記検波回路に取り込む検波タイミングを規定するスイッチと、
前記検波タイミングを制御する検波タイミング制御手段とを有し、
該検波タイミング制御手段は、雰囲気温度に関連した計測誤差を補償することのできる所定の正又は負のオフセットタイミングで前記スイッチを制御することを特徴とする。
本発明の好ましい実施例を説明する前に、本発明の理解を深めるために、本発明の課題解決のための基本的なアプローチを説明する。
上記式1をΔθ及びφの正負によって整理すると次の通りになる。
Δθ(正) Δθ(負)
φ(正) + −
φ(負) − +
Δθ(正) Δθ(負)
φ(正) + −
φ(負) − +
上記の表に関し、図4、図5を参照して具体的な波形を説明する。これら図4、図5に実線で示す波形を基準として、雰囲気温度の影響で、破線で示すように波形が遅れる(Δθ>0)を例示してある。
図4は、検波タイミングを遅らせた場合(位相φ>0)を例示しており、この図4から分かるように、増加分が減少分よりも大きく、従ってプラス方向に計測誤差が出ることになる。
図5は、検波タイミングを進めた場合(位相φ<0)を例示しており、この図5から分かるように、減少分が増加分よりも大きく、従ってマイナス方向に計測誤差が出ることになる。
以上の結果によれば、オフセット検波タイミング(位相φ)の設定によって、雰囲気温度の影響に伴う計測誤差を任意の方向にすることが可能であり、また、オフセット検波タイミング(位相φ)を選定することで、雰囲気温度の影響を調整することも可能であることが分かる。
例えば、Δθ(正)の特定を有する測定ヘッドでは、雰囲気温度の影響により波形の振幅が増大(正)する場合には、φを負に設定し、逆に、雰囲気温度の影響により波形の振幅が減少(負)する場合には、φを正に設定すればよい。この関係を下記の表に示す。
Δθ(正) Δθ(負)
振幅(正) φ<0 φ>0
振幅(負) φ>0 φ<0
振幅(正) φ<0 φ>0
振幅(負) φ>0 φ<0
図6〜図8は、タイプA、タイプB、タイプCの3種類の接触式変位測定ヘッドを用意し、これらを10℃、25℃、40℃の雰囲気温度の下で、検波タイミングをずらして(位相φを付与)その温度特性を調べた実験結果を示し、図6はタイプAに関する温度特性であり、図7はタイプBに関する温度特性であり、図7はタイプCに関する温度特性である。
図6〜図8の実験結果から、タイプAであれば位相φ=約−8°、タイプBであれば位相φ=約7°、タイプCであれば位相φ=約17°に設定すれば、雰囲気温度10〜40℃の実用範囲で、温度変化に伴う計測誤差をほぼゼロにすることができることを示している。
図9は、実施例の接触式変位測定器の具体的な構成を示す。ここに、図9に示す要素には、図1を参照した従来の接触式変位測定器と同様の要素には同一の参照符号を付してあり、また、ポイントA〜Hでの波形を図10に示してある。
実施例の接触式変位測定器100は、物理的に分離したアンプ101と、接触式変位測定ヘッド102とを有し、アンプ101はタイプの異なる測定ヘッド102に対応するように構成されている。
発振回路(タイマ)を含むCPU4は、タイマ出力により40kHzのPWMの矩形波(図10の(A)を参照)を出力する。第1トグル20は、40kHzを分収して20kHzのDuty50%の矩形波を生成して、これを出力する((図10の(A)を参照))。第1フィルタ21はLPFで構成され、第1トグル20から供給された矩形波からsin波を生成して出力し、アンプ101から配線12及び13を通じて逆位相のsin波を測定ヘッド102に供給する。図10の(C)は配線12を通じて測定ヘッド102の一次コイル2に供給するsin波を示す。
測定ヘッド102の出力は配線14を通じてアンプ101に取り込まれるが、測定ヘッド102の種類によって測定ヘッド102の出力波形の振幅が異なるため、測定ヘッド別のゲイン選択回路23によって、ゲインの切換が行われる。このゲインの切換は、CPU4から4chの制御によって16段階のゲイン切換が可能である。
検波範囲を規定するアナログスイッチ6は、第2トグル24の出力信号によって制御される。第2トグル24は、PWM制御により第1トグル20の出力よりも遅延した矩形波を出力する。
図10の(E)は検波直前つまりアナログスイッチ6に入力される波形を示し、(F)は第2トグル24が出力する矩形波つまりアナログスイッチ6のON/OFFタイミングを示す。アナログスイッチ6の出力(図10の(G))は、検波回路7に入力され、第2フィルタ25で平滑化(図10の(H))した後、16bitのADコンバータ26で20kHzで波形に同期してサンプリングが行われる。
接触式変位測定ヘッド102は、例えばEEPROMからなるメモリ30を有し、このメモリ30は、当該測定ヘッド102での遅れ時間t2、温度特性に関連した遅れ時間t0が記憶されている。
また、アンプ101は、例えばEEPROMからなるメモリ31を有し、このメモリ31には、アンプの送信回路での遅れ時間t1、アンプ受信回路での遅れ時間t3などが記憶されている。
接触式変位測定ヘッド102をアンプ101に接続すると、アンプ101は、接触式変位測定ヘッド102のメモリ30のデータを取り込んで、第2トグル24の遅延時間を設定して、第2トグル24と共同してスイッチ6のON/OFFタイミングつまり検波タイミングを制御する。
この第2トグル24の遅延時間には、アンプ101の送信回路での遅れ時間t1、接続された測定ヘッド102での遅れ時間t2などの他に、温度特性に関するオフセット検波タイミング(時間t0:この時間t0は正の場合と負の場合とが有る)を含む。
温度特性に関するオフセット検波タイミングの時間t0は、前述したように、実験により接触式変位測定ヘッド102のタイプ毎に最適な所定の位相φに基づいて決定すればよい。
以上、実施例の接触式変位測定器100を説明したが、アンプ101が特定の接触式変位測定ヘッド102だけの専用器の場合には、アンプ101のメモリ31に所定の位相φを記憶させておいて、このφに基づく正又は負の遅延時間t0を加味した検波タイミングを設定することができる。
