JP2005195598A - 平均偏光モード分散の測定精度を改善する方法 - Google Patents
平均偏光モード分散の測定精度を改善する方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2005195598A JP2005195598A JP2004382091A JP2004382091A JP2005195598A JP 2005195598 A JP2005195598 A JP 2005195598A JP 2004382091 A JP2004382091 A JP 2004382091A JP 2004382091 A JP2004382091 A JP 2004382091A JP 2005195598 A JP2005195598 A JP 2005195598A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- polarization mode
- mode dispersion
- group delay
- frequency
- difference group
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Ceased
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/33—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
- G01M11/336—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face by measuring polarization mode dispersion [PMD]
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/33—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
- G01M11/331—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face by using interferometer
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
- H04B10/25—Arrangements specific to fibre transmission
- H04B10/2507—Arrangements specific to fibre transmission for the reduction or elimination of distortion or dispersion
- H04B10/2569—Arrangements specific to fibre transmission for the reduction or elimination of distortion or dispersion due to polarisation mode dispersion [PMD]
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Dispersion Chemistry (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Optical Communication System (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
の測定精度を高める。
【解決手段】本方法は、任意の従来の手段で測定された平均平方DGDに対して系統補正
を行い、有限ソース帯域幅から生じる系統誤差を最小化することを含む。本方法はさらに
、周波数領域PMD測定装置で得られた第2オーダPMD(SOPMD)の統計からの平
均DGDと平均平方DGの測定に対して系統補正を行うことも含む。ベクトルSOPMD
またはスカラSOPMDのいずれかの確率密度関数(PDG)を、どちらの量が測定され
たかに依存して適用する。有限なソース帯域幅によって生じる平均DGDの推定における
統計誤差を最小化するために系統補正を行うと、測定分散が二分の1に低減され、これは
ソース帯域幅を二倍にした結果に匹敵する。
【選択図】図2
Description
モード分散の測定の精度を高める方法に関する。
モード分散(PMD)のベクトル特性によって部分的に特徴記述される。偏光モード分散
はファイバ内の複屈折の結果として生じ、複屈折は、ファイバ構成自体における物理的な
非対称性、応力、変形、ファイバに加わる他の外力によって生じうる。さらに、ランダム
偏光結合が発生し、統計因子の経時的な変化が生じる場合がある。光ファイバは、屈折率
において非等方性を示すが、これは位置と時間の関数として変わる。このため、偏光が異
なる光信号の成分は異なる速度で伝播し、この結果、成分間に差分群遅延(DGD)が生
じ、長いファイバに沿って伝播する光パルスに大きな広がりが生じる。
によって完全に特徴記述される。上式でDGDはベクトルのマグニチュード
である。図1に示すように、DGDは一般にτ10と示す。任意の偏光状態(SOP)は
、2つの直交する主な偏光状態(PSP)12、14に沿った方向成分に分解することが
できる。DGDまたはτ10は光ファイバ16全体を横断した後の、高速PSP12と低
速PSP14の時間的な分離を表す。ファイバ内を伝播する光周波数または波長ごとに常
に2つのPSPがあり、1つのPSPしか励起されない場合、第1オーダPMDによるパ
ルスの広がりが消える。典型的にはPMDは異なる周波数に対応する平均DGDの点から
特徴記述され、第1オーダで、波長、温度、外部摂動に対して独立している。低モード結
合ファイバでは、光周波数の大きな範囲に渡って平均化されたDGDの測定は経時的にほ
ぼ一定であるが、たとえば長く伸びるファイバなど高モード結合ファイバでは、ファイバ
長に沿った複屈折の変動とランダム偏光モード結合の効果が組み合わさるため、周波数平
均DGDは時間的にランダムに変わる。DGDにおけるこの統計的変動は、統計的な図の
メリット、平均DGMの点からはDGDの特徴記述に適している。
ード分散(SOPMD)18の効果を示す。SOPMDは周波数に関するPMDの一次導
関数であり、PMDの変化を周波数の関数として表す。したがってSOPMDは、PMD
の周波数依存性と注入された光パルス19のスペクトル帯域幅による全体的なパルスの広
がりをさらに特徴記述する。
は異なり、時間と周波数の両方に依存する。当業者であれば理解されるように、一定範囲
の周波数に渡ってPMDベクトルを完全に特徴記述する従来の方法は、ポアンカレ球分析
(PSA)、ジョーンズ行列固有値(JME)、ミュラー行列法(MMM)、固定アナラ
イザ、干渉計測定技術を含む。これらの方法は、周波数依存DGD値の組から計算される
平均DGDと二乗平均平方根(RMS)DGDの測定を提供する。ついで、当業者であれ
ば一般に仮定するように、マクスウェル分布の後に統計DGDを行い、いくつかのファイ
バに関して帯域幅Bの光周波数に渡って得られたDGD値を平均化することで決定される
真の平均DGD〈τ〉を、測定されたRMS DGD
を
の係数で乗算することによって概算することができる。
る統計的な限度を正確に評価する際の基本的な問題を最初に認識したのは、非特許文献1
であった。同論文は参照によって本明細書に組み込まれている。より広いスペクトル帯域
幅に渡って平均をとるようになり、平均DGD概算の精度は実際に向上した。(B→∞の
理論上理想的な場合に近づいている)。しかし、平均を計算するために使用する各測定値
は独立でなければならないという統計要件に反して、近くの波長におけるDGDは周波数
独立していない場合が多い。Gisinらは、この周波数依存性により、PMDが小さい
場合(.1のオーダの場合)、平均DGD測定には28%の不確実性があるが、これに比
べ、1ピコ秒(ps)のオーダというより大きなPMDの平均DGDにおける不確実性は
低い(約9%)という結果になることを示している。平均DGD測定における不確実性は
ソース帯域幅の減少につれて増加する。Gisinらは、波長にわたってDGDを平均化
するすべての測定技術では、同じレベルの不確実性が本質的であることを示した。
み込まれている。Shtaifらは、DGD、二乗DGD、PMDベクトルの方向の周波
数自己相関の測定において、対応するすべての相関帯域幅が同等であることを示した。ま
たShtaifらは、検査中のファイバの特徴を記述するPMDのすべての統計特性は、
平均DGDで一意的に定義されることを示している。
ている。さらに、個別のファイバリンクと全ファイバルートの真の平均差分群遅延(DG
D)の正確な測定は、サービス機能休止の可能性を正確に推定するために重要である。P
MDは周波数にも時間にも応じて変わるので、異なる時に同じファイバについて得られた
周波数平均DGDの測定は互いに異なり、また、所与のファイバに関する平均DGDの真
