JP2005183483A - Wiring board - Google Patents

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理 明石
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a wiring board exhibiting excellent reliability of heat resistance in which a resin layer is not stripped from a resin substrate even if a wiring board is heated to high temperatures of 250-260°C. <P>SOLUTION: Temperature at which moisture is generated through thermal decomposition of a filler contained in thermosetting resin composing a resin substrate 1 is higher than 260°C. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

本発明は、半導体素子等の電子部品を搭載するために用いられる配線基板に関する。   The present invention relates to a wiring board used for mounting electronic components such as semiconductor elements.

従来、半導体素子等の電子部品を搭載するために用いられる配線基板は、例えばガラス繊維基材にエポキシ樹脂等の熱硬化性樹脂を含浸させた樹脂基板の上下面に銅箔から成る配線導体層が被着されているとともに、その上にエポキシ樹脂等の熱硬化性樹脂から成る樹脂層と銅めっきから成る配線導体層とを交互に複数層積層することにより多層化されている。なお、樹脂層上に形成された配線導体層は、その一部が配線基板の上面側および下面側に露出しており、上面側に露出した一部が電子部品の電極に半田を介して電気的に接続される電子部品接続用の接続パッドを形成し、下面側に露出した一部が外部電気回路基板の配線導体に半田を介して電気的に接続される外部接続用の接続パッドを形成している。そして、電子部品の電極と電子部品接続用の接続パッドとを半田を介して接合することにより電子部品が実装された電子装置となり、この電子装置の外部接続用の接続パッドを外部電気回路基板の配線導体に半田を介して接合することにより電子部品の電極が外部電気回路に電気的に接続されることとなる。なお、このような配線基板に使用される樹脂基板においては、その難燃性を向上させるために、ガラス繊維基材に含浸された熱硬化性樹脂中に水酸化アルミニウム等の熱分解により水分を発生するフィラーが含有されている。
特開2003−179334号公報
Conventionally, wiring boards used for mounting electronic components such as semiconductor elements are, for example, wiring conductor layers made of copper foil on the upper and lower surfaces of a resin board in which a glass fiber base material is impregnated with a thermosetting resin such as an epoxy resin. And a plurality of resin layers made of a thermosetting resin such as an epoxy resin and a wiring conductor layer made of copper plating are alternately laminated to form a multilayer. A part of the wiring conductor layer formed on the resin layer is exposed on the upper surface side and the lower surface side of the wiring board, and a part of the wiring conductor layer exposed on the upper surface side is electrically connected to the electrode of the electronic component via solder. A connection pad for connecting an electronic component to be electrically connected, and a connection pad for external connection in which a part exposed on the lower surface side is electrically connected to a wiring conductor of an external electric circuit board via solder doing. Then, an electronic device is mounted by joining the electrode of the electronic component and a connection pad for connecting the electronic component via solder, and the connection pad for external connection of the electronic device is connected to the external electric circuit board. By joining the wiring conductor via solder, the electrodes of the electronic component are electrically connected to the external electric circuit. In addition, in a resin substrate used for such a wiring substrate, in order to improve its flame retardancy, moisture is thermally decomposed in the thermosetting resin impregnated in the glass fiber base material by thermal decomposition of aluminum hydroxide or the like. The generated filler is contained.
JP 2003-179334 A

ところで、近年、環境への配慮から、配線基板の半田接合パッドと電子部品の電極や外部電気回路基板の配線導体とを接続する半田として鉛を含まない鉛フリー半田が使用されるようになってきている。このような鉛フリー半田は、従来使用されてきた鉛−錫半田よりも融点が高く、そのため、電子部品の電極や外部電気回路基板の配線導体と半田接合パッドとを接合する半田を溶融させる際に、配線基板を250〜260℃程度の高温に加熱する必要がある。しかしながら、配線基板を250〜260℃程度の高温に加熱すると、樹脂基板とその上に積層した樹脂層との間に剥離が発生してしまうという問題点を誘発した。   By the way, in recent years, lead-free solder containing no lead has been used as a solder for connecting the solder bonding pad of the wiring board to the electrode of the electronic component and the wiring conductor of the external electric circuit board in consideration of the environment. ing. Such a lead-free solder has a higher melting point than the conventionally used lead-tin solder. Therefore, when melting the solder for joining the electrode of an electronic component or the wiring conductor of the external electric circuit board and the solder joint pad, In addition, it is necessary to heat the wiring board to a high temperature of about 250 to 260 ° C. However, when the wiring board is heated to a high temperature of about 250 to 260 ° C., it causes a problem that peeling occurs between the resin board and the resin layer laminated thereon.