また、アンプ101のメモリ31に、アンプ101に適用可能な各種の接触式変位測定ヘッド102の温度特性に関する位相φ又は遅延時間t0を全て記憶させておき、アンプ101に接続する接触式変位測定ヘッド102のタイプをユーザが指定することで、これに対応するφ又はt0を設定するようにしてもよい。
また、アンプ101に、温度特性に関する検波タイミングの遅延時間t0として予め所定値を設定しておき、接続する接触式変位測定ヘッド102毎に補正して、最適な遅延時間t0となるようにしてもよい。
100 接触式変位測定器
101 アンプ
102 接触式変位測定ヘッド
1 差動トランス
2 一次コイル
3 二次コイル
4 CPU(発振回路を含む)
5 可動コア
6 スイッチ
24 第2トグル
101 アンプ
102 接触式変位測定ヘッド
1 差動トランス
2 一次コイル
3 二次コイル
4 CPU(発振回路を含む)
5 可動コア
6 スイッチ
24 第2トグル
Claims (4)
- 対象物に接触することにより変位する接触子を有し、該接触子の変位を電気量に変換した後に検波回路で計測する接触式変位測定器において、
前記検波回路に取り込む検波タイミングを規定するスイッチと、
前記検波タイミングを制御する検波タイミング制御手段とを有し、
該検波タイミング制御手段は、雰囲気温度に関連した計測誤差を補償することのできる所定の正又は負のオフセットタイミングで前記スイッチを制御することを特徴とする接触式変位測定器。 - 対象物に接触することにより変位する接触子と、該接触子に連動して変位するコアを有する差動トランスとを含む接触式変位測定ヘッドと、
発振回路の周期性信号に基づいて前記接触式変位測定ヘッドの前記差動トランスの第1、第2のコイルに逆位相のsin波を供給すると共に、前記接触式変位測定ヘッドの前記差動トランスが出力するsin波を受け取って、受け取ったsin波をスイッチによって規定される検波タイミングで検波することにより前記接触子の変位量を計測するアンプとを有する接触式変位測定器において、
前記検波タイミングが、前記発振回路の周期性信号に基づいたタイミングに、前記接触式変位測定ヘッドの雰囲気温度に関連した計測誤差を補償することのできる所定の正又は負のオフセットタイミングを加えたタイミングに設定されていることを特徴とする接触式変位測定器。 - 前記アンプが種類の異なる複数の接触式変位測定ヘッドに対応可能であり、
前記アンプには、各々の種類の接触式変位測定ヘッドに対応した前記所定の正又は負のオフセットタイミングに関連したデータを記憶したメモリが設けられて、該メモリから読み込んだデータに基づいて、前記アンプに接続した前記接触式変位測定ヘッドに対応した前記所定の正又は負のオフセットタイミングが設定される、請求項2に記載の接触式変位測定器。 - 前記アンプが種類の異なる複数の接触式変位測定ヘッドに対応可能であり、
前記接触式変位測定ヘッドには、該接触式変位測定ヘッドに対応した前記所定の正又は負のオフセットタイミングに関連したデータを記憶したメモリが設けられて、前記アンプと前記接触式変位測定ヘッドを接続したときに、前記接触式変位測定ヘッドの前記メモリから読み込んだデータに基づいて、前記アンプに接続した前記接触式変位測定ヘッドに対応した前記所定の正又は負のオフセットタイミングが設定される、請求項2に記載の接触式変位測定器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004009012A JP2005201790A (ja) | 2004-01-16 | 2004-01-16 | 接触式変位測定器 |
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Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011203074A (ja) * | 2010-03-25 | 2011-10-13 | Yamaha Corp | 電磁アクチュエータの変位位置検出装置 |
JP4852667B1 (ja) * | 2011-03-04 | 2012-01-11 | 株式会社マコメ研究所 | 近接センサ |
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JP2017067517A (ja) * | 2015-09-29 | 2017-04-06 | 株式会社ミツトヨ | 計測機器用の信号処理回路 |
-
2004
- 2004-01-16 JP JP2004009012A patent/JP2005201790A/ja active Pending
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US8773114B2 (en) | 2010-03-25 | 2014-07-08 | Yamaha Corporation | Apparatus for detecting displacement of electromagnetic actuator |
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JP2012185032A (ja) * | 2011-03-04 | 2012-09-27 | Makome Kenkyusho:Kk | 変位センサ |
JP2012185033A (ja) * | 2011-03-04 | 2012-09-27 | Makome Kenkyusho:Kk | 近接センサ |
JP2017067517A (ja) * | 2015-09-29 | 2017-04-06 | 株式会社ミツトヨ | 計測機器用の信号処理回路 |
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