の値とも異なることがある。通常の対象範囲内、および市販の設備の光帯域幅内のDGD
値については、DGD測定の変動は、測定に使用した光源の光帯域幅にほぼ反比例する。
言いかえれば、低複屈折ファイバの平均DGDの正確な測定は、測定に使用したソースの
光帯域幅によって制限される。
正確に記述する必要性が増加するだろう。したがって、個別のファイバリンクおよび全フ
ァイバルートの平均DGDを、現在の関連技術より正確に測定する必要性が存在する。
イバルートにおける差分群遅延(DGD)を測定する精度を改善する方法に関する。
法は、第1のステップとして、偏光モード分散測定装置を使用して、ソースの有限なスペ
クトル帯域幅Bに渡って平均化された平均平方差分群遅延〈τ2〉Bを測定するステップを含む。ついで
に従って二乗平均平方根差分群遅延を計算し、真の平均〈τ〉を測定された二乗平均平方
根差分群遅延
から推定される従来の方法に系統補正係数εを適用する。系統補正係数εは、ソースの有
限なスペクトル帯域幅による系統誤差を最小限にする。
間領域技術を使用して得られる測定に適用することができる。また本方法は、偏光計など
を含む装置を使用した、ジョーンズ行列固有分析、ポアンカレ球分析、ミュラー行列法な
どの周波数領域技術を使用して得られた測定にも適用することができる。本発明は、単一
の光ファイバリンクまたは全光ファイバルートを介して平均差分群遅延を測定するために
使用することができる。
延〈τ〉を測定する方法は、第1のステップとして、周波数領域偏光モード分散測定装置
を使用して、偏光モード分散ベクトルを周波数の関数として特徴記述するステップを含む
。本方法はさらに、第2オーダ偏光モード分散ベクトルを偏光モード分散ベクトルからの
周波数
の関数として計算することと、
に従って第2オーダ偏光モード分散ベクトルのマグニチュード
の平方根の平均を計算し、第1の結果を得ることとをさらに含む。次の等式に従って第1
の結果に比例係数A2を乗算し、平均差分群遅延を計算する。
群遅延〈τ〉を測定する方法を提供する。この方法は第1のステップとして、周波数領域
偏光モード分散測定装置を使用して、偏光モード分散ベクトルのマグニチュードを周波数
の関数として測定するステップを含む。ここで、偏光モード分散ベクトルのマグニチュー
ドはスカラ差分群遅延である。本方法はさらに、スカラ差分群遅延の周波数導関数を計算
することを含む。周波数導関数はスカラ第2オーダ偏光モード分散関数である。本方法は
さらに、第1の結果を
に従って計算し、また比例係数B2に第1の結果を乗算することを含む。したがって次の等式に従って、平均差分群遅延を計算する。
遅延τ2 RMSを測定する方法を提供する。この方法は第1のステップとして、周波数領域偏光モード分散測定装置を使用して、偏光モード分散ベクトルを周波数の関数として特徴記述するステップを含む。さらに、第2オーダ偏光モード分散ベクトルを偏光モード分散ベクトルから周波数
の関数として計算する。本方法はさらに、
に従って第2オーダ偏光モード分散ベクトルのマグニチュード
の平均を計算し、第1の結果を得ることを含む。次の等式に従って第1の結果に比例係数
A1を乗算し、平均平方差分群遅延を計算する。
遅延τ2 RMSを測定する方法を提供する。この方法は第1のステップとして、周波数領域偏光モード分散測定装置を使用して、偏光モード分散ベクトルのマグニチュードを周波数の関数として測定するステップを含む。ここで、偏光モード分散ベクトルのマグニチュードはスカラ差分群遅延である。本方法はさらに、スカラ第2オーダ偏光モード分散関数を計算することを含む。スカラ第2オーダ偏光モード分散関数は、スカラ差分群遅延の周波数導関数である。さらに、
に従って第1の結果を計算する。次の等式に従って、第1の結果に比例係数B1を乗算し、平均平方差分群遅延を計算する。
してもよいし、全光ファイバルートを介してもよい。
さの光ファイバの偏光モード分散を特徴記述する方法を提供する。本方法は第1のステッ
プとして、周波数領域偏光モード分散測定装置から偏光モード分散データを周波数の関数
として集めるステップを含む。本方法はさらに、周波数領域偏光モード分散技術の適用に
より、偏光モード分散データからベクトル周波数依存関数とスカラ周波数依存関数のうち
1つを抽出することをさらに含む。ベクトル関数とスカラ関数のうち1つは、第1オーダ
偏光モード分散関数と第2オーダ偏光モード分散関数のうち1つである。ここに系統補正
を適用する。系統補正により有限なソース帯域幅Bから生じる、平均差分群遅延を測定す
る従来の方法における系統誤差が最小化される。系統補正の適用により、平均差分群遅延
〈τ〉と平均平方DGDτ2 RMSのうち1つの微分が得られる。
、等式(21)に従って第1の平均〈τ〉を導出し、等式(26)に従って第2の平均〈
τ〉を導出するステップと、ついで、第1の平均〈τ〉と第2の平均〈τ〉の合計の一次
方程式を導出して、組み合わされた平均〈τ〉を計算するステップとを含む。一次方程式
の係数の合計は、実質的に1に等しい。
るだろう。しかし、図面は図示のためだけに設計されたものであり、本発明を限定する定
義として設計されたものではないことを理解されたい。
ード分散(PMD)の測定から計算する精度を向上させることに関する。本発明は、従来
の方法によって、測定された平均平方DGD測定を真の平均DGD〈τ〉へ変換する際の
系統誤差を補正する方法を提供する。系統誤差は、有限の帯域幅Bの測定ソースを使用す
ることから生じ、また、真の平均DGD〈τ〉の推定値を得るために、測定された二乗平
均平方根DGD
に適用される従来の変換方法から生じる。本発明では、改善され
た平均値算出技術を、従来のPMD測定装置で得られた測定された二乗平均平方根DGD
に組み込むことによって、真の平均〈τ〉または真の平均平方DGD〈τ2〉測定における解答を改善する。
た平均値算出技術を組み込むことによって、光ファイバの真の平均DGD〈τ〉の測定に
おける精度を改善する方法を提供する。本発明による方法を使用すると、測定の不確実性
は30%低減され、これは光源の帯域幅Bを2倍にすることに等しい。
はソースの波長で、cは光速である。光波長および周波数という用語は相互交換可能であ
り、測定ソースの特徴記述のために使用する。同様に、スペクトル帯域幅と周波数帯幅は
、波長と周波数空間中の光源の特徴をそれぞれ指す。
のように表示し定義する。
「平均の測定」は、実験的に測定可能な量に適用される、等式(1)によって記述され
る有限の帯域幅平均を指す。ついで、等式(1)を適用して、パラメータXの二乗平均平
方根を次のように定義する。
したがって、幅Bのソースに渡って周波数の関数として測定されたDGDの二乗平均平
方根(RMS)は一般に次のように示される。
測定されたRMS DGDは、
上式で下付き文字「B」は、測定が有限なソース帯域幅Bに渡って行われたことを示す
。他方、本明細書では、等式(2)で無限の帯域幅にわたって測定することによって得ら
れた「真の」RMS DGDは、τRMSと示す。
上式でΔω=B/(2N+1)であり、また、ソース帯域幅Bに渡って2N+1測定を
合計する。
等式のXの通りである。
複屈折が同一に分布した無限数のファイバ(N→∞)に渡って、たとえばDGDなどの
同じ周波数依存のパラメータの平均値を算出することは、1つのファイバの同じ周波数依
存パラメータを無限の帯域幅(B→∞)に渡って測定することと等価である。ここで、パ
ラメータは有限な帯域幅Bに渡って各ファイバについて測定される。無限の帯域幅の限度
に渡って得られたこの「実際」または「真」の平均については、下付き文字「B」は省略
する。
の導関数であり、τωによって示す。
光ファイバケーブルまたはケーブルアセンブリを指してもよい。ファイバルートは多数の
ファイバリンクを含んでいてもよく、光伝送路内の任意の2つの終了ポイント間の合計光
ファイバケーブルを含む。
る方法を提供する。本方法は、従来の手段を使用してスペクトル平均されたDGDの二乗
平均平方根測定を真の平均DGD〈τ〉に変換するときに発生する系統誤差を、最小化す
る系統的な方法を使用する。エラーは、測定ソースが有限な帯域幅Bであることの結果で
ある。
列固有分析(JME)、ミュラー行列法(MMM),ポアンカレ球分析(PSA)など一
般に知られた技術を使用してPMDベクトルの特徴記述をするステップ22を含む。ステ
ップ23では、平均DGDをスペクトルソース帯域幅に渡る平均として計算し、真の平均
を推定する。別法としてはステップ24で、たとえば等式(4)に従って、周波数平均さ
れたPMDベクトルのマグニチュードからDGDのRMS値
を計算する。別法としてはステップ26を使用して、ソース帯域幅に渡って平均化された
時間遅延の平方の干渉計測定から
を直接導出する。ステップ28では、ステップ24またはステップ26のいずれかから導
出された
を従来の補正係数で乗算して真の平均〈τ〉29の推定値を計算する。
ている。したがって、統計的確率理論に基づいて、平均DGDの推定値は、ファイバに関
して
を測定し、この結果を従来の補正係数
で乗算することによって、等式(5)に従って無限数のファイバを含む全体に関して見出
