JP2005190741A - セラミックヒータ - Google Patents

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Abstract

【課題】セラミックヒータを長期にわたって使用した場合でも抵抗変化が少なく、その結果として、安定した着火性能を持つセラミックヒータを提供することにある。
【解決手段】窒化物セラミックス中に導電性セラミックスからなる発熱抵抗体及び該発熱抵抗体に電力を供給するためのリード部が埋設されており、100V以上の高電圧を印加されるセラミックヒータにおいて、前記発熱抵抗体とリード部間隔を1mm以上としたものである。
【選択図】図2

Description

本発明は、石油ファンヒータ等の各種燃焼機器の点火用ヒータや測定機器の加熱用ヒータなどに利用されるセラミックヒータに関するものである。
設備用の点火用ヒータ、あるいは外国で用いられる燃焼機器の点火用ヒータの多くは100V以上の高電圧を印加されて使用されている。
1000℃程度の高温で使用される場合、この点火用ヒータには図3に示すようなセラミックヒータ1が用いられる。セラミックヒータ1のセラミック体2は、窒化物セラミックスにより形成されており、セラミックヒータ1の耐久性を良好にするためには、不図示の発熱抵抗体に高融点で熱膨張計数が母材に近いWCを用い、さらに熱膨張係数をセラミック体2に近づけたり発熱冷却時の熱応力を緩和したりするためにBNや窒化珪素粉末を添加している。一方、セラミック体2については、MoSiやWC等のセラミックス導電材料を添加することにより発熱抵抗体に熱膨張率を近づけるような調整を行っている。
また、このような100V以上の電圧を印加する発熱抵抗体のパターンとしては、図4に示すように複数の蛇行部を有する発熱抵抗体3とそれに接続されるリード部4とからなるものを使用する。発熱抵抗体3に複数の蛇行部を形成するのは、発熱抵抗体3の抵抗値を大きくして発熱量を低下させ、セラミックヒータ1を所望の温度に加熱できるようにするためである。
特開2001−153360号公報 特開平2−75188号公報
しかしながら、最近は点火装置の小型化と着火性の向上が要求されており、100V以上の電圧を印加して1100℃以上の温度に加熱する必要がある。点火装置の小型化により、セラミックヒータについても小型化が必要となった。また、このような小型化に伴い、前記発熱抵抗体とリード部の間隔を1mm未満としたセラミックヒータ1は、図4に示すようにリード部4の発熱抵抗体3側の端部から発熱抵抗体3の蛇行部端部を経て絶縁破壊10を発生させるという問題が発生した。
そこで、100V以上の高電圧で使用されるセラミックヒータにおいて、小型で耐久性が良好なセラミックヒータが望まれている。
本発明のセラミックヒータは、窒化物セラミックス中に導電性セラミックスからなる発熱抵抗体及び該発熱抵抗体に電力を供給するためのリード部が埋設されており、100V以上の高電圧を印加されるセラミックヒータにおいて、前記発熱抵抗体とリード部との間隔を1mm以上としたことを特徴とする。
また、本発明のセラミックヒータは、前記セラミックヒータの幅寸法が6mm以下であり、前記リード部のパターン間距離Xが1mm〜4mmであって、前記発熱抵抗体とリード部の間隔をYとしたときY≧3X−1となるように前記発熱体とリード部を配置したことを特徴とする。
また、本発明のセラミックヒータは、前記発熱抵抗体の最高温度部を1100℃にした際、前記発熱抵抗体の折り返し部のリード部側端部とリード部端部の温度差が80℃以上であることを特徴とする。
また、本発明のセラミックヒータは、前記発熱抵抗体において折り返し部のリード部側の一部に発熱抵抗体の他の部分に比べて断面積を大きくした第2発熱部を設けたことを特徴とする。
本発明によれば、窒化物セラミックス中に導電性セラミックスからなる発熱抵抗体及び該発熱抵抗体に電力を供給するためのリード部が埋設されており、100V以上の高電圧を印加されるセラミックヒータにおいて、前記発熱抵抗体とリード部間隔を1mm以上にすることにより良好な耐久性を有するセラミックヒータを得ることができる。
また、前記セラミックヒータの幅寸法が6mm以下であり、前記リード部のパターン間距離が1mm〜4mmであって、リード部のパターン間距離をX、前記発熱抵抗体とリード部の間隔をYとしたときY≧3X−1となるように前記発熱体とリード部を配置することにより、小型のセラミックヒータに高電圧を印加しても絶縁破壊に至らない耐久性良好なセラミックヒータを得ることができる。