そこで、本発明者は鋭意研究の結果、配線基板を250〜260℃に加熱すると、配線基板を構成する樹脂基板の熱硬化性樹脂に含有されるフィラーの一部が、これに含有される不純物の影響で熱分解されて水分が発生し、その水分が樹脂基板とその上の樹脂層との間にガスとして溜まって樹脂基板と樹脂層とを剥離させることをつきとめた。   Therefore, as a result of earnest research, the present inventors have heated the wiring substrate to 250 to 260 ° C., and part of the filler contained in the thermosetting resin of the resin substrate constituting the wiring substrate is an impurity contained therein. It was found that moisture was generated by thermal decomposition under the influence of the above, and that the moisture was accumulated as a gas between the resin substrate and the resin layer on the resin substrate to separate the resin substrate and the resin layer.

本発明は、かかる従来の問題点に鑑み案出されたものであり、その目的は、配線基板を250〜260℃程度の高温に加熱したとしても、樹脂基板と樹脂層との間に剥離が発生することのない耐熱信頼性に優れる配線基板を提供することにある。   The present invention has been devised in view of such conventional problems. The purpose of the present invention is to provide a separation between a resin substrate and a resin layer even when the wiring substrate is heated to a high temperature of about 250 to 260 ° C. An object of the present invention is to provide a wiring board that does not occur and has excellent heat resistance reliability.

本発明の配線基板は、繊維基材に、熱分解により水分を発生するフィラーを含有する熱硬化性樹脂を含浸させて成る樹脂基板と、該樹脂基板の表面に積層された樹脂層と、前記樹脂基板および前記樹脂層の表面に被着された配線導体層とを具備しており、前記樹脂層の表面の前記配線導体層は、半田を介して外部導体に電気的に接続される接続パッドが設けられており、前記フィラーは、水分の発生する温度が260℃より高いことを特徴とするものである。   The wiring board of the present invention includes a resin substrate obtained by impregnating a fiber base material with a thermosetting resin containing a filler that generates moisture by thermal decomposition, a resin layer laminated on the surface of the resin substrate, A connection pad that is electrically connected to an external conductor via solder, the wiring conductor layer being attached to the surface of the resin layer and the resin layer; The filler is characterized in that the temperature at which moisture is generated is higher than 260 ° C.

また、本発明の配線基板は、前記フィラーが245〜260℃の温度で熱処理されていることを特徴とするものである。   The wiring board of the present invention is characterized in that the filler is heat-treated at a temperature of 245 to 260 ° C.

本発明の配線基板によれば、樹脂基板の熱硬化性樹脂に含有されるフィラーから熱分解による水分が発生する温度が260℃よりも高いことから、接続パッド上に鉛フリー半田を溶融させる際等に配線基板を250〜260℃の高温に加熱したとしても、その温度では樹脂基板の熱硬化性樹脂に含有されるフィラーからは熱分解による水分が発生することはない。したがって、樹脂基板とその上の樹脂層との間に剥離が発生することのない、耐熱信頼性に優れる配線基板を提供することができる。また、フィラーが245〜260℃で熱処理されていると、フィラーの熱分解により260℃以下の温度で発生する水分が予め良好に除去される。   According to the wiring board of the present invention, the temperature at which moisture due to thermal decomposition is generated from the filler contained in the thermosetting resin of the resin substrate is higher than 260 ° C., so when the lead-free solder is melted on the connection pad Even when the wiring board is heated to a high temperature of 250 to 260 ° C., moisture at the temperature is not generated from the filler contained in the thermosetting resin of the resin board. Therefore, it is possible to provide a wiring board that is excellent in heat resistance and does not cause peeling between the resin board and the resin layer thereon. Moreover, when the filler is heat-treated at 245 to 260 ° C., moisture generated at a temperature of 260 ° C. or less is favorably removed in advance by thermal decomposition of the filler.

