JP2005166200A - 信号評価装置、信号評価方法および信号再生装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 再生信号を基に、SAM値計算回路3でSAM値SAM(パスメトリック差)を求める。コンパレータ5により、そのSAM値SAMをしきい値SLと比較して、SAM<SLとなるときにパルスを1つ出力し、カウンタ6により、そのパルスをSAM値の度数Rとしてカウントする。度数Rが所定値に満たないときに、しきい値レジスタ4に記憶されるレジスタを変更し、上記の処理を繰り返し、度数Rが所定値以上になったときに、エラーレート計算回路8によりビットエラーレートを計算する。
【選択図】 図1
Description
図1は、本発明の第1実施形態の信号評価装置および信号評価方法を用いた光ディスク再生装置の構成図であり、図2は、その再生動作の手順を示すフローチャートである。
図4は、本発明の第2実施形態の信号評価装置および信号評価方法を用いた光ディスク再生装置の構成図であり、図5は、その処理手順を示すフローチャートである。なお、本実施形態において、第1実施形態における構成要素と同等の機能を有する構成要素については、同一の符号を付記してその説明を省略する。
背景技術でも説明したように、SAM値の度数分布の相対度数を求めるためのしきい値として2種類の異なる値を用いて、より正確にビットエラーレートを計算する手法を採用する場合においても本発明の適用が可能である。本実施形態では、このような構成について説明する。なお、本実施形態において、第1実施形態における構成要素と同等の機能を有する構成要素については、同一の符号を付記してその説明を省略する。
2 光学ピックアップ
3 SAM値計算回路
4、17 しきい値レジスタ
5,9,10,11,18 コンパレータ
6,12,13,14,19 カウンタ
7,20 しきい値設定回路
8,21 エラーレート計算回路
15 最頻値検出回路
16 相対度数計算回路
SL しきい値
SL1 第1しきい値
SL2 第2しきい値
Claims (8)
- 入力信号をビタビ復号する過程においてトレリス線図の正解状態に入力される2本のパスのパスメトリック差を算出するパスメトリック差算出手段と、パスメトリック差の度数分布をしきい値で区切った片側部分の相対度数を算出する相対度数算出手段と、前記しきい値を変更するしきい値変更手段と、算出された相対度数に基づいて入力信号の品質を評価する信号品質評価手段とを備える信号評価装置において、
前記しきい値変更手段は、前記パスメトリック差の度数分布に応じて前記しきい値を変化させることを特徴とする信号評価装置。 - 前記相対度数算出手段は、前記パスメトリック差の度数分布の前記しきい値以未満の度数を算出し、
前記しきい値変更手段は、前記度数検出手段により算出された度数が所定数以上になるようにしきい値を変更することを特徴とする請求項1に記載の信号評価装置。 - 前記パスメトリック差の度数分布の最頻値を検出する最頻値検出手段をさらに備え、
前記しきい値変更手段は、前記最頻値検出手段により検出された最頻値に基づいて前記しきい値を変更することを特徴とする請求項1に記載の信号評価装置。 - 前記相対度数算出手段は、複数の異なるしきい値に対応する相対度数を同時に算出し、
前記しきい値変更手段は、前記パスメトリック差の度数分布に応じたしきい値を選択することを特徴とする請求項1に記載の信号評価装置。 - 入力信号をビタビ復号する過程においてトレリス線図の正解状態に入力される2本のパスのパスメトリック差を算出するパスメトリック差算出手段と、パスメトリック差の度数分布を第1しきい値で区切った片側部分の相対度数である第1相対度数を算出する第1相対度数算出手段と、パスメトリック差の度数分布を第2しきい値で区切った片側部分の相対度数である第2相対度数を求める第2相対度数算出手段と、前記第1および第2しきい値を変更するしきい値変更手段と、算出された前記第1および第2相対度数に基づいて前記入力信号の品質を評価する信号品質評価手段とを備える信号評価装置において、
前記しきい値変更手段は、パスメトリック差の度数分布に応じて前記第1および第2しきい値を変更することを特徴とする信号評価装置。 - 入力信号をビタビ復号する過程においてトレリス線図の正解状態に入力される2本のパスのパスメトリック差を算出するステップと、
前記パスメトリック差の度数分布をしきい値で区切った片側部分の相対度数を算出するステップと、
前記パスメトリック差の度数分布に応じて前記しきい値を決定するステップと、
決定された前記しきい値による相対度数に基づいて前記入力信号の品質を評価するステップとを備えることを特徴とする信号評価方法。 - 入力信号をビタビ復号する過程においてトレリス線図の正解状態に入力される2本のパスのパスメトリック差を算出するステップと、
前記パスメトリック差の度数分布を第1しきい値で区切った片側部分の相対度数である第1相対度数を算出するステップと、
前記パスメトリック差の度数分布を第2しきい値で区切った片側部分の相対度数である第2相対度数を算出するステップと、
前記パスメトリック差の度数分布に応じて前記第1および第2しきい値を決定するステップと、
決定された前記第1および第2しきい値による第1および第2相対度数に基づいて入力信号の品質を評価するステップとを備えることを特徴とする信号評価方法。 - PRML方式の信号を再生する信号再生装置において、
請求項1ないし5のいずれか1項の信号評価装置を備えることを特徴とする信号再生装置。
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JP2003406259A JP2005166200A (ja) | 2003-12-04 | 2003-12-04 | 信号評価装置、信号評価方法および信号再生装置 |
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2003
- 2003-12-04 JP JP2003406259A patent/JP2005166200A/ja active Pending
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