また、前記発熱抵抗体の最高温度部を1100℃にした際、折り返しの端部とリード部端部の温度差が80℃以上、さらに好ましくは100℃以上にすることにより良好な耐久性を有するセラミックヒータを得ることができる。
その結果、長期の使用に際しても絶縁破壊せずに、抵抗値の変化も小さく、安定した着火が維持できる。
以下、本発明の実施の形態について図を用いて説明する。
図1は、セラミックヒータ1の一例を示す分解斜視図である。セラミック成形体2aの表面に発熱抵抗体3、発熱抵抗体3よりもパターン幅を大きくして抵抗値を下げているリード部4および電極引出部5をプリントした後、セラミック成形体2bを重ねて、1650〜1780℃の温度でホットプレス焼成することにより、セラミックヒータ1を作製することができる。
前記セラミック体2は、板状のセラミック成形体2a、2bが重畳されて形成され、セラミック体2をなすセラミックス基材としては、窒化珪素質セラミックスを用いることが好適である。窒化珪素は高強度、高靱性、高絶縁性、耐熱性の観点で優れている。
窒化珪素質焼結体としては、主成分の窒化珪素に対し、焼結助剤として3〜12重量%のY、Yb、Er等の希土類元素酸化物と0.5〜3重量%のAl、さらに焼結体に含まれるSiO量として1.5〜5重量%となるようにSiOを混合し、所定の形状に成形した後1650〜1780℃でホットプレス焼成することにより、焼結体を得ることができ、セラミック体2の熱膨張率を発熱抵抗体3の熱膨張率に近づけることにより、発熱抵抗体3の耐久性を向上させることが可能である。
本発明のセラミックヒータ1は、窒化物セラミックスを主成分とするセラミック体2の中に導電性セラミックスからなる発熱抵抗体3及び該発熱抵抗体3に電力を供給するためのリード部4が埋設されており、100V以上の高電圧を印加されるセラミックヒータ1において、前記発熱抵抗体3とリード部4との間隔Yを1mm以上としたことを特徴とする。
ここで発熱抵抗体3は、図2に示すように複数の折り返しを有している。またリード部4は発熱抵抗体3よりも電極部5側の範囲で発熱抵抗体3に対してパターン幅を大きくする。
発熱抵抗体3とリード部4との間隔Yは両端部間の最短距離を意味するものであり、発熱抵抗体3の端部とは、図2に示すように複数の折り返しの端部を意味し、またリード部4の端部とは発熱抵抗体3よりもパターン幅が大きくなる箇所を意味する。
前記発熱抵抗体3とリード部4の間隔Yを1mm未満とすると、セラミックヒータ1の使用温度が1100℃以上と高くなってきているため、加熱冷却の繰り返しにより比較的短時間で絶縁破壊に至る。絶縁破壊は、電位差及び温度が高い箇所において発生しやすい。通常絶縁破壊10は、図4に示すように、発熱抵抗体3に近いリード部4を起点として発生し、温度の高い発熱抵抗体3の端部10を含めた形で絶縁破壊する。電極金具6からリード部先端までは抵抗値が低いため電位差が大きく、しかも発熱部の近くであるため比較的温度が高くなることによりこの部位で絶縁破壊に至るものと考えられる。
前記発熱抵抗体3とリード部4の間隔Yを1mm以上とすることでセラミックヒータ1の破壊モードが絶縁破壊より発熱抵抗体3の損傷に変化する。発熱抵抗体3の耐久性は、印加電圧差にほとんど影響されないため良好な耐久性が得られる。図2に示すように、発熱抵抗体3とリード部4の間隔Yを1mm以上にすることにより、発熱抵抗体3とリード部4の絶縁距離が保てることと、前記発熱抵抗体の最高温度部を1100℃にした際、前記発熱抵抗体の折り返し部のリード部側端部とリード部端部の温度差が80℃以上になりリード部4の温度が下がるため絶縁破壊10が発生しにくくなる。リード部4のパターン間距離Xを大きくすることも有効ではあるが、これによりセラミックヒータ1自体が大きくなってしまうので、セラミックヒータ1を取り付ける設備等の小型化に適さない。また、コスト的にも有効ではない。
また、本発明のセラミックヒータ1は、幅寸法Hが6mm以下であり、前記リード部4のパターン間距離Xが1mm〜4mmであって、リード部4のパターン間距離Xと前記発熱抵抗体3とリード部4の間隔Yとの関係がY≧3X−1となるように前記発熱抵抗体3とリード部4とを配置すれば、絶縁破壊に対する耐久性を改善することが可能となる。リード部4のパターン間距離Xが小さくなるほど高電圧を印加したときの絶縁破壊が生じやすくなるが発熱抵抗体3とリード部4の間隔Yを広げることで耐久性を良好に保つことができる。
