JP2005133120A - 光造形用加工基準補正方法及び光造形装置 - Google Patents

光造形用加工基準補正方法及び光造形装置 Download PDF

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Abstract

【課題】切削座標系と光ビーム座標系とを一致させる補正を簡便に且つ的確に行う。
【解決手段】粉末材料の層の所定箇所への光ビームの照射で該当個所の粉末を焼結して焼結層を形成することを繰り返すとともに、焼結層の形成後にそれまでに作成した造形物の表面部及びまたは不要部分の切削除去を行う工程を複数回の焼結層の作成工程中に挿入して造形物を製造するにあたり、光ビームの照射面にセットした較正板6上の予め定めたポイントに対し、切削手段によるマーク60と、光ビーム照射手段によるマーク61との付与を行い、切削手段及び光ビーム照射手段の制御を行う制御装置は、マーク60,61の位置測定手段から得られた両種マークの位置ずれ量に基づいて切削位置または光ビーム照射位置を補正する。実際に切削加工及び光ビーム照射を行うことでエンドエフェクタである切削用の刃先の位置を基準に光ビームの照射位置を合わせる補正を行う。
【選択図】図1

Description

本発明は粉末材料を光ビームで焼結硬化させることで三次元形状造形物を製造する光造形に際しての加工基準補正方法及び光造形装置に関するものである。
光造形法として知られている三次元形状造形物の製造方法がある。特許第2620353号(特許文献1)などに示された該製造方法は、無機質あるいは有機質の粉末材料の層の所定箇所に光ビームを照射して該当個所の粉末を焼結(融着)することで焼結層を形成し、この焼結層の上に粉末材料の新たな層を被覆して該粉末層の所定箇所に光ビームを照射して該当個所の粉末を焼結することで下層の焼結層と一体になった新たな焼結層を形成するということを繰り返すことで、複数の焼結層が積層一体化された粉末焼結部品(三次元形状造形物)を作成するものであり、三次元形状造形物の設計データ(CADデータ)であるモデルを所望の層厚みにスライスして生成する各層の断面形状データをもとに光ビームを照射することから、いわゆるCAM装置が無くとも任意形状の三次元形状造形物を製造することができるほか、切削加工などによる製造方法に比して、迅速に所望の形状の造形物を得ることができる。
ところで、光ビームを照射して焼結硬化させた部分の周囲には伝達された熱が原因となって不要な粉末が付着するものであり、該付着粉末は密度の低い表面層を造形物に形成してしまう。この密度の低い表面層を除去して滑らかな表面の三次元形状造形物を得るために、本出願人は特開2002−115004号(特許文献2)において、焼結層の形成後にそれまでに作成した造形物の表面部及びまたは不要部分の切削除去を行う工程を複数回の焼結層の作成工程中に挿入することを提案した。この場合、焼結層の作成と造形物の表面部及びまたは不要部分の除去を繰り返し行うことで、切削用工具の刃長などの制約を受けることなく表面を仕上げることができる。
ここにおいて、上記焼結のための光ビーム照射手段の光ビーム座標系K1は、図17(a)に示すように、その走査領域が光造形のための造形タンク内に納まっておればよいが、この造形タンク25内で造形される造形物に対して造形タンク25内で切削除去加工も行う場合、図17(b)に示すように切削手段の切削除去座標系K2と光ビーム座標系K1とがずれていると、造形物を正しく切削加工することができないために、造形を始めるにあたり、まず両座標系K1,K2を一致させなくてはならない。
また、光ビーム照射手段は、一般にスキャン光学系を有するものとして構成されているが、このような光学系を含んでいるということは、光学系が持つピンクッションエラーや、スキャン光学系の鏡の取付位置と傾き、経時変化などによる照射位置誤差などで、図18に示すように、狙った照射位置S1に対して実際の照射位置S2がずれている場合があるということであり、この点に関する補正も必要である。
特許第2620353号公報 特開2002−115004号公報
本発明は上記の点に鑑みて発明したものであって、切削座標系と光ビーム座標系とを一致させる補正及び光ビーム照射手段の照射位置誤差の補正を簡便に且つ的確に行うことができる光造形用加工基準補正方法及び光造形装置を提供することを課題とするものである。
上記課題を解決するために本発明に係る光造形用加工基準補正方法は、粉末材料の層の所定箇所への光ビームの照射で該当個所の粉末を焼結して焼結層を形成し、この焼結層の上に粉末材料の新たな層を被覆して該粉末層の所定箇所への光ビームの照射で該当個所の粉末を焼結して下層の焼結層と一体になった新たな焼結層を形成することを繰り返すとともに、焼結層の形成後にそれまでに作成した造形物の表面部及びまたは不要部分の切削除去を行う工程を複数回の焼結層の作成工程中に挿入して造形物を製造するにあたり、光ビームの照射面にセットした較正板上の予め定めたポイントに対し、上記切削除去のための切削手段によるマークと、上記光ビームを照射する光ビーム照射手段によるマークとの付与を行い、切削手段及び光ビーム照射手段の制御を行う制御装置は、上記両種マークの位置を測定する測定手段から得られた両種マークの位置ずれ量に基づいて切削位置または光ビーム照射位置の補正を行うことに特徴を有している。切削座標系と光ビーム座標系との較正作業を自動化できる上に、実際に切削加工及び光ビーム照射を行うことでエンドエフェクタである切削用の刃先の位置を基準に光ビームの照射位置を合わせる補正を行うことができる。
切削手段によるマークと光ビーム照射手段によるマークとを異なる較正板に対して付与して切削手段によるマークと光ビーム照射手段によるマークとを誤認する虞がなくなるようにしてもよく、この場合、較正板の位置決めを行った後、マークの付与及びマーク位置測定を行ったり、切削手段にてマークを付与する較正板と光ビーム照射手段にてマークを付与する較正板とに、切削手段にて基準マークを別途付与することで、較正板を取り出してから位置測定を行う場合にも位置ずれ量を適切に測定することができる。
