JP2005125597A - 微細線描画方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】電界を用いて、電界集中を起こすことが可能な材料からなる微細流体を基板へ飛翔付着させる先描画によって基板上に微細パターンを形成し、続いて、該微細パターン上に、電界を用いて、微細流体を飛翔付着させる本描写を行う微細線描写方法。また、さらに、先描画が、線幅が10μm以下の微細パターンを描画し、本描画における液適量を、先描画における液滴量より多くする。
【選択図】なし
Description
これは、着弾精度の悪さ、1滴あたりの液量の多さに加え、基板上で表面張力によりマイクロバルジが形成されるなどによることもある。
また、従来のインクジェット装置の描画方式には走査線を用いて1枚の画像を表示するラスタスキャン方式が使われてきた。
(1)超微細液滴の吐出が困難
現在、実用化され広く用いられているインクジェット方式(ピエゾ方式や、サーマル方式)では、1plを下回るような微少量の液体の吐出は困難である。この理由は、ノズルが微細になるほど吐出に必要な圧力が大きくなるためである。
また、静電吸引方式では、例えば特許文献2に記載のノズル内径は0.127mmであり、特許文献3に記載のノズルの開口径は50〜2000μm、好ましくは100〜1000μmとされており、50μm以下の超微細液滴の吐出は不可能と考えられていた。
また、後に述べるように、静電吸引方式においては、微細液滴の実現のためには駆動電圧の制御に極度の精密さが要求された。
(2)着弾精度の不足
ノズルから吐出した液滴に付与される運動エネルギーは、液滴半径の3乗に比例して小さくなる。このため、微細液滴は空気抵抗に耐えるほどの十分な運動エネルギーを確保できず、空気対流などにより、正確な着弾が期待出来ない。さらに、液滴が微細になるほど、表面張力の効果が増すために、液滴の蒸気圧が高くなり蒸発量が激しくなる。このため微細液滴は、飛翔中の著しい質量の消失を招き、着弾時に液滴の形態を保つことすら難しいという事情があった。
以上のように液滴の微細化と着弾位置の高精度化は、相反する課題であり、両方を同時に実現することは困難であった。
この着弾位置精度の悪さは、印字画質を低下させるのみならず、例えばインクジェット技術により導電性インクを用いて回路の配線パターンを描画する際などには特に大きな問題となる。すなわち、位置精度の悪さは所望の太さの配線が描画出来ないばかりか、断線やショートを生ずることさえあり得る。
しかし、直角に線をつなぐ場合、表面張力効果でマイクロバルジが形成されたり、屈曲点に液体が集中する現象も知られている(例えば、特許文献5参照)。
また、微細液滴故に厚さを確保するためにはある程度、繰り返し描画する必要がある。こうしたことから、超微細インクジェットを用いた細線描画では、スループットが落ちてしまうというさらなる改良の余地が存在した。
すなわち、本発明は
(1)電界を用いて、電界集中を起こすことが可能な材料からなる微細流体を基板へ飛翔付着させる先描画によって基板上に微細パターンを形成し、続いて、該微細パターン上に、電界を用いて、微細流体を飛翔付着させる本描写を行うこと特徴とする微細線描写方法、
(2)前記先描画が、線幅が10μm以下の微細パターンを描画し、前記本描画における液滴量が、前記先描画における液滴量より多いことを特徴とする(1)項記載の微細線描画方法、及び、
(3)(1)又は(2)項記載の細線描法によって得られたことを特徴とする細線パターン
を提供するものである。
また、本発明により、省資源、省エネルギー、高スループットかつ高精細な微細配線の描画が可能となる。また、線幅の幅狭化、厚さの確保、とぎれの少なさ、線幅の一様化、及び、吐出の安定化が図られる。
本発明で用いられる基板としては、例えば、ガラス、金属(銅、ステンレスなど)、半導体(シリコン)、ポリイミド、ポリエチレンテレフタレートなどが挙げられる。