前記発熱抵抗体3とリード部4の間隔Yは1mm以上にすることで良好な耐久性を得られる。しかし、セラミックヒータ1の寸法の制限等でリード部4のパターン間距離Xが4mm以下になる場合は、幅寸法Hが6mmを越えてリード部4のパターン間距離Xが4mmを越えるセラミックヒータ1に対して絶縁破壊が生じやすいため耐久性が劣る。そこで、リード部4のパターン間距離Xと前記発熱抵抗体3とリード部4の間隔Yとの関係がY≧3X−1となるように前記発熱抵抗体3とリード部4とを配置すれば、幅寸法Hが6mmを越えてリード部4のパターン間距離Xが4mmを越えるセラミックヒータ1と同等の耐久性を得ることができる。
理由は先に述べたように、絶縁破壊は、電位差及び温度が高い箇所において発生しやすいため前記発熱抵抗体3とリード部4の間隔Yを長くすることで、電位差が大きいリード部4の温度を下げることができるためである。
そして本発明のセラミックヒータ1は、前記発熱抵抗体3において折り返し部のリード部4側の一部に発熱抵抗体3の他の部分に比べて断面積を大きくした第2発熱部8を設けたことを特徴とする。さらに前記第2発熱部8の断面積は、発熱抵抗体3の他の部分に比べて1.5倍以上にすることが好ましい。
第2発熱部8を設けることによって、前記発熱抵抗体の最高温度部を1100℃にした際、前記発熱抵抗体の折り返し部のリード部側端部とリード部端部の温度差が100℃以上になり、発熱抵抗体3側のリード部4の温度が下がるため絶縁破壊9を起こしにくいため、さらに耐久性を向上させることができる。第2発熱部8の断面積の上限は、セラミックヒータ1の幅Hで決まる。第2発熱部8はパターン幅を広げて断面積を大きくするため、発熱抵抗体の折り返しのターン数とパターン幅で第2発熱部のパターン間の距離が決まる。このパターン間距離が0.2mm以上にすることが好ましい。
また、第2発熱部8の長さは発熱抵抗体全体の10%〜25%とすることが有効である。10%を下回ると第2発熱部を設けないパターンとの温度分布に差がでない。また、25%を上回るとセラミックヒータ1の点火性能に影響がでる。
また、発熱抵抗体3としては、W、Mo、Tiの炭化物、窒化物、珪化物を主成分とするものを使用することが可能であるが、中でもWCが熱膨張率、耐熱性、比抵抗の面から発熱抵抗体3の材料として優れている。
また、前記発熱抵抗体3は無機導電体のWCを主成分とし、これに添加するBNの比率が4重量%以上となるように調整することが好ましい。窒化珪素セラミックス中で、発熱抵抗体3となる導体成分は窒化珪素に較べて熱膨張率が大きいため、通常は引張応力が掛かった状態にある。これに対して、BNは、窒化珪素に較べて熱膨張率が小さく、また発熱抵抗体3の導体成分とは不活性であり、セラミックヒータ1の昇温降温時の熱膨張差による応力を緩和するのに適している。また、BNの添加量が20重量%を越えると抵抗値が安定しなくなるので、20重量%が上限である。さらに好ましくは、BNの添加量は、4〜12重量%とすることが良い。
また、発熱抵抗体3への添加物として、BNの代わりに窒化珪素を10〜40重量%添加することも可能である。窒化珪素の添加量を増すにつれ、発熱抵抗体3の熱膨張率を母材の窒化珪素に近づけることができる。
また図3は、本発明のセラミックヒータ1の一例を示したものである。セラミックヒータ1はセラミック体2中に発熱抵抗体3とリード部4と電極引出部5が埋設され、電極引出部5が不図示のロウ材を介して電極金具6に接続されている。
本発明の有効性を確認するために、テスト品を作って、下記試験を実施して、従来の構造のものと比較した。
ここでは、リード部4のパターン間距離Xを4水準変更してそれぞれについて発熱抵抗体3とリード部4の間隔Yを0.5〜3mmの間で変更して、各々の場合の通電耐久試験における抵抗変化率を評価した。通電耐久試験については、セラミックヒータ1に通電し、1300℃昇温保持1分後、通電を止めて外部冷却ファンにより1分強制冷却するサイクルを1サイクルとして、30000サイクルの耐久試験を実施した。
なお、1300℃に保持するための印加電圧は190V〜210Vになるようにセラミックヒータ1の抵抗値を調整している。