粉末材料の層の所定箇所への光ビームの照射で該当個所の粉末を焼結して焼結層を形成し、この焼結層の上に粉末材料の新たな層を被覆して該粉末層の所定箇所への光ビームの照射で該当個所の粉末を焼結して下層の焼結層と一体になった新たな焼結層を形成することを繰り返すとともに、焼結層の形成後にそれまでに作成した造形物の表面部及びまたは不要部分の切削除去を行う工程を複数回の焼結層の作成工程中に挿入して造形物を製造するにあたり、撮像手段と画像処理手段とで構成された測定手段における撮像手段を上記切削除去のための切削手段に設けて切削手段と撮像手段との位置関係を一定とし、光ビームの照射面にセットした較正板に対し、上記撮像手段の撮像位置として規定された較正点に光ビーム照射手段でマークを付与し、撮像手段による撮像画像から該画像中の基準点とマークの画像とのずれ量を算出して、得られたずれ量に基づいて光ビーム照射位置の補正を行うようにしてもよい。この場合、切削手段による切削動作を行う必要がないために、更に簡便に補正を行うことができる。
いずれにしても、上記較正板に対する光ビーム照射手段によるマークの付与は、粉末層の焼結時と同じパワーで行うことが、光ビーム照射装置の光学系の熱影響による変動を含めた補正を行うことができる。
また、光ビーム照射手段によるマークを十字形とする場合、撮像手段と画像処理手段とで構成された測定手段は、十字形マークにおける直交する2線の濃淡処理にて濃淡境界線を求めて、濃淡境界線から上記2線の各中央を通る2つの直線を求め、この2つの直線の交点をマークの中心とすると、十字形マークの中心位置を簡便に且つ的確に求めることができる。
また、較正板上のマークの付与が可能なエリアの外辺に形成するマークの形状を、
較正板上のマークの付与が可能なエリアの外辺に形成するマークの形状を、L字形またはT字形とすると、補正データを得ることができるエリアを最大限にとることができる。
また、較正板に対するマークの付与とマークの位置ずれ量に基づく補正とを繰り返して行うとともに、マークを付与するポイントの数を減らしていくと、精度を保ちつつ処理に必要な時間を短縮することができる。
そして本発明に係る光造形装置は、粉末の層を形成する粉末層形成手段と、最上層の粉末層の所定箇所に光ビームを照射して該当箇所の粉末を焼結させて焼結層を形成する光ビーム照射手段と、焼結層の形成後にそれまでに作製した造形物の表面部及びまたは不要部分の切削除去を行う切削手段と、これら粉末層形成手段と光ビーム照射手段と切削手段とを制御する制御手段とを備えるとともに、光ビームの照射面にセットした較正板上の予め定めたポイントに上記切削手段で付与されたマークと、上記光ビーム照射手段で付与されたマークの2種のマークの位置を測定する測定手段を備えており、上記制御手段では測定手段で得られた2種のマークの位置ずれ量に基づいて切削手段による切削位置または光ビーム照射手段による光ビーム照射位置の補正を行うものであることに特徴を有しており、また、粉末の層を形成する粉末層形成手段と、最上層の粉末層の所定箇所に光ビームを照射して該当箇所の粉末を焼結させて焼結層を形成する光ビーム照射手段と、焼結層の形成後にそれまでに作製した造形物の表面部及びまたは不要部分の切削除去を行う切削手段と、これら粉末層形成手段と光ビーム照射手段と切削手段とを制御する制御手段とを備えるとともに、光ビームの照射面にセットした較正板上の複数のポイントに上記光ビーム照射手段で付与されたマークの位置を測定する測定手段を備え、撮像手段と画像処理手段とで構成された上記測定手段における撮像手段は、切削手段に設けられて切削手段と撮像手段との位置関係が一定とされているとともに上記複数のポイントは撮像手段の撮像位置として規定されており、上記制御手段は撮像手段による撮像画像中の基準点とマークの画像とのずれ量に基づいて光ビーム照射手段による光ビーム照射位置の補正を行うものであることに他の特徴を有している。
本発明は、切削座標系と光ビーム座標系との較正のための補正を自動化することができて、切削を伴う光造形による造形品の製造を正確に行うことができるものであり、しかも実際に切削加工及び光ビーム照射を較正板に対して行ってエンドエフェクタである切削用の刃先の位置を基準に光ビームの照射位置を合わせる補正を行うために、切削座標系と光ビーム座標系とを一致させる補正を精度良く行うことができるとともに、この時、光ビーム照射手段の照射位置誤差の補正もなされてしまうものである。
以下本発明を実施の形態の一例に基づいて詳述すると、図14及び図15に示す光造形装置は、粉末層形成手段2と光ビーム照射手段3と切削手段4と撮像手段5及び制御装置Cで構成されているもので、上記粉末層形成手段2は、造形タンク25内をシリンダー駆動で上下に昇降するステージ20上に粉末タンク23内の粉末をスキージング用ブレード21で供給するとともに均すことで所定厚みΔtの粉末層10をステージ20上に形成するものとして構成されている。
光ビーム照射手段3は、レーザー発振器30から出力されたレーザーをスポット径及び焦点位置調節用光学系32とガルバノミラー等のスキャン光学系31とを介して上記粉末層10に照射する。
切削手段4は上記粉末層形成手段2のベース部にXY駆動機構40を介してミーリングヘッド41を設けたものとして構成されている。また、XY駆動機構40にはミーリングヘッド41に並ぶ形でCCD等で構成された撮像手段5が配設されている。図14中のSは光ビームの発振と偏向及び焦点制御を行う偏向制御装置、Dは撮像手段5で得られた画像の処理のための画像処理装置であり、撮像手段5と画像処理装置Dとで本発明における測定手段が構成されている。
このものにおける三次元形状の造形物の造形は、図15(a)に示すように、ステージ20上面の造形用ベース22表面に粉末タンク23からステージ24の上昇で溢れさせた粉末をブレード21で供給すると同時にブレード21で均すことで第1層目の粉末層10を形成し、この粉末層10の硬化させたい箇所に光ビーム(レーザー)Lを照射して粉末を焼結させてベース22と一体化した焼結層11を形成する。この後、ステージ20を少し下げて再度粉末を供給してブレード21で均すことで第1層目の粉末層10(と焼結層11)の上に第2層目の粉末層10を形成し、この第2層目の粉末層10の硬化させたい箇所に光ビーム(レーザー)Lを照射して粉末を焼結させて下層の焼結層11と一体化した焼結層11を形成する。
ステージ20を下降させて新たな粉末層10を形成し、光ビームLを照射して所要箇所を焼結層11とする工程を繰り返すことで、焼結層の積層物として目的とする造形物を製造するものであるが、前述のように焼結層11の全厚みがたとえば切削手段4におけるミーリングヘッド41の工具の刃長などから求めた所要の値になれば、図15(b)に示すようにいったん切削手段4を作動させてそれまでに造形した造形物の表面を切削することで、造形物表面に付着した粉末による過剰焼結部としての低密度表面層を除去して造形物表面に密度が高い部分を全面的に露出させる。切削手段4の工具が直径1mm、有効刃長(首下長さ)3mmで深さ3mmの切削加工が可能であり、粉末層10の厚みが0.05mmであるならば、焼結層11の形成時に過剰焼結部が0.1mm〜0.5mmほど垂れ下がって生じることから、たとえば40層の焼結層11を積層する毎に切削手段4を作動させ、前回の切削除去で一度切削したところも1mmほどオーバーラップさせて切削することが好ましい。