される平均を推定することによって計算される。言いかえれば、従来の方法によって次の
等式を適用し、図2のステップ28に従って真の平均〈τ〉29の推定値を得る。
この近似値の有効性は次の比較によって確認することができる。
上式で、複屈折が同一に分布した多数の異なるファイバに渡って合計平均を得る。
であると、系統誤差が導入される。これは、B→0などの帯域幅が非常に狭い極端な場合
、もっともよく理解できる。これは、ファイバごとに1つだけの周波数ポイントを使用し
て平均DGDを測定した状況に対応する。複屈折が同一に分布した多くのファイバに渡っ
て平均すると、等式(7)の左辺LHSは〈τ〉に収斂し、右辺RHSは
に収斂し、約8%の系統誤差が発生する。
がり上で定義され、τ(B)と示される、ソース帯域幅Bの関数としてDGDの推定値を
得る。
この関数は、同じτRMSを伴う多くの異なるファイバ全体について、全体の平均が真の平均〈τ〉に収斂するように定義される。
std(τ(B))と示されるτ(B)の標準偏差は、標準平均に対して最小化される
。
上式でηは、全体に関して見出された平均からの測定の偏差を示し、全体に関するη値
の平均はゼロ
である。この偏差が小さいと仮定すると、二項式を適用してηを概算することができ、等
式(10)は次式のように書き直すことができる。
上式で、分散は次のように定義する。
数領域測定技術、および、低コヒーレンス干渉計などの時間領域技術を含むが、これらに
限定されるものではない。周波数領域でも機能する走査マイケルソン干渉計と基本的に等
価な方法は、固定アナライザ技術である。
、周波数平均されたDGDの時間領域における直接測定を提供する。N.Gisin、J
.P.Von der Weid、J.P.Pellauxは、1991年のJ.Lig
htw.Technol.第9巻、821ページの「長短の単一モードファイバの偏光モ
ード分散」で、PMDを測定するための一般に知られた干渉計測定技術を詳細に説明して
いる。同論文は参照により本明細書に組み込まれている。図3のマイケルソンタイプの干
渉計30では、例えば、スペクトルの広い(低コヒーレンス)ソース32を使用して光3
4を被測定物(ファイバ)36に結合する。平行光学素子38を使用してファイバ36の
出力を平行にし、ビームスプリッタ40に向ける。ビームスプリッタ40は光を、干渉計
30の2つのアームに沿った2つの経路に分割する。1つの経路は可動ミラー42に向か
っており、このミラーは入射光の方向と一致する経路に沿って並進できる。第2の経路は
静止ミラー44の方に向かっている。ミラー42が並進すると、2つのアーム間の時間遅
延差が被測定物36内においてソース32のコヒーレンス時間内に生成された遅延と一致
する限り、検出装置46によって干渉縞が観察される。
ェログラムは対称で、2つのサイドローブと1つの中心の自己相関ピークによって表わさ
れる。サイドローブから中心ピークまでの距離は、ソーススペクトルまたは帯域幅にわた
って平均されたDGDを表す。モード結合ファイバの場合は、インターフェログラムは、
異なる周波数に関連した偏光(PSP)の種々の主な状態を表わす多数のピークを含む。
この場合、当業者であれば理解されるように、DGDを帯域幅に渡るRMS値、すなわち
、
として特徴記述する。これは等式(3)に示す通りである。時間領域測定は本質的にソー
ス帯域幅に渡って周波数平均されているので、PMDを周波数の関数として離散的に測定
する必要はない。
て測定装置の中で使用することができる、共通の偏光計50の構成図を示す。図4では、
波長可変レーザ52の偏光状態は、偏光コントローラ54によって制御する。コントロー
ラ54からの偏光された出力を検査中のファイバ56に結合する。ついで、所与の長さの
ファイバ56を横断した後の光信号の偏光状態を、従来の偏光状態アナライザ58で分析
する。全帯域幅に渡って指定された周波数間隔でレーザ52をステップすることによって
、各入力偏光状態に対する出力偏光状態を周波数の関数として得る。各技術は、使用する
入力偏光状態と、測定された出力偏光状態のデータセットの操作方法において異なる。し
かし、PMDベクトルの測定、すなわち、周波数の関数としてのDGDとPSPという結
果は同じである。
OEC’99コンベンション、シカゴIllにおける、Normand Cyr.、An
dre Girard、Gregory W.Schinnらによる「ストークスパラメ
ータ分析法、PMD測定のための統合テスト法」に詳述がある。同論文は参照によって本
明細書に組込まれている。これらの技術は、いわゆる偏光計によるストークスパラメータ
の測定に基づく。これらの2つの技術は、測定されたストークスパラメータからPMDを
記述するために使用するアルゴリズムと、一般に3つの測定されたストークスパラメータ
の必要な形式において異なる。JMEアルゴリズムで必要なのは、偏光の線形入力状態(
SOP)だけであるが、PSAアルゴリズムでは、通常は3つの入力状態のうちの1つが
円形でなければならない。
どちらの方法も、PSPとDGDを生の偏光計データから周波数の関数として発見する。
生の偏光計データは、いくつかの入力SOPに関して、光周波数の関数としての、ファイ
バの出力におけるSOPを表す正規化されたストークスベクトルである。正規化されたス
トークスベクトル
は、ポアンカレ球上の出力SOPの位置である。基本的にはど
ちらの方法も、2つの隣接する光周波数(ω+Δω)においてポアンカレ球上の位置の測
定から、出力SOPの局所「角速度」(ここでは時間は実際には光周波数である)を測定
する。1つの違いは、PSAは、SOPのストークスパラメータ表現内で直接行うが、J
MEは、ストークスベクトルを正規化したジョーンズベクトルに変換してからジョーンズ
ベクトル表現内で行うことである。
、IEEE Phot. Tech. Lett.第11巻、No.9、1153ページ
から1155ページの、R.M.Jopson、L.E.Nelson、H.Kogel
nikによる、「光ファイバ中の第2オーダ偏光モード分散ベクトルの測定」の中にMM
M方法が詳細に記述されている。他の2つの技術と同様に、MMMでは、各周波数ωで2
つの入力偏光siに対応する、送信された出力ストークスベクトルを決定することが必要である。しかしMMMはPSAと異なり、ファイバの回転マトリクスを決定する機能を有する。さらに、MMMは完全にストークスベクトル空間にとどまる。有利には、この技術は、2つの入力線形偏光間の相対的な角度から独立している。Jopsonらが記述するように、MMMをインタリーブ方法と共に使用し、ファイバの第1オーダおよび第2オーダのPMDベクトルを測定することができる。
るDGDの周波数平均されたRMS測定を生成するために使用することができる。ついで
、上式(16b)で得られた系統補正を等式(16a)のように測定されたRMS DG
DτRMSに直接適用し、真の平均DGD〈τ〉を計算する際のエラーを最小化することができる。
の測定値が等価ではないという性質に対して系統補正を提供する。言いかえれば、周波数
平均されたパラメータの平方根をとると、有限帯域幅測定に関する系統誤差を招く。この
性質に関する系統補正は、DGDのより高い累乗とPMDの周波数導関数まで拡張するこ
とができる。
この方法は、有限帯域幅Bに渡って第2オーダPMD(SOPMD)を測定することと、
典型的には有限帯域幅に渡る測定から生じる確率的誤差を最小限にするために系統補正を
適用することとによる。系統補正は、周波数に渡って平均値算出した後に根をとる従来の
方法が招く系統誤差を回避する平均値算出手順を含む。この方法は、測定を行ったファイ
バ長が複屈折相関長よりかなり長いときに優れた結果を生む。これは、ファイバが通信シ
ステム内に広がる場合などである。
. 第9巻、1439ページから1456ページの、G.J.FoschiniとC.D
.Pooleによる「シングルモードファイバ中の偏光分散の統計理論」(「Fosch
ini and Poole」)の中に、ファイバが複屈折の相関長よりはるかに長いと
きには、〈τω〉で表されるファイバ内のSOPMDの平均は平均平方DGD〈τ2〉だけに依存することが示されている。これは次式の通りである。
に測定できることも示されている。(1999年9月、IEEE Phot. Tech
. Lett. 第11巻、1153ページから1155ページの、R.M.Jopso
n、L.E.Nelson、H.Kogelnikによる「光ファイバ中の第2オーダ偏
光モード分散ベクトルの測定」を参照されたい。同論文は参照によって本明細書に組込ま
れている)。Jopsonらは、インタリーブ技術を適用して測定の周波数分解能を増加
させ、ついで、これらの測定にミュラー行列法(MMM)を適用してPMDベクトルを得
、PMDベクトル
のマグニチュードからのRMS DGDτRMSを計算している。さらにJopsonらは、これらの測定からSOPMDを計算し、等式(20)が記述するFoschini and Poole関係を適用して、平均平方DGD〈τ〉または二乗平均平方根DGDτRMSのいずれかを推定している。
渡って平均化された平均平方値の平方根をとる時に系統誤差が生じる。したがって関連技