つぎに、本発明の配線基板を添付の図面に基づき詳細に説明する。   Next, the wiring board of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

図1は、本発明を実施するための最良の形態を半導体素子を搭載するための配線基板に適用した場合の一例を示す断面図である。図1において1は樹脂基板、2は金属箔から成る配線導体層、3は樹脂層、4はめっき導体から成る配線導体層、5はソルダーレジスト層であり、主としてこれらで電子部品としての半導体素子を搭載するための本発明の配線基板が構成される。   FIG. 1 is a cross-sectional view showing an example when the best mode for carrying out the present invention is applied to a wiring board for mounting a semiconductor element. In FIG. 1, 1 is a resin substrate, 2 is a wiring conductor layer made of a metal foil, 3 is a resin layer, 4 is a wiring conductor layer made of a plating conductor, and 5 is a solder resist layer. These are mainly semiconductor elements as electronic components. A wiring board of the present invention for mounting is configured.

樹脂基板1は、例えばガラス繊維束を縦横に織り込んだガラス繊維基材にエポキシ樹脂やビスマレイミドトリアジン樹脂等の熱硬化性樹脂が含浸されて成り、その上下面には銅箔から成る配線導体層2が配設されている。また、樹脂基板1の上面から下面にかけては複数の貫通孔6が形成されているとともに、その貫通孔6の内面には上下の配線導体層2を電気的に接続するための銅めっき膜から成る貫通導体7が被着されている。なお、ガラス繊維基材に含浸された熱硬化性樹脂中には、260℃より高い温度で熱分解して水分を発生する水酸化アルミニウム等のフィラーが含有されており、それにより樹脂基板1の難燃性が高められている。   The resin substrate 1 is formed, for example, by impregnating a glass fiber base material in which glass fiber bundles are woven vertically and horizontally with a thermosetting resin such as an epoxy resin or a bismaleimide triazine resin, and a wiring conductor layer made of copper foil on the upper and lower surfaces thereof. 2 is disposed. A plurality of through holes 6 are formed from the upper surface to the lower surface of the resin substrate 1, and the inner surface of the through holes 6 is made of a copper plating film for electrically connecting the upper and lower wiring conductor layers 2. A through conductor 7 is deposited. The thermosetting resin impregnated in the glass fiber base material contains a filler such as aluminum hydroxide that is thermally decomposed at a temperature higher than 260 ° C. to generate moisture. Flame retardancy is enhanced.

このような樹脂基板1は、ガラス織物に未硬化の熱硬化性樹脂を含浸させたシートを熱硬化させた後、これに上面から下面にかけてドリル加工を施すことにより製作され、熱分解により水分を発生するフィラーとしては、245〜260℃の温度で予め熱処理されたものが用いられている。なお、樹脂基板1の上下面に配設された配線導体層2は、樹脂基板1用のシートの上下全面に厚みが5〜50μm程度の銅箔を貼着しておくとともにこの銅箔をシートの硬化後にエッチング加工することにより所定のパターンに形成される。また、貫通孔6内面の貫通導体7は、樹脂基板1に貫通孔6を設けた後に、この貫通孔6の内面に無電解めっき法および電解めっき法により厚みが5〜50μm程度の銅めっき膜を析出させることにより形成される。   Such a resin substrate 1 is manufactured by thermally curing a sheet in which a glass fabric is impregnated with an uncured thermosetting resin, and then drilling the sheet from the upper surface to the lower surface. As the generated filler, one that has been heat-treated at a temperature of 245 to 260 ° C. is used. The wiring conductor layer 2 disposed on the upper and lower surfaces of the resin substrate 1 has a copper foil having a thickness of about 5 to 50 μm adhered to the entire upper and lower surfaces of the sheet for the resin substrate 1, and the copper foil is used as a sheet. It is formed in a predetermined pattern by etching after curing. In addition, the through conductor 7 on the inner surface of the through hole 6 is provided with a copper plating film having a thickness of about 5 to 50 μm on the inner surface of the through hole 6 by electroless plating and electrolytic plating after the through hole 6 is provided in the resin substrate 1. It is formed by precipitating.