ここにおいて、前述のように、光ビーム座標系と切削座標系とが一致していなくては光ビームの照射による焼結で得た造形物の表面のみを切削手段4で切削して除去することはできないことから、造形を始めるにあたっては、まず上記両座標系を一致させなくてはならないが、ここでは切削手段4がXY機構40でミーリングヘッド41の位置を制御していることと、光ビームがスキャン光学系31で照射位置制御されていることから、補正が容易な光ビーム座標系を切削座標系に合わせる補正を行うものとし、補正値は次のようにして求めている。
すなわち、光造形を開始するに先立ち、図2に示すように、造形タンク25のステージ20上に較正板6を配置し、この較正板6の上面がスキージング用のブレード21の移動面と一致するように高さを合わせる。そして、図1に示すように、切削手段4によって較正点として予め設定されている複数ポイントに対して切削動作を行うことで切削痕としてのマーク60を較正板6に形成する。次いで、光ビーム照射手段3によって上記と同じ複数ポイントに対して光ビームを照射して較正板6にマーク61を形成する。
夫々の座標系の基に同じポイントにマーク60,61を付すことから、光ビーム座標系K1と切削座標系K2とが一致しておれば、マーク60,61は較正板6上の同じ位置に来るが、両座標系K1,K2がずれておれば、マーク60,61はずれた位置に付されることになる。
従って、切削座標系K2に基づいて複数ポイントに形成されたマーク60と、光ビーム座標系K1に基づいて同じ複数ポイントに形成されたマーク61とを前述の撮像手段5を用いて撮像して、得られた画像を処理することで、各ポイントにおけるマーク60の位置に対し、マーク61がずれているかどうかを判定するとともに、ずれている場合にはそのずれ量(Δx,Δy)を算出して該ずれ量に基づいて光ビーム照射位置の補正データ(光ビーム座標系K1の切削座標系K2に対する補正データ)を作成する。マーク60,61の形成と撮像と補正処理とは、マーク60,61間の位置ずれ量が所定の値以下になるまで繰り返すことが好ましい。
この時、マーク60,61を付すポイントの数を多く設定すれば、光ビーム座標系K1と切削座標系K2とを一致させるだけでなく、光ビーム照射手段3のスキャン光学系31等に起因する照射位置誤差についての補正も同時になされることになる。
ここで、切削手段4によるマーク(切削痕)60は円形とするとよい。切削手段4にはエンドミルを好適に用いることができるが、これだと円形の切削痕を容易に形成することができる。また、円形のマーク60であれば、画像処理に際してエッジを通る円の中心としてマーク60の中心を容易に算出することができる。
一方、光ビームによるマーク61については、切削痕であるマーク60と異なる形状のものとするのが好ましい。画像処理上においてマーク60との識別を簡便に行うことができるからであり、マーク60を円形とする時、マーク61には十字形を好適に用いることができる。画像処理上での十字形のマーク61の中心点の算出は、図3に示すように、十字を構成する2つの線に対して濃淡値が急激に変化するところを夫々複数点求めることで、左側境界線61Lと右側境界線61Rと上側境界線61Uと下側境界線61Dを近似直線として求め、次いで左側境界線61Lと右側境界線61Rの中間直線61Y及び上側境界線61Uと下側境界線61Dの中間直線61Xを求めて、両中間直線61X,61Yの交点を求めることで行えばよい。
なお、較正板6に感熱紙や特定の波長に反応する感光紙を貼り付けたガラス板のような板状材を用い場合、マーク61は光ビームLのパワーを造形時よりも低くして形成することになるが、較正板6としてアクリル板や黒アルマイト処理したアルミニウム板を用いた場合、造形時と同じパワーの光ビームLでマーク61を形成することができ、この場合、光ビーム照射手段3における光学系の熱影響による変動を含めた較正を行うことができる。ちなみに、較正板6としてアクリル板を用いた場合、マーク61は図4(a)に示す断面形状の溝として形成され、黒アルマイト処理したアルミニウム板を用いた場合、マーク61は図4(b)に示すようにアルマイト処理層65が除去されたものとして形成される。
ちなみに、光ビームLが炭酸ガスレーザであり、造形時の焼結パワー(例えば300W)でマーク61を形成する場合、できるだけ集光させた状態で撮像手段5のカメラ視野内に納まる大きさで且つ細かい十字マークを加工し、十字を構成する溝の溝幅を画像から計測してその中心線から十字マークの中心を求めるものとする。このような加工とすることで、撮像手段5の分解能を有効に使用することができる。
ところで、各ポイントにおける両種マーク60,61が完全に重なっておれば、切削系の座標系K2とレーザ系の座標系K1とが一致していることになるが、両種マーク60,61が重なっていると、マーク60,61の形状によってはマーク61(もしくはマーク60)が判別しづらくなる場合がある。このような時には、切削手段4によるマーク60を先に形成する場合、マーク60の位置測定の後にマーク61を形成するようにしてもよい。
また、マーク60を形成するポイントに対してマーク61を形成するポイントを所定寸法だけオフセットさせたところとし、マーク61の測定位置からオフセット分を除いた位置で座標系が一致しているかどうかの判別を行うならば、両座標系が一致している時にもマーク60にマーク61が重ならないために、両者の判別が困難となるようなことがない。
もっとも、マーク60が上記のように円形であり、マーク61が十字形である場合、十字形の中心は前述のように算出することから、十字形の交差部が円形のマーク60に重なっていても中心点の算出に問題が生じることはない。切削手段4によるマーク60の形状と、光ビームによるマーク61の形状は逆であってもよい。また、マーク60,61のいずれか一方を十字形とする場合でも、図5に示すように、複数ポイントのうちの最も外側に位置することについては、T字形やL字形を用いとよい。複数ポイントの配置エリアを光ビームの照射可能エリア(あるいはXY駆動機構40によるミーリングヘッド41の移動可能エリア)いっぱいに取ることができる。