術のように等式(17)を直接適用すると、特に低いソース帯域幅では結果が不正確にな
る。周波数平均されたRMS値として測定されたPMDが第1オーダ、第2オーダ、より
高いオーダであっても、エラーは存在する。したがって、第2オーダPMD測定からの平
均DGD〈τ〉の推定値は、第1オーダPMD測定に関して上述された実施形態と非常に
似た理由で、狭い測定帯域幅でバイアスを受ける。
Dの測定から平均DGD〈τ〉の正確な測定を提供する。これは、系統補正を適用し、有
限帯域幅に渡った測定から発生する確率的誤差を最小限することによって得られる。系統
補正は、周波数に渡って平均値算出した後に根をとる従来の方法が招く系統誤差を回避す
る平均値算出技術を含む。
から平均平方DGDτ2 RMSの正確な測定を提供する。これは、系統補正を適用し、有限帯域幅に渡った測定から生じる確率的誤差を最小化することによって得られる。系統補正は、周波数に渡って平均値算出した後に根をとる従来の方法が招く系統誤差を回避する平均値算出技術を含む。
として表わす。具体的には、
が、周波数ωにおいて偏光の主な状態(PSP)が定義する、周波数ωに関するPMDベ
クトルを示す場合、ベクトルのマグニチュード
は周波数ωに関して定義された差分群遅延DGDτまたはPSPのセットである。したが
って、周波数ωの関数としてのベクトルPMDデータのセットと、周波数ωの関数として
のスカラDGDデータのセットは、周波数領域測定装置からPMDを抽出するために使用
する方法のうち任意の方法から生成できる。例えば、このような測定デバイスは偏光計あ
るいは固定アナライザを含んでいてもよい。
きる。ベクトルSOPMDは
と表すことができ、nのサンプリングされた周波数
ポイントの離散データセットから導関数を定義する従来の方法に従って、ベクトルPMD
と表わされる。ここでも、ベクトルのマグニチュード
は、スカラ量である差分群遅延DGDτである。このスカラSOPMDは、離散データセ
ットから導関数を定義する従来の方法に従って、周波数依存のスカラDGDτ値のセット
、すなわち、τ(ω)から直接見出される。これは次式の通りである。
と、DGDの平均平方と平均を導出することができ、この結果次の関係が得られる。
係数
と
(カタランの定数)
は、SOPMDのPDFから計算し、シミュレーションによって確認することができる。
このように書くと、等式(20)と(21)は、SOPMDベクトルマグニチュード
を使用してバイアスなく平均DGDと平均平方DGDを推定する方法を提供する。
onの「偏光モード分散の統計特性」の中で、SOPMDの条件平均平方に関する関係か
ら見られるように、PMD測定とSOPMD測定は強く相関している。
したがって、所与のファイバの平均DGDの特定の測定が「真の」平均より上の場合、
等式(21)から推定される平均DGDも過大評価されることになる。しかしGordo
nは、PMDベクトルの方向に対して平行な第2オーダPMDベクトルの成分の条件付き
の平均平方は、PMDベクトル長から独立しており、平均DGD〈τ〉の項で次のように
表現できることを示している。
ことができるため、この技術は従来のPMDテストセットと共に使用できる。上述のよう
に系統誤差を回避するために、等式(23)と等式(24)を組み合わせ、スカラSOP
MDのPDFを適用した後に次のように書き直す。
および、
これらの関係は、DGDの周波数導関数を使用して、平均DGDの別のバイアスのない
値を提供し、シミュレーションで確認することができる。Foschiniらが説明する
ように、係数
と
はファイバパラメータに依存せず、SOPMDに関して導出されたPDFから計算するこ
とができる。
OPMDを必要とするが、等式(25)と(26)は離散周波数インターバルで測定され
たスカラDGDだけしか必要としないので、スカラSOPMDはたとえば、等式(19)
に従って計算できる。従って、周波数平均されたスカラDGD測定ではなく離散を提供す
る非ベクトル機器を使用し、等式(25)と(26)からそれぞれτ2 RMSと〈τ〉を計算することができる。
000のファイバについてシミュレーションを行なうことができる。当業界で知られてい
るように、シミュレーションの各セクションの複屈折ベクトルのたとえばストークス成分
などの偏光成分は、好ましくは、独立した同一のガウス分布を有する。すべての複屈折セ
クションの遅延は好ましくは正規化し、真の平均DGDがτRMSに等しくなるようにし、ファイバ間の「真の」平均DGDに差があるためにさらに測定が変動することを防ぐ。PMDベクトルとこの周波数導関数は、好ましくはDGD相関帯域幅より大幅に小さい、
だけ分離された256の角周波数ポイントで計算する。これは、DGD角帯域幅の積
に対応する。各ファイバについて、異なる数の周波数ポイントに渡って等式(20)、(
21)、(25)、(26)のDGDと他の量を平均化することによって、光源の帯域幅
がPMD測定の精度に与える影響を評価することができる。すべてのシミュレートされた
測定は、使用される測定帯域幅とは独立して、〈τ〉が中心になっていると予想される。
1)(破線)72を使用してベクトルSOPMDから〈τ〉を推定することと、等式(2
6)(点線)74を使用してスカラSOPMDから〈τ〉を推定することによって、DG
D(実線)70の平均値を直接算出することによって得られる。図5に示すように、ベク
トルSOPMDまたはスカラSOPMDのいずれから推定されたとしても、第2オーダP
MDから推定された平均DGDは、関連技術の直接平均値算出よりも大幅に精度が向上す
る。
達成される標準偏差の低減が示されている。図6では、サンプルの数77(pps)がベ
クトルSOPMD75から計算された平均DGDの関数としてプロットされ、また、平均
79として直接計算された平均DGDの関数としてプロットされている。平均化されたD
GD79の標準偏差は約.044psであるが、これに対し、SOPMDから導出された
平均DGDの標準偏差は.028ppsである。これは、標準偏差において約
係数の減少になり、測定分散の2倍の低減に相当する。この低減は、標準のPMD測定技
術において正規化された測定帯域幅BτRMSを2倍にすることによって達成される効果に匹敵する。
完全に相関するわけではないことを示す。したがってこれらの推定技術の結果を平均する
ことにより、測定不確実性がいっそう低減される。図8は、測定技術を組み合わせること
によって得られた測定精度におけるインクリメンタルな改良を示す。破線のカーブ90は
、
の測定の標準偏差である。これは、図5に示された〈τ〉計算の好ましい方法を表す。点
線のカーブ92は、ベクトルSOPMD72とスカラSOPMD74から推定されたDG
D〈τ〉を組み合わせて得られた標準偏差を示す(図5を参照)。点線のカーブ92が示
すように、技術を組み合わせることによって、標準偏差における限界の改良が示される。
実線のカーブ94はさらに、DGD70を直接平均算出することから得られる結果をさら
に平均化し(図5を参照)、単一の技術を使用した結果90に対するいくらかの改善も示
す。
GD測定におけるエラーをさらに低減することを含む。具体的には、好ましくは、平均差
分群遅延DGD〈τ〉の一次結合は、等式(21)と(26)のLHSから得られ、平均
差分群遅延DGD〈τ〉の測定を得る。好ましくは、係数の合計が実質的に1に等しくな
るように、一次結合における各項の係数を正規化する。同様に、平均平方差分群遅延DG
D〈τ2〉Bの一次結合は、好ましくは等式(20)と(25)のLHSから得られ、平均平方差分群遅延DGD〈τ2〉Bの測定を得る。係数の合計が実質的に1に等しくなるように、好ましくは一次結合中の各項の係数を正規化する。また、より高いオーダのPMDの統計の解析も、関連技術に対する改良を提供することができる。
ファイバルートにおいて真の平均DGDをより正確に測定することに適用できる。
確に測定した結果を示す本発明の例示的な実施形態を、付随する図面を参照して説明した
が、本発明はこれらの正確な実施形態に限定されるものではなく、当業者であれば本発明
の範囲または精神から離れることなく、種々の他の変更例および修正例を実行できること
が理解されるであろう。
イバ、18 第2オーダ偏光モード分散(SOPMD)、19 光パルス、30 干渉計
、32 ソース、34 光、36 被測定物、38 平行光学素子、40 ビームスプリ
ッタ、42 可動ミラー、44 静止ミラー、46 検出装置、50 偏光計、52 波
長可変レーザ、54 偏光コントローラ、56 ファイバ、58 偏光状態アナライザ。
Claims (33)
- 前記平均平方差分群遅延〈τ2〉Bを測定するために使用する偏光モード分散測定装置は
時間領域測定装置を含む請求項1に記載の方法。 - 前記時間領域測定装置は干渉計である請求項4に記載の方法。
- 前記平均平方差分群遅延〈τ2〉Bを測定するために使用する偏光モード分散測定装置は周波数領域測定装置を含む請求項1に記載の方法。
- 前記周波数領域測定装置は偏光計である請求項6に記載の方法。
- 平均平方差分群遅延〈τ2〉Bを計算するために、ジョーンズ行列固有分析、ポアンカレ球分析、ミュラー行列法のうち1つを適用するステップをさらに含む請求項7に記載の方