まず、セラミックヒータ1の製法について、図1を用いて説明する。まず、窒化珪素(Si)粉末にイッテリビウム(Yb)やイットリウム(Y)等の希土類元素の酸化物からなる焼結助剤と発熱抵抗体3に熱膨張率を近づけるようなMoSiやWC等のセラミックス導電材料を添加したセラミック原料粉末を周知のプレス成型法等でセラミック生成形体2aを得た。図1に示すように、セラミック生成形体2aの上にWCとBNを主成分とするペーストを用いて発熱抵抗体3とリード部4及び電極引出部5をプリント法によりセラミック生成形体2aの表面に形成した。その後、これらの蓋となるセラミック生成形体2bを重ねて密着させ、密着させたセラミック生成形体2a、2bのグループ数十本と炭素板を交互に段重ねした。これを円筒の炭素型に入れた後、還元雰囲気下、1650℃〜1780℃の温度、30〜50MPaの圧力でホットプレスにより焼成した。このようにして得られた焼結体の表面に露出した取出電極5に電極金具6をロウ付けしてセラミックヒータ1を得た。
テスト品の寸法とし、セラミック部分の厚みを2mm、幅を6mm、全長を50mmとしたセラミックヒータ1を作製し、それぞれの通電耐久試験における抵抗変化率を評価した。抵抗変化率は、途中の10000サイクル及び30000サイクルにおいて測定している。測定数は各水準について10本評価して、その平均値をデータとした。
結果を表1に示す。
Figure 2005190741
表1に示す通り、リード部4のパターン間距離Xを1.5〜4mmとした全てにおいて発熱抵抗体3とリード部4の間隔Yを1mm以上とした、No.2、4、6、7、8、10、11、12、13は、10000サイクルで絶縁破壊しない安定した耐久性を得ることができた。また、リード部のパターン間距離をX、発熱抵抗体とリード部の間隔をYとしたときY≧3X−1とした、No.2、4、7、8、12、13は、30000サイクルでも絶縁破壊しない良好な耐久性を得られることがわかった。
ここでは、発熱抵抗体3において折り返し部のリード部4側の一部に発熱抵抗体3の他の部分に比べて断面積を大きくした第2発熱部8について、第2発熱部8の発熱抵抗体3に対する断面積比率を変更して、それぞれの発熱抵抗体3端部とリード部4の端部との温度差及び通電耐久試験における抵抗変化率を評価した。第2発熱部8の断面積は発熱抵抗体3のパターン幅を変更することにより調整した。通電耐久試験については、セラミックヒータ1に通電し、1300℃昇温保持1分後、通電を止めて外部冷却ファンにより1分強制冷却するサイクルを1サイクルとして、50000サイクルの耐久試験を実施した。なお、1300℃に保持するための印加電圧は190V〜210Vになるようにセラミックヒータ1の抵抗値を調整している。測定数は各水準について10本評価して、その平均値をデータとした。また、リード部4のパターン間距離Xは2mm、発熱抵抗体3とリード部4の間隔Yは1.5mmで固定した。
Figure 2005190741
表2から判るように、断面積比率を1.2としたNo.2は発熱抵抗体3の端部とリード部4の端部との温度差が87℃であり、第2発熱部8を設けていないNo.1とほぼ同じ温度であって、40000サイクル前後までは良好な耐久性を得たが、絶縁破壊により断線に至った。これに対して、断面積比率を1.5〜2.5としたNo.3〜No.5は、発熱抵抗体3の端部とリード部4の端部との温度差が100℃以上であり、絶縁破壊もせずに安定した耐久性を得ることができた。
本発明のセラミックヒータの展開斜視図である。 本発明のセラミックヒータの発熱抵抗体およびリード部を示す図である。 本発明のセラミックヒータの一例を示す図である。 従来のセラミックヒータの絶縁破壊を示す図である。
符号の説明
1:セラミックヒータ
2:セラミック体
3:発熱抵抗体
4:リード部
5:電極引出部
6:電極金具

Claims (4)

  1. 窒化物セラミックス中に導電性セラミックスからなる発熱抵抗体及び該発熱抵抗体に電力を供給するためのリード部が埋設されており、100V以上の高電圧を印加されるセラミックヒータにおいて、前記発熱抵抗体が折り返しを有し、この折り返し部のリード部側端部とリード部との間隔を1mm以上としたことを特徴とするセラミックヒータ。
  2. 前記セラミックヒータの幅寸法が6mm以下であり、前記リード部のパターン間距離Xが1mm〜4mmであって、前記発熱抵抗体とリード部の間隔をYとしたときY≧3X−1となるように前記発熱体とリード部を配置したことを特徴とするセラミックヒータ。
  3. 前記発熱抵抗体の最高温度部を1100℃にした際、前記発熱抵抗体の折り返し部のリード部側端部とリード部端部の温度差が80℃以上であること特徴とする請求項1記載のセラミックヒータ。
  4. 前記発熱抵抗体において折り返し部のリード部側の一部に発熱抵抗体の他の部分に比べて断面積を大きくした第2発熱部を設けたことを特徴とする請求項1記載のセラミックヒータ。
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