なお、複数ポイントの配置エリアAは、図6に示すように、次に造形する造形物Pのサイズに応じたものとしてもよい。必要な箇所のみ補正するために時間短縮を図ることができる。造形物Pの作成位置の中点(重心)P0を中心として複数ポイントの配置エリアAを決定すれば、さらに時間短縮が可能である。
このほか、求めた補正量で補正を行った後、再度較正板6を用いて補正動作を繰り返す時、最初はマーク60,61間のずれが図7(a)に示すように大きくても、いったん補正を行った後の2度目は図9(b)に示すようにマーク60,61間のずれが微小であり、微調整レベルの補正で対応することができることから、2度目は複数ポイントの数を少なくしてマーク60,61の形成と測定及び補正を行うようにしてもよい。較正に要する時間の短縮を図ることができる。ただし、測定したポイントでのずれ量からマーク60,61の付与や測定を行わなかったポイントのずれ量を推定して、座標系の補正に供するようにすることが望ましい。
また、最初からずれが少なくて微調整レベルの補正だけで対応することができることもあるために、最初の較正板6に対して形成された各マーク60,61の位置測定を行って補正動作を行う時、全ポイントにおける両者の位置ずれ量(偏差量)の平方の総和ΣΔの値を求め、再度較正板6にマーク60,61を形成して補正を行うにあたり、総和ΣΔの値が所定の閾値より大きければ、m個のポイントでマーク60,61の形成と測定とを行い、総和ΣΔの値が所定の閾値より小さければ、n(n<m)個のポイントでマーク60,61の形成と測定とを行うようにしてもよい。時間がかかるものの正確な補正データを得られる動作と、測定動作にかかる時間を短縮することとを、ずれ量に応じて自動で切り換えられるようにするのである。なお、この場合においても、マーク60,61の形成及び測定を行わなかったポイントでのずれ量を、マーク60,61の形成及び測定を行ったポイントでのずれ量から推定して、全ポイントでのずれ量から補正量を算出することが望ましい。
更に、求めた補正量で補正を行った後、再度較正板6を用いて補正動作を繰り返す時、較正板6を取り換えて、2度目のマーク60,61の形成や測定等を行うものを示したが、設定されている複数のポイントに対して、1回目と2回目とで異なるポイントを使用するようにすれば、較正板6の取り替えが不要となる。例えば図8に示すように、設定されている複数のポイント全てにマーク60を形成するものの、光ビームによるマーク61は一つおきのポイントに形成するものとし、2回目は1回目でマーク61を形成しなかったポイントについてマーク61を形成するのである。補正動作の繰り返しにあたり、較正板6の取り替えが不要となるために、補正に要する全体時間の短縮及び手間の削減を図ることができる。
さらに、複数のポイント全てにマーク60,61を形成するのではなく、たとえば図9に示すように、一つおきのポイントにマーク60,61を形成し、マーク60,61を形成しなかったポイントについては、その周囲のポイントに形成したマーク60,61の測定位置から直線近似で仮想マーク60’,61’の位置を求めることを、当初から行うようにしてもよい。
つまり、左右のマーク60,60の測定された位置が(ΔXa,ΔYa)、(ΔXb,ΔYb)であれば、その中間にある仮想マーク60’の位置(ΔXp,ΔYp)は(ΔXa+ΔXb,ΔYa+ΔYb)/2として仮定し、上下のマーク60,60の測定された位置が(ΔXa,ΔYa)、(ΔXd,ΔYd)であれば、その中間にある仮想マーク60’の位置(ΔXs,ΔYs)は(ΔXa+ΔXd,ΔYa+ΔYd)/2として仮定し、さらに仮想マーク60’(ΔXp,ΔYp)=(ΔXa+ΔXb,ΔYa+ΔYb)/2と仮想マーク60’(ΔXr,ΔYr)=(ΔXc+ΔXd,ΔYc+ΔYd)/2とが上下にあり且つ仮想マーク60’(ΔXs,ΔYs)=(ΔXa+ΔXd,ΔYa+ΔYd)/2と仮想マーク60’(ΔXq,ΔYq)=(ΔXb+ΔXc,ΔYb+ΔYc)/2とが左右にある仮想マーク60’(ΔXt,Yt)は、(ΔXa+ΔXb+ΔXc+ΔXd,ΔYa+ΔYb+ΔYc+ΔYd)/4と仮定するのである。
このようにして、マーク60,61を形成しなかったポイントでのずれ量の推定値を求めれば、マーク60,61の形成数が少なくても、多くのポイントでのずれ量を得ることができるために、マーク60,61の形成に必要な時間及びその位置測定に必要な時間を短縮することができる。
造形装置に付設した撮像手段5を用いることで、較正板6を造形用のステージ20に配した状態のままで撮像してその画像処理で較正板6上に形成されているマーク60,61の位置測定を行うものを示したが、較正板6をステージ20から外し、造形装置外で較正板6上のマーク60,61の位置測定を行うものであってもよい。マーク60に対するマーク61の位置ずれ量から、基準とした切削座標系K2に対する光ビーム座標系K1の補正値を求めるために、造形装置外でのマーク60,61の位置測定を行っても、問題なく補正量を求めることができる。また、ステージ20上に較正板6をセットする時の位置も適当でよい。
図10に示すように、マーク60を施す較正板6aとは異なる較正板6bにマーク61を施すようにしてもよい。すなわち、ステージ20上に較正板6aをセットして切削手段4で予め設定された複数のポイントにマーク60を形成し、これらマーク60をXY駆動機構40に設けた撮像手段5で撮像して画像処理により位置を測定する。次いで上記較正板6aに代えて較正板6bをステージ20上にセットし、光ビーム照射手段3により予め設定された複数のポイントにマーク61を形成し、これらマーク61をXY駆動機構40に設けた撮像手段5で撮像して画像処理により位置を測定する。この時、撮像手段5はマーク60を撮影した時と同じ位置でマーク61の撮影を行う。
次いで、各ポイント毎のマーク60の位置に対するマーク61の位置ずれ量(Δx,Δy)から光ビーム座標系K1の切削座標系K2に対する補正値を算出し、この補正で光ビーム座標系の補正を行う。好ましくは、この後、再度較正板6bをステージ20にセットして、マーク61の形成及び位置測定と、マーク60に対するマーク61の位置ずれ量(Δx,Δy)の算出並びに光ビーム座標系K1の再補正を行う。2種のマーク60,61が単一の較正板6上に混在しないことから、画像処理によるマーク60,61の認識が容易であり、またマーク60,61を同じ形状のものにしても何ら支障はないことから、画像中からマーク60,61を抽出する画像認識も迅速に行うことができる。