さらに、樹脂基板1は、その貫通孔6の内部にエポキシ樹脂やビスマレイミドトリアジン樹脂等の熱硬化性樹脂から成る樹脂柱8が充填されている。樹脂柱8は、貫通孔6を塞ぐことにより貫通孔6の直上および直下に樹脂層3を形成可能とするためのものであり、未硬化のペースト状の熱硬化性樹脂を貫通孔6内にスクリーン印刷法により充填し、これを熱硬化させた後、その上下面を略平坦に研磨することにより形成される。そして、この樹脂柱8を含む樹脂基板1の上下面に樹脂層3が積層されている。   Further, the resin substrate 1 is filled with resin columns 8 made of a thermosetting resin such as an epoxy resin or a bismaleimide triazine resin in the through hole 6. The resin pillar 8 is for making it possible to form the resin layer 3 directly above and below the through-hole 6 by closing the through-hole 6. An uncured paste-like thermosetting resin is placed in the through-hole 6. After filling with a screen printing method and thermosetting it, the upper and lower surfaces thereof are polished to be substantially flat. The resin layer 3 is laminated on the upper and lower surfaces of the resin substrate 1 including the resin pillar 8.

樹脂基板1の上下面に積層された樹脂層3は、それぞれの厚みが20〜50μm程度であり、各層の上面から下面にかけて直径が30〜100μm程度の複数のビア孔9を有しており、その表面およびビア孔9内には銅めっき膜から成る配線導体層4が被着されている。これらの樹脂層3は、銅めっき膜から成る配線導体層4を高密度に配線するための絶縁間隔を提供するためのものであり、上層の配線導体層4と下層の配線導体層2や4とをビア孔9の内部を介して電気的に接続することにより高密度配線を立体的に形成可能としている。   The resin layer 3 laminated on the upper and lower surfaces of the resin substrate 1 has a thickness of about 20 to 50 μm, and has a plurality of via holes 9 having a diameter of about 30 to 100 μm from the upper surface to the lower surface of each layer. A wiring conductor layer 4 made of a copper plating film is deposited on the surface and in the via hole 9. These resin layers 3 are provided to provide an insulating interval for wiring the wiring conductor layer 4 made of a copper plating film at high density. The upper wiring conductor layer 4 and the lower wiring conductor layers 2 and 4 are provided. Are electrically connected via the inside of the via hole 9 so that a high-density wiring can be formed three-dimensionally.

このような樹脂層3は、厚みが20〜50μm程度の未硬化の熱硬化性樹脂フィルムを樹脂基板1の上下面に貼着し、これを熱硬化させるとともにレーザ加工によりビア孔9を穿孔し、さらにその上に同様にして次の樹脂層3を順次積み重ねることによって形成される。なお、各樹脂層3の表面およびビア孔9内に被着された配線導体層4は、各樹脂層3を形成する毎に各樹脂層3の表面およびビア孔9内に5〜50μm程度の厚みの銅めっき膜を公知のセミアディティブ法やサブトラクティブ法等のパターン形成法により所定のパターンに被着させることによって形成される。   For such a resin layer 3, an uncured thermosetting resin film having a thickness of about 20 to 50 μm is adhered to the upper and lower surfaces of the resin substrate 1, and the resin layer 3 is thermally cured, and via holes 9 are formed by laser processing. Further, it is formed by sequentially stacking the next resin layer 3 in the same manner. The wiring conductor layer 4 deposited in the surface of each resin layer 3 and in the via hole 9 is about 5 to 50 μm in the surface of each resin layer 3 and in the via hole 9 every time each resin layer 3 is formed. It is formed by depositing a copper plating film having a thickness on a predetermined pattern by a known pattern forming method such as a semi-additive method or a subtractive method.

