JP2005147770A - 超音波探傷装置 - Google Patents
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Abstract
被検査体の正確な合否判定を安定して行うことができる超音波探傷装置を実現する。
【解決手段】
底面からの反射エコー強度ビーム路程と界面(剥離)からの反射エコー強度とビーム路程の値を計測し、探傷面積のうちで剥離がない界面部位からのエコー強度と剥離からのエコー強度の和を界面エコー強度とし、これと底面からの反射である底面エコー強度との比で表される評価演算式をもとに健全率を演算し、この健全率の値を判定基準値と比較して被検査体の合否判定を行う。
【選択図】 図1
Description
前記信号処理演算手段に、被検査体内の界面から反射する超音波の界面エコー強度と該超音波のビーム路程の値を計測する界面エコー計測部と、底面から反射する超音波の底面エコー強度と該超音波のビーム路程を計測する底面エコー計測部と、界面エコー計測部と底面エコー計測部で得た計測データから評価演算式に従って健全率を演算する健全率演算部と、予め評価基準値を設定しておく評価基準値設定部と、健全率演算部で算出した健全率と評価基準値設定部に設定された評価基準値を比較して被検査体の合否を判定する合否判定部を設けたことを特徴とする。
EB/Ef=
(Sge-2α・xB)/(Sgrife-2α・xf+(S−Sg)e-2α・xf)…(数1)
ここでEB:底面エコー強度、Ef:界面エコー強度、α:減衰係数、Xf:界面エコーの路程(時間的位置)、XB:底面エコーの路程(時間的位置)、S:探傷面積(探触子の接触面積)、Sg:Sにおける健全界面面積、rif:界面反射率である。
Sg/S=−Ese-2α・xf/A……(数2)
ここでAおよびEsは、
A=Esrife-2α・xf−Ese-2α・xf−e-2α・xB
Es=EB/Ef
である。
(Z1−Z2)/(Z1+Z2)……(数3)
の界面反射(界面エコー)1042が発生する。複数枚の薄板材904を積層した構造の接着積層板9では、次々に境界面があり、超音波探触子1から発信した超音波が各界面で反射および再反射を繰り返すことから、超音波探触子1に戻ってくる界面エコー1042が時間的にずれたり重畳したりする。
(Z1−Z3)/(Z1+Z3)……(数4)
の超音波の反射が発生することになる。このとき、健全な積層界面902では(数3)で表される界面エコー1042が発生するが、積層する薄板材904の材質や組成と接着剤905の組み合わせによっては健全な積層界面902からの界面エコー1042の強度が大きくなり、剥離傷906からの剥離エコー1044の有無を目視で識別することが困難になる。
EB/Ef=
(Sge-2α・xB)/(Sgrife-2α・xf+(S−Sg)e-2α・xf)……(数1)
となる。ここで、EBは底面エコー強度、Efは剥離エコー強度、αは減衰係数、Xfは剥離エコーの時間的位置、XBは底面エコーの時間的位置、Sは探傷面積(接触子102の接触面積)、SgはSにおける健全界面面積、rifは界面反射率である。
Sg/S=−Ese-2α・xf/A……(数2)
ここで、AおよびEsは、
A=Esrife-2α・xf−Ese-2α・xf−e-2α・xB
Es=EB/Ef
である。
EB/Ef=Sge-2α・xB/Sgrife-2α・xf……(数5)
となる。
rif‘=C・rif
とすると、
EB/Ef=Sge-2α・xB/Sgrif‘e-2α・xf……(数6)
となる。ここで、健全部での計測値EB,Ef,Xf,XBと材料固有の定数であるαから、rif‘=C・rif=e-2α・xB/Ege-2α・xf……(数7)
となる。
従って、
C=e-2α・xB/rifEge-2α・xf……(数8)
が得られる。
EB/Ef=
(Sge-2α・xB)/(SgCrife-2α・xf+(S−Sg)e-2α・xf)……(数9)
となる。
Sg/S=−Ege-2α・xf/B……(数10)
ここで、Bは、
B=EgCrife-2α・xf−Ege-2α・xf−e-2α・xB
である。
探傷条件を設定する。この探傷条件の設定は、設定入力部7からの指示入力によって、探傷条件設定機能部を機能させて図7に示すような探傷条件設定画面をモニター6に表示させ、減衰定数αと界面反射率rifと評価定数(判定基準値=Sg/Sの合否判定基準値)を設定することによって行う。
超音波探触子1の接触子102を接着積層板9の探傷面に押し当てて超音波探傷を開始する。
界面エコーのエコー強度Efとビーム路程Xfを読み込む。
底面エコーのエコー強度EBとビーム路程XBを読み込む。
読み込んだ界面エコーデータEf,Xfと底面エコーデータEB,XBに基づいて(数2)または(数10)を用いて健全率Sg/Sの値を演算する。
剥離による被検査体9の合否を判定する。これは、予め設定する評価定数の値(合否判定基準値)と健全率Sg/Sの値を比較し、Sg/Sの値が評価定数値以上であれば合格と判定する。この例では、評価定数値は0.5に設定されており、探傷面積Sの半分の面積未満の剥離まで許容(合格)する。
このような信号処理の内容であるエコー受信信号波形601,EB/Ef,健全率Sg/S,良否(合否判定結果)等を、図8に示すように、モニター6に表示する。合否判定結果(良否)は、○(合格)×(不合格)で表示している。
探傷データEf,Xf,EB,XB,合否結果を記憶装置8に格納する。これで、1カ所の超音波探傷を終了する。
超音波探傷を更に行うかどうかを判断して処理を分岐する。更に行う場合にはステップS3に戻って同様に実行する。
超音波探傷を終了する。
Claims (1)
- 被検査体に当接させて超音波を発信および受信する超音波探触子と、パルス電圧を発生して前記超音波探触子に印加することによって該超音波探触子から超音波を発信させると共に前記超音波探触子が被検査体から受信した超音波に基づいて該超音波探触子から発生する受信信号を増幅する超音波送受信回路と、受信信号をデジタル化するA/D変換手段と、デジタル化した受信信号を演算処理する信号処理演算手段と、演算結果を表示する表示手段とを備えた超音波探傷装置において、
前記信号処理演算手段に、被検査体内の界面から反射する超音波の界面エコー強度と該超音波のビーム路程の値を計測する界面エコー計測部と、底面から反射する超音波の底面エコー強度と該超音波のビーム路程を計測する底面エコー計測部と、界面エコー計測部と底面エコー計測部で得た計測データから評価演算式に従って健全率を演算する健全率演算部と、予め評価基準値を設定しておく評価基準値設定部と、健全率演算部で算出した健全率と評価基準値設定部に設定された評価基準値を比較して被検査体の合否を判定する合否判定部を設けたことを特徴とする超音波探傷装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003383066A JP2005147770A (ja) | 2003-11-12 | 2003-11-12 | 超音波探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2003383066A JP2005147770A (ja) | 2003-11-12 | 2003-11-12 | 超音波探傷装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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JP2005147770A true JP2005147770A (ja) | 2005-06-09 |
Family
ID=34691941
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003383066A Pending JP2005147770A (ja) | 2003-11-12 | 2003-11-12 | 超音波探傷装置 |
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Country | Link |
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Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2008233048A (ja) * | 2007-03-23 | 2008-10-02 | Railway Technical Res Inst | 超音波探傷方法及び装置 |
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-
2003
- 2003-11-12 JP JP2003383066A patent/JP2005147770A/ja active Pending
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