造形装置内の撮像手段5を用いる場合、較正板6a,6bはステージ20上のどの位置にセットしてもよいが、撮像手段5等によるマーク60,61の位置測定を造形装置外で行う場合には、図11(a)(b)(c)に示すように、ステージ20上に較正板6a,6bの位置決めのための複数本の位置決めピン29を設けて、これら位置決めピン29で較正板6a,6bの位置決めを行うことができるようにしておく。また、造形装置外の測定手段についても、図11(d)(e)に示すように、較正板6a,6bをセットするプレート58に上記位置決めピン29と同様の位置決めピン59を設けて、これら位置決めピン59によって較正板6a,6bを位置決めした状態で撮像を行う。
この時、切削座標系K2と、測定装置における測定座標系K3とが一致するように(もしくは平行となるように)位置決めピン59を設けておくと、較正板6aのマーク60と較正板6bのマーク61との位置ずれ量を測定座標系K3で測定すれば、そのずれ量が切削座標系K2に対する光ビーム座標系K1のずれ量と一致、もしくは加減算が必要となるだけとなり、測定座標系K3を切削座標系K2に対して回転させる補正を必要としなくなる。つまり、位置決めピン29,59に夫々較正板6a,6bを押し当ててセットするだけで、ずれ量を簡便に求めることができる。
図12に示すように、較正板6a,6bにマーク60,61のほかに切削手段4による加工で複数の基準マーク62を形成しておき、複数の基準マーク62を基準にマーク60に対するマーク61の位置ずれ量を算出する場合は、較正板6a,6bはステージ20上のどの位置にセットしてもよい。
上記のような補正動作は、造形に先立って行うだけでなく、造形途中に行ってもよい。この場合、較正板6(6a,6b)は、それまでに造形した造形物P上にセットする。較正板6の上面が焼結させる粉末層10の上面と一致するように高さを合わせるのは前述の場合と同じである。
図13(a)に示すように、較正板6(6a,6b)をブレード21に取り付けて較正板6をステージ20の上方に位置させた状態でマーク60,61の付与を行ってもよい。ただし、較正板6の表面は、焼結させる粉末層10の上面と平行となるようにしておく。この場合、較正板6の表面を焼結させる粉末層10の上面と同じ高さにセットすることが困難となり、図13(b)に示すように、光ビームのスキャン光学系31から焼結させる粉末層10の上面z0までの距離L1と、上記スキャン光学系31から較正板6の表面z1までの距離L2とが異なってくる上に、測定される較正板6の表面z1上でのずれ量(δx、δy)と、焼結させる粉末層10の上面z0でのずれ量(Δx+Δy)とが異なってくることから、次の式
Δx=(L1/L2)・δx
Δy=(L1/L2)・δy
で加工面(粉末層10の表面)でのずれ量(Δx,Δy)を算出し、得られたずれ量を基に補正を行う。
測定手段における撮像手段5が切削手段4のXY駆動手段40によって位置を変更するものであり且つ切削手段4の切削工具部(ミーリングヘッド41)と所定の位置関係にある場合、撮像手段5の座標系は切削座標系K2に一致しているとみなすことができるために、次の手順で切削座標系K2に光ビーム座標系K1を合わせ込むようにしてもよい。
すなわち、図16に示すように、造形タンク25内のステージ20上に複数の較正点Qを設定する。これら較正点Qは、いずれも撮像手段5で撮像する位置として規定するとともに、撮像画像の例えば中心位置(画素)を基準とする。つまり、1つの較正点Qが1つの撮像画像の中心位置となるようにしておく。
較正点Qの数は、光ビームの照射位置精度の要求に応じて決定すればよく、高精度としたい場合には、小間隔で並ぶ多数の較正点Qを設定し、粗い精度でよければ、大間隔で並ぶ少数の較正点Qを設定する。撮像手段5としては、高分解能であるとともに、見込まれる照射位置のずれの範囲をカバーすることができるカメラ視野を持つものを使用する。
そして、較正板6をステージ20上にセットし、上記の各較正点Qに向けて光ビームを照射して例えば十字形のマーク61を形成する。較正板6のステージ20上の位置は任意でよい。この後、撮像手段5で各較正点Qを撮像し、図16(b)に示すように、各マーク61の中心が各較正点Q(撮像画像の中心位置)からどれだけずれているかのデータを取る。この時、切削手段4における切削工具部と撮像手段5とは共に切削座標系K2上にあって、両者の位置の差(より正確には切削工具部による切削点と撮像手段5の撮像画像上の中心点との位置の差)は既知であるから、上記ずれのデータと既知の位置の差の情報とにより、切削座標系K2に光ビーム座標系K1を合わせ込むことができる。また、光ビーム照射手段3のスキャン光学系31等に起因する照射位置誤差も同時に補正することができる。造形途中に補正動作を行うことは、本例においても適用することができる。
上記較正板6としては、前述のようなアクリル板やアルミニウム板、感熱紙等のほか、物体色とは異なる色で着色され且つ光ビームが照射された部分が変色乃至脱色される板状材なども用いることができる。
本発明の実施の形態の一例の動作説明図である。 同上の較正板の配置位置を示す概略断面図である。 同上のマークの一例の正面図である。 (a)(b)はいずれもマークを施した較正板の断面図である。 マークの他例の正面図である。 マークを形成するポイントの配置エリアの説明図である。 (a)(b)は2種のマークを施した較正板の平面図である。 マークの形成位置についての説明図である。 仮想マークについての説明図である。 他例の動作説明図である。 (a)は位置決めピンを有するステージの断面図、(b)(c)は位置決めピンによる較正板の位置決めを示す平面図、(d)は位置決めピンを有する測定手段の平面図、(e)は位置決めピンを有する測定手段の側面図である。 (a)(b)は夫々マーク及び基準マークを施した較正板の平面図である。 (a)は他の例の概略断面図、(b)はこの場合の追加補正についての説明図である。 造形装置のブロック図である。 (a)(b)は同上の概略断面図である。 (a)は較正点を示す平面図、(b)は較正点とマークの撮像画像の説明図である。 (a)は光ビーム座標系の説明図、(b)は切削座標系と光ビーム座標系の説明図である。 光ビームの補正すべき点を示す説明図である。
符号の説明
2 粉末層供給手段
3 光ビーム照射手段
4 切削手段
5 撮像手段
6 較正板
60 マーク
61 マーク

Claims (10)