また、描画速度は、10μm/sec〜1mm/secが好ましく、100μm/sec〜1mm/secがさらに好ましい。この時描画される線は、ドット間に間隔があっても構わず、必ずしも線である必要はない。先描画により描画される線幅は、10μm以下が好ましく、0.1〜5μmがさらに好ましい。なお、描画速度Vがf×dの10倍程度以下の範囲にあることが好ましく、より好ましくは1倍程度である。
この先描画を行う装置は、超微細インクジェットに限定される訳ではないが、着弾精度と微細液量の観点から、超微細インクジェットを用いることが好ましい。
そのほか、高分子(ポリビニルフェノールのエタノール溶液など)、導電性高分子(PEDOT/PSSなど)なども、先描画用材料として利用可能である。
なお、本発明で「電界集中」とは、次のような状態を意味するものである。すなわち、基板面には、ノズルに印加する電圧によって電界が生じている。液体材料および、それが固体化したものの誘電率が、基板材料よりも高い場合、液滴が基板上に着弾し付着すると、液体を通る電気力線の密度が、付着していない基板部分よりも高くなる。この状態を基板上における電界集中が起こった状態と呼ぶものである。液滴は電気力線に沿って飛翔し、その密度の最も高い部分に吸い寄せられると考えられるために、後から飛翔する液滴は、先描画部分に優先的に着弾することになる。
また、先描画と本描画は同一のノズルを用いて行っても良いし、別のノズルを用いても良い。また、先描画と本描画を同一ステージ上で行っても良いし、別のステージ上で行っても良い。
図1は、本発明の描画方法の概念図である。1はノズル、13は基板である。図(a)は先描画の概念図である。ノズル1から基板13へ電界集中を起こすような材質の微細流体を飛翔付着させることにより、基板13上に微細パターンが形成される。図(b)は、先描画+本描画(後描画)の概念図である。本描画により形成された微細線は濡れ広がりが小さいものとなる。図(c)は本描画のみ行った場合の概念図である。ここで形成された微細線は濡れ広がりが大きいものとなる。ここで、ノズルは同一ノズルを用いて、先描画及び本描画を行っても良いし、別々のノズルすなわち、先描画用の微細ノズルと本描画用の太いノズルを用いても良いし、同一ノズルを用いてパラメータのみを変えることによって吐出量を制御しても良い。
図2は、本発明に用いられる超微細インクジェットの一例を一部断面により示したものである。
図中1は、超微細径のノズルである。超微細液滴サイズ実現のためには、低コンダクタンスの流路をノズル1近傍に設けるか、またはノズル1自身を低コンダクタンスのものにすることが好ましい。このためには、ガラス製の微細キャピラリーチューブが好適であるが、導電性物質に絶縁材でコーティングしたものでも可能である。ノズル1をガラス製とすることが好ましい理由は、容易に数μm程度のノズルを形成できること、ノズルのつまり時には、ノズル端を破砕することにより、新しいノズル端が再生できること、ガラスノズルの場合、テーパー角がついているために、ノズル先端部に電界が集中しやすく、および、適度な柔軟性を持つため、可動ノズルの形成が容易であること等による。また、低コンダクタンスとは、好ましくは10−10m3/s以下である。また、低コンダクタンスの形状とは、それに限定されるものではないが、例えば、円筒形状の流路においてその内径を小さくしたり、または、流路径が同一でも内部に流れ抵抗となるような構造物を設けたり、屈曲させたり、もしくは、弁を設けた形状などが挙げられる。
また、ノズル1内には吐出すべき溶液3が充填される。この際、電極2は、溶液3に浸されるように配置する。溶液3は、図示しない溶液源から供給される。溶液3は、例えば、インクなどが挙げられる。ノズル1は、シールドゴム4およびノズルクランプ5によりホルダー6に取り付けられ、圧力が漏れないようになっている。
以上のノズル、電極、溶液、シールドゴム、ノズルクランプ、ホルダー及び圧力チューブは側面断面図で示されている。ノズルの先端に近接して基板13が基板支持体14により配設されている。