さらに、最表層の樹脂層3上にはソルダーレジスト層5が被着されている。ソルダーレジスト層5は、例えばアクリル変性エポキシ樹脂にシリカやタルク等の無機物粉末フィラーを30〜70質量%程度分散させた絶縁材料から成り、表層の配線導体層4同士の電気的絶縁信頼性を高めるとともに、後述する接続パッド4a、4bの樹脂層3への接合強度を大きなものとする作用をなす。   Further, a solder resist layer 5 is deposited on the outermost resin layer 3. The solder resist layer 5 is made of, for example, an insulating material in which an inorganic powder filler such as silica or talc is dispersed in an acrylic-modified epoxy resin by about 30 to 70% by mass, and improves the electrical insulation reliability between the wiring conductor layers 4 on the surface layer. At the same time, it acts to increase the bonding strength of the connection pads 4a and 4b described later to the resin layer 3.

このようなソルダーレジスト層5は、その厚みが10〜50μm程度であり、感光性を有するソルダーレジスト層5用の未硬化樹脂ペーストをロールコーター法やスクリーン印刷法を採用して最表層の樹脂層3上に塗布し、これを乾燥させた後、露光および現像処理を行なって接続パッド4a、4bを露出させる開口部を形成した後、これを熱硬化させることによって形成される。あるいは、ソルダーレジスト層5用の未硬化の樹脂フィルムを最上層の樹脂層3上に貼着した後、これを熱硬化させ、しかる後、接続パッド4a、4bに対応する位置にレーザ光を照射し、硬化した樹脂フィルムを部分的に除去することによって接続パッド4a、4bを露出させる開口部を有するように形成される。   Such a solder resist layer 5 has a thickness of about 10 to 50 μm, and employs a roll coater method or a screen printing method to form an uncured resin paste for the solder resist layer 5 having photosensitivity as the outermost resin layer. This is formed by applying the film on the substrate 3 and drying it, and then performing exposure and development processes to form openings that expose the connection pads 4a and 4b, and then thermally curing the openings. Alternatively, after an uncured resin film for the solder resist layer 5 is stuck on the uppermost resin layer 3, it is thermally cured, and then irradiated with laser light at positions corresponding to the connection pads 4 a and 4 b. Then, the cured resin film is partially removed to form openings that expose the connection pads 4a and 4b.

また、配線導体層2、4および貫通導体7は、半導体素子の各電極を外部電気回路基板に接続するための導電路として機能し、上面側の樹脂層3の表面に露出している配線導体層4の一部が半導体素子の各電極に半田を介して接続される電子部品接続用の接続パッド4aを形成しているとともに、下面側の樹脂層3の表面に露出した配線導体層4の一部が外部電気回路基板に半田を介して接続される外部接続用の接続パッド4bを形成している。   The wiring conductor layers 2 and 4 and the through conductor 7 function as conductive paths for connecting each electrode of the semiconductor element to the external electric circuit board, and are exposed on the surface of the resin layer 3 on the upper surface side. A part of the layer 4 forms a connection pad 4a for connecting an electronic component connected to each electrode of the semiconductor element via solder, and the wiring conductor layer 4 exposed on the surface of the resin layer 3 on the lower surface side. A connection pad 4b for external connection is formed, a part of which is connected to the external electric circuit board via solder.

さらに、接続パッド4a、4bには、錫−銀合金や錫−銀−銅合金等の鉛フリー合金から成る半田10a、10bが溶着されており、それにより接続パッド4a、4bの変色や酸化が防止されるとともに半導体素子の各電極と接続パッド4aとの半田を介した接合や接続パッド4bと外部電気回路基板との半田を介した接合が容易なものとなっている。   Further, solders 10a and 10b made of a lead-free alloy such as a tin-silver alloy or a tin-silver-copper alloy are welded to the connection pads 4a and 4b, thereby causing discoloration and oxidation of the connection pads 4a and 4b. In addition to being prevented, bonding between each electrode of the semiconductor element and the connection pad 4a via solder and bonding between the connection pad 4b and the external electric circuit board via solder are facilitated.