  1. 粉末材料の層の所定箇所への光ビームの照射で該当個所の粉末を焼結して焼結層を形成し、この焼結層の上に粉末材料の新たな層を被覆して該粉末層の所定箇所への光ビームの照射で該当個所の粉末を焼結して下層の焼結層と一体になった新たな焼結層を形成することを繰り返すとともに、焼結層の形成後にそれまでに作成した造形物の表面部及びまたは不要部分の切削除去を行う工程を複数回の焼結層の作成工程中に挿入して造形物を製造するにあたり、光ビームの照射面にセットした較正板上の予め定めたポイントに対し、上記切削除去のための切削手段によるマークと、上記光ビームを照射する光ビーム照射手段によるマークとの付与を行い、切削手段及び光ビーム照射手段の制御を行う制御装置は、上記両種マークの位置を測定する測定手段から得られた両種マークの位置ずれ量に基づいて切削位置または光ビーム照射位置の補正を行うことを特徴とする光造形用加工基準補正方法。
  2. 切削手段によるマークと光ビーム照射手段によるマークとを異なる較正板に対して付与するとともに、各較正板の位置決めを行った後、マークの付与及びマーク位置測定を行うことを特徴とする請求項1記載の光造形用加工基準補正方法。
  3. 切削手段によるマークと光ビーム照射手段によるマークとを異なる較正板に対して付与するとともに、切削手段にてマークを付与する較正板と光ビーム照射手段にてマークを付与する較正板とに切削手段にて基準マークを別途付与することを特徴とする請求項1記載の光造形用加工基準補正方法。
  4. 粉末材料の層の所定箇所への光ビームの照射で該当個所の粉末を焼結して焼結層を形成し、この焼結層の上に粉末材料の新たな層を被覆して該粉末層の所定箇所への光ビームの照射で該当個所の粉末を焼結して下層の焼結層と一体になった新たな焼結層を形成することを繰り返すとともに、焼結層の形成後にそれまでに作成した造形物の表面部及びまたは不要部分の切削除去を行う工程を複数回の焼結層の作成工程中に挿入して造形物を製造するにあたり、撮像手段と画像処理手段とで構成された測定手段における撮像手段を上記切削除去のための切削手段に設けて切削手段と撮像手段との位置関係を一定とし、光ビームの照射面にセットした較正板に対し、上記撮像手段の撮像位置として規定された較正点に光ビーム照射手段でマークを付与し、撮像手段による撮像画像から該画像中の基準点とマークの画像とのずれ量を算出して、得られたずれ量に基づいて光ビーム照射位置の補正を行うことを特徴とする光造形用加工基準補正方法。
  5. 較正板に対する光ビーム照射手段によるマークの付与を、粉末層の焼結時と同じパワーで行うことを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載の光造形用加工基準補正方法。
  6. 光ビーム照射手段によるマークを十字形とするとともに、撮像手段と画像処理手段とで構成された測定手段は、十字形マークにおける直交する2線の濃淡処理にて濃淡境界線を求めて、濃淡境界線から上記2線の各中央を通る2つの直線を求め、この2つの直線の交点をマークの中心とすることを特徴とする請求項1〜5のいずれか1項に記載の光造形用加工基準補正方法。
  7. 較正板上のマークの付与が可能なエリアの外辺に形成するマークの形状を、L字形またはT字形とすることを特徴とする請求項1〜6のいずれか1項に記載の光造形用加工基準補正方法。
  8. 較正板に対するマークの付与とマークの位置ずれ量に基づく補正とを繰り返して行うとともに、マークを付与するポイントの数を減らしていくことを特徴とする請求項1〜7のいずれか1項に記載の光造形用加工基準補正方法。
  9. 粉末の層を形成する粉末層形成手段と、最上層の粉末層の所定箇所に光ビームを照射して該当箇所の粉末を焼結させて焼結層を形成する光ビーム照射手段と、焼結層の形成後にそれまでに作製した造形物の表面部及びまたは不要部分の切削除去を行う切削手段と、これら粉末層形成手段と光ビーム照射手段と切削手段とを制御する制御手段とを備えるとともに、光ビームの照射面にセットした較正板上の予め定めたポイントに上記切削手段で付与されたマークと、上記光ビーム照射手段で付与されたマークの2種のマークの位置を測定する測定手段を備えており、上記制御手段では測定手段で得られた2種のマークの位置ずれ量に基づいて切削手段による切削位置または光ビーム照射手段による光ビーム照射位置の補正を行うものであることを特徴とする光造形装置。
  10. 粉末の層を形成する粉末層形成手段と、最上層の粉末層の所定箇所に光ビームを照射して該当箇所の粉末を焼結させて焼結層を形成する光ビーム照射手段と、焼結層の形成後にそれまでに作製した造形物の表面部及びまたは不要部分の切削除去を行う切削手段と、これら粉末層形成手段と光ビーム照射手段と切削手段とを制御する制御手段とを備えるとともに、光ビームの照射面にセットした較正板上の複数のポイントに上記光ビーム照射手段で付与されたマークの位置を測定する測定手段を備え、撮像手段と画像処理手段とで構成された上記測定手段における撮像手段は、切削手段に設けられて切削手段と撮像手段との位置関係が一定とされているとともに上記複数のポイントは撮像手段の撮像位置として規定されており、上記制御手段は撮像手段による撮像画像中の基準点とマークの画像とのずれ量に基づいて光ビーム照射手段による光ビーム照射位置の補正を行うものであることを特徴とする光造形装置。
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Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009054442A1 (ja) * 2007-10-26 2009-04-30 Panasonic Electric Works Co., Ltd. 三次元形状造形物の製造方法
DE102009016585A1 (de) * 2009-04-06 2010-10-07 Eos Gmbh Electro Optical Systems Verfahren und Vorrichtung zum Kalibrieren einer Bestrahlungsvorrichtung
EP3059075A1 (en) * 2015-02-16 2016-08-24 Matsuura Machinery Corporation Three-dimensional shaping method
EP3159080A1 (en) * 2015-10-19 2017-04-26 Siemens Aktiengesellschaft Method of adjusting an additive manufacturing apparatus, method of manufacturing and setup