法。 - 前記少なくとも所与の長さの光ファイバは、光通信網内の光ファイバリンクである請求
項1に記載の方法。 - 前記少なくとも所与の長さの光ファイバは、光通信網内の光ファイバルートである請求
項1に記載の方法。 - 少なくとも所与の長さの光ファイバの平均差分群遅延〈τ〉を測定する方法であって、
前記方法は、
周波数領域偏光モード分散測定装置を使用して、偏光モード分散ベクトルの特徴を周波
数の関数として記述するステップと、
前記偏光モード分散ベクトルの周波数に対して導関数を計算することによって、第2オ
ーダ偏光モード分散ベクトル
を周波数の関数として計算するステップと、
第1の結果を得るために、
に従って、前記第2オーダ偏光モード分散ベクトル
のマグニチュードの平方根の平均を計算するステップであって、第2オーダ偏光モード分
散ベクトル
のマグニチュードの平方根の平均を計算するステップと、
次の等式にしたがって平均差分群遅延〈τ〉を計算するために、前記第2オーダ偏光モ
ード分散ベクトル
の比例係数A2に前記第1の結果を乗算するステップとを有し、
上式でτと〈τ〉の単位は秒2であり、
の単位は秒であり、ωの単位はラジアン/秒であり、A2は無次元である方法。 - 前記A2は実質的に1.37に等しい請求項11に記載の方法。
- 前記周波数領域偏光モード分散測定装置は、偏光計と固定アナライザ装置のうち1つで
ある請求項11に記載の方法。 - 前記少なくとも所与の長さのファイバは単一ファイバリンクである請求項11に記載の
方法。 - 前記少なくとも所与の長さのファイバはファイバルートである請求項11に記載の方法
。 - 少なくとも所与の長さのファイバの平均差分群遅延〈τ〉を測定する方法であって、前
記方法は、
周波数領域偏光モード分散測定装置を使用して、偏光モード分散ベクトルのマグニチュ
ード|τω|を周波数の関数として測定するステップであって、前記偏光モード分散ベクトルのマグニチュード|τω|はスカラ差分群遅延である、偏光モード分散ベクトルのマグニチュード|τω|を周波数の関数として測定するステップと、
前記偏光モード分散ベクトルのマグニチュードからスカラ差分群遅延の周波数導関数を
計算するステップであって、前記スカラ差分群遅延の周波数導関数
は、スカラ第2オーダ偏光モード分散関数である、前記偏光モード分散ベクトルのマグニ
チュードからスカラ差分群遅延の周波数導関数を計算するステップと、
にしたがって第1の結果を計算するステップであって、上式で|τ|の単位は秒でありω
はラジアン/秒単位の周波数であるステップと、
次の等式に従って平均差分群遅延を計算するために比例係数B2を前記第1の結果で乗算するステップであって、
上式でB2は無次元、τと〈τ〉の単位は秒、ωの単位はラジアン/秒、
の単位は秒2である、比例係数B2を前記第1の結果で乗算するステップとを含む方法。 - B2は実質的に2.64に等しい請求項16に記載の方法。
- 前記周波数領域偏光モード分散測定装置は、偏光計と固定アナライザ装置のうち1つを
含む請求項16に記載の方法。 - 前記少なくとも所与の長さの光ファイバは単一光ファイバリンクである請求項16に記
載の方法。 - 前記少なくとも所与の長さの光ファイバは光ファイバルートである請求項16に記載の
方法。 - 少なくとも所与の長さの光ファイバの平均平方差分群遅延τ2 RMSを測定する方法であって、前記方法は、
周波数領域偏光モード分散測定装置を使用して、偏光モード分散ベクトルを周波数の関
数として測定するステップと、
周波数ωに対して偏光モード分散ベクトルの導関数を計算することによって、第2オー
ダ偏光モード分散ベクトル
を周波数の関数として計算するステップと、
第1の結果を得るために、
にしたがって第2オーダ偏光モード分散ベクトルのマグニチュード
の平均を計算するステップと、
平均平方差分群遅延を計算するために、次の等式にしたがって比例係数A1に前記第1の結果を乗算するステップであって、
上式で、A1は無次元であり、
の単位は秒2であり、τ2 RMSの単位は秒2である、比例係数A1に第1の結果を乗算するステップとを含む方法。 - A1は実質的に2.02に等しい請求項21に記載の方法。
- 前記周波数領域偏光モード分散測定装置は、偏光計と固定アナライザ装置のうち1つを
含む請求項21に記載の方法。 - 前記少なくとも所与の長さの光ファイバは単一光ファイバリンクである請求項21に記
載の方法。 - 前記少なくとも所与の長さの光ファイバは光ファイバルートである請求項21に記載の
方法。 - 少なくとも所与の長さの光ファイバの平均平方差分群遅延τ2 RMSを測定する方法であって、前記方法は、
周波数領域偏光モード分散測定装置を使用して、偏光モード分散ベクトルのマグニチュ
ードを周波数の関数として測定するステップであって、前記偏光モード分散ベクトルのマ
グニチュードはスカラ差分群遅延である、偏光モード分散ベクトルのマグニチュードを測
定するステップと、
前記偏光モード分散ベクトルのマグニチュードからスカラ差分群遅延の周波数導関数を
計算するステップであって、前記スカラ差分群遅延の周波数導関数
は、スカラ第2オーダ偏光モード分散関数である、スカラ差分群遅延の周波数導関数を計
算するステップと、
にしたがって第1の結果を計算するステップと、
平均平方差分群遅延を計算するために、次の等式にしたがって比例係数B1に前記第1の結果を乗算するステップであって、
上式でB1は無次元であり、
の単位は秒2である、比例係数B1に前記第1の結果を乗算するステップとを含む方法。 - B1は実質的に6.80に等しい請求項26に記載の方法。
- 前記周波数領域偏光モード分散測定装置は偏光計と固定アナライザ装置のうち1つを含
む請求項26に記載の方法。 - 前記少なくとも所与の長さの光ファイバは単一光ファイバリンクである請求項26に記
載の方法。 - 前記少なくとも所与の長さの光ファイバは光ファイバルートである請求項26に記載の
方法。 - 帯域幅Bのソースを使用して少なくとも所与の長さの光ファイバの平均偏光モード分散
を測定する方法であって、前記方法は、
周波数領域偏光モード分散測定装置から偏光モード分散データを周波数の関数として収
集するステップと、
周波数領域偏光モード分散技術を適用することにより、前記偏光モード分散データから
ベクトル周波数依存関数とスカラ周波数依存関数のうち1つを抽出するステップであって
、前記ベクトル関数とスカラ関数のうち1つは、第1オーダ偏光モード分散関数と第2オ
ーダ偏光モード分散関数のうち1つである、前記偏光モード分散データからベクトル周波
数依存関数とスカラ周波数依存関数のうち1つを抽出するステップと、
前記ベクトル周波数依存関数とスカラ周波数依存関数のうち1つに、帯域幅Bによって
生じる系統誤差を最小化する系統補正を適用するステップとを含み、
前記系統補正の適用により、平均差分群遅延〈τ〉と平均平方差分群遅延τ2 RMSのうち1つの偏差を得る方法。 - 所与の長さの光ファイバの平均差分群遅延〈τ〉を測定する方法であって、前記方法は
、
等式(21)と請求項11にしたがって第1の平均〈τ〉を導出するステップと、
等式(26)と請求項16にしたがって第2の平均〈τ〉を導出するステップと、
組み合わされた平均〈τ〉を計算するために、前記第1の平均〈τ〉と前記第2の平均
〈τ〉の一次方程式を導出するステップであって、前記一次方程式の係数の合計は実質的
に1に等しい、前記第1の平均〈τ〉と前記第2の平均〈τ〉の一次方程式を導出するス
テップとを含む方法。 - 所与の長さの光ファイバの平均平方差分群遅延τ2 RMSを測定する方法であって、前記方法は、
等式(20)と請求項21にしたがって第1の平均平方差分群遅延τ2 RMSを導出するステップと、
等式(25)と請求項26にしたがって第2の平均平方差分群遅延τ2 RMSを導出するステップと、
組み合わされた平均平方差分群遅延τ2 RMSを計算するために、前記第1の平均平方差分群遅延τ2 RMSと前記第2の平均平方差分群遅延τ2 RMSの一次方程式を導出するステップであって、前記一次方程式の係数の合計は実質的に1に等しい、前記第1の平均平方差分群遅延τ2 RMSと前記第2の平均平方差分群遅延τ2 RMSの一次方程式を導出するステップとを含む方法。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US10/747,804 US7292322B2 (en) | 2003-12-29 | 2003-12-29 | Method for increasing accuracy of measurement of mean polarization mode dispersion |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005195598A true JP2005195598A (ja) | 2005-07-21 |
Family
ID=34574752