このように、接続パッド4a、4bに半田10a、10bを溶着させるには、接続パッド4a、4bの上に錫−銀合金や錫−銀−銅合金等の鉛フリー合金から成る半田粉末とフラックスとを含有する半田ペーストを従来周知のスクリーン印刷法を採用して印刷塗布し、それを250〜260℃の温度で加熱して半田粉末を溶融させることにより溶着する方法が採用される。   Thus, in order to weld the solders 10a and 10b to the connection pads 4a and 4b, solder powder and flux made of a lead-free alloy such as a tin-silver alloy or a tin-silver-copper alloy on the connection pads 4a and 4b. A solder paste containing the above is printed and applied by using a conventionally well-known screen printing method, and the solder paste is melted by heating it at a temperature of 250 to 260 ° C.

なお、本発明の配線基板は、前述したように、樹脂基板1を構成する熱硬化性樹脂に含有されるフィラーから熱分解による水分が発生する温度が260℃より高く、そのことが重要である。このように樹脂基板1を構成する熱硬化性樹脂に含有されるフィラーから熱分解による水分が発生する温度が260℃より高いことから、接続パッド4a、4bに半田10a、10bを溶着する際等に250〜260℃程度の温度が加えられたとしても、樹脂基板1を構成する熱硬化性樹脂に含有されるフィラーから熱分解による水分が発生することはない。したがって、樹脂基板1とその上の樹脂層3との間にフィラーの熱分解による水分に起因する剥離が発生することはなく、耐熱信頼性に優れた配線基板を提供することができる。なお、樹脂基板1を構成する熱硬化性樹脂に含有されるフィラーから熱分解により水分が発生する温度が260℃以下であると、配線基板が250〜260℃程度の温度に加熱された場合に樹脂基板を構成する熱硬化性樹脂に含有されるフィラーから熱分解により発生する水分により樹脂基板1とその上の樹脂層3との間に剥離が発生する危険が大きなものとなる。したがって、樹脂基板1を構成する熱硬化性樹脂に含有されるフィラーの熱分解によりガスの発生する温度は260℃より高い温度に特定される。   In the wiring board of the present invention, as described above, the temperature at which moisture due to thermal decomposition is generated from the filler contained in the thermosetting resin constituting the resin substrate 1 is higher than 260 ° C., which is important. . Since the temperature at which moisture due to thermal decomposition is generated from the filler contained in the thermosetting resin constituting the resin substrate 1 is higher than 260 ° C., the solder 10a and 10b are welded to the connection pads 4a and 4b. Even when a temperature of about 250 to 260 ° C. is applied, moisture due to thermal decomposition is not generated from the filler contained in the thermosetting resin constituting the resin substrate 1. Therefore, peeling due to moisture due to thermal decomposition of the filler does not occur between the resin substrate 1 and the resin layer 3 thereon, and a wiring substrate having excellent heat resistance reliability can be provided. When the temperature at which moisture is generated by thermal decomposition from the filler contained in the thermosetting resin constituting the resin substrate 1 is 260 ° C. or less, the wiring substrate is heated to a temperature of about 250 to 260 ° C. There is a great risk that peeling occurs between the resin substrate 1 and the resin layer 3 thereon due to moisture generated by thermal decomposition from the filler contained in the thermosetting resin constituting the resin substrate. Therefore, the temperature at which gas is generated by the thermal decomposition of the filler contained in the thermosetting resin constituting the resin substrate 1 is specified as a temperature higher than 260 ° C.