EP3162542A1 (en) * 2015-10-13 2017-05-03 XYZprinting, Inc. Method for calibrating a light of a three-dimensional object generating apparatus
JP2017527696A (ja) * 2014-08-20 2017-09-21 ア−カム アーベー エネルギービーム偏向速度の確認
DE102016106403A1 (de) * 2016-04-07 2017-10-12 Cl Schutzrechtsverwaltungs Gmbh Verfahren zur Kalibrierung wenigstens eines Scannsystems, einer SLS- oder SLM-Anlage
WO2017212619A1 (ja) * 2016-06-09 2017-12-14 技術研究組合次世代3D積層造形技術総合開発機構 3次元積層造形システム、積層造形制御装置、積層造形制御方法および積層造形制御プログラム
KR20180031007A (ko) * 2015-07-13 2018-03-27 스트라타시스 엘티디. 적층 가공에서의 인쇄 노즐의 동작 및 인쇄 노즐을 청소하기 위한 장치
KR20190119208A (ko) * 2018-03-30 2019-10-22 윈포시스(주) 3차원 프린터의 성형 품질 검사 장치 및 이를 포함하는 3차원 프린터
US10688559B2 (en) 2015-12-22 2020-06-23 Sodick Co., Ltd. Three dimensional printer
JP2020131446A (ja) * 2019-02-13 2020-08-31 株式会社松浦機械製作所 三次元造形物の造形方法
JP2020143312A (ja) * 2019-03-04 2020-09-10 三菱重工業株式会社 積層体成形装置の校正部材、積層体成形装置及び積層体成形方法
JP2022079803A (ja) * 2020-11-17 2022-05-27 株式会社ソディック 積層造形装置の較正方法
US11897186B2 (en) 2014-07-13 2024-02-13 Stratasys Ltd. Method and system for rotational 3D printing

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI526797B (zh) * 2014-09-02 2016-03-21 三緯國際立體列印科技股份有限公司 立體列印裝置的校正裝置以及校正方法
CN108898810A (zh) * 2018-09-12 2018-11-27 广州市艾礼富电子科技有限公司 一种不可见激光入侵探测器的可视化调试方法
CN113664220B (zh) * 2021-07-08 2022-11-22 中国科学院金属研究所 一种采用激光选区熔化成形技术制备梯度材料的方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08318574A (ja) * 1995-05-26 1996-12-03 Matsushita Electric Works Ltd 三次元形状の形成方法
JP2000316364A (ja) * 1999-05-14 2000-11-21 Yanmar Agricult Equip Co Ltd コンバイン
JP2000326416A (ja) * 1999-04-23 2000-11-28 Eos Gmbh Electro Optical Systems 3次元物体を製造する装置を校正する方法、校正装置、及び3次元物体を製造する装置および方法
JP2002210835A (ja) * 2001-01-24 2002-07-31 Matsushita Electric Works Ltd 光ビームの偏向制御方法及び光造形装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08318574A (ja) * 1995-05-26 1996-12-03 Matsushita Electric Works Ltd 三次元形状の形成方法
JP2000326416A (ja) * 1999-04-23 2000-11-28 Eos Gmbh Electro Optical Systems 3次元物体を製造する装置を校正する方法、校正装置、及び3次元物体を製造する装置および方法
JP2000316364A (ja) * 1999-05-14 2000-11-21 Yanmar Agricult Equip Co Ltd コンバイン
JP2002210835A (ja) * 2001-01-24 2002-07-31 Matsushita Electric Works Ltd 光ビームの偏向制御方法及び光造形装置

Cited By (33)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE112008000030T5 (de) 2007-10-26 2009-09-24 Panasonic Electric Works Co., Ltd., Kadoma-shi Herstellungsverfahren von dreidimensional geformten Gegenständen
KR100928619B1 (ko) * 2007-10-26 2009-11-26 파나소닉 전공 주식회사 삼차원 형상 조형물의 제조방법
US8163224B2 (en) 2007-10-26 2012-04-24 Panasonic Corporation Manufacturing method of three-dimensionally shaped object
DE112008000030B4 (de) * 2007-10-26 2015-07-23 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Herstellungsverfahren von dreidimensional geformten Gegenständen
WO2009054442A1 (ja) * 2007-10-26 2009-04-30 Panasonic Electric Works Co., Ltd. 三次元形状造形物の製造方法