本発明における圧力調整装置の役割は、高圧を付加することで流体をノズルから押し出すためのにも用いることができるが、むしろコンダクタンスを調整したり、ノズル内への溶液の充填、ノズルつまりの除去などに用いるために特に有効である。また、液面の位置を制御したり、メニスカスの形成にも有効である。また、電圧パルスと位相差を付けることでノズル内の液体に作用する力を制御することで微小吐出量を制御する役割も担う。
9はコンピューターであり、コンピューター9からの吐出信号は、任意波形発生装置10に送られ制御される。
なお、図3は、直径dのノズルに導電性インクを注入し、無限平板導体からhの高さに垂直に位置させた様子を模式的に示したものである。また、rは無限平板導体と平行方向を示し、ZはZ軸(高さ)方向を示している。また、Lは流路の長さを、ρは曲率半径をそれぞれ示している。Qは、ノズル先端部に誘起される電荷である。また、Q’は基板内の対称位置に誘導された反対の符号を持つ鏡像電荷である。
ノズル1先端のクリーニングについては、ノズル1内に高圧を付加すると共に、基板13とノズル1先端とを接触させ、固体化した溶液を基板13にこすりつける方法や、基板13に接触させることで、ノズル1と基板13間のわずかな間隙に働く毛細管力を利用することで行う。
また、溶液充填前にノズル1を溶媒に浸し、毛細管力によりノズル1内へ溶媒を少量充填することにより、最初のノズルの詰まりを回避できる。また、印字途中に詰まった場合、溶媒中にノズルを浸けることにより除去が可能である。
さらに、基板13上に滴下した溶媒にノズル1を浸して、同時に圧力や電圧等を加えることも有効である。使用する溶液の種類によっていちがいには言えないが、一般的に、低蒸気圧、高沸点の溶媒、たとえばテトラデカンなどには有効である。
また、後に述べるように、電圧の印加方法として交流駆動を用いることで、ノズル内の溶液に攪拌効果を与え均質性を保つとともに、溶媒と溶質の帯電性が著しく異なる場合には、溶液の平均組成よりも溶媒過剰の液滴と、溶質過剰の液滴を交互に吐出することにより、ノズルの詰まりが緩和される。また、溶液の性質に合わせ、溶媒と溶質の帯電特性と、極性、パルス幅を最適化することで、組成の時間変化を最小化し、長期間安定した吐出特性が維持できた。
X−Y−Zステージ上に、基板ホルダーを配置し、基板13の位置を操作することが実用的であるが、これにとらわれず、逆にX−Y−Zステージ上にノズル1を配置することも可能である。ノズル−基板間距離は、位置微調整装置を用いて適当な距離に調整する。また、ノズルの位置調整は、レーザー測距計による距離データを元にZ軸ステージをクローズドループ制御により移動させ、1μm以下の精度で一定に保つことができる。
従来のラスタスキャン方式では、連続した線を形成する際に、着弾位置精度の不足や、吐出不良などにより配線がとぎれてしまうケースも起こりうる。このため、本発明においては、ラスタスキャン方式に加え、ベクトルスキャン方式を採用することが好ましい。単ノズルのインクジェットを用いて、ベクトルスキャンにより回路描画を行うこと自体については、例えば、フラーら(S. b. Fuller Et al.), Journal of Microelectromechanical systems, Vol. 11, No.1, P.54 (2002)に記載されている。
また、ベクトルスキャン方式としては、通常のプロッタで用いられている方式を適宜用いることができる。
例えば、使用ステージとして、シグマ光機製のSGSP−20−35(XY)と、Mark−204コントローラーを用い、また、制御用ソフトウエアとしてナショナルインスツルメンツ製のLabviewを使用して、自作し、ステージの移動速度を1μm/sec〜1mm/secの範囲内でもっとも良好な描画となるように調整した場合を考える。この場合、ステージの駆動は、ラスタスキャンの場合は、1μm〜100μmピッチで移動させその動きに連動させ、電圧パルスにより吐出を行うことができる。また、ベクトルスキャンの場合はベクトルデータに基づき、連続的にステージを移動させることができる。