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004382091A Ceased JP2005195598A (ja) | 2003-12-29 | 2004-12-28 | 平均偏光モード分散の測定精度を改善する方法 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (4) | US7292322B2 (ja) |
EP (1) | EP1551118B1 (ja) |
JP (1) | JP2005195598A (ja) |
CA (1) | CA2490592C (ja) |
DE (1) | DE602004028563D1 (ja) |
HK (1) | HK1073736A1 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008209188A (ja) * | 2007-02-26 | 2008-09-11 | Anritsu Corp | 偏波モード分散測定装置 |
WO2023027150A1 (ja) * | 2021-08-25 | 2023-03-02 | 株式会社フジクラ | 推定方法、測定方法、及び情報処理装置 |
Families Citing this family (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20080079941A1 (en) * | 2004-09-07 | 2008-04-03 | Agency For Science, Technology And Research | Differential Geomety-Based Method and Apparatus for Measuring Polarization Mode Dispersion Vectors in Optical Fibers |
US7164469B1 (en) * | 2005-06-30 | 2007-01-16 | Corning Incorporated | Method of evaluating fiber PMD using composite POTDR trace |
US7471378B2 (en) * | 2005-06-30 | 2008-12-30 | Dbm Optical Technologies, Inc. | Method and system for determining a polarization dependent characteristics of optical and opto-electrical devices |
US7256876B1 (en) | 2005-07-14 | 2007-08-14 | At&T Corp. | Estimating optical transmission system penalties induced by polarization mode dispersion (PMD) |
EP1914419B1 (en) * | 2006-10-19 | 2015-09-16 | Siemens Aktiengesellschaft | Wind energy installation and method of controlling the output power from a wind energy installation |
US7454092B2 (en) * | 2006-10-24 | 2008-11-18 | Kailight Photonics, Inc. | Systems and methods for polarization mode dispersion mitigation |
US20090135408A1 (en) * | 2007-11-27 | 2009-05-28 | Mikhail Brodsky | Method for reducing the uncertainty of the measured average PMD of a long fiber |
US8016213B2 (en) * | 2008-03-10 | 2011-09-13 | Illinois Tool Works Inc. | Controlling temperature in air-powered electrostatically aided coating material atomizer |
USD608858S1 (en) | 2008-03-10 | 2010-01-26 | Illinois Tool Works Inc. | Coating material dispensing device |
US8770496B2 (en) | 2008-03-10 | 2014-07-08 | Finishing Brands Holdings Inc. | Circuit for displaying the relative voltage at the output electrode of an electrostatically aided coating material atomizer |
US7926748B2 (en) * | 2008-03-10 | 2011-04-19 | Illinois Tool Works Inc. | Generator for air-powered electrostatically aided coating dispensing device |
US8590817B2 (en) * | 2008-03-10 | 2013-11-26 | Illinois Tool Works Inc. | Sealed electrical source for air-powered electrostatic atomizing and dispensing device |
US7988075B2 (en) | 2008-03-10 | 2011-08-02 | Illinois Tool Works Inc. | Circuit board configuration for air-powered electrostatically aided coating material atomizer |
US8496194B2 (en) | 2008-03-10 | 2013-07-30 | Finishing Brands Holdings Inc. | Method and apparatus for retaining highly torqued fittings in molded resin or polymer housing |
US7918409B2 (en) * | 2008-04-09 | 2011-04-05 | Illinois Tool Works Inc. | Multiple charging electrode |
US8225968B2 (en) | 2009-05-12 | 2012-07-24 | Illinois Tool Works Inc. | Seal system for gear pumps |
US10466649B1 (en) * | 2015-08-06 | 2019-11-05 | Centauri, Llc | Systems and methods for simultaneous multi-channel off-axis holography |
CN107246952A (zh) * | 2017-05-19 | 2017-10-13 | 北京邮电大学 | 一种偏振模色散测量精度提升方法和系统 |
CN115441947B (zh) * | 2022-11-07 | 2023-03-24 | 济南量子技术研究院 | 基于时差测量的光纤实地链路色散测量系统及方法 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6020584A (en) * | 1997-02-14 | 2000-02-01 | Corning Incorporated | Method of measuring the polarization mode dispersion of an optical waveguide device |
US20020118455A1 (en) * | 2000-12-07 | 2002-08-29 | Yafo Networks, Inc. | Methods and apparatus for generation and control of coherent polarization mode dispersion |
JP2002540420A (ja) * | 1999-03-31 | 2002-11-26 | コーニング・インコーポレーテッド | 製造環境に適した偏光モード分散を測定するシステム及び方法 |
US20030142293A1 (en) * | 2002-01-28 | 2003-07-31 | Innovance Networks | Dispersion measurement in optical networks |