DE102009016585A1 (de) * 2009-04-06 2010-10-07 Eos Gmbh Electro Optical Systems Verfahren und Vorrichtung zum Kalibrieren einer Bestrahlungsvorrichtung
US8803073B2 (en) 2009-04-06 2014-08-12 Eos Gmbh Electro Optical Systems Method and device for calibrating an irradiation device
US11897186B2 (en) 2014-07-13 2024-02-13 Stratasys Ltd. Method and system for rotational 3D printing
JP2017527696A (ja) * 2014-08-20 2017-09-21 ア−カム アーベー エネルギービーム偏向速度の確認
CN105880588B (zh) * 2015-02-16 2018-03-30 株式会社松浦机械制作所 三维造型方法
EP3196004A1 (en) * 2015-02-16 2017-07-26 Matsuura Machinery Corporation Three-dimensional shaping method
EP3059075A1 (en) * 2015-02-16 2016-08-24 Matsuura Machinery Corporation Three-dimensional shaping method
CN105880588A (zh) * 2015-02-16 2016-08-24 株式会社松浦机械制作所 三维造型方法
KR102353098B1 (ko) 2015-07-13 2022-01-19 스트라타시스 엘티디. 적층 가공에서의 인쇄 노즐의 동작 및 인쇄 노즐을 청소하기 위한 장치
KR20180031007A (ko) * 2015-07-13 2018-03-27 스트라타시스 엘티디. 적층 가공에서의 인쇄 노즐의 동작 및 인쇄 노즐을 청소하기 위한 장치
US11084205B2 (en) 2015-07-13 2021-08-10 Stratasys Ltd. Operation of printing nozzles in additive manufacture and apparatus for cleaning printing nozzles
JP2018524215A (ja) * 2015-07-13 2018-08-30 ストラタシス リミテッド 付加製造及び装置における印刷ノズルの動作
EP3162542A1 (en) * 2015-10-13 2017-05-03 XYZprinting, Inc. Method for calibrating a light of a three-dimensional object generating apparatus
EP3159080A1 (en) * 2015-10-19 2017-04-26 Siemens Aktiengesellschaft Method of adjusting an additive manufacturing apparatus, method of manufacturing and setup
US10688559B2 (en) 2015-12-22 2020-06-23 Sodick Co., Ltd. Three dimensional printer
US11014196B2 (en) 2016-04-07 2021-05-25 Concept Laser Gmbh Method for calibrating at least one scanning system of an SLS or SLM installation
DE102016106403A1 (de) * 2016-04-07 2017-10-12 Cl Schutzrechtsverwaltungs Gmbh Verfahren zur Kalibrierung wenigstens eines Scannsystems, einer SLS- oder SLM-Anlage
JPWO2017212619A1 (ja) * 2016-06-09 2018-06-14 技術研究組合次世代3D積層造形技術総合開発機構 3次元積層造形システム、積層造形制御装置、積層造形制御方法および積層造形制御プログラム
WO2017212619A1 (ja) * 2016-06-09 2017-12-14 技術研究組合次世代3D積層造形技術総合開発機構 3次元積層造形システム、積層造形制御装置、積層造形制御方法および積層造形制御プログラム
KR102083221B1 (ko) * 2018-03-30 2020-03-02 윈포시스(주) 3차원 프린터의 성형 품질 검사 장치 및 이를 포함하는 3차원 프린터
KR20190119208A (ko) * 2018-03-30 2019-10-22 윈포시스(주) 3차원 프린터의 성형 품질 검사 장치 및 이를 포함하는 3차원 프린터
JP2020131446A (ja) * 2019-02-13 2020-08-31 株式会社松浦機械製作所 三次元造形物の造形方法
US11117317B2 (en) 2019-02-13 2021-09-14 Matsuura Machinery Corp. Shaping method for three-dimensional shaped product
JP2020143312A (ja) * 2019-03-04 2020-09-10 三菱重工業株式会社 積層体成形装置の校正部材、積層体成形装置及び積層体成形方法
WO2020179114A1 (ja) * 2019-03-04 2020-09-10 三菱重工業株式会社 積層体成形装置の校正部材、積層体成形装置及び積層体成形方法
JP7165603B2 (ja) 2019-03-04 2022-11-04 三菱重工業株式会社 積層体成形装置の校正部材、積層体成形装置及び積層体成形方法
JP2022079803A (ja) * 2020-11-17 2022-05-27 株式会社ソディック 積層造形装置の較正方法
JP7213220B2 (ja) 2020-11-17 2023-01-26 株式会社ソディック 積層造形装置の較正方法

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