本発明に用いられる液滴は超微細であるために、インクに用いる溶媒の種類にもよるが、基板に着弾すると瞬間的に蒸発し、液滴は瞬間的にその場に固定される。この時の乾燥速度は従来技術によって生成されるような数十μmのサイズの液滴が乾燥する速度に比べ、桁違いに速い。これは、液滴の微細化により蒸気圧が著しく高くなるためである。ピエゾ方式などを用いた従来技術では、これほどの微細ドットの形成は困難で、また着弾精度も悪いために、対策として予め基板上に親水性、疎水性のパターンニングが行われている(例えば、シリングハウス(H. Shiringhaus)ら, Science, Vol.290, 15 December (2000), 2123−2126)。この方法では、予備処理が必要なため、基板に直接印字が可能というインクジェット方式の利点が損なわれてしまうという問題があるが、本発明においてもこのような方法を取り入れることで、さらに位置精度の向上を図ることも可能である。
実施例1
銀ナノペーストを用いてガラス基板上に微細線描画を行った。その結果、形成されたパターン例の写真を図5に示す。図5−1は先描画(先描画1回)、図5−2は先描画+本描画(先描画1回、本描画1回)、図5−3は本描画のみ(本描画1回)の一例である。図5−1〜5−3において、基板上の位置、及び、倍率は同一である。
明らかに先描画の有無で線幅に顕著な差があった。先描画有りの細線パターン(図5−2)は、無しの細線パターン(図5−3)に比べ線幅が1/2程度で濡れ広がりが少ない。このことは、狭い線幅と、厚さが要求される配線用途に好適である。
金ナノペーストを用いてガラス基板上に微細線の屈折描画を行った。その結果、形成されたパターンの写真を図6に示す。図6−1は先描画(先描画1回)、図6−2は先描画+本描画(先描画1回、本描画1回)、図6−3は本描画のみ(本描画1回)の一例である。図6−1〜6−3において、基板上の位置、及び、倍率は同一である。
明らかに先描画の有無で線幅に顕著な差があった。すなわち、先描画無しの細線パターンは線にくびれがみられ、線幅が一様でなくとぎれがちであるのに対して(図6−2)、先描画有りの細線パターンは線幅が一様で、同じ周波数で描画したにもかかわらずとぎれの問題もない(図6−3)。
金ナノペーストを用いてガラス基板上に先描画及び本描画の回数を2回として、微細線の屈折描画を行った。その結果、形成されたパターンの写真を図7に示す。図7−1は先描画(先描画2回)、図7−2は先描画+本描画(先描画2回、本描画2回)、図7−3は本描画のみ(本描画2回)の一例である。図7−1〜7−3において、基板上の位置、及び、倍率は同一である。
本描画の回数を増やすことで、図6−3にみられたような線幅の不安定性は緩和するが線幅は明らかに太くなってしまう(図7−3)。これに対し、先描画を行ったものは線幅の狭さが保たれている(図7−2)。
2 電極
3 溶液
4 シールドゴム
5 ノズルクランプ
6 ホルダー
7 圧力調整器
8 圧力チューブ
9 コンピューター
10 任意波形発生装置
11 高電圧アンプ
13 基板
14 基板支持体
Claims (3)
- 電界を用いて、電界集中を起こすことが可能な材料からなる微細流体を基板へ飛翔付着させる先描画によって基板上に微細パターンを形成し、続いて、該微細パターン上に、電界を用いて、微細流体を飛翔付着させる本描写を行うこと特徴とする微細線描写方法。
- 前記先描画が、線幅が10μm以下の微細パターンを描画し、前記本描画における液滴量が、前記先描画における液滴量より多いことを特徴とする請求項1記載の細線描画方法。
- 請求項1又は2記載の微細線描画方法によって得られたことを特徴とする微細線パターン。
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