JP2004069705A (ja) * | 2002-08-08 | 2004-03-04 | Fitel Usa Corp | 低モード結合を誘発する局所外部摂動を使用した光ファイバにおける低偏波モード分散値を正確に測定するための方法およびシステム |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3131144B2 (ja) * | 1996-03-29 | 2001-01-31 | 株式会社アドバンテスト | 偏波モード分散の測定装置 |
US5930414A (en) * | 1997-09-16 | 1999-07-27 | Lucent Technologies Inc. | Method and apparatus for automatic compensation of first-order polarization mode dispersion (PMD) |
JP3394902B2 (ja) * | 1998-02-20 | 2003-04-07 | アンリツ株式会社 | 波長分散測定装置及び偏波分散測定装置 |
US6011253A (en) * | 1998-03-31 | 2000-01-04 | Lucent Technologies Inc. | Methods and apparatus for analyzing polarization mode dispersion of an optical device |
US6380533B1 (en) * | 1999-02-19 | 2002-04-30 | Lucent Technologies Inc. | Method for measurement of first-and second-order polarization mode dispersion vectors in optical fibers |
US6542650B2 (en) * | 1999-11-30 | 2003-04-01 | University Of Southern California | Polarization-mode dispersion emulator |
US6381385B1 (en) * | 1999-12-22 | 2002-04-30 | Nortel Networks Limited | Polarization mode dispersion emulation |
US6459830B1 (en) * | 2000-02-08 | 2002-10-01 | Sprint Communications Company L.P. | Method and apparatus to compensate for polarization mode dispersion |
US6556732B1 (en) * | 2000-06-07 | 2003-04-29 | Corning Incorporated | All fiber polarization mode dispersion compensator |
US7035538B2 (en) * | 2001-07-09 | 2006-04-25 | University Of Southern California | Monitoring optical dispersion based on vestigial side band optical filtering |
US6674936B2 (en) * | 2001-08-31 | 2004-01-06 | International Business Machines Corporation | Polarization mode dispersion compensation using a wavelength locked loop |
US6912328B2 (en) * | 2001-10-04 | 2005-06-28 | Massachusetts Institute Of Technology | Real-time polarization mode dispersion characterization |
US7009691B2 (en) * | 2002-05-29 | 2006-03-07 | Agilent Technologies, Inc. | System and method for removing the relative phase uncertainty in device characterizations performed with a polarimeter |
US6946646B2 (en) * | 2002-11-05 | 2005-09-20 | Corning Incorporated | Method of evaluating fiber PMD using polarization optical time domain reflectometry |
-
2003
- 2003-12-29 US US10/747,804 patent/US7292322B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2004
- 2004-12-21 CA CA002490592A patent/CA2490592C/en not_active Expired - Fee Related
- 2004-12-23 EP EP04106929A patent/EP1551118B1/en not_active Expired - Fee Related
- 2004-12-23 DE DE602004028563T patent/DE602004028563D1/de active Active
- 2004-12-28 JP JP2004382091A patent/JP2005195598A/ja not_active Ceased
-
2005
- 2005-08-10 HK HK05106901.0A patent/HK1073736A1/xx not_active IP Right Cessation
-
2007
- 2007-09-25 US US11/860,593 patent/US20080007719A1/en not_active Abandoned
-
2010
- 2010-02-09 US US12/702,968 patent/US7852467B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2010-11-01 US US12/916,820 patent/US7956993B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6020584A (en) * | 1997-02-14 | 2000-02-01 | Corning Incorporated | Method of measuring the polarization mode dispersion of an optical waveguide device |
JP2002540420A (ja) * | 1999-03-31 | 2002-11-26 | コーニング・インコーポレーテッド | 製造環境に適した偏光モード分散を測定するシステム及び方法 |
US20020118455A1 (en) * | 2000-12-07 | 2002-08-29 | Yafo Networks, Inc. | Methods and apparatus for generation and control of coherent polarization mode dispersion |
US20030142293A1 (en) * | 2002-01-28 | 2003-07-31 | Innovance Networks | Dispersion measurement in optical networks |
JP2004069705A (ja) * | 2002-08-08 | 2004-03-04 | Fitel Usa Corp | 低モード結合を誘発する局所外部摂動を使用した光ファイバにおける低偏波モード分散値を正確に測定するための方法およびシステム |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
JPN6010074486, Mark Shtaif and Antonio Mecozzi, "Study of the frequency autocorrelation of the differential group delay in fibers with polarization m", Optics Letters, 20000515, Vol. 25, Issue 10, pp. 707−709 * |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008209188A (ja) * | 2007-02-26 | 2008-09-11 | Anritsu Corp | 偏波モード分散測定装置 |