このように樹脂基板1を構成する熱硬化性樹脂に含有されるフィラーから熱分解により水分が発生する温度を260℃より高いものとするには、水酸化アルミニウム等の260℃より高い温度で熱分解して水分を発生するフィラーを予め245〜260℃の温度で熱処理し、フィラーに含まれる不純物の影響で260℃以下の温度で熱分解して発生する水分を予め除去しておけばよい。なお、熱処理の温度が245℃よりも低いと、フィラーに含まれる不純物の影響で260℃以下の温度で熱分解して発生する水分を良好に除去することが困難となり、他方260℃を超えると、フィラーの熱分解が進行して樹脂基板1の難燃性が低下してしまう危険がある。したがって、フィラーの熱処理は245〜260℃の温度で行なうことが好ましい。なお、フィラーとしては、金属水酸化物が用いられるが、耐熱温度が260〜300℃程度とそれほど高くないエポキシ樹脂やビスマレイミドトリアジン樹脂に対して260〜300℃での良好な難燃性を付与させるためには260〜300℃で水分を発生する水酸化アルミニウムが好ましい。   In order to make the temperature at which moisture is generated by thermal decomposition from the filler contained in the thermosetting resin constituting the resin substrate 1 higher than 260 ° C., heat is applied at a temperature higher than 260 ° C. such as aluminum hydroxide. What is necessary is just to heat-process the filler which decomposes | disassembles and generate | occur | produces moisture beforehand at the temperature of 245-260 degreeC, and removes the water | moisture generated by thermally decomposing at the temperature of 260 degrees C or less under the influence of the impurity contained in a filler beforehand. If the temperature of the heat treatment is lower than 245 ° C., it becomes difficult to remove moisture generated by thermal decomposition at a temperature of 260 ° C. or less due to the influence of impurities contained in the filler. There is a risk that the thermal decomposition of the filler proceeds and the flame retardancy of the resin substrate 1 is reduced. Accordingly, the heat treatment of the filler is preferably performed at a temperature of 245 to 260 ° C. In addition, although a metal hydroxide is used as a filler, good flame retardancy at 260 to 300 ° C. is imparted to an epoxy resin or bismaleimide triazine resin which has a heat resistance temperature of about 260 to 300 ° C. For this purpose, aluminum hydroxide that generates moisture at 260 to 300 ° C. is preferable.

かくして、本発明の配線基板によれば、電子部品の電極と接続パッド4aとを半田10aを介して接合することにより電子部品が実装された電子装置となり、この電子装置の接続パッド10bを外部電気回路基板の配線導体に半田10bを介して接合することにより電子部品の電極が外部電気回路に電気的に接続されることとなる。   Thus, according to the wiring board of the present invention, the electronic component is mounted on the electronic component by bonding the electrode of the electronic component and the connection pad 4a via the solder 10a. By joining to the wiring conductor of the circuit board via the solder 10b, the electrode of the electronic component is electrically connected to the external electric circuit.

なお、本発明は、上述の形態例に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲であれば種々の変更は可能であることはいうまでもない。   Note that the present invention is not limited to the above-described embodiments, and various modifications can be made without departing from the scope of the present invention.

本発明の配線基板を実施するための最良の形態例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the example of the best form for implementing the wiring board of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

1:樹脂基板
2,4:配線導体層
3:樹脂層
4a,4b:半田接合パッド
1: Resin substrate 2, 4: Wiring conductor layer 3: Resin layers 4a, 4b: Solder bonding pads

Claims (2)

繊維基材に熱分解により水分を発生するフィラーを含有する熱硬化性樹脂を含浸させて成る樹脂基板と、該樹脂基板の表面に積層された樹脂層と、前記樹脂基板および前記樹脂層の表面に被着された配線導体層とを具備しており、前記樹脂層の表面の前記配線導体層は、半田を介して外部導体に電気的に接続される接続パッドが設けられており、前記フィラーは、水分の発生する温度が260℃より高いことを特徴とする配線基板。 A resin substrate obtained by impregnating a fiber base material with a thermosetting resin containing a filler that generates moisture by thermal decomposition, a resin layer laminated on the surface of the resin substrate, and the surfaces of the resin substrate and the resin layer And the wiring conductor layer on the surface of the resin layer is provided with a connection pad electrically connected to an external conductor via solder, and the filler Is a wiring board characterized in that the temperature at which moisture is generated is higher than 260 ° C. 前記フィラーが245〜260℃の温度で熱処理されていることを特徴とする請求項1記載の配線基板。 The wiring board according to claim 1, wherein the filler is heat-treated at a temperature of 245 to 260 ° C.
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