JP2005164435A - 個体情報提供システム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 エッジセンサ(センサ部)に関する固有情報(受光分布パターンとその校正データ)を予め登録したWebサーバを備え、Webサーバは、ユーザから与えられるエッジセンサに関する個体識別情報(受光分布パターンやシリアル番号)に従ってエッジセンサを個体認証し、その認証結果により特定されるエッジセンサの固有情報(校正データ)を上記ユーザに提供する。
【選択図】 図2
Description
特に上記Webサーバは、前記コントローラ部からのアクセスに応じて前記センサ部に関する固有情報を上記コントローラ部に提供する情報提供手段を備えることを特徴としている。
本発明の好ましい態様は、前記情報提供手段においては、前記コントローラ部からのアクセス時に該コントローラから与えられる該コントローラ部に接続されたセンサ部の個体性を示す特性データと、予め計測されて前記Webサーバに登録されている複数のセンサ部の各個体性を示す特性データとを照合して当該センサ部を個体認証し、この認証により特定されたセンサ部に関する固有情報を出力するように構成される(請求項4)。
この種の光学式位置検出装置は、例えば図1に示すように光源(投光器)1と、この光源1に対峙して設けられたラインセンサ(受光器)2とを有するセンサ部(エッジセンサ)3、およびこのセンサ部3を上記光源1を駆動すると共に、上記ラインセンサ2の出力から上記光源1とラインセンサ2との間に存在する物体Aのエッジ位置を検出するコントロール部4とを具備して構成される。
21 メモリ
22 個体認証手段
23 情報提供手段
30 工場
32 検査装置
33 個体情報入力装置
34 特性検査ユニット
40 ユーザ
42 コントローラ
43 個体情報入力装置
44 校正データメモリ
45 補正手段
S エッジセンサ
Claims (6)
- センサ部と、このセンサ部を介してセンシング情報を得るコントローラ部とを具備したセンシング機器における上記センサ部に関する固有情報を予め登録したWebサーバを備えて構築され、
上記Webサーバは、前記コントローラ部からのアクセスに応じて前記センサ部に関する固有情報を上記コントローラ部に提供する情報提供手段を備える
ことを特徴とする個体情報提供システム。 - 前記情報提供手段は、前記コントローラ部からのアクセス時に該コントローラ部から与えられる前記センサ部の個体識別情報に従って、予め計測されて前記Webサーバに登録されている該センサ部に固有な校正データを前記コントローラ部に出力するものである請求項1に記載の個体情報提供システム。
- 前記センシング機器は、ライン型光センサ装置または画像センサ装置であって、
前記校正データは、上記各センサ装置におけるセンサ部の計測特性に対する誤差分布データである請求項2に記載の個体情報提供システム。 - 前記情報提供手段は、前記コントローラ部からのアクセス時に該コントローラから与えられる該コントローラ部に接続されたセンサ部の個体性を示す特性データと、予め計測されて前記Webサーバに登録されている複数のセンサ部の各個体性を示す特性データとを照合して当該センサ部を個体認証し、この認証により特定されたセンサ部に関する固有情報を出力するものである請求項1に記載の個体情報提供システム。
- 前記センシング機器は、ライン型光センサ装置または画像センサ装置であって、
前記センサ部の個体性を示す特性データは、上記光センサ装置の受光分布パターンデータである請求項4に記載の個体情報提供システム。 - 前記センシング機器は、ライン型光センサ装置または画像センサ装置であって、
前記センサ部に関する固有情報は、少なくとも該センサ部の計測特性に対する誤差分布データおよび/または製造等に関する履歴情報である請求項4に記載の個体情報提供システム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2003404899A JP4251356B2 (ja) | 2003-12-03 | 2003-12-03 | 個体情報提供システム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2003404899A JP4251356B2 (ja) | 2003-12-03 | 2003-12-03 | 個体情報提供システム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JP2005164435A true JP2005164435A (ja) | 2005-06-23 |
JP4251356B2 JP4251356B2 (ja) | 2009-04-08 |
Family
ID=34727772
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2003404899A Expired - Fee Related JP4251356B2 (ja) | 2003-12-03 | 2003-12-03 | 個体情報提供システム |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP4251356B2 (ja) |
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A621 | Written request for application examination |
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A977 | Report on retrieval |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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