WO2023027150A1 (ja) * | 2021-08-25 | 2023-03-02 | 株式会社フジクラ | 推定方法、測定方法、及び情報処理装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP1551118B1 (en) | 2010-08-11 |
HK1073736A1 (en) | 2005-10-14 |
EP1551118A3 (en) | 2006-07-26 |
US7852467B2 (en) | 2010-12-14 |
EP1551118A2 (en) | 2005-07-06 |
US20110051126A1 (en) | 2011-03-03 |
US7956993B2 (en) | 2011-06-07 |
CA2490592C (en) | 2010-01-12 |
CA2490592A1 (en) | 2005-06-29 |
DE602004028563D1 (de) | 2010-09-23 |
US20100134788A1 (en) | 2010-06-03 |
US20050140965A1 (en) | 2005-06-30 |
US20080007719A1 (en) | 2008-01-10 |
US7292322B2 (en) | 2007-11-06 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7956993B2 (en) | Method for increasing accuracy of measurement of mean polarization mode dispersion | |
US6856400B1 (en) | Apparatus and method for the complete characterization of optical devices including loss, birefringence and dispersion effects | |
VanWiggeren et al. | Single-scan interferometric component analyzer | |
US20090097036A1 (en) | System and Method to Determine Chromatic Dispersion in Short Lengths of Waveguides Using a Common Path Interferometer | |
Koch et al. | Dispersion measurement in optical fibres over the entire spectral range from 1.1 μm to 1.7 μm | |
US5654793A (en) | Method and apparatus for high resolution measurement of very low levels of polarization mode dispersion (PMD) in single mode optical fibers and for calibration of PMD measuring instruments | |
Cyr | Polarization-mode dispersion measurement: generalization of the interferometric method to any coupling regime | |
Williams | PMD measurement techniques and how to avoid the pitfalls | |
Van Weerdenburg et al. | Enhanced modal dispersion estimation enabled by chromatic dispersion compensation in optical vector network analysis | |
Chauvel | Dispersion in optical fibers | |
WO1996036859A1 (en) | Measurement of polarization mode dispersion | |
JP5577592B2 (ja) | 波長分散測定装置及び波長分散測定方法 | |
US7349077B2 (en) | Method and apparatus for measuring the polarization mode dispersion of an optical fiber | |
Froggatt et al. | Full complex transmission and reflection characterization of a Bragg grating in a single laser sweep | |
Simova et al. | Characterization of chromatic dispersion and polarization sensitivity in fiber gratings | |
US7200630B2 (en) | Inverse fourier transform method, phase characterization method of optical components from transmission and group delay measurements as well as a system for performing the method | |
Baney et al. | Elementary matrix method for dispersion analysis in optical systems | |
EP1359445A2 (en) | Inverse fourier transform method, phase characterisation method of optical components from transmission and group delay measurements as well as a system for performing the method | |
Ouellette et al. | Measurement of Group Delay Ripples of Chirped Fiber Bragg Gratings for CPA Lasers, and Their Effect on Performance | |
Li et al. | Modal Delay Measurement for Few-Mode Fibers Using Frequency-Domain Complex Transfer Function | |
Gamatham | INVESTIGATION OF POLARIZATION MODE DISPERSION MEASUREMENT PERFORMANCE IN OPTICAL FIBRE WITH A FOCUS ON THE FIXED ANALYZER TECHNIQUE | |
Grigoriev et al. | Standard apparatus for measuring polarization mode dispersion in fiber-optic data transmission systems | |
Villuendas et al. | Polarization-mode transfer function for the analysis of interferometric PMD measurements | |
Cyr et al. | PMD measurements in multipath components: the single-waveplate example | |
Ives et al. | An Intercomparison of Polarisation Mode Dispersion Measurements and Calibration Artefacts |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20071213 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110104 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110401 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20111108 |
|
A045 | Written measure of dismissal of application [lapsed due to lack of payment] |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A045 Effective date: 20120327 |